MXPA06012509A - Crisol para la cristalizacion de silicio. - Google Patents

Crisol para la cristalizacion de silicio.

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Abstract

La invencion se refiere a un crisol para la cristalizacion de silicio, y a la preparacion y aplicacion de revestimientos de liberacion para crisoles usados en el manejo de materiales fundidos que se solidifican en el crisol y despues se remueven como lingotes, y mas particularmente a revestimientos de liberacion para crisoles usados en la solidificacion de silicio policristalino; el objetivo del inventor fue proveer un crisol que no requiere la preparacion de un revestimiento muy grueso en las instalaciones del usuario final, que es mas rapido y barato de producir y que presenta un revestimiento mas fuerte con una adherencia mejorada a las paredes; ahora se ha encontrado que estos problemas se pueden resolver con un crisol para la cristalizacion de silicio, que comprende: (a) un cuerpo de base que comprende una superficie inferior y paredes laterales que definen un volumen interno; (b) una capa intermedia que comprende de 50% a 100% en peso de silice en la superficie de las paredes laterales, que esta frente al volumen interno; y (c) una capa de superficie que comprende de 50% a 100% en peso de nitruro de silicio, hasta 50% en peso de dioxido de silicio y hasta 20% en peso de silicio, encima de la capa intermedia.

Description

CRISOL PARA LA CRISTALIZACIÓN DE SILICIO MEMORIA DESCRIPTIVA La invención se refiere a un crisol para la cristalización de silicio, y a la preparación y aplicación de revestimientos de liberación para crisoles usados en el manejo de materiales fundidos que se solidifican en el crisol y después se remueven como lingotes, y más particularmente a revestimientos de liberación para crisoles usados en la solidificación de silicio policristalino. Los crisoles de sílice (ya sea sílice fusionada o de cuarzo) normalmente se usan en la solidificación de silicio policristalino. La sílice se elige principalmente por su alta pureza y disponibilidad. Sin embargo, existen problemas al usar la sílice como crisol para la producción de silicio mediante este método. El silicio en su estado fundido reacciona con el crisol de sílice que está en contacto con el mismo. El silicio fundido reacciona con la sílice para formar monóxido de silicio y oxígeno. El oxígeno contamina el silicio. El monóxido de silicio es volátil y reacciona con los componentes de grafito dentro del horno. El monóxido de silicio reacciona con el grafito para formar carburo de silicio y monóxido de carbono. Después, el monóxido de carbono reaccionará con el silicio fundido, formando monóxido de silicio volátil adicional y carbono. El carbón contaminará el silicio. El silicio también puede reaccionar con las diversas impurezas contenidas en el crisol de sílice (fierro, boro, aluminio, etc.).
La reacción entre la sílice y el silicio promueve la adhesión del silicio al crisol. Esta adhesión, combinada con una diferencia de coeficientes de expansión térmica entre los dos materiales, crea un esfuerzo en el lingote de silicio haciendo que se rompa al enfriarse. Es conocido que un revestimiento de liberación, aplicado en el interior del crisol en el área de contacto con el lingote, puede impedir la reacción entre el silicio y la sílice que conduce a la contaminación del lingote y su rompimiento. Para ser efectivo, el revestimiento de liberación debe ser suficientemente grueso para impedir que el silicio reaccione con el crisol de sílice, y no debe contaminar adversamente el silicio por sí solo ni por los contaminantes dentro del mismo. En la literatura se describe una variedad de materiales y técnicas que intentan resolver el problema de reacción y adhesión del crisol en contacto con el material fundido. Por ejemplo, la patente de EE. UU. No. 5,431 ,869, describe un agente de liberación multicomponente de nitruro de silicio y cloruro de calcio para el procesamiento de silicio usando un crisol de grafito. La patente de EE. UU. No. 4,741 ,925, describe un revestimiento de nitruro de silicio para crisoles, aplicado mediante deposición de vapor químico a 1 ,250°C, mientras que WO-A1 -2004/053207, describe un revestimiento de nitruro de silicio, aplicado por atomización de plasma. La patente de EE. UU. No. 3,746,569, describe la formación de un revestimiento de nitruro de silicio por pirólisis sobre las paredes de un tubo de cuarzo. La patente de EE. UU. No. 4,218,418, describe una técnica para formar una capa de vidrio dentro de un crisol de sílice mediante calentamiento rápido para impedir el rompimiento del silicio durante el procesamiento de fusión. La patente de EE. UU. No. 3,660,075, describe un revestimiento de carburo de niobio u óxido de itrio sobre un crisol de grafito para fundir materiales fusionables. El carburo de niobio se aplica por deposición de vapor químico, mientras que el óxido de ¡trio se aplica como una suspensión coloidal en una solución inorgánica acuosa. Las referencias de la técnica anterior incluyen referencias específicas de agentes de liberación de molde en polvo para su aplicación a crisoles en la solidificación direccional del silicio. Además, se menciona el uso de deposición de vapor químico, evaporación de disolvente, tratamiento a la llama con alta temperatura, y otros medios caros y complejos, para aplicación de revestimientos de crisoles. Se hace referencia a aglutinantes y disolventes específicos. Se hacen referencias para mezclar, atomizar o aplicar con cepillo suspensiones de revestimientos en polvo. Este revestimiento de liberación de nitruro de silicio por sí solo puede acarrear problemas. El grosor del revestimiento de nitruro de silicio necesario para impedir que el silicio reaccione con el crisol de sílice, es muy importante (aproximadamente 300 µm), haciendo así la operación de revestimiento cara y tardada. Además, este revestimiento de nitruro de silicio es mecánicamente débil y puede pelarse o descascararse durante el uso o incluso antes del mismo. Por lo tanto, se recomienda aplicar este revestimiento justo antes de usarse, esto es, en las instalaciones del usuario final, dejando así al usuario final la carga de aplicar este revestimiento grueso. Por lo tanto seria deseable proveer un crisol de sílice que no presente los problemas anteriores (es decir, que no requiera la preparación de un revestimiento muy grueso en las instalaciones del usuario final, que sea más rápido y barato de producir, y que presente un revestimiento más fuerte con una mejor adherencia a las paredes). Se ha encontrado ahora que estos problemas se pueden resolver con un crisol para la cristalización de silicio que comprende: a) un cuerpo de base que comprende una superficie inferior y paredes laterales, que definen un volumen interno; b) una capa intermedia que comprende de 50% a 100% en peso de sílice en la superficie de las paredes laterales que está frente al volumen interno; y c) una capa de superficie que comprende de 50% a 100% en peso de nitruro de silicio, hasta 50% en peso de dióxido de silicio, y hasta 20% en peso de silicio encima de la capa intermedia. En realidad, la capa intermedia que comprende de 50% a 100% en peso de sílice en la superficie de las paredes laterales, es extremadamente resistente y fácil de fabricar. Puesto que no existe el problema de peladura ni descascarado con esta capa intermedia, se puede preparar antes de alcanzar las instalaciones del usuario final, de tal manera que el usuario final únicamente requiere proveer una capa de superficie delgada cuya aplicación es más rápida y más barata. Además, se ha descubierto sorprendentemente que esta capa intermedia aumenta mucho la adhesión de la capa de superficie.
De acuerdo con una modalidad ventajosa de la invención, la resistencia de la capa intermedia se limita voluntariamente, de tal manera que la adhesión de la capa intermedia a la capa de superficie y/o al cuerpo de base, es menor que la adhesión de la capa de superficie a un lingote de silicio. Consecuentemente, durante la cristalización del lingote de silicio -si por alguna razón- el lingote de silicio se adhiere a la capa de superficie, la capa intermedia se laminará bajo el efecto del esfuerzo generado por el enfriamiento del lingote. Con ello, solamente el revestimiento del crisol se destruye, dejando el lingote de silicio en forma perfecta. Una manera de limitar la resistencia de la capa intermedia es actuar sobre la porosidad de dicha capa. La porosidad se puede determinar mediante la granulometría de las partículas incluidas en la capa (una mayoría de partículas grandes dará como resultado una porosidad alta). Otra posibilidad es incluir en la composición un material que confiera o genere la porosidad requerida. Por ejemplo, el uso de microburbujas de alúmina (FILLITE) de fibras de silicoaluminato le conferirá la porosidad requerida. También, los materiales carbonáceos tales como resinas o carbono, que se pirolizan sin residuo pero con la producción de burbujas finas de dióxido de carbono durante la calcinación, generarán la porosidad requerida. Otra ventaja de este revestimiento es que se puede aplicar sobre varios materiales de crisol, de tal manera que el usuario final que recibe un crisol con una sílice que contiene una capa intermedia, no requiere desarrollar procedimientos particulares y diferentes para revestir varios materiales. La capa intermedia se puede aplicar sobre crisoles de cuarzo, sílice fundida, nitruro de silicio, SIAION, carburo de silicio, alúmina, o incluso de grafito. Ventajosamente, la capa intermedia tiene un grosor de 50 µm a 300 µm, a fin de proveer la mayor parte del grosor necesario para impedir la reacción del silicio con el crisol, y la contaminación del silicio de los contaminantes dentro del mismo. Además del sílice, la capa intermedia puede comprender cualquier material que, después de calcinarse, sea estable y no reaccione con el silicio. Son particularmente adecuados los materiales de alúmina o silicoaluminato. En algunas aplicaciones también se pueden usar los materiales carbonáceos que se pirolizan durante la calcinación. La capa intermedia puede comprender un aglutinante inorgánico (tal como sílice coloidal) u orgánico (tal como una resina orgánica como polietilenglicol, alcohol polivinílico, policarbonato, epoxia, carboximetilcelulosa). La cantidad del aglutinante orgánico e inorgánico incorporada en la composición depende de los requerimientos de la aplicación (resistencia del recubrimiento no calcinado, etc.). Normalmente el revestimiento comprende de 5% a 20% en peso de aglutinante inorgánico y hasta 5% en peso de aglutinante orgánico. Usualmente la capa intermedia se aplica en agua o en disolvente por atomización o con cepillo. Preferiblemente por atomización en un sistema basado en agua que comprende una cantidad apropiada de agua, para permitir la suspensión de toda la composición. De acuerdo con una modalidad particular de la invención, el crisol comprende una capa adicional (una segunda capa intermedia) encima de la capa intermedia. Esta capa adicional comprende hasta 50% en peso de nitruro de silicio, el resto consistiendo esencialmente de dióxido de silicio. Esta capa adicional mejora la compatibilidad entre la capa de superficie y la primera capa intermedia, y mejora mucho su adhesión. Cuando está presente, esta capa adicional tendrá un grosor de hasta 200 µm, de preferencia de 50 µm a 100 µm. Dependiendo de la aplicación, la capa de superficie tendrá un grosor de 50 µm a 500 µm, de preferencia de 200 µm a 500 µm. Para evitar cualquier contaminación, es esencial que la capa de superficie sea de una pureza muy alta con un contenido de carbono ultrabajo. Normalmente la capa de superficie comprenderá de 50% a 100% en peso de Si3N4, hasta 50% en peso de SiO2, y hasta 20% en peso de silicio. Usualmente, la capa de superficie se aplicará por atomización o con cepillo, preferiblemente por atomización. En una modalidad preferida del procedimiento de acuerdo con la invención, el paso de aplicar el revestimiento es seguido por un paso de calentamiento, a una temperatura y durante un tiempo apropiados para calcinar sustancialmente todo el compuesto orgánico presente en los revestimientos. Es de notar que cuando se usa una capa intermedia de acuerdo con la invención, el grosor de la capa de superficie se puede reducir mucho sin deteriorar las propiedades del revestimiento (propiedades de adhesión). A continuación se describirá la invención haciendo referencia a las figuras anexas, que sólo sirven para ilustrar la invención y no pretenden limitar su alcance. Las figuras 1 y 2 muestran secciones transversales de crisoles de acuerdo con la invención. En estas figuras, el crisol se designa con el número de referencia 1. Comprende un cuerpo de base, 2, que comprende una superficie inferior, 21 , y paredes laterales, 22, que definen un volumen interno para la cristalización del silicio. El crisol comprende una capa intermedia, 3, que está comprendida de hasta 100% en peso de sílice en la superficie de las paredes laterales 22 que está frente al volumen interno. En la figura 2, el crisol comprende una capa intermedia adicional, 31 , que comprende hasta 50% en peso de Si3N , el resto consistiendo esencialmente de SiO2. Dicho revestimiento intermedio adicional no está presente en la figura 1. En ambas figuras, el crisol 1 también comprende una capa de superficie, 4, que comprende Si3N4. A continuación la invención se ilustrará por medio de ejemplos de acuerdo con la invención y ejemplos comparativos. En los siguientes cuadros se ha determinado la adhesión de los diversos revestimientos de acuerdo con la prueba ASTM de D4541 , usando el probador POSITEST PULL-OFF ADHESIÓN TESTER (de la compañía DEFELSKO Corp.). Este probador evalúa la adhesión del revestimiento determinando la fuerza tensora de desprendimiento más grande que puede tener antes de separarse, esto es, la fuerza requerida para desprender de su substrato un diámetro de prueba específico de revestimiento usando presión hidráulica. La fuerza se expresa en función de presión (kPa). Ejemplos de las capas intermedias: CUADRO I Capa intermedia A B c D E F G Sílice coloidal ** 25 30 30 15 Sílice fumante (=1µm)** 20 20 10 10 20 Granos de sílice (10-20 µm)** 100 40 40 6 10 65 Granos de sílice (20-44 µm)** 20 65 60 60 Granos de sílice (45-100 µm)** 40 20 4 Agua desionizada** +50 +50 Agua desionizada + aglutinante** +70 +66 +50 +45 +60 (P A 10% p) Grosor de la capa (µm) 300 500 500 150 500 250 200 Aspereza (µm) 5 8 12 =5 =15 =10 5 Adhesión (kPa) 1103 345 827 827 1241 1379 1103 ' (% en peso) Los ejemplos preferidos son las composiciones C y G, siendo G la más preferida. Ejemplos de la capa intermedia adicional: CUADRO II Capa intermedia adicional IA IB IC Sílice fumante (=1µm)** 20 Granos de sílice (10-20 µm)** 60 40 Granos de sílice (20-44 µm)** 60 Agua desionizada** +60 Agua desionizada + aglutinante** +70 +80 (PVA 10 % peso)) Nitruro de silicio en polvo** 40 40 40 Grosor de la capa (µm) 50 75 100 Aspereza (µm) 10 8 5 ** (% en peso) La composición preferida es la del ejemplo IB. Ejemplos de la capa de superficie: CUADRO III Capa de superficie SA SB se SD Sílice coloidal** 5 Granos de sílice (10-20 µ )** 5 Agua desionizada** +55 Agua desionizada + aglutinante" +70 +65 (PVA 10% p ) Nitruro de silicio en polvo** 100 100 80 85 Si** 15 10 Grosor de la capa (µm) 100 200 200 300 Aspereza (µm) 5 5 =5 5 Adhesión (kPa) 241 827 965 827 ** (% en peso) *** Con un substrato que corresponde a la capa intermedia G Las composiciones preferidas son SA y SB, siendo más preferida la composición SB.
Ejemplos de crisol: CUADRO IV Crisol 1 2 3 4 5* 6* Capa intermedia A B C D - - Capa intermedia adicional IA - IC - - - Revestimiento de superficie SA SB SC SD SB SD Adhesión del revestimiento Buena Excelente Excelente Buena Mala Mala de superficie * Ejemplo comparativo Es de notar que el grosor de las capas de superficie SB y SD se duplicó en los ejemplos 5 y 6.

Claims (14)

NOVEDAD DE LA INVENCIÓN REIVINDICACIONES
1.- Un crisol (1 ) para la cristalización de silicio, que comprende: (a) un cuerpo de base (2) que comprende una superficie inferior (21 ) y paredes laterales (22) que definen un volumen interno; (b) una capa intermedia (3) que comprende de 50% a 100% en peso de sílice, en la superficie de las paredes laterales (22) que está frente al volumen interno; y (c) una capa de superficie (4) que comprende de 50% a 100% en peso de nitruro de silicio, hasta 50% en peso de dióxido de silicio y hasta 20% en peso de silicio, encima de la capa intermedia.
2.- El crisol de conformidad con la reivindicación 1 , caracterizado además porque la capa intermedia tiene un grosor comprendido entre 50 µm y 500 µm, preferiblemente entre 200 µm y 500 µm.
3.- El crisol de conformidad con la reivindicación 1 o 2, caracterizado además porque la capa intermedia (3) comprende un aglutinante inorgánico, preferiblemente sílice coloidal.
4.- El crisol de conformidad con la reivindicación 3, caracterizado además porque el aglutinante inorgánico está presente en una cantidad de 5% a 20% en peso.
5.- El crisol de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 4, caracterizado además porque la capa intermedia (3) comprende un aglutinante orgánico seleccionado preferiblemente del grupo que consiste de polietilenglicol, alcohol polivinílico, policarbonato, epoxia, carboximetilcelulosa.
6.- El crisol de conformidad con la reivindicación 5, caracterizado además porque el aglutinante orgánico está presente en una cantidad de hasta 5% en peso.
7.- El crisol de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6, caracterizado además porque comprende una capa intermedia adicional (31 ) encima de la primera capa intermedia (3), que comprende esencialmente hasta 50% en peso de nitruro de silicio, siendo el resto dióxido de silicio.
8.- El crisol de conformidad con la reivindicación 7, caracterizado además porque la capa intermedia adicional (31 ) tiene un grosor de hasta 200 µm, preferiblemente de 50 µm a 100 µm.
9.- El crisol de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 8, caracterizado además porque la capa de superficie (4) tiene un grosor comprendido entre 50 µm y 500 µm, preferiblemente de 200 µm a 500 µm.
10.- El crisol de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 9, caracterizado además porque la capa de superficie (4) comprende de 50% a 100% en peso de Si3N , hasta 40% en peso de SiO2, y hasta 10% en peso de silicio.
11.- Un procedimiento para preparar un crisol (1 ) para la cristalización de silicio, que comprende los pasos de: (a) proveer un cuerpo de base (2) que comprende una superficie inferior (21 ) y paredes laterales (22) que definen un volumen interno; (b) aplicar una capa intermedia (3) que comprende de 50% a 100% en peso de sílice en la superficie de las paredes laterales (22) que está frente al volumen interno; y (c) aplicar una capa de superficie (4) que comprende de 50% a 100% en peso de nitruro de silicio, hasta 50% en peso de dióxido de silicio y hasta 20% en peso de silicio, encima de la o las capas intermedias (3, 31 ).
12.- El procedimiento de conformidad con la reivindicación 11 , caracterizado además porque comprende un paso adicional de (b') aplicar una capa intermedia adicional (31 ) que comprende esencialmente hasta 50% en peso de nitruro de silicio, siendo el resto dióxido de silicio, encima de la capa intermedia (3), antes del paso (c).
13.- El procedimiento de conformidad con la reivindicación 11 o 12, caracterizado además porque por lo menos uno de los pasos (b), (b') o (c) se efectúa por medio de atomización.
14.- El procedimiento de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 11 a 13, caracterizado además porque comprende un paso de calentamiento del crisol revestido, a una temperatura y durante un tiempo apropiados, para calcinar sustancialmente todo el compuesto orgánico presente en el o los revestimientos.
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Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005028435B4 (de) * 2004-06-30 2011-05-12 Deutsche Solar Ag Kokille mit Antihaftbeschichtung ihr Herstellungsverfahren und ihre Verwendung
US7497907B2 (en) * 2004-07-23 2009-03-03 Memc Electronic Materials, Inc. Partially devitrified crucible
DE102005032789B4 (de) * 2005-06-06 2010-12-30 Deutsche Solar Ag Behälter mit Beschichtung und Herstellungsverfahren
TWI400369B (zh) 2005-10-06 2013-07-01 Vesuvius Crucible Co 用於矽結晶的坩堝及其製造方法
DE102005050593A1 (de) * 2005-10-21 2007-04-26 Esk Ceramics Gmbh & Co. Kg Dauerhafte siliciumnitridhaltige Hartbeschichtung
EP1811064A1 (fr) 2006-01-12 2007-07-25 Vesuvius Crucible Company Creuset pour le traitement de silicium à l'état fondu
WO2008026688A1 (fr) * 2006-08-30 2008-03-06 Kyocera Corporation Procédé de formation d'un moule pour la production d'un lingot de silicium, procédé de production d'un substrat pour élément de cellule solaire, procédé de production d'un élément de cellule solaire et moule pour la production d'un lingot de silicium
EP2116637A3 (en) * 2008-05-07 2012-03-21 Covalent Materials Corporation Crucible for melting silicon and release agent used to the same
DE102008031766A1 (de) 2008-07-04 2009-10-15 Schott Ag Verfahren zur Herstellung eines beschichteten Tiegels aus einem Tiegelgrünkörper oder aus einem zwischengebrannten Tiegelkörper sowie die Verwendung solch eines beschichteten Tiegels
CN101775639B (zh) * 2009-01-08 2012-05-30 常熟华融太阳能新型材料有限公司 用于多晶硅结晶炉炉壁保护的内衬及其制造方法
DE102009048741A1 (de) 2009-03-20 2010-09-30 Access E.V. Tiegel zum Schmelzen und Kristallisieren eines Metalls, eines Halbleiters oder einer Metalllegierung, Bauteil für einen Tiegelgrundkörper eines Tiegels und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils
CN102549201A (zh) * 2009-07-16 2012-07-04 Memc新加坡私人有限公司 涂覆坩埚及其制备方法和用途
KR101048586B1 (ko) * 2009-10-06 2011-07-12 주식회사 엘지실트론 고강도 석영 도가니 및 그 제조방법
US20110210470A1 (en) * 2010-02-26 2011-09-01 6N Silicon Inc. Crucible and method for furnace capacity utilization
CN101913776B (zh) * 2010-09-03 2012-07-04 山东理工大学 氮化硅涂层石英坩埚的制备方法
CN102031488A (zh) * 2010-12-23 2011-04-27 福建福晶科技股份有限公司 一种提高膜层损伤阈值的坩埚
CN102229502B (zh) * 2011-06-10 2013-06-05 东海晶澳太阳能科技有限公司 一种晶体硅铸造用的坩埚涂层及其制备方法
EP2751302B1 (de) * 2011-08-31 2017-05-31 3M Innovative Properties Company Siliziumnitridhaltige trennschicht hoher härte
CN102367572B (zh) * 2011-09-21 2014-01-01 安阳市凤凰光伏科技有限公司 多晶硅铸锭坩埚喷涂免烧结方法
JP5148783B1 (ja) * 2011-11-14 2013-02-20 シャープ株式会社 複合材の製造方法およびシリコンの精製装置
WO2013073204A1 (ja) * 2011-11-14 2013-05-23 シャープ株式会社 複合材、複合材の製造方法およびシリコンの精製装置
CN103506263B (zh) * 2011-12-30 2015-07-29 英利能源(中国)有限公司 多晶硅坩埚喷涂免烘干的方法及氮化硅涂层
CN103183478B (zh) * 2011-12-31 2015-07-08 浙江昱辉阳光能源有限公司 氮化硅坩埚涂层及其制备方法
JP2013227171A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Kyodo Fine Ceramics Co Ltd 単結晶シリコン育成用るつぼ、単結晶シリコン育成用るつぼの製造方法、及び単結晶シリコンの製造方法
KR101697027B1 (ko) * 2012-06-25 2017-01-16 실리코르 머티리얼즈 인코포레이티드 실리콘 용융물의 정제용 내화 도가니의 표면용 라이닝 및 용융 및 추가적인 방향성 고체화를 위하여 상기 도가니(들)를 이용하는 실리콘 용융물의 정제 방법
CN103774209B (zh) * 2012-10-26 2016-06-15 阿特斯(中国)投资有限公司 硅铸锭用坩埚及其涂层制备方法
JP6096653B2 (ja) * 2012-12-28 2017-03-15 京セラ株式会社 シリコン鋳造用鋳型およびその製造方法
RU2514354C1 (ru) * 2013-02-27 2014-04-27 Общество с ограниченной ответственностью "Обнинский Внедренческий Центр "Перспективные технологии" Способ получения изделий из пористых керамических и волокнистых материалов на основе кварцевого стекла
JP6355096B2 (ja) * 2013-07-31 2018-07-11 国立大学法人山口大学 撥液性複合部材
CN103420618A (zh) * 2013-09-05 2013-12-04 蠡县英利新能源有限公司 太阳能电池坩埚及其喷涂方法
FR3010715B1 (fr) * 2013-09-16 2017-03-10 Commissariat Energie Atomique Substrat a revetement peu permeable pour solidification de silicium
FR3010716B1 (fr) * 2013-09-16 2015-10-09 Commissariat Energie Atomique Substrat pour la solidification de lingot de silicium
EP2982780B1 (de) 2014-08-04 2019-12-11 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Verfahren zur herstellung eines siliziumblocks, zur verfahrensdurchführung geeignete kokille aus quarzglas oder quarzgut sowie verfahren für deren herstellung
CN105133011A (zh) * 2015-09-01 2015-12-09 晶科能源有限公司 一种多晶石英坩埚涂层及其制备方法
JP6567987B2 (ja) * 2016-02-24 2019-08-28 クアーズテック株式会社 石英ガラスルツボの製造方法
GB2550415A (en) * 2016-05-18 2017-11-22 Rec Solar Pte Ltd Silicon ingot growth crucible with patterned protrusion structured layer
US10450669B2 (en) 2016-07-29 2019-10-22 Auo Crystal Corporation Container for silicon ingot fabrication and manufacturing method thereof, and method for manufacturing crystalline silicon ingot
US11127572B2 (en) 2018-08-07 2021-09-21 Silfex, Inc. L-shaped plasma confinement ring for plasma chambers
CN110000708A (zh) * 2019-04-15 2019-07-12 徐州协鑫太阳能材料有限公司 一种改造坩埚粗糙度的方法
CN109955154A (zh) * 2019-04-15 2019-07-02 徐州协鑫太阳能材料有限公司 一种坩埚表面粗糙度的加工方法
DE102019206489A1 (de) * 2019-05-06 2020-11-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Tiegel zur Herstellung von partikel- und stickstoff-freien Silicium-Ingots mittels gerichteter Erstarrung, Silicium-Ingot und die Verwendung des Tiegels

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE962868C (de) * 1953-04-09 1957-04-25 Standard Elektrik Ag Tiegel zum Herstellen reinsten Halbleitermaterials, insbesondere von Silizium und dessen Verwendung
US3660075A (en) * 1969-10-16 1972-05-02 Atomic Energy Commission CRUCIBLE COATING FOR PREPARATION OF U AND P ALLOYS CONTAINING Zr OR Hf
DE1957952A1 (de) * 1969-11-18 1971-05-27 Siemens Ag Siliciumnitridbeschichtung an Quarzwaenden fuer Diffusions- und Oxydationsreaktoren
JPS54141389A (en) * 1978-04-27 1979-11-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Crucible used in crystal growing device, manufacture of said crucible and crystal growing method using said crucible
JPS54157779A (en) * 1978-06-02 1979-12-12 Toshiba Corp Production of silicon single crystal
JPS6018638B2 (ja) * 1979-08-17 1985-05-11 東芝セラミツクス株式会社 シリコン単結晶引上装置
JPS57188498A (en) * 1981-05-15 1982-11-19 Toshiba Ceramics Co Ltd Quartz crucible for pulling up silicon single crystal
CN87206316U (zh) * 1987-04-16 1987-12-30 清华大学 氮化硅涂层坩埚
US4741925A (en) 1987-09-14 1988-05-03 Gte Products Corporation Method of forming silicon nitride coating
JPH02172886A (ja) * 1988-12-26 1990-07-04 Toshiba Ceramics Co Ltd 半導体単結晶引上げ装置
JPH0751473B2 (ja) * 1988-12-26 1995-06-05 東芝セラミックス株式会社 単結晶製造用カーボンルツボ
JPH0597571A (ja) * 1991-06-13 1993-04-20 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコン単結晶引上げ用ルツボ
US5431869A (en) 1993-01-12 1995-07-11 Council Of Scientific & Industrial Research Process for the preparation of polycrystalline silicon ingot
JP3533416B2 (ja) * 1996-02-06 2004-05-31 三菱住友シリコン株式会社 単結晶引上装置
JPH10316489A (ja) * 1997-05-12 1998-12-02 Japan Steel Works Ltd:The 一方向凝固装置用鋳型およびその製造方法
JPH11209133A (ja) * 1998-01-23 1999-08-03 Mitsubishi Materials Corp 透明シリカガラス体とその製造方法
JP4447738B2 (ja) * 2000-05-31 2010-04-07 信越石英株式会社 多層構造の石英ガラスルツボの製造方法
JP3981538B2 (ja) * 2001-07-27 2007-09-26 トーカロ株式会社 シリコン保持容器およびその製造方法

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