JP2014156295A - ワーク測定装置およびワーク測定方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】測定手段の測定精度を容易かつ確実に確認する。
【解決手段】ワーク測定装置1はワークW1を搬送するワーク収納孔4を有する搬送テーブル3と、分離供給部6と、ワークW1を測定する第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cと、ワークW1を排出する排出部8、9とを備えている。制御部12は通常測定モードをとって、分離供給部6から搬送テーブル3のワーク収納孔4に供給されたワークW1を測定部7a、7b、7cで測定した後、排出部8、9から排出する。制御部12はサンプル測定モードをとって、サンプルテーブル10xから搬送テーブル3のワーク収納孔4に供給されたワークW1sを測定部7a、7b、7cで測定した後、サンプルテーブル10xに戻す。
【選択図】図1

Description

本発明は、チップ形電子部品等のワークを保持して搬送しながら、測定手段によりワークの特性を測定するワーク測定装置およびワーク測定方法に係り、とりわけ測定手段の測定精度を容易に確認することができるワーク測定装置およびワーク測定方法に関する。
チップ形電子部品(以下ワークと記載)を保持して搬送しながら、搬送経路に沿って配置された測定手段を用いて、ワークの特性を測定するワーク測定装置およびワーク測定方法が知られている。
例えば特許文献1には、水平に配置されて間歇回転する円形の搬送テーブルによりワークを搬送しながら測定を行うワーク測定装置が開示されている。このようなワーク測定装置について、以下に説明する。
図67に従来技術によるワーク測定装置100の平面図を示す。ワーク測定装置100は、水平に配置されたテーブルベース200上に回転自在に配置された搬送テーブル3を有する。搬送テーブル3は、図示されない駆動機構の作用により中心軸3aの周囲に矢印A1の方向に間歇回転する。搬送テーブル3には、その周縁部から中心に向けて複数のワーク収納孔4が形成されている。ワーク収納孔4は搬送テーブル3の外側に向けて開口し、ここに後述のワークW1を個別に収納して搬送する。また搬送テーブル3の外周部に向けて直線形状のリニアフィーダ5が配置されている。リニアフィーダ5は図示されない駆動機構の作用により振動し、この振動によりワークW1を1列状態で矢印B1方向に搬送する機能を有する。
リニアフィーダ5の終端部は搬送テーブル3の外周部に近接し、そこにおいてワーク収納孔4の開口部に対向する。リニアフィーダ5の終端部とワーク収納孔4の開口部が対向する位置には、リニアフィーダ5上のワークW1を1個ずつ分離して個別にワーク収納孔4に供給する分離供給部6が配置されている。この分離供給部6から搬送テーブル3の間歇回転方向すなわち矢印A1方向に沿って、ワークW1の各種特性の測定を行う第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7c、および測定の結果に基づいて不良と判定されたワークW1をワーク収納孔4から排出する不良ワーク排出部8、測定の結果に基づいて良品と判定されたワークW1をワーク収納孔4から排出する良品ワーク排出部9が、この順に配置されている。そして、測定装置100を構成する各部の制御を行う制御部120が設置されている。なお、搬送テーブル3が間歇回転してワークW1を搬送するので、分離供給部6から良品ワーク排出部9までの搬送テーブル3の外周部には、間歇回転の際にワークW1に作用する遠心力によりワークW1が搬送テーブル3の外側に飛び出すのを防止するための、図示されないガード壁が形成されている。同様に、分離供給部6から良品ワーク排出部9までのワーク収納孔4の上部は、間歇回転時の振動でワークW1が搬送テーブル3の上側に飛び出すのを防止するための、図示されないテーブルカバーが形成されている。
ここで、ワークW1について説明する。図3にワークW1の斜視図を、またワークW1を図3における矢印C1、D1、E1の方向から見た図をそれぞれ図4(a)、(b)、(c)に示す。さらに、ワークW1の電気回路図を図5に示す。ワークW1は発光ダイオード(LED)である。図3および図4に示すように、ワークW1は絶縁体により6面体形状に形成され、その1面である面W1f1に透明な樹脂で覆われた発光面W1Lが略平面状に形成されるとともに、面W1f1に隣接し、かつ互いに対向する2面である面W1f2および面W1f3に、それぞれ導電体からなる電極W1a、W1bが突出している。そして、電極W1a、W1bとワークW1の電気回路との対応は図5のようになっている。すなわち、電極W1aがアノード、電極W1bがカソードであり、直流電圧源から、あらかじめ規定された直流電圧を電極W1aが電極W1bよりも高い電位となるようにワークW1に対して供給すると、発光ダイオードDxすなわち図3における発光面W1Lが発光する。
このように、電極W1aと電極W1bには方向性があるので、ワークW1を外部から見た時にその方向を識別する必要がある。この目的のために、面W1f1の電極W1bに近い側の角部に、電極W1bがカソードであることを示すカソードマークW1mが印刷されている。ワークW1を構成する6面体の各辺の長さ(図4におけるa1、b1、c1)は、発光面W1Lが形成される面W1f1の各辺の長さa1、b1が5mm〜7mm程度で、電極W1a、W1bが突出する面W1f2および面W1f3の短辺の長さc1が2mm程度の製品が市販されている。
次にワーク測定装置100の動作について、以下に述べる。
図67においてワークW1は図示されないパーツフィーダにまとめて投入される。そして、図示されない方向検知機構の作用によって、図3に示す発光面W1Lが上側に向き、かつ電極W1bがワークの進行方向すなわち図67に示す矢印B1方向を向くように方向を揃えられて、リニアフィーダ5上に1列に並ぶ。リニアフィーダ5は上述のように、図示されない駆動機構の作用により振動し、この振動によりワークW1は上述の方向に揃った1列状態で矢印B1方向に搬送される。そして、停止している搬送テーブル3のワーク収納孔4の開口部に対向する位置に到達したワークW1は、分離供給部6において図示されない分離機構の作用によって1個ずつ分離されて、個別にワーク収納孔4に収納される。このとき、リニアフィーダ5上であらかじめ上述のようにワークW1の方向が揃えられているので、電極W1a、W1bがテーブルベース200側を向き、かつ電極W1b(カソード)が搬送テーブル3の中心軸3aに近い側となる状態で、ワークW1はワーク収納孔4に収納される。
次に搬送テーブル3は矢印A1の方向に間歇回転し、ワークW1は第1測定部7aにおいて停止する。そして、直流電圧源に接続された図示されないプローブがテーブルベース200内からワークW1の電極W1a、W1bに当接して直流電圧を供給し、発光面W1Lを発光させる。そして、この光をワークW1の上側に配置した図示されない波長計によって受光し、その波長を測定する。ここで、直流電圧源ならびに波長計は、市販の測定器である。
次に第2測定部7bにおいては、第1測定部7aと同様の直流電圧源に接続された図示されないプローブが電極W1a、W1bに当接して直流電圧を供給することにより発光面W1Lを発光させる。そして、この光をワークW1の上側に配置した図示されない輝度計によって受光し、その輝度を測定する。ここに、直流電圧源および輝度計は、市販の測定器である。
また、第3測定部4cにおいては、図示されないプローブを電極W1a、W1bに当接させることにより、図示されないソースメータという直流電圧源から値が変化する直流電圧をワークW1に供給して発光面W1Lを発光させ、この光を図示されないマルチチャンネル分光器で受光し、全光束測定と呼ばれるスペクトル測定を行う。ここに、ソースメータおよびマルチチャンネル分光器は、市販の測定器である。
以上の測定が終了すると、測定結果に基づいてワークW1が良品であるか不良であるかの判定が行われる。そして不良と判定されたワークW1は、搬送テーブル3の間歇回転により不良ワーク排出部8に到達すると、図示されない排出機構の作用によりワーク収納孔4から排出されて、図示されない不良ワーク収納箱に収納される。また、良品と判定されたワークW1は、上記不良ワーク排出部8においては排出されず、搬送テーブル3の間歇回転により良品ワーク排出部9に到達すると、図示されない排出機構の作用によりワーク収納孔4から排出されて、図示されない良品ワーク収納箱に収納される。
良品ワーク排出部9においてすべてのワークW1はワーク収納孔4から排出されるので、良品ワーク排出部9から分離供給部6までの間のワーク収納孔4は空となる。そして、この空のワーク収納孔4は搬送テーブル3の間歇回転により分離供給部6に到達し、そこで再び上述のようにワークW1を収納する。以上の一連の作用は、すべて制御部120の制御に基づいて実行される。
ところで、上述のように、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cには市販の測定器が配置されており、それらを用いてワークW1の特性測定が行われる。これらの測定器は、測定精度を確保するために定期的に測定精度の確認を行い、その結果によっては校正を実施する必要がある。ここに、測定器の校正とは、測定器が示す値と真の値の関係を求め、当該測定器の目盛あるいは表示の補正等を実施することである。具体的には、当該測定器により測定される真の値があらかじめ判っている試料を用いて測定を行い、当該測定器が示した測定値と真の値の差分を誤差とみなして、当該測定器がその誤差を除いた値を示すようにする。
なお、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにおいては、上述のように、いずれも複数の測定器を用いて測定を実施しており、かつ測定器とワークW1の電極W1a、W1bとの間が、図示されないケーブルおよびプローブにより接続されている。このように、複数の測定器ならびに測定器とワークとを接続する部材により構成される測定用システム、すなわち測定系を用いて測定を実施する場合は、測定系全体の測定精度を確認し、その結果に応じて各測定器の校正を行う。そのような測定精度の確認は、当該測定系により測定される真の値、すなわち校正済みの測定器ならびに測定器とワークとを接続する部材により構成される測定系により測定される真の値があらかじめ判っている試料を用いて実施する。
ここに、図67に示すワーク測定装置100は、通常モードとデータ取得モードという2種類の動作モードを有しており、いずれのモードで動作するかについて、作業者が図示されない操作盤上から設定することができる。通常モードは、上記の測定装置100の作用に関する説明のように、リニアフィーダ5により搬送されてきたワークW1を分離供給部6においてワーク収納孔4に収納し、搬送しながら各種測定を実施し、測定結果に基づいてワークW1が良品か不良品かを判定して、その判定結果に対応する排出部において排出するモードである。
一方、データ取得モードは測定系の測定精度の確認を実施する際のデータを取得するモードであり、分離供給部6においてワーク収納孔4に収納されたサンプルワークW1s(図30(a)(b)および図31(a)(b)参照)に対して、搬送しながら各種測定を実施した後、測定結果に基づく判定結果に対応する排出部からの排出を行うことなく、当該サンプルワークW1sが分離供給部6に戻ってきたら測定装置100の動作を停止するものである。ここに、サンプルワークW1sはワークW1と同一であり、かつ第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにより特性があらかじめ測定してあるワークである。このデータ取得モードの動作もまた、通常モードと同様に制御部120の制御に基づいて行われる。通常モードで動作している測定装置100をデータ取得モードに移行させて、測定系の精度を確認する従来技術による手順は、以下のとおりである。
まず、作業者は図67に示すワーク測定装置100(通常モードで動作中)の電源を切って、その動作を停止させる。そして、ピンセット等を用いて搬送テーブル3のワーク収納孔4内のすべてのワークW1を回収する。次に作業者は、サンプルワークW1sを、分離供給部6の位置にあるワーク収納孔4にピンセットを用いて1個収納する。そして、ワーク測定装置100の電源を入れ、図示されない操作盤からデータ取得モードによる動作を設定する。
この場合、ワーク測定装置100は上述のようにデータ取得モードによる動作を行い、停止する。作業者はピンセットを用いて分離供給部6の位置にあるワーク収納孔4内のサンプルワークW1sを回収する。次に、今回収したサンプルワークW1sとは別の、かつ校正済みの測定器ならびに測定器とワークとを接続する部材により構成された測定系により測定した、特性が異なるサンプルワークW1sを、分離供給部6の位置にあるワーク収納孔4にピンセットを用いて1個収納する。そして、先程と同様にデータ取得モードにより測定装置100を動作させる。このように、特性にばらつきのある複数のサンプルワークW1sの測定を実施することにより、測定系の測定精度確認の信頼性を向上させることができる。データ取得モードにおいて、測定する複数のサンプルワークW1sの特性のばらつき、および測定するサンプルワークW1sの個数は、校正対象となる測定器の特性や、測定項目に要求される測定精度等を考慮して、あらかじめ決めておく。
このようにして、あらかじめ決められた個数のサンプルワークW1sの測定が終了すると、作業者は、これらのサンプルワークW1sをワーク測定装置100により測定したデータと、あらかじめ校正済みの測定器ならびに測定器とワークとを接続する部材により構成された測定系により測定したデータとを比較する。両者のデータの差異が、あらかじめ規定した規格値以内であれば、ワーク測定装置100に使用している測定器の校正を実施することなく、再び通常モードによる動作を開始する。
他方、両者のデータの差異が、あらかじめ規定した規格値を超えていた場合には、ワーク測定装置100に使用している測定器の校正を実施し、その後再び通常モードによる動作を開始する。なお、ワーク測定装置100をデータ取得モードで動作させる周期、すなわち通常モードによる動作をどのくらい継続した段階で測定系の測定精度を確認するためのデータ取得に移行するかという通常モード動作継続時間は、上記のサンプルワークW1sの特性のばらつきや個数と同様に、校正対象となる測定器の特性や、測定項目に要求される測定精度等を考慮して、あらかじめ決めておく。そして、制御部120に時間計測を行うタイマー機能を内蔵させ、ワーク測定装置100の通常モードによる稼動時間を計測し、その稼動時間があらかじめ決められた上記動作継続時間に到達した時に、ブザー等により作業者に通知するようにしておく。
以上のような、従来技術による測定系の測定精度確認には、以下のような問題点がある。まず、通常モードにより動作しているワーク測定装置100の電源を切って、その動作を停止させ、ワーク収納孔4内のすべてのワークW1を回収する作業や、サンプルワークW1sをワーク収納孔4に収納し、ワーク測定装置100をデータ取得モードにより動作させてから、サンプルワークW1sを回収する作業のすべてが、作業者の手作業によって行われるので、非常に時間がかかるという点である。特にサンプルワークW1sは1個ずつ測定を実施しては入れ替えるため、時間のかかる要素を増大させる。このように、データ取得モードの作業時間が増大することにより、ワーク測定装置100の稼働率が低下する。
次の問題点は、ワークW1(サンプルワークW1s)が非常に小さいことにより、作業品質が低下しやすいことである。上述のように、ワークW1を構成する6面体の各辺の長さは、たかだか2mm〜7mmである(図4)。このため、作業者がピンセットを用いてサンプルワークW1sを扱う際に、誤ってピンセットからはずれて落下する、あるいは紛失する等の事故が発生しやすい。また、このようにワークW1の外形寸法が非常に小さいために、図4(a)に示すカソードマークW1mが見づらく、サンプルワークW1sをワーク収納孔4に収納する際に方向を誤りやすい。また、図4(a)に示す発光面W1Lは樹脂製のため、ピンセットを用いてワークW1あるいはサンプルワークW1sを扱う際に、発光面W1Lを傷付けるおそれがある。さらに、外観が同一で特性の異なる複数のサンプルワークW1sの識別を誤り、それが原因となって各サンプルワークのワーク測定装置100における正しい測定データを把握することができなくなるおそれもある。
そして、これらの問題点を回避して、作業品質を低下させないようにするために、作業者は細心の注意を払って作業を行うことになる。これは、作業時間の更なる増大を招いて、装置の稼働率を更に低下させるとともに、作業者の肉体的ならびに心理的負担を著しく増大させる結果となる。
特開2012−20822号公報
本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、測定手段の測定精度を容易かつ確実に確認することができるワーク測定装置およびワーク測定方法を提供することを目的とする。
本発明は、ワークまたはサンプルワークを保持する複数の保持部を有し、回転自在に設けられた搬送体と、搬送体の保持部にワークを個別に分離して供給する分離供給手段と、分離供給手段の下流側に配置され、搬送体の保持部に保持されたワークまたはサンプルワークの特性を測定する測定手段と、測定手段の下流側に配置され、搬送体の保持部に保持されたワークを排出する排出手段とを備え、分離供給手段と測定手段との間に、予め基準特性が定められたサンプルワークを搬送体の保持部に供給するとともにサンプルワークが収納される複数の保管部を有するサンプルワーク供給手段を設け、搬送体と、分離供給手段と、測定手段と、排出手段と、サンプルワーク供給手段を制御する制御装置を設け、制御装置は通常測定モードをとるとき、分離供給手段から搬送体の保持部に供給されたワークを測定手段で測定した後、排出手段から排出し、サンプル測定モードをとるとき、サンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部に供給されたサンプルワークを測定手段で測定した後、排出手段から排出することなくサンプルワーク供給手段の保管部に戻すことを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、サンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部に供給されたサンプルワークは、測定手段で測定された後、サンプルワーク供給手段の元の保管部に戻されることを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、制御装置は測定手段により測定されたサンプルワークの測定結果と、予め内蔵されたサンプルワークの基準特性とを比較してその差異を求める比較部と、比較部に接続され測定結果とサンプルワークの基準特性の差異が所定値を越えた際に警報を発する警報部とを有することを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、サンプルワーク供給手段はサンプルワークがサンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部内に供給されたこと、およびサンプルワークがサンプルワーク供給手段の保管部へ戻されたことを各々検知する移載検知手段を有することを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、制御装置は通常測定モードとサンプル測定モードとを自動的に切換える自動切換手段を有することを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、制御装置は通常測定モードとサンプル測定モードとを手動で切換える手動切換手段を有することを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、手動切換手段は押しボタンスイッチを有することを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、搬送体は円形の搬送テーブルを有することを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、搬送体の保持部は搬送テーブルの外周に設けられ、外側に向けて開口する凹部からなることを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、搬送体の保持部は、搬送テーブルの外周近傍に設けられ、搬送テーブルを貫通する貫通孔からなることを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、搬送体の保持部は搬送テーブルの一方の面に設けられ、この一方の面に対して進退する搬送ノズルからなることを特徴とするワーク測定装置である。
本発明は、ワークまたはサンプルワークを保持する複数の保持部を有し、回転自在に設けられた搬送体と、搬送体の保持部にワークを個別に分離して供給する分離供給手段と、分離供給手段の下流側に配置され、搬送体の保持部に保持されたワークまたはサンプルワークの特性を測定する測定手段と、測定手段の下流側に配置され、搬送体の保持部に保持されたワークを排出する排出手段とを備え、分離供給手段と測定手段との間に、予め基準特性が定められたサンプルワークを搬送体の保持部に供給するとともにサンプルワークが収納される複数の保管部を有するサンプルワーク供給手段を設け、搬送体と、分離供給手段と、測定手段と、排出手段と、サンプルワーク供給手段を制御する制御装置を設けたワーク測定装置を用いたワーク測定方法において、制御装置が通常測定モードをとって、分離供給手段から搬送体の保持部に供給されたワークを測定手段で測定した後、排出手段から排出する工程と、制御装置がサンプル測定モードをとって、サンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部に供給されたサンプルワークを測定手段で測定した後、排出手段から排出することなくサンプルワーク供給手段の保管部に戻す工程とを備えたことを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、サンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部に供給されたサンプルワークは、測定手段で測定された後、サンプルワーク供給手段の元の保管部に戻されることを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、制御装置は測定手段により測定されたサンプルワークの測定結果と、予め内蔵されたサンプルワークの基準特性とを比較してその差異を求める比較部と、比較部に接続され測定結果とサンプルワークの基準特性の差異が所定値を越えた際に警報を発する警報部とを有することを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、サンプル供給手段はサンプルワークがサンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部内に供給されたこと、およびサンプルワークがサンプルワーク供給手段の保管部へ戻されたことを各々検知する移載検知手段を有することを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、制御装置は通常測定モードとサンプル測定モードとを自動的に切換える自動切換手段を有することを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、制御装置は通常測定モードとサンプル測定モードとを手動で切換える手動切換手段を有することを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、手動切換手段は押しボタンスイッチを有することを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、搬送体は円形の搬送テーブルを有することを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、搬送体の保持部は搬送テーブルの外周に設けられ、外側に向けて開口する凹部からなることを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、搬送体の保持部は、搬送テーブルの外周近傍に設けられ、搬送テーブルを貫通する貫通孔からなることを特徴とするワーク測定方法である。
本発明は、搬送体の保持部は搬送テーブルの一方の面に設けられ、この一方の面に対して進退する搬送ノズルからなることを特徴とするワーク測定方法である。
以上のように本発明によれば、測定手段の測定精度を容易かつ確実に確認することができる。
図1は本発明の第1の実施形態であるワーク測定装置を示す平面図。 図2は図1における領域P1の拡大図。 図3はワークを示す斜視図。 図4(a)(b)(c)は各々、図3における矢印C1、D1、E1方向から見た図。 図5はワークの電気回路図。 図6は分離供給部におけるワーク収納孔を示す斜視図。 図7は分離供給部においてワークを収納したワーク収納孔を示す斜視図。 図8(a)(b)(c)はワーク測定装置における位置認識機能の説明図。 図9は図2における移載部の拡大斜視図。 図10は図9において、ワーク収納孔にサンプルワークが収納されている状態を示す斜視図。 図11(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図12(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図13(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図14(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図15(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図16(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図17(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図18(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図19(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図20(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図21(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図22(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図23(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図24(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図25(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図26(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図27(a)(b)(c)はワーク測定装置における各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示す図。 図28(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図29(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図30(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図31(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図32(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図33(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図34(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図35(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図36は本発明の第2の実施形態であるワーク測定装置を示す正面図。 図37は図36における矢印M方向からワーク測定装置を見た図。 図38は図36における領域P2の拡大図。 図39はワークを示す斜視図。 図40(a)(b)(c)は、各々図39における矢印C2、D2、E2方向から見た図。 図41はワークの電気回路図。 図42は分離供給部におけるワーク収納孔を示す斜視図。 図43は分離供給部においてワークを収納したワーク収納孔を示す斜視図。 図44(a)(b)(c)は測定装置における位置認識機能の説明図。 図45は図38における移載部を矢印K2方向から見た透視図。 図46は移載部を示す拡大斜視図。 図47は図46において、ワーク収納孔にサンプルワークが収納されている状態を示す斜視図。 図48(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図49(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図50(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図51(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図52は本発明の第3の実施形態によるワーク測定装置を示す平面図。 図53は図52における矢印N方向からワーク測定装置を見た正面図。 図54はワークを示す斜視図。 図55(a)(b)(c)は、各々図54における矢印C3、D3、E3方向から見た図。 図56はワーク測定装置における位置認識機能の説明図。 図57はワークに搬送ノズルが当接した状態の説明図。 図58はワーク収納孔にサンプルワークが収納されている斜視図。 図59(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図60(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図61(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図62(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図63(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図64(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図65(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図66(a)(b)はワーク測定装置におけるサンプルワーク移載手順と移載完了確認方法の説明図。 図67は従来技術によるワーク測定装置を示す平面図。
発明の実施の形態
第1の実施の形態
以下、図面を参照して本発明の第1の実施の形態について説明する。
まず本発明によるワーク測定装置およびワーク測定方法により測定されるワークについて説明する。
図3にワークW1の斜視図を、またワークW1を図3における矢印C1、D1、E1の方向から見た図をそれぞれ図4(a)、(b)、(c)に示す。さらに、ワークW1の電気回路図を図5に示す。ワークW1は発光ダイオード(LED)である。図3および図4に示すように、ワークW1は絶縁体により6面体形状に形成され、その1面である面W1f1に透明な樹脂で覆われた発光面W1Lが略平面状に形成されるとともに、面W1f1に隣接し、かつ互いに対向する2面である面W1f2および面W1f3に、それぞれ導電体からなる電極W1a、W1bが突出している。そして、電極W1a、W1bとワークW1の電気回路との対応は図5のようになっている。すなわち、電極W1aがアノード、電極W1bがカソードであり、直流電圧源から、あらかじめ規定された直流電圧を電極W1aが電極W1bよりも高い電位となるようにワークW1に対して供給すると、発光ダイオードDxすなわち図3における発光面W1Lが発光する。
このように、電極W1aと電極W1bには方向性があるので、ワークW1を外部から見た時にその方向を識別する必要がある。この目的のために、面W1f1の電極W1bに近い側の角部に、電極W1bがカソードであることを示すカソードマークW1mが印刷されている。ワークW1を構成する6面体の各辺の長さ(図4におけるa1、b1、c1)は、発光面W1Lが形成される面W1f1の各辺の長さa1、b1が5mm〜7mm程度で、電極W1a、W1bが突出する面W1f2および面W1f3の短辺の長さc1が2mm程度の製品が市販されている。
次にワーク測定装置について、図1乃至図35により述べる。
ワーク測定装置1は、ワークW1またはサンプルワークW1sを保持する複数のワーク収納孔(保持部)4を有し、水平に配置されたテーブルベース2上に回転自在に設けられた円形の搬送テーブル(搬送体)3と、搬送テーブル3のワーク収納孔4にワークW1を個別に分離して供給する分離供給部(分離供給手段)6と、分離供給部6の下流側に設けられ搬送テーブル3のワーク収納孔4に保持されたワークW1またはサンプルワークW1sの特性を測定する第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cと、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cの下流側に配置され、搬送テーブル3のワーク収納孔4に保持されたワークW1を排出する不良ワーク排出部8および良品ワーク排出部9とを備えている。
このうち、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにより測定手段が構成され、不良ワーク排出部8および良品ワーク排出部9により排出手段が構成される。
また搬送テーブル3は、図示されない駆動機構の作用により中心軸3aの周囲に矢印A1の方向に間歇回転する。また各ワーク収納孔4は搬送テーブル3の外周部に、中心に向けて形成され、これらワーク収納孔4は搬送テーブル3の外側に向けて開口する凹部からなり、ここに図3および図4に示す被測定ワークとしてのワークW1およびサンプルワークW1sを個別に収納して搬送する。
さらに搬送テーブル3の外周部に向けて直線形状のリニアフィーダ5が配置されている。リニアフィーダ5は図示されない駆動機構の作用により振動し、この振動によりワークW1を1列状態で矢印B1方向に搬送する機能を有する。リニアフィーダ5の終端部は搬送テーブル3の外周部に近接し、そこにおいてワーク収納孔4の開口部に対向する。リニアフィーダ5の終端部とワーク収納孔4の開口部が対向する位置には、上述のようにリニアフィーダ5上のワークWを1個ずつ分離して個別にワーク収納孔4に供給する分離供給手段としての分離供給部6が配置されている。この分離供給部6から搬送テーブル3の間歇回転方向すなわち矢印A1方向に沿って、上述のようにワークW1の各種特性の測定を行う測定手段としての第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7c、および測定の結果に基づいて不良と判定されたワークW1をワーク収納孔4から排出する排出手段としての不良ワーク排出部8、測定の結果に基づいて良品と判定されたワークW1をワーク収納孔4から排出する排出手段としての良品ワーク排出部9が、この順に配置されている。
また搬送テーブル3の間歇回転方向すなわち矢印A1方向に沿って、分離供給部6と第1測定部7aの間に、サンプルワーク供給手段としてのサンプルテーブル10xが配置され、かつサンプルテーブル10xと搬送テーブル3との間にサンプルワークW1sの移載を行う移載部10tが配置されている。
このサンプルテーブル10xと移載部10tとにより、測定系確認部10が構成されている。サンプルテーブル10xの形状は搬送テーブル3と同様に円形をなし、図示されない駆動機構の作用により、中心軸10xaの周囲に矢印X1方向に間歇回転する。サンプルテーブル10xの外周部には、搬送テーブル3と同様に保管部としての複数のワーク収納孔11が外側に向けて開口して形成され、ワーク収納孔11にはサンプルワークW1sが保管される。
そして、ワーク測定装置1を構成する搬送テーブル3、分離供給部6、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7c、不良ワーク排出部8、良品ワーク排出部9、サンプルテーブル10x、および移載部10tの制御を行うため制御部(制御装置)12が設置されている。
なお、搬送テーブル3が間歇回転してワークW1を搬送するので、分離供給部6から良品ワーク排出部9までの搬送テーブル3の外周部には、間歇回転の際にワークW1に作用する遠心力によりワークW1が搬送テーブル3の外側に飛び出すのを防止するため、図示しないガード壁が形成されている。
同様に、分離供給部6から良品ワーク排出部9までのワーク収納孔4の上部には、間歇回転時の振動でワークW1が搬送テーブル3の上側に飛び出すのを防止するため、図示しないテーブルカバーが形成されている。
同様に、サンプルテーブル10xが間歇回転してサンプルワークW1sを搬送するので、サンプルテーブル10xの外周部には、間歇回転の際にサンプルワークW1sに作用する遠心力によりサンプルワークW1sがサンプルテーブル10xの外側に飛び出すのを防止するため、図示しないガード壁が形成されている。同様に、サンプルテーブル10xのワーク収納孔11の上部には、間歇回転時の振動でサンプルワークW1sがサンプルテーブル10xの上側に飛び出すのを防止するための、図示しないテーブルカバーが形成されている。
図1における測定系確認部10付近、すなわち一点鎖線領域P1の拡大図を、図2に示す。搬送テーブル3のワーク収納孔4とサンプルテーブル10xのワーク収納孔11は、いずれもテーブルの外側に向けて開口しており、移載位置において移載部10t側にそれぞれの開口部が対向する。この開口部が対向した状態のワーク収納孔4とワーク収納孔11を、図2においてはワーク収納孔4tおよびワーク収納孔11tと記載している。ワーク収納孔4およびワーク収納孔11には、図3および図4に示す形状のワークW1およびサンプルワークW1sが収納される。ここに、サンプルワークW1sは、ワークW1と同一であり、かつその特性すなわち図1に示す第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにおけるそれぞれの測定結果が既知であるワークである。
具体的には、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにおいて使用される測定器と同一かつ校正済みの測定器を用いて、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにおける測定項目と同一の測定をサンプルワークW1sに対してあらかじめ実施し、その測定結果(基準特性)を制御部12内の記憶手段としての記憶部12aに記憶させておく。このワンプルワークW1sの基準特性は、制御部12の制御によって記憶部12aから読み出すことが可能になっている。また制御部12はサンプル測定モードをとったとき、サンプルワークW1sの基準特性とワークW1の測定結果とを比較する比較部12bと、比較部12bにより比較した結果、両者の差異が所定値を越えた際、警報を発する警報部12cとを有している。また制御部12は通常測定モードをとったとき、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cによる測定結果に基づいてワークW1が良品か不良品かの判定を行なう判定部12dを有している。
次に搬送テーブル3のワーク収納孔4について、図6および図7を用いて説明する。図6はワーク収納孔4が図1における分離供給部6に停止している状態の斜視図である。ワーク収納孔4はテーブルベース2上に水平に配置された搬送テーブル3の外側に向けて開口しており、図1に示すリニアフィーダ5の終端部がこの開口部に対向して位置するが、図6においては図示されていない。この開口部の反対側すなわち搬送テーブル3の中心軸3a(図1)側にあるワーク収納孔4の壁面4wには、エア制御孔4aが形成されている。エア制御孔4aは分離供給部6において、テーブルベース2に形成されたエア通路6vを経由して、テーブルベース2内に設置された真空発生源13に連通している。そして、この真空発生源13からの矢印F6方向の真空吸引によって、ワーク収納孔4の内部には壁面4wに向けて吸引力が作用する。また、搬送テーブル3においてはワーク収納孔4の上面は開放されているが、分離供給部6においてワーク収納孔4の上面およびリニアフィーダ5の終端部の上面は、図示されないカバーにより覆われている。このカバーの存在により、ワーク収納孔4の内部は略密閉状態となり、上記吸引力が効率良く作用する。
次にこのような構成からなる本実施の形態の作用、すなわちワーク測定方法について説明する。
図1において、ワークW1は図示されないパーツフィーダにまとめて投入される。そして、図示されない方向検知機構の作用によって、図3に示す発光面W1Lが上側に向き、かつ電極W1bがワークの進行方向すなわち図1に示す矢印B1方向を向くように方向を揃えられて、リニアフィーダ5上に1列に並ぶ。リニアフィーダ5は上述のように、図示されない駆動機構の作用により振動し、この振動によりワークW1は上述の方向に揃った1列状態で矢印B1方向に搬送される。そして、停止している搬送テーブル3のワーク収納孔4の開口部に対向する位置に到達したワークW1は、分離供給部6において図示されない分離機構の作用によって1個ずつ分離されて、図6に示す矢印F6方向の真空吸引により、個別にワーク収納孔4に収納される。
このようにして、ワーク収納孔4にワークW1が収納された様子を、斜視図として図7に示す。このとき、リニアフィーダ5上であらかじめ上述のようにワークW1の方向が揃えられているので、ワークW1は発光面W1Lが上側を向き、かつ電極W1b(カソードマークW1m)が搬送テーブル3の回転軸3a(図1)に近い側となる状態で、ワーク収納孔4に収納される。
次に搬送テーブル3が図1に示す矢印A1の方向に間歇回転し、分離供給部6においてワーク収納孔4に収納されたワークW1は移載部10tを通過して、第1測定部7aで停止する。そして、図示されない直流電源および波長計を使用して、ワークW1の波長測定を実施する。次に、搬送テーブル3の間歇回転により、第2測定部7bに到達して停止したワークW1は、図示されない直流電源および輝度計を使用して、ワークW1の輝度測定を実施する。そして、搬送テーブル3の間歇回転により、第3測定部7cに到達して停止したワークW1は、図示されないソースメータおよびマルチチャンネル分光器を使用して、ワークW1の全光束測定を実施する。
以上の測定が終了すると、第1測定部7a、第2測定部7bおよび第3測定部7cからの測定結果に基づいて、制御部12は判定部12dによりワークW1が良品か不良品かを判定する。そして、その判定結果に対応して、搬送テーブル3の間歇回転により、不良ワーク排出部8あるいは良品ワーク排出部9においてワーク収納孔4内のワークW1を排出する。良品ワーク排出部9においてすべてのワーク収納孔4が空になり、搬送テーブル3の間歇回転により分離供給部6に到達した空のワーク収納孔4に再びワークW1が収納され、上記と同様の作用が繰り返される。以上の一連の作用は通常測定モードと呼ばれ、すべて制御部12の制御に基づいて実行される。
ここで、制御部12には時間計数機能を有するタイマー12eが内蔵され、上記通常測定モードの動作時間を計数している。そして動作時間があらかじめ決められた時間に到達すると、自動切換手段12fにより通常測定モードを中断して、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cに配置されている測定器を含む測定系の測定精度の確認を行うサンプル測定モードに移行させる(切換える)。
サンプル測定モードにおいて、サンプルテーブル10xのワーク収納孔11にあらかじめ収納されているサンプルワークW1sを、移載部10tから搬送テーブル3のワーク収納孔4に移載し、分離供給部6からワーク収納孔4に供給されたワークW1と同様に搬送テーブル3の間歇回転によって搬送しながら、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにおいて測定を実施し、測定結果をデータとして取得する。ただし、測定結果に基づいて不良ワーク排出部8あるいは良品ワーク排出部9においてワーク収納孔4内からサンプルワークW1sを排出することはなく、搬送テーブル3の間歇回転によってサンプルワークW1sが再び移載部10tに到達したら、搬送テーブル3のワーク収納孔4に収納されているサンプルワークW1sを、移載部10tにおいてサンプルテーブル10xのワーク収納孔11のうち、当該サンプルワークW1sがあらかじめ収納されていたワーク収納孔11に再度収納する。すなわち、本実施形態においては、測定器の校正のためにサンプルワークW1sのデータ取得を行うべきタイミングは、ワーク測定装置1を動作させるプログラムにより自動設定されている。
ここで、測定装置1がサンプル測定モードで動作する際の前提条件である、搬送テーブル3のワーク収納孔4およびサンプルテーブル10xのワーク収納孔11の位置認識機能について、図8(a)(b)(c)を用いて説明する。
図8(a)は、図1に示す搬送テーブル3に形成された全部で16個のワーク収納孔4と、サンプルテーブル10xに形成された全部で8個のワーク収納孔11の模式図である。ただし、図を見やすくするために、図1に示す各部のうち、図8(a)には搬送テーブル3とサンプルテーブル10xおよびリニアフィーダ5と移載部10tのみを表記している。また、図1においては、搬送テーブル3とサンプルテーブル10xは移載部10tにおいて極めて近接して配置されているが、図8(a)においては表記の都合上、移載部10tにおいて両テーブルを離間させて配置している。
まず、図8(a)において各ワーク収納孔に付与されている番号について説明する。搬送テーブル3のワーク収納孔4は、上記のように全部で16個が形成されている。各ワーク収納孔4における搬送テーブル3の中心軸3a側に記載された番号<1>〜<16>は、当該ワーク収納孔4が存在する位置すなわち搬送テーブル3の間歇回転に無関係な固定位置を示す。リニアフィーダ5の終端部に対向する位置が<1>であり、図3に示すワークW1は、位置<1>においてリニアフィーダ5から分離供給部6(図1)の作用により、矢印G1方向にワーク収納孔4に収納される。以下搬送テーブル3の間歇回転方向すなわち矢印A1方向に<1,2,・・・>内の番号が1ずつ増加し、最大値<16>の次に<1>に戻る。例えば、移載部10tの位置は<3>で表わされる。
これに対して、各ワーク収納孔4における搬送テーブル3の外側に記載された番号(1)〜(16)は、当該ワーク収納孔4に個別に付与された孔番号である。すなわち、孔番号は搬送テーブル3の間歇回転に対応して位置が変化するもので、時計回りに増加するように付与される。位置と孔番号の具体例は以下のとおりである。
図8(a)において、孔番号(1)を付与されたワーク収納孔4は位置<1>に存在している。この状態から搬送テーブル3が矢印A1方向に1回間歇回転して停止すると、孔番号(1)を付与されたワーク収納孔4は位置<2>に移動し、同時に位置<1>には図8(a)において孔番号(16)を付与されたワーク収納孔4が移動する。
上述の位置と孔番号の付与規則は、サンプルテーブル10xのワーク収納孔11についても同様である。サンプルテーブル10xにおいては、位置をで表記し、孔番号を[1]〜[8]で表記している。位置はサンプルテーブル10xの間歇回転方向すなわち矢印X1方向に,・・・の数字が増加し、孔番号[1]〜[8]は時計回りに増加している。そして、位置は移載部10tにおけるワーク収納孔11の位置であり、そこには孔番号[8]のワーク収納孔11がある。すなわち、移載部10tにおいて、搬送テーブル3における位置<3>のワーク収納孔4とサンプルテーブル10xにおける位置のワーク収納孔11が対向している。そして後述のように、ワーク測定装置1がサンプル測定モードで動作する際には、位置のワーク収納孔11から位置<3>のワーク収納孔4に向けて矢印H1方向にサンプルワークW1sが移載され、位置<3>のワーク収納孔4から位置1のワーク収納孔11に向けて矢印J1方向にサンプルワークW1sが移載される。なお、位置および孔番号が記載されていない図2ならびに図2を引用する文章においては、上記の移載部10tにおいて対向する搬送テーブル3のワーク収納孔4とサンプルテーブル10xのワーク収納孔11について、それぞれワーク収納孔4tおよび11tと表記している。
ここに、ワーク収納孔4およびワーク収納孔11の位置と孔番号が図8(a)に示すように対応して搬送テーブル3およびサンプルテーブル10xが停止している状態を初期状態と呼ぶ。そして、ワーク測定装置1の電源を入れると必ず初期状態となるように、図1に示す制御部12が制御を行う。
以上の説明から、動作中のワーク測定装置1において、すべてのワーク収納孔4およびワーク収納孔11は、孔番号により個々に識別可能であり、かつその位置を識別することが可能であることがわかる。すなわち、ワーク収納孔4およびワーク収納孔11にそれぞれ収納されているワークW1あるいはサンプルワークW1sを制御部12が個々に識別することができる。その識別情報に基づいて、制御部12は各種制御を実行する。
図8(a)すなわち初期状態におけるワーク収納孔4およびワーク収納孔11の位置と孔番号の対応を示す表を、図8(b)、(c)に示す。図8(b)がワーク収納孔4を示し、図8(c)がワーク収納孔11を示す。図8(b)(c)に示す各表のデータ欄には、当該の孔番号を付与されたワーク収納孔4、11に収納されているワークW1(サンプルワークWs1)を個別に識別して記載する。ここでは便宜上、すべてのデータ欄に当該ワーク収納孔が空であることを示す「−」が記載されている。また、図8(b)の位置<1>および位置<3>と図8(c)の位置には、図8(a)における矢印G1、H1、J1に対応する矢印が記載されている。
図2における移載部10tの拡大斜視図を図9に示す。ここに、図9における搬送テーブル3の方向は図6と同一にしてある。移載部10tにおいて、搬送テーブル3のワーク収納孔4tとサンプルテーブル10xのワーク収納孔11tは、それぞれの開口部が極めてわずかな間隙を有して対向している。搬送テーブル3の中心軸3a(図1)側にあるワーク収納孔4tの壁面4wに形成されたエア制御孔4aは、移載部10tにおいてテーブルベース2に形成されたエア通路10p2を経由して、切替弁14aに連通している。切替弁14aは3通りの切替モードx1、x2、x3を選択する機能を有する。
切替モードx1はテーブルベース2内に設置された真空発生源13を選択するもので、このときエア通路10p2は真空発生源13に連通し、エア制御孔4aからワーク収納孔4t内が矢印V102の方向に真空吸引される。また、切替モードx2はテーブルベース2内に設置された圧縮エア発生源15を選択するもので、このときエア通路10p2は圧縮エア発生源15に連通し、エア制御孔4aからワーク収納孔4t内に矢印C102の方向に圧縮エアが噴出する。また、切替モードx3は何も選択しないので、エア通路10p2はどこにも連通することがなく、ワーク収納孔4t内は大気圧の状態を保つ。
また、移載部10tにおいて、ワーク収納孔4tが位置するテーブルベース2にはセンサ通路10s2が形成されている。センサ通路10s2の下方となるテーブルベース2内には、図9においては図示されていないが、後述する光センサ光源4La(図28乃至図35)が配置されており、ワーク収納孔4t内に向けて上向きの光を送出する。
以上のワーク収納孔4tに関わる構成と作用は、移載部10tにおいてワーク収納孔4tに対向するワーク収納孔11tについても同様である。
サンプルテーブル10xの中心軸10xa(図1)側にあるワーク収納孔11tの壁面11wに形成されたエア制御孔11aは、移載部10tにおいてテーブルベース2に形成されたエア通路10p1を経由して、切替弁14bに連通している。そして、切替弁14bが切替モードx1、x2、x3を選択することによって、ワーク収納孔4tと同様に、ワーク収納孔11t内が矢印V101の方向に真空吸引され、またワーク収納孔11t内に矢印C101の方向に圧縮エアが噴出し、またワーク収納孔11t内が大気圧の状態を保つ。
また、移載部10tにおいて、ワーク収納孔11tが位置するテーブルベース2にはセンサ通路10s1が形成されている。センサ通路10s1の下方となるテーブルベース2内には、図9においては図示されていないが、後述する光センサ光源11La(図28乃至図35)が配置されており、光センサ光源4La(図28乃至図35)と同様に光の送出を行う。
図9に示す移載部10tにおいて、ワーク収納孔11tにサンプルワークW1sが収納されている斜視図を図10に示す。切替弁14aは切替モードx3を選択し、切替弁14bは切替モードx1を選択している。このため、サンプルワークW1sは矢印V101の方向に真空吸引されて、ワーク収納孔11tに保持されている。また、このときのサンプルワークW1sは、発光面W1Lを上側に向け、電極W1a(アノード)を壁面11w側に向けた状態となっている。この状態から、ワーク収納孔11tに対向するワーク収納孔4tに移載されると、サンプルワークW1sの向きは図7に示すワークW1の向きに一致する。
移載部10tにおけるサンプルワークW1sの移載について、図11乃至図35を用いて詳細に説明する。
図11(a)(b)(c)乃至図27(a)(b)(c)は、図1における一点鎖線領域P1の拡大図である図2に、図8に示す位置ならびに孔番号を対応させ、各ワーク収納孔内のワークの移動の様子を示した模式図である。
ここに、図11(a)(b)(c)乃至図27(a)(b)(c)および対応する説明においては、搬送テーブル3の全16個のワーク収納孔4を孔番号によりワーク収納孔(1)、ワーク収納孔(2)、・・・のように記載して個々に区別する。同様に、サンプルテーブル10xの全8個のワーク収納孔11を孔番号によりワーク収納孔[1] 、ワーク収納孔[2]、・・・のように記載して個々に区別する。また、リニアフィーダ5により搬送されて、通常測定モードにおいて搬送テーブル3により搬送されるワークW1(図7)については1,2,・・・のような表記で個々に区別する。そして同様に、通常測定モードにおいてサンプルテーブル10xに保管され、サンプル測定モードにおいて搬送テーブル3により搬送されるサンプルワークW1s(図10)についてはa,b,・・・のような表記で個々に区別する。
また、本実施形態においてはサンプルワークW1sの数を4個とする。図11は図8に示す初期状態である。すなわち、位置<1>にはワーク収納孔(1)が停止している。このとき、搬送テーブル3のワーク収納孔(1)乃至(16)はすべて空であり、この状態を図11(b)において、孔番号(1)から(16)までのすべてのデータ欄に当該ワーク収納孔が空であることを示す「−」を記載することにより表わしている。
また、サンプルテーブル10xのワーク収納孔[1]にはサンプルワークaが収納され、同様にワーク収納孔[2]、[3]、[4]にはそれぞれサンプルワークb,c,dが収納されている。この状態を図11(c)において、孔番号[1]、[2]、[3]、[4]のデータ欄にそれぞれa,b,c,dと記載することにより表わしている。
なお、サンプルテーブル10xについても、空のワーク収納孔に対応するデータは「−」を記載する。また、図11(a)において、リニアフィーダ5上には、搬送テーブル3に近い側から順にワーク1,2,3が順に並んでいる。そして、図示されていないが、ワーク3の左側には、さらにワーク4,5,・・・のように多数のワークW1が一列に並んでおり、リニアフィーダ5によって図1の矢印B1方向に搬送されている。
次に、図12(a)に示すように、リニアフィーダ5上のワーク1が、図1における分離供給部6の作用により分離された後、図7における矢印F6方向の真空吸引によって、図12(a)に矢印G1で示す方向に移動し、搬送テーブル3のワーク収納孔(1)に収納される。この状態を、図12(b)において、位置<1>および孔番号(1)に対応する行の左側に矢印G1を表記し、併せてデータを1とすることで表わしている。
この状態から通常測定モードが開始され、搬送テーブル3は図1における矢印A1方向に間歇回転し、ワーク1を搬送する。そして、搬送テーブル3が停止すると、空のワーク収納孔(16)が位置<1>に停止して、そこにワーク2が収納される。そして、同様に搬送テーブル3が図1における矢印A1方向に間歇回転し、空のワーク収納孔(15)が位置<1>に停止して、そこにワーク3が収納される。このときの様子を図13(a)に示す。
位置<1>にはワーク収納孔(15)が停止して、矢印G1方向にワーク3が収納されている。今までワーク1、2が収納されたワーク収納孔(1)、(16)は、それぞれ位置<3>、<2>まで移動している。このとき、ワーク収納孔(1)は位置<3>、すなわち移載部10tに停止しているが、通常測定モードであるため、ワーク収納孔(1)に対する移載部10tの作用はない。
図13の状態の後は、搬送テーブル3の空のワーク収納孔にリニアフィーダ5から位置<1>においてワークW1が次々と収納される。そして、ワークW1は搬送テーブル3の間歇回転により搬送されて、上述のように各種測定を実施した後、搬送テーブル3から排出される。そして排出により再び空になったワーク収納孔は位置<1>に到達し、同様の動作が繰り返される。これらはすべて図1に示す制御部12の制御によって実施される。
ところで、上述のように、ワーク測定装置1において、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cの測定精度を確認するためにサンプルワークW1sのデータ取得を行うべきタイミングは、ワーク測定装置1を動作させるプログラムによる自動設定になっている。
このため、以上のような通常測定モードがあらかじめ規定された時間だけ継続したことをタイマー12eが時間計数によって検知すると、制御部12は上記タイミングが到来したものと判断する。そして、サンプルワークW1sのデータ取得を行うサンプル測定モードに移行するように制御を行う。その動作を以下に詳述する。
まず、上記タイミングにおいて、図1に示す分離供給部6の動作を停止する。これにより、搬送テーブル3のワーク収納孔4には、ワークW1が新たに収納されなくなる。そして、上記タイミング以前に搬送テーブル3のワーク収納孔4に収納されたワークW1は、搬送テーブル3の間歇回転によって、図1に示す第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cに順次停止して、それぞれ所定の測定が実施される。そして、それらの測定結果に基づいて、不良ワーク排出部8或いは良品ワーク排出部9においてワーク収納孔4から排出される。
この時点で、搬送テーブル3のすべてのワーク収納孔4は空になる。そして、搬送テーブル3は初期状態で停止する。この様子を図14(a)(b)(c)に示す。図14(a)においてワーク収納孔(1)は位置<1>に停止しており、リニアフィーダ5上には搬送テーブル3のワーク収納孔4に収納されないワークW1が並んでいる。その先頭ワークには番号が付されているが、これは一例であり、この番号に限定されるものではない。また、ワーク収納孔(1)乃至(16)は、図14(b)に示すように、すべて空である。
ここまでで、通常測定モードからサンプル測定モードへの移行が完了する。ここから、サンプル測定モードが開始する。まず搬送テーブル3が間歇回転し、ワーク収納孔(1)が位置<3>に到達する。この様子を図15(a)(b)(c)に示す。次にサンプルテーブル10xが図1における矢印X1方向に間歇回転し、サンプルワークaが収納されているワーク収納孔[1]が位置1に到達して停止する。この様子を図16(a)(b)(c)に示す。
図16(a)(b)(c)に示すように、位置<3>と位置が対向する位置は移載部10tであり、図16(a)から判るように、移載部10tにおいて、ワークが収納されていない搬送テーブル3のワーク収納孔(1)とサンプルワークaが収納されているサンプルテーブル10xのワーク収納孔[1]が対向している。
この状態からサンプルワークaが移載される手順と移載完了の確認方法について、移載部10tを図16(a)の矢印K1方向から見た透視図である図28(a)(b)乃至図31(a)(b)を用いて説明する。図28(a)は図16(a)に対応する透視図であり、図10がその斜視図である。図10において、切替弁14aは切替モードx3を選択し、切替弁14bは切替モードx1を選択している。このため、ワーク収納孔4t内は大気圧に保たれ、ワーク収納孔11t内は矢印V101の方向に真空吸引される。
すなわち図28(a)においてサンプルワークW1s(a)はワーク収納孔11t内に収納され、ワーク収納孔11t直下のテーブルベース2内に形成されたセンサ通路10s1の直上に位置している。
なお、図28(a)(b)乃至図31(a)(b)においてサンプルワークW1s(a)の表記を用いているが、これは、図16(a)(b)(c)におけるサンプルワーク(a)と対応させるためのものである。ここで、センサ通路10s1の下方のテーブルベース2内には、光センサ光源11Laが配置されており、ワーク収納孔11t内に向けて上向きの検出光L11を送出している。一方、ワーク収納孔11tの上方かつ光センサ光源11Laに対向する位置には光センサ11Lbが配置されている。
この場合、検出光L11はワーク収納孔11t内に収納されているサンプルワークW1s(a)により遮断されて、光センサ11Lbにより検出されない。一方、移載部10tにおいてワーク収納孔11tに対向するワーク収納孔4t直下のテーブルベース2内に形成されたセンサ通路10s2の下方のテーブルベース2内には、光センサ光源4Laが配置されており、ワーク収納孔4t内に向けて上向きの検出光L4を送出している。一方、ワーク収納孔4tの上方かつ光センサ光源4Laに対向する位置には光センサ4Lbが配置されている。
この場合、検出光L4はワーク収納孔4t内にサンプルワークW1s(a)が収納されていないため、光センサ4Lbにより検出される。このように、光センサ11Lbにより検出光L11が検出されず、光センサ4Lbにより検出光L4が検出された場合には、サンプルワークW1s(a)がサンプルテーブル10xに収納されていることが判る。
この関係を図28(b)に示す。上述の光センサ光源11La、光センサ11Lb、光センサ光源4La、光センサ4Lbにより、移載検出手段が構成されている。
図28(a)の状態からサンプルワークW1s(a)をサンプルテーブル10xから搬送テーブル3に移載する様子を図29(a)(b)乃至図31(a)(b)に示す。まず、図29(a)(b)において、切替弁14bが切替モードx2を選択し、エア通路10p1が圧縮エア発生源15に連通して矢印C101の方向に圧縮エアが噴出する。同時に、切替弁14aが切替モードx1を選択し、エア通路10p2が真空発生源13に連通して矢印V102の方向に真空吸引が行われる。このため、サンプルワークW1s(a)は矢印H1の方向に移動を開始する。これを検出光L11および検出光L4の検出状態と対応させたものを、図29(b)に示す。
図29(b)に示すように、サンプルワークW1s(a)は移動中であり、検出光L11および検出光L4の検出状態は図28(b)と同一である。図29(a)の状態から少し時間が経過したときの様子を図30(a)に示す。サンプルワークW1s(a)は矢印H1の方向に移動を続けて、ワーク収納孔11tとワーク収納孔4tの略中間地点に到達する。このとき、サンプルワークW1s(a)がセンサ通路10s1の直上位置から離間し、検出光L11が光センサ11Lbにより検出されるようになる。この関係を図30(b)に示す。
この後、サンプルワークW1s(a)はワーク収納孔4t内に収納され、図31(a)のようにセンサ通路10s2上に位置する。このため、センサ通路10s2の下方のテーブルベース2内に配置された光センサ光源4Laからワーク収納孔4t内に向けて照射される検出光L4は、サンプルワークW1s(a)により遮断されて、光センサ4Lbにより検出されなくなる。この関係を図31(b)に示す。このように、移載部10tにおいて、検出光L11および検出光L4が光センサ11Lbおよび光センサ4Lbにより検出されるか非検出であるかの情報を図1に示す制御部12に送信しておけば、それらの情報が図28(b)から図29(b)、図30(b)を経て図31(b)の状態に変化したときに、制御部12はサンプルワークW1s(a)がサンプルテーブル10xから搬送テーブル3に移載されたと判断することができる。
ここで、図31(a)(b)に対応する模式図を図17(a)(b)(c)に示す。すなわち、図17(a)を矢印K1方向から見た透視図が図31(a)である。
図17(a)(b)(c)において、移載部10tに示す矢印H1方向にサンプルワークaが移動して、サンプルテーブル10xのワーク収納孔[1]から搬送テーブル3のワーク収納孔(1)に移載されている。この移載の様子を、図17(c)の位置(孔番号[1])から図17(b)の位置<3>(孔番号(1))に向かう矢印H1で示している。このようにサンプルワークaの移載が完了すると、搬送テーブル3およびサンプルテーブル10xはいずれも間歇回転する。そして、図18(a)に示すように、移載部10tには空のワーク収納孔(16)とサンプルワークbを収納したワーク収納孔[2]がそれぞれ到達して対向する。そして、上述のサンプルワークaのときと同様にして、サンプルワークbがサンプルテーブル10xのワーク収納孔[2]から搬送テーブル3のワーク収納孔(16)に移載される。移載が終了したときの様子を図19(a)(b)(c)に示す。
以後は、同様にして搬送テーブル3およびサンプルテーブル10xが間歇回転して、移載部10tにおいてサンプルワークcおよびdが順次移載される。サンプルワークdの移載が完了したときの様子を、図20(a)(b)(c)に示す。図20(a)(b)(c)において、すべてのサンプルワークa〜dがサンプルテーブル10xから搬送テーブル3に移載されている。次に、搬送テーブル3が間歇回転して、これらのサンプルワークa〜dはその順に、図1に示す第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cに順次到達して停止する。そして、それぞれの測定部においては、被測定ワークとしてのワークW1に対するのと同一の波長測定、輝度測定、全光束測定を、各サンプルワークa〜dに対して実施する。
その際、図8(a)を用いて説明したように、各サンプルワークa〜dがそれぞれ搬送テーブル3のワーク収納孔(1)、(16)、(15)、(14)に収納されていることを制御部12が認識している。このため、各サンプルワークa〜dに関する第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにおける測定結果は、制御部12により個別に認識することが可能である。
このように各種測定を実施されたサンプルワークa〜dは、搬送テーブル3の間歇回転によって、不良ワーク排出部8および良品ワーク排出部9を通過して、再び移載部10tに到達する。そして、制御部12の制御により、サンプルワークa〜dは移載部10tにおいて、搬送テーブル3のワーク収納孔(1)、(16)、(15)、(14)から、各サンプルワークa〜dがあらかじめ収納されていたサンプルテーブル10xのワーク収納孔[1]、[2]、[3]、[4]に再度収納される。その様子を図21(a)(b)(c)乃至図27(a)(b)(c)を用いて説明する。
図21(a)(b)(c)は、搬送テーブル3のワーク収納孔(1)に収納されて各種測定を実施されたサンプルワークaが、搬送テーブル3の間歇回転によって移載部10tに到達したときの様子を示したものである。移載部10tにおいて搬送テーブル3のワーク収納孔(1)と対向するサンプルテーブル10xのワーク収納孔の孔番号は[4]であり、これはサンプルワークdがサンプルテーブル10xから搬送テーブル3に移載を完了した状態を示す図20(a)(b)(c)と一致している。
次に、サンプルテーブル10xが図1における矢印X1方向に間歇回転して、図22(a)(b)(c)に示すように、孔番号[1]のワーク収納孔が移載部10tにおいて搬送テーブル3のワーク収納孔(1)と対向する。
この状態からサンプルワークaが移載される手順と移載完了の確認方法について、移載部10tを図22の矢印K1方向から見た透視図である図32(a)(b)乃至図35(a)(b)を用いて説明する。なお、図32(a)(b)乃至図35(a)(b)に示す各部の機能については、既に図28(a)(b)乃至図31(a)(b)の説明において記載しているので、省略する。
図32(a)は図22に対応する透視図である。図32(a)において、切替弁14aは切替モードx1を選択し、切替弁14bは切替モードx3を選択している。このため、ワーク収納孔4t内は矢印V102の方向に真空吸引され、ワーク収納孔11t内は大気圧に保たれる。サンプルワークW1s(a)はワーク収納孔4t内に収納されているため、光センサ光源4Laが送出する上向きの検出光L4は、サンプルワークW1s(a)により遮断されて、光センサ4Lbにより検出されない。
一方、移載部10tにおいてワーク収納孔4tに対向するワーク収納孔11tにはサンプルワークW1s(a)が収納されていないため、光センサ光源11Laが送出する上向きの検出光L11は、光センサ11Lbにより検出される。このため、サンプルワークW1s(a)が搬送テーブル3に収納されていることが判る。この関係を図32(b)に示す。
図32(a)の状態からサンプルワークW1s(a)を搬送テーブル3からサンプルテーブル10xに移載する様子を図33(a)(b)乃至図35(a)(b)に示す。まず、図33(a)において、切替弁14aが切替モードx2を選択し、エア通路10p2が圧縮エア発生源15に連通して矢印C102の方向に圧縮エアが噴出する。同時に、切替弁14bが切替モードx1を選択し、エア通路10p1が真空発生源13に連通して矢印V101の方向に真空吸引が行われる。このため、サンプルワークW1s(a)は矢印J1の方向に移動を開始する。
この状態を検出光L4および検出光L11の検出状態と対応させたものが、図33(b)に示されている。サンプルワークW1s(a)は移動中であり、検出光L4および検出光L11の検出状態は図32(b)と同一である。図33(a)の状態から少し時間が経過したときの様子を図34(a)に示す。
図34(a)に示すように、サンプルワークW1s(a)は矢印J1の方向に移動を続けて、ワーク収納孔4tとワーク収納孔11tの略中間地点に到達する。このとき、サンプルワークW1s(a)がセンサ通路10s2の直上位置から離間し、検出光L4が光センサ4Lbにより検出されるようになる。この関係を図34(b)に示す。
その後、サンプルワークW1s(a)はワーク収納孔11t内に収納され、図35(a)のようにセンサ通路10s1上に位置する。このため、光センサ光源11Laからワーク収納孔11t内に向けて照射される検出光11はサンプルワークW1s(a)により遮断されて、光センサ11Lbにより検出されなくなる。この関係を図35(b)に示す。
移載部10tにおいて、検出光L4および検出光L11が光センサ4Lbおよび光センサ11Lbにより検出されるか非検出であるかの情報は図1に示す制御部12に送信される。それらの情報が図32(b)から図33(b)、図34(b)を経て図35(b)の状態に変化したときに、制御部12はサンプルワークW1s(a)が搬送テーブル3からサンプルテーブル10xに移載されたと判断することができる。
ここで、図35(a)(b)に対応する模式図を図23(a)(b)(c)に示す。すなわち、図23(a)を矢印K1方向から見た透視図が図35(a)である。図23(a)において、移載部10tに示す矢印J1方向にサンプルワークaが移動して、搬送テーブル3のワーク収納孔(1)からサンプルテーブル10xのワーク収納孔[1]に移載されている。この移載の様子を、図23(b)の位置<3>(孔番号(1))から図23(c)の位置(孔番号[1])に向かう矢印J1で示している。
このようにサンプルワークaの移載が完了すると、搬送テーブル3およびサンプルテーブル10xはいずれも間歇回転する。そして、図24(a)に示すように、移載部10tにはサンプルワークbを収納したワーク収納孔(16)と空のワーク収納孔[2]がそれぞれ到達して対向する。そして、上述のサンプルワークaのときと同様にして、サンプルワークbが搬送テーブル3のワーク収納孔(16)からサンプルテーブル10xのワーク収納孔[2]に移載される。移載が終了したときの様子を図25(a)(b)(c)に示す。
以後は、同様にして搬送テーブル3およびサンプルテーブル10xが間歇回転して、移載部10tにおいてサンプルワークcおよびdが順次移載される。サンプルワークdの移載が完了したときの様子を、図26(a)(b)(c)に示す。
図26(a)(b)(c)において、すべてのサンプルワークa〜dが搬送テーブル3からサンプルテーブル10xに移載されている。そして各サンプルワークa〜dのサンプルテーブル10xにおける移載先は、あらかじめそれらが収納されていたワーク収納孔に一致している。
以上のように、すべてのサンプルワークがサンプルテーブル10xに移載されると、制御部12により、図1に示す第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cにおいて測定した各サンプルワークW1の測定結果と、あらかじめ制御部12内の記憶部12aに記憶されている各サンプルワークW1sの既知の測定結果(基準特性)とが比較部12bにおいて比較される。そして、両方の測定結果の差異があらかじめ規定された規格値(所定値)を外れていた測定部については、警報部12cから警報を表示し、あるいは警報音を発し、当該の測定部に配置されている測定器を校正するように、作業者に通知する。
以上でサンプル測定モードは終了し、ワーク測定装置1は動作を停止する。作業者は上記の通知があればワーク測定装置1の電源を切り、校正すべき測定器を校正した後、再度電源を入れてワーク測定装置1を起動する。起動されたワーク測定装置1は通常測定モードで動作を再開する。
また、上記の通知がなく、測定器の校正の必要がないのであれば、作業者はワーク測定装置1の電源を一度切り、その後すぐに電源を入れてワーク測定装置1を起動する。或いは、電源を入れたままで起動用の押しボタンスイッチを押下することによってワーク測定装置1を起動してもよい。いずれの場合にも、起動されたワーク測定装置1は通常測定モードで動作を再開する。
以上のように本実施の形態によれば、第1測定部7a、第2測定部7b、第3測定部7cの測定精度を容易かつ簡単に確認することができる。
第2の実施の形態
次に本発明の第2の実施形態を図36乃至図51により説明する。
図36は本発明を適用したワーク測定装置21を示す正面図である。ワーク測定装置21は、垂直に配置されたテーブルベース22に隣接して回転自在に配置された搬送体としての円形の搬送テーブル23を有し、搬送テーブル23は、図示されない駆動機構の作用により中心軸23aの周囲に矢印A2の方向に間歇回転する。
搬送テーブル23の外周近傍には保持部としての複数のワーク収納孔24が搬送テーブル23の両面を貫通して形成されている。すなわち、ワーク収納孔24は搬送テーブル23の一面および他面に開口し、ここに後述する被測定ワークとしてのワークW2およびこのワークW2と同一形状のサンプルワークW2sが個別に収納されて搬送される。
また、図37に示すように、搬送テーブル23の一面に向けて直線形状のリニアフィーダ25が水平に配置されている。リニアフィーダ25は図示されない駆動機構の作用により振動し、この振動によりワークW2を1列状態で搬送テーブル23の一面に向けて搬送する機能を有する。リニアフィーダ25の終端部は搬送テーブル23の一面に近接し、そこにおいてワーク収納孔24の開口部に対向する。リニアフィーダ25の終端部とワーク収納孔24の開口部が対向する位置には、リニアフィーダ25上のワークW2を1個ずつ分離して個別にワーク収納孔24に供給する分離供給手段としての分離供給部26が配置されている。この分離供給部26から搬送テーブル23の間歇回転方向すなわち矢印A2方向に沿って、ワークW2の各種特性の測定を行う測定手段としての第1測定部27a、第2測定部27b、および測定の結果に基づいて不良と判定されたワークW2をワーク収納孔24から排出する排出手段としての不良ワーク排出部28、測定の結果に基づいて良品と判定されたワークW2をワーク収納孔24から排出する排出手段としての良品ワーク排出部29が、この順に配置されている。
また、搬送テーブル23の間歇回転方向すなわち矢印A2方向に沿って、分離供給部26と第1測定部27aの間に、サンプルワーク供給手段としてのサンプルテーブル30xが配置され、かつサンプルテーブル30xと搬送テーブル23との間にサンプルワークW2sの移載を行う移載部30tが配置されている。
このサンプルテーブル30xと移載部30tとにより、測定系確認部30が構成されている。サンプルテーブル30xの形状は搬送テーブル23と同様に円形をなし、図示されない駆動機構の作用により、中心軸30xaの周囲に矢印X2方向に間歇回転する。サンプルテーブル30xの外周に近い部分には、搬送テーブル23と同様の形状を有する保管部としての複数のワーク収納孔31が形成され、ワーク収納孔31にはサンプルワークW2sが保管される。
そして、ワーク測定装置21を構成する搬送テーブル3、分離供給部26、第1測定部27a、第2測定部27b、不良ワーク排出部28、良品ワーク排出部29、サンプルテーブル30x、および移載部30tの制御を行う制御部32が設置されている。
なお、搬送テーブル23が間歇回転してワークW2を搬送するので、分離供給部26から良品ワーク排出部29までの搬送テーブル23の一面側には、間歇回転の際にワークW2に作用する振動によりワークW2が搬送テーブル23の外側に飛び出すのを防止するため、図示しないテーブルカバーが形成されている。
図36における矢印M方向からワーク測定装置21を見た平面図を図37に示す。ただし、簡単のため、図37においては第1測定部27a、第2測定部27b、不良ワーク排出部28、良品ワーク排出部29は記載していない。上述のリニアフィーダ25が振動によりワークW2を1列状態で搬送テーブル23の一面に向けて搬送する方向は、図37において矢印B2の方向である。
また、測定系確認部30におけるサンプルテーブル30xは、搬送テーブル23の一面側に位置しており、図36に示すように移載部30tにおいて搬送テーブル23と重なっている。そして、後述のようにワーク収納孔24とワーク収納孔31のそれぞれの開口部が移載部30tにおいて対向している。また、測定系確認部30において、サンプルテーブル30xの搬送テーブル23と反対側には、移載部30tの機能を内蔵するとともにサンプルテーブル30xの間歇回転に伴う振動によりサンプルワークW2sがサンプルテーブル30xから飛び出すのを防止するため、テーブルカバー30bが配置されている。
図36における測定系確認部30付近、すなわち一点鎖線領域P2の拡大図を、図38に示す。ただし、簡単のため、図38においてテーブルカバー30bは記載していない。
搬送テーブル23のワーク収納孔24とサンプルテーブル30xのワーク収納孔31は、移載部10tにおいてそれぞれの開口部が対向している。この開口部が対向した状態のワーク収納孔24とワーク収納孔31を、図38においてはワーク収納孔24tおよびワーク収納孔31tと記載している。ワーク収納孔24およびワーク収納孔31には、図39および図40に示す形状のワークW2およびサンプルワークW2sが収納される。ここに、サンプルワークW2sは、ワークW2と同一であり、かつその特性すなわち図36に示す第1測定部27a、第2測定部27bにおけるそれぞれの測定結果が既知であるワークである。
具体的には、第1測定部27a、第2測定部27bにおいて使用される測定器と同一かつ校正済みの測定器を用いて、第1測定部27a、第2測定部27bにおける測定項目と同一の測定を、サンプルワークW2sに対してあらかじめ実施し、その測定結果(基準特性)を制御部32内の記憶部32aに記憶させておく。このサンプルワークW2sの基準特性は、制御部32の制御によって記憶部32aから読み出すことが可能になっている。
また制御部32はサンプル測定モードをとったとき、サンプルワークW2sの基準特性とワークW2との測定結果とを比較する比較部32bと、比較部32bにより比較した結果、両者の差異が所定値を越えた際、警報を発する警報部32cとを有している。また制御部32は通常測定モードをとったとき、第1測定部27a、第2測定部27bによる測定結果に基づいてワークW2が良品か不良品かの判定を行なう判定部32dと、制御部32のモードを切替える自動切替手段32fとを有している。
ここで、図39乃至図41を用いて、ワークW2について説明する。図39にワークW2の斜視図を、またワークW2を図39における矢印C2、D2、E2の方向から見た図をそれぞれ図40(a)(b)(c)に示す。さらに、ワークW2の電気回路図を図41に示す。ワークW2はインダクタである。
図39および図40(a)(b)(c)に示すように、ワークW2は絶縁体により6面体形状に形成された基体W2xと、その長手方向両端に導電体により形成される電極W2a、W2bとからなる。そして、電極W2a、W2bとワークW2の電気回路との対応は図41のようになっている。すなわち、電極W2a、W2bの間にインダクタL0が形成されており、その周囲を絶縁体で覆って基体W2xとしている。ワークW2を構成する6面体の各辺の長さ(図40におけるa2、b2、c2)は、長手方向の長さa2が2mm〜3mm程度で、電極W2aおよびW2bの各辺の長さb2およびc2がそれぞれ1mm〜2mm程度の製品が市販されている。
次に搬送テーブル23のワーク収納孔24について、図42および図43を用いて説明する。図42はワーク収納孔24が図36および図37における分離供給部26に停止している状態の斜視図である。
ワーク収納孔24はテーブルベース22に隣接して配置された搬送テーブル23の両面に開口しており、図36および図37に示すリニアフィーダ25の終端部がこの開口部に対向して位置するが、図42においては図示されていない。この開口部に対向するテーブルベース22内には、その壁面24wに開口部24bを有するエア通路26vが形成されている。エア通路26vはテーブルベース22内に設置された真空発生源132に連通している。そして、この真空発生源132からの矢印F26方向の真空吸引によって、ワーク収納孔24の内部には壁面24wに向けて吸引力が作用する。また、搬送テーブル23はテーブルベース22と極めて近接して配置されているため、分離供給部26においてワーク収納孔24の内部は略密閉状態となり、上記吸引力が効率良く作用する。
次にこのような構成からなる本実施の形態の作用、すなわちワーク測定方法について説明する。
図36において、ワークW2は図示されないパーツフィーダにまとめて投入される。そして、電極W2aおよびW2bがワークの進行方向すなわち図37に示す矢印B2方向を向くように方向を揃えられて、リニアフィーダ25上に1列に並ぶ。リニアフィーダ25は上述のように、図示されない駆動機構の作用により振動し、この振動によりワークW2は上述の方向に揃った1列状態で矢印B2方向に搬送される。そして、停止している搬送テーブル23のワーク収納孔24の開口部に対向する位置に到達したワークW2は、分離供給部26において図示されない分離機構の作用によって1個ずつ分離されて、図42に示す矢印F26方向の真空吸引により、個別にワーク収納孔24に収納される。
このようにして、ワーク収納孔24にワークW2が収納された様子を、斜視図として図43に示す。このとき、リニアフィーダ25上であらかじめ上述のようにワークW2の方向が揃えられているので、ワークW2はワーク収納孔24に収納された状態において、電極W2aおよびW2bが搬送テーブル23の両面に露出している。なお、図43に示すワークW2は電極W2bがテーブルベース22側に面しているが、電極W2aがテーブルベース22側に面するように収納されるワークW2もある。
次に搬送テーブル23が図36に示す矢印A2の方向に間歇回転し、分離供給部26においてワーク収納孔24に収納されたワークW2は移載部30tを通過して、第1測定部27aで停止する。そして、測定器としてのLCRメータに接続された図示されないプローブが搬送テーブル23の両面に露出しているワークW2の電極W2aおよびW2bに当接して、ワークW2のインダクタンス値測定およびQ値測定を実施する。次に、搬送テーブル23の間歇回転により、ワークW2は第2測定部27bに到達して停止する。そして、第1測定部27aと同様に、測定器としての直流抵抗計に接続された図示されないプローブが搬送テーブル23の両面に露出しているワークW2の電極W2aおよびW2bに当接して、ワークW2の直流抵抗値測定を実施する。
以上の測定が終了すると、第1測定部27a、第2測定部27bからの測定結果に基づいて制御部32は判定部32dによりワークW2が良品か不良品かを判定する。そして、その判定結果に対応して、搬送テーブル23の間歇回転により、不良ワーク排出部28あるいは良品ワーク排出部29においてワーク収納孔24内のワークW2を排出する。良品ワーク排出部29においてすべてのワーク収納孔24が空になり、搬送テーブル23の間歇回転により分離供給部26に到達した空のワーク収納孔24に再びワークW2が収納され、上記と同様の作用が繰り返される。以上がワーク測定装置21における通常測定モードである。
ワーク測定装置21におけるサンプル測定モードの動作は、ワーク測定装置1におけるサンプル測定モードと同一である。すなわち、図38において、サンプルテーブル30xのワーク収納孔31にあらかじめ収納してあるサンプルワークW2sを移載部30tにおいて搬送テーブル23のワーク収納孔24に移載して、図36に示す第1測定部27a、第2測定部27bにおいて測定を実施した後で、再度移載部30tにおいてサンプルテーブル30xのワーク収納孔31に移載するものである。また、通常測定モードからサンプル測定モードへの移行も、ワーク測定装置1と同様にプログラムによる自動設定となっている。
ワーク測定装置21はワーク測定装置1と同様に、搬送テーブル23のワーク収納孔24およびサンプルテーブル30xのワーク収納孔31の位置認識機能を有している。搬送テーブル23には全部で16個のワーク収納孔24が形成され、サンプルテーブル30xには全部で8個のワーク収納孔31が形成されている。これらのワーク収納孔の数はワーク測定装置1と同じである。各ワーク収納孔について、ワーク測定装置1と同様に固定位置と孔番号を記した模式図を図44(a)(b)(c)に示す。
図44(a)(b)(c)において、固定位置と孔番号の表記方法はワーク測定装置1の説明において引用した図8(a)(b)(c)と同一なので、詳細な説明は省略する。
ここに、搬送テーブル23の固定位置<1>は図36において分離供給部26に対向するワーク収納孔の位置に付与されており、移載部30tの固定位置は、搬送テーブル23が(3)、サンプルテーブル30xが[8]である。
これらの付与方法は、ワーク測定装置1と同一である。また、搬送テーブル23の間歇回転方向A2およびサンプルテーブル30xの間歇回転方向X2は、図44(a)(b)(c)と図8(a)(b)(c)を比較すれば明らかなように、やはりワーク測定装置1と同一である。さらに、図44(c)に示すように、サンプルワークa〜dがあらかじめ収納されるサンプルテーブル30xのワーク収納孔31の孔番号もまた、ワーク測定装置1と同一である。すなわち、ワーク測定装置21において、通常測定モードの動作およびサンプル測定モードにおけるサンプルワークW2sをサンプルテーブル30xと搬送テーブル23との間で移載する手順は、各テーブルにおけるワーク収納孔の形状が異なる以外は、ワーク測定装置1における図11(a)(b)(c)乃至図27(a)(b)(c)と全く同じである。よって、詳細な説明は省略する。
移載部30tを図38の矢印K2方向から見た透視図を図45に示す。図45において、移載部30tは、テーブルベース22、搬送テーブル23、サンプルテーブル30x、テーブルカバー30bが、この順にいずれも互いにわずかな間隙を有して右から左に並んで配置されている。搬送テーブル23のワーク収納孔24tとサンプルテーブル30xのワーク収納孔31tは、上述のようにそれぞれの開口部が対向している。
また、テーブルベース22内には、ワーク収納孔24tの開口部に対向して開口するエア通路30p2が形成されている。同様に、テーブルカバー30b内には、ワーク収納孔31tの開口部に対向して開口するエア通路30p1が形成されている。さらに、テーブルベース22内には、ワーク収納孔24tの開口部に対向して開口するセンサ通路30s2が形成されている。
センサ通路30s2の右方となるテーブルベース22内には、ワーク収納孔24t内に向けて光を送出し、反射光を検出するか否かによってワーク収納孔24t内にサンプルワークW2sが移載されたか否かを検知する機能を有する光センサ24Lが配置されている。
この光センサ24Lは、第1の実施形態における図28(a)(b)乃至図35(a)(b)に示す光センサ光源4Laと光センサ4Lbとを一つにまとめた機能を有し、反射型フォトセンサ或いはフォトリフレクタ等の名称で市販されている。同様に、テーブルカバー30b内には、ワーク収納孔31tの開口部に対向して開口するセンサ通路30s1が形成されている。
センサ通路30s1の左方となるテーブルカバー30b内には、ワーク収納孔31t内に向けて光を送出し、反射光を検出するか否かによってワーク収納孔31t内にサンプルワークW2sが移載されたか否かを検知する機能を有する光センサ31Lが配置されている。
この光センサ31Lは、第1の実施形態における図28(a)(b)乃至図35(a)(b)に示す光センサ光源11Laと光センサ11Lbとを一つにまとめた機能を有している。これらの光センサ24Lおよび光センサ31Lによって、移載検知手段が構成されている。移載部30tの拡大斜視図を図46に示す。
図46に示すように、移載部30tにおいてテーブルベース22に形成されたエア通路30p2は切替弁142aに連通している。切替弁142aは3通りの切替モードx1、x2、x3を選択する機能を有する。切替モードx1はテーブルベース22内に設置された真空発生源132を選択するもので、このときエア通30p2は真空発生源132に連通し、ワーク収納孔24t内が矢印V302の方向に真空吸引される。また、切替モードx2はテーブルベース22内に設置された圧縮エア発生源152を選択するもので、このときエア通路30p2は圧縮エア発生源152に連通し、ワーク収納孔24t内に矢印C302の方向に圧縮エアが噴出する。また、切替モードx3は何も選択しないので、エア通路30p2はどこにも連通することがなく、ワーク収納孔24t内は大気圧の状態を保つ。
同様に、移載部10tにおいてテーブルカバー30bに形成されたエア通路30p1は切替弁142bに連通している。そして、切替弁142bが切替モードx1、x2、x3を選択することによって、ワーク収納孔24tと同様に、ワーク収納孔31t内が矢印V301の方向に真空吸引され、またワーク収納孔31t内に矢印C301の方向に圧縮エアが噴出し、またワーク収納孔31t内が大気圧の状態を保つ。
移載部30tにおいて、ワーク収納孔31tにサンプルワークW2sが収納されている様子を図47に示す。切替弁142aは切替モードx3を選択し、切替弁142bは切替モードx1を選択している。このため、サンプルワークW2sは矢印V301の方向に真空吸引されて、ワーク収納孔31tに保持されている。この状態から、サンプルワークW2sがワーク収納孔31tに対向するワーク収納孔24tに移載されると、サンプルワークW2sの向きは図43に示すワークW2の向きに一致する。
移載部30tにおけるサンプルワークW2sが移載される手順および移載完了の確認方法について、図48(a)(b)乃至図51(a)(b)を用いて説明する。その原理はワーク測定装置1における図28(a)(b)乃至図35(a)(b)と同一であるため、説明は大幅に簡略化して行う。図48(a)は図45に対応する透視図であり、図47はその斜視図である。図48(a)において、切替弁142aは切替モードx3を選択し、切替弁142bは切替モードx1を選択している。
図48(a)に示すように、ワーク収納孔24t内は大気圧に保たれ、ワーク収納孔31t内は矢印V301の方向に真空吸引される。すなわち図48(a)においてサンプルワークW2sはワーク収納孔31t内に収納され、ワーク収納孔31tに対向するテーブルカバー30b内に形成されたセンサ通路30s1の直近に位置している。このため、光センサ31Lからセンサ通路30s1を通してワーク収納孔31t内に向けて送出された光はサンプルワークW2sによって反射し、その反射光L31がセンサ通路30s1を通って光センサ31Lに到達して検出される。
他方、テーブルベース22内に配置された光センサ24Lからセンサ通路30s2を通してワーク収納孔31t内に向けて送出された光は、サンプルワークW2sがセンサ通路30s2から離間しているため、サンプルワークW2sに到達する前に減衰してしまう。よって、サンプルワークW2sによって反射する光はなく、光センサ24Lは何も検出しない。この場合は、サンプルワークW2sがサンプルテーブル30xに収納されていることが判る。この関係を図48(b)に示す。
図48(a)(b)の状態からサンプルワークW2sをサンプルテーブル30xから搬送テーブル23に移載する様子を図49(a)(b)に示す。
図49(a)において、切替弁142aが切替モードx1を選択し、エア通路30p2が真空発生源132に連通して矢印V302の方向に真空吸引が行われる。同時に、切替弁142bが切替モードx2を選択し、エア通路30p1が圧縮エア発生源152に連通して矢印C301の方向に圧縮エアが噴出する。このため、サンプルワークW2sは矢印H2の方向に移動を開始し、図49(a)においてはサンプルテーブル30xから搬送テーブル23に移動中の状態である。
図49(a)に示すように、サンプルワークW2sはセンサ通路30s1および30s2のいずれからも離間しているため、光センサ31Lからセンサ通路30s1を通してワーク収納孔31t内に向けて送出された光および光センサ24Lからセンサ通路30s2を通してワーク収納孔24t内に向けて送出された光は、いずれもサンプルワークW2sに到達する前に減衰してしまう。このためサンプルワークW2sによって反射する光はなく、光センサ31Lおよび24Lは何も検出しない。この関係を図49(b)に示す。この状態からさらに時間が経過して、サンプルワークW2sが搬送テーブル23に移載された状態を図50(a)に示す。
図50(a)に示すように、サンプルワークW2sはワーク収納孔24t内に収納され、ワーク収納孔24tに対向するテーブルベース22内に形成されたセンサ通路30s2の直近に位置している。よって、光センサ31Lおよび24Lによる検出状況は図48(b)の場合と逆転して、図50(b)のようになる。
すなわち、移載部30tにおいて、光センサ31Lおよび24Lが反射光を検出するか非検出であるかの情報を図36に示す制御部32に送信しておけば、それらの情報が図48(b)から図49(b)を経て図50(b)の状態に変化したときに、制御部32はサンプルワークW2sがサンプルテーブル30xから搬送テーブル23に移載されたと判断することができる。同様に、サンプルワークW2sを搬送テーブル23からサンプルテーブル30xに移載する際には、図50(a)(b)の状態から図51(a)(b)の状態を経て図48(a)(b)の状態に変化する。
図51(a)において、切替弁142aが切替モードx2を選択し、エア通路30p2が圧縮エア発生源152に連通して矢印C302の方向に圧縮エアが噴出する。同時に、切替弁142bが切替モードx1を選択し、エア通路30p1が真空発生源132に連通して矢印V301の方向に真空吸引が行われる。このため、サンプルワークW2sは矢印J2の方向に移動を開始し、図51(a)においては搬送テーブル23からサンプルテーブル30xに移動中の状態である。このとき、光センサ31Lおよび24Lに対するサンプルワークW2sの位置は図49(a)(b)に示す状態と同様であるため、各光センサの反射光検出は図51(b)のようになる。
すなわち、移載部30tにおいて、光センサ31Lおよび24Lが反射光を検出するか非検出であるかの情報を図36に示す制御部32に送信しておけば、それらの情報が図50(b)から図51(b)を経て図48(b)の状態に変化したときに、制御部32はサンプルワークW2sが搬送テーブル23からサンプルテーブル30xに移載されたと判断することができる。
以上のように、図36に示すワーク測定装置21においても、図1に示すワーク測定装置1と同様にサンプル測定モードによる動作が可能であり、その測定結果とあらかじめ制御部32内の記憶部に記憶されている各サンプルワークの既知の測定結果を比較する。そして、両方の測定結果の差異があらかじめ定めた規格値を外れていた測定部については、上述のワーク測定装置1と同様に警報を発して作業者に通知する。
第3の実施の形態
次に本発明の第3の実施形態を図52乃至図66を用いて説明する。
本発明を適用したワーク測定装置41の平面図を図52に示す。また、図52を矢印N方向から見た正面図を図53に示す。
ただし、簡単のために、図53においては図52の主要部分以外は表記していない。ワーク測定装置41は、搬送体としての水平な搬送テーブル43を有し、搬送テーブル43の一面側に搬送テーブル43に対して進退自在の搬送ノズル44が保持部として設けられている。図52および図53において、水平に配置されたテーブルベース42の上方に離間して、搬送体としての円形の搬送テーブル43が中心軸である支柱43aに支持されて回転自在に配置されている。
搬送テーブル43は、図示されない駆動機構の作用によって支柱43aの周囲に図52に示す矢印A3の方向に間歇回転する。搬送テーブル43の外周部に近接して、テーブルベース42に面した一面側に複数の搬送ノズル44が配置されている。図53に示すように、搬送ノズル44は図示されない駆動機構の作用により、搬送テーブル43の一面に対して矢印Qおよび矢印Rの方向に進退自在である。図53はすべての搬送ノズル44が上限位置にある状態を示す。搬送テーブル43は搬送ノズル44がこの上限位置にある状態で間歇回転する。搬送ノズル44の下端には、被測定ワークとしての後述するワークW3およびワークW3と同一のサンプルワークW3sが個別に保持されて搬送される。
図52に示すように、テーブルベース42上には、搬送テーブル43の外周部直下に向けて直線形状のリニアフィーダ5が配置されている。リニアフィーダ5は図示されない駆動機構の作用により振動し、この振動によりワークW3を1列状態で矢印B3方向に搬送する機能を有する。リニアフィーダ5の終端部は搬送テーブル43の外周部直下において、テーブルベース42の上面に位置する。そして、その位置からわずかに搬送テーブル43の支柱43aに近く、かつ搬送ノズル44の直下となる位置には、リニアフィーダ5上のワークW3を1個ずつ分離して個別に搬送ノズル44に供給する分離供給手段としての分離供給台46が配置されている。
この分離供給台46から搬送テーブル43の間歇回転方向すなわち矢印A3方向に沿って、ワーク測定装置1と同様に、ワークW3の各種特性の測定を行う測定手段としての第1測定部47a、第2測定部47b、第3測定部47c、および測定の結果に基づいて不良と判定されたワークW3を搬送ノズル44から排出する排出手段としての不良ワーク排出部48、測定の結果に基づいて良品と判定されたワークW3を搬送ノズル44から排出する排出手段としての良品ワーク排出部49が、この順に配置されている。
また、搬送テーブル43の間歇回転方向すなわち矢印A3方向に沿って、分離供給台46と第1測定部47aの間となるテーブルベース42の上面に、サンプルワーク供給手段としてのサンプルテーブル10xが配置され、かつサンプルテーブル10xと搬送テーブル43との間でサンプルワークW3sの移載を行う移載位置としての移載部50tが配置されている。サンプルテーブル10xは第1の実施形態において説明したものと同一の形状である。また、移載部50tは、サンプルテーブル10xのワーク収納孔11が搬送ノズル44の直下となる位置に配置されている。また、ワーク測定装置41を構成する搬送テーブル43、分離供給部46、第1測定部47a、第2測定部47b、第3測定部47c、不良ワーク排出部48、良品ワーク排出部49、サンプルテーブル10xおよび移載部50tの動作を制御するための制御部52が配置されている。
また、制御部52はサンプル測定モードをとったとき、サンプルワークW3sの基準特性とワークW3との測定結果とを比較する比較部52bと、比較部52bにより比較した結果、両者の差異が所定値を越えた際、警報を発する警報部52cとを有している。また制御部52は通常測定モードをとったとき、第1測定部47a、第2測定部47b、第3測定部47cによる測定結果に基づいてワークW3が良品か不良品かの判定を行なう判定部52dと、制御部52のモードを切替える自動切替手段52fとを有している。
ここで、ワークW3について説明する。図54にワークW3の斜視図を、またワークW3を図54における矢印C3、D3、E3の方向から見た図をそれぞれ図55(a)、(b)、(c)に示す。ワークW3は発光ダイオード(LED)である。図54および図55に示すように、ワークW3は図3および図4に示すワークW1と類似した形状を有している。すなわち、ワークW3は絶縁体により6面体形状に形成され、その1面である面W3f4に透明な樹脂で覆われた発光面W3Lが略平面状に形成されるとともに、面W3f4に隣接し、かつ互いに対向する2面である面W3f2および面W3f3に、それぞれ導電体からなる電極W3a、W3bが突出している。そして、電極W3a、W3bとワークW3の電気回路との対応は図5と同様である。
すなわち、電極W3aがアノード、電極W3bがカソードであり、直流電圧源から、あらかじめ規定された直流電圧を電極W3aが電極W3bよりも高い電位となるようにワークW3に対して供給すると、発光面W3Lが発光する。このように、電極W3aと電極W3bには方向性があるので、ワークW3を外部から見た時にその方向を識別する必要がある。この目的のために、面W3f1の電極W3bに近い側の角部に、電極W3bがカソードであることを示すカソードマークW3mが印刷されている。ワークW3を構成する6面体の各辺の長さ(図55におけるa3、b3、c3)は、カソードマークW3mが印刷されている面W3f1の各辺の長さa3、b3が5mm〜7mm程度で、電極W3a、W3bが突出する面W3f2および面W3f3の短辺の長さc3が2mm程度の製品が市販されている。
図54および図55に示すように、ワークW3は図3および図4に示すワークW1とは異なり、それを構成する6面の中で最も面積の広い面W3f1に発光面を有していないため、後述のように、面W3f1を搬送ノズル44によって吸着して搬送することができる。
ワーク測定装置41はワーク測定装置1と同様に、搬送テーブル43の搬送ノズル44およびサンプルテーブル10xのワーク収納孔11の位置認識機能を有している。ここに、搬送テーブル43はワーク測定装置1における搬送テーブル3のワーク収納孔4に代えて搬送ノズル44を配置しているので、搬送テーブル3の説明で用いた孔番号をノズル番号と言い換えて説明する。搬送テーブル43には全部で16個の搬送ノズル44が配置され、サンプルテーブル10xには全部で8個のワーク収納孔11が形成されている。これらの搬送ノズルおよびワーク収納孔の数はワーク測定装置1と同じである。各搬送ノズルおよびワーク収納孔について、ワーク測定装置1と同様に固定位置とノズル番号或いは孔番号を記した模式図を図56に示す。固定位置とノズル番号或いは孔番号の表記方法は、ワーク測定装置1の説明において引用した図8と同一なので、詳細な説明は省略する。
ここに、搬送テーブル43の固定位置<1>は図52において分離供給台46の直上に配置された搬送ノズルの位置に付与されており、移載部50tの固定位置は、搬送テーブル43が(3)、サンプルテーブル10xが[8]である。これらの付与方法は、ワーク測定装置1と同一である。
また、搬送テーブル43の間歇回転方向A3およびサンプルテーブル10xの間歇回転方向X3は、図56と図8を比較すれば明らかなように、やはりワーク測定装置1と同一である。さらに、サンプルワークa〜dがあらかじめ収納されるサンプルテーブル10xのワーク収納孔11の孔番号もまた、ワーク測定装置1と同一である。すなわち、ワーク測定装置41において、通常測定モードの動作およびサンプル測定モードにおけるサンプルワークW3sをサンプルテーブル10xと搬送テーブル43との間で移載する手順は、搬送テーブル43がワーク収納孔に代えて搬送ノズルを有する以外は、ワーク測定装置1における図11乃至図27と全く同じである。よって、詳細な説明は省略する。
次にこのような構成を有するワーク測定装置41の作用、すなわちワーク測定方法について、以下に説明する。図52において、ワークW3は図示されないパーツフィーダにまとめて投入される。
そして、図示されない方向検知機構の作用によって、図54に示す発光面W3Lがワークの進行方向すなわち図52に示す矢印B3方向と逆方向となるように方向を揃えられて、リニアフィーダ5上に1列に並ぶ。図52においてリニアフィーダ5の作用により矢印B3方向に一列状態で搬送されたワークW3は、その終端部に到達すると、図示されない分離供給機構の作用により、図56における矢印G3方向に分離供給台46に向けて個別に移載される。分離供給台46の上にワークW3が移載されると、図53において分離供給台46の直上の上限位置に停止している、下端にワークW3を保持していない搬送ノズル44が矢印Q方向に下降する。そして、図57に示すように、搬送ノズル44の下端が分離供給台46に載置されたワークW3の面W3f1に当接した状態で停止する。
この場合、搬送ノズル44の内部にはエア通路44aが形成され、搬送ノズル44の下端に開口部44bが開口している。そして、エア通路44aは図53に示す搬送テーブル43および中心軸43aを経由してテーブルベース42内に到達し、そこに配置された切替弁16aに連通している。
切替弁16aは2通りの切替モードy1、y3を選択する機能を有する。切替モードy1はテーブルベース42内に設置された真空発生源133aを選択するもので、このときエア通路44bは真空発生源133aに連通し、矢印F44の方向に真空吸引される。
一方、切替モードy3は何も選択しないので、エア通路44bはどこにも連通することがなく、大気圧の状態を保つ。搬送ノズル44が図53において分離供給台46の直上の上限位置に停止している状態から矢印Qの方向に下降して、図57に示すように、その下端がワークW3の面W3f1に当接するまでの間は、切替弁16aは切替モードy3を選択する。
すなわち、エア通路44bは大気圧の状態である。そして、搬送ノズル44の下端がワークW3の面W3f1に当接して停止すると、切替弁16aは切替モードy1を選択する。このときエア通路44bは真空発生源133aに連通し、矢印F44の方向に真空吸引されるので、ワークW3は搬送ノズル44の下端に吸着されて保持される。このとき、図57に示すワークW3は、上述のようにリニアフィーダ5上で方向が揃っているため、矢印S方向が図56における矢印G3方向に一致する。すなわち、ワークW3は発光面W3Lが搬送テーブル43の外側に向くように搬送ノズル44に保持される。
次に、搬送ノズル44はワークW3を保持したまま、図53の矢印R方向に上昇して上限位置で停止する。そして、搬送テーブル43が図52の矢印A3方向に間歇回転し、ワークW3を搬送する。
そして、ワークW3は移載部50tを通過して、第1測定部47aで停止する。そして、搬送ノズル44は図53に示す矢印Q方向に下降し、ワークW3はテーブルベース42上に配置された、図示されない測定台上に載置される。そして、ワーク測定装置1の第1測定部7aと同様に、図示されない直流電源および波長計を使用して、ワークW3の波長測定を実施する。この測定の間、ワークW3は搬送ノズル44に吸着保持された状態を維持する。測定が終了すると、搬送ノズル44はワークW3を保持したまま、図53の矢印R方向に上昇して上限位置で停止する。そして、搬送テーブル43が図52の矢印A3方向に間歇回転し、ワークW3を搬送する。そして、ワークW3は第1測定部47aと同様に、第2測定部47b、第3測定部47cに順次停止し、搬送ノズル44の下降、各測定部における測定項目の測定、搬送ノズル44の上昇を繰り返す。
ここに、第2測定部47b、第3測定部47cに対応する測定項目は、第1の実施形態におけるワーク測定装置1の第2測定部7b、第3測定部7cにおける測定項目と同一である。よって、詳細な説明は省略する。
以上の測定が終了すると、第1測定部47a、第2測定部47b、第3測定部47cからの測定結果に基づいて制御部52は判定部52dによりワークW3が良品か不良品かを判定する。そして、その判定結果に対応して、搬送テーブル43の間歇回転により、不良ワーク排出部48あるいは良品ワーク排出部49において搬送ノズル44に吸着保持されたワークW3を排出する。
排出の際には、各ワーク排出部48、49において、図57に示す切替弁16aが切替モードy3を選択し、エア通路44aを大気圧とすることによって、ワークW3を搬送ノズル44の下端から重力による自然落下で、図示されない排出口へと導く。
図52において、良品ワーク排出部49以降はすべての搬送ノズル44の下端が何も保持しない状態になり、搬送テーブル43の間歇回転により分離供給台46の直上位置に到達した搬送ノズル44には、再びワークW3が吸着保持され、上記と同様の作用が繰り返される。以上の一連の作用が通常測定モードであり、すべて制御部52の制御に基づいて実行される。
次に、サンプル測定モードについて説明する。上述のように、ワーク測定装置41において、搬送テーブル43の搬送ノズル44およびサンプルテーブル10xのワーク収納孔11の位置認識機能はワーク測定装置1と同様である。
また、サンプル測定モードにおけるサンプルワークW3sをサンプルテーブル10xと搬送テーブル43との間で移載する手順もまた、ワーク測定装置1と同様である。よって、ここでは、移載部50tにおける移載方法と移載検知手段についてのみ説明する。
図58に、サンプルワークW3sがサンプルテーブル10xのワーク収納孔11に収納されている様子を斜視図として示す。移載部50tにおけるワーク収納孔11の上側は開放されている。また、サンプルワークW3sは、発光面W3Lがサンプルテーブル10xの外周側に向くように、かつ面W3f1が上側を向くようにして、ワーク収納孔11内に収納されている。
すなわち、図52において、移載部50tにおけるサンプルワークW3sの発光面W3Lは、矢印T方向に面している。移載部50tにおいて、ワーク収納孔11内は、図10に示すワーク測定装置1におけるサンプルテーブル10xの場合と同様に、エア通路50vを経由して切替弁16bに連通している。切替弁16bは2通りの切替モードy1、y3を選択する機能を有する。
このうち切替モードy1はテーブルベース42内に設置された真空発生源133bを選択するもので、このときエア通路50vは真空発生源133bに連通し、ワーク収納孔11内が矢印F50の方向に真空吸引される。他方、切替モードy3は何も選択しないので、エア通路50vはどこにも連通することがなく、ワーク収納孔11内は大気圧の状態を保つ。
サンプル測定モードにおいて、サンプルワークW3sをワーク収納孔11と搬送ノズル44との間で移載する方法と移載完了を確認する方法について、移載部50tの模式図である図59(a)(b)乃至図66(a)(b)を用いて説明する。図59(a)は、サンプルワークW3sを収納したワーク収納孔11の直上の上限位置に、搬送ノズル44が停止している状態を示す。
図59(a)に示すように、切替弁16aは切替モードy3を選択し、搬送ノズル44のエア通路44aは大気圧となっている。ここに、エア通路44aには、切替弁16aに至る途中に、エア通路本体44xから分岐するエア通路分岐部44yが形成されている。そして、エア通路分岐部44yの終端部には真空センサ44s2が配置されている。真空センサ44s2は、エア通路44a内が真空となったことを検出する機能を有する。図59(a)(b)においては、エア通路44aは大気圧であるため、真空センサ44s2は非検出状態である。ここで、搬送ノズル44の上昇および下降を実現するための機構について、簡単に説明する。
図59(a)(b)乃至図66(a)(b)に記載のエアシリンダ44cは、図示されないエア源からシリンダチューブ44t内にエアを出し入れすることにより、ピストン44pをシリンダチューブ44t内で往復動させて、ピストン44pに接続されたピストンロッド44rの作用により、搬送ノズルの上昇および下降を行う機構である。図59(a)(b)乃至図66(a)(b)においては簡単のため、ピストンロッド44rの移動方向と搬送ノズル44の移動方向が同一になるように記載している。また、エアシリンダ44cには、ピストン44pの位置を検出するシリンダセンサ44s1が配置されている。シリンダセンサ44s1は、搬送ノズル44が図53に示す上限位置にある場合に対応するピストン44pの位置を検出すると、上限検出信号NUを発出する。図57に示すように、搬送ノズル44がサンプルワークW3sの面W3f1に当接する位置にある場合に対応するピストン44の位置を検出すると、下限検出信号NDを発出する。シリンダセンサ44s1と真空センサ44s2とにより、移載検知手段が構成されている。
なお、図59(a)においては搬送ノズル44が上限位置にあるため、シリンダセンサ44s1は上限検出信号NUを発出している。このときの各センサの状態とサンプルワークの位置を図59(b)に示す。また、図59(a)において、切替弁16bは切替モードy1を選択している。これにより、サンプルワークWs3は上述の真空吸引の作用によりワーク収納孔11内に保持される。
次に、図60(a)に示すように、シリンダチューブ44t内にエアが注入されて、ピストン44pが矢印Q0の方向に移動する。これによって、搬送ノズル44は矢印Qの方向(図53における矢印Qに対応)に下降する。このとき、シリンダセンサ44s1は非検出状態となる。そして、真空センサ44s2も非検出状態を継続する。この関係を図60(b)に示す。
この状態からしばらく経過すると、図61(a)に示すように搬送ノズル44はサンプルワークW3sの面W3f1に当接し、シリンダセンサ44s1は下限検出信号NDを発出する。この関係を図61(b)に示す。
次に、図62(a)に示すように切替弁16aが切替モードy1を選択し、エア通路44aは真空発生源133aに連通して矢印F44の方向に真空吸引されるので、ワークW3は搬送ノズル44の下端に吸着されて保持される。このため、エア通路44a内は真空となり、真空センサ44s2が真空を検出する。この関係を図62(b)に示す。次に、図63(a)に示すように、シリンダチューブ44t内のエアが排出されて、ピストン44pが矢印R0の方向に移動する。これによって、搬送ノズル44はサンプルワークW3sを吸着保持した状態で矢印Rの方向(図53における矢印Rに対応)に上昇する。このとき、シリンダセンサ44s1は非検出状態となる。そして、真空センサ44s2は検出状態を継続する。この関係を図63(b)に示す。この状態からしばらく経過すると、図64(a)に示すように搬送ノズル44は上限位置に到達し、、シリンダセンサ44s1は上限検出信号NUを発出する。この関係を図64(b)に示す。
この状態において、サンプルワークW3sがサンプルテーブル10xから搬送テーブル43に移載されたことになる。すなわち、移載部50tにおいて、シリンダセンサ44s1が上限検出信号NUあるいは下限検出信号NDを検出するかについて、および真空センサ44s2が真空を検出するか非検出であるかについての情報を図52に示す制御部52に送信しておけば、それらの情報が図59(b)から図60(b)乃至図63(b)を経て図64(b)の状態に変化したときに、制御部52はサンプルワークW3sがサンプルテーブル10xから搬送テーブル43に移載されたと判断することができる。
なお、上述のように、図52において、移載部50tにおけるサンプルワークW3sの発光面W3Lは矢印T方向に面しているので、搬送テーブル43に移載されたサンプルワークW3sの各面の方向は、被測定ワークとしてのワークW3と同じになる。
以上の手順により、サンプルワークa〜dが搬送ノズル44に保持されると、これらのサンプルワークは図52に示す第1測定部47a、第2測定部47b、第3測定部47cに順次到達して停止する。そして、それぞれの測定部においては、被測定ワークとしてのワークW3に対するのと同一の波長測定、輝度測定、全光束測定を、各サンプルワークa〜dに対して実施する。その後、各サンプルワークは移載部50tにおいて搬送テーブル43からサンプルテーブル10xに移載される。測定を終了したサンプルワークW3sが移載部50tに到達したときの様子を図64に示す。
この状態から、図65(a)に示すように、シリンダチューブ44t内にエアが注入されて、ピストン44pが矢印Q0の方向に移動する。これによって、搬送ノズル44は矢印Qの方向(図53における矢印Qに対応)に下降する。このとき、シリンダセンサ44s1は非検出状態となる。そして、真空センサ44s2は検出状態を継続する。この関係を図65(b)に示す。
この状態からしばらく経過すると、図62(a)に示すように搬送ノズル44に保持されたサンプルワークW3sは、サンプルテーブル10xのワーク収納孔11内に載置される。そして、シリンダセンサ44s1は下限検出信号NDを発出する。この関係を図62(b)に示す。
次に、図61(a)に示すように切替弁16aが切替モードy3を選択し、エア通路44bはどこにも連通しなくなるので、ワークW3sは搬送ノズル44の下端に吸着されなくなる。このとき、エア通路44a内は大気圧となり、真空センサ44s2が非検出となる。この関係を図61(b)に示す。
次に、図66(a)に示すように、シリンダチューブ44t内のエアが排出されて、ピストン44pが矢印R0の方向に移動する。これによって、搬送ノズル44はサンプルワークW3sから離間して矢印Rの方向(図53における矢印Rに対応)に上昇する。このとき、シリンダセンサ44s1は非検出状態となる。そして、真空センサ44s2は非検出状態を継続する。この関係を図66(b)に示す。
その後、搬送ノズルは図53に示す上限位置に到達して停止する。その様子を、上述の図59(a)に示す。そして、図59(b)に示すように、シリンダセンサ44s1は上限検出信号NUを発出し、真空センサ44s2は非検出である。すなわち、移載部50tにおいて、シリンダセンサ44s1および真空センサ44s2の検出情報を図52に示す制御部52に送信しておけば、それらの情報が図64(b)、図65(b)、図62(b)、図61(b)、図66(b)、図59(b)の順に変化したときに、制御部52はサンプルワークW3sが搬送テーブル43からサンプルテーブル10xに移載されたと判断することができる。
以上のように、図52に示すワーク測定装置41においても、図1に示すワーク測定装置1と同様にサンプル測定モードによる動作が可能であり、その測定結果とあらかじめ制御部52内の記憶部に記憶されている各サンプルワークの既知の測定結果を比較する。そして、両方の測定結果の差異があらかじめ定めた規格値を外れていた測定部については、上述のワーク測定装置1と同様に警報を発して作業者に通知する。
なお、各実施の形態において、測定部の数を3箇所或いは2箇所とした例を示したが、測定部の数はこれらに限定されるものではない。また、各測定部における測定項目についても、以上の説明における項目に限定されるものではない。
さらにまた、上記各実施の形態において、搬送テーブルは水平或いは垂直に設置されているが、これに限らず搬送テーブルを傾斜して設置してもよい。
また、上記各実施の形態において、測定精度確認のためにサンプルワークのデータ取得を行うべきタイミング、すなわちモード切換えをプログラムによる自動切換手段により実行した例を示したが、これに限らず作業者の手動操作、例えば押しボタンスイッチなどの手動切換手段を用いて、サンプルワークのデータ取得を行うべきタイミング、すなわちモード切換えを実行してもよい。
また、上記各実施形態は、いずれも搬送体として中心軸の周囲に間歇回転する円形の搬送テーブルを用いたものであるが、搬送体の形状は、このような搬送テーブルに限定されるものではない。例えば、搬送体として、ワークを個別に収納する複数の凹部を長手方向に配置した無端の搬送ベルトを、間歇移動により該長手方向に周回させてもよい。
また、上記各実施形態は、いずれも中心軸の周囲に間歇回転する円形のサンプルテーブルをサンプルワーク供給手段として用いたものであるが、サンプルワーク供給手段の形状は、搬送体との間でサンプルワークを互いに移載することができ、かつ移載検知手段を設けることができるものであれば、このような円形のテーブルに限定されるものではない。
1 ワーク測定装置
2、22、42 テーブルベース
3、23、43 搬送テーブル
4、24、44 ワーク収納孔
4La 光センサ光源
4Lb 光センサ
5、25 リニアフィーダ
6、26、46 分離供給部
7a、27a、47a 第1測定部
7b、27b、47b 第2測定部
7c、47c 第3測定部
8、28、48 不良ワーク排出部
9、29、49 良品ワーク排出部
10x、30x サンプルテーブル
11、31 ワーク収納孔
11La 光センサ光源
11Lb 光センサ
12、32、52 制御部
12a、32a、52a 記憶部
12b、32b、52b 比較部
12c、32c、52c 警報部
12d、32d、52d 判定部
12e、32e、52e タイマ
12f、32f、52f 自動切換手段
13 真空発生源
14a、14b 切替弁
15 圧縮エア発生源
W1、W2、W3 ワーク
W1s、W2s、W3s サンプルワーク

Claims (22)

  1. ワークまたはサンプルワークを保持する複数の保持部を有し、回転自在に設けられた搬送体と、
    搬送体の保持部にワークを個別に分離して供給する分離供給手段と、
    分離供給手段の下流側に配置され、搬送体の保持部に保持されたワークまたはサンプルワークの特性を測定する測定手段と、
    測定手段の下流側に配置され、搬送体の保持部に保持されたワークを排出する排出手段とを備え、
    分離供給手段と測定手段との間に、予め基準特性が定められたサンプルワークを搬送体の保持部に供給するとともにサンプルワークが収納される複数の保管部を有するサンプルワーク供給手段を設け、
    搬送体と、分離供給手段と、測定手段と、排出手段と、サンプルワーク供給手段を制御する制御装置を設け、
    制御装置は通常測定モードをとるとき、分離供給手段から搬送体の保持部に供給されたワークを測定手段で測定した後、排出手段から排出し、サンプル測定モードをとるとき、サンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部に供給されたサンプルワークを測定手段で測定した後、排出手段から排出することなくサンプルワーク供給手段の保管部に戻すことを特徴とするワーク測定装置。
  2. サンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部に供給されたサンプルワークは、測定手段で測定された後、サンプルワーク供給手段の元の保管部に戻されることを特徴とする請求項1記載のワーク測定装置。
  3. 制御装置は測定手段により測定されたサンプルワークの測定結果と、予め内蔵されたサンプルワークの基準特性とを比較してその差異を求める比較部と、比較部に接続され測定結果とサンプルワークの基準特性の差異が所定値を越えた際に警報を発する警報部とを有することを特徴とする請求項1記載のワーク測定装置。
  4. サンプルワーク供給手段はサンプルワークがサンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部内に供給されたこと、およびサンプルワークがサンプルワークがサンプルワーク供給手段の保管部へ戻されたことを各々検知する移載検知手段を有することを特徴とする請求項1乃至3記載のワーク測定装置。
  5. 制御装置は通常測定モードとサンプル測定モードとを自動的に切換える自動切換手段を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか記載のワーク測定装置。
  6. 制御装置は通常測定モードとサンプル測定モードとを手動で切換える手動切換手段を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか記載のワーク測定装置。
  7. 手動切換手段は押しボタンスイッチを有することを特徴とする請求項6記載のワーク測定装置。
  8. 搬送体は円形の搬送テーブルを有することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか記載のワーク測定装置。
  9. 搬送体の保持部は搬送テーブルの外周に設けられ、外側に向けて開口する凹部からなることを特徴とする請求項8記載のワーク測定装置。
  10. 搬送体の保持部は、搬送テーブルの外周近傍に設けられ、搬送テーブルを貫通する貫通孔からなることを特徴とする請求項8記載のワーク測定装置。
  11. 搬送体の保持部は搬送テーブルの一方の面に設けられ、この一方の面に対して進退する搬送ノズルからなることを特徴とする請求項8記載のワーク測定装置。
  12. ワークまたはサンプルワークを保持する複数の保持部を有し、回転自在に設けられた搬送体と、
    搬送体の保持部にワークを個別に分離して供給する分離供給手段と、
    分離供給手段の下流側に配置され、搬送体の保持部に保持されたワークまたはサンプルワークの特性を測定する測定手段と、
    測定手段の下流側に配置され、搬送体の保持部に保持されたワークを排出する排出手段とを備え、
    分離供給手段と測定手段との間に、予め基準特性が定められたサンプルワークを搬送体の保持部に供給するとともにサンプルワークが収納される複数の保管部を有するサンプルワーク供給手段を設け、
    搬送体と、分離供給手段と、測定手段と、排出手段と、サンプルワーク供給手段を制御する制御装置を設けたワーク測定装置を用いたワーク測定方法において、
    制御装置が通常測定モードをとって、分離供給手段から搬送体の保持部に供給されたワークを測定手段で測定した後、排出手段から排出する工程と、
    制御装置がサンプル測定モードをとって、サンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部に供給されたサンプルワークを測定手段で測定した後、排出手段から排出することなくサンプルワーク供給手段の保管部に戻す工程とを備えたことを特徴とするワーク測定方法。
  13. サンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部に供給されたサンプルワークは、測定手段で測定された後、サンプルワーク供給手段の元の保管部に戻されることを特徴とする請求項12記載のワーク測定方法。
  14. 制御装置は測定手段により測定されたサンプルワークの測定結果と、予め内蔵されたサンプルワークの基準特性とを比較してその差異を求める比較部と、比較部に接続され測定結果とサンプルワークの基準特性の差異が所定値を越えた際に警報を発する警報部とを有することを特徴とする請求項12記載のワーク測定方法。
  15. サンプル供給手段はサンプルワークがサンプルワーク供給手段の保管部から搬送体の保持部内に供給されたこと、およびサンプルワークがサンプルワーク供給手段の保管部へ戻されたことを各々検知する移載検知手段を有することを特徴とする請求項13または14のいずれか記載のワーク測定方法。
  16. 制御装置は通常測定モードとサンプル測定モードとを自動的に切換える自動切換手段を有することを特徴とする請求項12乃至15のいずれか記載のワーク測定方法。
  17. 制御装置は通常測定モードとサンプル測定モードとを手動で切換える手動切換手段を有することを特徴とする請求項12乃至15のいずれか記載のワーク測定方法。
  18. 手動切換手段は押しボタンスイッチを有することを特徴とする請求項17記載のワーク測定方法。
  19. 搬送体は円形の搬送テーブルを有することを特徴とする請求項12乃至18のいずれか記載のワーク測定方法。
  20. 搬送体の保持部は搬送テーブルの外周に設けられ、外側に向けて開口する凹部からなることを特徴とする請求項17記載のワーク測定方法。
  21. 搬送体の保持部は、搬送テーブルの外周近傍に設けられ、搬送テーブルを貫通する貫通孔からなることを特徴とする請求項19記載のワーク測定方法。
  22. 搬送体の保持部は搬送テーブルの一方の面に設けられ、この一方の面に対して進退する搬送ノズルからなることを特徴とする請求項19記載のワーク測定方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160085198A (ko) * 2015-01-07 2016-07-15 가부시키가이샤 도쿄 웰드 워크의 특성 측정 장치 및 워크의 특성 측정 방법
WO2021066986A1 (en) * 2019-09-30 2021-04-08 Applied Materials, Inc. Conveyor inspection system, substrate rotator, and test system having the same
CN113213156A (zh) * 2020-05-28 2021-08-06 上野精机株式会社 电子零部件处理装置
JP7007677B1 (ja) 2021-03-11 2022-02-10 上野精機株式会社 電子部品検査装置
US11264263B2 (en) 2019-09-30 2022-03-01 Applied Materials, Inc. Conveyor inspection system, substrate rotator, and test system having the same

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5975556B1 (ja) * 2015-12-11 2016-08-23 上野精機株式会社 移載装置
JP6895205B2 (ja) * 2017-11-13 2021-06-30 住友電工焼結合金株式会社 サイジング装置
CN113394148B (zh) * 2021-06-15 2022-09-20 深圳市创一智能装备有限公司 一种太阳能电池的布料装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61132316U (ja) * 1985-02-05 1986-08-18
JPH05302948A (ja) * 1992-04-27 1993-11-16 Anritsu Corp 校正用部品の設定装置
JPH10139136A (ja) * 1996-11-13 1998-05-26 Nitto Kogyo Co Ltd チップの前後方向整列搬送手段
JP2001341835A (ja) * 2000-05-31 2001-12-11 Shibuya Kogyo Co Ltd 素子の搬送装置
JP2002068471A (ja) * 2000-08-28 2002-03-08 Murata Mfg Co Ltd チップ部品の搬送装置
JP2003098209A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の検査装置
JP2010247972A (ja) * 2009-04-17 2010-11-04 Tokyo Weld Co Ltd ワーク搬送装置及びワーク搬送方法
JP2012211800A (ja) * 2011-03-31 2012-11-01 Sharp Corp サンプル検査装置
JP2014055041A (ja) * 2012-09-11 2014-03-27 Shibuya Kogyo Co Ltd 物品分類装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5383135A (en) * 1992-12-31 1995-01-17 Zellweger Uster, Inc. Acquisition, measurement and control of thin webs on in-process textile materials
CA2437217C (en) * 2001-02-02 2015-06-16 Bristol-Myers Squibb Pharma Company Apparatus and methods for on-line monitoring of fluorinated material in headspace of vial
CN101837351B (zh) * 2010-06-02 2012-09-19 天津大学 基于图像检测法的油封弹簧全自动分选系统及方法
JP2012020822A (ja) * 2010-07-13 2012-02-02 Tokyo Weld Co Ltd ワーク搬送装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61132316U (ja) * 1985-02-05 1986-08-18
JPH05302948A (ja) * 1992-04-27 1993-11-16 Anritsu Corp 校正用部品の設定装置
JPH10139136A (ja) * 1996-11-13 1998-05-26 Nitto Kogyo Co Ltd チップの前後方向整列搬送手段
JP2001341835A (ja) * 2000-05-31 2001-12-11 Shibuya Kogyo Co Ltd 素子の搬送装置
JP2002068471A (ja) * 2000-08-28 2002-03-08 Murata Mfg Co Ltd チップ部品の搬送装置
JP2003098209A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の検査装置
JP2010247972A (ja) * 2009-04-17 2010-11-04 Tokyo Weld Co Ltd ワーク搬送装置及びワーク搬送方法
JP2012211800A (ja) * 2011-03-31 2012-11-01 Sharp Corp サンプル検査装置
JP2014055041A (ja) * 2012-09-11 2014-03-27 Shibuya Kogyo Co Ltd 物品分類装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160085198A (ko) * 2015-01-07 2016-07-15 가부시키가이샤 도쿄 웰드 워크의 특성 측정 장치 및 워크의 특성 측정 방법
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WO2021066986A1 (en) * 2019-09-30 2021-04-08 Applied Materials, Inc. Conveyor inspection system, substrate rotator, and test system having the same
US11264263B2 (en) 2019-09-30 2022-03-01 Applied Materials, Inc. Conveyor inspection system, substrate rotator, and test system having the same
CN113213156A (zh) * 2020-05-28 2021-08-06 上野精机株式会社 电子零部件处理装置
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