JPH01270644A - 粒子解析装置 - Google Patents
粒子解析装置Info
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- JPH01270644A JPH01270644A JP10057288A JP10057288A JPH01270644A JP H01270644 A JPH01270644 A JP H01270644A JP 10057288 A JP10057288 A JP 10057288A JP 10057288 A JP10057288 A JP 10057288A JP H01270644 A JPH01270644 A JP H01270644A
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Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 52
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims abstract description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 1
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は流れる検体粒子に対して光ビームを照射し検体
粒子に関する情報を検出して、粒子解析を行なう粒子解
析装置に関する。
粒子に関する情報を検出して、粒子解析を行なう粒子解
析装置に関する。
［従来の技術］
従来の粒子解析装置、例えはフローサイトメータでは、
１個ずつ高速で流れる細胞等の検体粒子に光を照射し、
それによって発生ずる散乱光や蛍光を測光することによ
り、検体粒子の粒子径や性質に関する情報が得られ、多
数の細胞についてのこれらの情報から検体粒子を別置的
に解析していた。
１個ずつ高速で流れる細胞等の検体粒子に光を照射し、
それによって発生ずる散乱光や蛍光を測光することによ
り、検体粒子の粒子径や性質に関する情報が得られ、多
数の細胞についてのこれらの情報から検体粒子を別置的
に解析していた。
またこれとは別に、検体粒子の画像情報による粒子解析
は光学顕微鏡や電子顕微鏡等の装置を用いて行なうこと
が一般になされていた。特に最近は静止した細胞をレー
サスポットで２次元的に走査することにより、よりコン
トラストの高い細胞の内部構造を反映する画像を得る装
置も用いられるようになってきた。
は光学顕微鏡や電子顕微鏡等の装置を用いて行なうこと
が一般になされていた。特に最近は静止した細胞をレー
サスポットで２次元的に走査することにより、よりコン
トラストの高い細胞の内部構造を反映する画像を得る装
置も用いられるようになってきた。
し発明か解決しようとしている問題点］しかしなから、
前記従来のフローサイトメ−タレ−サスボット 用いると、多数の検体粒子に関しての計量的な情報を得
ることか困難であった。
前記従来のフローサイトメ−タレ−サスボット 用いると、多数の検体粒子に関しての計量的な情報を得
ることか困難であった。
本発明は上述した問題点を解決し、多数の検体才９子に
関しての形態等の画像情報か得られ、計量的な解析ので
きる粒子解析装置の提供を目的とする。
関しての形態等の画像情報か得られ、計量的な解析ので
きる粒子解析装置の提供を目的とする。
［目的を達成するだめの手段］
上述した問題．Ｉｉ７を解決するため、木発明は被検部
に検体粒子を通過させる手段と、検体粒子に対して通過
方向と直交方向に光ビームを走査する走査手段と、検体
粒子から発する光を測光する測光手段と、該測光手段の
出力を時系５１ｊ的に記憶する記憶手段を備える。
に検体粒子を通過させる手段と、検体粒子に対して通過
方向と直交方向に光ビームを走査する走査手段と、検体
粒子から発する光を測光する測光手段と、該測光手段の
出力を時系５１ｊ的に記憶する記憶手段を備える。
［実施例］
以下、未発明のわ子解析装置の実施例を図面を用いて前
線に説明する。
線に説明する。
第１図（ａ）は本発明の実施例の構成図、第１図（１１
）はフローセル部の（ｔｌ．１１面図である。レーザ光
源１から発用されたレーザ光は、光路中に設りられた＠
背光′４偏向素子２て高速に偏向される。偏向された１
ノーサ光はレンズ３及びレンズ４にて偏向位置か対物レ
ンズ５の瞳位置に４、−、像される。対物レンズ５を通
過したレーザ光は、フローセル６内の流通部７の被検位
置に結像され、流通部７を第１図（ｂ）の矢印方向に流
れる細胞等の検体粒子８を走査することになる。なお、
この走査方向は検体粒子の流ね方向に対して交差する方
向てあり、木実す恒例においては直交方向である。
）はフローセル部の（ｔｌ．１１面図である。レーザ光
源１から発用されたレーザ光は、光路中に設りられた＠
背光′４偏向素子２て高速に偏向される。偏向された１
ノーサ光はレンズ３及びレンズ４にて偏向位置か対物レ
ンズ５の瞳位置に４、−、像される。対物レンズ５を通
過したレーザ光は、フローセル６内の流通部７の被検位
置に結像され、流通部７を第１図（ｂ）の矢印方向に流
れる細胞等の検体粒子８を走査することになる。なお、
この走査方向は検体粒子の流ね方向に対して交差する方
向てあり、木実す恒例においては直交方向である。
このようにレーザ光か高速に走査されている流通部７の
被検位置を検体粒子８か通過すると、粒子の通過速度に
対して走査速度か十分大きく設定されているため、検体
粒子は被検イ◇習通過の際、２次元的に複数回走査され
ることになる。
被検位置を検体粒子８か通過すると、粒子の通過速度に
対して走査速度か十分大きく設定されているため、検体
粒子は被検イ◇習通過の際、２次元的に複数回走査され
ることになる。
この時、検体粒子８にレーザ光か走査され、検体粒子内
部を透過した光は、レンズ９にて集光され、バリアフィ
ルタ１２て照射光波長のみか選択されて通過し、光電検
出器１０て検出される。
部を透過した光は、レンズ９にて集光され、バリアフィ
ルタ１２て照射光波長のみか選択されて通過し、光電検
出器１０て検出される。
この光電検出器１０の出力はメモリ１１へと送られて、
時系列的に連続して記憶される。
時系列的に連続して記憶される。
こうして検体粒子か被検位置を通過するごとにメモリ１
１上には検体粒子の形態等の画像情報のデータか蓄えら
れる。このデータに画像処理等の処理を施し、さまざま
な粒子解析を行なうことかできることは一般に良く知ら
れている。この解析結果はＣＲＴ−１−に表示したり、
プリントアウト等の方法によっ゛Ｃ出力される。
１上には検体粒子の形態等の画像情報のデータか蓄えら
れる。このデータに画像処理等の処理を施し、さまざま
な粒子解析を行なうことかできることは一般に良く知ら
れている。この解析結果はＣＲＴ−１−に表示したり、
プリントアウト等の方法によっ゛Ｃ出力される。
第２図は本発明の他の実施例であり、受光部の構成図を
示す。レーザ光か凹射され検体粒子から発する透過光及
び蛍光はレンズ９て集光され、タイクロイックミラー１
３て波長が分離されて、透過光はバリアフィルタ１２、
光電検出器１０て検出される。またタイクロイックミラ
ー１３て反ａＪされた蛍光はバリアフィルタ１４、光電
検出器１５て検出される。これら光電検出器１０．１５
の出力はそれぞれメモリ１１上に時系列的に別々に記憶
される。
示す。レーザ光か凹射され検体粒子から発する透過光及
び蛍光はレンズ９て集光され、タイクロイックミラー１
３て波長が分離されて、透過光はバリアフィルタ１２、
光電検出器１０て検出される。またタイクロイックミラ
ー１３て反ａＪされた蛍光はバリアフィルタ１４、光電
検出器１５て検出される。これら光電検出器１０．１５
の出力はそれぞれメモリ１１上に時系列的に別々に記憶
される。
こうしてメモリ１１上には透過光による検体粒子の画像
情報、蛍光による画像情報か蓄えられ、先の実施例と同
様に粒子解析かなされる。
情報、蛍光による画像情報か蓄えられ、先の実施例と同
様に粒子解析かなされる。
なお、以上の説明ての粒子信頼け、多数の検体粒子に関
して得らねるので、フローサイ１−メータのような別置
的なデータ処理か可能である。
して得らねるので、フローサイ１−メータのような別置
的なデータ処理か可能である。
［発明の効果コ
子の画像情報を得ることかできる。またその際、多数の
杓、子に関しての語毒的，％ｙ情報を得ることかてと精
度の高い測定か可能となる。
杓、子に関しての語毒的，％ｙ情報を得ることかてと精
度の高い測定か可能となる。
第１図（ｆｌ）は木発明の実施例の構成図、第１図（ｂ
）はフローセル部の側面図、第２図は他の実施例の受光
部の４１４成図、図中、 １・・・・レーヅ光源、２・・・・音響光学偏向素子、
４．９・・・・レンズ、５・・・・対物レンズ、６・・
・・フローセル、７・・・・流通部、８・・・・検体粒
子、１０．１５・・・・光電検出器、１１・・・・メモ
リ、１２．１４・・・・バリアフィルタ１３・・・・タ
イクロイツクミラー
）はフローセル部の側面図、第２図は他の実施例の受光
部の４１４成図、図中、 １・・・・レーヅ光源、２・・・・音響光学偏向素子、
４．９・・・・レンズ、５・・・・対物レンズ、６・・
・・フローセル、７・・・・流通部、８・・・・検体粒
子、１０．１５・・・・光電検出器、１１・・・・メモ
リ、１２．１４・・・・バリアフィルタ１３・・・・タ
イクロイツクミラー
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被検部に検体粒子を通過させる手段と、前記被検部
において検体粒子の通過方向と交差する方向に光ビーム
を走査する走査手段と、前記被検部を通過した検体粒子
から発する光を測光する測光手段と、該測光手段の出力
を前記光ビームの走査方向及び検体粒子の通過方向に関
して時系列的に記憶する記憶手段を有することを特徴と
する粒子解析装置。 ２、前記走査手段は光音響光学素子を含む光学系である
請求項１記載の粒子解析装置。 ３、前記光音響光学素子と前記被検部の手前に置かれた
対物レンズの瞳が共役である請求項２記載の粒子解析装
置。 ４、検体粒子が前記被検部を通過する間に、複数回光ビ
ームを走査する請求項１記載の粒子解析装置。 ５、前記測光手段は所定の複数波長を波長ごとに測光す
る請求項１記載の粒子解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10057288A JPH01270644A (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 粒子解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10057288A JPH01270644A (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 粒子解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01270644A true JPH01270644A (ja) | 1989-10-27 |
Family
ID=14277619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10057288A Pending JPH01270644A (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01270644A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58102538A (ja) * | 1981-12-14 | 1983-06-18 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| WO2008082813A1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-10 | Abbott Laboratories | Method and apparatus for rapidly counting and identifying particles in suspension by scanning |
| EP2034291A1 (en) * | 2007-09-04 | 2009-03-11 | Sony Corporation | Light irradiation device, fine particle analyzing apparatus, and light irradiation method |
| EP2034292A1 (en) | 2007-09-04 | 2009-03-11 | Sony Corporation | Light irradiation method, light irradiation device, and fine particle analyzing apparatus |
| US8159670B2 (en) | 2007-11-05 | 2012-04-17 | Abbott Laboratories | Method and apparatus for rapidly counting and identifying biological particles in a flow stream |
| JP2013104876A (ja) * | 2011-11-14 | 2013-05-30 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 試料における励起状態の寿命を測定するための方法 |
| JP2013117529A (ja) * | 2011-12-01 | 2013-06-13 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 試料を検査するための方法および機器 |
-
1988
- 1988-04-22 JP JP10057288A patent/JPH01270644A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58102538A (ja) * | 1981-12-14 | 1983-06-18 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| US7804594B2 (en) | 2006-12-29 | 2010-09-28 | Abbott Laboratories, Inc. | Method and apparatus for rapidly counting and identifying biological particles in a flow stream |
| WO2008082813A1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-10 | Abbott Laboratories | Method and apparatus for rapidly counting and identifying particles in suspension by scanning |
| US8253938B2 (en) | 2006-12-29 | 2012-08-28 | Abbott Laboratories | Method and apparatus for rapidly counting and identifying biological particles in a flow stream |
| US8045162B2 (en) | 2006-12-29 | 2011-10-25 | Abbott Laboratories, Inc. | Method and apparatus for rapidly counting and identifying biological particles in a flow stream |
| JP2010515055A (ja) * | 2006-12-29 | 2010-05-06 | アボット・ラボラトリーズ | 浮遊粒子をスキャニングによって迅速にカウントし同定する方法および装置 |
| JP2009063308A (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-26 | Sony Corp | 光照射方法、光照射装置及び微粒子解析装置 |
| US7782512B2 (en) | 2007-09-04 | 2010-08-24 | Sony Corporation | Light irradiation device, fine particle analyzing apparatus, and light irradiation method |
| JP4556975B2 (ja) * | 2007-09-04 | 2010-10-06 | ソニー株式会社 | 光照射方法、光照射装置及び微粒子解析装置 |
| EP2034292A1 (en) | 2007-09-04 | 2009-03-11 | Sony Corporation | Light irradiation method, light irradiation device, and fine particle analyzing apparatus |
| US8203711B2 (en) | 2007-09-04 | 2012-06-19 | Sony Corporation | Light irradiation method, light irradiation device, and fine particle analyzing apparatus |
| EP2034291A1 (en) * | 2007-09-04 | 2009-03-11 | Sony Corporation | Light irradiation device, fine particle analyzing apparatus, and light irradiation method |
| US8159670B2 (en) | 2007-11-05 | 2012-04-17 | Abbott Laboratories | Method and apparatus for rapidly counting and identifying biological particles in a flow stream |
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| JP2013104876A (ja) * | 2011-11-14 | 2013-05-30 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 試料における励起状態の寿命を測定するための方法 |
| JP2013117529A (ja) * | 2011-12-01 | 2013-06-13 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 試料を検査するための方法および機器 |
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