DE10297011T5 - Elektrisch leitende Kontakteinheit - Google Patents

Elektrisch leitende Kontakteinheit Download PDF

Info

Publication number
DE10297011T5
DE10297011T5 DE10297011T DE10297011T DE10297011T5 DE 10297011 T5 DE10297011 T5 DE 10297011T5 DE 10297011 T DE10297011 T DE 10297011T DE 10297011 T DE10297011 T DE 10297011T DE 10297011 T5 DE10297011 T5 DE 10297011T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
electrically conductive
iridium
needle part
gold
contact unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE10297011T
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Kazama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Publication of DE10297011T5 publication Critical patent/DE10297011T5/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/15Pins, blades or sockets having separate spring member for producing or increasing contact pressure
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/02Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material
    • C23C28/023Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material only coatings of metal elements only
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/03Contact members characterised by the material, e.g. plating, or coating materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • G01R1/06738Geometry aspects related to tip portion
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06755Material aspects
    • G01R1/06761Material aspects related to layers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

Elektrisch leitende Kontakteinheit mit einem elektrisch leitenden Nadelteil und einer Schraubenfeder, welche das Nadelteil elastisch in eine Richtung drängt, in welcher ein Spitzenteil des Nadelteils mit einem zu kontaktierenden Objekt in Kontakt gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, dass der Spitzenteil des Nadelteils integral mit elektrisch leitendem Material ausgebildet ist, das oxidier- und verschleißfest ist.

Description

  • TECHNISCHES GEBIET
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine elektrisch leitende Kontakteinheit zum Austauschen von Signalen mit Leiterplatten, elektronischen Vorrichtungen od. dgl.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Eine herkömmliche elektrisch leitende Kontakteinheit zur Verwendung in Kontaktprüfköpfen zum elektrischen Testen von Leitermustern von Leiterplatten und elektronischen Vorrichtungen hat typischerweise ein elektrisch leitendes Nadelteil und einen rohrförmigen Halter, der das Nadelteil axial beweglich aufnimmt, wobei das Nadelteil durch eine Schraubenfeder elastisch in die Richtung gedrängt wird, in der die Spitze des Nadelteils aus dem vorderen Ende des Halters hervorsteht, so dass die Spitze des Nadelteils mit einem zu testenden Objekt elastisch in Kontakt gebracht werden kann.
  • Siliciumwafer und Keramikgehäuse zur Verwendung bei Halbleitervorrichtungen und Glasplatten zur Verwendung in LCD-Tafeln bestehen aus Materialien, die eine relativ große Härte haben. Diese Bauteile sind mit einer elektrischen Schaltungsanordnung versehen und werden während des Fertigungsprozesses elektrischen Tests unterworfen. Eine elektrisch leitende Kontakteinheit (ein Kontaktprüfkopf) wird für einen solchen Zweck verwendet und ist dafür ausgebildet, elektrischen Kontakt mit einem Teil der Schaltungsanordnung wie z.B. einer Klemme herzustellen.
  • Wenn das zu testende Objekt aus einem Bauteil besteht, das aus einem harten Material hergestellt ist wie z.B. diejenigen, die weiter oben erwähnt sind, und wenn bei dem Kontaktprüfkopf Nadelteile verwendet werden, die aus herkömmlichem SK-Material (unlegiertem Werkzeugstahl) hergestellt sind, wird der wiederholte Gebrauch der Nadelteile mit der Zeit zum Verschleiß und zur Deformation der Kontaktspitzen führen. Infolgedessen kann ein stabiler Kontaktwiderstand schließlich unmöglich werden. Des halb müssen die Nadelteile in einer relativ kurzen Zeitspanne ausgetauscht werden, was die Betriebskosten erhöht.
  • DARSTELLUNG DER ERFINDUNG
  • Angesichts dieser Probleme des Standes der Technik und zur Schaffung einer elektrisch leitenden Kontakteinheit, die verschleißfest und äußerst dauerhaft ist, hat die elektrisch leitende Kontakteinheit nach der vorliegenden Erfindung ein elektrisch leitendes Nadelteil sowie eine Schraubenfeder, die das Nadelteil elastisch in eine Richtung drängt, in welcher ein Spitzenteil des Nadelteils mit einem zu kontaktierenden Objekt in Kontakt gebracht wird, und ist dadurch gekennzeichnet, dass der Spitzenteil des Nadelteils integral mit elektrisch leitendem Material ausgebildet ist, das oxidier- und verschleißfest ist.
  • Dadurch kann der Spitzenteil des Nadelteils oxidier- und verschleißfest gemacht werden, und es wird selbst dann verhindert, dass er verschleißt oder verformt wird, wenn das zu testende Objekt aus einem Material besteht, das eine große Härte hat. Somit werden die Verschleißfestigkeit und die Dauerhaftigkeit des Nadelteils verbessert, und es wird ein stabiler Kontaktwiderstand sichergestellt.
  • Insbesondere durch Bilden eines galvanischen Überzuges aus einem elektrisch gut leitenden oder leitfähigen Material wenigstens auf dem verbleibenden Teil des Nadelteils, der nicht integral mit dem elektrisch leitenden Material ausgebildet ist, kann selbst dann, wenn das elektrisch leitende Material keine ausreichend hohe elektrische Leitfähigkeit hat, weil größerer Wert auf einen erhöhten Widerstand gegen Oxidieren und Verschleiß gelegt wird, der elektrische Pfad zwischen dem Spitzenteil des Nadelteils und demjenigen Teil desselben, der mit der Schraubenfeder verbunden ist, mit einem elektrisch gut leitenden Material überzogen werden, so dass der elektrische Widerstand des elektrischen Pfades zwischen dem Nadelteil und der Schraubenfeder minimiert werden kann.
  • Das elektrisch leitende Material kann aus Iridium, Titannitrid, Rhodium und Hafniumnitrid bestehen, und zwar entweder an sich oder als eine Legierung mit Gold oder Platin. Die günstigen Eigenschaften von Iridium, Titannitrid, Rhodium und Hafniumnitrid wie große Härte, Wärme- und Säurebeständigkeit und stabiler Kontaktwiderstand können voll ausgenutzt werden, so dass der Spitzenteil des Nadelteils eine verbesserte Verschleißfestigkeit und Dauerhaftigkeit erhält und ein günstiger leitfähiger Zustand (wie z.B. ein stabiler Kontaktwiderstand) dank des stabilen mechanischen Kontakts erzielt werden kann.
  • Wenn Iridium, Titannitrid, Rhodium, Hafniumnitrid oder eine Legierung von irgendeinem derselben mit Gold oder Platin über einer Unterschicht vorgesehen wird, um Abblättern zu verhindern, gewährleistet die Unterschicht eine sichere Befestigung dieses Materials auf dem Nadelteil selbst dann, wenn ein direktes Aufbringen dieses Materials auf das Nadelteil nicht in der Lage wäre, für eine ausreichende Haftkraft zu sorgen. Deshalb kann der elektrisch leitenden Einheit eine gewünschte Verschleißfestigkeit und Dauerhaftigkeit gegeben werden.
  • Durch Verwenden von Gold für das elektrisch gut leitende Material, das als Überzug aufgetragen wird, kann, selbst wenn das elektrisch leitende Material keine ausreichend hohe elektrische Leitfähigkeit hat, weil größerer Wert auf größere Oxidier- und Verschleißfestigkeit gelegt wird, dem Nadelteil als Ganzem eine hohe elektrische Leitfähigkeit gegeben werden.
  • Wenn die Vergoldung auf der gesamten Oberfläche des Nadelteils vorgesehen wird und Iridium, Titannitrid, Rhodium, Hafniumnitrid oder eine Legierung von irgendeinem derselben mit Gold oder Platin über einer Unterschicht vorgesehen wird, um Abblättern zu verhindern, gewährleistet die Vergoldung, die auf der gesamten Oberfläche des Nadelteils vorgesehen wird, eine hohe elektrische Leitfähigkeit für das Nadelteil als Ganzem, und die Unterschicht gewährleistet eine stabile Befestigung des Materials wie Iridium auf dem Nadelteil. Außerdem ist die Vergoldungsschicht unter dem Material wie Iridium elektrisch leitend und ergibt eine sogar noch günstigere elektrische Eigenschaft.
  • Wenn eine Vergoldung auf der äußeren Oberfläche von Iridium, Titannitrid, Rhodium, Hafniumnitrid oder einer Legierung von irgendeinem derselben mit Gold oder Platin vorgesehen wird, verbessert das Material wie Iridium die Verschleißfestigkeit, und die Vergoldungsschicht reduziert den elektrischen Widerstand des Nadelteils als Ganzem. Selbst wenn die Vergoldungsschicht verschleißt oder verformt wird und die Unterschicht, die aus einem Material wie Iridium hergestellt ist, freigelegt wird, hilft die Anwesenheit der Vergoldungsschicht nahe bei einem solchen freiliegenden Teil, die elektrische Leitfähigkeit des Nadelteils als Ganzem hochzuhalten.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Es wird nun die vorliegende Erfindung im Folgenden unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, in welchen:
  • 1 eine Vertikalschnittansicht einer erfindungsgemäßen elektrisch leitende Kontakteinheit zur Verwendung in einem Kontaktprüfkopf ist;
  • 2 eine Ansicht ähnlich der in 1 ist und die Kontakteinheit zeigt, die mit einem Objekt in Kontakt gebracht worden ist;
  • 3 eine vergrößerte Teilschnittansicht des Nadelteils ist, das mit einer Iridiumschicht überzogen ist;
  • 4 eine schematische Ansicht ist, die zeigt, wie ein Bedampfungsprozess ausgeführt wird;
  • 5a, 5b und 5c vergrößerte Teilansichten sind, welche unterschiedliche Formen der Spitze eines Nadelteils zeigen;
  • 6 eine ähnliche Ansicht wie in 3 ist und eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt; und
  • 7 eine Ansicht ähnlich wie in 3 ist und noch eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFOR-MEN
  • Bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden im Folgenden unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben.
  • 1 ist eine Vertikalschnittansicht, die eine elektrisch leitende Kontakteinheit 1 zur Verwendung in einem Kontaktprüfkopf gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. Diese elektrisch leitende Kontakteinheit 1 kann als solche benutzt werden, ist aber besonders geeignet zur Verwendung in einem Halter (einem Prüfkopf) eines mehrere Spitzen aufweisenden Kontaktprüfkopfes als eine von einer großen Zahl von ähnlichen elektrisch leitenden Kontakteinheiten, die eine neben der anderen ange ordnet sind, z.B. für einen Waferebenentest. Bei einem solchen Kontaktprüfkopf ist der Halter an einer Platte integral befestigt, die auf einer Prüfmaschine über eine Relaisschaltungsplatte montiert ist. Die Zeichnung dient nur zur Veranschaulichung, und das tatsächliche Längenverhältnis kann sich von dem des dargestellten Beispiels unterscheiden.
  • Die elektrisch leitende Kontakteinheit 1 weist ein elektrisch leitendes Nadelteil 2 auf, eine Druckschraubenfeder 3 und einen Halter 4, der aus elektrisch isolierendem Material besteht und ein Halterloch 4a großen Durchmessers und ein Halterloch 4b kleinen Durchmessers in koaxialer Beziehung zum Aufnehmen des elektrisch leitenden Nadelteils 2 und der Druckschraubenfeder 3 hat. Das elektrisch leitende Nadelteil 2 hat einen Nadelteil 2a mit einem abgeflachten Ende, einem Flanschteil 2b, der an dem hinteren Ende des Nadelteils 2a vorgesehen ist und einen größeren Durchmesser als der Nadelteil 2a hat, und einen Schaftteil 2c, der von dem anderen Ende (dem unteren Ende in der Zeichnung) des Flanschteils 2b vorsteht und einen kleineren Durchmesser als der Flanschteil 2b hat. Diese Teile 2a, 2b und 2c sind jeweils mit einem kreisförmigen Querschnitt versehen und koaxial zueinander angeordnet.
  • Derjenige Teil des Schaftteils 2c des elektrisch leitenden Nadelteils 2, der dem Flanschteil 2b benachbart ist, ist mit einem Teil 2d größeren Durchmessers versehen, welcher einen etwas größeren Durchmesser als der Rest des Schaftteils 2c hat. Der Teil 2d größeren Durchmessers ist mit Presssitz in ein Ende der Druckschraubenfeder 3 eingepasst, und das entsprechende Schraubenende umschließt dadurch elastisch den Teil 2d größeren Durchmessers. Das elektrisch leitende Nadelteil 2 ist auf diese Art und Weise mit der Druckschraubenfeder 3 verbunden. Die Verbindung zwischen dem Teil 2d größeren Durchmessers und dem entsprechenden Ende der Druckschraubenfeder 3 kann nicht nur durch das elastische Umschließen hergestellt werden, das vorstehend beschrieben ist, sondern auch durch andere Maßnahmen wie z. B. Löten. Abhängig davon, wie die Druckschraubenfeder 3 gewickelt ist, besteht der eine Endteil, der mit dem Teil 2d größeren Durchmessers verbunden ist, aus einem eng gewickelten Teil, und der Zwischenteil besteht aus einem grob gewickelten Teil, wohingegen der andere Schraubenfederendteil mit einem eng gewickelten Teil 3a versehen ist, der eine vorgeschriebene Länge hat.
  • Das Halterloch 4b kleinen Durchmessers des Halters 4 nimmt den zylindrischen Teil des Nadelteils 2a verschiebbar auf, und das Halterloch 4a großen Durchmessers nimmt den Flanschteil 2b, den Teil 2d größeren Durchmessers, den Schaftteil 2c und die Druckschraubenfeder 3 auf. Die in der Zeichnung untere Oberfläche des Halters 4 ist an einer Relaisschaltungsplatte 5 befestigt, die das offene Ende des Halterloches 4a großen Durchmessers verschließt. Die Relaisschaltungsplatte 5 ist mit dem Halter 4 durch in der Zeichnung nicht dargestellte Schrauben fest verbunden und ist mit einer internen Schaltungsanordnung 5a versehen, die eine Klemmenfläche hat, welche dem Halterloch 4a großen Durchmessers gegenüberliegt.
  • Gemäß der Darstellung in der Zeichnung wird, wenn der Halter 4 und die Relaisschaltungsplatte 5 miteinander zusammengebaut sind, das elektrisch leitende Nadelteil 2 daran gehindert, aus dem Halterloch herauszukommen, und zwar durch den Flanschteil 2b, der durch eine Schulter 4c erfasst wird, welche zwischen dem Halterloch 4b kleinen Durchmessers und dem Halterloch 4a großen Durchmessers gebildet ist. Die axiale Länge des Halterloches 4a großen Durchmessers wird derart bestimmt, dass die Druckschraubenfeder 3 einer vorgeschriebenen Anfangsbelastung durch eine kompressive Verformung derselben ausgesetzt ist. Die axialen Längen des Schaftteils 2c und des eng gewickelten Teils 3a werden derart festgelegt, dass das in der Zeichnung untere Ende des Schaftteils 2c den eng gewickelten Teil 3a in dem dargestellten Anfangszustand (vor dem Test) berührt.
  • Gemäß 2, auf die nun Bezug genommen wird, wird durch Aufsetzen der Spitze des Nadelteils 2a auf ein zu testendes Objekt wie einen Kontaktfleck 6a, der aus Au, Cu oder Al besteht und auf der Oberfläche der Wafer 6 gebildet ist, ein elektrisches Signal I von der Seite der Wafer 6 aus zu der Relaisschaltungsplatte 5 über das Nadelteil 2 und die Druckschraubenfeder 3 übertragen. Das Signal wird dann zu einem in der Zeichnung nicht dargestellten Steuerungssystem über eine in der Zeichnung nicht dargestellte Schaltungsplatte, die mit der Relaisschaltungsplatte 5 verbunden ist, weitergeleitet, und ein gewünschter Test kann ausgeführt werden.
  • In dem Anfangszustand ist der Schaftteil 2c mit dem eng gewickelten Teil 3a in Kontakt und ein zuverlässiger Kontakt zwischen dem Schaftteil 2c und dem eng gewickelten Teil 3a kann zu der Zeit des Testens sichergestellt werden, wie es in 2 gezeigt ist. Das elektrische Signal 1 wird axial durch das elektrisch leitende Nadelteil 2 und dann zu dem eng gewickelten Teil 3a geleitet. Es dürfte ohne weiteres klar sein, dass das elektrische Signal axial durch den eng gewickelten Teil 3a der Druckschraubenfeder 3 hindurchgehen kann, statt auf einem spiralförmigen Pfad, so dass die Induktivität der elektrisch leitenden Kontakteinheit 1 effektiv minimiert werden kann.
  • In dieser elektrisch leitenden Kontakteinheit 1, wie sie in 3 gezeigt ist, ist die gesamte Oberfläche des elektrisch leitenden Nadelteils 2 mit einer Vergoldungsschicht 8 über einer Ni-Unterschicht 7a versehen, und der Nadelteil 2a ist darüber hinaus mit einer Iridiumschicht 9 über einer Ni-Unterschicht 7b auf der Vergoldungsschicht 8 versehen. Die Ni-Unterschicht 7a verbessert die Haftung der Vergoldungsschicht B. Die Iridiumschicht 9 kann entweder aus Iridium oder aus einer Iridiumlegierung bestehen.
  • Ein Beispiel der Strukturen der verschiedenen Schichten ist im Folgenden angegeben. Das Nadelteil 2 einschließlich des Nadelteils 2a, des Flanschteils 2b, des Schaftteils 2c und des Teils 2d vergrößerten Durchmessers, die alle in einer Koaxialanordnung sind, wird insgesamt mit Ni überzogen, um so die Ni-Unterschicht 7a zu bilden, und anschließend vergoldet, um die Vergoldungsschicht 8 zu bilden, die elektrisch gut leitfähig und verschleißfest ist.
  • Gemäß der Darstellung in 4 wird das elektrisch leitende Nadelteil 2, das mit der Vergoldungsschicht 8 versehen worden ist, durch eine Haltevorrichtung 10 an dem unteren Ende (benachbart zu dem Flanschteil 2b) des Nadelteils 2a gehalten. Eine Ni-Unterschicht 7b, die eine Dicke von 1 μm oder weniger hat, wird auf dem Teil des Nadelteils 2a gebildet, der von der Haltevorrichtung 10 nicht verdeckt wird, und der Nadelteil 2a, der noch durch die Haltevorrichtung 10 gehalten wird, wird von einem Ir-Target 11 aus beaufschlagt, so dass eine Bedampfung auf ihr von oben und von der Seite her erfolgen kann. Iridium (oder eine Legierung desselben), das beständig gegen Oxidieren, verschleißfest und elektrisch leitfähig ist, wird so auf die gesamte Oberfläche des Nadelteils 2a aufgedampft, um so eine Iridiumschicht 9 zu bilden, die eine Dicke von ungefähr 0,5 μm oder weniger hat. Der Nadelteil 2a wird durch die Haltevorrichtung 10 durch Festklemmen, wie es in 4 gezeigt ist, gehalten, kann aber auch durch Verhaken des Flanschteils 2b auf einer Haltevorrichtung gehalten werden, und die Orientierung des Nadelteils kann auch horizontal oder umgedreht sein, je nach Bedarf.
  • In der dargestellten Ausführungsform wurde zwar Iridium verwendet, die vorliegende Erfindung beschränkt sich jedoch nicht auf diese Auswahl des Materials, denn es gibt andere Materialien, mit denen ein ähnliches Ergebnis erzielt werden kann, wie z. B. Titannitrid (TiN), Rhodium (Rh) und Hafniumnitrid (HfN). Eine Titannitridschicht kann gebildet werden, indem einfach das Iridium-Target der vorgenannten Ausführungsform durch ein Titannitrid-Target ersetzt wird. Rhodium kann als eine Schicht einer Legierung aus Platin und Rhodium verwendet werden, die durch Zerstäuben einer Mischung aus Platin und Rhodium gebildet wird.
  • Hinsichtlich Titannitrid kann durch Zerstäuben sowohl von Titannitrid als auch von Gold oder Platin in einer Stickstoffumgebung eine Schicht einer Legierung aus Titannitrid und Gold oder Platin gebildet werden. Ebenso kann hinsichtlich Hafniumnitrid durch Zerstäuben sowohl von Hafniumnitrid als auch von Gold oder Platin in einer Stickstoffumgebung eine Schicht einer Legierung aus Hafniumnitrid und Gold oder Platin gebildet werden. Die Rhodium-, Titannitrid- und Haftniumnitridschichten, die anstelle der Iridiumschicht 9 verwendet werden können, können eine ähnliche Leistung erbringen, und die Spitze des Nadelteils 2 kann elektrisch leitend, beständig gegen Oxidieren und verschleißfest gemacht werden.
  • In dieser Anordnung ist es möglich, die Vorteile von Materialien wie Iridium, Titannitrid, Rhodium und Hafniumnitrid auszunutzen. Zu den Vorteilen gehören große Härte, Wärme- und Säurebeständigkeit und ein stabiler Kontaktwiderstand. Insbesondere die Verschleißfestigkeit und Dauerhaftigkeit der Spitze des Nadelteils 2a können verbessert werden, und eine Konduktanz, die auf einem äußerst stabilen mechanischen Kontakt basiert, kann gewährleistet werden (der Kontaktwiderstand kann stabil gemacht werden). Weil die Legierungsschicht oder die metallische Schicht durch galvanisches Überziehen oder durch Bedampfung gebildet werden kann, können die Vorteile der vorliegenden Erfindung erzielt werden, ohne dass die vorhandene Form des elektrisch leitenden Nadelteils modifiziert wird, und das verhindert einen Anstieg der Fertigungskosten.
  • Weil nur derjenige Teil, der aufgrund von Stößen und Druck verschleißen kann oder verformt werden kann mit dem Ziel einer größeren Härte bearbeitet werden muss (wie die Bildung einer Iridiumschicht in der vorhergehenden Ausführungsform), kann der verbleibende Teil des Nadelteils mit einem elektrisch gut leitenden Material wie einer Vergoldungsschicht überzogen werden. Zum Beispiel, weil der Teil größeren Durchmessers, der mit Presssitz in die Druckschraubenfeder eingepasst wird, mit einer Vergoldungsschicht 8 versehen ist, kann der Kontaktwiderstand zwischen dem mit Presssitz versehenen Teil der Druckschraubenfeder und dem Nadelteil minimiert werden. Selbst wenn ein Teil des elektrischen Signals I über den Presssitz aufweisenden Teil der Druckschraubenfeder 3 geht, kann deshalb der Einfluss von dem resultierenden Kontaktwiderstand her minimiert werden.
  • 2 zeigt den Weg, den das elektrische Signal I nimmt, und es ist zu erkennen, dass das elektrische Signal I durch den Kontaktteil zwischen dem Schaftteil 2c des Nadelteils 2 und dem eng gewickelten Teil 3a der Schraubenfeder 3 hindurchgeht. In diesem Fall geht das elektrische Signal durch das Nadelteil 2 hauptsächlich über die Vergoldungsschicht 8, und zwar dank des Hauteffektes. Das elektrische Signal kann durch die Iridiumschicht 9 an der Spitze des Nadelteils 2a geleitet werden, weil aber die Ver goldungsschicht 8 in der unteren Schicht des Nadelteils 2a gebildet ist, geht das elektrische Signal auch durch die Vergoldungsschicht 8. Auf diese Art und Weise wird, weil die Vergoldungsschicht 8 auf der gesamten Oberfläche des Nadelteils 2 gebildet ist, ein äußerst günstiges Ergebnis erzielt. Außerdem ist die Vergoldungsschicht 8 auf dem Schaftteil 2c vorteilhaft, wenn die Schraubenfeder 3 daran angelötet wird. Die Vergoldungsschicht 8 gewährleistet die Korrosionsfestigkeit des Nadelteils 2 und erlaubt, das Material des Nadelteils 2 relativ frei ohne Rücksicht auf die elektrische Leitfähigkeit oder Korrosionsfestigkeit desselben auszuwählen.
  • Die Ni-Unterschicht 7b wurde gebildet, bevor die Iridiumschicht 9 gebildet wird, weil Iridium beständig gegen Oxidieren und verschleißfest ist und elektrisch leitfähig ist, aber nicht direkt auf die Vergoldungsschicht 8 aufgebracht werden kann. Durch die Zwischenschaltung der Ni-Unterschicht 7 kann die Überzugsfestigkeit (der Widerstand gegen Abblättern) von Iridium beträchtlich verbessert werden. Das Material für die Unterschicht 7 beschränkt sich nicht auf Ni, sondern es können auch andere Materialien eingesetzt werden, solange diese den Widerstand des Iridiums gegen Abblättern verbessern.
  • Als die Iridiumschicht 9 auf der Oberfläche der Spitze des Nadelteils 2 gebildet wurde, war der Durchmesser der Spitze ungefähr 5 μm oder weniger, nachdem sie eine Million Mal auf eine Glasplatte aufgesetzt worden war und der Verschleiß der Iridiumschicht 9 relativ unbedeutsam war. Wenn das Nadelteil nur mit einer Vergoldungsschicht überzogen war, war der Durchmesser der Spitze ungefähr 20 μm oder mehr, nachdem er eine Million Mal auf eine Glasplatte aufgesetzt worden war und das darunter liegende Metall freigelegt worden war.
  • Die Spitze des Nadelteils 2a wurde mit einer angespitzten konischen Form in der dargestellten Ausführungsform versehen, aber die Form wird durch dieses Beispiel nicht beschränkt. Zum Beispiel kann die Spitze wie irgendeine derjenigen ausgebildet sein, die in den 5a bis 5c dargestellt sind. Diejenige, die in 5a dargestellt ist, hat eine konische Form mit einer abgerundeten Spitze. Diejenige, die in 5b dargestellt ist, ist wie eine Kombination aus einer Vielzahl von prismatischen Formen geformt. Diejenige, die in 5c dargestellt ist, ist mit einer stumpfen und ebenen Endoberfläche versehen. Die Form der Spitze kann zweckmäßig gemäß der Form des zu kontaktierenden Objekts geeignet ausgewählt werden. Beispielsweise ist diejenige, die in 5c dargestellt ist, für einen Kontakt mit einer Lötkugel geeignet.
  • Weiter, durch Orientieren der Bedampfungsrichtung, wie es durch einen Pfeil S in 5a gezeigt ist, kann die Iridiumschicht nur auf jeder der Stirnflächen 12a, 12b und 12c (der Spitze des Nadelteils) gebildet werden, die in die Bedampfungsrichtung weisen. In einem solchen Fall wird die Iridiumschicht nur auf derjenigen Oberfläche gebildet, die mit einem zu kontaktierenden Objekt in Kontakt zu bringen ist, und die Materialkosten können minimiert werden.
  • In der vorgenannten Ausführungsform hat die elektrisch leitende Kontakteinheit nur ein Ende, das beweglich ist. Die vorliegende Erfindung kann jedoch bei elektrisch leitenden Kontakteinheiten verwendet werden, die zwei bewegliche Enden haben, und bei denjenigen, bei denen ein elektrisch leitendes Nadelteil verwendet wird, das freitragend abgestützt ist. In einem solchen Fall genügt es, wenn wenigstens die Spitze (derjenige Teil, der mit dem zu kontaktierenden Objekt in Kontakt kommt) des Nadelteils integral mit einem Material versehen ist, das beständig gegen Oxidieren und verschleißfest ist und elektrisch leitfähig ist wie Iridium.
  • Gemäß der Darstellung in 6 kann eine zusätzliche Vergoldungsschicht 13 auf der Oberfläche der Iridiumschicht 9 gebildet sein. In dieser Anordnung sorgt die Iridiumschicht 9 für die verlangte Verschleißfestigkeit, und die Vergoldungsschicht 13 sorgt für die Korrosionsfestigkeit und den niedrigen elektrischen Widerstand, und es kann ein Nadelteil, das einen sogar stabileren Kontaktwiderstand hat, erzielt werden. Selbst wenn die Vergoldungsschicht 13 verschlissen oder verformt worden ist und die darunter gelegene Iridiumschicht 9 freigelegt worden ist, kann dank der Vergoldungsschicht 13, die um den freiliegenden Teil verbleibt, eine hohe elektrische Leitfähigkeit des Nadelteils 2 als Ganzem aufrechterhalten werden.
  • In den dargestellten Ausführungsformen wurde die Vergoldungsschicht 8 auf der gesamten Oberfläche des Nadelteils 2 gebildet, und die Iridiumschicht 9 wurde nur auf der Spitze des Nadelteils 2 über der Vergoldungsschicht 8 gebildet, aber die Vergoldungsschicht 8 kann in dem Teil, wo die Iridiumschicht 9 gebildet wird, weggelassen werden. Mit anderen Worten, die Vergoldungsschicht muss wenigstens in demjenigen Teil (wie dem Flanschteil 2b, dem Teil 2d größeren Durchmessers und dem Schaftteil 2c in dem Falle der dargestellten Ausführungsformen) vorgesehen werden, wo die Iridiumschicht 9 nicht gebildet wird.
  • 7 veranschaulicht ein solches Beispiel. Die in 7 dargestellte Ausführungsform gleicht der in 3 dargestellten, und die entsprechenden Teile derselben sind mit gleichen Bezugszahlen versehen, weshalb die Beschreibung dieser Teile nicht wieder holt zu werden braucht. Gemäß der Darstellung in der Zeichnung ist eine Ni-Unterschicht 7a über der gesamten Oberfläche des Nadelteils 2 vorgesehen, und eine Iridiumschicht 9 ist auf dem Nadelteil 2a gebildet. Derjenige Teil, wo die Iridiumschicht 9 nicht vorhanden ist (der Flanschteil 2b, der Teil 2d größeren Durchmessers und der Schaftteil 2c in dem Falle der dargestellten Ausführungsformen), ist mit einer Vergoldungsschicht 8 versehen. Die Reihenfolge des Bildens dieser beiden Schichten 8 und 9 kann frei ausgewählt werden, und es kann eine Maske verwendet werden, wenn jede Schicht gebildet wird. In dem Falle der in 7 dargestellten Ausführungsform geht das elektrische Signal zuerst durch die Iridiumschicht 9 und dann durch die Vergoldungsschicht B. Wenn das bei der Ausführungsform angewandt wird, die in 6 dargestellt ist, kann das elektrische Signal von der Vergoldungsschicht 13 aus zu der Vergoldungsschicht 8 überfragen werden, und die günstigen elektrischen Eigenschaften von Gold können sogar noch besser vorteilhaft ausgenutzt werden.
  • Die vorliegende Erfindung ist zwar anhand von bevorzugten Ausführungsformen derselben beschrieben worden, einem einschlägigen Fachmann ist jedoch klar, dass verschiedene Abwandlungen und Modifikationen möglich sind, ohne den Schutzbereich der vorliegenden Erfindung zu verlassen, der durch die beigefügten Ansprüche festgelegt wird.
  • GEWERBLICHE ANWENDBARKEIT
  • Die vorstehenden Ausführungsformen dürften klar zeigen, dass die Spitze des Nadelteils äußerst beständig gegen Oxidieren und äußerst verschleißfest gemacht werden kann und dass die Verschleißfestigkeit und Dauerhaftigkeit der elektrisch leitenden Kontakteinheit leicht verbessert werden können, ohne dass irgendein spezielles Material für das Nadelteil verwendet wird. Zum Beispiel selbst dann, wenn ein Material wie Iridium, das keine günstige elektrische Konduktanz hat, verwendet wird, kann der Widerstand des elektrischen Pfades zwischen dem Nadelteil und der Schraubenfeder minimiert werden, indem wenigstens der verbleibende Teil des Nadelteils mit einem Material überzogen wird, das eine gute elektrische Leitfähigkeit hat. Deshalb wird die Dauerhaftigkeit des Nadelteils verbessert, und die Betriebskosten können reduziert werden.
  • Insbesondere durch Bilden einer Vergoldungsschicht auf der gesamten Oberfläche des Nadelteils und durch zusätzliches Bilden einer Schicht, die aus Iridium, Titannitrid, Rhodium oder Hafniumnitrid an sich oder aus einer Legierung mit Gold oder Platin besteht, über einer Unterschicht zum Verhindern des Abblätterns, reduziert die Vergol dungsschicht, selbst wenn das Nadelteil aus einem üblicherweise verwendeten Material wie SK-Material besteht, den elektrischen Widerstand des elektrischen Pfades, der sich von der Spitze des Nadelteils zu der Schraubenfeder erstreckt, und die Unterschicht gestattet dem Material wie Iridium, auf der Vergoldungsschicht fest zu haften. Dadurch können dem Nadelteil die günstigen Eigenschaften des Materials wie Iridium gegeben werden. Die günstigen Eigenschaften beinhalten große Härte, Beständigkeit gegen Wärme und Säure und einen stabilen Kontaktwiderstand. Die Vergoldungsschicht sorgt auf stabile Art und Weise für eine gute elektrische Leitfähigkeit.
  • Durch Bilden einer Vergoldungsschicht auf der Schicht aus einem Material wie Iridium kann die Verschleißfestigkeit dank des Materials wie Iridium gesteigert werden, und ein niedriger elektrischer Widerstand kann dank der Vergoldungsschicht gleichzeitig gewährleistet werden. In einem solchen Fall hilft, selbst wenn die Vergoldungsschicht verschlissen oder deformiert ist und die darunter gelegene Schicht, die aus einem Material wie Iridium besteht, freigelegt ist, das Vorhandensein der Vergoldungsschicht benachbart zu einem solchen freiliegenden Teil, die elektrische Leitfähigkeit des Nadelteils als Ganzem auf einem hohen Wert zu halten.
  • Zusammenfassung
  • Bei der elektrisch leitenden Kontakteinheit nach der vorliegenden Erfindung wird eine Vergoldungsschicht auf der Oberfläche eines elektrisch leitenden Nadelteils (2) über eine Ni-Unterschicht (7a) gebildet und eine Schicht aus Iridium (Titannitrid, Rhodium oder Hafniumnitrid) wird auf der Vergoldungsschicht (8) des Nadelteils (2a) durch Aufdampfen über einer Ni-Unterschicht (7b) gebildet. Dadurch erhält der Spitzenteil eine verbesserte Oxidier- und Verschleißfestigkeit, ohne dass irgendein spezielles Material für das Nadelteil verwendet wird, und die Dauerhaftigkeit des Nadelteils wird verbessert, so dass die Betriebskosten minimiert werden können.

Claims (10)

  1. Elektrisch leitende Kontakteinheit mit einem elektrisch leitenden Nadelteil und einer Schraubenfeder, welche das Nadelteil elastisch in eine Richtung drängt, in welcher ein Spitzenteil des Nadelteils mit einem zu kontaktierenden Objekt in Kontakt gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, dass der Spitzenteil des Nadelteils integral mit elektrisch leitendem Material ausgebildet ist, das oxidier- und verschleißfest ist.
  2. Elektrisch leitfähige Kontakteinheit nach Anspruch 1, wobei wenigstens ein Teil des Nadelteils, der nicht integral mit dem elektrisch leitenden Material versehen ist, mit einem elektrisch gut leitfähigen Material galvanisch überzogen ist.
  3. Elektrisch leitende Kontakteinheit nach Anspruch 1, wobei das elektrisch leitende Material entweder aus Iridium, Titannitrid, Rhodium oder Hafniumnitrid an sich besteht oder eine Legierung davon mit Gold oder Platin ist.
  4. Elektrisch leitende Kontakteinheit nach Anspruch 3, wobei Iridium, Titannitrid, Rhodium, Hafniumnitrid oder eine Legierung von irgendeinem derselben mit Gold oder Platin auf einer Unterschicht zum Verhindern von Abblättern vorgesehen ist.
  5. Elektrisch leitende Kontakteinheit nach Anspruch 2, wobei das elektrisch leitende Material entweder aus Iridium, Titannitrid, Rhodium oder Hafniumnitrid an sich besteht oder eine Legierung davon mit Gold oder Platin ist.
  6. Elektrisch leitende Kontakteinheit nach Anspruch 5, wobei Iridium, Titannitrid, Rhodium, Hafniumnitrid oder eine Legierung von irgendeinem derselben mit Gold oder Platin auf einer Unterschicht zum Verhindern von Abblättern vorgesehen ist.
  7. Elektrisch leitende Kontakteinheit nach Anspruch 2, wobei das elektrisch gut leitfähige Material, das als galvanischer Überzug aufgebracht ist, aus Gold besteht.
  8. Elektrisch leitende Kontakteinheit nach Anspruch 7, wobei das elektrisch leitende Material entweder aus Iridium, Titannitrid, Rhodium oder Hafniumnitrid an sich besteht oder eine Legierung davon mit Gold oder Platin ist.
  9. Elektrisch leitende Kontakteinheit nach Anspruch 8, wobei die Vergoldung auf der gesamten Oberfläche des Nadelteils vorgesehen ist und wobei Iridium, Titannitrid, Rhodium oder Hafniumnitrid oder eine Legierung von irgendeinem derselben mit Gold oder Platin auf einer Unterschicht zum Verhindern von Abblättern vorgesehen ist.
  10. Elektrisch leitende Kontakteinheit nach Anspruch 9, wobei eine Vergoldung auf dem Iridium, Titannitrid, Rhodium, Hafniumnitrid oder einer Legierung von irgendeinem derselben mit Gold oder Platin gebildet ist.
DE10297011T 2001-07-02 2002-07-01 Elektrisch leitende Kontakteinheit Withdrawn DE10297011T5 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001-201262 2001-07-02
JP2001201262 2001-07-02
PCT/JP2002/006647 WO2003005042A1 (fr) 2001-07-02 2002-07-01 Contact conducteur

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10297011T5 true DE10297011T5 (de) 2004-07-22

Family

ID=19038261

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10297011T Withdrawn DE10297011T5 (de) 2001-07-02 2002-07-01 Elektrisch leitende Kontakteinheit

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7081767B2 (de)
JP (1) JPWO2003005042A1 (de)
KR (1) KR20040013010A (de)
CN (1) CN1285915C (de)
DE (1) DE10297011T5 (de)
TW (1) TW567316B (de)
WO (1) WO2003005042A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008004162A1 (de) * 2008-01-14 2009-07-23 Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh Anschlußkontakt, IC Testsockel und Verfahren

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003014779A (ja) 2001-07-02 2003-01-15 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子
US6927581B2 (en) * 2001-11-27 2005-08-09 Upek, Inc. Sensing element arrangement for a fingerprint sensor
FI116920B (fi) 2003-12-10 2006-03-31 Yokowo Seisakusho Kk Liitin
JPWO2006064546A1 (ja) * 2004-12-14 2008-06-12 株式会社アドバンテスト コンタクトピン、それを用いたプローブカード及び電子部品試験装置
JP2006339144A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Ngk Insulators Ltd プラズマ処理装置
SE529222C2 (sv) * 2005-09-26 2007-06-05 Thomas Bjoerling Sladdlös elektrisk anslutning
CN100504398C (zh) * 2005-12-22 2009-06-24 王志忠 安装在测试卡上的探针表面处理的方法
JP2008045916A (ja) * 2006-08-11 2008-02-28 Japan Electronic Materials Corp プローブの表面処理方法及びプローブ
US20080073091A1 (en) * 2006-08-28 2008-03-27 Steven James Lindsay Impact piston
US20080122470A1 (en) * 2006-11-27 2008-05-29 Wen-Yu Lu Probe installed to a probe card
US20100123476A1 (en) * 2007-04-27 2010-05-20 Nhk Spring Co., Ltd. Conductive contact
US7862391B2 (en) * 2007-09-18 2011-01-04 Delaware Capital Formation, Inc. Spring contact assembly
JP4900843B2 (ja) 2008-12-26 2012-03-21 山一電機株式会社 半導体装置用電気接続装置及びそれに使用されるコンタクト
JP4572303B1 (ja) * 2010-02-12 2010-11-04 株式会社ルス・コム 通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具
DE102010038362A1 (de) * 2010-07-23 2012-01-26 Robert Bosch Gmbh Kontaktelement
JP6042761B2 (ja) 2013-03-28 2016-12-14 東京エレクトロン株式会社 プローブ装置
KR101520611B1 (ko) 2013-04-30 2015-05-21 동부대우전자 주식회사 조리장치
TWI522624B (zh) * 2014-06-06 2016-02-21 旺矽科技股份有限公司 探針及探針製造方法
SG11201704433TA (en) * 2014-12-30 2017-07-28 Technoprobe Spa Contact probe for testing head
TWI704352B (zh) * 2015-03-13 2020-09-11 義大利商探針科技公司 測試頭之接觸探針
JP6559999B2 (ja) * 2015-03-31 2019-08-14 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
WO2016158567A1 (ja) * 2015-03-31 2016-10-06 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット及びその製造方法
JP2016217919A (ja) * 2015-05-21 2016-12-22 株式会社ミウラ プローブ
CN105244655B (zh) * 2015-11-02 2018-11-23 珠海格力电器股份有限公司 导电件、显示组件、空气净化器及显示组件的制造方法
JP6832661B2 (ja) * 2016-09-28 2021-02-24 株式会社日本マイクロニクス プローブカード及び接触検査装置
JP6647451B2 (ja) * 2017-03-30 2020-02-14 日本発條株式会社 コンタクトプローブおよびプローブユニット
KR101962707B1 (ko) * 2017-06-28 2019-03-27 주식회사 아이에스시 포고핀용 탐침부재, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 포고핀
KR101962702B1 (ko) * 2017-06-28 2019-03-27 주식회사 아이에스시 포고핀용 탐침부재, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 포고핀
JP7024275B2 (ja) * 2017-09-19 2022-02-24 日本電産リード株式会社 接触端子、検査治具、及び検査装置
US10505312B2 (en) * 2018-02-07 2019-12-10 Smiths Interconnect Americas, Inc. Hot mate contact system
CN108418017A (zh) * 2018-04-19 2018-08-17 北京小米移动软件有限公司 插接端子及电子设备、插接引脚的加工工艺
TWI748171B (zh) * 2018-04-27 2021-12-01 日商日本電產理德股份有限公司 筒狀體及其製造方法
CN109004405A (zh) * 2018-07-27 2018-12-14 北京小米移动软件有限公司 插接端子、插接引脚加工工艺及电子设备
US12078657B2 (en) 2019-12-31 2024-09-03 Microfabrica Inc. Compliant pin probes with extension springs, methods for making, and methods for using
US20220082588A1 (en) * 2019-01-29 2022-03-17 Yokowo Co., Ltd. Plunger and contact probe
JP7300677B2 (ja) * 2019-12-11 2023-06-30 石福金属興業株式会社 Rh基合金からなるプローブピン用材料およびプローブピン
KR102216143B1 (ko) * 2019-12-24 2021-02-16 주식회사 아이에스시 검사용 탐침장치
CN111525314B (zh) * 2020-05-05 2023-06-20 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 导电端子
TWI777667B (zh) * 2021-07-13 2022-09-11 洛克半導體材料股份有限公司 探針結構

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01287484A (ja) * 1988-05-16 1989-11-20 Hitachi Ltd プローブヘッド及びその製造方法とそれを用いた半導体lsi検査装置
JPH04351968A (ja) * 1991-05-29 1992-12-07 Vacuum Metallurgical Co Ltd プローブ
JPH0645268A (ja) 1992-07-24 1994-02-18 Nippon Steel Corp 熱処理炉
US5521519A (en) * 1992-07-30 1996-05-28 International Business Machines Corporation Spring probe with piloted and headed contact and method of tip formation
JP2596903Y2 (ja) * 1992-11-30 1999-06-28 日本ヒューレット・パッカード株式会社 ピン接続構造
JPH06249878A (ja) * 1993-03-01 1994-09-09 Kobe Steel Ltd プローブユニット及びその製造方法
EP0685742B1 (de) 1994-06-01 2001-01-03 International Business Machines Corporation Schnelles Koaxialkontakt- und Signalübertragungselement
US6499216B1 (en) * 1994-07-07 2002-12-31 Tessera, Inc. Methods and structures for electronic probing arrays
EP0742682B1 (de) 1995-05-12 2005-02-23 STMicroelectronics, Inc. IC-Packungsfassungssystem mit niedrigem Profil
JPH09119945A (ja) * 1995-10-24 1997-05-06 S I I Micro Parts:Kk コンタクトプローブピン用接触端子
WO1997039361A1 (fr) 1996-04-12 1997-10-23 Nhk Spring Co., Ltd. Systeme unitaire de contact conducteur
JPH103891A (ja) 1996-06-12 1998-01-06 Sakurai Yumiko ハロゲン電球の製造方法と該方法で製造された多層膜コーティング型ハロゲン電球
JP3606685B2 (ja) * 1996-07-19 2005-01-05 電気化学工業株式会社 プローブピン及びそれを有するコンタクター
JPH11160404A (ja) * 1997-11-26 1999-06-18 Sony Corp 充放電装置のコンタクトプローブ
JP3458684B2 (ja) * 1997-11-28 2003-10-20 三菱マテリアル株式会社 コンタクトプローブ
US6246245B1 (en) * 1998-02-23 2001-06-12 Micron Technology, Inc. Probe card, test method and test system for semiconductor wafers
JP2001035578A (ja) * 1999-05-14 2001-02-09 Mitsubishi Electric Corp 電子回路装置のテスト用ソケット及びその製造方法
JP2002131334A (ja) * 2000-10-24 2002-05-09 Nec Yamaguchi Ltd プローブ針、プローブカード、及びプローブカードの作製方法
JP2003014779A (ja) 2001-07-02 2003-01-15 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008004162A1 (de) * 2008-01-14 2009-07-23 Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh Anschlußkontakt, IC Testsockel und Verfahren

Also Published As

Publication number Publication date
US7081767B2 (en) 2006-07-25
TW567316B (en) 2003-12-21
US20040239355A1 (en) 2004-12-02
WO2003005042A1 (fr) 2003-01-16
KR20040013010A (ko) 2004-02-11
CN1285915C (zh) 2006-11-22
CN1529818A (zh) 2004-09-15
JPWO2003005042A1 (ja) 2004-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10297011T5 (de) Elektrisch leitende Kontakteinheit
DE10297010B4 (de) Elektrisch leitende Kontakteinheit
DE102007046042B4 (de) Elektrische Prüfsonde und elektrische Prüfsondenanordnung
DE60126936T2 (de) Mikrokontaktprüfnadel und elektrischer messfühler
DE60035667T2 (de) Kontaktor mit Kontaktelement auf der LSI-Schaltungsseite, Kontaktelement auf der Testplattinenseite zum Testen von Halbleitergeräten und Herstellungsverfahren dafür
DE10015831C2 (de) Temperatursensor, Verfahren zur Herstellung desselben und Verfahren zur Befestigung desselben auf einer Schaltungsplatine
DE60127837T2 (de) Leitender kontakt
DE112017002557B4 (de) Presspassanschluss-Verbindungsstruktur
DE102014117410B4 (de) Elektrisches Kontaktelement, Einpressstift, Buchse und Leadframe
DE3910750C3 (de) Anschlußvorrichtung für ein elektronisches Bauelement
DE3533227C2 (de)
DE202007002436U1 (de) Lötspitze
DE102006032074B3 (de) Bauelement und zugehöriger Anschlussdraht
DE202021001551U1 (de) Kontaktelement mit wenigstens einer darauf angebrachten leitfähigen Schicht
DE102005014106B4 (de) Temperatursensor und Verfahren zur Herstellung
CH676885A5 (en) Contact element for test adaptor
DE3533218C2 (de)
AT401204B (de) Federkontaktstift
EP3655977A1 (de) Elektrisches bauelement mit lötverbindung
DE102021122491B4 (de) Strommesswiderstand
EP1247107B1 (de) Testvorrichtung für ein halbleiterbauelement
DE102020126546A1 (de) Ein teststift mit einer stiftspitze mit seitlich angeordneten stiftspitzenabschnitten
DE2657016A1 (de) Federnder kontaktbaustein fuer mess- und pruefzwecke
DE102014000247B4 (de) Kontaktelement, Sockel und Verwendung
DE3426295A1 (de) Kontaktstift fuer eine vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law

Ref document number: 10297011

Country of ref document: DE

Date of ref document: 20040722

Kind code of ref document: P

8125 Change of the main classification

Ipc: G01R 3128

8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: ACKMANN MENGES PATENT- UND RECHTSANWAELTE, 80469 M

8139 Disposal/non-payment of the annual fee