DE4126767C2 - Anordnung zur Erzeugung von Signalmustern - Google Patents
Anordnung zur Erzeugung von SignalmusternInfo
- Publication number
- DE4126767C2 DE4126767C2 DE4126767A DE4126767A DE4126767C2 DE 4126767 C2 DE4126767 C2 DE 4126767C2 DE 4126767 A DE4126767 A DE 4126767A DE 4126767 A DE4126767 A DE 4126767A DE 4126767 C2 DE4126767 C2 DE 4126767C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- frequency
- period
- address
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31908—Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
- G01R31/3191—Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31922—Timing generation or clock distribution
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31928—Formatter
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/02—Digital function generators
- G06F1/03—Digital function generators working, at least partly, by table look-up
- G06F1/0321—Waveform generators, i.e. devices for generating periodical functions of time, e.g. direct digital synthesizers
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
- G06F17/10—Complex mathematical operations
- G06F17/17—Function evaluation by approximation methods, e.g. inter- or extrapolation, smoothing, least mean square method
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31919—Storing and outputting test patterns
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Computational Mathematics (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Algebra (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Erzeugung von
Signalmustern gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Es ist bekannt, zur Erzeugung von Prüfmustern für die Nutzung
in automatischen Prüfgeräten einen schnellen Mustergenerator
vorzusehen, der Adressenfolgen erzeugt, die an eine Vielzahl
örtlicher Generatorschaltungen gesendet werden. Jede örtliche
Generatorschaltung enthält einen schnellen örtlichen
Speicher, zwei Zeitgeber, zwei entsprechende sogenannte
"Interpolatoren", die Zeitspannen einer kürzeren Dauer als
der Dauer einer Taktperiode festlegen können, eine schnelle
Formatierungseinrichtung und einen schnellen Fehlerprozessor.
Die Zeitgeber und die Interpolatoren arbeiten in einer
verschachtelten Weise, wobei die eine Gruppe von Zeitgeber,
und Interpolator Informationen aller geraden Perioden
empfängt und erzeugt und die andere Gruppe Informationen
aller ungeraden Perioden empfängt und erzeugt.
Weitere Anordnungen zum Erzeugen von Mustern bzw. Zeitgeber
schaltungen sind aus der EP 02 55 118 A2, der DE
32 37 224 A1, der DD 239 881, der DE 35 15 802 A1, der US
48 55 681 und der US 47 75 954 bekannt.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Anordnung der im Ober
begriff des Patentanspruchs 1 definierten Gattung so
auszubilden, daß die notwendigen Verarbeitungsgeschwindig
keiten von Einrichtungen in der Generatorschaltung vermindert
werden können, ohne den Gesamtbetrieb der Anordnung verlang
samen zu müssen. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die
kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst. Vor
teilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung
sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Mit den erfindungsgemäßen Maßnahmen kommt man zu einer Anord
nung, in welcher die Verteilung von Signalen an die örtliche
Generatorschaltung mit niedrigeren Frequenzen erfolgen kann.
Durch die getrennte Verarbeitung von Adressenmustern niedri
gerer Frequenz, im folgenden auch als "langsame" Adressen
muster bezeichnet, können die betreffenden getrennten
Verarbeitungskanäle langsame und somit billige Bauteile und
Baugruppen enthalten; dennoch vermag die Gesamtanordnung mit
hoher Frequenz zu arbeiten und somit auch eine dementspre
chend schnelle Ausgangssignalfolge bzw. eine entsprechend
feinaufgelöste Zeitsteuerung der Ausgangssignale zu
vollbringen.
In einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung gemäß
den Patentansprüchen 16 und 17 sind Maßnahmen zur Umschaltung
zwischen verschiedenen Betriebsarten getroffen, so daß ein
und dieselbe Anordnung wahlweise zur Realisierung eines
Hochgeschwindigkeits-Prüfgerätes oder eines billigeren
langsameren Prüfgerätes verwendet werden kann.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung nach den
Patentansprüchen 18 bis 20 ist das Vorsehen einer besonders
gestalteten Einrichtung, die aus den langsameren Adressen
mustern die entsprechenden Informationen für die Zeit
steuerung der Ausgangsignale ableitet, und zwar bezogen auf
ein gemeinsames Taktsignal. Diese Einrichtung arbeitet mit
einer Mehrzahl von Periodenoszillatoren, deren jeder einen
Speicher, eine Summierungsschaltung und eine Flankenwähl
schaltung enthält. Jeder Speicher empfängt Adressen und
erzeugt entsprechende Periodenwerte, und jede Summierungs
schaltung empfängt einen Periodenwert vom Speicher desjenigen
Oszillators, in welchem er sich befindet, und mindestens
einen weiteren Periodenwert von einem Speicher eines anderen
der Oszillatoren. Jede Flankenwählschaltung erzeugt ein
Signal, das eine Flanke eines Referenztaktsignals identifi
ziert, die sich um eine ganze Anzahl von Taktperioden
entfernt von einer zuvor identifizierten Flanke befindet,
wobei diese ganze Zahl aus dem die höchstwertigen Bits
enthaltenden Teil des Summierungsausgangs bestimmt wird. Es
wurde gefunden, daß eine derart ausgelegte Periodenoszilla
torschaltung in Verbindung mit einem schnellen automatischen
Prüfsystem verwendet werden kann, das mehrere langsamere
parallele Datenwege aufweist, wobei die Periodenoszillator
schaltung keine teuren, schnellen integrierten Schaltungen zu
enthalten braucht, die kundenspezifisch hergestellt werden
müßten. In vorteilhaften Ausführungsformen enthält die
Einrichtung zwei Periodenoszillatoren.
Vorteilhafterweise enthält das Periodensignal ein Flanken
wählsignal, das eine Flanke eines Taktsignals identifiziert,
und ein Restwertsignal, das eine Restzeit ab der identifi
zierten Taktflanke repräsentiert. Einem Zeitgeber in der
örtlichen Generatorschaltung kann ein Zeitsteuersignal
zugeführt werden, welches die Zeitverzögerung ab den vom
Periodensignal identifizierten Referenzpunkten angibt.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung werden nachstehend der
Aufbau und die Arbeitsweise einer bevorzugten Ausführungsform
anhand von Zeichnungen beschrieben.
Fig. 1 ist ein Blockschaltbild einer Anordnung zur Erzeugung
von Signalmustern gemäß der Erfindung;
Fig. 2 ist ein Blockschaltbild einer Verteilerschaltung der
in Fig. 1 dargestellten Anordnung;
Fig. 3 ist ein Blockschaltbild von Zeitgeber- und Interpo
latorschaltungen der Anordnung nach Fig. 1;
Fig. 4 ist ein Blockschaltbild der in Fig. 3 dargestellten
Interpolatorschaltung;
Fig. 5 ist ein Blockschaltbild einer bekannten Perioden
oszillatorschaltung;
Fig. 6 ist ein Zeitdiagramm für die Periodenoszillator
schaltung nach Fig. 5;
Fig. 7 ist ein Blockschaltbild der Periodenoszillator
schaltung der in Fig. 1 gezeigten Anordnung;
Fig. 8 ist ein Zeitdiagramm für die in Fig. 7 dargestellte
Periodenoszillatorschaltung.
Die in Fig. 1 dargestellte Anordnung 10 bildet insgesamt ein
Zeitgebersystem für die Erzeugung schneller Signalmuster und
enthält eine Mustergeneratorschaltung 12, eine Verteiler
schaltung 14 und eine Vielzahl von Kanalkarten 15, deren jede
acht örtliche Generatorschaltungen 16(0)-16(7) enthält (für
die allgemein die Bezugszahl 16 benutzt wird). Jede örtliche
Generatorschaltung 16 liefert ein Bit an einem Eingangsknoten
20 für eine zu prüfende Einrichtung (Prüfling) 21.
Die Mustergeneratorschaltung 12 enthält einen herkömmlich
ausgebildeten Mustergenerator 30, der Adressenmuster mit
einer Frequenz von 122,0703125 MHz (im folgenden einfach als
Frequenz von 120 MHz bezeichnet) liefert, und eine Frequenz
teilerschaltung 32, welche die vom Mustergenerator 30 erzeug
ten hochfrequenten Muster empfängt und an Ausgängen A und B
ein Paar niedrigerfrequenter Adressenmuster liefert, deren
Frequenz die Hälfte (d. h. 61,03515625 MHz, im folgenden
einfach als Frequenz von 60 MHz bezeichnet) der Frequenz der
vom Mustergenerator 30 erzeugten hochfrequenten Adressen
muster ist. Die Mustergeneratorschaltung 12 enthält außerdem
einen zentralen Perioden
oszillator 34, der ein Paar von Mehrbit-Periodenanfangs
signalen (BOC) und ein Paar von Periodenrestsignalen
(PERIODENREST) über die Verteilerschaltung 14 an die
örtlichen Generatorschaltungen 16 liefert.
Die Frequenzteilerschaltung 32 wird durch zwei Betriebs
modus-Wähleingänge MODE SEL 1 und MODE SEL 2 gesteuert. Der
Eingang MODE SEL 1 kann auf einen ersten Wert gesetzt
werden, um die Frequenzteilerschaltung 32 zu veranlassen,
die Adressenmuster in der oben beschriebenen Weise in zwei
verschiedene Muster zu teilen, oder auf einen zweiten Wert,
um die Frequenzteilerschaltung 32 zu veranlassen, einfach
an beiden Ausgängen A und B die Muster mit gleicher
Frequenz zu liefern, wie sie vom Mustergenerator 30 erzeugt
werden. Wenn der Eingang MODE SEL 1 auf den ersten Wert
gesetzt ist, kann die Mustergeneratorschaltung 12 in
Verbindung mit Kanalkarten 15 verwendet werden, die
örtliche Doppelweg-Generatorschaltungen 16 enthalten, wie
in Fig. 1 gezeigt. Wenn der Eingang MODE SEL 1 auf den
zweiten Wert gesetzt ist, kann dieselbe Mustergenerator
schaltung 12, als Teil eines langsameren Systems, in
Verbindung mit weniger teuren Kanalkarten verwendet werden,
die örtliche Generatorschaltungen mit jeweils nur einem Weg
enthalten, der mit dem Ausgang A der Frequenzteilerschal
tung 32 verbunden ist.
Der Wähleingang MODE SEL 2 kann auf einen ersten Wert
gesetzt werden, um die Frequenztellerschaltung 32 zu
veranlassen, ein einziges schnelles Eingangssignal von
einem einzigen Mustergenerator 30 zu empfangen, wie in
Fig. 1 gezeigt, oder auf einen zweiten Wert, um die
Frequenzteilerschaltung 32 zu veranlassen, zwei getrennte
langsamere Eingangssignale über zwei getrennte Wege zu
empfangen, die durch zwei langsamere Mustergeneratoren
realisiert werden (in der Fig. 1 aus Gründen der Einfach
heit nicht dargestellt). Wenn MODE SEL 2 auf diesen zweiten
Wert gesetzt ist, muß der Steuereingang MODE SEL 1
ebenfalls auf seinen zweiten Wert gesetzt werden, so daß
die Frequenzteilerschaltung 32 an den Ausgängen A und B
ohne jede Teilung der Adressenmuster jeweils eines der
beiden Signale liefert, die von den beiden Mustergenerato
ren empfangen werden. Ist MODE SEL 2 auf seinen zweiten
Wert gesetzt, liefert das Zeitgebersystem 10 an jedem
Knoteneingang 20 des Prüflings 21 eine Wellenform, deren
Charakteristiken entweder durch die über den A-Weg
gelieferten Signale oder die über den B-Weg gelieferten
Signale bestimmt werden, je nach dem Wählbefehl eines
Mustergenerator-Wählsignals PAT GEN SEL, das jeder
örtlichen Generatorschaltung 16 in einer gegebenen
Kanalkarte 15 angelegt wird.
Die Verteilerschaltung 14 enthält ein Paar von Signalver
teilungswegen 40, 42. Jeder Signalverteilungsweg 40, 42
enthält einen Mehrbit-Parallelbus, der gleichzeitig die
niedrigerfrequenten Adressen sowie die BOC-Signale und die
PERIODENREST-Signale an die Vielzahl der örtlichen Genera
torschaltungen 16 liefert.
Jeder örtliche Signalgenerator 16 enthält ein Paar signal
erzeugender Schaltungen 50, 52. Die signalerzeugende
Schaltung 50 enthält einen örtlichen Speicher 54, der
Informationen vom Verteilungsweg 40 über einen Multiplexer
122 empfängt und Informationen zu einem Zeitgeber 56
liefert, der diese Informationen empfängt und ein
Zeitgeber-Ausgangssignal an eine Interpolatorschaltung 58
liefert. In ähnlicher Weise enthält die signalerzeugende
Schaltung 52 einen örtlichen Speicher 60, der Informationen
vom Verteilungsweg 42 empfängt, und einen Zeitgeber 62, der
Informationen vom örtlichen Speicher 60 empfängt, und eine
Interpolatorschaltung 64, die Informationen vom Zeitgeber
62 empfängt. Obwohl aus Gründen der Einfachheit in jeder
signalerzeugenden Schaltung nur ein Zeitgeber und ein
Interpolator dargestellt sind, gibt es dort typischerweise
mehrere Zeitgeber und Interpolatoren; in einer bevorzugten
Ausführungsform sind in jeder signalerzeugenden Schaltung
sechs Zeitgeber und Interpolatoren vorhanden.
Die Interpolatorschaltungen 58 und 64 liefern Signale an
eine schnelle Formatierungseinrichtung (Formatierer) 66.
Der Formatierer 66 ist ein herkömmlicher Hochgeschwindig
keits-Formatierer in emittergekoppelter Logik (ECL), der
Zeitsteuerimpulse und Daten empfängt und eine Wellenform
liefert, die zu einer bestimmten Zeit hohen oder niedrigen
Wert zeigt, sowie eine Wellenform, die zu einer bestimmten
Zeit eine Treiber- oder Dreizustandsbedingung zeigt. Ein
Treiber 68 empfängt das den niedrigen oder hohen Pegel
zeigende Signal, kompensiert irgendwelche Dreizustands-
Bedingungen und liefert ein Ausgangssignal zum Knoten 20,
das die richtigen Spannungswerte für den jeweiligen
Prüfling hat.
Mit dem Knoten 20 ist außerdem ein doppelter Detektor 70
verbunden, der ein Ausgangssignal zum schnellen Formatierer
66 liefert. Der doppelte Detektor 70 enthält einen Verglei
cher, der ein vom Prüfling empfangenes Signal mit einem
hohen Wert vergleicht, und einen Vergleicher, der das
Signal mit einem niedrigen Wert vergleicht. Der schnelle
Formatierer 66 ist außerdem mit zwei Fehlerprozessoren 72,
74 verbunden.
Ein Multiplexer 122 empfängt Informationen von den beiden
Verteilungswegen 40 und 42 und liefert Ausgangsinformatio
nen aus dem einen oder dem anderen Weg, je nach dem Zustand
des Eingangssignals PAT GEN SEL, das jedem Multiplexer 122
eines jeden der örtlichen Generatoren 16 auf einer
gegebenen Kanalkarte 15 angelegt wird. Verschiedenen
Kanalkarten werden verschiedene Eingangssignale PAT GEN SEL
angelegt. Das Signal PAT GEN SEL wird verwendet in
Verbindung mit dem Wähleingangssignal MODE SEL 2 der
Frequenzteilerschaltung 32, das diese Schaltung veranlaßt,
Adressenmuster von den beiden Mustergeneratoren zu
empfangen, und in Verbindung mit dem Signal MODE SEL 1, das
die Frequenzteilerschaltung 32 veranlaßt, ohne jede Teilung
Adressenmuster aus dem einen Mustergenerator über den
Verteilungsweg 40 und Adressenmuster aus einem anderen
Mustergenerator über den Verteilungsweg 42 zu liefern. Das
Signal MODE SEL 1 verhindert, daß der Zeitgeber 62
irgendwelche Zeitsteuerimpulse abgibt, und veranlaßt den
Formatierer 66, jede Information zu ignorieren, die von der
signalerzeugenden Schaltung 52 her empfangen wird. Somit
wählt das Signal PAT GEN SEL in Verbindung mit MODE SEL 1
und MODE SEL 2 aus, ob die Charakteristiken der von einer
gegebenen Kanalkarte 15 abgegebenen Ausgangswellenformen
durch die über den Verteilweg 40 gelieferten Informationen
oder durch die über den Verteilungsweg 42 gelieferten
Informationen bestimmt werden.
Gemäß der Fig. 2 enthält jeder Verteilweg 40, 42 der
Verteilerschaltung 14 zwei Adressen- und Zeitsteuer-
Auffächerschaltungen 80, 82, deren jede vier parallele Wege
schafft. Jeder Parallweg des Weges 40 ist über ein
Montageverbindungskabel, das eine Hochfrequenzleitung
bildet, mit einer Kanalbus-Auffächerschaltung 84 verbunden.
Jeder parallele Weg des Weges 42 ist über ein als
Hochfrequenzleitung wirkendes Montageverbindungskabel mit
einer Kanalbus-Auffächerschaltung 86 verbunden. Es sind
somit insgesamt acht Kanalbus-Auffächerschaltungen
vorhanden. Jedes Paar von Kanalbus-Auffächerschaltungen 84,
86 ist über Rückflächen-Leiterzüge mit sechzehn Kanalkarten
verbunden. Jede Kanalkarte 15 enthält acht Kanäle, von
denen jeder eine örtliche Generatorschaltung 16 enthält.
Somit verteilt die Verteilerschaltung 14 Signale an 512
örtliche Generatorschaltungen, das System 10 liefert also
512 Verbindungen zu einem Prüfling.
In der Fig. 3 ist die Verbindung zwischen einem Zeitgeber
56 und einer Interpolatorschaltung 58 gezeigt. Der
Zeitgeber 56 enthält eine interne Steuerlogik 90, die durch
ein niedrigfrequentes (60 MHz-)Taktsignal CLK mit CMOS-
Pegeln getaktet wird, und eine Durchrückschaltung (FIFO-
Schaltung) 92, deren Eingang durch das Signal CLK getaktet
und deren Ausgang durch ein niedrigfrequentes Signal CLK
OUT getaktet wird. Das Taktsignal CLK OUT wird von der
Interpolatorschaltung 58 erzeugt. Die FIFO-Schaltung 92
empfängt von der Steuerlogik 90 Eingangssignale DATA, TG
REST und MATCH (letzteres bedeutet ein Passen) und liefert
als Ausgangssignale des Zeitgebers 56 Signale DATA, TG REST
und MATCH. Es sei bemerkt, daß TG REST ein Signal ist,
welches sich von den PERIODENREST-Signalen unterscheidet.
Die Interpolatorschaltung 58 wird durch ein hochfrequentes
(240-MHZ-)Taktsignal CLK×4 getaktet, sie empfängt vom
Zeitgenerator 56 das 1-Bit-Signal DATA, das 10-Bit-Signal
TG REST und das 1-Bit-Signal MATCH sowie ein analoges
Interpolator-Eicheingangssignal (FS CAL), das extern
erzeugt wird, und ein Justier-Aktivierungssignal (ADJ EM).
Die Interpolatorschaltung 58 benutzt die mit CMOS-Pegeln
erscheinenden Signale DATA, TG REST und MATCH, um ein
präzise verzögertes ECL-Ausgangsimpulssignal (TG OUT) zu
liefern, ferner ein Bit des digitalen Datensignals (DATA
OUT), das um etwa das gleiche Maß wie der präzise
zeitgesteuerte Ausgangsimpuls verzögert ist und ECL-Pegel
hat, sowie ein analoges Prüfausgangssignal (DAC OUT).
Gemäß der Fig. 4 ist die Interpolatorschaltung 58 als
bipolare integrierte Schaltung hergestellt und enthält eine
Registerschaltung 100, eine Aktivierungsschaltung 102, eine
Impulsschluckerschaltung 104, eine Teilerschaltung 106,
eine Verzögerungsschaltung 108, eine Eichschaltung 110,
eine Synchronisierschaltung 112, eine Sägezahnschaltung
114, eine Vergleichsschaltung 116 und eine Ausgangsschal
tung 118.
Die Registerschaltung 100 enthält drei Flipflops FF1, FF2
und FF3. Das Flipflop FF1 empfängt das mit CMOS-Pegeln
erscheinende Signal DATA IN vom Zeitgeber 56 und liefert
ein mit ECL-Pegeln erscheinendes Signal DATA QA an eine
Latch-Schaltung LATCH 1. Das Flipflop FF2 empfängt acht
Bits des mit CMOS-Pegeln erscheinenden Signals TG REST
(Bits 0-7) vom Zeitgeber 56 und liefert ein aus acht Bits
mit ECL-Pegel bestehendes Signal TGR QA an eine Latch
schaltung LATCH 2. Das Flipflop FF3 empfängt die restlichen
beiden Bits des Signals TG REST (Bits 8, 9) vom Zeitgeber
56 und legten 2-Bit-Signal TGR QA an den Impulsschlucker
104.
Die Aktivierungsschaltung 102 enthält Flipflops FF4 und
FF5. Das Flipflop FF4 empfängt das mit CMOS-Pegeln
erscheinende Eingangssignal TG MATCH und liefert ein mit
ECL-Pegeln erscheinendes Signal TGMQ an das Flipflop FF5,
welches das Aktivierungssignal ENB liefert.
Die Impulsschluckerschaltung 104 enthält einen 2 : 4-Decoder
DEC1, der das 2-Bit-Signal TGR QA vom Flipflop FF3 der
Registerschaltung 100 und das Signal ENB vom Flipflop FF5
der Aktivierunggsschaltung 102 empfängt. Der Decoder DEC1
liefert vier Ausgangssignale PS0, PS1, PS2 und PS3. Das
Signal PS3 wird an ein D-Flipflop FF8 gelegt, dessen
Ausgangssignal Q3 an ein ODER-Glied OR1 geliefert wird. Das
Glied OR1 empfängt außerdem das Signal PS2 und liefert ein
Eingangssignal D2 an ein D-Flipflop FF9, dessen Ausgangs
signal an ein ODER-Glied OR2 gelegt wird. Das Glied OR2
empfängt außerdem das Signal PS1 und liefert ein Eingangs
signal D1 zu einem D-Flipflop FF10, dessen Ausgangssignal
an ein ODER-Glied OR3 gelegt wird. Das Glied OR3 empfängt
ferner das Signal PSO und liefert ein Eingangssignal DO an
ein D-Flipflop FF11. Das Flipflop FF11 liefert ein
Eingangssignal für ein D-Flipflop FF12, sowie für den
Takteingang eines Flipflops FF6 und eines Flipflops FF7 der
Synchronisierschaltung 112. Der Ausgang des Flipflops FF12
wird an ein differentiales ODER/NOR-Glied ORNOR1 sowie an
den Takteingang eines Flipflops FF14 der Synchronisier
schaltung 112 gelegt.
Das Glied ORNOR1 liefert ein aktives hohes Signal und ein
aktives niedriges Signal an ein vollständig differentiales
D-Flipflop FF13. Dieses Flipflop FF13 liefert
Differentialsignale TRIG und TRIG* an die Sägezahnschaltung
114. Das Signal TRIG wird außerdem an den anderen Eingang
des Gliedes ORNOR1 gelegt, und zum Zwecke der Gleichbela
stung wird das Signal TRIG* an einen Eingang eines ODER-
Gliedes OR4 gelegt. Der Ausgang der Sägezahnschaltung 114
ist mit dem negativen Eingang eines Vergleichers COMP1 der
Vergleichsschaltung 116 verbunden.
Die Teilerschaltung 106 enthält Flipflops FF15 und FF16 und
ein Exklusiv-ODER-Glied XOR1. FF15 und FF16 sind als D-
Flipflops konfiguriert und werden taktgesteuert durch das
Signal CLKx4, das mittels eines Puffers BUF2 gepuffert
wird. Der Q-Ausgang von FF15 wird an das Glied XOR1 gelegt,
dem auch das Q-Ausgangssignal des Flipflops FF16 zugeführt
wird. Das QI-Ausgangssignal von FF16 wird durch einen
Pegelverschieber 120 verschoben, um das Signal CLK OUT* zu
erzeugen, das auf den Zeitgeber 56 rückgekoppelt wird. Das
Q-Ausgangssignal des Flipflops FF16 wird durch ein Flipflop
FF17 der Verzögerungsschaltung 108 geschleust, um das
Taktsignal CLKA für die Flipflops FF1 bis FF4 der Register
schaltung 100 zu liefern.
Die Eichschaltung 110 enthält eine Latch-Schaltung LATCH 3,
welche eingangsseitig das 8-Bit-Signal TGR REST (Bits 0-7)
und das Justier-Aktivierungssignal ADJ EN empfängt und ein
8-Bit-Ausgangssignal ADJ an einen 8-Bit-Digital/Analog-
Wandler DAC2 liefert, der ein analoges Ausgangssignal FS
CAL abgibt. Das Signal FS CAL ist ein Ausgangssignal der
Interpolatorschaltung 58 und wird außerdem an einen
Verstärkungssteuereingang GAIN ADJ eines Digital/Analog-
Wandlers DAC1 gelegt. Der Wandler DAC2 hat außerdem einen
Komplementausgang IOUT1, der mit einem 2 : 1-Analogmultiple
xer MUX1 verbunden ist.
Die Synchronisierschaltung 112 enthält ein D-Flipflop FF6,
welches das Signal DATA QB von der Latch-Schaltung LATCH 1
empfängt, und ein D-Flipflop FF7, welches das 8-Bit-Signal
TGR QB von der Latch-Schaltung LATCH 2 empfängt. Das
Flipflop FF6 liefert ein Eingangssignal DATA QC an ein D-
Flipflop FF14, das ein Ausgangssignal DATA QD liefert. Das
Flipflop FF7 liefert ein 8-Bit-Ausgangssignal TGR QC an die
Vergleichsschaltung 116.
Die Vergleichsschaltung 116 enthält einen 8-Bit-
Digital/Analog-Wandler DAC1, der das B-Bit-Ausgangssignal
TGR QC vom Flipflop FF7 der Synchronisierschaltung 112
empfängt. Der Wandler DACI liefert einen Ausgangsstrom IOUT
an einen Strom/Spannungs-Wandler AR1 und einen komplementä
ren Ausgangsstrom IOUT* an den 2 : 1-Analogmultiplexer MUX1.
IOUT ist mit dem positiven Eingang des Vergleichers COMP1
verbunden. COMP1 liefert ein differentiales Ausgangssignal,
das an einen monostabilen Multivibrator ONESH1 der
Ausgangsschaltung 118 und an den Rücksetzeingang des
Flipflops FF13 gelegt wird.
Die Ausgangsschaltung 118 enthält den Multiplexer MUX1, der
das analoge Signal DAC OUT liefert, eine Verzögerungslei
tung DELAY1, die das Signal ECL DATA OUT liefert, und den
monostabilen Multivibrator ONESH1, der die differentialen
Ausgangssignale ECL TG OUT und TG OUT* liefert.
Bevor die in der Zeitgeberschaltung nach Fig. 1 enthaltene
Periodenoszillatorschaltung beschrieben wird, ist es
hilfreich, zunächst eine bekannte Periodenoszillatorschal
tung zu beschreiben, die zur Verwendung in einem Zeitgeber
system ohne mehrfache parallele Datenwege ausgelegt ist.
Gemäß der Fig. 5 empfängt in einer solchen Periodenoszil
latorschaltung 200 ein RAM-Speicher 202, der für 256 mal 18
Bit ausgelegt ist, eine 8-Bit-Periodenadresse und liefert
einen 18-Bit-Periodenwert. Ein Addierer 204 empfängt den
18-Bit-Periodenwert als ein Eingangssignal und empfängt als
weiteres Eingangssignal die neun niedrigstwertigen Bits des
Ausgangssignals eines Registers 206, das seinerseits das
Ausgangssignal des Addierers 204 empfängt. Die neun
höchstwertigen Bits des Ausgangssignals des Registers 206,
die eine Auflösung von 16,384 Nanosekunden (Periode des
Taktgebers 208) haben, stellen einen digitalen Teil des
Periodenwertes dar. Die neun niedrigstwertigen Bits des
Ausgangssignals des Registers 206, die eine Auflösung von
32 Pikosekunden (16 384 Pikosekunden/29) haben, stellen
einen analogen Teil des Periodenwertes dar.
Ein Rückwärtszähler 210 für den Periodenanfang (BOC)
empfängt die neun höchstwertigen Bits des Ausgangssignals
des Registers 206 und erzeugt ein 9-Bit-Ausgangssignal, das
einen Countdown der Anzahl der ansteigenden Flanken des
Taktgebers 208 darstellt, festgelegt durch die neun
Eingangsbits. Ein Koinzidenzdetektor 212 empfängt das
Ausgangssignal des Periodenanfangs-Rückwärtszählers 210 und
liefert ein Ausgangssignal, das nur dann hoch ist, wenn der
Ausgang des Periodenanfangs-Rückwärtszählers 210 eine 1
oder eine 0 anzeigt. Das Ausgangssignal des Koinzidenzde
tektors 212 wird als Voreinstellungs-Eingangssignal am
Periodenanfangs-Rückwärtszähler 210 empfangen. Der
Periodenanfangs-Rückwärtszähler lädt die neun Eingangsbits
vom Register 206 immer dann auf sich, wenn der Ausgang des
Taktgebers 208 während eines hohen Zustandes des Vorein
stell-Eingangs hoch wird, und der Ausgang des Zählers
liefert dann ab dem geladenen Wert den Countdown der
ansteigenden Flanken des Taktgebers 208.
Das Ausgangssignal des Koinzidenzdetektors 212 wird von
einem Flipflop 214 empfangen, das durch die ansteigenden
Flanken des Taktgebers 208 getaktet wird und als Ausgangs
signal das Periodenanfangs-Signal (BOC-Signal) erzeugt. Das
Ausgangssignal des Koinzidenzdetektors 212 wird auch von
einem monostabilen Multivibrator 216 empfangen, der vom
Ausgangssignal des Taktgebers 208 getaktet wird. Das
Ausgangssignal des monostabilen Multivibrators 216 wird
immer dann hoch, wenn der Ausgang des Taktgebers 208 bei
gleichzeitig hohem Zustand des Ausgangs des
Koinzidenzdetektors 212 hoch wird. Der Ausgang des
monostabilen Multivibrators 216 bleibt für etwa 8 Nanose
kunden (die Hälfte der Periode des Taktgebers 208) hoch.
Der Ausgang des monostabilen Multivibrators 216 taktet das
Registers 206 und auch das Register 218, welches die neun
niedrigstwertigen Bits des Ausgangssignals des Registers
206 empfängt, ferner das Register 220, welches das Aus
gangssignal des Registers 218 empfängt und als Ausgangssi
gnal das PERIODENREST-Signal erzeugt. Der Ausgang des
monostabilen Multivibrators 216 taktet auch einen Muster
generator, der die 8-Bit-Periodenadressen erzeugt, welche
der RAM-Speicher 202 empfängt.
Wie in der Fig. 6 veranschaulicht, zeigt das Periodenan
fangs-Signal BOC an, welche ansteigende Flanke des
Taktgebers als Bezugsmarke für den Beginn einer Periode für
den Prüfling verwendet werden soll. Die durch das
Zeitdiagramm gelegten vertikalen Linien stellen die
gewählten Taktflanken dar. Eine Periode beginnt bei Jeder
ansteigenden Flanke des Taktsignals, die während eines
hohen Zustandes des Signals BOC erscheint, wobei die
Periode um eine Restzeit verzögert ist, die durch das
PERIODENREST-Signal dargestellt wird. Ein Zeitgeber
empfängt sowohl das Signal BOC als auch das PERIODENREST-
Signal, und eine mit dem Zeitgeber verbundene Interpolati
onsschaltung erzeugt als eine Ausgangsgröße das Signal TG
OUT, welches zur Vereinfachung so dargestellt ist, daß es
am Beginn einer jeden Periode hoch wird. Der Zeitpunkt, bei
welchem das Signal TG OUT hoch wird, kann in Wirklichkeit
um ein in den Zeitgeber programmiertes Zeitmaß verzögert
sein, wobei sich das Zeitmaß mit jeder Periode ändert. Bei
einer alternativen Ausführungsform kann jeder eines Paars
von Zeitgebern sowohl das Signal BOC als auch das
PERIODENREST-Signal empfangen und in verschachtelter Weise
arbeiten, wobei jeder der Zeitgeber mit jeweils einer von
zwei Interpolationsschaltungen verbunden ist, deren eine
die Information aller geraden Perioden und deren andere die
Information aller ungeraden Perioden erzeugt. Die Perioden
grenzen der dem Prüfling angelegten Wellenform können mit
der 32-Picosekunden-Auflösung des PERIODENREST-Signals
programmiert werden. Es sei bemerkt, daß vor dem Beginn
eines jeden Bursts der Periodenoszillator sogenannte
Säumnisperioden von 32,768 Nanosekunden (zwei Taktperioden)
ausführt. Diese Säumnisperioden beeinträchtigen der
Prüfling nicht.
Gemäß der Fig. 7, in welcher Teile, die analog zu Teilen
der Fig. 5 sind, mit den gleichen Bezugszahlen wie dort
und zusätzlich einem nachgestellten Buchstaben A bzw. B
bezeichnet sind, ist ein erfindungsgemäßer Oszillator 34 so
ausgebildet, daß er in Verbindung mit dem schnellen
Zeitgebersystem der Fig. 1 verwendet werden kann, das
mehrfache langsamere parallele Datenwege aufweist. Bei dem
Oszillator 34 brauchen keine teuren, schnellen und
kundenspezifisch hergestellten integrierten Schaltungen
verwendet zu werden, weil der Oszillator selbst in zwei
langsamere Periodenoszillatoren A und B aufgeteilt ist. Der
Periodenoszillator A erzeugt Signale BOC A und PERIODENREST
A für die Perioden 0, 2, 4, 6, usw. eines jeden Burst von
Periodendaten, während der Periodenoszillator t Signale BOC
B und PERIODENREST B für die Perioden 1, 3, 5, 7, usw.
eines jeden Bursts erzeugt. Die Signale BOC und
PERIODENREST, welche den Beginn der Periode 2 definieren,
werden durch die Summe des Periodenwertes der Perioden 0
und 1 definiert; die Signale BOC und PERIODENREST, welche
den Beginn der Periode 3 definieren, werden durch die Summe
der Periodenwerte der Perioden 1 und 2 bestimmt, usw.
Die Periodenoszillatoren weisen RAM-Speicher 202A und 202B
auf, die identische Periodenwert-Daten enthalten. Der RAM-
Speicher 202A wird durch Periodenadressen adressiert, die
vom A-Ausgang der Frequenzteilerschaltung 32 (Fig. 1)
geliefert werden. Der RAM-Speicher 202B wird durch
Periodenadressen adressiert, die vom B-Ausgang der
Frequenzteilerschaltung 32 geliefert werden.
Ein Addierer 222A oder 222B innerhalb jedes Oszillators muß
einen Periodenwert vom RAM-Speicher des betreffenden
Oszillators empfangen und muß vom RAM-Speicher des jeweils
anderen Oszillators den nächsten Periodenwert der Reihe von
Periodenwerten im gerade behandelten Burst empfangen. Es
sei jedoch bemerkt, daß die A- und B-Periodenoszillatoren
durch verschiedene Taktsignale von einem jeweils zugeordne
ten monostabilen Multivibrator 216A bzw. 216B getaktet
werden und daß diese Taktsignale manchmal gleichzeitig
auftreten können. Trotzdem stellen Pipeline-Pipeline-
Synchronisierschaltungen 24A und 24B, die im Durchrück-
oder FIFO-Betrieb arbeiten, in Verbindung mit Registern
226A, 228A, 230A, 226B, 228B und 230B sicher, daß an den
Addierern 222A und 222B stets die richtigen Eingangssignale
vorhanden sind. Die Pipeline-Pipeline-Synchronisierschal
tung 224B taktet Periodenwerte ein, wenn das Ausgangssignal
des monostabilen Multivibrators 216A hoch wird, und taktet
Periodenwerte aus, wenn das Ausgangssignal des monostabilen
Multivibrators 216B unmittelbar nach dem nächsten Hochwer
den des monostabilen Multivibrators 216A hoch wird. In
manchen Fällen kann die Pipeline-Pipeline-Synchronisier
schaltung 224B Periodenwerte austakten, wenn der Ausgang
des monostabilen Multivibrators 216B gleichzeitig mit dem
nächsten Hochwerden des monostabilen Multivibrators 216A
hoch wird, solange der Periodenwert drei Perioden nach
seiner Eintaktung ausgetaktet wird. Im Effekt verzögert
daher die Pipeline-Pipeline-Synchronisierschaltung 224B den
Periodenwert vom A-Periodenoszillator um eine Periode
weniger als dem Zeitmaß, um welches die Register 226B, 228B
und 230B den Periodenwert vom B-Oszillator verzögern.
In ähnlicher Weise taktet die Pipeline-Pipeline-Synchroni
sierschaltung 224A Periodenwerte ein, wenn der Ausgang des
monostabilen Multivibrators 216B hoch wird, und taktet
Periodenwerte aus, wenn der Ausgang des monostabilen
Multivibrators 216A unmittelbar nach dem nächsten
Hochwerden des monostabilen Multivibrators 216B hoch wird.
In manchen Fällen kann die Pipeline-Pipeline-Synchronisier
schaltung 224A Periodenwerte austakten, wenn der Ausgang
des monostabilen Multivibrators 216A gleichzeitig mit dem
nächsten Hochwerten des monostabilen Multivibrators 216B
hoch wird, solange der Periodenwert drei Perioden nach
seiner Eintaktung ausgetaktet wird. Die Pipeline-Pipeline-
Synchronisierschaltung 224A und 224B befähigen die A- und
B-Oszillatoren, Summen im Fluge auszurechnen, ohne daß es
erforderlich ist, die Summen in den RAM-Speichern 202A und
202B vorzuspeichern. Deswegen kann der Oszillator 34 in
automatischen Prüfsystemen verwendet werden, worin die
Musterfolge und somit die Periodenwertfolge aufgrund der
Ansprache des Prüflings variieren kann.
Die Pipeline-Pipeline-Synchronisierschaltungen 224A und
224B empfangen ein Betriebsart-Wählsignal, das dazu
verwendet werden kann, die Werte an den Ausgängen der
Pipeline-Pipeline-Synchronisierschaltungen auf Null zu
zwingen, damit die A- und B-Periodenoszillatoren als zwei
unabhängige Oszillatoren arbeiten können. Jeder der A- und
B-Periodenoszillatoren arbeitet, wenn er als unabhängiger
Oszillator betrieben wird, mit einer Maximalfrequenz, die
halb so hoch wie die Maximalfrequenz des Betriebs der
Gesamtoszillatorschaltung ist, wenn sie als einziger
Oszillator arbeitet. Das Betriebsart-Wählsignal wird in
Verbindung mit dem an die Frequenzteilerschaltung 32 (Fig.
1) gelegten Wählsignal MODE SEL 1 verwendet, um zu
erlauben, daß die Mustergeneratorschaltung 12 (Fig. 1) in
Verbindung mit Kanalkarten benutzt werden kann, welche nur
einwegige örtliche Generatorschaltungen haben, die mit dem
A-Ausgang der Frequenzteilerschaltung 32 und mit den
Ausgängen BOC A und REST A der Oszillatorschaltung 34
verbunden sind. Alternativ wird das Betriebsarten-
Wählsignal in Verbindung mit dem an die Frequenzteiler
schaltung 32 gelegten Wählsignal MODE SEL 2 benutzt, um zu
erlauben, daß das gesamte schnelle Zeitgebersystem mit zwei
Mustergeneratoren arbeiten und an jeden Eingangsknoten des
Prüflings eine Wellenform legen kann, die entweder aus den
über den A-Weg gelieferten Signalen oder aus den über den
B-Weg gelieferten Signalen resultiert, je nachdem, was
Mustergenerator-Wähleingänge an jedem örtlichen Generator
bestimmen.
Zwischen den Addierern 222A und 204A befindet sich ein
Register 232A, und zwischen den Addierern 222B und 204B
befindet sich ein Register 232B. Diese Register gestatten
die Verwendung von Addierern, die halb so schnell arbeiten,
wie es notwendig wäre, wenn die Register fehlen würden.
Zwei Multiplexer 234A und 234B empfangen Periodenwerte von
den RAM-Speichern 202A bzw. 202B und empfangen Perioden
werte von Null und Säumnis-Periodenwerte von 16,384 Nanose
kunden (eine Taktperiode). Die Multiplexer 234A und 234B
werden adressiert durch Rang-Aktivierungssignale RE A und
RE B vom Mustergenerator und durch Signale NULLZWANG A und
NULLZWANG B von einer Säumnisschaltung 236. Die Ausgänge
der Multiplexer 234A und 234B sind mit jeweils einem
zugeordneten Register 226A bzw. 226B und mit einer jeweili
gen Pipeline-Pipeline-Synchronisierschaltung 224B bzw. 224A
verbunden. Die Säumnisschaltung 236 liefert auperdem ein
Eingangssignal an die Addierer 204A und 204B, welches die
Ausgänge der Addierer auf Null zwingt, und ein Eingangs
signal an Koinzidenzdetektoren 212A und 212B, welches die
Ausgänge der Koinzidenzdetektoren auf hohen Zustand zwingt.
Vor jedem Burst von Periodenwerten während des Betriebs des
automatischen Prüfsystems bewirkt die Säumnisschaltung 236
die Rücksetzung und Synchronisierung der A- und B-Oszilla
toren über die Multiplexer 234A und 234B, wie weiter unten
beschrieben.
Die übrigen Teile des A- und des B-Oszillators sind analog
zu den Teilen, die im Schaltbild der Fig. 5 gezeigt sind.
Gemäß der Fig. 8 zeigen die Periodenanfangssignale BOC A
und BOC B an, welche ansteigenden Flanken des Taktgebers
als Bezugsmarke für den Beginn der geraden bzw. der
ungeraden Perioden für den Prüfling verwendet werden
sollen. Es sei bemerkt, daß dasjenige Taktsignal, das als
Bezugsmarke für den Beginn der Periode 3 dient, auch als
Bezugsmarke für den Beginn der Periode 4 dient. Innerhalb
einer gegebenen örtlichen Generatorschaltung 16 (Fig. 1)
empfängt einer der Zeitgeber sowohl das Signal BOC A als
auch das Signal PERIODENREST A, und eine zugeordnete
Interpolationsschaltung erzeugt als Ausgangssignal das
Signal TG OUT A, das aus Gründen der Einfachheit so
dargestellt ist, daß es am Beginn einer jeden A-Periode
hoch wird. Ein anderer Zeitgenerator empfängt sowohl das
Signal BOC B als auch das Signal PERIODENREST B, und eine
zugeordnete Interpolationsschaltung erzeugt als ein
Ausgangssignal das Signal TG OUT B. Die an den Prüfling
gelegte Wellenform hängt davon ab, zu welchen Zeitpunkten
entweder das Signal TG OUT A oder das Signal TG OUT B hoch
wird. Es sei bemerkt, daß vor dem Beginn eines jeden Bursts
jeder der Periodenoszillatoren Säumnisperioden von 32,768
Nanosekunden (zwei Taktperioden) ausführt. Infolgedessen
führt die Oszillatorschaltung als Ganzes Säumnisperioden
von 16,384 Nanosekunden aus. Diese Säumnisperioden
beeinträchtigen den Prüfling nicht.
In der Anordnung nach Fig. 1 erzeugt der Mustergenerator
30 Adressenmuster mit einer Frequenz von 120 MHz. Diese
Information wird zur Frequenzteilerschaltung 32 geliefert,
die das 120-MHz-Adressenmuster empfängt und zwei mit halber
Geschwindigkeit (d. h. 60 MHz) auftretende, also
"halbschnelle" Adressenmuster auf die Signalvereteilerwege
40 bzw. 42 der Verteilerschaltung 14 gibt. Die halbschnel
len Adressenmuster werden von der Frequenzteilerschaltung
32 zyklisch abwechselnd in die Signalverteilungswege 40, 42
geliefert, die Frequenzteilerschaltung 42 wirkt also als
Alternator. Weil das Muster vor seiner Übertragung an die
örtlichen Generatorschaltungen 16 frequenzgeteilt wird,
brauchen die Signalverteilungswege 40, 42 nur dazu
ausgelegt zu sein, um Signale mit einer Frequenz von 60 MHz
anstatt von 120 MHz zu übertragen.
Das schnelle Zeitgebersystem 10 liefert in Wirklichkeit ein
100-MHz-Signal am Knoten 20; der Mustergenerator 30 liefert
ein 120-MHz-Signal, um die Totzeit der Interpolatorschal
tungen 58, 64 (d. h. diejenige Zeit, welche die Interpola
torschaltung 58 zur Bildung einer neuen Flanke benötigt) zu
kompensieren, plus "Anstieg"- und "Abfall"-Eichwerte. Die
Interpolatorschaltungen 58, 64 können alle 16,34 ns neu
losgehen, somit gestattet das Zeitgeberschaltung 10 eine
maximale Differenz von 3,616 ns zwischen Anstieg- und
Abfall-Eichwerten, bei ihrer Auslegung als 100-MHz-Zeitge
berschaltung.
Beim Einschalten der Leistung und unmittelbar vor dem
Beginn eines jeden Musterburst wird das System 10 neu
synchronisiert. Genauer gesagt ist die Frequenzteilerschal
tung 32 so ausgelegt, daß bei Leistungseinschaltung und
auch bei ihrer Neusynchronisierung das erste von ihr
gelieferte Signal an dem mit A bezeichneten Ausgang
erscheint und über den Signalweg 40 gesendet wird. Für
einen Prüfling kann es zwischen 10 und 200 Musterbursts
geben, für die das System neu synchronisiert wird. Die
Periodenoszillatorschaltung 34 wird in einer weiten unten
beschriebenen Weise zur selben Zeit neu synchronisiert, zu
der auch der Rest des Systems neu synchronisiert wird.
Die Verteilerschaltung 14 liefert die von der Frequenztei
lerschaltung 32 erzeugten beiden halbschnellen Adressenmu
ster an 512 Kanäle. Jeder Kanal enthält eine örtliche
Generatorschaltung 16, wie sie in Fig. 1 gezeigt ist.
Gemäß den Fig. 1 und 3 empfängt der örtliche Speicher 54
das halbschnelle Adressenmuster und liefert unter Benutzung
von eigenen internen Nachschlagetabellen Daten zum Zeitge
ber 56. Diese Daten enthalten einen Zeitwert (TIMING) und
einen Datenwert (DATA). Der Zeitgeber 56 empfängt außerdem
eines der beiden Periodenanfangssignale (BOC) und eines der
beiden PERIODENREST-Signale vom zentralen Periodenoszilla
tor 34. Jeder Zeitgeber erzeugt, unter Verwendung der
Signale BOC, PERIODENREST, TIMING und DATA in der internen
Logik- und Steuerschaltung 90, die Signale TG REST und
MATCH, die zur Interpolatorschaltung 58 gesendet werden
sollen. Die Signale TG REST und MATCH sind analog den
Signalen PERIODENREST und BOC, nur daß TG REST und MATCH
Zeitpunkte definieren, die gegenüber den Periodenanfängen
um Zeitmaße verzögert sind, welche durch den Zeitwert
TINING dargestellt werden, und daß sie weiter um einen oder
zwei Eichwerte verzögert sind. Die interne Logik- und
Steuerschaltung 90 gründet die Wahl der Eichwerte auf den
Wert des Signals DATA.
Für einen gegebenen Zeitgeber repräsentieren die Signale TG
REST und MATCH entweder 1) die Zeitpunkte, auf welche der
Formatierer 66 Übergänge in der auf den Prüfling gegebenen
Wellenformen legt, 2) die Zeitpunkte, zu denen der Forma
tierer 66 dem Treiber 68 anzeigt, ob das Anlegen der
Wellenform an den Prüfling beginnen oder enden soll, 3) die
Zeitpunkte, zu denen die Ausgänge des doppelten Detektors
70 verriegelt werden, oder 4) die Zeitpunkte, zu denen die
Multiplexierung der Anschlüsse (Stifte) stattfinden soll.
Der Wert des Signals DATA sagt in entsprechender Weise aus,
entweder 1) ob ein Übergang in der Wellenform zum hohen
oder niedrigen Zustand der Wellenform führt, 2) ob der
Formatierer 66 dem Treiber 68 entweder das Beginnen oder
die Beendigung des Anlegens der Wellenform an den Prüfling
aufgeben soll, oder 3) ob ein Signal vom Prüfling als hohes
oder niedriges Signal zu erwarten ist. Im vierten Fall wird
das Signal DATA nicht verwendet.
Wenn das Signal DATA aussagt, ob ein Übergang in der
Wellenform zum hohen oder niedrigen Zustand der Wellenform
führt, dann muß die interne Logik- und Steuerschaltung des
Zeitgebers 56 zwischen einem "Anstieg"- und einem "Abfall"-
Eichwert wählen. Der "Anstieg"-Eichwert entspricht einer
Zeitdauer, die benötigt wird, um den auf einen ansteigenden
Übergang zurückzuführenden Versatz in der an den Prüfling
gelegten Wellenform zu kompensieren, und ein "Abfall"-
Eichwert entspricht einer Zeitdauer, die benötigt wird, um
den auf einen abfallenden Übergang zurückzuführenden
Versatz in der Wellenform zu kompensieren. Die interne
Logik- und Steuerschaltung trifft die Wahl zwischen
"Anstieg"- und "Abfall"-Eichwert unter Beobachtung des
Datenwertes (DATA). Wenn DATA anzeigt, daß ein Übergang in
der Wellenform, falls er stattfindet, zum hohen Wert in der
Wellenform führt, dann kann angenommen werden, daß der
Übergang den auf einen ansteigenden Übergang zurückzufüh
renden Versatz verursacht. Wenn DATA anzeigt, daß ein
Übergang in der Wellenform, falls er stattfindet, zum
niedrigen Wert der Wellenform führt, dann kann in ähnlicher
Weise angenommen werden, daß der betreffende Übergang den
auf einen abfallenden Übergang zurückzuführenden Versatz
verursacht. Somit kann die interne Logik- und Steuerschal
tung durch Beobachtung des Wertes von DATA leicht und
bequem feststellen, welcher Eichwert zu benutzen ist. Falls
die Wellenform bereits auf dem hohen Wert (oder dem
niedrigen Wert) ist und das Signal DATA anzeigt, daß ein
"Übergang" bei einem bestimmten Zeitpunkt das Verbleiben
der Wellenform auf dem hohen Wert (bzw. dem niedrigen Wert)
bewirkt, dann gibt es in Wirklichkeit keinen Übergang. Der
Eichwert wird in digitaler Weise mit dem Zeitwert und dem
Periodenrestwert addiert, und zwar mittels einer innerhalb
der internen Logik- und Steuerschaltung 90 befindlichen
Summierungsschaltung.
Wenn andererseits das Signal DATA die Aussage repräsen
tiert, ob der Formatierer dem Treiber 68 das Beginnen oder
die Beendigung des Anlegens der Wellenform an den Prüfling
aufgeben soll, dann muß in ähnlicher Weise die interne
Logik- und Steuerschaltung 90 des Zeitgebers 56 zwischen
einem "Ein"-Eichwert und einem "Aus"-Eichwert wählen. Der
"Ein"-Eichwert entspricht einer Zeitdauer, die benötigt
wird, um denjenigen Versatz in der an den Prüfling gelegten
Wellenform zu kompensieren, der zurückzuführen ist auf den
Beginn des Anlegens der Wellenform vom Formatierer 66 an
den Treiber 68. Der "Aus"-Eichwert entspricht einer
Zeitdauer, die benötigt wird, um denjenigen Versatz in der
Wellenform zu kompensieren, der auf die Beendigung des
Anlegens der Wellenform vom Formatierer 66 an den Treiber
zurückzuführen ist. Wenn das Signal DATA eine Aussage
repräsentiert, ob ein Signal vom Prüfling als hohes oder
als niedriges Signal zu erwarten ist, dann muß die interne
Logik- und Steuerschaltung 90 des Zeitgebers 56 zwischen
einem "Hoch"-Eichwert und einem "Niedrig"-Eichwert wählen.
Ein "Hoch"-Eichwert entspricht einer Zeitdauer, die
benötigt wird, um denjenigen Versatz in der Wellenform zu
kompensieren, der dadurch verursacht wird, daß das vom
Prüfling her empfangene Signal als hohes Signal erwartet
wird. Ein "Niedrig"-Eichwert entspricht einer Zeitdauer,
die benötigt wird, um denjenigen Versatz in der Wellenform
zu kompensieren, der dadurch verursacht wird, daß das vom
Prüfling her empfangene Signal als niedriges Signal
erwartet wird.
Das Register 92 wird dazu verwendet, die Signale DATA, TG
REST und MATCH mit der Interpolatorschaltung 58 zu
synchronisieren, weil diese Signale im Register 92 unter
Verwendung des ebenfalls von der Logik 90 benutzten Signals
CLK gespeichert werden und dem Interpolator 58 unter
Verwendung des Signals CLK OUT zugeführt werden, das vom
Interpolator 58 erzeugt wird. Die Interpolatorschaltung 58
erzeugt das Signal CLK OUT durch Frequenzteilung des 240-
MHz-Signals CLK×4 durch vier; dieses frequenzgeteilte
Signal wird auch benutzt, um intern Teile der Interpolator
schaltung 58 zu takten. Gemäß der Fig. 4 arbeitet die
Teilerschaltung 106 in Verbindung mit der Verzögerungs
schaltung 108 als freilaufender Taktgeber für die
Interpolatorschaltung 58. Die Verzögerungsschaltung 108
liefert ein Taktsignal, das um eine Periode (ungefähr 4 ns)
verzögert ist, an die interne Schaltungsanordnung der
Interpolatorschaltung 58.
Im Betrieb ist, solange TG MATCH niedrig ist, ist die
Interpolatorschaltung 58 in Ruhe, weil ein niedriges TG
MATCH bewirkt, daß das Signal ENB der Aktivierungsschaltung
102 niedrig ist. Wenn ENB niedrig ist, sind alle Ausgangs
werte von DEC1 niedrig, und die Latch-Schaltungen LATCH 1
und LATCH 2 bleiben in ihrem vorherigen Zustand.
Wird TG MATCH hoch, dann funktioniert die Aktivierungs
schaltung 102 als monostabiler Multivibrator und liefert
einen Impuls von 4,096 ns. Genauer gesagt, wenn TG MATCH
hoch wird, geht TGMQ beim nächsten Taktimpuls vom Flipflop
FF17 auf hohen Pegel. Bei hohem TGMQ bewirkt der nächste
Taktimpuls vom Puffer BUF2, der mit dem Vierfachen der
Frequenz des Taktsignals vom Flipflop FF17 taktet, daß ENB
hoch wird. Geht ENB hoch, dann werden LATCH 1, LATCH 2 und
DEC1 aktiviert, und FF4 wird zurückgesetzt, was TMGQ
niedrig werden läßt, so daß ENB bei der nächsten Taktperi
ode niedrig wird. Im aktivierten Zustand von LATCH 1, LATCH
2 und DEC1 werden Daten von den Flipflops FF1, FF2 und FF3
an LATCH 1 bzw. LATCH 2 bzw. DEC1 übertragen. Diese Daten
bleiben, bis TG MATCH wieder hoch wird.
Wenn das Aktivierungssignal ENB hoch wird, empfängt die
Impulsschluckerschaltung 104 die beiden höchstwertigen Bits
des Signals TG REST. Genauer gesagt bilden diese Bits die
Eingangssignale für DEC1. DEC1 liefert ein hohes Ausgangs
signal auf einer der Leitungen PS0 bis PS3, abhängig vom
Wert der Signale TGR8 QA und TGR9 QA. Die Impulsschlucker
schaltung 104 bringt eine Verzögerung von 0 bis 12,288 ns,
was zur Folge hat, daß die Sägezahnschaltung 114 einen
Sägezahn nur zwischen 0 und 4,080 ns anstatt zwischen 0 und
16,368 ns zu erzeugen braucht. Genauer gesagt, wenn sowohl
TGR8 QA als auch TGR9 QA niedrig ist, dann ist PS0 hoch,
und PS1 bis PS3 sind niedrig. Somit braucht ein hoher Pegel
nur durch zwei Flipflops (FF11 und FF12) geschleust zu
werden, bevor er das Glied ORNOR1 erreicht. Wenn umgekehrt
beide Signale TGR8 QA und TGR9 QA hoch sind, dann ist PS3
hoch und PS0 bis PS2 sind niedrig. Somit wird ein hoher
Pegel durch fünf Flipflops (FF8 bis FF12) getaktet, bevor
er das Glied ORNOR1 erreicht. Die zusätzlichen drei
Flipflops bringen eine zusätzliche Verzögerung von 12 ns.
Wenn am Ausgang von FF11 der Impulsschluckerschaltung 104
ein hoher Pegel geliefert wird, dann werden die Flipflops
FF6 und FF7 der Synchronisierschaltung 112 getaktet; somit
gelangt das Ausgangssignal DATA QC zum Flipflop FF14, und
die acht niedrigstwertigen Bits des Signals TG REST gelan
gen zum Digital/Analog-Wandler DAC1. Der Wandler DAC1
liefert ein analoges Ausgangssignal, das in eine Spannung
umgewandelt wird und an den "+"-Eingang des Vergleichers
COMP1 gelegt wird. Dieser Eingang bleibt konstant, bis FF7
das nächstemal getaktet wird.
Wenn am Ausgang des Flipflops FF12 der Impulsschlucker
schaltung 104 ein hoher Pegel geliefert wird, dann wird das
Flipflop FF14 der Synchronisierschaltung 112 getaktet, und
das vollständig differentiale Flipflop FF13 wird mit einem
hohen Pegel beliefert. Das Ausgangssignal von FF14 wird
durch das Verzögerungselement DELAY 1 auf Im wesentlichen
das gleiche verzögert wie TG OUT und TG OUT*. Bei der
nächsten Flanke vom Puffer BUF2 liefert FF13 eine Flanke,
welche die Sägezahnschaltung INT1 veranlaßt, den Sägezahn
zu beginnen. Dieses Sägezahnsignal setzt sich fort, bis es
gleich der Spannung vom Strom/Spannungs-Wandler AR1 ist. Zu
diesem Zeitpunkt liefert der Vergleicher COMP1 eine
Differentialsignalflanke, welche den monostabilen Multivi
brator ONESHI veranlaßt, einen genau zeitgesteuerten
Differentialeignalimpuls zu liefern.
Zusätzlich zur Lieferung der Signale TG OUT und DATA OUT
kann die Interpolatorschaltung 58 unter Verwendung einer
internen Eichschaltung 110 geeicht werden. Genauer gesagt,
wenn der Justier-Aktivierungseingang ADJ EN hoch ist, wird
die Latch-Schaltung LATCH 3 aktiviert, und die acht
niedrigstwertigen Bits des Signals TG REST werden an den
Wandler DAC2 geliefert. Der Wandler DAC2 benutzt diese
Information, um die Verstärkung des Wandlers DAC1 zu
justieren. Die Verstärkung von DAC1 kann auch durch das
Signal FS CAL justiert werden, was eine externe Verstär
kungsjustierung erlaubt. Das Signal ADJ EN veranlapt auch
den Multiplexer MUX1, das Komplement-Ausgangssignal IOUT
des Wandlers DACI als analoges Ausgangssignal DAC OUT zu
liefern. Somit kann das Ausgangssignal von DAC1 gemessen
werden, wenn ihm ein bekanntes Signal zugeführt wird.
Gemäß den Fig. 7 und 8 stellt sich die Säumnisschaltung
236 im Perlodenoszillator 34 vor jedem Periodeninformati
ons-Burst zurück und synchronisiert die A- und B-
Periodenoszillatoren. Die Säumnisschaltung legt Perioden
werte von Null an beide Oszillatoren, indem sie die
Multiplexer 234A und 234B mit NULLZWANG A und NULLZWANG B
adressiert, was bewirkt, daß die Multiplexer am Ausgang
Periodenwerte von Null liefern. Da die Koinzidenzdetektoren
212A und 212B so angeordnet sind, daß die von ihnen
gelieferten Signale nur dann hoch sind, wenn der Ausgang
des Periodenanfangs-Rückwärtszählers 210 eine Eins oder
eine Null liefert, läßt sich zeigen, daß die Signale BOC A
und BOC B so lange hochgetrieben werden, wie der Perioden
wert gleich Null ist. Infolgedessen werden die beiden A-
und B-Oszillatoren bei jeder Taktperiode getaktet, sobald
der Periodenwert von Null durch die Pipelines getaktet
worden ist. Zum gleichen Zeitpunkt, wo die Säumnisschaltung
236 die Multiplexer 234A und 234B adressiert, um sie dazu
zu bringen, Periodenwerte von Null an die Periodenoszilla
toren zu legen, zwingt die Säumnisschaltung 236 auch die
Ausgänge der Addierer 204A und 204B auf Null, so daß die
PERIODENREST-Rückkopplungsschleife gelöscht wird, und
zwingt die Koinzidenzdetektoren 212A und 212B auf hohen
Pegel, wodurch BOC A und BOC B auf hohen Pegel gezwungen
werden. Die Ausgänge der Addierer werden auf Null gehalten,
und die Ausgänge der Koinzidenzdetektoren werden für eine
genügend lange Zeitdauer auf Null gehalten, damit der
Periodenwert von Null durch die Pipelines laufen kann.
Sobald der Periodenwert von Null durch die Pipelines
gelaufen ist, werden die Addierer nicht mehr auf Null
gezwungen, und die Ausgänge der Koinzidenzdetektoren werden
nicht länger auf hohen Pegel gezwungen.
Die Säumnisschaltung 236 ändert dann den Zustand des
Signals NULLZWANG B, was den Multiplexer 234B veranlaßt,
eine Säumnisperiode gleich einer Taktperiode auszugeben.
Bei dieser Taktperiode liefert der Multiplexer 234A noch
einen Periodenwert von Null. Bei der nächsten Taktperiode
ändert die Säumnisschaltung 236 den Zustand des Signals
NULLZWANG A. Bei dieser Taktperiode und bei jeder nachfol
genden Taktperiode bis zum Beginn des Burst adressiert also
die Säumnisschaltung 236 beide Multiplexer 234A und 234B in
einer solchen Weise, daß sie beide die Säumnisperiode
ausgeben.
Es läßt sich zeigen, daß der erste von Null verschiedene
Periodenwert, den der Periodenanfangs-Rückwärtszähler 210A
empfängt, der Säumnisperiodenwert ist, während der erste
von Null verschiedene Periodenwert, den der Periodenan
fangs-Rückwärtszähler 210B empfängt, der zweifache Wert der
Säumnisperiode ist. Die Perlodenanfangs-Rückwärtszähler
210A und 210B empfangen diese ersten Nichtnull-Perioden
werte bei der derselben Taktperiode. Bei allen folgenden
Perioden der A- und B-Oszillatoren vor dem Beginn des
Bursts empfängt jeder der Periodenanfangs-Rückwärtszähler
210A und 210B einen Periodenwert gleich dem Doppelten der
Säumnisperiode, und die A- und B-Oszillatoren werden bei
abwechselnden Taktperioden getaktet. Es ist notwendig, die
erste Säumnisperiode an den B-Oszillator anstatt an den A-
Oszillator zu legen, denn wenn man die erste Säumnisperiode
an den A-Oszillator legen würde, dann würde der restliche
Teil des schnellen Datenverteilungssystems, der so
ausgelegt ist, daß er das erste gleichzeitige Auftreten von
BOC A und BOC B nach der Rücksetzung als markierend für
eine A-Periode und die nächste B-Periode interpretiert, das
Ausgangssignal der Oszillatorschaltung so interpretieren,
als enthielte es zwei B-Perioden in einer Reihe.
Wenn ein Burst beginnt, wird ein A-Rangaktivierungssignal
(RE A) an den Multiplexer 234A gelegt, und gleichzeitig
wird die erste Periodenadresse an den RAM-Speicher 202A
gelegt, wenn der Mustergenerator durch das Ausgangssignal
des monostabilen Multivibrators 216A getaktet wird. Dann
wird ein B-Rangaktivierungssignal (RE B) an den Multiplexer
234B gelegt, und gleichzeitig wird die nächste Perioden
adresse an den RAM-Speicher 202B gelegt, wenn der Muster
generator durch das Ausgangssignal des monostbilen
Multivibrators 216B getaktet wird. Die Rangaktivierungs
signale veranlassen die Multiplexer, die von den RAM-
Speichern 202A bzw. 202B empfangenen Periodenwerte
abzugeben.
Gemäß der Fig. 8 liefert, sobald ein Burst beginnt, eine
der Interpolatorschaltungen innerhalb einer gegebenen
örtlichen Generatorschaltung als Ausgangssignal das Signal
TG OUT A, das am Beginn einer jeden geraden Periode hoch
wird. Eine andere Interpolationsschaltung liefert als
Ausgangssignal das Signal TG OUT B. Die dem Prüfling
angelegte Wellenform hängt von den Zeitpunkten ab, zu denen
entweder das Signal TG OUT A oder das Signal TG OUT B hoch
wird.
Neben der vorstehend beschriebenen Ausführungsform liegen
auch andere Ausführungsformen im Bereich der Patentansprü
che.
Beispielsweise kann die Interpolatorschaltung 58 in anderen
Systemen verwendet werden, in denen genau zeitgesteuerte
Ausgangsdaten gewünscht sind. In einem solchen System kann
die Interpolatorschaltung 58 dadurch zurückgesetzt werden,
daß auf den beiden Leitungen für ADJ EN und TG REST 8 ein
hoher Pegel geliefert wird. Ein hoher Pegel auf diesen
beiden Leitungen veranlaßt das UND-Glied AND1, einen hohen
Pegel an die Rücksetzeingänge der Flipflops FF15, FF16 und
FF17 zu liefern, womit die Taktsignale, welche die gesamte
Schaltung takten, zurückgesetzt werden.
Auch kann z. B. das Zeitgebersystem 10 ein Signal liefern,
das schneller als 100 MHz ist, indem die Maximaldifferenz
zwischen dem "Anstieg"- und dem "Abfall"-Eichwert reduziert
wird.
Als weiteres Beispiel ist zu erwähnen, daß das System 10
jede beliebige Anzahl von Signalvertellungswegen enthalten
kann. In einem solchen System teilt die Frequenzteiler
schaltung das schnelle Muster in so viele langsamere
Muster, wie benötigt. Das System 10 kann also so
ausgebildet werden, daß es speziellen Bedürfnissen
einzelner Kunden entspricht. Wenn z. B. ein Kunde ein extrem
schnelles System benötigt, dann werden mehr Signalvertei
lungswege vorgesehen; wünscht ein Kunde hingegen ein
billigeres System, dann wird die Anzahl der Signalvertei
lungswege reduziert.
Claims (20)
1. Anordnung zur Erzeugung von Signalmustern
mit einem schnell arbeitenden Adressenmustergenerator, der zur Lieferung von Adressenmustern hoher Frequenz ausgebildet ist,
und mit einer örtlichen Generatorschaltung, die in Ansprache auf gelieferte Adressenmuster eine Ausgangsfolge zeitgesteuerter Signale hoher Frequenz erzeugt,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Teilerschaltung (Frequenzteilerschaltung 32) vorgesehen ist, welche die Adressenmuster hoher Frequenz vom Adressenmustergenerator (30) empfangen und sie in eine Mehrzahl voneinander getrennter Adressenmuster niedrigerer Frequenz aufteilen kann, und
daß die örtliche Generatorschaltung (16) Einrichtungen (50, 52) zur getrennten Verarbeitung der getrennten Adressenmuster niedrigerer Frequenz enthält und eine Einrichtung (66) aufweist, die aus den Ergebnissen der getrennten Verarbeitung die Ausgangssignalfolge hoher Frequenz erzeugt.
mit einem schnell arbeitenden Adressenmustergenerator, der zur Lieferung von Adressenmustern hoher Frequenz ausgebildet ist,
und mit einer örtlichen Generatorschaltung, die in Ansprache auf gelieferte Adressenmuster eine Ausgangsfolge zeitgesteuerter Signale hoher Frequenz erzeugt,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Teilerschaltung (Frequenzteilerschaltung 32) vorgesehen ist, welche die Adressenmuster hoher Frequenz vom Adressenmustergenerator (30) empfangen und sie in eine Mehrzahl voneinander getrennter Adressenmuster niedrigerer Frequenz aufteilen kann, und
daß die örtliche Generatorschaltung (16) Einrichtungen (50, 52) zur getrennten Verarbeitung der getrennten Adressenmuster niedrigerer Frequenz enthält und eine Einrichtung (66) aufweist, die aus den Ergebnissen der getrennten Verarbeitung die Ausgangssignalfolge hoher Frequenz erzeugt.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Teilerschaltung die niedrigerfrequenten
Adressenmuster zyklisch liefert.
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die niedrigerfrequenten Adressenmuster in einer
Folge geliefert werden und
daß die Folge durch das hochfrequente Adressenmuster
bestimmt wird.
4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Teilerschaltung zwei niedrigerfrequente
Adressenmuster mit jeweils einer Frequenz liefert, die halb
so hoch wie die Frequenz des hochfrequenten Adressenmusters
ist.
5. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Teilerschaltung vier niedrigerfrequente
Adressenmuster mit jeweils einer Frequenz liefert, die ein
Viertel der Frequenz des hochfrequenten Adressenmusters
ist.
6. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine
solche Ausbildung der Teilerschaltung, daß sie auf den
Empfang eines Rücksetzsignals hin ein bestimmtes niedriger
frequentes Adressenmuster liefert.
7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß das Rücksetzsignal empfangen wird, wenn die Anordnung
anfänglich eingeschaltet wird.
8. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß das Rücksetzsignal am Beginn eines Bursts der
hochfrequenten Adressenmuster empfangen wird.
9. Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Vielzahl von Bursts hochfrequenter Adressenmuster
für einen von der Anordnung zu prüfenden Prüfling geliefert
wird.
10. Anordnung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß für den Prüfling zwischen 10 und 200 Bursts hochfre
quenter Adressenmuster geliefert werden.
11. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die örtliche Generatorschaltung (16) folgendes enthält:
eine Mehrzahl von Signalerzeugungsschaltungen (50, 52), die für einen Betrieb mit der niedrigeren Frequenz ausgelegt sind, um zeitgesteuerte Signale mit der niedrigeren Frequenz zu liefern, und
eine schnelle Formatierungsschaltung (66), die zum Empfang der niedrigerfrequenten Signale und zur Lieferung der hochfrequenten Ausgangsfolge zeitgesteuerter Signale ausgelegt ist.
eine Mehrzahl von Signalerzeugungsschaltungen (50, 52), die für einen Betrieb mit der niedrigeren Frequenz ausgelegt sind, um zeitgesteuerte Signale mit der niedrigeren Frequenz zu liefern, und
eine schnelle Formatierungsschaltung (66), die zum Empfang der niedrigerfrequenten Signale und zur Lieferung der hochfrequenten Ausgangsfolge zeitgesteuerter Signale ausgelegt ist.
12. Anordnung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet,
daß jede Signalerzeugungsschaltung (50, 52) folgendes
enthält:
einen Zeitgeber (56 bzw. 62), der Informationen empfängt, die in Beziehung zu den niedrigerfrequenten Adressenmustern stehen, und, basierend auf diesen Informationen, Zeitgeberinformation liefert, und
eine Interpolatorschaltung (58 bzw. 64), welche die Zeitgeberinformation empfängt und die zeitgesteuerten Signale mit der niedrigeren Frequenz erzeugt.
einen Zeitgeber (56 bzw. 62), der Informationen empfängt, die in Beziehung zu den niedrigerfrequenten Adressenmustern stehen, und, basierend auf diesen Informationen, Zeitgeberinformation liefert, und
eine Interpolatorschaltung (58 bzw. 64), welche die Zeitgeberinformation empfängt und die zeitgesteuerten Signale mit der niedrigeren Frequenz erzeugt.
13. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die Zeitgeberinformation unter Verwendung eines
Taktsignals, das von der Interpolatorschaltung erzeugt
wird, an die Interpolatorschaltung geliefert wird.
14. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die Zeitgeberinformation ein Paßt-Signal (MATCH-Signal)
und ein Rest-Signal enthält, wobei das Paßt-Signal von der
Interpolatorschaltung verwendet wird, um zu bestimmen,
wann die Erzeugung der niedrigerfrequenten Signale beginnen
soll, und wobei das Rest-Signal dazu verwendet wird, zu
bestimmen, wann die niedrigerfrequenten Signale geliefert
werden sollen.
15. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß jede Signalerzeugungsschaltung ferner einen örtlichen
Speicher (54 bzw. 60) enthält, der die niedrigerfrequenten
Adressenmuster empfängt und die in Beziehung zu den
niedrigerfrequenten Adressenmustern stehenden Informartio
nen liefert.
16. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Teilerschaltung ein erstes Betriebsmodus-
Wählsignal empfängt, das zwischen einer Mehrzahl von
Betriebsarten der Teilerschaltung auswählt;
daß die Teilerschaltung in einer ersten der Mehrzahl von Betriebsarten die hochfrequenten Adressenmuster empfängt und die Mehrzahl niedrigerfrequenter Adressenmuster mit der niedrigeren Frequenz liefert, und
daß die Teilerschaltung in einer zweiten der Mehrzahl von Betriebsarten die hochfrequenten Adressenmuster empfängt und die hochfrequenten Adressenmuster als Ausgangssignal liefert.
daß die Teilerschaltung in einer ersten der Mehrzahl von Betriebsarten die hochfrequenten Adressenmuster empfängt und die Mehrzahl niedrigerfrequenter Adressenmuster mit der niedrigeren Frequenz liefert, und
daß die Teilerschaltung in einer zweiten der Mehrzahl von Betriebsarten die hochfrequenten Adressenmuster empfängt und die hochfrequenten Adressenmuster als Ausgangssignal liefert.
17. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Teilerschaltung ein zweites Betriebsmodus-
Wählsignal empfängt, das zwischen einer Mehrzahl von
Betriebsarten der Teilerschaltung auswählt;
daß die Teilerschaltung in einer ersten der Mehrzahl von Betriebsarten die höchfrequenten Adressenmuster vom schnellen Adressenmustergenerator über einen einzigen Weg empfängt;
daß die Teilerschaltung in einer zweiten der Mehrzahl von Betriebsarten die hochfrequenten Adressenmuster über einen ersten Weg vom schnellen Adressenmustergenerator empfängt, die hochfrequenten Adressenmuster an einen ersten Ausgang liefert, eine zweite Gruppe von hochfrequenten Adressenmustern über einen zweiten Weg von einem zweiten schnellen Adressenmustergenerator empfängt und die zweite Gruppe von hochfrequenten Adressenmustern an einen zweiten Ausgang liefert.
daß die Teilerschaltung in einer ersten der Mehrzahl von Betriebsarten die höchfrequenten Adressenmuster vom schnellen Adressenmustergenerator über einen einzigen Weg empfängt;
daß die Teilerschaltung in einer zweiten der Mehrzahl von Betriebsarten die hochfrequenten Adressenmuster über einen ersten Weg vom schnellen Adressenmustergenerator empfängt, die hochfrequenten Adressenmuster an einen ersten Ausgang liefert, eine zweite Gruppe von hochfrequenten Adressenmustern über einen zweiten Weg von einem zweiten schnellen Adressenmustergenerator empfängt und die zweite Gruppe von hochfrequenten Adressenmustern an einen zweiten Ausgang liefert.
18. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch
gekennzeichnet,
daß zur Lieferung von Zeitsteuerinformationen, die abhängig von den Adressenmustern die Zeiten des Auftretens der Signale in der Ausgangsfolge auf der Basis eines von einem Referenztaktgeber (108) gelieferten Taktsignals steuern, eine Mehrzahl von Periodenoszillatoren (A- und B-Periodenoszillator in Fig. 7) vorgesehen ist, deren jeder folgendes aufweist:
einen Speicher (202A bzw. 202B), der eines der Adressenmuster niedrigerer Frequenz von der Teilerschaltung (32) empfängt und für jeden Adressenwert einen zugeordneten Periodenwert liefert, der die Länge der Zeitperiode zwischen zwei signalen der Ausgangsfolge darstellt;
eine Summierungsschaltung (222A bzw. 222B), die eine Mehrzahl von Periodenwerten, welche eine entsprechende Mehrzahl benachbarter Zeitperioden in der Ausgangsfolge darstellen, empfängt und die Periodenwerte summiert, um ein Summierungs-Ausgangssignal zu erzeugen, und
eine Flankenwählschaltung (210A bzw. 210B), die zumindest einen die höchstwertigen Bits umfassenden Teil des Summierungs-Ausgangssignals empfängt und ein Signal erzeugt, das eine Flanke des Taktsignals (Ausgang von 208) identi fiziert, welche um eine ganze Anzahl von Taktsignalperioden gegenüber derjenigen Flanke entfernt liegt, die zuvor von der Flankenwählschaltung identifiziert worden ist, wobei die ganze Zahl aus mindestens dem höchstwertigen Teil des Summierungs-Ausgangssignals bestimmt wird,
daß die Mehrzahl der Periodenoszillatoren derart angeordnet ist, daß jeder Periodenwert einer Periodenwert folge, die eine entsprechende Folge benachbarter Zeitperioden in der Ausgangsfolge darstellt, von der Summierungsschaltung eines jeden der Periodenoszillatoren empfangen wird, wobei jedoch die Summierungsschaltungen jeweils verschiedener Periodenoszillatoren jeden Periodenwert in der Periodenwertfolge mit sich voneinander unterscheidenden Kombinationen anderer Periodenwerte der Periodenwertfolge summieren.
daß zur Lieferung von Zeitsteuerinformationen, die abhängig von den Adressenmustern die Zeiten des Auftretens der Signale in der Ausgangsfolge auf der Basis eines von einem Referenztaktgeber (108) gelieferten Taktsignals steuern, eine Mehrzahl von Periodenoszillatoren (A- und B-Periodenoszillator in Fig. 7) vorgesehen ist, deren jeder folgendes aufweist:
einen Speicher (202A bzw. 202B), der eines der Adressenmuster niedrigerer Frequenz von der Teilerschaltung (32) empfängt und für jeden Adressenwert einen zugeordneten Periodenwert liefert, der die Länge der Zeitperiode zwischen zwei signalen der Ausgangsfolge darstellt;
eine Summierungsschaltung (222A bzw. 222B), die eine Mehrzahl von Periodenwerten, welche eine entsprechende Mehrzahl benachbarter Zeitperioden in der Ausgangsfolge darstellen, empfängt und die Periodenwerte summiert, um ein Summierungs-Ausgangssignal zu erzeugen, und
eine Flankenwählschaltung (210A bzw. 210B), die zumindest einen die höchstwertigen Bits umfassenden Teil des Summierungs-Ausgangssignals empfängt und ein Signal erzeugt, das eine Flanke des Taktsignals (Ausgang von 208) identi fiziert, welche um eine ganze Anzahl von Taktsignalperioden gegenüber derjenigen Flanke entfernt liegt, die zuvor von der Flankenwählschaltung identifiziert worden ist, wobei die ganze Zahl aus mindestens dem höchstwertigen Teil des Summierungs-Ausgangssignals bestimmt wird,
daß die Mehrzahl der Periodenoszillatoren derart angeordnet ist, daß jeder Periodenwert einer Periodenwert folge, die eine entsprechende Folge benachbarter Zeitperioden in der Ausgangsfolge darstellt, von der Summierungsschaltung eines jeden der Periodenoszillatoren empfangen wird, wobei jedoch die Summierungsschaltungen jeweils verschiedener Periodenoszillatoren jeden Periodenwert in der Periodenwertfolge mit sich voneinander unterscheidenden Kombinationen anderer Periodenwerte der Periodenwertfolge summieren.
19. Anordnung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet,
daß die Flankenwählschaltung einen Zähler (210A bzw. 210B)
aufweist, der mindestens den die höchstwertigen Bits
umfassenden Teil des Summierungs-Ausgangssignals empfängt, um
eine diesem Teil des Summierungs-Ausgangssignals entsprechende
Anzahl von Taktperioden des Referenztaktgebers (208)
abzuzählen und daraufhin das Signal zu erzeugen, das die
Flanke des Taktsignals identifiziert.
20. Anordnung nach Anspruch 1-8 oder 19, dadurch
gekennzeichnet, daß jeder der Mehrzahl der Periodenoszilla
toren ferner eine Restwertschaltung aufweist, um ein
Restwertsignal zu erzeugen, das repräsentativ für eine ab der
von der Flankenwählschaltung identifizierten Flanke des
Taktsignals gemessenen Restzeit ist, die bestimmt wird aus der
aus einem die niedrigstwertigen Bits umfassenden
Teil des Summierungs-Ausgangssignals und einem von der
Restwertschaltung zuvor erzeugten Restwertsignal gebildeten
Summe.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4143468A DE4143468C2 (de) | 1990-10-30 | 1991-08-13 | Schaltungsanordnung zur Erzeugung von Ausgangsimpulsen und Zeitsteuerschaltung für eine Schaltungsprüfvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/605,977 US5321700A (en) | 1989-10-11 | 1990-10-30 | High speed timing generator |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4126767A1 DE4126767A1 (de) | 1992-05-14 |
DE4126767C2 true DE4126767C2 (de) | 1998-07-16 |
Family
ID=24426001
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4126767A Expired - Fee Related DE4126767C2 (de) | 1990-10-30 | 1991-08-13 | Anordnung zur Erzeugung von Signalmustern |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5321700A (de) |
JP (1) | JPH087704B2 (de) |
CA (1) | CA2048469C (de) |
DE (1) | DE4126767C2 (de) |
FR (1) | FR2672139A1 (de) |
GB (1) | GB2252418B (de) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2680947B2 (ja) * | 1991-09-12 | 1997-11-19 | 三菱電機株式会社 | テストタイミングプログラム自動生成装置 |
JP2921291B2 (ja) * | 1992-08-28 | 1999-07-19 | 安藤電気株式会社 | パターン信号発生器に同期したac測定電圧印加回路 |
JP3591657B2 (ja) * | 1993-10-13 | 2004-11-24 | 株式会社アドバンテスト | 半導体ic試験装置 |
JPH07280883A (ja) * | 1994-04-04 | 1995-10-27 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
EP0686917A1 (de) * | 1994-06-07 | 1995-12-13 | International Business Machines Corporation | Vorrichtung zur Bearbeitung einer Serie von Taktsignalen |
JPH0862302A (ja) * | 1994-08-19 | 1996-03-08 | Advantest Corp | サイクル遅延用パターン発生器 |
EP0815461B1 (de) * | 1995-03-16 | 2000-06-21 | Teradyne, Inc. | Zeitgeber mit mehreren kohärenten synchronisierten takten |
US5566188A (en) * | 1995-03-29 | 1996-10-15 | Teradyne, Inc. | Low cost timing generator for automatic test equipment operating at high data rates |
JP3574696B2 (ja) * | 1995-05-26 | 2004-10-06 | 株式会社アドバンテスト | Icテスタのタイミング発生器 |
US5673275A (en) * | 1995-09-12 | 1997-09-30 | Schlumberger Technology, Inc. | Accelerated mode tester timing |
WO1998023968A1 (fr) * | 1996-11-29 | 1998-06-04 | Advantest Corporation | Generateur de configuration |
US6230245B1 (en) * | 1997-02-11 | 2001-05-08 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for generating a variable sequence of memory device command signals |
JP3501200B2 (ja) * | 1997-02-21 | 2004-03-02 | 株式会社アドバンテスト | Ic試験装置 |
US6175894B1 (en) | 1997-03-05 | 2001-01-16 | Micron Technology, Inc. | Memory device command buffer apparatus and method and memory devices and computer systems using same |
US5825711A (en) * | 1997-06-13 | 1998-10-20 | Micron Technology, Inc. | Method and system for storing and processing multiple memory addresses |
US5996043A (en) * | 1997-06-13 | 1999-11-30 | Micron Technology, Inc. | Two step memory device command buffer apparatus and method and memory devices and computer systems using same |
US6484244B1 (en) | 1997-06-17 | 2002-11-19 | Micron Technology, Inc. | Method and system for storing and processing multiple memory commands |
US5854797A (en) * | 1997-08-05 | 1998-12-29 | Teradyne, Inc. | Tester with fast refire recovery time |
US6202119B1 (en) | 1997-12-19 | 2001-03-13 | Micron Technology, Inc. | Method and system for processing pipelined memory commands |
JP4130709B2 (ja) * | 1998-06-23 | 2008-08-06 | 株式会社アドバンテスト | 半導体デバイス試験装置および信号出力装置 |
US6175905B1 (en) | 1998-07-30 | 2001-01-16 | Micron Technology, Inc. | Method and system for bypassing pipelines in a pipelined memory command generator |
US6178488B1 (en) | 1998-08-27 | 2001-01-23 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for processing pipelined memory commands |
US6275962B1 (en) | 1998-10-23 | 2001-08-14 | Teradyne, Inc. | Remote test module for automatic test equipment |
US6710725B1 (en) * | 1999-04-12 | 2004-03-23 | Advanced Micro Devices, Inc. | Acoustic noise suppressing circuit by selective enablement of an interpolator |
JP4006260B2 (ja) * | 2002-04-26 | 2007-11-14 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置 |
AU2003222702A1 (en) | 2002-05-03 | 2003-11-17 | Mcgill University | Method and device for use in dc parametric tests |
US6771061B2 (en) * | 2002-09-17 | 2004-08-03 | Teradyne, Inc. | High speed tester with narrow output pulses |
US7266739B2 (en) * | 2003-05-07 | 2007-09-04 | Credence Systems Solutions | Systems and methods associated with test equipment |
JP4703952B2 (ja) * | 2003-08-05 | 2011-06-15 | 株式会社アドバンテスト | Ic試験装置 |
US7856578B2 (en) * | 2005-09-23 | 2010-12-21 | Teradyne, Inc. | Strobe technique for test of digital signal timing |
US7573957B2 (en) | 2005-09-23 | 2009-08-11 | Teradyne, Inc. | Strobe technique for recovering a clock in a digital signal |
US7574632B2 (en) * | 2005-09-23 | 2009-08-11 | Teradyne, Inc. | Strobe technique for time stamping a digital signal |
JP4704184B2 (ja) * | 2005-10-27 | 2011-06-15 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置及び試験方法 |
US7378854B2 (en) * | 2005-10-28 | 2008-05-27 | Teradyne, Inc. | Dual sine-wave time stamp method and apparatus |
US7593497B2 (en) * | 2005-10-31 | 2009-09-22 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for adjustment of synchronous clock signals |
US20080238516A1 (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-02 | Teradyne, Inc. | Timing interpolator with improved linearity |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3237224A1 (de) * | 1981-10-09 | 1983-05-05 | Teradyne Inc., 02111 Boston, Mass. | Vorrichtung zum erzeugen einer folge von pruefdaten fuer lsi-schaltungen |
DD239881A1 (de) * | 1985-07-31 | 1986-10-08 | Erfurt Mikroelektronik | Schaltungsanordnung zur beschleunigten generierung gespeicherter daten |
DE3515802A1 (de) * | 1985-05-02 | 1986-11-06 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Anordnung zur schnellen erzeugung von grossen pruefdatenwortmengen in einer pruefeinrichtung |
EP0255118A2 (de) * | 1986-07-30 | 1988-02-03 | Hitachi, Ltd. | Mustergenerator |
US4775954A (en) * | 1985-10-02 | 1988-10-04 | Ando Electric Co., Ltd | Apparatus for generating timing signals used for testing ICs having two enable input terminals |
US4855681A (en) * | 1987-06-08 | 1989-08-08 | International Business Machines Corporation | Timing generator for generating a multiplicty of timing signals having selectable pulse positions |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5585265A (en) * | 1978-12-23 | 1980-06-27 | Toshiba Corp | Function test evaluation device for integrated circuit |
US4500993A (en) * | 1980-06-17 | 1985-02-19 | Zehntel, Inc. | In-circuit digital tester for testing microprocessor boards |
JPS5990067A (ja) * | 1982-11-15 | 1984-05-24 | Advantest Corp | 論理回路試験用パタ−ン発生装置 |
US4727312A (en) * | 1985-12-23 | 1988-02-23 | Genrad, Inc. | Circuit tester |
US4730318A (en) * | 1986-11-24 | 1988-03-08 | International Business Machines Corporation | Modular organized storage tester |
JPS63231611A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-27 | Yokogawa Electric Corp | 波形発生装置 |
-
1990
- 1990-10-30 US US07/605,977 patent/US5321700A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-08-06 CA CA002048469A patent/CA2048469C/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-08-13 DE DE4126767A patent/DE4126767C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-10-28 JP JP3281632A patent/JPH087704B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1991-10-30 GB GB9122956A patent/GB2252418B/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-10-30 FR FR9113398A patent/FR2672139A1/fr active Granted
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3237224A1 (de) * | 1981-10-09 | 1983-05-05 | Teradyne Inc., 02111 Boston, Mass. | Vorrichtung zum erzeugen einer folge von pruefdaten fuer lsi-schaltungen |
DE3515802A1 (de) * | 1985-05-02 | 1986-11-06 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Anordnung zur schnellen erzeugung von grossen pruefdatenwortmengen in einer pruefeinrichtung |
DD239881A1 (de) * | 1985-07-31 | 1986-10-08 | Erfurt Mikroelektronik | Schaltungsanordnung zur beschleunigten generierung gespeicherter daten |
US4775954A (en) * | 1985-10-02 | 1988-10-04 | Ando Electric Co., Ltd | Apparatus for generating timing signals used for testing ICs having two enable input terminals |
EP0255118A2 (de) * | 1986-07-30 | 1988-02-03 | Hitachi, Ltd. | Mustergenerator |
US4855681A (en) * | 1987-06-08 | 1989-08-08 | International Business Machines Corporation | Timing generator for generating a multiplicty of timing signals having selectable pulse positions |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB9122956D0 (en) | 1991-12-18 |
US5321700A (en) | 1994-06-14 |
FR2672139B1 (de) | 1995-02-10 |
GB2252418B (en) | 1995-06-07 |
FR2672139A1 (fr) | 1992-07-31 |
JPH087704B2 (ja) | 1996-01-29 |
DE4126767A1 (de) | 1992-05-14 |
CA2048469C (en) | 1999-01-19 |
GB2252418A (en) | 1992-08-05 |
CA2048469A1 (en) | 1992-05-01 |
JPH04264931A (ja) | 1992-09-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4126767C2 (de) | Anordnung zur Erzeugung von Signalmustern | |
DE60002426T2 (de) | Takterzeugung und verteilung in einem emulationssystem | |
DE4104329C2 (de) | Impulssignalverzögerungsvorrichtung | |
DE19505308C2 (de) | PLL-Gerät mit einem Oszillator mit variabler Schwingfrequenz und Impulserzeugungsgerät | |
DE3208240C2 (de) | Serien-Parallel-Umsetzer | |
DE112005001517B4 (de) | Synchronisation zwischen Niedrigfrequenz- und Hochfrequenzdigitalsignalen | |
DE2807175C2 (de) | Anordnung zur Steuerung von Informationsübertragungen zwischen zwei Rechenanlagen | |
DE19849779C2 (de) | Taktgenerator und Takterzeugungsverfahren, die in der Lage sind, eine Taktfrequenz ohne Erhöhen der Anzahl von Verzögerungselementen zu ändern | |
DE19917320A1 (de) | Taktgenerator für ein Halbleiter-Prüfsystem | |
DE112005001645T5 (de) | Präzise Zeitmessvorrichtung und Verfahren dafür | |
EP0898217A2 (de) | Schaltung zur glitchfreien Umschaltung digitaler Signale | |
EP0190554A1 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Umschalten einer taktgesteuerten Einrichtung mit mehreren Betriebszuständen | |
DE102005051770A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Umschalten der Frequenz eines Systemtakts | |
DE60018110T2 (de) | Kodierte takte zur verteilung von mehreren taktsignalen zu mehreren geräten eines rechnersystems | |
DE69830870T2 (de) | Kombinatorische Verzögerungsschaltung für einen digitalen Frequenzvervielfacher | |
DE4306463C2 (de) | System zur Erzeugung von Datensignalen zur Anlegung an ein in Prüfung befindliches Gerät mit unabhängig voneinander einstellbaren steigenden und fallenden Flanken | |
DE3801993C2 (de) | Zeitgebersystem | |
DE2803650C3 (de) | Vorrichtung zur Erzeugung einer pulsdauermodulierten Impulsfolge | |
DE1936266A1 (de) | Vorrichtung zur Leferung einer Serie von Ausgangsimpulsen mit einer mo?eren Frequenz in UEbere?stimmung mit einem digitalen Eingang | |
DE60214411T2 (de) | Parallel/Seriell-Wandler | |
DE69835190T2 (de) | Schaltung zur Taktrückgewinnung | |
DE4433512C2 (de) | Wellenform-Formatierungseinrichtung | |
DE3743434C2 (de) | ||
DE60219157T2 (de) | Verfahren und Einrichtung für die parallele Synchronisation von mehreren seriellen Datenströmen | |
DE4143468C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Erzeugung von Ausgangsimpulsen und Zeitsteuerschaltung für eine Schaltungsprüfvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8172 | Supplementary division/partition in: |
Ref country code: DE Ref document number: 4143468 Format of ref document f/p: P |
|
Q171 | Divided out to: |
Ref country code: DE Ref document number: 4143468 |
|
AH | Division in |
Ref country code: DE Ref document number: 4143468 Format of ref document f/p: P |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
AH | Division in |
Ref country code: DE Ref document number: 4143468 Format of ref document f/p: P |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |