DE3942386C2 - Zeitgabeschaltung für einen Halbleiterspeicher - Google Patents
Zeitgabeschaltung für einen HalbleiterspeicherInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Speicheranordnung
mit einer Zeitgabeschaltung nach dem Oberbegriff des Patent
anspruchs 1.
Zeitgabeschaltungen werden in Halbleiterspeichern, wie
beispielsweise statischen oder dynamischen Direktzugriffs
speichern (RAMs) verwendet, um mehrere Steuersignale für den
Zugriff auf Speicherzellen zu erzeugen. Häufig werden für
einen Schreib- oder Lesezugriff jeweils mehrere Steuer
signale benötigt, die nacheinander auftreten, um beispiels
weise eine Voraufladung von Knotenpunkten, eine Abtrennung
oder Aktivierung von Leseverstärkern hervorzurufen, usw. Die
Zeitgabe für diese Steuersignale wird umso kritischer, je
höher die Operationsgeschwindigkeit des Speichers wird. Bei
früheren Halbleiterspeichern wurden Steuersignale außerhalb
des Chips erzeugt. Bei Speichern neuerer Ausführung werden
die Steuersignale chipintern erzeugt. Verwiesen sei bei
spielsweise auf die US-PS 3,778,784. Bei dem aus dieser
Druckschrift bekannten MOS-Speicher wird eine Zeitgabezelle
in den Zeitgabeschaltungen verwendet. Diese Zelle sorgt für
eine Kompensation von Prozeßschwankungen, die andernfalls
die Zeitgabe der Steuersignale wesentlich beeinträchtigen
würden.
In der US-PS 4,087,704 ist eine andere chipinterne An
ordnung zum Erzeugen von Steuersignalen für einen dynami
schen RAM beschrieben, bei der das Ausgangssignal eines
Steuersignalgenerators zur Auslösung oder Triggerung des
nächsten Steuersignalgenerators verwendet wird. Diese Anord
nung stellt sicher, daß eine Mindestzeitverzögerung zwischen
diesen Signalen auftritt und daß die Signale in einer vorge
gebenen Reihenfolge auftreten.
Bei Halbleiterspeichern ist es außerdem üblich, Hilfs
zellen zu benutzen. Diese Zellen liefern eine Ladung, die
gleich derjenigen einer ordentlichen Zelle in der Speicher
matrix ist. Die Hilfszellen werden auf dem gleichen Chip
bzw. Substrat hergestellt wie die richtigen Speicherzellen.
Daher sind ihre Charakteristika unabhängig von Prozeßschwan
kungen effektiv gleich denjenigen der Betriebsspeicherzel
len. Ein Beispiel für Hilfs- bzw. Dummyzellen ist in der US-
PS 3,959,781 angegeben.
Aus der DE-AS 23 24 769 ist eine Steuerschaltung zum
zeitlich richtigen und geordneten Erzeugen von Steuersigna
len für eine Speicherschaltung offenbart. Diese Steuerschal
tung verwendet Modellschaltungen für bestimmte Abschnitte
der Speichermatrix. Beispielsweise wird eine Modellschaltung
für eine Zeilen/Spalten-Decodierschaltung angegeben. Darüber
hinaus befindet sich auf dem Chip unmittelbar neben der
Speichermatrix eine separate Spalte von Dummy-Zellen, die in
der gleichen Weise wie die Spalten der Betriebsspeicherzel
len angesteuert wird und die unabhängig von der decodierten
Adresse ein Steuersignal zur Freigabe eines Leseverstärkers
erzeugt. Die in der zusätzlichen Spalte verwendeten Dummy-
Zellen und die dort verwendeten Bitleitungen sind identisch
mit den Speicherzellen und Bitleitungen der normalen Spei
chermatrix. Die in der zusätzlichen Spalte der Dummy-Zellen
auf den Bitleitungen erzeugten Signale haben demzufolge den
gleichen Pegel wie die vom normalen Leseverstärker zu lesen
den Bitleitungssignale. Um aus diesen im allgemeinen relativ
schwachen Bitleitungssignalen die zur Freigabe der Lesever
stärker erforderlichen Steuersignale zu erzeugen, ist ein
empfindlicher Leseverstärker an der zusätzlichen Dummy-
Spalte erforderlich.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Zuverläs
sigkeit der chipinternen Erzeugung der Speichersteuersignale
zu verbessern.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einer Speicheran
ordnung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Die
Erfindung stellt eine Abkehr von der Verwendung einfacher
Dummy-Zellen oder Dummy-Spalten zur Verwendung als Schaltungsmodelle
dar. Die Erfindung verwendet zunächst eine se
parate Wortleitungs-Modellschaltung, die die Signalverhält
nisse auf der Wortleitung nachbildet. Ein separates Bitlei
tungsmodell wird so dimensioniert, daß seine Kapazität ge
ringer ist als die Kapazität einer normalen Bitleitung auf
der Speichermatrix. Dieses "verkleinerte" Bitleitungsmodell
geringerer Kapazität wird kombiniert mit einer speziellen
Treiberschaltung, die einerseits das Treiben der Bitleitung
durch eine Speicherzelle zeitlich nachbildet, andererseits
aber ein stärkeres Signal auf dem Bitleitungsmodell erzeugt,
als die normale Speicherzelle auf der Bitleitung. Eine De
tektorschaltung ist mit dem Bitleitungsmodell gekoppelt und
erfaßt das von der Treiberschaltung erzeugte Signal auf dem
Bitleitungsmodell. Das Ausgangssignal des Detektors wird zur
Erzeugung von Steuersignalen zum Lesen von Daten aus dem ak
tuellen Speicher verwendet. Da der Detektor ein stärkeres
Signal als die Leseverstärker in der Speichermatrix erhält,
kann er wesentlich kleiner ausgebildet, schneller und weni
ger empfindlich sein als die normalen Leseverstärker. Dies
ermöglicht eine leichtere Erfassung des Signals sowie eine
raschere und zuverlässigere Erzeugung der Steuersignale.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den
Unteransprüchen gekennzeichnet. Eine vorteilhafte Verwendung
stellt die Verwendung der Zeitgabeschaltung in einem Cache-
Speicher (SRAM) dar. Dabei werden vorteilhafterweise separa
te Bitleitungsmodelle für einen Daten-Abschnitt und einen
Tag-Abschnitt des Cache-Speichers verwendet.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung
schematisch dargestellt. Es zeigen:
Fig. 1 ein elektrisches Schaltbild einer Speicherzelle
mit zugehöriger Wortleitung, Bitleitungen, Ab
tast- bzw. Leseverstärkern und Schreibschaltung.
Diese schematische Darstellung dient zur Be
schreibung eines Teils eines Speicherfeldes, in
welchem die erfindungsgemäß erzeugten Steuersi
gnale verwendet werden;
Fig. 2 mehrere Verläufe von Signalen, die mit Hilfe der
erfindungsgemäßen Zeitgabeschaltung erzeugt
werden;
Fig. 3 ein allgemeines Blockschaltbild der erfindungs
gemäßen Zeitgabeschaltung;
Fig. 4 ein elektrisches Schaltbild eines Ausführungs
beispiels der Erfindung;
Fig. 5 ein elektrisches Schaltbild eines bei der Erfin
dung verwendeten Wortleitungsmodells; und
Fig. 6 ein elektrisches Schaltbild eines bei der Erfin
dung verwendeten Bitleitungsmodells.
Beschrieben wird eine Zeitgabeschaltung zur Verwendung in
einem Halbleiterspeicher. In der folgenden Beschreibung werden
zahlreiche spezielle Einzelheiten, wie eine spezielle Verknüp
fungsschaltung usw., angegeben, um die Erfindung leichter
verständlich zu machen. Es ist für den Fachmann klar, daß die
Erfindung aber auch ohne diese speziellen Einzelheiten reali
siert werden kann. In anderen Fällen sind bekannte Schaltungs
einzelheiten nur in Blockform gezeigt, um die Erfindung nicht
mit unnötigen Einzelheiten zu belasten.
Die Erfindung ist in Metalloxidhalbleiter(MOS)-Technologie und
insbesondere in Verbindung mit der komplementären MOS-Techno
logie realisiert. Es gibt eine Anzahl bekannter CMOS-Prozesse,
die für die Realisierung der Erfindung verwendet werden kön
nen. In der beschriebenen Implementierung ist die Erfindung
Bestandteil eines Cache-Speichers, wobei die Speicherzellen im
Cache-Speicher gewöhnliche statische Zellen sind. Eine dieser
Zellen ist in Fig. 1 gezeigt. Es ist klar, daß die Erfindung
auch in anderen Speicherausführungen verwendet werden kann.
Der Gesamtspeicher mit der erfindungsgemäßen Zeitgabeschaltung
ist als integrierte Schaltung auf demselben Substrat oder
Halbleiterplättchen hergestellt. Dabei wird die Tatsache aus
genutzt, daß Prozeßschwankungen über ein einziges Halbleiter
plättchen nicht merklich in Erscheinung treten. Die Charakte
ristiken der Bauelemente der Zeitgabeschaltung sind daher
relativ zu den Charakteristiken der Bauelemente in der Spei
cheranordnung bei einem vorgegebenen Plättchen bekannt.
Bevor die Erfindung im einzelnen beschrieben wird, wird zu
nächst die Verwendung der Erfindung in einem aktuellen Spei
cher beschrieben. In Fig. 1 ist eine gewöhnliche statische
Speicherzelle 12 dargestellt. Die Zelle weist zwei kreuzge
koppelte p-Kanal und n-Kanal-Transistoren auf. Die Speicher
zelle ist über Auswahltransistoren 19 bzw. 26 mit Bitleitungen
14 bzw. 15 verbunden. Die Gate-Elektroden der Auswahltransi
storen sind mit einer Wortleitung 13 gekoppelt (oder durch
letztere gebildet). Die Bitleitungen sind mit anderen Zellen
in der Spalte gekoppelt; in ähnlicher Weise sind die Wortlei
tungen mit anderen Zellen in einer Zeile gekoppelt.
Der Speicher weist selbstgetaktete Wiederöffnungslatches 10
auf, die Adreßsignale erhalten. Diese Latch-Schaltungen werden
von einem Steuerportsignal auf der Leitung 29 gesteuert. Die
Adressen werden von einem Decodierer 11 decodiert. Dieser
Decodierer erhält ein Wortleitungsaktivierungs(steuer-)Signal
auf der Leitung 31, welches den Wortleitungstakt steuert. Der
Decodierer 11 aktiviert in üblicher Weise jeweils nur eine
einzige Wortleitung und ermöglicht dadurch, daß eine Zellen
zeile mit ihren zugehörigen Bitleitungen in dem Speicherfeld
bzw. der Speichermatrix gekoppelt wird. Die Adresseneingaben
zum Decodierer ändern sich während der Zeit nicht, in der die
Wortleitungaktivierung wirksam ist. Die Bitleitungen 14 und 15
werden über p Kanal-Transistoren 20 und 21 vorgeladen, wenn
das Potential auf der Leitung 16 niedrig ist. Der Transistor
22 egalisiert das Potential der Bitleitung.
Transistoren 35 und 36 trennen die Bitleitungen vom Abtastver
stärker 23. Das Signal auf der Leitung 17 dient zur Steuerung
dieser Trennung. Der Abtastverstärker 23 ist ein üblicher, mit
einem Strobe-Signal beaufschlagter (strobed) Differenzverstär
ker, der durch ein SAS# Signal auf der Leitung 18 gesteuert
wird. Der Ausgang dieses Verstärkers, die Leitungen 62 und 63,
ist mit einer zweiten Verstärkungsstufe gekoppelt und liefert
die Ausgabedaten und deren Komplement auf den Leitungen 64
bzw. 65, wenn Daten aus der Zelle gelesen werden.
Wenn unter der Annahme, daß die Zelle von der Wortleitung 13
angesteuert wird, Daten in die Zelle 12 eingelesen werden,
bewirkt ein Steuersignal auf der Leitung 25, daß die n-Kanal-
Transistoren 66 und 67 leitend werden, wodurch die Dateneinga
beleitung 24 mit den Bitleitungen 14 und 15 gekoppelt wird.
Die Leitung 24 wird über den Inverter 27 und den Transistor 67
mit der Bitleitung 15 gekoppelt; der Ausgang des Inverters 27
ist mit einem anderen Inverter 28 und von dort über den Tran
sistor 66 mit der Bitleitung 14 gekoppelt.
Die zum Lesen von Daten aus der oder in die Zelle 12 notwendi
gen Steuersignale werden von der erfindungsgemäßen Zeitgabe
schaltung erzeugt und sind in Fig. 2 gezeigt. In Fig. 2 sind
die an die Leitungen 16, 17, 18, 25, 29 und 31 der Fig. 1
angelegten Steuersignale dargestellt. Dieselben Zahlen dienen
zur Identifizierung sowohl der ein Signal führenden Leitung
als auch des Signals selbst. Das Signal erhält jedoch zusätz
lich den Buchstaben "a", um das Signal von der zugehörigen
Leitung zu unterscheiden. Das von der Leitung 17 in Fig. 1
geführte Signal ist daher in Fig. 2 als Signalverlauf 17a
gezeigt.
Die Lese- und Schreiboperationen laufen nach Erhalt eines
einzigen Zeitgabesignals ab. (Eine Schreiboperation findet
anstelle einer Leseoperation statt, wenn das Schreibaktivie
rungssignal (Leitung 57 in Fig. 3 und 4) aktiviert ist.)
Dieses Zeitgabesignal ist als "CLK" 30a in Fig. 2 gezeigt.
Nach Initiierung eines Speicherzyklus steigt das Signal auf
der Leitung 16 an und beendet die Voraufladung durch Sperrung
der Transistoren 20, 21 und 22. Das Steuerportsignal 29a, das
auch in Abhängigkeit von dem Signal 30a erzeugt wird, verrie
gelt die Adressen in den Latch-Schaltungen 20. Dadurch werden
weitere Änderungen in den am Decodierer 11 anstehenden Adressen
beschränkt. Signal 31a erlaubt die Ansteuerung bzw. Aus
wahl einer der Wortleitungen am Ausgang des Decodierers 11,
beispielsweise der Wortleitung 13. Danach wird der Abtastver
stärker durch das Abtastverstärker-Strobesignal 18a aktiviert,
und nach dem Initiieren des Abtastens bzw. Lesens sorgt das
Trennsignal 17a für ein Sperren der Transistoren 35 und 36.
Während des Schreibens wird kein Abtastverstärker-Strobesignal
erzeugt; es wird vielmehr das Schreib-Auswahlsignal 25a er
zeugt, wodurch die Transistoren 66 und 67 leitend gemacht
werden. Dies ermöglicht, daß Daten auf der Leitung 24 auf die
Bitleitungen gekoppelt werden, um die Zelle in einen ihrer
beiden stabilen Zustände zu setzen.
Bei der Anordnung gemäß Fig. 3 werden die verschiedenen Steu
ersignale von dem Taktsignal auf der Leitung 30 ausgelöst.
Dieses Signal wird zusammen mit einem Zyklus-Aktivierungssi
gnal an einen Monoflop 32 angelegt. Der Ausgang dieser Schal
tung ist mit einem SR-Flipflop 33 gekoppelt. Der Q#-Ausgang
dieses Flipflops ist über einen Inverter mit einer Leitung 31x
gekoppelt. Das Signal auf der Leitung 31x ist nach Pufferung
das Signal 31a der Fig. 2. (Der Buchstabe "x" zeigt an, daß
die Leitung zusätzlicher Pufferung unterworfen wird, bevor sie
zu der das Steuersignal führenden endgültigen Steuerleitung
wird. Daher wird das Signal auf der Leitung 31x nach Durchlauf
durch zusätzliche Puffer (z. B: Inverter) das Signal 31a auf
der Leitung 31.)
Der Q-Ausgang des Flipflops 33 ist über vier Inverterstufen
mit einem Eingangsanschluß des NOR-Gatters 44 gekoppelt. Der
andere Eingangsanschluß dieses NOR-Gatters erhält das Taktsi
gnal von der Leitung 30. Der Ausgang des NOR-Gatters 44 lie
fert nach Durchlaufen einer zusätzlichen Inverterstufe das
Port-Steuersignal auf der Leitung 29. (Häufig sind bei den
Schaltungen gemäß Fig. 3 und 4 mehrere Inverter in Reihe
geschaltet. Dies geschieht zur Erzeugung von Zeitverzögerungen
in dem Wirksamwerden von Steuersignalen und zum Treiben großer
kapazitiver Lasten.)
Der Q-Ausgang des Flipflops 33 ist auch mit der im gestrichel
ten Block 37 dargestellten Reihenschaltung aus einem NAND-Gat
ter 106 und einem Inverter 107 verbunden. Diese Schaltungskom
ponenten stellen ein Modell des Decodierers 11 der Fig. 1 dar.
Die Modelltechnik, die hier verwendet wird, läßt sich besser
aus anderen Modellen, z. B. dem Wortleitungsmodell, Zellenmo
dell und Bitleitungsmodell verstehen. Für die Zwecke des Deco
dierers ist jedoch die Zeitverzögerung über die beiden Inver
ter des Modells 37 die gleiche wie die Zeitverzögerung über
den Decodierer 11. Der Ausgang des Modells 37 ist mit dem
Wortleitungsmodell 38 und über drei Inverter mit einem Ein
gangsanschluß des NOR-Gatters 34 gekoppelt. Der andere An
schluß des NOR-Gatters 34 erhält das Q#-Signal aus dem Flip
flop 33. Der Ausgang des Gatters 34 (Leitung 16x) liefert nach
zusätzlicher Pufferung das Voraufladungs#-Signal 16a, das in
Fig. 2 gezeigt ist.
Wenn das Taktsignal 30a an den monostabilen Multivibrator 32
angelegt wird, wird ein einzelner Impuls erzeugt, der das
Flipflop 33 unabhängig von der Dauer des Signals 30a setzt.
Wenn dies eintritt, fällt das Potential an dem Q#-Anschluß des
Flipflops 33, wodurch das Potential am Ausgang des Gatters 34
ansteigt und die Voraufladefunktion unterbrochen wird. Die
Übertragung des Q-Signals durch das Modell 37 und durch die
das Signal danach mit dem Gatter 34 koppelnden drei Inverter
ändert das Ausgangssignal des Gatters 34 zu diesem Zeitpunkt
nicht. Das Ausgangssignal aus dem Modell 37 erreicht nach
Ausbreitung über andere Modelle (wie weiter unten beschrieben
werden wird) das Gatter 47 und sorgt dafür, das das Flipflop
33 über Leitung 60 rückgesetzt wird. Wenn dies geschieht,
steigt das Potential am Q#-Anschluß, ohne daß dadurch allein
eine Änderung des Ausgangssignals des Gatters 34 stattfindet.
Das Ausgangssignal dieses Gatters ändert sich nicht, bis die
Rückflanke des Signals von dem Q-Anschluß über das Modell 37
und die drei Inverterstufen das Gatter 34 erreicht. Dies be
wirkt dann den Potentialabfall am Ausgang des Gatters 34,
wodurch die Voraufladung initiiert wird.
Es sollte als wichtig beachtet werden, daß bei Beginn des
Lese- oder Schreibzyklus einige Steuersignale, beispielsweise
diejenigen, die am Ausgang des Bitleitungsmodelldetektors 42
(Leitung 17x/18x) erzeugt werden, wegen der Verzögerung durch
das Decodierermodell verzögert werden, wenn das Flipflop 33
gesetzt ist. Wenn am Ende des Zyklus das Flipflop 33 rückge
setzt wird, findet die Verzögerung über das Decodierermodell
37 erneut Verwendung, diesmal zur Verzögerung der Einleitung
des Ladungszyklus am Ausgang des Gatters 34. (Die Vorder- und
Rückflanken des Ausgangssignals des Flipflops 33 werden je
weils verzögert.) Daher werden die Verzögerungen des Modells
37 und anderer Modelle in einem vorgegebenen Zyklus zweimal
verwendet, und zwar einmal, wenn das Flipflop 33 gesetzt ist,
und zum anderen, wenn es rückgesetzt ist, um beispielsweise
die Erzeugung von Vorder- und Rückflanken der Steuersignale
gemäß Fig. 2 zu unterstützen. Ferner wird die Verzögerung
durch die Modelle zum Rücksetzen des Flipflops 33 benutzt.
Der Ausgang des Decodierermodells 37 ist mit einem Wortlei
tungsmodell 38 verbunden. Das Wortleitungsmodell wird weiter
unten in Verbindung mit Fig. 5 beschrieben. Der Ausgang des
Wortleitungsmodells ist seinerseits mit einem Zellenlesemodell
41 und einem Zellenschreibmodell 49 gekoppelt. Bei dem be
schriebenen Ausführungsbeispiel dienen das Decodierermodell
und das Wortleitungsmodell zur Erzeugung sowohl der Lese- als
auch der Schreibsteuersignale. Es gibt jedoch separate Bitlei
tungsmodelle und Zellenmodelle zur Erzeugung einiger Steuersi
gnale zum Lesen und Schreiben. Außerdem wird während einer
Schreiboperation ein Schreibtreibermodell 43 verwendet.
Im Falle der Lesezyklus-Zeitgabeschaltungen steuert das Aus
gangssignal des Wortleitungsmodells 38 ein Zellenlesemodell
41, das mit einem Bitleitungs-Lesemodell 40 gekoppelt ist. Das
Bitleitungs-Lesemodell und das Zellenlesemodell "duplizieren"
die Bitleitung und die Zelle während des Lesen, wie weiter
unten noch genauer beschrieben werden wird. Ein Bitleitungsde
tektormodell 42 ist mit dem Zellenlesemodell und mit dem Bit
leitungslesemodell gekoppelt. Der Ausgang dieses Modells ist
mit einem Eingangsanschluß des NOR-Gatters 47 gekoppelt und
liefert auch ein Signal auf Leitung 17x/18x, das die Steuersi
gnale 17a und 18a gemäß Fig. 2 nach einer Pufferung erzeugt.
Der Ausgang des Wortleitungsmodells 38 ist außerdem mit einem
Zellenschreibmodell 49 gekoppelt. Dieses Modell ist mit einem
Bitleitungsschreibmodell 48 gekoppelt, das sich vom Modell 40
unterscheidet. Der Ausgang des Zellenschreibmodells 49 ist
direkt mit dem Gatter 47 gekoppelt.
Ein Schreibaktivierungssignal wird an einen Eingang des NAND-
Gatters 50 angelegt. Dieses Gatter erhält auch das Q-Ausgangs
signal des Flipflops 33. Das Ausgangsignal des Gatters 50
bildet ein Eingangssignal zum Gatter 54. Der Ausgang des In
verters 119 ist mit einem zusätzlichen Inverter 120 gekoppelt
und von dort mit dem Schreibtreibermodell 43 verbunden. Der
Komplementärwert des Signals auf der Leitung 57 wird an das
Zellenlesemodell angelegt, und wird auch gemäß Darstellung in
Fig. 4 mit dem Modell 40 gekoppelt und zur Verhinderung einer
Aktivierung dieser Modelle während eines Schreibzyklus verwen
det. Das Ausgangssignal des Gatters 54 liefert den Schreibimpuls
nach Pufferung (Signal 25a).
Die Erfindung wird in einem Cache-Speicher verwendet. Dieser
Speicher hat zwei Abschnitte, einen Datenabschnitt und einen
Befehlsabschnitt. Jeder dieser Abschnitte hat zwei Felder,
eines zur Speicherung von Daten/Befehlen, und das andere zur
Speicherung von Identifizierungsinformationen. Jedes Feld
jedes Abschnitts weist seine eigenen Zeitgabeschaltungen, wie
diejenigen gemäß den Fig. 3 und 4 auf. Die spezielle Schal
tung gemäß Fig. 4 ist die Zeitgabeschaltung für das Identifi
zierungs- bzw. Etikettenfeld (tag array) des Datenabschnitts.
Die anderen Zeitgabeschaltungen sind im wesentlichen gleich
aufgebaut, wobei der Hauptunterschied in der Anzahl von Baue
lementen in den Bitleitungsmodellen für die Lese- und Schreib
betriebsarten liegt.
Das Datenidentifizierungs- bzw. -etikettenfeld hat 128 Zellen,
die mit jeder Bitleitung gekoppelt sind. Sein Bitleitungsmo
dell für den Lesebetrieb benutzt 32 Bauelemente (siehe Fig. 6)
und 64 Bauelemente für den Schreibbetrieb. Das Datenfeld hat
256 Zellen, die mit jeder Bitleitung gekoppelt sind; es be
nutzt 64 Bauelemente in seinem Bitleitungslesemodell und 64
Bauelemente in seinem Bitleitungsschreibmodell. Das Befehls
etikettenfeld hat 128 Zellen, die mit jeder Bitleitung gekop
pelt sind. Es verwendet 16 Bauelemente in seinem Bitleitungs
lesemodell und 64 Bauelemente in seinem Bitleitungsschreibmo
dell. Das Befehlsfeld hat 256 Zellen, die mit jeder seiner
Bitleitungen gekoppelt sind, und es verwendet 80 Bauelemente
in seinem Bitleitungslesemodell und 168 Bauelemente in seinem
Bitleitungsschreibmodell. Daher sind in jedem Falle die Bit
leitungswortmodelle gegenüber den tatsächlichen Bitleitungen
verkleinert, da die aktuellen Bitleitungen mehr zugeordnete
Bauelemente haben.
Das Wortleitungsmodell (Modell 38 in den Fig. 3 und 4) ist
ein Modell voller Größe. Es ist daher ein Duplikat der in den
Feldern tatsächlich verwendeten Wortleitung. Es besteht aus
einer Leitung 72, mit der gemäß Darstellung in Fig. 5 mehrere
Transistoren, wie die Transistoren 69, 70 und 71, gekoppelt
sind. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel wird die Wort
leitung selbst aus polykristallinem Silizium (Polysilizium)
hergestellt; der dieser Leitung zugehörige Widerstand ist als
Widerstand 73 gezeigt. Der gleiche Widerstand ist im Modell
der Wortleitung enthalten. Jeder der mit dem Wortleitungsmo
dell verbundenen Transistoren, z. B. Transistor 69, hat die
gleiche Größe (d. h. Kanalbreite und Längenabmessungen) wie die
mit der Wortleitung gekoppelten Auswahltransistoren. D. h., die
Transistoren im Modell haben die gleiche Größe wie Transistor
19 in Fig. 1. Zwei Transistoren im Wortleitungsmodell sind mit
Leitung 72 für jede mit der Wortleitung verbundene Zelle ge
koppelt, da gemäß Darstellung in Fig. 1 eine Zelle über ein
Transistorpaar ausgewählt wird. (Für ein 128 Bit langes Wort
sind 256 Transistoren mit jeder Wortleitung gekoppelt.) Daher
liefert das Wortleitungsmodell die gleiche Kapazität wie eine
aktuelle Wortleitung im Feld. Zu beachten ist, daß diese Kapa
zität in der tatsächlichen Speichermatrix von Plättchen zu
Plättchen aufgrund der üblichen Prozeßschwankungen variiert.
Wichtig ist, daß Schwankungen den Variationen im Wortleitungs
modell entsprechen, da das Modell auf demselben Plättchen mit
dem aktuellen Cache-Speicher hergestellt wird.
Das Bitleitungsmodell der Fig. 6 weist mehrere Transistoren,
beispielsweise die Transistoren 73 und 74 auf, die mit der
Leitung 75 gekoppelt sind. Das Gate und ein Anschluß jedes
Transistors liegen an Erde, und der andere Anschluß jedes
Transistors ist mit der Leitung 75 gekoppelt. Diese n-Kanal-
Transistoren entsprechen dem Transistor 19 in Fig. 1 und du
plizieren daher die Ladung der nicht-gewählten Zellen auf
einer Bitleitung. Wie oben erwähnt, werden in den Bitleitungs
modellen weniger Transistoren wie im tatsächlichen Feld ver
wendet, d. h. sie sind verkleinert. Das Bitleitungsmodell der
Fig. 6 wird für das Bitleitungslesemodell 40 und das Bitlei
tungsschreibmodell 48 in Fig. 4 verwendet.
In Fig. 4 sind das Monoflop 32 und das Flipflop 33 der Fig. 3
in den gestrichelten Block 32/33 gezeigt. Die Eingangsleitung
30 ist über drei Inverter 75, 76 und 77 angekoppelt. Es gibt
eine kapazitive Ladung am Ausgang jedes dieser Inverter. Der
Inverter 77 ist mit dem Gate eines n-Kanal-Transistors 80
gekoppelt. Das Aktivierungssignal ist mit dem Gate des n-Ka
nal-Transistors 81 verbunden. Die Leitung 30 ist auch mit dem
Gate des n-Kanal-Transistors 79 verbunden. Das Rücksetzsignal
von Gatter 47 steht am Gate des p-Kanal-Transistors 78 an.
Transistoren 78, 79, 80 und 81 liegen in Reihe. Inverter 83
und 84 bilden ein Latch, wobei der Q-Ausgang durch den Ausgang
des Inverters 84 und der Q#-Ausgang durch den Ausgang des
Inverters 83 gebildet wird.
Die Leitung 29x ist über drei Inverter mit dem Q-Ausgang des
Flipflops gekoppelt. Wie in Fig. 3 zu sehen ist, ist diese
Leitung effektiv mit dem Taktsignal am Gatter 44 UND-ver
knüpft, um sicherzustellen, daß das Signal 28 bis zum Anstehen
des Taktsignals nicht auftreten kann.
Das Signal auf der Leitung 31x ist das Q#-Ausgangssignal des
Flipflops nach Durchlauf durch einen Inverter.
Das Gatter 34 ist wieder in Fig. 4 gezeigt, wobei sein Ausgang
über die Inverter 100 und 101 die Leitung 16x bildet. Die
Leitung 16x ist über Inverter 102 und 103 mit dem Gate eines
p-Kanal-Transistors 104 gekoppelt und erzeugt das Abtastver
stärker-Strobesignal auf der Leitung 18x. Das Ausgangssignal
des Inverters 105 hält dieses Signal während des Schreibbe
triebs in seinem inaktiven Zustand.
Der Q-Ausgang des Flipflops 33 ist mit einem Eingangsanschluß
von NAND-Gattern 156 verbunden. Das Decodierermodell enthält
das NAND-Gatter 106 und einen Inverter 107. Sein Ausgang ist
mit dem Wortleitungsmodell 38 (Fig. 5) und auch über drei
Inverter mit dem anderen Eingangsanschluß des Gatters 34 ge
koppelt.
Das Q#-Ausgangssignal des Flipflops 33 dient auch zum Vorauf
laden des Bitleitungslesemodells 40 und des Zellenlesemodells
41. Dies geschieht über das NOR-Gatter 86, das an einem Ein
gang das Q#-Ausgangssignal des Flipflops 33 erhält. Der Aus
gang des Gatters 86 ist über zwei Inverter mit der Leitung 89
gekoppelt. Das Bitleitungslesemodell 40 wird über Transistor
90 aufgeladen. Das Zellenlesemodell wird über Transistor 91
aktiviert, der auch mit der Leitung 89 gekoppelt ist. Das
Signal auf der Leitung 89 lädt das Bitleitungsmodell auf, wenn
es auf niedrigem Potential ist, und aktiviert sodann das Zel
lenlesemodell über den Transistor 91, wenn es auf seinen hohen
Zustand überwechselt. Das Bitleitungslesemodell und das Zel
lenlesemodell werden während Schreibzyklen nicht aktiviert, da
das Signal auf Leitung 57 mit dem anderen Eingangsanschluß des
Gatters 86 gekoppelt ist.
Der Ausgang des Modells 38 ist mit dem Gate des Transistors 92
gekoppelt, um die Auswahl entlang der Bitleitung während des
Lesens zu Duplizieren. Daher ist in dem Zellenlesemodell 41
der Transistor 92 eine vergrößerte Version des Ansteuerungs-
bzw. Auswahltransistors, während der Transistor 91 eine ver
größerte Version eines der n-Kanal-Transistoren der Zelle
selbst ist. Das Zellenlesemodell 41 bildet einen "Treiber" für
das Bitleitungslesemodell 40 zur Erzeugung eines an den Ein
gang des Inverters 108 angelegten Ausgangssignals. Während
eines Lesezyklus wird das Bitleitungsmodell 40 zuerst geladen
und danach über das Zellenlesemodell mit den Transistoren 91
und 92 entladen. Der Bitleitungsmodelldetektor enthält Inver
ter 108, 109 und 110. Das Zellenlesemodell entwickelt angenä
hert die zweifache Treiberleistung einer wirksamen Zelle im
Speicherfeld. Auch hier schwanken die Charakteristiken in der
gleichen Weise wie die Charakteristiken einer aktuellen Zelle,
da das Zellenlesemodell auf demselben Plättchen bzw. Scheib
chen wie die Zelle hergestellt ist. Wegen der verstärkten
Treiberleistung und wegen der gegenüber einer echten Bitlei
tung verminderten Kapazität des Lesebitleitungsmodells 40 ist
das am Eingang zum Inverter 108 anstehenden Signal größer als
das an der tatsächlichen Bitleitung im Feld auftretende Si
gnal. Dies ermöglicht eine relativ einfache Ausbildung des aus
den Invertern 108, 109 und 110 bestehenden Detektors. Die
Tatsache, daß ein stärkeres Signal ansteht, ermöglicht eine
leichtere Bestimmung sowie eine raschere und zuverlässigere
Erzeugung des Zeitgabesignals.
Der Ausgang des Inverters 110 ist mit einem Eingangsanschluß
des Gatters 47 gekoppelt, um während des Lesebetriebs das
Rücksetzsignal zu erzeugen; ferner ist der Ausgang über zwei
Inverter mit dem Gatter 111 gekoppelt. Der Ausgang des Gatters
111 ist über mehrere Inverter weiterverbunden und liefert das
Trennsignal 17a auf der Leitung 17x.
Das Schreibauswahlsignal wird, wie oben erwähnt, während der
Schreibmoden an die Leitung 57 angelegt. Dieses Signal wird an
das Gatter 50 und von dort durch drei Inverter an die Leitung
113 angelegt. Dieses Signal wird vom Q-Ausgangssignal des
Flipflops 33 durch das Gatter 50 ausgeblendet. Die Leitung 113
befindet sich ausgenommen während des Schreibbetriebs - im
niedrigen Zustand, und daher sorgt Transistor 112 dafür, daß
das Bitleitungsschreibmodell 48 aufgeladen wird. Wenn der
Schreibmodus ausgewählt ist, wird Transistor 112 gesperrt, und
das Schreibtreibermodell 43 wird von dem Signal auf der Lei
tung 113 und dem Signal auf der Leitung 57 aktiviert. Die
Transistoren 114 und 115 duplizieren die Schreibtreiberschal
tung zur Ansteuerung der Bitleitungen, insbesondere die dem
Inverter 28 und dem Transistor 66 in Fig. 1 zugeordnete Schal
tung.
Das Zellenschreibmodell 49 enthält die Transistoren 95 und 96
und die Inverter 97 und 98. Dieses Modell wird durch Transi
stor 99 aufgeladen. Der Wortleitungseingang zu Modell 49 ist
mit den Gate-Elektroden der Transistoren 95 und 96 gekoppelt,
welche die Ansteuerungs- bzw. Auswahltransistoren duplizieren.
Die Zelle selbst wird durch die Inverter 97 und 98 gebildet.
Der Inverter 116 bestimmt, wann die Zelle von einem Datensi
gnal "gesetzt" worden ist, und das Ausgangssignal dieses In
verters durch das Gatter 47 erzeugt ein Rücksetzsignal für das
Flipflop 33 während des Schreibbetriebs. Das Signal auf der
Leitung 57, übertragen über das Gatter 50, und eine verzögerte
Version dieses Signals (verzögert durch Inverter 118 und 119)
werden an das Gatter 54 angelegt. Der Ausgang des Gatters 50
entwickelt das Schreibauswahlsignal 25a (Leitung 25x).
Die Eingangssignale des Gatters 54 werden auch an die Eingänge
eines Gatters 117 angelegt. Der Ausgang des Gatters 117, aus
geblendet durch Gatter 111 und übertragen durch drei Inverter
stufen, entwickelt das Trennsignal während des Schreibbe
triebs.
Während des Schreibbetriebs ist, wie oben erwähnt, das Bitlei
tungsschreibmodell 48 im Vergleich zur tatsächlichen Leitung
verkleinert. Das Schreibtreibermodell 43 ist ebenfalls ver
kleinert. Der Signalverlauf, gesehen beispielsweise am Eingang
des Gatters 116, dupliziert die tatsächlichen Signalverläufe
im Speicherfeld, da die Verkleinerungen der beiden Modelle 43
und 48 sich gegenseitig kompensieren.
Die dem Decodierermodell 37 und dem Wortleitungsmodell 38
zugeordnete Verzögerung ist gleich der dem tatsächlichen Deco
dierer und der Wortleitung in der Speicheranordnung zugeordne
ten Verzögerung. Die dem Bitleitungslesemodell und dem Zellen
lesemodell zugeordnete Verzögerung ist ebenfalls gleich der
der aktuellen Bitleitung und der Zelle zugeordneten Verzöge
rung. Diese Äquivalenz der Zeitverzögerung gilt auch für die
Schreibmodelle. Daher liefert die Schaltung gemäß Fig. 4 Zeit
verzögerungen, die gleich denjenigen sind, die der realen
Speicheranordnung zugeordnet sind. Da die Schaltung gemäß Fig.
4 auf demselben Plättchen wie die tatsächlichen Speicherfelder
gebildet ist, unterliegen die Zeitgabeschaltungen eventuellen
Prozeßvariationen in demselben Ausmaß und in derselben Rich
tung wie die Schaltungen der Speicheranordnung selbst. Wenn
daher ein spezieller Speicher eine große Kapazität hat und
langsamer arbeitet als ein anderer, so verhält sich die Zeit
gabeschaltung entsprechend.
Die Steuersignale auf den Leitungen 16x, 17x, 18x, 25x und 51x
in Fig. 4 treten vor den an die eigentliche Speicheranordnung
angelegten Steuersignalen auf. Dies ist notwendig, da die
Signale auf diesen Leitungen einer zusätzlichen Pufferung
(z. B. Inverter, Gatter usw.) unterworfen werden, bevor sie zur
Speicheranordnung übertragen werden. Da diese Signale zeitlich
vorher erscheinen müssen, wird die Gesamtoperation der Zeitga
beschaltung trotz gleicher Gesamtdauer auf einen früheren
Zeitpunkt verschoben. Dies geschieht einfach dadurch, daß dem
Signal auf der Leitung 30 vor Erreichen der Zeitgabeschaltung
eine geringere Zeitverzögerung eingeprägt wird.
Claims (5)
1. Speicheranordnung mit einer Speichermatrix mit in
Zeilen und Spalten angeordneten Speicherzellen, wobei die
Speicherzellen zeilenweise mit Wortleitungen und spalten
weise mit Bitleitungen gekoppelt sind, und einer Zeitgabe
schaltung zur Erzeugung einer Vielzahl von Steuersignalen
für die Steuerung des Zugriffs auf die Speichermatrix,
wobei die Zeitgabeschaltung und die Speichermatrix auf demselben Chip integriert sind,
wobei die Zeitgabeschaltung ein externes Taktsignal emp fängt und in Abhängigkeit von diesem Taktsignal intern die Vielzahl von Steuersignalen erzeugt, und
wobei die Zeitgabeschaltung mehrere Schaltungsmodelle aufweist, die entsprechende Schaltungselemente der Speicher matrix nachbilden,
dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein die Bitleitungen nachbildendes Bit leitungsmodell vorgesehen ist, dessen Kapazität kleiner als die Kapazität einer Bitleitung der Speichermatrix einge stellt ist,
daß ein die Wortleitungen der Speichermatrix nachbilden des Wortleitungsmodell vorgesehen ist, das mit einer Anzahl von Transistoren gekoppelt ist, wobei die Transistoren den eine Speicherzelle mit einer Wortleitung koppelnden Tran sistoren nachgebildet sind und wobei die Anzahl der Tran sistoren im wesentlichen der Anzahl der mit einer Wortlei tung der Speichermatrix gekoppelten Transistoren entspricht,
daß das Bitleitungsmodell mit einer Treiberschaltung ge koppelt ist, die das Bitleitungsmodell mit einem Signal in der gleichen Weise beaufschlagt, wie eine Speicherzelle beim Lesen von Daten eine Bitleitung der Speichermatrix beauf schlagt, wobei die Treiberschaltung so konfiguriert ist, daß sie auf dem Bitleitungsmodell ein Signal erzeugt, welches stärker als ein entsprechendes Signal auf einer Bitleitung der Speichermatrix ist, und
daß eine Erfassungsschaltung mit dem Bitleitungsmodell gekoppelt ist, die das stärkere Signal erfaßt und in Abhän gigkeit von dem Signal ein Ausgangssignal zur Verfügung stellt, das bei der Erzeugung zumindest eines Steuersignals der Vielzahl von Steuersignalen verwendet wird, wobei die Vielzahl von Steuersignalen umfaßt:
ein Schreibleitungsfreigabesignal zum Freigeben einer bestimmtet Schreibleitung der Speichermatrix,
ein Voraufladesignal zum Voraufladen einer bestimm ten Speicherzelle der Speichermatrix,
ein Leseverstärkersignal zum Aktivieren eines Lese verstärkers während einer Leseoperation der Speicher matrix, und
ein Isolationssignal zum Isolieren von Bitleitungen der Speichermatrix von Leseverstärkern.
wobei die Zeitgabeschaltung und die Speichermatrix auf demselben Chip integriert sind,
wobei die Zeitgabeschaltung ein externes Taktsignal emp fängt und in Abhängigkeit von diesem Taktsignal intern die Vielzahl von Steuersignalen erzeugt, und
wobei die Zeitgabeschaltung mehrere Schaltungsmodelle aufweist, die entsprechende Schaltungselemente der Speicher matrix nachbilden,
dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein die Bitleitungen nachbildendes Bit leitungsmodell vorgesehen ist, dessen Kapazität kleiner als die Kapazität einer Bitleitung der Speichermatrix einge stellt ist,
daß ein die Wortleitungen der Speichermatrix nachbilden des Wortleitungsmodell vorgesehen ist, das mit einer Anzahl von Transistoren gekoppelt ist, wobei die Transistoren den eine Speicherzelle mit einer Wortleitung koppelnden Tran sistoren nachgebildet sind und wobei die Anzahl der Tran sistoren im wesentlichen der Anzahl der mit einer Wortlei tung der Speichermatrix gekoppelten Transistoren entspricht,
daß das Bitleitungsmodell mit einer Treiberschaltung ge koppelt ist, die das Bitleitungsmodell mit einem Signal in der gleichen Weise beaufschlagt, wie eine Speicherzelle beim Lesen von Daten eine Bitleitung der Speichermatrix beauf schlagt, wobei die Treiberschaltung so konfiguriert ist, daß sie auf dem Bitleitungsmodell ein Signal erzeugt, welches stärker als ein entsprechendes Signal auf einer Bitleitung der Speichermatrix ist, und
daß eine Erfassungsschaltung mit dem Bitleitungsmodell gekoppelt ist, die das stärkere Signal erfaßt und in Abhän gigkeit von dem Signal ein Ausgangssignal zur Verfügung stellt, das bei der Erzeugung zumindest eines Steuersignals der Vielzahl von Steuersignalen verwendet wird, wobei die Vielzahl von Steuersignalen umfaßt:
ein Schreibleitungsfreigabesignal zum Freigeben einer bestimmtet Schreibleitung der Speichermatrix,
ein Voraufladesignal zum Voraufladen einer bestimm ten Speicherzelle der Speichermatrix,
ein Leseverstärkersignal zum Aktivieren eines Lese verstärkers während einer Leseoperation der Speicher matrix, und
ein Isolationssignal zum Isolieren von Bitleitungen der Speichermatrix von Leseverstärkern.
2. Speicheranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Schaltungsmodelle ferner ein Decodierermo
dell umfassen, das mit dem Wortleitungsmodell gekoppelt ist.
3. Speicheranordnung nach Anspruch 2, gekennzeichnet
durch eine Pufferschaltung, die ein Ausgangssignal der Er
fassungschaltung derart übermittelt, daß das Ausgangssignal
vor seinem Anlegen an eine Speicherzelle der Speichermatrix
verzögert wird.
4. Speicheranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß das Bitleitungsmodell eine Viel
zahl von mit einer Leitung gekoppelten Feldeffekttransisto
ren umfaßt, wobei jeder der Feldeffekttransistoren in seiner
Größe einem mit einer Bitleitung der Speichermatrix gekop
pelten Feldeffekttransistor einer Speicherzelle entspricht.
5. Verwendung einer Speicheranordnung nach einem der An
sprüche 1 bis 4 auf einem Chip einer Cache-Speichermatrix
mit einem Datenabschnitt und einem Tag-Abschnitt, wobei je
dem der Abschnitte ein separates Bitleitungsmodell und eine
zugehörige Treiberschaltung zugeordnet wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE3942386A1 DE3942386A1 (de) | 1990-07-05 |
DE3942386C2 true DE3942386C2 (de) | 2001-07-05 |
Family
ID=23115187
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3942386A Expired - Fee Related DE3942386C2 (de) | 1988-12-27 | 1989-12-21 | Zeitgabeschaltung für einen Halbleiterspeicher |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4926387A (de) |
JP (1) | JPH02226590A (de) |
DE (1) | DE3942386C2 (de) |
GB (1) | GB2226900B (de) |
HK (1) | HK56695A (de) |
IL (1) | IL92749A (de) |
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Legal Events
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
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|
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |