JPH06152334A - リングオシレータおよび定電圧発生回路 - Google Patents

リングオシレータおよび定電圧発生回路

Info

Publication number
JPH06152334A
JPH06152334A JP4296945A JP29694592A JPH06152334A JP H06152334 A JPH06152334 A JP H06152334A JP 4296945 A JP4296945 A JP 4296945A JP 29694592 A JP29694592 A JP 29694592A JP H06152334 A JPH06152334 A JP H06152334A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ring oscillator
transistor
electrode
transistors
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4296945A
Other languages
English (en)
Inventor
Motoko Hara
素子 原
Takeshi Kajimoto
毅 梶本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4296945A priority Critical patent/JPH06152334A/ja
Priority to DE4337499A priority patent/DE4337499A1/de
Priority to KR1019930023233A priority patent/KR940012796A/ko
Priority to US08/147,268 priority patent/US5446418A/en
Publication of JPH06152334A publication Critical patent/JPH06152334A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/03Astable circuits
    • H03K3/0315Ring oscillators
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/354Astable circuits

Abstract

(57)【要約】 【目的】 消費電流の少ないリングオシレータの実現を
目的とする。 【構成】 入力端子INと出力端子OUTとの間にカス
ケード接続される複数のインバータ1〜5を含むリング
オシレータであって、インバータ1〜5の各々は、入力
信号のレベルに応答して相補的にオン/オフするトラン
ジスタ1aおよび1dと、トランジスタ1aおよび1d
のサイズに関係付けられた電流コンダクタンスを有し、
所定周期の出力信号を得るようにトランジスタ1aおよ
び1dへの電流供給量を制限するトランジスタ1bおよ
び1cを含む。トランジスタ1a〜1dは、電源ノード
と接地ノードとの間に直列的に接続される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、複数のインバータを
カスケード接続し、出力端子の信号を入力端子に帰還さ
せることにより所定周期の出力信号を発生するリングオ
シレータおよびリングオシレータを組込んだ定電圧発生
回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図15は、従来のリングオシレータを示
す回路図である。図15を参照して、このリングオシレ
ータは、インバータ15、25、35、45および55
を備える。初段インバータ15は、その入力ノードが終
段インバータ55の出力ノードに接続され、その出力ノ
ードが第2段インバータ25の入力ノードに接続され
る。第2段から第4段インバータの各々は、その入力ノ
ードが前段のインバータの出力ノードに接続され、その
出力ノードが後段のインバータの入力ノードに接続され
る。
【0003】なお、図15では、インバータの段数を5
段構成にしているが、3段以上の奇数段であってもよ
い。
【0004】次に、図15に示したリングオシレータの
動作について説明する。入力信号をインバータ15に入
力すると、入力信号INを反転した出力信号OUTが終
段インバータ55から出力される。その出力信号OUT
を初段インバータ15の入力ノードに帰還させることに
より、出力信号OUTは図16に示すような一定周期T
で反転する信号となる。
【0005】リングオシレータの発振周期がどのように
定められるかを図17を用いて説明する。図17は、図
15に示したリングオシレータのうちの初段インバータ
15および第2段インバータ25の詳細を示す回路図で
ある。
【0006】各インバータ15および25は、コンプリ
メンタリ接続されたPMOSトランジスタ1pおよびN
MOSトランジスタ1nを含む。PMOSトランジスタ
1pおよびNMOSトランジスタ1nの各々は、オン抵
抗値Rを有する。また、各インバータ15および25
は、PMOSトランジスタ1pとNMOSトランジスタ
1nのチャネル長Lおよびチャネル幅Wで決定されるキ
ャパシタCを有する。
【0007】リングオシレータの発振周期Tは、各イン
バータにより遅延時間tの総和であり、遅延時間tは、
次の式で示される。
【0008】 t∝R×C R∝L/W,C∝ W×L (1) t∝L2 (2) 上記(2)式より、各インバータの遅延時間tは、MO
Sトランジスタのチャネル長Lにより定まる。したがっ
て、出力信号の周期を長くするには、チャネル長を長
くする。インバータの段数を増加する。インバータ
への電流供給量を少なくすることが考えられる。また、
R(=L/W)を大きくすることにより、ゲートへの充
放電電流が減少するが、C(=W×L)も増大するの
で、ゲートへの充放電電流が増大するという相反する関
係がある。
【0009】したがって、消費電流を小さくするには、
Rを大きくするかCを小さくするかの2つの方法が考え
られる。
【0010】たとえば、図15に示したリングオシレー
タの周期を200nsにするには、PMOSトランジス
タ1pおよびNMOSトランジスタ1nのチャネル幅W
/チャネル長Lを(1/4,1/2)に形成し、周期を
7.6μs消費電流を1.9μAにするには、図18に
示すように、PMOSトランジスタ1pおよびNMOS
トランジスタ1nのW/Lを(2/50,2/100)
に形成する。
【0011】図19は、特開平3−259619に開示
されたリングオシレータを示す回路図である。このリン
グオシレータは、インバータの段数を制御するととも
に、インバータへの電流供給量を制限することにより発
振周期を変化させる。
【0012】図19を参照して、このリングオシレータ
は、バッファ65と、インバータ15〜55と、セレク
タ7とを含む。セレクタ7は、制御信号に応答して第3
段インバータ35または第5段インバータ55の出力を
選択して、初段インバータ15に帰還させる。各インバ
ータ15、25、35、45、および55は、電源ノー
ドと接地ノードとの間に直列的に接続されたPMOSト
ランジスタ11pおよび12pと、NMOSトランジス
タ11nおよび12nとを含む。PMOSトランジスタ
11pとNMOSトランジスタ11nとは、入力信号に
応答して相補的にオン/オフする。PMOSトランジス
タ12pおよびNMOSトランジスタ12nは、バッフ
ァ65の出力に応答して、オン抵抗値が変化する。
【0013】動作において、制御信号に応答してインバ
ータの段数を選択し、発振周期を変更する。また、制御
電圧に応答して、バッファ65がPMOSトランジスタ
12pおよびNMOSトランジスタ12nのオン抵抗値
を制御するので、発振周期を変更することができる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】上記図15〜図18に
示したリングオシレータは、長い周期の出力信号を発生
する場合には、チャネル長Lを大きくするので、抵抗値
Rが増大し、電源端子から出力ノードに流れる電流およ
び出力ノードから接地ノードに流れる電流が減少するの
で、リングオシレータの消費電流は小さくなる。
【0015】しかし、キャパシタCは増大するので、キ
ャパシタによる消費電流は大きくなる。このような消費
電流は、メモリ装置のバックアップ電圧を発生するため
の回路、たとえば基板バイアス電圧発生回路などに適用
する場合には、大きな問題となる。
【0016】また、図19に示した電流制限用のトラン
ジスタ12pおよび12nは、PLL回路装置にのみ適
用されて発振周期を制御するためにのみ用いられる。し
たがって、リングオシレータのサイズは、ほとんどスイ
ッチング用のトランジスタ11pおよび11nのゲート
長Lに依存する。このため、たとえば、発振周期7.6
μs、消費電流1.91μAのリングオシレータを得る
には、スイッチング用のトランジスタ11pおよび11
nのゲート長Lを図18と同様な大きさにする必要があ
る。したがって、入力キャパシタCによる消費電流を減
少させることはできない。
【0017】それゆえに、この発明の1つの目的は、所
定周期の出力信号を発生するリングオシレータにおい
て、消費電流を抑制することである。
【0018】この発明のもう1つの目的は、リングオシ
レータを用いた定電圧発生回路において、消費電流を抑
制することである。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係るリ
ングオシレータは、入力端子と出力端子との間にカスケ
ード接続される複数のインバータを含み、出力端子の信
号を入力端子に帰還させることにより、所定周期の出力
信号を発生するリングオシレータであって、複数のイン
バータの各々は、第1および第2のトランジスタ、およ
び電流制限手段を含む。第1および第2のトランジスタ
は、入力信号のレベルに応答して相補的にオン/オフす
る。電流制限手段は、第1および第2のトランジスタの
サイズで決まる入力キャパシタに関係付けられた相互コ
ンダクタンスを有し、所定周期の出力信号を得るように
前記第1および第2のトランジスタへの電流供給量を制
限する。
【0020】また、第1および第2のトランジスタは、
一方電極、他方電極および制御電極を含み、第1のトラ
ンジスタは、その一方電極が電源ノードに接続され、そ
の他方電極が電流制限手段に接続され、第2のトランジ
スタは、その一方電極が接地ノードに接続され、その他
方電極が電流制限手段に接続され、その制御電極が第1
のトランジスタの制御電極とともに入力信号を受けるよ
うに接続される。
【0021】また、電流制限手段は、第3のトランジス
タ、第4のトランジスタおよび電流決定手段を含む。第
3のトランジスタは、第1のトランジスタの他方電極と
当該インバータの出力ノードとの間に接続される。第4
のトランジスタは、第2のトランジスタの他方電極と当
該インバータの出力ノードとの間に接続される。電流決
定手段は、第3および第4のトランジスタの制御電極に
作動的に結合され、第3および第4のトランジスタに流
れる電流量を決定する。
【0022】請求項4の発明に係る定電圧発生回路は、
第1のリングオシレータ、第1の電圧発生手段、第2の
リングオシレータ、第2の電圧発生手段、およびレベル
低下検出手段を含む。第1のリングオシレータは、各々
が入力信号のレベルに応答して相補的にオン/オフする
第1および第2のトランジスタを含む複数の第1のイン
バータを、入力端子と出力端子との間にカスケード接続
し、ある周期の出力信号を発生する。第1の電圧発生手
段は、発生されたある周期の出力信号に応答して第1の
電圧を発生する。第2のリングオシレータは、入力信号
のレベルに応答して相補的にオン/オフする第3および
第4のトランジスタと、第3および第4のトランジスタ
のサイズで決まる入力キャパシタに関係付けられた相互
コンダクタンスを有し、ある周期の出力信号よりも長い
周期の出力信号を得るように第3および第4のトランジ
スタの電流供給量を制限するための電流制限手段とを、
各々が含む複数の第2のインバータを、入力端子と出力
端子との間にカスケード接続し、ある周期よりも長い周
期の出力信号を発生する。第2の電圧発生手段は、第2
のリングオシレータにより発生されるある周期よりも長
い周期の出力信号に応答して、第2の電圧を常時発生す
る。レベル低下検出手段は、第2の電圧発生手段により
発生される第2の電圧のレベル低下を検出し、第1のリ
ングオシレータを駆動する。
【0023】
【作用】請求項1の発明では、電流制限手段が、第1お
よび第2のトランジスタのサイズで決まる入力キャパシ
タに関係付けられた相互コンダクタンスを有し、所定周
期の出力信号を得るように第1および第2のトランジス
タへの電流供給量を制限しているので、入力キャパシタ
による消費電流を抑制することができる。
【0024】また、第1のトランジスタの他方電極と第
2のトランジスタの他方電極との間に電流制限手段を接
続した場合には、電源ノードから接地ノードに流れる貫
通電流を少なくすることができるので、消費電流をさら
に小さくすることができる。
【0025】さらに第3のトランジスタおよび第4のト
ランジスタに流れる電流量を決定するための電流決定手
段を設けた場合には、第3および第4のトランジスタの
オン抵抗値を制御することができるので、第3および第
4のトランジスタのゲート長を小さくしても、所定周期
の出力信号を発生させることができリングオシレータの
占有面積を小さくすることができる。
【0026】請求項4の発明では、第2のリングオシレ
ータは、第1のリングオシレータよりも長い周期に設定
され、かつ入力キャパシタによる消費電流を抑制するこ
とができるので、第2の電圧を発生するために要する消
費電力は小さくなる。そして、第2の電圧のレベルが低
下した場合には、レベル低下分を第1の電圧で補うこと
により、定電圧を発生することができる。
【0027】
【実施例】
実施例1 図1は、この発明の一実施例を示すリングオシレータの
回路図である。図1を参照して、このリングオシレータ
は、インバータ1〜5と、カレントミラー回路の一部を
構成する回路6とを含む。インバータ1は、Pチャネル
トランジスタ1aおよび1bと、Nチャネルトランジス
タ1cおよび1dを含む。Pチャネルトランジスタ1a
は、その一方電極が電源ノードに接続され、その他方電
極がPチャネルトランジスタ1bの一方電極に接続さ
れ、そのゲート電極がNチャネルトランジスタ1dのゲ
ート電極とともに入力ノードINに接続される。Pチャ
ネルトランジスタ1bは、その他方電極がNチャネルト
ランジスタ1cの他方電極とともに出力ノード7に接続
され、そのゲート電極がカレントミラー回路の一部を構
成する回路6に接続される。Nチャネルトランジスタ1
dは、その一方電極が接地ノードに接続され、その他方
電極がNチャネルトランジスタ1cの一方電極に接続さ
れる。Nチャネルトランジスタ1cは、その制御電極が
カレントミラー回路の一部を構成する回路6に接続され
る。上記Pチャネルトランジスタ1bと回路6およびN
チャネルトランジスタ1cと回路6とでカレントミラー
回路が構成されている。また、Pチャネルトランジスタ
1aとNチャネルトランジスタ1dとでスイッチング回
路が構成されている。インバータ2、3、4、および5
は、各々インバータ1と同様な構成である。
【0028】次に、図1に示したリングオシレータの動
作について説明する。入力信号INが0ボルトから電源
電圧Vccに立上った例を示す。入力信号INが0ボル
トから電源電圧Vccに立上ったとき、Pチャネルトラ
ンジスタ1aおよびNチャネルトランジスタ1dのうち
のNチャネルトランジスタ1dがオンする。Nチャネル
トランジスタ1dが完全にオンし、電流を制限するため
のNチャネルトランジスタ1cのゲート−ソース間電圧
GSがしきい値電圧VTHより大きくなったとき、Nチャ
ネルトランジスタ1cがオンする。応答して、ノード7
の電圧がGNDにまで低下し、インバータ1の出力は
“L”レベルとなる。この“L”レベルの出力を受け、
第2段目のインバータに含まれるトランジスタ2aおよ
び2dのうちのPチャネルトランジスタ2aがオンす
る。Pチャネルトランジスタ2aが完全にオンし、電流
を制限するためのPチャネルトランジスタ2bのゲート
−ソース間電圧VGSがしきい値電圧VTHより小さくなっ
たとき、Pチャネルトランジスタ1bがオンし、ノード
8の電圧がVccまで上昇する。応答して、インバータ
2の出力が“H”レベルとなる。
【0029】同様にインバータ3の出力は、“L”レベ
ルとなり、インバータ4の出力は“H”レベルとなり、
インバータ5の出力すなわち出力信号OUTは、“L”
レベルとなる。この出力信号OUTが次の入力信号IN
に使われ、インバータ5段分の遅延時間を周期とし、出
力信号OUTは反転する。
【0030】ここでは例として、リングオシレータを構
成するインバータを5段としたが3段以上の奇数段であ
ってもよい。
【0031】図2は図1に示したリングオシレータのイ
ンバータ1段分の動作を説明するための図である。
【0032】図2を参照して、Pチャネルトランジスタ
1aおよびNチャネルトランジスタ1dのオン抵抗値を
それぞれR2とし、Pチャネルトランジスタ1bおよび
Nチャネルトランジスタ1cのオン抵抗値をR1として
いる。また、Pチャネルトランジスタ2aおよびNチャ
ネルトランジスタ2dのゲートによりキャパシタをCと
している。以上の条件の下で、インバータ1段分の遅延
時間は、 t∝(R1+R2)×C R2∝L/W,C∝W×L (3) t∝R1+L2 (4) に示される(4)式よりR1を大きくすることによっ
て、R2およびCを変えることなく発振周期を長くする
ことができ、かつ消費電流を小さくすることができるこ
とが分かる。上記の抵抗R2およびキャパシタCを変更
しないことは、Pチャネルトランジスタ1aおよびNチ
ャネルトランジスタ1dのゲート長さおよびゲート幅を
変更しないことを意味する。
【0033】図3は、図1に示したインバータ1のゲー
ト幅/ゲート長を示した図である。図3のインバータに
よる発振周期と消費電流の関係を表1に示す。
【0034】
【表1】
【0035】以上のように、インバータは、スイッチン
グ用のトランジスタ1aおよび1dと、スイッチング用
のトランジスタ1a,1dのサイズとの関係で電流コン
ダクタンスが決められた電流制限用のトランジスタ1b
および1cとを含み、電源ノードと接地ノードとの間に
これらのトランジスタ1a〜1dが直列に接続されてい
るので、次段の負荷となるインバータ2を構成するトラ
ンジスタのW/Lのサイズを小さくすることができ、ゲ
ートの充放電で消費される電流を減らすことができる。
【0036】また、電流を制限するトランジスタ1bお
よび1cをカレントミラー回路により構成しているの
で、W/Lを小さくせず(ゲート長Lのサイズを大きく
せず)電流ミラー回路の一部を構成する回路6からの電
圧によりゲートに流れる電流を制御することができる。
【0037】さらに、電流制御用のトランジスタ1bお
よび1cの他方電極(ドレイン電極)をインバータの出
力ノードとして入力ので、スイッチング用のトランジス
タ1aおよび1dが完全にオンしない限り、電流制御の
トランジスタ1bおよび1cがオンしない。したがって
このことから、長周期でも波形の立上りおよび立下りの
時間が短縮され、貫通電流を抑制することができる。
【0038】実施例2 図4は、この発明の第2の実施例を示す回路図である。
図4に示すリングオシレータが図1に示すリングオシレ
ータと異なるところは、抵抗6aの一端とNMOSトラ
ンジスタ6cのドレイン電極との間に、抵抗6dとNM
OSトランジスタ6eとが追加されていることである。
【0039】次に、動作について説明する。入力信号φ
を“H”レベルにしたとき、Nチャネルトランジスタ6
eがオンし、抵抗6aの抵抗値R1となる。このとき、
回路6に流れる電流iはi1 =V/R1 となる。入力信
号φが“L”レベルになった場合には、Nチャネルトラ
ンジスタ6eはオフし、抵抗は抵抗6aと6dとの剛性
値R1+R2となり、回路6に流れる電流Iは、I2
V/(R1+R2)となる。ゆえに、i1 >i2 とな
り、i=C・V/Tより周期は、T1 <T2 となる。す
なわち抵抗を大きくすると、電流が小さくなり、周期が
長くなる。
【0040】この実施例では、入力信号φによって抵抗
Rの値を切換えてリングオシレータの周期を変えること
ができる。
【0041】なお、図4の実施例では、抵抗を切換える
スイッチとして、Nチャネルトランジスタ6eを用いた
が、入力信号/φで制御されるPチャネルトランジスタ
を用いてもよい。
【0042】実施例3 図5は、この発明の第3の実施例を示す回路図である。
図5に示したリングオシレータが図1に示したリングオ
シレータと異なるところは、カレントミラー回路の一部
を構成する回路をPチャネルトランジスタ6hおよび6
fとNチャネルトランジスタ6dおよび6iとで構成し
たことである。その他の回路については図1の回路と同
様である。
【0043】図1の回路6は電源電圧Vccより2VTH
低下したところで回路6が動作する。これに対し、図5
に示した回路61は、電源電圧VccよりVTH低下した
ところで動作するので、第1の実施例よりも動作範囲を
広くすることができる。
【0044】実施例4 図6は、この発明の第4の実施例を示すリングオシレー
タの回路図である。実施例1は、電流制限用のトランジ
スタ1bおよび1cのドレイン側を次段への出力に接続
したが、第4の実施例では、スイッチング回路を構成す
るトランジスタ1aおよび1dのドレイン側を次段の出
力に接続している。なお、図6において、スイッチング
回路を構成するトランジスタ1aおよび1dのドレイン
を、次段への出力であるノード7としている。
【0045】図7は、図6に示したリングオシレータ
を、発振周期;200ns,消費電流;9.55μAで
動作させる場合のゲート幅/ゲート長の具体例を示す図
である。
【0046】実施例5 図8は、この発明に係るリングオシレータの第5の実施
例を示す回路図である。図1ないし第4の実施例では、
電流制限用のトランジスタ1bおよび1cをカレントミ
ラー回路で構成したが、図8に示すリングオシレータ
は、Pチャネルトランジスタ1bのゲート電極をGND
に、Nチャネルトランジスタ1cのゲート電極を電源電
位Vccに接続し、常に一定の抵抗を発生している状態
にしている。第2段ないし第5段のインバータ21、3
1、41および51は、第1段のインバータ11と同様
の構成である。
【0047】図9は図8に示したリングオシレータの第
1段の各トランジスタ1a〜1dのゲート幅/ゲート長
の具体例を示す図である。図9のインバータは、電流制
限用のトランジスタ1bおよび1cのW/Lが(4/2
00,2/200)となっており、第1ないし第4の実
施例と比較して非常に大きい。ただし、スイッチング回
路1aおよび1dのゲート幅/ゲート長の比は第1ない
し第4の実施例と同様である。すなわち、第5の実施例
においても、スイッチング回路のサイズを変更すること
なく、電流消費量を小さくすることができる。
【0048】実施例6 図10は、この発明に係るリングオシレータの第6の実
施例を示す回路図である。図10に示すリングオシレー
タと図8に示すリングオシレータとが異なるところは、
電源ノードVccと接地ノードとの間にPチャネルトラ
ンジスタ1aおよび1bと、Nチャネルトランジスタ1
cおよび1dとを直列的に接続するのに変えて、電源ノ
ードVccと接地ノードとの間に、Pチャネルトランジ
スタ1b、Pチャネルトランジスタ1a、Nチャネルト
ランジスタ1b、Nチャネルトランジスタ1cの順番に
接続していることである。
【0049】動作において、図8のインバータと比較し
て、貫通電流の抑制ができないが、その他については図
8に示したリングオシレータと同様の動作を行う。
【0050】図11は、図10に示したインバータ12
のゲート幅/ゲート長の具体例を示す図である。
【0051】図11に示すように、電流制限用のトラン
ジスタ1bおよび1cのゲート長を長くすることによ
り、スイッチング用トランジスタ1aおよび1dのドレ
イン電極間の抵抗値を大きくすることができるので、実
施例1のごとく外部的に設けられる回路6により電流制
限用のトランジスタbおよび1dを制御する必要がなく
なる。
【0052】図12は、VBB発生発生回路およびVp
p発生回路を含むDRAMのブロック図を示す。
【0053】図12を参照して、このDRAM100
は、沢山のメモリセルを備えたメモリセルアレイ85
と、外部的に与えられるアドレス信号A0ないしAnを
受けるアドレスバッファ81と、受信されたアドレス信
号に応答してメモリセルアレイ85の行および列をそれ
ぞれ指定するためのロウアドレスレコーダ82およびカ
ラムデコーディング83と、メモリセルから読出された
データ信号を増幅するためのセンスアンプ84とを含
む。入力データDiは、データインバッファ86を介し
て与えられる。出力データDoは、データアウトバッフ
ァ87を介して出力される。DRAM100は、その中
に設けられた様々な回路を制御するためのクロック信号
を発生するクロック信号発生器83を含む。このDRA
M100は、さらに基板バイアス電圧VBBを発生する
ためのVBB発生回路89と、ワード線を活性化する際
に電源電圧Vccよりも高い電圧Vppを発生するため
のVpp発生回路93とを含む。
【0054】図13は、VBB発生回路89のブロック
図である。このVBB発生回路89は、ディテクタ89
a、短周期リングオシレータ89b、第1のチャージポ
ンプ回路89c、長周期リングオシレータ89dおよび
第2のチャージポンプ回路89eを含む。ディテクタ8
9aは、第2のチャージポンプ回路89eの出力電圧が
一定電圧VBB(−3V)よりも低下することを検出
し、短周期リングオシレータ89bを活性化する。短周
期リングオシレータ89bは、図15に示すごとく2つ
のスイッチングトランジスタ1pおよび1nを含む単位
インバータ15〜35をカスケード接続している。第1
のチャージポンプ回路89cは、短周期リングオシレー
タ89pの出力に応答して、メモリセルに含まれるトラ
ンジスタが活性化しないように、基板端子を負の電圧
(−3V)にバイアスするための電圧を発生する。
【0055】長周期リングオシレータ89dは、前述し
た第1ないし第6実施例に示されたインバータをカスケ
ード接続し、常時一定周期で発振する。短周期リングオ
シレータ89bは、たとえば200nsの周期で発振す
るのに対し、長周期リングオシレータ89dは、たとえ
ば7.6μsの発振周期を持つ。
【0056】第2のチャージポンプ回路89eは、長周
期リングオシレータ89dの出力に応答して第2のチャ
ージポンプ回路89cと同様に基板端子を負の電位(−
3V)にバイアスするための電圧を発生する。第2のチ
ャージポンプ回路89eの出力ノードは、第1のチャー
ジポンプ回路89cの出力ノードとともに基板端子およ
びディテクタ89aに接続される。
【0057】動作において、長周期リングオシレータ8
9dは常時活性化される。第2のチャージポンプ回路8
9eは、長周期リングオシレータ89dの出力に応答し
て基板バイアス電圧VBBを発生する。この長周期リン
グオシレータ89dの発振周期は、短周期リングオシレ
ータ89bの周期よりも長くされているので、消費電流
は少なくなる。しかも、第1ないし第6の実施例に示さ
れた構成を持つので、従来の長周期用のリングオシレー
タ(図18)よりも消費電流はさらに小さくなる。
【0058】以上説明したように、図13に示したVB
B発生回路は、消費電力を非常に小さくすることができ
るので、DRAM装置のバックアップ電圧に用いると、
非常に有効である。
【0059】図14は、図12に示したVpp発生回路
93のブロック図である。このVpp発生回路93は、
図13に示したVBB発生回路89と同様に、ディクタ
93a、短周期リングオシレータ93b、第1のチャー
ジポンプ回路93c、長周期リングオシレータ93dお
よび第2のチャージポンプ回路93eを含む。Vpp発
生回路とVBB発生回路とが異なるところは、第1およ
び第2のチャージポンプ回路93cおよび93eが正の
電圧Vppを発生していることである。正の電圧Vpp
は、ワード線WLを書込サイクル期間中電源電圧Vcc
よりも若干高い電位(たとえば5.8V)に設定するた
めの電圧である。行デコーダ82は、多入力NAND回
路82a、PMOSトランジスタ82d、82eおよび
82f、およびNMOSトランジスタ82b、82cお
よび82hを含む。行デコーダ82は、行アドレス信号
をデコードし、Vpp発生回路93により発生された一
定電位Vppをワード線WLに供給する。
【0060】動作において、長周期リングオシレータ9
3dにより長周期の出力信号が発生され、この長周期の
出力信号に応答して、第2のチャージポンプ回路93e
が正の電圧Vppを発生する。この電圧Vppが低下す
ると、ディテクタ93aが電圧Vppの低下を検出し、
短周期リングオシレータ93bを活性化する。それによ
り、第2のチャージポンプ回路93eにより発生された
電圧Vppに第1のチャージポンプ回路93cにより発
生された電圧が加えられ、ワード線WLの電位が低電位
となる。
【0061】以上説明したように、図14に示したVp
p発生回路93を用いると、低消費電力の定電圧発生回
路が得られる。
【0062】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、第1および第
2のトランジスタのサイズを小さくし、入力キャパシタ
を小さくすることができるので、消費電流が少ないリン
グオシレータを得ることができる。
【0063】また、請求項2の発明では、電源ノードか
ら接地ノードに流れる貫通電流を少なくすることができ
る。このため、消費電流をさらに小さくすることができ
る。
【0064】請求項3の発明では、第3および第4のト
ランジスタのオン抵抗値を制御できるので、第3および
第4のトランジスタのゲート長を小さくすることができ
る。
【0065】請求項4の発明によれば、第2の電圧のレ
ベルが低下した場合に、レベル低下分を、第1の電圧で
補うことにより一定電圧を発生することができる。その
際に、第2のリングオシレータは、第1のリングオシレ
ータよりも長い周期に設定され、かつ入力キャパシタに
よる消費電力も抑制されるので、第2の電圧を発生する
ために要する消費電力は非常に小さくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係るリングオシレータの一実施例を
示す回路図である。
【図2】図1に示したインバータ1段分の動作を説明す
るための回路図である。
【図3】図1に示したインバータを所定周期かつ所定消
費電流で動作させるための具体例を示す回路図である。
【図4】この発明に係るリングオシレータの第2の実施
例を示す回路図である。
【図5】この発明に係るリングオシレータの第3の実施
例を示す回路図である。
【図6】この発明に係るリングオシレータの第4の実施
例を示す回路図である。
【図7】図6に示したリングオシレータを、所定周期か
つ所定消費電流で動作させるための具体例を示す回路図
である。
【図8】この発明に係るリングオシレータの第5の実施
例を示す回路図である。
【図9】図8に示したインバータを、所定周期かつ所定
消費電流で動作させるための具体例を示す回路図であ
る。
【図10】この発明に係るリングオシレータの第6の実
施例を示す回路図である。
【図11】図10に示したインバータを、所定周期かつ
所定消費電流で動作させるための具体例を示す回路図で
ある。
【図12】VBB発生回路およびVpp発生回路を含む
DRAMのブロック図である。
【図13】図12に示したVBB発生回路のブロック図
である。
【図14】図12に示したVpp発生回路のブロック図
である。
【図15】従来のリングオシレータを示す回路図であ
る。
【図16】図15に示したリングオシレータの出力波形
図である。
【図17】図15に示した初段インバータ15および第
2段インバータ25の詳細を示す回路図である。
【図18】図15に示したリングオシレータを7.6μ
s、1.91μAで動作させるための具体例を示す回路
図である。
【図19】従来のリングオシレータのもう1つの例を示
す回路図である。
【符号の説明】
1〜5 インバータ 1a〜5a Pチャネルトランジスタ 1b〜5b Pチャネルトランジスタ 1c〜5c Nチャネルトランジスタ 1d〜5d Nチャネルトランジスタ 6 電流ミラー回路の一部を構成する回路 89 VBB発生回路 89b 短周期リングオシレータ 89c 第1のチャージポンプ回路 89d 長周期リングオシレータ 89e 第2のチャージポンプ回路 93 Vpp発生回路
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年8月16日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0032
【補正方法】変更
【補正内容】
【0032】図2を参照して、Pチャネルトランジスタ
1aおよびNチャネルトランジスタ1dのオン抵抗値を
それぞれR2とし、Pチャネルトランジスタ1bおよび
Nチャネルトランジスタ1cのオン抵抗値をR1として
いる。また、Pチャネルトランジスタ2aおよびNチャ
ネルトランジスタ2dのゲートによりキャパシタをCと
している。以上の条件の下で、インバータ1段分の遅延
時間は、t∝C/iに示される。この式よりiを小さく
することによって、Cを変えることなく発振周期を長く
することができ、かつ消費電流を小さくすることができ
ることが分かる。上記の抵抗R2およびキャパシタCを
変更しないことは、Pチャネルトランジスタ1aおよび
Nチャネルトランジスタ1dのゲート長さおよびゲート
幅を変更しないことを意味する。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0053
【補正方法】変更
【補正内容】
【0053】図12を参照して、このDRAM100
は、沢山のメモリセルを備えたメモリセルアレイ85
と、外部的に与えられるアドレス信号A0ないしAnを
受けるアドレスバッファ81と、受信されたアドレス信
号に応答してメモリセルアレイ85の行および列をそれ
ぞれ指定するためのロウデコーダー82およびカラムデ
コーダー83と、メモリセルから読出されたデータ信号
を増幅するためのセンスアンプ84とを含む。入力デー
タDiは、データインバッファ86を介して与えられ
る。出力データDoは、データアウトバッファ87を介
して出力される。DRAM100は、その中に設けられ
た様々な回路を制御するためのクロック信号を発生する
クロック信号発生器83を含む。このDRAM100
は、さらに基板バイアス電圧VBBを発生するためのV
BB発生回路89と、ワード線を活性化する際に電源電
圧Vccよりも高い電圧Vppを発生するためのVpp
発生回路93とを含む。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0054
【補正方法】変更
【補正内容】
【0054】図13は、VBB発生回路89のブロック
図である。このVBB発生回路89は、ディテクタ89
a、短周期リングオシレータ89b、第1のチャージポ
ンプ回路89c、長周期リングオシレータ89dおよび
第2のチャージポンプ回路89eを含む。ディテクタ8
9aは、第2のチャージポンプ回路89eの出力電圧が
一定電圧VBB(−V)よりも低下することを検出
し、短周期リングオシレータ89bを活性化する。短周
期リングオシレータ89bは、図15に示すごとく2つ
のスイッチングトランジスタ1pおよび1nを含む単位
インバータ15〜35をカスケード接続している。第1
のチャージポンプ回路89cは、短周期リングオシレー
タ89pの出力に応答して、メモリセルに含まれるトラ
ンジスタが活性化しないように、基板端子を負の電圧
(−3V)にバイアスするための電圧を発生する。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0060
【補正方法】変更
【補正内容】
【0060】動作において、長周期リングオシレータ9
3dにより長周期の出力信号が発生され、この長周期の
出力信号に応答して、第2のチャージポンプ回路93e
が正の電圧Vppを発生する。この電圧Vppが低下す
ると、ディテクタ93aが電圧Vppの低下を検出し、
短周期リングオシレータ93bを活性化する。それによ
り、第2のチャージポンプ回路93eにより発生された
電圧Vppに第1のチャージポンプ回路93cにより発
生された電圧が加えられ、ワード線WLの電位が上が
【手続補正5】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図12
【補正方法】変更
【補正内容】
【図12】

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力端子と出力端子との間にカスケード
    接続される複数のインバータを含み、出力端子の信号を
    入力端子に帰還させることにより所定周期の出力信号を
    発生するリングオシレータであって、 前記複数のインバータの各々は、 入力信号のレベルに応答して相補的にオン/オフする第
    1および第2のトランジスタと、 前記第1および第2のトランジスタのサイズで決まる入
    力キャパシタに関係付けられた相互コンダクタンスを有
    し、前記所定周期の出力信号を得るように前記第1およ
    び第2のトランジスタへの電流供給量を制限するための
    電流制限手段と、 を含むことを特徴とするリングオシレータ。
  2. 【請求項2】 前記第1および第2のトランジスタの各
    々は、一方電極、他方電極および制御電極を含み、前記
    第1のトランジスタは、その一方電極が電源ノードに接
    続され、その他方電極が前記電流制限手段に接続され、
    前記第2のトランジスタは、その一方電極が接地ノード
    に接続され、その他方電極が前記電流制限手段に接続さ
    れ、その制御電極が前記第1のトランジスタの制御電極
    とともに入力信号を受けるように接続される、前記請求
    項1記載のリングオシレータ。
  3. 【請求項3】 前記電流制限手段は、第1のトランジス
    タの他方電極と当該インバータの出力ノードとの間に接
    続される第3のトランジスタと、前記第2のトランジス
    タの他方電極と当該インバータの出力ノードとの間に接
    続される第4のトランジスタと、前記第3および第4の
    トランジスタの制御電極に作動的に結合され、前記第3
    および第4のトランジスタに流れる電流量を決定するた
    めの電流決定手段を含む、前記請求項2記載のリングオ
    シレータ。
  4. 【請求項4】 各々が入力信号のレベルに応答して相補
    的にオン/オフする第1および第2のトランジスタを含
    む複数の第1のインバータを、入力端子と出力端子との
    間にカスケード接続し、ある周期の出力信号を発生する
    第1のリングオシレータと、 前記発生されたある周期の出力信号に応答して第1の電
    圧を発生する第1の電圧発生手段と、 入力信号のレベルに応答して相補的にオン/オフする第
    3および第4のトランジスタと、前記第3および第4の
    トランジスタのサイズで決まる入力キャパシタに関係付
    けられた相互コンダクタンスを有し前記ある周期の出力
    信号よりも長い周期の出力信号を得るように前記第3お
    よび第4のトランジスタへの電流供給量を制限するため
    の電流制限手段とを各々が含む複数の第2のインバータ
    を、入力端子と出力端子との間にカスケード接続し、前
    記ある周期よりも長い周期の出力信号を発生する第2の
    リングオシレータと、 前記第2のリングオシレータにより発生された出力信号
    に応答して第2の電圧を常時発生する第2の電圧発生手
    段と、 前記第2の電圧発生手段により発生される第2の電圧の
    レベル低下を検出し、前記第1のリングオシレータを駆
    動するレベル低下検出手段と、 を含むことを特徴とする定電圧発生回路。
JP4296945A 1992-11-06 1992-11-06 リングオシレータおよび定電圧発生回路 Pending JPH06152334A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4296945A JPH06152334A (ja) 1992-11-06 1992-11-06 リングオシレータおよび定電圧発生回路
DE4337499A DE4337499A1 (de) 1992-11-06 1993-11-03 Ringoszillator und Konstantspannungserzeugungsschaltung
KR1019930023233A KR940012796A (ko) 1992-11-06 1993-11-03 링 오실레이터(Ring Oscillator) 및 정전압 발생회로
US08/147,268 US5446418A (en) 1992-11-06 1993-11-05 Ring oscillator and constant voltage generation circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4296945A JPH06152334A (ja) 1992-11-06 1992-11-06 リングオシレータおよび定電圧発生回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06152334A true JPH06152334A (ja) 1994-05-31

Family

ID=17840218

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4296945A Pending JPH06152334A (ja) 1992-11-06 1992-11-06 リングオシレータおよび定電圧発生回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5446418A (ja)
JP (1) JPH06152334A (ja)
KR (1) KR940012796A (ja)
DE (1) DE4337499A1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007505596A (ja) * 2003-09-08 2007-03-08 ペレグリン セミコンダクター コーポレーション チャージポンプ装置及び出力電源生成方法
JP2008244546A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Seiko Npc Corp アナログdll回路
KR101380342B1 (ko) * 2012-09-20 2014-04-02 부산대학교 산학협력단 링 오실레이터
US8816659B2 (en) 2010-08-06 2014-08-26 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US8994452B2 (en) 2008-07-18 2015-03-31 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US9264053B2 (en) 2011-01-18 2016-02-16 Peregrine Semiconductor Corporation Variable frequency charge pump
US9354654B2 (en) 2011-05-11 2016-05-31 Peregrine Semiconductor Corporation High voltage ring pump with inverter stages and voltage boosting stages
US9660590B2 (en) 2008-07-18 2017-05-23 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE38482E1 (en) * 1992-05-28 2004-03-30 Rambus Inc. Delay stage circuitry for a ring oscillator
US5485490A (en) * 1992-05-28 1996-01-16 Rambus, Inc. Method and circuitry for clock synchronization
JP3626521B2 (ja) 1994-02-28 2005-03-09 三菱電機株式会社 基準電位発生回路、電位検出回路および半導体集積回路装置
JPH08130449A (ja) * 1994-11-01 1996-05-21 Mitsubishi Electric Corp 電圧制御型遅延回路およびそれを用いた内部クロック発生回路
JP3519143B2 (ja) * 1994-11-17 2004-04-12 三菱電機株式会社 電流型インバータ回路、電流型論理回路、電流型ラッチ回路、半導体集積回路、電流型リング発振器、電圧制御発振器及びpll回路
JP3497601B2 (ja) * 1995-04-17 2004-02-16 松下電器産業株式会社 半導体集積回路
DE69637439T2 (de) * 1995-06-16 2009-03-05 Rohm Co. Ltd., Kyoto Ringoszillatorschaltung und chipkarte
US5796313A (en) * 1996-04-25 1998-08-18 Waferscale Integration Inc. Low power programmable ring oscillator
JP2917914B2 (ja) * 1996-05-17 1999-07-12 日本電気株式会社 昇圧回路
KR0177586B1 (ko) * 1996-06-29 1999-04-01 김주용 오실레이터 출력 발생장치
US5917351A (en) * 1997-08-21 1999-06-29 National Science Council Relay-race FLL/PLL high-speed timing acquisition device
KR100475316B1 (ko) * 1997-09-04 2005-03-10 실리콘 이미지, 인크.(델라웨어주 법인) 피크 주파수들에서의 감소된 전자기 간섭을 위한 다수의동기화된 신호들의 제어 가능 딜레이들
JPH11312393A (ja) * 1998-02-19 1999-11-09 Sanyo Electric Co Ltd 半導体メモリ装置の書き込み回路
JPH11260053A (ja) * 1998-03-12 1999-09-24 Nec Corp 半導体記憶装置の昇圧回路
JPH11328973A (ja) * 1998-05-20 1999-11-30 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体記憶装置
US6411133B1 (en) * 1999-06-30 2002-06-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device
US6553545B1 (en) * 2000-06-29 2003-04-22 Intel Corporation Process parameter extraction
US6804502B2 (en) * 2001-10-10 2004-10-12 Peregrine Semiconductor Corporation Switch circuit and method of switching radio frequency signals
JP3871551B2 (ja) * 2001-11-08 2007-01-24 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 電圧供給回路
US7069525B2 (en) * 2003-07-18 2006-06-27 International Business Machines Corporation Method and apparatus for determining characteristics of MOS devices
EP3570374B1 (en) 2004-06-23 2022-04-20 pSemi Corporation Integrated rf front end
US7910993B2 (en) 2005-07-11 2011-03-22 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFET's using an accumulated charge sink
US20080076371A1 (en) 2005-07-11 2008-03-27 Alexander Dribinsky Circuit and method for controlling charge injection in radio frequency switches
US7890891B2 (en) * 2005-07-11 2011-02-15 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
USRE48965E1 (en) 2005-07-11 2022-03-08 Psemi Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US8742502B2 (en) 2005-07-11 2014-06-03 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US9653601B2 (en) 2005-07-11 2017-05-16 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
DE102007009525B4 (de) * 2007-02-27 2008-11-27 Infineon Technologies Ag Konzept zum Erzeugen eines versorgungsspannungsabhängigen Taktsignals
US7960772B2 (en) 2007-04-26 2011-06-14 Peregrine Semiconductor Corporation Tuning capacitance to enhance FET stack voltage withstand
EP2255443B1 (en) 2008-02-28 2012-11-28 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in digitally tuning a capacitor in an integrated circuit device
US9030248B2 (en) * 2008-07-18 2015-05-12 Peregrine Semiconductor Corporation Level shifter with output spike reduction
JP2011035949A (ja) * 2009-07-29 2011-02-17 Renesas Electronics Corp 電源回路及び半導体装置
US9443431B1 (en) * 2012-05-08 2016-09-13 Western Digital Technologies, Inc. System and method for preventing undesirable substantially concurrent switching in multiple power circuits
US9590674B2 (en) 2012-12-14 2017-03-07 Peregrine Semiconductor Corporation Semiconductor devices with switchable ground-body connection
US9112484B1 (en) * 2012-12-20 2015-08-18 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Integrated circuit process and bias monitors and related methods
US20150236798A1 (en) 2013-03-14 2015-08-20 Peregrine Semiconductor Corporation Methods for Increasing RF Throughput Via Usage of Tunable Filters
US9954437B2 (en) * 2014-02-28 2018-04-24 Micron Technology, Inc. Charge pump
US9831857B2 (en) 2015-03-11 2017-11-28 Peregrine Semiconductor Corporation Power splitter with programmable output phase shift
US9948281B2 (en) 2016-09-02 2018-04-17 Peregrine Semiconductor Corporation Positive logic digitally tunable capacitor
US10236872B1 (en) 2018-03-28 2019-03-19 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US10505530B2 (en) 2018-03-28 2019-12-10 Psemi Corporation Positive logic switch with selectable DC blocking circuit
US10886911B2 (en) 2018-03-28 2021-01-05 Psemi Corporation Stacked FET switch bias ladders
US11476849B2 (en) 2020-01-06 2022-10-18 Psemi Corporation High power positive logic switch
EP4106191A1 (en) * 2021-06-15 2022-12-21 STMicroelectronics (ALPS) SAS Ring oscillator circuit

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6139722A (ja) * 1984-07-31 1986-02-25 Nippon Gakki Seizo Kk 遅延時間安定化回路
JPS6187416A (ja) * 1984-09-20 1986-05-02 Seiko Epson Corp 遅延装置
JPS61170910A (ja) * 1985-01-23 1986-08-01 Seiko Epson Corp 書込み補償回路
JPS62181523A (ja) * 1986-02-06 1987-08-08 Seiko Epson Corp タイマ−回路
JPS63119315A (ja) * 1987-10-09 1988-05-24 Seiko Epson Corp 電圧制御発振器
JPH01300614A (ja) * 1988-05-27 1989-12-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd リングオシレータ型発振回路
JPH0430569A (ja) * 1990-05-28 1992-02-03 Toshiba Corp 基板電位発生回路
JPH0514136A (ja) * 1991-01-17 1993-01-22 Natl Semiconductor Corp <Ns> 利得定数及びデユーテイサイクル補償を有する高周波数cmos vco
JPH05217373A (ja) * 1991-11-29 1993-08-27 Nec Corp 半導体集積回路
JPH05327425A (ja) * 1992-05-15 1993-12-10 Nec Corp 発振回路
JPH0621776A (ja) * 1992-07-01 1994-01-28 Sanyo Electric Co Ltd 電圧制御型発振回路
JPH0660648A (ja) * 1992-08-07 1994-03-04 Mitsubishi Electric Corp パルス信号発生回路および半導体記憶装置
JPH0661801A (ja) * 1992-08-06 1994-03-04 Mitsubishi Electric Corp 発振器
JPH06169237A (ja) * 1991-09-13 1994-06-14 Mitsubishi Electric Corp リングオシレータ回路

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5937611B2 (ja) * 1979-01-17 1984-09-11 株式会社日本自動車部品総合研究所 抵抗容量型発振回路
JPS5673919A (en) * 1979-11-22 1981-06-19 Toshiba Corp Oscillation circuit
US4388536A (en) * 1982-06-21 1983-06-14 General Electric Company Pulse generator for IC fabrication
US4536720A (en) * 1983-11-14 1985-08-20 International Business Machines Corporation Programmable oscillator with power down feature and frequency adjustment
JPH0732342B2 (ja) * 1984-12-21 1995-04-10 ヤマハ株式会社 アナログ遅延回路
JPS6324712A (ja) * 1986-07-17 1988-02-02 Toshiba Corp Mos型半導体回路
GB2214017A (en) * 1987-12-22 1989-08-23 Philips Electronic Associated Ring oscillator
US4910471A (en) * 1989-02-15 1990-03-20 Ict International Cmos Technology, Inc. CMOS ring oscillator having frequency independent of supply voltage
JPH0799807B2 (ja) * 1990-03-09 1995-10-25 株式会社東芝 位相同期回路

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6139722A (ja) * 1984-07-31 1986-02-25 Nippon Gakki Seizo Kk 遅延時間安定化回路
JPS6187416A (ja) * 1984-09-20 1986-05-02 Seiko Epson Corp 遅延装置
JPS61170910A (ja) * 1985-01-23 1986-08-01 Seiko Epson Corp 書込み補償回路
JPS62181523A (ja) * 1986-02-06 1987-08-08 Seiko Epson Corp タイマ−回路
JPS63119315A (ja) * 1987-10-09 1988-05-24 Seiko Epson Corp 電圧制御発振器
JPH01300614A (ja) * 1988-05-27 1989-12-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd リングオシレータ型発振回路
JPH0430569A (ja) * 1990-05-28 1992-02-03 Toshiba Corp 基板電位発生回路
JPH0514136A (ja) * 1991-01-17 1993-01-22 Natl Semiconductor Corp <Ns> 利得定数及びデユーテイサイクル補償を有する高周波数cmos vco
JPH06169237A (ja) * 1991-09-13 1994-06-14 Mitsubishi Electric Corp リングオシレータ回路
JPH05217373A (ja) * 1991-11-29 1993-08-27 Nec Corp 半導体集積回路
JPH05327425A (ja) * 1992-05-15 1993-12-10 Nec Corp 発振回路
JPH0621776A (ja) * 1992-07-01 1994-01-28 Sanyo Electric Co Ltd 電圧制御型発振回路
JPH0661801A (ja) * 1992-08-06 1994-03-04 Mitsubishi Electric Corp 発振器
JPH0660648A (ja) * 1992-08-07 1994-03-04 Mitsubishi Electric Corp パルス信号発生回路および半導体記憶装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010119292A (ja) * 2003-09-08 2010-05-27 Peregrine Semiconductor Corp チャージポンプ装置及び出力電源生成方法
JP2013031366A (ja) * 2003-09-08 2013-02-07 Peregrine Semiconductor Corp チャージポンプ装置及び出力電源生成方法
US9190902B2 (en) 2003-09-08 2015-11-17 Peregrine Semiconductor Corporation Low noise charge pump method and apparatus
JP2007505596A (ja) * 2003-09-08 2007-03-08 ペレグリン セミコンダクター コーポレーション チャージポンプ装置及び出力電源生成方法
US10965276B2 (en) 2003-09-08 2021-03-30 Psemi Corporation Low noise charge pump method and apparatus
JP2008244546A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Seiko Npc Corp アナログdll回路
US9660590B2 (en) 2008-07-18 2017-05-23 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US8994452B2 (en) 2008-07-18 2015-03-31 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US9429969B2 (en) 2008-07-18 2016-08-30 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US11662755B2 (en) 2010-08-06 2023-05-30 Psemi Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US8816659B2 (en) 2010-08-06 2014-08-26 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US11188106B2 (en) 2010-08-06 2021-11-30 Psemi Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US9264053B2 (en) 2011-01-18 2016-02-16 Peregrine Semiconductor Corporation Variable frequency charge pump
US9413362B2 (en) 2011-01-18 2016-08-09 Peregrine Semiconductor Corporation Differential charge pump
US9354654B2 (en) 2011-05-11 2016-05-31 Peregrine Semiconductor Corporation High voltage ring pump with inverter stages and voltage boosting stages
KR101380342B1 (ko) * 2012-09-20 2014-04-02 부산대학교 산학협력단 링 오실레이터

Also Published As

Publication number Publication date
DE4337499A1 (de) 1994-06-01
KR940012796A (ko) 1994-06-24
US5446418A (en) 1995-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06152334A (ja) リングオシレータおよび定電圧発生回路
JP3026474B2 (ja) 半導体集積回路
JP3519547B2 (ja) 中間電圧発生回路及びこれを有する不揮発性半導体メモリ
US6201434B1 (en) Semiconductor integrated circuit device having an oscillation circuit using reference current source independent from influence of variation of power supply voltage and threshold voltage of transistor
JP2006277915A (ja) フラッシュメモリ素子のページバッファ及びそのプログラム動作制御方法
JPS61104394A (ja) 半導体記憶装置
KR930001654B1 (ko) 반도체 메모리 집적회로
JP3532721B2 (ja) 定電圧発生回路
US6865129B2 (en) Differential amplifier circuit with high amplification factor and semiconductor memory device using the differential amplifier circuit
JP2002260393A (ja) 昇圧電圧発生回路
JP2001273784A (ja) 昇圧回路および半導体記憶装置
US6943603B2 (en) Pulse generating circuit and semiconductor device provided with same
JPH07113862B2 (ja) 基準電圧発生回路
JPH0778471A (ja) 半導体集積回路
US5671181A (en) Data read circuit used in semiconductor storage device
US6404221B1 (en) Threshold invariant voltage detecting device
JPH11214978A (ja) 半導体装置
JPH10312689A (ja) 安定したデータラッチ動作のためのsram及びその駆動方法
JP2000090685A (ja) 電流型センスアンプ回路及びそのセンス方法並びに低電流機能を備えた電流型センスアンプ回路
US20020113627A1 (en) Input buffer circuit capable of suppressing fluctuation in output signal and reducing power consumption
KR100464435B1 (ko) 저 전력의 하프 전압 발생 장치
JP3737374B2 (ja) センスアンプ回路
JP2723714B2 (ja) 半導体メモリ
JP2001028195A (ja) 遅延回路および半導体メモリ
JP2885670B2 (ja) Cr発振回路

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980818