KR101961351B1 - 방사선 촬영 시스템 및 방사선 촬영 방법 - Google Patents

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Abstract

방사선을 검출하는 복수의 방사선 검출 장치와, 복수의 방사선 검출 장치로부터 취득된 복수의 방사선 화상을 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 합성 처리기를 구비한 방사선 촬영 시스템은, 긴 사이즈의 화상에 있어서 방사선 검출 장치들이 서로 중첩하는 결함 영역을 보정하는 화상 보정부를 더 구비한다.

Description

방사선 촬영 시스템 및 방사선 촬영 방법{RADIOGRAPHIC SYSTEM AND RADIOGRAPHIC METHOD}
본 발명은, 방사선을 사용해서 촬영을 행하는 방사선 촬영 시스템 및 방사선 촬영 방법에 관한 것이다.
최근, 예를 들면 의료분야에서는 피검자의 척수, 하지의 전체 또는 전신을 촬영하기 위해, 관찰 영역이 넓은 촬영(이하, "긴 사이즈 촬영"이라고 칭한다)이 행해지고 있다. 일본 특개 2012-040140호 공보에는, 복수의 배치된 방사선 검출 장치(방사선 촬영 장치)를 사용하여 촬영함으로써, 긴 사이즈 촬영을 행할 수 있는 방사선 촬영 시스템이 개시되어 있다.
일본 특개 2012-040140호 공보에 있어서, 인접한 방사선 검출 장치의 2개의 일부가 서로 중첩하면서 복수의 배치된 방사선 검출 장치를 사용하여 촬영할 때, 방사선 검출장치의 각 쌍에서, 방사선 발생부에 보다 가깝게 위치된 한쪽의 방사선 검출 장치의 일부는, 방사선 발생부로부터 멀라 위치된 다른 쪽의 방사선 검출 장치에 의해 얻어진 화상에 포함된다. 구체적으로, 한쪽의 방사선 검출 장치로부터 출력된 방사선 화상은, 다른 쪽의 방사선 검출 장치의 구조물을 포함한다. 방사선 검출 장치의 구조물은 진단 대상인 피검자와는 관계가 없으므로, 그 구조물에 해당하는 화상의 일부는 결함 영역이다. 결함 영역은, 복수의 방사선 화상을 서로 합성해서 긴 사이즈의 화상(합성 화상)이 얻어질 때에도 남아있다. 그렇지만, 일본 특개2012-040140호 공보에는, 이러한 예기치 않은 화상에 대한 대책에 대해서 언급되지 않고 있다.
본 발명에 따르면, 방사선 검출 장치의 구조물에 기인하는 결함 영역을 포함하는 긴 사이즈의 화상의 품질을 향상시키는 방사선 촬영 시스템 및 방사선 촬영 방법을 제공한다. 방사선을 검출하는 복수의 방사선 검출 장치와, 상기 복수의 방사선 검출 장치에 의해 취득된 복수의 방사선 화상을 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 합성 처리기를 구비한 방사선 촬영 시스템은, 긴 사이즈의 화상에 있어서 상기 방사선 검출 장치들이 서로 중첩하는 결함 영역을 보정하는 화상 보정부를 더 구비한다.
본 발명의 또 다른 특징 및 국면은 첨부된 도면을 참조하여 주어지는 이하의 실시형태의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다.
도 1은 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템의 개략 구성을 도시한 도면이다.
도 2는 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템의 방사선 검출 장치들과 화상 데이터 사이의 관계를 도시한 도면이다.
도 3은 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템(주로, 화상 표시 제어기)의 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템의 긴 사이즈의 화상의 결함 영역을 도시한 도면이다.
도 5는 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템에 구비된 화상 보정부에 의해 행해진 보정처리를 도시한 도면이다.
도 6은 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템에 구비된 화상 보정부에 의해 행해진 보정처리를 도시한 도면이다.
도 7은 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템에 구비된 화상 보정부에 의해 행해진 보정처리를 도시한 도면이다.
도 8은 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템의 동작을 나타낸 흐름도다.
도 9는 제3 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템의 구성을 도시한 도면이다.
이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 더욱 상세히 설명한다.
실시예 1
도 1은 제1 실시예에 따른 방사선 촬영 시스템의 개략구성을 도시한 도면이다. 구체적으로, 도 1은 배치된 복수의 방사선 검출 장치를 사용하여 행해진 긴 사이즈 촬영에 사용된 방사선 촬영 시스템의 개략구성을 도시한 도면이다.
방사선 촬영 시스템은, 방사선을 발생시키는 방사선 발생부(112)를 구비하고 있다. 방사선 발생부(112)는, 조사 범위(114)에 방사선을 출력하여도 된다. 방사선 발생부(112)는, 바닥면 또는 천장에 설치된 지지부(미도시)를 개재하여 설치되어 있다. 방사선 발생부(112)의 조사면에는 방사선을 차폐하는 조리개(미도시)가 설치되어 있다. 조작자는, 방사선을 차폐하는 조리개를 제어하여, 방사선 발생부(112)로부터 방출된 방사선의 조사 범위(114)를 설정한다.
방사선 촬영 시스템은, 복수의 방사선 검출 장치(120, 122, 124)를 구비하고 있다. 본 실시예에서는 3개의 방사선 검출 장치(120, 122, 124)가 도시되어 있지만, 2개의 방사선 검출 장치, 또는 4개 이상의 방사선 검출 장치가 설치되어도 된다. 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은, 피검자(100)를 통과한 방사선을 검출하고, 그 방사선에 대응하는 화상 데이터를 출력한다. "화상 데이터"를 "방사선 화상"으로 대체하여도 된다.
구체적으로는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은, 피검자(100)를 투과한 방사선을, 투과 방사선 량에 해당하는 전하로서 검출한다. 예를 들면, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로서는, 방사선을 전하로 직접 변환하는 a-Se 직접 변환형 센서와, CsI 신틸레이터와 a-Si 광전 변환 소자를 사용한 간접형 센서가 사용된다. 또한, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은, 검출된 전하에 대해 A/D 변환을 행하여 화상 데이터를 생성하고, 화상 데이터를 화상 표시 제어기(130)에 출력한다.
방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은, 방사선 촬영대(110) 내에 수납되어 있다. 방사선 촬영대(110)는 직사각형의 중공 케이스다. 또한, 방사선 촬영대(110)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)을 보유하는 기능을 갖고 있다.
도 1에 도시한 바와 같이, 방사선 촬영대(110)는 바닥면에 수직하게 설치되어 있다. 피검자(100)는, 방사선 촬영대(110)의 길이 방향을 따라 위치 결정된다. 방사선 촬영대(110)는 피검자(100)를 지지하는 기능을 갖는다.
도 1에서는, 방사선 촬영대(110)의 길이 방향이 수직 방향에 해당하도록, 즉, 방사선 촬영대(110)가 바닥면에 대하여 똑바로 서있도록, 방사선 촬영대(110)가 설치된다. 이때, 방사선 촬영대(110)의 길이 방향이 수평 방향에 해당하도록, 즉, 방사선 촬영대(110)가 바닥면에 대하여 평행하게 설치되도록, 방사선 촬영대(110)가 설치되어도 된다.
방사선 촬영대(110)에는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)이 방사선 촬영대(110)의 길이 방향을 따라 배치된다. 여기에서, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 인접한 두 개의 일부가 서로 중첩하면서 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)이 배치된다. 예를 들면, 도 1에 도시한 바와 같이, 방사선 검출 장치 120 및 122는, 방사선 검출 장치 120 및 122의 일부가 서로 공간적으로 중첩하도록 배치된다. 여기에서, 방사선 검출 장치 120 및 122의 촬영 이용가능 영역은 서로 중첩한다. 마찬가지로, 방사선 검출 장치 122 및 124는, 방사선 검출 장치 122 및 124의 일부가 공간적으로 서로 중첩하도록 배치된다. 여기에서, 방사선 검출 장치 122 및 124의 촬영 이용가능 영역은 서로 중첩한다. 또한, 방사선 검출 장치 122는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 배면측의 위치, 즉 방사선 발생부(112)로부터 먼 위치에 설치되어 있다.
또한, 방사선 촬영 시스템은, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 화상 데이터에 대하여 화상처리를 행하여, 화상을 생성하는 화상 표시 제어기(130)와, 화상을 표시하는 표시부(132)와, 조작자가 지시를 행하는데 사용된 조작부(134)를 구비하고 있다. 화상 표시 제어기(130)는, 각 구성 요소를 제어하는 기능을 갖는다. 화상 표시 제어기(130)는, CPU, 메모리 및 하드 디스크로 구성된다. 화상 표시 제어기(130)는, CPU를 이용하여 제어를 행한다.
화상 표시 제어기(130)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 접속되어 있다. 구체적으로는, 화상 표시 제어기(130)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)과 유선 네트워크, 무선 네트워크, 유선 전용선 또는 무선 전용선에 의해 접속되어 있다. 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은, 방사선 발생부(112)에서 발생한 방사선을 촬상하고, 화상 데이터를 화상 표시 제어기(130)에 출력한다. 화상 표시 제어기(130)는, 컴퓨터에서 동작하는 어플리케이션 기능을 갖는다. 화상 표시 제어기(130)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 동작을 제어하면서, 표시부(132)에 화상을 출력하고, 그래픽 유저 인터페이스를 출력한다.
화상 표시 제어기(130)는, 방사선 발생부(112)가 방사선을 발생하는 타이밍과 방사선의 촬영 조건을 제어한다. 또한, 화상 표시 제어기(130)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 화상 데이터를 촬영하는 타이밍과 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 화상 데이터를 출력하는 타이밍을 제어한다. 화상 표시 제어기(130)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 대하여 동시에 촬영을 행하게 하고, 동시에 화상 데이터를 출력하게 한다.
화상 표시 제어기(130)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 화상 데이터에 대하여, 노이즈 저감 등의 화상처리를 행하는 기능을 갖는다. 또한, 화상 표시 제어기(130)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 화상 데이터에 대하여, 트리밍이나 회전 등의 화상처리를 행할 수도 있다. 표시부(132)는 화상 표시 제어기(130)로부터 출력된 화상을 표시한다.
피검자(100)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124) 및 방사선 발생부(112)에 대하여 위치 결정되도록 방사선 촬영대(110)에 놓여진 발판 위에 서 있다. 본 실시예에서는, 방사선은, 방사선 검출 장치(122)의 중심에 수직하게 방사선이 입사하는 각도로 방출된다. 방사선 발생부(112)로부터 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 방출된 방사선은, 피검자(100)를 투과해서 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 도달해서 검출된다. 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 의해 얻어진 화상 데이터는 화상 표시 제어기(130)에서 합성 처리되어, 피검자(100)의 합성 화상이 생성된다. 합성 화상은, 관찰 영역이 넓은 긴 사이즈 촬영에 의해 취득되는 긴 사이즈의 화상이다. 표시부(132)는, 화상 표시 제어기(130)로부터 출력된 그 긴 사이즈의 화상을 표시한다.
본 발명의 방사선 촬영 시스템에서는, 1회의 방사선의 조사에 의해, 피검자(100)의 척수, 하지의 전체나 전신을 촬영하는 긴 사이즈 촬영을 행할 수도 있다. 방사선 발생부(112)는, (조사 범위(114)에서) 방사선을 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 동시에 방출한다. 예를 들면, 조작자는, 방사선을 차폐하는 조리개를 제어하고, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)과 방사선 발생부(112) 사이의 거리를 제어한다.
방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은, 방사선 발생부(112)로부터의 방사선의 방출을 자동 검지하는 검지 기능을 가져도 된다. 이 자동 검지 기능에 의해, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은, 방사선 발생부(112)로부터 방출된 방사선을 검지하고, 이 방사선에 기인한 전하를 축적한다. 방사선 검출 장치들(120, 122, 124) 중 한 개에 의해 방사선의 방출을 검지했을 때, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은 실제의 판독 동작을 개시하여 화상 데이터를 취득한다.
전술한 방사선 촬영 시스템에서는, 방사선 검출 장치 120, 124의 배면측에 방사선 검출 장치 122가 방사선 검출 장치 120, 124와 중첩하도록 설치되어 있다. 따라서, 방사선 검출 장치 122로부터 출력된 화상 데이터는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 내부 구성 요소인 방사선 검출 패널, 기판 및 케이스 등의 구조물(구조 정보)의 화상들을 포함하는 결함 영역을 포함한다. 이 결함 영역을 설명하기 위해, 본 발명의 방사선 촬영 시스템의 방사선 검출 장치 120 및 122와 방사선 화상 사이의 관계를 도 2를 참조하여 설명한다.
방사선 검출 장치(120)는, 방사선 입사면측으로부터, 방사선을 검출하는 방사선 검출 패널(150), 방사선 검출 패널(150)을 패널 베이스(158)에 점착시키는 압력 감지 부재(156), 방사선 검출 패널(150)을 지지하는 패널 베이스(158), 및 방사선 검출 패널(150)이 전기신호를 출력하게 하는 제어 기판(154)을 적층하여 얻어진 결합체를 구비한다. 방사선 검출 패널(150)과 제어 기판(154)은, 플렉시블 기판(152)을 거쳐 서로 접속되어 있다.
방사선 검출 장치(120)의 외부 케이싱은, 금속 케이스(160)와, 방사선을 투과시키는 방사선 투과 부재로 형성된 방사선 투과부(162)로 구성된다. 방사선 검출 패널(150)의 방사선 입사면에는, 방사선 투과부(162)가 설치되어, 방사선 발생부(112)로부터 방출된 방사선의 감쇠를 억제한다. 방사선 검출 패널(150)은, 방사선을 검출하는 유효 화소 영역과, 해당 유효 화소 영역의 외주에 있는 주변부를 구비한다.
설명은 생략하지만, 방사선 검출 장치 122 및 124는, 방사선 검출 장치 120의 구성과 같다.
방사선 검출 장치 122는 방사선 검출 장치 120의 유효 화소 영역의 일부와 중첩하는 유효 화소 영역을 갖고, 어느 라인에 있어서도 방사선 검출 장치 120 및 122의 유효 화소 영역들 중 적어도 한개가 확실하게 화상정보를 취득한다. 긴 사이즈의 화상은, 방사선 검출 장치 120으로부터 출력된 화상 데이터(방사선 화상)와, 방사선 검출 장치 122로부터 출력된 화상 데이터의 방사선 검출 장치 120에 의해 취득되지 않은 화상 영역의 화상 데이터(방사선 화상)로부터 생성된다.
여기에서, 방사선 검출 장치 122에 의해 얻어진 화상 데이터(302)에는, 방사선 검출 장치 120에 포함된 구조물의 화상이 포함되어 있다. 방사선 검출 장치 122의 유효 화소 영역의 단부로부터 방사선 검출 장치 120의 외부 케이싱의 단부까지의 범위의 영역(410)에서, 방사선 검출 장치 120의 구조물의 화상이 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상에 포함되어 있다. 따라서, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터(302)에는, 방사선 검출 장치 120의 구조물의 예기치 않은 화상으로 인해 결함 영역(412)이 생성된다. 이에 따라, 그 결함 영역(412)은, 방사선 검출 장치(122)에 의해 취득된 화상 데이터(302)로부터 합성 처리기(142)에 의해 생성된 긴 사이즈의 화상에도 생성된다.
방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터(302)의 결함 영역(412)에는, 방사선 검출 장치 120에 구비된 방사선 검출 패널(150)의 일부, 플렉시블 기판(152)의 일부, 압력 감지 부재(156)의 일부, 패널 베이스(158)의 일부 및 금속 케이스(160)의 일부를 포함하는 화상 정보가 포함된다. 또한, 결함 영역(412)에는, 플렉시블 기판(152) 위에 있는 기판의 화상 정보와, 나사 등의 화상 정보도 포함된다.
도시되지 않았지만, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터(302)에는, 방사선 검출 장치 124의 구조물의 예기치 않은 화상으로 인해 결함 영역이 생성된다.
전술한 것과 같이, 결함 영역은 방사선 투과율이 낮은 구조물에 의해 생긴 화상 정보의 결함이며, 결함 영역에서는 피검자 정보가 손실된다. 이에 따라, 그 결함 영역은 긴 사이즈의 화상을 사용한 진단을 방해하기도 한다.
다음에, 도 3의 본 발명에 따른 방사선 촬영 시스템의 구성을 참조하여, 전술한 방사선 검출 장치들 사이에서의 중첩에 의해 생성된 긴 사이즈의 화상의 결함 영역을 감소하여 화질을 향상시키는 형태를 설명한다.
화상 표시 제어기(130)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 화상 데이터를 기억하는 기억부(140)와, 화상 데이터를 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 합성 처리기(142)와, 긴 사이즈의 화상에 생기는 결함 영역을 결함이 감소되도록 보정하는 화상 보정부(146)와, 화상 보정부(146)에 의해 보정된 긴 사이즈의 화상에 대하여 계조처리를 행하는 계조 처리기(148)를 구비하고 있다.
기억부(140)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 화상 데이터(방사선 화상)를 기억한다. 도 3에 도시한 것과 같이, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)은, 각각, 방사선 검출 장치들 D1, D2, D3로서 나타낸다.
기억부(140)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 화상 데이터를 시간 정보와 함께 기억할 수도 있다. 따라서, 기억부(140)는, 방사선 화상이 취득된 시간 정보에 따라, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 방사선 화상을 이들 방사선 화상이 동시에 취득된 것인 것인지 아닌지를 판별하면서 기억할 수도 있다. 기억부(140)는, 각 방사선 화상이 피검자(100)의 화상 정보를 포함하는 것인지 아닌지를 판별한 후 그 방사선 화상을 기억할 수도 있다.
또한, 기억부(140)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 위치 정보(공간적 위치 정보)와 관련된, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 의해 동시에 취득된 복수의 방사선 화상을 기억할 수도 있다. 예를 들면, 기억부(140)는, 방사선 검출 장치 120으로부터 출력된 화상 데이터와 방사선 검출 장치 122로부터 출력된 화상 데이터가 서로 인접하고 있는 것을 표시하는 정보를 상기 방사선 화상들과 관련시켜 기억할 수도 있다. 마찬가지로, 기억부(140)는, 방사선 검출 장치 122로부터 출력된 화상 데이터와 방사선 검출 장치 124로부터 출력된 화상 데이터가 서로 인접하고 있는 것을 표시하는 정보를 상기 방사선 화상들과 관련시켜 기억할 수도 있다. 또한, 기억부(140)는, 방사선 검출 장치 122가 방사선 검출 장치 120 및 124의 배면측에 배치되어 있는 것을 표시하는 정보를 상기 방사선 화상들과 관련시켜 기억할 수도 있다. 기억부(140)는, 합성 처리기(142)에 대하여, 복수의 화상 데이터와 그것의 위치 정보를 출력해도 된다.
합성 처리기(142)는, 기억부(140)에 기억된 복수의 화상 데이터를 합성하여, 긴 사이즈의 화상을 생성한다. 이때, 합성 처리기(142)는, 피검자(100)의 화상 정보를 포함하는 복수의 화상 데이터를 합성하여 긴 사이즈의 화상을 생성한다.
합성 처리기(142)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 복수의 화상 데이터와 그것의 시간 정보 및 위치 정보에 따라 합성을 행하여 긴 사이즈의 화상을 생성한다. 구체적으로는, 합성 처리기(142)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 동시에 출력된 복수의 화상 데이터(방사선 화상)를 시간 정보에 따라 합성할 것인지 판별하고, 복수의 화상 데이터를 합성한다. 합성 처리기(142)는, 합성처리 전에, 위치 정보에 따라 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 출력된 복수의 화상 데이터 사이의 위치 관계를 결정한다.
도 1에 나타낸 예에서는, 방사선 검출 장치 120으로부터 출력된 화상 데이터가 상부에 위치결정되고, 방사선 검출 장치 124로부터 출력된 화상 데이터가 하부에 위치결정되고, 방사선 검출 장치 122로부터 출력된 화상 데이터가 상부 및 하부 사이에 위치결정된다. 더구나, 위치 정보에 의해 표시된 중첩을 고려해서 합성처리가 행해진다. 예를 들면, 방사선 발생부(112)로부터 먼 위치에 다른 방사선 검출 장들 120 및 124와 중첩하도록 배치된 방사선 검출 장치 122에 위해, 화상 데이터(302)의 상부 및 하부에 결함 영역이 생긴다. 그러나, 방사선 검출 장치 120 및 124에는 결함 영역이 생기지 않는다. 따라서, 합성 처리기(142)는, 방사선 검출 장치 122와 방사선 검출장치 120 및 124가 서로 중첩되는 영역에서는 방사선 검출 장치 120 및 124에 의해 생성된 화상 데이터를 사용해서 긴 사이즈의 화상을 생성함으로써, 긴 사이즈의 화상에 생기는 결함 영역의 면적을 최소화한다. 이와 같이, 합성 처리기(142)는, 인접하는 복수의 촬영 영역을 촬영해서 얻은 복수의 화상 데이터를 합성함으로써, 긴 사이즈의 화상을 생성한다.
화상 보정부(146)는, 합성 처리기(142)로부터 출력된 합성 화상을, 결함 영역이 감소하도록 보정하는 처리를 행한다. 화상 보정부(146)는, 방사선 검출 장치들 120 및 124의 구조물의 화상을 포함하는 결함 영역을, 결함 영역 이외의 화소 영역에 포함된 화소값을 사용해서 보정한다. 구체적으로는, 화상 보정부(146)는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물을 나타내는 구조 정보와 결함 영역에 인접하는 정상 영역의 화소값 분포를 사용해서 보정을 행한다. 바꿔 말하면, 화상 보정부(146)는, 긴 사이즈의 화상의 결함 영역을, 결함 영역에 인접하는 정상적인 화상 영역의 정보를 이용해서 보정한다.
여기에서, 구조 정보는, 방사선 화상에 포함될 수 있는 방사선 검출 장치의 구조물에 대한 정보이다. 구조 정보에는, 방사선 검출 장치에 포함된 물질의 방사선 감쇠 계수, 두께, 위치 등의 정보를 포함한다. 긴 사이즈의 화상 내부의 결함 영역을 보정하고 하는 경우, 구조물의 예기치 않는 화상이 포함되지 않는다면, 결함 영역의 단부는 공간적으로 인접하는 정상 영역의 화소값 분포와 상관을 갖는 것으로 기대된다. 따라서, 예기치 않은 화상의 구조 정보를 고려하여, 화상 보정부(146)는, 결함 영역의 화소값 분포가 정상 영역의 화소값 분포에 근접하도록 보정을 행함으로써, 결함 영역을 저감한다.
여기에서는, 설명을 간략화 하기 위해서, 피검자가 없이 복수의 방사선 검출 장치를 서로 중첩하여 촬영한 화상 데이터를 구조 정보로서 이용하는 방법을 설명한다. 구조 정보에서는, 방사선 검출 장치의 구조물의 예기치 않은 화상을 화소값으로 표시한다. 큰 두께와 큰 방사선 감쇠 계수를 갖는 구조물의 예기치 않은 화상에 대응하는 화소는 작은 화소값을 갖는 한편, 작은 두께와 작은 방사선 감쇠 계수를 갖는 구조물의 예기치 않은 화상에 대응하는 화소는 큰 화소값을 갖는다.
화상 데이터에 구조 정보가 포함되는 경우를 도 4를 참조해서 설명한다. 도 4는, 방사선 촬영 시스템의 구성과 화상 데이터(결함 영역을 포함한다)의 형태를 모식적으로 나타낸 것이다. 도 4에 나타낸 것과 같은 형태로 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)을 배치하고 피검자가 없이 촬영을 행하는 경우에, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득되는 화상 데이터(302)에는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보가 포함된다.
구체적으로는, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득되는 화상 데이터(302)에는, 방사선 검출 장치 122와 중첩하는 방사선 검출 장치 120의 하단부에 있는 구조 정보에 대응하는 예기치 않은 화상 영역 306이 포함되어 있다. 또한, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득되는 화상 데이터(302)에는, 방사선 검출 장치 122와 중첩하는 방사선 검출 장치 124의 상단부에 있는 구조 정보에 대응하는 예기치 않은 화상 영역 308이 포함되어 있다.
이때, 방사선 검출 장치 120에 의해 취득되는 화상 데이터(방사선 화상) 300은 다른 방사선 검출 장치의 구조 정보의 예기치 않은 화상을 포함하지 않는다. 또한, 방사선 검출 장치 124에 의해 취득되는 화상 데이터(방사선 화상) 304, 다른 방사선 검출 장치의 구조 정보의 예기치 않은 화상을 포함하지 않는다. 따라서, 화상 데이터(302)는, 위치 및 화소값 정보로서 예기치 않은 화상을 갖는 구조 데이터에 해당한다. 예기치 않은 화상 영역 306 및 영역 308을 구조 정보로 간주할 수도 있다.
긴 사이즈의 화상 내부의 결함 영역의 위치는 기억부(140)에 기억된 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 위치 정보를 사용하여 취득하거나, 구조 정보를 사용해서 취득해도 된다. 구체적으로 설명하면, 구조 정보에 의해 표시된 긴 사이즈의 화상 내부의 정보 결함이 긴 사이즈의 화상에서 검출되는 경우에, 그 검출된 정보 결함의 영역은 결함 영역에 해당한다. 구조 정보로서 전술한 예기치 않은 화상 영역 306 및 308이 사용되는 경우, 화상 보정부(146)는, 구조 정보를 템플릿 화상으로서 사용하여 사이즈의 화상 위에서 템플릿 매칭을 행한다. 그리고, 가장 높은 상관을 갖는 위치가 화상 보정부(146)에 의해 보정할 결함 영역으로서 검출된다.
도 5는, 본 발명의 방사선 촬영 시스템에 포함된 화상 보정부(146)에 의해 행해지는 보정처리를 도시한 도면이다. 특히, 도 5는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물의 예기치 않은 화상에 기인한 결함 영역(화상 결함 영역)을 감소시키는 형태를 나타낸 도면이다.
도 5a는, 합성 처리기(142)에 의해, 복수의 화상 데이터(방사선 화상)를 합성해서 생성된 긴 사이즈의 화상 510을 나타낸 도면이다. 긴 사이즈의 화상 510은, 합성 처리기(142)에 의해 생성되어, 화상 보정부(146)에 출력된다.
도 5b는, 화상 보정부(146)에 의해 행해진 보정처리에 사용될 구조 정보를 나타낸 도면이다. 여기에서는, 피검자(100)가 없이 촬영을 행하고, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터가 화상 데이터(302)로 결정된다.
도 5c는, 도 5a의 긴 사이즈의 화상 510에서 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물들의 화상을 포함하는 결함 영역을 보정하여 얻어진 긴 사이즈의 화상 512를 나타낸 도면이다. 보정된 긴 사이즈의 화상 512는 화상 보정부(146)로부터 출력된다. 또한, 도 5a에 나타낸 화상 500은, 방사선 검출 장치 120으로부터 출력되는 화상 데이터에 대응하며, 이 예에서는, 주로 피검자(100)의 머리 부분과 어깨가 포함되어 있다. 이어서, 도 5a에 나타낸 화상 502는, 방사선 검출 장치 122로부터 출력되는 화상 데이터에 대응하며, 이 예에서는, 주로 피검자(100)의 몸체와 팔이 포함되어 있다. 화상 502의 상단부와 하단부에는 각각 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보가 포함되어 있는데, 즉 결함 영역이 발생된다. 합성 처리기(142)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 14) 사이의 배치 관계에 따라, 화상 510 내부의 결함 영역의 면적이 최소가 되도록 합성처리를 행한다.
도 5a에 나타낸 화상 504는, 방사선 검출 장치 124로부터 출력되는 화상 데이터에 대응하며, 이 예에서는, 주로 피검자(100)의 다리가 포함되어 있다.
도 5a에 도시한 것과 같이, 합성 처리기(142)는, 화상들 500, 502 및 504를 합성해서 긴 사이즈의 화상 510을 생성한다. 이에 따라, 피검자(100)의 전신 화상을 취득한다.
도 5c에 도시한 것과 같이, 화상 보정부(146)는, 도 5a에 도시된 긴 사이즈의 화상 510에 대하여 보정처리를 행하여, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물의 예기치 않은 화상으로 인해 발생된 결함 영역을 감소시킨다. 구체적으로 설명하면, 화상 보정부(146)는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 일부(방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물)의 예기치 않은 화상을 포함하는 결함 영역을 보정하여 긴 사이즈의 화상 512를 생성한다.
이하, 화상 보정부(146)에 의해 행해지는 보정처리를 도 6 및 도 7을 참조해서 설명한다. 도 6은 도 5의 점선으로 표시한 영역 600의 확대도이고, 도 7은 도 5의 점선으로 표시한 영역 700의 확대도이다.
화상 보정부(146)는, 긴 사이즈의 화상 510의 결함 영역에 포함된 결함 행들을, 정상적인 화상 영역들을 갖고 결함 행들에 인접하는 정상 행들을 사용해서 보정한다. 화상 보정부(146)는, 정상 행들의 방사선 화상들과 결함 행들의 방사선 화상들 사이의 상관을 확보하면서 이들 방사선 화상들을 혼합하여, 결함 행들을 보정한다. 화상 보정부(146)는, 긴 사이즈의 화상 510 내부의 결함 영역과 구조 정보 사이의 위치 맞춤을 행하고, 긴 사이즈의 화상 510 내부에 포함된 결함 행들에 대응하는 구조 정보 내부에 포함된 결함 정보를 사용하여, 긴 사이즈의 화상 510을 보정한다.
화상 보정부(146)에 의한 보정할 결함 영역의 범위를, 도 6에 도시한 것과 같이 긴 사이즈의 화상 510 내부의 행 번호 Y(1) 내지 Y(N)으로 특정한다. 결함 영역 내부에 포함된 행 Y(n)(1≤n≤N)을 결함 행으로 부른다. 여기에서, 결함 영역의 종단 행들인 Y(1) 및 Y(N)에 인접하여 배치된 행들 Y(0) 및 Y(N+1)을 "정상 행"으로 부른다.
화상 보정부(146)는, 결함 행들에 인접하여 배치된 정상 행들을 사용해서 1행씩 결함 행들을 보정하는 것이다. 보정된 결함 행은 새로운 정상 행이 되어 다음 결함 행의 보정에 이용된다. 각각의 결함 항에 대해 결함 행을 정상 행으로 보정하는 처리를 결함 영역 전체가 처리되도록 반복하여 행한다. 이에 따라, 보정이 행해진다. 구체적으로 설명하면, 화상 보정부(146)는, 긴 사이즈의 화상에 포함된 결함 영역을 행 단위로 결함 행들로 분할하고, 결함 영역의 단부 행으로부터, 결함 행들 중에서 한 개의 화소값 분포를 단부 행에 인접하는 정상 영역에 포함되는 정상 행 혹은 보정된 결함 행의 화소값 분포에 근사시키는 처리를 각각의 결함 행에 대해 반복하여 행한다.
예를 들면, 화상에 대해 아래쪽으로 보정을 행하는 경우에, 결함 행 Y(1)는 정상 행 Y(0)를 사용해서 보정된다. 결함 행 Y(2)은 정상 행으로 변환된 보정된 결함 행 Y(1)를 사용하여 보정된다. 따라서, n이 1 이상이고 N 이하인 범위에서 결함 행들 Y(n)의 보정은 행 Y(n-1)을 정상 행으로 사용하여 순차 행해진다. 위쪽으로 보정을 행할 때에는, 결함 행 Y(n)은 결함 행 Y(N)에서 시작하여 행 Y(n+1)을 정상 행으로 사용하여 순차 보정된다.
여기에서 행하는 보정처리는, 인접하는 화소들 사이에 상관을 이용하는 한 어떤 방법에 의해 행해도 된다. 긴 사이즈의 화상의 행 Y(n)의 x번째 화소(1≤x≤W)를 좌표 (x, Y(n))으로 표시하고, 그 좌표에 있어서의 보정전의 화소값을 I(x, Y(n))으로 표시한다. 보정후의 화소값을 O(x, Y(n))로서 다음 수학식으로 표현한다.
O(x, Y(n))=f(I(x, Y(n)))
상기 수학식에 있어서, 함수 f는 다음 수학식을 최소화한다.
Figure 112016004030266-pat00001
상기 수학식에 있어서, "Y(m)"은 행 Y(n)에 인접하는 정상 행을 나타낸다. 예를 들면, 함수 f를 다항식으로 표시하고, 최소 제곱법에 의해 다항식 계수를 구함으로써, 행마다 결함 행을 정상 행으로 변환하는 함수를 얻을 수 있다. 이 함수를 사용해서 수학식 1을 계산함으로써 보정이 행해진다.
또한, 구조 데이터를 이용해서 보정을 추가적으로 행해도 된다. 좌표 (x, Y(n))에 대응하는 구조 데이터 내부의 화소값을 P(x, Y(n))로 표시하는 것으로 가정한다. 또한, 구조 데이터의 화소값 P(x, Y(n))이 긴 사이즈의 화상의 화소값 I(x, Y(n))에 포함된 방사선 검출 장치 124의 구조에 관한 정보를 갖는 것으로 가정한다. 이때, 보정후에 얻어진 좌표의 화소값 O(x, Y(n))을 다음 식으로 표현한다.
O(x, Y(n))=g(I(x, Y(n)), P(x, Y(n)))
상기 수학식에 있어서, 함수 g는 다음 수학식을 최소화한다.
Figure 112016004030266-pat00002
상기 수학식에 있어서, "Y(m)"은 행 Y(n)에 인접하는 정상 행을 나타낸다. 예를 들면, 함수 g를 다항식으로 표시하고, 최소 제곱법에 의해 다항식 계수를 구함으로써, 행마다 결함 행을 정상 행으로 변환하는 함수가 얻어진다. 함수 g의 사용은, 함수 g가 구조 데이터의 정보를 추가로 사용해서 보정을 행하기 때문에 적절한 보정을 가능하게 한다.
이때, 화상 보정부(146)는 1 방향으로 행해진 보정 결과 만을 사용해도 되지만, 2개의 방향, 즉 상부 방향 및 하부 방향으로 행해진 보정 결과를 혼합해도 된다. 화상 보정부(146)는, 긴 사이즈의 화상 510 내부의 결함 영역에 수직으로 인접하는 행들으로부터 양방향 보정을 행하여 2개의 보정 결과를 생성함으로써, 긴 사이즈의 화상 510을 보정한다. 예를 들면, 화상 보정부(146)는, 2개의 화상 데이터 항목들, 즉 위쪽으로 보정된 결함 영역의 화상 데이터와 아래쪽으로 보정된 결함 영역의 화상 데이터를 생성한다. 위쪽 및 아래쪽으로 보정된 결함 행은 결함 영역(중첩 영역)에 있어서의 같은 행이다. 구체적으로는, 화상 보정부(146)는, 위쪽으로 보정된 결함 행의 화상 데이터와 아래쪽으로 보정된 결함 행의 화상 데이터의 평균을 취하여, 결함 행의 화상 데이터를 보정한다. 또한, 보정된 결함 행이 결함 영역의 종단에 인접하는 정상 행에 더 가깝게 배치될수록, 보정된 경함 라인의 보정 정밀도가 더 높은 것으로 생각된다. 따라서, 보정 개시 행으로부터의 거리에 근거한 가중치를 고려해서 보정 결과를 혼합해도 된다. 이 경우, 결함 영역의 행 수를 "N-1"로 표시하고, 위쪽으로 행해진 보정 결과를 "O1"으로 표시하고, 아래쪽으로 행해진 보정 결과를 "O2"로 표시하면, n행째의 보정 결과 O(n)은 다음 수학식으로 표시된다.
Figure 112016004030266-pat00003
도 7은, 보정되고 표시부(132)에 표시되는 긴 사이즈의 화상(512)의 일부를 나타낸 도면이다. 긴 사이즈의 화상(510) 내부의 결함 영역(중첩 영역)을 보정함으로써, 방사선 검출 장치 124의 구조물의 화상을 포함하는 결함 영역에 기인한 화상 결함을 감소시켜, 긴 사이즈의 화상 510의 화질을 개선한다.
계조 처리기(148)는, 복수의 화상 데이터(방사선 화상)를 합성해서 얻어진 긴 사이즈의 화상 512에 대하여 계조처리를 행한다. 구체적으로는, 계조 처리기(148)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 의해 발생된 복수의 화상 데이터를 기억부(140)로부터 취득한다. 계조 처리기(148)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 취득된 복수의 화상 데이터의 특징량을 해석하여, 표시부(132)의 다이내믹 레인지를 유효하게 이용하도록, 긴 사이즈의 화상 512의 계조 변환 특성을 결정한다.
그리고, 계조 처리기(148)는, 결정된 계조 변환 특성을 사용해서 긴 사이즈의 화상 512의 계조를 변환한다. 특징량은, 각 화상 데이터의 히스토그램, 최대 화소값, 최소 화소값을 포함하고, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 취득된 복수의 화상 데이터에 대하여 해석 처리를 실행함으로써 특징량이 산출된다.
계조 처리기(148)는, 화상 보정부(146)에 의해 보정된 긴 사이즈의 화상 512에 대하여 계조처리를 행할 수 있다. 이와 같이 결함 영역이 감소된 긴 사이즈의 화상 512에 대하여 계조처리를 행하기 때문에, 긴 사이즈의 화상 512에 대해 계조처리를 적절하게 행할 수 있다. 구체적으로는, 계조 처리기(148)는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물의 예기치 않은 화상의 영향을 억제하면서, 긴 사이즈의 화상 512에 대해 계조처리를 행한다.
표시부(132)는, 결함 영역이 감소된 긴 사이즈의 화상 512를 표시한다. 구체적으로는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물의 예기치 않은 화상을 포함하는 긴 사이즈의 화상 512의 화질이 향상된다.
다음에, 방사선 촬영 시스템의 동작 절차에 대해서 도 8의 흐름도를 참조해서 설명한다.
스텝 S801에서, 조작자는 방사선 촬영대(110)에 복수의 방사선 검출 장치를 배치한다. 즉, 조작자는 방사선 촬영대(110)에 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)을 방사선 촬영대(110)의 길이 방향으로 배치한다. 이때, 조작자는 방사선을 검출가능한 유효 화소 영역이 중첩되도록 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 인접한 2개의 일부를 중첩하면서 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)을 배치한다.
스텝 S802에서, 조작자는 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)이 동시에 촬영을 행하게 하고, 동시에 화상 데이터를 합성 처리기(142)에 출력하게 한다. 합성 처리기(142)는 화상 데이터를 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성한다.
스텝 S803에서, 조작자는 긴 사이즈의 화상에 대하여 보정처리를 행할 것인지 아닌지를 조작부(134)를 사용해서 결정한다. 예를 들면, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물의 예기치 않은 화상을 포함하는 결함 영역이 진단 영역에서 벗어나 위치하는 경우, 보정처리를 행하지 않아도 된다. 긴 사이즈의 화상에 대해 보정처리를 행하지 않는 경우, 스텝 S805로 처리를 진행한다. 긴 사이즈의 화상에 대해 보정처리를 행하는 경우, 스텝 S804로 처리를 진행한다.
스텝 S804에서, 화상 보정부(146)는 합성 처리기(142)로부터 출력된 긴 사이즈의 화상에 대하여 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물의 예기치 않은 화상에 기인한 결함 영역을 감소시키는 처리를 행한다.
스텝 S805에서, 계조 처리기(148)는 합성 처리기(142)로부터 출력된 긴 사이즈의 화상에 대하여 계조처리를 행한다. 이와 달리, 계조 처리기(148)는 화상 보정부(146)에 의해 보정된 긴 사이즈의 화상에 대하여 계조처리를 행한다.
전술한 것과 같이, 본 실시예에 따르면, 방사선을 검출하는 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)과, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)로부터 취득되는 복수의 방사선 화상을 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 합성 처리기(142)를 구비한 방사선 촬영 시스템은, 긴 사이즈의 화상에 있어서 방사선 검출 장치들(120, 122, 124) 중에서 인접한 2개가 중첩되는 결함 영역을 보정하는 화상 보정부(146)를 더 구비한다.
바꿔 말하면, 일부가 중첩되는 복수의 방사선 검출부에 피검자를 투과해서 방사선이 동시에 방출될 때 얻어지는 복수의 방사선 화상을 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 합성 처리기(142)를 구비한 방사선 촬영 시스템은, 방사선 검출부들의 예기치 않은 화상을 포함하는 결함 영역을 보정하는 화상 보정부(146)를 더 구비한다.
결함 영역의 보정을 위해 방사선 검출 장치 120 및 124의 예기치 않은 화상과 관련된 구조 정보를 사용한다. 이에 따라, 결함 영역을 포함하는 긴 사이즈의 화상의 화질이 향상된다.
실시예 2
실시예 2에 대해서 설명한다. 실시예 2는, 합성 처리기(142)가 방사선 검출 장치들 사이의 배치 관계에 따라 복수의 화상 데이터(방사선 화상)를 조정해서 긴 사이즈의 화상을 생성한다는 점에서 실시예 1과 다르다.
구체적으로는, 합성 처리기(142)는 방사선 검출 장치들 사이의 배치 관계에 따라 각 화상 데이터의 확대율을 조정해서 긴 사이즈의 화상을 생성한다.
방사선 촬영대(110)에는 복수의 방사선 검출 장치의 인접한 2개의 일부가 중첩되면서 방사선 검출 장치들이 배치되고, 방사선 검출장치들로부터 방사선 발생부(112)에 대해 서로 다른 거리가 얻어지며, 따라서, 화상 데이터에서 피검자의 서로 다른 확대율이 사용된다. 구체적으로는, 방사선 발생부(112)에 대해 방사선 검출 장치 120 및 124보다 더 멀리 배치된 방사선 검출 장치 122에 의해 취득되는 화상 데이터에 피검자(100)가 확대되어 촬상된다. 따라서, 합성 처리기(142)는, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터에 따라 방사선 검출 장치 120 및 124에 의해 취득된 화상 데이터를 확대한다.
또한, 합성 처리기(142)는, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터에 따라, 방사선 검출 장치 120 및 124에 의해 취득된 화상 데이터의 상대 위치를 조정해도 된다. 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)에 의해 얻어진 화상 데이터의 상대 위치들이 안정되도록 방사선 촬영대(100) 상에 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 배치를 정밀하게 행하는 것이 어렵기 때문에, 방사선 촬영대(100) 상에 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)의 배치에 있어서 수 밀리미터의 위치 어긋남이 발생할 가능성이 있다. 따라서, 합성 처리기(142)는, 방사선 검출 장치 120 및 124에 의해 취득되어 확대된 화상 데이터에 대해, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터에 따라 위치맞춤을 행하여, 화상 데이터가 합성된다.
이때, 합성 처리기(142)는, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터에 따라, 방사선 검출 장치 120 및 124에 의해 취득된 화상 데이터를 회전해도 된다. 이와 같은 조작은, 방사선 촬영대(110) 위에 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)이 배치될 때 발생되는 위치 어긋남을 해소하기 위해 행해진다.
전술한 확대율, 상대 위치 및 회전량은, 중첩된 영역에 포함된 화상 데이터에 대해 화상해석을 행함으로써 얻어진다. 예를 들면, 확대율, 상대 위치 및 회전량을 각각의 소정 범위에서 미세하게 변경시키면서 중첩하는 영역들 사이의 상관값을 구하고, 최대의 상관값을 얻는 확대율, 상대 위치 및 회전량을 구한다.
전술한 것과 같이, 본 실시예에 따르면, 합성 처리기(142)는 복수의 화상 데이터를 적절히 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성한다.
실시예 3
다음에, 실시예 3에 대해 도 9를 참조해서 설명한다. 실시예 3은, 화상 데이터로부터 방사선 검출 장치들의 인접한 2개가 중첩되는 결함 영역을 취득하는 결함 영역 취득부(144)가 설치된다는 점에서 실시예 1 및 실시예 2와 다르다.
결함 영역 취득부(144)는, 방사선 검출 장치 122로부터 취득된 화상 데이터(방사선 화상)로부터 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조물(구조 정보)을 나타내는 결함 영역을 취득한다.
구체적으로는, 결함 영역 취득부(144)는, 기억부(140)로부터 피검자(100)의 화상 정보를 포함하지 않는 방사선 검출 장치 122의 화상 데이터를 취득한다. 결함 영역 취득부(144)는, 방사선 검출 장치 120의 구조 정보 및 방사선 검출 장치 124의 구조 정보를 포함하는 방사선 검출 장치 122로부터 취득된 화상 데이터 내부의 영역을 결정한다. 구체적으로는, 결함 영역 취득부(144)는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보의 영역 정보를 인식한다. 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보의 영역 정보에는 화상 데이터의 위치 정보가 포함된다. 그리고, 결함 영역 취득부(144)는 결함 영역을 위치 정보와 함께 화상 보정부(146)에 출력한다.
방사선 검출 장치 120 및 124가 방사선 검출 장치 122의 각각의 일부와 중첩되는 경우, 방사선 검출 장치 120 및 124에 의해 취득된 화상 데이터로부터 방사선 검출 장치 122의 결함 영역을 취득한다. 구체적으로는, 결함 영역 취득부(144)는, 방사선 검출 장치들(120, 122, 124) 사이의 배치 관계에 따라, 결합 영역이 취득되는 방사선 검출 장치들(120, 122, 124) 중에서 한 개의 화상 데이터를 결정한다. 여기에서, 결함 영역 취득부(144)는, 특정한 방사선 검출 장치에 비해 방사선 발생부(112)로부터 더 멀리 배치된 방사선 검출 장치에 의해 취득된 화상 데이터로부터 이 특정한 방사선 검출 장치의 결함 영역을 취득한다. 바꿔 말하면, 결함 영역 취득부(144)는, 특정한 방사선 검출 장치에 비해 방사선 발생부(112)에 더 가깝게 배치된 방사선 검출 장치에 의해 취득된 화상 데이터로부터 이 특정한 방사선 검출 장치에 의해 취득된 화상 데이터의 결함 영역을 취득하지 않는다.
결함 영역 취득부(144)는, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터(302)로부터 결함 영역을 취득한다. 도 4에서 나타낸 상태에서 방사선 검출 장치들(120, 122, 124)이 배치되어 그것의 화상이 촬영되는 경우, 방사선 검출 장치 122의 일부가 방사선 검출 장치 120 및 124의 일부와 중첩한다. 따라서, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터는 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보를 포함한다. 결함 영역 취득부(144)는, 방사선 검출 장치 122에 의해 취득된 화상 데이터로부터 방사선 검출 장치 120 및 124에 대응하는 결함 영역을 취득한다.
도 9에 도시한 것과 같이, 화상 보정부(146)는, 합성 처리기(142)로부터 출력된 긴 사이즈의 화상에 대하여 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보에 기인한 결함 영역을 감소시키는 처리를 행한다. 구체적으로는, 화상 보정부(146)는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 일부의 화상(방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보)을 포함하는 결함 영역을 보정한다.
구체적으로는, 화상 보정부(146)는, 결함 영역 취득부(144)로부터 출력된 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보의 결함 영역을 인식하고, 합성 화상에 포함된 결함 영역에 대하여 보정을 행한다. 화상 보정부(146)는, 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보 근처의 화상에 대한 정보를 사용하여 결함 영역의 화상 결함을 감소시킴으로써 긴 사이즈의 화상을 보정한다. 방사선 검출 장치 120 및 124의 구조 정보 근처의 화상 정보는, 정상적인 화상 정보이며 구조 정보를 포함하지 않는 화상 정보이다. 이와 같이, 화상 보정부(146)는, 결함 영역에 포함된 화상 결함을 감소시킴으로써 긴 사이즈의 화상을 보정한다.
예시적인 실시형태들을 참조하여 본 발명을 설명하였지만, 본 발명이 이러한 실시형태에 한정되지 않는다는 것은 자명하다. 이하의 청구범위의 보호범위는 가장 넓게 해석되어 모든 변형, 동등물 구조 및 기능을 포괄하여야 한다.
기타 실시예
본 발명의 실시형태는, 본 발명의 전술한 실시형태(들)의 1개 이상의 기능을 수행하기 위해 기억매체('비일시적인 컴퓨터 판독가능한 기억매체'로서 더 상세히 언급해도 된다)에 기록된 컴퓨터 실행가능한 명령(예를 들어, 1개 이상의 프로그램)을 판독하여 실행하거나 및/또는 전술한 실시예(들)의 1개 이상의 기능을 수행하는 1개 이상의 회로(예를 들어, 주문형 반도체 회로(ASIC)를 포함하는 시스템 또는 장치의 컴퓨터나, 예를 들면, 전술한 실시형태(들)의 1개 이상의 기능을 수행하기 위해 기억매체로부터 컴퓨터 실행가능한 명령을 판독하여 실행함으로써, 시스템 또는 장치의 컴퓨터에 의해 수행되는 방법에 의해 구현될 수도 있다. 컴퓨터는, 1개 이상의 중앙처리장치(CPU), 마이크로 처리장치(MPU) 또는 기타 회로를 구비하고, 별개의 컴퓨터들의 네트워크 또는 별개의 컴퓨터 프로세서들을 구비해도 된다. 컴퓨터 실행가능한 명령은, 예를 들어, 기억매체의 네트워크로부터 컴퓨터로 주어져도 된다. 기록매체는, 예를 들면, 1개 이상의 하드디스크, 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독 전용 메모리(ROM), 분산 컴퓨팅 시스템의 스토리지, 광 디스크(콤팩트 디스크(CD), 디지털 다기능 디스크(DVD), 또는 블루레이 디스크(BD)TM 등), 플래시 메모리소자, 메모리 카드 등을 구비해도 된다.
본 발명은, 상기 한 실시형태의 1개 이상의 기능을 실현하는 프로그램을, 네트워크 또는 기억매체를 개입하여 시스템 혹은 장치에 공급하고, 그 시스템 혹은 장치의 컴퓨터에 있어서 1개 이상의 프로세서가 프로그램을 읽어 실행하는 처리에서도 실행가능하다. 또한, 1개 이상의 기능을 실현하는 회로(예를 들어, ASIC)에 의해서도 실행가능하다.

Claims (18)

  1. 방사선을 검출하는 복수의 방사선 검출 장치와, 상기 복수의 방사선 검출 장치에 의해 취득된 복수의 방사선 화상을 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 합성 처리부를 구비한 방사선 촬영 시스템으로서,
    상기 합성 처리부에 의해 생성된 상기 긴 사이즈의 화상에 있어서의 결함 영역을, 상기 결함 영역 이외의 화상 영역의 화소값을 사용해서 보정하도록 구성된 화상 보정부 - 상기 결함 영역은 상기 복수의 방사선 검출 장치가 서로 중첩하는 영역에 대응함 - ; 및
    상기 화상 보정부에 의해 상기 결함 영역이 보정된 상기 긴 사이즈의 화상에 대하여 계조처리를 행하도록 구성된 계조 처리부를 구비한 방사선 촬영 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 방사선 검출 장치의 일부가 서로 중첩되도록 상기 복수의 방사선 검출 장치가 배치되는 방사선 촬영대를 더 구비한 방사선 촬영 시스템.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 방사선 검출 장치에 방사선을 동시에 방출하도록 구성된 방사선 발생부를 더 구비한 방사선 촬영 시스템.
  4. 삭제
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 방사선 화상 각각에 피검자의 화상 정보가 포함되어 있는지 여부를 결정하면서, 상기 복수의 방사선 검출 장치로부터 출력된 상기 복수의 방사선 화상을 기억하도록 구성된 기억부를 더 구비한 방사선 촬영 시스템.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 기억부는, 상기 복수의 방사선 검출 장치에 의해 동시에 촬영된 상기 복수의 방사선 화상을 서로 관련시켜 기억하고,
    상기 합성 처리부는 상기 서로 관련된 복수의 방사선 화상을 합성하는 방사선 촬영 시스템.
  7. 제 1항에 있어서,
    결함 영역 취득부가, 상기 복수의 방사선 검출 장치 중에서 한개로부터 취득된 방사선 화상으로부터, 상기 복수의 방사선 검출 장치 중 나머지의 구조 정보를 나타내는 결함 영역을 취득하는 방사선 촬영 시스템.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 화상 보정부는, 상기 결함 영역에 인접하게 배치된 정상적인 화상 영역의 정보를 이용해서 상기 긴 사이즈의 화상 내부의 상기 결함 영역을 보정하는 방사선 촬영 시스템.
  9. 제 1항에 있어서,
    상기 화상 보정부는, 상기 긴 사이즈의 화상의 상기 결함 영역 내부에 포함된 결함 행을, 상기 결함 행에 인접한 정상적인 화상 영역을 포함하는 정상 행을 이용해서 보정하는 방사선 촬영 시스템.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 화상 보정부는, 상기 정상 행의 방사선 화상과 상기 결함 행의 방사선 화상 사이에 상관을 확보하면서, 상기 정상 행의 상기 방사선 화상과 상기 결함 행의 상기 방사선 화상을 혼합함으로써, 상기 결함 행을 보정하는 방사선 촬영 시스템.
  11. 제 9항에 있어서,
    상기 화상 보정부는, 상기 긴 사이즈의 화상의 상기 결함 영역을 행 단위의 결함 행들로 분할하고, 상기 결함 영역의 단부 행으로부터 개시하여, 상기 결함 행들 각각이 상기 단부 행에 인접한 정상 영역의 일부인 정상 행 또는 보정된 결함 행의 화소값 분포에 근사하도록, 상기 행 단위로 보정처리를 반복하여 행하는 방사선 촬영 시스템.
  12. 제 9항에 있어서,
    상기 화상 보정부는, 상기 긴 사이즈의 화상 내부의 상기 결함 영역과 구조 정보 사이의 위치맞춤을 행하고, 상기 긴 사이즈의 화상 내부에 포함된 상기 결함 행에 대응하는 상기 구조 정보 내부에 포함된 결함 정보를 사용하여 상기 긴 사이즈의 화상을 보정하는 방사선 촬영 시스템.
  13. 제 1항에 있어서,
    상기 화상 보정부는, 상기 긴 사이즈의 화상의 상기 결함 영역을 수직으로 사이에 끼우는 행들로부터 양방향으로 보정을 행함으로써 2개의 보정 결과를 생성해서 상기 긴 사이즈의 화상을 보정하는 방사선 촬영 시스템.
  14. 제 1항에 있어서,
    상기 합성 처리부는, 상기 복수의 방사선 검출 장치 사이의 배치 관계에 따라, 상기 복수의 방사선 화상을 조정해서 상기 긴 사이즈의 화상을 생성하는 방사선 촬영 시스템.
  15. 제 1항에 있어서,
    상기 합성 처리부는, 상기 복수의 방사선 검출장치의 배치 관계에 따라, 상기 긴 사이즈의 화상 내부의 상기 결함 영역의 면적이 최소가 되도록 합성처리를 행하는 방사선 촬영 시스템.
  16. 방사선을 검출하는 복수의 방사선 검출 장치와, 상기 복수의 방사선 검출 장치에 의해 얻어진 복수의 방사선 화상을 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 합성 처리기를 구비한 방사선 촬영 시스템으로서,
    상기 복수의 방사선 검출 장치가 서로 중첩하는 영역에 대응하는 결함 영역을, 상기 결함 영역 이외의 화상 영역의 화소값을 사용해서 보정하도록 구성된 화상 보정부를 구비하고,
    상기 화상 보정부는, 상기 결함 영역에 인접하게 배치된 정상적인 화상 영역의 정보를 이용해서 상기 긴 사이즈의 화상 내부의 상기 결함 영역을 보정하는 방사선 촬영 시스템.
  17. 복수의 방사선 검출 장치에 의해 취득된 복수의 방사선 화상을 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 방사선 촬영 방법으로서,
    상기 복수의 방사선 화상의 합성에 의한 상기 긴 사이즈의 화상에 있어서의 결함 영역을, 상기 결함 영역 이외의 화상 영역의 화소값을 사용해서 보정하는 단계 - 상기 결함 영역은 상기 복수의 방사선 검출 장치가 서로 중첩하는 영역에 대응함 - ; 및
    상기 결함 영역이 보정된 상기 긴 사이즈의 화상에 대하여 계조처리를 행하는 단계를 포함하는 방사선 촬영 방법.
  18. 복수의 방사선 검출 장치에 의해 취득된 복수의 방사선 화상을 합성해서 긴 사이즈의 화상을 생성하는 방사선 촬영 방법으로서,
    상기 복수의 방사선 검출 장치가 서로 중첩하는 영역에 대응하는 결함 영역을, 상기 결함 영역 이외의 화상 영역의 화소값을 사용해서 보정하는 단계를 포함하고,
    상기 보정하는 단계에서는, 상기 결함 영역에 인접하게 배치된 정상적인 화상 영역의 정보를 이용해서 상기 긴 사이즈의 화상 내부의 상기 결함 영역을 보정하는 방사선 촬영 방법.
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