JP6561825B2 - 搬送装置、基盤およびその製造方法 - Google Patents

搬送装置、基盤およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6561825B2
JP6561825B2 JP2015248434A JP2015248434A JP6561825B2 JP 6561825 B2 JP6561825 B2 JP 6561825B2 JP 2015248434 A JP2015248434 A JP 2015248434A JP 2015248434 A JP2015248434 A JP 2015248434A JP 6561825 B2 JP6561825 B2 JP 6561825B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base
outer peripheral
substrate
main
plating film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015248434A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017114582A (ja
Inventor
笹岡 嘉一
嘉一 笹岡
淳也 田中
淳也 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2015248434A priority Critical patent/JP6561825B2/ja
Priority to CN201610814032.4A priority patent/CN106892258B/zh
Priority to KR1020160170151A priority patent/KR101928300B1/ko
Publication of JP2017114582A publication Critical patent/JP2017114582A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6561825B2 publication Critical patent/JP6561825B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67715Changing the direction of the conveying path
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/74Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
    • B65G47/80Turntables carrying articles or materials to be transferred, e.g. combined with ploughs or scrapers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G29/00Rotary conveyors, e.g. rotating discs, arms, star-wheels or cones
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/02Devices for feeding articles or materials to conveyors
    • B65G47/04Devices for feeding articles or materials to conveyors for feeding articles
    • B65G47/12Devices for feeding articles or materials to conveyors for feeding articles from disorderly-arranged article piles or from loose assemblages of articles
    • B65G47/14Devices for feeding articles or materials to conveyors for feeding articles from disorderly-arranged article piles or from loose assemblages of articles arranging or orientating the articles by mechanical or pneumatic means during feeding
    • B65G47/1407Devices for feeding articles or materials to conveyors for feeding articles from disorderly-arranged article piles or from loose assemblages of articles arranging or orientating the articles by mechanical or pneumatic means during feeding the articles being fed from a container, e.g. a bowl
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/22Devices influencing the relative position or the attitude of articles during transit by conveyors
    • B65G47/26Devices influencing the relative position or the attitude of articles during transit by conveyors arranging the articles, e.g. varying spacing between individual articles
    • B65G47/30Devices influencing the relative position or the attitude of articles during transit by conveyors arranging the articles, e.g. varying spacing between individual articles during transit by a series of conveyors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/28Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
    • H01L21/283Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
    • H01L21/288Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a liquid, e.g. electrolytic deposition
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67706Mechanical details, e.g. roller, belt
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/6773Conveying cassettes, containers or carriers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6831Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using electrostatic chucks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/7806Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices involving the separation of the active layers from a substrate
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2201/00Indexing codes relating to handling devices, e.g. conveyors, characterised by the type of product or load being conveyed or handled
    • B65G2201/02Articles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2812/00Indexing codes relating to the kind or type of conveyors
    • B65G2812/01Conveyors composed of several types of conveyors
    • B65G2812/012Conveyors composed of several types of conveyors for conveying material successively by a series of conveyors
    • B65G2812/013Conveyors composed of several types of conveyors for conveying material successively by a series of conveyors without relative movement between conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Specific Conveyance Elements (AREA)
  • Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)

Description

本発明は、搬送装置、基盤およびその製造方法に関する。
複数のワークを搬送する搬送装置の構成を開示した先行文献として、特開2008−105811号公報(特許文献1)、および、特開2008−260594号公報(特許文献2)がある。
特許文献1に記載された搬送装置においては、搬送用の基盤と検査用の基盤とが部分的に重なっている。検査用の基盤には、ワークが遠心力によって飛ばされることを防止するために、ワークを吸引固定する吸引穴が多数形成されている。
特許文献2に記載された搬送装置においては、帯電器によって基盤をワークとは逆の極性に帯電させることにより、ワークを基盤上に静電吸着させた状態で搬送している。
特開2008−105811号公報 特開2008−260594号公報
搬送装置に吸引機構または帯電器などを設けた場合、搬送装置が大型化する。
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであって、搬送中のワークの位置ずれを抑制して安定してワークを搬送できるとともに搬送装置を小型化できる、搬送装置、基盤およびその製造方法を提供することを目的とする。
本発明の第1の局面に基づく搬送装置は、複数のワークを整列させて順次搬送する第1基盤と、第1基盤から供給された複数のワークを順次搬送する第2基盤と、第1基盤を回転させる第1駆動部と、第2基盤を回転させる第2駆動部とを備える。第1基盤は、板状の主部、および、主部の少なくとも外周部の下面を覆い、主部を構成する材料とは異なる材料で構成されて電気絶縁性を有する被覆部を含む。第2基盤は、被覆部を構成する材料とは異なる材料で構成されて電気絶縁性を有する外周部を含む。第2基盤の外周部の上面は、第1基盤の被覆部と摺接する。第2基盤の外周部の上面に、第1基盤が順次搬送した複数のワークが載置される。
本発明の一形態においては、主部は、導電性材料で構成されている。
本発明の一形態においては、第1基盤および第2基盤の各々が、円盤状の外形を有している。第2基盤の外周長さは、第1基盤の外周長さより長い。第2基盤による複数のワークの搬送速度は、第1基盤による複数のワークの搬送速度より大きい。
本発明の一形態においては、第1基盤の上方に、複数のワークを整列させるガイドが設けられている。ガイドは、第1基盤上に位置する複数のワークが第1基盤の回転に伴って第1基盤の径方向の外側に移動するように、第1基盤の周方向に対して交差する方向に延在している部分を含む。
本発明の一形態においては、第2基盤の外周部は、ガラスで構成されている。被覆部は、樹脂で構成されている。
本発明の一形態においては、主部の外周部の厚さが、10μm以上200μm以下である。
本発明の一形態においては、主部の外周部は、被覆部より厚い。主部の外周部の剛性は、被覆部の剛性より高い。
本発明の一形態においては、主部は、金属で構成されている。
本発明の一形態においては、主部は、ニッケルおよびコバルトを含む合金で構成されている。
本発明の一形態においては、主部は、外周部と外周部に周りを囲まれた中央部とから構成されている。中央部は、外周部より厚い。
本発明の第2の局面に基づく基盤は、回転することによって複数のワークを整列させて順次搬送し、摺接する他の基盤の摺接部に複数のワークを載置する基盤である。基盤は、板状の主部と、主部の少なくとも外周部の下面を覆い、主部を構成する材料とは異なる材料で構成されて電気絶縁性を有し、摺接部と摺接する被覆部とを備える。
本発明の第3の局面に基づく基盤の製造方法は、上記基盤の製造方法である。基盤の製造方法は、基板の主面に枠状の第1マスクを配置する工程と、基板の主面上の第1マスク内の領域に第1めっき膜を形成する工程と、第1めっき膜の少なくとも外周部の上面を覆う被覆部を形成する工程と、被覆部を形成された第1めっき膜を基板から剥離する工程とを備える。
本発明の一形態においては、第1めっき膜を形成する工程と被覆部を形成する工程との間に、第1めっき膜の外周部の上面に枠状の第2マスクを配置する工程と、第1めっき膜上の第2マスク内の領域に第2めっき膜を形成する工程とを備える。
本発明によれば、搬送中のワークの位置ずれを抑制して安定してワークを搬送できるとともに搬送装置を小型化できる。
本発明の実施形態1に係る搬送装置が適用された検査装置の構成を示す平面図である。 図1の検査装置のII−II線矢印方向から見た断面図である。 図2中の点線で囲んだIII部を拡大して示す断面図である。 基板の主面に第1マスクを配置した後、第1めっき膜を形成した状態を示す断面図である。 第1めっき膜の上面を覆うように被覆部を形成した状態を示す断面図である。 第1めっき膜を基板から剥離させた状態を示す断面図である。 本発明の実施形態2に係る搬送装置における第1基盤と第2基盤との摺接箇所を拡大して示す断面図である。 本発明の実施形態3に係る搬送装置における第1基盤の周囲を拡大して示す断面図である。 基板の主面に第1マスクを配置した後、第1めっき膜を形成し、さらに、第1めっき膜の外周部の上面に第2マスクを配置した後、第2めっき膜を形成した状態を示す断面図である。 第1めっき膜の外周部の上面を覆うように被覆部を形成した状態を示す断面図である。 第1めっき膜を基板から剥離させた状態を示す断面図である。 本発明の実施形態4に係る搬送装置における第2基盤の外観示す平面図である。 図12の第2基盤のXIII−XIII線矢印方向から見た断面図である。
以下、本発明の各実施形態に係る、搬送装置、基盤およびその製造方法について図を参照して説明する。以下の実施形態の説明においては、図中の同一または相当部分には同一符号を付して、その説明は繰り返さない。
なお、実施形態の説明においては、搬送装置を備える検査装置について説明するが、搬送装置が適用されるのは検査装置に限られず、製造装置などであってもよい。また、搬送されるワークとして、略直方体状の電子部品を一例に説明するが、ワークは電子部品に限られず、ワークの外形も直方体状に限られない。電子部品としては、コンデンサ、インダクタまたは抵抗などがある。割れまたは欠けの発生しやすいセラミック電子部品が、ワークとして好適である。長さが0.2mm、幅が0.1mmである小型の電子部品から、長さが12mm、幅が10mmである大型の電子部品まで、ワークとして適用可能である。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る搬送装置が適用された検査装置の構成を示す平面図である。図2は、図1の検査装置のII−II線矢印方向から見た断面図である。図3は、図2中の点線で囲んだIII部を拡大して示す断面図である。図1においては、後述する供給部110を図示していない。
図1〜3に示すように、本発明の実施形態1に係る搬送装置が適用された検査装置100は、供給部110と、整列部120と、搬送部150と、排出部180とを備えている。検査装置100においては、供給部110から供給された複数のワーク1を、整列部120にて整列しつつ搬送部150に搬送する。搬送部150においては、複数のワーク1の各々を搬送しつつ検査し、排出部180にて検査後の複数のワーク1を選別する。本発明の実施形態1に係る搬送装置は、整列部120と搬送部150とを備えている。
供給部110は、供給路111とホッパ112とシューター113とを含む。検査対象のワーク1は、ホッパ112内に一時的に貯蔵され、適量のワーク1が、供給路111およびシューター113を順次通過して、整列部120に含まれる本発明の実施形態1に係る第1基盤140上に投入される。
整列部120は、第1駆動部130と、回転板133と、固定具135と、支持台136と、第1基盤140と、複数のガイドとを含む。ただし、整列部120の構成は、上記に限られず、少なくとも第1駆動部130と第1基盤140とを含んでいればよい。
第1基盤140は、回転することによって複数のワーク1を整列させて順次搬送する。第1基盤140は、板状の主部141、および、主部141の少なくとも外周部の下面を覆い、主部141を構成する材料とは異なる材料で構成されて電気絶縁性を有する被覆部142を含む。第1基盤140は、円盤状の外形を有している。ただし、第1基盤140の外形は、円盤状に限られず、平面視にて多角形状であってもよい。第1基盤140の直径は、たとえば、50mm以上500mm以下である。第1基盤140の中心部には、貫通孔が設けられている。本実施形態においては、主部141の下面全体に被覆部142が設けられている。主部141の外周部は、被覆部142より厚い。主部141の外周部の剛性は、被覆部142の剛性より高い。
主部141の外周部の厚さは、ワーク1のサイズおよび重量によって適宜決定される。サイズおよび重量が大きいワーク1の場合、主部141の外周部の剛性を確保するために、主部141の外周部の厚さT1が厚く設定される。たとえば、長さが12mm、幅が10mmの大型のワーク1の場合、主部141の直径は300mm、外周部の厚さT1は200μmに設定される。
サイズおよび重量が小さいワークの場合、後述するように第1基盤140上から第2基盤170上にワーク1が乗り移る際のワーク1の位置ずれを抑制するために、主部141の外周部の厚さT1が薄く設定される。たとえば、長さが0.2mm、幅が0.1mmの小型のワーク1の場合、主部141の外周部の厚さT1は10μmに設定される。ワーク1の位置ずれを抑制するためには、主部141の直径は80mm、外周部の厚さT1は、ワーク1の長さの1/20以下であることが好ましい。
上記の観点から、主部141の外周部の厚さT1は、10μm以上200μm以下であることが好ましい。本実施形態においては、主部141の全体において、厚さT1が10μm以上200μm以下である。
本実施形態においては、主部141は、導電性材料で構成されている。主部141は、金属で構成されている。主部141は、ニッケル、または、ニッケルおよびコバルトを含む合金で構成されている。NiCoは、剛性が高く、しなやかさを有するため、主部141を構成する材料として好適である。主部141を構成する材料は、C、Si、SiCなどの炭素系材料またはケイ素系材料であってもよい。また、主部141を構成する材料は、絶縁性材料に導電性材料が添加された材料であってもよい。
被覆部142は、樹脂で構成されている。具体的には、被覆部142は、テフロン(登録商標)、シリコン、ポリ塩化ビニル、ポリプロピレン、ポリエチレンまたはポリウレタンなどの樹脂を含む。被覆部142と摺接する第2基盤170の摺接部10がガラスで構成されている場合、ガラスとの摩擦により最も静電気が発生するテフロン(登録商標)が、被覆部142を構成する材料として好適である。被覆部142の厚さT2は、たとえば、0.1μm以上5μm以下である。
第1駆動部130は、第1基盤140を回転させる。第1駆動部130は、第1ベース131と、第1ベース131に回転可能に支持されている回転部132とを含む。本実施形態においては、第1駆動部130は、ダイレクトドライブモータである。
ダイレクトドライブモータは、モータ本体と、回転角検出器と、モータドライバと、位置指示器とを含んでいる。モータ本体は、たとえばSM(Synchronous motor)形サーボモータである。回転角検出器は、たとえばエンコーダである。モータドライバは、たとえばサーボアンプである。位置指示器は、たとえばパルス発生器である。
ダイレクトドライブモータにおいては、位置指示器によって設定されたモータ本体の回転角と、回転角検出器によって検出された実際のモータ本体の回転角との差分を、モータドライバにフィードバックして出力を調整することにより、モータ本体の回転角が設定値に近づくように制御している。
回転板133は、平面視にて円盤状の外形を有している。回転板133の中心部には、鉛直方向上方に突出した軸部134が設けられている。軸部134が第1基盤140の貫通孔を挿通した状態で、回転板133上に第1基盤140が載置されている。回転板133の直径は、第1基盤140の直径より小さく、第1基盤140の中心部寄りの一部分が、回転板133上に載置されている。
軸部134の先端部には、軸部134の外形に対応した凹部が形成された固定具135が嵌め合わされる。第1基盤140は、固定具135と回転板133との間に挟まれて回転板133に対して固定されている。
回転板133は、第1駆動部130の回転部132上に載置され、回転部132の回転に伴って回転する。従って、第1駆動部130の回転部132の回転に伴って、軸部134を回転軸として第1基盤140が矢印12で示す方向に回転する。
支持台136は、回転板133と間隔をあけて回転板133の周りを囲むように固定配置されている。支持台136の上面は、第1基盤140の下面と摺接する。本実施形態においては、支持台136の上面は、被覆部142と摺接する。
複数のガイドは、第1基盤140の上方に配置されている。複数のガイドの各々と第1基盤140とは離間している。複数のガイドは、第1基盤140上に位置する複数のワーク1を整列させる。本実施形態においては、第1ガイド121、第2ガイド122、第3ガイド123、第4ガイド124および第5ガイド125の5つのガイドが設けられている。
第1ガイド121、第2ガイド122、第3ガイド123、第4ガイド124および第5ガイド125の各々は、第1基盤140上に位置する複数のワーク1が第1基盤140の回転に伴って第1基盤140の径方向の外側に移動するように、第1基盤140の周方向に対して交差する方向に延在している部分を含む。
具体的には、第1ガイド121、第2ガイド122、第3ガイド123、第4ガイド124および第5ガイド125の各々は、直方体状の外形を有し、平面視にて第1基盤140の径方向と交差する方向に配置されている。第1ガイド121、第2ガイド122、第3ガイド123、第4ガイド124および第5ガイド125の順に、第1基盤140の径方向の外側に向かって配置されている。第1ガイド121、第2ガイド122、第3ガイド123、第4ガイド124および第5ガイド125の各々において、平面視にて、一端は、他端より第1基盤140の中心から離れて位置している。
第1基盤140上に位置する複数のワーク1は、第1基盤140の回転に伴って、第1ガイド121、第2ガイド122、第3ガイド123、第4ガイド124および第5ガイド125の少なくともいずれかと、この順に接することにより、より半径の大きな円周軌道に移動しつつ最終的に1列に整列される。第5ガイド125の一端は、第1基盤140の縁上に位置している。第5ガイド125に沿って第5ガイド125の一端に接するまで移動したワーク1は、第2基盤170上に乗り移って載置される。
搬送部150は、第2駆動部160と、回転板163と、固定具165と、支持台166と、第2基盤170とを含む。ただし、搬送部150の構成は、上記に限られず、少なくとも第2駆動部160と第2基盤170とを含んでいればよい。
第2基盤170は、第1基盤140から供給された複数のワーク1を順次搬送する。第2基盤170は、第1基盤140の被覆部142を構成する材料とは異なる材料で構成されて電気絶縁性を有する外周部を含む。第2基盤170の外周部の上面は、第1基盤140の被覆部142と摺接する。第2基盤170の外周部の上面に、第1基盤140が順次搬送した複数のワーク1が載置される。
第2基盤170の外周部は、ガラスで構成されている。本実施形態においては、第2基盤170の全体が、ガラスで構成されている。第2基盤170の外周部を構成する材料としては、第1基盤140の被覆部142との摩擦により静電気が発生しやすく、かつ帯電しやすい材料が好ましい。検査装置100においては、第2基盤170上にてワーク1の6面の各々の外観検査が行なわれるため、第2基盤170の外周部を構成する材料としては、光を透過する材料であることが好ましい。上記の観点から、第2基盤170の外周部を構成する材料としては、透明なガラスが特に好適である。ただし、第2基盤170の外周部が、透明な樹脂で構成されていてもよい。
第2基盤170は、円盤状の外形を有している。ただし、第2基盤170の外形は、円盤状に限られず、平面視にて多角形状であってもよい。第2基盤170の中心部には、貫通孔が設けられている。第2基盤170の直径は、第1基盤140の直径より大きい。すなわち、第2基盤170の外周長さは、第1基盤140の外周長さより長い。第2基盤170の直径は、たとえば、200mm以上1000mm以下である。第2基盤170の厚さT10は、第1基盤140の厚さ(T1+T2)より厚く、たとえば、2mm以上10mm以下である。
第2駆動部160は、第2基盤170を回転させる。第2駆動部160は、第2ベース161と、第2ベース161に回転可能に支持されている回転部162とを含む。本実施形態においては、第2駆動部160は、ダイレクトドライブモータである。
回転板163は、平面視にて円盤状の外形を有している。回転板163の中心部には、鉛直方向上方に突出した軸部164が設けられている。軸部164が第2基盤170の貫通孔を挿通した状態で、回転板163上に第2基盤170が載置されている。回転板163の直径は、第2基盤170の直径より小さく、第2基盤170の中心部寄りの一部分が、回転板163上に載置されている。
軸部164の先端部には、軸部164の外形に対応した凹部が形成された固定具165が嵌め合わされる。第2基盤170は、固定具165と回転板163との間に挟まれて回転板163に対して固定されている。
回転板163は、第2駆動部160の回転部162上に載置され、回転部162の回転に伴って回転する。従って、第2駆動部160の回転部162の回転に伴って、軸部164を回転軸として第2基盤170が矢印15で示す方向に回転する。第2基盤170の回転方向は、第1基盤140の回転方向とは逆方向である。
支持台166は、回転板163と間隔をあけて回転板163の周りを囲むように固定配置されている。支持台166の上面は、第2基盤170の下面と摺接する。
第2基盤170による複数のワーク1の搬送速度は、第1基盤140による複数のワーク1の搬送速度より大きい。そのため、第2基盤170の外周部上に載置された複数のワーク1は、互いに間隔をあけて位置している。これにより、ワーク1の6面の各々の外観検査をすることが可能となる。
第2基盤170の外周部上の、第1検査領域P1、第2検査領域P2、第3検査領域P3、第4検査領域P4、第5検査領域P5、および、第6検査領域P6をワーク1が順次通過する際に、1つの検査領域にてワーク1の6面のうちの1面について外観検査が行なわれ、第6検査領域P6を通過した際には、ワーク1の6面の全ての外観検査が終了している。
検査装置100は、複数のワーク1の各々の外観を検査するための撮影装置である図示しない6台のカメラを備える。具体的には、第2基盤170より高い位置、かつ、ワーク1が搬送される円周軌道の内側の位置に配置されて、ワーク1の一方の側面を撮影する第1カメラを備える。第2基盤170より高い位置、かつ、ワーク1が搬送される円周軌道の外側の位置に配置されて、ワーク1の他方の側面を撮影する第2カメラを備える。第2基盤170より高い位置、かつ、ワーク1が搬送される円周軌道の上方の位置に配置されて、ワーク1の一方の主面を撮影する第3カメラを備える。第2基盤170より低い位置、かつ、ワーク1が搬送される円周軌道の下方の位置に配置されて、ワーク1の他方の主面を撮影する第4カメラを備える。第2基盤170より高い位置、かつ、ワーク1が搬送される円周軌道の内側または外側の位置に配置されて、ワーク1の一方の端面を撮影する第5カメラを備える。第2基盤170より高い位置、かつ、ワーク1が搬送される円周軌道の内側または外側の位置に配置されて、ワーク1の他方の端面を撮影する第6カメラを備える。
第1基盤140が順次搬送した複数のワーク1が載置される第2基盤170の外周部の上面は、第1基盤140の被覆部142と摺接した際に発生した静電気によって帯電している。そのため、第2基盤170の外周部上に載置されたワーク1は、第2基盤170に静電吸着された状態となる。その結果、第2基盤170による搬送中のワーク1の位置ずれを抑制して安定してワーク1を搬送できる。
排出部180は、3つの容器と2つのエアーブロワと1つのガイドとを含む。具体的には、排出部180は、外観検査において不良品と判断されたワーク1を第1容器190内に吹き飛ばす第1エアーブロワ181と、外観検査において良品と判断されたワーク1を第2容器191内に吹き飛ばす第2エアーブロワ182と、第1エアーブロワ181または第2エアーブロワ182によって吹き飛ばされ損ねたワーク1を第3容器192内に落下させるガイド183とを備えている。
ガイド183は、第2基盤170の上方に配置されている。ガイドの183と第2基盤170とは離間している。ガイド183は、直方体状の外形を有し、第2基盤170上に位置する複数のワーク1が第2基盤170の回転に伴って第2基盤170の径方向の外側に移動して第2基盤170から落下するように、平面視にて第2基盤170の径方向と交差する方向に配置されている。
本実施形態においては、第1駆動部130および第2駆動部160の各々が、ダイレクトドライブモータである。ダイレクトドライブモータにおいては、上記のようにフィードバック制御が行なわれている。ダイレクトドライブモータにおいては、さらに、リミッタ制御が行なわれている。
具体的には、第1基盤140または第2基盤170とガイドとの間にワーク1が引っ掛かったときなどの、第1駆動部130または第2駆動部160の過負荷時においては、位置指示器によって設定されたモータ本体の回転角と、回転角検出器によって検出された実際のモータ本体の回転角との差分が大きくなる。この回転角の差分が閾値を超えた場合には、モータ本体を停止させるリミッタが作動する。また、フィードバック制御によって、モータ本体の回転角が設定値に近づくようにモータドライバの出力を上げた際に、モータドライバの駆動電流が閾値を超えた場合には、モータ本体を停止させるリミッタが作動する。ダイレクトドライブモータにおいて上記のリミッタ制御を行なうことにより、第1基盤140および第2基盤170の破損を防止することができる。
ここで、第1基盤140の製造方法について説明する。図4は、基板の主面に第1マスクを配置した後、第1めっき膜を形成した状態を示す断面図である。図4に示すように、まず、ステンレス鋼などで形成された平板状の基板90の主面に、枠状の第1マスク91が配置される。第1マスク91は、フォトレジストで構成されている。第1マスク91で囲まれた内側の領域は、円形の外形を有している。次に、基板90の主面上の第1マスク91内の領域に主部141となる第1めっき膜を形成する。
第1めっき膜において、基板90と接している第1主面141tは、基板90の表面形状を引き写された表面形状を有している。第1めっき膜において、基板90と接していない第2主面141bは、滑らかな表面形状を有している。そのため、第1めっき膜の第2主面141bの表面粗さは、第1めっき膜の第1主面141tの表面粗さより小さい。
図5は、第1めっき膜の上面を覆うように被覆部を形成した状態を示す断面図である。図5に示すように、第1マスク91を除去した後、第1めっき膜の上面を覆うように被覆部142を形成する。本実施形態においては、第1めっき膜の上面の全体を覆うように被覆部142が形成されているが、第1めっき膜の少なくとも外周部の上面を覆うように被覆部142が形成されていればよい。被覆部142は、第1めっき膜の上面をテフロン(登録商標)などの樹脂でコーティングすることにより形成される。被覆部142は、第1めっき膜の第2主面141b上に形成されているため、被覆部142も滑らかな表面形状を有している。
図6は、第1めっき膜を基板から剥離させた状態を示す断面図である。図6に示すように、第1めっき膜を基板90から剥離させることにより、第1基盤140が作製される。すなわち、本実施形態においては、電鋳法により第1基盤140を製造している。なお、第1基盤140の中心部の貫通孔は、機械加工によって形成されてもよいし、第1マスク91によって形成されてもよい。作製された第1基盤140は、上下反転した状態で、回転板133上に載置される。
上記のように第1基盤140を製造することにより、被覆部142の表面を滑らかにすることができるため、被覆部142と摺接する第2基盤170の摩耗を抑制することができる。
本実施形態に係る搬送装置においては、第1基盤140と第2基盤170とを摺接させて発生させた静電気によって第2基盤170を帯電させることにより、第2基盤170にてワーク1を静電吸着した状態で搬送してワーク1の位置ずれを抑制している。そのため、搬送装置に吸引機構または帯電器などを設ける必要がないため、搬送装置を小型化できる。
第1基盤140の被覆部142が電気絶縁性を有する材料で構成されていることにより、発生した静電気が被覆部142と第2基盤170との間に蓄積され、第2基盤170を効果的に帯電させることができる。
第1基盤140の主部141が導電性材料で構成されていることにより、複数のワーク1が載置されている第1基盤140の上面が帯電することを抑制し、第1基盤140上にて複数のワーク1をスムーズに移動させて効率よく整列することができる。
(実施形態2)
以下、本発明の実施形態2に係る搬送装置について説明する。なお、本実施形態に係る搬送装置は、第1基盤の主部の上面に被覆部が設けられている点のみ実施形態1に係る搬送装置と異なるため、実施形態1に係る搬送装置と同様の構成については説明を繰り返さない。
図7は、本発明の実施形態2に係る搬送装置における第1基盤と第2基盤との摺接箇所を拡大して示す断面図である。図7においては、図3と同じ位置を拡大して示している。
図7に示すように、本発明の実施形態2に係る搬送装置においては、第1基盤140aは、主部141と、主部141の下面を覆う被覆部142と、主部141の上面を覆う被覆部143とから構成されている。
被覆部143は、樹脂で構成されている。具体的には、被覆部143は、テフロン(登録商標)、ポリイミド、シリコン、ポリ塩化ビニル、ポリプロピレン、ポリエチレンまたはポリウレタンなどの樹脂を含む。被覆部143を構成する材料は、被覆部142を構成する材料と同じでもよいし、異なっていてもよい。被覆部143の厚さは、被覆部142の厚さと同じでもよいし、異なっていてもよい。
被覆部143は、主部141の表面を保護する機能を有している。汚れおよび埃などが付着しにくく耐久性に優れている、テフロン(登録商標)またはポリイミドが、被覆部143を構成する材料として好適である。
(実施形態3)
以下、本発明の実施形態3に係る搬送装置について説明する。なお、本実施形態に係る搬送装置は、第1基盤の中央部と外周部との厚さが異なる点のみ実施形態1に係る搬送装置と異なるため、実施形態1に係る搬送装置と同様の構成については説明を繰り返さない。
図8は、本発明の実施形態3に係る搬送装置における第1基盤の周囲を拡大して示す断面図である。図8に示すように、本発明の実施形態3に係る搬送装置においては、第1基盤140bは、主部141zと被覆部142とから構成されている。主部141zは、第1めっき膜141xと第2めっき膜141yとから構成されている。
第1めっき膜141xおよび第2めっき膜141yの各々は、円盤状の外形を有している。第1めっき膜141xおよび第2めっき膜141yは、互いの中心が重なるように積層されている。平面視にて、第1めっき膜141xの直径は、第2めっき膜141yの直径より大きい。すなわち、主部141zは、外周部と外周部に周りを囲まれた中央部とから構成されている。主部141zにおいて、中央部は、外周部より厚い。第1めっき膜141xにおいて第2めっき膜141yに覆われていない外周部の下面が、被覆部142に覆われている。
ここで、第1基盤140bの製造方法について説明する。図9は、基板の主面に第1マスクを配置した後、第1めっき膜を形成し、さらに、第1めっき膜の外周部の上面に第2マスクを配置した後、第2めっき膜を形成した状態を示す断面図である。図9に示すように、まず、ステンレス鋼などで形成された平板状の基板90の主面に、枠状の第1マスク91が配置される。次に、基板90の主面上の第1マスク91内の領域に第1めっき膜141xを形成する。
次に、第1めっき膜141xの外周部上および第1マスク91上に、第2マスク92が配置される。第2マスク92は、フォトレジストで構成されている。第2マスク92で囲まれた内側の領域は、円形の外形を有している。次に、第2マスク92内の領域に第2めっき膜141yを形成する。
図10は、第1めっき膜の外周部の上面を覆うように被覆部を形成した状態を示す断面図である。図10に示すように、第1マスク91および第2マスク92を除去した後、第1めっき膜141xの外周部の上面を覆うように被覆部142を形成する。本実施形態においては、第1めっき膜141xの外周部の上面のみを覆うように被覆部142が形成されているが、第1めっき膜141xの外周部の上面および第2めっき膜141yの上面の両方を覆うように被覆部142が形成されていてもよい。
図11は、第1めっき膜を基板から剥離させた状態を示す断面図である。図11に示すように、第1めっき膜141xを基板90から剥離させることにより、第1基盤140bが作製される。
第1めっき膜141xの厚さT3を実施形態1の第1めっき膜の厚さT1より薄くしつつ、第1めっき膜141xの厚さT3と第2めっき膜141yの厚さT4との合計の厚さ(T3+T4)を確保することにより、第1基盤140bの剛性を維持しつつ、第1めっき膜141xの厚さT3と被覆部142の厚さT2との合計の厚さ(T2+T3)を、実施形態1の第1めっき膜の厚さT1と被覆部142の厚さT2との合計の厚さ(T1+T2)より小さくすることができる。これにより、第1基盤140bの上面と、第2基盤170の上面との段差を小さくすることができる。その結果、ワーク1が第1基盤140b上から第2基盤170上に乗り移る際のワーク1の位置ずれを抑制して、ワーク1を安定して搬送することができる。
(実施形態4)
以下、本発明の実施形態4に係る搬送装置について説明する。なお、本実施形態に係る搬送装置は、第2基盤の中央部が金属で構成されている点のみ実施形態1に係る搬送装置と異なるため、実施形態1に係る搬送装置と同様の構成については説明を繰り返さない。
図12は、本発明の実施形態4に係る搬送装置における第2基盤の外観示す平面図である。図13は、図12の第2基盤のXIII−XIII線矢印方向から見た断面図である。図12,13に示すように、本発明の実施形態4に係る搬送装置においては、第2基盤170aは、金属で構成されている中央部171と、ガラスで構成されている外周部172とを含む。
第2基盤170aの中央部171を金属で構成することにより、第2基盤170aの剛性を確保しつつ、外周部172の厚さT11を実施形態1の第2基盤170の厚さT10より薄くすることができる。たとえば、第2基盤170aの外周部172の厚さT11は、0.5mm以上2mm以下である。
第2基盤170aの外周部172の厚さT11を薄くすることにより、第2基盤170aの外周部172を通してワーク1の他方の主面の外観を精度よく検査することができる。
上述した実施形態の説明において、組み合わせ可能な構成を相互に組み合わせてもよい。
今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 ワーク、10 摺接部、90 基板、91 第1マスク、92 第2マスク、100 検査装置、110 供給部、111 供給路、112 ホッパ、113 シューター、120 整列部、121 第1ガイド、122 第2ガイド、123 第3ガイド、124 第4ガイド、125 第5ガイド、130 第1駆動部、131 第1ベース、132,162 回転部、133,163 回転板、134,164 軸部、135,165 固定具、136,166 支持台、140,140a,140b 第1基盤、141,141z 主部、141b 第2主面、141t 第1主面、141x 第1めっき膜、141y 第2めっき膜、142,143 被覆部、150 搬送部、160 第2駆動部、161 第2ベース、170,170a 第2基盤、171 中央部、172 外周部、180 排出部、181 第1エアーブロワ、182 第2エアーブロワ、183 ガイド、P1 第1検査領域、P2 第2検査領域、P3 第3検査領域、P4 第4検査領域、P5 第5検査領域、P6 第6検査領域。

Claims (21)

  1. 複数のワークを整列させて順次搬送する第1基盤と、
    前記第1基盤から供給された前記複数のワークを順次搬送する第2基盤と、
    前記第1基盤を回転させる第1駆動部と、
    前記第2基盤を回転させる第2駆動部とを備え、
    前記第1基盤は、板状の主部、および、該主部の少なくとも外周部の下面を覆い、前記主部を構成する材料とは異なる材料で構成されて電気絶縁性を有する被覆部を含み、
    前記第2基盤は、前記被覆部を構成する材料とは異なる材料で構成されて電気絶縁性を有する外周部を含み、
    前記第2基盤の前記外周部の上面は、前記第1基盤の前記被覆部と摺接し、
    前記第2基盤の前記外周部の前記上面に、前記第1基盤が順次搬送した前記複数のワークが載置される、搬送装置。
  2. 前記主部は、導電性材料で構成されている、請求項1に記載の搬送装置。
  3. 前記第1基盤および前記第2基盤の各々が、円盤状の外形を有し、
    前記第2基盤の外周長さは、前記第1基盤の外周長さより長く、
    前記第2基盤による前記複数のワークの搬送速度は、前記第1基盤による前記複数のワークの搬送速度より大きい、請求項1または請求項2に記載の搬送装置。
  4. 前記第1基盤の上方に、前記複数のワークを整列させるガイドが設けられており、
    前記ガイドは、前記第1基盤上に位置する前記複数のワークが前記第1基盤の回転に伴って前記第1基盤の径方向の外側に移動するように、前記第1基盤の周方向に対して交差する方向に延在している部分を含む、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の搬送装置。
  5. 前記第2基盤の前記外周部は、ガラスで構成されており、
    前記被覆部は、樹脂で構成されている、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の搬送装置。
  6. 前記主部の前記外周部の厚さが、10μm以上200μm以下である、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の搬送装置。
  7. 前記主部の前記外周部は、前記被覆部より厚く、
    前記主部の前記外周部の剛性は、前記被覆部の剛性より高い、請求項6に記載の搬送装置。
  8. 前記主部は、金属で構成されている、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の搬送装置。
  9. 前記主部は、ニッケルおよびコバルトを含む合金で構成されている、請求項8に記載の搬送装置。
  10. 前記主部は、前記外周部と該外周部に周りを囲まれた中央部とから構成されており、
    前記中央部は、前記外周部より厚い、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の搬送装置。
  11. 回転することによって複数のワークを整列させて順次搬送し、摺接する他の基盤の摺接部に前記複数のワークを載置する基盤であって、
    板状の主部と、
    前記主部の少なくとも外周部の下面を覆い、前記主部を構成する材料とは異なる材料で構成されて電気絶縁性を有し、前記摺接部と摺接する被覆部とを備える、基盤。
  12. 前記主部は、導電性材料で構成されている、請求項11に記載の基盤。
  13. 前記基盤は、円盤状の外形を有する、請求項11または請求項12に記載の基盤。
  14. 前記被覆部は、樹脂で構成されている、請求項11から請求項13のいずれか1項に記載の基盤。
  15. 前記主部の前記外周部の厚さが、10μm以上200μm以下である、請求項11から請求項14のいずれか1項に記載の基盤。
  16. 前記主部の前記外周部は、前記被覆部より厚く、
    前記主部の前記外周部の剛性は、前記被覆部の剛性より高い、請求項15に記載の基盤。
  17. 前記主部は、金属で構成されている、請求項11から請求項16のいずれか1項に記載の基盤。
  18. 前記主部は、ニッケルおよびコバルトを含む合金で構成されている、請求項17に記載の基盤。
  19. 前記主部は、前記外周部と該外周部に周りを囲まれた中央部とから構成されており、
    前記中央部は、前記外周部より厚い、請求項11から請求項18のいずれか1項に記載の基盤。
  20. 請求項11に記載の基盤の製造方法であって、
    基板の主面に枠状の第1マスクを配置する工程と、
    基板の前記主面上の前記第1マスク内の領域に第1めっき膜を形成する工程と、
    前記第1めっき膜の少なくとも外周部の上面を覆う被覆部を形成する工程と、
    前記被覆部を形成された前記第1めっき膜を前記基板から剥離する工程とを備える、基盤の製造方法。
  21. 前記第1めっき膜を形成する工程と前記被覆部を形成する工程との間に、
    前記第1めっき膜の前記外周部の上面に枠状の第2マスクを配置する工程と、
    前記第1めっき膜上の前記第2マスク内の領域に第2めっき膜を形成する工程とを備える、請求項20に記載の基盤の製造方法。
JP2015248434A 2015-12-21 2015-12-21 搬送装置、基盤およびその製造方法 Active JP6561825B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015248434A JP6561825B2 (ja) 2015-12-21 2015-12-21 搬送装置、基盤およびその製造方法
CN201610814032.4A CN106892258B (zh) 2015-12-21 2016-09-09 搬运装置、底座及其制造方法
KR1020160170151A KR101928300B1 (ko) 2015-12-21 2016-12-14 반송 장치, 기반 및 그 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015248434A JP6561825B2 (ja) 2015-12-21 2015-12-21 搬送装置、基盤およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017114582A JP2017114582A (ja) 2017-06-29
JP6561825B2 true JP6561825B2 (ja) 2019-08-21

Family

ID=59191032

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015248434A Active JP6561825B2 (ja) 2015-12-21 2015-12-21 搬送装置、基盤およびその製造方法

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6561825B2 (ja)
KR (1) KR101928300B1 (ja)
CN (1) CN106892258B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20240089483A (ko) * 2021-12-27 2024-06-20 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 부품 처리 장치

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1111208B (it) * 1979-02-28 1986-01-13 Ceretti & Tanfani Spa Dispositivo distributore di colli in genere su di un arco di 360 gradi a partire da un punto di alimentazione fisso
JP3233072B2 (ja) * 1997-07-08 2001-11-26 株式会社村田製作所 部品整列装置
JP3430918B2 (ja) * 1998-05-15 2003-07-28 株式会社村田製作所 部品搬送装置
JP3702668B2 (ja) * 1998-09-28 2005-10-05 株式会社村田製作所 電子部品チップ供給装置
JP3690257B2 (ja) * 2000-08-28 2005-08-31 株式会社村田製作所 チップ部品の搬送装置
JP3855733B2 (ja) * 2001-10-30 2006-12-13 株式会社村田製作所 電子部品の外観検査装置および外観検査方法
JP4039324B2 (ja) * 2003-06-26 2008-01-30 株式会社村田製作所 電子部品の搬送装置
JP2007039144A (ja) * 2005-07-29 2007-02-15 Murata Mfg Co Ltd 分離搬送装置
JP5292562B2 (ja) * 2006-09-25 2013-09-18 キリンテクノシステム株式会社 容器搬送装置及びこの搬送装置を備えた容器検査装置
JP4292584B2 (ja) * 2006-09-25 2009-07-08 村田機械株式会社 移載システム
JP2008105811A (ja) * 2006-10-26 2008-05-08 Ishikawa Seisakusho Ltd ワークの外観検査装置
JP2008260594A (ja) * 2007-04-10 2008-10-30 Okano Denki Kk 部品搬送装置
JP4883586B2 (ja) * 2008-05-20 2012-02-22 アキム株式会社 部品搬送装置
JP2010005854A (ja) * 2008-06-25 2010-01-14 Canon Inc インクジェット記録装置、インクジェットインクの沈降抑制方法。
JP5598912B2 (ja) * 2009-11-27 2014-10-01 株式会社 東京ウエルズ ワークの外観検査装置およびワークの外観検査方法
DE102011085697A1 (de) * 2011-11-03 2013-05-08 Smr Sondermaschinen Gmbh Fördervorrichtung
DE102012111131A1 (de) * 2012-11-19 2014-05-22 Krones Ag Vorrichtung zum Puffern von Formteilen in einer Getränkeabfüllanlage
KR101293753B1 (ko) * 2012-11-28 2013-08-09 주식회사 썬닉스 정전기 방지를 위한 이송장치
JP6816383B2 (ja) * 2016-05-26 2021-01-20 Tdk株式会社 電子部品の搬送方法、検査方法および製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170074181A (ko) 2017-06-29
CN106892258A (zh) 2017-06-27
KR101928300B1 (ko) 2018-12-12
CN106892258B (zh) 2019-05-07
JP2017114582A (ja) 2017-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI505901B (zh) 移載裝置
CN105679694B (zh) 分离装置及分离方法
JP2010212666A (ja) ウェーハ表面測定装置
WO2005100215A1 (ja) チップ部品搬送方法及び装置、並びに外観検査方法及び装置
JP6183301B2 (ja) 自動ハンドリング装置
WO2013150584A1 (ja) 生産システムおよび加工品の製造方法
JP4895635B2 (ja) 搬送装置
JP2020183907A (ja) 電子部品検査装置
JP6561825B2 (ja) 搬送装置、基盤およびその製造方法
JP2008260594A (ja) 部品搬送装置
JP2004345859A (ja) チップ部品搬送方法及び装置、並びに外観検査方法及び装置
JP2022167922A (ja) 外観検査装置の静電誘導吸着式搬送体および外観検査装置
KR101989199B1 (ko) 세정 장치
JP2013069380A (ja) ガラス基板搬送方法、及び、該ガラス基板搬送方法を用いたガラス基板積層体形成方法、ガラス基板搬送装置、前記ガラス基板搬送装置を有するガラス基板積層体形成システム、さらに、前記ガラス基板搬送方法を用いた磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法、前記ガラス基板積層体形成方法を用いた磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法
KR101879192B1 (ko) 반송 장치 및 그것에 이용되는 기반
JP5835244B2 (ja) ワーク搬送装置
JP6773891B2 (ja) 部品実装機、ノズル高さ制御方法
JP5376386B1 (ja) 移載装置
US20170225907A1 (en) Conveyance apparatus for electronic components
JP5360323B1 (ja) 粘性剤厚調整装置、搭載装置、基板装置の製造方法
JP2014239135A (ja) 半導体装置の製造方法
JP4820345B2 (ja) ウェーハのハンドリング方法
JP5802083B2 (ja) ワークの整列搬送装置
JP2016102024A (ja) 半導体チップの整列方法およびその装置
JP6842948B2 (ja) 位置決め装置および位置決め方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180911

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190619

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190625

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190708

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6561825

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150