JP6888159B2 - チャンバ内部の流れを拡散させることによる低い粒子数及びより良好なウエハ品質のための効果的で新しい設計 - Google Patents

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Description

本明細書に記載の実施形態は、概して、半導体基板を処理するための装置及び方法に関する。より具体的には、本明細書に記載の実施形態は、処理チャンバの底部に配置された一又は複数のガス入口ポートを有する処理チャンバに関する。
集積回路及びフラットパネルディスプレイ製造の分野では、様々な設計構造を形成するために、一又は複数のプロセスチャンバ間で基板上に複数の堆積プロセス及びエッチングプロセスが順番に実行される。基板処理システムには、エッチング、物理的気相堆積(PVD)、化学気相堆積(CVD)、窒化、チャンバ洗浄及びコンディショニングなど、これらのプロセスを実行するための複数のチャンバが装備されうる。プロセスの多くは、真空条件下で処理チャンバにおいて実行され、処理チャンバから基板を取り外すときに、又は処理チャンバのメンテナンス中に、処理チャンバが大気圧まで加圧されうる。加えて、処理チャンバのパージは、処理ステップと処理ステップの間に実行されうる。
従来、窒化に使用される処理チャンバといった、パージガスを導入したり処理チャンバを加圧したりするためのポートは、処理チャンバのリッド上に位置する。処理チャンバ内に配置された基板上の粒子汚染はリッドのノズルパターンを示し、汚染源がリッドに位置するポートであることを示していると発見された。加えて、処理チャンバに流入するパージガス又は加圧ガスの流量が遅くなるように、ポートの開口部が制限されており、長いパージ時間及び加圧時間につながる。
したがって、基板上の粒子汚染を増加させることなく、パージガス又は加圧ガスの流量を増加させるための改良された装置が必要とされる。
一実施形態では、処理チャンバは、底部、底部の上に配置された下側壁、下側壁の上に配置された上側壁、上側壁の上に配置されたリッド、リッドの上に配置された処理ガス注入ポート、及びパージガス又は加圧ガスを処理チャンバに導入するための底部に位置する一又は複数のガス入口ポートを含む。一又は複数のガス入口ポートは、下側壁に隣接する。処理チャンバは、底部に連結された排気エンクロージャを更に含む。
別の実施形態では、処理チャンバは、第1の領域及び第2の領域を有する底部、及び底部の上に配置された下側壁を含む。下側壁は、第1の領域及び第2の領域を有する。処理チャンバは、下側壁の第1の領域の上に配置された上側壁、上側壁の上に配置されたリッド、リッドの上に配置された処理ガス注入ポート、及び底部の第1の領域に位置する、パージガス又は加圧ガスを処理チャンバに導入するための一又は複数のガス入口ポートを更に含む。一又は複数のガス入口ポートは、下側壁の第1の領域に隣接する。処理チャンバは、底部の第2の領域に連結された排気エンクロージャを更に含む。
別の実施形態では、処理チャンバは、第1の領域及び第2の領域を有する底部、及び底部の上に配置された下側壁を含む。下側壁は、第1の領域及び第2の領域を有する。処理チャンバは、下側壁の第1の領域の上に配置された上側壁、上側壁の上に配置されたリッド、リッドの上に配置された処理ガス注入ポート、及び底部の第1の領域に位置する、パージガス又は加圧ガスを処理チャンバに導入するための一又は複数のガス入口ポートを更に含む。一又は複数のガス入口ポートは、下側壁の第1の領域に隣接する。処理チャンバは、処理チャンバ内に配置された一又は複数のプレートを更に含む。一又は複数のプレートの各プレートは、一又は複数のガス入口ポートの対応するガス入口ポートの上に配置される。処理チャンバは、底部の第2の領域に連結された排気エンクロージャを更に含む。
本開示の上述の特徴を詳細に理解できるように、上記で簡単に要約されている本開示のより詳細な説明が、実施形態を参照することによって得られ、それらの実施形態の一部は添付図面に示されている。しかし、添付図面は例示的な実施形態を示しているにすぎず、従って、本開示の範囲を限定すると見なすべきではなく、その他の等しく有効な実施形態も許容されうることに留意されたい。
本明細書に記載の一実施形態による、処理チャンバの概略斜視図である。 本明細書に記載の一実施形態による、角度付きの開口部を有するガス入口ポートの概略側面図である。 本明細書に記載の別の実施形態による、スリット状の開口部を有するガス入口ポートの概略上面図である。 本明細書に記載の別の実施形態による、処理チャンバの概略斜視図である。 本明細書に記載の一実施形態による、図1に示す処理チャンバの底部の一部の概略上面図である。 本明細書に記載の一実施形態による、ねじカバーの概略斜視図である。 本明細書に記載の別の実施形態による、図1に示す処理チャンバの底部の一部の概略上面図である。 本明細書に記載の一実施形態による、図6Aに示す処理チャンバの底部の一部の概略底面図である。 本明細書に記載の一実施形態による、プレートの概略斜視図である。 本明細書に記載の別の実施形態による、プレートの概略斜視図である。 本明細書に記載の一実施形態による、リテーナの概略斜視図である。 本明細書に記載の別の実施形態による、処理チャンバの概略斜視図である。 本明細書に記載の別の実施形態による、処理チャンバの概略斜視図である。 本明細書に記載の実施形態による、処理チャンバの概略斜視図である。 本明細書に記載の実施形態による、処理チャンバの概略斜視図である。 本明細書に記載の実施形態による、処理チャンバの概略斜視図である。
理解を容易にするため、可能な場合には、図面に共通する同一の要素を示すのに同一の参照番号を使用した。一実施形態の要素及び特徴は、更なる記述がなくとも、他の実施形態に有益に組み込まれうると想定される。
本明細書に記載の実施形態は、概して、処理チャンバの底部に位置する一又は複数のガス入口ポートを有する処理チャンバに関する。一又は複数のガス入口ポートを介して処理チャンバに流入するガスは、一又は複数のガス入口ポートの各々の上に位置するプレートによって、又は一又は複数のガス入口ポートの各々の角度付きの開口部によって、処理チャンバの下側壁に沿って方向付けられる。一又は複数のガス入口ポート及びプレートは、処理チャンバの1つの端部に位置することがあり、ガス流は、プレート又は角度付きの開口部によって、処理チャンバの反対の端部に位置する排気口に方向付けられる。したがって、処理チャンバのリッドから粒子を取り除くことなく、より多くのガスを処理チャンバに流入させることができる。
図1は、本明細書に記載の一実施形態による処理チャンバ100の概略斜視図である。図1に示すように、処理チャンバ100は、底部115、底部115の上に配置された下側壁107、下側壁107の上に配置された上側壁106、上側壁106の上に配置されたリッド102、及びリッド102の上に配置された処理ガス注入ポート104を含む。処理チャンバ100は、窒化チャンバなどの任意の適切な真空処理チャンバでありうる。基板120は、上側壁106によって囲まれた位置で処理チャンバ100内に配置される。基板120は、処理チャンバ100内に配置された基板支持体126によって支持されうる。スリットバルブドア105は、基板120を処理チャンバ100内に及び処理チャンバ100から移送するためのスリットバルブ開口部を密閉するために上側壁106に配置される。下側壁107は、上側壁106及びスリットバルブドア105の下に配置される。上側壁106は、円形であっても円形でなくてもよい。図1の実施形態では、上側壁106は、円形である。下側壁107は、第1の領域109及び第2の領域111を含む。上側壁106は、下側壁107の第1の領域109の上に配置される。第1の領域109は、上側壁106の真下に位置し、第2の領域111は、上側壁106を越えて横方向に延びる。下側壁107の第1の領域109は、半円形であり、上側壁106の直径と実質的に同じ直径を有しうる。下側壁107の第2の領域111もまた、半円形であり、下側壁107の第1の領域109の直径と同じかそれより小さい直径を有しうる。図1では、半円形の第2の領域111の直径は、第1の領域109の直径よりも小さい。下側壁107は、下側壁107の第1の領域109と第2の領域111とを連結する2つの連結領域130を含みうる。下側壁107の連結領域130は、直線的でありうる。処理チャンバ100の底部115は、第1の領域108、第2の領域114、及び連結領域132を有する。底部115の第1の領域108は、下側壁107の第1の領域109に連結され、底部115の第2の領域114は、下側壁107の第2の領域111に連結され、連結領域132は、下側壁107の連結領域130に連結される。排気エンクロージャ(包囲体)122は、底部115の第2の領域114に連結され、ガス出口116は、処理チャンバ100内部のガスが、処理チャンバ100から出られるように、排気エンクロージャ122に配置される。ガス出口116は、処理チャンバ100の内部に真空状態を作り出すための真空ポンプ(図示せず)に連結されうる。
典型的には、処理チャンバ100をパージするためのパージガス、又は処理チャンバ100を加圧するための不活性ガスが、処理ガス注入ポート104を介して処理チャンバ100内に導入される。しかしながら、多くの場合、処理チャンバ100内に導入されるパージガス又は加圧ガスの流量が遅くなるように、処理ガス注入ポート104の開口部が制限される。加えて、パージガス又は加圧ガスが処理ガス注入ポート104を介して処理チャンバ100に導入されると、特にポート104を通るパージガス又は加圧ガスの流量が増加する場合、処理チャンバ100のリッド102に蓄積した粒子は、基板120の上に落下する。
リッド102上に蓄積した粒子を基板120上に落下させることなく、処理チャンバ100に流入するパージガス又は加圧ガスの流量を増加させるために、ガス入口110は、パージガス又は加圧ガスを処理チャンバ100に導入するために底部115の第1の領域108内に配置されうる。ガス入口110は、ガスパネル(図示せず)などのガス源からパージガス又は加圧ガスを受け取るための導管112を含む。ディフューザー(図示せず)が、ガス入口110の内部に配置されてもよい。ガス入口110は、下側壁107の第1の領域109に隣接するガス入口ポート124で底部115の第1の領域108に連結される。ガス入口ポート124は、基板支持体126に向かってガスが流れるのを回避するために、チャンバの周囲に配置される。したがって、パージガス又は加圧ガスは、ガス入口110からリッド102に向かって処理チャンバ100に流入し、基板支持体126に衝突しないが、これは、基板支持体126が、パージガス又は加圧ガスの流路から半径方向内側に位置するエッジ128を有するからである。いくつかの実施形態では、ガス入口110から処理チャンバ100に導入されるガスは、リッド102上の粒子を落下させないような速度で、リッド102に衝突することがある。ガスの速度を増加させることなく、ガス入口110を介して処理チャンバ100に流入するガスの量を増加させるために、ガス膨張装置113が利用されうる。ガス膨張装置113は、図1に示されるように、ガス入口110に連結されてもよく、又はガス入口110の内側に配置されてもよい。ガス膨張装置113は、任意の適切なガス膨張装置でありうる。ガス膨張装置113によれば、処理チャンバ100に導入されるパージガス又は加圧ガスの量が増加する一方で、処理チャンバ100に流入するパージガス又は加圧ガスの速度は増加しない。その結果、たとえパージガス又は加圧ガスが処理チャンバ100のリッド102に衝突したとしても、リッド102上の粒子は、ガスの速度が遅いため、ガス入口110を介して導入されたガスによってリッド102から取り除かれることはない。
いくつかの実施形態では、ガス膨張装置113が省略され、リッド102から粒子を除去することなく、ガス入口110を介して処理チャンバ100に流入するガスの量を増加させるために、処理チャンバ100の内側のガス入口110の開口部が利用されうる。図2Aは、本明細書に記載の一実施形態による角度付き開口部202を有するガス入口110の概略側面図である。図2Aに示すように、角度付き開口部202は、処理チャンバ100の基準面201と角度Aを形成しうる。処理チャンバの基準面201は、基板120の処理面と実質的に平行でありうる。角度Aは、パージガス又は加圧ガス204を、下側壁107の第2の領域111に、例えば、第1の領域109から下側壁107の第2の領域111に、方向付けるために、0度より大きくてもよい。言い換えれば、パージガス又は加圧ガスは、下側壁107の連結領域130のうちの1つに沿って流れるように方向付けられる。下側壁107は、基板120を囲む上側壁106の下に配置されているので、下側壁107に沿って流れるパージガス又は加圧ガスが基板120に衝突することはない。したがって、ガスが処理チャンバのリッド102に向かって直接流れていないので、ガス入口110を介して処理チャンバ100に流入するガスの速度を増加させることができる。角度付き開口部202は、円形又は他の任意の適切な形状でありうる。
図2Bは、本明細書に記載の一実施形態によるスリット状の開口部206を有するガス入口110の概略上面図である。一実施形態では、スリット状の開口部206は、図1に示されるガス入口ポート124である。図2Bに示されるように、スリット状の開口部206の面積は、ガス入口110の開口部の面積などの円形開口部よりも大きい。したがって、パージガス又は加圧ガスの速度を増加させずに、より多くのパージガス又は加圧ガスを、スリット状の開口部206を通して処理チャンバ100に流入させることができる。スリット状の開口部206は、下側壁107に隣接してもよく、下側壁107の方位角に一致する湾曲形状を有してもよい。いくつかの実施形態では、スリット状の開口部206は、平面であってもよく、すなわち、スリット状の開口部206は、基準面201と約0度の角度を形成する。他の実施形態では、スリット状の開口部206は、図2Aに示されるように角度を付けられてもよい。
図3は、本明細書に記載の別の実施形態による処理チャンバ100の概略斜視図である。図3に示すように、ガス膨張装置113は省略され、プレート302が、底部115の第1の領域108に形成されたガス入口ポート124の上で処理チャンバ100内に配置される。プレート302は、下側壁107に沿って流れるようにパージガス又は加圧ガスを方向付けるために利用される。処理チャンバ100内に流入するパージガス又は加圧ガスは、リッド102に向かって直接流れていないので、リッド102から粒子を除去せずに、ガスの速度を増加させることができる。プレート302は、ステンレス鋼、アルミニウム、石英、アルミナ又は高性能材料(HPM)などの任意の適切な材料から製造されうる。HPMは、化合物YAl及び固溶体Y2−xZr(Y−ZrO固溶体)からなる。プレート302は、イットリア又はHPMでコーティングされうる。一例では、プレート302は石英から製造される。別の例では、プレート302は、ステンレス鋼から製造され、イットリア又はHPMでコーティングされる。プレート302は、任意の適切な形状を有しうる。一例では、プレート302は、長方形である。プレート302は、ガス入口ポート124に面する主要面303を含む。表面303は、ガス入口ポート124よりも大きい表面積を有しうる。表面303は、ガス入口ポート124と等しいかそれより小さい表面積を有してもよい。
図4は、本明細書に記載の一実施形態による、図1に示す処理チャンバ100の底部115の一部の概略上面図である。図4に示すように、ガス入口ポート124は、下側壁107の第1の領域109に隣接した底部115の第1の領域108に形成され、プレート302は、処理チャンバ100内に流入するパージガス又は加圧ガスがリッド102に高速で衝突するのを防止するために、ガス入口ポート124の上に配置される。ガス入口ポート124は、処理ガス注入ポート104(図1)よりも大きく、処理ガス注入ポート104を介して達成可能であるよりも高い流量で、パージガス又は加圧ガスを処理チャンバ100に流入できるようにする。プレート302は、プレート302に安定性を与えるために、底部115の第1の領域108上に配置されたねじカバー402に連結される。プレート302は、図4に示されるように、丸みを帯びた角部404を有する長方形でありうる。プレート302は、他の任意の適切な形状を有してもよい。
図5は、本明細書に記載の一実施形態による、ねじカバー402の概略斜視図である。ねじカバー402は、図5に示されるように環状であってもよく、底面506に形成される複数の凹部504を含んでもよい。ねじカバー402は、任意の適切な材料から製造されうる。ねじカバー402は、プレート302と同じ材料から製造されうる。一例では、ねじカバー402は、石英又はHPMから製造される。ねじカバー402は、基板120(図1)の直径よりも小さい内径を有しうる。複数の凹部504は、底部115に配置された複数のねじを覆ってもよく、プレート302をガス入口ポート124を覆うよう位置合わせするために使用されてもよい。プレート302は、任意の適切な固定方法、例えば溶接によって、ねじカバー402の上面508に連結されうる。一実施形態では、プレート302及びねじカバー402は、単一の材料片である。
図6Aは、本明細書に記載の別の実施形態による図1に示す処理チャンバ100の底部115の一部の概略上面図である。図6Aに示すように、ガス入口ポート124は、下側壁107の第1の領域109に隣接した底部115の第1の領域108に形成され、プレート302は、処理チャンバ100内に流入するパージガス又は加圧ガスがリッド102に高速で衝突するのを防止するために、ガス入口ポート124の上に配置される。
プレート302は、底部115の第1の領域108上に載置された複数の支持体602又はそれと同等のものによって支持される。支持体602は、プレート302を支持及び固定するための、並びにガス入口ポート124を介して処理チャンバ100に進入するパージガス又は加圧ガスを方向付けるための任意の適切な位置でプレート302に連結されうる。支持体602の厚さは、プレート302と底部115との間に間隙を画定し、パージガス又は加圧ガスは、その間隙を通って流れ、処理チャンバ100に進入する。一実施形態では、図6Aに示すように、3つの支持体602A、602B、602Cが利用される。3つの支持体602のうちの第1の支持体602Aは、底部115の第1の領域108の半径に沿って配向され、その一方で、第2及び第3の支持体602B、602Cは、図6Aに示すように、第1の支持体602Aを配向する半径に垂直な線に沿って配向される。第2及び第3の支持体602B、602Cは、ガス入口ポート124のエッジ上の2点を横切る線に沿って配置されてもよい。複数の支持体602A、602B、602Cは、図6Aに示されるように、ガス入口ポート124のエッジに配置されてもよく、又はガス入口ポート124のエッジから距離を置いて配置されてもよい。一実施形態では、複数の支持体602A、602B、602Cは、ガス入口ポート124のエッジから距離を置いて配置され、支持体602A、602B、602Cは、プレート302を固定するために、処理チャンバ100の底部115にボルトで締結されるなどして固定される。支持体602の各々の厚さは、ねじカバー402の厚さに等しいか、それより大きくてもよい。一実施形態では、支持体602A、602B、602Cの各々の厚さは、ねじカバー402の厚さに等しく、プレート302は、ねじカバー402と接触している。別の実施形態では、プレート302、ねじカバー402、及び支持体602A、602B、602Cは、一片の材料である。
図6Bは、本明細書に記載の一実施形態による図6Aに示す処理チャンバ100の底部115の一部の概略底面図である。図6Bに示すように、プレート302は、複数の支持体602(図6A)によって支持されてもよく、ねじカバー402と接触してもよい。プレート302をガス入口ポート124上に固定するために、リテーナ604が、ガス入口ポート124内に配置されうる。リテーナ604は、任意の適切な材料から製造されうる。一実施形態では、リテーナ604は、アルミニウムから製造される。リテーナ604は、図8により詳細に記載される。プレート302は、底部115に溶接又は接合するなどして、直接固定されうる。
図7Aは、本明細書に記載の一実施形態によるプレート302の概略斜視図である。図7Aに示すように、プレートは、表面303と表面303上に形成された複数の支持体602とを含む。複数の支持体602は、プレート302と同じ材料から製造されうる。支持体602は、プレート302を支持するのに適している任意の形状を有しうる。プレート302は、処理チャンバ100内に収容するのに適した任意の形状を有しうる。一実施形態では、図7Aに示すように、支持体602は、同じ棒状の形状を有する。支持体602は、プレート302がチャンバ内に設置されるときに表面303に沿って流れるパージガス又は加圧ガスの流れを更に方向付けるために、異なる形状を有してもよい。複数の支持体602は、任意の適切な方法により、表面303に連結されうる。一実施形態では、複数の支持体602及びプレート302は、単一の材料片である。プレート302をガス入口ポート124上に固定するために、複数の支柱702が、プレート302の表面303に形成されうる。図7Aに示すように、各支柱702は、対応する支持体602に連結されうる。支持体602がガス入口ポート124のエッジから離れた距離にある実施形態では、各支持体602は、対応する支柱702から離れた距離にある。一実施形態では、図7Aに示すように、3つの支持体602と3つの支柱702が存在する。各支柱702は、対応する支持体602から遠くに延びる端部704を含み、端部704は、リテーナ604に形成される対応する開口部802(図8)に挿入されうる。言い換えれば、各支柱702の厚さは、各支持体602の厚さよりも大きく、各支柱702の厚さと各支持体602の厚さとの差が、端部704の厚さである。支柱702及び支持体602の厚さは、プレート302の表面303から遠くに延びるように画定される。支柱702は、図7Aに示されるように円筒形でありうる。支柱702は、他の任意の適切な形状でありうる。支柱702は、支持体602と同じ材料から製造されうる。支柱702は、底部115、プレート302、又は膨張装置113の一体部分であってもなくてもよい。
図7Bは、本明細書に記載の別の実施形態によるプレート302の概略斜視図である。図7Bに示すように、プレート302は、ガス入口ポート124(図4)に面する表面303を有する。図7Bの実施形態では、プレート302は、長方形ではない。図7Bでは、プレート302は、2つの湾曲側面720及び2つのまっすぐな側面722を有し、湾曲側面720とまっすぐな側面722は、丸みを帯びた角部724によって接合される。湾曲側面720は、下側壁107の方位角に一致する。言い換えれば、湾曲側面720は、基板支持体126(図1)の中心を中心とした円の弧である。2つのまっすぐな側面722は、互いに実質的に平行でありうる。複数の支持体602及び複数の支柱702は、プレート302の表面303上に形成されうる。一又は複数の支持体602は、処理チャンバ100に進入するパージガス又は加圧ガスの流れを更に方向付けるために、残りの支持体602とは異なる形状を有してもよい。一実施形態では、図7Bに示すように、支持体706は、第1の部分708及び第2の部分710を含む。第1の部分708は、底部115の第1の領域108の半径に沿って配向されうる。第2の部分710は、棒状であり、プレート302の長いエッジ712に沿って配置されうる。第1の部分708は、第2の部分710の中心で、第2の部分710に連結されうる。連結領域は、T字形であってもよく、又は第1の部分708から第2の部分710への湾曲した移行部を形成してもよい。第1の部分708は、図7Bに示すように、棒状であり、第2の部分710に対して実質的に垂直でありうる。
図8は、本明細書に記載の一実施形態によるリテーナ604の概略斜視図である。図8に示すように、リテーナ604は、リングであり、外側エッジ806、内側エッジ808、及び内側エッジ808内に形成された開口部804を含みうる。動作中、パージガス又は加圧ガスは、開口部804を通って処理チャンバに進入する。複数の開口部802が、外側エッジ806と内側エッジ808との間に形成されうる。開口部802は、プレート302の対応する第2の部分704と係合するように構成されうる。各第2の部分704は、ガス注入ポート110の上にプレート302を固定するために対応する開口部802に挿入されうる。いくつかの実施形態では、第2の部分704は、開口部802を通って第2の部分704内に締結されるネジなどのファスナ(締結部材)によって、リテーナ604に更に固定される。一実施形態では、プレート302上に形成された3つの支柱702、及びリテーナ604内に形成された3つの開口部802が存在する。
図9は、本明細書に記載の別の実施形態による処理チャンバ100の概略斜視図である。処理チャンバ100は、図1に示される処理チャンバ100と同じ構成要素を含んでもよく、追加のガス入口902が、底部115の第1の領域108に配置されている。ガス入口902は、底部115の第1の領域108に形成されたガス入口ポート910に連結され、ガス入口ポート910は、下側壁107の第1の領域109に隣接しうる。ガス入口902は、ガスパネル(図示せず)などのガス源からパージガス又は加圧ガスを受け取るための導管904を含みうる。ガス入口902は、ガス入口110と同一でありうる。ガス入口ポート124、910は、底部115の第1の領域108から第2の領域114へと延びる軸908に関して底部115上に対称的に配置されうる。パージガス又は加圧ガスを処理チャンバ100内に導入するための2つのガス入口110、902により、各ガス入口110、902からのガスの速度は、ガスがリッド102に衝突する際に、リッド102上の粒子が落下しないことになるほど十分に遅くなる一方で、処理チャンバ100に進入するガスの量は2倍になる。
いくつかの実施形態では、ガスの速度を増加させることなく処理チャンバ100に進入するガスの量を更に増加させるために、ガス膨張装置906が、ガス入口902に結合されるか、又はガス入口902内に配置される。いくつかの実施形態では、ガス膨張装置906が省略され、処理チャンバ100に進入するガスの量を更に増やすために、ガス入口902は、図2A及び/又は図2Bに示す開口部を有しうる。
図10は、本明細書に記載の別の実施形態による処理チャンバ100の概略斜視図である。処理チャンバ100は、図9に示す処理チャンバ100と同じ構成要素を含んでもよく、追加のプレート302、1002がガス入口110、902の上にそれぞれ配置されている。プレート1002は、プレート302と同一でありうる。一実施形態では、両プレート302、1002が、図5に示すねじカバー402に連結される。別の実施形態では、プレート1002は、図7Aに示される複数の支持体602などの複数の支持体によって支持される。プレート1002は、図8に示されるリテーナ604などのリテーナによって固定されうる。2つのガス入口110、902及び2つのプレート302、1002を有することによって、リッド102に衝突することなく、より高速のより多くのガスが処理チャンバ100に進入でき、処理チャンバ100をパージ及び加圧するための時間の短縮につながる。2つのプレート302、1002は、単一のプレートが両ガス入口110、902を覆うことができるように、2つの別々のプレートの代わりに単一のプレートであってもよい。
図11A−11Cは、本明細書に記載の実施形態による、処理チャンバの概略斜視図である。図11Aに示すように、処理チャンバ100は、底部115、下側壁107、上側壁106、リッド、及び処理ガス注入ポート104を含む。処理チャンバ100はまた、ガス入口ポート124で底部115に連結されたガス入口110を含む。ガス入口110は、供給管1102に連結された導管112を含む。供給管1102は、第1の断面積1104を有し、ガス入口110は、第2の断面積1106を有し、ガス入口ポート124は、第3の断面積1108を有する。一実施形態では、第1の断面積1104、第2の断面積1106、及び第3の断面積1108は、実質的に同一である。別の実施形態では、第1の断面積1104は、第2の断面積1106又は第3の断面積1108より小さい。第1、第2、又は第3の断面積1104、1106、1108は、リッド102上の粒子を落下させることなく、パージガス又は加圧ガスが処理チャンバ100に流入できる面積よりも小さい。ガス入口110から処理チャンバに流入するガスの速度を低下させるために、ディフューザー1110が、ガス入口ポート124に連結される。ガスディフューザー1110は、下側壁107によって囲まれてもよい。ガスディフューザー1110は、ガス入口110から処理チャンバ100に流入するガスを拡散させる。したがって、たとえパージガス又は加圧ガスが処理チャンバ100のリッド102に衝突しても、リッド102上の粒子は、ディフューザー1110のためにガス入口110を介して導入されたガスによってリッド102から取り除かれることはない。
図11Bに示すように、処理チャンバ100は、底部115、下側壁107、上側壁106、リッド102、及び処理ガス注入ポート104を含む。処理チャンバ100はまた、ガス入口ポート1114で底部115に連結されたガス入口1112を含む。ガス入口1112は、供給管1102に連結された導管1116を含む。供給管1102は、第1の断面積1104を有し、ガス入口1112は、第2の断面積1118を有し、ガス入口ポート1114は、第3の断面積1120を有する。一実施形態では、第1の断面積1104は、第3の断面積1120よりも小さい第2の断面積1118よりも小さい。供給管1102から導入されたガスを拡散させるために、ディフューザー1122が導管1116内に配置される。第2の断面積1118が第1の断面積1104より大きく、第3の断面積1120が第2の断面積1118より大きいので、パージガス又は加圧ガスの速度を増加させることなく、ガス入口1112を通して、より多くのパージガス又は加圧ガスを処理チャンバ100に流入させることができる。第3の断面積1120は、リッド102上の粒子を落下させることなく、パージガス又は加圧ガスを処理チャンバ100に流入させることができるのに十分な大きさである。
図11Cに示すように、処理チャンバ100は、底部115、下側壁107、上側壁106、リッド102、及び処理ガス注入ポート104を含む。処理チャンバ100はまた、ガス入口ポート1124で底部115に連結されたガス入口1112を含む。ガス入口1112は、供給管1102に連結された導管1116を含む。供給管1102は、第1の断面積1104を有し、ガス入口1112は、第2の断面積1118を有し、ガス入口ポート1124は、第3の断面積1126を有する。一実施形態では、第1の断面積1104は、第3の断面積1126よりも小さい第2の断面積1118よりも小さい。第3の断面積1126は、第3の断面積1120(図11B)よりも大きい。第3の断面積1126がはるかに大きいので、ディフューザーを利用せずにパージガス又は加圧ガスの速度を増加させることなく、ガス入口1112を通して、より多くのパージガス又は加圧ガスを処理チャンバ100に流入させることができる。第3の断面積1126は、リッド102上の粒子を落下させることなく、パージガス又は加圧ガスを処理チャンバ100に流入させることができるのに十分な大きさである。
図11A〜図11Cは各々、処理チャンバ100の底部115に連結された1つのガス入口を示す。いくつかの実施形態では、2つ以上のガス入口が、処理チャンバ100の底部115に連結されてもよい。
本明細書に記載のガス入口及びガス入口ポートは、リッド上の粒子を落下させずに、パージガス又は加圧ガスを処理チャンバに流入させることができるように、かつパージガス又は加圧ガスの速度を増加させずに、ガス入口を通して、より多くのパージガス又は加圧ガスを処理チャンバに流入させることができるように、処理チャンバの底部、上部、又は側面に配置されうる。
以上の説明は本開示の実施形態を対象としているが、本開示の基本的な範囲を逸脱することなく本開示の他の実施形態及び更なる実施形態が考案されてもよく、本開示の範囲は、以下の特許請求の範囲によって決定される。

Claims (20)

  1. 長円形又は卵形の底部と、
    前記底部の上に配置された下側壁と、
    前記下側壁の上に配置された、円形の上側壁と、
    前記上側壁の上に配置されたリッドと、
    前記リッドの上に配置された処理ガス注入ポートと、
    前記下側壁に隣接して前記底部に配置された一又は複数のガス入口ポートと、
    前記底部に連結された排気エンクロージャと
    を含む処理チャンバ。
  2. 一又は複数のガス入口をさらに有し、前記一又は複数のガス入口の各ガス入口が第1の断面積を有し、前記一又は複数のガス入口ポートの各ガス入口ポートが第2の断面積を有し、前記第2の断面積は、前記第1の断面積より大きい、請求項1に記載の処理チャンバ。
  3. 前記一又は複数のガス入口ポートの各ガス入口ポートが、前記下側壁の方位角に一致するスリット状の開口部である、請求項2に記載の処理チャンバ。
  4. 前記スリット状の開口部が、前記底部と約0度の角度をなす、請求項3に記載の処理チャンバ。
  5. 前記スリット状の開口部が、前記底部と0度を超える角度をなす、請求項3に記載の処理チャンバ。
  6. さらに基板支持体を備え、前記基板支持体は、前記一又は複数のガス入口ポートのエッジから半径方向内側に位置するエッジを有する、請求項1に記載の処理チャンバ。
  7. 第1の領域及び第2の領域を有する底部と、
    前記底部の上に配置された下側壁であって、当該下側壁は第1の領域及び第2の領域を有し、前記第1の領域及び前記第2の領域は当該下側壁が連続的な長円形又は卵形を形成するように連結されている、下側壁と、
    前記下側壁の前記第1の領域の上に配置された円形の上側壁と、
    前記上側壁の上に配置されたリッドと、
    前記リッドの上に配置された処理ガス注入ポートと、
    前記底部の前記第1の領域に位置し且つ前記下側壁の前記第1の領域に隣接して配置された、一又は複数のガス入口ポートと、
    一又は複数のガス入口であって、前記一又は複数のガス入口の各ガス入口は、記一又は複数のガス入口ポートの対応するガス入口ポートに連結され、前記一又は複数のガス入口の各ガス入口は、前記下側壁の方位角に一致するスリット状の開口部を含む、一又は複数のガス入口と
    を含む処理チャンバ。
  8. 前記スリット状の開口部が、前記処理チャンバの基準面と約0度の角度をなす、請求項7に記載の処理チャンバ。
  9. 前記スリット状の開口部が、前記処理チャンバの基準面と0度を超える角度をなす、請求項7に記載の処理チャンバ。
  10. 前記一又は複数のガス入口ポートが2つのガス入口ポートを含む、請求項7に記載の処理チャンバ。
  11. 前記2つのガス入口ポートが、前記底部の前記第1の領域から前記底部の前記第2の領域まで延びる軸に対して対称である、請求項10に記載の処理チャンバ。
  12. さらに基板支持体を備え、前記基板支持体は、前記一又は複数のガス入口ポートのエッジから半径方向内側に位置するエッジを有する、請求項7に記載の処理チャンバ。
  13. 第1の領域及び第2の領域を有する底部と、
    前記底部の上に配置された下側壁であって、第1の領域及び第2の領域を有する下側壁と、
    前記下側壁の前記第1の領域の上に配置された上側壁と、
    前記上側壁の上に配置されたリッドと、
    前記リッドの上に配置された処理ガス注入ポートと、
    前記下側壁の前記第1の領域に隣接して前記底部の前記第1の領域に配置された、一又は複数のガス入口ポートと、
    理チャンバ内に配置された一又は複数のプレートであって、当該一又は複数のプレートの各プレートは前記一又は複数のガス入口ポートの対応するガス入口ポートの上に配置されており、当該一又は複数のプレートの各プレートは当該プレートの表面に連結された複数の支持体によって支持されている、一又は複数のプレートと、
    前記一又は複数のプレートに連結された複数の支柱と、
    前記底部の前記第2の領域に連結された排気エンクロージャと
    を含む処理チャンバ。
  14. 前記複数の支持体が、前記底部の前記第1の領域の上に配置されている、請求項13に記載の処理チャンバ。
  15. 前記複数の支持体が、前記一又は複数のプレートと同じ材料から製造される、請求項13に記載の処理チャンバ。
  16. 前記複数の支柱の各支柱が、前記複数の支持体の各支持体の厚さより大きい、請求項13に記載の処理チャンバ。
  17. 前記複数の支柱の各支柱が、前記複数の支持体と同じ材料から製造される、請求項13に記載の処理チャンバ。
  18. 前記一又は複数のプレートの各プレートが、前記一又は複数のガス入口ポートの各ガス入口ポートに面する主要面を含み、当該主要面は前記各ガス入口ポートの断面積より大きい表面積を有する、請求項13に記載の処理チャンバ。
  19. 前記一又は複数のプレートの各プレートが、前記一又は複数のガス入口ポートの各ガス入口ポートに面する主要面を含み、当該主要面は前記各ガス入口ポートの断面積と等しいかそれより小さい表面積を有する、請求項13に記載の処理チャンバ。
  20. 前記複数のプレートの各プレート及び前記複数の支持体の対応する支持体が、単一の材料片を構成する、請求項13に記載の処理チャンバ。
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