DE60130356T2 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der polarisationseigenschaften von licht, das durch ein material emittiert, reflektiert oder durchgelassen wird, durch verwendung eines laser-scan-mikroskops - Google Patents

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010049751A1 (de) * 2010-10-29 2012-05-03 "Stiftung Caesar" (Center Of Advanced European Studies And Research) Optischer Strahlteiler zur simultanen Aufnahme eines Z-Stapels auf einem Halbleiterchip

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7251029B2 (en) * 2002-07-01 2007-07-31 Canon Kabushiki Kaisha Birefringence measurement apparatus, strain remover, polarimeter and exposure apparatus
US7038848B2 (en) * 2002-12-27 2006-05-02 Olympus Corporation Confocal microscope
US7369234B2 (en) * 2003-02-03 2008-05-06 Rudolph Technologies, Inc. Method of performing optical measurement on a sample
JP2005017282A (ja) * 2003-05-30 2005-01-20 Olympus Corp 受光ユニットおよびそれを含む測定装置
EP1637871B1 (en) * 2003-05-30 2011-03-23 Olympus Corporation Measuring apparatus including a light-receiving unit
US7317517B2 (en) * 2003-07-31 2008-01-08 Intel Corporation Birefringence profiler
FR2872287B1 (fr) * 2004-06-28 2007-03-16 Cis Bio Internat Sa Procede d'amelioration de la detection des signaux de fluorescence lors d'un transfert d'energie non radiatif
US7630075B2 (en) * 2004-09-27 2009-12-08 Honeywell International Inc. Circular polarization illumination based analyzer system
RU2285279C1 (ru) * 2005-01-21 2006-10-10 Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "ЭконЦНИИМаш" (ООО НТЦ "ЭконЦНИИМаш") Лазерный сканирующий микроскоп
US7412175B2 (en) * 2005-06-20 2008-08-12 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Interferometric polarization control
EP1980842A4 (en) * 2006-02-02 2011-01-05 Nat Univ Corp Nara Inst Circular dichroism FLUORESCENCE MICROSCOPE
JP4921090B2 (ja) * 2006-09-25 2012-04-18 株式会社モリテックス 光学異方性パラメータ測定方法及び測定装置
JP5189301B2 (ja) 2007-03-12 2013-04-24 オリンパス株式会社 レーザー走査型顕微鏡
EP1988373A1 (en) * 2007-05-02 2008-11-05 National University of Ireland Galway A vectorial polarimetry method and apparatus for analysing the three-dimensional electromagnetic field resulting from an interaction between a focused illuminating field and a sample to be observed
HUP0700635A2 (en) * 2007-09-28 2009-05-28 Mta Szegedi Biolog Koezpont Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes
KR20100010137A (ko) * 2008-07-22 2010-02-01 삼성전기주식회사 프로젝션 디스플레이 장치
EP2584343B1 (en) 2010-07-26 2017-05-10 Olympus Corporation Method for detecting dilute particles in solution using luminescent probe
JP5856962B2 (ja) 2010-09-10 2016-02-10 オリンパス株式会社 単一発光粒子の光強度を用いた光分析方法
WO2012032955A1 (ja) 2010-09-10 2012-03-15 オリンパス株式会社 複数の波長帯域の光計測を用いた光分析方法
EP2620763A4 (en) * 2010-10-19 2015-05-27 Olympus Corp OPTICAL ANALYSIS DEVICE FOR OBSERVING THE POLARIZATION CHARACTERISTICS OF A SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE, OPTICAL ANALYSIS METHOD, AND OPTICAL ANALYSIS COMPUTER PROGRAM
CN103229042B (zh) 2010-11-25 2016-06-29 奥林巴斯株式会社 利用单个发光粒子的光的波长特性的光分析装置和光分析方法
WO2012099234A1 (ja) 2011-01-20 2012-07-26 オリンパス株式会社 単一発光粒子からの光の検出を用いた光分析方法及び光分析装置
CN103328956B (zh) 2011-01-26 2015-08-12 奥林巴斯株式会社 鉴别核酸分子多态性的方法
JP6009944B2 (ja) 2011-01-26 2016-10-19 オリンパス株式会社 核酸分子の多型識別方法
EP2693201A4 (en) 2011-03-29 2014-10-29 Olympus Corp PHOTOMETRIC ANALYSIS DEVICE, PHOTOMETRIC ANALYSIS METHOD, AND COMPUTER PROGRAM FOR PHOTOMETRIC ANALYSIS, DETECTING SINGLE LIGHT EMITTING PARTICLE
EP2706346A4 (en) 2011-04-13 2014-11-19 Olympus Corp PHOTO-ANALYSIS DEVICE USING SINGLE-LIGHT EMITTING PARTICLE DETECTION, METHOD FOR PHOTO-ANALYSIS, AND COMPUTER PROGRAM FOR PHOTO-ANALYSIS
CN103620389B (zh) 2011-04-18 2016-08-17 奥林巴斯株式会社 目标粒子的定量方法、光分析装置以及光分析用计算机程序
CN103733047B (zh) 2011-08-11 2016-03-30 奥林巴斯株式会社 目标粒子的检测方法
EP2746748B1 (en) 2011-08-15 2017-12-06 Olympus Corporation Photometric analysis device using single light emitting particle detection, photometric analysis method and computer program for photometric analysis,
WO2013031439A1 (ja) 2011-08-26 2013-03-07 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
WO2013031309A1 (ja) 2011-08-26 2013-03-07 オリンパス株式会社 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム
EP2752655A4 (en) 2011-08-30 2015-06-17 Olympus Corp PROCEDURE FOR DETECTING TARGET PARTICLES
WO2013031377A1 (ja) 2011-08-30 2013-03-07 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
EP2778658A4 (en) 2011-11-10 2015-12-02 Olympus Corp SPECTROSCOPY DEVICE, SPECTROSCOPY PROCESS AND SPECTROSCOPY COMPUTER PROGRAM DETECTING SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLES
EP2816344A4 (en) 2012-02-17 2015-09-23 Olympus Corp OPTICAL ANALYSIS DEVICE USING SINGLE PARTICLE DETECTION TECHNIQUE, OPTICAL ANALYSIS METHOD, AND COMPUTER PROGRAM FOR OPTICAL ANALYSIS
JP5940644B2 (ja) 2012-02-22 2016-06-29 オリンパス株式会社 標的粒子の検出方法
JP6095645B2 (ja) 2012-03-21 2017-03-15 オリンパス株式会社 標的核酸分子の検出方法
EP2840381B1 (en) 2012-04-18 2017-08-09 Olympus Corporation Method for detecting target particles
WO2013157319A1 (ja) 2012-04-18 2013-10-24 オリンパス株式会社 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム
JP6087751B2 (ja) * 2013-07-05 2017-03-01 株式会社モリテックス 光学異方性パラメータ測定装置、測定方法及び測定用プログラム
CN105431759B (zh) 2013-07-31 2018-04-13 奥林巴斯株式会社 利用单个发光粒子检测技术的光学显微镜装置、显微镜观察法以及用于显微镜观察的计算机程序
US9989454B2 (en) * 2013-10-04 2018-06-05 Axometrics, Inc. Method and apparatus for measuring parameters of optical anisotropy
EP3059577A4 (en) 2013-10-07 2017-05-31 Olympus Corporation Photometric analysis device employing single light-emitting particle detection, photometric analysis method, and computer program for photometric analysis
WO2015084964A1 (en) * 2013-12-03 2015-06-11 The General Hospital Corporation Compensating for input polarization mode variations
CN103940537A (zh) * 2014-04-10 2014-07-23 中国科学院半导体研究所 材料的微区应力测试系统
GB201411478D0 (en) * 2014-06-27 2014-08-13 Univ Salford Entpr Ltd Measuring polarisation
TWI542864B (zh) * 2014-12-30 2016-07-21 財團法人工業技術研究院 異向性量測系統、異向性量測方法及其校正方法
CN105518711B (zh) * 2015-06-29 2019-11-29 北京旷视科技有限公司 活体检测方法、活体检测系统以及计算机程序产品
GB201515862D0 (en) 2015-09-08 2015-10-21 Univ Southampton Polarisation microscope
JPWO2017098597A1 (ja) 2015-12-09 2018-10-11 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析方法及び光分析装置
US11506877B2 (en) 2016-11-10 2022-11-22 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Imaging instrument having objective axis and light sheet or light beam projector axis intersecting at less than 90 degrees
JP6351893B1 (ja) * 2018-02-26 2018-07-04 日本分光株式会社 位相差制御装置
EP3884295A4 (en) * 2018-11-21 2022-08-17 The Board of Trustees of the Leland Stanford Junior University WIDE FIELD DNANOSIS IMAGE METHODS USING WIDE FIELD OPTICAL MODULATORS
CN110261319B (zh) * 2019-06-24 2021-11-16 西安理工大学 基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置及测量方法
EP3907492A1 (en) * 2020-05-08 2021-11-10 ETH Zurich Optical activity measurements with frequency modulation
US12235091B2 (en) * 2022-07-22 2025-02-25 Onto Innovation Inc. Apparatus to characterize substrates and films
CN120522670B (zh) * 2025-07-25 2025-09-16 东海实验室 一种消除噪声光干扰的测海激光雷达数据处理方法和装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4306809A (en) * 1979-03-26 1981-12-22 The Board Of Regents Of The University Of Nebraska Polarimeter
US5257092A (en) * 1990-06-27 1993-10-26 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Apparatus for measuring polarization and birefringence
JPH063594A (ja) * 1992-06-18 1994-01-14 Nikon Corp コンフォーカルレーザ走査微分干渉顕微鏡
US5457536A (en) * 1994-04-04 1995-10-10 California Institute Of Technology Polarization modulation laser scanning microscopy
JPH08160305A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Nikon Corp レーザー走査顕微鏡
DE19626261A1 (de) * 1995-06-30 1997-01-02 Nikon Corp Beobachtungsvorrichtung
WO1997002476A1 (en) * 1995-06-30 1997-01-23 Furukawa Denki Kogyo Kabushiki Kaisha Method of evaluating and measuring polarization state, polarization state and polarization mode dispersion and apparatus therefor
JP2975991B2 (ja) * 1996-09-24 1999-11-10 株式会社分子バイオホトニクス研究所 偏光性測定方法及び装置
FR2755254B1 (fr) * 1996-10-25 1999-01-15 Centre Nat Rech Scient Composant optique de modulation, polarimetre et ellipsometre de mueller comprenant un tel composant optique, procede de calibrage de cet ellipsometre et procede de mesure ellipsometrique
US6134011A (en) * 1997-09-22 2000-10-17 Hdi Instrumentation Optical measurement system using polarized light
JPH1195114A (ja) * 1997-09-24 1999-04-09 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡装置
US6097488A (en) * 1998-06-22 2000-08-01 Princeton University Method and apparatus for measuring micro structures, anisotropy and birefringence in polymers using laser scattered light
AU6381500A (en) * 1999-07-27 2001-02-13 Colorado School Of Mines Parallel detecting, spectroscopic ellipsometers/polarimeters
US6356036B1 (en) * 2000-12-01 2002-03-12 Laser Diagnostic Technologies, Inc. System and method for determining birefringence of anterior segment of a patient's eye

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010049751A1 (de) * 2010-10-29 2012-05-03 "Stiftung Caesar" (Center Of Advanced European Studies And Research) Optischer Strahlteiler zur simultanen Aufnahme eines Z-Stapels auf einem Halbleiterchip
DE102010049751B4 (de) * 2010-10-29 2020-11-05 "Stiftung Caesar" (Center Of Advanced European Studies And Research) Optischer Strahlteiler zur simultanen Aufnahme eines Z-Stapels auf einem Halbleiterchip, Bausatz zum Aufbau eines optischen Strahlteilers und Lichtmikroskop

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Publication number Publication date
ATE372507T1 (de) 2007-09-15
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US6856391B2 (en) 2005-02-15
DE60130356D1 (de) 2007-10-18
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HU226937B1 (en) 2010-03-29

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