JPH04219022A - ディジタルクロックバッファ回路 - Google Patents

ディジタルクロックバッファ回路

Info

Publication number
JPH04219022A
JPH04219022A JP3038702A JP3870291A JPH04219022A JP H04219022 A JPH04219022 A JP H04219022A JP 3038702 A JP3038702 A JP 3038702A JP 3870291 A JP3870291 A JP 3870291A JP H04219022 A JPH04219022 A JP H04219022A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
delay
circuit
clock
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3038702A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2892515B2 (ja
Inventor
W Daniel Hillis
ダブリュ. ダニエル ヒリス
Zahi S Abuhamdeh
ザヒ エス. アブハンダ
Bradley C Kuszmaul
ブラドレイ シー. クズモール
Shaw-Wen Yang
ショー ウェン ヤン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thinking Machines Corp
Original Assignee
Thinking Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thinking Machines Corp filed Critical Thinking Machines Corp
Publication of JPH04219022A publication Critical patent/JPH04219022A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2892515B2 publication Critical patent/JP2892515B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/04Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
    • G06F1/10Distribution of clock signals, e.g. skew
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/081Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
    • H03L7/0812Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
    • H03L7/0814Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the phase shifting device being digitally controlled
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/081Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
    • H03L7/0812Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
    • H03L7/0816Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter and the frequency- or phase-detection arrangement being connected to a common input
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/087Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal using at least two phase detectors or a frequency and phase detector in the loop
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル回路に関し
、特に、ディジタル回路を制御するために用いられるク
ロック信号の連続チック(tick)の相対的なタイミ
ングを制御するクロックバッファ制御回路に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】ディジタルシステムは、一般的に、1つ
またはそれ以上のクロック信号の連続チックに同期して
動作する。クロック信号のチックは、クロック信号の前
縁および後縁を表す電圧遷移により規定され、処理サイ
クルの1つのシーケンスにおいて、制御信号に応じてデ
ータ信号を復号化し、処理し、蓄積する処理回路を制御
する。ディジタルシステムによるデータ処理速度は、デ
ータ信号および制御信号が1処理サイクルで処理回路を
伝播するのに要する時間の最大値によりある程度決まる
【0003】典型的なディジタル回路は数多くの集積回
路チップを備え、これら集積回路チップは大部分が処理
回路により占められている。集積回路チップは1つまた
はそれ以上のクロック端子を有するものが多く、各クロ
ック端子にはチップ上のディジタル回路を制御するクロ
ック信号が入力されるようになっている。チップ上のク
ロック端子はクロックバッファ回路に接続されているの
が典型的であり、クロック信号をチップ上の処理回路に
分配するために用いられるライン回路網がクロックバッ
ファ回路により駆動されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】クロック信号がクロッ
クバッファ回路を伝播するに伴って種々遅延が生じるた
め、クロック信号のエッジが遅延され、その結果、クロ
ックバッファ回路出力端子から出力されるクロック信号
のエッジがクロック端子に入力されるクロック信号のエ
ッジと正確に一致しなくなる。このことは、システムで
用いられるチップでの伝播遅延がどのチップにおいても
一定であれば、大した問題ではないかもしれない。しか
し、実際には、チップごとに製品が変化するため、チッ
プからチップへの伝播遅延が実質的な量だけ変化するが
、その量は予測できない。この予測できない変化に対処
するには、クロック間隔をより広くしなければならない
(言い換えれば、エッジとエッジの間をより広くしなけ
ればならない)が、このようにすると、システムの処理
速度が遅くなってしまう。また、チップに起因する伝播
遅延が一定という基準を満足させるため、チップをシス
テムでの使用に合わせて試験し選別することができるが
、この試験、選別により、おそらくシステムのコストが
高くなってしまうであろう。
【0005】本発明の目的は、上記のような問題点を解
決し、入力されるシステムクロック信号の遷移に関連し
て、出力されるクロック信号のチックタイミングを制御
することができるディジタルクロックバッファ回路を提
供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】クロックバッファ回路は
システムクロック信号に応じて局部クロック信号を発生
するものである。クロックバッファ回路は媒介クロック
信号に応じて局部クロック信号を発生するバッファ回路
を含む。バッファ制御回路はシステムクロック信号およ
び局部クロック信号に応じて媒介クロック信号を発生す
るものである。バッファ回路によりさらに遅延し、局部
クロック信号によりシステムクロック信号に対する位相
関係が選択されるように、バッファ制御回路により遅延
を変化させる。クロックバッファ回路はシステムクロッ
ク信号に対して局部クロック信号の位相を制御するもの
である。クロックバッファ回路を例えば集積回路チップ
上で実現した場合は、製造工程での許容差に起因するチ
ップ間のタイミングのずれを除去することができる。こ
のようにすると、通常、製造許容差が厳しいために上が
るか、あるいは、製造後の選別により上がる製造コスト
を軽減することができる。また、システムを構成する種
々のチップの間で、局部クロック信号のタイミングのず
れを制御し、軽減することができるので、クロックバッ
ファ回路はチップ上の処理回路による処理数を増やすこ
とができる。
【0007】本発明は、媒介クロック信号(COMP 
 DEL  CLK)に応じてクロックバッファ出力信
号を発生するクロックバッファに接続されたクロックバ
ッファ制御回路において、システムクロック信号(SY
S  CLK  IN)が入力され、かつ、遅延制御信
号に応じて遅延が制御される前記媒介クロック信号を発
生する可変遅延素子(20)と、前記クロックバッファ
出力信号と前記システムクロック信号の位相差に応じて
位相比較信号を発生する位相比較器(23)と、前記位
相比較信号に応じて前記遅延制御信号を発生し、前記可
変遅延素子による遅延を制御し、システムクロック信号
とクロックバッファ出力信号の間に所定のタイミング関
係を与える遅延制御回路(22)とを備えたことを特徴
とする。
【0008】本発明は、可変遅延素子は、システムクロ
ック信号を入力し、遅延線制御信号に応じて前記媒介ク
ロック信号を発生する制御可能可変遅延線(26Aまた
は26Bおよび30)と、前記遅延制御信号に応じて前
記遅延線制御信号を発生する遅延線制御回路(27A,
27B)とを備えたことを特徴とする。
【0009】本発明は、制御可能可変遅延線は、遅延素
子(40(i)(j))が直列接続され、かつ、前記シ
ステムクロック信号が入力される第1遅延素子を含む遅
延素子群と、該遅延素子群のうち選択された遅延素子か
らの信号が入力される複数のデータ入力端子と、前記媒
介クロック信号を出力する1つの出力端子と、前記遅延
線制御信号が入力される制御端子とを有し、かつ、所定
量だけ遅延させるための前記遅延線制御信号に応じて、
前記複数のデータ入力端子のうちの1つを選択し、選択
された入力端子の信号を前記出力端子から出力するマル
チプレクサ回路(42A−42D)とを備えたことを特
徴とする。
【0010】本発明は、遅延線制御回路は、出力信号を
発生し、かつ、前記遅延線制御回路からの方向性カウン
トイネーブル信号に応じて動作する2進カウンタ(27
A,27B)を備え、前記遅延線制御信号は2進カウン
タにより発生された出力信号を備えていることを特徴と
する。
【0011】本発明は、制御可能可変遅延線はランクを
直列接続したランク群(41)を備え、ランクの1つが
第1ランクであり、前記ランク群は、遅延素子が直列に
接続され、かつ、各ランクの遅延素子の1つがそれぞれ
のランクの第1遅延素子であり、該第1遅延素子に前記
システムクロック信号が入力されている遅延素子群(4
0(i)(j))と、当該ランクの遅延素子のうちの選
択された遅延素子からの信号が入力される複数の入力端
子と、当該ランクの次のランクの第1遅延素子にクロッ
ク信号を出力する1つの出力端子と、遅延線制御信号が
入力される1つの制御端子とを有し、かつ、当該ランク
の遅延を選択する遅延線制御信号に応じて前記複数の入
力端子のうちの1つの入力端子を選択し、選択された入
力端子の信号を前記出力端子から出力するマルチプレク
サ回路とを備えたことを特徴とする。
【0012】本発明は、遅延素子群はその遅延量がラン
ク単位で連続して減少することを特徴とする。
【0013】本発明は、1つのランクの各遅延素子はそ
の遅延量がランクを直列接続したランク群の全遅延素子
群の遅延量とほとんど同一であることを特徴とする。
【0014】本発明は、遅延制御回路は出力信号を出力
し、かつ、前記遅延線制御回路からの方向性カウントイ
ネーブル信号に応じて動作する2進カウンタ(27A,
27B)を備え、前記遅延線制御信号は2進カウンタに
より発生された出力信号を備えていることを特徴とする
【0015】本発明は、可変遅延素子は、システムクロ
ック信号を入力し、第1および第2遅延線制御信号に応
じて第1および第2遅延クロック信号を発生する制御可
能可変遅延線(26Aまたは26Bおよび30)と、前
記遅延線制御信号に応じて前記第1および第2遅延線制
御信号を発生する遅延線制御回路(27A,27B)と
、前記遅延制御回路からの選択信号に応じて、前記第1
および第2遅延クロック信号のうちの1つの信号を媒介
クロック信号として出力するセレクタ(31)とを備え
たことを特徴とする。
【0016】本発明は、各制御可能可変遅延線は、前記
システムクロック信号が入力される第1遅延素子を含み
、かつ、遅延素子(40(i)(j))が直列に接続さ
れた遅延素子群と、前記遅延素子群のうちの選択された
遅延素子からの信号が入力される複数の入力端子と、前
記第1および第2クロック信号を出力する1つの出力端
子と、前記遅延線制御信号が入力される制御端子とを有
し、かつ、所定量だけ遅延させるための前記遅延線制御
信号に応じて、前記複数のデータ入力端子のうちの1つ
を選択し、選択された入力端子の信号を出力端子から出
力するマルチプレクサ回路(42A−42D)とを備え
たことを特徴とする。
【0017】本発明は、各制御可能可変遅延線は、出力
信号を発生し、かつ、前記遅延線制御回路からの第1お
よび第2方向性カウントイネーブル信号に応じて動作す
る2進カウンタ(27A,27B)を備え、前記遅延線
制御信号は各2進カウンタにより発生された出力信号を
備えていることを特徴とする。
【0018】本発明は、各制御可能可変遅延線がランク
を直列接続したランク群(41)を備え、ランクの1つ
が第1ランクであり、前記ランク群は、遅延素子が直列
に接続され、かつ、遅延素子の1つがそれぞれのランク
の第1遅延素子であり、該第1遅延素子に前記システム
クロック信号が入力されている遅延素子群(40(i)
(j))と、当該ランクの遅延素子のうちの選択された
遅延素子からの信号が入力される複数の入力端子と、当
該ランクの次のランクの第1遅延素子にクロック信号を
出力する1つの出力端子と、遅延線制御信号が入力され
る1つの制御端子とを有し、かつ、当該ランクの遅延を
選択する遅延線制御信号に応じて前記複数の入力端子の
うちの1つを選択し、選択された入力端子の信号を前記
出力端子から出力するマルチプレクサ回路とを備えたこ
とを特徴とする。
【0019】本発明は、遅延素子群はその遅延量がラン
ク単位で連続して減少することを特徴とする。
【0020】本発明は、1つのランクの各遅延素子はそ
の遅延量が当該ランクより後の全てのランクの全遅延素
子群の遅延量と同一であることを特徴とする。
【0021】本発明は、遅延制御回路は出力信号を出力
し、かつ、前記遅延線制御回路からの方向性カウントイ
ネーブル信号に応じて動作する2進カウンタ(27A,
27B)を備え、前記遅延線制御信号は2進カウンタに
より発生された出力信号を備えていることを特徴とする
【0022】本発明は、可変遅延素子は、前記第1およ
び第2遅延クロック信号の間の位相関係を示す遅延クロ
ック位相関係信号を発生する位相比較回路(32A,3
2B)を備え、前記遅延制御回路(22)は前記遅延ク
ロック位相関係信号に応じて前記選択信号を発生するこ
とを特徴とする。
【0023】本発明は、位相比較回路は、前記第1およ
び第2遅延クロック信号の一方の位相と他方の位相を比
較した結果に応じて、位相関係信号を発生する第1およ
び第2遅延クロック位相比較器(32A,32B)を含
むことを特徴とする。
【0024】本発明は、セレクタは、そのデータ入力端
子に前記第1および第2遅延クロック信号が入力され、
制御端子の選択制御信号に応じて、前記第1および第2
遅延クロック信号のいずれか一方を媒介クロック信号と
してデータ出力端子から出力するマルチプレクサ(70
)と、前記第1および第2遅延クロック信号と前記遅延
制御回路からの前記選択信号に応じて、前記選択制御信
号を発生する制御回路(72,73)とを含むことを特
徴とする。
【0025】本発明は、制御回路は、入力された前記遅
延制御回路からの前記選択信号に応じて、選択信号を濾
波するフィルタ回路(72)と、選択制御回路(73)
とを備え、前記選択制御回路(73)は、濾波された選
択信号と選択制御信号の条件に応じて選択比較信号を発
生する比較器(86,90)と、第1および第2遅延ク
ロック信号の選択された位相関係に応じて、位相関係信
号を発生する位相検出回路(85)と、前記選択比較信
号と前記位相関係信号とに応じて、前記選択制御信号を
発生する選択制御信号発生回路(83,84)とを含む
ことを特徴とする。
【0026】本発明は、フィルタ回路(72)は、前記
選択信号が入力され、遅延選択信号に応じて発生する遅
延回路(74,75,76)と、前記選択信号と前記遅
延制御信号が入力され、かつ、前記選択信号と前記遅延
選択信号が異なる場合は、変化コンディションを有し、
両信号のコンディションが同一である場合は、保持コン
ディションを有する選択制御信号を発生する比較回路(
23)と、前記遅延回路と前記比較回路に接続され、か
つ、濾波された選択信号を発生し、かつ、(i)遅延選
択信号を、変化コンディションを有する選択制御信号に
応じて、濾波された選択信号として出力し、(ii)保
持コンディションを有する選択制御信号に応じて、濾波
された選択信号を維持する選択回路(81,82)とを
備えたことを特徴とする。本発明は、位相比較器(23
)は、前記クロックバッファ出力信号と前記システムク
ロック信号の間の選択された位相関係に応じて、位相識
別信号を発生する位相検出器(110)と、入力された
位相識別信号に応じて前記位相比較信号を発生するデコ
ーダ(112)とを備えたことを特徴とする。
【0027】本発明は、入力された位相識別信号を濾波
するフィルタ(111)を備え、前記ディコーダは前記
濾波された位相識別信号に応じて位相比較信号を発生す
ることを特徴とする。
【0028】本発明は、フィルタは前記位相識別信号を
それぞれ濾波するフィルタパスよりなるフィルタパス群
を含み、各フィルタパスは、入力された前記位相識別信
号の1つを遅延する遅延回路(122A−125A,1
22B−125B)と、前記位相識別信号と前記遅延位
相識別信号とが入力され、(i)位相識別信号と前記遅
延位相識別信号のコンディションが異なる場合は、変化
コンディションを有し、(ii)位相識別信号と前記遅
延位相識別信号のコンディションが同一である場合は、
保持コンディションを有する選択制御信号を発生する比
較回路(130A,130B,131)と、前記遅延回
路と前記比較回路に接続され、濾波された位相識別信号
を発生し、かつ、(i)変化コンディションを有する選
択制御信号に応じて、遅延位相選択信号を、濾波された
選択信号として出力するか、あるいは、(ii)保持コ
ンディションを有する選択制御信号に応じて、濾波され
た位相選択信号を維持する選択回路(126A,127
A,126B,127B)とを備えたことを特徴とする
【0029】本発明は、位相検出器は、遅延システムク
ロック信号を発生し、遅延システムクロック信号とシス
テムクロック信号により時間窓が規定されるシステムク
ロック遅延回路(117)と、クロックバッファ出力信
号と時間窓の間の選択された関係に応じて、位相比較信
号を発生する基準比較回路(115,116,120)
とを備えたことを特徴とする。
【0030】本発明は、i.システムクロック信号が入
力され、かつ、第1および第2遅延線制御信号に応じて
第1および第2遅延クロック信号を発生し、かつ、(a
)複数の遅延素子が直列に接続され、前記複数の遅延素
子の1つである第1遅延素子に前記システムクロック信
号が入力される遅延素子群(40(i)(j))と、(
b)前記複数の遅延素子のうち選択された遅延素子の端
子からの信号が入力される複数のデータ入力端子と、媒
介クロック信号を出力する1つのデータ出力端子と、前
記遅延線制御信号が入力される制御端子とを有し、かつ
、選択された遅延を得るための遅延線制御信号に応じて
、前記複数のデータ入力端子のうちの1つの端子からの
信号を選択的にその出力端子から出力するマルチプレク
サ回路(42A−42D)と、(c)前記第1および第
2遅延クロック信号の間の位相関係を示す遅延クロック
位相関係信号を発生し、この信号に応じて、前記遅延制
御回路により前記選択信号を発生させる位相比較回路(
32A,32B)とを含む第1および第2制御可能遅延
線(26Aまたは26Bおよび30)と、ii.前記遅
延制御信号に応じて、第1および第2遅延線制御信号を
発生し、かつ、前記第1および第2方向性カウントイネ
ーブル信号に応じて動作する2進カウンタを備え、遅延
線制御信号は2進カウンタの出力を備えた第1および第
2遅延線制御回路(27A,27B)と、iii.前記
遅延制御回路からの選択信号に応じて、前記第1および
第2遅延クロック信号の一方を媒介クロック信号として
選択的に出力するセレクタ回路(31)とを含む可変遅
延素子と、各状態が以前の状態、位相比較信号、および
遅延クロック位相関係信号により決定される状態群で動
作する状態装置(図8)を具え、各状態で、前記方向性
カウントイネーブル信号と前記選択信号を選択的に発生
する遅延制御回路とを備えたことを特徴とする。
【0031】本発明は、媒介クロック信号(COMP 
 DEL  CLK)に応じてクロックバッファ出力信
号を発生するクロックバッファ(11)と、システムク
ロック信号が入力され、遅延制御信号に応じて制御され
る遅延を有する前記媒介クロック信号を発生する可変遅
延素子(20)と、前記クロックバッファ出力信号と前
記システムクロック信号の位相差に応じて位相比較信号
を発生する位相比較器(23)と、前記位相比較信号に
応じて前記遅延制御信号を発生し、前記可変遅延素子に
よる遅延を制御し、システムクロック信号とクロックバ
ッファ出力信号の間に所定のタイミング関係を与える遅
延制御回路(22)とを備えたことを特徴とする。
【0032】本発明は、入力信号と第1および第2コン
ディショニング制御信号に応じて、第1および第2コン
ディションド信号を発生し、かつ、第1および第2コン
ディショニング制御信号により決定された量だけ、選択
信号特性を変化させ、前記第1および第2コンディショ
ンド信号を発生させ、かつ、前記入力信号の選択された
特性と前記出力信号の選択された特性の間の関係を選択
する制御可能第1および第2可変信号コンディショニン
グ回路(26Aまたは26Bおよび30)と、選択信号
に応じて前記第1および第2コンディションド信号のう
ちのいずれかを出力信号として出力するセレクタ回路(
31)と、前記入力信号と出力信号との間の選択された
信号特性の差に応じて、前記コンディショニング回路に
より選択された信号特性のコンディショニングを制御す
るためのコンディション比較信号を発生するコンディシ
ョン比較器(23)と、前記コンディション比較信号に
応じて前記複合コンディション制御信号と前記選択信号
を発生する複合コンディション制御回路(22)とを備
えたことを特徴とする。
【0033】本発明は、第1および第2可変信号コンデ
ィショニング回路は、複数のコンディショニング素子を
直列に接続してなり、かつ、第1条件素子には前記入力
信号が入力され、その他のコンディショニング素子には
それぞれ別のコンディショニング素子からの信号が入力
されるコンディショニング素子群と、前記コンディショ
ニング素子群のうちの選択されたコンディショニング素
子からの信号が入力される複数の入力端子と、前記第1
または第2コンディションド信号を出力する1つの出力
端子と、前記複合コンディショニング制御信号が入力さ
れる制御端子とを有し、かつ、前記選択信号特性のコン
ディショニングを選択するための前記複合コンディショ
ニング制御信号に応じて、データ入力端子のうちの1つ
の入力端子の信号を選択して出力端子から出力するマル
チプレクサ回路とを備えたことを特徴とする。
【0034】本発明は、複合コンディション制御回路は
、出力信号を発生し、かつ、前記複合コンディション制
御回路からの第1および第2方向性カウントイネーブル
信号に応じて動作する2進カウンタ(27A,27B)
を備え、前記第1および第2コンディショニング制御信
号は前記2進カウンタによりそれぞれ発生された出力信
号を備えていることを特徴とする。
【0035】本発明は、ランクを直列接続したランク群
をそれぞれ具え、かつ、ランクの1つが第1ランクであ
る第1および第2可変信号コンディショニング回路群を
備え、かつ、前記ランク群の各ランクは、コンディショ
ニング素子を直列接続したコンディショニング素子群を
備え、各コンディショニング素子群はそれぞれ第1コン
ディショニング素子を含み、第1ランクの第1コンディ
ショニング素子には前記入力信号が入力され、他の第1
コンディショニング素子には他のランクの信号が入力さ
れ、他のコンディショニング素子群にはその他のコンデ
ィショニング素子群からの信号が入力されることを特徴
とし、かつ、各ランクは、当該ランクの複数のコンディ
ショニング素子のうち選択されたコンディショニング素
子端子からの信号が入力される複数のデータ入力端子と
、各ランクの第1コンディショニング素子に信号を出力
する1つの出力端子と、前記複合コンディショニング制
御信号が入力される制御端子とを具え、かつ、当該ラン
クのコンディショニングを選択するための複合コンディ
ショニング制御信号に応じて、前記複数のデータ入力端
子から1つのデータ入力端子を選択し、選択されたデー
タ入力端子の信号を前記出力端子から出力するマルチプ
レクサ回路を備えたことを特徴とする。
【0036】本発明は、コンディショニング素子群はそ
のコンディショニング量がランク単位で連続して減少す
ることを特徴とする。
【0037】本発明は、1つのランクの各コンディショ
ニング素子はそのコンディショニング量が当該ランクよ
り後の全てのランクの全遅延素子群のコンディショニン
グ量と同一であることを特徴とする。
【0038】本発明は、複合コンディション制御回路は
、出力信号を発生し、かつ、前記複合コンディション制
御回路からの方向性カウントイネーブル信号に応じて動
作する2進カウンタ(27A,27B)を備え、前記第
1および第2コンディショニング制御信号は2進カウン
タにより発生された出力信号を備えていることを特徴と
する。
【0039】本発明は、セレクタ回路は、データ入力端
子に入力された前記第1および第2コンディションド信
号のいずれか一方を、制御端子に入力される選択制御信
号に応じて選択し、出力信号として出力端子から出力す
るマルチプレクサ(70)と、前記第1および第2コン
ディションド信号と、前記複合コンディション制御回路
からの前記選択信号に応じて、前記選択制御信号を発生
するセレクタ制御回路(72,73)とを備えたことを
特徴とする。
【0040】本発明は、セレクタ制御回路は、前記複合
コンディション制御回路から入力される前記選択信号に
応じて、選択信号を濾波するフィルタ回路(72)と、
選択制御回路(73)とを有し、かつ、前記選択制御回
路は、選択制御信号と濾波された選択信号のコンディシ
ョンに応じて、選択比較信号を発生する選択制御回路(
86,90)と、第1および第2コンディションド信号
の選択された特性の間の関係に応じて、特性関係信号を
発生する特性検出回路(85)と、前記選択比較信号と
前記特性関係信号に応じて、前記選択制御信号を発生す
る選択制御信号発生回路(83,84)とを備えたこと
を特徴とする。
【0041】本発明は、フィルタ回路(72)は、前記
選択信号の入力に応じて、遅延選択信号を発生する遅延
回路(74,75,76)と、前記選択信号と前記遅延
選択信号が入力され、かつ、(i)前記選択信号のコン
ディションと前記遅延選択信号のコンディションが異な
る場合、変化コンディションを有する選択制御信号を発
生し、(ii)前記選択信号のコンディションと前記遅
延選択信号のコンディションが同一の場合、保持コンデ
ィションを有する選択制御信号を発生する比較回路(8
0)と、前記遅延回路および前記比較回路に接続され、
濾波された選択信号を発生し、かつ、(i)遅延された
選択信号を、変化コンディションを有する選択制御信号
に応じて、濾波された選択信号として出力するか、(i
i)濾波された選択信号を、保持コンディションを有す
る選択制御信号に応じて維持する選択回路(81,82
)とを備えたことを特徴とする。
【0042】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
【0043】図1はクロックバッファ回路10の構成を
示す。クロックバッファ回路10はバッファ11とバッ
ファ制御回路12を含み、両回路はシングル集積回路チ
ップ上に設けてある。クロックバッファ回路10を設け
たチップ外にある図示しないクロック回路により、周期
的なSYS  CLK  INシステムクロック信号が
発生され、クロックバッファ回路10はSYS  CL
K  INシステムクロック信号を入力し、1つまたは
それ以上のDEL  CLK  OUT遅延クロックア
ウト信号をチップ上の図示しない他の回路に出力する。 従来と同様に、SYS  CLK  INシステムクロ
ック信号は実質的には一定の周期を有する。すなわち、
同信号の連続する前縁により規定される遷移と遷移の間
の時間間隔が実質的に一定であり、同信号の連続する後
縁により規定される遷移と遷移の間の時間間隔が実質的
に一定である。 また、SYS  CLK  INシステムクロック信号
の連続するエッジとエッジの間の時間間隔は実質的に一
定である。この場合、SYS  CLK  INシステ
ムクロック信号は「50%デューティサイクル」を有す
ると言う。
【0044】クロックバッファ回路10はタイミング特
性がSYS  CLK  INシステムクロック信号と
実質的に同一であるDEL  CLK  OUT遅延ク
ロックアウト信号を発生するものである。すなわち、ク
ロックバッファ回路10は連続する前縁と連続する後縁
の間の間隔がSYS  CLK  INシステムクロッ
ク信号と実質的に同一であるDEL  CLK  OU
T遅延クロックアウト信号を発生する。その結果、両信
号はどちらも同一のデューティサイクルを有する。
【0045】また、本発明のクロックバッファ回路10
は、発生されるDEL  CLK  OUT遅延クロッ
クアウト信号の遷移タイミングを、SYS  CLK 
 INシステムクロック信号の対応する遷移のタイミン
グに対して予め定め、制御することができる。すなわち
、(1)DEL  CLK  OUT遅延クロックアウ
ト信号の前縁を規定する遷移は、どの遷移も、SYS 
 CLK  INシステムクロック信号の前縁を規定す
る遷移より、一定量、予め定めた量、および制御可能な
量だけ、早くなるかあるいは遅れ、(2)DEL  C
LK  OUT遅延クロックアウト信号の後縁を規定す
る遷移は、SYS  CLK  INシステムクロック
信号の後縁を規定する遷移と同一である。図1ないし図
8を参照して実施例を説明すると、クロックバッファ回
路は前縁と後縁のタイミングがそれぞれSYS  CL
K  INシステムクロック信号の前縁と後縁のタイミ
ングと実質的に同一であるDELCLK  OUT遅延
クロックアウト信号を発生するものである。実施例では
、SYS  CLK  INシステムクロック信号はそ
の周期が実質的に一定なので、クロックバッファ回路1
0により発生されるDEL  CLK  OUT遅延ク
ロックアウト信号は、SYS  CLK  INシステ
ムクロック信号に対し、有効な遅延が実質的に全くない
【0046】次に、クロックバッファ回路10を詳細に
説明する。バッファ11は制御回路12により発生され
るCOMP  DEL  CLK複合遅延クロック信号
が入力され、1つまたはそれ以上の駆動回路14A〜1
4N(駆動回路群14という)を駆動するバッファ増幅
器13を含む。駆動回路群14は1つまたはそれ以上の
DEL  CLK  OUT遅延クロックアウト信号を
発生し、図示しない処理回路の動作を制御するクロック
回路網である信号線15A〜15N(信号線群15とい
う)に出力するものである。典型的には、チップ上の駆
動回路群14はその動作特性が実質的に同一であるので
、駆動回路群14により発生されるDEL  CLK 
 OUT遅延クロックアウト信号は実質的に同時に遷移
する。
【0047】さらに、バッファ増幅器13により別の駆
動回路16が駆動され、駆動回路16により、後述する
DEL  CLK  OUT  REF遅延クロックア
ウト基準信号が発生される。駆動回路16はその動作特
性が駆動回路群14と実質的に同一である。そのため、
駆動回路群14からのDEL  CLK  OUT遅延
クロックアウト信号は、そのタイミング特性が駆動回路
16により発生されるDEL  CLK  OUT  
REF遅延クロックアウト基準信号と実質的に同一であ
る。特に、DEL  CLK  OUT  REF遅延
クロックアウト基準信号は、駆動回路群14により発生
されるDEL  CLK  OUT遅延クロックアウト
信号と実質的に同時に遷移する。
【0048】バッファ制御回路12はSYS  CLK
  INシステムクロック信号が入力され、COMP 
 DEL  CLK複合遅延クロック信号を、SYS 
 CLK  INシステムクロック信号と、駆動回路1
6からのDEL  CLK  OUT  REF遅延ク
ロックアウト基準信号に応じて発生するものである。バ
ッファ制御回路12は、DEL  CLK  OUT 
 REF遅延クロックアウト基準信号と、DELCLK
  OUT遅延クロックアウト信号が、SYS  CL
K  INシステムクロック信号と実質的に同時に遷移
するように、COMP  DEL  CLK複合遅延ク
ロック信号を遷移させる。従って、クロックバッファ回
路10による実効遅延はない。言い換えると、バッファ
制御回路12により遅延するとともに、バッファ11に
よりさらに遅延するので、DEL  CLK  OUT
遅延クロックアウト信号の実効遅延がSYS  CLK
  INシステムクロック信号に対して零になる。
【0049】バッファ制御回路12は、SYS  CL
K  INシステムクロック信号を入力してCOMP 
 DEL  CLK複合遅延クロック信号を発生する可
変遅延素子20を含む。可変遅延素子20はCOMP 
 DEL  CLK複合遅延クロック信号の遅延を、遅
延制御回路22から遅延制御バス21を介して入力され
た遅延制御信号により制御することができる。位相比較
器23は、入力されたSYS  CLK  INシステ
ムクロック信号と、駆動回路16からのDEL  CL
K  OUTREF遅延クロックアウト基準信号に応じ
て、LEAD信号、LAG信号、PH  OK同相信号
、PH  BAD逆相信号(これらの信号は可変遅延素
子20を制御する際に、遅延制御回路22により用いら
れる。)を発生するものである。また、可変遅延素子2
0により遅延状態バス24上に出力される状態信号は、
可変遅延素子20を制御する際に、遅延制御回路22に
より用いられる。
【0050】位相比較器23により発生される信号は、
SYS  CLK  INシステムクロック信号と、D
EL  CLK  OUT  REF遅延クロックアウ
ト基準信号の間の選択されたタイミング関係を示す。L
EAD信号がアサートされると、SYSCLK  IN
システムクロック信号のエッジが、対応するDEL  
CLK  OUT  REF遅延クロックアウト基準信
号のエッジより進んでいることを示す。LAG信号がア
サートされると、SYS  CLK  INシステムク
ロック信号のエッジが、対応するDEL  CLK  
OUT  REF遅延クロックアウト基準信号のエッジ
より遅れていることを示す。PH  OK同相信号がア
サートされると、SYS  CLK  INシステムク
ロック信号のエッジが、対応するDEL  CLK  
OUT  REF遅延クロックアウト基準信号のエッジ
に実質的に一致していることを示す。その場合、両信号
は同相である。PH  BAD逆相信号がアサートされ
ると、SYS  CLK  INシステムクロック信号
のエッジがDELCLK  OUT  REF遅延クロ
ックアウト基準信号の相対するエッジと実質的に一致し
ていることを示す。すなわち、SYS  CLK  I
Nシステムクロック信号とDEL  CLK  OUT
  REF遅延クロックアウト基準信号は、位相が約1
80度ずれていることを示す。
【0051】可変遅延素子20と遅延制御回路22を図
2および図3を参照して詳細に説明する。まず、図2を
参照して説明する。可変遅延素子20はA遅延パス25
AとB遅延パス25B(遅延パス群25)を含む。A遅
延パス25AとB遅延パス25Bは、遅延制御回路22
による他のパスの遅延とは独立して、それぞれある遅延
量だけ遅延をさせる。この遅延量は等増分づつ変化させ
ることができる。遅延制御回路22は、可変遅延素子2
0の遅延を変化させる場合、A遅延パス25AまたはB
遅延パス25Bのいずれか一方に切り換える。
【0052】A遅延パス25AとB遅延パス25Bの構
造と動作は、本質的に同一であるので、ここでは、A遅
延パス25Aのみを図2を参照して詳細に説明する。A
遅延パス25AはA遅延線26Aを含むとともに、遅延
パス群25に共通な共通遅延線30を含む。共通遅延線
30にはSYS  CLK  INシステムクロック信
号が入力され、A遅延線26AはSYS  CLK  
INシステムクロック信号を、2進カウンタ27Aによ
り決定される遅延量だけ遅延させ、A  DEL  C
LK遅延クロック信号を発生する。2進カウンタ27A
は遅延制御回路22から遅延制御バス21を介して入力
されたA  UPカウントアップ信号およびA  DN
カウントダウン信号により制御される。遅延制御回路2
2がA  UPカウントアップ信号またはA  DN 
 カウントダウン信号をアサートした場合、2進カウン
タ27Aはカウントアップまたはカウントダウンのいず
れかを行う。A遅延パス25Aを、A遅延線26A、2
進カウンタ27A、共通遅延線30を含めて、図2を参
照して詳細に説明する。
【0053】2進カウンタ27Aは2進符号化されたA
C(8:0)カウンタ出力信号をA遅延線26Aに出力
し、A遅延線26Aの遅延量を制御する。さらに、2進
カウンタ27Aは、カウントアップまたはカウントダウ
ンしてカウントレンジを超え、AC(8:0)カウンタ
出力信号の2進符号化値が零に等しくなった場合、AW
RAP信号をアサートする。A  WRAP信号は遅延
状態バス24を介して遅延制御回路22に出力される。 A  WRAP信号がアサートされると、遅延制御回路
22によりA  LDロードイネーブル信号がアサート
される。ALDロードイネーブル信号により、2進カウ
ンタがイネーブルされ、カウントレンジの中央値で初期
値がロードされる。カウンタ27Aは、A遅延パス25
Aによる遅延量がSYS  CLK  INシステムク
ロック信号の幾つかの周期に亘って変化することができ
るように、AC(8:0)カウンタ出力信号に充分なレ
ンジの値を与えるのが望ましい。B遅延パス25Bは、
上述したA遅延線26Aと2進カウンタ27Aと同様に
、B遅延線26Bと2進カウンタ27Bを含み、また、
同様に動作してB  DEL  CLK遅延クロック信
号を発生する。セレクタ31は遅延制御回路22からの
DEL  PATH  SEL遅延パス選択信号により
制御され、A  DEL  CLK遅延クロック信号ま
たはB  DEL  CLK  遅延クロック信号のう
ちのいずれか一方を、COMP  DEL  CLK複
合遅延クロック信号としてバッファ11(図1)に出力
するものである。セレクタ31は図7を参照して詳細に
後述するが、グローバルRESET信号が入力されてい
る。セレクタ31は入力されたグローバルRESET信
号により初期化され、BDEL  CLK遅延クロック
信号をまず選択し、COMP  DEV  CLK複合
デバイスクロック信号として出力する。
【0054】上述したように、遅延制御回路22は可変
遅延素子20の遅延を変化させる場合、A遅延パス25
AまたはB遅延パス25Bのいずれか一方に切り換える
。特に、例えば、セレクタ31がDEL  PATH 
 SEL遅延パス選択信号によりイネーブルされ、B 
 DEL  CLK遅延クロック信号をCOMP  D
EL  CLK複合遅延クロック信号として出力する場
合で、かつ、遅延制御回路22により、位相比較器23
からの信号に基づき、DEL  CLK  OUT  
REF遅延クロックアウト基準信号の前縁がSYS  
CLK  INシステムクロック信号の前縁より進んで
いることが検出された場合、遅延制御回路22は、典型
的に、(1)A  UPカウントアップ信号およびA 
 DNカウントダウン信号をコンディションし、A遅延
パス25Aのカウンタ27AをイネーブルしてAC(8
:0)カウンタ出力信号を発生させ、同様に、A遅延線
26AをイネーブルしてB遅延パス25Bよりわずかに
長く遅延させ、(2)DEL  PATH  SEL遅
延パス選択信号をコンディションし、セレクタ31をイ
ネーブルして、ADELCLK遅延クロック信号をCO
MP  DEL  CLK複合遅延クロック信号として
出力する。その点で、A遅延パス25Aの遅延がB遅延
パス25Bの遅延より幾分長くなるので、進み量は幾分
減少し、多分除去されることになる。
【0055】同様にして、遅延制御回路22により、D
EL  CLK  OUT  REF遅延クロックアウ
ト基準信号の前縁が、対応するSYS  CLK  I
Nシステムクロック信号の前縁より遅れていることが検
出された場合、遅延制御回路22により、典型的に、(
1)A  UPカウントアップ信号およびA  DNカ
ウントダウン信号をコンディションし、A遅延パス25
Aのカウンタ27AをイネーブルしてAC(8:0)カ
ウンタ出力信号を発生させ、同様に、A遅延線26Aを
イネーブルしてB遅延パス25Bよりわずかに短く遅延
させ、(2)DELPATHSEL遅延パス選択信号を
コンディションし、セレクタ31をイネーブルし、A 
 DEL  CLK遅延クロック信号をCOMP  D
EL  CLK複合遅延クロック信号として出力する。 その点で、A遅延パス25Aの遅延がB遅延パス25B
の遅延より幾分短くなるので、遅れ量は幾分減少し、多
分除去されることになる。
【0056】遅延制御回路22により、SYS  CL
K  INシステムクロック信号に対するDEL  C
LK  OUT  REF遅延クロックアウト基準信号
の進みまたは遅れが検出され、セレクタ31によりA 
 DEL  CLK遅延クロック信号がCOMP  D
EL  CLK複合遅延クロック信号として出力される
場合、遅延制御回路22は同様に動作してB遅延パス2
5Bを調整することになる。さらに、位相比較器23に
より、DEL  CLK  OUT  REF遅延クロ
ックアウト基準信号のエッジが、対応するSYS  C
LK  INシステムクロック信号のエッジと一致した
ことが検出されるまで、遅延制御回路22によりこれら
の動作が繰り返し行なわれ、A遅延パス25AおよびB
遅延パス25Bによる遅延の調整と、セレクタ31によ
るA  DEL  CLK遅延クロック信号またはB 
 DEL  CLK遅延クロック信号の出力が交互に行
なわれる。
【0057】この動作に適応するため、可変遅延素子2
0には、位相比較器32A,32BをそれぞれA遅延パ
ス25AとB遅延パス25Bに設けてある。位相比較器
32Aは、A遅延線26Aから入力したA  DEL 
 CLK遅延クロック信号の位相と、B遅延線25Bか
らのB  DEL  CLK遅延クロック信号の位相と
を比較するものである。すなわち、位相比較器32Aは
、A  DEL  CLK遅延クロック信号がB  D
EL  CLK遅延クロック信号より遅れた場合、AL
AGB信号をアサートし、他方、A  DEL  CL
K遅延クロック信号がB  DELCLK遅延クロック
信号より進んだ場合、A  LEAD  B信号をアサ
ートする。位相比較器32Bは、B  DEL  CL
K遅延クロック信号の位相とADEL  CLK遅延ク
ロック信号の位相を同様に比較し、B  DEL  C
LK遅延クロック信号がA  DEL  CLK遅延ク
ロック信号より遅れた場合、B  LAG  A信号を
アサートし、B  DEL  CLK遅延クロック信号
がA  DELCLK遅延クロック信号より進んだ場合
、B  LEAD  A信号をアサートする。
【0058】A  LAG  B信号,A  LEAD
  B信号,B  LAG  A信号,およびBLEA
D  A信号は、遅延状態バス24を介して遅延制御回
路22に出力される。遅延制御回路22は同様にそれら
の信号を用いて、A遅延パス25AまたはB遅延パス2
5Bによる遅延調整を検出し、遅延パスによる遅延に対
して遅延量を必要量だけ増減させ、COMP  DEL
  CLK複合遅延クロック信号を供給する。遅延制御
回路22により、遅延パスの調整中が検知されると、遅
延量を必要な量だけ増減させ、ついで、セレクタ31に
よる切り換えをイネーブルして、遅延クロック信号をC
OMP  DEL  CLK複合遅延クロック信号とし
て出力する。
【0059】図3は遅延制御回路22の構成を示す。遅
延制御回路22は状態装置33,間隔カウンタ34,お
よび遷移カウンタ35を含む。状態装置33は位相比較
器23(図1)からの信号と、位相比較器32A,32
Bからの信号が、遅延状態バス24を介して入力され、
同様に、間隔カウンタ34および遷移カウンタ35から
のINT  CTR間隔カウンタ信号と、CTR  S
TATE  DELカウンタ状態遅延信号が入力される
。これらの信号と、SYS  CLK  INシステム
クロック信号が入力されると、状態装置33により2進
カウンタ27A,27Bを制御する信号が発生され、A
遅延パス25AとB遅延パス25Bによる遅延がそれぞ
れ調整される。さらに、状態装置33によりDEL  
PATH  SEL遅延パス選択信号が発生され、セレ
クタ31による遅延パス選択が制御される。状態装置3
3により供給される状態と、状態と状態の間の遷移の説
明は、図8を参照して詳細に説明する。
【0060】状態装置33は間隔カウンタ34を用いて
、遅延パス25A,25Bのうち、セレクタ31により
一方の遅延パスが選択された後で、もう一方の遅延パス
の調整が開始される前に遅延する。これは、新たに切り
換えられた遅延パスによるDEL  CLK  OUT
  REF遅延クロックアウト基準信号の遅延が、状態
装置33により新たに調整動作が行われる前に、全て、
位相比較器23からの信号に反映されることを保証する
。また、状態装置33は、遅延パス群25の位相を調整
している間、A  DEL  CLKまたはB  DE
L  CLK遅延クロック信号の位相変化のステップが
、適正なカウンタ27をそれぞれ調整した後、対応する
位相比較器32により供給される信号に反映されること
を保証するため、間隔カウンタ34を用いるようにして
も良い。
【0061】状態装置33は遅延パス25による遅延調
整の初期段階で遷移カウンタ35を用いる。図8を参照
しての詳細な説明は後で行う。状態装置33は遅延パス
25A,25Bにより遅延調整が開始されると、まず、
遅延を、カウンタ27Aまたは27Bによりそれぞれ予
め定めたカウント数だけ逆方向に調整する。すなわち、
状態装置33が調整により、遅延パス25Aまたは25
Bによる遅延量を減少させる場合、状態装置33はまず
その遅延パスによる遅延量をある量だけ増加させ、その
遅延パスによる遅延量がその時セレクタ31により選択
された他の遅延パス25Aまたは25Bによる遅延量に
比較して僅かに多くなるようにする。状態装置33は、
調整される遅延パス25Aまたは25Bが、その時セレ
クタ31により選択された遅延パス25Bまたは25A
との間に必要な遅延関係を有するまで、遷移カウンタを
繰り返し用いても良い。図4ないし図6は、遅延パス2
5Aの一部、すなわち、A遅延線26A、共通遅延線3
0(これはB遅延パス25Bと共通である)、および2
進カウンタ27Aを詳細に示す。A遅延線26Aおよび
共通遅延線30は参照番号40(i)(j)が付された
1組の遅延素子を含む。ここで、インデックス“i”は
遅延素子による相対的な遅延量を示す整数1,4,16
,58である。1組の遅延素子40(i)(j)とマル
チプレクサ42A〜42Dは交互に直列に接続され、A
C(8:1)カウンタ制御信号により制御され、遅延量
を等増分づつ増加させるか、あるいは等減分づつ減少さ
せる。
【0062】図4および図5に示すように、遅延素子4
0(i)(j)は直列接続された4つのランク(ran
k)41A〜41Dに接続されている。各ランクはイン
デックス(i)の1つの値と関係する。第1ランク41
Aの第1遅延素子41(58)(1)は、SYS  C
LK  INシステムクロック信号が入力され、第1ラ
ンク41Aに属する遅延素子群40は共通遅延線30を
構成する。各ランク41の遅延素子40(i)(j)は
直列に接続され、参照番号40(i)(j)のインデッ
クス(j)は、ランク41を構成する直列接続された遅
延素子40(i)(j)の位置と一致する。1つのラン
ク41の遅延素子40(i)(j)の遅延量はどの遅延
素子群も同一であり、ランク41Cおよび41Bの単一
の遅延素子40(i)(j)による遅延量は、直列接続
したランク41Bおよび41Aの遅延素子群による遅延
量と比較して、1遅延周期だけ大きいことが分かる。図
4および図5に関連する実施例では、ランク41Aの遅
延素子40(58)(j)による遅延量は、ランク41
C〜41Aを直列接続してなる遅延素子群による遅延量
と比較して僅かに小さい。
【0063】また、遅延パスは1組のマルチプレクサ4
2A〜42D(総じて参照番号42が付される)を含み
、各マルチプレクサはランク41A〜41Dのうちの1
つのランクと関係があり、ランクとランクを接続してい
る。
【0064】各マルチプレクサはカウンタ27Aからの
2つのAC(8:0)カウンタ信号により制御され、当
該ランクに対して遅延量を等増分づつ増加する。各マル
チプレクサ42は4つの信号入力端子を含み、これら信
号入力端子には当該ランクの遅延素子40(i)(j)
に関係するノード43A(0)〜43D(3)からの入
力信号が入力されている。すなわち、ランク41Aにお
いて、ノード43A(0)〜43A(3)の信号は、そ
れぞれ、(0)遅延素子40(58)(1)の入力端子
であって、ランク41Aで零遅延を表す。
【0065】(1)遅延素子40(58)(1)と遅延
素子40(58)(2)の間のノードであって、58増
分の遅延を表す。
【0066】(2)遅延素子40(58)(2)と遅延
素子40(58)(3)の間のノードであって、116
増分(58増分の2倍)の遅延を表す。
【0067】(3)遅延素子40(58)(3)の出力
端子であって、174(58の3倍)増分の遅延を表す
【0068】に対応し、マルチプレクサ42Aのデータ
信号入力端子(0)〜(3)にそれぞれ出力される。ま
た、マルチプレクサ42Aは2つの制御端子を有し、2
つの制御端子は2つの上位2進符号化AC(8:7)カ
ウンタ信号が入力されている。これらの信号はマルチプ
レクサ42Aをイネーブルし、ノード43(A)(0)
のうちの1つのノードからの信号、すなわち、AC(8
:7)カウンタ信号の2進符号化値により識別された信
号を次のランクに出力する。
【0069】他のマルチプレクサ42B,42C,およ
び42Dは、それぞれ、同様に、関連するランクの対応
するノードに接続され、ノードに対して同様の動作をす
る。従って、マルチプレクサ42DはPREL  A 
 DEL  CLK予備遅延クロック信号を供給する。 この信号のエッジは対応するSYS  CLK  IN
システムクロック信号のエッジから、AC(8:1)カ
ウンタ信号により決定される量だけ遅延されている。
【0070】A遅延パス26AはAC(0)カウンタ信
号に応じて微調整を行う微調遅延回路44を含む。微調
遅延回路44は遅延素子45と、A  DEL  CL
K遅延クロック信号をAC(0)カウンタ信号の制御に
より出力するマルチプレクサ46を含む。遅延素子45
はPREL  A  DEL  CLK予備遅延クロッ
ク信号が入力されると、さらに1/2段階の遅延を有す
る出力信号を出力する。遅延素子45からの出力信号と
、PREL  A  DEL  CLK予備遅延クロッ
ク信号は、マルチプレクサ46の信号入力端子に出力さ
れる。AC(0)カウンタ信号が否定され、その結果、
2進符号化値が零である場合、マルチプレクサ46によ
りPREL  A  DEL  CLK予備遅延クロッ
ク信号が、A  DELCLK遅延クロック信号として
出力端子から出力される。 一方、AC(0)カウンタ信号がアサートされ、2進符
号化値が1である場合、マルチプレクサ46は遅延素子
45からの出力信号をその出力端子から出力し、さらに
、1/2段階だけ遅延させる。
【0071】当業者には明らかであるが、AC(8:0
)カウンタ信号はそのレンジ内で変化するので、AC(
8:0)カウンタ信号の2進符号化値が237.5ユニ
ットの遅延に対して零である場合、また、AC(8:0
)カウンタ信号の2進符号化値が1/2ユニットの増分
で511である場合、A遅延素子25Aにより零から変
化する遅延量が供給される。
【0072】上述したことから分かるように、実施例の
図4ないし図6に関連する部分では、第1ランクの各遅
延素子40(58)(j)による遅延は、連続するラン
ク41Bないし41Dの全ての遅延素子40(i)(j
)による遅延と等しくない。従って、遅延の変化は、A
C(8:0)カウンタ信号の2進値を変化させる関数と
しては、正確に線形ではなく、僅かに不連続になる。特
に、AC(8:0)カウンタ信号の2進符号化値が変化
した場合、遅延が約5.5増分だけ減少することになる
。集積回路チップ上の遅延素子、特に、遅延量が大きい
遅延素子に対して、正確な遅延を保証することは現行で
は困難である。そこで、AC(8:0)カウンタ信号の
変化に応じて、マルチプレクサ42Aにより、遅延素子
40(58)(j)による遅延を加えるか、あるいは削
除して得られる遅延量が、第1ランクで僅かに減少した
ため、差分的かつ非線形に大きく増加または減少すると
いう可能性は薄くなる。第1ランク41Aに充分正確な
遅延素子が設けられる場合、上述した第1ランクでの減
少は必要ない。
【0073】第1ランク41Aの遅延素子40(58)
(j)は、図5に示すように、2つの遅延素子50(2
8)と2つのインバータ51(1)と、それらにより相
対遅延量が確認されるインデックスとを比較するもので
ある。同様に、第2ランクの遅延素子40(16)(j
)は、図に示すように、2つの遅延素子52(7)と2
つのインバータ51(1)を比較するものである。 ランク41Aおよび41Bで用いられるような、遅延が
長い遅延素子は、出力される信号のデューティサイクル
が入力信号とは幾分異なるようにしても良い。しかし、
遅延素子にインバータをインタリーブした多段遅延素子
に遅延素子を分けると、遅延素子からの出力信号はその
デューティサイクルが遅延素子の入力信号と同一になる
【0074】上述したように、第1ランクの遅延素子4
0(58)(j)はB遅延パス25Bと共通の共通遅延
線30を備えている。第1ランクによる遅延量が一番最
後の遅延素子40(58)(j)に接続されたマルチプ
レクサ42Aにより選択されるので、遅延素子40(5
8)(j)は共通にすることができる。
【0075】図6はA遅延パス25Aのカウンタ27A
を示す。カウンタ27Aは9段の2進カウンタによりな
り、カウンタ27Aにロード可能な初期値を入力するた
めに用いられるデータ入力端子D8〜D0と、ロードイ
ネーブル端子LDと、カウントアップ端子UPと、カウ
ントダウン端子DNとを含む。カウンタ27Aは0から
511までのレンジの2進符号化値を有する9つのAC
(8:0)カウンタ出力信号を出力する。前述したよう
に、遅延制御回路22は、まず、レンジの中央値でカウ
ンタ27Aの値(この値は255または256のいずれ
かであっても良い)を確立する。図6に示す実施例では
、初期値として256が選択される。この値はデータ入
力端子D7〜D0をグランドに接続し、データ入力端子
D8に電圧を印加することにより得られる。また、デー
タ入力端子D8をグランドに接続し、データ入力端子D
0〜D7に電圧を印加した場合は、初期値として255
が得られることになる。どちらの場合にも、遅延制御回
路22によりLDロード信号をアサートしてカウンタ2
7Aをイネーブルし、カウンタに初期値をロードするこ
とができる。
【0076】カウンタ27Aをイネーブルして初期値を
ロードした後、遅延制御回路22により、A  UPカ
ウントアップ信号およびA  DNカウントダウン信号
をアサートして、カウンタ27Aをイネーブルし、交互
にカウントアップとカウントダウンさせることができる
。A  UPカウントアップ信号およびA  DNカウ
ントダウン信号はカウントアップ端子UPまたはカウン
トダウン端子DNにそれぞれ印加されている。カウント
アップまたはカウントダウンに応じて、カウンタ27A
は、公知の方法により2進符号化値を増加または減少さ
せるAC(8:0)カウンタ信号のうち、選択された信
号をアサートまたは否定し、A遅延線26Aをイネーブ
ルして遅延量を増加または減少させることができる。
【0077】前述したように、カウンタ27Aのカウン
ト値がそのレンジのいずれかの値を超えると、カウンタ
27Aは遅延制御回路22をイネーブルするA  WR
AP信号をアサートする。そして、イネーブルされた遅
延制御回路22はカウンタをイネーブルし、カウンタに
初期値を再ロードする。カウンタ27Aのカウント値が
そのレンジを超えると0を発生する。これはカウンタが
1からカウントダウンするか、あるいは255からカウ
ントアップする場合におこる。どちらの場合にも、0は
AC(8:0)カウンタ信号が全て否定されたことを表
す。1組のインバータ60の入力端子にはAC(8:0
)カウンタ信号が全て印加される。また、インバータ6
0の出力端子はANDゲート61の入力端子に接続され
ている。AC(8:0)カウンタ信号が全て否定される
と、全てのインバータ60によりANDゲート61の全
ての入力端子に信号が印加され、ANDゲート61がイ
ネーブルされ、A  WRAP信号をアサートする。A
  WRAP信号は遅延状態バス24を介して遅延制御
回路2に出力される。
【0078】次に、図2および図3を参照して説明する
。上述したように、セレクタ31はA遅延パス25Aか
らのA  DEL  CLK遅延クロック信号、または
B遅延パス25BからのB  DEL  CLK遅延ク
ロック信号のうちのいずれか一方を選択するものである
。セレクタ31は遅延制御回路22からのDEL  P
ATHSEL遅延パス選択信号に応じて、A  DEL
  CLKまたはB  DEL  CLK遅延クロック
信号のいずれかを選択する。図7はセレクタ31の構成
を示す。セレクタ31はマルチプレクサ70を含む。マ
ルチプレクサ42のデータ入力端子には、A  DEL
  CLK遅延クロック信号とB  DEL  CLK
遅延クロック信号が入力されている。マルチプレクサ7
0により、これらクロック信号のうちのいずれかは、P
ATH  MUX  CTRLパスマルチプレクサ制御
信号に応じて、COMP  DEL  CLK複合遅延
クロック信号として出力される。PATH  MUX 
 CTRLパスマルチプレクサ制御信号が否定されると
、マルチプレクサ70によりA  DEL  CLK遅
延クロック信号がB  DEL  CLK遅延クロック
信号として出力される。また、PATH  MUX  
CTRLパスマルチプレクサ制御信号がアサートされる
と、マルチプレクサ70によりBDELCLK遅延クロ
ック信号がCOMP  DEL  CLK複合遅延クロ
ック信号として出力される。
【0079】マルチプレクサ制御回路71はSYS  
CLK  IN  システムクロック信号と、遅延制御
回路22からのDEL  PATH  SEL遅延パス
選択信号に応じて動作する。マルチプレクサ制御回路は
バッファ部72と同期部73の2つを含む。一般的に、
バッファ部72はPATH  MUX  CTRLパス
マルチプレクサ制御信号をDEL  PATH  SE
L遅延パス選択信号からバッファする。同期部73は、
A  DEL  CLK遅延クロック信号とB  DE
L  CLK遅延クロック信号が低電圧状態でない場合
、PATH  MUX  CTRLパスマルチプレクサ
制御信号により、マルチプレクサ70がイネーブルされ
、その状態が変化しないようにすることを保証する。し
たがって、A  DEL  CLK遅延クロック信号と
B  DEL  CLK遅延クロック信号が高電圧レベ
ルである場合で、マルチプレクサ70により切り換える
ことができる場合、COMP  DEL  CLK  
複合遅延クロック信号に電圧スパイク、グリッチ等が発
生する可能性が最小になる。
【0080】バッファ部72は遅延線として動作するフ
リップフロップ74,75,および76の3つフリップ
フロップを含む。各DEL(i)DPS(”i”チック
)遅延遅延パス選択信号(”i”は1ないし3の整数で
ある)は、各フリップフロップからの出力信号で、SY
S  CLK  IN  システムクロック信号の1,
2,および3チック(“i”の値と一致する)だけ遅延
されたDEL  PATH  SEL遅延パス選択信号
のコンディションを表している。排他的NORゲート8
0はフリップフロップ76の入力端子および出力端子か
らの信号が入力され、マルチプレクサ81の状態を制御
するものである。マルチプレクサ81はバッファ部の第
4フリップフロップ82のデータ入力端子に信号を出力
する信号源である。特に、マルチプレクサ81は、フリ
ップフロップ82のデータ入力端子に、フリップフロッ
プ76からのDEL(3)DPS(3チック)遅延遅延
パス選択信号を入力するか、あるいは、フリップフロッ
プ82からのCUR  PATHカレントパス信号を入
力するかを判断するものである。後述するが、排他的N
ORゲート80、マルチプレクサ81、およびフリップ
フロップ82により、CUR  PATHカレントパス
信号は、遅延制御回路22からのDEL  PATH 
 SEL遅延パス選択信号に現れるノイズの影響を受け
にくくなる。
【0081】さらに、DEL  PATH  SEL遅
延パス選択信号の状態が一定である場合、DEL(2)
DPSおよびDEL(3)DPS(”i”チック)遅延
遅延パス選択信号は同一になる。その場合、排他的NO
Rゲート80はアサートされたCH  DEL変化遅延
信号を発生する。CH  DEL変化遅延信号により、
マルチプレクサ81はイネーブルされ、フリップフロッ
プ76の出力端子からのDEL(3)DPS(3チック
)遅延遅延パス選択信号を、バッファ部72のフリップ
フロップ82のデータ入力端子に出力する。フリップフ
ロップ82はDEL  PATH  SEL遅延パス選
択信号のカレント状態を表すCUR  PATHカレン
トパス信号を出力する。
【0082】しかし、DEL  PATH  SEL遅
延パス選択信号の状態が変化した場合、DEL  PA
TH  SEL遅延パス選択信号の状態は、新たに、S
YS  CLKIN  システムクロック信号の連続す
るエッジに応じて、まず、フリップフロップ74により
ラッチされ、ついで、フリップフロップ75によりラッ
チされる。この点で、フリップフロップ76に入力され
るDEL(2)DPS(2チック)遅延遅延パス選択信
号の状態が、DEL(3)DPS(3チック)遅延遅延
パス選択信号とコンプリメントになり、DEL  PA
TH  SEL遅延パス選択信号の新しい状態を表すこ
とになる。DEL(2)DPS遅延(2チック)遅延パ
ス選択信号とDEL(3)DPS(3チック)遅延遅延
パス選択信号がコンプリメントであるので、排他的NO
Rゲート80はCH  DEL変化遅延信号を発生する
。すると、マルチプレクサ81はフリップフロップ82
からCURPATHカレント遅延信号を出力させ、その
信号を同一のフリップフロップ82のデータ入力端子に
入力させ、フリップフロップ82の状態を維持させる。
【0083】DEL  PATH  SEL遅延パス選
択信号が新しい状態を維持している場合は、SYS  
CLK  IN  システムクロック信号の次のエッジ
により、フリップフロップ76がイネーブルされ、DE
L(2)DPS遅延(2チック)遅延パス選択信号がラ
ッチされる。そのとき、DEL(3)DPS遅延(3チ
ック)遅延パス選択信号状態は、DEL(2)DPS(
2チック)遅延遅延パス選択信号の状態と同一になる。 その結果、排他的NORゲート80に入力される信号は
、同一状態を有し、CH  DEL変化遅延信号をアサ
ートすることになる。アサートされたCH  DEL変
化遅延信号により、マルチプレクサ81はイネーブルさ
れ、DEL(3)DPS(3チック)遅延遅延パス選択
信号をフリップフロップ82のデータ入力端子に出力す
る。そして、フリップフロップ82は、マルチプレクサ
81によりフリップフロップ82に入力されたDEL(
3)DPS遅延(3チック)遅延パス選択信号を、SY
S  CLK  IN  システムクロック信号の次の
エッジに応じてラッチすることになる。そのとき、CU
R  PATHカレント遅延信号の状態は、DEL(3
)DPS遅延(3チック)遅延パス選択信号の状態と同
一になる。
【0084】その後、DEL  PATH  SEL遅
延パス選択信号の状態が変化するまで、CUR  PA
THカレント遅延信号の状態は変化しない。DEL  
PATH  SEL遅延パス選択信号の状態が変化する
まで、DEL(2)DPS(2チック)遅延遅延パス選
択信号の状態と、DEL(3)DPS(3チック)遅延
遅延パス選択信号の状態は変化しない。その結果、排他
的NORゲート80はCH  DEL変化遅延信号を依
然アサート状態にし、よって、マルチプレクサ81がイ
ネーブルされ、DEL(3)DPS(3チック)遅延遅
延パス選択信号をフリップフロップ82に出力する。
【0085】上述したが、フリップフロップ76,排他
的NORゲート80、およびマルチプレクサ81を合成
したので、バッファ72はDEL  PATH  SE
L遅延パス選択信号のノイズの影響を受けにくくなる。 DEL  PATH  SEL遅延パス選択信号のノイ
ズにより、フリップフロップ74に入力されるDEL 
 PATH  SEL遅延パス選択信号の状態を瞬時に
変化させることできる。特に、DEL  PATH  
SEL遅延パス選択信号にノイズが多く、その信号状態
が瞬間的に変化して元に戻った場合、それらの状態変化
は一連のDEL(i)DPS(”i”チック)遅延遅延
パス選択信号に表れることになる。その結果、DEL(
2)DPSおよびDEL(3)DPS(”i”チック)
遅延遅延パス選択信号は、SYS  CLK  IN 
 システムクロック信号の連続する2つのエッジで、状
態が1つになるというより、コンプリメントになり、交
互になる。その間、排他的NORゲート80はCH  
DEL変化遅延信号を否定し続け、そして、マルチプレ
クサ81はCUR  PATHカレントパス信号をフリ
ップフロップ82のデータ入力端子に入力し続け、フリ
ップフロップ82の状態またはCURPATHカレント
パス信号の状態の変化を禁止する。従って、フリップフ
ロップ76、排他的NORゲート80、およびマルチプ
レクサ82は、DEL  PATH  SEL遅延パス
選択信号のノイズに対する耐性がある程度高くなる。
【0086】同期部73はフリップフロップ83を含み
、フリップフロップ83のデータ入力端子には、バッフ
ァ部72からCUR  PATHカレントパス信号が入
力され、フリップフロップ83はPATH  MUX 
 CTRLパスマルチプレクサ制御信号を出力してマル
チプレクサ70を制御する。フリップフロップ83のク
ロック端子にはANDゲート84からの信号が入力され
ている。ANDゲート84の2つの入力端子の一方はN
ORゲート85からの信号が印加され、もう1方の入力
端子は状態変化検知回路86からの信号が印加されてい
る。 状態変化検知回路86はCUR  PATHカレントパ
ス信号の状態とPATH  MUXCTRLパスマルチ
プレクサ制御信号の状態の異同を検出し、その状態が異
なった時点で、ANDゲート84の入力端子に信号を印
加する。状態変化検知回路86は排他的NORゲート8
7とフリップフロップ90を含む。排他的NORゲート
87はCUR  PATHカレントパス信号とPATH
  MUX  CTRLパスマルチプレクサ制御信号が
入力され、両信号が異なった場合にのみ信号を出力する
。これはマルチプレクサ70が遅延パス25Aまたは遅
延パス25Bのいずれかに切り換えられた場合に起こる
。排他的NORゲート87から信号が出力された場合、
フリップフロップ90はSYS  CLK  IN  
システムクロック信号の次のエッジに応じてセットされ
、アサートされた信号をANDゲート84の入力端子の
一方に出力する。
【0087】NORゲート85はANDゲート84のも
う一方の入力端子を制御するものであるが、A  DE
L  CLK遅延クロック信号とB  DEL  CL
K遅延クロック信号により制御される。特に、NORゲ
ート85は両信号が否定された場合のみ、アサートされ
た出力信号を発生する。ANDゲート84の2つの入力
端子の信号がアサートされた場合、ANDゲート84は
CLK  FFクロックフリップフロップ信号をアサー
トする。CLK  FFクロックフリップフロップ信号
のエッジはフリップフロップ83をクロックする。CL
K  FFクロックフリップフロップ信号のアサートに
応じて、フリップフロップ83はCUR  PATHカ
レントパス信号をラッチし、PATH  MUX  C
TRLパスマルチプレクサ制御信号として出力し、マル
チプレクサ70を制御する。
【0088】従って、同期部73は、(1)CUR  
PATHカレントパス信号の状態が、PATH  MU
X  CTRLパスマルチプレクサ制御信号の状態と異
なっていない場合、ついで、(2)A  DEL  C
LK遅延クロック信号とB  DEL  CLK遅延ク
ロック信号が低電圧状態であるとき、フリップフロップ
83をクロックしない。(2)の場合、COMP  D
EL  CLK  複合遅延クロック信号のノイズの可
能性は最小になる。COMP  DEL  CLK  
複合遅延クロック信号のノイズは、A  DEL  C
LK遅延クロック信号またはB  DEL  CLK遅
延クロック信号のいずれかが高電圧状態にある場合、マ
ルチプレクサ70が切り換えられた場合に生じる。(1
)の場合、フリップフロップ83が必要なときにのみク
ロックされ、同様に、ノイズが発生する可能性は少なく
なる。
【0089】また、セレクタ31はシステムコントロー
ラ(図示しない)からのグローバルRESET信号に応
じて動作する。図示しないシステムコントローラは、ク
ロックバッファ回路10を有するチップを含むシステム
を制御するものである。RESET信号はセレクタ31
の複数のフリップフロップの状態を初期化して、PAT
H  MUX  CTRLパスマルチプレクサ制御信号
を発生し、PATH  MUX  CTRLパスマルチ
プレクサ制御信号により、マルチプレクサ70の状態を
制御し、B遅延パス25BからのB  DEL  CL
K遅延クロック信号を、COMP  DEL  CLK
複合遅延クロック信号として出力する。
【0090】上述したように、遅延制御回路22(図1
)の遅延状態装置33(図3)の状態は、可変遅延回路
20を制御する際に、種々の状態に移行する。図8は状
態を示す。この図は遅延状態回路33の状態を理解する
のに有益である。図8において、ブロックは遅延状態装
置33の状態を示し、矢印は遷移を示す。また、各矢印
は遅延状態装置33に入力される入力信号の論理結合、
すなわち、特別の遷移となる論理結合により付される。 矢印がブロックからブロックに延びる場合は、ある状態
からある状態への遷移を表す。あるブックから延びた矢
印が同一ブロックに戻る場合は、同一状態の遷移を表す
【0091】入力信号を論理的に結合するやり方は公知
のブーリアン論理記号を用いて示してある。すなわち、
“V”はブーリアンOR演算を表し、転倒“V”はブー
リアンAND演算を表す。遷移可能な信号状態は信号名
にバーが付けてあるか否かによって表す。信号名にバー
が付いていない場合は、信号がアサートされたとき、示
された遷移が発生し、信号名にバーが付いている場合は
、信号が否定された時、遷移が発生する。
【0092】図8は遅延状態装置33により維持される
状態、特に、A遅延パス25Aに関連する状態のうちの
約半分を示す。B遅延パス25Bにより維持される状態
と、状態遷移する信号とは同一である。従って、A遅延
パス25Aに関する状態および遷移は、遅延状態装置3
3の動作を理解できるように記述しなければならない。 遅延状態装置33の初期状態が状態91(“B  DE
LAY  LINE”)である場合、遅延状態装置33
によりDEL  PATH  SEL遅延パス選択信号
をアサートして、セレクタ31をイネーブルし、B  
DEL  CLK遅延クロック信号をCOMP  DE
L  CLK複合遅延クロック信号として出力する。状
態91に移行する前に、間隔カウンタ34(図3)はカ
ウントアウトし、その結果、遅延状態装置33は間隔カ
ウンタ34により決定される期間の間、DEL  PA
TH  SEL遅延パス選択信号をアサートする。
【0093】遅延状態装置が状態91にあり、その後、
位相比較器23(図1)がLAG信号をアサートする場
合、遅延状態装置33は状態92(“INC  ACT
R”)に移行する。その状態で、遅延状態装置33は予
め定めた回数だけ繰り返しAUPカウントアップ信号を
アサートし、その後、A遅延パス25AからのADEL
  CLK遅延クロック信号が、B  DEL  CL
K遅延クロック信号より遅れているか否かを判断する。 遅延状態装置33がA  UPカウントアップ信号をカ
ウントアップする回数は、遷移カウンタ35により決定
される。 従って、状態92で、遅延状態装置33が実際に幾つか
の中間状態を維持する。その状態で、遅延状態装置33
は、(i)LD  TR  CTRロード遷移カウンタ
信号をアサートし、初期値を遷移カウンタ35にロード
する。
【0094】(ii)A  UPカウントアップ信号を
繰り返しアサートする。カウンタ27AはA  UPカ
ウントアップ制御信号を上述した信号として用いる。さ
らに、ORゲート38はA  UPカウントアップ信号
を入力し、遷移カウンタ35をイネーブルしてカウント
アップする。遷移カウンタ35はカウントアウトすると
、遷移カウンタ35はDTR  STATE  DEL
カウンタ状態遅延信号をアサートする。
【0095】(iii)DTR  STATE  DE
Lカウンタ状態遅延信号に応じて、遅延状態装置はA 
 UPカウントアップ信号のアサートを停止し、LD 
 INT  CTRロード間隔カウンタ信号をアサート
する。LD  INT  CTRロード間隔カウンタ信
号により、間隔カウンタ34がイネーブルされ、初期値
がロードされる。その後、間隔カウンタ34はSYS 
 CLK  INシステムクロック信号のチックに応じ
てインクリメントする。間隔カウンタはカウントアウト
すると、INT  CTR間隔カウンタ信号をアサート
する。
【0096】間隔カウンタ34からのINT  CTR
間隔カウンタ信号に応じて、遅延状態装置33はA  
LAG  B信号およびA  WRAP信号を検査する
。これらの信号が否定された場合は、遅延状態装置33
は遷移し、状態92に戻り、再び、上述した動作を開始
する。 しかし、間隔カウンタ34が上記中間状態(iii)で
INT  CTR間隔カウンタ信号をアサートすると、
遅延状態装置33は、(a)A  LAG  B信号が
アサートされ、A  DEL  CLK遅延クロック信
号がB  DEL  CLK遅延クロック信号より遅れ
ていることを示すか、(b)AWRAP信号が否定され
、状態93(“DEC  A  CTR”)に移行する
かを判定する。
【0097】状態93では、遅延状態装置33は1回ま
たはそれ以上の回数、ADNカウントダウン信号をアサ
ートし、カウンタ27Aをイネーブルしてカウンタダウ
ンさせる。A遅延パスによる遅延を減少させ、各アサー
トごとに、間隔カウンタをイネーブルする。そして、カ
ウンタ34がカウントアウトした後、A  LEADB
信号を検査する。A  LEAD  B信号が、1つの
繰り返しの後、アサートされない場合、遅延状態装置は
さらに繰り返しを行う。状態93では、遅延状態装置3
3はA遅延パス25Aでの遅延を可能にする。A遅延パ
ス25Aでの遅延はB遅延パス25Bで現在行われてい
る遅延の増分より短くされる。特に、状態93では、遅
延状態装置33は3つの中間状態を維持する。遅延状態
装置33は、(i)A  DNカウントダウン信号をア
サートする。カウンタ27AはA  DNカウントダウ
ン信号を後述する信号として用いる。
【0098】(ii)LD  INT  CTRロード
間隔カウンタ信号をアサートして間隔カウンタ34をイ
ネーブルし、初期値をロードする。その後、間隔カウン
タ34はSYS  CLK  INシステムクロック信
号のチックに応じてインクリメントする。間隔カウンタ
34はカウントアウトすると、INT  CTR間隔カ
ウンタ信号をアサートする。
【0099】(iii)間隔カウンタ34のINT  
CTR間隔カウンタ信号に応じて、遅延状態装置33は
A  LEAD  B信号とA  WRAP信号のコン
ディションを検査する。これらの信号が否定された場合
は、遅延状態装置33は遷移し、状態93に戻り、再び
、上述した動作を開始する。しかし、間隔カウンタ34
が上記中間状態(ii)でINT  CTR間隔カウン
タ信号をアサートすると、遅延状態装置33は、(a)
A  LEAD  B信号がアサートされ、A  DE
L  CLK遅延クロック信号がB  DEL  CL
K遅延クロック信号より進んでいることを示めすか、(
b)A  WRAP信号が否定され、状態94(“SW
ITCH  ADELAY  LINE”)に移行する
かを判定する。状態94では、遅延状態装置33により
DEL  PATH  SEL遅延パス選択信号が否定
されると、セレクタ31(図2)がイネーブルされ、A
  DELCLK遅延クロック信号がCOMP  DE
L  CLK複合遅延クロック信号として出力される。 さらに、遅延状態装置33はLD  INT  CTR
ロード間隔カウンタ信号をアサートし、初期値を間隔カ
ウンタ34にロードする。間隔カウンタがカウントアウ
トしてINT  CTR間隔カウンタ信号をアサートす
る場合、遅延状態装置33は状態95(“A  DEL
AY  LINE“)に移行する。状態95は状態91
に対応する。
【0100】状態91に戻る。LEADまたはPH  
BAD逆相信号がアサートされた場合、遅延状態装置3
3は状態96に移行し、その後、状態97に移行する。 状態97は上述した状態92,93と同様の状態である
ので、詳細な説明はしない。遅延状態装置33は、状態
96では、A  LEAD  B信号(状態92で用い
るALAG  B信号に替えて)を一部用いて状態から
移行するか否かを判定するのが望ましく、また、状態9
7では、A  LAG  B信号(状態93で用いるA
LEAD  B信号に替えて)を一部用いて状態から移
行するか否かを判定するのが望ましい。遅延状態装置3
3は、状態97の次に、上述したように、状態94に通
常移行し、その後、状態95に移行する。
【0101】上述したように、カウンタ27A(図2)
からのA  WRAP信号が否定された場合、遅延状態
装置33は状態92,状態93,状態96,または状態
97のうちのいずれかの状態に移行するか、あるいは、
それらの状態のうちのいずれかの状態を維持する。遅延
状態装置33がこれらの状態のうちのいずれかの状態に
あり、A  WRAP信号がアサートされる場合、遅延
状態装置33は状態100に移行する。状態100では
、遅延状態装置はまずA  LDロードイネーブル信号
をアサートする。上述したように、A  LDロードイ
ネーブル信号により、カウンタ27Aがイネーブルされ
、値レンジの中央値で初期値をロードする。
【0102】カウンタ27Aの調整をイネーブルするこ
とにより、A  DEL  CLK遅延クロック信号と
B  DEL  CLK遅延クロック信号の間の位相関
係を実質的に変えるのが望ましい。従って、状態92ま
たは状態96のいずれかに移行する前に、遅延状態装置
33はA  DEL  CLK遅延クロック信号がB 
 DEL  CLK遅延クロック信号より遅れているか
否かを、A  LAG  B信号の状態により判定する
ことができる。遅れている場合は、遅延状態装置は状態
92に移行し、遅れていない場合は、状態96に移行す
る。
【0103】状態100は3つの中間状態を備えている
。3つの中間状態では、遅延状態装置33は、(i)A
  LDロードイネーブル信号をアサートする。カウン
タ27Aはその信号を上述した信号として用いる。
【0104】(ii)LD  INT  CTRロード
間隔カウンタ信号をアサートして間隔カウンタ34をイ
ネーブルし、初期値をロードする。その後、間隔カウン
タ34はSYS  CLK  INシステムクロック信
号のチックに応じてインクリメントする。間隔カウンタ
34はカウントアウトすると、INT  CTR間隔カ
ウンタ信号をアサートする。
【0105】(iii)間隔カウンタ34のINT  
CTR間隔カウンタ信号のアサートに応じて、遅延状態
装置33は位相比較器32AからのA  LAG  B
信号のコンディションを検査する。A  LAG  B
信号がアサートされた場合、遅延状態装置33は状態9
2に移行し、否定された場合、遅延状態装置は状態96
に移行する。どの場合でも、その後、遅延状態装置33
は上述したように動作する。
【0106】上述したように、図8はA遅延パス25A
にのみ関係する遅延状態装置の状態を示す。図8に示す
状態図は、B遅延パス25Bに関係する状態を含むには
、ブロック91とブロック95の間の縦軸の回りに図を
反射させるとともに、反射させた部分の“A”と“B”
を交換し、完結させることができることが確認されるで
あろう。遅延状態装置33がA遅延パス25Aによる遅
延を調整した後、状態95にある場合で、位相比較器2
3(図1)からのPH  OK同相信号がアサートされ
た場合、遅延状態装置33は状態95にある。LAG信
号がアサートされた場合は、遅延状態装置33は状態9
2に対応する状態に移行する。そして、上述した遅延カ
ウンタ27Bの場合と同様に動作をし、位相カウンタ3
2Bからの信号を用いる。一方、LEADまたはPH 
 BAD逆相信号がアサートされた場合、遅延状態装置
は状態96に対応する状態に移行する。そして、上述し
た遅延カウンタ27Bの場合と同様に動作をし、位相カ
ウンタ32Bからの信号を用いる。
【0107】図9はクロックバッファ回路10の位相比
較器23(図1)の構成を示す。可変遅延素子20の位
相比較器32A,32Bと同様の回路を用いても良い。 位相比較器23は3つの主要な要素を含む。すなわち、
位相検出器110、位相フィルタ111、および位相デ
コーダ112を含む。位相検出器110はドライバ10
(図1)からのSYS  CLK  INシステムクロ
ック信号とDEL  CLKOUT遅延クロックアウト
信号を入力して、COM  LAT  REF/SYS
−DELコンプリメントラッチ基準/システム−遅延信
号と、COM  LATREF−DEL/SYSコンプ
リメントラッチ基準−遅延/システム信号を発生するも
のである。位相フィルタ111はこれらの信号を入力し
て、入力した信号を遅延させ、濾波し、それぞれの信号
に対してコンプリメントな出力信号を発生するものであ
る。位相デコーダ112はこのコンプリメントな出力信
号を入力し、LAG信号、LEAD信号、PH  OK
同相信号、およびPH  OUT逆層信号を発生するも
のである。これらの信号は遅延制御回路22に出力され
る。
【0108】位相検出器110は、SYS  CLK 
 INシステムクロック信号と、DELCLK  OU
T  REF遅延クロックアウト基準信号との間の選ば
れた位相関係に応じて、COM  LAT  REF/
SYS−DELコンプリメントラッチ基準/システム−
遅延信号と、COM  LAT  REF−DEL/S
YSコンプリメントラッチ基準−遅延/システム信号を
アサートするか、あるいは否定する。特に、位相検出器
110はSYS  CLK  INシステムクロック信
号と、DEL  CLK  OUT  REF遅延クロ
ックアウト基準信号をそれぞれ入力するバッファ113
,114を含む。各バッファ113,114はそれぞれ
の入力信号を、フリップフロップ115,116の入力
端子と、遅延素子117,120の入力端子に出力する
。遅延素子117はバッファ117からの信号を入力し
、SYS  DEL  システム遅延信号を発生する。 SYS  DEL  システム遅延信号はSYS  C
LK  INシステムクロック信号と同様の信号である
が、エッジはバッファ113と遅延素子117により決
定される量だけ遅延される。同様に、遅延素子120は
バッファ114からの信号を入力し、REF  DEL
基準遅延信号を発生する。REF  DEL基準遅延信
号はDEL  CLK  OUT  REF遅延クロッ
クアウト基準信号と同様の信号であるが、バッファ11
3と遅延素子120により決定される量だけ遅延される
。バッファ113,114は同一の遅延期間を与えるよ
うにしても良い。このことは位相検出器110の以下の
動作説明では考慮しないが、遅延素子117の置換期間
は遅延素子120のそれより長い。
【0109】フリップフロップ115,116は本質的
にはREF  DEL基準遅延信号およびDEL  C
LK  OUT  REF遅延クロックアウト基準信号
のエッジのタイミングを、それぞれ、SYS  CLK
  INシステムクロック信号およびSYS  DEL
システム遅延信号のエッジのタイミングと比較するもの
である。遅延素子117により規定される遅延により、
SYS  CLK  IN  システムクロック信号の
前縁に従って窓が規定される。その結果、DEL  C
LKOUTREF遅延クロックアウト基準信号、または
REF  DEL基準遅延信号が窓に落ち込んだ場合、
位相比較器23によりPH  OK同相信号がアサート
され、それらの信号が同相であることが示めされる。
【0110】特に、フリップフロップ116はデータ入
力端子にDEL  CLKOUTREF遅延クロックア
ウト基準信号が入力され、遅延素子117からのSYS
DELシステム遅延信号によりクロックされる。DEL
  CLK  OUT  REF遅延クロックアウト基
準信号が、SYS  DELシステム遅延信号の前縁で
アサートされた場合、すなわち、DEL  CLK  
OUT  REF遅延クロックアウト基準信号が、SY
S  CLK  INシステムクロック信号と同相か、
あるいはその信号より進んでいる場合、フリップフロッ
プ116がセットされ、その結果、COM  LAT 
 REF/SYS−DELコンプリメントラッチ基準/
システム−遅延信号を否定する。しかし、DEL  C
LK  OUT  REF遅延クロックアウト基準信号
が、SYS  DEL  システム遅延信号の前縁で否
定された場合、すなわち、DEL  CLK  OUT
  REF遅延クロックアウト基準信号が、SYS  
CLK  INシステムクロック信号に対して逆相、ま
たは遅れている場合、フリップフロップ116はクリア
され、COM  LAT  REF/SYS−DELコ
ンプリメントラッチ基準/システム−遅延信号をアサー
トする。同様に、フリップフロップ115はデータ入力
端子に遅延素子120からREF  DEL基準遅延信
号を入力し、SYS  CLK  INシステムクロッ
ク信号によりクロックされる。REF  DEL基準遅
延信号がバッファ113からのSYS  CLK  I
Nシステムクロック信号の前縁で否定された場合、すな
わち、DEL  CLK  OUT  REF遅延クロ
ックアウト基準信号がSYS  CLKINシステムク
ロック信号と同相か、あるいは遅れている場合、フリッ
プフロップ117はクリアされ、COM  LAT  
REF−DEL/SYSコンプリメントラッチ基準−遅
延/システム信号をアサートする。一方、REF  D
EL基準信号が、SYS  CLK  INシステムク
ロック信号の前縁でアサートされた場合、すなわち、D
EL  CLK  OUT  REF遅延クロックアウ
ト基準信号がSYS  CLK  INシステムクロッ
ク信号より進むか、あるいは逆相である場合、フリップ
フロップ115がセットされ、COM  LAT  R
EF−DEL/SYSコンプリメントラッチ基準−遅延
/システム信号を否定する。
【0111】位相フィルタ111は2つのフィルタパス
121A,121Bを含む。フィルタパス121A,1
21Bは入力されたCOM  LAT  REF/SY
S−DELコンプリメントラッチ基準/システム−遅延
信号と、COM  LAT  REF−DEL/SYS
コンプリメントラッチ基準−遅延/システム信号を遅延
させ、濾波し、コンプリメントな信号を発生する。フィ
ルタパス121A,121Bは一般的に互いに同様であ
るので、フィルタパス121Aのみを説明する。フィル
タパス121Aは、フリップフロップ122A〜125
A,127、マルチプレクサ126A,および排他的N
ORゲート130Aを含む。さらに、位相フィルタ11
1はORゲート130Bを含み、ORゲート130Bは
フィルタパス121Bの排他的NORゲート130A,
130Bにより制御され、マルチプレクサ126A,1
26Bを同時に制御する。フィルタパス121A,12
1Bはセレクタ31のバッファ部(図7)と同様に構成
され、動作するので、詳細な説明を省く。
【0112】フィルタパス121Aのフリップフロップ
127Aは、そのQ端子とQ−バー端子から、それぞれ
、真でコンプリメントなCOM  LAT  REF/
SYS−DELコンプリメントラッチ基準/システム−
遅延信号を出力し、その信号はフィルタパス121Aに
より遅延され、濾波される。同様に、フィルタパス12
1Bのフリップフロップ127BはそのQ端子とQ−バ
ー端子から、それぞれ、真でコンプリメントなCOM 
 LAT  REF−DEL/SYSコンプリメントラ
ッチ基準−遅延/システム信号を出力し、その信号フィ
ルタパス121Bにより遅延され、濾波される。フリッ
プフロップ127A,127Bからの信号は、すべて、
位相検出器112に出力される。位相検出器112は、
LAG信号、LEAD信号、PH  OK同相信号、お
よびPH  OUT逆相信号を発生するANDゲート1
32〜135を備えている。
【0113】ANDゲート132はフリップフロップ1
27A,127BのQ出力端子からの信号、すなわち、
COM  LAT  REF/SYS−DELコンプリ
メントラッチ基準/システム−遅延信号と、COM  
LAT  REF−DEL/SYSコンプリメントラッ
チ基準−遅延/システム信号の真に相当する信号を入力
する。上述したことから分かるように、(i)COM 
 LAT  REF/SYS−DELコンプリメントラ
ッチ基準/システム−遅延信号の真がアサートされた場
合、DEL  CLK  OUT  REF遅延クロッ
クアウト基準信号がSYS  CLKINシステムクロ
ック信号より遅れるか、あるいは逆相であることを示し
、(ii)COM  LAT  REF−DEL/SY
Sコンプリメントラッチ基準−遅延/システム信号の真
がアサートされた場合は、DEL  CLK  OUT
  REF遅延クロックアウト基準信号がSYS  C
LK  INシステムクロック信号と同相か、あるいは
遅れていることを示す。これらのコンディションの一致
は、アサートされたLAG信号がANDゲート132に
より発生されることにより示されるが、これらのコンデ
ィションは、DEL  CLK  OUT  REF遅
延クロックアウト基準信号がSYS  CLK  IN
システムクロック信号より遅れた場合に一致する。
【0114】ANDゲート133はフリップフロップ1
27A,127BのQ−バー出力端子からの信号、すな
わち、COM  LAT  REF/SYS−DELコ
ンプリメントラッチ基準/システム−遅延信号と、CO
M  LAT  REF−DEL/SYSコンプリメン
トラッチ基準−遅延/システム信号のコンプリメントに
相当する信号が入力される。上述したことから分かるよ
うに、(i)COMLATREF/SYS−DELコン
プリメントラッチ基準/システム−遅延信号のコンプリ
メントがアサートされた場合(その信号の真が否定され
た場合)は、DELCLK  OUT  REF遅延ク
ロックアウト基準信号がSYS  CLK  INシス
テムクロック信号より進むか、あるいは同相であること
を示し、(ii)COM  LAT  REF−DEL
/SYSコンプリメントラッチ基準−遅延/システム信
号のコンプリメントがアサートされた場合(その信号の
真が否定された場合)は、DEL  CLK  OUT
  REF遅延クロックアウト基準信号がSYSCLK
  INシステムクロック信号に対して逆相か、あるい
は進んでいることを示す。 これらのコンディションの一致はアサートされたLEA
D信号がANDゲート133により発生されることによ
り示されるが、これらのコンディションはDEL  C
LK  OUT  REF遅延クロックアウト基準信号
がSYS  CLK  IN  システムクロック信号
より遅れた場合に一致する。
【0115】ANDゲート134はフリップフロップ1
27A,127BのQ−バー出力端子からの1つの信号
、すなわち、COM  LAT  REF/SYS−D
ELコンプリメントラッチ基準/システム−遅延信号の
コンプリメントと、フリップフロップ127BのQ出力
端子からの第2信号(COM  LAT  REF−D
EL/SYSコンプリメントラッチ基準−遅延/システ
ム信号の真に相当する信号)とに相当する信号が入力さ
れる。 上述したことから分かるように、(i)COMLAT 
 REF/SYS−DELコンプリメントラッチ基準/
システム−遅延信号のコンプリメントがアサートされた
場合(その信号の真が否定された場合)は、DEL  
CLK  OUT  REF遅延クロックアウト基準信
号がSYS  CLK  INシステムクロック信号よ
り進むか、あるいは同相であることを示し、(ii)C
OM  LAT  REF−DEL/SYSコンプリメ
ントラッチ基準−遅延/システム信号の真がアサートさ
れた場合(その信号の真が否定された場合)は、DEL
  CLK  OUT  REF遅延クロックアウト基
準信号がSYS  CLK  IN  システムクロッ
ク信号と同相か、あるいは遅れていることを示す。これ
らのコンディションの一致は、アサートされたPH  
OK同相信号がANDゲート133により発生されるこ
とにより示されるが、これらのコンディションは、DE
L  CLK  OUT  REF遅延クロックアウト
基準信号がSYS  CLK  INシステムクロック
信号と同相の場合に一致する。
【0116】ANDゲート135はフリップフロップ1
27A,127BのQ出力端子からの1つの信号、すな
わち、COM  LAT  REF/SYS−DELコ
ンプリメントラッチ基準/システム−遅延信号の真と、
フリップフロップ127BのQ−バー出力端子からの第
2信号(COM  LAT  REF−DEL/SYS
コンプリメントラッチ基準−遅延/システム信号のコン
プリメントに相当する信号)とに相当する信号を入力す
る。上述したことから分かるように、(i)COM  
LAT  REF/SYS−DELコンプリメントラッ
チ基準/システム−遅延信号の真がアサートされた場合
は、DEL  CLK  OUT  REF遅延クロッ
クアウト基準信号がSYS  CLK  INシステム
クロック信号より遅れるか、あるいは逆相であることを
示し、(ii)COM  LAT  REF−DEL/
SYSコンプリメントラッチ基準−遅延/システム信号
のコンプリメントがアサートされた場合(その信号の真
が否定された場合)は、DEL  CLK  OUT 
 REF遅延クロックアウト基準信号がSYS  CL
K  INシステムクロック信号と逆相であるか、ある
いは進んでいることを示す。これらのコンディションの
一致、すなわち、アサートされたLEAD信号がAND
ゲート133により発生されるのは、DEL  CLK
  OUT  REF遅延クロックアウト基準信号がS
YSCLK  INシステムクロック信号に対して逆相
である場合に発生する。
【0117】したがって、上述したように、位相比較器
23は、遅延制御回路22により用いられる4つの信号
、すなわち、LAG信号、LEAD信号、PH  OK
同相信号、およびPH  OUT逆相信号を発生する。
【0118】図1ないし図9を参照して説明したクロッ
クバッファ回路10は幾つかの特徴を有する。上述した
ことから分かるように、回路10はDEL  CLK 
 OUTREF遅延クロックアウト基準信号のエッジの
タイミングと、DELCLKOUT遅延クロックアウト
信号の対応するエッジのタイミングとを、SYSCLK
  INシステムクロック信号の対応するエッジに対し
て制御し、製造工程における許容誤差に起因してチップ
間にタイミングの差が生じるという問題を解決すること
ができる。従って、通常、製造工程における許容誤差が
厳しいためか、あるいは、製造後のチップの選別により
上がる製造コストを軽減させることができる。その代わ
り、種々のチップの間のDEL  CLK  OUT 
 REF遅延クロックアウト基準信号のタイミングの変
動が制御され、軽減されるので、バッファ回路10は対
応する処理が増えることになる。
【0119】上述した特徴のうち全部または幾つかを達
成し、上述したように、バッファ回路10を種々に変形
することは望ましいことである。例えば、図2ないし図
6を参照して説明した可変遅延素子20は、A遅延パス
25AとB遅延パス25BからのA  DEL  CL
K遅延クロック信号およびB  DEL  CLK遅延
クロック信号の間の位相関係を直接検出する位相比較器
32A,32Bを含む。このようにすると、例えば、A
遅延パス25AとB遅延パス25Bによる遅延に差があ
る場合、AC(8:0)カウンタ信号とBC(8:0)
カウンタ信号の2進符号化値が同一になるという利点が
ある。遅延が事実上同一である場合、位相差がAC(8
:0)カウンタ信号とBC(8:0)カウンタ信号の2
進符号化値の差として現れるので、位相比較器32A,
32Bは削除しても良い。
【0120】さらに、可変遅延素子20は、遅延パス2
5A,25B(図2)に替えて1つの遅延パス25を用
いて実現することができる。その場合、可変遅延素子2
0は、共通遅延線30とA遅延線26A(図4,5,6
)のような1つの遅延線を含むだけで良い。この場合、
位相比較器32A,32B,およびセレクタ31は必要
でなくなるであろう。その場合、遅延クロック信号(A
  DEL  CLK遅延クロック信号に相当する信号
)には、遅延線のマルチプレクサ42A〜42Dに対応
するマルチプレクサのコンディションが変化するためノ
イズがある。応用によっては、ノイズの量は被制御回路
にとって問題ならないか、あるいは、バッファ11およ
びクロック回路網が被制御回路にノイズが到達しないだ
けのキャパシタンスを持つようにしても良い。あるいは
、可変遅延素子は、A  DEL  CLK遅延クロッ
ク信号が否定された時を検出するための回路を含み、そ
のときにのみ、遅延線を制御するマルチプレクサのコン
ディションを変化させ、ノイズの発生を防止するように
しても良い。
【0121】さらに、バッファ11による遅延量が予測
される場合は、クロック信号パス上であって、SYS 
 CLK  INシステムクロック信号が入力される遅
延素子20の入力端子か、あるいは、COMP  DE
L  CLK複合遅延クロック信が出力される遅延素子
20の出力端子に、さらに遅延素子を加えることも可能
である。 例えば、SYS  CLK  INシステムクロック信
号のデューティサイクルが50%で、望ましい遅延が1
80度である場合、可変遅延素子20の入力端子に接続
されたインバータにより、望ましい遅延が行われる。上
述したことから分かるように、可変置換素子20の種々
の遅延パス25A,25Bによる遅延は、SYS  C
LK  INシステムクロック信号の期間の数倍になる
のが望ましい。しかし、このようにした場合、クロック
バッファ回路10が適応するSYS  CLK  IN
システムクロック信号の低周波数範囲が抑制される。し
たがって、遅延素子を加えることにより、バッファ11
による遅延量が予測できない場合は、この抑制を緩やか
にして、適応できる低周波数範囲を拡大させることがで
きる。
【0122】以上、本発明の一実施例を説明したが、本
発明は変更および変形することができ、本発明の効果の
幾つかまたは全てを達成することができる。請求の範囲
の目的は、本発明の精神および範囲内での変更および変
形を全て包含することにある。
【0123】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
上記のように構成したので、入力されるシステムクロッ
ク信号の遷移に関連して、出力されるクロック信号のチ
ックタイミングを制御することができるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明一実施例のクロックバッファ回路10を
示すブロック図である。
【図2】図1図示可変遅延素子20の構成を示すブロッ
ク図である。
【図3】図1図示遅延制御回路22の構成を示すブロッ
ク図である。
【図4】図2図示遅延線26Aを2分割したうちの一方
の構成を示すブロック図である。
【図5】図2図示遅延線16A2分割したうちの他方の
構成を示すブロック図である。
【図6】図2図示2進カウンタ27Aの構成を示すブロ
ック図である。
【図7】図2図示セレクタ31の構成を示すブロック図
である。
【図8】図3図示遅延状態装置33の状態を示す状態遷
移図である。
【図9】図1図示位相比較器23の構成を示すブロック
図である。
【符号の説明】
11  バッファ 12  バッファ制御回路 13  バッファ増幅器 14A〜14N  駆動回路 16  駆動回路 20  可変遅延素子 22  遅延制御回路 23  位相比較器

Claims (25)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  媒介クロック信号(COMP  DE
    L  CLK)に応じてクロックバッファ出力信号を発
    生するクロックバッファに接続されたクロックバッファ
    制御回路において、システムクロック信号(SYS  
    CLK  IN)が入力され、かつ、遅延制御信号に応
    じて遅延が制御される前記媒介クロック信号を発生する
    可変遅延素子(20)と、前記クロックバッファ出力信
    号と前記システムクロック信号の位相差に応じて位相比
    較信号を発生する位相比較器(23)と、前記位相比較
    信号に応じて前記遅延制御信号を発生し、前記可変遅延
    素子による遅延を制御し、システムクロック信号とクロ
    ックバッファ出力信号の間に所定のタイミング関係を与
    える遅延制御回路(22)とを備えたことを特徴とする
    クロックバッファ制御回路。
  2. 【請求項2】  請求項1において、可変遅延素子は、
    システムクロック信号を入力し、遅延線制御信号に応じ
    て前記媒介クロック信号を発生する制御可能可変遅延線
    (26Aまたは26Bおよび30)と、前記遅延制御信
    号に応じて前記遅延線制御信号を発生する遅延線制御回
    路(27A,27B)とを備えたことを特徴とするクロ
    ックバッファ制御回路。
  3. 【請求項3】  請求項2において、制御可能可変遅延
    線は、遅延素子(40(i)(j))が直列接続され、
    かつ、前記システムクロック信号が入力される第1遅延
    素子を含む遅延素子群と、該遅延素子群のうち選択され
    た遅延素子からの信号が入力される複数のデータ入力端
    子と、前記媒介クロック信号を出力する1つの出力端子
    と、前記遅延線制御信号が入力される制御端子とを有し
    、かつ、所定量だけ遅延させるための前記遅延線制御信
    号に応じて、前記複数のデータ入力端子のうちの1つを
    選択し、選択された入力端子の信号を前記出力端子から
    出力するマルチプレクサ回路(42A−42D)とを備
    えたことを特徴とするクロックバッファ制御回路。
  4. 【請求項4】  請求項3において、遅延線制御回路は
    、出力信号を発生し、かつ、前記遅延線制御回路からの
    方向性カウントイネーブル信号に応じて動作する2進カ
    ウンタ(27A,27B)を備え、前記遅延線制御信号
    は2進カウンタにより発生された出力信号を備えている
    ことを特徴とするクロックバッファ制御回路。
  5. 【請求項5】  請求項2において、制御可能可変遅延
    線はランクを直列接続したランク群(41)を備え、ラ
    ンクの1つが第1ランクであり、前記ランク群は、遅延
    素子が直列に接続され、かつ、各ランクの遅延素子の1
    つがそれぞれのランクの第1遅延素子であり、該第1遅
    延素子に前記システムクロック信号が入力されている遅
    延素子群(40(i)(j))と、当該ランクの遅延素
    子のうちの選択された遅延素子からの信号が入力される
    複数の入力端子と、当該ランクの次のランクの第1遅延
    素子にクロック信号を出力する1つの出力端子と、遅延
    線制御信号が入力される1つの制御端子とを有し、かつ
    、当該ランクの遅延を選択する遅延線制御信号に応じて
    前記複数の入力端子のうちの1つの入力端子を選択し、
    選択された入力端子の信号を前記出力端子から出力する
    マルチプレクサ回路とを備えたことを特徴とするクロッ
    クバッファ制御回路。
  6. 【請求項6】  請求項5において、遅延素子群はその
    遅延量がランク単位で連続して減少することを特徴とす
    るクロックバッファ制御回路。
  7. 【請求項7】  請求項6において、1つのランクの各
    遅延素子はその遅延量がランクを直列接続したランク群
    の全遅延素子群の遅延量とほとんど同一であることを特
    徴とするクロックバッファ制御回路。
  8. 【請求項8】  請求項5において、遅延制御回路は出
    力信号を出力し、かつ、前記遅延線制御回路からの方向
    性カウントイネーブル信号に応じて動作する2進カウン
    タ(27A,27B)を備え、前記遅延線制御信号は2
    進カウンタにより発生された出力信号を備えていること
    を特徴とするクロックバッファ制御回路。
  9. 【請求項9】  請求項1において、可変遅延素子は、
    システムクロック信号を入力し、第1および第2遅延線
    制御信号に応じて第1および第2遅延クロック信号を発
    生する制御可能可変遅延線(26Aまたは26Bおよび
    30)と、前記遅延線制御信号に応じて前記第1および
    第2遅延線制御信号を発生する遅延線制御回路(27A
    ,27B)と、前記遅延制御回路からの選択信号に応じ
    て、前記第1および第2遅延クロック信号のうちの1つ
    の信号を媒介クロック信号として出力するセレクタ(3
    1)とを備えたことを特徴とするクロックバッファ制御
    回路。
  10. 【請求項10】  請求項9において、各制御可能可変
    遅延線は、前記システムクロック信号が入力される第1
    遅延素子を含み、かつ、遅延素子(40(i)(j))
    が直列に接続された遅延素子群と、前記遅延素子群のう
    ちの選択された遅延素子からの信号が入力される複数の
    入力端子と、前記第1および第2クロック信号を出力す
    る1つの出力端子と、前記遅延線制御信号が入力される
    制御端子とを有し、かつ、所定量だけ遅延させるための
    前記遅延線制御信号に応じて、前記複数のデータ入力端
    子のうちの1つを選択し、選択された入力端子の信号を
    出力端子から出力するマルチプレクサ回路(42A−4
    2D)とを備えたことを特徴とするクロックバッファ制
    御回路。
  11. 【請求項11】  請求項10において、各制御可能可
    変遅延線は、出力信号を発生し、かつ、前記遅延線制御
    回路からの第1および第2方向性カウントイネーブル信
    号に応じて動作する2進カウンタ(27A,27B)を
    備え、前記遅延線制御信号は各2進カウンタにより発生
    された出力信号を備えていることを特徴とするクロック
    バッファ制御回路。
  12. 【請求項12】  請求項9において、各制御可能可変
    遅延線がランクを直列接続したランク群(41)を備え
    、ランクの1つが第1ランクであり、前記ランク群は、
    遅延素子が直列に接続され、かつ、遅延素子の1つがそ
    れぞれのランクの第1遅延素子であり、該第1遅延素子
    に前記システムクロック信号が入力されている遅延素子
    群(40(i)(j))と、当該ランクの遅延素子のう
    ちの選択された遅延素子からの信号が入力される複数の
    入力端子と、当該ランクの次のランクの第1遅延素子に
    クロック信号を出力する1つの出力端子と、遅延線制御
    信号が入力される1つの制御端子とを有し、かつ、当該
    ランクの遅延を選択する遅延線制御信号に応じて前記複
    数の入力端子のうちの1つを選択し、選択された入力端
    子の信号を前記出力端子から出力するマルチプレクサ回
    路とを備えたことを特徴とするクロックバッファ制御回
    路。
  13. 【請求項13】  請求項12において、遅延素子群は
    その遅延量がランク単位で連続して減少することを特徴
    とするクロックバッファ制御回路。
  14. 【請求項14】  請求項13において、1つのランク
    の各遅延素子はその遅延量が当該ランクより後の全ての
    ランクの全遅延素子群の遅延量と同一であることを特徴
    とするクロックバッファ制御回路。
  15. 【請求項15】  請求項12において、遅延制御回路
    は出力信号を出力し、かつ、前記遅延線制御回路からの
    方向性カウントイネーブル信号に応じて動作する2進カ
    ウンタ(27A,27B)を備え、前記遅延線制御信号
    は2進カウンタにより発生された出力信号を備えている
    ことを特徴とするクロックバッファ制御回路。
  16. 【請求項16】  請求項9において、可変遅延素子は
    、前記第1および第2遅延クロック信号の間の位相関係
    を示す遅延クロック位相関係信号を発生する位相比較回
    路(32A,32B)を備え、前記遅延制御回路(22
    )は前記遅延クロック位相関係信号に応じて前記選択信
    号を発生することを特徴とするクロックバッファ制御回
    路。
  17. 【請求項17】  請求項16において、位相比較回路
    は、前記第1および第2遅延クロック信号の一方の位相
    と他方の位相を比較した結果に応じて、位相関係信号を
    発生する第1および第2遅延クロック位相比較器(32
    A,32B)を含むことを特徴とするクロックバッファ
    制御回路。
  18. 【請求項18】  請求項9において、セレクタは、そ
    のデータ入力端子に前記第1および第2遅延クロック信
    号が入力され、制御端子の選択制御信号に応じて、前記
    第1および第2遅延クロック信号のいずれか一方を媒介
    クロック信号としてデータ出力端子から出力するマルチ
    プレクサ(70)と、前記第1および第2遅延クロック
    信号と前記遅延制御回路からの前記選択信号に応じて、
    前記選択制御信号を発生する制御回路(72,73)と
    を含むことを特徴とするクロックバッファ制御回路。
  19. 【請求項19】  請求項18において、制御回路は、
    入力された前記遅延制御回路からの前記選択信号に応じ
    て、選択信号を濾波するフィルタ回路(72)と、選択
    制御回路(73)とを備え、前記選択制御回路(73)
    は、濾波された選択信号と選択制御信号の条件に応じて
    選択比較信号を発生する比較器(86,90)と、第1
    および第2遅延クロック信号の選択された位相関係に応
    じて、位相関係信号を発生する位相検出回路(85)と
    、前記選択比較信号と前記位相関係信号とに応じて、前
    記選択制御信号を発生する選択制御信号発生回路(83
    ,84)とを含むことを特徴とするクロックバッファ制
    御回路。
  20. 【請求項20】  請求項19において、フィルタ回路
    (72)は、前記選択信号が入力され、遅延選択信号に
    応じて発生する遅延回路(74,75,76)と、前記
    選択信号と前記遅延制御信号が入力され、かつ、前記選
    択信号と前記遅延選択信号が異なる場合は、変化コンデ
    ィションを有し、両信号のコンディションが同一である
    場合は、保持コンディションを有する選択制御信号を発
    生する比較回路(23)と、前記遅延回路と前記比較回
    路に接続され、かつ、濾波された選択信号を発生し、か
    つ、(i)遅延選択信号を、変化コンディションを有す
    る選択制御信号に応じて、濾波された選択信号として出
    力し、(ii)保持コンディションを有する選択制御信
    号に応じて、濾波された選択信号を維持する選択回路(
    81,82)とを備えたことを特徴とするクロックバッ
    ファ制御回路。
  21. 【請求項21】  請求項1において、位相比較器(2
    3)は、前記クロックバッファ出力信号と前記システム
    クロック信号の間の選択された位相関係に応じて、位相
    識別信号を発生する位相検出器(110)と、入力され
    た位相識別信号に応じて前記位相比較信号を発生するデ
    コーダ(112)とを備えたことを特徴とするクロック
    バッファ制御回路。
  22. 【請求項22】  請求項21において、入力された位
    相識別信号を濾波するフィルタ(111)を備え、前記
    ディコーダは前記濾波された位相識別信号に応じて位相
    比較信号を発生することを特徴とするクロックバッファ
    制御回路。
  23. 【請求項23】  請求項22において、フィルタは前
    記位相識別信号をそれぞれ濾波するフィルタパスよりな
    るフィルタパス群を含み、各フィルタパスは、入力され
    た前記位相識別信号の1つを遅延する遅延回路(122
    A−125A,122B−125B)と、前記位相識別
    信号と前記遅延位相識別信号とが入力され、(i)位相
    識別信号と前記遅延位相識別信号のコンディションが異
    なる場合は、変化コンディションを有し、(ii)位相
    識別信号と前記遅延位相識別信号のコンディションが同
    一である場合は、保持コンディションを有する選択制御
    信号を発生する比較回路(130A,130B,131
    )と、前記遅延回路と前記比較回路に接続され、濾波さ
    れた位相識別信号を発生し、かつ、(i)変化コンディ
    ションを有する選択制御信号に応じて、遅延位相選択信
    号を、濾波された選択信号として出力するか、あるいは
    、(ii)保持コンディションを有する選択制御信号に
    応じて、濾波された位相選択信号を維持する選択回路(
    126A,127A,126B,127B)とを備えた
    ことを特徴とするクロックバッファ制御回路。
  24. 【請求項24】  請求項21において、位相検出器は
    、遅延システムクロック信号を発生し、遅延システムク
    ロック信号とシステムクロック信号により時間窓が規定
    されるシステムクロック遅延回路(117)と、クロッ
    クバッファ出力信号と時間窓の間の選択された関係に応
    じて、位相比較信号を発生する基準比較回路(115,
    116,120)とを備えたことを特徴とするクロック
    バッファ制御回路。
  25. 【請求項25】  請求項1において、i.システムク
    ロック信号が入力され、かつ、第1および第2遅延線制
    御信号に応じて第1および第2遅延クロック信号を発生
    し、かつ、(a)複数の遅延素子が直列に接続され、前
    記複数の遅延素子の1つである第1遅延素子に前記シス
    テムクロック信号が入力される遅延素子群(40(i)
    (j))と、(b)前記複数の遅延素子のうち選択され
    た遅延素子の端子からの信号が入力される複数のデータ
    入力端子と、媒介クロック信号を出力する1つのデータ
    出力端子と、前記遅延線制御信号が入力される制御端子
    とを有し、かつ、選択された遅延を得るための遅延線制
    御信号に応じて、前記複数のデータ入力端子のうちの1
    つの端子からの信号を選択的にその出力端子から出力す
    るマルチプレクサ回路(42A−42D)と、(c)前
    記第1および第2遅延クロック信号の間の位相関係を示
    す遅延クロック位相関係信号を発生し、この信号に応じ
    て、前記遅延制御回路により前記選択信号を発生させる
    位相比較回路(32A,32B)とを含む第1および第
    2制御可能遅延線(26Aまたは26Bおよび30)と
    、ii.前記遅延制御信号に応じて、第1および第2遅
    延線制御信号を発生し、かつ、前記第1および第2方向
    性カウントイネーブル信号に応じて動作する2進カウン
    タを備え、遅延線制御信号は2進カウンタの出力を備え
    た第1および第2遅延線制御回路(27A,27B)と
    、iii.前記遅延制御回路からの選択信号に応じて、
    前記第1および第2遅延クロック信号の一方を媒介クロ
    ック信号として選択的に出力するセレクタ回路(31)
    とを含む可変遅延素子と、各状態が以前の状態、位相比
    較信号、および遅延クロック位相関係信号により決定さ
    れる状態群で動作する状態装置(図8)を具え、各状態
    で、前記方向性カウントイネーブル信号と前記選択信号
    を選択的に発生する遅延制御回路とを備えたことを特徴
    とするクロックバッファ制御回路。
JP3038702A 1990-03-05 1991-03-05 ディジタルクロックバッファ回路 Expired - Fee Related JP2892515B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/489,079. 1990-03-05
US489,079. 1990-03-05
US07/489,079 US5118975A (en) 1990-03-05 1990-03-05 Digital clock buffer circuit providing controllable delay

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04219022A true JPH04219022A (ja) 1992-08-10
JP2892515B2 JP2892515B2 (ja) 1999-05-17

Family

ID=23942318

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3038702A Expired - Fee Related JP2892515B2 (ja) 1990-03-05 1991-03-05 ディジタルクロックバッファ回路

Country Status (8)

Country Link
US (1) US5118975A (ja)
EP (1) EP0445574B1 (ja)
JP (1) JP2892515B2 (ja)
AT (1) ATE128254T1 (ja)
AU (1) AU640448B2 (ja)
CA (1) CA2037593A1 (ja)
DE (1) DE69113083T2 (ja)
IE (1) IE910706A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0897715A (ja) * 1994-09-29 1996-04-12 Nec Ic Microcomput Syst Ltd ディジタルpll回路
JP2000035831A (ja) * 1998-07-21 2000-02-02 Nec Corp 可変閾値電圧トランジスタを用いた低スキュークロックツリー回路

Families Citing this family (94)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2658015B1 (fr) * 1990-02-06 1994-07-29 Bull Sa Circuit verrouille en phase et multiplieur de frequence en resultant.
US5212484A (en) * 1990-03-05 1993-05-18 Thinking Machines Corporation Digital to analog converter system employing plural digital to analog converters which is insensitive to resistance variations
US5239206A (en) * 1990-03-06 1993-08-24 Advanced Micro Devices, Inc. Synchronous circuit with clock skew compensating function and circuits utilizing same
US5220206A (en) * 1990-06-29 1993-06-15 Analog Devices, Inc. Control apparatus with improved recovery from power reduction, and storage device therefor
US5305451A (en) * 1990-09-05 1994-04-19 International Business Machines Corporation Single phase clock distribution circuit for providing clock signals to multiple chip integrated circuit systems
US5231319A (en) * 1991-08-22 1993-07-27 Ncr Corporation Voltage variable delay circuit
WO1993006657A1 (en) * 1991-09-23 1993-04-01 Digital Equipment Corporation Update synchronizer
US5294842A (en) * 1991-09-23 1994-03-15 Digital Equipment Corp. Update synchronizer
US5214680A (en) * 1991-11-01 1993-05-25 Hewlett-Packard Company CMOS pseudo-NMOS programmable capacitance time vernier and method of calibration
US5498990A (en) * 1991-11-05 1996-03-12 Monolithic System Technology, Inc. Reduced CMOS-swing clamping circuit for bus lines
US5831467A (en) * 1991-11-05 1998-11-03 Monolithic System Technology, Inc. Termination circuit with power-down mode for use in circuit module architecture
EP0541288B1 (en) * 1991-11-05 1998-07-08 Fu-Chieh Hsu Circuit module redundacy architecture
FR2690022B1 (fr) * 1992-03-24 1997-07-11 Bull Sa Circuit a retard variable.
US5317202A (en) * 1992-05-28 1994-05-31 Intel Corporation Delay line loop for 1X on-chip clock generation with zero skew and 50% duty cycle
JP3381938B2 (ja) * 1992-06-05 2003-03-04 株式会社東芝 入力遷移検知パルス発生回路
US5298866A (en) * 1992-06-04 1994-03-29 Kaplinsky Cecil H Clock distribution circuit with active de-skewing
JPH0621788A (ja) * 1992-07-01 1994-01-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
WO1994003901A1 (en) * 1992-08-10 1994-02-17 Monolithic System Technology, Inc. Fault-tolerant, high-speed bus system and bus interface for wafer-scale integration
US5414832A (en) * 1992-12-17 1995-05-09 International Business Machines Corporation Tunable synchronous electronic communication apparatus
JPH0744432B2 (ja) * 1993-02-24 1995-05-15 日本電気株式会社 クロック生成装置
SE501190C2 (sv) * 1993-04-28 1994-12-05 Ellemtel Utvecklings Ab Digitalt styrd kristalloscillator
US5459422A (en) * 1993-06-02 1995-10-17 Advanced Micro Devices, Inc. Edge selective delay circuit
JP2576366B2 (ja) * 1993-06-23 1997-01-29 日本電気株式会社 可変遅延バッファ回路
FR2710800B1 (fr) * 1993-09-27 1995-12-15 Sgs Thomson Microelectronics Ligne à retard numérique.
FR2711287B1 (fr) * 1993-10-11 1996-01-05 Sgs Thomson Microelectronics Circuit d'indication de relation de phase entre plusieurs signaux de même fréquence et son application à un circuit d'ajustage des déphasages entre ces signaux.
US5564022A (en) * 1994-02-09 1996-10-08 Intel Corporation Method and apparatus for automatically inserting clock buffers into a logic block to reduce clock skew
US5440515A (en) * 1994-03-08 1995-08-08 Motorola Inc. Delay locked loop for detecting the phase difference of two signals having different frequencies
JPH07273618A (ja) * 1994-03-30 1995-10-20 Nec Corp クロックドライバ回路
US5655113A (en) * 1994-07-05 1997-08-05 Monolithic System Technology, Inc. Resynchronization circuit for a memory system and method of operating same
US5828250A (en) * 1994-09-06 1998-10-27 Intel Corporation Differential delay line clock generator with feedback phase control
US5796673A (en) * 1994-10-06 1998-08-18 Mosaid Technologies Incorporated Delay locked loop implementation in a synchronous dynamic random access memory
US5486783A (en) * 1994-10-31 1996-01-23 At&T Corp. Method and apparatus for providing clock de-skewing on an integrated circuit board
US5826068A (en) 1994-11-09 1998-10-20 Adaptec, Inc. Integrated circuit with a serial port having only one pin
US5572719A (en) * 1994-11-22 1996-11-05 Advanced Micro Devices Clock control system for microprocessors including a delay sensing circuit
KR0138220B1 (ko) * 1994-12-30 1998-05-15 김주용 위상동기루프회로의 클럭지연보상 및 듀티제어 장치
JP3639000B2 (ja) * 1995-06-13 2005-04-13 富士通株式会社 位相合わせ装置及び遅延制御回路
JPH0916282A (ja) * 1995-07-04 1997-01-17 Toshiba Corp クロック制御方式
US5744991A (en) * 1995-10-16 1998-04-28 Altera Corporation System for distributing clocks using a delay lock loop in a programmable logic circuit
US5757218A (en) * 1996-03-12 1998-05-26 International Business Machines Corporation Clock signal duty cycle correction circuit and method
US5838179A (en) * 1996-07-03 1998-11-17 General Signal Corporation Clock compensation circuit
GB2355095B (en) * 1996-08-13 2001-05-23 Fujitsu Ltd Semiconductor circuitry
TW340262B (en) 1996-08-13 1998-09-11 Fujitsu Ltd Semiconductor device, system consisting of semiconductor devices and digital delay circuit
CN1154903C (zh) * 1996-09-25 2004-06-23 松下电器产业株式会社 接收时钟作为输入信号并提供电压作为输出信号的频压转换电路
JP3388134B2 (ja) * 1997-04-10 2003-03-17 富士通株式会社 位相比較回路、dll回路および半導体集積回路
KR100237567B1 (ko) * 1997-05-07 2000-01-15 김영환 지연잠금 회로
DE69737748T2 (de) * 1997-05-16 2008-01-31 Fujitsu Ltd., Kawasaki Laufzeitunterschiedverringerungsschaltung
US5910740A (en) * 1997-06-18 1999-06-08 Raytheon Company Phase locked loop having memory
WO1999022382A1 (fr) * 1997-10-24 1999-05-06 Takashi Suzuki Equipement electrique et electronique
US5949262A (en) * 1998-01-07 1999-09-07 International Business Machines Corporation Method and apparatus for coupled phase locked loops
US6522188B1 (en) 1998-04-10 2003-02-18 Top Layer Networks, Inc. High-speed data bus for network switching
US6246704B1 (en) * 1998-04-30 2001-06-12 Stmicroelectronics, Inc. Automatic on-chip clock tuning methodology and circuitry
US6055287A (en) * 1998-05-26 2000-04-25 Mcewan; Thomas E. Phase-comparator-less delay locked loop
JP3763673B2 (ja) * 1998-06-11 2006-04-05 富士通株式会社 Dll回路
US6137334A (en) * 1998-07-06 2000-10-24 Micron Technology, Inc. Logic circuit delay stage and delay line utilizing same
US6831493B2 (en) 1998-10-30 2004-12-14 Mosaid Technologies Incorporated Duty cycle regulator
CA2250538A1 (en) 1998-10-30 2000-04-30 Mosaid Technologies Incorporated Duty cycle regulator
GB9828037D0 (en) * 1998-12-18 1999-02-10 Sgs Thomson Microelectronics Circuitry and a method for introducing a delay
KR100284741B1 (ko) * 1998-12-18 2001-03-15 윤종용 로컬클럭 신호 발생회로 및 방법, 내부클럭신호 발생회로 및방법,이를 이용한 반도체 메모리 장치
GB2348327B (en) * 1999-02-18 2003-02-19 Sgs Thomson Microelectronics Clock skew removal appartus
JP4394788B2 (ja) 1999-05-10 2010-01-06 株式会社アドバンテスト 遅延時間判定装置
US6275085B1 (en) * 1999-05-24 2001-08-14 Micron Technology, Inc. Comparator for determining process variations
JP2001075671A (ja) * 1999-09-08 2001-03-23 Nec Corp 位相補償回路
EP1912124B8 (en) 1999-10-14 2013-01-09 Bluearc UK Limited Apparatus and system for implementation of service functions
EP1250638B1 (en) * 2000-01-24 2008-07-16 Broadcom Corporation System and method for compensating for supply voltage induced signal delay mismatches
US6748549B1 (en) * 2000-06-26 2004-06-08 Intel Corporation Clocking an I/O buffer, having a selectable phase difference from the system clock, to and from a remote I/O buffer clocked in phase with the system clock
US6831490B1 (en) * 2000-07-18 2004-12-14 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Clock synchronization circuit and method
DE10064929A1 (de) * 2000-12-23 2002-07-04 Alcatel Sa Verfahren und Kompensationsmodul zur Phasenkompensation von Taktsignalen
US6621882B2 (en) 2001-03-02 2003-09-16 General Dynamics Information Systems, Inc. Method and apparatus for adjusting the clock delay in systems with multiple integrated circuits
US6850107B2 (en) 2001-08-29 2005-02-01 Micron Technology, Inc. Variable delay circuit and method, and delay locked loop, memory device and computer system using same
US6501307B1 (en) 2001-11-12 2002-12-31 Pericom Semiconductor Corp. Spread-spectrum clock buffer/driver that modulates clock period by switching loads
JP2003188720A (ja) * 2001-12-21 2003-07-04 Mitsubishi Electric Corp Pll回路
US6720810B1 (en) * 2002-06-14 2004-04-13 Xilinx, Inc. Dual-edge-correcting clock synchronization circuit
WO2004015743A2 (en) * 2002-08-08 2004-02-19 Timelab Corporation Clock distributor circuit for maintaining a phase relationship between remote operating nodes and a reference clock on a chip
US7457822B1 (en) 2002-11-01 2008-11-25 Bluearc Uk Limited Apparatus and method for hardware-based file system
US8041735B1 (en) 2002-11-01 2011-10-18 Bluearc Uk Limited Distributed file system and method
JP4279023B2 (ja) * 2003-03-25 2009-06-17 富士通株式会社 状態表示情報設定回路
US6839301B2 (en) * 2003-04-28 2005-01-04 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for improving stability and lock time for synchronous circuits
US20050007154A1 (en) * 2003-07-07 2005-01-13 Patella Benjamin J. System and method for evaluating the speed of a circuit
US7236057B2 (en) * 2003-08-26 2007-06-26 Toshiba America Electronic Components, Inc. Spread spectrum clock generator
US7233210B2 (en) * 2003-08-26 2007-06-19 Toshiba America Electric Components, Inc. Spread spectrum clock generator
US20050046458A1 (en) * 2003-08-28 2005-03-03 Schroeder Charles G. Digital delay elements constructed in a programmable logic device
US7421606B2 (en) 2004-05-18 2008-09-02 Micron Technology, Inc. DLL phase detection using advanced phase equalization
US7078950B2 (en) * 2004-07-20 2006-07-18 Micron Technology, Inc. Delay-locked loop with feedback compensation
US7088156B2 (en) * 2004-08-31 2006-08-08 Micron Technology, Inc. Delay-locked loop having a pre-shift phase detector
US8405435B2 (en) * 2004-11-10 2013-03-26 Lsi Corporation Delay locked loop having internal test path
US7177775B2 (en) * 2005-04-29 2007-02-13 International Business Machines Corporation Testable digital delay line
EP1772795A1 (en) * 2005-10-10 2007-04-11 STMicroelectronics (Research & Development) Limited Fast buffer pointer across clock
US7821301B2 (en) * 2006-01-11 2010-10-26 International Business Machines Corporation Method and apparatus for measuring and compensating for static phase error in phase locked loops
US7355380B2 (en) * 2006-05-19 2008-04-08 Transwitch Corporation Methods and apparatus for testing delay locked loops and clock skew
US7639054B1 (en) * 2008-01-16 2009-12-29 Altera Corporation Techniques for generating programmable delays
US8094698B2 (en) * 2008-01-29 2012-01-10 Realtek Semiconductor Corp. Method for generating a spread spectrum clock and apparatus thereof
US8269563B2 (en) * 2008-06-10 2012-09-18 Qualcomm Incorporated Dithering a digitally-controlled oscillator output in a phase-locked loop
TWI623198B (zh) * 2016-10-20 2018-05-01 國立高雄第一科技大學 增益解析度之互補型金氧半之全數位架構脈衝混合方法及其裝置
US10340931B1 (en) * 2017-12-30 2019-07-02 Tektronix, Inc. Dynamic delay adjustment for multi-channel digital-to-analog converter synchronization

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02168308A (ja) * 1988-09-14 1990-06-28 Hitachi Ltd クロック信号供給装置

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2450008A1 (fr) * 1979-02-21 1980-09-19 Portejoie Jean Francois Circuit de synchronisation de signaux numeriques plesiochrones par justification
US4365210A (en) * 1980-06-26 1982-12-21 Motorola, Inc. Data and clock recovery system having a phase-locked-loop and which controls dynamic loop response of a data stream of unknown data format
US4339823A (en) * 1980-08-15 1982-07-13 Motorola, Inc. Phase corrected clock signal recovery circuit
EP0048896B1 (en) * 1980-09-25 1985-12-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Clock synchronization signal generating circuit
US4369515A (en) * 1980-10-06 1983-01-18 Gte Automatic Electric Labs Inc. Clock synchronization circuit
JPS57203213A (en) * 1981-06-08 1982-12-13 Trio Kenwood Corp Clock signal reproducing circuit
JPS5814622A (ja) * 1981-07-20 1983-01-27 Advantest Corp 遅延回路
US4412342A (en) * 1981-12-18 1983-10-25 Gte Automatic Electric Labs Inc. Clock synchronization system
US4519086A (en) * 1982-06-16 1985-05-21 Western Digital Corporation MOS Phase lock loop synchronization circuit
NL8203921A (nl) * 1982-10-11 1984-05-01 Philips Nv Multipel redundant kloksysteem, bevattende een aantal onderling synchroniserende klokken, en klokschakeling voor gebruik in zo een kloksysteem.
JPS5977605A (ja) * 1982-10-26 1984-05-04 Sansui Electric Co 読取りクロツク生成方式
US4479216A (en) * 1982-12-22 1984-10-23 At&T Bell Laboratories Skew-free clock circuit for integrated circuit chip
JPS59225640A (ja) * 1983-06-06 1984-12-18 Nitsuko Ltd クロツク位相同期方式
GB2143096B (en) * 1983-07-06 1987-02-04 Motorola Israel Ltd Clock recovery circuit
US4590602A (en) * 1983-08-18 1986-05-20 General Signal Wide range clock recovery circuit
US4516035A (en) * 1983-08-22 1985-05-07 Ncr Corporation Phase synchronization and control circuit
US4617679A (en) * 1983-09-20 1986-10-14 Nec Electronics U.S.A., Inc. Digital phase lock loop circuit
US4637018A (en) * 1984-08-29 1987-01-13 Burroughs Corporation Automatic signal delay adjustment method
US4633488A (en) * 1984-11-13 1986-12-30 Digital Equipment Corporation Phase-locked loop for MFM data recording
US4680779A (en) * 1985-01-14 1987-07-14 David Systems, Inc. Distributed clock synchronization in a digital data switching system
FR2577087B1 (fr) * 1985-02-07 1987-03-06 Thomson Csf Mat Tel Dispositif de distribution d'horloge tripliquee, chaque signal d'horloge comportant un signal de synchronisation
US4700347A (en) * 1985-02-13 1987-10-13 Bolt Beranek And Newman Inc. Digital phase adjustment
US4689575A (en) * 1985-07-15 1987-08-25 Rca Corporation Clock synchronization circuit for a computer timer
US4635000A (en) * 1985-11-12 1987-01-06 Xerox Corporation Temporal pixel clock synchronization system
US4663523A (en) * 1985-11-12 1987-05-05 Xerox Corporation Spatial pixel clock synchronization system
US4626798A (en) * 1985-12-11 1986-12-02 Gte Laboratories Incorporated Phase-lock loop including integrated circuit voltage controlled oscillator
FR2593341B1 (fr) * 1986-01-20 1988-03-04 Alcatel Thomson Faisceaux Dispositif de recuperation de rythme
US4759041A (en) * 1987-02-19 1988-07-19 Unisys Corporation Local area network control system synchronization with phase-lock loop
US4804928A (en) * 1987-05-12 1989-02-14 Texas Instruments Incorporated Phase-frequency compare circuit for phase lock loop
ATE127250T1 (de) * 1987-06-30 1995-09-15 Unisys Corp Automatische taktzeit-begradigung in einer baugruppe.
US4771196A (en) * 1987-08-05 1988-09-13 California Institute Of Technology Electronically variable active analog delay line
US4807266A (en) * 1987-09-28 1989-02-21 Compaq Computer Corporation Circuit and method for performing equal duty cycle odd value clock division and clock synchronization
US4873491A (en) * 1987-10-19 1989-10-10 Wilkins Jeffrey K Phase shift circuit utilizing a variable time delay line
US4908841A (en) * 1987-10-30 1990-03-13 Digital Equipment Corporation Data decoding circuit including phase-locked loop timing
US4829377A (en) * 1988-03-03 1989-05-09 Communications Satellite Corporation Horizontal synchronization, clock synchronization, D. C. restoration and gain control scheme for an analog TV system
US5043596A (en) * 1988-09-14 1991-08-27 Hitachi, Ltd. Clock signal supplying device having a phase compensation circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02168308A (ja) * 1988-09-14 1990-06-28 Hitachi Ltd クロック信号供給装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0897715A (ja) * 1994-09-29 1996-04-12 Nec Ic Microcomput Syst Ltd ディジタルpll回路
JP2000035831A (ja) * 1998-07-21 2000-02-02 Nec Corp 可変閾値電圧トランジスタを用いた低スキュークロックツリー回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0445574A3 (en) 1992-10-21
JP2892515B2 (ja) 1999-05-17
DE69113083D1 (de) 1995-10-26
CA2037593A1 (en) 1991-09-06
DE69113083T2 (de) 1996-04-11
EP0445574B1 (en) 1995-09-20
ATE128254T1 (de) 1995-10-15
IE910706A1 (en) 1991-09-11
US5118975A (en) 1992-06-02
EP0445574A2 (en) 1991-09-11
AU7106191A (en) 1991-09-05
AU640448B2 (en) 1993-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04219022A (ja) ディジタルクロックバッファ回路
KR100605577B1 (ko) 레지스터 제어형 지연 고정 루프 및 그의 제어 방법
JP3169794B2 (ja) 遅延クロック生成回路
US5485490A (en) Method and circuitry for clock synchronization
US6081145A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2970845B2 (ja) ディジタルdll回路
JP2909740B2 (ja) 位相整合回路
US6239627B1 (en) Clock multiplier using nonoverlapping clock pulses for waveform generation
US6104228A (en) Phase aligner system and method
US20010000952A1 (en) Clock control method and circuit
US6320436B1 (en) Clock skew removal apparatus
JP3487533B2 (ja) 逓倍回路及び半導体集積回路装置
EP1150427A2 (en) Clock control circuit and method
JP4025627B2 (ja) 遅延生成方法及びそれに基づく遅延調整方法、並びにそれらを適用した遅延生成回路,遅延調整回路
US6756832B2 (en) Digitally-programmable delay line for multi-phase clock generator
US6316982B1 (en) Digital clock with controllable phase skew
EP1941615A1 (en) Voltage controlled delay line (vcdl) having embedded multiplexer and interpolation functions
US20010050581A1 (en) Clock control method and circuit
JP3652277B2 (ja) 遅延同期回路用遅延調整回路
KR20010059418A (ko) 지연고정루프에서 짧은 록킹 시간과 높은 잡음 제거를갖는 딜레이 제어기
KR100568106B1 (ko) 지터억제회로를 갖는 지연동기루프회로
US7079615B2 (en) Expanded comparator for control of digital delay lines in a delay locked loop or phase locked loop
JPH03240336A (ja) ビット位相同期回路
KR100548552B1 (ko) 디엘엘(dll)의 확률적 락-인 불량 방지 회로
US20060083341A1 (en) System and method to reduce jitter

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090226

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090226

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100226

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100226

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110226

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees