JP2000338447A - ビーム整形光学系 - Google Patents

ビーム整形光学系

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JP2000338447A
JP2000338447A JP14837599A JP14837599A JP2000338447A JP 2000338447 A JP2000338447 A JP 2000338447A JP 14837599 A JP14837599 A JP 14837599A JP 14837599 A JP14837599 A JP 14837599A JP 2000338447 A JP2000338447 A JP 2000338447A
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cylindrical lens
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Kazunori Yamazaki
和則 山崎
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 細くて長尺の線状ビームを形成するするこ
と。 【解決手段】 ビーム整形光学系は、光ビームを分割し
て複数の2次光源を形成するシリンダアレイ群10と、
分割された光ビームを重ね合わせて被照射面IS上に線
状ビームとして入射させるコンデンサーレンズ系20と
を含む。コンデンサーレンズ系20は、球面レンズ群2
1と、短軸断面に曲率を有するシリンドリカルレンズ群
22とからなる。シリンドリカルレンズ群22は、長軸
方向に母線を有するシリンドリカルレンズ22aと、シ
リンドリカルレンズ22bとを含む。この場合、コンデ
ンサーレンズ系20で短軸焦点距離fcwを長軸焦点距離
fclよりも小さい適当な値に設定するので、光路長を長
くしたり、光学系を複雑にすることなく、小さなビーム
幅Wで大きなビーム長Lの線状ビームを形成することが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術の分野】本発明は、照射光を線状ビ
ームとして対象面に入射させるシリンダアレイタイプの
ビーム整形光学系に関し、特にレーザーを利用したアニ
ーリング装置、表面改質装置等の各種加工装置に応用可
能なビーム整形光学系に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばアモルファスSi膜を多結晶化す
るレーザーアニーリング装置は、アモルファスSi膜を
形成した基板上にアニーリング光を照射させるためのビ
ーム整形光学系として、ホモジナイザーと呼ばれる光学
系を備える。レーザーアニーリング装置が線状のレーザ
ービームを基板上で短軸方向に1軸スキャン照射するス
キャンタイプのものである場合、矩形ビームから線状ビ
ームを形成する線状ビームホモジナイザーが用られる。
【0003】このような線状ビームホモジナイザーは、
基板の大型化と高スループット化に伴って長尺化が要求
されている。また、線状ビームの長尺方向と直行する方
向すなわちビーム幅方向に関しては、これまで同様のエ
ネルギー密度を確保するため、ビーム長が大きくなった
分だけより線幅の小さなビームが要求されている。すな
わち、長尺方向はより長尺化、幅方向はより細線化とい
う極端なビーム形状が要求されるわけであるが、このよ
うな要求に応じる技術は、幅方向のエッジの急峻性と全
長尺範囲に渡っての均一性という両性質を満して初めて
実用的なものとなる。
【0004】特開平10−153746号公報には、長
尺方向をより長尺化し、幅方向をより細線化することを
目的として、線状ビームホモジナイザーで一旦均一化し
た線状ビームを形成し、この線状ビームをさらにイメー
ジングレンズで短軸方向に縮小し長軸方向に拡大する光
学系が開示されている。また、短軸方向と長軸方向でコ
ンデンサーレンズの均一面をずらすとともに短軸方向の
みをイメージングレンズ系で縮小し、短軸方向のイメー
ジング像面と長軸方向のコンデンサーレンズの均一化面
とを一致させた光学系も開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、両者には、光
路長が長くなり、光学系が複雑になるという問題があ
り、イメージングレンズ系の収差補正のため実際には大
型レンズが数枚必要となるという問題がある。
【0006】そこで、本発明は、長尺で細い線状ビーム
を投射することができ、光路長が短く簡単な構造のビー
ム整形光学系を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明のビーム整形光学系は、光源からの照射光を
分割するシリンダアレイ群と、分割された照射光を重ね
合わせて所定面上に線状(線条)ビームとして入射させ
るコンデンサーレンズ系とを含み、線状(線条)ビーム
の短軸断面におけるコンデンサーレンズ系の焦点距離を
fCWとし、線状(線条)ビームの長軸断面におけるコン
デンサーレンズ系の焦点距離をfCLとするとき、 fCW<fCL の条件を満たすことを特徴とする。
【0008】この場合、コンデンサーレンズ系が fCW<fCL の条件を満たすので、コンデンサーレンズ系として長軸
断面と短軸断面の焦点距離が等しい球面レンズを用いた
場合に比較して、線状ビームの短軸方向の幅が狭くな
り、線状ビームの長軸方向の長さが広くなる。よって、
長尺方向はより長尺化、幅方向はより細線化した線状ビ
ームを形成することができる。この際、コンデンサーレ
ンズ系とは別の光学系を設ける必要がなく、コンデンサ
ーレンズ系によって所定面上に線状ビームが直接投射さ
れるので、光路長が短くなるとともに、構造が簡単とな
る。
【0009】上記ビーム整形光学系の好ましい態様で
は、コンデンサーレンズ系が、球面レンズ群と、短軸断
面に曲率を有するシリンドリカルレンズ群とを含むこと
を特徴とする。
【0010】上記ビーム整形光学系の好ましい態様で
は、コンデンサーレンズ系が、短軸断面に曲率を有する
シリンドリカルレンズ群と、長軸断面に曲率を有するシ
リンドリカルレンズ群とを含むことを特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】〔第1実施形態〕図1は、本発明
に係る第1実施形態のビーム整形光学系の構造を説明す
る図である。図1(a)は、線状ビームの長軸方向(す
なわち長尺方向)に関する図であり、図1(b)は、線
状ビームの短軸方向(すなわち幅方向)に関する図であ
る。
【0012】このビーム整形光学系は、照射光である光
ビームを発生するレーザー光源(図示を省略)からの光
ビームを線状にして所定強度で所定面である被照射面I
S上に入射させる線状ビームホモジナイザー(線状ビー
ムホモジナイザー)であり、光ビームを分割して複数の
2次光源を形成するシリンダアレイ群10と、分割され
た光ビームを重ね合わせて被照射面IS上に線状ビーム
として入射させるコンデンサーレンズ系20とを含む。
【0013】シリンダアレイ群10は、第1〜第4シリ
ンドリカルレンズアレイ10a〜10dからなる。ここ
で、第1及び第3シリンドリカルレンズアレイ10a、
10cは、線状ビームの短軸方向の断面に曲率を有する
複数のシリンドリカルレンズをそれらの母線に垂直な方
向に連結した構造を有する。また、第2及び第4シリン
ドリカルレンズアレイ10b、10dは、線状ビームの
長軸方向の断面に曲率を有する複数のシリンドリカルレ
ンズをそれらの母線に垂直な方向に連結した構造を有す
る。第1及び第3シリンドリカルレンズアレイ10a、
10cは、これを構成するシリンドリカルレンズ(セグ
メント)の本数分だけ光ビームを短軸方向に分割し、第
2及び第4シリンドリカルレンズアレイ10b、10d
は、これを構成するシリンドリカルレンズの本数分だけ
光ビームを長軸方向に分割する。図示の例では、各シリ
ンドリカルレンズアレイ10a〜10dとも7つのシリ
ンドリカルレンズで構成されるので、シリンダアレイ群
10に入射した光ビームは、7×7の2次光源に分割さ
れることになる。
【0014】コンデンサーレンズ系20は、球面レンズ
群21と、短軸断面に曲率を有するシリンドリカルレン
ズ群22とからなる。球面レンズ群21は、この場合単
一の両凸レンズからなり、被照射面ISからその焦点距
離だけ離れた位置に配置される。シリンドリカルレンズ
群22は、長軸方向に母線を有する平凹のシリンドリカ
ルレンズ22aと、凸平のシリンドリカルレンズ22b
とを、これらの凹凸面が対向するように配置したもので
ある。この場合、長軸方向に関しては、シリンドリカル
レンズ群22にパワーがないので、コンデンサーレンズ
系20のバックフォーカス位置は被照射面ISと一致す
る。一方、短軸方向に関しては、両シリンドリカルレン
ズ22a、22bの合成パワー及び配置を調節すること
により、球面レンズ群21のバックフォーカス位置を被
照射面ISと一致させている。
【0015】以下、図1に示すビーム整形光学系による
結像について説明する。ビーム整形光学系に入射したレ
ーザービームは、第1及び第3シリンドリカルレンズア
レイ10a、10cと、第2及び第4シリンドリカルレ
ンズアレイ10b、10dとによって、両軸方向に関し
てともにシリンドリカルンズのセグメント数だけ分割さ
れる。分割された光源は、コンデンサーレンズ系20を
経て重ね合わされ、コンデンサーレンズ系20のバック
クフォーカス位置である被照射面ISに重畳した線状ビ
ームとして投影される。なお、既述のように、コンデン
サーレンズ系20は、短軸及び長軸で焦点距離が異なっ
ているが、短軸及び長軸でバックフォーカス位置が一致
しているので、被照射面IS上で重ね合わせられた線状
ビームは均一になる。
【0016】ここで、線状ビームの短軸及び長軸方向の
ビームサイズをそれぞれW及びLとすると、詳細な説明
は省略するが、コンデンサーレンズ系20のバックフォ
ーカス位置が被照射面ISと一致することから、 W=(fcw/faw)dw …(1) L=(fcl/fal)dl …(2) なる関係が成立する。ただし、 fcw:コンデンサーレンズ系20の短軸方向の焦点距離 fcl:コンデンサーレンズ系20の長軸方向の焦点距離 faw:短軸方向のレンズアレイ10a、10cの合成焦
点距離 fal:短軸方向のレンズアレイ10b、10dの合成焦
点距離 dw:短軸方向のレンズアレイを構成する1シリンドリ
カルレンズの幅 dl:短軸方向のレンズアレイを構成する1シリンドリ
カルレンズの幅 なお、本実施形態では、d=dw=dlとして、両軸とも
レーザー光源からの光ビームを等分に分割している。
【0017】式(1)、(2)について考えてみると、
パラメータfcw、fcl、faw、fal、dw、dlを適宜設
定することにより、理論上はあらゆるビームサイズを実
現できると考えることができる。しかし、実際上は所望
のビームサイズを得るために以下のような制限を受ける
ことになる。 (a)まず、ビーム長Lを大きくするには、式(2)よ
り、コンデンサーレンズ系20の長軸焦点距離fclを大
きくするかレンズアレイの長軸合成焦点距離faLを小さ
くすればよいことが分かるが、falを小さくすることは
アレイの出射NAを大きくすることになり、収差等の関
係から限度がある。したがって、ある程度以上のビーム
長Lを得るためにはfclをある程度大きくせざるを得な
い。 (b)また、ビーム幅Wを小さく絞る場合にも一定の制
限を受ける。レーザー光源から出射するレーザー光は、
完全に平行光ではなくある広がり角θを持っている。こ
こで、焦点距離fのレンズを考えると、レンズを通った
レーザー光のスポット径は、fθで与えられ、fに比例
する。実施形態のビーム整形装置において、最小のスポ
ット径すなわちビーム幅Wは、レンズアレイの短軸合成
焦点距離fawとコンデンサーレンズ系20の短軸焦点距
離fcwとの合成焦点距離に比例することになるが、1mm
幅以下の線状ビームを作る場合、faw>>fcwであり、
合成焦点距離はほぼfcwに比例すると考えてよい。した
がって、コンデンサーレンズ系20の短軸焦点距離fcw
をある程度小さくすれば、レーザー光の拡がり角θによ
ってビーム幅Wが広がる現象を抑制できる。また、アレ
イレンズを構成する各シリンドリカルレンズの偏芯のば
らつきも、スポット径の場合と同様にコンデンサーレン
ズ系20の短軸焦点距離fcwに比例してビーム幅Wを広
げる要因となるので、コンデンサーレンズ系20の短軸
焦点距離fcwを小さくすれば、アレイレンズの偏心によ
ってビーム幅Wが広がる現象を同様に抑制できる。
【0018】以上の考察に基づき、本実施形態では、光
ビームを長軸方向に長尺化するとともに短軸方向により
細線化してより小さなビーム幅Wを得るため、コンデン
サーレンズ系20の短軸焦点距離fcwを長軸焦点距離f
clよりも小さくする。つまり、コンデンサーレンズ系2
0として、球面レンズ群21のほかに、短軸方向のみに
作用するシリンドリカルレンズ群22を付加してfcw<
fclの条件を満たすべく短軸方向の焦点距離を小さくし
ている。短軸方向の焦点距離は、シリンドリカルレンズ
群22の合成焦点距離fc2を利用することにより、 で近似的に表現できる。ここで、d12は、球面レンズ群
21とシリンドリカルレンズ群22との距離を表す。式
(3)からも明らかなように、シリンドリカルレンズ群
22の合成焦点距離fc2と、球面レンズ群21からの距
離とを適宜調節することによってfcwをfclに対して相
対的に小さい任意の値に設定することができる。
【0019】図2は、コンデンサーレンズ系20による
短軸方向の結像を概念的に説明する図である。このコン
デンサーレンズ系20において、短軸方向のバックフォ
ーカス位置Fc1’と、長軸方向のバックフォーカス位置
Fcw’とを一致させるためには、 を満足するように、シリンドリカルレンズ群22を構成
するシリンドリカルレンズを配置すればよい。なお、S
F’はシリンドリカルレンズ群22からバックフォーカ
ス位置までの距離を表す。
【0020】図3は、実施形態のビーム整形装置によっ
て被照射面IS上に投射される線状ビーム像の短軸方向
の断面形状を説明する図である。図3(a)は、短軸焦
点距離fcwが比較的大きな場合のプロファイルを示し、
図3(b)は、短軸焦点距離fcwが比較的小さな場合の
プロファイルを示す。グラフにおいて、横軸は短軸方向
の距離を示し、縦軸は光ビームのパワーを示す。線状ビ
ーム像のスロープ幅BS1、BS2は、短軸焦点距離fcw
の値に応じて変化することが分かる。つまり、線状ビー
ム像のスロープ幅は、短軸焦点距離fcwを長軸焦点距離
fclよりも小さい適当な値に設定してやることにより、
レーザー光の広がり角やアレイレンズの偏心誤差の影響
を受けにくくなる。このことは、結果的にビーム断面形
状でのエッジのだれ(スロープ幅)を小さくして、スロ
ープの急峻な細いビームを得ることができることを意味
する。なお、長軸方向に関しては、低収差でビーム幅W
を大きくするため、焦点距離fwlを大きくする必要があ
ることから、線状ビームのスロープ幅が大きく緩やかな
勾配となるが、ビームの有効長に対する割合は小さいの
であまり間題にならない。
【0021】以上の説明から明らかなように、本実施形
態のビーム整形装置によれば、コンデンサーレンズ系2
0において短軸焦点距離fcwを長軸焦点距離fclよりも
小さい適当な値に設定するので、光路長を長くしたり、
光学系を複雑にすることなく、小さなビーム幅Wで大き
なビーム長Lの線状ビームをコンデンサーレンズ系20
によって直接形成することができる。具体的には、レー
ザー光の広がり角θが1mrad程度あっても、ビーム長L
を300mm以上、ビーム幅Wを0.5mm以下にすること
ができる。
【0022】〔第2実施形態〕図4は、第2実施形態の
ビーム整形光学系の構造を説明する図である。図4
(a)は、長軸方向に関する図であり、図4(b)は、
短軸方向に関する図である。なお、第2実施形態のビー
ム整形光学系は、第1実施形態のビーム整形光学系であ
り、同一部分には同一の符号を付して重複説明を省略す
る。
【0023】このビーム整形光学系は、シリンダアレイ
群10によって分割された光ビームを重ね合わせて被照
射面IS上に線状ビームとして入射させるコンデンサー
レンズ系120を備える。このコンデンサーレンズ系1
20は、線状ビームの短軸方向に母線を有する正のパワ
ーのシリンドリカルレンズ120aと、長軸方向に母線
を有する正のパワーのシリンドリカルレンズ120bと
からなる。長軸方向に関しては、シリンドリカルレンズ
120aのみがパワーを有するので、コンデンサーレン
ズ系120の焦点距離はシリンドリカルレンズ120a
の長軸方向に関する焦点距離fclと一致し、そのバック
フォーカス位置は被照射面ISと一致する。短軸方向に
関しては、シリンドリカルレンズ120bのみがパワー
を有するので、コンデンサーレンズ系120の短軸方向
に関する焦点距離はシリンドリカルレンズ120bの短
軸方向の焦点距離fcwと一致し、そのバックフォーカス
位置は被照射面ISと一致する。
【0024】本実施形態のビーム整形装置によれば、シ
リンドリカルレンズ120aのパワーをシリンドリカル
レンズ120bのパワーより小さくすることにより、短
軸焦点距離fcwを長軸焦点距離fclよりも小さい適当な
値に設定するので、光路長を長くしたり、光学系を複雑
にすることなく、小さなビーム幅Wで大きなビーム長L
の線状ビームを形成することができる。 〔第3実施形態〕図5は、第1実施形態や第2実施形態
と同様のビーム整形装置を組み込んだレーザーアニール
装置の構造を説明する図である。
【0025】このレーザーアニール装置は、アモルファ
ス状Si等の半導体薄膜を表面上に形成したガラス板で
あるワークWOを載置して3次元的に滑らかに移動可能
なステージ30と、ワークWO上の半導体薄膜を加熱す
るためのエキシマレーザーその他のレーザービームLB
を発生するレーザー光源40と、このレーザービームL
Bを線状にして所定の照度でワークWO上に入射させる
ビーム整形装置100と、ワークWOを載置したステー
30をビーム整形装置100等に対して必要量だけ相対
的に移動させる駆動手段であるステージ駆動装置60
と、ステージ30の移動位置を検出する位置センサー7
0と、レーザーアニール装置全体の各部の動作を統括的
に制御する主制御装置80とを備える。
【0026】ビーム整形装置100は、レーザービーム
LBをY軸方向に延びる所定断面形状及び強度の線状ビ
ーム像としてワークWO上に入射させる線状ビームホモ
ジナイザーであり、光ビームを分割して複数の2次光源
を形成するシリンダアレイ群10と、分割された光ビー
ムを重ね合わせて被照射面IS上に線状ビームとして入
射させるコンデンサーレンズ系20(120)と備え
る。なお、光学系の構成については、図1や図4に示す
ものと同様であるので、詳細な説明は省略する。
【0027】以下、図5の装置の動作について説明す
る。まず、レーザーアニール装置のステージ30上にワ
ークWOを搬送して載置する。次に、位置センサー70
の出力に基づいてステージ駆動装置60を動作させるこ
とにより、ビーム整形装置100に対してステージ30
をX軸方向に移動させながら、ビーム整形装置100か
らのレーザービームLBをY方向に延びる線状ビーム像
としてワークWO上に入射させる。これにより、レーザ
ービームLBによるワークWO全面の走査が行われるこ
とになる。この際、簡単な構造で小型のビーム整形装置
100によって線状ビーム像を長尺化しかつ細線化でき
るので、ワークWOの大型化に対応でき、レーザアニー
ルのスループットを高めることができる。
【0028】以上、実施形態に即してこの発明を説明し
たが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではな
い。例えば上記実施形態のビーム整形装置100、レー
ザーアニーリング装置だけでなく、表面改質装置等の各
種加工装置に応用可能である。
【0029】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のビーム整形装置によれば、コンデンサーレンズ系がf
CW<fCLの条件を満たすので、コンデンサーレンズ系と
して長軸断面と短軸断面が等しい球面レンズを用いた場
合に比較して、線状ビームの短軸方向の幅が狭くなり、
幅方向をより細線化した線状ビームを形成することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)、(b)は、第1実施形態のビーム整形
装置の構造を示す図である。
【図2】図1のコンデンサーレンズ系による結像を説明
する図である。
【図3】(a)は、比較的大きな拡がり角のプロファイ
ルを示し、(b)は、比較的小さな拡がりのプロファイ
ルを示す。
【図4】第2実施形態のビーム整形装置の構造を説明す
る図である。
【図5】第3実施形態のビーム整形装置を組み込んだレ
ーザーアニール装置の構造を説明する図である。
【符号の説明】
10 シリンダアレイ群 10a,10b,10c,10d レンズアレイ 20 コンデンサーレンズ系 21 球面レンズ群 22 シリンドリカルレンズ群 30 ステージ 40 レーザー光源 60 ステージ駆動装置 70 位置センサー 80 主制御装置 100 ビーム整形装置 120 コンデンサーレンズ系 120a,120b シリンドリカルレンズ WO ワーク

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源からの照射光を分割するシリンダア
    レイ群と、 前記分割された照射光を重ね合わせて所定面上に線状ビ
    ームとして入射させるコンデンサーレンズ系とを含み、 前記線状ビームの短軸断面における前記コンデンサーレ
    ンズ系の焦点距離をfCWとし、 前記線状ビームの長軸断面における前記コンデンサーレ
    ンズ系の焦点距離をfCLとするとき、 fCW<fCL の条件を満たすことを特徴とするビーム整形光学系。
  2. 【請求項2】 前記コンデンサーレンズ系は、球面レン
    ズ群と、前記短軸断面に曲率を有するシリンドリカルレ
    ンズ群とを含むことを特徴とする請求項1記載のビーム
    整形光学系。
  3. 【請求項3】 前記コンデンサーレンズ系は、前記短軸
    断面に曲率を有するシリンドリカルレンズ群と、前記長
    軸断面に曲率を有するシリンドリカルレンズ群とを含む
    ことを特徴とする請求項1記載のビーム整形光学系。
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