KR100333933B1 - 다성분 금속 함유 물질을 침착시키기 위한 액체 전구체혼합물 - Google Patents
다성분 금속 함유 물질을 침착시키기 위한 액체 전구체혼합물 Download PDFInfo
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 87
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 87
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract description 67
- 230000008021 deposition Effects 0.000 title claims abstract description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 12
- 239000012705 liquid precursor Substances 0.000 title description 5
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 83
- 239000003446 ligand Substances 0.000 claims abstract description 80
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 56
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 239000011877 solvent mixture Substances 0.000 claims abstract description 34
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 28
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 27
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N nitrogen Chemical group N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 19
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical group [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 16
- 239000001301 oxygen Chemical group 0.000 claims abstract description 16
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 229910052757 nitrogen Chemical group 0.000 claims abstract description 12
- 150000004703 alkoxides Chemical group 0.000 claims abstract description 9
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 9
- 150000001408 amides Chemical group 0.000 claims abstract description 8
- 125000002915 carbonyl group Chemical group [*:2]C([*:1])=O 0.000 claims abstract description 8
- 150000004820 halides Chemical group 0.000 claims abstract description 8
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical group FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 7
- 125000000058 cyclopentadienyl group Chemical group C1(=CC=CC1)* 0.000 claims abstract description 7
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 239000011737 fluorine Chemical group 0.000 claims abstract description 7
- 150000004678 hydrides Chemical group 0.000 claims abstract description 7
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 7
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N endo-cyclopentadiene Chemical group C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 150000001540 azides Chemical group 0.000 claims abstract description 4
- 150000003949 imides Chemical group 0.000 claims abstract description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 37
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 27
- 239000010955 niobium Substances 0.000 claims description 15
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 12
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N Nitrous Oxide Chemical compound [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- -1 alkyl hydrazine Chemical compound 0.000 claims description 7
- 238000003877 atomic layer epitaxy Methods 0.000 claims description 7
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 claims description 7
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 6
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 6
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 6
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N nitrogen oxide Inorganic materials O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 6
- 238000005118 spray pyrolysis Methods 0.000 claims description 6
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 claims description 5
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical group [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910003455 mixed metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 4-(3,5-dimethylphenyl)-1,3-thiazol-2-amine Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C=2N=C(N)SC=2)=C1 MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000003570 air Substances 0.000 claims description 3
- 150000003973 alkyl amines Chemical class 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000004106 butoxy group Chemical group [*]OC([H])([H])C([H])([H])C(C([H])([H])[H])([H])[H] 0.000 claims description 3
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011575 calcium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 3
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 3
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 3
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 3
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 3
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052976 metal sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 3
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N nitrogen dioxide Inorganic materials O=[N]=O JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000001272 nitrous oxide Substances 0.000 claims description 3
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011591 potassium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052701 rubidium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N rubidium atom Chemical compound [Rb] IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000003346 selenoethers Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052713 technetium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GKLVYJBZJHMRIY-UHFFFAOYSA-N technetium atom Chemical compound [Tc] GKLVYJBZJHMRIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910001868 water Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- JUINSXZKUKVTMD-UHFFFAOYSA-N hydrogen azide Chemical compound N=[N+]=[N-] JUINSXZKUKVTMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 claims description 2
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N scandium atom Chemical compound [Sc] SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N telluride(2-) Chemical compound [Te-2] XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 18
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 12
- 239000010408 film Substances 0.000 description 7
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 4
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 229910007991 Si-N Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910006294 Si—N Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 2
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce] ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000002716 delivery method Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 2
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 150000004772 tellurides Chemical class 0.000 description 2
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003077 Ti−O Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000005234 chemical deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000280 densification Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 125000003055 glycidyl group Chemical group C(C1CO1)* 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000010147 laser engraving Methods 0.000 description 1
- 229910001338 liquidmetal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052987 metal hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004681 metal hydrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910001960 metal nitrate Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
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- H01L21/02612—Formation types
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Abstract
본 발명은 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물을 포함하고 있는 혼합된 금속 또는 금속 화합물 층을 침착시키기 위한 조성물에 관한 것으로, 여기서 상기 혼합물은 주위 조건에서 액체이고, 상기 리간드는 동일하며, 알킬, 알콕사이드, 할라이드, 히드라이드, 아미드, 이미드, 아지드, 시클로펜타디에닐, 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 및 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택된다. 또한, 본 발명은 (a) 주위 조건에서 액체인 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물을 제공하는 단계로서, 여기서 상기 리간드는 동일하고, 알킬, 알콕사이드, 할라이드, 히드라이드, 아미드, 이미드, 아지드, 니트레이트, 시클로펜타디에닐, 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 및 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 단계, (b) 무용매 혼합물을 직접 액체 주입에 의해 플래쉬 증기 구역으로 전달시켜서 용매 혼합물을 증발시키는 단계, (c) 기판을 생성되는 무용매 혼합물의 증기와 침착 조건 하에 접촉시키는 단계, 및 (d) 무용매 혼합물로부터 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 기판 상에 침착시키는 단계를 포함하여 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 전기 재료의 기판 상에 침착시키는 방법에 관한 것이다.
Description
반도체 제조 산업에서는 집적 회로용 전기 장치, 메모리 장치 및 평판 디스플레이 장치를 제조하기 위해 반도체 및 절연 또는 유전 기판 상에 박층, 플러그, 바이어스 및 패턴으로 금속, 금속 혼합물 및 금속 화합물 혼합물을 침착시키는 데 적합한 재료 및 침착 기법이 요구되고 있다.
물리적 방법(스퍼터링, 분자 빔 에피택시, 증발 및 레이저 융삭), 합금법 및 화학 증착법(플라스마, 광 또는 레이저에 의한 강화, 저압 및 고온)을 비롯하여 금속, 금속 화합물 및 이들의 혼합물을 적당한 전자 재료 기판 상에 침착시키기 위한 다양한 기법이 공지되어 있다.
L.M. 셉파드의 문헌["Advances in Processing of Ferroelectric Thin Films",Ceramic Bulletin, Vol. 71, No. 1, (1992), pp. 85∼95], 하라 등의 문헌["Formation of Al2O3-Ta2O5Double-Oxide Thin Films by Low-Presssure MOCVD and Evaluation of Their Corrosion Resistances in Acid and Alkali Solutions",Journal of the Electrochemical Society,146(2), (1999), pp. 510∼516], 슈니츠케 등의 문헌["High Coercivity in Sm2Fe17NXMagnets",Appl. Phys. Lett.57(26) 24 Dec. 1990, pp. 2853∼2855], 반 도버 등의 문헌["Investigation of Ternary Transition-Metal Nitride Systems by Reactive Cosputtering",Chem. Mater.(1993), Vol. 5, pp. 32∼35], 선 등의 문헌["Reactively Sputtered Ti-Si-N Films II. Diffusion Barriers for Al and Cu Metallizations on Si",J. Appl. Phys.,81(2) 15 Jan. 1997, pp. 664∼671], 슐츠 등의 문헌["MOCVD Routes to Thin Metal Oxide Films for Superconducting Electronics",Adv. Mater.(1994), 6 No. 10, pp. 719∼730], 거글리엘미 등의 문헌["Compositional and Microstructural Characterization of RuO2-TiO2Catalysts Synthesized by the Sol-Gel Method",J. Electrochem. Soc.,Vol. 139, No. 6, June 1992, pp. 1665∼1661], 카바 등의 문헌["Enhancement of the Dielectric Constant of Ta2O5Through Substitution with TiO2",Nature,Vol. 377, 21, Sept. 1995, pp. 215∼217], 및 "원자 층 에피택시"로서 공지되어 있는 침착법을 개시하고 있는 미국 특허 제4,058,430호에 기재된 것들을 비롯하여 다수의 금속 산화물이 문헌 상에 공지되어 있다.
최근에는 균일한 정합적 침착을 이루는 특성 및 고도의 제어 가능한 조건 하에 일렬의 물질을 침착시키는 성능 때문에 화학 증착(CVD)이 선호되고 있다. 전형적으로, 화학 증착은 제어된 방식에 의해 고순도 물질을 높은 속도로 침착시킬 수 있다.
그러나, 화학 증착은 그 수행을 어렵게 하는 몇가지 단점을 갖고 있다. 모든 소정의 화학 물질이 화학 증착에 사용될 수 있기에 충분한 휘발성을 갖는 것은 아니다. 일부 화학 물질은 저장 조건 또는 전달 조건에서 고체 상태로 존재한다. 일부 화학 물질은 휘발성이 너무 커서 충분한 저장 및 전달이 이루어질 수 없다.
화학 증착은 다수 금속 산화물의 화학 증착과 같은 다수 금속의 화학 증착에서처럼 몇종의 화학 물질을 동시에 침착시켜야 한다는 점 때문에 그 수행이 더욱 복잡한 상황에 있다. 금속 전구체들이 각각 서로 반응할 수 있거나, 또는 하나 이상의 CVD용 금속 전구체가 휘발성 또는 비휘발성이 너무 큰 물질, 즉 고체일 수 있다.
이러한 CVD의 단점들을 해소하기 위해서, 선행 기술에서는 용매를 사용하여 고체 금속 전구체를 용해시키거나 또는 액체, 특히 점성 액체의 CVD용 금속 전구체와 혼합하였다.
미국 특허 제5,204,314호에서는 CVD용 금속 전구체의 액체 혼합물 또는 용매 혼합물을 플래쉬 증발시키기 위한 소공 장치를 개시하고 있다.
미국 특허 제5,820,664호에서는 CVD에 유용한 혼합된 금속 화합물 전구체의 다양한 용매 혼합물을 기재하고 있다.
그러나, CVD를 위한 액체 전달용 용매계는 상용성을 갖는 휘발성 용매를 선택해야 하기 때문에 문제가 있다. 용매는 주어진 흐름 및 시간 주기 동안에 전달되는 유효 시약의 양을 감소시킨다. 보다 중요한 점은, 용매가 정교한 반도체 및 전기 장치가 제조되는 민감한 반응 구역 내로 또다른 시약을 도입시킨다는 것이다.이러한 용매 존재에 따른 부작용을 고려해야 한다. 마지막으로, 용매는 환경 및 비용 인자이다. 용매 또는 이것의 분해 생성물은 사용 후 재생, 포획 또는 처리해야 한다.
국제 특허 출원 WO 98/46617호에서는 금속 전구체 및 혼합된 β-디케토네이트로부터 금속을 침착시키는 방법을 기재하고 있다. 이 출원에서는 CVD 및 다른 침착법을 위한 전구체를 직접 액체 주입에 의해 액체 전달시키는 방법을 설명하고 있다. 혼합된 β-디케토네이트를 사용하면 전구체의 액체 상태를 조장하여 전달이 용이해진다. 액체 혼합물에 있어 용매는 선택 사항이다.
유사한 개시 내용이 고돈 등의 문헌["New Liquid Precursors for Chemical Vapor Deposition",Mater. Res. Soc. Symp. Proc.,495, (1998), pp. 63∼68] 및 고돈 등의 문헌["Liquid Compounds for CVD of Alkaline Earth Metals", MRS Meeting, April 7, 1999, 캘리포니아주 샌프란시스코]에 개시되어 있다.
금속 전구체 전달에 적합한 액체 매질을 제공하고자 시도한 선행 기술에서는 전달을 위한 액체 상태를 보장하기 위해 선택된 용매 또는 혼합된 β-디케토네이트 리간드를 사용해야 했다. 용매는 오염 및 감성의 문제를 야기시킨다. 혼합된 리간드는 우발적인 리간드 교환의 문제를 야기시켜 비액체 상태를 형성시킬 수 있다. β-디케톤 리간드는 고체 상태를 유발시키는 조건을 피하기 위해 β-디케토네이트 치환체를 조작하지 않으면 고체 금속 화합물을 형성시키는 일이 빈번하게 발생하므로 우발적인 리간드 교환의 결과가 악화된다. 본 발명에서는, 용매를 함유하지 않은 공통의 금속 리간드 혼합물을 침착용 액체 상태로서, 바람직하게는 직접 액체주입 방식으로 사용하여 일정한 침착 성능을 위해 용매 및 리간드 교환의 결점을 예방하므로써 그러한 결점들을 해소하고 있다.
본 발명은 하기 (a), (b), (c) 및 (d)의 단계를 포함하여 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 전기 재료의 기판 상에 침착시키는 방법을 제공한다.
(a) 주위 조건에서 액체인 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물을 제공하는 단계로서, 여기서 상기 리간드는 동일하고, 알킬, 알콕사이드, 할라이드, 히드라이드, 아미드, 이미드, 아지드, 니트레이트, 시클로펜타디에닐, 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 및 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 단계,
(b) 무용매 혼합물을 기판이 위치하는 침착 구역으로 전달시키는 단계,
(c) 기판을 침착 조건 하에 무용매 혼합물과 접촉시키는 단계로서, 여기서 상기 침착 조건 하에서의 접촉은 화학 증착, 스프레이 열분해, 졸-겔 프로세싱, 스핀 코팅 및 원자 층 에피택시로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 단계, 및
(d) 무용매 혼합물로부터 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 기판 상에 침착시키는 단계.
보다 바람직하게, 본 발명은 하기 (a), (b), (c) 및 (d)의 단계를 포함하여 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 전기 재료의 기판 상에 침착시키는 방법을 제공한다.
(a) 주위 조건에서 액체인 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진무용매 혼합물을 제공하는 단계로서, 여기서 상기 전구체의 리간드는 동일하고, 알킬, 알콕사이드, 할라이드, 히드라이드, 아미드, 이미드, 아지드, 니트레이트, 시클로펜타디에닐, 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 및 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 단계,
(b) 무용매 혼합물을 직접 액체 주입에 의해 플래쉬 증발 구역으로 전달시켜서 무용매 혼합물을 증발시키는 단계,
(c) 기판을 생성되는 무용매 혼합물 증기와 침착 조건 하에 접촉시키는 단계, 및
(d) 무용매 혼합물로부터 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 기판 상에 침착시키는 단계.
주위 조건은 40℃ 이하 및 30 psig 이하인 것이 바람직하다.
주위 조건은 20∼30℃ 및 5∼6 psig인 것이 더욱 바람직하다.
무용매 혼합물은 다수의 금속 화합물 층을 기판 상에 침착시키기 전에 산소 공급원과 혼합하는 것이 바람직하다.
산소 공급원은 95 부피% 이상의 산소, 오존, 산화질소, 아산화질소, 이산화질소, 물, 과산화수소, 공기 및 이들의 혼합물로 이루어진 군 중에서 선택되는 것이 바람직하다.
또한, 무용매 혼합물은 다수의 금속 화합물 층을 기판 상에 침착시키기 전에 질소 공급원과 혼합할 수도 있다.
질소 공급원은 질소, 암모니아, 히드라진, 알킬히드라진, 아지화수소, 알킬아민 및 이들의 혼합물로 이루어진 군 중에서 선택되는 것이 바람직하다.
무용매 혼합물로부터 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 기판 상에 형성시키는 침착 방법은 화학 증착, 스프레이 열분해, 졸-겔 프로세싱, 스핀 코팅 및 원자 층 에피택시로 이루어진 군 중에서 선택되는 것이 바람직하다.
다수의 금속 또는 금속 화합물 층은 혼합된 금속 합금, 혼합된 금속 산화물, 혼합된 금속 니트라이드, 혼합된 금속 카바이드, 혼합된 금속 카보니트라이드, 혼합된 금속 옥시카보니트라이드, 혼합된 금속 옥시카바이드, 혼합된 금속 황화물, 혼합된 금속 인화물, 혼합된 금속 비소화물, 혼합된 금속 안티몬화물, 혼합된 금속 셀렌화물, 혼합된 금속 텔루르화물 및 이들의 혼합물로 이루어진 군 중에서 선택되는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명은 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물을 포함하고 있는 혼합된 금속 또는 금속 화합물 층을 침착시키기 위한 조성물에 관한 것으로, 여기서 상기 혼합물은 주위 조건에서 액체이고, 상기 전구체의 리간드는 동일하며, 알킬, 알콕사이드, 할라이드, 히드라이드, 아미드, 이미드, 아지드, 니트레이트, 시클로펜타디에닐, 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 및 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택된다.
상기 혼합물은 주위 조건에서 액체인 제1 금속-리간드 착물 전구체 및 주위 조건에서 액체인 제2 금속-리간드 착물 전구체를 함유하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 혼합물은 주위 조건에서 액체인 제1 금속-리간드 착물 전구체, 및 주위 조건에서 고체이지만 제1 금속-리간드 착물 전구체와 혼화성을 갖는 제2금속-리간드 착물 전구체를 함유한다.
2종 이상의 금속-착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물의 금속은 아연, 카드뮴, 수은, 알루미늄, 갈륨, 인듐, 탈륨, 주석, 납, 안티몬, 비스무스, 리튬, 나트륨, 칼륨, 루비듐, 세슘, 베릴륨, 마그네슘, 칼슘, 스트론튬, 바륨, 스칸듐, 이트륨, 란탄, 티탄, 지르코늄, 하프늄, 바나듐, 니오븀, 탄탈, 크롬, 몰리브덴, 텅스텐, 망간, 테크네튬, 레늄, 철, 루테늄, 오스뮴, 코발트, 로듐, 이리듐, 니켈, 팔라듐, 백금, 구리, 은, 금, 규소 및 세륨으로 이루어진 군 중에서 각각 선택되는 것이 바람직하다.
2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물의 리간드는 디메틸 아미도, 디에틸 아미도, 에틸메틸 아미도, 부틸아미도, 디프로필 아미도, 메틸프로필 아미도, 에틸프로필 아미도, 메톡시, 에톡시, 프로폭시 및 부톡시로 이루어진 군 중에서 선택되는 것이 바람직하다.
2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Zr(N(CH2CH3)2)4, Sn(N(CH2CH3)2)4및 Ti(N(CH2CH3)2)4를 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Zr(N(CH3)2)4, Sn(N(CH3)2)4및 Ti(N(CH3)2)4를 포함할 수도 있다.
또한, 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Zr(O(C4H9))4, Sn(O(C4H9))4및 Ti(O(C4H9))4를 포함할 수도 있다.
또한, 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은Ta(N(CH3)2)5및 Ti(N(CH3)2)4를 포함할 수도 있다.
또한, 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 CH3CH2N=Ta(N(CH2CH3)2)3및 Ti(N(CH2CH3)2)4를 포함할 수도 있다.
또한, 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Al(OCH2CH3)3및 Ta(OCH2CH3)5를 포함할 수도 있다.
2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Si(N(CH2CH3)2)과, Ti(N(CH2CH3)2)4, Zr(N(CH2CH3)2)4, Hf(N(CH2CH3)2)4, V(N(CH2CH3)2)5, V(N(CH2CH3)2)4, Nb(N(CH2CH3)2)5, Nb(N(CH2CH3)2)4, CH3CH2N=Nb(N(CH2CH3)2)3, CH3CH2N=V(N(CH2CH3)2)3, (CH3CH2N=)2W(N(CH2CH3)2)2, (CH3CH2N=)2Mo(N(CH2CH3)2)2및 CH3CH2N=Ta(N(CH2CH3)2)3으로 이루어진 군 중에서 선택되는 금속-리간드 착물 전구체를 포함하는 것이 바람직하다.
혼합된 금속 산화물 및 혼합된 금속 니트라이드와 같은 다성분 금속 함유 물질은 각각의 개별 금속 산화물/금속 니트라이드 성분이 갖고 있지 않은 독특한 물리적 특성을 갖는 경우가 종종 있다. 예를 들어, 일부 혼합된 금속 산화물은 고유전 상수 재료, 강유전체, 고온 초전도체, 촉매 및 내식성 코팅에 사용할 수 있다. 또한, 일부 혼합된 금속 니트라이드는 우수한 확산 차단체 특성, 초전도성 및 자성을 나타내 보인다.
전자 산업에서는 집적 회로(IC) 장치의 크기가 파격적으로 소형화됨에 따라, 화학 증착(CVD)에 의해 침착된 박막이 물리적 증착(PVD)에 의한 것보다 각종 비평면 상에의 정합적 도포성 측면에서 유리한 것으로 입증되었다. 일반적으로, 액체 전구체는 전구체 전달의 용이성 및 재현성 면에서 CVD 용도에 바람직하다. CVD 프로세싱에 사용되는 통상의 전구체 전달 방법으로는 증기 인출, 담체 기체에 의한 버블링, 연무 액적(에어로졸 또는 스프레이) 전달 및 직접 액체 주입(DLI)이 있다. 특히 DLI은 구성 성분들을 공급원 용기에서와 동일한 비율로 반응기에 전달하기 때문에, 특히 여러 성분을 전달하는 데 바람직한 방법이다. DLI는 실온에서 전구체를 저장하면서, 전달하고자 하는 필요량만을 가열하므로 전구체 저장 수명을 향상시키는 또다른 이점을 갖는다.
본 발명에서는 CVD 용도의 DLI를 비롯한 전구체 분산 전달 방법에 사용될 수 있는 신규한 액체 전구체 혼합물 조성물을 개시하고 있다. 휘발성 성분은,
(1) 화학적 상용성을 가짐으로써, 비휘발성 중합체 또는 다핵 화학종을 전혀 형성하지 않고,
(2) 금속 상에서의 리간드 교환 또는 리간드 간의 반응에 기인하여 침전물을 전혀 형성하지 않고, 즉 모든 전구체에 동일한 리간드(즉, 동종 리간드로서, 본 발명의 경우 (RN)=M은 M(NR2)과 동일한 것으로 간주되어야 함)가 사용되며,
(3) 혼합물이 저점도 및 열 안전성을 유지하고,
(4) 원치 않은 산화 환원 화학 반응(예, M+1+ M'+3→ M+2+ M'+2)이 발생하지않도록 선택한다.
액체 혼합물은 액체 금속-리간드 착물을 직접 혼합하거나 또는 고체 금속-리간드 착물(들)을 액체 금속-리간드 착물(들)에 용해시키므로써 제조할 수 있다. 이러한 계에서는, 형성되는 혼합물을 완전히 액체 상으로 형성시키기 위해 전구체 혼합물을 용해시키거나 또는 희석시키는 데 있어 용매가 전혀 필요하거나 요구되지 않는다. 종래에는 유기 용매를 사용하여 얻은 광범위한 CVD 전구체 용액을 박막 침착용 전구체로서 사용하였다. 본 발명의 신규한 무용매 전구체 혼합물은, CVD 프로세싱 후 수거해야 하는 여분의 휘발성 유기 매질이 전혀 없기 때문에, 배출물 중에서 CVD 유출물을 감소시켜야 하는 부담이 보다 적다. 또한, 본 명세서에 기재된 액체 혼합물에는 용매가 전혀 사용되지 않기 때문에, 높은 처리량의 금속 함유 증기를 CVD 반응기 내로 전달시킬 수 있다. 따라서, 이러한 새로운 액체 전구체 혼합물을 사용하는 전반적인 CVD 방법은 선행 기술에서 언급한 전구체 용액의 액체 주입 전달보다 환경적으로 보다 유리하고, 비용 측면에서 보다 효과적이다.
CVD 또는 MOCVD(금속-유기 CVD) 이외에도, 본 발명의 액체 혼합물은 원자 층 에피택시 공정, 스핀 코팅 공정, 스프레이 열분해 공정 및 졸-겔 공정에 적합하다. 원자 층 에피택시 공정에서는, 전구체 분자를 대략 단일 층으로 표면 상에 흡착시킨다. 제1 전구체 층 상에 제2 반응물을 공급한 다음, 표면 상에 이미 존재하는 제1 반응물과 제2 반응물을 반응시킨다. 이러한 교대 절차를 반복하여 소정 두께의 원소 또는 화합물을 거의 원자 두께 층으로 제공한다. 원치않는 침착을 피하도록 기판의 온도를 제어할 수 있다. 스핀 코팅 공정에서는 액체 매질을 회전하는 기판상에 분배하고, 열 또는 반응 등의 작용에 의해 건조시킨다. 스프레이 열분해 공정에서는 연무 액적(에어로졸)을 형성시킨 다음, 전구체를 열분해 또는 광화학적 분해시킨다. 졸-겔 공정에서는 회전, 침지 또는 분무에 의해 표적 기판 상에 침착시킨 전구체를 가수 분해 및 응축시킨다. 형성된 비결정형 필름은 결정화 및 조밀화를 위해 비교적 낮은 온도(500∼800℃)에서 어닐링시킨다. DLI를 이용하는 CVD에서는, 무용해 혼합물을 주위 조건 하의 저장소로부터 액체 상태로서 플래쉬 증발 구역으로 전달시켜서, 무용매 혼합물을 금속-리간드 착물 전구체의 증발 온도, 전형적으로 100∼500℃로 신속하게 가열한다. 이것은 반응 체임버와 같은 침착 구역에서 발생하는 다양한 침착 공정의 각 침착 조건을 구성한다.
다성분 전구체는 금속 알킬, 금속 알콕사이드, 금속 할라이드, 금속 히드라이드, 금속 아미드, 금속 이미드, 금속 아지드, 금속 니트레이트, 금속 시클로펜타디에닐, 금속 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 또는 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택하며, 이에 국한되는 것은 아니다. 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물의 리간드는 디메틸 아미도, 디에틸 아미도, 에틸메틸 아미도, 부틸 아미도, 디프로필 아미도, 메틸프로필 아미도, 에틸프로필 아미도, 메톡시, 에톡시, 프로폭시 및 부톡시로 이루어진 군 중에서 선택되는 것이 바람직하다. 선행 기술의 잠재적인 리간드 교환 문제를 예방하기 위해서는 동일하거나 공통의 리간드, 즉 동종 리간드를 사용하는 것이 중요하다.
금속 리간드 전구체의 금속은 아연, 카드뮴, 수은, 알루미늄, 갈륨, 인듐, 탈탈륨, 주석, 납, 안티몬, 비스무스, 리튬, 나트륨, 칼륨, 루비듐, 세슘, 베릴륨,마그네슘, 칼슘, 스트론튬, 바륨, 스칸듐, 이트륨, 란탄, 티탄, 지르코늄, 하프늄, 바나듐, 니오븀, 탄탈, 크롬, 몰리브덴, 텅스텐, 망간, 테크네튬, 레늄, 철, 루테늄, 오스뮴, 코발트, 로듐, 이리듐, 니켈, 팔라듐, 백금, 구리, 은, 금, 규소 및 세륨 중의 하나 이상일 수 있다.
2종 이상의 금속 리간드 전구체로 이루어진 무용매 혼합물이 반드시 액체로 존재하는 주위 조건은 일반적으로 40℃ 이하 및 30 psig 미만으로 정의된다. 액체 상 전달을 위한 주위 조건은 20∼30℃ 및 5∼6 psig인 것이 바람직하다.
산화제 또는 질소 함유 반응물의 존재 하에서 전구체를 적당히 선택하면 혼합된 금속 산화물, 혼합된 금속 니트라이드 및 혼합된 금속 옥시니트라이드 중 어느 하나가 제공된다. 또한, 적당한 전구체 혼합물 및 CVD 조건을 이용하면, 혼합된 금속 합금, 혼합된 금속 카바이드, 혼합된 금속 카보니트라이드, 혼합된 금속 옥시카보니트라이드, 혼합된 금속 옥시카바이드, 혼합된 금속 옥시카보니트라이드, 혼합된 금속 황화물, 혼합된 금속 인화물, 혼합된 금속 비소화물, 혼합된 금속 안티몬화물, 혼합된 금속 셀렌화물 및 혼합된 금속 텔루르화물이 성장할 수 있다. 산화제 또는 질소 함유 반응물은 95 부피% 이상의 산소, 오존, 물, 과산화수소, 산화질소, 아산화질소, 이산화질소, 공기, 질소 기체, 암모니아, 히드라진, 알킬 히드라진, 알킬아민 및 이들의 혼합물을 포함하며, 이에 국한되지는 않는다.
상기 전구체는 열 CVD 이외에도 플라스마 공정, 레이저 또는 광에 의해 강화된 CVD 침착 공정, 공지된 침착 기법, 또는 원자 층 에피택시 공정에 사용할 수 있다. 또한, 액체 혼합물 전구체의 적당한 선택은 필름의 졸-겔 프로세싱 공정, 스프레이 열분해 공정 및 스핀 코팅 공정에도 적용될 수 있다.
예시적인 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Zr(N(CH2CH3)2)4, Sn(N(CH2CH3)2)4및 Ti(N(CH2CH3)2)4, 또는 Zr(N(CH3)2)4, Sn(N(CH3)2)4및 Ti(N(CH3)2)4, 또는 Zr(O(C4H9))4, Sn(O(C4H9))4및 Ti(O(C4H9))4, 또는 Ta(N(CH3)2)5및 Ti(N(CH3)2)4, 또는 CH3CH2N=Ta(N(CH2CH3)2)3및 Ti(N(CH2CH3)2)4, 또는 Al(OCH2CH3)3및 Ta(OCH2CH3)5, 또는 Si(N(CH2CH3)2)과, Ti(N(CH2CH3)2)4, Zr(N(CH2CH3)2)4, Hf(N(CH2CH3)2)4, V(N(CH2CH3)2)5, V(N(CH2CH3)2)4, Nb(N(CH2CH3)2)5, Nb(N(CH2CH3)2)4, CH3CH2N=Nb(N(CH2CH3)2)3, CH3CH2N=V(N(CH2CH3)2)3, (CH3CH2N=)2W(N(CH2CH3)2)2, (CH3CH2N=)2Mo(N(CH2CH3)2)2및 CH3CH2N=Ta(N(CH2CH3)2)3으로 이루어진 군 중에서 선택되는 금속-리간드 착물 전구체를 포함한다.
본 발명에서는 몇개의 전구체 및 침착법을 예를 들어 설명하고 있지만, 이들에 의해 국한되는 것은 아니다.
실시예 1: Zr-Sn-Ti-O
x
전구체
Zr(N(CH2CH3)2)419.0 g(0.05 mol), Sn(N(CH2CH3)2)420.4 g(0.05 mol), 및 Ti(N(CH2CH3)2)450.5 g(0.15 mol)을 실온에서 질소 대기 하에 혼합하여 황등색의 투명한 액체 혼합물을 얻었다. 이 혼합물을 DLI 전달에 유용한 110∼120℃의 가열 조 온도 범위에서 진공 하에 증류시켰다.
실시예 2: Ti-Ta-O
x
Ti-Ta-Ox에 대한 금속-리간드 착물 전구체의 무용매 액체 혼합물은, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 Ti(N(CH3)2)5(액체) 중에 용해된 Ta(N(CH3)2)5(고체)로부터 제조할 수 있다.
실시예 3: Ti-Ta-O
x
Ti-Ta-Ox에 대한 금속-리간드 착물 전구체의 무용매 액체 혼합물은, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 Ti(N(CH2CH3)2)4중에 혼합된 CH3CH2N=Ta(N(CH2CH3)2)3으로부터 제조할 수 있다.
실시예 4: Al 도핑된 TaO
x
Al 도핑된 TaOx에 대한 금속-리간드 착물 전구체의 무용매 액체 혼합물은, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 Al(OCH2CH3)3(고체)와 Ta(OCH2CH3)5(액체)의 혼합물로부터 제조할 수 있다.
실시예 5: M-Si-N
M-Si-N에 대한 금속-리간드 착물 전구체의 무용매 액체 혼합물은, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 (a) Si(N(CH2CH3)2)4(액체)와 (b) M(N(CH2CH3)2)x(액체)[여기서, M = Ti, Zr, Hf, V, Nb이고, x = 4 또는 5임] 또는(c) (R-N=)XM'(N(CH2CH3)2)y(액체)[여기서, M' = Ta, Nb, W, Mo이고, R = C1∼C5의 알킬이며, M = Ta 또는 Nb인경우 x = 1이고 y = 3이며, M' = W 또는 Mo인 경우 x = y = 2임]의 혼합물로부터 제조할 수 있다.
실시예 6: CVD에 의한 혼합된 금속 화합물 침착
Zr(N(CH2CH3)2)4, Sn(N(CH2CH3)2)4와 Ti(N(CH2CH3)2)4금속-리간드 착물 전구체의 용매 혼합물을, 혼합된 금속 화합물 필름 침착을 위한 웨이퍼 표적 기판(이때, 웨이퍼는 240∼300℃로 유지됨) 상에서 120 sccm의 헬륨 세정 기체를 100 sccm의 산소 흐름과 함께 사용하여 증발 온도가 110℃인 직접 액체 주입계에 0.06 ml/분로 전달하였다. 침착 속도는 100∼300 Å/분이었다. 반응기 체임버의 압력은 2 Torr이었다. CVD에 의해서 이들 조건 하에 전구체 혼합물로부터 침착된 필름을 에너지 분산성 X선으로 분석한 결과, 침착된 필름 내에는 Zr, Sn 및 Ti 금속이 혼입되어 있는 것으로 입증되었다.
금속 전구체 전달에 적합한 액체 매질을 제공하고자 했던 종래의 시도들에서는, 전달을 위한 액체 상태를 보장하기 위해 선택된 용매 또는 혼합된 β-디케토네이트 리간드를 사용해야 했다. 용매는 추가 비용을 발생시키고, 상용성을 위한 적절한 선택의 문제 뿐만 아니라 오염 및 사용 후 감성의 문제를 야기시킬 수 있다. 액체 상 전달의 목적을 달성하기 위한 무용매 시도들에서는 혼합된 β-디케토네이트 리간드를 사용하였으나, 이 경우에는 비액체 상태를 발생시킬 수 있는 우발적인 리간도 교환의 문제가 발생한다. β-디케토네이트 리간드는 고체 상태를 유발시키는 조건을 피하기 위해 β-디케토네이트 치환체를 조작하지 않으면 고체 금속 화합물을 형성하는 경우가 빈번하게 발생하므로 우발적인 리간드 교환의 결과가 악화된다. 본 발명은, 침착용 액체 상태의 금속 혼합물의 금속-리간드 착물 내 무용매성 비β-디케토네이트의 단일 또는 공통의 리간드를 바람직하게는 직접 액체 방식으로 사용하여, 일정한 침착 성능을 위해 용매 및 β-디케토네이트 리간드 교환의 결점을 예방하므로써 그러한 결점을 해소할 수 있는 것으로 밝혀졌다.
본 발명은 몇가지 바람직한 실시양태에 대하여 설명을 하였으나, 본 발명의 전체 범위는 후술하는 특허 청구 범위로부터 파악되어야 한다.
본 발명은 반도체 제조 산업에서 집적 회로용 전기 장치, 메모리 장치 및 평판 디스플레이 장치를 제조하는 데 적합한 침착 방법을 제공한다.
Claims (21)
- (a) 주위 조건에서 액체인 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물을 제공하는 단계로서, 여기서 상기 리간드는 동일하고, 알킬, 알콕사이드, 할라이드, 히드라이드, 아미드, 이미드, 아지드, 니트레이트, 시클로펜타디에닐, 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 및 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 단계,(b) 상기 무용매 혼합물을 기판이 위치하는 침착 구역으로 전달시키는 단계,(c) 상기 기판을 침착 조건 하에 상기 무용매 혼합물과 접촉시키는 단계로서, 여기서 상기 침착 조건 하의 기판 접촉 방식은 화학 증착, 스프레이 열분해, 졸-겔 프로세싱, 스핀 코팅 및 원자 층 에피택시로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 단계, 및(d) 상기 무용매 혼합물로부터 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 상기 기판 상에 침착시키는 단계를 포함하여 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 전기 재료의 기판 상에 침착시키는 방법.
- (a) 주위 조건에서 액체인 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물을 제공하는 단계로서, 여기서 상기 리간드는 동일하고, 알킬, 알콕사이드, 할라이드, 히드라이드, 아미드, 이미드, 아지드, 니트레이트, 시클로펜타디에닐, 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 및 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 단계,(b) 상기 무용매 혼합물을 직접 액체 주입에 의해 플래쉬 증발 구역으로 전달시켜서 상기 무용매 혼합물을 증발시키는 단계,(c) 상기 기판을 생성되는 상기 무용매 혼합물의 증기와 침착 조건 하에 접촉시키는 단계, 및(d) 상기 무용매 혼합물로부터 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 상기 기판 상에 침착시키는 단계를 포함하여 다수의 금속 또는 금속 화합물 층을 전기 재료의 기판 상에 침착시키는 방법.
- 제2항에서, 상기 주위 조건은 40℃ 이하 및 30 psig 이하인 것인 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 주위 조건은 20∼30℃ 및 5∼6 psig 이하인 것인 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 무용매 혼합물은 상기 다수의 금속 화합물 층을 상기 기판 상에 침착시키기 전에 산소 공급원과 혼합하는 것인 방법.
- 제5항에 있어서, 상기 산소 공급원은 95 부피% 이상의 산소, 오존, 산화질소, 아산화질소, 이산화질소, 물, 과산화수소, 공기 및 이들의 혼합물로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 무용매 혼합물은 상기 다수의 금속 화합물 층을 상기 기판 상에 침착시키기 전에 질소 공급원과 혼합하는 것인 방법.
- 제7항에 있어서, 상기 질소 공급원은 질소, 암모니아, 히드라진, 알킬히드라진, 아지화수소, 알킬아민 및 이들의 혼합물로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 다수의 금속 또는 금속 화합물 층은 혼합된 금속 합금, 혼합된 금속 산화물, 혼합된 금속 니트라이드, 혼합된 금속 카바이드, 혼합된 금속 카보니트라이드, 혼합된 금속 옥시카보니트라이드, 혼합된 금속 옥시카바이드, 혼합된 금속 황화물, 혼합된 금속 인화물, 혼합된 금속 비소화물, 혼합된 금속 안티몬화물, 혼합된 금속 셀렌화물, 혼합된 금속 텔루르화물 및 이들의 혼합물로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 방법.
- 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물을 포함하고 있는 혼합된 금속 또는 금속 화합물 층을 침착시키기 위한 조성물로서, 상기 혼합물은 주위 조건에서 액체이고, 상기 리간드는 알킬, 알콕사이드, 할라이드, 히드라이드, 아미드, 이미드, 아지드, 니트레이트, 시클로펜타디에닐, 카르보닐, 및 이들의 불소, 산소 및 질소 치환된 유사체로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 혼합물은 주위 조건에서 액체인 제1 금속-리간드 착물 전구체 및 주위 조건에서 액체인 제2 금속-리간드 착물 전구체를 포함하는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 혼합물은 주위 조건에서 액체인 제1 금속-리간드 착물 전구체, 및 주위 조건에서 고체이지만 상기 제1 금속-리간드 착물 전구체와 혼화성을 갖는 제2 금속-리간드 착물 전구체를 포함하는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물의 상기 금속은 아연, 카드뮴, 수은, 알루미늄, 갈륨, 인듐, 탈륨, 주석, 납, 안티몬, 비스무스, 리튬, 나트륨, 칼륨, 루비듐, 세슘, 베릴륨, 마그네슘, 칼슘, 스트론튬, 바륨, 스칸듐, 이트륨, 란탄, 티탄, 지르코늄, 하프늄, 바나듐, 니오븀, 탄탈, 크롬, 몰리브덴, 텅스텐, 망간, 테크네튬, 레늄, 철, 루테늄, 오스뮴, 코발트, 로듐, 이리듐, 니켈, 팔라듐, 백금, 구리, 은, 금, 규소 및 세륨으로 이루어진 군 중에서 각각 선택되는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물의 상기 리간드는 디메틸 아미도, 디에틸 아미도, 에틸메틸 아미도, 부틸아미도, 디프로필 아미도, 메틸프로필 아미도, 에틸프로필 아미도, 메톡시, 에톡시, 프로폭시 및 부톡시로 이루어진 군 중에서 선택되는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Zr(N(CH2CH3)2)4, Sn(N(CH2CH3)2)4및 Ti(N(CH2CH3)2)4를 포함하는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Zr(N(CH3)2)4, Sn(N(CH3)2)4및 Ti(N(CH3)2)4를 포함하는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Zr(O(C4H9))4, Sn(O(C4H9))4및 Ti(O(C4H9))4를 포함하는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Ta(N(CH3)2)5및 Ti(N(CH3)2)4를 포함하는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Al(OCH2CH3)3및 Ta(OCH2CH3)5를 포함하는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 CH3CH2N=Ta(N(CH2CH3)2)3및 Ti(N(CH2CH3)2)4를 포함하는 것인 조성물.
- 제10항에 있어서, 상기 2종 이상의 금속-리간드 착물 전구체로 이루어진 무용매 혼합물은 Si(N(CH2CH3)2)과, Ti(N(CH2CH3)2)4, Zr(N(CH2CH3)2)4, Hf(N(CH2CH3)2)4, V(N(CH2CH3)2)5, V(N(CH2CH3)2)4, Nb(N(CH2CH3)2)5, Nb(N(CH2CH3)2)4, CH3CH2N=Nb(N(CH2CH3)2)3, CH3CH2N=V(N(CH2CH3)2)3, (CH3CH2N=)2Mo(N(CH2CH3)2)2, (CH3CH2N=)2W(N(CH2CH3)2)2및 CH3CH2N=Ta(N(CH2CH3)2)3으로 이루어진 군 중에서 선택되는 금속-리간드 착물 전구체를 포함하는 것인 조성물.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/350,074 US6238734B1 (en) | 1999-07-08 | 1999-07-08 | Liquid precursor mixtures for deposition of multicomponent metal containing materials |
US09/350074 | 1999-07-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010015186A KR20010015186A (ko) | 2001-02-26 |
KR100333933B1 true KR100333933B1 (ko) | 2002-04-22 |
Family
ID=23375125
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000038438A KR100333933B1 (ko) | 1999-07-08 | 2000-07-06 | 다성분 금속 함유 물질을 침착시키기 위한 액체 전구체혼합물 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6238734B1 (ko) |
EP (1) | EP1067595A3 (ko) |
JP (1) | JP3576934B2 (ko) |
KR (1) | KR100333933B1 (ko) |
TW (1) | TW467963B (ko) |
Families Citing this family (379)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6338809B1 (en) | 1997-02-24 | 2002-01-15 | Superior Micropowders Llc | Aerosol method and apparatus, particulate products, and electronic devices made therefrom |
US20030148024A1 (en) * | 2001-10-05 | 2003-08-07 | Kodas Toivo T. | Low viscosity precursor compositons and methods for the depositon of conductive electronic features |
US6503561B1 (en) * | 1999-07-08 | 2003-01-07 | Air Products And Chemicals, Inc. | Liquid precursor mixtures for deposition of multicomponent metal containing materials |
US6943392B2 (en) * | 1999-08-30 | 2005-09-13 | Micron Technology, Inc. | Capacitors having a capacitor dielectric layer comprising a metal oxide having multiple different metals bonded with oxygen |
US6743473B1 (en) | 2000-02-16 | 2004-06-01 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition of barriers from novel precursors |
FI117979B (fi) * | 2000-04-14 | 2007-05-15 | Asm Int | Menetelmä oksidiohutkalvojen valmistamiseksi |
US6558517B2 (en) | 2000-05-26 | 2003-05-06 | Micron Technology, Inc. | Physical vapor deposition methods |
US6620723B1 (en) * | 2000-06-27 | 2003-09-16 | Applied Materials, Inc. | Formation of boride barrier layers using chemisorption techniques |
US6491978B1 (en) * | 2000-07-10 | 2002-12-10 | Applied Materials, Inc. | Deposition of CVD layers for copper metallization using novel metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) precursors |
US6642567B1 (en) * | 2000-08-31 | 2003-11-04 | Micron Technology, Inc. | Devices containing zirconium-platinum-containing materials and methods for preparing such materials and devices |
JP5290488B2 (ja) | 2000-09-28 | 2013-09-18 | プレジデント アンド フェロウズ オブ ハーバード カレッジ | 酸化物、ケイ酸塩及びリン酸塩の気相成長 |
US6566147B2 (en) * | 2001-02-02 | 2003-05-20 | Micron Technology, Inc. | Method for controlling deposition of dielectric films |
US20030017266A1 (en) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Cem Basceri | Chemical vapor deposition methods of forming barium strontium titanate comprising dielectric layers, including such layers having a varied concentration of barium and strontium within the layer |
US6838122B2 (en) * | 2001-07-13 | 2005-01-04 | Micron Technology, Inc. | Chemical vapor deposition methods of forming barium strontium titanate comprising dielectric layers |
US7011978B2 (en) * | 2001-08-17 | 2006-03-14 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming capacitor constructions comprising perovskite-type dielectric materials with different amount of crystallinity regions |
DE10140956A1 (de) * | 2001-08-27 | 2003-03-27 | Univ Braunschweig Tech Carolo Wilhelmina | Verfahren zur Beschichtung von oxidierbaren Materialien mit Oxide aufweisenden Schichten |
US20060001726A1 (en) * | 2001-10-05 | 2006-01-05 | Cabot Corporation | Printable conductive features and processes for making same |
US7629017B2 (en) * | 2001-10-05 | 2009-12-08 | Cabot Corporation | Methods for the deposition of conductive electronic features |
US6951666B2 (en) * | 2001-10-05 | 2005-10-04 | Cabot Corporation | Precursor compositions for the deposition of electrically conductive features |
US20030108664A1 (en) * | 2001-10-05 | 2003-06-12 | Kodas Toivo T. | Methods and compositions for the formation of recessed electrical features on a substrate |
US7524528B2 (en) * | 2001-10-05 | 2009-04-28 | Cabot Corporation | Precursor compositions and methods for the deposition of passive electrical components on a substrate |
JP2003124460A (ja) * | 2001-10-15 | 2003-04-25 | Atsushi Ogura | ゲート酸化膜、素子、ゲート酸化膜形成方法、ゲート酸化膜形成材料 |
WO2003035279A1 (en) * | 2001-10-19 | 2003-05-01 | Superior Micropowders Llc | Tape compositions for the deposition of electronic features |
US7553512B2 (en) * | 2001-11-02 | 2009-06-30 | Cabot Corporation | Method for fabricating an inorganic resistor |
JP4959921B2 (ja) | 2002-03-28 | 2012-06-27 | プレジデント アンド フェロウズ オブ ハーバード カレッジ | 二酸化珪素ナノラミネートの蒸着 |
US6846516B2 (en) * | 2002-04-08 | 2005-01-25 | Applied Materials, Inc. | Multiple precursor cyclical deposition system |
US6720027B2 (en) * | 2002-04-08 | 2004-04-13 | Applied Materials, Inc. | Cyclical deposition of a variable content titanium silicon nitride layer |
US20030235961A1 (en) * | 2002-04-17 | 2003-12-25 | Applied Materials, Inc. | Cyclical sequential deposition of multicomponent films |
US20030232501A1 (en) * | 2002-06-14 | 2003-12-18 | Kher Shreyas S. | Surface pre-treatment for enhancement of nucleation of high dielectric constant materials |
US6858547B2 (en) * | 2002-06-14 | 2005-02-22 | Applied Materials, Inc. | System and method for forming a gate dielectric |
US7067439B2 (en) | 2002-06-14 | 2006-06-27 | Applied Materials, Inc. | ALD metal oxide deposition process using direct oxidation |
WO2004007796A1 (en) * | 2002-07-12 | 2004-01-22 | President And Fellows Of Harvard College | Vapor deposition of tungsten nitride |
US6915592B2 (en) * | 2002-07-29 | 2005-07-12 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for generating gas to a processing chamber |
US7033560B2 (en) * | 2002-08-30 | 2006-04-25 | Air Products And Chemicals, Inc. | Single source mixtures of metal siloxides |
US6905737B2 (en) * | 2002-10-11 | 2005-06-14 | Applied Materials, Inc. | Method of delivering activated species for rapid cyclical deposition |
KR100459609B1 (ko) * | 2002-10-14 | 2004-12-03 | 주식회사 메카로닉스 | 코발트 및 코발트실리사이드 박막 증착을 위한유기코발트화합물과 그 제조방법 및 박막 제조방법 |
US6887523B2 (en) * | 2002-12-20 | 2005-05-03 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Method for metal oxide thin film deposition via MOCVD |
JP3909320B2 (ja) * | 2003-01-27 | 2007-04-25 | 三菱マテリアル株式会社 | 有機金属化学気相成長法用原料の合成方法 |
KR100505674B1 (ko) * | 2003-02-26 | 2005-08-03 | 삼성전자주식회사 | 루테늄 박막을 제조하는 방법 및 이를 이용한 mim캐패시터의 제조방법 |
US20040198069A1 (en) | 2003-04-04 | 2004-10-07 | Applied Materials, Inc. | Method for hafnium nitride deposition |
JP4689969B2 (ja) * | 2003-04-05 | 2011-06-01 | ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. | Iva族およびvia族化合物の調製 |
JP4954448B2 (ja) * | 2003-04-05 | 2012-06-13 | ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. | 有機金属化合物 |
JP4714422B2 (ja) | 2003-04-05 | 2011-06-29 | ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. | ゲルマニウムを含有するフィルムを堆積させる方法、及び蒸気送達装置 |
TW200506093A (en) * | 2003-04-21 | 2005-02-16 | Aviza Tech Inc | System and method for forming multi-component films |
US20050070126A1 (en) * | 2003-04-21 | 2005-03-31 | Yoshihide Senzaki | System and method for forming multi-component dielectric films |
JP4133589B2 (ja) * | 2003-04-21 | 2008-08-13 | 株式会社高純度化学研究所 | テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法 |
US6844271B2 (en) * | 2003-05-23 | 2005-01-18 | Air Products And Chemicals, Inc. | Process of CVD of Hf and Zr containing oxynitride films |
JP4688458B2 (ja) * | 2003-10-30 | 2011-05-25 | 日本パイオニクス株式会社 | 絶縁膜成膜用原料及びそれを用いた成膜方法 |
KR20050091488A (ko) * | 2004-03-12 | 2005-09-15 | 주식회사 유피케미칼 | 세라믹 또는 금속박막 증착용 전구체 화합물 및 그제조방법 |
US20050252449A1 (en) | 2004-05-12 | 2005-11-17 | Nguyen Son T | Control of gas flow and delivery to suppress the formation of particles in an MOCVD/ALD system |
US8323754B2 (en) | 2004-05-21 | 2012-12-04 | Applied Materials, Inc. | Stabilization of high-k dielectric materials |
US8119210B2 (en) | 2004-05-21 | 2012-02-21 | Applied Materials, Inc. | Formation of a silicon oxynitride layer on a high-k dielectric material |
US20060062917A1 (en) * | 2004-05-21 | 2006-03-23 | Shankar Muthukrishnan | Vapor deposition of hafnium silicate materials with tris(dimethylamino)silane |
JP4959122B2 (ja) * | 2004-09-27 | 2012-06-20 | 株式会社アルバック | バナジウム含有膜の形成方法 |
US20060163744A1 (en) * | 2005-01-14 | 2006-07-27 | Cabot Corporation | Printable electrical conductors |
US8167393B2 (en) | 2005-01-14 | 2012-05-01 | Cabot Corporation | Printable electronic features on non-uniform substrate and processes for making same |
WO2006076612A2 (en) * | 2005-01-14 | 2006-07-20 | Cabot Corporation | A process for manufacturing application specific printable circuits (aspc’s) and other custom electronic devices |
US7824466B2 (en) | 2005-01-14 | 2010-11-02 | Cabot Corporation | Production of metal nanoparticles |
DE602006017644D1 (de) * | 2005-01-14 | 2010-12-02 | Cabot Corp | Sicherheitseinrichtungen sowie verwendung und herstellungsverfahren davon |
WO2006076615A1 (en) * | 2005-01-14 | 2006-07-20 | Cabot Corporation | Ink-jet printing of compositionally no-uniform features |
US8383014B2 (en) | 2010-06-15 | 2013-02-26 | Cabot Corporation | Metal nanoparticle compositions |
WO2006076606A2 (en) | 2005-01-14 | 2006-07-20 | Cabot Corporation | Optimized multi-layer printing of electronics and displays |
KR100657792B1 (ko) | 2005-01-24 | 2006-12-14 | 삼성전자주식회사 | 원자층 적층 방법과 이를 이용한 커패시터의 제조 방법 및게이트 구조물의 제조 방법 |
KR100688532B1 (ko) | 2005-02-14 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 텔루르 전구체, 이를 이용하여 제조된 Te-함유 칼코게나이드(chalcogenide) 박막, 상기 박막의 제조방법 및 상변화 메모리 소자 |
FR2883287A1 (fr) * | 2005-03-16 | 2006-09-22 | Air Liquide | Precurseurs organo-metalliques et leur procede de fabrication |
KR20080003387A (ko) * | 2005-04-07 | 2008-01-07 | 에비자 테크놀로지, 인크. | 다중층, 다중성분 높은-k 막들 및 이들의 증착 방법 |
US7402534B2 (en) | 2005-08-26 | 2008-07-22 | Applied Materials, Inc. | Pretreatment processes within a batch ALD reactor |
US20070054048A1 (en) * | 2005-09-07 | 2007-03-08 | Suvi Haukka | Extended deposition range by hot spots |
US7550222B2 (en) * | 2005-10-21 | 2009-06-23 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Fuel cell component having a durable conductive and hydrophilic coating |
KR100724084B1 (ko) * | 2005-11-16 | 2007-06-04 | 주식회사 유피케미칼 | 디알킬아미도디하이드로알루미늄 화합물을 이용한 박막증착방법 |
US20070194470A1 (en) * | 2006-02-17 | 2007-08-23 | Aviza Technology, Inc. | Direct liquid injector device |
US7798096B2 (en) | 2006-05-05 | 2010-09-21 | Applied Materials, Inc. | Plasma, UV and ion/neutral assisted ALD or CVD in a batch tool |
US7625637B2 (en) * | 2006-05-31 | 2009-12-01 | Cabot Corporation | Production of metal nanoparticles from precursors having low reduction potentials |
EP2029790A1 (en) | 2006-06-02 | 2009-03-04 | L'AIR LIQUIDE, Société Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procédés Georges Claude | Method of forming high-k dielectric films based on novel titanium, zirconium, and hafnium precursors and their use for semiconductor manufacturing |
FR2904007B1 (fr) * | 2006-07-21 | 2008-11-21 | Toulouse Inst Nat Polytech | Procede de depot de revetements ceramiques non oxydes. |
JP2008182183A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-08-07 | Doshisha | 原子層成長法を用いた成膜方法及びその成膜装置 |
WO2009106433A1 (en) | 2008-02-27 | 2009-09-03 | L'air Liquide Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude | Method for forming a titanium-containing layer on a substrate using an atomic layer deposition (ald) process |
US7659158B2 (en) | 2008-03-31 | 2010-02-09 | Applied Materials, Inc. | Atomic layer deposition processes for non-volatile memory devices |
US20100047988A1 (en) | 2008-08-19 | 2010-02-25 | Youn-Joung Cho | Methods of forming a layer, methods of forming a gate structure and methods of forming a capacitor |
US8491967B2 (en) | 2008-09-08 | 2013-07-23 | Applied Materials, Inc. | In-situ chamber treatment and deposition process |
US20100062149A1 (en) * | 2008-09-08 | 2010-03-11 | Applied Materials, Inc. | Method for tuning a deposition rate during an atomic layer deposition process |
US9394608B2 (en) | 2009-04-06 | 2016-07-19 | Asm America, Inc. | Semiconductor processing reactor and components thereof |
US8802201B2 (en) * | 2009-08-14 | 2014-08-12 | Asm America, Inc. | Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species |
US20110045183A1 (en) * | 2009-08-18 | 2011-02-24 | Youn-Joung Cho | Methods of forming a layer, methods of forming a gate structure and methods of forming a capacitor |
US8563085B2 (en) * | 2009-08-18 | 2013-10-22 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Precursor composition, methods of forming a layer, methods of forming a gate structure and methods of forming a capacitor |
JP5899615B2 (ja) * | 2010-03-18 | 2016-04-06 | 株式会社リコー | 絶縁膜の製造方法及び半導体装置の製造方法 |
US9176377B2 (en) | 2010-06-01 | 2015-11-03 | Inpria Corporation | Patterned inorganic layers, radiation based patterning compositions and corresponding methods |
MY153033A (en) * | 2011-01-04 | 2014-12-31 | Univ Sains Malaysia | Lanthanum cerium oxide thin film and its preparation thereof |
JP5730670B2 (ja) * | 2011-05-27 | 2015-06-10 | 株式会社Adeka | 酸化モリブデンを含有する薄膜の製造方法、及び酸化モリブデンを含有する薄膜の形成用原料 |
US9312155B2 (en) | 2011-06-06 | 2016-04-12 | Asm Japan K.K. | High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules |
US10854498B2 (en) | 2011-07-15 | 2020-12-01 | Asm Ip Holding B.V. | Wafer-supporting device and method for producing same |
US20130023129A1 (en) | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Asm America, Inc. | Pressure transmitter for a semiconductor processing environment |
EP2573098A1 (en) * | 2011-09-22 | 2013-03-27 | L'Air Liquide Société Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procédés Georges Claude | Vanadium-organic compounds and their use for thin films deposition |
US9017481B1 (en) | 2011-10-28 | 2015-04-28 | Asm America, Inc. | Process feed management for semiconductor substrate processing |
US10714315B2 (en) | 2012-10-12 | 2020-07-14 | Asm Ip Holdings B.V. | Semiconductor reaction chamber showerhead |
US9695207B2 (en) * | 2012-11-19 | 2017-07-04 | Adeka Corporation | Method for producing thin film containing molybdenum |
US20160376700A1 (en) | 2013-02-01 | 2016-12-29 | Asm Ip Holding B.V. | System for treatment of deposition reactor |
US9310684B2 (en) | 2013-08-22 | 2016-04-12 | Inpria Corporation | Organometallic solution based high resolution patterning compositions |
WO2015056944A1 (ko) * | 2013-10-14 | 2015-04-23 | 한국화학연구원 | 몰리브데넘 화합물 또는 텅스텐 화합물, 이의 제조 방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법 |
US10683571B2 (en) | 2014-02-25 | 2020-06-16 | Asm Ip Holding B.V. | Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same |
US10167557B2 (en) | 2014-03-18 | 2019-01-01 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same |
US11015245B2 (en) | 2014-03-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof |
US10858737B2 (en) | 2014-07-28 | 2020-12-08 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead assembly and components thereof |
US9890456B2 (en) | 2014-08-21 | 2018-02-13 | Asm Ip Holding B.V. | Method and system for in situ formation of gas-phase compounds |
US9657845B2 (en) | 2014-10-07 | 2017-05-23 | Asm Ip Holding B.V. | Variable conductance gas distribution apparatus and method |
US10941490B2 (en) | 2014-10-07 | 2021-03-09 | Asm Ip Holding B.V. | Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same |
EP4050014A3 (en) | 2014-10-23 | 2022-12-14 | Inpria Corporation | Organometallic solution based high resolution patterning compositions |
US9663547B2 (en) | 2014-12-23 | 2017-05-30 | L'Air Liquide, Société Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procédés Georges Claude | Silicon- and Zirconium-containing compositions for vapor deposition of Zirconium-containing films |
US9499571B2 (en) | 2014-12-23 | 2016-11-22 | L'Air Liquide, Société Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procédés Georges Claude | Germanium- and zirconium-containing compositions for vapor deposition of zirconium-containing films |
US10276355B2 (en) | 2015-03-12 | 2019-04-30 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same |
US10458018B2 (en) | 2015-06-26 | 2019-10-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same |
US10600673B2 (en) | 2015-07-07 | 2020-03-24 | Asm Ip Holding B.V. | Magnetic susceptor to baseplate seal |
KR102346372B1 (ko) | 2015-10-13 | 2021-12-31 | 인프리아 코포레이션 | 유기주석 옥사이드 하이드록사이드 패터닝 조성물, 전구체 및 패터닝 |
US10211308B2 (en) | 2015-10-21 | 2019-02-19 | Asm Ip Holding B.V. | NbMC layers |
US11139308B2 (en) | 2015-12-29 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices |
US10529554B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-01-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches |
US10190213B2 (en) | 2016-04-21 | 2019-01-29 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of metal borides |
US10865475B2 (en) | 2016-04-21 | 2020-12-15 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of metal borides and silicides |
US10032628B2 (en) | 2016-05-02 | 2018-07-24 | Asm Ip Holding B.V. | Source/drain performance through conformal solid state doping |
US10367080B2 (en) | 2016-05-02 | 2019-07-30 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a germanium oxynitride film |
US11453943B2 (en) | 2016-05-25 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor |
US10612137B2 (en) | 2016-07-08 | 2020-04-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Organic reactants for atomic layer deposition |
US9859151B1 (en) | 2016-07-08 | 2018-01-02 | Asm Ip Holding B.V. | Selective film deposition method to form air gaps |
US10714385B2 (en) | 2016-07-19 | 2020-07-14 | Asm Ip Holding B.V. | Selective deposition of tungsten |
US9887082B1 (en) | 2016-07-28 | 2018-02-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
KR102532607B1 (ko) | 2016-07-28 | 2023-05-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 가공 장치 및 그 동작 방법 |
US9812320B1 (en) | 2016-07-28 | 2017-11-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
US10643826B2 (en) | 2016-10-26 | 2020-05-05 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for thermally calibrating reaction chambers |
US11532757B2 (en) | 2016-10-27 | 2022-12-20 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of charge trapping layers |
US10106568B2 (en) | 2016-10-28 | 2018-10-23 | L'Air Liquide, Société Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procédés Georges Claude | Hafnium-containing film forming compositions for vapor deposition of hafnium-containing films |
US10714350B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-07-14 | ASM IP Holdings, B.V. | Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
US10643904B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-05-05 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures |
US10229833B2 (en) | 2016-11-01 | 2019-03-12 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
US10134757B2 (en) | 2016-11-07 | 2018-11-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method of processing a substrate and a device manufactured by using the method |
KR102546317B1 (ko) | 2016-11-15 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
US10619242B2 (en) | 2016-12-02 | 2020-04-14 | Asm Ip Holding B.V. | Atomic layer deposition of rhenium containing thin films |
KR20180068582A (ko) | 2016-12-14 | 2018-06-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11581186B2 (en) | 2016-12-15 | 2023-02-14 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus |
US11447861B2 (en) | 2016-12-15 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure |
KR102700194B1 (ko) | 2016-12-19 | 2024-08-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US10269558B2 (en) | 2016-12-22 | 2019-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
US10867788B2 (en) | 2016-12-28 | 2020-12-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
WO2018125169A1 (en) * | 2016-12-29 | 2018-07-05 | Intel Corporation | Device, system and method to provide high aspect ratio oligomer structures |
US10364259B2 (en) * | 2016-12-30 | 2019-07-30 | L'Air Liquide, Société Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procédés Georges Claude | Zirconium, hafnium, titanium precursors and deposition of group 4 containing films using the same |
US11390950B2 (en) | 2017-01-10 | 2022-07-19 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process |
US10655221B2 (en) | 2017-02-09 | 2020-05-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD |
US10468261B2 (en) | 2017-02-15 | 2019-11-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
US10529563B2 (en) | 2017-03-29 | 2020-01-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
USD876504S1 (en) | 2017-04-03 | 2020-02-25 | Asm Ip Holding B.V. | Exhaust flow control ring for semiconductor deposition apparatus |
KR102457289B1 (ko) | 2017-04-25 | 2022-10-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 |
US10770286B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
US10892156B2 (en) | 2017-05-08 | 2021-01-12 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
US12040200B2 (en) | 2017-06-20 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus |
US11306395B2 (en) | 2017-06-28 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus |
US10685834B2 (en) | 2017-07-05 | 2020-06-16 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures |
KR20190009245A (ko) | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물 |
US10541333B2 (en) | 2017-07-19 | 2020-01-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US11374112B2 (en) | 2017-07-19 | 2022-06-28 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US11018002B2 (en) | 2017-07-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US10590535B2 (en) | 2017-07-26 | 2020-03-17 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same |
US10692741B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-06-23 | Asm Ip Holdings B.V. | Radiation shield |
US10770336B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate lift mechanism and reactor including same |
US11139191B2 (en) | 2017-08-09 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US11769682B2 (en) | 2017-08-09 | 2023-09-26 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US10249524B2 (en) | 2017-08-09 | 2019-04-02 | Asm Ip Holding B.V. | Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly |
USD900036S1 (en) | 2017-08-24 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Heater electrical connector and adapter |
US11830730B2 (en) | 2017-08-29 | 2023-11-28 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
US11295980B2 (en) | 2017-08-30 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
KR102491945B1 (ko) | 2017-08-30 | 2023-01-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11056344B2 (en) | 2017-08-30 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method |
KR102401446B1 (ko) | 2017-08-31 | 2022-05-24 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
KR102630301B1 (ko) | 2017-09-21 | 2024-01-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치 |
US10844484B2 (en) | 2017-09-22 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
US10658205B2 (en) | 2017-09-28 | 2020-05-19 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber |
US10403504B2 (en) | 2017-10-05 | 2019-09-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a metallic film on a substrate |
US10319588B2 (en) | 2017-10-10 | 2019-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition |
US10923344B2 (en) | 2017-10-30 | 2021-02-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures |
KR102443047B1 (ko) | 2017-11-16 | 2022-09-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
US10910262B2 (en) | 2017-11-16 | 2021-02-02 | Asm Ip Holding B.V. | Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure |
US11022879B2 (en) | 2017-11-24 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer |
WO2019103613A1 (en) | 2017-11-27 | 2019-05-31 | Asm Ip Holding B.V. | A storage device for storing wafer cassettes for use with a batch furnace |
JP7206265B2 (ja) | 2017-11-27 | 2023-01-17 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | クリーン・ミニエンバイロメントを備える装置 |
US10872771B2 (en) | 2018-01-16 | 2020-12-22 | Asm Ip Holding B. V. | Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures |
TWI799494B (zh) | 2018-01-19 | 2023-04-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 沈積方法 |
KR102695659B1 (ko) | 2018-01-19 | 2024-08-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 플라즈마 보조 증착에 의해 갭 충진 층을 증착하는 방법 |
USD903477S1 (en) | 2018-01-24 | 2020-12-01 | Asm Ip Holdings B.V. | Metal clamp |
US11018047B2 (en) | 2018-01-25 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Hybrid lift pin |
USD880437S1 (en) | 2018-02-01 | 2020-04-07 | Asm Ip Holding B.V. | Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus |
US11081345B2 (en) | 2018-02-06 | 2021-08-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of post-deposition treatment for silicon oxide film |
WO2019158960A1 (en) | 2018-02-14 | 2019-08-22 | Asm Ip Holding B.V. | A method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
US10896820B2 (en) | 2018-02-14 | 2021-01-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
US10731249B2 (en) | 2018-02-15 | 2020-08-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus |
KR102636427B1 (ko) | 2018-02-20 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 장치 |
US10658181B2 (en) | 2018-02-20 | 2020-05-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication |
US10975470B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-04-13 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment |
US11473195B2 (en) | 2018-03-01 | 2022-10-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate |
US11629406B2 (en) | 2018-03-09 | 2023-04-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate |
US11114283B2 (en) | 2018-03-16 | 2021-09-07 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same |
KR102646467B1 (ko) | 2018-03-27 | 2024-03-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조 |
US11230766B2 (en) | 2018-03-29 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
US11088002B2 (en) | 2018-03-29 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate rack and a substrate processing system and method |
KR102501472B1 (ko) | 2018-03-30 | 2023-02-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 |
US12025484B2 (en) | 2018-05-08 | 2024-07-02 | Asm Ip Holding B.V. | Thin film forming method |
TWI843623B (zh) | 2018-05-08 | 2024-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構 |
TW202349473A (zh) | 2018-05-11 | 2023-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於基板上形成摻雜金屬碳化物薄膜之方法及相關半導體元件結構 |
KR102596988B1 (ko) | 2018-05-28 | 2023-10-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
US11718913B2 (en) | 2018-06-04 | 2023-08-08 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system and reactor system including same |
TWI840362B (zh) | 2018-06-04 | 2024-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 水氣降低的晶圓處置腔室 |
US11286562B2 (en) | 2018-06-08 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase chemical reactor and method of using same |
KR102568797B1 (ko) | 2018-06-21 | 2023-08-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 시스템 |
US10797133B2 (en) | 2018-06-21 | 2020-10-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures |
US11499222B2 (en) | 2018-06-27 | 2022-11-15 | Asm Ip Holding B.V. | Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material |
TW202409324A (zh) | 2018-06-27 | 2024-03-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於形成含金屬材料之循環沉積製程 |
KR102686758B1 (ko) | 2018-06-29 | 2024-07-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 |
US10612136B2 (en) | 2018-06-29 | 2020-04-07 | ASM IP Holding, B.V. | Temperature-controlled flange and reactor system including same |
US10755922B2 (en) | 2018-07-03 | 2020-08-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US10388513B1 (en) | 2018-07-03 | 2019-08-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US10767789B2 (en) | 2018-07-16 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components |
US11053591B2 (en) | 2018-08-06 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-port gas injection system and reactor system including same |
US10883175B2 (en) | 2018-08-09 | 2021-01-05 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein |
US10829852B2 (en) | 2018-08-16 | 2020-11-10 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution device for a wafer processing apparatus |
US11430674B2 (en) | 2018-08-22 | 2022-08-30 | Asm Ip Holding B.V. | Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
US11024523B2 (en) | 2018-09-11 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
TWI728456B (zh) | 2018-09-11 | 2021-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 相對於基板的薄膜沉積方法 |
US11049751B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-06-29 | Asm Ip Holding B.V. | Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith |
CN110970344A (zh) | 2018-10-01 | 2020-04-07 | Asm Ip控股有限公司 | 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法 |
US11232963B2 (en) | 2018-10-03 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
KR102592699B1 (ko) | 2018-10-08 | 2023-10-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치 |
US10847365B2 (en) | 2018-10-11 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD |
US10811256B2 (en) | 2018-10-16 | 2020-10-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for etching a carbon-containing feature |
KR102605121B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
KR102546322B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
USD948463S1 (en) | 2018-10-24 | 2022-04-12 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus |
US11087997B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
KR20200051105A (ko) | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
US11572620B2 (en) | 2018-11-06 | 2023-02-07 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate |
US11031242B2 (en) | 2018-11-07 | 2021-06-08 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a boron doped silicon germanium film |
US10818758B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures |
US10847366B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process |
US10559458B1 (en) | 2018-11-26 | 2020-02-11 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming oxynitride film |
US12040199B2 (en) | 2018-11-28 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
US11217444B2 (en) | 2018-11-30 | 2022-01-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film |
KR102636428B1 (ko) | 2018-12-04 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치를 세정하는 방법 |
US11158513B2 (en) | 2018-12-13 | 2021-10-26 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
JP7504584B2 (ja) | 2018-12-14 | 2024-06-24 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム |
TWI819180B (zh) | 2019-01-17 | 2023-10-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法 |
KR20200091543A (ko) | 2019-01-22 | 2020-07-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
CN111524788B (zh) | 2019-02-01 | 2023-11-24 | Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法 |
TW202044325A (zh) | 2019-02-20 | 2020-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備 |
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KR102626263B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-01-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치 |
TWI842826B (zh) | 2019-02-22 | 2024-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基材處理設備及處理基材之方法 |
US11742198B2 (en) | 2019-03-08 | 2023-08-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structure including SiOCN layer and method of forming same |
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JP2020188255A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
JP2020188254A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
USD975665S1 (en) | 2019-05-17 | 2023-01-17 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD947913S1 (en) | 2019-05-17 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD935572S1 (en) | 2019-05-24 | 2021-11-09 | Asm Ip Holding B.V. | Gas channel plate |
USD922229S1 (en) | 2019-06-05 | 2021-06-15 | Asm Ip Holding B.V. | Device for controlling a temperature of a gas supply unit |
KR20200141002A (ko) | 2019-06-06 | 2020-12-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법 |
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USD944946S1 (en) | 2019-06-14 | 2022-03-01 | Asm Ip Holding B.V. | Shower plate |
USD931978S1 (en) | 2019-06-27 | 2021-09-28 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead vacuum transport |
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JP7499079B2 (ja) | 2019-07-09 | 2024-06-13 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法 |
CN112216646A (zh) | 2019-07-10 | 2021-01-12 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板支撑组件及包括其的基板处理装置 |
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US11643724B2 (en) | 2019-07-18 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures using a neutral beam |
TWI839544B (zh) | 2019-07-19 | 2024-04-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法 |
CN112309843A (zh) | 2019-07-29 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 实现高掺杂剂掺入的选择性沉积方法 |
CN112309899A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112309900A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
US11227782B2 (en) | 2019-07-31 | 2022-01-18 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11587815B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11587814B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
CN118422165A (zh) | 2019-08-05 | 2024-08-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于化学源容器的液位传感器 |
USD965044S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD965524S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-10-04 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor support |
JP2021031769A (ja) | 2019-08-21 | 2021-03-01 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置 |
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US11562901B2 (en) | 2019-09-25 | 2023-01-24 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing method |
CN112593212B (zh) | 2019-10-02 | 2023-12-22 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法 |
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TWI834919B (zh) | 2019-10-16 | 2024-03-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法 |
US11637014B2 (en) | 2019-10-17 | 2023-04-25 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selective deposition of doped semiconductor material |
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JP7527928B2 (ja) | 2019-12-02 | 2024-08-05 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基板処理装置、基板処理方法 |
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US11993847B2 (en) | 2020-01-08 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Injector |
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US11821078B2 (en) | 2020-04-15 | 2023-11-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film |
US11996289B2 (en) | 2020-04-16 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods |
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TW202201602A (zh) | 2020-05-29 | 2022-01-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
CN111818533B (zh) * | 2020-06-04 | 2021-08-17 | 浙江大学 | 一种基于智能反射面的无线通信系统设计方法 |
TW202204667A (zh) | 2020-06-11 | 2022-02-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 過渡金屬二硫屬化合物薄膜之原子層沉積及蝕刻 |
TW202218133A (zh) | 2020-06-24 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含矽層之方法 |
TW202217953A (zh) | 2020-06-30 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202202649A (zh) | 2020-07-08 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
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TW202204662A (zh) | 2020-07-20 | 2022-02-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於沉積鉬層之方法及系統 |
US12040177B2 (en) | 2020-08-18 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes |
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USD990534S1 (en) | 2020-09-11 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
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USD981973S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-28 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor wall for substrate processing apparatus |
USD980814S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor for substrate processing apparatus |
USD1023959S1 (en) | 2021-05-11 | 2024-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for substrate processing apparatus |
USD980813S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate for substrate processing apparatus |
US12032291B2 (en) * | 2021-06-15 | 2024-07-09 | Inpria Corporation | Organotin patterning materials with ligands having silicon/germanium; precursor compositions; and synthesis methods |
USD990441S1 (en) | 2021-09-07 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3632429A (en) * | 1970-06-30 | 1972-01-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method for making metal oxide film resistors |
SE393967B (sv) | 1974-11-29 | 1977-05-31 | Sateko Oy | Forfarande och for utforande av stroleggning mellan lagren i ett virkespaket |
JPS60108338A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバ母材の製造方法 |
US5208284A (en) * | 1989-12-05 | 1993-05-04 | Ethyl Corporation | Coating composition |
US5204314A (en) | 1990-07-06 | 1993-04-20 | Advanced Technology Materials, Inc. | Method for delivering an involatile reagent in vapor form to a CVD reactor |
US5820664A (en) | 1990-07-06 | 1998-10-13 | Advanced Technology Materials, Inc. | Precursor compositions for chemical vapor deposition, and ligand exchange resistant metal-organic precursor solutions comprising same |
US5262199A (en) * | 1992-04-17 | 1993-11-16 | Center For Innovative Technology | Coating porous materials with metal oxides and other ceramics by MOCVD |
US5417823A (en) * | 1993-12-17 | 1995-05-23 | Ford Motor Company | Metal-nitrides prepared by photolytic/pyrolytic decomposition of metal-amides |
US5464666A (en) * | 1995-02-06 | 1995-11-07 | Air Products And Chemicals, Inc. | Process for chemical vapor codeposition of copper and aluminum alloys |
US5725904A (en) * | 1995-06-02 | 1998-03-10 | Elf Atochem North America, Inc. | Liquid methyltin halide compositions |
US5952047A (en) * | 1997-03-28 | 1999-09-14 | Dowa Mining Co., Ltd. | CVD precursors and film preparation method using the same |
US5980983A (en) | 1997-04-17 | 1999-11-09 | The President And Fellows Of Harvard University | Liquid precursors for formation of metal oxides |
JPH1174478A (ja) * | 1997-09-01 | 1999-03-16 | Matsushita Electron Corp | 誘電体膜の製造方法、半導体装置の製造方法、半導体装置及び半導体装置の製造装置 |
US6045864A (en) * | 1997-12-01 | 2000-04-04 | 3M Innovative Properties Company | Vapor coating method |
US6015917A (en) * | 1998-01-23 | 2000-01-18 | Advanced Technology Materials, Inc. | Tantalum amide precursors for deposition of tantalum nitride on a substrate |
-
1999
- 1999-07-08 US US09/350,074 patent/US6238734B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-07-03 TW TW089113151A patent/TW467963B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-07-04 EP EP00114321A patent/EP1067595A3/en not_active Withdrawn
- 2000-07-06 KR KR1020000038438A patent/KR100333933B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-07-07 JP JP2000212008A patent/JP3576934B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3576934B2 (ja) | 2004-10-13 |
US6238734B1 (en) | 2001-05-29 |
TW467963B (en) | 2001-12-11 |
JP2001081560A (ja) | 2001-03-27 |
EP1067595A3 (en) | 2002-01-16 |
EP1067595A2 (en) | 2001-01-10 |
KR20010015186A (ko) | 2001-02-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20090331 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |