JPWO2009087784A1 - レーザアニール方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール方法及び装置に関する。
近年、ガラス等の絶縁基板上に形成された非晶質半導体膜や結晶性半導体膜に対し、レーザアニールを適用して高性能の薄膜トランジスタが作製されている。ガラス基板は、従来よく使用されてきた石英基板と比較し、安価で加工性に優れ、大面積化が可能であるというメリットを持っている。半導体膜の結晶化にレーザが使用されるのは、ガラス基板の融点は600℃以下であるが、レーザを使用すればガラス基板を加熱せずに非晶質半導体膜を溶融、結晶化させることができるからである。
本発明者らは、まず、線状ビームの長軸方向の光強度を均一化するためのホモジナイザにおけるレンズアレイの位置を線状ビームの長軸方向に対応する方向に1mmずつシフトさせたときに縦縞のパターンがどうなるかを調べた。その結果、縦縞のパターンが変化した。この変化の理由として考えられるのは、
(a)レーザ光源からのレーザビーム自体の均一性が要因となって縦縞が現れる、あるいは、
(b)ホモジナイザを構成するレンズ表面で発生する散乱光が要因となって縦縞が現れる、のいずれかである。
レンズアレイ方式のホモジナイザ光学系において、長軸用レンズアレイを線状ビームの長軸方向に対応する方向に往復動させながらレーザ照射を行うことにより、後段に設置された長軸用集光光学系を構成する大型レンズに入射するレーザ光の入射角及び強度がショットごとに変化する。したがって、被照射面における長軸方向のビーム均一性がショットごとに変動することで、レンズ表面での散乱光に起因する被照射面での縦縞が分散される効果が生じ、目視では縦縞が大幅に低減される。また、長軸用レンズアレイの往復動の移動幅をS、長軸用レンズアレイを往復動させることなくレーザアニールした場合に目視可能に現れる線状ビームの走査方向と平行な縞模様のピッチをP、長軸用レンズアレイを構成する各シリンドリカルレンズの幅をWとしたとき、P/3≦S<W、P/2≦S<W、またはP≦S<Wの関係を満たすようにすると、縦縞の原因となるエネルギー分布のムラが基板搬送方向と垂直な方向(図2の左右方向)に適度にずれるので、縦縞を適度に分散させ目視可能な縦縞の発生を効果的に低減できる。あるいは、1.0mm≦S<W、1.5mm≦S<W、または3.0mm≦S<Wの関係を満たすようにするとよい。
レンズアレイ方式のホモジナイザ光学系において、短軸用レンズアレイを線状ビームの短軸方向に対応する方向に往復動させながらレーザ照射を行うことにより、後段に設置された短軸方向集光光学系を構成する大型レンズに入射するレーザ光の入射角及び強度がショットごとに変化する。したがって、被照射面における短軸方向のビーム均一性がショットごとに変動することで、レンズ表面での散乱光に起因する被照射面での横縞が分散される効果が生じ、目視では横縞が大幅に低減される。
図1A及びBに、本発明の第1実施形態にかかるレーザアニール装置10の概略構成を示す。図1Aは平面図、図1Bは側面図である。また、図1Aでは、線状ビームの短軸方向のみに作用する光学系は仮想線(破線)で示されている。図1Bでは、線状ビームの長軸方向のみに作用する光学系は仮想線で示されている。
以下、レーザアニール装置10をより具体的に説明する。
基板2に照射される矩形状ビームの長軸方向の長さは、例えば数10mmとすることができる。
図3に示すように、長軸用レンズアレイ20a,20bの往復動の移動幅Sは、シリンドリカルレンズアレイ21のX方向の移動ストロークであり、シリンドリカルレンズ21の幅Wは往復移動方向(X方向)の長さである。
図5はP偏光で処理した場合とS偏光で処理した場合の結晶粒のSEM写真である。S偏光のレーザ光により非晶質半導体膜をアニール処理した場合、図5に示すように、P偏光で処理するよりも粒径が大きく(粗く)均一な結晶粒の多結晶半導体膜が得られる。このため、目視で観察される縞が低減する効果が得られる。
なお、長軸用レンズアレイ20a,20bを往復動させることで縦縞のみならず横縞についても低減されることは上述したとおりである。したがって、短軸用レンズアレイ26a,26bを往復動させず長軸用レンズアレイ20a,20bのみを往復動させる構成とし、これにより縦縞と横縞の両方を低減するようにしてもよい。
図6A及び図6Bに、本発明の第2実施形態にかかるレーザアニール装置10の概略構成を示す。
図6Aに示すように、本実施形態のレーザアニール装置10は、第1実施形態における長軸用レンズアレイ移動装置32に代えて、レーザ照射中に長軸用集光光学系(本実施形態では長軸用コンデンサレンズ22)と被照射物3の表面との光路上の距離を一定に保持したまま、長軸用集光光学系と長軸用レンズアレイ20a,20bとの光路上の相対距離を増減させるための手段として、レーザ照射中に長軸用レンズアレイ20a,20bを光軸方向(図中のZ方向)に往復動させる長軸用レンズアレイ往復動装置34を備える。長軸用レンズアレイ往復動装置34は、図示しない制御装置によって自動制御される。
図7A及び図7Bに、本発明の第3実施形態にかかるレーザアニール装置10の概略構成を示す。
図7Aに示すように、本実施形態のレーザアニール装置10では、長軸用ホモジナイザ19が導波路39を用いた導波路形式として構成されている。すなわち、本実施形態において長軸用ホモジナイザ19は、レーザ光1を線状ビームの長軸方向に対応する方向に複数に分割する長軸用導波路39と、この長軸用導波路39にレーザ光1を導く長軸用導入レンズ38と、長軸用導波路39によって分割されたレーザ光1を被照射物3の表面で長軸方向に重ね合わせる長軸用集光光学系としての長軸用端面転写光学系23とからなる。本実施形態において長軸用端面転写光学系23は、2つのシリンドリカルレンズ23a,23bからなり、長軸用導波路39の出射面における長軸像を所定倍率で拡大して被照射面に投影する。
図8A及び図8Bに、本発明の第4実施形態にかかるレーザアニール装置10の概略構成を示す。
図8Bに示すように、本実施形態のレーザアニール装置10では、短軸用ホモジナイザ25が導波路44を用いた導波路形式として構成されている。すなわち、本実施形態において短軸用ホモジナイザ25は、レーザ光1を線状ビームの短軸方向に対応する方向に複数に分割する短軸用導波路44と、この短軸用導波路44にレーザ光1を導く短軸用導入レンズ43と、短軸用導波路44によって分割されたレーザ光1を被照射物3の表面で短軸方向に重ね合わせる短軸用集光光学系としての短軸用端面転写光学系(31a,31b)とからなる。本実施形態において短軸用端面転写光学系は、2つのシリンドリカルレンズ31a,31bからなり、短軸用導波路44の出射面における短軸像を所定倍率で縮小して被照射面に投影する。
Claims (21)
- パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール方法において、
長軸用レンズアレイにより、レーザ光を線状ビームの長軸方向に対応する方向に複数に分割し、
長軸用集光光学系により、前記長軸用レンズアレイによって分割されたレーザ光を被照射物の表面で長軸方向に重ね合わせ、
レーザ照射中に、前記長軸用レンズアレイを線状ビームの長軸方向に対応する方向に往復動させる、ことを特徴とするレーザアニール方法。 - 前記長軸用レンズアレイの往復動の移動幅をS、前記長軸用レンズアレイを往復動させることなくレーザアニールした場合に目視可能に現れる前記線状ビームの走査方向と平行な縞模様のピッチをP、前記長軸用レンズアレイを構成する各シリンドリカルレンズの幅をWとしたとき、P/3≦S<W、P/2≦S<W、またはP≦S<Wの関係を満たす、請求項1記載のレーザアニール方法。
- 前記長軸用レンズアレイの往復動の移動幅をS、前記長軸用レンズアレイを構成する各シリンドリカルレンズの幅をWとしたとき、1.0mm≦S<W、1.5mm≦S<W、または3.0mm≦S<Wの関係を満たす、請求項1記載のレーザアニール方法。
- パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール方法において、
長軸用レンズアレイにより、レーザ光を線状ビームの長軸方向に対応する方向に複数に分割し、
長軸用集光光学系により、前記長軸用レンズアレイによって分割されたレーザ光を被照射物の表面で長軸方向に重ね合わせ、
レーザ照射中に、前記集光光学系と被照射物の表面との光路上の距離を一定に保持したまま、前記長軸用集光光学系と前記長軸用レンズアレイとの光路上の相対距離を増減させる、ことを特徴とするレーザアニール方法。 - 前記長軸用レンズアレイを光軸方向に往復動させることにより、前記長軸用集光光学系と前記長軸用レンズアレイとの光路上の相対距離を増減させる、ことを特徴とする請求項4記載のレーザアニール方法。
- パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール方法において、
長軸用導入レンズにより長軸用導波路にレーザ光を導入し、
前記長軸用導波路により、レーザ光を線状ビームの長軸方向に対応する方向に複数に分割し、
長軸用集光光学系により、前記長軸用導波路によって分割されたレーザ光を被照射物の表面で長軸方向に重ね合わせ、
レーザ照射中に、前記長軸用導入レンズを線状ビームの長軸方向に対応する方向に往復動させる、ことを特徴とするレーザアニール方法。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール装置において、
レーザ光を線状ビームの長軸方向に対応する方向に複数に分割する長軸用レンズアレイと、
該長軸用レンズアレイによって分割されたレーザ光を被照射物の表面で長軸方向に重ね合わせる長軸用集光光学系と、
レーザ照射中に前記長軸用レンズアレイを線状ビームの長軸方向に対応する方向に往復動させる長軸用レンズアレイ移動装置と、を備える、ことを特徴とするレーザアニール装置。 - 前記長軸用レンズアレイの往復動の移動幅をS、前記長軸用レンズアレイを往復動させることなくレーザアニールした場合に目視可能に現れる前記線状ビームの走査方向と平行な縞模様のピッチをP、前記長軸用レンズアレイを構成する各シリンドリカルレンズの幅をWとしたとき、P/3≦S<W、P/2≦S<W、またはP≦S<Wの関係を満たす、請求項7記載のレーザアニール装置。
- 前記長軸用レンズアレイの往復動の移動幅をS、前記長軸用レンズアレイを構成する各シリンドリカルレンズの幅をWとしたとき、1.0mm≦S<W、1.5mm≦S<W、または3.0mm≦S<Wの関係を満たす、請求項7記載のレーザアニール装置。
- パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール装置において、
レーザ光を線状ビームの長軸方向に対応する方向に複数に分割する長軸用レンズアレイと、
該長軸用レンズアレイによって分割されたレーザ光を被照射物の表面で長軸方向に重ね合わせる長軸用集光光学系と、
レーザ照射中に前記長軸用レンズアレイを光軸方向に往復動させる長軸用レンズアレイ往復動装置と、を備える、ことを特徴とするレーザアニール装置。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール装置において、
レーザ光を線状ビームの長軸方向に対応する方向に複数に分割する長軸用導波路と、
該長軸用導波路にレーザ光を導く長軸用導入レンズと、
前記長軸用導波路によって分割されたレーザ光を被照射物の表面で長軸方向に重ね合わせる長軸用集光光学系と、
レーザ照射中に前記長軸用導入レンズを線状ビームの長軸方向に対応する方向に往復動させる長軸用導入レンズ移動装置と、を備える、ことを特徴とするレーザアニール装置。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール方法において、
短軸用レンズアレイにより、レーザ光を線状ビームの短軸方向に対応する方向に複数に分割し、
短軸用集光光学系により、前記短軸用レンズアレイによって分割されたレーザ光を被照射物の表面で短軸方向に重ね合わせ、
レーザ照射中に、前記短軸用レンズアレイを線状ビームの短軸方向に対応する方向に往復動させる、ことを特徴とするレーザアニール方法。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール方法において、
短軸用レンズアレイにより、レーザ光を線状ビームの短軸方向に対応する方向に複数に分割し、
短軸用コンデンサレンズにより、前記短軸用レンズアレイによって分割されたレーザ光を結像面で短軸方向に重ね合わせ、
投影レンズにより、結像面の短軸像を所定倍率で被照射物の表面に縮小投影し、
レーザ照射中に、前記短軸用コンデンサレンズを線状ビームの短軸方向に対応する方向に往復動させる、ことを特徴とするレーザアニール方法。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール方法において、
短軸用ホモジナイザにより線状ビームの短軸方向の光強度分布を均一化し、
レーザ照射中に、短軸用ホモジナイザより上流側の光路上に設置された反射ミラーを、線状ビームが短軸方向に往復動するように揺動させる、ことを特徴とするレーザアニール方法。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール方法において、
短軸用導入レンズにより短軸用導波路にレーザ光を導き、
前記短軸用導波路により、レーザ光を線状ビームの短軸方向に対応する方向に複数に分割し、
短軸用集光光学系により、前記短軸用導波路によって分割されたレーザ光を被照射物の表面で短軸方向に重ね合わせ、
レーザ照射中に、前記短軸用導入レンズを線状ビームの短軸方向に対応する方向に往復動させる、ことを特徴とするレーザアニール方法。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール装置において、
レーザ光を線状ビームの短軸方向に対応する方向に複数に分割する短軸用レンズアレイと、
前記短軸用レンズアレイによって分割されたレーザ光を被照射物の表面で短軸方向に重ね合わせる短軸用集光光学系と、
レーザ照射中に前記短軸用レンズアレイを線状ビームの短軸方向に対応する方向に往復動させる短軸用レンズアレイ移動装置と、を備える、ことを特徴とするレーザアニール装置。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール装置において、
レーザ光を線状ビームの短軸方向に対応する方向に複数に分割する短軸用レンズアレイと、
前記短軸用レンズアレイによって分割されたレーザ光を結像面で短軸方向に重ね合わせる短軸用コンデンサレンズと、
結像面の短軸像を所定倍率で被照射物の表面に縮小投影する投影レンズと、
レーザ照射中に前記短軸用コンデンサレンズを線状ビームの短軸方向に対応する方向に往復動させる短軸用コンデンサレンズ移動装置と、を備える、ことを特徴とするレーザアニール装置。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール装置において、
線状ビームの短軸方向の光強度分布を均一化する短軸用ホモジナイザと、
該短軸用ホモジナイザより上流側の光路上に設置された反射ミラーと、
レーザ照射中に線状ビームが短軸方向に往復動するように前記反射ミラーを揺動させるミラー揺動装置と、を備える、ことを特徴とするレーザアニール装置。 - パルス発振されたレーザ光を整形して被照射物の表面において線状ビームに集光し、レーザ光が重複照射されるように線状ビームを被照射物に対して線状ビームの短軸方向に相対的に走査し、レーザ照射により被照射物の表面をアニール処理するレーザアニール装置において、
レーザ光を線状ビームの短軸方向に対応する方向に複数に分割する短軸用導波路と、
該短軸用導波路にレーザ光を導く短軸用導入レンズと、
前記短軸用導波路によって分割されたレーザ光を被照射物の表面で短軸方向に重ね合わせる短軸用集光光学系と、
レーザ照射中に前記短軸用導入レンズを線状ビームの短軸方向に対応する方向に往復動させる短軸用導入レンズ移動装置と、を備える、ことを特徴とするレーザアニール装置。 - 前記レーザ光の偏光方向は被照射物の表面に対してS偏光である、請求項1乃至6、12乃至15のいずれか一項に記載のレーザアニール方法。
- 前記レーザ光の偏光方向は被照射物の表面に対してS偏光である、請求項7乃至11、16乃至19のいずれか一項に記載のレーザアニール装置。
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