JP2005017282A - 受光ユニットおよびそれを含む測定装置 - Google Patents

受光ユニットおよびそれを含む測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005017282A
JP2005017282A JP2004154902A JP2004154902A JP2005017282A JP 2005017282 A JP2005017282 A JP 2005017282A JP 2004154902 A JP2004154902 A JP 2004154902A JP 2004154902 A JP2004154902 A JP 2004154902A JP 2005017282 A JP2005017282 A JP 2005017282A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
fluorescence
receiving unit
unit
light receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004154902A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiro Nanba
昭宏 南波
Ryuji Sawada
龍治 澤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2004154902A priority Critical patent/JP2005017282A/ja
Publication of JP2005017282A publication Critical patent/JP2005017282A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】試料から発せられる光を測定するための測定装置を構成するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットを提供する。
【解決手段】測定装置100は、共焦点光学顕微鏡110と、蛍光物質から蛍光を発生させるための励起光を発する励起光源部130と、受光ユニット140とを有している。共焦点光学顕微鏡110は、励起光源部130からの励起光を取り込むための励起光入力ポート112と、励起光により発生された蛍光を出力するための出力ポート113とを有している。受光ユニット140は、共焦点光学顕微鏡110からの蛍光を含む信号光を取り込むための入力部141を有している。受光ユニット140の入力部141は、光ファイバー153を介して、共焦点光学顕微鏡110の出力ポート113と光学的に接続される。
【選択図】 図3

Description

本発明は、試料から発せられる光を測定するための測定装置に関する。
試料中の特定部位から統計的な性質や分子レベルの機能を解析する測定装置として、例えば特表11−502608号公報では、共焦点光学顕微鏡をベースとし、レーザー光を顕微鏡対物レンズを通して蛍光標識された試料に照射し、試料内の蛍光分子による蛍光強度ゆらぎを解析し(蛍光相関分光を行ない)、蛍光分子の並進拡散係数などの統計的な性質や分子間の相互作用などを求める方法と装置を開示している。
共焦点光学顕微鏡に関しては、例えば、”Confocal Microscopy” T. Wilson(ed.) Academic press (London)、主に生物試料を対象とした解説として、”Handbook of Biological confocal Microscopy” J. B. Pawley(ed.) Plenum Press (New York)などがある。蛍光相関分光法に関しては、例えば、”Fluorescence correlation spectroscopy” R. Rigler, E. S. Elson (eds.) Springer (Berlin)や金城政孝「蛋白質 核酸 酵素」(1999) Vol.44, No.9, p1431-1437などの解説がある。
蛍光相関分光法では共焦点走査型レーザー顕微鏡の視野の中で蛍光物質で標識されたタンパク質や担体粒子を溶液中に浮遊させ、これらの微粒子のブラウン運動に基づく蛍光強度のゆらぎを解析して自己相関関数を求め、対象とする微粒子の数や並進拡散速度などを推測する。
一方、蛍光標識された標本試料にレーザー光を走査しながら照射し、試料の蛍光顕微鏡画像を生成する共焦点走査型レーザー顕微鏡がある。共焦点走査型レーザー顕微鏡に関しては、例えば特開平10−206742号公報に記述されている。あるいは、大出孝博らによる解説(「光学」Vol.18, Vol.8, p.p.392〜398)や、河田聡による解説(「光学」Vol.18, Vol.8, p.p.380〜391)などがある。
米国特許第5,120,953号ではレーザー走査型共焦点光学顕微鏡において、レーザー光源からの光を光ファイバーに導光し、顕微鏡本体に導き、試料面に照射する。試料からの光信号を顕微鏡本体を介して再び光ファイバーに導き、光ファイバーに接続した光検出器で受光する。すなわち、光源と光検出器が顕微鏡本体と光ファイバーで光接続された装置構成となっている。また、米国特許第5,161,053号では共焦点光学顕微鏡の光源からの光を光ファイバーで顕微鏡本体に導き、試料からの光信号を光分岐して別の光ファイバーに導光し、これに光接続された光検出器で受光する。
特表11−502608号公報 特開平10−206742号公報 米国特許第5,120,953号明細書 米国特許第5,161,053号明細書 特表2001−505997号公報 特表2003−524180号公報 "Confocal Microscopy" T. Wilson(ed.) Academic press (London) "Handbook of Biological confocal Microscopy" J. B. Pawley(ed.) Plenum Press (New York) "Fluorescence correlation spectroscopy" R. Rigler, E. S. Elson (eds.) Springer (Berlin) 金城政孝「蛋白質 核酸 酵素」(1999) Vol.44, No.9, p1431-1437 大出孝博ら「光学」Vol.18, Vol.8, p.p.392〜398 河田聡「光学」Vol.18, Vol.8, p.p.380〜391
特表2001−505997号公報は、顕微鏡に接続してFCS測定を行なうための着脱自在のユニットを開示している。このユニット内には光源入出力ポートと光信号の出力ポートが設置されており、出力ポートから出力された信号光を光検出器で受光してFCS測定を行なう。
また特表2003−524180号公報は顕微鏡に接続したFCS測定を行なうためのユニットを開示されている。このユニットでは光源本体が組み込まれている。このユニットから光を射出し、顕微鏡に導き、試料を光照射する。試料から発せられた光信号を顕微鏡を介してこのユニット内で受光し、FCS測定を行なう。
いずれのユニットも、ユニット内に光源入出力ポートを備えており、光源から発せられた光ビームがユニット内を通過する。光源から発せられた光ビームはユニット内のレンズやミラーなどの光学素子に入射して反射や屈折や透過などを繰り返す。このとき、光学素子での透過損失や反射損失によって反射光や散乱光が生じ、生じた反射光や散乱光の一部はノイズ光となる。例えば、通常のアルミ平面ミラーでは10%程度の反射損失がある。また、光源からの光ビームをユニット内に通過させて顕微鏡本体内に導くために少なくとも一個のハーフミラー(またはダイクロイックミラー)が必要であり、そのハーフミラー(またはダイクロイックミラー)でも反射損失がある。さらに、ユニットと顕微鏡本体を結合するファイバーなどの光学系が必要であり、その光学系でも例えばファイバーの入射端と射出端でも反射損失がある。結局、光源からの光の強度は、試料面上において、全体で10〜20%低下する。検出対象の光は、例えば試料内の蛍光物質から発せられる蛍光であり、その光強度が微弱である。このため、検出対象の光を確実に検出するためには、光源からの光が光路内でなるべく減衰しないようにしなければならない。また、光路の途中にある光学素子での減衰を見越して、光源の光出力を高くしなければならない。
しかも、ユニット内には光検出器が設置されており、光源からの光ビームが通過する経路に距離的に近いため、光学素子で生じた反射光や散乱光が光検出器に入射しやすい。このようなノイズ光は、試料から発せられる検出対象の光が微弱なため、信号のS/N比の低下を引き起こす危険性が高い。
本発明は、このような実状を考慮して成されたものであり、その主な目的は、試料から発せられる光を測定するための測定装置を構成するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットを提供することである。
本発明は、ひとつには、試料から発せられる光を受光するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットに向けられている。本発明の受光ユニットは、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光を取り込むための入力部と、入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の光を抽出する光抽出部とを有している。
また本発明は、ひとつには、試料から発せられる光を測定するための測定装置に向けられている。本発明の測定装置は、試料から光を発生させるための光を発する光源部と、試料から光を発生させるための光を取り込むための光入力ポートと信号光を出力するための出力ポートとを有する共焦点光学顕微鏡と、共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットとを備えており、受光ユニットは、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光を取り込むための入力部と、入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の光を抽出する光抽出部とを有している。
本発明によれば、試料から発せられる光を測定するための測定装置を構成するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットが提供される。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
第一実施形態
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析(FCS)を行なう測定装置に向けられている。図1は、本発明の第一実施形態に従う共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の全体構成を示している。図2は、図1に示される測定装置の外観を概略的に示している。図3は、図1に示される受光ユニットの構成を示している。図4は、図1に示される測定装置とその信号処理系とを示している。
図1と図2に示されるように、本実施形態の測定装置100は、共焦点光学顕微鏡110と、蛍光物質から蛍光を発生させるための励起光を発する励起光源部130と、受光ユニット140とを有している。
図1に示されるように、共焦点光学顕微鏡110は、試料121が載せられる試料ステージ122と、試料ステージ122を移動させるための二つのステッピングモーター123とを有している。二つのステッピングモーター123は、駆動軸が互いに直交するように配置されており、試料ステージ122を互いに直交する二方向、いわゆるx方向とy方向に移動させ得る。ステッピングモーター123は(図示しない)コントローラーによって制御される。
測定装置100は、通常の光学観察のための照明光を発するための照明光源125をさらに有し、共焦点光学顕微鏡110は、照明光源125からの照明光を取り込むための照明光入力ポート111と、励起光源部130からの励起光を取り込むための励起光入力ポート112と、励起光により発生された蛍光を出力するための出力ポート113とを有している。
照明光源125は、これに限定されないが、例えば、ハロゲンランプあるいはメタルハライドランプで構成される。
共焦点光学顕微鏡110は、試料ステージ122の下方に配置された対物レンズ114と、照明光入力ポート111から取り込まれた照明光を対物レンズ114に方向付けるダイクロイックミラー115と、観察者による試料121の目視観察を可能にする接眼レンズ126とを有している。
測定装置100はさらに、試料121の光学像を取得するためのCCDカメラ127と、CCDカメラ127で取得された光学像を抽出(表示)するTVモニター128とを有している。
励起光源部130は、二つのレーザー光源131と132と、レーザー光源131と132からのそれぞれの光ビームを平行化する二つのレンズ133と134と、レンズ133からの光ビームを励起光入力ポート112へ方向付けるミラー135と、レンズ134からの光ビームを励起光入力ポート112へ方向付けるダイクロイックミラー136とを有している。
励起光源部130のレーザー光源131と132は、励起する蛍光物質の種類に応じて、適した波長の光を発するものが使用される。これに限定されないが、例えば、蛍光物質はローダミン・グリーン(Rhodamine Green:RhG)とサイファイヴ(Cy5)であり、これに対応して、レーザー光源131は、ローダミン・グリーン(RhG)を励起するために、波長488nmの光を発するアルゴンレーザーであり、レーザー光源132は、サイファイヴ(Cy5)を励起するために、波長632.8nmの光を発するHe−Neレーザーである。
ダイクロイックミラー136は、レーザー光源131から射出される励起光を透過し、レーザー光源132から射出される励起光を反射する特性を有し、レーザー光源131からの励起光とレーザー光源132からの励起光とを結合して励起光入力ポート112に導く。
共焦点光学顕微鏡110は、励起光入力ポート112から導入された励起光を反射して対物レンズ114に方向付けると共に、試料121から発生した蛍光を透過するダイクロイックミラー116と、ダイクロイックミラー116からの蛍光のビームを反射して出力ポート113に方向付けるミラー117と、ミラー117からの蛍光のビームを収束させるレンズ118とを有している。
受光ユニット140は、図3に詳しく示されるように、共焦点光学顕微鏡110からの蛍光を含む信号光を取り込むための入力部141と、入力部141を介して取り込まれた信号光のビームを平行化するためのレンズ142と、信号光から蛍光をその種類毎に抽出する光抽出部143と、一方の蛍光のビームを収束させるためのレンズ146と、その蛍光を検出するための光検出器148と、光検出器148の手前に配置されたピンホールユニット147と、もう一方の蛍光のビームを収束させるためのレンズ150と、その蛍光を検出するための光検出器152と、光検出器152の手前に配置されたピンホールユニット151とを有している。
受光ユニット140の入力部141は、光ファイバー153を介して、共焦点光学顕微鏡110の出力ポート113と光学的に接続される。光ファイバー153は、共焦点光学顕微鏡110から二種類の蛍光を含む光を受光ユニット140に導くため、マルチモード光ファイバーで構成される。光ファイバー153は、これに限定されないが、例えば、コア直径100μm、NA0.22のマルチモード光ファイバーである。
より詳しくは、出力ポート113は、例えば写真撮影用のカメラを接続するためのポートであり、(図示しない)光ファイバー接続端子が取り付けられる。光ファイバー接続端子は、これに限定されないが、例えばFCコネクタやSCコネクタやSTコネクタなどである。受光ユニット140の入力部141にも、同様の(図示しない)光ファイバー接続端子が取り付けられる。光ファイバー153は、これらの光ファイバー接続端子に接続される。
光抽出部143は、一方の蛍光を含む波長帯域の光を透過し、もう一方の蛍光を含む波長帯域の光を反射する特性を有するダイクロイックミラー144と、一方の蛍光を選択的に透過する特性を有するフィルター145と、もう一方の蛍光を選択的に透過する特性を有するフィルター149とを有している。
例えば、前述の蛍光物質に対応して、ダイクロイックミラー144は、サイファイヴ(Cy5)から発生する蛍光を含む波長帯域の光を透過し、ローダミン・グリーン(RhG)から発生する蛍光を含む波長帯域の光を反射し、フィルター145は、サイファイヴ(Cy5)から発生する蛍光を選択的に透過し、フィルター149は、ローダミン・グリーン(RhG)から発生する蛍光を選択的に透過する。
ピンホールユニット147は、その後ろの光検出器148で検出される蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している。同様に、ピンホールユニット151は、その後ろの光検出器152で検出される蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している。
光検出器148と152は、入射した光の強度を反映した電気信号を出力する。光検出器148と152は、これに限定されないが、例えば、いずれもアバランシェ・フォトダイオード(APD:Avalanche Photo Diode)である。あるいは、光電子増倍管であってもよい。ピンホールユニット147と151内のピンホールは、これに限定されないが、例えば、いずれも200μmの直径を有している。また、対物レンズ114は、微小な共焦点領域の形成のために、これに限定されないが、例えば、1.0程度のNA(開口数)を有している。これにより、直径0.6μm程度、長さ2μm程度の略円柱状の共焦点領域が得られる。
図4に示されるように、測定装置100はさらに、受光ユニット140の光検出器148と152から出力される電気信号を波形整形してオン・オフの二値化パルスに変換する信号処理装置161と、信号処理装置161から出力される二値化パルスに対して相関演算を行なって自己相関関数を求める相関解析装置162と、相関解析装置162で得られた自己相関関数から蛍光物質の並進拡散速度や測定領域中の蛍光分子の数の変化などを求めるためのコンピューター163とを有し、さらには、相関解析装置162で得られた結果を表示するTVモニター164を有している。
本実施形態の測定装置100において、蛍光相関分光測定は次のようにして行なわれる。
図1において、レーザー光源131から発せられた励起光ビームは、レンズ133で適当な径の平行光ビームに変えられ、ミラー135で反射され、ダイクロイックミラー136を透過し、励起光入力ポート112を通って空間伝播により共焦点光学顕微鏡110の内部に入る。なお、この空間伝播の部分はシングルモードファイバーにより光学的に接続した構成としてもよい。
また、レーザー光源132から発せられた励起光ビームは、レンズ134により適当な径の平行光ビームに変えられ、ダイクロイックミラー136で反射され、励起光入力ポート112を通って共焦点光学顕微鏡110の内部に入る。
共焦点光学顕微鏡110に入った励起光ビームは、ダイクロイックミラー116で反射され、ダイクロイックミラー115を透過し、対物レンズ114によって収束される。前述したように、対物レンズ114は、1.0程度の大きい開口数を有しており、これにより、直径0.6μm程度、長さ2μm程度の略円柱状の共焦点領域が得られる。
この領域に存在する蛍光物質は、励起光により励起され、蛍光信号(フォトンパルス)を発生する。蛍光物質から発生された蛍光信号の一部は、試料121で反射された励起光の一部と共に、対物レンズ114に入射して信号光となる。対物レンズ114に入射した信号光は、ダイクロイックミラー115とダイクロイックミラー116を透過し、ミラー117で反射され、レンズ118で収束される。レンズ118で収束された信号光は、出力ポート113に取り付けられた光ファイバー接続端子から光ファイバー153内に入る。
光ファイバー153内に入った信号光は、光ファイバー153の内部を伝搬して、受光ユニット140の入力部141から射出される。図3に示されるように、入力部141から射出された信号光ビームは、レンズ142で適当な径の平行光ビームに変えられ、ダイクロイックミラー144により蛍光の種類毎に分離される。すなわち、サイファイヴ(Cy5)から発生した蛍光は、ダイクロイックミラー144を透過し、ローダミン・グリーン(RhG)から発生する蛍光は、ダイクロイックミラー144で反射される。
ダイクロイックミラー144を透過した光は、フィルター145により不所望な成分が取り除かれ、レンズ146で収束され、ピンホールユニット147を介して光検出器148に入射して、光電変換される。同様に、ダイクロイックミラー144で反射された光は、フィルター149により不所望な成分が取り除かれ、レンズ150で収束され、ピンホールユニット151を介して光検出器152に入射して、光電変換される。
図4において、光検出器148と152で光電変換された電気信号は、信号処理装置161に送られて二値化パルス信号に変換される。二値化パルス信号は相関解析装置162に送られ、相関解析装置162において例えば自己相関関数が求められる。自己相関関数はコンピューター163に送られ、蛍光物質の並進拡散速度や測定領域中の蛍光分子の数の変化などの算出に利用される。
相関解析装置162は、二種類の蛍光分子(ローダミン・グリーン、サイファイヴ)による蛍光強度ゆらぎの相互相関関数を求めてもよい。あるいは、相関解析装置162を用いずに、信号処理装置161から出力される二値化パルス信号を直接コンピューター163に入力し、コンピューター163で相関解析を行なって、蛍光強度ゆらぎの自己相関関数、あるいは相互相関関数を求めてもよい。
以下、蛍光強度ゆらぎの自己相関関数について説明する。
光検出器で受光される蛍光物質からの蛍光強度ゆらぎの自己相関関数R(τ)は次式で表される。
Figure 2005017282
ただし、Iは光検出器で受光される蛍光物質からの蛍光の強度、tは時間、τは遅れ時間である。<>はアンサンブル平均を表わす。
蛍光強度ゆらぎの自己相関関数を規格化すると、次のようになる。
Figure 2005017282
Figure 2005017282
ただし、G(τ)は規格化した蛍光強度ゆらぎの自己相関関数、Nは共焦点領域内に存在する平均分子数であり、共焦点領域内に存在する分子の存在確率がポアソン分布に従うと仮定している。
入射光がガウス分布を有する光(アルゴンレーザーやヘリウムネオンレーザーなど)であるとすると、光強度ゆらぎの自己相関関数G(τ)は次のようになる。
Figure 2005017282
ただし、Dは蛍光分子の並進拡散係数、ω1は共焦点領域を円柱と近似したときの高さの1/2、ω2は半径である。
このとき、τDを蛍光物質の分子の拡散時間とすると、次のようになる。
Figure 2005017282
蛍光強度ゆらぎの自己相関関数のプロファイルから蛍光分子の大きさなどを推定する場合は、蛍光強度ゆらぎの自己相関関数を蛍光強度ゆらぎの時間平均値の二乗で割って、カーブフィッティングを行なって拡散時間と、Y軸切片(自己相関関数がy軸と交差する点のy座標)を求める。カーブフィッティング法としては最小二乗法などを用いればよい。例えば、非線形最小自乗法の一つであるレーベンバーグ・マーカート(Levenberg Marquard)法を用いて最適化してもよい(“Numerical Recipes in C”, William H. Pressら著、丹慶勝市ら訳、技術評論社、1994)。
なお、蛍光強度ゆらぎの自己相関関数のY軸切片の値は(3)式からわかるように、共焦点領域内に存在する平均の蛍光分子の数に対応する。(参考文献:Single Molecule Detection in Solution, Ch. Zander, J. Enderlein, R. A. Keller(eds.) WILEY-VCH, Germany)
本実施形態において、受光ユニット140は、図2に示されるように、共焦点光学顕微鏡110から独立した分離ユニット構造となっており、光ファイバーを介して共焦点光学顕微鏡110と光学的に接続される。受光ユニットは少なくとも集光レンズとフィルターを備えている。フィルターは、試料からの蛍光波長だけを選択的に透過させるスペクトル特性を持つフィルターで構成される。また受光ユニットは、図3に示されるように、集光レンズとフィルターに加えて光検出器を備えていてもよい。この光強度ゆらぎユニットは光接続端子により容易に着脱できる。光強度ゆらぎの測定を行なわないときは、光接続端子部分で顕微鏡本体から切り離しておいてもよい。
本実施形態において、励起光源部130と受光ユニット140はそれぞれ共焦点光学顕微鏡110から独立した分離ユニット構造となっており、励起光源部130は励起光入力ポート112を介して共焦点光学顕微鏡110と光学的に接続され、受光ユニット140は出力ポート113を介して共焦点光学顕微鏡110と光学的に接続される。
このため、通常の共焦点光学顕微鏡110に励起光源部130と受光ユニット140ほかを接続することにより、容易に蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう装置を構成することが可能となる。
また、励起光源部130から射出された励起光は、受光ユニット140内を通ることなく、対物レンズの近くに配置された励起光入力ポート112を介して共焦点光学顕微鏡110に取り込まれる。このため、励起光が途中に経由する光学素子が少なく、励起光の強度の低下がわずかに抑えられる。これにより、励起光が試料に効率良く照射される。また、受光ユニット140内を通る光は、実質的に試料から発せられた信号光だけとなる。その結果、信号のS/N比の高い測定を行なうことができる。
第二実施形態
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう別の測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置は、光検出器のレイアウトの点において、第一実施形態の測定装置と相違している。
図5は、本発明の第二実施形態の蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の構成を概略的に示している。図5において、図3に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
図5に示されるように、本実施形態の測定装置100Aでは、受光ユニット140Aは、共焦点光学顕微鏡110からの信号光を取り込むための入力部141と、信号光のビームを平行化するためのレンズ142と、信号光から蛍光をその種類毎に抽出する光抽出部143と、一方の蛍光のビームを収束させるためのレンズ146と、その蛍光を出力するための蛍光出力部154と、もう一方の蛍光のビームを収束させるためのレンズ150と、その蛍光を検出するための蛍光出力部155とを有している。
第一実施形態と同様に、受光ユニット140の入力部141は、マルチモード光ファイバー153を介して、共焦点光学顕微鏡110の出力ポート113と光学的に接続される。また、光抽出部143は、一方の蛍光を含む波長帯域の光を透過し、もう一方の蛍光を含む波長帯域の光を反射する特性を有するダイクロイックミラー144と、一方の蛍光を選択的に透過する特性を有するフィルター145と、もう一方の蛍光を選択的に透過する特性を有するフィルター149とを有している。
蛍光出力部154は、これに限定されないが、例えばシングルモード光ファイバー156を介して、光検出器148と光学的に接続される。また、蛍光出力部155は、これに限定されないが、例えばシングルモード光ファイバー157を介して光検出器148と光学的に接続される。
蛍光出力部154は、光検出器148で検出される蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している。同様に、蛍光出力部155は、光検出器152で検出される蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している。例えば、蛍光出力部154と155は光ファイバー接続端子であり、ピンホールはそれらに取り付けられた光ファイバー156と157の端面であってもよい。
本実施形態の測定装置100Aの測定動作は、第一実施形態の測定装置100と全く同じであり、その説明は省略する。
本実施形態の測定装置100Aでは、光検出器148と152が受光ユニット140Aの外に配置されているため、その後段に接続される信号処理装置やコンピューターなどの配置に合わせた設置を行なうことが可能となる。
第三実施形態
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう別の測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置は、共焦点光学顕微鏡と受光ユニットとの間の光学的接続の点において、第一実施形態の測定装置と相違している。
図6は、本発明の第三実施形態の蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の構成を概略的に示している。図6において、図2に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
図6に示されるように、本実施形態の測定装置100Bでは、共焦点光学顕微鏡110と受光ユニット140とが、光ファイバーを介することなく、単に空間を介して接続されている。すなわち、図6には見えないが、共焦点光学顕微鏡110の出力ポート113(図1や図3を参照)に受光ユニット140の入力部141(図1や図3を参照)が直接取り付けられている。勿論、共焦点光学顕微鏡110の出力ポート113と受光ユニット140の入力部141とは鏡筒などの部材を介して接続されてもよい。
本実施形態の測定装置100Bの測定動作は、第一実施形態の測定装置100と全く同じであり、その説明は省略する。
本実施形態の測定装置100Bでは、共焦点光学顕微鏡110と受光ユニット140とが単に空間を介して接続されているので、蛍光の損失が少ない。
第四実施形態
本実施形態は、共焦点走査型レーザー顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置に向けられている。図7は、本発明の第四実施形態に従う共焦点走査型レーザー顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の全体構成を示している。
図7に示されるように、本実施形態の測定装置200は、共焦点走査型レーザー顕微鏡210を含んでいる。共焦点走査型レーザー顕微鏡210は、顕微鏡本体212と、顕微鏡本体212に取り付けられた対物レンズ217と、対物レンズ217の上方に配置された、試料219が載せられる試料ステージ218と、蛍光物質から蛍光を発生させるための励起光を発する二つの走査光源部230と240とを有している。
顕微鏡本体212は、二つの走査光源部230と240からの励起光をそれぞれ取り込むための励起光入力ポート213と214と、励起光により発生された蛍光を出力するための二つの出力ポート215と216とを有している。
走査光源部230は、レーザー光源231と、レーザー光源231からの光ビームを平行化するレンズ232と、レンズ232からの光ビームを反射するミラー233と、光ビームを互いに直交する二方向(X方向とY方向)に走査するXYスキャナー234と、XYスキャナー234を駆動するスキャナー駆動装置235とを有している。
同様に、走査光源部240は、レーザー光源241と、レーザー光源231からの光ビームを平行化するレンズ242と、光ビームを互いに直交する二方向(X方向とY方向)に走査するXYスキャナー244と、XYスキャナー244を駆動するスキャナー駆動装置245とを有している。
XYスキャナー234と244は、例えば、その各々が光ビームを一本の軸に沿って走査し得る二つのガルバノミラーで構成され、二つのガルバノミラーは好ましくはそれぞれの走査軸が互いに直交するように配置されている。あるいは、ポリゴンミラーやホログラムスキャナーなどで構成されてもよい。
XYスキャナー234からの光ビームは、励起光入力ポート213から顕微鏡本体212内に取り込まれる。また、XYスキャナー244からの光ビームは、励起光入力ポート214から顕微鏡本体212内に取り込まれる。
レーザー光源231と241は、第一実施形態と同様に、励起する蛍光物質の種類に応じて、適した波長の光を発するものが使用される。これに限定されないが、例えば、蛍光物質はローダミン・グリーン(Rhodamine Green:RhG)とサイファイヴ(Cy5)であり、これに対応して、レーザー光源231は、ローダミン・グリーン(RhG)を励起するために、波長488nmの光を発するアルゴンレーザーであり、レーザー光源241は、サイファイヴ(Cy5)を励起するために、波長632.8nmの光を発するHe−Neレーザーである。
顕微鏡本体212は、励起光入力ポート213から導入された励起光を反射して対物レンズ217に方向付けると共に、試料219から発生した蛍光を透過するダイクロイックミラー221と、励起光入力ポート214から導入された励起光を反射して対物レンズ217に方向付けると共に、試料219から発生した蛍光を透過するダイクロイックミラー222と、ダイクロイックミラー222を透過した光を収束させるレンズ232と、一方の蛍光を含む波長帯域の光を透過し、もう一方の蛍光を含む波長帯域の光を反射して出力ポート215に方向付けるダイクロイックミラー224と、ダイクロイックミラー224を透過した光を出力ポート216に方向付けるミラー225とを有している。
測定装置200はさらに、二つの受光ユニット251と252を有している。受光ユニット251と252は、それぞれ、光ファイバー253と254を介して、顕微鏡本体212の出力ポート215と216と光学的に接続されている。例えば、出力ポート215と216は写真撮影用のカメラを接続するためのポートであり、光ファイバー253と254は光ファイバー接続端子を介して出力ポート215と216に取り付けられる。
受光ユニット251と252は、それぞれ、試料219から発生する蛍光をその種類毎に検出する。受光ユニット251と252は、第一実施形態の受光ユニット140と同じ構成であってもよいが、その各々が検出する蛍光の種類が一種類であることに対応して、一系統のフィルターと光検出器を有していればよい。
例えば、受光ユニット251と252は、図3に示される受光ユニット140から、ダイクロイックミラー144とフィルター149とレンズ150とピンホールユニット151と光検出器152が省かれた構成であってよい。勿論、フィルター145は、検出する蛍光の種類に適した特性のものが適用される。また、光検出器148は、第一実施形態と同様に、アバランシェ・フォトダイオードや光電子増倍管であってよい。
例えば、ダイクロイックミラー224は、サイファイヴ(Cy5)から発生する蛍光を含む波長帯域の光を透過し、ローダミン・グリーン(RhG)から発生する蛍光を含む波長帯域の光を反射する。これに対応して、受光ユニット252は、サイファイヴ(Cy5)から発生する蛍光を検出し、受光ユニット251は、ローダミン・グリーン(RhG)から発生する蛍光を検出する。
測定装置200はさらに、受光ユニット251と252内の光検出器から出力される電気信号を波形整形してオン・オフの二値化パルスに変換する信号処理装置261と、信号処理装置261から出力される二値化パルスに対して相関演算を行なって自己相関関数を求める相関解析装置262と、相関解析装置262で得られた自己相関関数から蛍光物質の並進拡散速度や測定領域中の蛍光分子の数の変化などを求めるためのコンピューター263とを有し、さらに、信号処理装置261で得られた結果に対してコントラスト向上や輪郭強調などの画像処理を行なう画像処理装置264と、画像処理装置264で得られた画像を表示するTVモニター265を有している。
本実施形態の測定装置200において、レーザー光源231から発せられた励起光ビームは、レンズ232で適当な径の平行光ビームに変えられ、ミラー233で反射され、XYスキャナー234を経た後、励起光入力ポート213を介して顕微鏡本体212内に入り、ダイクロイックミラー221で反射され、対物レンズ217で収束され、試料219内で光スポットを形成する。この光スポットは、XYスキャナー234によりXY方向に走査され得る。
試料からの反射光と蛍光の一部(すなわち信号光)は、対物レンズ217に入り、二つのダイクロイックミラー221と222を透過し、ダイクロイックミラー224で反射されて出力ポート215に方向付けられる。信号光は、出力ポート215に取り付けられた光ファイバー253を、受光ユニット251に入る。
受光ユニット251は、信号光から不所望な成分を除去し、目的の蛍光を光検出器で受光する。光検出器は、受光した光の強度を反映した電気信号を出力する。
受光ユニット251内の光検出器から出力される電気信号は、画像処理装置264によりコントラスト向上や輪郭強調などの画像処理を行なった後、コンピューター263に導かれ、TVモニター265上に試料の二次元顕微鏡画像あるいは三次元顕微鏡画像として生成される。
また、レーザー光源241から発せられた励起光ビームは、レンズ242で適当な径の平行光ビームに変えられ、XYスキャナー244を経た後、励起光入力ポート214を介して顕微鏡本体212内に入り、ダイクロイックミラー222で反射され、ダイクロイックミラー221を透過し、対物レンズ217で収束され、試料219内で光スポットを形成する。この光スポットは、レーザー光源231からの励起光の光スポットとは異なる位置に形成される。また、この光スポットは、XYスキャナー244によりXY方向に走査され得る。
試料からの反射光と蛍光の一部(すなわち信号光)は、対物レンズ217に入り、三つのダイクロイックミラー221と222と224を透過し、ミラー225で反射されて出力ポート216に方向付けられる。信号光は、出力ポート216に取り付けられた光ファイバー254を通って、受光ユニット252に入る。
受光ユニット252は、信号光から不所望な成分を除去し、目的の蛍光を光検出器で受光する。光検出器は、受光した光の強度を反映した電気信号を出力する。
受光ユニット252内の光検出器から出力される電気信号は、画像処理装置264によりコントラスト向上や輪郭強調などの画像処理を行なった後、コンピューター263に導かれ、TVモニター265上に試料の二次元顕微鏡画像あるいは三次元顕微鏡画像として生成される。
本実施形態の測定装置200においては、蛍光の強度ゆらぎの自己相関関数に限らず、蛍光の強度ゆらぎの相互相関関数についても測定を行なうことができる。蛍光の強度ゆらぎの相互相関関数から、異なる二種類の蛍光物質の分子に対して、以下の情報が得られる。
蛍光の強度ゆらぎの相互相関関数をそれぞれの光検出器で受光された蛍光強度ゆらぎの時間平均値の積で割って、カーブフィッティングを行ない、Y軸切片の値を求める。すなわち、(6)式を用いて二種類の蛍光物質の分子の結合体の数が求められる。(Fliuorescence Correlation Spectroscopy, R. Rigler and E. S. Elson eds. 15, Springer, Berlin)
Figure 2005017282
ただしG(0)は二種類の蛍光物質(BとR)の分子の結合体による蛍光強度ゆらぎの相互相関関数のY軸切片の値、Nbrは共焦点領域内の二種類の蛍光物質(BとR)の分子の結合体の数、Nrは蛍光物質Rの分子の数、Nbは蛍光物質Bの分子の数である。
第五実施形態
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の時間分解測定を行なう測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置の構成は、第二実施形態の測定装置とほとんど同じである。
図8は、本発明の第五実施形態の蛍光の時間分解測定を行なう測定装置の構成を概略的に示している。図8において、図5に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
図8に示されるように、本実施形態の測定装置100Cは、第二実施形態の測定装置100Aの励起光源部130に代えてパルス励起光源部130Aを備えている。他の構成は、第二実施形態と同じである。
パルス励起光源部130Aは、パルスレーザー光源131Aとレンズ133とを備えている。パルスレーザー光源131Aは、これに限らないが、例えば、波長514.5nm、平均出力100mW、パルス幅200ピコ秒のCWモード同期アルゴンイオン・レーザーで構成される。
図8には、代表的に一組のパルスレーザー光源131Aとレンズ133が描かれているが、図1に示される励起光源部130と同様に、パルス励起光源部130Aは、複数の組のパルスレーザー光源とレンズとを備えていてもよい。
本実施形態の測定装置100Cでは、光検出器148には時間−電圧変換回路(Time-to-Amplitude Converter)171、続いて波高分析器(Multi-channel analyzer)172が接続されており、さらに波高分析器172にはコンピューター175が接続されている。また光検出器152には時間−電圧変換回路173と波高分析器174が接続されており、波高分析器174にはコンピューター175が接続されている。
試料は、細胞や、蛍光物質を塩基にラベルされたDNAや、担体物質を含む媒質などである。
パルスレーザー光源131Aから発せられたパルス光は、励起光入力ポート112を通って共焦点光学顕微鏡110に取り込まれ、試料ステージ上の蛍光物質を含む試料に照射される。試料内の蛍光物質から発せられた信号光は、共焦点光学顕微鏡110に結合された光ファイバー153を通って受光ユニット140Aに達する。受光ユニット140Aは、信号光から特定の蛍光を抽出して出力する。受光ユニット140Aから出力された蛍光は、光ファイバー156と157を介してそれぞれ接続された光検出器148と152で検出される。光検出器148と152は蛍光の光子を検出して光電子パルスを発生する。この検出パルス信号は時間−電圧変換回路171と173に導かれて、時間−電圧変換回路171と173のストップ信号となる。一方、時間−電圧変換回路171と173へはパルスレーザー光源131Aの発光に同期した信号が送られる。この信号を時間−電圧変換回路171と173のスタート信号とする。時間−電圧変換回路171と173はスタート信号とストップ信号の二つの出力信号の間の時間差に比例した電圧パルス信号を出力する。この出力パルス信号は波高分析器172と174に導かれて、出力パルスの高さに変換されてコンピューター175に送られ、コンピューター内のメモリー(図示しない)に記憶される。メモリーに記憶された出力信号パルスの高さを時間との関係にしてグラフ化することにより、試料内の蛍光分子の蛍光寿命を求めることができる。
図9Aと図9Bは、図8に示した測定装置による測定結果であり、試料内の蛍光分子から発せられた蛍光強度の時間変化を表わしている。図9Aは蛍光寿命の長い試料の測定結果、図9Bは蛍光寿命の短い試料の測定結果である。
本実施形態では、パルス励起光源部130Aから射出されたパルス光は、受光ユニット140A内を通ることなく、対物レンズの近くに配置された励起光入力ポート112を介して共焦点光学顕微鏡110に取り込まれる。このため、パルス光が途中に経由する光学素子が少なく、パルス光の強度の低下がわずかに抑えられる。これにより、パルス光が試料に効率良く照射される。また、受光ユニット140A内を通る光は、実質的に試料から発せられた信号光だけとなる。その結果、信号のS/N比の高い測定を行なうことができる。
本実施形態の測定装置の構成は必要に応じて適当に変更されてもよい。例えば、パルスレーザー光源131AをCWモード同期色素レーザー光源に変更してパルス光の波長を変えて測定を行なってもよい。また、第一実施形態と同様に、光検出器148と152を受光ユニット内に配置してもよい。つまり、受光ユニット140Aと光ファイバー156と157と光検出器148と152を、第一実施形態に示した受光ユニット140に変更してもよい。
第六実施形態
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して、蛍光偏光解消など、試料内の蛍光物質から発せられる蛍光の偏光特性の変化や偏光度などの測定を行なう測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置の構成は、第二実施形態の測定装置に似ている。
図10は、本発明の第六実施形態の蛍光の偏光に関する測定を行なう測定装置の構成を概略的に示している。図10において、図5に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
図10に示されるように、本実施形態の測定装置100Dでは、共焦点光学顕微鏡110は、励起光源部130からの励起光の光路上に、特定の偏光成分を選択的に透過する偏光素子181を備えている。また受光ユニット140Dは、第二実施形態の測定装置100Aの受光ユニット140Aに、特定の偏光成分を選択的に透過する偏光素子182と183を追加した構成になっている。他の構成は、第二実施形態と同じである。
より詳しくは、共焦点光学顕微鏡110は、励起光入力ポート112とダイクロイックミラー116との間の光路上に偏光素子181を備えている。受光ユニット140Dは、受光ユニット140Aの構成に加えて、フィルター145とレンズ146の間に配置された偏光素子182と、フィルター149とレンズ150の間に配置された偏光素子183とを備えている。偏光素子182と偏光素子183の透過軸は、偏光素子181の透過軸に対して直交している。つまり、偏光素子182と偏光素子183を透過する光の偏光方向は、偏光素子181を透過する光の偏光方向と直交している。
偏光素子181と偏光素子182と偏光素子183は共に、これに限らないが、例えば偏光板で構成されるが、より好ましくは、グラントムソン・プリズム(Glan Thompson Prism)など、消光比の高い偏光素子で構成されるとよい。
励起光源部130は、連続発振のレーザー光源131を有している。レーザー光源131は、これに限らないが、例えば波長488nm、出力10mWのアルゴン・レーザーで構成される。
図10には、代表的に一つのレーザー光源131が描かれているが、励起光源部130は、複数のレーザー光源を有していてもよい。
レーザー光源131から発せられた励起光は、励起光入力ポート112を通って共焦点光学顕微鏡110に取り込まれ、偏光素子181により特定の偏光成分が抽出され、試料ステージ上の蛍光物質を含む試料に照射される。試料内の蛍光物質から発せられた信号光は、共焦点光学顕微鏡110に結合された光ファイバー153を通って受光ユニット140Aに達する。受光ユニット140Dは、光抽出部143により信号光から特定の蛍光を抽出し、さらに偏光素子182と偏光素子183により試料に照射される励起光の偏光成分と直交する偏光成分を抽出して出力する。受光ユニット140Aから出力された特定の偏光成分の蛍光は、光ファイバー156と157を介してそれぞれ接続された光検出器148と152で検出される。
本実施形態では、蛍光分子を含む試料に直線偏光の励起光を照射し、試料から発せられる蛍光のうち、励起光に直交する直線偏光を二つの光検出器148と152により検出する。これにより試料内の蛍光分子の蛍光の異方性や偏光度などを測定することができる。例えば、蛍光分子の回転ブラウン運動の速度を反映する回転拡散係数などを求めることができる。本実施形態の測定装置100Dでは、高い開口数の対物レンズ(NA0.9)を用いており、このため、蛍光色素分子で標識された細胞内DNA、細胞膜などの組織の偏光性も調べることができる。またLB(Langmuir-Blodgett)膜の揺動運動などについても測定することができる。
さらに、試料から発せられる散乱光の強度を検出することにより、抗原抗体反応の測定を行なうこともできる。例えば、試料として直径0.2ミクロンのアルファ・フェト・プロテイン(AFP)抗体を感作させたラテックス粒子懸濁液(重量濃度0.005%)を用い、これに血液などの検体を注入して抗原抗体反応を起こさせる。このとき検体にAFP抗原が含まれていると、抗原抗体反応によりラテックス粒子が凝集する。ラテックス粒子が単分散している場合は、その散乱光は異方性を持たず、入射光の偏光方向と同一の偏光成分を持った光を散乱光として発する。ところが、ラテックス粒子の凝集により、散乱光が異方性を持つようになる。これにより未反応の分散状態と明瞭な区別を行なうことができる。従って、高感度に抗原抗体反応を測定することができる。
本実施形態においても、励起光源部130から射出された励起光は、受光ユニット140D内を通ることなく、対物レンズの近くに配置された励起光入力ポート112を介して共焦点光学顕微鏡110に取り込まれる。このため、励起光が途中に経由する光学素子が少なく、励起光の強度の低下がわずかに抑えられる。これにより、励起光が試料に効率良く照射される。また、受光ユニット140D内を通る光は、実質的に試料から発せられた信号光だけとなる。その結果、信号のS/N比の高い測定を行なうことができる。
本実施形態の測定装置の構成は必要に応じて適当に変更されてもよい。例えば、偏光素子181と182と183のすべてまたは一部の外形を円形とし、中心軸の周りに回転可能に配置してもよい。偏光素子の回転の制御は手動で行なってもよいし、偏光素子の回転軸にステッピングモーターを接続して、ステッピングモーターの回転に合わせて電動で行なってもよい。このように偏光素子を回転可能にすることにより、試料に応じて入射光の偏光方向を自在に変化させ、それに応じて受光ユニット140D内の二枚の偏光素子182と183の偏光方向を変化させて、試料によって最適な条件で測定を行なうことができる。
レーザー光源131は、直線偏光を発するレーザー光源で構成されてもよく、その場合には、共焦点光学顕微鏡110内の偏光素子181は省略されてよい。
第七実施形態
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の偏光に関する測定を行なう別の測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置の構成は、第六実施形態の測定装置とほとんど同じである。
図11は、本発明の第七実施形態の蛍光の偏光に関する測定を行なう測定装置の構成を概略的に示している。図11において、図10に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材である。
図11に示されるように、本実施形態の測定装置100Eは、第六実施形態の励起光源部130に代えて、第五実施形態で述べたパルス励起光源部130Aを備えている。他の構成は、第六実施形態と同じである。つまり、本実施形態の測定装置100Eは、第六実施形態の測定装置100Dの励起光源部130を、第五実施形態の測定装置100Cのパルス励起光源部130Aに変更した構成である。
本実施形態では、パルスレーザー光源131Aから発せられた超短パルス光は共焦点光学顕微鏡110に取り込み、共焦点光学顕微鏡110内の偏光素子181により直線偏光とし、試料ステージ上の蛍光物質を含む試料に照射される。このとき試料内の蛍光物質は、照射されたパルス光のうち、蛍光物質の持つ遷移モーメントの方向と一致した方向の偏光成分だけを吸収して励起され、蛍光物質から蛍光が発せられる。蛍光物質から発せられる蛍光は蛍光物質の持つ遷移モーメントの方向と一致した方向の偏光成分を持つ。このように偏光した超短パルス光で蛍光物質を励起し、蛍光物質から発せられる蛍光の偏光成分について時間分解測定を行なえば、蛍光物質の分子配向の時間的な変化を求めることができる。
他の実施形態
例えば図8の測定装置を用いて、蛍光共鳴エネルギー移動(Fluorescence Resonance Energy Transfer:FRET)を求め、たんぱく質の結合や解離を知ることができる。例えば細胞内カルシウムイオン濃度の定量測定を行なうことができる。また、生体高分子のさまざまな部位間の距離や、生体高分子の三次元構造、四次元構造、その動的変化も測定することができる。
また、細胞内でカルモジュリン(Calmodulin)にカルシウムイオン(Ca2+)が結合すると活性化されて、カルモジュリンは構造変化を起こす。カルモジュリンの異なる部位にそれぞれ異なる蛍光物質を用いて標識し、一方の蛍光物質を励起して、蛍光共鳴エネルギー移動によって得られる、他方の蛍光物質からの蛍光を測定することにより、細胞内でのカルモジュリンの構造変化を知ることができる。またタンパク質の両端に異なる二種類の蛍光タンパク質、例えば藍色蛍光タンパク質(CFP:cyan fluorescent protein)と黄色蛍光タンパク質(YFP:yellow fluorescent protein)を標識し、タンパク質のリン酸化を測定することができる。タンパク質がリン酸化することによってタンパク質の構造に変化が起こる。この構造変化により双方の蛍光タンパク質が極めて接近する(10ナノメートル程度以下)とFRETが起こる。このFRETを測定することによりタンパク質のリン酸化を明らかにすることができる。
また、例えば図8の測定装置は、蛍光の測定のほかに、りん光の測定に適用されてもよい。その場合、光抽出部143は、りん光の抽出に適用される。
また、例えば図8の測定装置は、化学発光や生物発光などの発光現象の測定に適用されてもよい。その場合、光抽出部143は、化学発光や生物発光の光の抽出に適用される。また、光源は必要ないので、光源を取り除くか、光源の電源スイッチを切っておけばよい。例えば主要な癌マーカーであるアルファ・フェト・プロテイン(AFP)の酵素免疫測定を図8の測定装置(ただし光源は取り除く)を用いて化学発光により測定を行なう場合について説明する。まず、直径1〜10μm程度のガラス微粒子に抗AFP抗体を感作し、これを酵素アルカリフォスファターゼで標識し、緩衝液中に懸濁して試料容器内に収容する。これに血液などの検体を加え、室温で抗原抗体反応を起こさせる。ここで反応に関与しないガラス微粒子を洗浄により除去し、残りの溶液に化学発光基質AMPPD(2−ジオキセタン2ナトリウム塩)を加える。このときAMPPDが酵素アルカリフォスファターゼと反応し、化学発光が生じる。この化学発光の発光強度を光検出器により測定し、コンピューターに導いて光強度の解析を行ない、検体中のAFP濃度を定量することができる。
これまで、図面を参照しながら本発明の実施形態を述べたが、本発明は、これらの実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において様々な変形や変更が施されてもよい。
例えば、一種類の蛍光物質による測定であれば、図5のマルチモード光ファイバー153を一個の光検出器148または152に対して直接接続させた単純な構成にしてもよい。
また、本発明は、上述した実施形態以外の測定に適用されてもよい。例えば、測定対象としての試料の特定部位または特定領域に限定して種々の光学特性(偏光、散乱、電気化学発光、共鳴エネルギー転移、プラズモン共鳴等)を測定する任意の微小光学測定に適用されてもよい。 本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、以下の各項に記す測定信号処理ユニットと測定機器システムも含んでいる。
1. 測定信号を外部に出力する外部出力部を有する測定機器に接続可能な接続部と、
測定機器からの出力信号(光、音波、電流等)に応じた伝播手段を有する信号伝播機構と、
信号伝播機構により伝播された信号を受信してその信号に含まれる特定のパラメータを取得する素子とを有することを特徴とする測定信号処理ユニット。
2. 第1項において、パラメータを取得する素子が、演算可能な電気信号に変換するデータ変換手段を有する測定信号処理ユニット。
3. 第2項において、演算後データを視認可能な表現形式(数値、グラフ、画像、文字、記号等)により可視化するデータ可視化手段を有する外部機器に対して演算後データを出力する外部出力部を有することを特徴とする測定信号処理ユニット。
4. 第3項において、演算後データの外部出力部は伝播手段および接続部を含んでいることを特徴とする測定信号処理ユニット。
5. 第1項において、接続部はマルチモードな導波手段を含んでいる測定処理ユニット。
6. 第1項〜第5項のいずれかひとつにおいて、演算部が光強度ゆらぎを解析するアルゴリズムを有するソフトウエアにより機能する構成である測定処理ユニット。
7. 第3項に記載の測定処理ユニットと、
測定処理ユニットと接続した測定機器とを備え、
測定機器が、演算後データを視認可能な表現形式により可視化するデータ可視化手段を有することを特徴とする測定信号処理ユニットを有する測定機器システム。
8. 第1項に記載の測定処理ユニットと、
測定処理ユニットと接続した測定機器とを備え、
測定機器が測定に必要な信号源(光、音波、電流等)を伝播する伝播手段を有するとともに伝播手段に対して機器の外部から伝播信号を入力可能な外部入力部を有し、
外部入力部に接続可能な接続部と接続部を通じて測定処理ユニットによる演算に必要な伝播信号を導入する信号源導入ユニットとを有する測定機器システム。
9. 第8項において、信号源導入ユニットの接続部はシングルモードな導波手段を含んでいる測定機器システム。
10. 第9項において、測定処理ユニットの接続部はマルチモードな導波手段を含んでいる測定機器システム。
11. 第7項〜第10項のいずれかひとつにおいて、測定機器が顕微鏡、内視鏡、分析機の何れかであることを特徴とする測定機器システム。
12. 第7項〜第10項のいずれかひとつにおいて、測定機器が光信号による測定手段を有する測定機器システム。
13. 第12項において、演算部が光強度ゆらぎを解析するアルゴリズムを有するソフトウエアにより機能する構成である測定機器システム。
以上のように、本発明は、超音波顕微鏡やトンネル顕微鏡等の他の信号源による測定機器にも応用可能な測定処理ユニットであり得る。また本発明は、特異な信号源を別途接続可能な測定機器システムであり得る。また本発明は、顕微鏡以外にも、内視鏡や分析機とも接続可能なシステムであり得る。
本発明の第一実施形態に従う共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の全体構成を示している。 図1に示される測定装置の外観を概略的に示している。 図1に示される受光ユニットの構成を示している。 図1に示される測定装置とその信号処理系とを示している。 本発明の第二実施形態の蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の構成を概略的に示している。 本発明の第三実施形態の蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の構成を概略的に示している。 本発明の第四実施形態に従う共焦点走査型レーザー顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の全体構成を示している。 本発明の第五実施形態の蛍光の時間分解測定を行なう測定装置の構成を概略的に示している。 図8に示した測定装置による蛍光寿命の長い試料の測定結果であり、試料内の蛍光分子から発せられた蛍光強度の時間変化を表わしている。 図8に示した測定装置による蛍光寿命の短い試料の測定結果であり、試料内の蛍光分子から発せられた蛍光強度の時間変化を表わしている。 本発明の第六実施形態の蛍光の偏光に関する測定を行なう測定装置の構成を概略的に示している。 本発明の第七実施形態の蛍光の偏光に関する測定を行なう測定装置の構成を概略的に示している。
符号の説明
100…測定装置、100A…測定装置、100B…測定装置、100C…測定装置、100D…測定装置、100E…測定装置、110…共焦点光学顕微鏡、111…照明光入力ポート、112…励起光入力ポート、113…出力ポート、114…対物レンズ、115…ダイクロイックミラー、116…ダイクロイックミラー、117…ミラー、118…レンズ、121…試料、122…試料ステージ、123…ステッピングモーター、125…照明光源、126…接眼レンズ、127…CCDカメラ、128…TVモニター、130…励起光源部、130A…パルス励起光源部、131…レーザー光源、131A…パルスレーザー光源、132…レーザー光源、133…レンズ、134…レンズ、135…ミラー、136…ダイクロイックミラー、140…受光ユニット、140A…受光ユニット、140D…受光ユニット、141…入力部、142…レンズ、143…光抽出部、144…ダイクロイックミラー、145…フィルター、146…レンズ、147…ピンホールユニット、148…光検出器、149…フィルター、150…レンズ、151…ピンホールユニット、152…光検出器、153…光ファイバー、154…蛍光出力部、155…蛍光出力部、156…光ファイバー、157…光ファイバー、161…信号処理装置、162…相関解析装置、163…コンピューター、164…TVモニター、171…電圧変換回路、172…波高分析器、173…電圧変換回路、174…波高分析器、175…コンピューター、181…偏光素子、182…偏光素子、183…偏光素子、200…測定装置、210…共焦点走査型レーザー顕微鏡、212…顕微鏡本体、213…励起光入力ポート、214…励起光入力ポート、215…出力ポート、216…出力ポート、217…対物レンズ、218…試料ステージ、219…試料、221…ダイクロイックミラー、222…ダイクロイックミラー、224…ダイクロイックミラー、225…ミラー、230…走査光源部、231…レーザー光源、232…レンズ、233…ミラー、234…XYスキャナー、235…スキャナー駆動装置、240…走査光源部、241…レーザー光源、242…レンズ、244…XYスキャナー、245…スキャナー駆動装置、251…受光ユニット、252…受光ユニット、253…光ファイバー、254…光ファイバー、261…信号処理装置、262…相関解析装置、263…コンピューター、264…画像処理装置、265…TVモニター。

Claims (45)

  1. 試料から発せられる光を受光するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットであり、
    共焦点光学顕微鏡から出力される信号光を取り込むための入力部と、
    入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の光を抽出する光抽出部とを有している、受光ユニット。
  2. 請求項1において、受光ユニットは、蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析のために共焦点光学顕微鏡に接続され、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は蛍光を含んでおり、光抽出部は、入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の蛍光を抽出する、受光ユニット。
  3. 請求項2において、蛍光を検出するための光検出器と、光検出器の手前に配置されたピンホールとを有し、ピンホールはその蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にある、受光ユニット。
  4. 請求項3において、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は複数種類の蛍光を含んでおり、光抽出部は蛍光を種類毎に分離して抽出し、受光ユニットは、使用する複数色の蛍光色素に対応する吸収波長毎の検出器を有している、受光ユニット。
  5. 請求項2において、蛍光を出力するための蛍光出力部をさらに有し、蛍光出力部はピンホールを含み、ピンホールはその蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあり、蛍光出力部は蛍光を検出するための光検出器と光学的に接続される、受光ユニット。
  6. 請求項5において、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は複数種類の蛍光を含んでおり、光抽出部は蛍光を種類毎に分離して抽出し、受光ユニットは、蛍光の種類に対応した数の蛍光出力部を有している、受光ユニット。
  7. 請求項5または請求項6において、蛍光出力部と光検出器とが光導体を介して光学的に接続される、受光ユニット。
  8. 請求項3〜請求項5のいずれかひとつにおいて、共焦点光学顕微鏡は蛍光を含む信号光を出力する出力ポートを有し、共焦点光学顕微鏡の出力ポートに受光ユニットの入力部が直接取り付けられる、受光ユニット。
  9. 請求項3または請求項5において、共焦点光学顕微鏡は蛍光を含む信号光を出力する出力ポートを有し、共焦点光学顕微鏡の出力ポートと受光ユニットの入力部とが光導体を介して光学的に接続される、受光ユニット。
  10. 請求項4または請求項6において、共焦点光学顕微鏡は蛍光を含む信号光を出力する出力ポートを有し、共焦点光学顕微鏡の出力ポートと受光ユニットの入力部とがマルチモード光導体を介して光学的に接続される、受光ユニット。
  11. 請求項1において、共焦点光学顕微鏡は、試料に対向される対物レンズと、試料から光を発生させるための光を取り込むための光入力ポートと、信号光を出力するための出力ポートとを有し、受光ユニットの入力部は共焦点光学顕微鏡の出力ポートと光学的に接続され、入力部と光学的に接続される出力ポートは光入力ポートよりも対物レンズから遠くに位置している、受光ユニット。
  12. 請求項11において、試料から光を発生させるための光は対物レンズによって一点に収束され、受光ユニットは、試料から光を発生させるための光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している、受光ユニット。
  13. 請求項12において、ピンホールを通過した光を検出するための光検出器をさらに有している、受光ユニット。
  14. 請求項12において、ピンホールを通過した光を出力するための光出力部をさらに有しており、光出力部は光検出器と光学的に接続される、受光ユニット。
  15. 請求項12において、入力部とピンホールの間に配置された、特定の偏光成分を選択的に透過する偏光素子をさらに有している、受光ユニット。
  16. 請求項11において、試料から光を発生させるための光は対物レンズによって一点に収束され、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は複数の波長の光を含んでおり、光抽出部は光を種類毎に分離して抽出し、受光ユニットは、光抽出部で抽出される光の波長の種類に対応した数のピンホールを有し、それらのピンホールは共に、試料から光を発生させるための光の収束点に対して共焦点の位置関係にある、受光ユニット。
  17. 請求項16において、ピンホールをそれぞれ通過した光を検出するための複数の光検出器をさらに有している、受光ユニット。
  18. 請求項16において、ピンホールをそれぞれ通過した光を出力するための複数の光出力部をさらに有しており、光出力部はそれぞれ複数の光検出器と光学的に接続される、受光ユニット。
  19. 請求項16において、光抽出部とピンホールの間にそれぞれ配置された、特定の偏光成分を選択的に透過する複数の偏光素子をさらに有している、受光ユニット。
  20. 請求項11〜請求項19のいずれかひとつにおいて、試料から光を発生させるための光が光パルスである、受光ユニット。
  21. 請求項11〜請求項19のいずれかひとつにおいて、信号光が試料から発せられた散乱光を含み、受光ユニットは、散乱光強度の測定と散乱光強度ゆらぎの相関解析と散乱光強度の偏光成分の測定との少なくとも一つに適用される、受光ユニット。
  22. 請求項11〜請求項19のいずれかひとつにおいて、信号光が試料から発せられた蛍光を含み、受光ユニットは、蛍光強度の測定と蛍光強度ゆらぎの相関解析と蛍光強度の偏光成分の測定との少なくとも一つに適用される、受光ユニット。
  23. 請求項11〜請求項19のいずれかひとつにおいて、化学発光と生物発光とりん光の測定のいずれか一つに適用される、受光ユニット。
  24. 試料から発せられる光を測定するための測定装置であり、
    試料から光を発生させるための光を発する光源部と、
    試料から光を発生させるための光を取り込むための光入力ポートと信号光を出力するための出力ポートとを有する共焦点光学顕微鏡と、
    共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットとを備えており、受光ユニットは、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光を取り込むための入力部と、入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の光を抽出する光抽出部とを有している、測定装置。
  25. 請求項24において、受光ユニットは、蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析のために共焦点光学顕微鏡に接続され、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は蛍光を含んでおり、光抽出部は、入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の蛍光を抽出する、測定装置。
  26. 請求項25において、受光ユニットは、蛍光を検出するための光検出器をさらに有し、光検出器はその受光面の手前に配置されたピンホールを有し、ピンホールはその蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している、測定装置。
  27. 請求項26において、光源部は複数種類の励起光を発し、共焦点光学顕微鏡は複数種類の蛍光を含む信号光を出力し、受光ユニットは蛍光の種類に対応した数の検出器を有し、光抽出部は蛍光を種類毎に分離して抽出し、検出器はそれぞれ対応する種類の蛍光を検出する、測定装置。
  28. 請求項25において、受光ユニットは、蛍光を出力するための蛍光出力部をさらに有し、蛍光出力部はピンホールを含み、ピンホールはその蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあり、測定装置はさらに、蛍光出力部と光学的に接続された、蛍光を検出するための光検出器を備えている、測定装置。
  29. 請求項28において、光源部は複数種類の励起光を発し、共焦点光学顕微鏡は複数種類の蛍光を含む信号光を出力し、受光ユニットは蛍光の種類に対応した数の蛍光出力部を有し、光抽出部は蛍光を種類毎に分離して抽出し、蛍光出力部はそれぞれ対応する種類の蛍光を出力する、測定装置。
  30. 請求項26〜請求項28のいずれかひとつにおいて、受光ユニットの入力部が共焦点光学顕微鏡の出力ポートに直接取り付けられている、測定装置。
  31. 請求項26または請求項28において、共焦点光学顕微鏡の出力ポートと受光ユニットの入力部とが光導体を介して光学的に接続される、測定装置。
  32. 請求項27または請求項29において、共焦点光学顕微鏡の出力ポートと受光ユニットの入力部とがマルチモード光導体を介して光学的に接続される、測定装置。
  33. 請求項24において、共焦点光学顕微鏡は、試料に対向される対物レンズを含み、受光ユニットの入力部は共焦点光学顕微鏡の出力ポートと光学的に接続され、出力ポートは光入力ポートよりも対物レンズから遠くに位置している、測定装置。
  34. 請求項33において、試料から光を発生させるための光は対物レンズによって一点に収束され、受光ユニットは、試料から光を発生させるための光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している、測定装置。
  35. 請求項34において、受光ユニットは、ピンホールを通過した光を検出するための光検出器をさらに有している、測定装置。
  36. 請求項34において、受光ユニットは、ピンホールを通過した光を出力するための光出力部をさらに有しており、光出力部は光検出器と光学的に接続される、測定装置。
  37. 請求項34において、受光ユニットは、入力部とピンホールの間に配置された、特定の偏光成分を選択的に透過する偏光素子をさらに有している、測定装置。
  38. 請求項33において、試料から光を発生させるための光は対物レンズによって一点に収束され、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は複数の波長の光を含んでおり、光抽出部は光を種類毎に分離して抽出し、受光ユニットは、光抽出部で抽出される光の波長の種類に対応した数のピンホールを有し、それらのピンホールは共に、試料から光を発生させるための光の収束点に対して共焦点の位置関係にある、測定装置。
  39. 請求項38において、受光ユニットは、ピンホールをそれぞれ通過した光を検出するための複数の光検出器をさらに有している、測定装置。
  40. 請求項38において、受光ユニットは、ピンホールをそれぞれ通過した光を出力するための複数の光出力部をさらに有しており、光出力部はそれぞれ複数の光検出器と光学的に接続される、測定装置。
  41. 請求項38において、受光ユニットは、光抽出部とピンホールの間にそれぞれ配置された、特定の偏光成分を選択的に透過する複数の偏光素子をさらに有している、測定装置。
  42. 請求項33〜請求項41のいずれかひとつにおいて、光源が光パルスの試料から光を発生させるための光を発する、測定装置。
  43. 請求項33〜請求項41のいずれかひとつにおいて、信号光が試料から発せられた散乱光を含み、散乱光強度の測定と散乱光強度ゆらぎの相関解析と散乱光強度の偏光成分の測定との少なくとも一つを行なう、測定装置。
  44. 請求項33〜請求項41のいずれかひとつにおいて、信号光が試料から発せられた蛍光を含み、受光ユニットは、蛍光強度の測定と蛍光強度ゆらぎの相関解析と蛍光強度の偏光成分の測定との少なくとも一つを行なう、測定装置。
  45. 請求項33〜請求項41のいずれかひとつにおいて、化学発光と生物発光とりん光の測定のいずれか一つを行なう、測定装置。
JP2004154902A 2003-05-30 2004-05-25 受光ユニットおよびそれを含む測定装置 Pending JP2005017282A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004154902A JP2005017282A (ja) 2003-05-30 2004-05-25 受光ユニットおよびそれを含む測定装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003155636 2003-05-30
JP2004154902A JP2005017282A (ja) 2003-05-30 2004-05-25 受光ユニットおよびそれを含む測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005017282A true JP2005017282A (ja) 2005-01-20

Family

ID=34196626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004154902A Pending JP2005017282A (ja) 2003-05-30 2004-05-25 受光ユニットおよびそれを含む測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005017282A (ja)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006208681A (ja) * 2005-01-27 2006-08-10 Olympus Corp 接続ユニットおよび光走査型蛍光観察装置
JP2006271347A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Shimadzu Corp 反応容器処理装置
JP2006300883A (ja) * 2005-04-25 2006-11-02 Shin Etsu Handotai Co Ltd 顕微ラマン微小パーティクル発見装置
WO2007037253A1 (ja) * 2005-09-27 2007-04-05 Olympus Corporation 光信号解析装置および光信号解析方法
JP2008225013A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡
JP2009521666A (ja) * 2005-10-12 2009-06-04 アラーガン、インコーポレイテッド 共鳴エネルギー移動後の偏光解消(daret)を用いる分子または細胞より小さい部分の相互作用力のアッセイ
JP2009152545A (ja) * 2007-11-26 2009-07-09 Olympus Corp 光源装置およびレーザ走査型顕微鏡
WO2012042886A1 (ja) * 2010-09-30 2012-04-05 富士フイルム株式会社 生体分子検出装置および生体分子検出方法
WO2012042882A1 (ja) * 2010-09-30 2012-04-05 富士フイルム株式会社 生体分子検出装置および生体分子検出方法
JP2013104876A (ja) * 2011-11-14 2013-05-30 Leica Microsystems Cms Gmbh 試料における励起状態の寿命を測定するための方法
KR101287189B1 (ko) 2010-08-18 2013-07-17 주식회사 나노엔텍 멀티 형광영상 관측용 형광현미경, 이를 이용한 형광영상의 관찰방법 및 멀티 형광영상 관측 시스템
JP2013156455A (ja) * 2012-01-30 2013-08-15 Olympus Corp 蛍光観察装置
EP2620763A4 (en) * 2010-10-19 2015-05-27 Olympus Corp OPTICAL ANALYSIS DEVICE FOR OBSERVING THE POLARIZATION CHARACTERISTICS OF A SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE, OPTICAL ANALYSIS METHOD, AND OPTICAL ANALYSIS COMPUTER PROGRAM
US9329117B2 (en) 2011-11-10 2016-05-03 Olympus Corporation Optical analysis device, optical analysis method and computer program for optical analysis using single light-emitting particle detection
JP2016521866A (ja) * 2013-06-09 2016-07-25 ボード・オブ・リージエンツ,ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム スペクトラム符号化に基づく高い消光比特性を有する偏光顕微鏡
JP2018529106A (ja) * 2015-07-31 2018-10-04 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh タイヤ用取扱装置
JP2020024125A (ja) * 2018-08-07 2020-02-13 キヤノン株式会社 自動分析装置、自動分析方法、および、プログラム
KR20200054255A (ko) * 2017-09-15 2020-05-19 애자일 포커스 디자인스, 엘엘씨 광시야, 공초점 및 다광자 현미경과 함께 사용하기 위한 동적 초점 및 줌 시스템

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001194305A (ja) * 2000-01-13 2001-07-19 Bunshi Biophotonics Kenkyusho:Kk 蛍光相関分光解析装置
JP2002139675A (ja) * 2000-10-31 2002-05-17 Olympus Optical Co Ltd レーザ顕微鏡
WO2002040953A1 (en) * 2000-11-17 2002-05-23 Carl Zeiss Jena Gmbh Method and apparatus for determining the polarization properties of light emitted, reflected or transmitted by a material using a laser scanning microscope
WO2002048693A1 (fr) * 2000-12-14 2002-06-20 Olympus Optical Co., Ltd. Analyseur fluorometrique et analyse fluorometrique
JP2002221663A (ja) * 2001-01-29 2002-08-09 Nikon Corp 走査型共焦点顕微鏡

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001194305A (ja) * 2000-01-13 2001-07-19 Bunshi Biophotonics Kenkyusho:Kk 蛍光相関分光解析装置
JP2002139675A (ja) * 2000-10-31 2002-05-17 Olympus Optical Co Ltd レーザ顕微鏡
WO2002040953A1 (en) * 2000-11-17 2002-05-23 Carl Zeiss Jena Gmbh Method and apparatus for determining the polarization properties of light emitted, reflected or transmitted by a material using a laser scanning microscope
WO2002048693A1 (fr) * 2000-12-14 2002-06-20 Olympus Optical Co., Ltd. Analyseur fluorometrique et analyse fluorometrique
JP2002221663A (ja) * 2001-01-29 2002-08-09 Nikon Corp 走査型共焦点顕微鏡

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006208681A (ja) * 2005-01-27 2006-08-10 Olympus Corp 接続ユニットおよび光走査型蛍光観察装置
JP2006271347A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Shimadzu Corp 反応容器処理装置
JP2006300883A (ja) * 2005-04-25 2006-11-02 Shin Etsu Handotai Co Ltd 顕微ラマン微小パーティクル発見装置
WO2007037253A1 (ja) * 2005-09-27 2007-04-05 Olympus Corporation 光信号解析装置および光信号解析方法
US8130383B2 (en) 2005-09-27 2012-03-06 Olympus Corporation Optical signal analysis apparatus and optical signal analysis method
JP2009521666A (ja) * 2005-10-12 2009-06-04 アラーガン、インコーポレイテッド 共鳴エネルギー移動後の偏光解消(daret)を用いる分子または細胞より小さい部分の相互作用力のアッセイ
JP2008225013A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡
JP2009152545A (ja) * 2007-11-26 2009-07-09 Olympus Corp 光源装置およびレーザ走査型顕微鏡
KR101287189B1 (ko) 2010-08-18 2013-07-17 주식회사 나노엔텍 멀티 형광영상 관측용 형광현미경, 이를 이용한 형광영상의 관찰방법 및 멀티 형광영상 관측 시스템
US9395527B2 (en) 2010-08-18 2016-07-19 Nanotek, Inc. Fluorescent microscope for observing multiple fluorescent images, fluorescent image surveying method using the same, and multiple fluorescent image observing system
US8581213B2 (en) 2010-09-30 2013-11-12 Fujifilm Corporation Biological molecule detecting apparatus and biological molecule detecting method
JP2012093336A (ja) * 2010-09-30 2012-05-17 Fujifilm Corp 生体分子検出装置および生体分子検出方法
WO2012042886A1 (ja) * 2010-09-30 2012-04-05 富士フイルム株式会社 生体分子検出装置および生体分子検出方法
WO2012042882A1 (ja) * 2010-09-30 2012-04-05 富士フイルム株式会社 生体分子検出装置および生体分子検出方法
EP2620763A4 (en) * 2010-10-19 2015-05-27 Olympus Corp OPTICAL ANALYSIS DEVICE FOR OBSERVING THE POLARIZATION CHARACTERISTICS OF A SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE, OPTICAL ANALYSIS METHOD, AND OPTICAL ANALYSIS COMPUTER PROGRAM
US9329117B2 (en) 2011-11-10 2016-05-03 Olympus Corporation Optical analysis device, optical analysis method and computer program for optical analysis using single light-emitting particle detection
JP2013104876A (ja) * 2011-11-14 2013-05-30 Leica Microsystems Cms Gmbh 試料における励起状態の寿命を測定するための方法
JP2013156455A (ja) * 2012-01-30 2013-08-15 Olympus Corp 蛍光観察装置
JP2016521866A (ja) * 2013-06-09 2016-07-25 ボード・オブ・リージエンツ,ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム スペクトラム符号化に基づく高い消光比特性を有する偏光顕微鏡
JP2018529106A (ja) * 2015-07-31 2018-10-04 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh タイヤ用取扱装置
KR20200054255A (ko) * 2017-09-15 2020-05-19 애자일 포커스 디자인스, 엘엘씨 광시야, 공초점 및 다광자 현미경과 함께 사용하기 위한 동적 초점 및 줌 시스템
KR102625431B1 (ko) 2017-09-15 2024-01-17 애자일 포커스 디자인스, 엘엘씨 광시야, 공초점 및 다광자 현미경과 함께 사용하기 위한 동적 초점 및 줌 시스템
JP2020024125A (ja) * 2018-08-07 2020-02-13 キヤノン株式会社 自動分析装置、自動分析方法、および、プログラム
JP7077175B2 (ja) 2018-08-07 2022-05-30 キヤノン株式会社 自動分析装置、自動分析方法、および、プログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7196339B2 (en) Light-receiving unit and measuring apparatus including the same
JP2005017282A (ja) 受光ユニットおよびそれを含む測定装置
JP4315794B2 (ja) 共焦点顕微鏡
JP5781118B2 (ja) 光分析装置、光分析方法並びに光分析用コンピュータプログラム
US7268878B2 (en) Fluorescence correlation spectroscopy instrument and method of using the same
JP2004170977A (ja) 分解能の深度で試料を光学的に把握する方法および配置
US8964183B2 (en) Systems and methods for screening of biological samples
US6674573B2 (en) Laser microscope
Ulrich et al. Compact multiphoton/single photon laser scanning microscope for spectral imaging and fluorescence lifetime imaging
JP5592108B2 (ja) 干渉共焦点顕微鏡および光源撮像方法
US9528923B2 (en) Optical analysis device, optical analysis method and computer program for optical analysis using single light-emitting particle detection
JPH02268256A (ja) 半導体試料の螢光特性検査装置
CN106198951B (zh) 一种生物传感标定方法、标定系统及疾病检测系统
US9103718B2 (en) Optical analysis device and optical analysis method using a wavelength characteristic of light of a single light-emitting particle
JP2004361087A (ja) 生体分子解析装置
US7545498B2 (en) System and method for removing auto-fluorescence through the use of multiple detection channels
JP2004191251A (ja) 蛍光分光分析装置
JP2013036765A (ja) 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
WO2013021984A1 (ja) 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析装置及び光分析方法
JP2016537674A (ja) エバネッセント照明及び点状ラスタスキャン照明のための顕微鏡
JP2005524069A (ja) 励起光源として発光ダイオードを有する蛍光検出装置及び方法
US20120228518A1 (en) Fluorescence correlation spectroscopy system for analyzing particles in a medium
JPH11326051A (ja) 蛍光色素の検知装置
JPH10227694A (ja) 発光現象識別装置
CN114280017A (zh) 微机械界面纳米级缺陷检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100112

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100315

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100406

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100803