JPH05302948A - 校正用部品の設定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電子部品の自動選別装置に校正用部品を自動
的に設定できるようにする。 【構成】 電子部品の自動選別装置は、ハンドが電子部
品をつかみ、軌跡Ｌ１に沿って搬送して測定部に設定す
るようになっている。校正用部品の設定装置４００は、
モータ４０７でねじ棒４０６を回転させ、これとかみ合
うナット部材４０９によって収納台４１０を移動させ
る。収納台４１０には、電子部品と同形の校正用部品が
複数個収納されており、自動選別装置におけるハンドの
移動軌跡Ｌ１の直下にある取り出し位置に、所望の校正
用部品を設定して自動的に取り出す（又は戻す）ことが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、多数の電子部品を自動
的に測定し、電気的特性に応じて複数段階に選別するこ
とのできる電子部品選別装置に係り、特に該電子部品選
別装置に校正用部品を自動的に設定することのできる校
正用部品の設定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】多数の電子部品を電気的特性に応じて段
階的に選別するため、本発明者らは電子部品自動選別装
置を提案している。

【０００３】この装置は、測定前の電子部品を収容する
供給ストッカと、前記供給ストッカから供給される電子
部品を把持して回転する複数のハンドと、前記ハンドに
よる回転搬送経路中に設けられた電子部品の測定ターミ
ナルと、前記測定ターミナルに接続されて電子部品の測
定を行う測定装置と、前記測定装置の測定結果に応じて
測定後の電子部品を段階別に収容する複数個の収容スト
ッカとを備えた構成になっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】前記自動選別装置によ
って電子部品の特性測定及び振り分けを行なうには、電
気的特性が所定の値に精密に設定されている校正用部品
を用いて測定を行ない、測定対象を除く測定系全体の特
性を求めておく必要がある。

【０００５】上記校正作業を行なうため、従来は電子部
品自動選別装置の測定ターミナルに作業者が校正用部品
を手で設定していた。

【０００６】このような人手による校正用部品の設定乃
至取出しはきわめて煩雑で長い時間がかかるため、自動
選別装置による作業の能率を低下させるという問題があ
った。このため本発明者らは、この種の電子部品選別装
置に適用できる校正用部品の設定装置を実現することを
目的としてきた。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明に係る校正用部品
の設定装置は、測定前の電子部品を収容する供給ストッ
カと、前記供給ストッカから供給される電子部品を把持
して回転する複数のハンドと、前記ハンドによる回転搬
送経路中に設けられた電子部品の測定ターミナルと、前
記測定ターミナルに接続されて電子部品の測定を行なう
測定装置と、前記測定装置の測定結果に応じて測定後の
電子部品を段階別に収容する複数個の収容ストッカとを
備えた電子部品選別装置に設けられる装置で、前記電子
部品と同様の形状を有する複数の校正用部品を収納する
収納台と、前記収納台を移動させることによって所望の
校正用部品を前記ハンドによる回転搬送経路中の所定位
置に設定する駆動手段とを有している。

【０００８】

【作用】ハンドは、供給ストッカから供給された電子部
品を把持し、回転搬送経路に沿って該電子部品を運んで
測定ターミナルに設定する。電子部品は測定装置によっ
て測定され、測定された電気特性に応じて所定のランク
に振り分けられる。ハンドは測定済みの電子部品を搬送
し、所定のランクの収納ストッカに収納させる。

【０００９】校正時には、設定装置の駆動手段が作動
し、収納台に収納された複数の校正用部品の内のひとつ
を、電子部品選別装置におけるハンドの回転搬送経路中
の所定位置に設定する。この回転搬送経路に沿って移動
するハンドは、設定された校正用部品を把持して搬送
し、測定ターミナルに設定する。

【００１０】

【実施例】図１は、校正用部品の設定装置４００を備え
た電子部品選別装置を示す平面図である。図中、１は電
子部品Ｗが収容されるストッカであり、２は電子部品Ｗ
の検査部であり、３は送り装置である。

【００１１】電子部品Ｗは、図２に示すマガジン４３に
複数設けられた凹部４４に夫々収容される。本実施例に
おける電子部品Ｗは、図２に示すように、円盤形のパッ
ケージである本体部Ｗ１から十字形状に信号リードＷ２
及びアースリードＷ３が２本づつ突出した構造となって
いる。そして、このような電子部品Ｗを収納するマガジ
ン４３は、図２に示すように細長い棒板状であり、その
上面には電子部品Ｗを収納する略十字形の凹部４４が所
定ピッチで形成されている。各凹部４４の両側には検出
孔４５が所定ピッチで形成されている。

【００１２】図１に示すように、前記マガジン４３を複
数収納している供給ストッカ１ａからは電子部品Ｗが取
り出され、送り装置３ａによって図中ａ方向の検査部２
に送られて検査に供される。検査部２によりｂ方向に搬
送される電子部品Ｗは、検査結果に応じて段階別に振り
分けられ、第２〜第４の送り装置３ｂ〜３ｄによって各
々図中ｃ１〜ｃ３方向の収容ストッカ１ｂ〜１ｄに搬送
されて収納される。

【００１３】そしてこの電子部品選別装置は、中央に設
けられる検査部２から略放射状に設けられる供給ストッ
カ１ａ、収納ストッカ１ｂ〜１ｄ、及びこれと対に設け
られる送り装置３ａ〜３ｄが設けられた構成であり、図
１に示す如く収容ストッカ１ｂ〜１ｄは各々ハンド２２
０の配列ピッチに対応して４５度づつ等角度に配置され
ている。

【００１４】まず、各ストッカ１は、前記マガジン４３
を収納できるレールを円筒状に集合させたドラムを有し
ており、このドラムを回転させて所定の位置に設定した
レールから中のマガジンを外に押し出して供給すること
ができる。

【００１５】次に、各ストッカ１に隣接して設けられた
送り装置３は、モータによって回転する一対の送りベル
トを有しており、前記マガジン４３を挟持して搬送し、
供給ストッカ１ａから供給されたマガジン４３を検査部
２に送り、又は測定済みの電子部品が入ったマガジン４
３を検査部２から収納ストッカ１ｂ〜１ｄに送るように
なっている。

【００１６】次に、検査部２について説明する。検査部
２は、図１において図中ｂ方向に回転自在な回転ステー
ション２０２を有し、この回転ステーション２０２に
は、周囲に複数のハンド２２０が設けられている。この
ハンド２２０は、送り装置３ａによって搬送されてくる
電子部品Ｗを１個づつ挟持し、ｂ方向に回転搬送させ
る。搬送途中、後述する位置出し機構３０１により、電
子部品Ｗの挟持状態が再度位置決めされ、この後、後述
する測定部２０４に搬送され電子部品Ｗの電気的特性が
測定される。測定後の電子部品Ｗは、ハンド２２０によ
り各選別の段階別の送り装置３ｂ〜３ｄのいずれかの位
置まで搬送される。したがって前記各送り装置３ｂ〜３
ｄは、各々の搬送方向が回転ステーション２０２の周囲
に放射状となるよう配置されている。

【００１７】図３に示すように、回転ステーション２０
２は、底部の回転機２０２ｂを駆動源として上部のロー
タ２０２ｃが回転自在である。ロータ２０２ｃ側部に
は、ハンド２２０に対応して所定角度毎に複数のスライ
ド軸受け２２３が設けられる。一方、回転ステーション
２０２上部には、筐体に固定された円盤状の取付板２２
１が設けられる。取付板２２１の縁部には、前記所定角
度毎にシリンダ２２２が固設される。シリンダ２２２
は、ロッド２２２ａが下方に伸縮自在であり、図３図の
状態において、ロッド２２２ａは収縮した状態である。

【００１８】各々のスライド軸受け２２３には、夫々、
ハンド２２０が常時上方に付勢されて上下方向に移動自
在に設けられる。ハンド２２０は、スライド軸受け２２
３の可動側に固定された略Ｌ字型の支持板２１０に取り
付けられる。支持板２１０には、円筒状のブロック基部
２１１が固設される。ブロック基部２１１は、中央内部
に段差を有する貫通孔２１１ａ，２１１ｂを有し、この
貫通孔２１１ａ内に円筒状の吸引用ダクト２１２が貫通
されている。

【００１９】吸引用ダクト２１２は、上端２１２ａが不
図示のエア吸引源に連結されており、下端のノズル２１
２ｂで電子部品Ｗの本体部Ｗ１を吸着する。この吸引用
ダクト２１２とブロック基部２１１との間には、スライ
ド軸受け２１３が設けられる。また、吸引用ダクト２１
２の上部付近は、水平な板部材２１７に固定されてい
る。板部材２１７の一端は、支持板２１０に立設された
ピン２１８に上下動自在に軸支されており、よって吸引
用ダクト２１２が回転止めされている。さらに、吸引用
ダクト２１２の略中央部には、ブロック基部２１１の貫
通孔２１１ａの下縁２１１ｃに当接する鍔部２１２ｃを
有しているとともに、スライド軸受け２１３及び鍔部２
１２ｃ間にはバネ２１４が介装されており、よって吸引
用ダクト２１２は、ブロック基部２１１に対し、常時下
方に付勢され、かつ上下方向にスライド自在である。
尚、下縁２１１ｃ上において、鍔部２１２ｃの直下にゴ
ムクッション２１５が設けられる。

【００２０】ブロック基部２１１の下半部には、吸引用
ダクト２１２を中心する４方箇所に、複数のワーク押え
２１６がそれぞれ上下にスライド自在に設けられいる。
ワーク押え２１６は、所定長さを有し、ブロック基部２
１１に各々設けられた溝部２１１ｃ，２１１ｄ部分に挿
通されている。ワーク押え２１６の上端は、溝部２１１
ｃ，２１１ｄの段差部分に係合する鍔部２１６ａとさ
れ、かつ溝部２１１ｃにはバネ２１７が介装されてお
り、ワーク押え２１６は常時下方に付勢された構成であ
る。ここで、このワーク押え２１６の下端２１６ｂは、
吸引用ダクト２１２の下端のノズル２１２ｂより所定高
さ上方に位置すべく長さを設定しておく。そして、この
ワーク押え２１６は、電子部品Ｗの信号リードＷ２部分
に対応して計４個設けられるとともに、アースリードＷ
３に対応する箇所に計２個設けられている。

【００２１】次に、図４は、測定ターミナル２０４を示
す斜視図である。上部には、直線状各々、所定長さで中
央部まで延出された信号ライン２２４ａ、信号ライン２
２４ａ周囲のアースライン２２４ｂが形成されたストリ
ップ線路２２４が設けられている。各ライン２２４ａ，
２２４ｂは、両端部のコネクタ２２５ａ，２２５ｂに接
続されている。そして、前記ハンド２２０により、電子
部品Ｗの信号リードＷ１は信号ライン２２４ａ上に載置
されるとともに、アースリードＷ２はアースライン２２
４ｂ上に載置される。また、前記吸引ダクト２１２下端
のノズル２１２ｂは、図示の如く、電子部品Ｗの本体部
Ｗ１を吸引し、信号ライン２２４ａ上の信号リードＷ２
部分は、計４か所のワーク押え２１６で上方から押え、
アースライン２２４ｂのアースリードＷ３部分は、計２
箇所のワーク２１６で上方から押えられる。

【００２２】そして、図５の測定系の概要図に示す如
く、各コネクタ２２５ａ，２２５ｂは、ケーブル２２６
を介して測定装置２２７の端子２２７ａに接続されてお
り、測定ターミナル２０４上の電子部品Ｗの電気的特
性、例えば周波数特性等が測定される。

【００２３】前記測定装置２７は、測定用信号を出力す
る信号発生部と、被測定物である電子部品から送られて
くる信号を受けて評価する受信部と、信号発生部、受信
部及び図１の電子部品選別装置の各部をプログラム制御
する制御部からなる。後に説明する図１０、図１１のフ
ローにおける動作は、この制御部で制御される。

【００２４】次に、この検査部２には、図６に示す位置
出し機構３０１が設けられる。この位置出し機構３０１
の配設される位置は、図１に示す如く検査部２上におい
て、送り装置３ａと測定ターミナル２０４との間で前記
ハンド２２０の移動軌跡上に位置する。この位置出し機
構３０１は、図６に示すように、基台３０２と爪部材３
１１と可動台３１７と駆動手段としてのアクチュエータ
３０９とで大略構成されている。まず、基台３０２は上
台３０３と下台３０４とで構成され、それぞれが複数の
垂直な支柱３０５で連結されている。下台３０４は矩形
な板状に形成され、四隅に取付固定孔が設けられ、中央
近傍に垂直な調整軸３０７が２本立設されている。この
調整軸３０７は垂直方向の突出量を微調整できるように
設けられている。そして、これら調整軸３０７の各先端
には、取付板３０８が水平に設けられている。この取付
板３０８には、中央に挿通孔が形成され、下面にアクチ
ュエータ３０９が固定されている。このアクチュエータ
３０９の作動軸３１０は前記挿通孔を貫通し、取付板３
０８の上面に突出している。このアクチュエータ３０９
は、通電により励磁状態となり、作動軸３１０が上方に
突出作動するようになっている。

【００２５】また、上台３０３は円板状に形成され、そ
の中央には、上方に延出して爪部材３１１が設けられて
いる。この爪部材３１１は、基端３１２が上台３０３に
固定されており、上方に向いた先端３１３が４つに分離
形成されているとともに、この先端３１３の外周部分が
テーパ面３１４が形成され、各先端３１３が互いに相反
する方向にやや拡がった拡径状に形成されている。ま
た、この爪部材３１１の各先端３１３には、前述した電
子部品３２５の形状に対応した切欠部３１５が形成され
ている。この切欠部３１５は爪部材３１１の先端３１３
の上端面３１３ａに段状に形成されており、爪の最先端
３１３ｂは湾曲状に切欠されている。これら爪部材の各
切欠部は、各爪の先端をそれぞれ接近させ、接合させた
際に、前記電子部品３２５の外形状とほぼ一致するよう
になっている。なお、この爪部材３１１は弾性を有する
素材で形成されている。また、この上台３０３には前記
爪部材３１１の両脇に垂直に貫通した一対のガイド孔３
１６が形成されている。

【００２６】次に、可動台３１７は前記アクチュエータ
３０９の作動軸３１０の先端に設けられている。この可
動台３１７は、上板３１８と下板３１９とで構成されて
おり、各板３１８，３１９は２本のガイド軸３２０で連
結され、下板３１９の下面中央が作動軸３１０に固定さ
れている。ガイド軸３２０は前記基台３０２の上台３０
３に形成された一対のガイド孔３１６を貫通して取り付
けられており、この上台３０３の下面と下板３１９の上
面との間に圧縮コイルスプリング３２１が巻装されてい
る。可動台３１７の上板３１８には、略中央にすり鉢状
の傾斜面を有した貫通孔３２２が形成されている。この
貫通孔３２２には、前述した基台３０２に設けられた爪
部材３１１が挿通されている。

【００２７】次に、校正用部品の設定装置４００を説明
する。図１に示すように、この設定装置４００は、回転
ステーション２０２の回転方向について前記測定部２０
４の隣に設けられている。この設定装置４００は４種類
の校正用部品４０１を収納しており、回転ステーション
２０２におけるハンド２２０の回転搬送経路Ｌ１の直下
の所定位置に所望の校正用部品４０１を設定するための
装置である。

【００２８】図７に示すように、設定装置４００の基台
４０２に設けられた支持部４０３，４０４には、ベアリ
ング４０５を介してねじ棒４０６が回転自在に渡設され
ている。略中央の支持部４０４から突出したねじ棒４０
６の一端には、基台４０２に固定されたモータ４０７の
出力軸が継手４０８を介して連動連結されている。

【００２９】前記ねじ棒４０６には、ナット部材４０９
がかみ合っており、ナット部材４０９の上には校正用部
品４０１の収納台４１０が固定されている。校正用部品
４０１は、前述した電子部品Ｗと同一の外形を有してお
り、測定ターミナル及びハンドがそのまま使用できる。
また、本実施例ではオープン・ショート・ターミネーシ
ョン・スルーの４種類で１組とされている。そして収納
台４１０の上面には、図８に示すようにねじ棒４０６の
軸方向に沿って４箇所の収納凹部４１１が形成されてい
る。なお、回転止めは図示しない。

【００３０】上記の構成によれば、電子部品選別装置に
おいて測定系の校正を行なう時には、モータ４０７を駆
動してねじ棒４０６を回転させ、収納台４１０をねじ棒
４０６に沿って移動させることにより、ハンド２２０の
回転搬送経路Ｌ１の直下にある所定の取出し位置に所望
の校正用部品４０１を設定することができる。

【００３１】次に、検査部２の動作を説明する。送り装
置３ａから供給された電子部品Ｗは、ハンド２２０で吸
着保持された状態で回転ステーション２０２の回転機２
０２ｂが駆動されロータ２０２ｃが回転することによ
り、この測定ターミナル２０４上部位置まで運搬され
る。この状態は図１３に示されており、吸引ダクト２１
２下端のノズル２１２ｂ部分に電子部品Ｗの本体部Ｗ１
を吸着した状態である。この後、測定ターミナル２０４
上部位置のシリンダ２２２が作動すると、ロッド２２２
ａは、支持板２１０を下方にスライドさせる。これによ
り、吸引ダクト２１２は、先ず電子部品Ｗの本体部Ｗ１
を測定ターミナル２０４の中央部所定箇所にバネ２１４
の弾性を有して押圧する。ロッド２２２ａは、この後に
おいても所定長さ下方に突出し、続いて吸引ダクト２１
２より短い長さのワーク押え２１６が信号リードＷ２、
アースリードＷ３をバネ２１７の弾性を有して信号ライ
ン２２４ａ、アースライン２２４ｂ方向に押圧する。こ
れにより、電子部品Ｗの各リードＷ２，Ｗ３が各ライン
２２４ａ，２２４ｂに付勢され測定装置による電気的測
定を安定して行うことができるようになる。そして、図
５に示す測定装置２２７により測定ターミナル２０４上
の電子部品Ｗの電気的特性、例えば周波数特性等が測定
され、測定結果にもとづきこの電子部品Ｗは、３段階に
選別される。

【００３２】電子部品Ｗの電気的特性測定後は、シリン
ダ２２２が復帰し、ロッド２２２ａが収縮することによ
り、先ず、ワーク押え２１６が各リードＷ２，Ｗ３から
離れる。この後、電子部品Ｗは、図３に示す如く本体部
Ｗ１が吸引ダクト２１２のノズル２１２ｂに吸着された
状態のまま、回転ステーション２０２の回転により各選
別段階に対応する送り装置３ｂ〜３ｄのいずれかの箇所
まで搬送される。尚、吸引ダクト２１２、ワーク押え２
１６は、各々バネ２１４、２１７の復帰力で図１３に示
す初期状態に復帰する。

【００３３】なお、上記測定ステーション２０４による
電子部品Ｗの特性測定以前にハンド２２０は、予め位置
出し機構３０１により位置出しされた状態でハンド２２
０に吸着されるようになっている。位置出し機構３０１
の動作を説明すると、まずハンド２２０が、送り装置３
ａのマガジン４３から電子部品Ｗを１個づつ取り出す。

【００３４】次に、ハンド２２０は回転ステーション２
０２によって所定角度回転移動し、位置出し機構３０１
の上方にて停止する。ハンド２２０は、電子部品Ｗをこ
の位置出し機構３０１の爪部材３１１に形成されている
切欠部３１５に載置する。このとき、電子部品Ｗに設け
られている４本のリードＷ２，Ｗ３が爪部材３１１先端
３１３の各間に位置するように載置する。

【００３５】位置出し機構３０１は、アクチュエータ３
０９が作動し、作動油３１０を上方に突出させて、可動
台３１７を上昇させる。可動台３１７は、ガイド軸３２
０によって基台３０２との平行を維持しながら上昇移動
するとともに、爪部材３１１に沿って上方へ移動する。
すると、可動台３１７は、中央の貫通孔３２２によって
爪部材３１１を縮径させ、この爪部材３１１先端３１３
の４つの爪を互いに接近させる。そして、この爪部材３
１１先端３１３に載置された電子部品Ｗの位置の修正を
行う。この電子部品Ｗの位置の修正は、特に電子部品Ｗ
のリードＷ２，Ｗ３の方向を正すようになっている。

【００３６】電子部品Ｗの位置が修正されたのち、再び
ハンド２２０がこの電子部品Ｗを吸着保持し、前述した
測定ステーション２０４に移送する。このように、電子
部品ＷのリードＷ２，Ｗ３の向きを修正することで測定
ステーション２０４上の各ライン２２４ａ，２２４ｂに
リードＷ２，Ｗ３が確実に接触されるようになってい
る。

【００３７】以上、説明したように、各電子部品Ｗの流
れは図１０のフローチャートに示されているが、ストッ
カ１ａに対して予め測定するための電子部品Ｗをマガジ
ン４３で収容する前操作を経て、移行ＳＰ２〜ＳＰ９の
各動作を遂行して各電子部品Ｗは段階別のストッカ１ｂ
〜１ｄのいずれかに収容されることになる。尚、ハンド
２２０の保持動作はＳＰ３，ＳＰ６以外にも各構成部の
箇所において吸着保持、および離脱載置に動作が一対で
行われるものであり、図中では記載を省略した。そし
て、検査部２には、４５度づつ複数個のハンド２２０が
設けられているから、これらＳＰ２〜ＳＰ９の処理フロ
ーは、複数、並列して動作しており、効率的に行われ
る。さらに、ハンド２２０は、図１に示すｂ方向に１回
転する途中でいずれかのストッカ１ｂ〜１ｄに電子部品
Ｗを供給するため、効率的な選別動作を行える。

【００３８】次に、校正用部品の設定装置４００を用い
た校正時の作用について、図１１を用いて説明する。校
正は、前記４種類の校正用部品のうち複数の部品を測定
することによって行われる。校正時には、まず、測定済
みの電子部品Ｗが収納ストッカに収納され、所定のハン
ド２２０が設定装置４００の取り出し位置にくる。（Ｓ
Ｐ１０，１１）

【００３９】次に設定装置４００のモータ４０７が収納
台４１０を移動させ、必要な校正用部品４０１をハンド
２２０による取り出し位置の直下に設定する。（ＳＰ１
２）

【００４０】前記校正用部品４０１はハンド２２０で保
持され、位置出し機構３０１において位置決めされ、さ
らに測定ステーション２０４に運ばれて測定される。
（ＳＰ１３，１４，１５）

【００４１】測定終了後、校正用部品４０１を前記設定
装置に戻す。次に、ＳＰ１２に戻って他の校正用部品４
０１を用いて再度測定を行ない、必要な校正用部品を全
て測定し終わるまで繰り返す。必要な校正用部品の測定
が全て完了後、測定結果に基づいて校正を行う。校正が
終了した場合には、必要に応じてサンプルデバイスの測
定を行なって異常の有無を確認し、測定モードに入る。

【００４２】図９は設定装置５００の他の実施例を示
す。モータ５０１によって回転する円盤形の収納台５０
２には複数の校正用部品４０１が収納されている。前記
電子部品選別装置におけるハンド２２０の回転搬送経路
Ｌ１の直下にあたる特定の取り出し位置に、モータ５０
１を駆動させて所望の校正用部品４０１を設定すること
ができる。

【００４３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、回転して移動するハンドの軌跡上に複数の校正用部
品を選択的に設定できる設定装置を設けたので、校正作
業が完全に自動化され、電子部品の自動選別作業の効率
をより一層向上させることができた。

【００４４】特に、夜間運転時等の場合には、何度でも
自動的に校正作業を行なわせることができるので、温度
変化等による測定系の変化を容易に補正することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】一実施例の全体構成を示す平面図である。

【図２】一実施例における電子部品とマガジンを示す図
である。

【図３】一実施例におけるハンドの断面図である。

【図４】一実施例における測定ターミナルの斜視図であ
る。

【図５】一実施例における測定系の概要図である。

【図６】一実施例における位置出し機構の部分裁断正面
図である。

【図７】一実施例における設定装置の平面図及び側面図
である。

【図８】一実施例における設定装置の収納台の斜視図で
ある。

【図９】設定装置の他の構成例を示す図である。

【図１０】一実施例における電子部品選別装置の動作を
示すフローチャートである。

【図１１】一実施例における校正モードでの動作を示す
フローチャートである。

【符号の説明】

１ａ 供給ストッカ １ｂ，１ｃ，１ｄ 収容ストッカ ２０４ 測定ターミナル ２２０ ハンド ２２７ 測定装置 ４００，５００ 設定装置 ４１０，５０２ 収納台 ４０７，５０１ 駆動手段としてのモータ Ｗ 電子部品 ４０１ 校正用部品 Ｌ１ 回転搬送経路

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定前の電子部品を収容する供給ストッ
   カと、前記供給ストッカから供給される電子部品を把持
   して回転する複数のハンドと、前記ハンドによる回転搬
   送経路中に設けられた電子部品の測定ターミナルと、前
   記測定ターミナルに接続されて電子部品の測定を行う測
   定装置と、前記測定装置の測定結果に応じて測定後の電
   子部品を段階別に収容する複数個の収容ストッカとを備
   えた電子部品選別装置に設けられる校正用部品の設定装
   置において、 前記電子部品と同様の形状を有する複数の校正用部品を
   収納する収納台と、前記収納台を移動させることによっ
   て所望の校正用部品を前記ハンドによる回転搬送経路中
   の所定位置に設定する駆動手段とを有する校正用部品の
   設定装置。