DE3426295A1 - Kontaktstift fuer eine vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte - Google Patents
Kontaktstift fuer eine vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatteInfo
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Description
Kontaktstift für eine Vorrichtung zum Prüfen einer
elektronischen Leiterplatte
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen einer elektronischen Leiterplatte od. dgl., der in einer Ausnehmung
einer Trägerplatte anzuordnen sowie mit einem der Leiterplatte während des PrüfVorganges anliegenden,
unter Einwirkung eines von einer Hülse umgebenen Kraftspeichers, z. B. einer Schraubenfeder, axial verschieblichen
Prüfkopf an einem in der Hülse endenden stabartigen Kolben versehen ist.
Derartige Prüfvorrichtungen dienen dazu, zu prüfende
Punkte beispielsweise einer gedruckten Schaltungsplatte kurzzeitig mit einem Prüfpult od. dgl. zu verbinden.
Hierzu werden die Prüfköpfe der Kontaktstifte
auf jene Prüfpunkte aufgesetzt, so daß letztere über eine am anderen Ende des Kontaktstiftes angebrachte Verdrahtung
an ein gegebene Defekte anzeigendes Prüf-
K-144 -T-
-S-
pult angeschlossen sind. Die Kontaktstifte sind in
einem gewählten Muster auf der Kontakt trägerplatte werteilt - ihre Prüfköpfe ragen zu einer offenen Gehäuseseite,
in die zur Durchführung der Prüfung eine Leiterplatte
eingelegt sowie an die Kontaktstifte herangebracht wird.
Um eine gleichmäßige Anlage der Prüfköpfe an der Leiterplatte
zu erreichen und eine Verfälschung der Prüfresultate
zu unterbinden, wurden die Kontaktstifte im Laufe der Zeit federnd ausgebildet. Derart gefederte
Kontaktstifte sind mit galvanisch veredelten Prüfköpfen
oder Tastspitzen versehen, die mit ihrer für den Anwendungsfall
geeigneten Form und dem optimalen Federdruck eine elektrisch leitende Verbindung herstellen,
wenn die zu prüfende Leiterplatte mittels eines sogenannten Prüfadapters oder in anderer Weise auf die Prüfköpfe
gedruckt wird.
Im Laufe der Entwicklung kamen immer engere Prüfmuster
hinzu, deren Meßung mit den üblichen Kontaktstiften eines
Durchmessers von beispielsweise 2 mm gar nicht mehr durchzuführen
ist.
So hat sich der Erfinder das Ziel gesetzt einen Kontaktstift
der eingangs erwähnten Art so zu verbessern, daß sein Einsatz bei kleinstem Rastermaß jener Ausnehmungen
der Trägerplatte möglich wird.
Zur Lösung dieser Aufgabe führt, daß die Hülse mit einer Anformung als Anschlag für wenigstens eine Stufe oder
Anschlagschulter eines in der Hülse befindlichen Gleitendes
des Kolbens versehen ist. Hierdurch wird auch
Κ-144 - / -
für sehr dünne Kolben eine funktionsfähige Lagerung
gewährleistet und zwar entweder dadurch, daß das Gleitende des Rundkolbens eine ringförmige Anschlagschulter
anbietet, welche gegen den eingebogenen Hülsenrand schlägt, oder -- nach einer dazu unterschiedlichen
Ausführungsform -- dadurch, daß der Kolben -- in seiner
Längsrichtung gesehen -- mit einem Abschnitt versehen ist, in welchem der Querschnitt teilweise vermindert ist
und eine beispielsweise segmentartige Anschlagfläche für eine Einformung der Hülse anbietet. Als einfachste
Form der Einformung hat sich eine Quetschfalte erwiesen,
welche bevorzugt in einem etwas dickeren Teil der Hülse vorgesehen ist.
Der bevorzugte runde Querschnitt des Kolbens kann erfindungsgemäß
rinnenartig, winkelförmig oder segmentartig
abgeflacht sein.
Im Rahmen der Erfindung liegt es, daß sich der Kraftspeicher gegen einen Hülsenboden mit zentrischer Ausnehmung
abstützt, welche die Verdrahtung aufzunehmen in der Lage ist.
Um eine weitergehende Verbesserung der Lagerung des Kraftspeichers bzw. der Schraubenfeder zu erreichen,
ist nach einem weiteren Merkmal der Erfindung zwischen
Kraftspeicher und Hülsenboden eine Kugel angeordnet,
welche teilweise in das ringförmige Ende der Schraubenfeder einragt.
Κ-144 ^tC-
Bei einer besonderen Ausführung ist die Hülse von gleichbleibender Wandstärke mit einer ihrem Ende
nahen Verengung als Abstützstelle für den Kraftspeicher bzw. die Schraubenfeder.
Der Kolben ist dank der beschriebenen Abflachung nach der Montage verdrehsicher gelagert und vor
allem zum Prüfen von Baugruppen mit seitlichen Lötbeinchen entwickelt worden, beispielsweise für
JC. Diese Lötbeinchen werden mit einer Sehneide ähnlich einem Meißel -- um 90 versetzt zum Anschluß
abgetastet.
-5-
Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Erfindung
ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung
bevorzugter Ausführungsbeispiele sowie anhand der Zeichnung; diese zeigt in
Fig. 1: eine teilweise geschnittene Seitenansicht eines Kontaktstiftes;
Fig.2: eine der Fig. 1 entsprechende Darstellung einer
anderen Ausführungsfortn des Kontaktstiftes;
Fig. 3: unterschiedliche Querschnittsformen zu einem
Teil des Kontaktstiftes, geschnitten nach Linie III - III in Fig. 1;
Fig. 4: eine der Fig. 1 entsprechende Wiedergabe eines weiteren Kontaktstiftes 4;
Fig. 5: die Draufsicht auf einen Teil der Fig. 4.
Ein Kontaktstift 10 für aus Gründen der Übersichtlichkeit
nicht dargestellte Kontaktträgerplatten mit sehr engem Bohrungsraster für Prüfvorrichtungen von elektronischen
Leiterplatten od. dgl. weist in einer Hülse 11 mit Hülsenboden
12 eine sich einends an diesem abstützende Schrauben feder 13 auf. In deren anderes Ende 14 ist ein Endzapfen
15 eines stabartigen Kolbens 16 eingesetzt, dessen anderes Ende als Prüfkopf 20 ausgebildet ist. Letzterer ist mit
einem querschnittlich dreiecksförmigen Einschnitt 21
versehen.
Der Außendurchmesser d jener Hülse 11 beträgt im gewählten
Ausführungsbeispiel 1,65 mm, der Innendurchmesser
c ist geringfügig größer als der Kolbendurchmesser e von 1,25 mm. Letzterer ist am Gleitende 17 des
Kolbens 16 sowie am Prüfkopf 20 zu messen, dessen Länge f 2,5 mm beträgt - und damit der Länge m des Gleitendes
17 entspricht. An letzteres schließt ein -- bis zum
-6-
K-144 _pS
Prüfkopf 20 reichender -- abgeflachter Kolbenabschnitt
18 einer Länge m von 10,5 mm an, dessen Abflachmaß i 0 , 2 mm mißt.
Eine durch die Abflachung entstehende Stufe 19 begrenzt zum einen jenes Gleitende 17 und bildet zum anderen einen
Kolbenanschlag, für den als Gegenanschlag in einem angeformten Hülsenkragen 24 der Hülse 11 eine Quetschnut
25 vorgesehen ist, deren mittlerer Abstand t vom Hülsenrand 23 der halben Länge u (beispielsweise 5 mm) des
Hülsenkragens 24 entspricht. An diesen schließt der
Hülsenteil mit dem bereits genannten inneren Außendurchmesser d in einer Länge ζ von 20 mm an. Die Gesamtlänge
ρ des Kontaktstiftes 10 mißt hier 35 mm.
Der Kontaktstift 10 , welcher in Fig. 2 dargestellt ist,
weist eine asymmetrische Prüfspitze 20 auf, deren Unsymmetrie durch jene Abflachung erzeugt wird, die in diesem
Ausführungsbeispiel bis zur Prüfspitze 20 reicht. Zudem ist das Stützende 29 der Schraubenfeder 13 gegen
eine Kugel 30 gelagert, welche vom Hülsenboden 12 als Kugelsitz gehalten ist. Dort ist auch deutlich ein Verdrahtungsdurchbruch
31 zu erkennen.
Unterschiedliche Abflachungen 40 sind in Fig. 3 gezeigt, nämlich eine teilkreisförmige Abflachung im Beispiel
18 , eine dreiecksförmige Abflachung im Beispiel 18p sowie ein Kolben 18 mit beidseitigen Abflachungen
jenes Abflachmaßes i.
-7-
Beim Kontaktstift 10fa in Fig. 4 fehlt der Hülsenkragen
24; die Hülse 11. eines Außendurchmessers b von 0,7 mm weist eine gleichbleibende Wandstärke a auf. Aus der
Hülsenwand 42 ist ein Wulstprofil 43 in einem Abstand u vom Hülsenrand 23 herausgeformt. In einem Abstand q
M- ·
vom Hülsenende 31 ist die Hülsenwand 42 mit einem Rinnenring 45 versehen; gegen diesen stützt sich die Schraubenfeder
13 ab.
Der Prüfkopf 20, ist -- wie die Fig. 5 zeigt -- entsprechend
einem Flachmeißel ausgebildet mit Abflachung 18 bis zur Meißelfläche 48.
Erst durch die erfindungsgemäße Ausführung mit Abflachung
ist es möglich, Kontaktstifte 10,10 ,10, mit
3 D
sehr geringem Durchmesser herzustellen, so daß Kontaktträgerplatten
mit engem Bohrungsraster ohne weiteres besteckt werden können. Darüber hinaus sind die Kolben
dieser Kontaktstifte 10,10a,10b in der Hülse 10, 10b
verdrehsicher gelagert, was erst den Einsatz bei Prüfungen kleinster Leiterplatten erlaubt.
-8-
Claims (16)
1. Kontaktstift für eine Vorrichtung zum Prüfen einer
elektronischen Leiterplatte od. dgl., der in einer Ausnehmung einer Trägerplatte anzuordnen sowie mit
einem der Leiterplatte während des Prüf Vorganges anliegenden, unter Einwirkung eines won einer Hülse
umgebenen Kraftspeichers, beispielsweise einer Schraubenfeder,
axial verschieblichen Prüfkopf an einem in der Hülse endenden stabartigen Kolben versehen ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Hülse (11,11.) mit einer zum Kolben (16) weisenden Anformung (25) als Anschlag für wenigstens eine
Stufe oder Anschlagschulter (19) eines in der Hülse befindlichen Gleitendes (17) des Kolbens versehen ist.
2. Kontaktstift nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Hülsenrand (23) der Hülse zum Kolben
(16) weisend eingezogen und das Gleitende (17) mit einer ringförmigen Anschlagschulter (19) als Gegenanschlag
versehen ist.
3. Kontaktstift nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Kolben (16) einen Abschnitt (18) mit gegenüber dem Gleitende (17) teilweise verminderten und die Anschlagschulter
(19) bildenden Querschnitt aufweist, wobei als Gegenanschlag eine Quetschfalte (25) der
Hülse (ll,llb) dient.
- A 2 -
K-144 'I. -JL-2--
4. Kontaktstift nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Quetschfalte (25) an einem Abschnitt (24) der Hülse (11) mit erhöhter Wandstärke
vorgesehen ist.
5. Kontaktstift nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Abschnitt mit erhöhter Wandstärke von einem
Hülsenkragen (24) gebildet ist.
6. Kontaktstift nach M/enigstens einem der Ansprüche 1 bis
5, dadurch gekennzeichnet, daß der Kolben (16) eine rinnenartige Abflachung (18 ) aufweist.
7. Kontaktstift nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß der Kolben (16) eine winkelförmige
Abflachung (18 ) aufweist.
8. Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß vom Kolben (16)
runden Querschnittes ein segmentartiger Querschnittsteil
(18 ) abgenommen ist.
9. Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche 1
bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Gleitende (17) des Kolbens (16) mit einem axialen Zapfen (15)
versehen ist, welcher in den Kraftspeicher (13) haltend
einragt.
10. Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche 1
bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß sich der Kraftspeicher
(13) gegen einen Hülsenboden (12) mit zentrischer
Ausnehmung (31) abstützt.
-A3-
K-144 -Pr-J-
-ι-
11. Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche
1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen
Kraftspeicher (13) und Hülsenboden (12) eine Kugel (30) als Abstützorgan für den Kraftspeicher
angeordnet ist.
12· Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß sich der Kraftspeicher
(13) gegen eine Verengung (45) der Hülse (11.)
abstützt.
13. Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche 1
bis 3 und/oder 6 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Hülse (H.) als Anschlag mit einem nach außen aus
der Hülsenwand (42) herausgeformten Wulstprofil (43) versehen ist.
14. Kontaktstift nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet,
daß der Abstand (u.) des Wulstprofils (43) vom Hülsenrand (23) etwa dem Abstand (q) der Verengung
(45) vom Hülsenende (31) entspricht.
15. Kontaktstift nach Anspruch 12 und 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Verengung (45) ein umlaufender
Rinnenring ist.
16. Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche 1
bis 15, gekennzeichnet durch einen Prüfkopf (20. ) mit einer quer zur Bewegungsrichtung des Kolbens
(16) verlaufenden Schneide.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19843426295 DE3426295A1 (de) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | Kontaktstift fuer eine vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19843426295 DE3426295A1 (de) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | Kontaktstift fuer eine vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3426295A1 true DE3426295A1 (de) | 1986-01-23 |
Family
ID=6240842
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19843426295 Withdrawn DE3426295A1 (de) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | Kontaktstift fuer eine vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3426295A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1992017919A1 (de) * | 1991-03-28 | 1992-10-15 | Johann Bischl Feinmechanik Gmbh | Federnder prüfstift |
WO2001031348A1 (de) * | 1999-10-26 | 2001-05-03 | Atg Test Systems Gmbh & Co. Kg | Prüfstift für eine vorrichtung zum testen von leiterplatten |
DE20103967U1 (de) * | 2001-03-07 | 2002-07-11 | Ptr Mestechnik Gmbh & Co Kg | Schalt-Federkontaktstift |
-
1984
- 1984-07-17 DE DE19843426295 patent/DE3426295A1/de not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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WO2001031348A1 (de) * | 1999-10-26 | 2001-05-03 | Atg Test Systems Gmbh & Co. Kg | Prüfstift für eine vorrichtung zum testen von leiterplatten |
US6720781B2 (en) | 1999-10-26 | 2004-04-13 | Atg Test Systems Gmbh & Co. Kg | Circuit board tester probe system |
DE20103967U1 (de) * | 2001-03-07 | 2002-07-11 | Ptr Mestechnik Gmbh & Co Kg | Schalt-Federkontaktstift |
DE10206756B4 (de) * | 2001-03-07 | 2004-05-13 | Ptr Messtechnik Gmbh & Co. Kg | Schalt-Federkontaktstift |
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