JP6226127B2 - 発振回路、発振器、発振器の製造方法、電子機器及び移動体 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- VJYFKVYYMZPMAB-UHFFFAOYSA-N ethoprophos Chemical compound CCCSP(=O)(OCC)SCCC VJYFKVYYMZPMAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 title 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 192
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 78
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 38
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 21
- 102100036285 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Human genes 0.000 description 16
- 101000875403 Homo sapiens 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Proteins 0.000 description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 9
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 9
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 101100129500 Caenorhabditis elegans max-2 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100083446 Danio rerio plekhh1 gene Proteins 0.000 description 4
- 102100023882 Endoribonuclease ZC3H12A Human genes 0.000 description 4
- 101710112715 Endoribonuclease ZC3H12A Proteins 0.000 description 4
- 108700012361 REG2 Proteins 0.000 description 4
- 101150108637 REG2 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100120298 Rattus norvegicus Flot1 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100412403 Rattus norvegicus Reg3b gene Proteins 0.000 description 4
- QGVYYLZOAMMKAH-UHFFFAOYSA-N pegnivacogin Chemical compound COCCOC(=O)NCCCCC(NC(=O)OCCOC)C(=O)NCCCCCCOP(=O)(O)O QGVYYLZOAMMKAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 description 2
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- WQZGKKKJIJFFOK-GASJEMHNSA-N Glucose Natural products OC[C@H]1OC(O)[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H]1O WQZGKKKJIJFFOK-GASJEMHNSA-N 0.000 description 1
- 235000015842 Hesperis Nutrition 0.000 description 1
- 235000012633 Iberis amara Nutrition 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 1
- 230000036772 blood pressure Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000008103 glucose Substances 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/30—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator
- H03B5/32—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator
- H03B5/36—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/366—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device and comprising means for varying the frequency by a variable voltage or current
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/02—Details
- H03B5/04—Modifications of generator to compensate for variations in physical values, e.g. power supply, load, temperature
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/08—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1203—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device the amplifier being a single transistor
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/08—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1231—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device the amplifier comprising one or more bipolar transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/08—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1237—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator
- H03B5/124—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising a voltage dependent capacitance
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/30—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator
- H03B5/32—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator
- H03B5/36—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/362—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device the amplifier being a single transistor
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- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/30—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator
- H03B5/32—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator
- H03B5/36—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/366—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device and comprising means for varying the frequency by a variable voltage or current
- H03B5/368—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device and comprising means for varying the frequency by a variable voltage or current the means being voltage variable capacitance diodes
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
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Description
本適用例に係る発振回路は、振動子の一端と接続される第1の端子と、前記振動子の他端と接続される第2の端子と、前記第1の端子及び前記第2の端子と電気的に接続されて
いる発振部と、第1の電圧及び第2の電圧を発生する第1の電圧発生回路と、を含み、前記発振部は、一端が前記第1の端子又は前記第2の端子に電気的に接続される少なくとも1つの第1の電子素子を含み、前記第1の端子と前記第2の端子との間に第1の振幅の信号が印加されるとともに、前記第1の電子素子の他端に前記第1の電圧が印加される第1のモード、及び前記第1の端子と前記第2の端子との間に第2の振幅の信号が印加されるとともに、前記第1の電子素子の前記他端に前記第2の電圧が印加される第2のモード、を有し、前記第2の振幅の信号は、前記第1の振幅の信号よりも振幅が大きいとともに、前記第2のモードで前記第1の電子素子の両端にかかる電圧が前記第1の電子素子の最大定格電圧よりも低い。
上記適用例に係る発振回路において、前記第1の電子素子は可変容量素子であってもよい。
上記適用例に係る発振回路は、第3の電圧及び第4の電圧を発生する第2の電圧発生回路をさらに含み、前記発振部は、一端が前記第1の端子又は前記第2の端子に接続される少なくとも1つの第2の電子素子をさらに含み、前記第1のモードでは、前記第2の電子素子の他端に前記第3の電圧が印加され、前記第2のモードでは、前記第2の電子素子の他端に前記第4の電圧が印加され、前記第2のモードで前記第2の電子素子の両端にかか
る電圧が、前記第2の電子素子の最大定格電圧よりも低いようにしてもよい。
上記適用例に係る発振回路において、前記第2の電子素子は可変容量素子であってもよい。
上記適用例に係る発振回路は、第3の端子と、前記第2の端子と接続される第4の端子と、第1の切り替え部と、を備え、前記第1の切り替え部は、前記第1のモードで前記第1の端子と前記第3の端子とが電気的に切り離されるように制御され、前記第2のモードで前記第1の端子と前記第3の端子とが電気的に接続されるように制御されてもよい。
上記適用例に係る発振回路において、前記第3の端子は接地されていてもよい。
上記適用例に係る発振回路は、第2の切り替え部をさらに備え、前記第2の切り替え部
は、前記第1のモードで前記第2の端子と前記第4端子とが電気的に切り離されるように制御され、前記第2のモードで前記第2の端子と前記第4の端子とが電気的に接続されるように制御されてもよい。
上記適用例に係る発振回路において、前記第1の端子は、前記発振部の入力端子側に接続されていてもよい。
上記適用例に係る発振回路は、電源電圧が基準値以上である期間に入力されるクロック信号に基づいて、前記第1のモードと前記第2のモードとが切り替えられるようにしてもよい。
上記適用例に係る発振回路は、前記第2の振幅の信号は、オーバードライブ検査用の信号、及びドライブレベル検査用の信号のうちの少なくとも1つであってもよい。
本適用例に係る発振器は、上記のいずれかの発振回路と、振動子と、を備えている。
上記適用例に係る発振器は、前記発振回路と前記振動子とを収容するパッケージをさらに備えていてもよい。
本適用例に係る発振器の製造方法は、第1の端子と、第2の端子と、前記第1の端子及び前記第2の端子と電気的に接続されている発振部と、第1の電圧及び第2の電圧を発生する第1の電圧発生回路と、一端が前記第1の端子又は前記第2の端子に電気的に接続されている少なくとも1つの第1の電子素子と、を備え、前記第1の端子と前記第2の端子との間に第1の振幅の信号が印加されるとともに、前記第1の電子素子の他端に前記第1の電圧が印加される第1のモード、及び前記第1の端子と前記第2の端子との間に第2の振幅の信号が印加されるとともに、前記第1の電子素子の前記他端に前記第2の電圧が印
加される第2のモードを有する発振回路と、振動子とを準備する工程と、前記発振回路の前記第1の端子と前記振動子の一端とを接続し、前記発振回路の前記第2の端子と前記振動子の他端とを接続する工程と、前記発振回路を前記第2のモードに設定し、前記第1の電子素子の両端にかかる電圧が前記第1の電子素子の最大定格電圧よりも低く設定する工程と、前記第1の振幅の信号よりも振幅の大きな前記第2の振幅の信号を印加して前記振動子の特性を検査する工程と、前記発振回路を前記第1のモードに設定する工程と、を含む。
本適用例に係る発振器の製造方法は、前記第2の振幅の信号は、オーバードライブ検査用の信号、及びドライブレベル検査用の信号のうちの少なくとも1つであってもよい。
本適用例に係る電子機器は、上記のいずれかの発振回路、又は、上記のいずれかの発振器を含む。
本適用例に係る移動体は、上記のいずれかの発振回路、又は、上記のいずれかの発振器を含む。
1−1.第1実施形態
図1及び図2に本実施形態の発振器の構造を示す。図1は、本実施形態の発振器の斜視図であり、図2(A)は図1のA−A’断面図である。また、図2(B)は、本実施形態の発振器の底面図である。
接続される。
Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)、サイリスター等であってもよい。
成回路22及びスイッチ23を含む。
することもできる。
図6は、第2実施形態の発振器の機能ブロック図である。図6において、図3の各構成要素と対応する構成要素には図3と同じ符号を付している。
導通して可変容量素子56の他端及び可変容量素子57の他端とVod生成回路22の出力端子とが接続される。これにより、電圧発生回路20は、通常モードでは制御電圧生成回路21が生成する制御電圧(第1の電圧の一例)を発生し、オーバードライブモードではVod生成回路22が生成する電圧Vod(第2の電圧の一例)を発生する。また、電圧発生回路60は、通常モードでは制御電圧生成回路61が生成する制御電圧(第3の電圧の一例)を発生し、オーバードライブモードではVod生成回路22が生成する電圧Vod(第4の電圧の一例)を発生する。
図7は、第3実施形態の発振器の機能ブロック図である。図7において、図3の各構成要素と対応する構成要素には図3と同じ符号を付している。
図8は、第4実施形態の発振器の機能ブロック図である。図8において、図7の各構成要素と対応する構成要素には図7と同じ符号を付している。
図9は、第5実施形態の発振器の底面図である。また、図10は、第5実施形態の発振器の機能ブロック図である。図10において、図3の各構成要素と対応する構成要素には図3と同じ符号を付している。
し、外部端子XI1をグランドに接続した状態で、例えば、シグナルジェネレーターや外付けの発振回路などを用いて外部端子XO1に高電圧のAC信号を入力することで、振動子3に対して直接的にオーバードライブ検査を行うことができる。あるいは、発振回路2をオーバードライブモードに設定し、外部端子VSS1をグランド(接地電位)に接続した状態で、外部端子XO1にAC信号を振幅を変えながら入力することで、振動子3に対して直接的にドライブレベル検査を行うこともできる。
図11は、第6実施形態の発振器の機能ブロック図である。図11において、図3の各構成要素と対応する構成要素には図3と同じ符号を付している。
図12は、第7実施形態の発振器の機能ブロック図である。図12において、図3の各構成要素と対応する構成要素には図3と同じ符号を付している。
図13は、第8実施形態の発振器の機能ブロック図である。図13において、図3の各構成要素と対応する構成要素には図3と同じ符号を付している。
省略する。また、第8実施形態の発振器1の斜視図及び断面図並びにその製造方法は第1実施形態と同様であるため、その図示及び説明を省略する。
図14は、本実施形態の電子機器の機能ブロック図である。また、図15は、本実施形態の電子機器の一例であるスマートフォンの外観の一例を示す図である。
図16は、本実施形態の移動体の一例を示す図(上面図)である。図16に示す移動体400は、発振器410、エンジンシステム、ブレーキシステム、キーレスエントリーシステム等の各種の制御を行うコントローラー420,430,440、バッテリー450、バックアップ用バッテリー460を含んで構成されている。なお、本実施形態の移動体は、図16の構成要素(各部)の一部を省略し、あるいは、他の構成要素を付加した構成としてもよい。
本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
例えば、上述した第1実施形態〜第7実施形態では、第2のモードで可変容量素子16,17(第2実施形態ではさらに可変容量素子56,57)の各他端に印加される電圧VodをVod生成回路22が生成しているが、所望の条件が満たされる場合は、Vod生成回路22を他の回路と兼用してもよい。例えば、発振回路2の内部又は外部に設けられたレギュレーターが発生する電圧VREGが、Vop1>|VREG−Vmin|かつVop2>|Vmax−VREG|を満たす場合は、第2のモードで可変容量素子16,17(第2実施形態ではさらに可変容量素子56,57)の各他端にVREGが印加されるようにしてもよい。同様に、上述した第8実施形態では、第2のモードで可変容量素子16,17の各他端にそれぞれ印加される電圧Vod1,Vod2をVod生成回路22が生成しているが、所望の条件が満たされる場合は、Vod生成回路22を他の回路と兼用してもよい。例えば、発振回路2の内部又は外部に設けられたレギュレーターが発生する第1電圧VREG1が、Vop1>|VREG1−Vmin1|かつVop1>|Vmax1−VREG1|を満たし、当該レギュレーターが発生する第2電圧VREG2がVop2>|VREG2−Vmin2|かつVop2>|Vmax2−VREG2|を満たす場合は、第2のモードで可変容量素子16,17の各他端にそれぞれVREG1,VREG2が印加されるようにしてもよい。
例えば、上述した第1実施形態〜第8実施形態において、発振器1の断面及び底面の構造は、図2(A)及び図2(B)に示した構造以外にも、図17(A)及び図17(B)に示すような構造であってもよい。本変形例の発振器1の斜視図は図1と同様であり、図17(A)は図1のA−A’断面図である。また、図17(B)は、本変形例の発振器の底面図である。図17(A)及び図17(B)に示すように、本変形例の発振器1は、発振回路2を構成している電子部品9、振動子3、パッケージ4、蓋5、外部端子(外部電極)6、封止部材8を含んで構成されている。
端子VC1及び出力端子である外部端子OUT1の4個の外部端子6が設けられている。外部端子VDD1には電源電圧が供給され、外部端子VSS1は接地される。外部端子VC1には周波数制御用の信号が入力され、外部端子OUT1からは周波数制御された発振信号が出力される。
容量素子、16 可変容量素子、17 可変容量素子、18 定電流源、20 電圧発生回路、21 制御電圧生成回路、22 Vod生成回路、23 スイッチ、24 抵抗素子、25 スイッチ、30 電圧判定回路、31 CMOSインバーター、40 インターフェース回路、50 出力バッファー、54 抵抗素子、55 容量素子、56 可変容量素子、57 可変容量素子、60 電圧発生回路、61 制御電圧生成回路、63
スイッチ、71 スイッチ、72 スイッチ、300 電子機器、310 発振器、312 発振回路、313 振動子、320 CPU、330 操作部、340 ROM、350 RAM、360 通信部、370 表示部、400 移動体、410 発振器、420,430,440 コントローラー、450 バッテリー、460 バックアップ用バッテリー
Claims (16)
- 振動子の一端と接続される第1の端子と、
前記振動子の他端と接続される第2の端子と、
前記第1の端子及び前記第2の端子と電気的に接続されている発振部と、
第1の電圧及び第2の電圧を発生する第1の電圧発生回路と、を含み、
前記発振部は、
一端が前記第1の端子又は前記第2の端子に電気的に接続される少なくとも1つの第1の電子素子を含み、
前記第1の端子と前記第2の端子との間に第1の振幅の信号が印加されるとともに、前記第1の電子素子の他端に前記第1の電圧が印加される第1のモード、及び前記第1の端子と前記第2の端子との間に第2の振幅の信号が印加されるとともに、前記第1の電子素子の前記他端に前記第2の電圧が印加される第2のモード、を有し、
前記第2の振幅の信号は、前記第1の振幅の信号よりも振幅が大きいとともに、前記第2のモードで前記第1の電子素子の両端にかかる電圧が前記第1の電子素子の最大定格電圧よりも低い、発振回路。 - 前記第1の電子素子は可変容量素子である、請求項1に記載の発振回路。
- 第3の電圧及び第4の電圧を発生する第2の電圧発生回路をさらに含み、
前記発振部は、
一端が前記第1の端子又は前記第2の端子に接続される少なくとも1つの第2の電子素子をさらに含み、
前記第1のモードでは、前記第2の電子素子の他端に前記第3の電圧が印加され、
前記第2のモードでは、前記第2の電子素子の他端に前記第4の電圧が印加され、
前記第2のモードで前記第2の電子素子の両端にかかる電圧が、前記第2の電子素子の最大定格電圧よりも低い、請求項1又は2に記載の発振回路。 - 前記第2の電子素子は可変容量素子である、請求項3に記載の発振回路。
- 第3の端子と、
前記第2の端子と接続される第4の端子と、
第1の切り替え部と、を備え、
前記第1の切り替え部は、前記第1のモードで前記第1の端子と前記第3の端子とが電気的に切り離されるように制御され、前記第2のモードで前記第1の端子と前記第3の端子とが電気的に接続されるように制御される、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の発振回路。 - 前記第3の端子は接地されている、請求項5に記載の発振回路。
- 第2の切り替え部をさらに備え、
前記第2の切り替え部は、前記前記第1のモードで前記第2の端子と前記第4の端子とが電気的に切り離されるように制御され、前記第2のモードで前記第2の端子と前記第4の端子とが電気的に接続されるように制御される、請求項5又は6に記載の発振回路。 - 前記第1の端子は、前記発振部の入力端子側に接続されている、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の発振回路。
- 電源電圧が基準値以上である期間に入力されるクロック信号に基づいて、前記第1のモードと前記第2のモードとが切り替えられる、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の発
振回路。 - 前記第2の振幅の信号は、オーバードライブ検査用の信号、及びドライブレベル検査用の信号のうちの少なくとも1つである、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の発振回路。
- 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の発振回路と、
前記振動子と、を備えている、発振器。 - 前記発振回路と前記振動子とを収容するパッケージをさらに備えている、請求項11に記載の発振器。
- 第1の端子と、第2の端子と、前記第1の端子及び前記第2の端子と電気的に接続されている発振部と、第1の電圧及び第2の電圧を発生する第1の電圧発生回路と、一端が前記第1の端子又は前記第2の端子に電気的に接続されている少なくとも1つの第1の電子素子と、を備え、前記第1の端子と前記第2の端子との間に第1の振幅の信号が印加されるとともに、前記第1の電子素子の他端に前記第1の電圧が印加される第1のモード、及び前記第1の端子と前記第2の端子との間に第2の振幅の信号が印加されるとともに、前記第1の電子素子の前記他端に前記第2の電圧が印加される第2のモードを有する発振回路と、振動子とを準備する工程と、
前記発振回路の前記第1の端子と前記振動子の一端とを接続し、前記発振回路の前記第2の端子と前記振動子の他端とを接続する工程と、
前記発振回路を前記第2のモードに設定し、前記第1の電子素子の両端にかかる電圧が前記第1の電子素子の最大定格電圧よりも低く設定する工程と、
前記第1の振幅の信号よりも振幅の大きな前記第2の信号を印加して前記振動子の特性を検査する工程と、
前記発振回路を前記第1のモードに設定する工程と、を含む、発振器の製造方法。 - 前記第2の振幅の信号は、オーバードライブ検査用の信号、及びドライブレベル検査用の信号のうちの少なくとも1つである、請求項13に記載の発振器の製造方法。
- 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の発振回路、又は、請求項11又は12に記載の発振器を含む、電子機器。
- 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の発振回路、又は、請求項11又は12に記載の発振器を含む、移動体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013225945A JP6226127B2 (ja) | 2013-10-30 | 2013-10-30 | 発振回路、発振器、発振器の製造方法、電子機器及び移動体 |
CN201410589877.9A CN104601112B (zh) | 2013-10-30 | 2014-10-28 | 振荡电路、振荡器、振荡器制造方法、电子设备及移动体 |
US14/527,123 US9628022B2 (en) | 2013-10-30 | 2014-10-29 | Oscillation circuit, oscillator, method of manufacturing oscillator, electronic device, and moving object |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013225945A JP6226127B2 (ja) | 2013-10-30 | 2013-10-30 | 発振回路、発振器、発振器の製造方法、電子機器及び移動体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015088925A JP2015088925A (ja) | 2015-05-07 |
JP6226127B2 true JP6226127B2 (ja) | 2017-11-08 |
Family
ID=52994734
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013225945A Active JP6226127B2 (ja) | 2013-10-30 | 2013-10-30 | 発振回路、発振器、発振器の製造方法、電子機器及び移動体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9628022B2 (ja) |
JP (1) | JP6226127B2 (ja) |
CN (1) | CN104601112B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6930134B2 (ja) * | 2017-02-28 | 2021-09-01 | セイコーエプソン株式会社 | 発振器、電子機器及び移動体 |
JP7234656B2 (ja) | 2019-01-29 | 2023-03-08 | セイコーエプソン株式会社 | 発振回路、発振器、電子機器及び移動体 |
JP7310180B2 (ja) * | 2019-03-15 | 2023-07-19 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置、発振器、電子機器及び移動体 |
Family Cites Families (68)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3017746B2 (ja) | 1989-03-31 | 2000-03-13 | 日本電波工業株式会社 | 水晶振動子 |
US5126695A (en) | 1989-06-14 | 1992-06-30 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor integrated circuit device operated with an applied voltage lower than required by its clock oscillator |
TW255052B (ja) | 1992-11-03 | 1995-08-21 | Thomson Consumer Electronics | |
JPH0746072A (ja) | 1993-08-03 | 1995-02-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 水晶振動子の製造方法 |
US5369377A (en) | 1993-10-13 | 1994-11-29 | Zilog, Inc. | Circuit for automatically detecting off-chip, crystal or on-chip, RC oscillator option |
JPH07249957A (ja) | 1994-03-11 | 1995-09-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品及びその形成方法 |
JP3441279B2 (ja) * | 1996-01-29 | 2003-08-25 | シチズン時計株式会社 | 発振子を用いた発振器 |
JP3845752B2 (ja) | 1998-03-26 | 2006-11-15 | エプソントヨコム株式会社 | Uhf帯基本波水晶振動子及びフィルタ |
JP2000278079A (ja) | 1999-03-24 | 2000-10-06 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 圧電デバイス |
JP2001007648A (ja) | 1999-06-18 | 2001-01-12 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 圧電発振器 |
JP2001094347A (ja) | 1999-09-24 | 2001-04-06 | Meidensha Corp | 水晶発振器及びその発振器における水晶振動子のドライブ特性測定方法 |
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JP3358619B2 (ja) * | 1999-12-06 | 2002-12-24 | セイコーエプソン株式会社 | 温度補償型発振器、温度補償型発振器の制御方法及び無線通信装置 |
JP3681611B2 (ja) | 2000-04-06 | 2005-08-10 | Necエレクトロニクス株式会社 | マイクロコンピュータ |
JP2002299991A (ja) | 2001-04-03 | 2002-10-11 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 圧電振動子 |
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JP2005051513A (ja) | 2003-07-29 | 2005-02-24 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 水晶振動子 |
JP4477364B2 (ja) | 2004-01-13 | 2010-06-09 | 日本電波工業株式会社 | 水晶振動子 |
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JP4431015B2 (ja) | 2004-09-09 | 2010-03-10 | 株式会社ルネサステクノロジ | 位相同期ループ回路 |
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JP2009253883A (ja) | 2008-04-10 | 2009-10-29 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 圧電振動デバイス |
JP4726936B2 (ja) | 2008-08-19 | 2011-07-20 | 日本電波工業株式会社 | 水晶発振器 |
JP2010062959A (ja) | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Daishinku Corp | 表面実装型圧電発振器およびその特性測定方法 |
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US8253506B2 (en) | 2010-10-05 | 2012-08-28 | Qualcomm, Incorporated | Wideband temperature compensated resonator and wideband VCO |
US8461934B1 (en) | 2010-10-26 | 2013-06-11 | Marvell International Ltd. | External oscillator detector |
JP5570954B2 (ja) | 2010-11-24 | 2014-08-13 | 富士通株式会社 | 発振回路 |
JP5757786B2 (ja) | 2011-01-06 | 2015-07-29 | 日本電波工業株式会社 | 水晶発振器 |
JP2013098678A (ja) | 2011-10-31 | 2013-05-20 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 水晶振動子 |
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US8692624B2 (en) * | 2011-12-15 | 2014-04-08 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Tuning of MEMS oscillator |
JP6064350B2 (ja) | 2012-03-27 | 2017-01-25 | セイコーエプソン株式会社 | 振動素子、振動子、電子デバイス、及び電子機器 |
US9013242B2 (en) | 2012-03-27 | 2015-04-21 | Seiko Epson Corporation | Resonator element, resonator, electronic device, electronic apparatus, and mobile object |
JP2013207363A (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-07 | Seiko Epson Corp | 回路装置、発振装置及び電子機器 |
JP6079280B2 (ja) | 2013-02-07 | 2017-02-15 | セイコーエプソン株式会社 | 振動素子、振動子、電子デバイス、電子機器、及び移動体 |
US9112449B2 (en) | 2012-11-15 | 2015-08-18 | Mediatek Inc. | Self-powered crystal oscillator and method of generating oscillation signal |
US8922287B2 (en) * | 2013-01-30 | 2014-12-30 | Freescale Semiconductor, Inc. | Amplitude loop control for oscillators |
US9112448B2 (en) * | 2013-10-28 | 2015-08-18 | Qualcomm Incorporated | Ultra low-power high frequency crystal oscillator for real time clock applications |
JP2015088931A (ja) | 2013-10-30 | 2015-05-07 | セイコーエプソン株式会社 | 発振回路、発振器、発振器の製造方法、電子機器及び移動体 |
-
2013
- 2013-10-30 JP JP2013225945A patent/JP6226127B2/ja active Active
-
2014
- 2014-10-28 CN CN201410589877.9A patent/CN104601112B/zh active Active
- 2014-10-29 US US14/527,123 patent/US9628022B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20150116045A1 (en) | 2015-04-30 |
CN104601112A (zh) | 2015-05-06 |
CN104601112B (zh) | 2019-12-24 |
JP2015088925A (ja) | 2015-05-07 |
US9628022B2 (en) | 2017-04-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161011 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170814 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170913 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170926 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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