JP2005017282A - 受光ユニットおよびそれを含む測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】測定装置100は、共焦点光学顕微鏡110と、蛍光物質から蛍光を発生させるための励起光を発する励起光源部130と、受光ユニット140とを有している。共焦点光学顕微鏡110は、励起光源部130からの励起光を取り込むための励起光入力ポート112と、励起光により発生された蛍光を出力するための出力ポート113とを有している。受光ユニット140は、共焦点光学顕微鏡110からの蛍光を含む信号光を取り込むための入力部141を有している。受光ユニット140の入力部141は、光ファイバー153を介して、共焦点光学顕微鏡110の出力ポート113と光学的に接続される。
【選択図】 図3
Description
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析(FCS)を行なう測定装置に向けられている。図1は、本発明の第一実施形態に従う共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の全体構成を示している。図2は、図1に示される測定装置の外観を概略的に示している。図3は、図1に示される受光ユニットの構成を示している。図4は、図1に示される測定装置とその信号処理系とを示している。
本実施形態において、受光ユニット140は、図2に示されるように、共焦点光学顕微鏡110から独立した分離ユニット構造となっており、光ファイバーを介して共焦点光学顕微鏡110と光学的に接続される。受光ユニットは少なくとも集光レンズとフィルターを備えている。フィルターは、試料からの蛍光波長だけを選択的に透過させるスペクトル特性を持つフィルターで構成される。また受光ユニットは、図3に示されるように、集光レンズとフィルターに加えて光検出器を備えていてもよい。この光強度ゆらぎユニットは光接続端子により容易に着脱できる。光強度ゆらぎの測定を行なわないときは、光接続端子部分で顕微鏡本体から切り離しておいてもよい。
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう別の測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置は、光検出器のレイアウトの点において、第一実施形態の測定装置と相違している。
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう別の測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置は、共焦点光学顕微鏡と受光ユニットとの間の光学的接続の点において、第一実施形態の測定装置と相違している。
本実施形態は、共焦点走査型レーザー顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置に向けられている。図7は、本発明の第四実施形態に従う共焦点走査型レーザー顕微鏡を利用して蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析を行なう測定装置の全体構成を示している。
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の時間分解測定を行なう測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置の構成は、第二実施形態の測定装置とほとんど同じである。
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して、蛍光偏光解消など、試料内の蛍光物質から発せられる蛍光の偏光特性の変化や偏光度などの測定を行なう測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置の構成は、第二実施形態の測定装置に似ている。
本実施形態は、共焦点光学顕微鏡を利用して蛍光の偏光に関する測定を行なう別の測定装置に向けられている。本実施形態の測定装置の構成は、第六実施形態の測定装置とほとんど同じである。
例えば図8の測定装置を用いて、蛍光共鳴エネルギー移動(Fluorescence Resonance Energy Transfer:FRET)を求め、たんぱく質の結合や解離を知ることができる。例えば細胞内カルシウムイオン濃度の定量測定を行なうことができる。また、生体高分子のさまざまな部位間の距離や、生体高分子の三次元構造、四次元構造、その動的変化も測定することができる。
測定機器からの出力信号(光、音波、電流等)に応じた伝播手段を有する信号伝播機構と、
信号伝播機構により伝播された信号を受信してその信号に含まれる特定のパラメータを取得する素子とを有することを特徴とする測定信号処理ユニット。
測定処理ユニットと接続した測定機器とを備え、
測定機器が、演算後データを視認可能な表現形式により可視化するデータ可視化手段を有することを特徴とする測定信号処理ユニットを有する測定機器システム。
測定処理ユニットと接続した測定機器とを備え、
測定機器が測定に必要な信号源(光、音波、電流等)を伝播する伝播手段を有するとともに伝播手段に対して機器の外部から伝播信号を入力可能な外部入力部を有し、
外部入力部に接続可能な接続部と接続部を通じて測定処理ユニットによる演算に必要な伝播信号を導入する信号源導入ユニットとを有する測定機器システム。
Claims (45)
- 試料から発せられる光を受光するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットであり、
共焦点光学顕微鏡から出力される信号光を取り込むための入力部と、
入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の光を抽出する光抽出部とを有している、受光ユニット。 - 請求項1において、受光ユニットは、蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析のために共焦点光学顕微鏡に接続され、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は蛍光を含んでおり、光抽出部は、入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の蛍光を抽出する、受光ユニット。
- 請求項2において、蛍光を検出するための光検出器と、光検出器の手前に配置されたピンホールとを有し、ピンホールはその蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にある、受光ユニット。
- 請求項3において、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は複数種類の蛍光を含んでおり、光抽出部は蛍光を種類毎に分離して抽出し、受光ユニットは、使用する複数色の蛍光色素に対応する吸収波長毎の検出器を有している、受光ユニット。
- 請求項2において、蛍光を出力するための蛍光出力部をさらに有し、蛍光出力部はピンホールを含み、ピンホールはその蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあり、蛍光出力部は蛍光を検出するための光検出器と光学的に接続される、受光ユニット。
- 請求項5において、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は複数種類の蛍光を含んでおり、光抽出部は蛍光を種類毎に分離して抽出し、受光ユニットは、蛍光の種類に対応した数の蛍光出力部を有している、受光ユニット。
- 請求項5または請求項6において、蛍光出力部と光検出器とが光導体を介して光学的に接続される、受光ユニット。
- 請求項3〜請求項5のいずれかひとつにおいて、共焦点光学顕微鏡は蛍光を含む信号光を出力する出力ポートを有し、共焦点光学顕微鏡の出力ポートに受光ユニットの入力部が直接取り付けられる、受光ユニット。
- 請求項3または請求項5において、共焦点光学顕微鏡は蛍光を含む信号光を出力する出力ポートを有し、共焦点光学顕微鏡の出力ポートと受光ユニットの入力部とが光導体を介して光学的に接続される、受光ユニット。
- 請求項4または請求項6において、共焦点光学顕微鏡は蛍光を含む信号光を出力する出力ポートを有し、共焦点光学顕微鏡の出力ポートと受光ユニットの入力部とがマルチモード光導体を介して光学的に接続される、受光ユニット。
- 請求項1において、共焦点光学顕微鏡は、試料に対向される対物レンズと、試料から光を発生させるための光を取り込むための光入力ポートと、信号光を出力するための出力ポートとを有し、受光ユニットの入力部は共焦点光学顕微鏡の出力ポートと光学的に接続され、入力部と光学的に接続される出力ポートは光入力ポートよりも対物レンズから遠くに位置している、受光ユニット。
- 請求項11において、試料から光を発生させるための光は対物レンズによって一点に収束され、受光ユニットは、試料から光を発生させるための光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している、受光ユニット。
- 請求項12において、ピンホールを通過した光を検出するための光検出器をさらに有している、受光ユニット。
- 請求項12において、ピンホールを通過した光を出力するための光出力部をさらに有しており、光出力部は光検出器と光学的に接続される、受光ユニット。
- 請求項12において、入力部とピンホールの間に配置された、特定の偏光成分を選択的に透過する偏光素子をさらに有している、受光ユニット。
- 請求項11において、試料から光を発生させるための光は対物レンズによって一点に収束され、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は複数の波長の光を含んでおり、光抽出部は光を種類毎に分離して抽出し、受光ユニットは、光抽出部で抽出される光の波長の種類に対応した数のピンホールを有し、それらのピンホールは共に、試料から光を発生させるための光の収束点に対して共焦点の位置関係にある、受光ユニット。
- 請求項16において、ピンホールをそれぞれ通過した光を検出するための複数の光検出器をさらに有している、受光ユニット。
- 請求項16において、ピンホールをそれぞれ通過した光を出力するための複数の光出力部をさらに有しており、光出力部はそれぞれ複数の光検出器と光学的に接続される、受光ユニット。
- 請求項16において、光抽出部とピンホールの間にそれぞれ配置された、特定の偏光成分を選択的に透過する複数の偏光素子をさらに有している、受光ユニット。
- 請求項11〜請求項19のいずれかひとつにおいて、試料から光を発生させるための光が光パルスである、受光ユニット。
- 請求項11〜請求項19のいずれかひとつにおいて、信号光が試料から発せられた散乱光を含み、受光ユニットは、散乱光強度の測定と散乱光強度ゆらぎの相関解析と散乱光強度の偏光成分の測定との少なくとも一つに適用される、受光ユニット。
- 請求項11〜請求項19のいずれかひとつにおいて、信号光が試料から発せられた蛍光を含み、受光ユニットは、蛍光強度の測定と蛍光強度ゆらぎの相関解析と蛍光強度の偏光成分の測定との少なくとも一つに適用される、受光ユニット。
- 請求項11〜請求項19のいずれかひとつにおいて、化学発光と生物発光とりん光の測定のいずれか一つに適用される、受光ユニット。
- 試料から発せられる光を測定するための測定装置であり、
試料から光を発生させるための光を発する光源部と、
試料から光を発生させるための光を取り込むための光入力ポートと信号光を出力するための出力ポートとを有する共焦点光学顕微鏡と、
共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットとを備えており、受光ユニットは、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光を取り込むための入力部と、入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の光を抽出する光抽出部とを有している、測定装置。 - 請求項24において、受光ユニットは、蛍光の強度ゆらぎの相関分光解析のために共焦点光学顕微鏡に接続され、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は蛍光を含んでおり、光抽出部は、入力部を介して取り込まれた信号光から検出すべき特定の蛍光を抽出する、測定装置。
- 請求項25において、受光ユニットは、蛍光を検出するための光検出器をさらに有し、光検出器はその受光面の手前に配置されたピンホールを有し、ピンホールはその蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している、測定装置。
- 請求項26において、光源部は複数種類の励起光を発し、共焦点光学顕微鏡は複数種類の蛍光を含む信号光を出力し、受光ユニットは蛍光の種類に対応した数の検出器を有し、光抽出部は蛍光を種類毎に分離して抽出し、検出器はそれぞれ対応する種類の蛍光を検出する、測定装置。
- 請求項25において、受光ユニットは、蛍光を出力するための蛍光出力部をさらに有し、蛍光出力部はピンホールを含み、ピンホールはその蛍光を発生させる励起光の収束点に対して共焦点の位置関係にあり、測定装置はさらに、蛍光出力部と光学的に接続された、蛍光を検出するための光検出器を備えている、測定装置。
- 請求項28において、光源部は複数種類の励起光を発し、共焦点光学顕微鏡は複数種類の蛍光を含む信号光を出力し、受光ユニットは蛍光の種類に対応した数の蛍光出力部を有し、光抽出部は蛍光を種類毎に分離して抽出し、蛍光出力部はそれぞれ対応する種類の蛍光を出力する、測定装置。
- 請求項26〜請求項28のいずれかひとつにおいて、受光ユニットの入力部が共焦点光学顕微鏡の出力ポートに直接取り付けられている、測定装置。
- 請求項26または請求項28において、共焦点光学顕微鏡の出力ポートと受光ユニットの入力部とが光導体を介して光学的に接続される、測定装置。
- 請求項27または請求項29において、共焦点光学顕微鏡の出力ポートと受光ユニットの入力部とがマルチモード光導体を介して光学的に接続される、測定装置。
- 請求項24において、共焦点光学顕微鏡は、試料に対向される対物レンズを含み、受光ユニットの入力部は共焦点光学顕微鏡の出力ポートと光学的に接続され、出力ポートは光入力ポートよりも対物レンズから遠くに位置している、測定装置。
- 請求項33において、試料から光を発生させるための光は対物レンズによって一点に収束され、受光ユニットは、試料から光を発生させるための光の収束点に対して共焦点の位置関係にあるピンホールを有している、測定装置。
- 請求項34において、受光ユニットは、ピンホールを通過した光を検出するための光検出器をさらに有している、測定装置。
- 請求項34において、受光ユニットは、ピンホールを通過した光を出力するための光出力部をさらに有しており、光出力部は光検出器と光学的に接続される、測定装置。
- 請求項34において、受光ユニットは、入力部とピンホールの間に配置された、特定の偏光成分を選択的に透過する偏光素子をさらに有している、測定装置。
- 請求項33において、試料から光を発生させるための光は対物レンズによって一点に収束され、共焦点光学顕微鏡から出力される信号光は複数の波長の光を含んでおり、光抽出部は光を種類毎に分離して抽出し、受光ユニットは、光抽出部で抽出される光の波長の種類に対応した数のピンホールを有し、それらのピンホールは共に、試料から光を発生させるための光の収束点に対して共焦点の位置関係にある、測定装置。
- 請求項38において、受光ユニットは、ピンホールをそれぞれ通過した光を検出するための複数の光検出器をさらに有している、測定装置。
- 請求項38において、受光ユニットは、ピンホールをそれぞれ通過した光を出力するための複数の光出力部をさらに有しており、光出力部はそれぞれ複数の光検出器と光学的に接続される、測定装置。
- 請求項38において、受光ユニットは、光抽出部とピンホールの間にそれぞれ配置された、特定の偏光成分を選択的に透過する複数の偏光素子をさらに有している、測定装置。
- 請求項33〜請求項41のいずれかひとつにおいて、光源が光パルスの試料から光を発生させるための光を発する、測定装置。
- 請求項33〜請求項41のいずれかひとつにおいて、信号光が試料から発せられた散乱光を含み、散乱光強度の測定と散乱光強度ゆらぎの相関解析と散乱光強度の偏光成分の測定との少なくとも一つを行なう、測定装置。
- 請求項33〜請求項41のいずれかひとつにおいて、信号光が試料から発せられた蛍光を含み、受光ユニットは、蛍光強度の測定と蛍光強度ゆらぎの相関解析と蛍光強度の偏光成分の測定との少なくとも一つを行なう、測定装置。
- 請求項33〜請求項41のいずれかひとつにおいて、化学発光と生物発光とりん光の測定のいずれか一つを行なう、測定装置。
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