JP6957170B2 - 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム - Google Patents

放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム Download PDF

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Description

本発明は、放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラムに関する。
放射線を用いた撮影では、被写体（例えば、人体）を直進透過した１次放射線と被写体の構造（例えば、人体構造）で散乱した放射線の散乱線（２次放射線）の２成分が発生する。この散乱線は、被写体の放射線画像のうち極めて低い周波数の成分として放射線画像に重畳するため、放射線画像全体のコントラストを低下させ、診断能を低下させる要因となる。
これを防ぐため、グリッドとよばれるスリット状の格子を被写体と放射線検出装置（放射線センサ）の間に設ける。放射線を発生させる放射線発生装置から直進入射しない散乱線をグリッドにより放射線検出装置の前で遮ることで、放射線検出装置に散乱線が入射するのを低減している。グリッドは、一般的にコーン状に広がる１次放射線を透過するように焦点設計されており、正しい焦点距離と配置での使用が必要である。
医療現場では、全脊椎（背骨全体）又は下肢全長（足全体）などの長尺領域を放射線撮影の被写体とする長尺撮影が行われることがある。長尺撮影は、１つの放射線検出装置の撮影領域を超える長尺領域を撮影する。したがって、長尺撮影を行う場合、複数の放射線検出装置を並べて設置することで、撮影領域を拡大させることにより、長尺領域を複数の放射線検出装置で撮影する。
長尺撮影後に、各放射線検出装置から得られた放射線画像を位置合わせして合成することにより、被写体全体を含む長尺放射線画像を得ることができる。
従来の長尺撮影では、散乱線を抑制するにグリッドが使用される。複数の放射線検出装置を並べた長尺撮影用のグリッドは、非常に大きくて重いグリッドとなり、取り扱いが困難である。また、長尺撮影は、通常撮影とは撮影距離が異なるため、長尺撮影と通常撮影とで同一のグリッドで運用することはできない。一方の撮影に最適化したグリッドを使用すると、他方の撮影で線量不足やシェーディングの発生を引き起こすこととなり、画質低下や再撮影の原因となる。
そこで、特許文献１及び特許文献２のように、グリッドを使わずに散乱線を推定し補正をする単純放射線画像における散乱線推定技術が公開されている。
特許文献１及び特許文献２のように単純放射線撮影の場合、撮影する部位が限定されているため、散乱線の散乱状態は、撮影部位の構造から推定することができる。その散乱状態を表現したものが、散乱線推定用のカーネルである。散乱線推定用のカーネルを用いることで、部位に応じた適切な散乱線を推定することができる。
特開２０１６−１３１８０５号公報 特開２０１５−１９２８４６号公報
複数の放射線検出装置を並べた長尺撮影の場合、隣接する放射線検出装置の領域に含まれる散乱線が入り込むため、その影響を考慮することが必要である。隣接する放射線検出装置からの散乱線の影響を考慮するには、複数の放射線検出装置がどのように配置されているかを算出し、位置合わせをする必要がある。
しかしながら、散乱線が入り込んだ放射線画像の位置合わせは困難であり、位置合わせの精度が低いという問題があった。そこで、本発明では、複数の放射線画像を合成する際の位置合わせの精度を向上させることも目的とする。
本発明に係る放射線撮影装置は、放射線に基づいて第１の放射線画像及び第２の放射線画像を生成する放射線検出手段と、前記第１の放射線画像及び第２の放射線画像に対して散乱線成分を低減する散乱線低減手段と、前記散乱線成分が低減された前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を用いて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置合わせを行う位置合わせ手段と、該位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を合成する合成手段と、を備える。
本発明によれば、複数の放射線画像を合成する際の位置合わせの精度を向上させることができる。
本発明における放射線撮影装置の構成例を示す図である。 第１の実施形態の放射線撮影装置を含む放射線撮影システムの構成例を示す図である。 第１の実施形態に係る放射線撮影システムの動作の一例を示すフローチャートである。 （ａ）第１の散乱線推定に使用する領域を示す模式図である。（ｂ）第２の散乱線推定に使用する領域を示す模式図である。 第３の実施形態の放射線撮影装置を含む放射線撮影システムの構成例を示す図である。 第３の実施形態に係る放射線撮影システムの動作の一例を示すフローチャートである。 放射線検出装置を用いた長尺撮影における複数の後処理済み第１の散乱線低減画像の表示例を示す図である。 長尺撮影において複数の放射線検出装置を重複させて配置する例を示す図である。
本発明における放射線撮影装置の構成例を図１に示す。放射線撮影装置は、画像取得部１０１、前処理部１０２、第１の散乱線推定部１０３、第１の散乱線低減部１０４、位置合わせ部１０５、第２の散乱線推定部１０６、第２の散乱線低減部１０７、合成部１０８、後処理部１０９、及び画像出力部１１０を備える。
画像取得部１０１は、被写体を透過した放射線を入力し、放射線を画像化し、生画像を出力する。前処理部１０２は、生画像を入力し、所定の前処理を施した放射線画像（以下、前処理済み放射線画像）を生成し、出力する。第１の散乱線推定部１０３は、前処理済み放射線画像を入力し、第１の散乱線を推定し、第１の散乱線画像を出力する。第１の散乱線低減部１０４は、前処理済み放射線画像と第１の散乱線画像を入力し、散乱線低減処理を行い、第１の散乱線低減画像を出力する。
位置合わせ部１０５は、複数の第１の散乱線低減画像を入力し、複数の第１の散乱線低減画像の位置合わせを行い、位置合わせパラメータを算出し、位置合わせパラメータを出力する。
第２の散乱線推定部１０６は、複数の前処理済み放射線画像と位置合わせパラメータを入力し、第２の散乱線を推定し、第２の散乱線画像を出力する。第２の散乱線低減部１０７は、前処理済み放射線画像と第２の散乱線画像を入力し、散乱線低減処理を行い、第２の散乱線低減画像を出力する。
合成部１０８は、複数の第２の散乱線低減画像と位置合わせパラメータを入力し、複数の第２の散乱線低減画像を１つの長尺画像として合成し、長尺画像を出力する。後処理部１０９は、長尺画像を入力し、周波数処理や階調処理などを施した放射線画像（後処理済み放射線画像）を生成し、出力する。画像出力部１１０は、後処理済み放射線画像をモニタやフィルム出力装置やＰＡＣＳなどの出力デバイスへと出力をする。
図２は、本実施形態の放射線撮影装置を含む放射線撮影システムの構成例を示す図である。コントロールＰＣ２０１、放射線検出装置（放射線センサ）２０２、及び放射線発生装置２０３が、信号線であるギガビットイーサ２０４に接続されている。複数の放射線検出装置２０２を用いた長尺撮影の場合は、複数の放射線検出装置２０２がギガビットイーサ２０４に接続される。信号線は、ギガビットイーサ２０４の代わりに、ＣＡＮ（Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）や光ファイバーなどであってもよい。
ギガビットイーサ２０４には、表示部２０５、記憶部２０６、及びネットワークインタフェース部２０７が接続されている。コントロールＰＣ２０１は、バス２０１１に接続されたＣＰＵ（中央演算装置）２０１２、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）２０１３、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）２０１４、及び記憶部２０１５を備える。コントロールＰＣ２０１には、ＵＳＢやＰＳ／２で入力部２０８が接続され、ＶＧＡやＤＶＩで表示部２０９が接続される。コントロールＰＣ２０１を介して、放射線検出装置２０２や表示部２０５などにコマンドが送信される。
コントロールＰＣ２０１では、撮影モードごとの処理内容が、ソフトウェアモジュールとして記憶部２０１５に格納され、不図示の指示手段によりＲＡＭ２０１３に読み込まれ、実行される。図１の画像取得部１０１は、放射線検出装置２０２に相当する。前処理部１０２、第１の散乱線推定部１０３、第１の散乱線低減部１０４、位置合わせ部１０５、第２の散乱線推定部１０６、第２の散乱線低減部１０７、合成部１０８、及び後処理部１０９は、ソフトウェアモジュールとして記憶部２０１５に格納されている。
図１の前処理部１０２、第１の散乱線推定部１０３、第１の散乱線低減部１０４、位置合わせ部１０５、第２の散乱線推定部１０６、第２の散乱線低減部１０７、合成部１０８、及び後処理部１０９は、専用の画像処理ボードとして実装されてもよい。各処理部は、目的に応じて最適に実装されればよい。
図１の画像出力部１１０は、ギガビットイーサ２０４を介した表示部２０５、記憶部２０６、又はコントロールＰＣ２０１に接続された表示部２０９に相当する。
以上のような放射線撮影装置又は放射線撮影システムにおいて、本実施形態の動作について、その詳細を以下の実施形態に沿って説明する。
（第１の実施形態）
図１と図３を使い、処理の流れに沿って、第１の実施形態について説明する。図３は、本実施形態に係る放射線撮影システムの動作の一例を示すフローチャートである。
画像取得部１０１は、放射線検出装置２０２によって画像を取得し、オフセット補正（暗電流補正）を行い、生画像を生成する。（ステップ３０１）。例えば、２つの放射線検出装置２０２を用いた長尺撮影の場合、２つの生画像が生成される。放射線検出装置２０２は、放射線に基づいて第１の放射線画像及び第２の放射線画像を生成する。
次に、前処理部１０２が、生画像に対して前処理を行い、前処理済み放射線画像を生成する（ステップ３０２）。前処理とは、放射線検出装置２０２のセンサの特性を補正する処理のことで、ゲイン補正や欠損補正などを行い、周辺画素の画素値との相関関係が保たれている状態にすることである。
次に、第１の散乱線推定部１０３が、複数の放射線検出装置２０２から生成される前処理済み放射線画像のそれぞれに対し、第１の散乱線推定をし、第１の散乱線画像を生成する（ステップ３０３）。第１の散乱線推定では、複数の前処理済み放射線画像のそれぞれで散乱線を推定することであり、他の前処理済み放射線画像の影響を考慮しないことから、簡易な散乱線推定である。
図４（ａ）は、第１の散乱線推定に使用する領域を示す模式図である。放射線検出装置４０１の画像において散乱線が推定される画素４０３が画像端に位置し、隣接する他の撮影領域と重複する領域に位置している。この場合、重複領域における散乱線を適切に推定するためには、隣接する放射線検出装置４０２からの散乱線による影響を考慮する必要があるが、第１の散乱線推定では、放射線検出装置４０２からの散乱線による影響を考慮しない。
第１の散乱線推定では、放射線検出装置４０１の推定領域４０４における前処理済み放射線画像の画素値から画素４０３の散乱線を推定し、放射線検出装置４０２の前処理済み放射線画像の画素値を考慮しない。推定領域４０４は、放射線検出装置４０１の前処理済み放射線画像に設定される。散乱線推定の方法は、特許文献１や特許文献２などの公知技術を適用可能である。
次に、第１の散乱線低減部１０４が第１の散乱線低減を行う（ステップ３０４）。第１の散乱線低減部１０４は、前処理済み放射線画像からステップ３０３で求められた第１の散乱線画像を除去することで、第１の散乱線低減画像を生成する。
前処理済み放射線画像（画素値の集合）をＭとし、第１の散乱線低減画像（画素値の集合）をＰ1とすると、第１の散乱線低減画像Ｐ1は、Ｍの関数である散乱線推定関数ｆｕｎｃＳとＭから算出される。
例えば、放射線検出装置４０１，４０２を用いた長尺撮影の場合、放射線検出装置４０１は、放射線に基づいて前処理済み放射線画像（第１の放射線画像）Ｍ１を生成し、放射線検出装置４０２は、前処理済み放射線画像（第２の放射線画像）Ｍ２を生成する。
放射線検出装置４０１の第１の散乱線低減画像Ｐ1１は、式（１）のように、放射線検出装置４０１が出力する前処理済み放射線画像Ｍ１と第１の散乱線画像ｆｕｎｃＳ（Ｍ１）から生成される。また、放射線検出装置４０２の第１の散乱線低減画像Ｐ1２は、式（２）のように、放射線検出装置４０２が出力する前処理済み放射線画像Ｍ２と第１の散乱線画像ｆｕｎｃＳ（Ｍ２）から生成される。
Figure 0006957170
Figure 0006957170
このように、第１の散乱線低減部１０４は、前処理済み放射線画像（第１の放射線画像）Ｍ１及び前処理済み放射線画像（第２の放射線画像）Ｍ２に対して散乱線成分を低減する第１の処理を施し、第１の散乱線低減画像Ｐ1１，Ｐ1２を生成する。
第１の処理は、第１の放射線画像Ｍ１に基づいて第１の放射線画像Ｍ１の第１の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１）を推定し、第１の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１）を第１の放射線画像Ｍ１から除去することにより、第１の放射線画像に対して散乱線成分を低減する。また、第１の処理は、第２の放射線画像Ｍ２に基づいて第２の放射線画像Ｍ２の第２の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ２）を推定し、第２の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ２）を第２の放射線画像Ｍ２から除去することにより、第２の放射線画像に対して散乱線成分を低減する。
第１の散乱線低減画像Ｐ1１，Ｐ1２は、隣接する放射線検出装置からの散乱線を考慮しないことから、散乱線の推定精度が高くないため、散乱線成分が残存する画像となる。しかし、低周波成分を一定量取り除くことができるため、前処理済み放射線画像と比べて画像全体のコントラストが増加する。
次に、位置合わせ部１０５が、第１の散乱線低減画像Ｐ1１，Ｐ1２を用いて、位置合わせパラメータを算出する（ステップ３０５）。放射線検出装置２０２の位置情報は、放射線検出装置２０２を収納する立位撮影用のスタンド又は外撮影用のテーブルや放射線検出装置２０２に内蔵される位置センサなどのハードウェアデバイスから得ることができる。この位置情報を位置合わせパラメータとして利用することもできる。つまり、位置合わせ部１０５は、位置センサにより計測された放射線検出装置４０１，４０２の位置に基づいて、位置合わせを行ってもよい。
ただし、位置合わせパラメータを取得するタイミングと放射線画像を撮影するタイミングで、位置情報にずれが生じてしまうことがある。そのため、放射線画像から位置情報を取得するほうが望ましい。そこで、位置情報を算出するために、画像マッチング処理が行われる。長尺撮影を行う場合、隣接する複数の撮影領域の一部が重複するように、複数の放射線検出装置２０２が配置される。
マッチング処理は、複数の撮影領域の重複領域を使って行われる。一方の撮影領域における重複領域の一部をテンプレートとし、テンプレートの位置をシフトさせて、他方の撮影領域における重複領域（入力画像）との類似度Ｓを計算する。例えば、式（１）のような正規相互相関を用いて、類似度Ｓが算出される。
Figure 0006957170
ｆ（ｉ,ｊ）は、一方の放射線画像の（ｉ,ｊ）における画素値により構成されるテンプレート画像である。ｇ（ｄｘ,ｄｙ）は、テンプレート画像のシフト量（ｄｘ,ｄｙ）における他方の放射線画像の画素値により構成される入力画像である。位置合わせ部１０５は、類似度Ｓが最大になったときの（ｄｘ,ｄｙ）を位置情報として算出する。位置合わせ部１０５は、この位置情報を位置合わせパラメータとして出力する。
式（３）ではシフト量を位置合わせパラメータとしたが、テンプレート画像の回転角度を位置合わせパラメータに加えてもよい。
このように、位置合わせ部１０５は、第１の処理が施された第１の放射線画像と第１の処理が施された第２の放射線画像とを用いて、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の位置合わせを行い、位置合わせパラメータを出力する。位置合わせ部１０５は、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の撮影領域が重複する重複領域の画像が一致するように、位置合わせを行う。
次に、第２の散乱線推定部１０６が、複数の放射線検出装置２０２から生成される前処理済み放射線画像のそれぞれに対し、第２の散乱線推定をし、第２の散乱線画像を生成する（ステップ３０６）。第２の散乱線推定では、複数の前処理済み放射線画像のそれぞれで散乱線を推定することであり、他の前処理済み放射線画像の影響を考慮することから、詳細な散乱線推定である。
図４（ｂ）は、第２の散乱線推定に使用する領域を示す模式図である。放射線検出装置４０１の画像において散乱線が推定される画素４０５が画像端に位置し、隣接する他の撮影領域と重複する領域に位置している。この場合、重複領域における散乱線を適切に推定するためには、隣接する放射線検出装置４０２からの散乱線による影響を考慮する必要があり、第２の散乱線推定では、放射線検出装置４０２からの散乱線による影響を考慮する。
第２の散乱線推定では、放射線検出装置４０１及び放射線検出装置４０２における推定領域４０６における前処理済み放射線画像の画素値から画素４０５の散乱線を推定し、放射線検出装置４０２の前処理済み放射線画像の画素値を考慮する。推定領域４０６は、放射線検出装置４０１及び放射線検出装置４０２の前処理済み放射線画像に設定される。散乱線推定の方法は、特許文献１や特許文献２などの公知技術を適用可能である。
このように、散乱線が推定される画素４０５が画像端に位置する場合、推定領域４０６が、放射線検出装置４０１だけではなく放射線検出装置４０２を含めた領域に設定される。放射線検出装置４０２の一部に推定領域４０６を設定する場合、放射線検出装置４０１と放射線検出装置４０２の位置合わせを行う必要がある。位置合わせには、ステップ３０５で算出された位置合わせパラメータが使用される。
放射線検出装置４０１と放射線検出装置４０２の位置合わせが適切に行われることで、画素４０５における散乱線推定に影響を与える領域が正確に求まり、その結果、散乱線推定の精度が向上する。
次に、第２の散乱線低減部１０７が、第２の散乱線低減を行う（ステップ３０７）。第２の散乱線低減部１０７は、前処理済み放射線画像からステップ３０６で求められた第２の散乱線画像を除去することで、第２の散乱線低減画像を生成する。
前処理済み放射線画像をＭとし、第２の散乱線低減画像をＰ２とすると、第２の散乱線低減画像Ｐ２は、Ｍの関数である散乱線推定関数ｆｕｎｃＳとＭから算出される。
例えば、放射線検出装置４０１，４０２を用いた長尺撮影の場合、放射線検出装置４０１の第２の散乱線低減画像Ｐ２１は、式（４）のように、放射線検出装置４０１が出力する前処理済み放射線画像Ｍ１と第２の散乱線画像ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）から生成される。放射線検出装置４０２が出力する前処理済み放射線画像Ｍ２から生成される。また、放射線検出装置４０２の第２の散乱線低減画像Ｐ２２は、式（５）のように、放射線検出装置４０２が出力する前処理済み放射線画像Ｍ２と第２の散乱線画像ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）から生成される。
Figure 0006957170
Figure 0006957170
このように、第２の散乱線推定部１０６は、第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を、位置合わせされた第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２に基づいて推定する。そして、第２の散乱線低減部１０７は、第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２から、推定された散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を除去する第２の処理を施す。
第２の処理は、位置合わせされた第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２に基づいて第１の放射線画像Ｍ１の第２の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を推定する。そして、第２の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を第１の放射線画像Ｍ１から除去することにより、第１の放射線画像Ｍ１に対して散乱線成分を低減する。
また、第２の処理は、位置合わせされた第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２に基づいて第２の放射線画像Ｍ２の第２の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を推定する。そして、第２の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を第２の放射線画像Ｍ２から除去することにより、第２の放射線画像Ｍ２に対して散乱線成分を低減する。
第２の散乱線低減画像は、隣接する放射線検出装置からの散乱線を考慮することから、散乱線の推定精度が高いため、ステップ３０４で生成された第１の散乱線低減画像Ｐ1１，Ｐ1２よりも、画像全体のコントラストが増加する。
次に、合成部１０８が、複数の第２の散乱線低減画像を合成し、長尺画像を生成する（ステップ３０８）。合成部１０８は、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像の位置で、第２の処理が施された第１の放射線画像及び第２の放射線画像を合成する。
例えば、２つの放射線検出装置４０１，４０２を用いた長尺撮影の場合、２つの第２の散乱線低減画像から１つの長尺画像が生成される。長尺画像を生成するには、合成部１０８が、ステップ３０５で算出された位置合わせパラメータを使用し、複数の第２の散乱線低減画像の位置合わせを行う。そして、第２の散乱線低減画像間の位置関係が正しくなった状態で合成処理する。
本実施形態では、合成部１０８は、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像の座標系における所定の座標からの距離に基づいて、第２の処理が施された第１の放射線画像及び第２の放射線画像を重み付けして合成する。合成処理は、例えば式（６）のような重複領域の位置によって重みづけされるブレンド処理により行われる。この場合、座標系における所定の座標は、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の撮影領域が重複する重複領域の中心ｃｙである。
Figure 0006957170
合成画像Ｐｃ（ｉ,ｊ）は、放射線検出装置４０１の第２の散乱線低減画像Ｐ２１（ｉ,ｊ）と放射線検出装置４０２の第２の散乱線低減画像Ｐ２２（ｉ,ｊ）とを、重み付けて合成する。重み付け合成は、放射線検出装置４０１，４０２の撮影領域の重複領域の中心（重心）ｃｙからの距離（ｃｙ−ｊ）の関数である重み係数ｗ（ｃｙ−ｊ）で合成される。
ここで、ｉは、放射線検出装置４０１，４０２が並んでいる方向に対して垂直な方向の座標であり、ｊは、放射線検出装置４０１，４０２が並んでいる方向（配置方向）に対して平行な方向の座標である。
また、ｃｙは、ｊ軸における重複領域の中心の位置座標である。ｊ軸は、重複領域の短辺方向であってもよい。また、ｊ軸は、放射線検出装置４０１，４０２の撮影領域の中心（重心）を結んだ直線に対して平行な方向であってもよい。つまり、重心ｃｙからの距離は、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の配置方向、重複領域の短辺方向、及び第１の放射線画像及び第２の放射線画像の中心を結んだ直線方向のうち少なくとも１つに対して平行な方向の距離である。
隣接する放射線検出装置４０１，４０２の撮影領域の重複領域には放射線検出装置の端部が写り込むため、放射線検出装置４０１，４０２のセンサ構造が画像上に写り込んでしまう場合がある。そのような場合は、センサ構造に関するデータを事前に取得するなどし、センサ構造の写り込みを除去する処理がこのタイミングで行われる。
後処理部１０９が、長尺画像に対し、後処理を行い、後処理済み放射線画像を生成する（ステップ３０９）。後処理とは、診断に最適な画像を生成する処理のことで、周波数処理や階調処理などを含む。
最後に画像出力部１１０が、後処理済み画像を表示デバイスへと出力する（ステップ３１０）。表示デバイスは、モニタ、フィルム出力装置、及びＰＡＣＳなどを含む。
このように、第１の散乱線推定を行った後に、第１の散乱線低減画像Ｐ1１，Ｐ1２を用いて、複数の放射線検出装置の位置合わせを行う。位置合わせ結果を用いて、第２の散乱線推定を行うことで、精度の高い位置合わせパラメータに基づく散乱線推定を行うことができ、長尺画像における散乱線推定の精度が向上し、散乱線低減処理がされた長軸画像の高画質化が図られる。
以上、本発明に係る実施形態について説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、請求項に記載された範囲内において変更・変形することが可能である。
ステップ３０３における第１の散乱線推定として、他の前処理済み放射線画像の影響を考慮しない簡易な散乱線推定を行ったが、第１の散乱線推定は、他の前処理済み放射線画像の影響を考慮する詳細な散乱線推定であってもよい。
この場合、位置合わせ部１０５が、上記のように、位置センサなどのハードウェアデバイスから得られた位置合わせパラメータに基づいて、複数の放射線検出装置４０１，４０２の位置合わせを行う。位置合わせ部１０５は、第１の処理が施された第１の放射線画像と第１の処理が施された第２の放射線画像とを用いて、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の位置合わせを行い、位置合わせパラメータを出力する。
そして、図４（ｃ）に示すように、放射線検出装置４０１及び放射線検出装置４０２の前処理済み放射線画像に設定された推定領域４０８の画素値から、画素４０５の散乱線が推定される。
したがって、放射線検出装置４０１の第１の散乱線低減画像Ｐ１１は、式（７）のように、放射線検出装置４０１が出力する前処理済み放射線画像Ｍ１と放射線検出装置４０２が出力する前処理済み放射線画像Ｍ２から生成される。また、放射線検出装置４０２の第１の散乱線低減画像Ｐ１２は、式（８）のように、放射線検出装置４０１が出力する前処理済み放射線画像Ｍ１と放射線検出装置４０２が出力する前処理済み放射線画像Ｍ２から生成される。
Figure 0006957170
Figure 0006957170
このように、第１の散乱線推定部１０３は、第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を、位置合わせされた第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２に基づいて推定する。そして、第１の散乱線低減部１０４は、第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２から、推定された散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を除去する第１の処理を施す。
第１の処理は、位置合わせされた第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２に基づいて第１の放射線画像Ｍ１の第１の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を推定する。そして、第１の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を第１の放射線画像Ｍ１から除去することにより、第１の放射線画像Ｍ１に対して散乱線成分を低減する。
また、第１の処理は、位置合わせされた第１の放射線画像Ｍ１及び第２の放射線画像Ｍ２に基づいて第２の放射線画像Ｍ２の第１の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を推定する。そして、第１の散乱線成分ｆｕｎｃＳ（Ｍ１，Ｍ２）を第２の放射線画像Ｍ２から除去することにより、第２の放射線画像Ｍ２に対して散乱線成分を低減する。
また、本実施形態では、ステップ３０７で第２の散乱線低減画像を生成した後に、ステップ３０８で第２の散乱線低減画像を合成することで、長尺画像が生成される。ただし、長尺画像を合成した後に、長尺画像の第２の散乱線低減画像が生成されてもよい。この場合、合成部１０８は、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像の位置で、第１の処理が施された第１の放射線画像及び第２の放射線画像を合成する。長尺画像が合成された後に、上記と同様、第２の散乱線画像が生成され、第２の散乱線低減画像が生成される。
また、本実施形態では、第１の放射線画像及び第２の放射線画像に第１の処理を施したが、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の少なくとも１つに第１の処理が施されればよい。例えば、第１の放射線画像に第１の処理が施される場合、第１の散乱線低減部１０４は、第１の放射線画像に対して散乱線成分を低減する第１の処理を施す。
位置合わせ部１０５は、第１の処理が施された第１の放射線画像を用いて、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の位置合わせを行う。第２の散乱線推定部１０６は、位置合わせされた第１及び第２の放射線画像の位置関係により、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像の散乱線成分を、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像に基づいて推定する。第２の散乱線低減部１０７は、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像から推定された散乱線成分を除去する第２の処理を施す。
本発明は、上記の実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、システム又は装置のコンピュータ（ＣＰＵやＭＰＵなど）がプログラムを読み出すことにより実行されてもよい。また、本発明は、システム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能であり、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
（第２の実施形態）
本発明の第２の実施形態の一例を詳しく説明する。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。
第１の実施形態では、第２の散乱線推定は、第１の散乱線推定と別途行われるが、第１の散乱線推定の結果である第１の散乱線画像Ｐ1１，Ｐ1２を利用して行われてもよい。
隣接する放射線検出装置４０２からの散乱線の影響を受ける放射線検出装置４０１の画素は、隣接する放射線検出装置４０２に近い画素４０３である。したがって、隣接する放射線検出装置４０２（又は、第２の放射線画像）から遠い放射線検出装置４０１（又は、第１の放射線画像）の画素では、隣接する放射線検出装置４０２（又は、第２の放射線画像）からの散乱線の影響を殆ど受けない。このため、ステップ３０３で算出された第１の散乱線画像を利用して、ステップ３０７で第２の散乱線低減が行われる。
このように、第２の散乱線低減部１０７は、位置合わせされた第２の放射線画像の位置から所定の範囲を超える第１の放射線画像では、第１の放射線画像に基づいて推定された第１の散乱線成分を、第１の放射線画像から除去する。
一方、第２の散乱線低減部１０７は、所定の範囲内の第１の放射線画像では、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像に基づいて推定された第２の散乱線成分を、第１の放射線画像から除去することにより、第２の処理を施す。
第２の散乱線低減部１０７は、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像の撮影領域が重複する重複領域から所定の範囲を超える第１の放射線画像では、第１の放射線画像に基づいて推定された第１の散乱線成分を、第１の放射線画像から除去する。一方、第２の散乱線低減部１０７は、所定の範囲内の第１の放射線画像では、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像に基づいて推定された第２の散乱線成分を、第１の放射線画像から除去する。
図４（ｄ）に示すように、散乱線が推定される画素４０９からｊ軸方向にｎ画素までの（ｎ＋１）画素を含む領域が推定領域４１０として必要であれば、放射線検出装置４０２から影響を受ける領域は、重複領域のｊ軸方向の辺端からｎ画素以内の範囲である。重複領域のｊ軸方向の辺端からｎ画素を超える範囲の画素では、第２の散乱線推定において放射線検出装置４０２からの影響が考慮されない。つまり、式（４）及び式（５）においてＭ２は０となり、式（４）及び式（５）は、それぞれ式（１）及び式（２）と同様となる。
したがって、第１の散乱線推定結果をそのまま利用することが可能であるので、第２の散乱線低減部１０７は、前処理済み放射線画像からステップ３０３で求められた第１の散乱線画像を除去することで、第２の散乱線低減画像を生成する。
このように、第２の散乱線低減部１０７は、隣接する放射線検出装置４０２の影響を考慮すべき範囲で第２の散乱線画像を生成して、それ以外の範囲では第１の散乱線画像を利用して、第２の散乱線低減画像を生成する。第２の散乱線推定を行う範囲が限定されるため、第２の散乱線低減画像を生成する際の計算コストを抑えることができる。
（第３の実施形態）
本発明の第３の実施形態の一例を詳しく説明する。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。
第１の散乱線推定と第２の散乱線推定を切り分けて行う実施形態を、図５の構成図と図６のフローを使い、処理の流れに沿って説明する。
図５の構成要素５０１〜５１０は、図１の構成要素１０１〜１１０に対応する。ステップ６０１〜６０４は、第１の実施形態のステップ３０１〜３０４に対応するため、説明を省略する。
後処理部５０９が、複数の第１の散乱線低減画像Ｐ1１，Ｐ1２に対し、後処理を行い、複数の後処理済みの第１の散乱線低減画像を生成する（ステップ６０５）。
次に、画像出力部５１０が、複数の後処理済み第１の散乱線低減画像をモニタに表示する（ステップ６０６）。つまり、第１の処理が施された第１の放射線画像と第１の処理が施された第２の放射線画像とが、表示部（モニタ）に表示される。
図７は、放射線検出装置４０１，４０２を用いた長尺撮影における複数の後処理済み第１の散乱線低減画像の表示例を示す図である。図７には、モニタ７０１に表示される２つの画像として、放射線検出装置４０１の後処理済みの第１の散乱線低減画像７０２と放射線検出装置４０２の後処理済みの第１の散乱線低減画像７０３とが表示されている。
後処理済みの第１の散乱線低減画像７０２と後処理済みの第１の散乱線低減画像７０３は、撮影が適切か否か及び写損であるか否かなどを確認する目的で表示される。確認作業は、最終的に出力される診断画像に近い精度の後処理済みの第１の散乱線低減画像７０２，７０３を表示することで、正確な判断ができる。
本実施形態では、他の前処理済み放射線画像の影響を考慮しない簡易な散乱線推定を行うことで（ステップ６０３）、隣接する放射線検出装置との位置合わせをすることなく、散乱線を低減した第１の散乱線低減画像を生成することができる（ステップ６０４）。そして、第１の散乱線低減画像に後処理を施すことで、高画質の放射線画像に基づいて撮影の適否や写損を判断することができる。また、隣接する放射線検出装置との位置合わせが不要であるため、計算コストが抑えられ、後処理済みの第１の散乱線低減画像が早期に表示されるため、確認作業を開始するまでの時間を短縮することができる。
撮影が適切であり写損が発生していなければ、位置合わせ部５０５が、複数の第１の散乱線低減画像を用いて、上記と同様に、位置合わせパラメータを算出する（ステップ６０７）。
図７の位置合わせ画面７０４は、複数の第１の放射線低減画像が位置合わせされた長尺画像を表示する。位置合わせ画面７０４では、長尺画像を確認しながら、入力部２０８からの入力により、位置合わせを修正することが可能である。入力部２０８は、第１の処理が施された第１の放射線画像と第１の処理が施された第２の放射線画像との位置を入力する。
位置合わせ画面７０４には、複数の後処理済み第１の散乱線低減画像が合成された長尺画像が表示される。位置合わせ部１０５は、入力された位置に基づいて、第１の放射線画像及び第２の放射線画像の位置合わせを行う。合成部１０８は、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像の位置で、第１の処理が施された第１の放射線画像及び第２の放射線画像を合成する。例えば、合成部１０８は、位置合わせされた第１の放射線画像及び第２の放射線画像の座標系における所定の座標からの距離に基づいて、第１の処理が施された第１の放射線画像及び第２の放射線画像を重み付けして合成する。
最初に表示される長尺画像の位置合わせは、放射線検出装置２０２を収納する立位撮影用のスタンド又は外撮影用のテーブルや放射線検出装置２０２に内蔵される位置センサなどのハードウェアデバイスから得られる位置情報に基づいて行われる。位置合わせ部１０５は、位置センサにより計測された放射線検出装置４０１，４０２の位置に基づいて、位置合わせを行ってもよい。
入力部２０８からの入力により、位置合わせが修正されたら、その位置に対する位置情報が位置合わせパラメータとして算出される。
次に、第２の散乱線推定部５０６が、前処理済みの放射線画像に対し、隣接する放射線検出装置の影響を考慮した第２の散乱線推定をし、第２の散乱線画像を生成する（ステップ６０８）。第２の散乱線推定における放射線検出装置４０１，４０２の位置合わせには、ステップ６０７で算出された位置合わせパラメータが使用される。第２の散乱線推定では、診断に使用される高精度の長尺画像を生成するため、隣接する放射線検出装置からの散乱線を考慮した詳細な散乱線推定が行われる。
次に、第２の散乱線低減部５０７が、第２の散乱線低減を行う（ステップ６０９）。前処理済みの放射線画像からステップ６０８で求められた第２の散乱線画像を除去することで、第２の散乱線低減画像が生成される。
次に、合成部５０８が、上記と同様に、複数の第２の散乱線低減画像を合成し、長尺画像を生成する（ステップ６１０）。ステップ６０７で算出された位置合わせパラメータを使用することにより、複数の第２の散乱線低減画像の位置合わせが行われるとともに、第２の散乱線低減画像間の適切な位置関係に基づいて、複数の第２の散乱線低減画像が合成処理される。
後処理部５０９が、第２の散乱低減画像を合成した長尺画像に対し、後処理を行い、後処理済みの放射線画像を生成する（ステップ６１１）。後処理とは、診断に最適な画像を生成する処理のことで、周波数処理や階調処理などを含む。
最後に画像出力部５１０が、後処理済みの放射線画像を表示デバイスへと出力する（ステップ６１２）。表示デバイスは、モニタ、フィルム出力装置、及びＰＡＣＳなどを含む。
このように、隣接する放射線検出装置からの散乱線を考慮しない簡易な散乱線推定により生成された第１の放射線低減画像に基づいて、撮影の適否や写損の有無や位置合わせの適否を判断する。この結果、計算コストを抑えて高速に第１の放射線低減画像が出力され、早期にこれらの判断を開始することができる。一方、診断用の長尺画像を生成する場合は、第２の散乱線推定により、隣接する放射線検出装置からの散乱線を考慮した詳細な散乱推定を行うことで、高画質な第２の放射線低減画像を出力することができる。
（第４の実施形態）
本発明の第４の実施形態の一例を詳しく説明する。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。
上記の実施形態では、第２の散乱線推定において隣接する放射線検出装置からの散乱線を考慮した詳細な散乱推定を行うが、本実施形態では、画像出力部５１０の種類に応じて、第２の散乱線推定において簡易な散乱線推定と詳細な散乱線推定を変化させる。
例えば、画像出力部５１０がモニタなどの表示デバイスであるときは、第２の散乱線推定は、隣接する放射線検出装置からの散乱を考慮しない簡易な散乱線推定である。この場合、第１の散乱線推定で算出された第１の散乱線画像又は第１の散乱線低減画像が、第２の散乱線推定に用いられてもよい。また、第２の散乱線推定を行わずに、第１の散乱線低減画像が位置合わせパラメータに基づいて合成された長尺画像がモニタに出力されてもよい。
モニタに出力される画像の目的が長尺画像としての画像確認である場合、表示の高速化がユーザーニーズに合致することがある。この場合は、モニタに出力される長尺画像は、第２の散乱線推定で簡易な散乱線推定により生成された長尺画像であってもよい。
ただし、画像確認をする際に拡大表示や等倍表示などをして詳細を確認しようとするときは、高画質な画像が要求される。この場合、第２の散乱線推定である詳細な散乱線推定に変更して再処理をし、隣接する放射線検出装置からの散乱を考慮した第２の散乱線推定を経て、高画質の長尺画像の拡大表示や等倍表示が行われてもよい。この場合、表示部（例えば、モニタ７０１）は、第２の処理が施された第１の放射線画像と第２の処理が施された第２の放射線画像とを表示可能である。
また、画像出力部５１０がＰＡＣＳや画像記録媒体であるときは、隣接する放射線検出装置からの散乱を考慮した第２の散乱線推定を経て、高画質の長尺画像が出力される。ＰＡＣＳや画像記録媒体に出力する画像の目的が診断に活用するためである場合、高画質な画像がユーザーニーズに合致する。入力部２０８は、第１の処理が施された放射線画像と第２の処理が施された放射線画像との表示又は出力を切り替える指示を入力する。
（第５の実施形態）
本発明の第５の実施形態の一例を詳しく説明する。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。
上記の実施形態では、隣接する撮影領域の全領域又は隣接する放射線検出装置からの散乱の影響を受ける領域において、第１の散乱線推定と第２の散乱線推定とを切り替えていた。ただし、これらの領域以外に、散乱線推定が特に困難な領域で第１の散乱線推定と第２の散乱線推定とを切り替えてもよい。
図８に示すように、長尺撮影において複数の放射線検出装置４０１，４０２は、撮影領域に重複領域を有するように、一部を重複させて配置される。そのため、放射線発生装置２０３から近い側に配置された放射線検出装置４０１の構造物が、放射線発生装置２０３から遠い側に配置された放射線検出装置４０２の撮影領域に写り込んでしまう。
例えば、放射線検出装置４０１の構造物として金属部８０１が放射線検出装置４０２の撮影領域に写り込むと、金属部８０１はその他の構造物よりも多くの散乱線を発生させてしまい、特に位置合わせの精度を悪化させる。したがって、放射線検出装置の構造物が写り込んでいる撮影領域において、第１の散乱線推定と第２の散乱線推定とを切り替えることで、散乱線推定精度を向上させ、位置合わせ精度を高めることができる。
また、放射線検出装置の構造物が写り込んでいる撮影領域において、散乱線推定用のカーネルを用いることで、散乱線推定精度を向上させ、位置合わせ精度を高めることができる。
１０１，５０１ 画像取得部
１０２，５０２ 前処理部
１０３，５０３ 第１の散乱線推定部
１０４，５０４ 第１の散乱線低減部
１０５，５０５ 位置合わせ部
１０６，５０６ 第２の散乱線推定部
１０７，５０７ 第２の散乱線低減部
１０８，５０８ 合成部
１０９，５０９ 後処理部
１１０，５１０ 画像出力部
２０１ コントロールＰＣ
２０２ 放射線検出装置
２０３ 放射線発生装置
２０４ ギガビットイーサ
２０５，２０９ 表示部
２０６，２０１５ 記憶部
２０７ ネットワークインタフェース部
２０８ 入力部
４０１，４０２ 放射線検出装置
２０１１ バス

Claims (17)

  1. 放射線に基づいて第１の放射線画像及び第２の放射線画像を生成する放射線検出手段と、
    前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に対して散乱線成分を低減する散乱線低減手段と、
    前記散乱線成分が低減された前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を用いて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置合わせを行う位置合わせ手段と、
    前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置関係により、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像の散乱線成分を、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に基づいて推定する散乱線推定手段と、
    該位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を合成する合成手段と、
    を備え、
    前記散乱線低減手段は、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像から前記推定された散乱線成分を除去することを特徴とする放射線撮影装置。
  2. 前記散乱線低減手段は、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に対して散乱線成分を低減する第１の処理を施し、
    前記位置合わせ手段は、前記第１の処理が施された前記第１の放射線画像と前記第１の処理が施された前記第２の放射線画像とを用いて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置合わせを行い、
    前記散乱線推定手段は、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置関係に基づいて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像の散乱線成分を、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に基づいて推定し、
    前記散乱線低減手段は、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像から前記推定された散乱線成分を除去する第２の処理を施すことを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
  3. 前記第１の処理は、
    前記第１の放射線画像に基づいて前記第１の放射線画像の第１の散乱線成分を推定し、
    前記第１の散乱線成分を前記第１の放射線画像から除去することにより、前記第１の放射線画像に対して散乱線成分を低減することを特徴とする請求項２に記載の放射線撮影装置。
  4. 前記第２の処理は、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に基づいて前記第１の放射線画像の第２の散乱線成分を推定し、前記第２の散乱線成分を前記第１の放射線画像から除去することにより、前記第１の放射線画像に対して散乱線成分を低減することを特徴とする請求項２又は３に記載の放射線撮影装置。
  5. 前記位置合わせ手段は、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を用いて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置合わせを行い、
    前記散乱線推定手段は、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置関係に基づいて、前記第１の放射線画像の第１の散乱線成分を、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に基づいて推定し、
    前記散乱線低減手段は、前記第１の放射線画像から前記第１の散乱線成分を除去する前記第１の処理を施すことを特徴とする請求項２乃至４の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
  6. 放射線に基づいて第１の放射線画像及び第２の放射線画像を生成する放射線検出手段と、
    前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に対して散乱線成分を低減する散乱線低減手段と、
    前記散乱線成分が低減された前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を用いて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の撮影領域が重複する重複領域の画像が一致するように、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置合わせを行う位置合わせ手段と、
    該位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を合成する合成手段と、
    を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
  7. 前記位置合わせ手段は、位置センサにより計測された前記放射線検出手段の位置に基づいて、前記位置合わせを行うことを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
  8. 前記散乱線低減手段は、前記第２の処理において、
    前記位置合わせされた前記第２の放射線画像の位置から所定の範囲を超える前記第１の放射線画像では、前記第１の放射線画像に基づいて推定された第１の散乱線成分を、前記第１の放射線画像から除去し、
    前記所定の範囲内の前記第１の放射線画像では、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に基づいて推定された第２の散乱線成分を、前記第１の放射線画像から除去することを特徴とする請求項２乃至５の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
  9. 前記散乱線低減手段は、前記第２の処理において、
    前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の撮影領域が重複する重複領域から所定の範囲を超える前記第１の放射線画像では、前記第１の放射線画像に基づいて推定された第１の散乱線成分を、前記第１の放射線画像から除去し、
    前記所定の範囲内の前記第１の放射線画像では、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に基づいて推定された第２の散乱線成分を、前記第１の放射線画像から除去することを特徴とする請求項２乃至５の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
  10. 前記第１の処理が施された前記第１の放射線画像と前記第１の処理が施された前記第２の放射線画像とを表示可能である表示手段を備えることを特徴とする請求項２乃至５の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
  11. 前記第１の処理が施された前記放射線画像と前記第２の処理が施された前記放射線画像との表示又は出力を切り替える指示を入力する入力手段を備えることを特徴とする請求項２乃至５の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
  12. 前記第１の処理が施された前記第１の放射線画像と前記第１の処理が施された前記第２の放射線画像との位置を入力する入力手段を備え、
    前記位置合わせ手段は、前記入力された位置に基づいて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置合わせを行うことを特徴とする請求項２乃至５の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
  13. 前記合成手段は、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の座標系における所定の座標からの距離に基づいて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を重み付けして合成することを特徴とする請求項１乃至１２の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
  14. 前記所定の座標は、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の撮影領域が重複する重複領域の中心であり、
    前記距離は、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の配置方向、前記重複領域の短辺方向、及び前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の中心を結んだ直線方向のうち少なくとも１つに対して平行な方向の距離であることを特徴とする請求項１３に記載の放射線撮影装置。
  15. 放射線を発生させる放射線発生手段と、
    前記放射線に基づいて第１の放射線画像及び第２の放射線画像を生成する放射線検出手段と、
    前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に対して散乱線成分を低減する散乱線低減手段と、
    前記散乱線成分が低減された前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を用いて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置合わせを行う位置合わせ手段と、
    前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置関係により、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像の散乱線成分を、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に基づいて推定する散乱線推定手段と、
    該位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を合成する合成手段を備え、
    前記散乱線低減手段は、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像から前記推定された散乱線成分を除去することを特徴とする放射線撮影システム。
  16. 放射線に基づいて第１の放射線画像及び第２の放射線画像を生成する工程と、
    前記第１の放射線画像及び第２の放射線画像に対して散乱線成分を低減する工程と、
    前記散乱線成分が低減された前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を用いて、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置合わせを行う工程と、
    前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の位置関係により、前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像の散乱線成分を、前記位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像に基づいて推定する散乱線推定工程と、
    前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像の少なくとも１つの放射線画像から前記推定された散乱線成分を除去する工程と、
    該位置合わせされた前記第１の放射線画像及び前記第２の放射線画像を合成する工程と、
    を備えることを特徴とする放射線撮影方法。
  17. コンピュータを請求項１乃至１４の何れか１項に記載の放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。
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