DE2717420C3

DE2717420C3 - Kontaktstift

Info

Publication number: DE2717420C3
Application number: DE19772717420
Authority: DE
Inventors: Werner H. 7750 Konstanz Heilmann
Original assignee: Ingun Pruefmittelbau & Co KG Elektronik 7750 Konstanz GmbH
Current assignee: Ingun Pruefmittelbau & Co KG Elektronik 7750 Konstanz GmbH
Priority date: 1977-04-20
Filing date: 1977-04-20
Publication date: 1980-01-17
Also published as: DE2717420A1; DE2717420B2

Description

Die Erfindung betrifft einen Kontaktstift für eine Prüfvorrichtung elektronischer Bauteile, insbesondere gedruckter oder geätzter Schaltungen, mit einem eine geschlossene Oberfläche aufweisenden Hohlschaft und wenigstens einem in diesem axial verschieblich gelagerten Taststab, dessen freies Ende als Kontakt- oder Prüfkopf ausgebildet ist.

Kontaktstifte dieser Art sind beispielsweise durch die US-PS 36 54 585 bekanntgeworden. Sie sind federnd ausgebildet, um die Prüfergebnisse zu verbessern. Außerdem werden die Tastspitzen galvanisch veredelt und stellen mit ihrer für den Anwendungsfall geeigneten Form und dem optimalen Federdruck sichere elektrisch leitende Verbindungen her.

Die Bedingungen, welche an die Kontaktstifte gestellt werden, sind: gute Kontakteigenschaften, kleiner Durchgangswiderstand und lange Lebensdauer, wobei letztere auch in einem wesentlichen Grade von dem zu kontaktierenden Material und den Betriebsbedingungen abhängt

Der Erfinder hat sich nun das Ziel gesetzt, Kontaktstifte der eingangs erwähnten Art sowohl bezüglich ihrer Kontaktfähigkeit als auch im Hinblick auf die Handhabungsschwierigkeiten beim Einsetzen in die Trägerplatte mit sehr engem Raster zu verbessern.

Zur Lösung dieser Aufgabe führt ein Kontaktstift, dessen Taststab mit Querzapfen oder entsprechenden Radialrasten versehen ist, welche in wenigstens eine zur Längsachse des Kontaktstiftes geneigt verlaufende Kulissenkurve einragen, die in die Innenwandung des Hohlschaftes eingeformt ist.

Dank dieser Führungsorgane beschreibt der Taststab

— und damit auch der eigentliche Kontaktkopf — während der axialen Verschiebung auf engem Raum eine teilweise Drehung um die Längsachse des Kontaktstiftes; der Kontaktkopf vermag sich so inniger ϊ an die zu prüfende Fläche anzuschmiegen und deren Oberfläche an der zu kontaktierenden Stelle aufzureißen. Die geschlossen bleibende Oberfläche des Hohlschaftes verhindert das Verheddern eines einzusetzenden Koniaktstiftes in Vorsprängen und Vertiefungen

lu bereits feststehender Nachbarstifte, beispielsweise dann, wenn die Kulissenkurve den Hohlschaft durchsetzen würde.

Der Kulissenschlitz ist bevorzugtermaßen in einem radial abragenden Kragen des Hohlschaftes vorgesehen

is und — nach einem anderen Merkmal der Erfindung — aus wenigstens zwei unterschiedlich gekrümmten Kurvenstücken zusammengesetzt, weiche den Andruck des Kontaktkopfes an die zu prüfende Fläche — bevorzugt innerhalb eines Grundrißwinkels von 90° — steuern.

Ein unerwünschtes Drehen des Hohlschaftes in der ihn haltenden Trägerplatte wird dadurch verhindert, daß der Hohlschaft erfindungsgemäß an seiner Außenseite mit reibungserhöhenden Retentionen od. dgl.

versehen ist

Weitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausfüi.'rungsbeispiele sowie anhand der Zeichnung; diese zeigt in

so F i g. 1 eine Schrägsicht auf eine auseinandergenommene Trägerplatte einer Prüfvorrichtung;

F i g. 2 eine andere Schrägsicht auf eine Trägerplatte mit partiell angedeuteten Bohrungen;
Fig.3 den Schnitt nach Linie III-III in Fig.2 mit einem Kontaktstift in vergrößerter Wiedergabe;

Fig.4 den teilweise geschnittenen Aufriß eines Kontaktstiftes in vergrößerter Darstellung;
F i g. 5 den Querschnitt nach Linie V-V in F i g. 4.
Eine Trägerplatte A für ein — nicht dargestelltes — elektronisches Prüfgerät ist aus mehreren Einzelplatten la bis Ic aus glasfaserverstärktem Kunststoff zusammengesetzt Letztere sind mittels an zwei schmalen Platten 4, 5 ausgeformten Federn 6 in — an den verbleibenden Platten — Schmalseiten 7,8 vorgesehene — Nuten 9 der jeweils benachbarten Einzelplatte 1 eingeschoben und von einem Spannrahmen 10 zusammengehalten. Die Einzelplatten 1 weisen rasterartig angeordnete Bohrungen U auf — beispielsweise des Durchmessers χ von 3 mm bei einem Rastermaß y von

w 5,08 mm —, die in V·' i g. 2 teilweise angedeutet sind und die Federn 6 durchsetzen (s. F i g. 3).

In diese Bohrungen 11 werden gefederte Kontaktstifte B eingeführt, die mit den Kontakten nicht erkennbarer Vielfachsteckerleisten des Spannrahmens

Vi 10 durch Drähte D zu verbinden sind. Diese Kontaktstifte B können durch das enge Bohrungsraster y in nahezu beliebiger Konfiguration von den Trägerplatten A aufgenommen werden und sind Miniatur-Präzisionswerkzeuge mit exakter Führung der

wi beweglichen Teile sowie durch Edelmetallbeschichtung korrosionsgeschützt. Ihre Außenflächen sind vergoldet.

Der in Fig.4 wiedergegebene Kontaktstift Si der Gesamtlänge a von etwa 30 mm besteht aus einem Hohlschaft 20 mit angeformtem Kragen 21 und in den

bi Hohlschaft 20 eingesetztem axialem Taststab 22 des Durchmessers d von beispielsweise 1,25 mm, der außerhalb jenes Hohlschaftes 20 in einem Kontaktkopf 23 endet.

Der Taststab 22 ragt in dargestellter Ruheluge etwa bis zur Hälfte der Schaftlänge b in den Hohlschaft 20 ein; die Taststabstirn 24 sitzt auf einer axialen Schraubenfeder 25, in deren kragenwärts weisenden oberen Federringen 25* ein Führungsbolzen 26 einragt

Die Schraubenfeder 25 stützt sich mit ihrem kragenfernen Ende 25_e gegen eine schulterartige Einformung 27 des Kontaktstiftes ß,, welche den Innendurchmesser /"des hüisenförmigen Endstückes 28 des K.ontaktst!^ftes B\ gegenüber dem Durchmesser /des Federraumes 29 reduzier!.

In die Innenwandung des eine geschlossene Außenfläche aufweisenden Kragens 21 ist eine aus zwei gegenläufigen Kurvenstücken K\, Ki zusammengesetztes und etwa diagonal vom oberen Kragenrand 21_a zum unteren Kragenrand 21„ verlaufender Kulissenkurve 30 vorgesehen, in diese ragt ein in den Taststab 22 eingesetzter Querzapfen 31 ein.

Um bei Trägerplatten A mit fertigungsbedingten Isolierschichten eine erhöhte Kontaktsicherheit zu erzielen, führt der Kontaktkopf 23 während des Arbeitshubes eine Drehbewegung zum Meßpunkt in einem Winkel w von 90° aus. Diese Drehbewegung in bewirkt ein leichtes Anreißen der zu kontaktierenden Stelle.

Eine Rändelung 33 am Hohlschaft 20 gibt dem Kontaktstift Si einen festen Sitz in der Trägerplatte A und sichert ihn gegen unbeabsichtigte Drehung.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims

Patentansprüche:

1. Kontaktstift für eine Prüfvorrichtung elektronischer Bauteile, insbesondere gedruckter oder geätzter Schaltungen, 'mit einem eine geschlossene Oberfläche aufweisenden Hohlschaft und wenigstens einem in diesem axial verschieblich gelagerten Taststab, dessen freies Ende als Kontakt- oder Prüfkopf ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Taststab (22) mit Querzapfen (31) oder entsprechenden etwa radialen Rastorganen versehen ist, welche in wenigstens eine zur Längsachse des Kontaktstiftes (B) geneigt verlaufende Kulissenkurve (30) einragen, die in die Innenwandung des Hohlschaftes (20) eingeformt ist

2. Kontaktstift nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kulissenkurve (30) in einem radial abragenden Kragen (21) des Hohlschaftes (20) vorgesehen ist

3. Kontaktstift nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Kulissenkurve (30) einen Teil der Kragenwandung etwa diagonal schlitzt und der geschlitzte Teil der Kragenwandung innerhalb eines Grundriß-Winkels (w) von etwa 90° liegt

4. Kontaktstift nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Kulissenkurve (30) aus wenigstens zwei unterschiedlich gekrümmten Kurvenstücken (KJ zusammensetzt

5. Kontaktstift nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Kulissenkurve in ihrem Mittelteil steiler verläuft als an den Schlitzenden.