JP2013104876A - 試料における励起状態の寿命を測定するための方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、試料における励起状態の寿命、特に蛍光寿命を測定するための方法、およびかかる方法を実行するための装置に関する。最初に、励起パルスが生成され、試料領域が、励起パルスで照明される。次に、励起パルスのパワー・時間プロファイルを表す第1のデジタルデータシーケンスが生成され、第1のスイッチング瞬間が、第1のデジタルデータシーケンスから決定される。さらに、試料領域から発する検出光が、検出器によって検出され、検出光のパワー・時間プロファイルを表す第2のデジタルデータシーケンスが生成され、第2のスイッチング瞬間が、第2のデジタルデータシーケンスから決定される。最後に、第1および第2のスイッチング瞬間の間の時間差が計算される。
【選択図】図1
Description
a. 励起パルスを生成し、励起パルスで試料領域を照明するステップと、
b. 励起パルスのパワー・時間プロファイルを表す第1のデジタルデータシーケンスを生成するステップと、
c. 第1のデジタルデータシーケンスから第1のスイッチング瞬間を決定するステップと、
d. 試料領域から発する検出光を検出器によって検出するステップと、
e. 検出光のパワー・時間プロファイルを表す第2のデジタルデータシーケンスを生成するステップと、
f. 第2のデジタルデータシーケンスから第2のスイッチング瞬間を決定するステップと、
g. 第1および第2のスイッチング瞬間の間の時間差を計算するステップと、
を含む方法によって達成される。
a. 励起パルスのパワー・時間プロファイルを表す第1のデジタルデータシーケンスを生成し、
b. 第1のデジタルデータシーケンスから第1のスイッチング瞬間を決定し、
c. 検出光のパワー・時間プロファイルを表す第2のデジタルデータシーケンスを生成し、
d. 第2のデジタルデータシーケンスから第2のスイッチング瞬間を決定し、
e. 第1および第2のスイッチング瞬間の間の時間差を計算する制御機器を含む上記のタイプの装置によって達成される。
2 光源
3 パルスレーザ
4 プライマリー光ビーム
5 ビームスプリッタ
6 測定ビーム
7 励起検出器
8 励起ビーム
9 制御機器
10 照明ピンホール
11 メインビームスプリッタ
12 走査機器
13 走査ミラー
14 走査光学系
15 チューブ光学系
16 顕微鏡対物レンズ
17 試料
18 検出光
19 検出ピンホール
20 検出器
21 励起光のパワー・時間プロファイル
22 検出光のパワー・時間プロファイル
23 光子事象
24 励起パルス
25 第1のデジタルデータシーケンス
26 第2のデジタルデータシーケンス
27 第1のスイッチング瞬間
28 第2のスイッチング瞬間
29 第1の直並列変換器
30 相関ユニット
31 コンスタントフラクション弁別器
32 比較器
33 第2の直並列変換器
34 走査制御ユニット
35 ユニット
36 メモリ
37 電気信号
38 デジタルデータシーケンス
39 遅延ステージ
40 直並列変換器
41 組み合わせおよび相関ユニット
42 第1のコンスタントフラクション弁別器
43 第1の比較器
Claims (37)
- 試料における励起状態の寿命、特に蛍光寿命を測定するための方法であって、
a.励起パルスを生成し、前記励起パルスで試料領域を照明するステップと、
b.前記励起パルスのパワー・時間プロファイルを表す第1のデジタルデータシーケンスを生成するステップと、
c.前記第1のデジタルデータシーケンスから第1のスイッチング瞬間を決定するステップと、
d.前記試料領域から発する検出光を検出器によって検出するステップと、
e.前記検出光のパワー・時間プロファイルを表す第2のデジタルデータシーケンスを生成するステップと、
f.前記第2のデジタルデータシーケンスから第2のスイッチング瞬間を決定するステップと、
g.前記第1および第2のスイッチング瞬間の間の時間差を計算するステップと、
を備えて構成される、方法。 - a.前記ステップa〜gが周期的に繰り返され、および/またはb.前記ステップa〜gが一定の繰り返し周波数で周期的に繰り返される、請求項1に記載の方法。
- 前記励起パルスがプライマリー光パルスから生じ、前記プライマリー光パルスの一部が、前記プライマリー光パルスの前記一部におけるパワーの時間プロファイルに振幅・時間プロファイルが依存する第1のアナログ電気信号を生成する励起検出器に送られ、前記第1のデジタルデータシーケンスを生成するために、前記第1のアナログ電気信号が、特に定義済みおよび/または予め定義可能な第1の時間スロットにて経時的にサンプリングされる、請求項1または2に記載の方法。
- ちょうどサンプリングされた振幅が定義済みおよび/または定義可能な第1の励起閾値未満である場合に、より低い標準化信号が生成され、またはちょうどサンプリングされた振幅が定義済みおよび/または定義可能な第2の励起閾値を超える場合に、前記より低い標準化信号とは異なるより高い標準化信号が生成されるように、前記第1のデータシーケンスが、標準化電気信号から、特に2進数で生成される、請求項3に記載の方法。
- 前記検出器が、前記検出光のパワーにおける時間プロファイルに振幅・時間プロファイルが依存する第2のアナログ電気信号を生成し、かつ前記第2のデジタルデータシーケンスを生成するために、前記第2のアナログ電気信号が、特に定義済みおよび/または予め定義可能な第2の時間スロットにて経時的にサンプリングされる、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- ちょうどサンプリングされた振幅が定義済みおよび/または定義可能な第1の検出閾値未満である場合に、より低い標準化信号が生成され、またはちょうどサンプリングされた振幅が定義済みおよび/または定義可能な第2の検出閾値を超える場合に、前記より低い標準化信号とは異なるより高い標準化信号が生成されるように、前記第2のデータシーケンスが、標準化電気信号から、特に2進数で生成される、請求項5に記載の方法。
- a.前記第1および/または前記第2のアナログ電気信号が、前記繰り返し周波数より著しく高いサンプリング周波数でサンプリングされ、および/またはb.前記第1および/または前記第2のアナログ電気信号が、前記繰り返し周波数の50倍を超える、特に100倍を超えるサンプリング周波数でサンプリングされ、および/またはc.前記第1および/または前記第2のアナログ電気信号が、前記繰り返し周波数より約125倍のサンプリング周波数でサンプリングされ、および/またはd.前記第1および/または前記第2のアナログ電気信号が、10GHzのサンプリング周波数でサンプリングされる一方で繰り返し周波数が80MHzである、請求項3〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 時間分解能を向上させるために、
a.前記第1のアナログ電気信号が、繰り返しサンプリングされ、および/または
b.前記第1のアナログ電気信号が繰り返しサンプリングされるが、時間スロットより短い、特に連続的に調整可能な、時間オフセットでサンプリングされ、および/または
c.前記第1のアナログ電気信号がn回サンプリングされるが、時間スロットのn番目の部分に対応する時間オフセットでサンプリングされ、および/または
d.前記第2のアナログ電気信号が、繰り返しサンプリングされ、および/または
e.前記第2のアナログ電気信号が繰り返しサンプリングされるが、時間スロットより短い、特に連続的に調整可能な、時間オフセットでサンプリングされ、および/または
f.前記第2のアナログ電気信号がn回サンプリングされるが、時間スロットのn番目の部分に対応する時間オフセットでサンプリングされる、請求項3〜7のいずれか一項に記載の方法。 - 多重サンプリングのサンプリング結果が、数学的に組み合わされ、特にインターリーブされて、前記第1のデータシーケンスおよび前記第2のデータシーケンスをそれぞれ生成する、請求項8に記載の方法。
- a.前記第1のデジタルデータシーケンスの生成が、比較器および/またはコンスタントフラクション弁別器を含む第1のサンプリング装置を用いて達成され、および/またはb.前記第2のデジタルデータシーケンスの生成が、比較器および/またはコンスタントフラクション弁別器を含む第2のサンプリング装置を用いて達成される、請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第1のデータシーケンスが、特に第1の直並列変換器によって、第1の並列データワードに変換され、および/または前記第2のデータシーケンスが、特に第2の直並列変換器によって、第2の並列データワードに変換される、請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法。
- 前記データワードがそれぞれ、連続励起パルス間の時間間隔と少なくとも同じ長さ、特に正確に同じ長さである測定期間を表す、請求項11に記載の方法。
- 前記第1のスイッチング瞬間が、
a.前記第1のデータシーケンスおよび/または第1のデータワード内における、より低い標準化信号からより高い標準化信号への変化、またはより高い標準化信号からより低い標準化信号への変化が存在する瞬間であるように、または
b.前記第1のデータシーケンスおよび/または前記第1のデータワード内における、より低い標準化信号からより高い標準化信号への第1の変化の瞬間、およびより高い標準化信号からより低い標準化信号への第2の変化の瞬間から計算され、特に前記変化間の時間間隔の算術平均を計算することによって計算される瞬間であるように定義される、請求項1〜12のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第2のスイッチング瞬間が、
a.前記第2のデータシーケンスおよび/または第2のデータワード内における、より低い標準化信号からより高い標準化信号への変化、またはより高い標準化信号からより低い標準化信号への変化が存在する瞬間であるように、または
b.前記第2のデータシーケンスおよび/または第2のデータワード内における、より低い標準化信号からより高い標準化信号への第1の変化の瞬間、およびより高い標準化信号からより低い標準化信号への第2の変化の前記瞬間から計算され、特に、前記変化間の時間間隔の算術平均を計算することによって計算される瞬間であるように定義される、請求項1〜13のいずれか一項に記載の方法。 - 複数の計算された時間差の少なくとも1つの度数分布が生成される、請求項1〜14のいずれか一項に記載の方法。
- a.異なる試料領域、特に、互いに隣接するか、および/または走査線にて互いに隣接して配置された試料領域が、励起状態の寿命に関して次々に連続して分析され、および/またはb.異なる試料領域、特に、互いに隣接するか、および/または走査線にて互いに隣接して配置された試料領域が、励起状態の寿命に関して次々に連続して分析され、位置情報が、各試料領域のデータシーケンスおよび/またはデータワードおよび/または度数分布および/または時間差に追加され、c.異なる試料領域、特に、互いに隣接するか、および/または走査線にて互いに隣接して配置された試料領域が、励起状態の寿命に関して次々に連続して分析され、前記試料の蛍光寿命画像(FLIM)が生成される、請求項1〜14のいずれか一項に記載の方法。
- 前記励起光および/または前記検出光を操作するため走査機器が用いられる、請求項1〜15のいずれか一項に記載の方法。
- 請求項1〜17のいずれか一項に記載の方法を実行するための装置。
- 試料における励起状態の寿命、特に蛍光寿命を測定するための装置にして、励起パルスで試料領域を照明するために前記励起パルスを生成するための光源、および前記試料領域から発する検出光を検出するための検出器を有する装置であって、
a.前記励起パルスのパワー・時間プロファイルを表す第1のデジタルデータシーケンスを生成し、
b.前記第1のデジタルデータシーケンスから第1のスイッチング瞬間を決定し、
c.前記検出光のパワー・時間プロファイルを表す第2のデジタルデータシーケンスを生成し、
d.前記第2のデジタルデータシーケンスから第2のスイッチング瞬間を決定し、かつ
e.前記第1および第2のスイッチング瞬間の間の時間差を計算する制御機器が設けられている、装置。 - 前記光源が、特に一定の繰り返し周波数で励起パルスシーケンスを生成し、前記制御機器が、ステップa〜eを周期的に繰り返す、請求項19に記載の装置。
- 前記光源が、前記励起パルスを含む励起ビームと測定ビームとにビームスプリッタによって分割されるプライマリービームを生成し、励起検出器が、前記測定ビームを受信し、かつ前記測定ビームのパワーにおける時間プロファイルに振幅・時間プロファイルが依存する第1のアナログ電気信号を生成し、かつ前記第1のデジタルデータシーケンスを生成するために、前記制御機器が、特に定義済みおよび/または予め定義可能な第1の時間スロットにて前記第1のアナログ電気信号を経時的にサンプリングする、請求項19または20に記載の装置。
- ちょうどサンプリングされた振幅が定義済みおよび/または定義可能な第1の励起閾値未満である場合に、より低い標準化信号が生成され、またはちょうどサンプリングされた振幅が定義済みおよび/または定義可能な第2の励起閾値を超える場合に、前記より低い標準化信号とは異なるより高い標準化信号が生成されるように、前記制御機器が、標準化電気信号から第1のデータシーケンスを特に2進数で生成する、請求項19〜21のいずれか一項に記載の装置。
- 前記検出器が、前記検出光のパワーにおける時間プロファイルに振幅・時間プロファイルが依存する第2のアナログ電気信号を生成し、かつ前記第2のデジタルデータシーケンスを生成するために、前記制御機器が、特に定義済みおよび/または予め定義可能な第2の時間スロットにて前記第2のアナログ電気信号を経時的にサンプリングする、請求項19〜22のいずれか一項に記載の装置。
- ちょうどサンプリングされた振幅が定義済みおよび/または定義可能な第1の検出閾値未満である場合に、より低い標準化信号が生成され、またはちょうどサンプリングされた振幅が定義済みおよび/または定義可能な第2の検出閾値を超える場合に、前記より低い標準化信号とは異なるより高い標準化信号が生成されるように、前記制御機器が、標準化電気信号から前記第2のデータシーケンスを特に2進数で生成する、請求項19〜23のいずれか一項に記載の装置。
- 前記制御機器が、
a.前記繰り返し周波数より著しく高いサンプリング周波数で、前記第1および/または前記第2のアナログ電気信号をサンプリングし、および/またはb.前記繰り返し周波数の50倍を超える、特に100倍を超えるサンプリング周波数で、前記第1および/または前記第2のアナログ電気信号をサンプリングし、および/またはc.前記繰り返し周波数より約125倍のサンプリング周波数で、前記第1および/または前記第2のアナログ電気信号をサンプリングし、および/またはd.10GHzのサンプリング周波数で前記第1および/または前記第2のアナログ電気信号をサンプリングする一方で、前記繰り返し周波数が80MHzである、請求項21〜24のいずれか一項に記載の装置。 - 時間分解能を向上させるために、前記制御機器が、
a.前記第1のアナログ電気信号を繰り返しサンプリングし、および/またはb.前記第1のアナログ電気信号を繰り返しサンプリングするが、時間スロットより短い時間オフセットでサンプリングし、および/またはc.前記第1のアナログ電気信号をn回サンプリングするが、時間スロットのn番目の部分に対応する時間オフセットでサンプリングし、および/またはd.前記第2のアナログ電気信号を繰り返しサンプリングし、および/またはe.前記第2のアナログ電気信号を繰り返しサンプリングするが、時間スロットより短い時間オフセットでサンプリングし、および/またはf.前記第2のアナログ電気信号をn回サンプリングするが、時間スロットのn番目の部分に対応する時間オフセットでサンプリングする、請求項21〜25のいずれか一項に記載の装置。 - 前記制御機器が、多重サンプリングのサンプリング結果を数学的に組み合わせ、特にインターリーブして、前記第1のデータシーケンスおよび前記第2のデータシーケンスをそれぞれ生成する、請求項26に記載の装置。
- a.前記第1のデジタルデータシーケンスの生成が、比較器および/またはコンスタントフラクション弁別器を含む第1のサンプリング装置を用いて達成され、および/またはb.前記第2のデジタルデータシーケンスの生成が、比較器および/またはコンスタントフラクション弁別器を含む第2のサンプリング装置を用いて達成される、請求項19〜27のいずれか一項に記載の装置。
- 前記第1のデータシーケンスを第1の並列データワードに変換するために第1の直並列変換器が設けられ、および/または前記第2のデータシーケンスを第2の並列データワードに変換するために第2の直並列変換器が設けられる、請求項19〜28のいずれか一項に記載の装置。
- 前記第1および/または前記第2の直並列変換器が、連続励起パルス間の時間間隔と少なくとも同じ長さ、特に正確に同じ長さである測定期間をそれぞれ表すデータワードを生成する、請求項29に記載の装置。
- a.前記制御機器が、前記第1のデータシーケンスおよび/または第1のデータワード内における、より低い標準化信号からより高い標準化信号への変化、またはより高い標準化信号からより低い標準化信号への変化が存在する瞬間であるように第1のスイッチング瞬間を定義し、または
b.前記制御機器が、前記第1のデータシーケンスおよび/または第1のデータワード内における、より低い標準化信号からより高い標準化信号への第1の変化の瞬間、およびより高い標準化信号からより低い標準化信号への第2の変化の前記瞬間から第1のスイッチング瞬間を計算し、特に算術平均を計算することによって計算する、請求項19〜30のいずれか一項に記載の装置。 - a.前記制御機器が、前記第2のデータシーケンスおよび/または第2のデータワード内における、より低い標準化信号からより高い標準化信号への変化、またはより高い標準化信号からより低い標準化信号への変化が存在する瞬間であるように第2のスイッチング瞬間を定義し、または
b.前記制御機器が、前記第2のデータシーケンスおよび/または第2のデータワード内における、より低い標準化信号からより高い標準化信号への第1の変化の瞬間、およびより高い標準化信号からより低い標準化信号への第2の変化の瞬間から第2のスイッチング瞬間を計算し、特に算術平均を計算することによって計算する、請求項19〜31のいずれか一項に記載の装置。 - 前記制御機器が、複数の計算された時間差の少なくとも1つの度数分布を生成する、請求項19〜31のいずれか一項に記載の装置。
- a.前記励起光を異なる試料位置に導くため、および/または試料を走査するため走査機器が設けられ、および/または
b.前記励起光を異なる試料位置に導くため、および/または試料を走査するため走査機器が設けられ、前記制御機器が、前記走査機器の特定位置に関する位置情報を、各試料領域のデータシーケンスおよび/またはデータワードおよび/または度数分布および/または時間差に追加する、請求項19〜33のいずれか一項に記載の装置。 - 前記制御機器および/または前記サンプリング装置の少なくとも1つおよび/または前記直並列変換器の少なくとも1つが、プログラマブル集積回路、特にフィールドプログラマブルゲートアレイ(一言でいえばFPGA)の一部を形成する、請求項19〜34のいずれか一項に記載の装置。
- 走査顕微鏡、特に共焦点走査顕微鏡の一部を形成する、請求項19〜34のいずれか一項に記載の装置。
- 請求項19〜35のいずれか一項に記載の装置を含む走査顕微鏡。
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