JP6832661B2 - プローブカード及び接触検査装置 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 257
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 94
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 47
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 7
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 claims description 5
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 4
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 3
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 claims description 3
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 17
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 230000036316 preload Effects 0.000 description 7
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 3
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 3
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910000923 precious metal alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07371—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
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Description
従来の上記プローブは、検査実行時に、前記被覆部材が前記縁部から当該プローブの基端部に向かう力を繰り返し受ける。
前記密着力は、被覆部材の被設の仕方や材料の種類によってばらつき一定しない。また、検査の実行により前記縁部から前記プローブの基端部に向かう力を繰り返し受けるため、前記密着力は経時的に劣化する傾向にある。
特に、被覆部材の前記縁部との接触部位は、検査に伴う繰り返しの前記力を直接受けるので、損傷する場合がある。この損傷が生じると当該プローブの基端部が電極板の端子に安定して確実に接触する状態を維持できなくなる虞がある、
また、前記密着力のばらつきによって該密着力が弱い場合には、被覆部材が前記力を繰り返し受けることで、その位置が当該プローブの基端部側に位置ずれする場合がある。その位置ずれがあると前記中央部の湾曲変形によって得られる弾性力の大きさが変わってしまう。そのため、この位置ずれが生じると、当該プローブの基端部が電極板の端子に安定して確実に接触する状態を維持できなくなる虞がある。
ここで、「拡径部」とは、プローブ基体の被覆部材で被覆されている部分の外径より大径である構成部分という意味で使われている。該拡径部は被覆部材の前記他端の側の終端部位と接して設けられていることが好ましいが、発明の効果が実質的に得られる範囲で少し離れていてもよい。
この拡径部の存在によって、当該プローブは、検査装置に装着された状態において、被覆部材の前記一端の側の終端部位は前記ベース部との接触によって拘束(ベース部との接触によって移動が規制)されていると共に、該被覆部材の他端の側の終端部位も当該拡径部によって拘束(移動が規制)されている状態になる。
この両側拘束構造によって、検査実行時に、当該被覆部材が前記ベース部から受ける当該プローブの他端側に向かう力に抗して当該被覆部材をその位置に保持するのは、当該被覆部材とプローブ基体の表面との密着力だけでなく、当該拡径部のストッパーとしての拘束力が加わる。
また、前記密着力のばらつきによって該密着力が弱い場合においても、当該拡径部の拘束力によって、当該被覆部材が前記力を繰り返し受けても、その位置が当該プローブの基端部側に位置ずれする虞を低減することができる。これにより、その位置ずれがあると前記中央部の湾曲変形によって得られる弾性力の大きさが変わってしまうが、そのようなことの発生を抑制することができる。
また、前記両側拘束構造によって、プローブ基体に被設された筒状の被覆部材は、長手方向への圧縮力に対する変形抵抗が増し、この点からも、上記効果が得られる。
以上説明したように本態様によれば、当該プローブの基端部が当該接触検査装置の電気的な接点に安定して接触する状態を維持することができるようになる。
尚、以下の説明では、最初に図1に基づいて本発明の実施形態1に係る回路基等の接触検査装置の全体構成の概要について説明する。次に、図2に基づいて上記接触検査装置に設けられる本発明の実施形態1に係るプローブカードの構成について説明する。続いて、図3から図5に基づいて上記プローブカードの構成部材となる本発明の実施形態1に係るプローブの具体的構成と作用について説明し、更に、上記プローブを使用したプローブカードの組立て方法と上記接触検査装置を使用した回路基板等に対する接触検査方法について説明する。
次に、図6に基づいて本発明の実施形態2に係るプローブと当該プローブを使用したプローブカードの構成と作用について説明し、最後に上記二つの実施形態と部分的構成を異にする本発明の他に実施形態について言及する。
(1)接触検査装置の全体構成の概要(図1参照)
接触検査装置1は、バネ性を有する導電性のプローブ3を有するプローブカード11を備えた装置であり、該プローブ3を被検査体7の被検査部位に対して接触させた状態で前記バネ性を利用して適切な押圧力で押圧することにより電気的な接続状態を確立して接触検査が行われる。具体的には、この状態でプローブ3を通電状態にして被検査体7の各検査部位の電流値や電圧差等の電気的特性を計測したり、被検査体7全体の動作試験を行って、当該被検査体7の良否を判定する目的で接触検査装置1は使用される。
具体的には、本実施形態では接触検査装置1Aは、前述した被検査体7が載置され接触検査位置となる載置部9と、バネ性を有する後述する本実施形態に係るプローブ3Aを備える本実施形態に係るプローブカード11Aと、前記接触検査位置にセットされた被検査体7に対して後述するプローブカード11Aを相対的に接近離間方向となる垂直方向Zに移動させる移動部27と、被検査体7に後述するプローブ3を接触させた状態で検査を実行する検査実行部29と、移動部27と検査実行部29の各種動作を制御する制御部25と、を備えることによって基本的に構成されている。
図2に表したように、プローブカード11は、バネ性を有する複数本のプローブ3と、これら複数本のプローブ3を保持するガイド部材13と、を有するプローブヘッド15を主要な構成部材として備えている。また、該プローブカード11は、プローブヘッド15と分割可能に構成され、プローブ3を被検査体7側に向かって押し付けた状態で接触する電気的な接点16を有する接点部材(STランド)17を備えている。
該接点部材17は、多層配線用の中継基板21の入力端にプローブ3の数に対応して複数個設けられている。多層配線用の中継基板21は、スペーストランスフォーマー(ST)やMLO(Multi-Layer Organic)又はMLC(Multi-Layer
Ceramic)等によって構成される。
尚、中継基板21の出力端には、一例としてセラミックス基板と配線基板とが積層された多層構造の電子基板によって構成されるメイン基板19が補強板23によって補強された状態で設けられている。
本実施形態に係るプローブ3Aは、後述するように一端4aが検査時に被検査体7に接する部分となり、他端4bが接点部材17の接点16に接するプローブ基体4と、該プローブ基体4の一端4aと他端4bとの間の位置に被設される被覆部材5とを備えている。そして、ガイド部材13の一部が被覆部材5の一端4a側の終端部位5aに押し付けられるベース部37を成すように構成されている。
また、図3に表したように、本実施形態では、一端側ガイド部材31の貫通孔14aの内径d1は、プローブ基体4の外径D1よりも大きく、被覆部材5が有る部分のプローブ3Aの外径D2よりも小さくなるように形成されている。また、他端側ガイド部材35の貫通孔14bの内径d2は、一端側ガイド部材31の貫通孔14aの内径d1よりも大きく、被覆部材5の部分のプローブ3Aの外径D2よりも大きくなるように形成されている。
図4に表したように、このように構成されるガイド部材13によって保持されるプローブ3Aには、接点部材17とプローブ基体4の他端4bとの接触状態を安定させるために予め所定移動量Tの圧接力Fにより押し付けるプリロードが実行されている。このプリロードによって接点部材17は下方に押し下げられると共に、他端側ガイド部材35は水平方向Xに所定ストロークSだけ移動され、その状態で該他端側ガイド部材35の位置が図示しない固定機構によって固定されている。これにより、一端側ガイド部材31と他端側ガイド部材35の各貫通孔14a、14bは、互いに軸心がずれて位置するようになる。この軸心のずれによってプローブ3Aにバネ性を持たせる図示のような湾曲変形状態が実現されている。
本実施形態に係るプローブ3Aは、一端4aが検査時にセットされる被検査体7に接する部分となり、他端4bが接点部材17の接点16に接するプローブ基体4と、該プローブ基体4の一端4aと他端4bとの間の位置に被設されている被覆部材5と、を前述したように備えている。
図4に表したように、当該プローブ3Aは、前述のように被覆部材5の一端4a側の終端部位5aが、一端側ガイド部材31の貫通孔14a周辺の上縁をベース部37として、前記プリロード構造に対応して該ベース部37に対して押し付けられて湾曲変形した状態で装着される。この装着状態において、前記プリロードによる圧接力Fの反力によって、プローブ基体4の他端4bが接点部材17の接点16に押し付けられるように構成されている。
そして、プローブ基体4の他端4b側であって被覆部材5から露出する露出部分41には、プローブ3Aの構成部材である拡径部6が設けられている。
図3に表したように、拡径部6は、本実施形態においては、露出部分41の表面に設けられるニッケルメッキ層42と該ニッケルメッキ層42上に設けられる金メッキ層43とによって構成されている。尚、ニッケルメッキ層42の上に設けられる表面層は、金メッキ層43に限定されず、パラジウム、ロジウム、白金、イリジウム、ルテニウム、オスミウムの各貴金属の内の少なくとも一以上の貴金属のメッキ層であってもよい。又は前記貴金属系合金のメッキ層で構成してもよい。ここで、前記貴金属系合金としては、前記貴金属を含むことを前提として、当該拡径部6の電気的な接点としての電気的特性の安定性が満たされる範囲で適宜の成分を含む合金を用いることができる。
これにより、プローブ基体を成す銅などの素材と金メッキ層43との間にニッケルメッキ層42が介在するので、当該拡径部6の電気的な接点としての電気的特性の安定性を高めることができる。
また、拡径部6の外径D3は、被覆部材5で被われている部分のプローブ基体4の外径D1より大きく、被覆部材5の部分のプローブ3Aの外径D2よりも小さな範囲に設定されている。尚、拡径部6の外径D3は、被覆部材5で被われている部分のプローブ基体4の外径D1より大きく形成されて前述の両面拘束構造の効果が得られればよく、被覆部材5の部分のプローブ3Aの外径D2よりも大きくてもよい。
このように構成される本実施形態に係るプローブ3Aのベース部37の前記上縁から他端4b側の先端(接点部材17の接点16と接触する部分)までの距離Hは、図3に表す装着前の状態で最も長い距離H1となる。図4に表す装着後の状態では前記プリロード分の圧接に基づく移動量Tの分だけ短い距離H2になる。
図5に表す検査実行時は、図4の状態から更にプローブ3Aに押し付け力が加わることで、その移動量Uの分だけ更に短くなり距離H3になる。
次に、前述した本実施形態に係るプローブ3Aを使用した本実施形態に係るプローブカード11Aの組立て方法の一例について説明する。
最初に図3に表すように、一端側ガイド部材31の貫通孔14aと、他端側ガイド部材35の貫通孔14bの軸心を一致させた状態にして、本実施形態に係るプローブ3Aをガイド部材13に対して装着する。この状態ではプローブ3Aは直線状態であり、該プローブ3Aの一端4a側における被覆部材5の終端部位5aは、一端側ガイド部材31の貫通孔14a周辺の上縁、即ちベース部37に接してその位置が規定される。プローブ基体4の一端4a側の露出部分39は、一端側ガイド部材31の貫通孔14aに挿通されて下方に延びている。
該プローブ3Aの他端4b側は、被覆部材5の他端4b側の部分が他端側ガイド部材35の貫通孔14bを挿通した状態で上方に延びている。
この際、前記プリロードの実行により、圧接力Fで所定の移動量Tだけ該接点部材17を下方に押し下げて図4に表す状態にする。即ち、圧接力Fをプローブ3Aに作用させると共に、他端側ガイド部材35を水平方向Xに所定のストロークSだけ移動させてその位置を固定する。これにより、図4に表すように、プローブ基体4と被覆部材5がS字状に湾曲変形してプローブ3Aにバネ性が付与される。
そして、当該プリロードにより湾曲変形したプローブ基体4と被覆部材5が元の直線状態に戻ろうとする反力によって、プローブ基体4の他端4bと接点部材17の接点16との間の接触圧が増大して、両者の接触状態の安定性が維持される。
次に、前述のように組み立てられ、プラットフォーム18に取り付けられたプローブカード11Aを備えた本実施形態に係る接触検査装置1Aを使用することによって実行される接触検査方法について説明する。
制御部25により移動部27を移動させて前記プローブカード11Aを更に被検査体7側に所定の移動量Uだけ移動させる。これにより、図5に表したように、プローブ基体4と被覆部材5の湾曲変形状態が更に大きくなってプローブ3Aのバネ性が増大し、前記一端4a側の接点の被検査体への所望の押し付け力による接触を実現する。
この拡径部6の存在によって、当該プローブ3Aは、接触検査装置1に装着された状態において、被覆部材5の一端4aの側の終端部位5aはベース部37との接触によって拘束、即ちベース部37との接触によって被検査体7側への移動が規制されていると共に、該被覆部材5の他端4bの側の終端部位5bも拡径部6によって拘束されている状態になる。
この両側拘束構造によって、検査実行時に、当該被覆部材5がベース部37から受ける当該プローブ3Aの他端4b側に向かう力に抗して当該被覆部材5をその位置に保持するのは、当該被覆部材5とプローブ基体4の表面との密着力だけでなく、当該拡径部6のストッパーとしての拘束力が加わる。
また、前記密着力のばらつきによって該密着力が弱い場合においても、当該拡径部6の拘束力によって、被覆部材5が前記力を繰り返し受けても、その位置が当該プローブ3Aの基端部側(他端4b側)に位置ずれする虞を低減することができる。これにより、その位置ずれがあると当該プローブ3Aの中央部の湾曲変形によって得られる弾性力の大きさが変わってしまうが、そのようなことの発生を抑制することができる。
また、前記両側拘束構造によって、プローブ基体4に被設された筒状の被覆部材5は、長手方向への圧縮力に対する変形抵抗が増し、この点からも、上記効果が得られる。
以上説明したように本実施形態によれば、当該プローブ3Aの基端部(他端4b)が当該接触検査装置1の電気的な接点16に安定して接触する状態を維持することができる。
次に、本発明の実施形態2に係るプローブ3Bと該プローブ3Bを使用したプローブカード11Bの構成と作用について説明する。
本実施形態に係るプローブ3Bとプローブカード11Bは、ガイド部材13と被覆部材5Bの構成を一部変更されているが、他の構成については前述した実施形態1に係るプローブ3Aとプローブカード11Aと基本的に同様の構成を有している。従って、ここでは実施形態1と同様の構成については説明を省略し、実施形態1と相違するガイド部材13と被覆部材5Bの構成とこれに伴う作用を中心に説明する。
中間ガイド部材33は前述した一端側ガイド部材31と同様の固定式のガイド部材であり、一端側ガイド部材31の貫通孔14aに対応する位置に該貫通孔14aの内径d1と同様の内径d3を有する貫通孔14cが同じ数、軸心を一致させた状態で複数設けられている。
具体的には、被覆部材5Bの一端4a側の終端部位5aの位置が実施形態1よりも上方に引き上げられており、中間ガイド部材33の貫通孔14c周辺の上縁に当接する位置に設定されている。そして、本実施形態では当該中間ガイド部材33の前記上縁がベース部37になっている。
一方、本実施形態では、上記ストッパーとしての機能は中間ガイド部材33が有している。プローブ基体4と被覆部材5Bは、前述した接点部材17と本実施形態で新たに設けた中間ガイド部材33との間で圧縮力を受けてそれぞれS字状に湾曲変形するように構成されている。従って、被覆部材5Bの一端4a側の終端部位5aから被検査体7にプローブ基体4の一端4aが接触するまでの露出部分39の長さが実施形態1のプローブ3Aの露出部分39の長さよりも長くなっている。一方、プローブ3Bのベース部37と接点部材17の接点16との間の距離Hは、実施形態1よりも短い距離H4になっている。
また、本実施形態では、プローブ基体4と被覆部材5Bの湾曲変形する垂直方向Zの範囲が狭くなった分、当該湾曲変形量とプローブ3Bの両端にかかる圧力が実施形態1のものと異なってくるから、これらの差異を利用してプローブ3Bの屈曲性と圧力をコントロールすることが可能になる。
本発明に係るプローブ3、プローブカード11及び接触検査装置1は、以上述べたような構成を有することを基本とするものであるが、本願発明の要旨を逸脱しない範囲内の部分的構成の変更や省略等を行うことも勿論可能である。
また、前記拡径部6の下面と被覆部材5の他端4b側の終端部位5bとの接触状態は、図5に表す検査時に行う圧接時の状態で少なくとも形成されていればよく、図3に表すプローブ3の装着前の状態では両者の間に若干の隙間が存在していてもよい。
5…被覆部材、5a…(一端側の)終端部位、5b…(他端側の)終端部位
6…拡径部、7…被検査体、9…載置部、11…プローブカード、13…ガイド部材
14…貫通孔、15…プローブヘッド、16…接点、17…接点部材(STランド)
18…プラットフォーム、19…メイン基板、21…中継基板、23…補強板
25…制御部、27…移動部、29…検査実行部、31…一端側ガイド部材
33…中間ガイド部材、35…他端側ガイド部材、37…ベース部、39…露出部分
41…露出部分、Z…垂直方向、X…水平方向、S…ストローク、T…移動量
F…圧接力、H(H1、H2、H3)…距離、d…内径、D…外径、U…移動量
Claims (7)
- 接触検査装置の構成部材となるプローブカードであって、
前記プローブカードは、
接触検査装置に装着され、被検査体に押し付けられて使用される接触検査用のプローブと、検査実行時の前記プローブの挙動をガイドする貫通孔を有し前記プローブを前記貫通孔に挿通した状態で保持するガイド部材と、を備えるプローブヘッドと、
前記プローブヘッドと分割可能に構成され、前記プローブを被検査体側に向かって押し付けた状態で接触する電気的な接点を有する接点部材と、を備え、
前記プローブは、
一端が検査時にセットされる前記被検査体に接する部分となり、他端が前記接触検査装置の電気的な接点に接するプローブ基体と、
前記プローブ基体の前記一端と他端の間の位置に被設されている被覆部材と、を備え、
当該プローブは、
前記被覆部材の前記一端の側の終端部位が当該接触検査装置の備えるベース部に押し付けられて湾曲変形した状態で装着されており、
前記押し付けの反力として前記プローブ基体の他端が前記接点に押し付けられ、
前記プローブ基体の前記他端の側であって前記被覆部材から露出する部位に拡径部が設けられ、
前記ガイド部材の一部は前記被覆部材の前記一端の側の終端部位が押し付けられる前記ベース部を成している、
ことを特徴とするプローブカード。 - 請求項1に記載のプローブカードにおいて、
前記拡径部は前記プローブ基体の前記他端にメッキにより固着したものである、
ことを特徴とするプローブカード。 - 請求項2に記載のプローブカードにおいて、
前記拡径部の材料は導電性材料であり、
前記プローブ基体は前記拡径部が前記接点に接する、
ことを特徴とするプローブカード。 - 請求項1から3のいずれか一項に記載のプローブカードにおいて、
前記プローブ基体の材料は銅、ロジウム、銅合金、又はパラジウム合金であり、
前記拡径部は前記プローブ基体の表面に設けられたニッケルメッキ層と該ニッケルメッキ層の上に設けられた金、パラジウム、ロジウム、白金、イリジウム、ルテニウム、オスミウムの各貴金属の内の少なくとも一以上の貴金属のメッキ層、又は前記貴金属系合金のメッキ層から成る、
ことを特徴とするプローブカード。 - 請求項1から4のいずれか一項に記載のプローブカードにおいて、
前記被覆部材の材料は電気的絶縁性材料である、
ことを特徴とするプローブカード。 - 請求項1〜5のいずれか一項に記載のプローブカードにおいて、
前記ガイド部材は、
前記プローブ基体の前記一端側が挿通される貫通孔を備える一端側ガイド部材と、
前記プローブ基体の前記他端側が挿通される貫通孔を備える他端側ガイド部材と、を備え、
前記一端側ガイド部材と他端側ガイド部材の各貫通孔は互いに軸心がずれて位置し、この軸心のずれによって前記湾曲変形が実現されている、
ことを特徴とするプローブカード。 - 請求項1〜6のいずれか一項に記載されているプローブカードと、
接触検査位置にセットされた被検査体に対して前記プローブカードを相対的に移動させる移動部と、
前記被検査体に前記プローブを接触させた状態で検査を実行する検査実行部と、
を備えることを特徴とする接触検査装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016189817A JP6832661B2 (ja) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | プローブカード及び接触検査装置 |
TW106132748A TWI668448B (zh) | 2016-09-28 | 2017-09-25 | 探針、探針卡及接觸檢查裝置 |
US15/717,254 US10571488B2 (en) | 2016-09-28 | 2017-09-27 | Probe for a contact inspection device |
CN201710896642.8A CN107870255B (zh) | 2016-09-28 | 2017-09-28 | 探针、探针卡和接触检查装置 |
EP17193707.1A EP3301458B1 (en) | 2016-09-28 | 2017-09-28 | Probe, probe card and contact inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016189817A JP6832661B2 (ja) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | プローブカード及び接触検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018054427A JP2018054427A (ja) | 2018-04-05 |
JP6832661B2 true JP6832661B2 (ja) | 2021-02-24 |
Family
ID=60001702
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016189817A Active JP6832661B2 (ja) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | プローブカード及び接触検査装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10571488B2 (ja) |
EP (1) | EP3301458B1 (ja) |
JP (1) | JP6832661B2 (ja) |
CN (1) | CN107870255B (ja) |
TW (1) | TWI668448B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017209510A1 (de) * | 2017-06-06 | 2018-12-06 | Feinmetall Gmbh | Kontaktelementsystem |
TWI638166B (zh) * | 2018-01-24 | 2018-10-11 | 中華精測科技股份有限公司 | 探針卡裝置及矩形探針 |
TWI638168B (zh) * | 2018-04-03 | 2018-10-11 | 中華精測科技股份有限公司 | 探針卡裝置及探針座 |
CN110346616B (zh) * | 2018-04-03 | 2021-06-15 | 中华精测科技股份有限公司 | 探针卡装置及探针座 |
JP2021076486A (ja) * | 2019-11-11 | 2021-05-20 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
KR20210121553A (ko) * | 2020-03-30 | 2021-10-08 | (주)포인트엔지니어링 | 프로브 헤드 및 이를 포함하는 프로브 카드 |
JP7473812B2 (ja) | 2020-09-09 | 2024-04-24 | ダイトロン株式会社 | 検査装置 |
TWI751940B (zh) * | 2021-04-14 | 2022-01-01 | 中華精測科技股份有限公司 | 探針卡裝置及類彈簧探針 |
KR102285752B1 (ko) * | 2021-06-30 | 2021-08-04 | 윌테크놀러지(주) | 스크럽 제어가 가능한 수직형 프로브 카드용 멀티 니들 |
CN115684677A (zh) * | 2021-07-29 | 2023-02-03 | 迪科特测试科技(苏州)有限公司 | 探针及探针卡装置 |
TWI807782B (zh) * | 2022-04-18 | 2023-07-01 | 創意電子股份有限公司 | 探針卡裝置 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4965341A (ja) * | 1972-08-24 | 1974-06-25 | ||
CH661129A5 (de) * | 1982-10-21 | 1987-06-30 | Feinmetall Gmbh | Kontaktiervorrichtung. |
JPH03209173A (ja) * | 1990-01-12 | 1991-09-12 | Organ Needle Co Ltd | コンタクトプローブ |
US5532613A (en) * | 1993-04-16 | 1996-07-02 | Tokyo Electron Kabushiki Kaisha | Probe needle |
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TW392074B (en) * | 1997-11-05 | 2000-06-01 | Feinmetall Gmbh | Test head for microstructures with interface |
EP0915344B1 (de) * | 1997-11-05 | 2004-02-25 | Feinmetall GmbH | Prüfkopf für Mikrostrukturen mit Schnittstelle |
JP2001356134A (ja) * | 2000-04-13 | 2001-12-26 | Innotech Corp | プローブカード装置およびそれに用いられるプローブ |
DE10297011T5 (de) * | 2001-07-02 | 2004-07-22 | NHK Spring Co., Ltd., Yokohama | Elektrisch leitende Kontakteinheit |
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JP4965341B2 (ja) * | 2007-05-31 | 2012-07-04 | 日置電機株式会社 | プローブユニットおよび回路基板検査装置 |
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EP2110673A1 (en) * | 2008-04-17 | 2009-10-21 | Technoprobe S.p.A | Testing head having vertical probes provided with stopping means to avoid their upward and downward escape from respective guide holes |
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TWI542889B (zh) * | 2011-06-03 | 2016-07-21 | Hioki Electric Works | A detection unit, a circuit board detection device, and a detection unit manufacturing method |
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JP6371501B2 (ja) * | 2013-07-25 | 2018-08-08 | 東京特殊電線株式会社 | プローブユニット |
JP2016099301A (ja) * | 2014-11-26 | 2016-05-30 | セイコーエプソン株式会社 | 中継基板及びその製造方法 |
CN105388336B (zh) * | 2015-10-16 | 2018-05-08 | 昆山龙腾光电有限公司 | 示波器探头辅助测试装置 |
-
2016
- 2016-09-28 JP JP2016189817A patent/JP6832661B2/ja active Active
-
2017
- 2017-09-25 TW TW106132748A patent/TWI668448B/zh active
- 2017-09-27 US US15/717,254 patent/US10571488B2/en active Active
- 2017-09-28 CN CN201710896642.8A patent/CN107870255B/zh active Active
- 2017-09-28 EP EP17193707.1A patent/EP3301458B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107870255A (zh) | 2018-04-03 |
EP3301458A1 (en) | 2018-04-04 |
CN107870255B (zh) | 2020-08-18 |
TWI668448B (zh) | 2019-08-11 |
JP2018054427A (ja) | 2018-04-05 |
EP3301458B1 (en) | 2020-03-18 |
US20180088150A1 (en) | 2018-03-29 |
US10571488B2 (en) | 2020-02-25 |
TW201823729A (zh) | 2018-07-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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