JP2003167213A - 可干渉性解消素子およびビームホモジナイザ - Google Patents

可干渉性解消素子およびビームホモジナイザ

Info

Publication number
JP2003167213A
JP2003167213A JP2001370263A JP2001370263A JP2003167213A JP 2003167213 A JP2003167213 A JP 2003167213A JP 2001370263 A JP2001370263 A JP 2001370263A JP 2001370263 A JP2001370263 A JP 2001370263A JP 2003167213 A JP2003167213 A JP 2003167213A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
coherence
optical
optical path
homogenizer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001370263A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunori Yamazaki
和則 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP2001370263A priority Critical patent/JP2003167213A/ja
Publication of JP2003167213A publication Critical patent/JP2003167213A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザビームの可干渉性を減じることのでき
る光学部材を提供する。 【解決手段】 可干渉性解消素子は、レーザビームの光
路に沿って配置される光学部材であって、レーザビーム
の光路断面を複数の領域の配列に分割し、分割された各
領域のレーザビーム束に互いに異なる光路長を付与し、
出射面で入射面での配列に対応する配列でレーザビーム
束を出射することのできる光学部材を含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザビームの取
り扱い技術に関し、特に所望の領域内で均一な強度分布
を有するレーザビームを形成するのに有効なレーザビー
ムの取り扱い技術に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザビームは、種々の用途に用いられ
る。アモルファスシリコンの結晶化アニールやホトリソ
グラフィにおいては、目的とする面積内で均一な強度分
布を有するレーザビームが望まれる。レーザビームは本
来可干渉性を有する。光路の異なるビームが重ね合わさ
れると、干渉が生じ、スペックルパターンが生じる。ま
た,レーザビームは一般的にビーム断面内で強度分布を
有する。中央部の強度は高く,周辺部の強度は低い。
【0003】均一な強度分布を有するレーザビームを形
成する技術として、アレイレンズやカライドスコープが
知られている。
【0004】図5(A)は、アレイレンズの構成を概略
的に示す。シリンドリカルレンズ群CX1,CY1,C
Y2,CX2が入射レーザビームLF1を複数のレーザ
光束LF3に分割する。各レーザ光束LF3は、コンデ
ンサレンズILによって像面IP上の共通の領域を重ね
あって照射する光束LF4となる。
【0005】各シリンドリカルレンズ群は、1方向に長
いシリンドリカルレンズを並べて配置したものである。
シリンドリカルレンズは、長さ方向に一様な断面を有
し,直交(横)方向に曲面を形成して焦点距離を有す
る。面内の1方向にのみ焦点距離を有するので、入射平
行光束を長さ方向の直線上に焦合することができる。
【0006】複数のシリンドリカルレンズを並べて配置
することにより、1本のレーザビームを複数のレーザ光
束に分割することができる。同一方向の1対のシリンド
リカルレンズ群を用いることによって、1本の平行光束
をn本の所望形状の光束、たとえば断面積を調整したn
本の平行光束に整形することができる。
【0007】長さ方向の直交する2組(X方向およびY
方向)のシリンドリカルレンズ群を用いることにより、
1本のレーザビームを直交方向のそれぞれに関して任意
に分割調整することができる。長さ方向を直交させると
各方向のレンズ作用は独立となる。従って、シリンドリ
カルレンズ群CX1,CX2とシリンドリカルレンズ群
CY1,CY2はそれぞれ独立に機能する。このように
して,1本のレーザビームを所望形状の(n * m)
本のレーザビーム束に分割することができる。
【0008】図においては、シリンドリカルレンズ群C
X1がXZ面内で収束するn本のレーザビーム束を形成
し、シリンドリカルレンズ群CY1が各レーザビーム束
をさらにYZ面内で収束するm本のレーザビーム束LF
2に分割する。シリンドリカルレンズ群CY2,CX2
は、YZ面、XZ面内でレーザビーム束を所望の断面形
状を有するビーム束LF3に調整する。(n * m)
本のレーザビーム束LF3は、コンデンサレンズILに
より同一領域上を照射するレーザビーム群LF4とな
る。
【0009】入射レーザビームLF1は、その断面内で
図5(C)に示すような中央部で高く、周辺部で低い強
度分布を有する。分割、重ね合わせにより像面IP上の
レーザビームは,図5(D)に示すような均一な強度分
布を有する。重ね合わせて照射されたレーザビームLF
4は、図5(D)に示すように強度分布が平均化され、
均一になる。各レンズ系の結像特性を調整することによ
り、像面上のビーム形状を種々に調整することができ
る。
【0010】干渉性のよいレーザビームをアレイレンズ
で均一化しようとする場合、分割されたビームが重ね合
わされる時、互いに干渉し、強度のうねり(スペックル
パターン)を生じ、均一度が悪化する。ホトリソグラフ
ィ用のステッパ等では前段のミラーを揺動し、積算値と
して均一化する方法を取っている。
【0011】図5(B)は、カライドスコープの構成を
示す。フォーカシング(収束)レンズFLは、入射レー
ザビームLF1を収束して、収束レーザビームLF2を
カライドスコープKSに入射する。カライドスコープK
S内には種々の進行方向を有する光線が入射する。これ
らの光線は、入射角に応じて内部反射を繰り返し、種々
の光路長を経て、出射面で重ね合わされて出射光束LF
3を形成する。光束LF3は、イメージングレンズIL
によって像面IPを照射する光束LF4となる。
【0012】入射光LF1は,図5(C)に示すよう
な,中央部で高く,周辺部で低い強度分布を有する。カ
ライドスコープKSの出射光LF3,および像面上のビ
ームLF4は、図5(D)に示すような均一な強度分布
を有するビームとなる。
【0013】カライドスコープへの入射角度がことなる
と光路長に差が生じるため、可干渉性が減少し、スペッ
クルパターンは生じ難い。しかし、ビームを可変にでき
ない、均一化の精度が低い、入射ビームの特性に、出射
ビームの特性が依存し、調整が難しい等の性質を伴う。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】レーザビームを所望の
形状に成形し、照射領域内で均一な強度分布を得ること
は、容易ではない。アレイレンズでは、スペックルパタ
ーンの発生が防止しにくい。カライドスコープでは,十
分な均一性が得にくい。
【0015】本発明の目的は、所望の照射領域で均一性
の高いレーザビームを形成することのできる技術を提供
することである。
【0016】本発明の他の目的は、レーザビームの可干
渉性を減じることのできる光学部材を提供することであ
る。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明の1観点によれ
ば、レーザビームの光路に沿って配置される光学部材で
あって、レーザビームの光路断面を複数の領域の配列に
分割し、分割された各領域のレーザビーム束に互いに異
なる光路長を付与し、出射面で入射面での配列に対応す
る配列でレーザビーム束を出射することのできる光学部
材を含む可干渉性解消素子が提供される。
【0018】本発明の他の観点によれば、レーザビーム
の光路に沿って配置される光学部材であって、レーザビ
ームの光路断面を複数の領域の配列に分割し、分割され
た各領域のレーザビーム束に互いに異なる光路長を付与
し、出射面で入射面での配列に対応する配列でレーザビ
ーム束を出射することのできる光学部材を含む可干渉性
解消素子と、前記可干渉性解消素子から出射した複数の
領域の光束を共通の領域上に照射するホモジナイザ光学
系と、を有するビームホモジナイザが提供される。
【0019】
【発明の実施の形態】以下,図面を参照して、本発明の
実施例を説明する。
【0020】図1(A),(B)は、可干渉性解消素子
17、ホモジナイザ光学系18の構成例を示す。光軸を
Z方向とした場合、図1(A)は、たとえばX方向から
見た側面図であり、図1(B)はY方向から見た側面図
である。
【0021】可干渉性解消素子17は、Z方向の長さが
異なる光学材料の板をX方向に積層した素子17aとY
方向に積層した素子17bとを光軸方向に並べて配置し
た構成を有する。
【0022】図2は、可干渉性解消素子17a、17b
の構成を示す斜視図である。各素子17a(17b)に
おいて、光軸方向の長さが次第に減少する板17−1、
17−2、...17−nが上から下に積層されてい
る。以下、素子17aは、n枚の板を積層し、素子17
bは、m枚の板を積層した構成とする。
【0023】素子17a(17b)において、任意の2
つの光学材料の板の光軸方向の光路長差が時間コヒーレ
ンス長以上となるように各板の長さを選択すれば、異な
る板から出射したレーザビーム間の干渉性は消滅する。
【0024】時間コヒーレンス長以上でなくても、ある
程度以上の光路長差が生じれば、可干渉性が低減する。
レーザビーム全体に空間的コヒーレンス長が及ばないと
きは、空間コヒーレンス長の範囲内で時間コヒーレンス
長以上の光路長差を与えれば十分である。
【0025】素子17aは、入射レーザビームをX方向
で分割しn本のレーザビーム束を形成する。素子17b
は、入射レーザビームをY方向で分割し、それぞれm本
のレザビーム束を形成する。2つの素子17a、17b
で、入射レーザビームを(n* m)本のレーザビーム
束に分割し、任意の2つのビーム束間の可干渉性を消
滅、ないし低減することができる。
【0026】なお、レーザビームの断面を(n *
m)の領域に分割するだけであれば、素子17aと素子
17bの積層方向が交差するようにするだけで十分であ
る。積層方向を直交するようにすると、レーザビーム断
面を直交する2方向に沿って分割し、(n * m)個
の矩形領域を形成することができる。直交方向に分布す
る複数のビーム束群とすることにより、以下に述べるホ
モジナイザ光学系との適合性が増す。
【0027】ホモジナイザ光学系18は、たとえば、X
方向に並んで配列され、光軸方向に焦点距離を有するX
シリンドリカルレンズ群18a、18bと、Y方向に並
んで配置され、光軸方向に焦点距離を有するYシリンド
リカルレンズ群18c、18とを含む。Xシリンドリカ
ルレンズ群18a、18bと、Yシリンドリカルレンズ
群18c、18とは独立であり,その配置順序は任意で
ある。
【0028】シリンドリカルレンズ群18aが、X方向
に並んだ複数の光束を形成し、他のX方向シリンドリカ
ルレンズ群18bで各光束の形状を調整し、X方向に並
んだ所望形状のn本のビーム束を形成する。同様Y方向
シリンドリカルレンズ群18cが、各ビーム束をY方向
に並んだm本の光束に分解し、他のY方向シリンドリカ
ルレンズ群18dで各光束の形状を調整する。シリンド
リカルレンズ群18aから18dの光路分割は,可干渉
性解消素子17の光路分割と1:1に対応させる。
【0029】このようにして、たとえば(n * m)
本の光路長の異なるビーム群が形成され、コンデンサレ
ンズ18p,18qに入射する。コンデンサレンズ18
p、18qは、各光束を共通の領域上に照射する。分割
された複数のビーム束が重ねあわされて照射されるた
め、照射領域内の強度分布は均一となる。
【0030】可干渉性解消素子17による光路の分割
と、ホモジナイザ光学系18による光路の分割とを1:
1に対応させることにより、可干渉性解消素子17の効
果が最大限利用できる。すなわち、ホモジナイザ光学系
18を出射する(n x m)本のビーム束は、像面上
で重ね合わされても、互いに干渉性を示さない。このよ
うにして、照射領域内で一定の強度を有するビームを形
成できる。
【0031】シリンドリカルレンズ群18aから18d
の特性,配置を選択することにより,所望寸法の矩形領
域を照射するビームを形成することができる。たとえ
ば、アモルファスシリコンの結晶化アニールのような場
合には、長尺のビームを形成し、この長尺ビームを長さ
方向と直交する横方向に走査して、広い面積を効率的に
処理する。
【0032】図1(A)、(B),図2では、互いに隣
接する板部材の長さ(光路長)が単調に変化する構成を
図示したが,光路長差の設定は任意である。たとえば,
素子17a、17bを交換した配置、Z軸方向に関し,
反転させた配置でもよい。入射面,出射面が同一平面を
形成する構成を示したが、他の構成でもよい。
【0033】図3(A)は,積層方向に沿ってランダム
な光路長差を設定した構成を示す。各板部材を透過した
ビーム束が、同一領域に重ねて照射される場合、効果は
図1(A)、(B),図2の場合と同様である。
【0034】なお、ビーム断面内を複数の領域に分割す
る構成も上述のものに限らない。
【0035】図3(B)は、光路長の異なる柱状光学部
材を束ね、光路の断面を分割する構成を示す。この場合
は、1個の素子で2次元平面内をX軸、Y軸に沿って、
(n* m)個の領域に分割できる。柱上部材を配置す
ることにより,上述の実施例の可干渉性解消素子17と
同様の機能を実現できる。各領域に異なる光路差を生じ
させる構成であれば図示の構成に限らない。
【0036】図4は、ホトリソグラフィに用いる露光装
置の構成を示す。露光装置はたとえばステッパである。
レーザ発振器LOから出射したレーザ光はシリンドリカ
ルレンズCL1、CL2で形状を調整されズームレンズ
ZLでレチクルRT上に焦合される。ズームレンズZL
の出射光は、ミラーM1,M2で光路を折り曲げ、図3
(B)に示すような構成を有する可干渉性解消素子17
に入射する。可干渉性解消素子17は、入射ビームを複
数のビーム束に分解し、各ビーム束間の可干渉性を解消
又は低減する。
【0037】分解されたビーム束群は、対応するフライ
アイレンズFELに入射し、コンデンサレンズCDを介
してレチクルRTを照明する。フライアイレンズFEL
は、昆虫の複眼のように多数の小レンズが2次元的に分
布し,それぞれレンズ作用を示すレンズである。本構成
の場合、フライアイレンズFELが単独で,又はコンデ
ンサレンズと共に、ホモジナイザ光学系を構成する。
【0038】フライアイレンズFELは、可干渉性解消
素子17のビーム分割に1:1に対応した構成を有す
る。レチクルRT上で重ね合わせて照射される複数の光
束は可干渉性が解消ないし低減しているため,スペック
ルパターンは生じにくい。入射ビームが複数の光束に分
解され,それぞれが重ねあわされてレチクル上を照明す
るため,均一な強度でレチクルを照明できる。
【0039】投射レンズPLによってレチクルRTの像
が所望倍率でウエハWF上に結像される。レチクルRT
を照明するビーム群が可干渉性を解消しているため、ウ
エハ上のスペックルパターンは防止される。
【0040】以上、実施例に沿って本発明を説明した
が、本発明はこれらに限定されるものではない。例え
ば、種々の変更、改良、組みあわせ等が可能なことは、
当業者に自明であろう。
【0041】
【発明の効果】レーザビームを複数のビーム束に分解し
たとき、ビーム束間の可干渉性が低減され、スペックル
パターンの発生を防止できる。
【0042】均一な強度分布を有する所望形状のビーム
を形成することができる。精度の高い加工を効率的に行
なうことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による可干渉性解消素子を示
す。
【図2】図1の可干渉性解消素子の1つの素子の形状を
を示す斜視図である。
【図3】図1の可干渉性解消素子の変形例を示す側面
図、正面図である。
【図4】本発明の他の実施例による露光装置の側面図で
ある。
【図5】従来例を示す概略断面図である。
【符号の説明】
17 可干渉性解消素子 18 ホモジナイザ光学系 18a、18b Xシリンドリカルレンズ群 18c、18d Yシリンドリカルレンズ群 LO レーザ発振器 CL シリンドリカルレンズ ZL ズームレンズ M ミラー FEL フライアイレンズ CD コンデンサレンズ RT レチクル WF ウエハ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成13年12月19日(2001.12.
19)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項2
【補正方法】変更
【補正内容】

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザビームの光路に沿って配置される
    光学部材であって、レーザビームの光路断面を複数の領
    域の配列に分割し、分割された各領域のレーザビーム束
    に互いに異なる光路長を付与し、出射面で入射面での配
    列に対応する配列でレーザビーム束を出射することので
    きる光学部材を含む可干渉性解消素子。
  2. 【請求項2】 前記光路長の差が時間コヒーレンス長以
    上である(サポートP5)請求項1記載の可干渉性解消
    素子。
  3. 【請求項3】 前記光学部材が、第1および第2の積層
    部材を含み、前記第1および第2の積層部材は、それぞ
    れ光軸方向の長さが異なる板材を積層した構成を有し、
    積層方向を交差させて、光軸方向に並べて配置されてい
    る請求項1記載の可干渉性解消素子。
  4. 【請求項4】 前記光学部材が、それぞれ光軸方向の長
    さが異なる柱材を束ねた構成を有する請求項1記載の可
    干渉性解消素子。
  5. 【請求項5】 レーザビームの光路に沿って配置される
    光学部材であって、レーザビームの光路断面を複数の領
    域の配列に分割し、分割された各領域のレーザビーム束
    に互いに異なる光路長を付与し、出射面で入射面での配
    列に対応する配列でレーザビーム束を出射することので
    きる光学部材を含む可干渉性解消素子と、 前記可干渉性解消素子から出射した複数の領域の光束を
    共通の領域上に照射するホモジナイザ光学系と、を有す
    るビームホモジナイザ。
  6. 【請求項6】 前記光学部材が、第1および第2の積層
    部材を含み、前記第1および第2の積層部材は、それぞ
    れ光軸方向の長さが異なる板材を積層した構成を有する
    請求項5記載のビームホモジナイザ。
  7. 【請求項7】 前記第1および第2の積層部材は直交す
    る方向に積層され、レーザビームの光路断面を(m *
    n)の領域に分割する請求項6記載のビームホモジナ
    イザ。
  8. 【請求項8】 前記光学部材が、それぞれ光軸方向の長
    さが異なる複数の柱材を束ねた構成を有する請求項5記
    載のビームホモジナイザ。
  9. 【請求項9】 前記複数の柱材は、直交方向にそれm個
    およびn個並ぶ行列状に配列され、レーザビームの光路
    断面を(m * n)の領域に分割する請求項8記載の
    ビームホモジナイザ。
  10. 【請求項10】前記ホモジナイザ光学系が、第1および
    第2のシリンドリカルレンズ群の対を含み、第1及び第
    2のシリンドリカルレンズ群の対は、それぞれ光軸方向
    に焦点距離を有し、光軸と直交する面内で並べて配置さ
    れた複数のシリンドリカルレンズ群の対を含み、第1お
    よび第2の方向が光軸に直交する面内で直交する請求項
    7または9記載のビームホモジナイザ。
  11. 【請求項11】 前記第1および第2の方向が、前記複
    数の領域が配列される方向と同じであり、前記レーザビ
    ームの光路断面を(m * n)の領域に分割する請求
    項10記載のビームホモジナイザ。
JP2001370263A 2001-12-04 2001-12-04 可干渉性解消素子およびビームホモジナイザ Pending JP2003167213A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001370263A JP2003167213A (ja) 2001-12-04 2001-12-04 可干渉性解消素子およびビームホモジナイザ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001370263A JP2003167213A (ja) 2001-12-04 2001-12-04 可干渉性解消素子およびビームホモジナイザ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003167213A true JP2003167213A (ja) 2003-06-13

Family

ID=19179513

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001370263A Pending JP2003167213A (ja) 2001-12-04 2001-12-04 可干渉性解消素子およびビームホモジナイザ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003167213A (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005337851A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法及びその装置
JP2007179039A (ja) * 2005-12-02 2007-07-12 Asml Netherlands Bv 照明光学システム
DE102006009212A1 (de) * 2006-02-28 2007-08-30 Carl Zeiss Sms Gmbh Optische Vorrichtung und optisches Verfahren zur Homogenisierung von Laserstrahlung
JP2009512883A (ja) * 2005-09-21 2009-03-26 アブ−アジール、ナイェフ・エム レーザ・スペックルを低減する方法および装置
US7586959B2 (en) * 2004-09-27 2009-09-08 Applied Materials, Israel, Ltd. Speckle reduction with transparent blocks
US7768635B2 (en) 2006-01-23 2010-08-03 Hitachi High-Technologies Corporation Apparatus and method for inspecting defects
US7843558B2 (en) 2008-06-25 2010-11-30 Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. Optical inspection tools featuring light shaping diffusers
JP2014534457A (ja) * 2011-09-28 2014-12-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated レーザ処理設備においてスペックルを低減させるための装置および方法
JP2017139487A (ja) * 2003-11-26 2017-08-10 サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー レーザによりポリシリコン薄膜をアニールする光学系
JP2017534902A (ja) * 2014-09-23 2017-11-24 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 投影リソグラフィのための照明光学ユニット及びそのための中空導波管構成要素

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017139487A (ja) * 2003-11-26 2017-08-10 サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー レーザによりポリシリコン薄膜をアニールする光学系
JP2005337851A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法及びその装置
US7586959B2 (en) * 2004-09-27 2009-09-08 Applied Materials, Israel, Ltd. Speckle reduction with transparent blocks
JP2009512883A (ja) * 2005-09-21 2009-03-26 アブ−アジール、ナイェフ・エム レーザ・スペックルを低減する方法および装置
JP2010199605A (ja) * 2005-12-02 2010-09-09 Asml Netherlands Bv 照明光学システム
US8159651B2 (en) 2005-12-02 2012-04-17 Asml Holding N.V. Illumination system coherence remover with a series of partially reflective surfaces
US8164740B2 (en) 2005-12-02 2012-04-24 Asml Holding N.V. Illumination system coherence remover with two sets of stepped mirrors
JP2007179039A (ja) * 2005-12-02 2007-07-12 Asml Netherlands Bv 照明光学システム
US7768635B2 (en) 2006-01-23 2010-08-03 Hitachi High-Technologies Corporation Apparatus and method for inspecting defects
US7973920B2 (en) 2006-01-23 2011-07-05 Hitachi High-Technologies Corporation Apparatus and method for inspecting defects
US8218138B2 (en) 2006-01-23 2012-07-10 Hitachi High-Technologies Corporation Apparatus and method for inspecting defects
DE102006009212A1 (de) * 2006-02-28 2007-08-30 Carl Zeiss Sms Gmbh Optische Vorrichtung und optisches Verfahren zur Homogenisierung von Laserstrahlung
US7843558B2 (en) 2008-06-25 2010-11-30 Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. Optical inspection tools featuring light shaping diffusers
JP2014534457A (ja) * 2011-09-28 2014-12-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated レーザ処理設備においてスペックルを低減させるための装置および方法
JP2017534902A (ja) * 2014-09-23 2017-11-24 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 投影リソグラフィのための照明光学ユニット及びそのための中空導波管構成要素

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI263385B (en) Making method and device of a membrane of crystallization
TWI283435B (en) Lithographic apparatus and device manufacturing method
US10871717B2 (en) Optical system for a projection exposure apparatus
JP3689490B2 (ja) ノズル部材の製造方法及びそれを用いた加工装置
JP2003167213A (ja) 可干渉性解消素子およびビームホモジナイザ
JP2002082306A (ja) 正または負の光学力を有する光学要素を用いる照射プロフィール形成方法
TWI627509B (zh) 用於投影曝光設備以產生合用的輸出光束的euv光源
TWI292245B (en) An optical system for uniformly irradiating a laser bear
JP3416579B2 (ja) ダブルビーム用精密可変型矩形ビーム光学系
JP3947065B2 (ja) 均一化レーザビーム照射装置
JP3239661B2 (ja) ノズルプレートの製造方法及び照明光学系
JPH1116851A (ja) ビームホモジナイザ及びそれを用いた半導体薄膜の製造方法
JP3402124B2 (ja) ビームホモジナイザ及び半導体薄膜作製方法
EP3781989A1 (en) Methods and systems for printing large periodic patterns by overlapping exposure fields
JP4191334B2 (ja) 精密可変型長尺ビーム光学系
US11327403B2 (en) Illumination optical system for projection lithography
JP2000338447A (ja) ビーム整形光学系
JP4442537B2 (ja) レーザプロセス装置
JPH1197340A (ja) 露光光学系、光加工装置、露光装置及び光結合装置
JPH10256179A (ja) レーザー光の照射装置及びレーザー光の照射方法
JP2004093837A (ja) 均一化レーザビーム照射装置
JPH1062710A (ja) 照明光学系
JP2002025933A (ja) ビームホモジナイザ及び半導体薄膜作製方法
JP2012030267A (ja) レーザビーム照射装置、およびレーザビーム照射方法
JP2007260694A (ja) レーザ加工装置、レーザ光学系、レーザ加工方法及びアクティブマトリクス基板の欠陥修正方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20040414

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051028

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20051115

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060328