KR101145283B1 - 스프링 접촉 어셈블리 - Google Patents

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에드워드 에이. 코트메이어
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Abstract

스프링 접촉 어셈블리는, 꼬리부가 평탄한 접촉면을 갖는 제1 플런저와, 꼬리부가 평탄한 접촉면을 갖는 제2 플런저를 포함하며, 이들 평탄한 접촉면들은 서로 중첩하고, 스프링의 압박 동안 평탄면들의 슬라이딩 결합이 증가하도록 외부의 압박 스프링에 의해 둘러싸여 있다.

Description

스프링 접촉 어셈블리{SPRING CONTACT ASSEMBLY}
본 발명은 전기적 상호접속부를 형성하는 전기 접촉 프로브(probe)에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 평탄한 접촉면이 외부 스프링에 의해 둘러싸이는 2개의 이동식 중첩 플런저를 갖는 스프링 접촉 어셈블리에 관한 것이다.
종래의 스프링 장착된 접촉 프로브는 일반적으로 이동 가능한 플런저와, 플런저의 확장 직경부를 수용하기 위한 개방 단부를 갖는 배럴과, 배럴 내에서 플런저의 이동을 편향시키기 위한 스프링을 포함한다. 플런저 베어링은 배럴의 내측 면과 슬라이드식으로 결합한다. 확장된 베어링부는 배럴 개방 단부 부근의 클램프에 의해 배럴 내에 유지된다. 플런저는 일반적으로 스프링에 의해 선택된 거리만큼 외측으로 편향되며, 스프링에 대항하는 방향의 힘 하에서 선택된 거리만큼 배럴 내에서 내측으로 편향되거나 후퇴될 것이다. 배럴에 대한 플런저의 축방향 편향 및 측면 편향은 잘못된 개방을 방지하거나 또는 플런저와 배럴 간에 접촉이 없는 단속 지점(intermittent point)을 방지한다. 플런저는 일반적으로 고형의 것이며, 검사되고 있는 전기 장치를 접촉하기 위한 헤드 또는 팁을 포함한다. 배럴 또한 배럴의 개방 단부 반대측에 팁을 포함할 수 있다.
배럴, 플런저 및 팁은 검사되고 있는 전기 장치와 검사 장비 간의 전기적 상호접속부를 형성하며, 그 자체가 전기적 도전성 재료로 제조된다. 통상적으로, 프로브는 검사판 또는 검사 소켓의 두께를 관통하여 형성된 캐비티 내에 끼워진다. 일반적으로, 집적회로와 같은 검사될 전기 장치의 접촉측은 전기 장치에 대항하는 스프링 압력을 생성하기 위해 검사판 또는 검사 소켓의 일측면을 관통하여 돌출하는 플런저의 팁과 압력 접촉하게 된다. 검사 장비에 연결된 접촉판은 검사판 또는 검사 소켓의 다른 측면으로부터 돌출하는 플런저의 팁과 접촉하게 된다. 검사 장비는 접촉판에 신호를 전송하며, 이 신호는 접촉판으로부터 검사 프로브 상호접속부를 통해 검사되고 있는 장치에 전송된다. 전기 장치를 검사한 후, 스프링 프로브에 의해 가해진 압력이 해제되고, 전기 장치가 각각의 프로브의 팁과의 접촉에서 벗어나게 된다.
종래의 스프링 프로브를 제조하는 공정은, 압박 스프링, 배럴 및 플런저를 별도로 생산하는 단계를 포함한다. 압박 스프링이 감겨진 다음 열처리되어, 정밀한 크기를 갖고 또한 스프링 힘이 제어된 스프링이 제조된다. 플런저는 통상적으로 선반 상에서 돌려가며 열처리된다. 배럴 또한 열처리되는 경우가 있다. 배럴은 선반에서 형성되거나 또는 딥 드로우 프로세스(deep draw process)에 의해 형성될 수 있다. 모든 구성요소에는 도전율을 향상시키기 위해 도금 처리(plating process)가 행해질 수도 있다. 스프링 프로브 구성요소는 수동으로 또는 자동화된 공정 중의 하나에 의해 조립된다.
집적회로를 검사함에 있어서의 중요한 특징은 이들 집적회로가 높은 주파수 하에서 검사된다는 것이다. 그에 따라, 고주파 신호의 감쇄를 방지하기 위해 검사 장비와 집적회로 간에 임피던스 정합이 요구된다. 검사 소켓 내의 공간이 최소인 것을 고려하여, 고주파 신호의 감쇄를 방지하기 위해, 프로브에 의해 형성된 전기적 상호접속부의 길이가 최소로 유지되어야 한다. 이러한 문제점을 해소하기 위해, 종래의 프로브보다 길이가 짧은 외부 스프링 프로브가 개발되었다. 외브 스프링 프로브는 각각 팁 및 플랜지를 갖는 2개의 별도의 부분으로 이루어진다. 접촉 구성요소는 팁 반대측의 각각의 프로브 부분으로부터 연장한다. 2개의 접촉 구성요소가 서로 접촉하고, 이들 접촉 구성요소를 둘러싸는 2개의 플랜지 사이에 스프링이 개재된다. 통상적으로, 제1 접촉 구성요소는 배럴이며, 제2 접촉 구성요소는 베어링 표면이다. 베어링 표면은 배럴의 내측 면에 슬라이드 가능하게 맞물림된다. 이들 프로브는 검사 동안에 사용되는 검사 소켓에 형성된 캐비티 내에 끼워맞춤된다. 이러한 유형의 외부 스프링 프로브는 비용이 많이 소요되는 가공으로 인해 제조 비용이 커진다는 문제점이 있다.
이에 대한 대응 방안으로, 스탬핑에 의해 더 저렴하게 생산될 수 있는 평면 구성요소를 갖는 외부 스프링 프로브들이 설계되었다. 통상적으로, 이들 구조는 직각으로 연결되는 2개의 구성요소를 통합하고, 2개의 구성요소 간의 전기적 경로가 돌출 단부면을 통해 이루어지고 있다. 이러한 구조가 갖는 문제점은, 구성요소가 보다 빨리 마모되고, 또한 구성요소가 일정 교체까지의 수명 기간이 짧아지게 된다는 것이다.
그 결과, 더 저렴하게 제조할 수 있는 신규의 스프링 접촉 어셈블리 구조에 대한 필요성이 부각되고 있다.
본 발명은, 외부 스프링에 의해 둘러싸이는 2개의 이동식 중첩 접촉 부재 또는 플런저를 포함하는 스프링 접촉 어셈블리를 제공한다. 각각의 플런저는 접촉부 및 꼬리부를 가지며, 꼬리부는 조립 시에 스프링 안쪽에서 반대측의 플런저의 꼬리부 위를 통과하여 접촉하게 되는 평탄면을 갖는다. 스프링은 플런저가 스프링으로부터 분리되는 것을 방지하기 위해 각각의 반대측 플런저 위로 프레스하여 플런저 접촉부와 꼬리부를 스프링의 각각의 말단에 대해 고정시키는 말단 코일을 갖는다. 압박되고 있는 동안 스프링의 자연적인 토션 운동(torsional movement)을 이용하여, 플런저 꼬리부의 평탄면이 접촉 어셈블리의 압축 행정 전반에 걸쳐 접촉을 유지한다. 반대측의 평탄부들 간의 접촉은 스프링의 뒤틀림 또는 토션 운동이 접촉부 상의 팁으로 전달되는 것을 방지한다. 이러한 자연적인 뒤틀림에 대한 저항은 구성요소의 전기 도전성을 향상시키고, 그 결과 스프링 접촉 어셈블리의 성능을 향상시킨다. 스프링은 또한 플런저 꼬리부를 추가로 억제하고 2개의 플런저 간의 상호작용을 향상시키기 위해 스프링의 길이를 따라 축소된 직경의 코일부를 가질 수 있으며, 그렇지 않으면 스프링에 오프셋 코일부를 추가함으로써 추가의 편향 효과가 생성될 수 있다.
플런저의 꼬리부 상의 평탄면은 일반적으로 각각의 플런저에 대한 원통형 꼬리부 직경의 정중선(midline)에 평행하게 형성될 것이다. 다른 실시예에서, 평탄면은 원통형 꼬리부 직경의 정중선 위에 평행하게 형성되어, 그 결과의 어셈블리의 합계 두께를 증가시키며, 이것은 2개의 플런저 간의 추가의 상호작용을 발생시킨다. 다른 실시예에서, 꼬리부 상의 평탄면은 원통형 꼬리부 직경의 정중선에 대해 각을 이루며 형성되거나 또는 이 정중선을 중심으로 나선형으로 형성될 수도 있다.
또 다른 실시예에서, 하나의 플런저는 구성요소의 축을 따라 중앙에 위치된 기본적으로 평면 꼬리부를 포함하며, 반대측의 플런저는 상대 플런저의 평면 꼬리부를 수용하는 대응 슬롯(mating slot)을 갖는다. 이 구조는 2개의 에지가 슬라이드 방식의 접촉 결합으로 되도록 하여 저항 성능을 향상시킨다.
각각의 플런저는 선반, 스크류 머신(screw machine) 또는 다른 유사한 제조 장비에 적합한 전반적으로 원통형의 형상으로 형성될 수 있다. 이와 달리, 플런저는 실질적으로 2차원 형상을 생성하기 위한 스탬핑(stamping), 에칭(etching), 포토리소그래피(photolithography) 또는 다른 유사 제조 기술에 적합한 전반적으로 평면 형상으로 형성될 수도 있다.
전반적으로 평면 형상의 플런저에 대해, 플런저 꼬리부는 스프링의 코일의 반대측 말단을 지나 연장하는 부분을 가질 수도 있다. 이것은 향상된 전기 접촉을 촉진시키고, 반대측 플런저 팁 또는 접촉부를 추가로 지지할 수 있도록 한다. 스프링의 반대측 말단을 지나 연장하는 플런저 꼬리부는 축소된 일측면 상에 에지를 가져 재료의 최대 활용을 제공할 수도 있다. 또한, 평탄한 패턴 버전의 플런저의 스프링 간섭 영역에 슬롯이 제공되어, 추가의 컴플라이언스(compliance)를 제공함으로써, 신뢰 가능한 압박 끼워맞춤을 제공하면서 공차를 흡수할 수도 있다. 평탄한 플런저 구조는 또한 경사진 구성에서 플런저가 함께 슬라이드하여, 외부의 나선형 스프링에 의해 공급된 축력(axial force)의 일부를 대응 플런저 표면에 수직 방향, 즉 법선 방향으로 전달하는 이점을 가질 수 있다. 이러한 법선 표면 힘은 구성요소 간의 친밀한 전기 접촉을 향상시킨다. 프로브를 함께 유지하는 방법은, 축소된 직경의 중앙 코일을 지나 연장하는 확장된 꼬리부와, 접촉부 상의 인터록킹 탭을 포함한다. 단일 프로브 내에서 서로 분리된 2개의 별도의 전기적 경로를 갖는 켈빈 구성(Kelvin configuration) 또한 가능하다.
평탄한 기하학적 형상에 의해 제공된 추가의 이점은 복수의 플런저가 리드 프레임 어셈블리의 일부로서 용이하게 제조되도록 하여, 대규모의 도금 및 조립을 촉진할 수 있다는 것이다. 완성된 어셈블리는 또한 리드 프레임에 부착되도록 제공되어, 최종 사용자가 프로브 어셈블리를 완성된 검사 구조물 또는 소켓 내로 장착하는 것을 더욱 용이하게 한다. 팁 구성은 단일 지점, 복수 지점, 또는 3차원으로 될 수 있다.
본 발명은 또한 평탄한 플런저와 조합하여 원통형 플런저를 갖는 스프링 접촉 어셈블리로 하는 것도 가능하다. 이러한 복합형 조합은 솔더 볼 또는 다른 기하학적 형상에 대한 충분한 검사를 위해 원통형 팁 형상을 제공하면서 평탄한 플런저를 반대측 플런저로서 통합함으로써 전체적으로 원통형의 접촉 어셈블리에 비하여 제조 비용을 감소시킬 수 있다. 본 발명의 이러한 특징 및 기타 다른 특징은 도면과 함께 이하의 상세한 설명을 참조함으로써 더욱 전체적으로 이해될 것이다.
도 1은 본 발명의 스프링 접촉 어셈블리의 사시도이다.
도 2는 도 1의 스프링 접촉 어셈블리의 제1 플런저의 측면도이다.
도 3은 본 발명의 다른 플런저 구조의 측면도이다.
도 4는 도 1의 스프링 접촉 어셈블리의 제2 플런저의 측면도이다.
도 5는 도 1의 스프링 접촉 어셈블리의 스프링의 측면도이다.
도 6은 도 1의 스프링 접촉 어셈블리의 횡단면도이다.
도 7은 본 발명의 다른 플런저 구조의 측면도이다.
도 8은 본 발명의 다른 플런저 구조의 측면도이다.
도 9는 검사 소켓에 삽입된 도 1의 스프링 접촉 어셈블리의 축방향 횡단면도이다.
도 10은 본 발명의 스프링 접촉 어셈블리의 다른 실시예의 사시도이다.
도 11은 도 10의 스프링 접촉 어셈블리의 하나의 플런저의 측면도이다.
도 12는 도 11의 플런저에 대한 스탬핑 과정을 개략적으로 예시하는 도면이다.
도 13은 도 10의 스프링 접촉 어셈블리의 제2 플런저의 측면도이다.
도 14는 도 10의 스프링 접촉 어셈블리의 횡단면도이다.
도 15는 도 10의 다른 스프링 접촉 어셈블리의 축방향 횡단면도이다.
도 16은 본 발명의 다른 스프링 접촉 어셈블리의 사시도이다.
도 17은 본 발명의 또 다른 실시예의 스프링 접촉 어셈블리의 사시도이다.
도 18은 본 발명의 또 다른 실시예의 스프링 접촉 어셈블리의 측면도이다.
도 19는 본 발명의 또 다른 실시예의 스프링 접촉 어셈블리의 사시도이다.
도 20은 본 발명의 또 다른 실시예의 스프링 접촉 어셈블리의 사시도이다.
도 21은 본 발명의 또 다른 실시예의 켈빈(Kelvin) 측정 스프링 접촉 어셈블리의 사시도이다.
도 22는 본 발명의 3차원 접촉 팁 실시예의 사시도이다.
도 23은 도 22의 팁 구성을 갖는 스프링 접촉 어셈블리의 사시도이다.
도 24는 본 발명의 다른 접촉 팁 구조의 사시도이다.
도 25는 3차원 접촉 팁을 예시하는 도 24의 사시도이다.
도 26은 다른 접촉 팁 구조의 사시도이다.
도 27은 3차원 접촉 팁을 예시하는 사시도이다.
도 1 내지 도 11은 본 발명의 제1 실시예의 스프링 접촉 어셈블리(10)를 나타내고 있다. 스프링 접촉 어셈블리(10)는 제1 접촉 부재, 즉 제1 플런저(12), 제2 접촉 부재, 즉 제2 플런저(14) 및 스프링(16)을 포함한다. 도 2에 도시되는 바와 같이, 제1 플런저(12)는 접촉부(18) 및 꼬리부(20)를 포함한다. 접촉부(18)의 말단에는 접촉 팁(contact tip)(22)이 위치되며, 이 접촉 팁(22)은 도 3 및 도 4에 도시되는 바와 같이 다양한 접촉 형상을 가질 수도 있다. 접촉부(18)와 꼬리부(20) 사이에는 플랜지(flange)(24)가 위치된다. 플랜지(24)는 조립 동안 프로브를 정렬시키는데 사용되는 평탄면(26)을 갖는다. 플런저 꼬리부(20)는 그 길이를 따라 연장되는 원통면(28) 및 평탄면(30)을 포함한다.
도 4에 도시된 플런저(14)도 접촉부(32) 및 꼬리부(34)를 포함한다. 마찬가지로, 접촉부(32)와 꼬리부(34) 사이에는 플랜지(36)가 위치되며, 이 플랜지(36)는 조립 동안 플런저(14)를 위치 결정시킬 수 있는 평탄면(38)을 포함한다. 꼬리부(34)는 이 길이를 따라 연장되는 원통면(40) 및 평탄면(42)을 포함한다. 상기 두 평탄면(30, 42)은, 도 9에서도 보여지듯이, 조립시에 서로 그 위를 통과하여 스프링(16) 안쪽에서 접촉하게 된다. 어셈블리가 압축되는 동안에, 상기 두 평탄면(30, 42)은 서로 더 많이 맞물리게 된다.
도 5에 도시되는 바와 같이, 스프링(16)은 스프링의 반대편 양끝에 말단 코일(44, 46)을 가지며, 이 말단 코일(44, 46)은 플랜지(24, 36)에 인접한 원통형 부분(48, 50)의 플런저 꼬리부(20, 34)에 압력을 가한다. 말단 코일(44, 46)은 약간 작은 직경을 가지므로, 플런저가 스프링에서 분리되지 않도록 원통형 부분(48, 50)을 확실히 파지하여, 각각의 스프링 말단에 대해 플런저 팁(22, 52) 및 평탄면(30, 42)을 고정시킨다. 스프링이 압축되는 동안 스프링(16)의 자연적인 토션 운동을 이용하면, 도 6에서 도시되는 바와 같이, 플런저의 평탄면(30, 42)은 프로브의 전체 행정 내내 접촉을 유지한다. 서로 대향하는 두 평탄면 사이의 접촉은 비틀림 또는 토션 운동이 스프링 접촉 팁(22, 52)에 전달되지 않도록 한다. 이러한 자연적인 비틀림에 대한 저지는 부품의 전기 도전성을 향상시키고, 또한 접촉 효율을 개선시킨다.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 평탄면(30)은 각각의 플런저에 대해 원통형 꼬리부 직경의 정중선에 평행하게 형성될 수 있거나, 도 4에 도시된 바와 같이, 평탄면(42)은 각각의 플런저에 대해 원통형 꼬리부 직경의 정중선(54)보다 위에서 평행하게 형성될 수 있어서, 최종 결합된 어셈블리 두께가 증가되고, 조립시 2개의 플런저 간에 추가의 상호작용이 발생된다. 도 1 내지 도 4는 세가지 다른 구성의 플런저 팁을 나타내고 있지만, 어떠한 플런저 팁 구성이라도 그 특정 용도에 따라 이용될 수 있음은 물론이다. 꼬리부(20, 34)를 더욱 압박하고, 2개의 플런저 간의 상호작용을 향상시키기 위해, 도 5에 도시된 바와 같이, 스프링(16)은 축소된 코일부(56)를 이용할 수 있다. 또한, 축소된 코일부(56)를 오프셋시킴으로써 추가의 편향 효과가 발생될 수도 있다.
플런저 꼬리부에 대한 또 다른 구조로서, 도 7에 도시되는 바와 같이, 평탄면(58)이 원통형 꼬리부 직경의 정중선을 중심으로 나선형으로 형성될 수 있거나, 도 8에 도시되는 바와 같이, 평탄면(60)이 원통형 꼬리부 직경의 정중선에 대해 각을 이루며 형성될 수 있다. 각종 플런저 구조의 모두와 관련하여, 꼬리부는, 스프링이 플랜지에 인접한 축소 직경부에 압입 체결되기 전에 꼬리부 상에 장착될 수 있도록 하는 축소 말단부(62)를 포함할 수 있다. 축소 말단부(62)에 의해, 플런저는 스프링 안으로 안내될 수 있어서, 조립 과정이 용이하게 된다. 앞서 설명한 바와 같이, 플런저 꼬리부의 원통형 부분(48, 50)은 스프링의 말단 코일에 대해 억지 끼워맞춤(interference fit)이 이루어지고, 원통형 부분과 말단 코일 사이에 형성된 파지력은 일상적인 조작 및 사용 중에 어셈블리를 함께 유지시키고, 평탄면과 조합하여 스프링이 가하는 정상적인 토션 힘에 저항하기에 충분하다. 전반적으로 원통형인 도 1 내지 도 9의 플런저 구조는 선반, 스크류 머신 등 기타 유사한 제조 장비와 같은 기계 장치에 의해 제조된다.
도 10 내지 도 15에서는, 또 다른 스프링 접촉 어셈블리(70)가 도시되어 있다. 스프링 접촉 어셈블리(70)는 외부 스프링(76)에 의해 둘러싸여진 2개의 이동식 중첩 플런저(72, 74)를 포함한다. 이동식 중첩 플런저(72, 74)는 전반적으로 평면 형상으로 형성되며, 도 12에서 전반적으로 참조번호 78로 표시되는 것처럼, 실제로 2차원 구조를 형성시킬 수 있는 스탬핑, 에칭, 포토리소그래피 등의 기타 유사한 제조 기술에 적합하다. 플런저의 평면 구조의 추가 이점은 다수의 플런저가 리드 프레임 어셈블리의 일부로서 용이하게 제조될 수 있고, 도금 및 조립을 대량으로 쉽게 할 수 있다는 점이다. 또한, 완성 어셈블리가 리드 프레임에 부착되어 공급될 수도 있어서, 최종 사용자가 프로브 어셈블리를 최종 검사 설비, 즉 소켓(110)(도 9에 도시됨) 내에 장착하는 것이 더욱 용이하게 된다.
플런저(72)는 접촉부(80) 및 꼬리부(82)를 포함한다. 접촉부(80)는 접촉 팁(84)을 포함하며, 이 접촉 팁(84)은 다수의 기하학적 구조 중 어느 하나로 이루어질 수 있다. 전체 플런저가 평면 구성을 갖는다면, 플런저 꼬리부(82)는 평탄면(86)을 포함한다. 접촉부(80)와 꼬리부(82) 사이에는 플랜지(88)가 위치된다. 꼬리부(82)는 조립된 구성에서 스프링 접촉을 유지하기 위해 스프링(76)의 말단 코일과의 억지 끼워맞춤을 형성시키기 위한 확장부(90)를 포함하다. 또한, 대응하는 플런저(74)도 접촉부(92), 꼬리부(94), 및 접촉부와 꼬리부 사이에 위치된 플랜지(96)를 포함한다. 꼬리부(94)는 스프링(76)의 말단 코일과의 억지 끼워맞춤을 형성하기 위한 확장부(98)를 포함한다.
평면 구성의 스프링 접촉 어셈블리(70)에서, 플런저 꼬리부(82, 94)는 도 10에 도시된 바와 같이 스프링의 말단 코일을 지나 연장되는 말단부(100)를 포함할 수 있다. 이러한 구조는 플런저들 간의 전기 접촉을 향상시키고, 반대편 플런저 팁에 대한 지지를 부가시킨다. 특정 용도에 있어서, 플런저 꼬리부의 하나 또는 모두가 말단 코일을 지나 연장될 수 있다. 도 11 및 도 14에 도시되는 바와 같이, 스프링의 말단 코일을 지나 연장될 수 있는 말단부(82)는 재료의 최대 활용을 감안하여 제거된 코너 에지(corner edges)(102)를 가질 수 있다.
도 13에 도시되는 바와 같이, 플런저(74)는 추가의 컴플라이언스를 제공하기 위해 플런저의 스프링 간섭 영역에 슬롯(106)을 포함할 수 있는데, 이 슬롯은 말단 코일에 대해 확실한 압입 체결이 이루어지게 하면서 공차를 흡수한다. 도 15에 도시되는 바와 같이, 플런저의 평면 구조의 새로운 또 다른 이점으로, 2개의 플런저(72, 74)가 정중선 축(108)에 대해 기울어진 구조에서 전반적으로 함께 슬라이딩될 수 있다는 점이다. 기울어진 구조에서 함께 슬라이딩되는 2개의 플런저는 외부 나선형 스프링(76)이 가한 축력의 일부를 대응하는 플런저 평면에 수직 방향으로 또는 법선 방향으로 전달한다. 법선 방향의 힘은, 도 15에 도시된 바와 같이, 2개의 플런저 간의 긴밀한 전기 접촉을 향상시킨다.
한편, 대응하는 2개의 플런저(114, 116) 및 외부 나선형 스프링(118)을 포함하는 스프링 접촉 어셈블리(112)의 또 다른 실시예가 도 16에 도시되어 있다. 본 구성에서, 플런저(114)는 평면 꼬리부(120)를 가지며, 플런저(116)는 평면 꼬리부(120)를 수용하기 위한 내부 대향 평탄면을 갖는 특징부(124)를 포함한 꼬리부(122)를 갖는다. 꼬리부(120)는 플런저(114)의 축을 따라 중앙에 위치되고, 특징부(124)는 플런저(116)의 축을 따라 중앙에 위치된다. 스프링 접촉 어셈블리(112)에 의해 2개의 평면 에지(126, 128)가 특징부(124) 내의 평면 에지와 슬라이딩식 접촉을 이루며 수용될 수 있게 된다. 이러한 구조는 스프링 접촉 어셈블리의 저항 효율을 향상시킬 수 있다.
한편, 도 17은 도 1 및 도 10의 스프링 접촉 어셈블리의 복합적 조합인 스프링 접촉 어셈블리의 또 다른 실시예를 나타내고 있다. 스프링 접촉 어셈블리(130)는 외부 나선형 스프링(136) 내부에서 슬라이딩식 접촉되는 원통형 플런저(132)와 평면 플런저(134)를 포함한다. 플런저(132)의 꼬리부(138)는 평탄면(140)을 가지며, 플런저(134)의 꼬리부(142)도 그와 대응되는 평탄면(144)을 갖는다. 이들 2개의 평탄면(140, 144)은 슬라이딩식으로 맞물려진다.
도 18은 본 발명의 또 다른 실시형태인 스프링 접촉 어셈블리(146)를 나타내고 있다. 스프링 접촉 어셈블리(146)는 평면 구성이며, 제1 접촉 부재(148) 및 제2 접촉 부재(150)를 포함한다. 접촉 부재(148, 150)의 꼬리부(152, 154) 각각은 나선형 스프링(162)의 축소된 직경의 중앙 코일부(160)를 통과하는 확장 꼬리부(156, 158)를 포함한다. 확장 꼬리부는 접촉 부재 각각의 접촉 팁(164, 166)의 반대편에 있다. 확장 꼬리부는 축소된 직경을 갖는 코일을 통과하며, 스프링력은 접촉 부재가 스프링에서 분리되지 않도록 하기에 충분한 정도로 작다.
도 19는 접촉 부재(170, 172)를 나선형 스프링(174)에 대해 유지시키기 위한 다른 방법을 적용한 또 다른 실시예의 스프링 접촉 어셈블리(168)를 나타내고 있다. 본 실시예에서는, 꼬리부(180, 182)의 중앙부(176, 178)가 각각 관통되어 탭(184, 186)을 형성하고 있으며, 접촉 부재(170, 172)가 스프링(174) 내부에서 조립될 때, 이들 탭이 인터록킹된다.
도 20은 접촉 부재를 연결시키기 위한 다른 예를 예시하는 또 다른 스프링 접촉 어셈블리(188)를 나타내고 있다. 스프링 접촉 어셈블리(188)는 나선형 스프링(198) 내부에 위치되는 꼬리부(194, 196)의 각각을 갖는 제1 접촉 부재(190) 및 제2 접촉 부재(192)를 포함한다. 꼬리부의 중앙부(200, 202)는 조립시 인터록킹하는 중심이 맞추어 있지 않은 탭(non-centered tap)(204, 206)을 갖는다. 탭(204, 206)은 성형 또는 만곡 작업에 의해 형성된다.
도 21은 켈빈 측정 구성(Kelvin measurement configuration)이 되는 또 다른 실시형태의 스프링 접촉 어셈블리(208)를 나타내고 있다. 스프링 접촉 어셈블리(208)는 단일 스프링(210) 내부에 2개의 개별 전기 경로를 포함한다. 이것은 서로 인접한 2개의 개별 접촉 부재(212, 214)를 포함함으로써 이루어진다. 2개의 개별 접촉 부재(212, 214)는 인접한 표면에 비도전성 코팅을 입힘으로써 서로에 대해 또한 스프링에 대해 전기 절연되어 있다. 접촉 부재(212)는 제1 접촉 세그먼트(216) 및 제2 접촉 세그먼트(218)를 갖는다. 마찬가지로, 접촉 부재(214)도 제1 접촉 세그먼트(220) 및 제2 접촉 세그먼트(222)를 갖는다. 세그먼트(216 내지 222)는 각각 꼬리부(224, 226, 228, 230)를 갖는다. 꼬리부(224, 226, 228, 230)는 도전성 표면(232)을 가지므로, 꼬리부(224)와 꼬리부(226)가 서로 전기적으로 연결되고, 꼬리부(228)와 꼬리부(230)가 서로 전기적으로 연결된다. 꼬리부(224 내지 230)는 스프링(210) 내부에 위치된다. 스프링 접촉 어셈블리(208)는 단일 스프링 내부에 2개의 개별 전기 경로를 포함하며, 각각의 접촉 경로는 슬라이딩식으로 맞물리는 2개의 꼬리부로 구성되고, 인접한 접촉 경로와 전기 절연되어 있다.
도 22 및 도 23은 제1 접촉 부재(236) 및 제2 접촉 부재(238)를 포함하는 또 다른 실시형태의 스프링 접촉 어셈블리(234)를 나타내고 있다. 접촉 부재(236)는 슬롯(244)을 각각 갖는 부분(240, 242)을 포함하여, 상기 부분(240, 242)이 3차원 접촉 팁(246)을 형성하도록 서로 맞물릴 수 있다. 접촉 팁(246)은 4개의 접촉 지점(248)을 포함한다. 상기 부분(240, 242)은 직각으로 연결되어 있는 것으로 도시되어 있지만, 슬롯(244)은 상기 두 부분(240, 242)이 직각 이외의 소정의 다른 각을 이루며 조립될 수 있도록 가공될 수 있음은 물론이다. 접촉부(236, 238)는 꼬리부(250, 252)를 포함하며, 이 꼬리부는 스프링(254) 내부에 위치된다.
도 24 및 도 25는 다른 실시예의 3차원 접촉 팁 구성을 예시하고 있다. 접촉 부재(256)는 꼬리부(258) 및 접촉 팁 부분(260)을 포함한다. 접촉 부재(256)는 도 24에 도시된 바와 같이 평면 구조이며, 접촉 팁 부분(260)은 평탄한 접촉 팁을 3차원 형상으로 만곡시키거나 변형시킴으로써 도 25에 도시된 바와 같이 3차원 구성을 가질 수 있다. 접촉 팁 구성은 3개의 접촉 지점(262, 264, 266)과 함께 예시되어 있지만 특정 응용에 따라 어떠한 수의 접촉 지점을 가질 수도 있다. 팁 기하학적 형상은 2차원 접촉 팁을 3차원 접촉 팁으로 변형시키기 위해 V자형, U자형 또는 다른 형상이 될 수 있다. 이것은 만곡 또는 다른 성형 유형의 작업에 의해 이루어질 수 있다. 유사하게, 도 26 및 도 27은 접촉 부재(268)에 대한 다른 3차원 접촉 팁 구조를 예시하고 있다. 접촉 부재(268)는 먼저 도 26에 예시된 바와 같은 평탄한 2차원 구조로 형성되며, 여기서 접촉 부재(268)는 꼬리부(270) 및 접촉 팁 부분(272)을 포함한다. 도 27에 도시된 바와 같이, 접촉 팁 부분(272)은 그 자체가 접혀져 3차원 구성을 형성한다. 본 실시예에서는 4개의 접촉 지점(274, 276, 278, 280)이 예시되어 있다.
본 발명을 여러 실시예에 대하여 설명 및 예시하였지만, 이후에 청구되는 바와 같은 본 발명의 사상 내에서 변경 및 수정이 이루어질 수 있다.
12 : 제1 플런저
14 : 제2 플런저
16 : 압박 스프링
18 : 접촉부
20 : 꼬리부
24 : 플랜지
26 : 평탄면
70 : 스프링 접촉 어셈블리
72, 74 : 플런저
76 : 외부 스프링

Claims (21)

  1. 꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제1 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제2 접촉 부재; 및
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부에 부착되며, 축소된 직경의 코일부를 가지는 압박 스프링
    을 포함하며,
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면은 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면과 슬라이드식으로 결합하고, 상기 제1 접촉 부재와 상기 제2 접촉 부재에 가해지는 토션 스프링력(torsional spring force)을 극복하기 위해 상기 압박 스프링의 압박 동안 상기 평탄한 접촉면들이 접촉된 면적을 증가시키며,
    상기 제1 접촉 부재 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부들의 평탄한 접촉면은, 원통형 꼬리부 직경의 정중선(midline)에 평행하고 그 정중선 위에 있는,
    스프링 접촉 어셈블리.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 압박 스프링은 상기 꼬리부들과 결합하는 축소된 직경의 말단 코일을 포함하는, 스프링 접촉 어셈블리.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 압박 스프링은 상기 꼬리부들을 결합하는 축소된 직경의 중앙 코일부를 포함하는, 스프링 접촉 어셈블리.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 접촉 부재 및 상기 제2 접촉 부재의 하나 이상이 원통형인, 스프링 접촉 어셈블리.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 접촉 부재 및 상기 제2 접촉 부재 양자가 원통형인, 스프링 접촉 어셈블리.
  6. 꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제1 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제2 접촉 부재; 및
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부에 부착되며, 축소된 직경의 코일부를 가지는 압박 스프링
    을 포함하며,
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면은 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면과 슬라이드식으로 결합하고, 상기 제1 접촉 부재와 상기 제2 접촉 부재에 가해지는 토션 스프링력(torsional spring force)을 극복하기 위해 상기 압박 스프링의 압박 동안 상기 평탄한 접촉면들이 접촉된 면적을 증가시키며,
    상기 제1 접촉 부재 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부들의 평탄한 접촉면은, 원통형 꼬리부 직경의 정중선(midline)에 평행하고 그 정중선 위에 있고,
    상기 제1 접촉 부재 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부들의 평탄한 접촉면은, 원통형 꼬리부 직경의 정중선에 각을 이루며 형성되어 있는,
    스프링 접촉 어셈블리.
  7. 꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제1 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제2 접촉 부재; 및
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부에 부착되며, 축소된 직경의 코일부를 가지는 압박 스프링
    을 포함하며,
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면은 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면과 슬라이드식으로 결합하고, 상기 제1 접촉 부재와 상기 제2 접촉 부재에 가해지는 토션 스프링력(torsional spring force)을 극복하기 위해 상기 압박 스프링의 압박 동안 상기 평탄한 접촉면들이 접촉된 면적을 증가시키며,
    상기 제1 접촉 부재 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부들의 평탄한 접촉면은, 원통형 꼬리부 직경의 정중선(midline)에 평행하고 그 정중선 위에 있고,
    상기 제1 접촉 부재 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부들의 평탄한 접촉면은, 원통형 꼬리부 직경의 정중선을 중심으로 나선형으로 형성되어 있는,
    스프링 접촉 어셈블리.
  8. 꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제1 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제2 접촉 부재; 및
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부에 부착되며, 축소된 직경의 코일부를 가지는 압박 스프링
    을 포함하며,
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면은 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면과 슬라이드식으로 결합하고, 상기 제1 접촉 부재와 상기 제2 접촉 부재에 가해지는 토션 스프링력(torsional spring force)을 극복하기 위해 상기 압박 스프링의 압박 동안 상기 평탄한 접촉면들이 접촉된 면적을 증가시키며,
    상기 제1 접촉 부재 및 상기 제2 접촉 부재 양자가 평면 구조로 되고,
    상기 제1 접촉 부재 또는 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부의 말단부는, 상기 스프링 접촉 어셈블리가 압박될 때에는 상기 압박 스프링의 말단 코일을 지나 연장하는,
    스프링 접촉 어셈블리.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 평탄한 접촉면들의 반대쪽의 꼬리부의 길이를 따라 상기 꼬리부의 에지 면이 제거되어 있는, 스프링 접촉 어셈블리.
  10. 꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제1 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제2 접촉 부재; 및
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부에 부착되며, 축소된 직경의 코일부를 가지는 압박 스프링
    을 포함하며,
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면은 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면과 슬라이드식으로 결합하고, 상기 제1 접촉 부재와 상기 제2 접촉 부재에 가해지는 토션 스프링력(torsional spring force)을 극복하기 위해 상기 압박 스프링의 압박 동안 상기 평탄한 접촉면들이 접촉된 면적을 증가시키며,
    상기 제1 접촉 부재 또는 상기 제2 접촉 부재의 하나 이상이 꼬리부에 슬롯을 포함하는,
    스프링 접촉 어셈블리.
  11. 꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제1 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 평탄한 접촉면을 갖는 제2 접촉 부재; 및
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부 및 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부에 부착되며, 축소된 직경의 코일부를 가지는 압박 스프링
    을 포함하며,
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면은 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부의 평탄한 접촉면과 슬라이드식으로 결합하고, 상기 제1 접촉 부재와 상기 제2 접촉 부재에 가해지는 토션 스프링력(torsional spring force)을 극복하기 위해 상기 압박 스프링의 압박 동안 상기 평탄한 접촉면들이 접촉된 면적을 증가시키며,
    상기 제1 접촉 부재의 꼬리부는 평탄하며, 상기 제2 접촉 부재의 꼬리부는 상기 제1 접촉 부재의 꼬리부를 수용하기 위해 내부적으로 대향 배치된 2개의 평탄면을 갖는,
    스프링 접촉 어셈블리.
  12. 꼬리부가 그 길이를 따라 접촉면을 갖는 제1 평탄 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 접촉면을 갖는 제2 평탄 접촉 부재; 및
    상기 제1 평탄 접촉 부재의 꼬리부 및 상기 제2 평탄 접촉 부재의 꼬리부에 부착되는 압박 스프링
    을 포함하며,
    상기 제1 평탄 접촉 부재의 꼬리부의 접촉면은 상기 제2 평탄 접촉 부재의 꼬리부의 평탄 접촉면과 경사진 구조에서 슬라이드식으로 결합하고, 상기 압박 스프링에 의해 제공된 축력(axial force)을 슬라이딩 표면에 법선으로 전달함으로써 상기 압박 스프링의 압박 동안 평탄 접촉면의 슬라이딩 결합 및 접촉된 면적을 증가시키는,
    스프링 접촉 어셈블리.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 제1 접촉 부재는 3차원 접촉 팁을 갖는, 스프링 접촉 어셈블리.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 압박 스프링은, 상기 꼬리부들과 결합하는 축소된 직경의 말단 코일을 포함하는, 스프링 접촉 어셈블리.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 꼬리부는 인터록킹 탭(interlocking tab)을 갖는, 스프링 접촉 어셈블리.
  16. 제12항에 있어서,
    상기 압박 스프링은, 상기 꼬리부들과 결합하는 축소된 직경의 중앙 코일을 포함하는, 스프링 접촉 어셈블리.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 꼬리부는 상기 축소된 직경의 중앙 코일을 통과하는 확장된 말단부를 갖는, 스프링 접촉 어셈블리.
  18. 스프링 접촉 어셈블리에 있어서,
    꼬리부가 그 길이를 따라 접촉면을 갖는 제1 평탄 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 접촉면을 가지며, 이 접촉면이 상기 제1 평탄 접촉 부재의 꼬리부의 접촉면과 슬라이드 방식으로 결합하는, 제2 평탄 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 접촉면을 갖는 제3 평탄 접촉 부재;
    꼬리부가 그 길이를 따라 접촉면을 가지며, 이 접촉면이 상기 제3 평탄 접촉 부재의 꼬리부의 접촉면과 슬라이드 방식으로 결합하는, 제4 평탄 접촉 부재; 및
    상기 제1 평탄 접촉 부재, 상기 제2 평탄 접촉 부재, 상기 제3 평탄 접촉 부재, 및 상기 제4 평탄 접촉 부재의 꼬리부들을 둘러싸고 이 꼬리부들에 부착되는 압박 스프링
    을 포함하며,
    상기 제1 평탄 접촉 부재 및 상기 제2 평탄 접촉 부재가, 상기 제3 평탄 접촉 부재 및 상기 제4 평탄 접촉 부재에 인접하고 평행하며, 상기 제3 평탄 접촉 부재 및 상기 제4 평탄 접촉 부재와 전기적으로 절연되어, 상기 스프링 접촉 어셈블리 내에 2개의 독립적인 전기적 경로가 존재하는,
    스프링 접촉 어셈블리.
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  20. 삭제
  21. 삭제
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US20100123476A1 (en) * 2007-04-27 2010-05-20 Nhk Spring Co., Ltd. Conductive contact
US8536889B2 (en) * 2009-03-10 2013-09-17 Johnstech International Corporation Electrically conductive pins for microcircuit tester
US8324919B2 (en) * 2009-03-27 2012-12-04 Delaware Capital Formation, Inc. Scrub inducing compliant electrical contact
US20100267291A1 (en) * 2009-04-20 2010-10-21 Scott Chabineau-Lovgren Swaging process for improved compliant contact electrical test performance
US20130002285A1 (en) 2010-03-10 2013-01-03 Johnstech International Corporation Electrically Conductive Pins For Microcircuit Tester
JP5568563B2 (ja) * 2009-09-28 2014-08-06 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
JP5750535B2 (ja) * 2009-09-28 2015-07-22 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
WO2011078176A1 (ja) * 2009-12-25 2011-06-30 日本発條株式会社 接続端子
US8710856B2 (en) * 2010-01-15 2014-04-29 LTX Credence Corporation Terminal for flat test probe
JPWO2011096067A1 (ja) * 2010-02-05 2013-06-10 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
JP4998838B2 (ja) * 2010-04-09 2012-08-15 山一電機株式会社 プローブピン及びそれを備えるｉｃソケット
US8118604B2 (en) * 2010-05-06 2012-02-21 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Socket connector having electrical element supported by insulated elastomer
KR101020025B1 (ko) * 2010-06-01 2011-03-09 주식회사 엔티에스 전자부품 검침 프로브
US9007082B2 (en) 2010-09-07 2015-04-14 Johnstech International Corporation Electrically conductive pins for microcircuit tester
TWI534432B (zh) * 2010-09-07 2016-05-21 瓊斯科技國際公司 用於微電路測試器之電氣傳導針腳
US8823406B2 (en) 2010-10-20 2014-09-02 Cascade Micotech, Inc. Systems and methods for simultaneous optical testing of a plurality of devices under test
US8970240B2 (en) 2010-11-04 2015-03-03 Cascade Microtech, Inc. Resilient electrical interposers, systems that include the interposers, and methods for using and forming the same
JP5805102B2 (ja) * 2010-11-15 2015-11-04 日本発條株式会社 接続端子
JP5903049B2 (ja) * 2010-11-15 2016-04-13 日本発條株式会社 接続端子
JP5597108B2 (ja) * 2010-11-29 2014-10-01 株式会社精研 接触検査用治具
US9244099B2 (en) 2011-05-09 2016-01-26 Cascade Microtech, Inc. Probe head assemblies, components thereof, test systems including the same, and methods of operating the same
JP5726651B2 (ja) * 2011-06-22 2015-06-03 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 コンタクトおよびソケット
JPWO2013018809A1 (ja) * 2011-08-02 2015-03-05 日本発條株式会社 プローブユニット
JP5858781B2 (ja) * 2011-12-29 2016-02-10 株式会社エンプラス プローブピン及び電気部品用ソケット
US8758066B2 (en) * 2012-02-03 2014-06-24 Interconnect Devices, Inc. Electrical connector with insulation member
DE102012202113B3 (de) * 2012-02-13 2013-05-29 Robert Bosch Gmbh Elektrische Kontaktieranordnung
WO2013154738A1 (en) * 2012-04-13 2013-10-17 Delaware Capital Formation, Inc. Test probe assembly and related methods
US9059545B2 (en) 2012-07-11 2015-06-16 Tyco Electronics Corporations Socket connectors and methods of assembling socket connectors
JP6011103B2 (ja) * 2012-07-23 2016-10-19 山一電機株式会社 コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
CN104604040A (zh) * 2012-09-14 2015-05-06 日本发条株式会社 功率模块用连接端子
TWI514686B (zh) * 2013-01-28 2015-12-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電連接器及電連接器端子
KR101439342B1 (ko) * 2013-04-18 2014-09-16 주식회사 아이에스시 포고핀용 탐침부재
KR101457168B1 (ko) * 2013-07-19 2014-11-04 황동원 스프링 콘택트
JP5985447B2 (ja) * 2013-08-21 2016-09-06 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP6297288B2 (ja) * 2013-09-18 2018-03-20 株式会社ヨコオ スプリングコネクタ
JP6193719B2 (ja) * 2013-10-22 2017-09-06 日本電子材料株式会社 コンタクトプローブ
KR200473045Y1 (ko) * 2014-01-17 2014-06-27 (주)에스피에스 이중접점스위치 및 이중접점스위치를 갖는 마그네틱 커넥터
JP6361174B2 (ja) * 2014-03-06 2018-07-25 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP2016009541A (ja) * 2014-06-23 2016-01-18 京セラコネクタプロダクツ株式会社 バッテリ用コネクタ
US9568388B2 (en) * 2014-08-05 2017-02-14 Sensata Technologies, Inc. Small form factor pressure sensor
CN106574937B (zh) * 2014-08-08 2020-06-23 日本发条株式会社 连接端子
DE202014105151U1 (de) * 2014-10-28 2016-01-29 Ptr Messtechnik Gmbh & Co. Kommanditgesellschaft Federkontaktvorrichtung
US10161963B2 (en) 2015-08-17 2018-12-25 Chaojiong Zhang Electrical contact and testing apparatus
US9673539B2 (en) * 2015-09-23 2017-06-06 Texas Instruments Incorporated Spring biased contact pin assembly
JP6637742B2 (ja) * 2015-11-25 2020-01-29 株式会社日本マイクロニクス 電気的接触子及び電気的接続装置
JP6610322B2 (ja) * 2016-02-15 2019-11-27 オムロン株式会社 プローブピンおよびそれを用いた検査装置
JP6740630B2 (ja) * 2016-02-15 2020-08-19 オムロン株式会社 プローブピンおよびこれを用いた検査装置
CN107290099B (zh) 2016-04-11 2021-06-08 森萨塔科技公司 压力传感器、用于压力传感器的插塞件和制造插塞件的方法
EP3236226B1 (en) 2016-04-20 2019-07-24 Sensata Technologies, Inc. Method of manufacturing a pressure sensor
CN106129665B (zh) * 2016-08-17 2018-10-23 东莞市盈之宝电子科技有限公司 一种探针
TWI616030B (zh) * 2016-09-09 2018-02-21 金峰精密工業股份有限公司 大電流連接器及其母座連接器
US10782316B2 (en) 2017-01-09 2020-09-22 Delta Design, Inc. Socket side thermal system
US10545064B2 (en) 2017-05-04 2020-01-28 Sensata Technologies, Inc. Integrated pressure and temperature sensor
US10323998B2 (en) 2017-06-30 2019-06-18 Sensata Technologies, Inc. Fluid pressure sensor
US10724907B2 (en) 2017-07-12 2020-07-28 Sensata Technologies, Inc. Pressure sensor element with glass barrier material configured for increased capacitive response
US10557770B2 (en) 2017-09-14 2020-02-11 Sensata Technologies, Inc. Pressure sensor with improved strain gauge
KR101865367B1 (ko) * 2017-12-05 2018-06-07 주식회사 오킨스전자 레일 타입 ｐｉｏｎ 핀
KR101865375B1 (ko) * 2017-12-05 2018-06-07 주식회사 오킨스전자 트위스트 타입 ｐｉｏｎ 핀 및 그 조립 방법
US10476191B2 (en) * 2018-02-28 2019-11-12 Ohio Associated Enterprises, Llc Forked electrical contact pair with elastic tail
KR102121754B1 (ko) * 2018-12-19 2020-06-11 주식회사 오킨스전자 상하 2개의 영역으로 구분되는 단일 코일 스프링을 포함하는 테스트 소켓
CN110071386B (zh) 2019-03-29 2020-09-25 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器
KR102080832B1 (ko) * 2019-10-02 2020-02-24 황동원 스프링 콘택트 및 스프링 콘택트 내장형 테스트 소켓
KR102304874B1 (ko) * 2020-06-08 2021-09-24 주식회사 유니마이크로 반도체 검사용 프로브 핀
KR102456449B1 (ko) * 2020-08-11 2022-10-20 리노공업주식회사 검사 프로브
WO2022076354A1 (en) 2020-10-06 2022-04-14 Johnstech International Corporation Compliant ground block and testing system having compliant ground block
US11802909B2 (en) 2020-10-06 2023-10-31 Johnstech International Corporation Compliant ground block and testing system having compliant ground block
KR102414615B1 (ko) * 2020-10-16 2022-06-30 (주)아이윈솔루션 전기적 특성이 안정화된 연결핀
KR102235344B1 (ko) * 2020-12-31 2021-04-05 황동원 고속 시그널의 반도체 소자 테스트용 콘택트 핀과, 이를 포함하는 스프링 콘택트 및 소켓장치
US11387587B1 (en) * 2021-03-13 2022-07-12 Plastronics Socket Partners, Ltd. Self-retained slider contact pin
US11906576B1 (en) 2021-05-04 2024-02-20 Johnstech International Corporation Contact assembly array and testing system having contact assembly array
US11867752B1 (en) 2021-05-13 2024-01-09 Johnstech International Corporation Contact assembly and kelvin testing system having contact assembly
WO2023278632A1 (en) 2021-06-30 2023-01-05 Delta Design, Inc. Temperature control system including contactor assembly
KR102587652B1 (ko) * 2021-08-04 2023-10-11 주식회사 아이에스시 탐침장치
CN114252665B (zh) * 2021-11-19 2022-12-13 深圳市顺天祥电子有限公司 一种电路板微型连接器测试探针模组

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5227718A (en) * 1992-03-10 1993-07-13 Virginia Panel Corporation Double-headed spring contact probe assembly
US6396293B1 (en) * 1999-02-18 2002-05-28 Delaware Capital Formation, Inc. Self-closing spring probe
US20060279301A1 (en) * 2005-06-10 2006-12-14 Valts Treibergs Electrical contact probe with compliant internal interconnect

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4029375A (en) 1976-06-14 1977-06-14 Electronic Engineering Company Of California Miniature electrical connector
US4636026A (en) 1985-12-20 1987-01-13 Augat Inc. Electrical test probe
US5174763A (en) 1990-06-11 1992-12-29 Itt Corporation Contact assembly
JPH05182729A (ja) 1991-12-26 1993-07-23 Yamaichi Electron Co Ltd 電気部品用接触子
JP3659662B2 (ja) * 1993-12-24 2005-06-15 株式会社デンソー プローブコンタクト
US5391995A (en) 1994-02-01 1995-02-21 Everett Charles Technologies, Inc. Twisting electrical test probe with controlled pointing accuracy
FR2722617B1 (fr) * 1994-07-12 1998-06-12 Everett Charles Tech Contacts electriques a ressort plein pour des connecteurs et des sondes electriques
US5942906A (en) 1994-11-18 1999-08-24 Virginia Panel Corporation Interface system utilizing engagement mechanism
EP0838878B1 (fr) 1997-02-04 1999-02-24 Durtal SA Pièce de contact à ressort
JP4388610B2 (ja) 1998-07-10 2009-12-24 日本発條株式会社 導電性接触子
DE19983759B4 (de) 1998-11-25 2004-06-03 Rika Electronics International Inc., Attleboro Elektrisches Kontaktsystem
US6462567B1 (en) 1999-02-18 2002-10-08 Delaware Capital Formation, Inc. Self-retained spring probe
JP2002015804A (ja) 2000-06-30 2002-01-18 Tyco Electronics Amp Kk スプリングコンタクト
JP3673153B2 (ja) 2000-08-10 2005-07-20 タイコエレクトロニクスアンプ株式会社 スプリングコンタクト
JP3767810B2 (ja) * 2001-04-27 2006-04-19 株式会社ヨコオ スプリングコネクタ
DE10297011T5 (de) * 2001-07-02 2004-07-22 NHK Spring Co., Ltd., Yokohama Elektrisch leitende Kontakteinheit
JP2003043065A (ja) 2001-07-27 2003-02-13 Ricoh Co Ltd プローブピン及び電気的特性試験部材
US6506082B1 (en) * 2001-12-21 2003-01-14 Interconnect Devices, Inc. Electrical contact interface
ATE371196T1 (de) 2002-03-05 2007-09-15 Rika Denshi America Inc Vorrichtung für eine schnittstelle zwischen elektronischen gehäusen und testgeräten
US7157922B2 (en) 2002-04-16 2007-01-02 Nhk Spring Co., Ltd. Planar electroconductive contact probe holder
US6769919B2 (en) 2002-09-04 2004-08-03 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Low profile and low resistance connector
JP3768183B2 (ja) 2002-10-28 2006-04-19 山一電機株式会社 狭ピッチｉｃパッケージ用ｉｃソケット
JP4299184B2 (ja) * 2004-04-23 2009-07-22 矢崎総業株式会社 基板接続用板端子
US7315176B2 (en) * 2004-06-16 2008-01-01 Rika Denshi America, Inc. Electrical test probes, methods of making, and methods of using
JP2006071343A (ja) 2004-08-31 2006-03-16 Sharp Corp コンタクトプローブおよびソケット
KR100584225B1 (ko) * 2004-10-06 2006-05-29 황동원 전자장치용 콘택트
JP2006292456A (ja) 2005-04-07 2006-10-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置の検査装置および検査方法
JP4683993B2 (ja) 2005-04-27 2011-05-18 株式会社秩父富士 Ｉｃソケット用接触装置
US7154286B1 (en) 2005-06-30 2006-12-26 Interconnect Devices, Inc. Dual tapered spring probe
SG131790A1 (en) * 2005-10-14 2007-05-28 Tan Yin Leong Probe for testing integrated circuit devices
US7148713B1 (en) 2005-10-28 2006-12-12 Interconnect Devices, Inc. Algoristic spring as probe
JP2008069805A (ja) 2006-09-12 2008-03-27 Ntn Corp 動圧軸受装置
CN200959404Y (zh) * 2006-09-13 2007-10-10 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器端子
US20100123476A1 (en) * 2007-04-27 2010-05-20 Nhk Spring Co., Ltd. Conductive contact
JP5291585B2 (ja) * 2008-11-07 2013-09-18 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5227718A (en) * 1992-03-10 1993-07-13 Virginia Panel Corporation Double-headed spring contact probe assembly
US6396293B1 (en) * 1999-02-18 2002-05-28 Delaware Capital Formation, Inc. Self-closing spring probe
US20060279301A1 (en) * 2005-06-10 2006-12-14 Valts Treibergs Electrical contact probe with compliant internal interconnect

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