JP2002068471A - チップ部品の搬送装置 - Google Patents

チップ部品の搬送装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 チップ部品を搬送する際の擦れ傷を回避で
き、ひいては実装時のはんだ付け不良を防止できるチッ
プ部品の搬送装置を提供する。 【解決手段】 固定ベース２の上面２ａにターンテーブ
ル（搬送部材）４を回転可能に配置し、該ターンテーブ
ル４に上記固定ベース２とでチップ部品３を収納する収
納凹部４ａを形成するとともに、該チップ部品３を吸引
保持する真空吸引通路４ｂを形成し、上記収納凹部４ａ
内にてチップ部品３を吸引保持した状態で上記固定ベー
ス２上を搬送するようにしたチップ部品の測定選別装置
（搬送装置）において、上記収納凹部４ａの上部コーナ
部Ｒに吸引通路４ｂを形成し、これによりチップ部品３
を固定ベース２の上面２ａとの間に隙間を設けた状態で
吸引保持する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、搬送部材に形成さ
れた収納凹部内にてチップ部品を吸引保持した状態で固
定ベース上を搬送するようにしたチップ部品の搬送装置
に関する。本発明の搬送装置は、チップ状電子部品の電
気的特性を測定選別するようにした測定選別装置に適し
ているので、以下、これに適用した場合を例にとって説
明する。
【０００２】
【従来の技術】チップ状電子部品の電気的特性を測定し
て良品を選別するようにした測定選別装置として、従
来、図８ないし図１０に示すものがある。この測定選別
装置は、固定ベース５０の上面５０ａに搬送部材として
のターンテーブル５１を回転可能に配置し、該ターンテ
ーブル５１の外周部にチップ部品５２が収納される収納
凹部５１ａを形成した構造のものである。
【０００３】この測定選別装置では、部品供給ステーシ
ョンにてチップ部品５２を各収納凹部５１ａに供給し、
該チップ部品５２を真空源により吸引保持した状態でタ
ーンテーブル５１を図示矢印方向に回転させることによ
りチップ部品５２を各作業ステーションＡ，Ｂ，Ｃに順
次搬送し、この作業ステーションＡ〜Ｃにて測定，検
査，加工等の所定作業を行い、しかる後、取り出しステ
ーションに搬送するよう構成されている。
【０００４】またチップ部品５２を吸引保持するにあた
っては、ターンテーブル５１の各収納凹部５１ｂの下部
コーナ部に真空源に連通接続された吸引通路５１ｂを形
成し、該下部コーナ部にチップ部品５２を位置決めする
とともに吸引保持するようにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
測定選別装置では、図１１に示すように、チップ部品５
２を搬送する際に電極５２ａが固定ベース５０の上面５
０ａに擦れることから、電極５２ａに擦れによる傷が付
く場合がある。この電極表面の擦れ傷の如何によって
は、ワーク実装工程ではんだ付け不良が生じる場合があ
り、品質に対する信頼性を高めるうえでの改善が要請さ
れている。
【０００６】本発明は、上記従来の状況に鑑みてなされ
たもので、チップ部品を搬送する際の擦れ傷を回避で
き、ひいては実装不良を防止できるチップ部品の搬送装
置を提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、固定
ベース上に搬送部材を移動可能に配置し、該搬送部材に
チップ部品を収納する収納凹部を形成するとともに、該
チップ部品を吸引保持する真空吸引通路を形成し、上記
収納凹部内にチップ部品を吸引保持した状態で上記固定
ベース上を搬送するようにしたチップ部品の搬送装置に
おいて、上記チップ部品を上記収納凹部内の固定ベース
の反対側で吸引保持することを特徴としている。
【０００８】請求項２の発明は、請求項１において、上
記チップ部品が、固定ベースとの間に隙間を設けた状態
で吸引保持されていることを特徴としている。
【０００９】請求項３の発明は、請求項１又は２におい
て、上記収納凹部にチップ部品を外部に排出するための
圧縮空気吹き出し口が形成されていることを特徴として
いる。
【００１０】請求項４の発明は、請求項１ないし３の何
れかにおいて、上記搬送部材の収納凹部の上面がアッパ
プレートにより覆われており、該アッパプレートとチッ
プ部品との間に低摩擦シートが介設されていることを特
徴としている。
【００１１】請求項５の発明は、請求項４において、上
記アッパプレートが、チップ部品に作用する下方からの
衝撃力を吸収する弾性体により構成されていることを特
徴としている。
【００１２】
【発明の作用効果】請求項１の発明にかかる搬送装置に
よれば、チップ部品を収納凹部内の固定ベースの反対側
にて吸引保持するので、チップ部品は固定ベースから浮
いた状態で搬送されることとなり、固定ベースに擦れる
のを抑制でき、電極に擦れ傷が生じるのを回避すること
ができる。その結果、ワーク実装時のはんだ付け不良を
防止でき、品質に対する信頼性を向上できる。
【００１３】請求項２の発明では、チップ部品を固定ベ
ースとの間に隙間を設けた状態で吸引保持したので、チ
ップ部品が固定ベースに擦れるのを確実に防止でき、品
質に対する信頼性をさらに向上できる。
【００１４】請求項３の発明では、収納凹部に圧縮空気
吹き出し口を形成したので、収納凹部からチップ部品を
容易に取り出すことができる。
【００１５】請求項４の発明では、収納凹部の上面をア
ッパフプレートで覆うとともに、該アッパプレートとチ
ップ部品との間に低摩擦シートを介設したので、チップ
部品を収納凹部に供給する際に引っかけたりすることな
くスムーズに吸引保持することができ、チップ部品の位
置決めを容易確実に行なうことができる。
【００１６】請求項５の発明では、上記アッパブレート
を弾性体により構成したので、チップ部品に下方から作
用する衝撃力を吸収することができ、チップ部品に衝撃
力が直接加わるのを防止できる。例えば、固定ベースの
下方からプローブピン等を突出させてチップ部品の電気
的特性を測定する場合の衝撃力がチップ部品に直接作用
するのを回避できる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて説明する。
【００１８】図１ないし図７は、本発明の一実施形態に
よるチップ部品の測定選別装置（搬送装置）を説明する
ための図であり、図１は測定選別装置の概略図、図２は
チップ部品収納部の斜視図、図３はチップ部品収納部の
断面図（図２のIII-III 線断面図）、図４はチップ部品
収納部の正面図、図５はターンテーブルの収納凹部の斜
視図、図６，図７は測定機器の斜視図である。
【００１９】図において、１は測定選別装置を示してお
り、これは固定ベース２の上面２ａに直方体状のチップ
型電子部品（以下、チップ部品と略記する）３を各作業
ステーションＡ，Ｂ，Ｃに順次搬送するターンテーブル
４を回転可能に配置した構成となっている。上記各作業
ステーションＡ〜Ｃではチップ部品３の電気的特性の測
定，検査，あるいは加工等を行なうように構成されてお
り、例えば作業ステーションＡには上記チップ部品３の
電気的特性を測定する測定機器５が配設されている。
【００２０】上記測定機器５は、図６，図７に示すよう
に、プローブユニット６と該プローブユニット６を昇降
駆動する昇降駆動機構７とを備えている。この昇降駆動
機構７は、固定ブラケット８にスライド板９を固定する
とともに、該スライド板９にスライド軸受部材１０を上
下方向に摺動自在に係合させ、該スライド軸受部材１０
に水平方向に延びる帯板状のスライダ１１を固定した構
造のものであり、このスライダ１１の一端側にはマグネ
ット１２が配設されており、他端側には上記プローブユ
ニット６が取付け固定されている。
【００２１】上記プローブユニット６は、端子ブロック
１５内に第１，第２測定端子１６，１７を上下方向に進
退可能に挿入配置し、該各測定端子１６，１７を加圧ば
ね１８により上方に付勢した構造のものである。上記プ
ローブユニット６は固定ベース２の下方に配置され、該
固定ベース２に形成された貫通孔２ｂ，２ｂ内に上記各
測定端子１６，１７が出没可能に挿入配置されている。
この各測定端子１６，１７はリード線を介して計測器に
接続されている。
【００２２】そしてチップ部品３が作業ステーションＡ
に搬送されるとマグネット１２がスライダ１１を上昇さ
せ、これに伴って第１，第２測定端子１６，１７が固定
テーブル２の上面２ａから突出し、チップ部品３の電極
３ａ，３ａに当接する。この状態で所定の測定が行われ
る。この測定が終了するとスライダ１１が下降し、各測
定端子１６，１７が固定ベース２内に退避する。
【００２３】上記ターンテーブル４は円板状のものであ
り、これの外周部には半径方向に延びる矩形状の収納凹
部４ａが周方向に所定間隔をあけて形成されている。こ
の各収納凹部４ａの高さ寸法及び幅寸法はチップ部品３
の外形寸法より大き目に設定されている。
【００２４】上記ターンテーブル４の上面には各収納凹
部４ａの上方を覆うようにテフロン（登録商標）等から
なる低摩擦シート２０が配設されており、該低摩擦シー
ト２０の上面にはゴム等からなるアッパプレート２１が
配設されている。このターンテーブル４の収納凹部４
ａ，固定ベース２の上面２ａ，及び低摩擦シート２０に
より囲まれた収納空間部にチップ部品３が収納配置され
ている。
【００２５】上記ターンテーブル４の上面の各収納凹部
４ａに臨む部分には半径方向に延びる溝状の吸引通路４
ｂが形成されている。この各吸引通路４ｂは収納凹部４
ａの左側上部コーナ部Ｒを切り欠くことにより形成され
たものであり、これの上面は上記低摩擦シート２０，ア
ッパプレート２１により気密に閉塞されている。このよ
うにしてチップ部品３は収納凹部４ａの上部コーナ部Ｒ
と低摩擦シート２０とで位置決めされており、かつ上記
固定ベース２の上面２ａとの間に僅かな隙間を設けた状
態で吸引保持されている。
【００２６】また上記各吸引通路４ｂは吸引孔４ｂ´を
介して固定ベース２に形成された共通の真空通路２ｃに
連通しており、該真空通路２ｃの延長端には真空ポンプ
（不図示）が接続されている。この真空通路２ｃはチッ
プ部品３の供給ステーションから取り出しステーション
に渡る長さを有している。
【００２７】また上記各吸引通路４ｂには圧縮空気吹き
出し口４ｃが形成されており、該圧縮空気吹き出し口４
ｃは固定ベース２に形成された圧縮空気供給通路２ｄを
介して圧縮ポンプ（不図示）に接続されている。この圧
縮空気供給通路２ｄはターンテーブル４が取り出しステ
ーションに位置したときに上記圧縮空気吹き出し口４ｃ
に連通するようになっている。
【００２８】上記測定選別装置１を用いてチップ部品３
を測定選別するには、まず部品供給ステーションにてチ
ップ部品３を各収納凹部４ａ内に供給する。すると真空
吸引力によってチップ部品３は収納凹部４ａの上部コー
ナ部Ｒと低摩擦シート２０とで位置決め保持され、この
状態でターンテーブル４が各チップ部品３を各作業ステ
ーションＡ〜Ｃに順次搬送する。各ステーションＡ〜Ｃ
においてチップ部品３の測定，検査，加工等の作業が行
われ、この各種の作業が終了すると、チップ部品３は取
り出しステーションに搬送され、ここで収納凹部４ａ内
に圧縮空気が吹き込まれて外部に排出される。
【００２９】上記作業ステーションＡでは、第１，第２
測定端子１６，１７が固定ベース２の上面２ａから突出
してチップ部品３の電気的特性を測定することとなる。
この場合、各測定端子１６，１７の衝撃力を低摩擦シー
ト２０を介してアッパプレート２１が弾性変形して吸収
することとなり、チップ部品３に衝撃力が直接加わるの
を防止している。
【００３０】このように本実施形態によれば、ターンテ
ーブル４の各収納凹部４ａの上部コーナ部Ｒに吸引通路
４ｂを形成し、これによりチップ部品３を固定ベース２
の上面２ａとの間に隙間を設けた状態で吸引保持したの
で、チップ部品３を固定ベース２から浮かせた状態で搬
送することができ、固定ベース２との接触を確実に防止
でき、電極３ａに擦れ傷が生じるのを防止することがで
きる。その結果、ワーク実装時のはんだ付け不良を防止
でき、品質に対する信頼性を向上できる。
【００３１】また上記各収納凹部４ａに圧縮空気吹き出
し口４ｃを形成したので、取り出しステーションでチッ
プ部品３を容易に取り出すことができる。
【００３２】本実施形態では、上記収納凹部４ａの上面
をテフロン等からなる低摩擦シート２０で覆ったので、
供給ステーションにてチップ部品３を吸引する際に引っ
掛かったりすることなくスムーズに吸引することがで
き、チップ部品３の位置決めを容易確実に行なうことが
できる。
【００３３】また上記低摩擦シート２０の上面にアッパ
ブレート２１を配設し、該アッパプレート２１をゴム等
の弾性体により構成したので、作業ステーションＡにて
各測定端子１６，１７を突出させてチップ部品３に当接
させる際の衝撃力を吸収することができ、チップ部品３
に衝撃力が直接加わるのを回避でき、割れや欠け等の問
題を解消できる。これによりプローブユニット６の昇降
スピードを速めることが可能となり、測定効率の向上を
図ることができる。
【００３４】また本実施形態では、各測定端子１６，１
７とターンテーブル４との位置合わせを行った後、ター
ンテーブル４に低摩擦シート２０，アッパプレート２１
を取付けることにより、各測定端子１６，１７とターン
テーブル４との位置合わせを容易に行なうことができ、
組立ミスによる測定ミスを防止できる。
【００３５】なお、上記実施形態では、チップ部品の電
気的特性を測定選別するようにした測定選別装置に適用
した場合を例に説明したが、本発明の搬送装置はこれに
限られるものではなく、例えばチップ部品を搬送してプ
リント基板に装着するようにした部品装着装置にも適用
でき、要はチップ部品を搬送部材により吸引保持した状
態で固定ベース上を搬送するようにしたものであれば何
れにも適用可能である。
【００３６】また上記実施形態では、チップ部品をター
ンテーブルを回転させることにより搬送する場合を説明
したが、本発明の搬送装置は、チップ部品を固定ベース
上を直線移動させることにより搬送するようにした場合
にも勿論適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態によるチップ部品の測定選
別装置の概略図である。
【図２】上記測定選別装置のチップ部品収納部の斜視図
である。
【図３】上記チップ部品収納部の断面図（図２のIII-II
I 線断面図）である。
【図４】上記チップ部品収納部の正面図である。
【図５】上記測定選別装置のターンテーブルの斜視図で
ある。
【図６】上記測定選別装置の測定機器の斜視図である。
【図７】上記測定機器のプローブユニットの斜視図であ
る。
【図８】従来の一般的な測定選別装置の概略図である。
【図９】従来のチップ部品収納部の斜視図である。
【図１０】従来の収納凹部の斜視図である。
【図１１】従来の問題点を示す図である。
【符号の説明】
１ 測定選別装置（搬送装置） ２ 固定ベース ２ａ 上面 ３ チップ部品 ４ ターンテーブル（搬送部材） ４ａ 収納凹部 ４ｂ 吸引通路 ４ｃ 圧縮空気吹き出し口 ２０ 低摩擦シート ２１ アッパプレート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 哲一 京都府長岡京市天神２丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 Ｆターム(参考） 2G036 AA27 BB01 BB02 CA03 CA05 CA11 3F072 AA15 GB02 GB07 GB10 GE03 GF01 KC01 KC05 KC07 KC14 5F031 CA13 FA05 FA09 GA23 GA26 GA54 HA14 HA34 HA42 HA59 HA60 MA33 PA20 PA30

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 固定ベース上に搬送部材を移動可能に配
    置し、該搬送部材にチップ部品を収納する収納凹部を形
    成するとともに、該チップ部品を吸引保持する真空吸引
    通路を形成し、上記収納凹部内にチップ部品を吸引保持
    した状態で上記固定ベース上を搬送するようにしたチッ
    プ部品の搬送装置において、上記チップ部品を上記収納
    凹部内の固定ベースの反対側で吸引保持することを特徴
    とするチップ部品の搬送装置。
  2. 【請求項２】 請求項１において、上記チップ部品が、
    固定ベースとの間に隙間を設けた状態で吸引保持されて
    いることを特徴とするチップ部品の搬送装置。
  3. 【請求項３】 請求項１又は２において、上記収納凹部
    にチップ部品を外部に排出するための圧縮空気吹き出し
    口が形成されていることを特徴とするチップ部品の搬送
    装置。
  4. 【請求項４】 請求項１ないし３の何れかにおいて、上
    記搬送部材の収納凹部の上面がアッパプレートにより覆
    われており、該アッパプレートとチップ部品との間に低
    摩擦シートが介設されていることを特徴とするチップ部
    品の搬送装置。
  5. 【請求項５】 請求項４において、上記アッパプレート
    が、チップ部品に作用する下方からの衝撃力を吸収する
    弾性体により構成されていることを特徴とするチップ部
    品の搬送装置。
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