JP4133589B2 - テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法 - Google Patents

テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4133589B2
JP4133589B2 JP2003149954A JP2003149954A JP4133589B2 JP 4133589 B2 JP4133589 B2 JP 4133589B2 JP 2003149954 A JP2003149954 A JP 2003149954A JP 2003149954 A JP2003149954 A JP 2003149954A JP 4133589 B2 JP4133589 B2 JP 4133589B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vanadium
tetrakis
ethylmethylamino
same
liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003149954A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004323493A (ja
Inventor
三紀子 安原
秀公 門倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kojundo Kagaku Kenkyusho KK
Original Assignee
Kojundo Kagaku Kenkyusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kojundo Kagaku Kenkyusho KK filed Critical Kojundo Kagaku Kenkyusho KK
Priority to JP2003149954A priority Critical patent/JP4133589B2/ja
Publication of JP2004323493A publication Critical patent/JP2004323493A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4133589B2 publication Critical patent/JP4133589B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体装置の銅配線を形成する際の下地バリアである窒化バナジウム膜ならびにバナジウム膜をMOCVD法およびALD法にて形成するのに好適なバナジウム化合物とその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
シリコン半導体装置の銅配線の下地バリアとして窒化チタンが一般的に使用されている。更なる高集積、微細化では、窒化タンタルが検討されている。しかし、窒化タンタルは内部応力が大きいために剥離しやすく、ダストとなって製造装置を汚染するという欠点がある。
【0003】
これらの欠点を解消するため特開2003−17437号は、スパッタ法にて作成された窒化バナジウムならびに酸窒化バナジウムが、銅配線との密着性が良好で、抵抗値は90μΩ・cmであり、同条件の窒化タンタル薄膜の1/3の値であったことを開示している。
しかし、該明細書の実施例は、スパッタ法にて成膜したものであり、膜厚も200から1600nmと厚く、微細化、薄膜化に対応できるものではない。その特性を生かすためには、量産性に優れ、ステップカバレジ能力の高いMOCVD法またはALD法による窒化バナジウムならびに酸窒化バナジウム薄膜の形成が必要となってくる。
【0004】
一般に量産用MOCVD法およびALD法の原料化合物が持つべき供給時の好ましい性質としては、純品で高い蒸気圧を持ち、供給時に熱的に安定で、クリーンルームの室温付近で液体であることが挙げられる。
【0005】
窒化バナジウムならびに酸窒化バナジウム薄膜のMOCVD法およびALD法用バナジウム原料としては、窒化チタン薄膜成膜で量産に現在使われている原料が四塩化チタン、テトラキス(ジメチルアミノ)チタン、テトラキス(ジエチルアミノ)チタンであり、この類推から、四塩化バナジウム、テトラキス(ジメチルアミノ)バナジウム、テトラキス(ジエチルアミノ)バナジウムが挙げられる。
【0006】
四塩化バナジウムは室温で液体であり高い蒸気圧を持つが、膜中への残留塩素への懸念や、腐食性が強いことからMOCVD法およびALD法用原料に好適であるとは言い難い。
公知化合物のテトラキス(ジメチルアミノ)バナジウム[以下V(NMeと表す]は、融点47℃の固体の化合物であり、供給に問題がある。
テトラキス(ジエチルアミノ)バナジウム[以下V(NEtと表す]は、室温で液体の化合物であるが、蒸気圧が低く、原料に好適であるとは言い難い。
【0007】
韓国特許KR156980「窒化金属薄膜蒸着用化合物およびそれを用いた蒸着方法」では、成膜速度の増加と膜中の炭素不純物を減少させるために有利な原料化合物として、下記一般式で定義される有機金属を請求項1で特許請求の範囲としている。
M[N(CH)C
ここでMは短周期律表3A,4A,4B,5Bに属する金属で、xは3〜5の定数である。
請求項2は、金属MがAl,Ga,Si,Ge,Sn,Ti,Zr,Taから選ばれた化合物である。
【0008】
請求項1は5Bに属する金属バナジウムVの化合物であるV[N(CH)Cを確かに含んでいる。
バナジウムと同じ5Bに属するタンタルについては、Ta[N(CH)Cを請求項6で請求していることから、VについてもV[N(CH)Cと推定される。すなわち、V(NMe、V(NEtの系列であるx=4のテトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウム[以下V(NEtMe)と表す]を必ずしも指していないのである。また、V(NEtMe)が熱的に安定に存在しうるのか示唆していない。
【0009】
すなわち、該韓国特許はV(NEtMe)を特定し、それを合成し、物性を測定した実施例や、それを用いての成膜実施例を全く開示していない。また、V(NEtMe)が量産用化合物として好適であることを開示していないのである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
本発明者らは、公知化合物のV(NMeとV(NEtの融点と蒸気圧を測定した。その結果、V(NMeの融点は47℃で蒸気圧は1Torr/95℃であった。V(NEtは室温で液体で蒸気圧は1Torr/145℃であった。
【0011】
MOCVD法およびALD法の原料供給法のうち最も適した方法は、液体状態のまま液体マスフローコントローラーを通して供給し、気化器で全量を気化させる液体供給法である。
【0012】
この液体マスフローコントローラーの使用上限温度は約50℃であるので、蒸気圧の高いV(NMeを使う場合には、不活性有機溶媒、例えばヘキサン、シクロヘキサン、オクタン等に溶かした溶液にする必要がある。しかし大量の有機溶媒は、MOCVD法やALD法に好ましくなく、膜中に炭素を増やす要因になる。また、固体の溶解操作や溶媒を使うので、水分や空気のコンタミで液中にパーティクルを生成しやすい。
さらには、V(NMeは緑黒色で蒸留精製時に精製装置の内部が目視確認しにくく、また融点が高いために蒸留装置や配管が詰まりやすいなど、安定した精製工程を維持することが困難であるという製造上の問題点がある。
【0013】
V(NEtは蒸気圧が低いため、気化器温度が高くなりすぎるという欠点がある。
【0014】
本発明の目的は、MOCVD法およびALD法用原料として、室温で液体であり、かつV(NEtよりも蒸気圧が数倍高い新規な化合物を提供することである。またその製造方法を提供することである。さらには、それを用いてMOCVD法およびALD法で窒化バナジウムならびに酸窒化バナジウム薄膜を形成する方法を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、V(NEtMe)を初めて合成し、融点が−70℃以下の液体であり、V(NEtよりも高い蒸気圧を持ち、NHやHを使うMOCVD法やALD法で窒化バナジウム膜を成膜できることを見出し、本発明を完成させた。
【0016】
本発明は、テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムである。
【0017】
本発明は、三塩化バナジル1モルとエチルメチルアミノリチウム5モルを有機溶媒中で反応させ、次いで副生物の塩化リチウム粒子、酸化リチウム粒子等を濾過分離し、溶媒を留去し、次いで真空下で蒸留することよりなるテトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムの製造方法である。
【0018】
本発明は、テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムを原料として用いることを特徴とするMOCVD法およびALD法による窒化バナジウム膜およびバナジウム含有膜の形成方法である。
【0019】
本発明は、テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムに有機溶媒を添加してなることを特徴とするMOCVD用原料溶液である。
【0020】
【発明の実施の形態】
本発明のV(NEtMe)は新規化合物である。
それは、J.Chem.Soc.,Dalton Trans.,1992,891記載のV(NMeの製法をもとにして製造することができる。
【0021】
5モルのエチルメチルアミノリチウムをヘキサン中に溶解懸濁させ、攪拌冷却をしながら1モルの三塩化バナジルを加えて1昼夜10〜40℃で反応させる。次いで副生した塩化リチウムや酸化リチウムを濾過で取り除き、得られた緑色の液体から溶媒や低沸点分を減圧で留去する。すると緑黒色の粘性液体が残るので、これを1Torrの減圧蒸留をすると120℃付近で緑黒色液体が得られる。三塩化バナジルに対する収率は40%である。
【0022】
ここで原料とするエチルメチルアミノリチウムは、ノルマルブチルリチウムのヘキサン溶液とエチルメチルアミンを反応させることにより、白色ヨーグルト状として得られる。反応溶媒としてはヘキサンの他、ヘプタン、オクタン、トルエンなどが使える。三塩化バナジルに対する仕込みリチウムエチルメチルアミドのモル数は5モルであるが、若干過剰のエチルメチルアミノリチウムを加えてもよい。
【0023】
実施例1で得られたV(NEtMe)について、以下に同定結果と物性を述べる。
(1)組成分析
湿式分解し、生成した液のICP発光分光分析の結果、
V分析値 17.15wt% (理論値 17.98Wt%)
【0024】
(2)不純物分析
ICP発光分光分析の結果、(単位ppm)
Ca5.4,Cr<3.0,Cu<0.9,Fe<0.3,K5.0,
Li<1.5,Mg1.3,Na<1.5,Ni<0.3
であり、高純度であった。
全塩素分析の結果、Clは<60ppmであった。
【0025】
(3)蒸気圧
蒸留のデータから、120℃/1Torrであった。
【0026】
(4)TG−DTA
測定条件
測定はAr 1気圧、昇温速度10.0deg/minで行った。
試料質量19.6mgの結果を図1に示す。
100%の減量にはなっていない原因は、サンプリング中に少し加水分解、酸化したためである。
【0027】
(5)性状と融点
緑黒色液体であり、融点は−70℃以下であった。
室温での密度は、0.89g/cmであった。
【0028】
以上より、総合的に判断してこの化合物はV(NEtMe)であると断定した。
【0029】
比較のためV(NEtMe)と同手法で公知化合物のV(NMeとV(NEtを合成し、物性を測定した。その結果を表1に示す。
【0030】
【表1】
Figure 0004133589
【0031】
V(NEtMe)の実施上の優位点は以下のとおりである。
V(NEtMe)は蒸留による精製工程で装置や配管が詰まることなく、安定した精製工程を維持できた。
さらにV(NEtMe)は室温で液体であるため、V(NMe使用時のような余分な有機溶媒は不要であり、基板へのV化合物の吸着やデポがしやすく薄膜中の残留炭素の影響も低減できる。
V(NEtMe)は、1Torrを与える温度がV(NEtよりも25℃も低いため気化器温度を低くでき、そこでの熱劣化を抑えることができ、使用の安定が図れる。
同一温度で比較すると、V(NEtMe)はV(NEtの約5倍の高い蒸気圧を持つので、量産時の供給に非常に有利である。
V(NEtMe)の粘度は室温で20cp程度であり、液体マスフローコントローラーで気化器に供給し、気化器で全量を気化させるという、量産に最適な供給方式をとることができる。
【0032】
【実施例1】
V(NEtMe)の製造
温度計、攪拌子を備えた2L三口フラスコを真空置換後、アルゴン雰囲気下とし、Li−n−Bu0.43kg(1.01mol)とNHEtMeトルエン溶液189g(1.28mol)を反応させLiNEtMeを作った。
温度計、攪拌子を備えた2L三口フラスコを真空置換後、アルゴン雰囲気下とし、作りたてのLiNEtMeヘキサン−トルエン懸濁液1400mL(LiNEtMeとして65.7g,1.01mol)にフラスコを冷やしながらVOClヘキサン溶液130mL(VOClとして35.5g,0.20mol)を反応液温が−10〜−40℃にて徐々に加えた。その後、室温にて48時間攪拌すると、沈降性のよいスラリーとなった。次いで副生したLiCl、LiO等を濾過分離すると、緑色液体が得られた。この液をオイルバス温度30℃で減圧にしてヘキサン溶媒や副生アミン類を留去すると、緑黒色の粘性液体となった。
この液体を120℃付近1Torrで蒸留し、緑色の液体22.9gを得た。
同定の結果は前述したようにV(NEtMe)であり(0.08mol)、収率はVOClに対して40%であった。
【0033】
【実施例2】
V(NEtMe)を用いたMOCVD法による窒化バナジウム膜の形成
V(NEtMe)を室温で液体マスフローコントローラーを通して供給し、次いで150℃の気化器で全量を気化させコールドウォール型CVD室に導いた。反応ガスとしてNHを30sccm、Hを20sccmも導入した。CVD室は0.05Torrに排気系により保たれ、600℃のSiO/Si基板上で窒化バナジウム膜を約50nm堆積させた。
この膜は元素分析の結果、VとNが主成分の膜であることが分かった。
【0034】
【実施例3】
酸窒化バナジウム膜の形成
実施例2においてHをOに代えた他は実施例2と同じ操作を行った結果、酸窒化バナジウム膜が形成できた。
【0035】
【発明の効果】
本発明のV(NEtMe)は、室温で液体なので製造、精製が容易である。液体マスフローコントローラーで供給でき、公知のV(NEtより約5倍の蒸気圧があるので、MOCVD法およびALD法における窒化バナジウム膜の量産に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のV(NEtMe)のTG−DTAによる測定結果を示す図である。

Claims (4)

  1. テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウム。
  2. 三塩化バナジル1モルとエチルメチルアミノリチウム5モルを有機溶媒中で反応させ、次いで副生物の塩化リチウム粒子、酸化リチウム粒子等を濾過分離し、溶媒を留去し、次いで真空下で蒸留することよりなるテトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムの製造方法。
  3. テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムを原料として用いることを特徴とするMOCVD法およびALD法による窒化バナジウム膜およびバナジウム含有膜の形成方法。
  4. テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムに有機溶媒を添加してなることを特徴とするMOCVD用原料溶液。
JP2003149954A 2003-04-21 2003-04-21 テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法 Expired - Fee Related JP4133589B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003149954A JP4133589B2 (ja) 2003-04-21 2003-04-21 テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003149954A JP4133589B2 (ja) 2003-04-21 2003-04-21 テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004323493A JP2004323493A (ja) 2004-11-18
JP4133589B2 true JP4133589B2 (ja) 2008-08-13

Family

ID=33508204

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003149954A Expired - Fee Related JP4133589B2 (ja) 2003-04-21 2003-04-21 テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4133589B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4959122B2 (ja) * 2004-09-27 2012-06-20 株式会社アルバック バナジウム含有膜の形成方法
JP5184357B2 (ja) * 2005-08-24 2013-04-17 エレクトロニクス アンド テレコミュニケーションズ リサーチ インスチチュート バナジウム酸化物薄膜の製造方法
KR100734854B1 (ko) * 2005-08-24 2007-07-03 한국전자통신연구원 바나듐이산화물 박막의 제조방법
US8318966B2 (en) * 2006-06-23 2012-11-27 Praxair Technology, Inc. Organometallic compounds
KR100914982B1 (ko) * 2008-01-02 2009-09-02 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 금속배선 및 그 형성방법
JP6735163B2 (ja) 2016-06-22 2020-08-05 株式会社Adeka バナジウム化合物、薄膜形成用原料及び薄膜の製造方法
JP6872453B2 (ja) 2016-07-27 2021-05-19 Dowaサーモテック株式会社 窒化バナジウム膜、窒化バナジウム膜の被覆部材およびその製造方法
CN106848282B (zh) * 2017-01-26 2022-05-17 彭宪利 一种非水电解质二次电池用负极材料及其制备方法和应用

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6238734B1 (en) * 1999-07-08 2001-05-29 Air Products And Chemicals, Inc. Liquid precursor mixtures for deposition of multicomponent metal containing materials

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004323493A (ja) 2004-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3963078B2 (ja) ターシャリーアミルイミドトリス(ジメチルアミド)タンタルとその製造方法及びそれを用いたmocvd用原料溶液並びにそれを用いた窒化タンタル膜の形成方法
JP4700103B2 (ja) 揮発性ニッケルアミノアルコキシド錯体及びそれを用いたニッケル薄膜の蒸着法
US7635441B2 (en) Raw material for forming a strontium-containing thin film and process for preparing the raw material
JP5148186B2 (ja) イミド錯体、その製造方法、金属含有薄膜及びその製造方法
JP6567131B2 (ja) 新規なアミノシリルアミン化合物、その製造方法およびこれを用いたシリコン含有薄膜
US20040142555A1 (en) Chemical vapor deposition precursors for deposition of tantalum-based materials
US20170117142A1 (en) Organic Germanium Amine Compound and Method for Depositing Thin Film Using the Same
JP4133589B2 (ja) テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法
TWI515197B (zh) 含矽組合物、使用該含矽組合物之含矽薄膜及製造該含矽薄膜之方法
US7196211B2 (en) Hafnium-containing material for film formation, method for producing the same, and method for producing hafnium-containing thin film using the same
JP5260148B2 (ja) ストロンチウム含有薄膜の形成方法
KR20120131114A (ko) 실리콘 화합물 증착용 화합물 및 전구체 조성물
JP5042548B2 (ja) 金属含有化合物、その製造方法、金属含有薄膜及びその形成方法
JP2822946B2 (ja) 高純度Ti錯体及びその製造方法並びにBST膜形成用液体組成物
JP3511228B2 (ja) エチルシクロペンタジエニル(1,5−シクロオクタ ジエン)イリジウムとその製造方法及びそれを用いた イリジウム含有薄膜の製造方法
JP4326005B2 (ja) ターシャリーアミルイミドトリス(ジメチルアミド)ニオブとその製造方法及びそれを用いたald用原料溶液並びにそれを用いた窒化ニオブ膜もしくは酸化ニオブ膜の形成方法。
JP2876980B2 (ja) 蒸気圧の高い有機金属化学蒸着による銅薄膜形成用有機銅化合物
KR101306812B1 (ko) 신규의 텅스텐 실릴아미드 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법
JP2005197675A (ja) ハフニウム含有膜形成材料及び該材料から作製されたハフニウム含有膜
JP2768250B2 (ja) 蒸気圧の高い有機金属化学蒸着による銀薄膜形成用有機銀化合物
JP2006249047A (ja) 有機金属アミド錯体の精製方法
TWI504605B (zh) 雙(二烷基醯胺基)鎂化合物及利用該鎂化合物之含鎂薄膜之製造方法
JP3284689B2 (ja) 蒸気圧の高い有機金属化学蒸着による銅薄膜形成用有機銅化合物
JP2005132757A (ja) タンタル化合物、その製造方法、及びタンタル含有薄膜の形成方法
JPH0770163A (ja) 蒸気圧の高い有機金属化学蒸着による銅薄膜形成用有機 銅化合物

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050725

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20050907

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080523

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080602

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110606

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4133589

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees