JP2723714B2 - 半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリ

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JP2723714B2
JP2723714B2 JP3260184A JP26018491A JP2723714B2 JP 2723714 B2 JP2723714 B2 JP 2723714B2 JP 3260184 A JP3260184 A JP 3260184A JP 26018491 A JP26018491 A JP 26018491A JP 2723714 B2 JP2723714 B2 JP 2723714B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体メモリに関し、特
に選択したワード線下のメモリセル全てに同じ情報を書
き込む機能(フラッシュライト機能)を有する半導体メ
モリに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体メモリのフラッシュライト
データを供給する出力バッファは、単純なCMOSイン
バータを使用していた。
【0003】図3には、このような従来のフラッシュラ
イト機能を有した半導体メモリの回路を示している。
【0004】図3において、従来の半導体メモリは、
P,Nチャネル型MOSトランジスタからなるフラッシ
ュライトデータ出力バッファ1と、ビット線バランス信
号PDLがゲート入力となるNチャネル型MOSトラン
ジスタ12,13と、ビット線DL,DL(反転値)
と、ワード線WLと、フラッシュライトスイッチ制御信
号FWSWがゲート入力となるNチャネル型MOSトラ
ンジスタ10,11と、センスアンプ活性化信号SE
P;SENがそれぞれ接続されたPチャネル型MOSト
ランジスタ16,17;Nチャネル型MOSトランジス
タ18,19と、メモリセルとなるコンデンサ15,N
チャネル型MOSトランジスタ20と、ビット線に接続
されるNチャネル型MOSトランジスタ14と、2個の
抵抗Rとを備えている。
【0005】図3と、図4に示す動作信号波形のタイミ
ング図により、従来のフラッシュライト動作について説
明する。図3,図4において、最初ビット線バランス信
号PDLにより、ビット線DL,DL(反転値)は、1
/2Vccに保たれている。その次に、PDL信号が低
(Low)となり、ビット線DL,DL(反転値)は1
/2Vccフローティングとなる。その次に、ワード線
WLとフラッシュライトスイッチ制御信号FWSWが高
(High)となる事により、ビット線DL,DL(反
転値)はフラッシュライトデータの影響を受ける。その
時のビット線の信号差をセンスアンプ活性化信号SE
P,SENを活性化する事により増幅させる。その時点
でワード線WLは、Highレベルとなっているので、
メモリセル15にはビット線上のフラッシュライトデー
タが伝わる事となり、フラッシュライト動作の完了とな
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のフラ
ッシュライト動作では、フラッシュライトスイッチ制御
信号FWSWがHighレベルとなった後センスアンプ
が活性化するまでの期間に(t1〜t2)、ビット線D
L,DL(反転値)がおのおの〔1/2Vcc+VT以
上〕又は〔1/2Vcc−VT〕以下となるため、セン
スアンプのPチャネル(ch)及びNchトランジスタ
の片側がONする事により、DC電流が流れてしまうと
いう問題点があった。
【0007】本発明の目的は、前記問題点を解決し、D
C電流が流れないようにした半導体メモリを提供するこ
とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の構成は、メモリ
セルに導入される第1のフラッシュライトデータバス及
び前記バスの反転信号となる第2のフラッシュライトデ
ータバスに各々接続された第1,第2の出力バッファを
備えた半導体メモリにおいて、定電圧源間に、第1の抵
抗、第1,第2のMOSトランジスタ,第2の抵抗をこ
の順に接続した直列体を設け、前記第1の抵抗と前記第
1のMOSトランジスタとの共通接続点、及び前記第2
のMOSトランジスタと第2の抵抗との共通接続点を前
記第1,第2の出力バッファの主電極に各々接続したこ
とを特徴とする。
【0009】
【実施例】図1は本発明の一実施例のフラッシュライト
機能を有した半導体メモリの回路図である。
【0010】図2はその回路がフラッシュライト動作を
行った時の動作信号波形を示すタイミング図である。
【0011】図1,図2において、本実施例の半導体メ
モリが、図3と異なる部分は、フラッシュライトデータ
出力バッファ1のドレイン又はソースに接続される回路
部であり、その他の部分は図3と同様である。
【0012】本回路部は、2個の抵抗R,Nチャネル型
MOSトランジスタ21,Pチャネル型MOSトランジ
スタ22の直列体である。この直列体の節点40,41
が前記出力バッファに接続される。さらに、この直列体
の節点43は、図3の抵抗Rの直列体の節点42に接続
される。
【0013】また、図2のビット線の電圧レベルの(t
1−t2)期間が、図4と大きく相違する点の一つであ
る。
【0014】ビット線バランス信号PDL,ワード線W
L,フラッシュライトスイッチ制御信号FWSW,セン
スアンプ活性化信号SEP,SENは、従来回路と同じ
動きを行う。
【0015】しかし、本実施例の回路では、フラッシュ
ライトデータを供給する出力バッファ1のHighレベ
ルが〔1/2Vcc+VT〕レベル,Lowレベルが
〔1/2Vcc−VT〕レベルまでしか供給されないの
で、フラッシュライトスイッチ制御信号FWSWがHi
ghレベルになっつから、センスアンプが活性化するま
での期間(t1〜t2)にビット線が〔1/2Vcc+
VT〕レベル以上,〔1/2Vcc−VT〕レベル以下
に変化する事は無い。
【0016】このように、本実施例によれば、抵抗R分
割による1/2Vccレベル接点にNchMOSトラン
ジスタ21のソースを接続し、そのドレインにゲートを
接続し、抵抗Rを介して電源電圧Vccに接続し、前記
接点にPchトランジスタ22のソースを接続し、その
ドレインにゲートを接続し、抵抗Rを介してGNDに接
続した回路の、前記Nchトランジスタ21のドレイン
を、ビット線にフラッシュライトするデータを供給する
CMOSインバータ出力バッファ1のPchトランジス
タのソースに、また出力バッファ1のNchトランジス
タのソースに前述回路のPchトランジスタ22のドレ
インに接続していることを特徴とする半導体メモリが得
られる。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、フラッ
シュライト動作時フラッシュライトスイッチ制御信号F
WSWがHighレベルとなってからセンスアンプ活性
化する期間にビット線が1/2Vcc以上1/2Vcc
以下となる事がないためセンスアンプのPch及びNc
hトランジスタの片側がONする事によりDC電流が流
れる事はないという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の半導体メモリの回路図であ
る。
【図2】図1のフラッシュライト動作波形を示すタイミ
ング図である。
【図3】従来の半導体メモリを示す回路図である。
【図4】図3のフラッシュライト動作波形を示すタイミ
ング図である。
【符号の説明】
1 フラッシュライトデータ出力バッファ 2 フラッシュライトデータバス(反転値) 3 フラッシュライトデータバス 4,16,17,22 Pチャネル型MOSトランジ
スタ 5,10〜14,18,19,20,21 Nチャネ
ル型MOSトランジスタ 15 コンデンサ 40,41,42 節点 R 抵抗

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリセルに導入される第1のフラッシ
    ュライトデータバス及び前記バスの反転信号となる第2
    のフラッシュライトデータバスに各々接続された第1,
    第2の出力バッファを備えた半導体メモリにおいて、定
    電圧源間に、第1の抵抗、第1,第2のMOSトランジ
    スタ,第2の抵抗をこの順に接続した直列体を設け、前
    記第1の抵抗と前記第1のMOSトランジスタとの共通
    接続点、及び前記第2のMOSトランジスタと第2の抵
    抗との共通接続点を前記第1,第2の出力バッファの主
    電極に各々接続したことを特徴とする半導体メモリ。
  2. 【請求項2】 出力バッファが、P,Nチャネル型MO
    Sトランジスタからなり、主電極は前記トランジスタの
    ソース又はドレインである請求項1記載の半導体メモ
    リ。
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