CN102193389A - 用于在图像传送器上形成多个图像的设备及其使用方法 - Google Patents

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Abstract

用于在图像传送器上形成多个图像的设备以及使用该设备在图像传送器上形成多个图像的方法。用于在图像传送器上形成多个图像的设备包括多个光电导体主体、曝光装置、显影装置、转印装置、以及图案检测装置，其中，曝光装置包括光扫描部、具有第一光接收面的第一光检测部、具有不平行于第一光接收面的第二光接收面的第二光检测部、具有不平行于第一光接收面的第三光接收面的第三光检测部，所述光扫描部、所述第一光检测部、以及所述第二光检测部提供在曝光装置的外壳内部，而所述第三光检测部提供在外壳外部；以及曝光定时控制装置。

Description

用于在图像传送器上形成多个图像的设备及其使用方法
技术领域
本发明的一个方面涉及用于在图像传送器上形成多个图像的设备以及使用该设备在图像传送器上形成多个图像的方法中的至少一个。
背景技术
已知有串联式激光束打印机代表的图像形成设备。在这样的图像形成设备中，关于四个颜色(黑色、红紫色、黄色和蓝绿色)彼此均不同的图像形成部以及用于对由每个图像形成部形成的图像的颜色发射曝光光束的曝光装置被用于直接地在纸张上覆盖色粉图像或者在中间转印带上覆盖色粉图像，由此形成彩色图像。这里将示出根据相关技术的图像形成设备的曝光装置。
图1A是示出根据相关技术的图像形成设备的曝光装置内部的主要结构的平面图。图1B是示出根据相关技术的图像形成设备的曝光装置内部的主要结构的侧视图。参考图1A和图1B，分别从曝光装置110中作为光源的激光二极管240BK、240M、240C和240Y发射激光束140BK、140M、140C和140Y作为各颜色的曝光光束。发射的激光光束140BK、140M、140C和140Y被反射镜230反射，经过用于调整主扫描放大率的f-θ透镜250R和对各颜色提供的调整其光路的折叠式反射镜(folding mirror)250M，并且随后扫描作为光电导体鼓(未显示)的表面的要被扫描的面。这里，为250R和250M提供的连字符后面的BK、M、Y和C分别表示黑色、红紫色、黄色和蓝绿色的光学系统。
反射镜230是六边形多边形镜，并且能够旋转以便在多边形镜的每一面的主扫描方向上通过曝光光束进行一行的扫描操作。对于作为光源的四个激光二极管由一个多边形镜进行扫描。曝光光束被划分为两组颜色，激光光束140BK和140M以及激光光束140C和140Y，并且反射镜(多边形镜)230的相对反射面被用于进行扫描，由此对于四个不同的光电导体鼓(未显示)进行同时曝光。
同步检测传感器260在主扫描方向上被布置在成像区域之外，对于一行的每个扫描操作检测激光光束140BK和140Y，并且调节用于图像形成的曝光开始的定时。同步检测传感器260被布置在f-θ透镜250R-BK的侧面，由此激光光束140Y通过用于同步检测的折叠式反射镜250M-Y1和250M-Y2入射到同步检测传感器260。激光光束140M和140C不能调节同步检测传感器的写的定时，由此用于红紫色曝光开始的定时和用于蓝绿色曝光开始的定时分别与用于黑色曝光开始的定时和用于黄色曝光开始的定时一致，由此调节各颜色的图像的位置。
同时，如果各颜色的覆盖色粉图像的位置微小地偏移，则不可能稳定地获得彩色图像。由此，在根据相关技术的图像形成设备中对于每个颜色形成用于位置偏移校正的图案，并且通过例如TM传感器(色粉标记传感器)的检测装置检测各颜色的色粉图像的位置，由此进行位置偏移校正以便在同一位置处覆盖所有四种颜色。
当进行位置偏移校正时，通常在同一位置上覆盖四种颜色图像并且颜色偏移的量接近于零。然而，随着在进行位置偏移校正之后时间的流逝，由于各种因素导致颜色偏移的量可能增加。特别地，由于曝光装置内温度的升高而产生的反射镜的位置偏移通常是颜色偏移量增加的主要因素。尽管使用螺丝和粘合材料在曝光装置内固定反射镜，但是随着温度升高导致反射镜的形状可能改变或者支撑件的形状可能改变，由此已经改变了关于发射的光束的光路的反射镜的倾斜。由于倾角的变化，颜色偏移量可能增加。
为了校正增加的颜色偏移量，必须进行位置偏移校正，其中用于位置偏移校正的图案是图像制成和检测的。然而，通常需要10-20秒的时间周期来进行位置偏移校正，并且这样的时间周期可能对于用户是宕机(down)时间。
对于减少这样的进行位置偏移校正的时间周期的方法，具有非平行形状的PD可以被用作调节曝光装置中写定时的传感器(同步检测传感器)。具有非平行形状的PD具有在一端部垂直并且在另一端部非垂直的形状。随着激光光束通过具有非平行形状的PD，通过垂直的端部的定时是独立于反射镜的倾斜的常数，但是通过具有非垂直端部的定时根据在副扫描方向上曝光光束的位置的改变而改变。在这样的垂直的端部和具有倾斜的端部的检测结果之间的差异可以被用作在副扫描方向上计算曝光的位置偏移量，并且为校正这样的曝光的位置偏移量而计算关于图像的副扫描颜色偏移的量(例如，见日本专利No.2858735、日本专利No.2642351、以及日本专利申请公开No.2005-221824)。
然而，问题在于在相关技术中使用的具有非平行形状的PD是昂贵的，由此增加了制造图像形成设备的成本。
此外，需要在光路中布置具有非平行形状的PD，沿着该光路所有四种颜色的激光光束被折叠式反射镜反射并达到光电导体鼓，因此需要多个镜来建立激光光束的光路。问题在于由于这样的情况执行图像形成设备的成本也会相应地增加。
此外，如果由于曝光装置等内部的温度升高而导致曝光装置的变形，则问题在于具有非平行形状的各个PD之间的距离变化，由此在副扫描方向上的曝光的位置偏移量不能被正确地计算，并且在用于曝光的位置偏移量的校正值中会引起误差。在这样的情况下，对于具有非平行形状的PD来说不可能检测曝光装置的变形，因此不可能校正校正值中的误差。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供了一种用于在图像传送器上形成多个图像的设备，包括：多个光电导体主体；曝光装置，用于使所述多个光电导体主体对于多个光束曝光，以在所述多个光电导体主体上形成多个静电潜像；显影装置，用于使用显影剂显影所述多个静电潜像以形成多个图像；转印装置，用于将所述多个图像转印到图像传送器上；以及图案检测装置，用于检测用于校正要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移的图案；其中，所述曝光装置包括：光扫描部，用于在第一方向上使用所述多个光束扫描所述多个光电导体主体；第一光检测部，具有用于检测所述多个光束中的至少一个光束的第一光接收面，所述第一光接收面垂直于所述第一方向；第二光检测部，具有用于检测所述多个光束中的至少一个光束的第二光接收面，所述第二光接收面不平行于所述第一光接收面；第三光检测部，具有用于检测所述多个光束中的至少一个光束的第三光接收面，并且所述第三光接收面不平行于所述第一光接收面；其中，所述光扫描部、所述第一光检测部、以及所述第二光检测部被提供在所述曝光装置的外壳内部；所述第三光检测部提供在所述外壳之外；以及曝光定时控制装置，基于在所述第一光接收面上对所述多个光束中的至少一个光束的检测、在所述第二光接收面上对所述多个光束中的至少一个光束的检测、在所述第三光接收面上对所述多个光束中的至少一个光束的检测、以及由图案检测装置对于图案的检测，控制所述多个光电导体主体对于所述多个光束的曝光的定时。
根据本发明的另一个方面，提供一种使用上述设备在图像传送器上形成多个图像方法，所述方法包括：在第一方向上使用多个光束扫描多个光电导体主体，以在所述多个光电导体主体上形成多个静电潜像；在所述设备中的第一光接收面上检测所述多个光束中的至少一个光束；在所述设备中的第二光接收面上检测所述多个光束中的至少一个光束；在所述设备中的第三光接收面上检测所述多个光束中的至少一个光束；使用显影剂来显影所述多个静电潜像以形成所述多个图像；将所述多个图像转印到图像传送器上；形成用于校正要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移的图案；检测用于校正要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移的所述图案；基于所述图案的检测计算要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移量的第一集合；测量在第一光接收面上所述多个光束中的至少一个光束的检测和在第二光接收面上所述多个光束中的至少一个光束的检测之间的第一时间周期；基于第一时间周期计算要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移量的第二集合；测量在第二光接收面上所述多个光束中的至少一个光束的检测和在第三光接收面上所述多个光束中的至少一个光束的检测之间的第二时间周期；基于第二时间周期确定所述多个图像的位置偏移量的第一集合的计算的定时；以及基于所述多个图像的位置偏移量的第一集合和所述多个图像的位置偏移量的第二集合控制所述多个光电导体主体对于所述多个光束的曝光的定时。
附图说明
图1A是示出根据相关技术的图像形成设备的曝光装置内部的主要结构的平面图；
图1B是示出根据相关技术的图像形成设备的曝光装置内部的主要结构的侧视图；
图2是简单并示意性示出根据本发明的示例实施例的图像形成设备的主要部件的结构的示意图；
图3是示出用于位置偏移校正的传感器和图案的示意图；
图4是示出图3所示的传感器的放大图；
图5A是示出根据本发明的第一示例实施例的曝光装置内部主要结构的平面图；
图5B是示出根据本发明的第一示例实施例的曝光装置内部主要结构的侧视图；
图5C是示出同步检测传感器上入射的激光光束的光路的示意图；
图6是示出用于控制曝光装置的处理的示意图；
图7是示出位置偏移校正的流程图的实例；
图8A是示出根据本发明的第二示例实施例的曝光装置内部的主要结构的平面图；
图8B是示出根据本发明的第二示例实施例的曝光装置内部的主要结构的侧视图；
图9A是示出根据本发明的第三示例实施例的曝光装置内部的主要结构的平面图；
图9B是示出根据本发明的第三示例实施例的曝光装置内部的主要结构的侧视图。
具体实施方式
下面将参考附图描述本发明的一些示例实施例。
<第一示例实施例>
[图像形成设备的概略结构和操作]
首先将描述根据本发明的第一示例实施例的图像形成设备的概略结构和操作。图2是简单地和示意性地示出根据本发明的第一示例实施例的图像形成设备的主要部件的结构的示意图。如图2所示，图像形成设备200是所谓的串联型图像形成设备，具有沿着中间转印带5布置的各颜色的图像形成部(电子照相处理部)6BK、6M、6C和6Y。此外，在图2中，X方向是主扫描方向，而Y方向是副扫描方向。
中间转印带5是缠绕旋转驱动的驱动辊7和被驱动辊8的环带。驱动辊7由驱动马达(未显示)旋转驱动，并且驱动辊7和被驱动辊8移动中间转印带5。中间转印带5是用于本发明的示例实施例的环形传送器的典型例子。
沿着中间转印带5从上游侧顺序布置多个图像形成部(电子照相处理部)6BK、6M、6C和6Y。这样的多个图像形成部6BK、6M、6C和6Y具有共同的内部结构，使得仅仅是由此形成的色粉图像的颜色彼此不同。图像形成部6BK、图像形成部6M、图像形成部6C和图像形成部6Y分别形成黑色图像、红紫色图像、蓝绿色图像和黄色图像。
图像形成部6BK包括光电导体鼓9BK和围绕光电导体鼓9BK布置的充电器10BK、显影器12BK、光电导体清洁器(未显示)、放电器13Bk等。光电导体鼓9BK、9M。9C和9Y是用于本发明的示例实施例的多个图像载体的典型例子。充电器10BK、显影器12BK、光电导体清洁器(未显示)、放电器13BK等是用于本发明的示例实施例的多个图像制作装置的典型例子。其他图像形成部6M、6C和6Y具有与图像形成部6BK相似的结构，由此，仅对于图2的图像形成部6M、6C和6Y的各个元件提供由M、C、Y区别的附图标记，来替代对图像形成部6BK的每个元件提供的BK，同时省略对其的描述。
曝光装置11具有如下功能：对于由图像形成部6BK、6M、6C和6Y形成的图像的颜色通过作为曝光光束的激光光束14BK、14M、14C和14Y扫描作为图像载体的光电导体鼓9BK、9M、9C和9Y，从而对其进行曝光。曝光装置11是用于本发明的示例实施例的曝光装置的典型例子。下面将描述曝光装置11的细节。
由于转印装置15BK、15M、15C和15Y的操作，各颜色的色粉图像在光电导体鼓9BK、9M、9C和9Y接触中间转印带5的位置(主要转印位置)处被转印到中间转印带5上。由于这样的转印，各颜色的色粉图像在中间转印带5上覆盖，由此形成全色图像。
为了形成图像，纸张馈送盘1上存储的纸张4被从纸张馈送盘1的顶部顺序馈送，通过纸张馈送辊2和分离辊3传送到中间转印带5，并且在中间转印带5与纸张4接触的位置(次要转印位置21)处转印全色色粉图像。在次要转印位置21布置次要转印辊22，并且将纸张4按压到中间转印带5，由此提高转印的效率。次要转印辊22与次要转印带5紧密接触并且不具有附着和拆卸机构。其上转印了全色色粉图像的纸张4被传送到定影装置16。由定影装置16对纸张4上转印的全色色粉图像进行定影。
当用于如下所述的位置偏移校正的图案30是在中间转印带5上图像制成的并且被检测到时，用于位置偏移校正的图案30在到达清洁部20之前通过次要转印辊22，并且在此色粉可以附着到次要转印辊22。这样被附着到次要转印辊22的色粉可能附着到纸张4上成为污染以降低图像质量。
为了消除由附着的色粉引起的这样的污染，对于除了清洁刀片的清洁机构之外的次要转印辊施加偏压，由此恢复色粉。对于次要转印辊施加具有与色粉的电荷相同极性的偏压以便将色粉吸引到带，随后利用清洁刀片将色粉刮除。当出现混合的色粉的正负电荷时，偏压在正负之间振荡。对这样的中间转印系统增加次要转印辊的附着和拆除机构以消除辊上色粉的附着，然而这样会增加成本，由此在第一示例实施例中不提供附着或拆除机构。由此，上面提供了根据第一示例实施例的图像形成设备的概略结构和操作。
此外，根据本发明的示例实施例的位置偏移校正装置是图像形成设备的一部分，并且位置偏移校正装置的典型例子包括例如中间转印带5的环形传送器、例如光电导体鼓9BK的图像载体、例如显影器12BK的图像制作装置、例如曝光装置11的曝光装置、如下所述的光检测装置、如下所述的图像制作位置偏移量计算装置、如下所述的曝光位置偏移量计算装置、以及如下所述的扫描时间周期测量装置。此外，由如下所述的CPU 15等实现图像制作位置偏移量计算装置、曝光位置偏移量计算装置、以及扫描时间周期测量装置。
[用于位置偏移校正的图案]
下面将描述用于校正色粉图像的位置偏移的图案。在图像形成设备200中，一个问题是由于光电导体鼓9BK、9M、9C和9Y的轴之间距离的误差、光电导体鼓9BK、9M、9C和9Y的平行程度的误差、在曝光装置11中设置的折叠式反射镜25M等的位置的误差、在光电导体鼓9BK、9M、9C和9Y上静电潜像的写定时的误差等，各颜色的色粉图像不能在应该覆盖的正确位置覆盖，并且由此可能引起各颜色之间的位置偏移。各颜色之间的这样的位置偏移的已知原因主要包括歪斜、在副扫描方向上的配准偏移(registration displacement)、在主扫描方向上的放大率的误差、在主扫描方向上的配准偏移等。
为了不引起位置偏移，图像制作位置偏移量计算单元计算各颜色的色粉图像的图像制作位置偏移量，并进行位置偏移校正。图像制作位置偏移量计算装置具有如下功能：通过使用用于位置偏移校正的图案计算在主扫描方向和副扫描方向上被转印到中间转印带5的每个颜色的图像的图像制作位置偏移量，该图案是在中间转印带5上图像制成的。进行位置偏移校正来调整三个颜色(即，红紫色(M)、蓝绿色(C)和黄色(Y))关于黑色(BK)的图像位置的图像位置。如图2所示，在图像形成设备6Y的下游侧与中间转印带5相对的位置提供传感器17、18和19。例如，由一个基底(substrate)支撑传感器17、18和19以在与副扫描方向(Y方向)正交的主扫描方向(X方向)上对准，该副扫描方向是中间转印带5的传送方向。传感器17、18和19具有读取用于位置偏移校正的图案等的功能。
图3是示出作为图像检测装置的传感器和用于位置偏移校正的图案的示意图。在图3中，对于与图1相同的元件提供相关的附图标记并且省略其描述。此外，图3示意性地示出从曝光装置11的侧面观看的图1。如图3所示，构成用于位置偏移校正的图案30的各个图案30a是在中间转印带5上对应于传感器17、18和19的位置处图像制成的，从而计算位置偏移校正所需的位置偏移量的信息，并且由传感器17、18和19检测各颜色之间的位置偏移量。构成用于位置偏移校正的图案30的各个图案30a分别由传感器17、18和19检测，并且通过清洁部20从中间转印带5移除。清洁部20是朝向中间转印带5按压的清洁刀片，并且刮除在中间转印带5的表面上附着的色粉。
图4是作为图像检测装置的传感器的放大图。在图4中，对于与图1相同的元件提供相同的附图标记并且省略其描述。此外，图4中示出传感器17并且传感器18和19具有相似的结构。如图4所示，传感器17包括发光部37、镜面反射光接收部28和漫反射光接收部29。然而，漫反射光接收部29如下所述可不是必须的。
在传感器17中，通过来自发光部27的光束照射中间转印带5，并且包括镜面反射光分量和漫反射光分量的反射光由镜面反射光接收部28接收。由此，传感器17具有检测用于位置偏移校正30的图案的功能。在此，仅镜面反射光接收部28能够检测用于位置偏移校正的图案，而可以不使用漫反射光接收部29。漫反射光接收部29用于检测用于调节附着的色粉的量的图案，该图案还用于调节现有技术中附着色粉的量。
由此，用于位置偏移校正的图案30是图像制成的并且被检测以校正各颜色之间的位置偏移，由此可输出高质量图像。然而，需要花费预定的时间周期来进行用于位置偏移校正的图案30的图像制成和检测，因此当经常进行基于用于位置偏移校正的图案30的图像制成和检测的位置偏移校正时，可由此引起用户的宕机时间的增加。由此，在根据第一示例实施例的图像形成设备中结合使用基于用于位置偏移校正的图案30的图像制成和检测的位置偏移校正和通过测量激光光束通过预定位置的定时的改变而进行的位置偏移校正。
也可以使用现有技术中具有非平行形状的PD来实现后者利用激光光束的通过定时中的改变进行的位置偏移校正，然而，如下面详细描述，在根据第一示例实施例的图像形成设备中通过使用多个低成本PD而不使用具有非平行形状的昂贵的PD并且将它们在预定位置和预定角度布置来实现后者位置偏移校正。
[利用激光光束的通过定时的变化的位置偏移校正]
下面将描述利用激光光束的通过定时的变化的位置偏移校正。图5A是示出用于第一示例实施例的曝光装置的主要内部结构的平面图。图5B是示出用于第一示例实施例的曝光装置的主要内部结构的侧视图。
参考图5A和图5B，从曝光装置11中作为光源的激光二极管24BK、24M、24C和24Y分别发射作为各颜色的曝光光束的激光光束14BK、14M、14C和14Y。发射的激光光束14BK、14M、14C和14Y从反射镜23反射，然后通过用于调节主扫描放大率的f-θ透镜25R以及对各颜色提供的折叠式反射镜25M以调节它们的光路，并且随后扫描作为光电导体鼓9BK、9M、9C和9Y的表面的要被扫描的表面(见图2)。另外地，用于25R和25M的连字符后面的BK、M、Y和C分别指示黑色、红紫色、黄色和蓝绿色的光学系统。折叠式反射镜25M是用于本发明的示例实施例的多个光路改变装置的典型实例。
反射镜23是六边形多边形镜并且旋转从而对于多边形镜的每一面的主扫描方向上移动曝光光束进行一行扫描。对于作为光源的四个激光二极管由一个多边形镜进行扫描。激光光束140BK和140M以及激光光束140C和140Y被分成两组两个颜色的曝光光束，并且通过使用反射镜23(多边形镜)的相对反射面来进行扫描，由此能够同时进行对四个不同光电导体鼓的曝光。由此，反射镜23旋转以移动从多个光源(激光二极管24BK、24M、24C和24Y)发射的多个光束(激光光束14BK、14M、14C和14Y)用于在主扫描方向上扫描。反射镜23是用于本发明的示例实施例的扫描装置的典型例子。
同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2被布置在主扫描方向上端侧处的成像区域之外。提供同步检测传感器26_V使得传感器的光接收面垂直于主扫描方向，并且提供同步检测传感器26_S1和26_S2使得传感器的光接收面相对应主扫描方向具有45°的倾斜。同步检测传感器26_V是用于本发明的示例实施例的第一光检测装置的典型实例。此外，同步检测传感器26_S1和26_S2分别是用于本发明的示例实施例的第二光检测装置和第三光检测装置的典型实例，并且具有与作为第一光检测装置的典型实例的同步检测传感器26_V的光接收面不平行的光接收面。
同步检测传感器26_V对于一行的每个扫描操作检测激光光束14BK和14Y，并且调节用于图像形成的曝光的开始定时。同步检测传感器26_V被布置在f-θ透镜25R_BK的一侧，并且由此激光光束14Y通过用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y1和25M_Y2入射到同步检测传感器26_V。对于同步检测传感器不能调节使用激光光束14M和14C的写定时，并且由此用于红紫色的曝光开始定时和用于蓝绿色的曝光开始定时被调节为用于黑色的曝光开始定时和用于黄色的曝光开始定时，使得各颜色的图像彼此被定位。
同步检测传感器26_S1检测在最短的扫描距离对每一行的扫描操作检测通过折叠式反射镜25M_BK之后的激光光束14BK和通过折叠式反射镜25M_Y之后的激光光束14Y。在同步检测传感器26_V检测到激光光束14BK和14Y之后以及同步检测传感器26_S1检测到激光光束14BK和14Y之前的扫描时间周期被用于位置偏移校正。同步检测传感器26_S1被布置在f-θ透镜25R_BK的一侧并且激光光束14Y通过用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y3入射到同步检测传感器26_S1。
当曝光装置11的内部温度升高造成改变折叠式反射镜25M的角度或者改变f-θ透镜25R的角度时，在副扫描方向上使用激光光束14BK和14Y的曝光位置改变，由此通过同步检测传感器26_S1激光光束14BK和14Y的检测位置改变。通过这样检测位置的变化，在同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的激光光束14BK和14Y的扫描时间周期改变。由此，可监控同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的激光光束14BK和14Y的扫描时间周期的变化，以检测使用激光光束14BK和14Y的曝光位置的变化。结果，可计算在副扫描方向上黑色和黄色的颜色偏移量，该颜色偏移是由曝光位置的变化引起的。对于在最短写距离的一行的每个写操作，可以监控同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的激光光束14BK和14Y的扫描时间周期的变化。
同步检测传感器26_S2没有提供在曝光装置11内部而是安装为与外壳的壁面集成。同步检测传感器26_S2对于在最短扫描距离的一行的每个扫描操作，检测通过f-θ透镜25R_BK和折叠式反射镜25M_BK之后的激光光束14BK。由此，在同步检测传感器26_S2和光电导体鼓9BK(未显示)之间不存在光学元件。即使在曝光装置11中引起了副扫描方向上激光光束14BK的变化，同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期可以不改变。
然而，当曝光装置11经受热的影响或由于设备中温度升高而改变曝光装置11的形状所引起的主体变形的影响时，同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期会改变。在此，尽管考虑到在光电导体鼓9BK(未显示)等上也引起曝光位置的变化，但是同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期也不会变化很大，由此，即使监控同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期，也不可能检测到曝光装置11的变形。由此，当监控同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期并且这样的时间周期改变时，仍可关于引起曝光装置11的变形这一事实做出决定。
当引起曝光装置11的变形时，即使持续监控同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期，也不能正常地计算位置偏移量，由因此使用图3所示的用于位置偏移校正的图案进行位置偏移校正，并记录在正常定位的条件下同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间以及同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期。另外，同步检测传感器26_S2并不必须与曝光装置11的外壳壁面集成，并且只要被布置在外壳壁面之外就可以从外壳壁面分离。
在此，图5A和图5B仅示意性示出同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的一般布置，并且省略了将每个激光光束引导至同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的光学系统。此外，为了便于解释光路，同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的定向可能与实际不同。此外，尽管为了便于解释光路，在图5A和图5B之间同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的位置不是一致的，但是只要满足如下所述的“布置条件”，可以任意布置同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2。
实际上，如图5C所示，通过包括镜子等的预定光学系统26P将激光光束14BK和14Y的光路改变为主扫描方向(平行于X轴)上垂直入射到同步检测传感器26_V的光接收面(即，θ1＝90度)。此外，通过包括镜子等的预定光学系统26Q将激光光束14BK和14Y的光路改变为主扫描方向(平行于X轴)上以θ2＝45度的角度倾斜入射到同步检测传感器26_S1的光接收面。此外，通过包括镜子等的预定光学系统26R将激光光束14BK的光路改变为主扫描方向(平行于X轴)上以θ3＝45度的角度倾斜入射到同步检测传感器26_S2的光接收面。
同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的布置条件可以是在主扫描方向上在端侧处成像区域之外布置同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2，同步检测传感器26_V的光接收面垂直于主扫描方向，同步检测传感器26_S1和26_S2的光接收面对于主扫描方向具有45度的倾角，同步检测传感器26_V布置在反射镜23和光电导体鼓之间的光学路径上，同步检测传感器26_S1和26_S2被布置在折叠式反射镜25M和光电导体鼓之间的光学路径上，同步检测传感器26_V和26_S1被布置在曝光装置11的外壳内部，并且同步检测传感器26_S2被布置在曝光装置11的外壳外部。只要满足这样的条件，可以任意地布置同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2。
下面将参考图6描述用于控制曝光装置11的处理。图6是示出用于控制曝光装置的处理的示意图。在图6中，旋转控制部55从CPU 51接收指令，并由此选择反射镜23。旋转监控部56监控反射镜23是否持续地旋转，并且如果在这样的旋转中发生任何异常就生成错误信号。
在确定反射镜23持续地旋转之后，光发射周期控制部57控制激光二极管24BK和24Y，使得发射激光光束直到同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2检测到激光光束14BK和14Y。在此，光发射量控制部58将激光光束14BK和14Y的光强度控制为同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2可检测的级别。滤光器59仅通过使用激光光束14BK等照射同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2而获得信号当中的激光光束14BK等的检测分量，并且A/D转换部60将模拟数据转换为数字数据。
采样控制部61控制数据采样，并通过使用具有比光发射周期控制部57的频率更高的频率的时钟来提供数据采样的采样率。多边形错误信号和同步检测数据通过I/O端口49并且通过数据总线50载入到CPU 51。CPU 51接收同步检测数据，然后控制光发射周期控制部57和光发射量控制部58，并关闭激光光束14BK和14Y。
此外，从接收同步检测数据信号的定时计算用于在光电导体鼓9上正确形成图像的图像写的定时(曝光的开始)。此外，当CPU 51接收多边形错误信号时，停止用于反射镜23的旋转控制和用于激光二极管24BK的光发射控制。
在RAM 52中存储图像数据，并且当开始图像写时，图像数据转移到CPU51。CPU 51将图像数据转换为激光二极管24BK等的打开的时间周期、打开的级别、以及关断的时间周期的数据，这些数据被发送到光发射周期控制部57和光发射量控制部58。在ROM 53上存储如上所述的控制图像数据的形成的程序。由此，CPU 51和ROM 53用作用于控制图像形成设备的整体操作的控制装置。
下面将描述用于测量同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期并且基于测量的结果计算曝光的位置偏移量的曝光位置偏移量计算装置的功能，以及用于测量同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期的扫描时间周期测量装置的功能。可以提供CPU51、ROM 53等作为曝光位置偏移量计算装置和扫描时间周期测量装置。
当使用如图3所示的用于位置偏移校正的图案来进行位置偏移校正时，计算在副扫描方向Y1上的偏移量和在校正偏移的条件下的写F1的定时延迟量(一行的单位)。尽管进行了这样的位置偏移校正，曝光位置偏移量计算装置测量同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期T1，并且扫描时间周期测量装置测量同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期T1’。这样的扫描时间周期T1是同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期的参考值。此外，这样的扫描时间周期T1’是同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期的参考值。这里，当检测扫描时间周期所需的采样率高于写频率时，可以测量等于或小于一个点(dot)的精确的颜色偏移量。
在进行了这样的位置偏移校正之后，进行图像输出。这里，曝光位置偏移量计算装置对于n行(n是自然数)中的每个曝光来计算同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期T2。当扫描时间周期T2与扫描时间周期T1不同时，考虑到由于曝光装置11内部的温度升高等引起图像的颜色偏移，所以f-θ透镜25R_BK和折叠式反射镜25M_BK中的任一个或二者可以改变。为了校正这样的颜色偏移，曝光位置偏移量计算装置从扫描时间周期T1和T2开始计算副扫描方向Y2上的颜色偏移量，并且将写的定时延迟量改变为F2。
可以根据以下公式(1)计算Y2：
Y2＝(T2-T1)×(反射镜23的旋转速度×L1)    公式(1)
这里，在公式(1)中的L1是从反射镜23到同步检测传感器26_S1的距离。此外，同步检测传感器26_S1关于主扫描方向倾斜45度，并且由此，在主扫描方向上检测的偏移量和在副扫描方向上的偏移量的比率是1∶1。
可以根据下面的公式(2)计算写的定时延迟量F2：
F2＝F1-Y2/ΔD    公式(2)
这里，公式(2)中的ΔD是副扫描方向上一行的长度(对于600dpi为42.3μm)。可以设置这样具有写的定时延迟量的F2以输出在副扫描方向上没有颜色偏移的图像。
在如图5A和图5B所示的曝光装置11中，当仅进行扫描时间周期T1和T2的检测时，可以由同步检测传感器26_S1检测关于激光光束14BK和14Y的颜色偏移校正。此外，使用如图3所示的用于位置偏移校正的图案来对每个位置偏移校正更新扫描时间周期T1。由打印操作的数目或设备操作的时间周期来确定更新的定时。此外，还可以从扫描时间周期T1’执行上述确定。当在进行位置偏移校正之后进行图像输出时，扫描时间周期测量装置对于n行(n是自然数)中的每个曝光来计算同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期T2’。当扫描时间周期T2’与扫描时间周期T1’不同时，由于曝光装置11等中温度升高可以改变曝光装置11的形状，从而改变光电导体鼓上的曝光位置。在检测扫描时间周期T2时没有出现这样的改变，由此，当基于这样的条件下扫描时间周期T2的测量结果校正写的定时延迟量时，会引起颜色偏移误差。因此，当扫描时间周期T2’和扫描时间周期T1’之间的差异超过预定阈值时，使用图3所示的位置偏移校正的图案立即执行位置偏移校正。
对于同步检测传感器26_S1没有检测到激光光束的颜色(至激光光束14M和14C的颜色)，通过使用检测到的颜色的颜色偏移量来进行校正。在此，由于间接校正可能引起误差。为了消除由间接校正引起的误差，预先在表中保持各颜色之间的颜色偏移量的比率。
此外，同步检测传感器26_S1的光接收面相对于主扫描方向倾斜45度，并且如果改变这样的倾斜，则在副扫描方向上偏移量中会引起检测误差。为了校正这样的倾斜误差，使用校正因子α。校正因子α可以被预先确定为固定值，或者可以通过使用如图3所示用于位置偏移校正的图案来进行位置偏移校正而更新。在固定值的情况下，当同步检测传感器26_S1的光接收面的倾斜是45度时提供校正因子α＝1。当同步检测传感器26_S1的光接收面的倾角偏离45度时，基于制造过程中测量的值或者用户或服务人员输入的值来设置适当值。
下面将描述用于通过进行位置偏移校正更新校正因子α的方法。根据打印操作的数目或多边形的旋转的时间周期来周期地进行位置偏移校正。在进行第(m-1)个位置偏移校正时更新的扫描时间周期T1是扫描时间周期T1(m-1)，并且在进行第m个位置偏移校正时更新的扫描时间周期T1是扫描时间周期T1(m)。根据公式(3)，从进行第m个位置偏移校正时检测到的副扫描方向中的偏移量Y1(m)计算校正因子α：
α＝Y1(m)/[{T1(m)-T1(m-1)}×(反射镜23的旋转速度×L1)]公式(3)
通过使用由公式(3)获得的校正因子α进行一行的随后写的定时的校正。可以根据下面的公式(4)校正写的定时延迟值F2：
F2＝(F1-Y2/ΔD)×α    公式(4)
与曝光装置11中的温度升高有关的曝光的位置偏移量在进行第m个位置偏移校正时检测到的副扫描方向上偏移量Y1(m)中的贡献的比率越大，则校正因子α的计算值越精确。
由公式(5)示出了用于改善这样的校正因子α的精确性的计算方法：
α＝平均(α(m)，α(m-1)，α(m-2)，...)    公式(5)
这里，公式(5)中的α(m)是在进行第m个位置偏移校正时计算出的校正因子，而平均(参数1，参数2，...)是计算所有参数的平均值的函数。当根据公式(5)计算α时，将除了与曝光装置11中温度上升有关的曝光的位置偏移量之外的分量的值取平均，使得可以进行稳定的校正。
可选地，提供了以下方法：在进行最后的位置偏移校正的时候计算出的副扫描方向上的偏移量Y1等于或大于阈值(例如200μm)的情况下，确定与曝光装置11中的温度升高相关的曝光的位置偏移量的贡献比率是大的，并更新校正因子α。否则，不更新校正因子α。此外，计算从进行第(m-1)个位置偏移校正开始直到进行第m个位置偏移校正为止反射镜23的平均旋转速率Xave。当在图像形成时反射镜23的旋转速率是X1(rpm)的时候，提供：
Xave＝(X1×Ton)/Ttotal  公式(6)
这里，公式(6)中的Ton是当反射镜23旋转时的时间周期，而Ttotal是进行第(m-1)个到第m个位置偏移校正时的时间周期。提供了如下方法：假设当Xave等于或大于阈值(例如25000rpm)时曝光装置11的温度在位置偏移校正的间隔之间显著提高，那么确定曝光的位置偏移量在副扫描方向上的偏移量中的贡献比率是大的，并更新校正因子α。否则，不更新校正因子α。
可选地，提供了例如用于测量作为曝光装置11中的扫描装置的反射镜23周围的环境温度的温度计(未显示)的温度检测装置，并且温度检测装置计算从进行第(m-1)次位置偏移校正开始直到进行第m次位置偏移校正为止曝光装置11中的温度变化K。提供了如下方法：当这样的K等于或大于阈值(例如20℃)时，确定曝光的位置偏移量在副扫描方向上的偏移量中的贡献比率是大的，因为曝光装置11中的温度在位置偏移校正的间隔之间显著增加，并更新校正因子α。否则，不更新校正因子α。
此外，温度计计算在进行第(m-1)个位置偏移校正时曝光装置11内的温度K(m-1)，并且当K(m-1)等于或大于阈值(例如20℃)或者等于或小于外界气温时，进行冷却状态的确定。提供了如下方法：假设曝光装置11中的温度从冷却状态到第m次位置偏移校正显著升高，确定曝光的位置偏移量对于副扫描方向上偏移量的贡献比率是大的，并更新校正因子α。否则，不更新校正因子α。
下面将参考图7详细描述如上所述的位置偏移校正的控制流程。图7是位置偏移校正的流程图的示例。首先，在步骤62测量同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期T1’。然后，在步骤63中将扫描时间周期T1’与参考值相比较以确定扫描时间周期T1’和参考值之间的差是否大于预定值，并且如果大于(如果是)，则转至步骤62；否则，如果小于(如果否)，则转至步骤65。当扫描时间周期T1’和参考值之间的差大于预定值(如果是)，在步骤64确定需要使用如图3所示的用于位置偏移校正的图案来进行位置偏移校正。这里，步骤63的参考值是同步检测传感器26_S1和同步检测传感器26_S2之间的扫描时间周期，该扫描时间周期是由扫描时间周期测量装置与位置偏移校正同时进行测量的。
然后，在步骤65中确定是否实现了进行位置偏移校正的条件，并且如果提供了这样的实现(如果是)，则转至步骤66。这里，用于进行位置偏移校正的条件例如是连续地进行了100次打印操作的情况、连续进行了3分钟的打印的情况、在曝光装置11中的温度上升到预定温度的情况等。然后，在步骤66使用如图3所示的用于位置偏移校正的图案进行(第m次)位置偏移校正。
然后，在步骤67测量同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期T1(m)。然后，在步骤68中CPU确定校正因子α是在进行位置偏移校正时要被更新的值还是被看做积(product)的固定值，并且如果进行更新(如果是)，则转至步骤60；否则如果提供固定值(如果否)，则转至步骤73。
然后，在步骤69中确定RAM是否保持有效值作为校正因子α以及在在进行(第(m-1)次)位置偏移校正时是否保持同步检测传感器26_V和26_S1测量的扫描时间周期T1(m-1)，并且如果二者均被保持(如果是)，则转至步骤71。如果二者之一没有被保持(如果否)，则转至步骤70。在步骤70确定是否实现用于进行位置偏移校正的条件，如果实现了(如果是)，则转至步骤67。
然后，在步骤71中通过使用扫描时间周期T1(m)和扫描时间周期T1(m-1)来计算校正因子α。然后，在步骤72中将校正因子α存储到RAM当中。然后，在步骤73中测量同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期T2。测量的定时是在反射镜23旋转过程中每n行一次的频率(n≥1)。然后，在步骤74中将校正因子α、扫描时间周期T2和扫描时间周期T1(m)作为参考用于调整副扫描方向上图像的位置。通过改变写的定时延迟的量来进行这样的调整。
然后，在步骤75确定是否实现进行位置偏移校正的条件，并且如果实现了(如果是)，则转至步骤67，否则如果没有实现(如果否)，则转至步骤73。然后，在步骤67使用如图3所示用于位置偏移校正的图案进行(第(m+1)次)位置偏移校正。然后，在步骤77测量同步检测传感器26_V和同步检测传感器26_S1之间的扫描时间周期T1(m+1)。
然后，在步骤78通过使用扫描时间周期T1(m+1)和扫描时间周期T1(m)来计算校正因子α。然后，在步骤79中将校正因子α存储到RAM当中。然后，在步骤80确定位置偏移校正的控制是否完成，并且如果完成(如果是)，则结束如上所述的位置偏移校正的控制。如果没有完成(如果否)，则转至步骤62。
由此，根据第一示例实施例，包括第一同步检测传感器和第二同步检测传感器，其中第一同步检测传感器被布置在反射镜和至少一个光电导体鼓之间的光路中并且具有垂直于主扫描方向的光接收面，而第二同步检测传感器布置在至少一个折叠式反射镜和至少一个光电导体鼓之间的光路中并且具有与第一同步检测传感器的光接收面不平行的光接收面。这里，可以监控第一同步检测传感器和第二同步检测传感器之间的扫描时间周期以计算副扫描方向上的颜色偏移量。
此外，在曝光装置的外面还包括具有与第一同步检测传感器的光接收面不平行的光接收面的第三同步检测传感器。由此，可以监控第二同步检测传感器和第三同步检测传感器之间的扫描时间周期以检测曝光装置是否存在变形。如果引起了曝光装置的变形，可以使用用于位置偏移校正的图案来进行校正以进行正确的位置偏移校正。可选地，即使当使用具有不平行形状的PD来替代第一同步检测传感器和第二同步检测传感器，也可以进一步包括第三同步检测传感器以提供相同的效果。
此外，还可以提供廉价的曝光装置，因为没有使用具有不平行形状的PD。
此外，基于到达第一同步检测传感器的激光光束和到达第二同步检测传感器的激光光束的扫描时间周期之间的差异的测量使用短的所需时间来进行位置偏移校正，从而补偿基于图像制作和用于位置偏移校正的图案的检测所需长时间的位置偏移校正，由此可以缩小基于图像制作和用于位置偏移校正的图案的检测所需长时间的位置偏移校正的频率，并可以缩短用户的宕机时间。
此外，第三同步检测传感器相对于第二同步检测传感器的倾斜优选地为45°。第一同步检测传感器与第二同步检测传感器和第三同步检测传感器分开，使得每个传感器的倾斜很容易被改变，并且如果倾斜不是45°，可以影响检测结果以引起副扫描颜色偏移的量的检测误差。为了校正这样的检测误差，可以同时进行由于位置偏移量的副扫描的颜色偏移量的检测和由于同步检测传感器的曝光的位置偏移量的检测，并且将两个位置偏移量的差作为偏差加入到同步检测传感器进行的随后检测的结果。
<第二示例实施例>
在本发明的第二实例实施例中，可以使用曝光装置11A的例子来替代在第一示例实施例中使用的曝光装置11。除了曝光装置11A之外，提供与第一示例实施例相似的配置。对于与第一示例实施例中共同的部件，下面将省略对其的描述并且主要描述与第一示例实施例的部件不同的部件。
图8A是示出本发明的第二示例实施例的曝光装置内部的主要结构的平面图。图8B是示出本发明的第二示例实施例的曝光装置内部的主要结构的侧视图。在图8A和图8B中，对于与图5A和图5B相关的元件提供相同的附图标记并且省略对其的描述。另外，为了便于解释光路，元件的布置在图8A和图8B之间可以不同。
参考图8A和图8B，在曝光装置11A中同步检测传感器26_S1和26_S2的位置与曝光装置11中不同。在曝光装置11A中，同步检测传感器26_S1被布置在可以检测激光光束14M和14C的位置，并且同步检测传感器26_S2被布置在可以检测激光光束14M的位置。此外，曝光装置11A与曝光装置11的不同之处在于提供用于同步检测的折叠式反射镜25M_C1来替代用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y3。激光光束14C通过用于同步检测的折叠式反射镜25M_C1入射到同步检测传感器26_S1。
在曝光装置11A中，同步检测传感器26_V对于一行的每个扫描操作检测激光光束14BK和14Y并且调节在图像形成时开始曝光的定时。同步检测传感器26_S1在最短扫描距离对于一行的每个扫描操作检测激光光束14M和14C。
测量从同步检测传感器26_V检测到激光光束14BK和14Y的时候到同步检测传感器26_S1检测到激光光束14M和14C的时候的扫描时间周期，并且监控在测量的扫描时间周期中的改变，由此可以通过激光光束14M和14C检测曝光的位置变化。结果，可以计算由于曝光位置的改变而引起的副扫描方向上红紫色(M)和蓝绿色(C)的颜色偏移量。可以在最短写距离对于一行的每个写操作监控所测量的扫描时间周期的改变。
折叠式反射镜25M_M和25M_C距反射镜23的距离短于折叠式反射镜25M_BK和25M_Y距反射镜23的距离。在曝光装置11A中的温度上升受到反射镜23的热产生的控制，并且由此，红紫色(M)和蓝绿色(C)的曝光的位置偏移量在副扫描方向上的偏移量的贡献的比率高于黑色(BK)和黄色(Y)。由此，同步检测传感器26_S1检测出激光光束14M和14C，可以以较小的误差计算副扫描方向上的偏移量。另外，同步检测传感器26_S2与其在第一示例实施例中的功能类似，并且由此省略对其的描述。
此外，图8A和图8B仅仅示意性示出同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的概略配置，并且省略了将各激光光束引导到同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的光学系统。此外，为了便于描述光路，同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的定向与实际不同，并且实际上可以参考图5C进行描述。此外，为了便于描述光路，同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的位置在图8A和图8B中是不同的，然而，只要同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2满足上述“布置条件”就可以进行任何布置，并且将其应用到与曝光装置11的元件不同的曝光装置11A的元件。
由此，根据第二示例实施例，提供与第一示例实施例相似的效果并且进一步提供如下效果。即，同步检测传感器26_S1检测用于更接近于反射镜23布置的折叠式反射镜25M_M和25M_C，并且由此，可以以较小的误差计算副扫描方向上的偏移量。
<第三示例实施例>
在本发明的第三示例实施例中，示出了要被用于取代第一示例实施例中使用的曝光装置11的曝光装置11B的例子。除了曝光装置11B之外，提供了与第一实例实施例类似的配置。对于与第一示例实施例共同的部件，下面将省略对其的描述，主要描述与第一示例实施例不同的部件。
图9A是示出本发明的第三示例实施例的曝光装置内部的主要配置的平面图。图9B是示出本发明的第三示例实施例的曝光装置内部的主要配置的侧视图。在图9A和图9B中，对于与图5A和图5B中相同的元件提供相同的附图标记，并且省略对其的描述。另外，为了便于描述光路，图9A和图9B中元件的布置可以不同。
参考图9A和图9B，类似于曝光装置11，在曝光装置11B中同步检测传感器26_V被布置在能够检测激光光束14BK和14Y的位置。然而，这样布置的位置不同于曝光装置11。此外，曝光装置11B与曝光装置11的不同之处在于消除了用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y1和25M_Y2。这是因为同步检测传感器26_V被布置在激光光束14Y通过用于同步检测的折叠式反射镜25_Y3入射的位置，并且由此，不必须需要用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y1和25M_Y2。
在曝光装置11B中，同步检测传感器26_V对于一行的每个扫描操作检测通过折叠式反射镜25M_BK之后的激光光束14BK和通过折叠式反射镜25M_Y之后的激光光束14Y并且调节在图像形成时开始曝光的定时。激光光束14Y通过用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y3入射到同步检测传感器26_V和26_S1。激光光束14Y入射到同步检测传感器26_V上的光路与激光光束14Y入射到同步检测传感器26_S1上的光路是共同的，并且由此，可以消除用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y1和25M_Y2，并且仅提供用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y3。由此，可以降低曝光装置11B的成本。另外，同步检测传感器26_S1和26_S2的功能与其在第一示例实施例中的功能相类似，并且由此，省略了对其的描述。
此外，图9A和图9B仅示意性示出同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的概略配置，并且省略了将各激光光束引导到同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的光学系统。此外，为了便于描述光路，同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的定向与实际不同，并且实际上可以参考图5C进行描述。此外，为了便于描述光路，同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2的位置在图9A和图9B中可以是不同的，然而，只要同步检测传感器26_V、26_S1和26_S2满足上述“布置条件”就可以进行任何布置，并且将其应用到与曝光装置11的元件不同的曝光装置11B的元件。
由此，根据第三示例实施例，提供与第一示例实施例相似的效果并且进一步提供如下效果。即，激光光束14Y入射到同步检测传感器26_V上的光路与激光光束14Y入射到同步检测传感器26_S1上的光路是共同的，并且由此，可以消除用于同步检测的折叠式反射镜25M_Y1和25M_Y2，并且可以降低曝光装置11B的成本。
另外，在上述每个示例实施例中已经描述了包括中间转印带的图像形成设备的示例，然而，在直接转印类型图像形成设备的情况下可以使用传送带代替中间转印带。
<位置偏移校正装置和配置有位置偏移校正装置的图像形成设备的示例实施例>
本发明的至少一个示例实施例可以涉及用于在同一位置覆盖多种颜色的位置偏移校正装置以及使用该位置偏移校正装置的图像形成设备。
本发明的至少一个示例实施例的目的在于提供一种位置偏移校正装置和装配有该位置偏移校正装置的图像形成设备，即使当产生曝光装置的变形时，该位置偏移校正装置仍能够抑制制造成本的增长并正确地计算曝光的位置偏移量。
示例实施例(1)是位置偏移校正装置，包括：
环形传送器，在第一方向上进行传送；
多个图像载体，用于形成要被转印到环形传送器的每种颜色的图像；
多个图像形成装置，用于对各图像载体使用彼此不同颜色的显影剂对静电潜像进行显影，并且将显影剂图像转印到环形传送器上面；
图像制作位置偏移量计算装置，通过使用在环形传送器上用于制作位置偏移校正图像的图案，对于被转印到环形传送器上的每种颜色的图像计算第一方向上和垂直于第一方向的第二方向上的图像制作位置偏移量；
曝光装置，用于通过光束扫描所述多个图像载体并且使得所述多个图像载体曝光，所述曝光装置被配置为在外壳内部，并包括：
多个光源；
扫描装置，用于旋转以在第二方向上使用从所述多个光源发出的多个光束进行扫描；
多个光路改变装置，布置在扫描装置和每个图像载体之间的光路上，以将用于由扫描装置扫描的所述多个光束的光路改变为图像载体的面经过转印的对应图像载体的面的方向，
第一光检测装置，布置在扫描装置和所述多个图像载体的至少一个图像载体之间的光路上，并且具有垂直于第二方向的光接收面；以及
第二光接收装置，布置在所述多个光路改变装置中至少一个光路改变装置和所述多个图像载体中至少一个图像载体之间的光路中，并且具有不平行于第一光检测装置的光接收面的光接收面；
第三光检测装置，布置在外壳之外并且具有不平行于第一光检测装置的光接收面的光接收面；
曝光位置偏移量计算装置，用于测量从第一光检测装置检测到用于在扫描装置中进行扫描的所述多个光束的至少一个光束开始直到第二光检测装置检测到用于在扫描装置中扫描的所述多个光束中至少一个光束为止的第一扫描时间周期，并且基于测量出的第一扫描时间周期计算曝光的位置偏移量；以及
扫描时间周期测量装置，用于测量从第二光检测装置检测到用于在扫描装置中进行扫描的所述多个光束的至少一个光束开始直到第三光检测装置检测到与第二光检测装置检测到的光束相同的光束为止的第二扫描时间周期，
其中，
基于扫描时间周期测量装置的测量结果确定用于进行图像制作位置偏移量计算装置的图像制作位置偏移量的计算的定时，以及
基于曝光位置偏移量计算装置和图像制作位置偏移量计算装置的计算结果来调节用于形成各颜色的静电潜像的光束的曝光定时，
由此调节显影剂图像的图像制作的位置。
示例实施例(2)是如示例实施例(1)所述的位置偏移校正装置，其中第二光检测装置检测从多个光束中与第一光检测装置检测到的光束不同的光束。
示例实施例(3)是如示例实施例(1)或(2)中描述的位置偏移校正装置，其中第二光检测装置检测由多个光路改变装置中离扫描装置最近的光路改变装置改变了光路的光束。
示例实施例(4)是如示例实施例(1)到(3)中任一项所述的位置偏移量校正装置，其中，曝光位置偏移量计算装置基于测量到的第一扫描时间周期计算关于第二光检测装置没有检测的光束的颜色计算曝光的位置偏移量。
示例实施例(5)是如示例实施例(1)到(4)中任一项所述的位置偏移量校正装置，其中，曝光位置偏移量计算装置提供曝光的位置偏移量作为测量出的第一扫描时间周期乘以预定因子的值。
示例实施例(6)是如示例实施例(5)所述的位置偏移量校正装置，进一步包括位置偏移量校正图案图像形成装置，用于在第一方向上在环形传送器上图像形成用于位置偏移校正的图案，
其中，基于当位置偏移校正图案图像形成装置图像形成用于位置偏移校正的图案时计算曝光的位置偏移量并且将计算出的曝光的位置偏移量与图像制作位置偏移量计算装置计算出的图像制作位置偏移量相比较而提供的结果，由曝光位置偏移量计算装置计算预定因子。
示例实施例(7)是如示例实施例(5)所示的位置偏移校正装置，其中，曝光位置偏移量计算装置基于用于位置偏移校正的最后的图案的检测结果来计算预定因子。
示例实施例(8)是如示例实施例(5)所述的位置偏移校正装置，其中，计算预定因子，同时曝光位置偏移量计算装置将基于用于位置偏移校正的最后的图案的检测结果计算出的预定因子和基于用于位置偏移校正的先前的图案的检测结果计算出的预定因子取平均。
示例实施例(9)是如示例实施例(5)所述的位置偏移校正装置，其中，当基于用于位置偏移校正的最后的图案的检测结果计算出的位置偏移量等于或大于预定阈值时，由曝光位置偏移量计算装置计算预定因子。
示例实施例(10)是如示例实施例(5)所述的位置偏移校正装置，其中，当计算在用于位置偏移校正的最后的图案的图像制作的时间点和用于位置偏移校正的前一个图案的图像制作的时间点之间的时间周期中扫描装置的平均旋转速度并且平均旋转速度等于或大于预定阈值时，基于用于位置偏移校正的最后的图案的检测结果由曝光位置偏移量计算装置计算预定因子。
示例实施例(11)是如示例实施例(5)所述的位置偏移校正装置，
还包括温度检测装置，用于测量扫描装置的环境温度，
其中，温度检测装置在用于位置偏移校正的最后的图案的图像制作的时间点和用于位置偏移校正的前一个图案的图像制作的时间点之间的时间周期中计算扫描装置的环境温度的变化，并且
当温度的变化等于或大于预定阈值时，基于用于位置偏移校正的最后的图案的检测结果由曝光位置偏移量计算装置计算预定因子。
示例实施例(12)是包括如示例实施例(1)到(11)中任一项所述的位置偏移校正装置的图像形成设备。
根据本发明的至少一个示例实施例可以提供位置偏移校正装置以及配置有位置偏移校正装置的图像形成设备，该位置偏移校正装置能够抑制制造成本的增加并且即使当发生曝光装置的变形时也可以正确地计算曝光的位置偏移量。
尽管参考附图描述了本发明的示例实施例和特定实例，然而本发明不局限于任何示例实施例和特定实例，可以修改、改变、或合并示例实施例和特定实例而不偏离本发明的范围。
本发明基于2010年3月17日申请的日本专利申请No.2010-060193主张其优先权，整体内容结合于此作为参考。

Claims (13)

1.一种用于在图像传送器上形成多个图像的设备，包括：
多个光电导体主体；
曝光装置，用于使所述多个光电导体主体对于多个光束曝光，以在所述多个光电导体主体上形成多个静电潜像；
显影装置，用于使用显影剂显影所述多个静电潜像以形成多个图像；
转印装置，用于将所述多个图像转印到图像传送器上；以及
图案检测装置，用于检测用于校正要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移的图案；
其中，所述曝光装置包括：
光扫描部，用于在第一方向上使用所述多个光束扫描所述多个光电导体主体；
第一光检测部，具有用于检测所述多个光束中的至少一个光束的第一光接收面，所述第一光接收面垂直于所述第一方向；
第二光检测部，具有用于检测所述多个光束中的至少一个光束的第二光接收面，所述第二光接收面不平行于所述第一光接收面；
第三光检测部，具有用于检测所述多个光束中的至少一个光束的第三光接收面，并且所述第三光接收面不平行于所述第一光接收面；
其中，所述光扫描部、所述第一光检测部、以及所述第二光检测部被提供在所述曝光装置的外壳内部；
所述第三光检测部提供在所述外壳之外；以及
曝光定时控制装置，基于在所述第一光接收面上对所述多个光束中的至少一个光束的检测、在所述第二光接收面上对所述多个光束中的至少一个光束的检测、在所述第三光接收面上对所述多个光束中的至少一个光束的检测、以及由图案检测装置对于图案的检测，控制所述多个光电导体主体对于所述多个光束的曝光的定时。
2.如权利要求1所述的设备，其中，以如下方式布置所述第一光检测部和所述第二光检测部：在所述第一光接收面上要被检测的所述多个光束中的至少一个光束与在所述第二光接收面上要被检测的所述多个光束中的至少一个光束不同。
3.根据权利要求1所述的设备，其中，
所述曝光装置包括多个镜，用于将所述多个光束引导到所述多个光电导体主体；以及
以如下方式布置所述第一光检测部：在所述第一光接收面上要被检测的所述多个光束中的至少一个光束是要由在所述多个镜中最接近于所述光扫描部的镜引导的光束。
4.根据权利要求1所述的设备，其中，光扫描部包括旋转镜。
5.根据权利要求1所述的设备，其中，曝光装置包括温度检测部，用于检测光扫描部周围的温度。
6.一种使用权利要求1所述的设备在图像传送器上形成多个图像方法，所述方法包括：
在第一方向上使用多个光束扫描多个光电导体主体，以在所述多个光电导体主体上形成多个静电潜像；
在所述设备中的第一光接收面上检测所述多个光束中的至少一个光束；
在所述设备中的第二光接收面上检测所述多个光束中的至少一个光束；
在所述设备中的第三光接收面上检测所述多个光束中的至少一个光束；
使用显影剂来显影所述多个静电潜像以形成所述多个图像；
将所述多个图像转印到图像传送器上；
形成用于校正要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移的图案；
检测用于校正要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移的所述图案；
基于所述图案的检测计算要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移量的第一集合；
测量在第一光接收面上所述多个光束中的至少一个光束的检测和在第二光接收面上所述多个光束中的至少一个光束的检测之间的第一时间周期；
基于第一时间周期计算要被转印到图像传送器上的所述多个图像的位置偏移量的第二集合；
测量在第二光接收面上所述多个光束中的至少一个光束的检测和在第三光接收面上所述多个光束中的至少一个光束的检测之间的第二时间周期；
基于第二时间周期确定所述多个图像的位置偏移量的第一集合的计算的定时；以及
基于所述多个图像的位置偏移量的第一集合和所述多个图像的位置偏移量的第二集合控制所述多个光电导体主体对于所述多个光束的曝光的定时。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，计算所述多个图像的位置偏移量的第二集合的步骤包括将第一时间周期乘以因子，并基于将所述第一时间周期乘以所述因子而获得的值计算所述多个图像的位置偏移量的第二集合。
8.根据权利要求7所述的方法，还包括：
在形成图案的过程中基于所述多个图像的位置偏移量的第一集合和所述多个图像的位置偏移量的第二集合的比率来确定所述因子。
9.根据权利要求7所述的方法，还包括：
基于对最后检测到的图案计算的所述多个图像的位置偏移量的第一集合来确定所述因子。
10.根据权利要求7所述的方法，还包括：
基于对多个图案计算的所述多个图像的位置偏移量的多个第一集合的平均值来确定所述因子。
11.根据权利要求7所述的方法，还包括：
当对最后检测到的图案计算的所述多个图像的位置偏移量的第一集合大于或等于预定阈值时，将所述第一时间周期乘以所述因子。
12.根据权利要求7所述的方法，还包括：
测量在形成图案的时候在第一方向上使用所述多个光束扫描所述多个光电导体主体的速率；以及
当在形成最后检测到的图案的时候在第一方向上使用所述多个光束扫描所述多个光电导体主体的速率和在形成前一个检测到的图案的时候在第一方向上使用所述多个光束扫描所述多个光电导体主体的速率的平均值大于或等于预定阈值时，将所述第一时间周期乘以所述因子。
13.根据权利要求7所述的方法，还包括：
测量在形成图案的时候在设备中的光扫描部周围的温度；以及
当在形成最后检测到的图案的时候在光扫描部周围的温度和在形成前一个检测的图案的时候在光扫描部周围的温度之间的变化大于或等于预定阈值时，将所述第一时间周期乘以所述因子。
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