CN101803128A - 弹簧接触组件 - Google Patents
弹簧接触组件 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101803128A CN101803128A CN200880102509.XA CN200880102509A CN101803128A CN 101803128 A CN101803128 A CN 101803128A CN 200880102509 A CN200880102509 A CN 200880102509A CN 101803128 A CN101803128 A CN 101803128A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- contact member
- afterbody
- contact
- spring
- flat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 12
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000037361 pathway Effects 0.000 claims description 5
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 22
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 21
- 238000013461 design Methods 0.000 description 19
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 230000003042 antagnostic effect Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 235000012771 pancakes Nutrition 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000007514 turning Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
- H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
- H01R13/2421—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/70—Coupling devices
- H01R12/71—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
- H01R12/712—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit
- H01R12/714—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit with contacts abutting directly the printed circuit; Button contacts therefore provided on the printed circuit
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S439/00—Electrical connectors
- Y10S439/908—Contact having two contact surfaces for electrical connection on opposite sides of insulative body
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Abstract
弹簧接触组件有第一个柱塞，该第一个柱塞其有具有扁平接触表面的尾部部分，和第二个柱塞，该第二个柱塞有具有扁平接触表面的尾部部分，其中所述的扁平接触表面是相互重叠并且被外部的压缩弹簧包围从而在弹簧压缩过程中增加了所述平表面的滑动接合。
Description
发明领域
本发明涉及形成电气互连的电接触探针，并且更具体涉及具有两个可移动且重叠的柱塞的弹簧接触组件，所述柱塞具有外部弹簧包围的扁平接触表面。
发明背景
传统的弹簧装载式接触探针通常包括可移动的柱塞和容纳柱塞增大的直径部分的具有开口端的套筒，以及用来偏置套筒中柱塞行程的弹簧。柱塞支座与套筒的内表面可滑动地接合。增大的支座部分通过靠近套筒开口端的卷边(crimp)被保持在该套筒中。在作用力直接作用于弹簧的情况下，柱塞通常向外偏置一个由弹簧选定的距离，并且可向内偏置或压缩入套筒的一个选定的距离。柱塞对套筒的轴向和侧向偏置防止了柱塞与套筒之间没有接触的错误打开或间断点。柱塞一般是实心的并且包括用于接触被测电气装置的头部或尖部。套筒也可包括与套筒开口端相对的尖部。
套筒、柱塞和尖部形成了被测电气装置与测试装置等之间的电气互连，并且同样地，由导电材料制成。通常探针配合到穿过测试板或测试座的厚度而形成的腔体中。通常被测电气装置的接触侧，例如集成电路，会与穿过测试板或测试座一侧而凸出的柱塞的尖部产生压力接触，从而产生抵靠电气装置的弹簧压力。与测试装置相连的接触板被用来与从测试板或测试座的另一侧凸出的柱塞的尖部接触。该测试装置将信号传送给接触板，这些信号通过互连的测试探针从该接触板被传送给被测装置。在测试完电气装置后，弹簧探针施加的压力被释放并且解除该装置与每个探针尖部的接触。
制造传统的弹簧探针的过程包括分别制造压缩弹簧、套筒和柱塞。压缩弹簧是卷绕的并且是经过热处理而制造成有精确尺寸和受控弹簧力的弹簧。柱塞通常是通过车削加工且经过热处理而成的。套筒有时也经过热处理。套筒可使用车床或通过深冲压加工形成。所有的部件可采用电镀工艺来增强导电性。弹簧探针部件通过手工或通过自动工艺装配。
测试集成电路的重要方面是它们在高频率下被测量。由于在测试装置与集成电路之间需要阻抗匹配，从而避免高频率信号的衰减。考虑到在测试座内的间距是最小的，为了避免了高频率信号的衰减，探针形成的电气互连的长度必须保持在最小值。为了解决这个问题，外部弹簧探针已经发展成具有比传统探针更短的长度。外部弹簧探针包括两个分离的部分，其每部分都有尖部和凸缘。接触部件从与尖部相对的每个探针区域延伸。两个接触部件相互接触并且弹簧被夹在包围接触部件的两个凸缘之间。通常第一个接触部件是套筒，而第二个接触部件是支撑面。该支撑面与套筒的内表面可滑动地接合。这些探针配合到测试过程中使用的测试座中形成的腔体内。由于昂贵的机械加工与这些类型的外部弹簧探针相关的问题是加工费用。
为了解决上述问题，外部弹簧探针被设计为具有扁平部件，其可通过冲压而更廉价地制造。通常这些设计包含相互垂直连接的两个部件并且在该两部件之间的电通路穿过凸出端表面。这种设计的问题是部件很快磨损并且有很短的生命周期需要定期更换。
因此，需要设计一种加工成本很低的新的弹簧接触组件。
发明内容
本发明主要涉及弹簧接触组件，其具有由外部弹簧包围的两个可移动且重叠的接触构件或柱塞。每个柱塞有接触部分和尾部部分，其中尾部部分具有平表面，当装配时该平表面经过弹簧内部的相对的柱塞尾部部分并且与其相接触。弹簧有按压到每个相对的柱塞上的端部线圈以防止柱塞与弹簧分离，从而相对于弹簧的每个端部固定柱塞的接触部分和尾部部分。当弹簧被压缩时，利用其固有的扭转运动，柱塞尾部部分的平表面在该接触组件的整个压缩行程中保持接触。相对的扁平区域之间的接触防止了将弹簧的扭弯或扭转运动传递给接触部分上的尖部。抵抗固有的扭转增强了部件的电导率，反过来其提高了弹簧接触之间的性能。弹簧还可具有沿弹簧长度而直径减小的线圈部分以进一步限制柱塞尾部并且增加两个柱塞间的相互作用，或可通过在弹簧中增加偏置线圈部分进一步增强偏置效果。
柱塞尾部部分上的平表面通常与每个柱塞的柱形尾部部分直径的中线平行而形成。在可替换的实施例中，该平表面可在柱形尾部直径的中线上方平行而形成以增加产生的组件的组合厚度，从而在两个柱塞间产生附加的相互作用。在另一个实施例中尾部部分上的平表面可与柱形尾部部分直径的中线成一定角度或螺旋形围绕该中线而形成。
在又一实施例中，一个柱塞包括大体扁平的尾部部分，其沿部件轴线而中心设置，并且相对的柱塞有容纳其相对的柱塞的扁平尾部部分的匹配狭槽。这种设计考虑到处于可滑动接触接合的两个边，因此增加了阻力特性。
每个柱塞可被制成大致柱形的外形，其适于用车床、螺纹车床或其他类似的制造设备制成。可替换地，柱塞可被制成大致扁平的外形，其适于用冲压、蚀刻、光刻或其他类似的制造技术来制造二维几何形状。
对于大体扁平形状的柱塞，柱塞的尾部部分可有超出弹簧线圈的相对端延伸的部分。这有利于增加电接触并且给相对的柱塞尖部或接触部分增加了附加的支撑。延伸通过弹簧相对端的柱塞的尾部部分可具有在一侧被减小的边缘，以提供最大化材料利用率。狭槽还可被提供在柱塞的平板型式的弹簧干涉区域内以便提供另外的柔性，当提供可靠的压配合时其吸收误差。扁平的柱塞设计对于柱塞以倾斜构造大体滑动到一起还可是有利的，从而将外部螺旋形弹簧所施加的一些轴向力转变到垂直方向，其是垂直于匹配的柱塞表面。这种法向表面力增强了部件间的紧密电接触。将探针保持在一起的方法包括将扩大的尾部部分延伸通过直径减小的中部线圈和接触部分上的互锁翼片。Kelvin构造也可能有在单个探针内相互隔离的两个分离的电通路。
扁平几何结构提供的另外的优势允许利用电镀和大量组装，使得多个柱塞作为主框架组件的部分而被容易地组装。完整的组件也可被提供来附连到主框架，使最终使用者更容易将探针组件装入完成的测试固紧装置或测试座中。尖部构造可是单个点、多个点或是三维的。
本发明还考虑了具有与扁平柱塞组合的柱形柱塞的弹簧接触组件。这种混合的组合能提供柱形的尖部几何结构来对焊接球或其他几何结构进行充分的测试，同时通过包含扁平的柱塞作为相对的柱塞而减少了完全柱形接触组件的加工成本。根据详细的描述结合附图本发明的这些和其他方面将被更充分地理解。
附图详细说明
图1是本发明的弹簧接触组件的透视图；
图2是图1的弹簧接触组件的第一个柱塞的侧视图；
图3是本发明的可替换的柱塞设计的侧视图；
图4是图1的弹簧接触组件的第二个柱塞的侧视图；
图5是图1的弹簧接触组件的弹簧的侧视图；
图6是图1的弹簧接触组件的剖面图；
图7是本发明的可替换的柱塞设计的侧视图；
图8是本发明的可替换的柱塞设计的侧视图；
图9是插入到测试座中的图1的弹簧接触组件的轴向剖面图；
图10是本发明的可替换实施例的弹簧接触组件的透视图；
图11是图10的弹簧接触组件的一个柱塞的侧视图；
图12是图11的柱塞的冲压过程的示意性表示；
图13是图10的弹簧接触组件的第二个柱塞的侧视图；
图14是图10的弹簧接触组件的剖面图；
图15是图10的弹簧接触组件的轴向剖视图；
图16是本发明的可替换的弹簧接触组件的透视图；
图17是本发明的另一个可替换实施例的弹簧接触组件的的透视图；
图18是本发明的另一个可替换实施例的弹簧接触组件的侧视图；
图19是本发明的另一个可替换实施例的弹簧接触组件的透视图；
图20是本发明的另一个可替换实施例的弹簧接触组件的透视图；
图21是本发明的另一个可替换实施例的Kelvin测量的弹簧接触组件的透视图；
图22是本发明的三维接触尖部实施例的透视图；
图23是具有图22的接触尖部构造的弹簧接触组件的透视图；
图24是本发明的可替换的接触尖部设计的透视图；
图25是表示三维接触尖部的图24的透视图；
图26是可替换的接触尖部设计的透视图；以及
图27是表示三维接触尖部的图26的透视图。
本发明的详细描述
图1-11表示本发明的第一个实施例的弹簧接触组件10。该弹簧接触组件10包括第一个接触构件或柱塞12，第二个接触构件或柱塞14，和弹簧16。如图2所示，柱塞12包括接触部分18和尾部部分20。接触尖部22位于接触部分18的端部并且能有如图3和图4所示的多种接触几何结构。凸缘24位于接触部分或接触区域18与尾部部分或尾部区域20之间。凸缘24有用来在装配过程中对齐探针的平面26。柱塞的尾部部分20有柱形表面28和沿着其长度方向延伸的平表面30。
如图4所示的柱塞14还包括接触部分或区域32和尾部部分或区域34。凸缘36位于接触区域32与尾部区域34之间并且还包括在装配过程中用来定位柱塞14的平表面38。尾部区域34有柱形表面40和沿着其长度方向延伸的平表面42。平表面30和42当装配时彼此经过并且在弹簧16内部接触，也可如图9所示。平表面30和42在装配挤压过程中彼此逐渐接合。
如图5所示，弹簧16有在弹簧相对端的端部线圈44和46，该端部线圈在靠近凸缘24和36的柱形部分48和50按压到柱塞的尾部区域20和34。该端部线圈44和46有稍微更小的直径并且因而能紧握柱形部分48和50从而防止柱塞与弹簧分离，因此相对于每个弹簧末端固定柱塞的尖部22和52以及平表面30和42。又如图6所示，当压缩弹簧16时利用其固有的扭转运动，柱塞的平表面部分30和42在探针的整个行程过程中保持接触。在相对的平面部分之间的接触防止了将扭弯或扭转运动传递给弹簧接触尖部22和52。抵抗固有的扭转增强了部件的电导率，其反过来提高了接触性能。
如图2和图3所示的平面区域30能与每个柱塞的柱形尾部直径的中线平行来形成，或如图4所示平面区域42可在柱形尾部直径的中线上面平行而形成以增加组件产生的组合厚度，从而在组件中的两个柱塞间产生另外的相互作用。虽然图1到图4表示了三种不同的柱塞尖部的设计，应该理解的是可根据其特殊的用途来使用任意的柱塞尖部设计。为了进一步限制尾部区域20和34并且增强两个柱塞间的相互作用，如图5所示弹簧16能利用减小的线圈区域56。也能通过偏置线圈区域56产生进一步的偏置效果。
柱塞尾部区域的可替换设计可包括如图7所示螺旋围绕柱形尾部直径的中线形成的平表面58，或如图8所示与柱形尾部直径的中线成一定角度形成的扁平区域60。正如所有各种柱塞的设计，尾部区域可以有减小的末端区域62，在弹簧被压配合到靠近凸缘的直径减小的区域前，该减小的末端区域62允许弹簧绕到尾部部分上。该减小的区域62允许引导柱塞进入弹簧中，使装配过程容易。如前所述，柱塞尾部的柱形区域48和50与弹簧的端部线圈产生了过盈配合并且在柱形部分与端部线圈间产生的夹持力在正常操作和使用过程中足够使组件保持在一起，并且结合平表面来抵抗弹簧施加的法向扭转力。图1到图9的大致柱形柱塞的设计通过机加工如车床、螺纹车床或其他类似的加工设备加工制造。
图10到图15表示了可替换的弹簧接触组件70。弹簧接触组件70包括被外部弹簧76包围的两个可移动的且部分重叠的柱塞72和74。柱塞72和74形成大体扁平的形状，适于用冲压、蚀刻、光刻或其他类似的加工方法来大量地制造如图12中的二维几何图形78。扁平柱塞的几何结构的附加的优势允许利用电镀和大量组装，多个柱塞被容易地组装作为主框架装置的一部分。完整的组件也可被提供附连到主框架，使使用者更容易将探针组件装入完成的测试固紧装置或测试座110(图9所示)。
柱塞72包括接触部分或区域80和尾部部分或区域82。接触区域80包括接触尖部84，其可能是许多几何构造中任意一种。考虑到整个柱塞具有扁平构造，所以柱塞尾部区域82包括平表面86。凸缘88位于接触区域80与尾部区域82之间。尾部区域82包括增大的部分90，其与弹簧76的端部线圈产生过盈配合以便保持弹簧接触处于其装配构造。相配合的柱塞74也包括接触部分或区域92，尾部部分或区域94，以及位于接触区域与尾部区域之间的凸缘96。尾部区域94包括与弹簧76的端部线圈产生过盈配合的增大的部分98。
在扁平构造的弹簧接触组件70中，柱塞的尾部区域82和94可有如图10所示延伸通过弹簧的端部线圈的端部100。这种设计增强了柱塞之间的电接触并且增加了对相对的柱塞尖部的支承。为了特殊应用一个或两个柱塞的尾部能超过端部线圈。如图11和图14所示能超过弹簧端部线圈的端部82可有考虑到最大的材料利用率的可移除的角边缘102。
如图13所示，柱塞74可包括在柱塞与弹簧的干涉区域用来提供附加柔性的狭槽106，当提供可靠的压配合给端部线圈时可其吸收误差。如图15所示，扁平柱塞设计可得到相对于中线轴108以倾斜构造使柱塞72和74大体滑动到一起的这种新结果。以倾斜构造滑动到一起的柱塞将外部螺旋形弹簧76所施加的一些轴向力转变成垂直方向、或垂直于相配合的扁平柱塞的表面。如图15所示法向力增加了柱塞间紧密的电接触。
图16表示又一个可替换实施例的弹簧接触组件112，该弹簧接触组件112包括配合的柱塞114和116以及外部的螺旋形弹簧118。在这个构造中，柱塞114有扁平的尾部部分120并且柱塞116有尾部部分122，其具有容纳扁平尾部120的内部对置的平表面124的结构。尾部部分120沿柱塞114的轴线中心设置并且结构124沿柱塞116的轴线中心设置。弹簧接触组件112考虑到被容纳的两个平的边缘126和128与结构124内的平的边缘可滑动地接触。这种设计提供来增加弹簧接触组件的抵抗性能。
图17表示又另一个可替换实施例的弹簧接触组件130，其是图1和图10的弹簧接触组件的混合组合。弹簧接触组件130有柱形柱塞132和在外部螺旋形弹簧136内可滑动接触的扁平形柱塞134。柱塞132的尾部部分138有平表面140，并且柱塞134的尾部部分142也有相匹配的平表面144。平表面140和144为可滑动接合方式。
图18表示本发明的另一个可替换实施例的弹簧接触组件146。该弹簧接触组件146是具有第一个接触构件148和第二个接触构件150的扁平构造。接触构件148和150的每个尾部部分152和154包括增大的尾部区域156和158，它们通过螺旋形弹簧162的直径减小的中部线圈区域160。该增大的尾部部分是与每个接触构件的接触尖部164和166相对的。该增大的尾部区域通过直径减小的线圈并且弹簧的作用力足够低因此接触构件不能从该弹簧脱离。
图19表示了另一个可替换实施例的弹簧接触组件168，其表示将接触构件170和172固定到螺旋形弹簧174的另一个可替换的方法。在这个实施例中，尾部部分180和182的中部区域176和178分别被刺穿形成翼片184、186，当接触构件170和172在弹簧174内被装配时，翼片互锁。
图20表示另一个可替换的弹簧接触组件188，其表示连接接触构件的另一个可替换组件。组件188包括具有位于螺旋形弹簧198内的尾部部分194和196的第一个接触构件190和第二个接触构件192。尾部部分的中部区域200和202有当装配时互锁的非中心的翼片204和206。翼片204和206通过成形操作或折叠操作形成。
图21表示又另一个可替换实施例的弹簧接触组件208，其是Kelvin测量构造。组件208有在单个弹簧210内的两个分离的电通路。这通过使两个分离的接触构件212和214彼此相连来实现。通过使非导电镀层设置在相连表面上构件212和214彼此并且与弹簧210电隔离。接触构件212有第一个接触区段216和第二个接触区段218。类似地，接触构件214有第一个接触区段220和第二个接触区段222。区段216到区段222中的每个都分别有尾部部分224、226、228和230。尾部部分224、226、228和230有导电表面232因此仅区域224和226相互电连接以及仅区域228和230相互电连接。尾部区域224到230都位于弹簧210内。装置208有在单个弹簧内的两个分离的电通路，其中每个接触路线包括两个可滑动接合的尾部部分并且每个接触路线与其相邻的接触路线电隔离。
图22和图23揭示了具有第一个接触构件236和第二个接触构件238的另一个可替换实施例的弹簧接触组件234。接触构件236包括其每个都具有狭槽244的区域240和242，因此区域240和242能相互配合形成三维接触尖部246。接触尖部246包括四个接触点248。区域240和242垂直连接地表示。然而，应该理解的是能加工狭槽244以便该两个区域能以一定角度而不是垂直被装配。接触区域236和接触区域238有位于弹簧254内的尾部部分250和252。
图24和图25表示可替换实施例的三维接触尖部的构造。接触构件256包括尾部部分258和接触尖部部分260。接触构件256是如图24所示的扁平构造并且通过将扁平接触尖部弯曲或变形成三维外形，接触尖部260能有如图25所示的的三维构造。应该理解的是根据特殊的应用尽管用三个接触点262、264、266表示的接触尖部的构造能有任意数目的接触点。顶端的几何形状能是V型、U型或将另外的二维接触尖部变成三维接触尖部的其他形状。这能通过弯曲或成形类型的操作完成。类似地，图26和图27也表示接触构件268的另一个的可替换的三维接触尖部设计。接触构件268最初形成如图26所示的扁平的二维构造，其中接触构件268包括尾部部分270和接触尖部部分272。如图27所示，接触尖部部分272其自身弯曲折叠从而形成三维构造。在这个实施例中，表示了四个接触点274、276、278和280。
虽然本发明相对于其各种实施例已经被描述且表示，应该理解的是在如以下权利要求所述的本发明的全部范围内在其中能进行变化和改进。
Claims (21)
1.一种弹簧接触组件，其包括：
具有尾部部分的第一个接触构件，该尾部部分具有沿所述尾部部分长度方向的扁平接触表面；
具有尾部部分的第二个接触构件，该尾部部分具有有沿所述尾部部分长度方向的扁平接触表面；以及
与所述第一个接触构件和所述第二个接触构件附连的压缩弹簧，
其中所述第一个接触构件的所述尾部部分的所述扁平接触表面与所述第二个接触构件的所述尾部部分的所述扁平接触表面可滑动接合并且在所述弹簧压缩过程中增加了所述平表面的滑动接合从而克服所述第一个接触构件和所述第二个接触构件上的扭转弹簧力。
2.权利要求1所述的组件，其中所述弹簧包括与所述尾部部分相接合的直径减小的端部线圈。
3.权利要求1所述的组件，其中所述弹簧包括与所述尾部部分相接合的直径减小的线圈区域。
4.权利要求1所述的组件，其中所述第一个接触构件和所述第二个接触构件中的至少一个是柱形的。
5.权利要求4所述的组件，其中所述的第一个接触构件和所述第二个接触构件二者都是柱形的。
6.权利要求1所述的组件，其中所述第一个接触构件和所述第二个接触构件中的至少一个是扁平构造。
7.权利要求6所述的组件，其中所述第一个接触构件和所述第二个接触构件二者都是扁平构造。
8.权利要求1所述的组件，其中在所述第一个接触构件和所述第二个接触构件的所述尾部部分上的所述平表面是与柱形尾部部分直径的中线平行且在其上面。
9.权利要求1所述的组件，其中在所述第一个接触构件和所述第二个接触构件的所述尾部部分上的所述平表面是与柱形尾部部分直径的中线成一定角度形成的。
10.权利要求1所述的组件，其中在所述第一个接触构件和所述第二个接触构件的所述尾部部分上的所述平表面是螺旋围绕柱形尾部部分直径的中线形成的。
11.权利要求7所述的组件，其中当所述接触组件被压缩时，所述第一个接触构件或第二个接触构件的所述尾部部分的端部延伸到所述压缩弹簧的端部线圈之外。
12.权利要求1所述的组件，其中所述尾部部分的边缘表面被移除。
13.权利要求1所述的组件，其中所述第一个接触构件或所述第二个接触构件中至少一个包括在所述尾部部分中的狭槽。
14.权利要求1所述的组件，其中所述第一个接触构件的所述尾部部分是扁平的并且所述第二个接触构件的所述尾部部分有容纳所述第一个柱塞的所述尾部部分的两个内部对置的平表面。
15.一种弹簧接触组件，其包括：
具有尾部部分的第一个扁平接触构件，该尾部部分具有沿所述尾部部分的长度方向的接触表面；
具有尾部部分的第二个扁平接触构件，该尾部部分具有沿所述尾部部分的长度方向的接触表面；以及
附连到所述第一个扁平接触构件的尾部部分和所述第二个扁平接触构件的尾部部分的压缩弹簧，
其中所述第一个扁平的接触构件的所述尾部部分的所述接触表面与所述第二个扁平的接触构件的所述尾部部分的所述接触表面以倾斜构造可滑动地接合，其在所述弹簧压缩过程中通过将所述弹簧施加的轴向力转变到垂直于所述滑动表面增加了所述扁平接触表面的滑动接合。
16.权利要求15所述的组件，其中所述弹簧包括与所述尾部部分接合的直径减小的端部线圈。
17.权利要求15所述的组件，其中所述弹簧包括与所述尾部部分接合的直径减小的中部线圈。
18.权利要求17所述的组件，其中所述尾部部分有通过所述直径减小的中部线圈的扩大的端部区域。
19.权利要求16所述的组件，其中所述尾部部分有互锁的翼片。
20.权利要求15所述的组件，其中所述的第一个接触构件有三维接触尖部。
21.一种弹簧接触组件，其包括：
具有尾部部分的第一个扁平接触构件，该尾部部分具有沿所述尾部部分的长度方向的接触表面；
具有尾部部分的第二个扁平接触构件，该尾部部分具有沿所述尾部部分的长度方向的接触表面，其中所述第二个扁平接触构件的所述尾部部分的所述接触表面与所述第一个扁平接触构件的所述尾部部分的所述接触表面可滑动地接合；
具有尾部部分的第三个扁平接触构件，其有沿所述尾部部分的长度方向的接触表面；
具有尾部部分的第四个扁平接触构件，其有沿所述尾部部分的长度方向的接触表面，其中所述第四个扁平接触构件的所述尾部部分的所述接触表面与所述第三个扁平接触构件的所述尾部部分的所述接触表面可滑动地接合；以及
附连到所述第一个、第二个、第三个和第四个扁平接触构件的压缩弹簧，
其中所述第一个扁平接触构件和第二个扁平接触构件是与所述第三个扁平接触构件和所述第四个扁平接触构件电隔离的，因此在所述组件中有两个独立的电通路。
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US97337007P | 2007-09-18 | 2007-09-18 | |
| US60/973,370 | 2007-09-18 | ||
| US8060708P | 2008-07-14 | 2008-07-14 | |
| US61/080,607 | 2008-07-14 | ||
| US12/206,659 US7862391B2 (en) | 2007-09-18 | 2008-09-08 | Spring contact assembly |
| US12/206,659 | 2008-09-08 | ||
| PCT/US2008/076720 WO2009039205A1 (en) | 2007-09-18 | 2008-09-17 | Spring contact assemby |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201210239687.5A Division CN102738627B (zh) | 2007-09-18 | 2008-09-17 | 弹簧接触组件 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101803128A true CN101803128A (zh) | 2010-08-11 |
| CN101803128B CN101803128B (zh) | 2012-12-12 |
Family
ID=40454978
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201210239687.5A Expired - Fee Related CN102738627B (zh) | 2007-09-18 | 2008-09-17 | 弹簧接触组件 |
| CN200880102509.XA Expired - Fee Related CN101803128B (zh) | 2007-09-18 | 2008-09-17 | 弹簧接触组件 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201210239687.5A Expired - Fee Related CN102738627B (zh) | 2007-09-18 | 2008-09-17 | 弹簧接触组件 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US7862391B2 (zh) |
| EP (1) | EP2191544B1 (zh) |
| JP (1) | JP4988927B2 (zh) |
| KR (1) | KR101145283B1 (zh) |
| CN (2) | CN102738627B (zh) |
| HU (1) | HUE037972T2 (zh) |
| MX (1) | MX2010001536A (zh) |
| MY (1) | MY153589A (zh) |
| TW (1) | TWI375362B (zh) |
| WO (1) | WO2009039205A1 (zh) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106129665A (zh) * | 2016-08-17 | 2016-11-16 | 东莞市盈之宝电子科技有限公司 | 一种探针 |
| CN106468765A (zh) * | 2015-08-17 | 2017-03-01 | 张超迥 | 电接触和测试装置 |
| CN106574937A (zh) * | 2014-08-08 | 2017-04-19 | 日本发条株式会社 | 连接端子 |
| CN108027391A (zh) * | 2016-02-15 | 2018-05-11 | 欧姆龙株式会社 | 探针销及使用探针销的检查装置 |
| US10931043B2 (en) | 2019-03-29 | 2021-02-23 | Lotes Co., Ltd | Electrical connector |
Families Citing this family (69)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI385399B (zh) * | 2007-04-27 | 2013-02-11 | Nhk Spring Co Ltd | 導電性觸頭 |
| US8536889B2 (en) * | 2009-03-10 | 2013-09-17 | Johnstech International Corporation | Electrically conductive pins for microcircuit tester |
| US8324919B2 (en) * | 2009-03-27 | 2012-12-04 | Delaware Capital Formation, Inc. | Scrub inducing compliant electrical contact |
| US20100267291A1 (en) * | 2009-04-20 | 2010-10-21 | Scott Chabineau-Lovgren | Swaging process for improved compliant contact electrical test performance |
| US20130002285A1 (en) | 2010-03-10 | 2013-01-03 | Johnstech International Corporation | Electrically Conductive Pins For Microcircuit Tester |
| JP5568563B2 (ja) * | 2009-09-28 | 2014-08-06 | 株式会社日本マイクロニクス | 接触子及び電気的接続装置 |
| JP5750535B2 (ja) * | 2009-09-28 | 2015-07-22 | 株式会社日本マイクロニクス | 接触子及び電気的接続装置 |
| WO2011078176A1 (ja) * | 2009-12-25 | 2011-06-30 | 日本発條株式会社 | 接続端子 |
| US8710856B2 (en) * | 2010-01-15 | 2014-04-29 | LTX Credence Corporation | Terminal for flat test probe |
| WO2011096067A1 (ja) * | 2010-02-05 | 2011-08-11 | 株式会社日本マイクロニクス | 接触子及び電気的接続装置 |
| JP4998838B2 (ja) * | 2010-04-09 | 2012-08-15 | 山一電機株式会社 | プローブピン及びそれを備えるｉｃソケット |
| US8118604B2 (en) * | 2010-05-06 | 2012-02-21 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Socket connector having electrical element supported by insulated elastomer |
| KR101020025B1 (ko) * | 2010-06-01 | 2011-03-09 | 주식회사 엔티에스 | 전자부품 검침 프로브 |
| US9007082B2 (en) | 2010-09-07 | 2015-04-14 | Johnstech International Corporation | Electrically conductive pins for microcircuit tester |
| TWI534432B (zh) * | 2010-09-07 | 2016-05-21 | 瓊斯科技國際公司 | 用於微電路測試器之電氣傳導針腳 |
| US8823406B2 (en) | 2010-10-20 | 2014-09-02 | Cascade Micotech, Inc. | Systems and methods for simultaneous optical testing of a plurality of devices under test |
| US8970240B2 (en) | 2010-11-04 | 2015-03-03 | Cascade Microtech, Inc. | Resilient electrical interposers, systems that include the interposers, and methods for using and forming the same |
| JP5805102B2 (ja) * | 2010-11-15 | 2015-11-04 | 日本発條株式会社 | 接続端子 |
| JP5903049B2 (ja) * | 2010-11-15 | 2016-04-13 | 日本発條株式会社 | 接続端子 |
| JP5597108B2 (ja) * | 2010-11-29 | 2014-10-01 | 株式会社精研 | 接触検査用治具 |
| US9244099B2 (en) | 2011-05-09 | 2016-01-26 | Cascade Microtech, Inc. | Probe head assemblies, components thereof, test systems including the same, and methods of operating the same |
| JP5726651B2 (ja) * | 2011-06-22 | 2015-06-03 | タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 | コンタクトおよびソケット |
| JPWO2013018809A1 (ja) * | 2011-08-02 | 2015-03-05 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
| JP5858781B2 (ja) * | 2011-12-29 | 2016-02-10 | 株式会社エンプラス | プローブピン及び電気部品用ソケット |
| US8758066B2 (en) * | 2012-02-03 | 2014-06-24 | Interconnect Devices, Inc. | Electrical connector with insulation member |
| DE102012202113B3 (de) * | 2012-02-13 | 2013-05-29 | Robert Bosch Gmbh | Elektrische Kontaktieranordnung |
| JP6230595B2 (ja) * | 2012-04-13 | 2017-11-15 | エクセラ コーポレイション | 試験プローブアセンブリおよび関連方法 |
| US9059545B2 (en) | 2012-07-11 | 2015-06-16 | Tyco Electronics Corporations | Socket connectors and methods of assembling socket connectors |
| JP6011103B2 (ja) * | 2012-07-23 | 2016-10-19 | 山一電機株式会社 | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット |
| WO2014042264A1 (ja) * | 2012-09-14 | 2014-03-20 | 日本発條株式会社 | パワーモジュール用接続端子 |
| TWI514686B (zh) * | 2013-01-28 | 2015-12-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 電連接器及電連接器端子 |
| KR101439342B1 (ko) * | 2013-04-18 | 2014-09-16 | 주식회사 아이에스시 | 포고핀용 탐침부재 |
| KR101457168B1 (ko) * | 2013-07-19 | 2014-11-04 | 황동원 | 스프링 콘택트 |
| JP5985447B2 (ja) * | 2013-08-21 | 2016-09-06 | オムロン株式会社 | プローブピン、および、これを用いた電子デバイス |
| JP6297288B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2018-03-20 | 株式会社ヨコオ | スプリングコネクタ |
| JP6193719B2 (ja) * | 2013-10-22 | 2017-09-06 | 日本電子材料株式会社 | コンタクトプローブ |
| KR200473045Y1 (ko) * | 2014-01-17 | 2014-06-27 | (주)에스피에스 | 이중접점스위치 및 이중접점스위치를 갖는 마그네틱 커넥터 |
| JP6361174B2 (ja) * | 2014-03-06 | 2018-07-25 | オムロン株式会社 | プローブピン、および、これを用いた電子デバイス |
| JP2016009541A (ja) * | 2014-06-23 | 2016-01-18 | 京セラコネクタプロダクツ株式会社 | バッテリ用コネクタ |
| US9568388B2 (en) * | 2014-08-05 | 2017-02-14 | Sensata Technologies, Inc. | Small form factor pressure sensor |
| DE202014105151U1 (de) * | 2014-10-28 | 2016-01-29 | Ptr Messtechnik Gmbh & Co. Kommanditgesellschaft | Federkontaktvorrichtung |
| US9673539B2 (en) * | 2015-09-23 | 2017-06-06 | Texas Instruments Incorporated | Spring biased contact pin assembly |
| JP6637742B2 (ja) * | 2015-11-25 | 2020-01-29 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接触子及び電気的接続装置 |
| JP6740630B2 (ja) * | 2016-02-15 | 2020-08-19 | オムロン株式会社 | プローブピンおよびこれを用いた検査装置 |
| CN107290099B (zh) | 2016-04-11 | 2021-06-08 | 森萨塔科技公司 | 压力传感器、用于压力传感器的插塞件和制造插塞件的方法 |
| EP3236226B1 (en) | 2016-04-20 | 2019-07-24 | Sensata Technologies, Inc. | Method of manufacturing a pressure sensor |
| TWI616030B (zh) | 2016-09-09 | 2018-02-21 | 金峰精密工業股份有限公司 | 大電流連接器及其母座連接器 |
| US10782316B2 (en) | 2017-01-09 | 2020-09-22 | Delta Design, Inc. | Socket side thermal system |
| US10545064B2 (en) | 2017-05-04 | 2020-01-28 | Sensata Technologies, Inc. | Integrated pressure and temperature sensor |
| US10323998B2 (en) | 2017-06-30 | 2019-06-18 | Sensata Technologies, Inc. | Fluid pressure sensor |
| US10724907B2 (en) | 2017-07-12 | 2020-07-28 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor element with glass barrier material configured for increased capacitive response |
| US10557770B2 (en) | 2017-09-14 | 2020-02-11 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor with improved strain gauge |
| KR101865367B1 (ko) * | 2017-12-05 | 2018-06-07 | 주식회사 오킨스전자 | 레일 타입 ｐｉｏｎ 핀 |
| KR101865375B1 (ko) * | 2017-12-05 | 2018-06-07 | 주식회사 오킨스전자 | 트위스트 타입 ｐｉｏｎ 핀 및 그 조립 방법 |
| US10476191B2 (en) * | 2018-02-28 | 2019-11-12 | Ohio Associated Enterprises, Llc | Forked electrical contact pair with elastic tail |
| KR102121754B1 (ko) * | 2018-12-19 | 2020-06-11 | 주식회사 오킨스전자 | 상하 2개의 영역으로 구분되는 단일 코일 스프링을 포함하는 테스트 소켓 |
| KR102080832B1 (ko) * | 2019-10-02 | 2020-02-24 | 황동원 | 스프링 콘택트 및 스프링 콘택트 내장형 테스트 소켓 |
| KR102304874B1 (ko) * | 2020-06-08 | 2021-09-24 | 주식회사 유니마이크로 | 반도체 검사용 프로브 핀 |
| KR102456449B1 (ko) * | 2020-08-11 | 2022-10-20 | 리노공업주식회사 | 검사 프로브 |
| IL301771A (en) | 2020-10-06 | 2023-05-01 | Johnstech Int Corporation | Flexible grounding block and testing system with flexible grounding block |
| US11802909B2 (en) | 2020-10-06 | 2023-10-31 | Johnstech International Corporation | Compliant ground block and testing system having compliant ground block |
| KR102414615B1 (ko) * | 2020-10-16 | 2022-06-30 | (주)아이윈솔루션 | 전기적 특성이 안정화된 연결핀 |
| KR102235344B1 (ko) * | 2020-12-31 | 2021-04-05 | 황동원 | 고속 시그널의 반도체 소자 테스트용 콘택트 핀과, 이를 포함하는 스프링 콘택트 및 소켓장치 |
| US11387587B1 (en) * | 2021-03-13 | 2022-07-12 | Plastronics Socket Partners, Ltd. | Self-retained slider contact pin |
| US11906576B1 (en) | 2021-05-04 | 2024-02-20 | Johnstech International Corporation | Contact assembly array and testing system having contact assembly array |
| US11867752B1 (en) | 2021-05-13 | 2024-01-09 | Johnstech International Corporation | Contact assembly and kelvin testing system having contact assembly |
| KR20240027784A (ko) | 2021-06-30 | 2024-03-04 | 델타 디자인, 인코포레이티드 | 접촉기 어셈블리를 포함하는 온도 제어 시스템 |
| KR102587652B1 (ko) * | 2021-08-04 | 2023-10-11 | 주식회사 아이에스시 | 탐침장치 |
| CN114252665B (zh) * | 2021-11-19 | 2022-12-13 | 深圳市顺天祥电子有限公司 | 一种电路板微型连接器测试探针模组 |
Family Cites Families (38)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4029375A (en) * | 1976-06-14 | 1977-06-14 | Electronic Engineering Company Of California | Miniature electrical connector |
| US4636026A (en) | 1985-12-20 | 1987-01-13 | Augat Inc. | Electrical test probe |
| US5174763A (en) * | 1990-06-11 | 1992-12-29 | Itt Corporation | Contact assembly |
| JPH05182729A (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-23 | Yamaichi Electron Co Ltd | 電気部品用接触子 |
| US5227718A (en) * | 1992-03-10 | 1993-07-13 | Virginia Panel Corporation | Double-headed spring contact probe assembly |
| JP3659662B2 (ja) * | 1993-12-24 | 2005-06-15 | 株式会社デンソー | プローブコンタクト |
| US5391995A (en) * | 1994-02-01 | 1995-02-21 | Everett Charles Technologies, Inc. | Twisting electrical test probe with controlled pointing accuracy |
| GB2291544B (en) * | 1994-07-12 | 1996-10-02 | Everett Charles Tech | Electrical connectors |
| US5942906A (en) * | 1994-11-18 | 1999-08-24 | Virginia Panel Corporation | Interface system utilizing engagement mechanism |
| EP0838878B1 (fr) | 1997-02-04 | 1999-02-24 | Durtal SA | Pièce de contact à ressort |
| JP4388610B2 (ja) | 1998-07-10 | 2009-12-24 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子 |
| KR100429057B1 (ko) * | 1998-11-25 | 2004-04-29 | 리카 일렉트로닉스 인터내셔널, 인크. | 전기 접촉 시스템 |
| US6396293B1 (en) * | 1999-02-18 | 2002-05-28 | Delaware Capital Formation, Inc. | Self-closing spring probe |
| US6462567B1 (en) * | 1999-02-18 | 2002-10-08 | Delaware Capital Formation, Inc. | Self-retained spring probe |
| JP2002015804A (ja) | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Tyco Electronics Amp Kk | スプリングコンタクト |
| JP3673153B2 (ja) | 2000-08-10 | 2005-07-20 | タイコエレクトロニクスアンプ株式会社 | スプリングコンタクト |
| JP3767810B2 (ja) * | 2001-04-27 | 2006-04-19 | 株式会社ヨコオ | スプリングコネクタ |
| JPWO2003005042A1 (ja) * | 2001-07-02 | 2004-10-28 | 日本発条株式会社 | 導電性接触子 |
| JP2003043065A (ja) | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Ricoh Co Ltd | プローブピン及び電気的特性試験部材 |
| US6506082B1 (en) * | 2001-12-21 | 2003-01-14 | Interconnect Devices, Inc. | Electrical contact interface |
| KR20040087341A (ko) * | 2002-03-05 | 2004-10-13 | 리카 일렉트로닉스 인터내셔널, 인크. | 전자 패키지와 테스트 장비를 인터페이싱시키기 위한 장치 |
| CN100357744C (zh) * | 2002-04-16 | 2007-12-26 | 日本发条株式会社 | 导电接触探头保持器 |
| US6769919B2 (en) * | 2002-09-04 | 2004-08-03 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | Low profile and low resistance connector |
| JP3768183B2 (ja) * | 2002-10-28 | 2006-04-19 | 山一電機株式会社 | 狭ピッチｉｃパッケージ用ｉｃソケット |
| JP4299184B2 (ja) * | 2004-04-23 | 2009-07-22 | 矢崎総業株式会社 | 基板接続用板端子 |
| US7315176B2 (en) * | 2004-06-16 | 2008-01-01 | Rika Denshi America, Inc. | Electrical test probes, methods of making, and methods of using |
| JP2006071343A (ja) | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Sharp Corp | コンタクトプローブおよびソケット |
| KR100584225B1 (ko) * | 2004-10-06 | 2006-05-29 | 황동원 | 전자장치용 콘택트 |
| JP2006292456A (ja) | 2005-04-07 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置の検査装置および検査方法 |
| JP4683993B2 (ja) | 2005-04-27 | 2011-05-18 | 株式会社秩父富士 | Ｉｃソケット用接触装置 |
| CN101501509B (zh) * | 2005-06-10 | 2013-08-14 | 特拉华资本组成公司 | 具有柔性内互连件的电接触探针 |
| US7154286B1 (en) * | 2005-06-30 | 2006-12-26 | Interconnect Devices, Inc. | Dual tapered spring probe |
| SG131790A1 (en) * | 2005-10-14 | 2007-05-28 | Tan Yin Leong | Probe for testing integrated circuit devices |
| US7148713B1 (en) * | 2005-10-28 | 2006-12-12 | Interconnect Devices, Inc. | Algoristic spring as probe |
| JP2008069805A (ja) | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Ntn Corp | 動圧軸受装置 |
| CN200959404Y (zh) * | 2006-09-13 | 2007-10-10 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器端子 |
| TWI385399B (zh) * | 2007-04-27 | 2013-02-11 | Nhk Spring Co Ltd | 導電性觸頭 |
| JP5291585B2 (ja) * | 2008-11-07 | 2013-09-18 | 株式会社日本マイクロニクス | 接触子及び電気的接続装置 |
-
2008
- 2008-09-08 US US12/206,659 patent/US7862391B2/en active Active
- 2008-09-17 CN CN201210239687.5A patent/CN102738627B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-17 MX MX2010001536A patent/MX2010001536A/es not_active Application Discontinuation
- 2008-09-17 KR KR1020107004086A patent/KR101145283B1/ko active IP Right Grant
- 2008-09-17 CN CN200880102509.XA patent/CN101803128B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-17 TW TW097135610A patent/TWI375362B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-09-17 JP JP2010525927A patent/JP4988927B2/ja active Active
- 2008-09-17 MY MYPI2010001071A patent/MY153589A/en unknown
- 2008-09-17 HU HUE08831781A patent/HUE037972T2/hu unknown
- 2008-09-17 EP EP08831781.3A patent/EP2191544B1/en not_active Not-in-force
- 2008-09-17 WO PCT/US2008/076720 patent/WO2009039205A1/en active Application Filing
-
2010
- 2010-10-26 US US12/912,683 patent/US8231416B2/en active Active
-
2012
- 2012-07-11 US US13/546,980 patent/US8523579B2/en active Active
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106574937A (zh) * | 2014-08-08 | 2017-04-19 | 日本发条株式会社 | 连接端子 |
| US10411386B2 (en) | 2014-08-08 | 2019-09-10 | Nhk Spring Co., Ltd. | Connection terminal |
| CN106468765A (zh) * | 2015-08-17 | 2017-03-01 | 张超迥 | 电接触和测试装置 |
| CN108027391A (zh) * | 2016-02-15 | 2018-05-11 | 欧姆龙株式会社 | 探针销及使用探针销的检查装置 |
| CN106129665A (zh) * | 2016-08-17 | 2016-11-16 | 东莞市盈之宝电子科技有限公司 | 一种探针 |
| CN106129665B (zh) * | 2016-08-17 | 2018-10-23 | 东莞市盈之宝电子科技有限公司 | 一种探针 |
| US10931043B2 (en) | 2019-03-29 | 2021-02-23 | Lotes Co., Ltd | Electrical connector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP2191544A1 (en) | 2010-06-02 |
| MX2010001536A (es) | 2010-04-21 |
| MY153589A (en) | 2015-02-27 |
| JP4988927B2 (ja) | 2012-08-01 |
| US20110039457A1 (en) | 2011-02-17 |
| US20090075529A1 (en) | 2009-03-19 |
| US20120282821A1 (en) | 2012-11-08 |
| KR101145283B1 (ko) | 2012-05-14 |
| KR20100047279A (ko) | 2010-05-07 |
| US8523579B2 (en) | 2013-09-03 |
| HUE037972T2 (hu) | 2018-09-28 |
| US8231416B2 (en) | 2012-07-31 |
| JP2010539672A (ja) | 2010-12-16 |
| CN102738627B (zh) | 2015-04-22 |
| TWI375362B (en) | 2012-10-21 |
| TW200924315A (en) | 2009-06-01 |
| CN102738627A (zh) | 2012-10-17 |
| US7862391B2 (en) | 2011-01-04 |
| EP2191544A4 (en) | 2011-03-23 |
| CN101803128B (zh) | 2012-12-12 |
| WO2009039205A1 (en) | 2009-03-26 |
| EP2191544B1 (en) | 2017-11-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101803128B (zh) | 弹簧接触组件 | |
| CN102301250B (zh) | 扁平柱塞圆筒测试探针 | |
| JP5190470B2 (ja) | 一体型で構成されるプローブピン及びその製造方法 | |
| CN104897933B (zh) | 弹簧套筒式探针及其制造方法 | |
| US9684031B2 (en) | Contact probe and semiconductor element socket provided with same | |
| KR101315806B1 (ko) | 콘택트 프로브 및 소켓, 튜브상 플런저의 제조 방법, 및 콘택트 프로브의 제조 방법 | |
| KR101409821B1 (ko) | 컴플라이언트 컨택 어셈블리 및 컴플라이언트 컨택 부재에 의해 테스트 사이트를 스크러빙하는 방법 | |
| TW201243338A (en) | Contact probe and semiconductor device socket including contact probe | |
| KR20130140044A (ko) | 접촉 검사용 지그 | |
| KR101673502B1 (ko) | 상하 탐침부 연결형 포고핀 및 그 제조방법 | |
| JP6184667B2 (ja) | プローブユニット、基板検査装置およびプローブユニット製造方法 | |
| GB2501063A (en) | Contact made by machining, and latch with planar portion | |
| JP2013134181A (ja) | コンタクトプローブおよびその製造方法 | |
| KR101173900B1 (ko) | 프로브핀 및 그 제조방법 | |
| KR101577396B1 (ko) | 전기 단자 테스트용 컨택 핀 | |
| CN213162819U (zh) | 连接器pin针折弯治具 | |
| US9899893B2 (en) | Electric motor including terminal formed by electric swaging and electric swaging method | |
| CN206848311U (zh) | 检查夹具及具备该检查夹具的检查装置 | |
| CN220137209U (zh) | 导电体结构 | |
| CN111185657B (zh) | 一种包壳管电极及其制备方法 | |
| JP2014021059A (ja) | プローブユニットおよび基板検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: HK Ref legal event code: DE Ref document number: 1144623 Country of ref document: HK |
|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: HK Ref legal event code: WD Ref document number: 1144623 Country of ref document: HK |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20121212 Termination date: 20200917 |