DE7633778U1 - 3000 Hannover Kontaktstift Heilmann, Werner, 7750 Konstanz - Google Patents
3000 Hannover Kontaktstift Heilmann, Werner, 7750 KonstanzInfo
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- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
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Description
Die Erfindung betrifft einen Kontaktstift für eine Bearbeitung?- oder PrüfVorrichtung elektronischer
Bauteile, insbesondere gedruckicx odcx geüL^tsi
Schaltungen, mit einem Hohlschaft und wenigstens einem in diesem axial verschieblich gelagerten Taststab,
dessen freies Ende als Kontakt- oder Prüfkopf ausgebildet ist.
Kontaktstift für Prüfvorrichtungen sind beispielsweise durch die US-PS 3 043 021 bekanntgeworden.
Sie wurden im Verlaufe der Zeit federnd ausgebildet, um die Prüfergebnisse zu verbessern. Derart gefederte
Kontaktstifte sind galvanisch veredelte Tastspitzen, die mit ihrer für den Anwendungsfall
geeigneten Form und dem optimalen Federdruck sichere elektrisch leitende Verbindungen herstellen.
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Die Bedingungen, welche an die Kontaktstifte gestellt werden, sind: gute Kontakteigenschaften,
kleiner Durchgangswiderstand und lange Lebensdauer, wobei letztere auch in einem
wesentlichen Grade von dem zu kontaktierenden Material und den Betriebsbedingungen abhängt.
Angesichts dieser Gegebenheiten hat sich der Erfinder das Ziel gesetzt, Kontaktstifte der
eingangs erwähnten Art sowohl bezüglich ihrer Kontaktfähigkeit als auch im Hinblick auf die
Handhabungsschwierigkeiten beim Einsetzen in die Trägerplatte zu verbessern.
Zur Lösung dieser Aufgabe fuhrt ein Kontaktstift, dessen Taststab isn Hohlschoft drehbar
lagert und mit Organen versehen ist, welchen sie führende Gegenorgane des Hohlschaftes zugeordnet
sind. Dabei soll der Taststift mit Querzapfen oder entsprechenden Radialrasten versehen
sein, welche in wenigstens einen zur Längsachse des Kontaktstiftes geneigt verlaufenden
Kulissenschlitz des Hohlschaftes einragen und in diesem Kulissenschlitz gleitbar
ruhen.
Dank dieser Führungsorgane beschreibt der Taststab — und damit auch der eigentliche
Kontaktkopf — während der axialen Verschie-
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bung eine teilweise Drehung um die Längsachse des Kontaktstiftfes; der Kontaktkopf vermag
sich so inniger an die zu prüfende Fläche anzuschmiegen und deren Oberfläche an der zu
kontaktierenden Stelle aufzureißen.
Der Kulissenschlitz ist bevorzugtermaßen in einem radial abragenden Kragen des Hohlschaftes
vorgesehen und — nach einem anderen Merkmal der Erfindung — aus wenigstens zwei unterschiedlich
gekrümmten Kurvenstücken zusammengesetzt, welche den Andruck des Kontaktkopfes
an die zu prüfende Fläche — bevorzugt innerhalb eines Grundrißwinkels von 90 — steuern.
Ein unerwünschtes Drehen des Hohlschaftes in der ihn haltenden Trägerplatte wird dadurch
verhindert, daß der Hchlschcft erfindungsgemäß
an seiner Außenseite mit reibungserhöhenden Retentionen od„ dgl. versehen ist.
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Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden
Beschreibung bevorzugter AusfUhrungsbeispiele sowie anhand der Zeichnung; diese zeigt
in:
Fig, 1: eine Schrägsicht auf eine auseinandergenommene
Trägerplatte einer Prüfvorrichtung;
Fig. 2; eine endere Schrägsicht auf eine Trägerplatte
mit partiell angedeuteten Bohrungen;
Fig. 3; den Schnitt nach Linie III-III in
Fig. 2 mit einem Kontaktstift in vergrößerter Wiedergabe;
Fig. 4: den teilweise geschnittenen Aufriß eines Kontaktstiftes in vergrößerter
Darstellung;
Fig, 5; den Querschnitt nach Linie V-V in Fig. 4;
Eine Trägerplatte A für ein -- nicht dargestelltes — elektronisches Prüfgerät ist aus mehreren Einzelplatten la bis Ic aus glasfaserverstärktem Kunststoff
zusammengesetzt. Letztere sind mittels an zwei schmalen Plattenseiten 4, 5 ausgeformten Federn
6 in ~ an den verbleibenden Platten — Schmalseiten
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7,8 vorgesehene - Nuten 9 der jeweils benachbarten Einzelplatte 1 eingeschoben und von einen Spannrahmen 10 zusammengehalten· Die Einzelplatten 1 weisen rasterartig angeordnete Bohrungen 11 auf — beispielsweise des Durchmessers
χ von 3 mm bei einem Rastermaß y von 5,08 mm —,
die in Fig. 2 teilweise angedeutet sind und die Federn 6 durchsetzen (s. Fig. 3).
In diese Bohrungen 11 werden gefederte Kontaktstifte B eingeführt, die mit den Kontakten
nicht erkennbarer Vielfachsteckerleisten des Spannrahmens 10 durch Drähte D zu verbinden
sind» Diese Kontaktstifte B können durch das enge Bohrungsraster y in nahezu beliebiger Konfiguration von den Trägerplatten A aufgenommen
werden und sind Miniatur-Präzisionswerkzeuge mit exakter Führung der beweglichen Teile sowie durch
Edelmetallbeschichtung korrosionsgeschützt. Ihre Außenflächen sind vergoldet.
Der in Fig. 4 wiedergegebene Kontaktstift B-der Gesamtlänge α von etwa 30 mm besteht aus
einem Hohlschaft 20 mit angeformtem Kragen 21 und in den Hohlschaft 20 eingesetztem axialem
Taststab 22 des Durchmessers d von beispielsweise 2,25 mm, der außerhalb jenes Hohlschaftes
20 in einem Kontaktkopf 23 endete
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Der Taststab 22 ragt in dargestellter Ruhelage etwa bis zur Hälfte der Schaftlänge b in
den Hohlschaft 20 ein; die Taststabstirn 24 sitzt auf einer axialen Schraubenfeder 25, in
deren kragenwärts weisenden oberen Federringen 25, ein FUhrungsbolzen 26 einragt»
Die Schraubenfeder 25 stutzt sich mit ihrem kragenfernen Ende 25 gegen eine schulterarti-
ge Einformung 27 des Kontaktstiftes EL, welche den Innendurchmesser f des hülsenfö'rmigen Endstückes
28 des Kontaktstiftes B. gegenüber dem Durchmesser i des Federraumes 29 reduziert.
Im Kragen 21 ist ein aus zwei gegenläufigen Kurvenstücken K-, K~ zusammengesetztes und etwa
diagonal vom oberen Kragenrand 21 zum unteren
Kragenrand 21 verlaufender Kulissenschlitz 30 vorgesehen. In diesen ragt ein in den Taststab
22 eingesetzter Querzopfen 31 ein.
Um bei Trägerp.latten A mit fertigungsbedingten Isolierschichten eine erhöhte Kontaktsicherheit
zu erzielen, führt der Kontaktkopf 23 während des Arbeitshubes eine Drehbewegung zum Meßpunkt
in eineifl Winkel w von 90 aus. Diese Drehbewegung
bewirkt ein leichtes Anreißen der zu kontaktierenden Stelle.
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Eine Rändelung 33 am Hohlschaft 20 gibt dem Kontaktstift B.. einen festen Sitz in der
Trägerplatte A und sichert ihn gegen unbeabsichtigte Drehung.
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Claims (8)
1. Kontaktstift für eine Bearbeitungs- oder Prüfvorrichtung elektronischer Bauteile,
insbesondere gedruckter oder geätzter Schaltungen, mit einem Hohlschaft und wenigstens
einem in diesem axial verschieblich gelagerten Taststab, dessen freies Ende
als Kontakt- oder Prüfkopf ausgebildet ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Taststab (22) im Hohlschaft (20) des Kontaktstiftes (Β) drehbar lagert und
mit Organen (31) versehen ist, welchen diese führende Gegenorgane (30) des Hohlschaftes
zugeordnet sind.
2. Kontaktstift nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Taststab (22) mit Querzapfen (31) oder entsprechenden ertwa radialen
Rastorganen versehen ist, welche in wenigstens einem zur Längsachse des Kontaktstiftes
(B) geneigt verlaufenden Kulissenschlitz (30) des Hohlschaftes (20) einragen und in jenem Kulissenschlitz gleitbar sind.
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IVIF I
* I
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3. Kontaktstift nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein
Kulissenschlitz (30) in einem radial abragenden Kragen (21) des Hohlschaftes (20)
vorgesehen ist.
4. Kontaktstift nach einem der Ansprüche 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Kuli~senschlitz (30) einen Teil der Kragenwandung
etwa diagonal schlitzt und der geschlitzte Teil der Kragenwandung innerhalb
eines Grundriß-Winkels (w) von etwa 90 liegt.
5. Kontaktstift nach zumindest einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß sich der Kulissenschlitz (30) aus wenigstens zwei unterschiedlich gekrümmten
KurvenstUcken (K) zusammensetzt.
6. Kontaktstift nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Kulissenschlitz
(30) in seinem Mittelteil steiler verläuft als an den Schlitzenden.
7. Kontaktstift nach wenigstens einem der voraufgehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Hohlschaft (20) an seiner Außenseite mit reibungserhöhenden Retentionen
(33) od. dgl. versehen ist.
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ι ' t · ι -
1-105 "-A3- CZ
8. Kontaktstift nach Anspruch 7, dadurch ge- ;'
kennzeichnet, daß an der Außenseite des ./
Hohlschaftes (20) unterhalb des Kragens ]
(21) zur Längsachse des Kontaktstiftes (B) |
koaxiale Rillen verlaufen. ί
7633771 i2.es.77
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19767633778 DE7633778U1 (de) | 1976-10-27 | 1976-10-27 | 3000 Hannover Kontaktstift Heilmann, Werner, 7750 Konstanz |
CH1098077A CH622104A5 (en) | 1976-10-27 | 1977-09-06 | Device with at least one contact pin for testing electronic components |
CH1097977A CH622103A5 (en) | 1976-10-27 | 1977-09-06 | Contact pin for a device for testing electronic components |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19767633778 DE7633778U1 (de) | 1976-10-27 | 1976-10-27 | 3000 Hannover Kontaktstift Heilmann, Werner, 7750 Konstanz |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE7633778U1 true DE7633778U1 (de) | 1977-05-12 |
Family
ID=6670700
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19767633778 Expired DE7633778U1 (de) | 1976-10-27 | 1976-10-27 | 3000 Hannover Kontaktstift Heilmann, Werner, 7750 Konstanz |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2815330A1 (de) * | 1978-04-08 | 1979-10-18 | Feinmetall Gmbh | Federkontakt mit verdrehbarem kontaktkolben |
CN104640406A (zh) * | 2015-02-01 | 2015-05-20 | 成都赋阳技术开发有限公司 | 一种印制电路板安装座 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3332187C2 (de) * | 1983-09-07 | 1986-01-30 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Kontaktstift |
DE3820795A1 (de) * | 1988-06-20 | 1989-12-21 | Ingun Pruefmittelbau Gmbh | Gefederter kontaktstift zum pruefen von prueflingen |
DE3912992A1 (de) * | 1989-03-30 | 1990-10-04 | Ingun Pruefmittelbau Gmbh | Kontaktvorrichtung zum pruefen elektrischer leiterplatten od. dgl. |
US5032787A (en) * | 1989-11-03 | 1991-07-16 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Electrical test probe having rotational control of the probe shaft |
ES2070750B1 (es) * | 1993-05-17 | 1998-02-16 | Sistel Sa | Elemento de ajuste. |
US6570399B2 (en) | 2000-05-18 | 2003-05-27 | Qa Technology Company, Inc. | Test probe and separable mating connector assembly |
US6876530B2 (en) | 2001-01-12 | 2005-04-05 | Qa Technology Company, Inc. | Test probe and connector |
-
1976
- 1976-10-27 DE DE19767633778 patent/DE7633778U1/de not_active Expired
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1977
- 1977-09-06 CH CH1098077A patent/CH622104A5/de not_active IP Right Cessation
- 1977-09-06 CH CH1097977A patent/CH622103A5/de not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2815330A1 (de) * | 1978-04-08 | 1979-10-18 | Feinmetall Gmbh | Federkontakt mit verdrehbarem kontaktkolben |
CN104640406A (zh) * | 2015-02-01 | 2015-05-20 | 成都赋阳技术开发有限公司 | 一种印制电路板安装座 |
CN104640406B (zh) * | 2015-02-01 | 2017-07-07 | 珠海超群电子科技有限公司 | 一种印制电路板安装座 |
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CH622104A5 (en) | 1981-03-13 |
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