JP3416579B2 - ダブルビーム用精密可変型矩形ビーム光学系 - Google Patents

ダブルビーム用精密可変型矩形ビーム光学系

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術の分野】本発明は、照射光を所望の
ビーム形状で対象面に入射させるためのビーム形成装置
及びこれを用いたレーザ加工装置に関するものであり、
特にアニーリング装置、表面改質装置等に応用して好適
である。
【0002】
【従来の技術】例えばアモルファスSi膜を多結晶化す
るレーザアニーリング装置は、アモルファスSi膜を形
成した基板上にアニーリング光を照射させるためのビー
ム整形装置として、ホモジナイザと呼ばれる光学系を備
える。特に、レーザアニーリング装置が線状のレーザビ
ームを基板上で短軸方向に1軸スキャン照射するスキャ
ンタイプのものである場合、矩形ビームから線条ビーム
を形成する線条ビームホモジナイザが用られる。
【0003】
【解決しようとする課題】しかし、上記のようなレーザ
アニーリング装置では、単一の光源を使用していたた
め、レーザ光源の特性に依存した加工光を照射せざるを
得なかった。ここで、加工光の特性を多様に設定するた
めには、複数のレーザ光源を組み合わせることが考えら
れる。
【0004】例えば一対のレーザ光源を組み合わせて合
成光を得る場合、ホモジナイザに入射させる前に、偏光
ビームスプリッタを用いて一対の光源からの2本のビー
ムを重ね合わせることが考えられる。このような構成を
とった場合、例えば一方の光源からの第1ビームのうち
p偏光成分が偏光ビームスプリッタの合成面を透過して
ホモジナイザに入射すると考えると、他方の光源からの
第2ビームのうちs偏光成分が、この合成部で反射され
てホモジナイザに入射することになる。つまり、第1ビ
ームのs偏光成分と第2ビームのp偏光成分とはホモジ
ナイザに入射せず、これらの偏光成分は使用されずロス
されることになる。
【0005】そこで、本発明は、複数のレーザ光源を組
み合わせた場合にも、効率的に加工光を照射することが
でき、精度の高い加工を可能にするビーム形成装置及び
これを用いたレーザ加工装置を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明のビーム形成装置は、一対の異なる光源から
の一対の照射光を空間的に継ぎ合わせて合成する合成光
学系と、前記合成光学系で合成された合成光を複数に分
割するとともに分割された合成光を重畳して照射するこ
とにより、前記一対の照射光を略同一サイズの均一ビー
ムとして所定面上にそれぞれ入射させるホモジナイザと
レンズ光学系を備える。
【0007】この装置では、合成光学系が一対の異なる
光源からの一対の照射光を空間的に継ぎ合わせて合成す
るので、一対の照射光をロスを最小限に抑えて合成する
ことができ、合成後は、ホモジナイザとレンズ光学系に
よって一対の照射光について均一なビームをそれぞれ所
定面上に形成することができる。
【0008】また、上記装置の好ましい態様では、前記
合成光学系が、前記一対の照射光の一方である第1ビー
ムを、前記ホモジナイザの光軸を含む中央側瞳領域に入
射させ、前記一対の照射光の他方である第2ビームを、
2つに分割して前記ホモジナイザの前記中央側瞳領域の
両端に設けた一対の外側瞳領域に入射させる。
【0009】この場合、前記合成光学系が、第1ビーム
を前記ホモジナイザの中央側瞳領域に入射させ、第2ビ
ームを2つに分割して前記ホモジナイザの一対の外側瞳
領域に入射させるので、両光源からの光をそれぞれホモ
ジナイザの光軸に対称に供給することができ、所定面上
に形成されるビーム像の対称性を高めることができる。
【0010】また、上記装置の好ましい態様では、前記
合成光学系が、所定の間隔で配置された2枚のスリット
型ミラーからなり、前記第1ビームが、前記2枚のスリ
ット型ミラーの間を通過するとともに、前記第2ビーム
が、前記2枚のスリット型ミラーで個別に反射されて分
割されて第1ビームの両端を通過する。
【0011】この場合、前記合成光学系の構造が簡易に
なり、しかも一対の異なる光源からの一対の照射光の継
ぎ合わせが滑らかになる。
【0012】また、上記装置の好ましい態様では、前記
一対の照射光が前記合成光学系に入射する前に、前記一
対の照射光の少なくとも一方の照射光について、前記合
成光学系に入射させるべきビームサイズ若しくは前記ホ
モジナイザによる結像位置を調整する調整手段をさらに
備える。
【0013】この場合、一対の光源からの一対の照射光
のビームサイズや広がり角が異なるものであっても、同
一の幾何光学的特性で合成光学系に入射させることがで
きるので、合成光学系よる合成をより簡易に補完するこ
とができる。
【0014】また、上記装置の好ましい態様では、前記
合成光学系の前に、当該合成光学系に入射する前記第2
ビームのビームサイズを前記合成光学系に入射する前記
第1ビームのビームサイズと一致させるアフォーカル光
学系をさらに備える。
【0015】この場合、両光源からの一対の照射光のビ
ームサイズが異なるものであっても、同一のビームサイ
ズで合成光学系に入射させることができる。
【0016】また、上記装置の好ましい態様では、前記
合成光学系の前に、当該合成光学系に入射する前記第1
ビームについて前記ホモジナイザによる結像位置を微調
整する調整光学系をさらに備える。
【0017】この場合、両光源からの一対の照射光の特
性が異なるものであっても、前記ホモジナイザによる結
像位置を一致させて一対の照射光の照射の微妙な不整合
を調整することができる。
【0018】また、本発明のレーザ加工装置は、一対の
異なる光源からの一対の照射光をそれぞれ略同一サイズ
の均一ビームとして照射するビーム形成装置と、ワーク
を載置するステージとを備える。
【0019】この装置では、ビーム形成装置が一対の異
なる光源からの一対の照射光をそれぞれ略同一サイズの
均一ビームとして照射するので、加工光の特性を多様に
設定することができ、加工光の生成に際してのロスも少
ない。
【0020】
【発明の実施の形態】
【0021】〔第1実施形態〕図1は、本発明に係る第
1実施形態のビーム形成装置を組み込んだレーザ加工装
置であるレーザアニール装置の構造を説明する図であ
る。このレーザアニール装置は、アモルファス状Si等
の半導体薄膜を表面上に形成したガラス板であるワーク
Wを載置して3次元的に滑らかに移動可能なステージ1
0と、一対の特性の異なるレーザビームLB1、LB2を
それぞれ発生する一対のレーザ光源21、22と、これ
らのレーザビームLB1、LB2を合成する合成光学系3
0と、合成光学系30によって合成された合成光CLを
所定の照度でワークW上に入射させる照射光学系40
と、ワークWを載置したステージ10を照射光学系40
等に対して必要量だけ適宜移動させるステージ駆動装置
60と、レーザアニール装置全体の各部の動作を統括的
に制御する主制御装置100とを備える。
【0022】一対のレーザ光源21、22は、ともにワ
ークW上の半導体薄膜を加熱するためのエキシマレーザ
その他のパルス光源であり、発光時間やピーク強度、或
いは波長等の特性が互いに異なる一対のレーザビームL
B1、LB2をそれぞれ個別に発生する。
【0023】合成光学系30は、両レーザ光源21、2
2からの一対のレーザビームLB1、LB2を空間的に継
ぎ合わせて合成光CLを形成するためのもので、一対の
平行に配置されたナイフエッジミラー31、32からな
る。なお、合成光学系30と両レーザ光源21、22と
の間には、それぞれダイバージェンス光学系71とテレ
スコープ光学系72とを調整装置として設けている。ダ
イバージェンス光学系71は、レーザ光源21からの第
1ビームLB1について、照射光学系40に設けたホモ
ジナイザ41による光軸方向結像位置(ビーム形成位
置)を微調整する調整光学系としての役割を有する。テ
レスコープ光学系72は、レーザ光源22からの第2ビ
ームLB2について、そのビームサイズを調節して合成
光学系30に入射する第1ビームLB1のビームサイズ
と一致させるアフォーカル光学系としての役割を有す
る。
【0024】図2は、合成光学系30によって形成され
る合成光CLを説明する図である。合成光学系30は、
レーザ光源21からの第1ビームLB1を、照射光学系
40の入射瞳Pのうち光軸OAを含む中央側瞳領域CA
に入射させる。また、合成光学系30は、レーザ光源2
2からの第2ビームLB2を、2つに分割し、照射光学
系40の入射瞳Pのうち中央側瞳領域CAの両端に設け
た一対の外側瞳領域SA1、SA2にそれぞれ入射させ
る。
【0025】図1に戻って、照射光学系40は、合成光
学系30からの合成光CLを一旦複数に分割するととも
にこれらの分割光を矩形のビームにして所定面上に重畳
して均一に入射させるホモジナイザ41と、ホモジナイ
ザ41からの均一光を所定の形状に成形するレンズ光学
系42とを備える。
【0026】図1に戻って、ステージ駆動装置60は、
ステージ10を駆動してワークW上の所定領域を照射光
学系40に対して位置合わせするアライメントを行う。
また、ステージ駆動装置60は、ワークW上の所定領域
でレーザアニールが終了した段階で、ワークWを上記の
所定領域に隣接する領域にステップ移動させるアライメ
ントを行う。なお、ステージ駆動装置60によるステー
ジ10の駆動量は、位置検出装置80によって常時監視
されている。
【0027】以下、図1の装置の動作について説明す
る。まず、レーザアニール装置のステージ10上にワー
クWを搬送して載置する。次に、照射光学系40に対し
てステージ10上のワークWをアライメントする。次
に、一対のレーザ光源21、22から得た合成光CLを
ワークW上の所定領域に入射させる。ワークW上には、
非晶質半導体のアモルファスSi等の薄膜が形成されて
おり、照射によって半導体の所定領域がアニール、再結
晶化され、電気的特性の優れた半導体薄膜を提供するこ
とができる。以上のようなレーザアニールは、ワークW
に設けた複数の所定領域で繰返され、ワークWに設けた
複数の所定領域で半導体薄膜がアニールされる。
【0028】この際、上記装置では、合成光学系30が
一対のレーザ光源21、22からの一対のレーザビーム
LB1、LB2を空間的に継ぎ合わせて合成光CLを形成
するので、一対のレーザビームLB1、LB2をロスを最
小限に抑えて合成することができ、合成後は、ホモジナ
イザ41によって一対のレーザビームLB1、LB2につ
いて均一な矩形ビームをそれぞれ所定面に形成すること
ができる。さらに、ワークW上に入射するビームAB
は、レーザビームLB1、LB2を効率的に合成したもの
であり、多様なレーザアニールが可能になる。
【0029】図3は、合成光学系30及びその周辺の構
造を説明する図である。既に説明したように、合成光学
系30は、一対のナイフエッジミラー31、32からな
り、第1ビームLB1を一対のナイフエッジ31a、3
2a間に通過させるとともに第2ビームLB2を一対の
ナイフエッジ31a、32aによって分割する。第1ビ
ームLB1についてホモジナイザ41による結像位置を
微調整するダイバージェンス光学系71は、凸レンズ7
1aと凹レンズ71bとを組み合わせたアフォーカル系
となっている。第2ビームLB2のビームサイズを第1
ビームLB1のビームサイズと一致させるテレスコープ
光学系72も、凹レンズ72aと凸レンズ72bとを組
み合わせたアフォーカル系となっている。テレスコープ
光学系72と合成光学系30との間には、ターンミラー
33を設けて第2ビームLB2を案内している。一方、
両レーザビームLB1、LB2を合成した合成光CLが入
射するホモジナイザ41は、第1〜第4シリンドリカル
レンズアレイCA1〜CA4と、凸レンズのコンデンサレ
ンズ41aとからなる。ここで、第1及び第3シリンド
リカルレンズアレイCA1、CA3は、紙面に平行な断面
に曲率を有し、第2及び第4シリンドリカルレンズアレ
イCA2、CA4は、紙面に垂直で光軸を含む断面に曲率
を有する。
【0030】以下、動作の概要について説明する。第1
ビームLB1は、ナイフエッジ31a、32a間、すな
わちホモジナイザ41の光軸OAを含む中央側瞳領域を
通り、第2ビームLB2は、ナイフエッジミラー31、
32によって2つに分割されて第1ビームLB1の両
端、すなわちホモジナイザ41の一対の外側瞳領域を通
って、それぞれホモジナイザ41に入射する。ホモジナ
イザ41は、合成光CLが入射できるようにビーム2つ
分の入射瞳のサイズにしてあり、コンデンサレンズ41
a等のレンズ系はその入射瞳に合わせて収差補正がされ
ている。
【0031】ホモジナイザ41に入射した合成光CL
は、第1〜第4シリンドリカルレンズアレイCA1〜C
A4によって、シリンドリカルレンズを構成するセグメ
ント数に分割された2次光源を形成する。分割された2
次光源からの光ビームは、コンデンサレンズ41aに入
射し、コンデンサレンズ41aのバックフォーカス位置
に配置された被照射面ISで重ね合わされて均一な矩形
ビームを形成する。
【0032】ここで、ダイバージェンス光学系71やテ
レスコープ光学系72は、第1ビームLB1と第2ビー
ムLB2のビーム特性やその相違等に起因して、ホモジ
ナイザ41によって形成される矩形ビームについてフォ
ーカス位置の違いやビームサイズの違い、さらにユニフ
ォーミティの違いが生じてしまうことを防止している。
【0033】前者のダイバージェンス光学系71は、ホ
モジナイザ41に入射する第1ビームLB1のNAを僅
かに変えてホモジナイザ41によるベストフォーカス位
置及びビームサイズを調整する。後者のテレスコープ光
学系72は、ホモジナイザ41に入射する第1ビームL
B1のビームサイズに第2ビームLB2のビームサイズを
一致させる。これにより、両レーザビームLB1、LB2
について、シリンドリカルレンズアレイCA1〜CA4に
よる分割数を一致させて同様のユニフォーミティを得る
ことができる。
【0034】以下、動作の詳細について説明する。第1
ビームLB1は、図示してないビームデリバリー(ター
ンミラー等)を経て第1ビーム用のダイバージェンス光
学系71に入射する。このダイバージェンス光学系71
は、ほぼ等倍のアフォーカル系であり、2つのレンズ7
1a、71bのレンズ間距離を変えることにより、この
ダイバージェンス光学系71から出射する第1ビームL
B1のビームサイズをほとんど変えることなく、この第
1ビームLB1のNAを僅かに変えることができる。具
体的な実施例では、ダイバージェンス光学系71による
出射NA(第1ビームLB1の広がり角)の可変調節範
囲を数mrad程度とした。なお、2枚のレンズ71
a、71bは凸凹の2群系であり、各々のパワーも小さ
いため、両レンズ71a、71bの間隔を変えても収差
の変化はほとんど生じない。
【0035】ダイバージェンス光学系71を出射した第
1ビームLB1は、2枚のナイフエッジミラー31、3
2の間、すなわちホモジナイザ41の光軸中心側を通過
するのみである。ナイフエッジミラー31、32間を通
過した第1ビームLB1は、その後ホモジナイザ41の
シリンドリカルレンズアレイCA1の中央部(第1ビー
ムLB1に割り当てられたシリンドリカルレンズ)に入
射し、シリンドリカルレンズの個数(図3では6本)に
分割される。分割された各ビームは、コンデンサレンズ
41aにより重ね合わされて被照射面ISで均一ビーム
を形成する。
【0036】一方、第2ビームLB2は、図示していな
いビームデリバリーを経て第2ビーム用のテレスコープ
光学系72に入射する。このテレスコープ光学系72に
入射した第2ビームLB2は、本光学系で拡大または縮
小されて第1ビームLB1と同一のビームサイズとなっ
てここから出射して合成光学系30に向かう。合成光学
系30では、ナイフエッジミラー31、32によって第
2ビームLB2が2つのビーム部分LB2a、LB2bに分
割され、それぞれ第1ビームLB1の両端を通過してホ
モジナイザ41へと向かう。両ビーム部分LB2a、LB
2bは、ホモジナイザ41の光軸中心の外側、すなわちホ
モジナイザ41のシリンドリカルレンズアレイCA1の
両端部(第2ビームLB2に割り当てられたシリンドリ
カルレンズ)に入射し、シリンドリカルレンズの個数
(図3では上下3本ずつの計6本)に分割される。分割
された各ビームは、コンデンサレンズ41aにより重ね
合わせられて被照射面ISで均一ビームを形成する。
【0037】以上の説明では、第1ビームLB1及び第
2ビームLB2共に「被照射面ISで均一ビームを形成
する」と記したが、実は両者のベストフォーカス位置
は、主に光源から出射するビームの拡がり角等の特性の
違いにより異なることがある。また、このようにベスト
フォーカスが異なっている場合、ビームサイズも異なっ
ていることが多い。したがって、第1ビームLB1及び
第2ビームLB2の特性の差を補償する必要がある。こ
のため、第2ビームLB2のベストフォーカス位置を真
の被照射面IS(基準面)として、この基準面に第1ビ
ームLB1のベストフォーカス位置を一致させる。具体
的には、ダイバージェンス光学系71により第1ビーム
LB1の出射NA、すなわちホモジナイザ41から見た
場合の入射NAを変える。ホモジナイザ41から見た入
射NAを変更すると、それに応じてホモジナイザ41通
過後のベストフォーカス位置が変わる。これにより、第
1ビームLB1のベストフォーカス位置を微調し、第2
ビームLB2のそれに一致させることができる。なお、
ホモジナイザ41のレンズ構成によって出射NAとベス
トフォーカス位置のずれとの対応は異なるのでかかる調
整の詳細な説明は省略する。
【0038】〔第2実施形態〕以下、第2実施形態のビ
ーム形成装置について説明する。第2実施形態の装置
は、第1実施形態の装置の一部を変形したものであり、
同一部分には同一の符号を付して重複説明を省略する。
なお、第2実施形態のビーム形成装置は、図1と同様の
レーザ加工装置に組み込まれる。図4は、第2実施形態
のビーム形成装置の要部を説明する図である。このビー
ム形成装置は、第1実施形態の図3に対応するものであ
るが、同図において第1ビームLB1の光路中に配置さ
れているダイバージェンス光学系71を除いた構成とな
っている。
【0039】この場合、テレスコープ光学系72を構成
する一対のレンズ72a、72bのレンズ間隔を変える
ことにより、ホモジナイザ41に入射する第2ビームL
B2のNAを微妙に変えることができる。この実施形態
では、テレスコープ光学系72が、図3の第1ビーム用
のダイバージェンス光学系71の役割、すなわち第1ビ
ームLB1と第2ビームLB2とのフォーカス位置の調整
も行う。
【0040】〔第3実施形態〕以下、第3実施形態のビ
ーム形成装置について説明する。第3実施形態の装置
は、第1実施形態の装置の一部を変形したものである。
なお、第3実施形態のビーム形成装置は、図1と同様の
レーザ加工装置に組み込まれる。図5は、第3実施形態
のビーム形成装置の要部を説明する図である。このビー
ム形成装置は、第1実施形態の図3に対応するものであ
るが、同図において第2ビームLB2中に配置されてい
るテレスコープ光学系72を除いた構成となっている。
【0041】使用する2つのレーザビームLB1、LB2
のビームサイズがほとんど同じ場合、ビームサイズを一
致させるための図3に示すようなテレスコープ光学系7
2を配置する必要がなくなる。また、使用する2つのレ
ーザビームLB1、LB2のビームサイズが異なっていて
もよい用途の場合も、図3に示すようなテレスコープ光
学系72は不要となる。
【0042】〔第4実施形態〕以下、第4実施形態のビ
ーム形成装置について説明する。第4実施形態の装置
は、第1実施形態の装置の一部を変形したものである。
図6は、第4実施形態のビーム形成装置の要部を説明す
る図である。このビーム形成装置では、分割光学系13
0として、一対のナイフエッジミラーの代わりにナイフ
エッジプリズム135を用いる。ホモジナイザ41通過
後のビームの均一性に関して対称性等が間題にならない
場合、本実施形態のようにナイフエッジプリズム135
のナイフエッジ部135aを利用して、ホモジナイザ4
1の光軸OAから上側に第1ビームLB1を入射させ、
ホモジナイザ41の光軸OAから下側に第2ビームLB
2を入射させる。つまり、両レーザビームLB1、LB2
を単に並べて配置しただけのものとすることができる。
なお、第1ビームLB1と第2ビームLB2とを対向する
方向からナイフエッジプリズム135に入射させるため
のビームデリバリーについては図示を省略している。
【0043】〔第5実施形態〕以下、第5実施形態のビ
ーム形成装置について説明する。第5実施形態の装置
は、第1実施形態の装置の一部を変形したものである。
図7は、第5実施形態のビーム形成装置の要部を説明す
る図である。このビーム形成装置では、分割光学系23
0として、一対のナイフエッジミラー131、132の
ナイフエッジ部131a、132a同士を突き合わせる
ようにしたものを持ちいる。
【0044】以上、実施形態に即してこの発明を説明し
たが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではな
い。上記実施形態では、ダイバージェンス光学系71や
テレスコープ光学系72が球面系であるように説明した
が、X軸若しくはY軸に直交する断面の一方に作用する
シリンドリカルレンズ系とすることができる。シリンド
リカルレンズ系とした場合は、より重要な断面に注目し
て、その断面でのフォーカス調整を行うことになる。通
常のエキシマレーザの場合、電極方向とそれに直行する
方向とでは拡がり角等のビーム特性が異なり、一方の断
面に注目してシリンドリカル系を配置することが多い。
さらに、両断面のベストフォーカスを個別に一致させる
ために、シリンドリカルレンズ系で構成したダイバージ
ェンス光学系やテレスコープ光学系を直交する断面ごと
に個別に配置しても良い。
【0045】また、上記実施形態の照射光学系40は、
ホモジナイザ41によってマスク42を照明し、マスク
42の像を投影レンズ43に照射することとしたが、ホ
モジナイザ41の被照射面ISに直接ワークWを配置す
ることもできる。
【0046】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のビーム形成装置によれば、合成光学系が一対の異なる
光源からの一対の照射光を空間的に継ぎ合わせて合成す
るので、一対の照射光をロスを最小限に抑えて合成する
ことができ、合成後は、ホモジナイザによって一対の照
射光について均一なビームをそれぞれ所定面上に形成す
ることができる。
【0047】また、本発明のレーザ加工装置によれば、
ビーム形成装置が一対の異なる光源からの一対の照射光
をそれぞれ略同一サイズの均一ビームとして照射するの
で、加工光の特性を多様に設定することができ、加工光
の生成に際してのロスも少ない。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態のビーム形成装置を組み込んだレ
ーザアニール装置の構造を示す図である。
【図2】図1の合成光学系によって形成される合成光を
説明する図である。
【図3】合成光学系30及びその周辺の詳細な構造を説
明する図である。
【図4】第2実施形態のビーム形成装置の要部を説明す
る図である。
【図5】第3実施形態のビーム形成装置の要部を説明す
る図である。
【図6】第4実施形態のビーム形成装置の要部を説明す
る図である。
【図7】第5実施形態のビーム形成装置の要部を説明す
る図である。
【符号の説明】
10 ステージ 21,22 レーザ光源 30 合成光学系 31,32 ナイフエッジミラー 40 照射光学系 41 ホモジナイザ 42 レンズ光学系 60 ステージ駆動装置 71 ダイバージェンス光学系 71a,71b レンズ 72 テレスコープ光学系 72a,72b レンズ 80 位置検出装置 100 主制御装置 AB 線条ビーム CL 合成光 LB1 第1ビーム LB2 第2ビーム W ワーク

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一対の異なる光源からの一対の照射光を
    空間的に継ぎ合わせて合成する合成光学系と、 前記合成光学系で合成された合成光を複数に分割すると
    ともに分割された合成光を重畳して照射することによ
    り、前記一対の照射光を略同一サイズの均一ビームとし
    て所定面上にそれぞれ入射させるホモジナイザとを備え
    るビーム形成装置。
  2. 【請求項2】 前記合成光学系は、前記一対の照射光の
    一方である第1ビームを、前記ホモジナイザの光軸を含
    む中央側瞳領域に入射させ、前記一対の照射光の他方で
    ある第2ビームを、2つに分割して前記ホモジナイザの
    前記中央側瞳領域の両端に設けた一対の外側瞳領域に入
    射させることを特徴とする請求項1記載のビーム形成装
    置。
  3. 【請求項3】 前記合成光学系は、所定の間隔で配置さ
    れた2枚のスリット型ミラーからなり、前記第1ビーム
    は、前記2枚のスリット型ミラーの間を通過するととも
    に、前記第2ビームは、前記2枚のスリット型ミラーで
    個別に反射されて分割され、前記第1ビームの両端を通
    過することを特徴とする請求項2記載のビーム形成装
    置。
  4. 【請求項4】 前記一対の照射光が前記合成光学系に入
    射する前に、前記一対の照射光の少なくとも一方の照射
    光について、前記合成光学系に入射させるべきビームサ
    イズ若しくは前記ホモジナイザによる結像位置を調整す
    る調整手段をさらに備えることを特徴とする請求項1記
    載のビーム形成装置。
  5. 【請求項5】 前記合成光学系の前に、当該合成光学系
    に入射する前記第2ビームのビームサイズを前記合成光
    学系に入射する前記第1ビームのビームサイズと一致さ
    せるアフォーカル光学系をさらに備えることを特徴とす
    る請求項2記載のビーム形成装置。
  6. 【請求項6】 前記合成光学系の前に、当該合成光学系
    に入射する前記第1ビームについて前記ホモジナイザに
    よる結像位置を微調整する調整光学系をさらに備えるこ
    とを特徴とする請求項3記載のビーム形成装置。
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