JP2001102870A - 水晶発振器 - Google Patents
水晶発振器Info
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- JP2001102870A JP2001102870A JP27784499A JP27784499A JP2001102870A JP 2001102870 A JP2001102870 A JP 2001102870A JP 27784499 A JP27784499 A JP 27784499A JP 27784499 A JP27784499 A JP 27784499A JP 2001102870 A JP2001102870 A JP 2001102870A
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- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＤＬＤ特性試験時のみに接続され、その後は
電気的に切り離しておいて、試験後は水晶振動子端子か
らノイズが侵入しないようにするとともに、その端子が
他の端子等と折接触しても特性に影響を及ぼさないよう
にした。 【解決手段】 パッケージの底面には、一対の水晶振動
子試験用端子をパッケージの短辺に沿って配置する。一
対の水晶振動子試験用端子は、切り替え器１３から引き
出された端子Ａ，Ｂに接続される。切り替え器１３は、
例えばアナログスイッチ１０、１１及びインバータ１２
から構成される。水晶振動子の試験時は、電源入力端子
を接地しておくと、インバータ１２の出力は「Ｈレベ
ル」になるので、アナログスイッチ１１は「オン」にな
って端子Ａ，Ｂに接続された水晶振動子試験用端子とブ
ランク電極５が電気的に接続されるようになる。これに
より、ＤＬＤ特性試験ができるようになる。
電気的に切り離しておいて、試験後は水晶振動子端子か
らノイズが侵入しないようにするとともに、その端子が
他の端子等と折接触しても特性に影響を及ぼさないよう
にした。 【解決手段】 パッケージの底面には、一対の水晶振動
子試験用端子をパッケージの短辺に沿って配置する。一
対の水晶振動子試験用端子は、切り替え器１３から引き
出された端子Ａ，Ｂに接続される。切り替え器１３は、
例えばアナログスイッチ１０、１１及びインバータ１２
から構成される。水晶振動子の試験時は、電源入力端子
を接地しておくと、インバータ１２の出力は「Ｈレベ
ル」になるので、アナログスイッチ１１は「オン」にな
って端子Ａ，Ｂに接続された水晶振動子試験用端子とブ
ランク電極５が電気的に接続されるようになる。これに
より、ＤＬＤ特性試験ができるようになる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、水晶振動子パッ
ケージ内にＬＳＩが内蔵された水晶発振器に関する。
ケージ内にＬＳＩが内蔵された水晶発振器に関する。
【０００２】
【従来の技術】水晶発振器は、マイコンクロックから周
波数基準源まで電子・通信機器分野で幅広く使用されて
おり、キーデバイスとして欠くことの出来ない部品であ
る。そのため、高精度・高信頼性を確保しつつ、近年の
流れである小型化にも対応する必要がある。
波数基準源まで電子・通信機器分野で幅広く使用されて
おり、キーデバイスとして欠くことの出来ない部品であ
る。そのため、高精度・高信頼性を確保しつつ、近年の
流れである小型化にも対応する必要がある。
【０００３】これまで発振回路部分はディスクリート部
品にて構成されてきたが、半導体集積化技術によりＬＳ
Ｉ化へと進んでいる。同時に、水晶発振器の構造も、従
来、水晶振動子は、発振器の一部品として取り扱い、基
板上に他の部品と同様に搭載されパッケージされていた
が、発振回路のＬＳＩ化により水晶振動子パッケージ内
にＬＳＩを内蔵し、より小型化を目指す方向へ進んでい
る。
品にて構成されてきたが、半導体集積化技術によりＬＳ
Ｉ化へと進んでいる。同時に、水晶発振器の構造も、従
来、水晶振動子は、発振器の一部品として取り扱い、基
板上に他の部品と同様に搭載されパッケージされていた
が、発振回路のＬＳＩ化により水晶振動子パッケージ内
にＬＳＩを内蔵し、より小型化を目指す方向へ進んでい
る。
【０００４】水晶振動子パッケージ内にＬＳＩを内蔵し
て水晶発振器を構成することで、その小型化を実現でき
る。現在市場に出回っている水晶振動子とＬＳＩとによ
る水晶発振器（以下、一体形水晶発振器と称す）は、高
精度を必要としないマイコンクロック用に使用されてい
る。今後は、高精度・高信頼性を要求される周波数基準
源（移動体通信分野）にも応用されることとなるが、こ
の場合、一体形水晶発振器の振動子部分の試験が必須と
なってくる。
て水晶発振器を構成することで、その小型化を実現でき
る。現在市場に出回っている水晶振動子とＬＳＩとによ
る水晶発振器（以下、一体形水晶発振器と称す）は、高
精度を必要としないマイコンクロック用に使用されてい
る。今後は、高精度・高信頼性を要求される周波数基準
源（移動体通信分野）にも応用されることとなるが、こ
の場合、一体形水晶発振器の振動子部分の試験が必須と
なってくる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】図４及び図５は、一体
形水晶発振器１の構造を示す断面図及び斜視図である。
図４、図５において、水晶振動子からなるブランク２の
下にＬＳＩ３や電子部品４が搭載される。現在、この構
造を採る一体形水晶発振器１は、高精度な周波数安定度
を必要としない分野にのみ採用されている。この理由と
して、ブランク２とＬＳＩ３や電子部品４が同一パッケ
ージ２１に封入されていることで、ブランク２やブラン
ク表面に成膜されているブランク電極５に異物がつく可
能性が大きく、高精度品に使用することが難しいからで
ある。
形水晶発振器１の構造を示す断面図及び斜視図である。
図４、図５において、水晶振動子からなるブランク２の
下にＬＳＩ３や電子部品４が搭載される。現在、この構
造を採る一体形水晶発振器１は、高精度な周波数安定度
を必要としない分野にのみ採用されている。この理由と
して、ブランク２とＬＳＩ３や電子部品４が同一パッケ
ージ２１に封入されていることで、ブランク２やブラン
ク表面に成膜されているブランク電極５に異物がつく可
能性が大きく、高精度品に使用することが難しいからで
ある。
【０００６】反面、移動体通信機器に使用される高精度
水晶発振器、例えば、温度補償水晶発振器では、広い温
度範囲内で安定した動作を保証するため、水晶振動子部
分の特性が発振器の性能を大きく左右する。
水晶発振器、例えば、温度補償水晶発振器では、広い温
度範囲内で安定した動作を保証するため、水晶振動子部
分の特性が発振器の性能を大きく左右する。
【０００７】高精度水晶発振器は、搭載される水晶振動
子に様々な試験を要求する。例えば、ブランク２に異物
・傷がある場合に発生する周波数飛びや不発振の現象
は、水晶振動子のドライブレベル特性（以下、ＤＬＤ特
性と称する）試験により、その有無を確認できる。ＤＬ
Ｄ試験とは、水晶振動子に印加するドライブレベルを変
化させたときの発振周波数及び水晶振動子損失分の変動
を測定し、一定以上の変動を不良と判定する試験であ
る。ところが、一体形水晶発振器では、その構造上振動
子部分のＤＬＤ特性試験を行うことができず、高精度水
晶発振器としての性能保証ができない。
子に様々な試験を要求する。例えば、ブランク２に異物
・傷がある場合に発生する周波数飛びや不発振の現象
は、水晶振動子のドライブレベル特性（以下、ＤＬＤ特
性と称する）試験により、その有無を確認できる。ＤＬ
Ｄ試験とは、水晶振動子に印加するドライブレベルを変
化させたときの発振周波数及び水晶振動子損失分の変動
を測定し、一定以上の変動を不良と判定する試験であ
る。ところが、一体形水晶発振器では、その構造上振動
子部分のＤＬＤ特性試験を行うことができず、高精度水
晶発振器としての性能保証ができない。
【０００８】これを解決する方法として、発振器外部に
ブランク電極５と電気的に接続された端子を引き出し、
水晶振動子部分のＤＬＤ特性試験を行うという方法があ
る。通常、発振器設計に於いては、水晶振動子端子から
はノイズが乗りやすく、周波数安定度に問題が生じると
いう理由で、引き回しを最小限に抑える必要がある。
ブランク電極５と電気的に接続された端子を引き出し、
水晶振動子部分のＤＬＤ特性試験を行うという方法があ
る。通常、発振器設計に於いては、水晶振動子端子から
はノイズが乗りやすく、周波数安定度に問題が生じると
いう理由で、引き回しを最小限に抑える必要がある。
【０００９】しかし、外部に水晶振動子端子を設ける構
造では、引き回しが長くなってしまう。更には、外部端
子を通じて水晶振動子端子にノイズが入り、発振器動作
が不安定となることも考えられ、製品の信頼性が大幅に
低下するおそれがある。
造では、引き回しが長くなってしまう。更には、外部端
子を通じて水晶振動子端子にノイズが入り、発振器動作
が不安定となることも考えられ、製品の信頼性が大幅に
低下するおそれがある。
【００１０】この発明は上記の事情に鑑みてなされたも
ので、ＤＬＤ特性試験時のみに接続され、その後は電気
的に切り離しておいて、試験後は水晶振動子端子からノ
イズが侵入しないようにするとともに、その端子が他の
端子等と折接触しても特性に影響を及ぼさないようにし
た水晶発振器を提供することを課題とする。
ので、ＤＬＤ特性試験時のみに接続され、その後は電気
的に切り離しておいて、試験後は水晶振動子端子からノ
イズが侵入しないようにするとともに、その端子が他の
端子等と折接触しても特性に影響を及ぼさないようにし
た水晶発振器を提供することを課題とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を達成するために、第１発明は、パッケージ内に水晶振
動子とＬＳＩを収納した水晶発振器であって、前記パッ
ケージの底面に水晶振動子試験用端子を設け、この試験
用端子と水晶振動子の電極とを結ぶ電路と、水晶振動子
の電極とＬＳＩの接続端子とを結ぶ電路とを、試験用端
子からの外乱が発振器の特性に影響しないスイッチによ
り切り替えて、水晶振動子試験時は試験用端子を有効と
し、発振器動作時は試験用端子を無効とするようにした
ことを特徴とするものである。
を達成するために、第１発明は、パッケージ内に水晶振
動子とＬＳＩを収納した水晶発振器であって、前記パッ
ケージの底面に水晶振動子試験用端子を設け、この試験
用端子と水晶振動子の電極とを結ぶ電路と、水晶振動子
の電極とＬＳＩの接続端子とを結ぶ電路とを、試験用端
子からの外乱が発振器の特性に影響しないスイッチによ
り切り替えて、水晶振動子試験時は試験用端子を有効と
し、発振器動作時は試験用端子を無効とするようにした
ことを特徴とするものである。
【００１２】第２発明は、水晶振動子試験用端子をパッ
ケージの側面に設けたことを特徴とするものである。
ケージの側面に設けたことを特徴とするものである。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下この発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。この発明の実施の第１形態を述べ
るに当たり図４及び図５に示す部分と同一部分には、同
一符号を付して説明する。図１はこの発明の実施の第１
形態を示すパッケージ２１の上下を反転させた時の斜視
図で、図１において、パッケージ２１の底面には、一対
の水晶振動子試験用端子６、６をパッケージ２１の短辺
に沿って配置する。一対の水晶振動子試験用端子６、６
は、図２に示す切り替え器１３から引き出された端子
Ａ，Ｂに電気的に接続される。
に基づいて説明する。この発明の実施の第１形態を述べ
るに当たり図４及び図５に示す部分と同一部分には、同
一符号を付して説明する。図１はこの発明の実施の第１
形態を示すパッケージ２１の上下を反転させた時の斜視
図で、図１において、パッケージ２１の底面には、一対
の水晶振動子試験用端子６、６をパッケージ２１の短辺
に沿って配置する。一対の水晶振動子試験用端子６、６
は、図２に示す切り替え器１３から引き出された端子
Ａ，Ｂに電気的に接続される。
【００１４】図２において、切り替え器１３は、例えば
アナログスイッチ１０，１１及びインバータ１２から構
成される。端子Ｃは、水晶発振器の電源入力端子１４に
接続しておく。水晶振動子の試験時は、電源入力端子１
４を接地しておくと、インバータ１２の出力は「Ｈレベ
ル」になるので、アナログスイッチ１１は「オン」にな
って端子Ａ，Ｂに接続されたパッケージ２１の水晶振動
子試験用端子６、６とブランク電極５が電気的に接続さ
れるようになる。このため、この試験用端子６、６を使
用することにより、前記ＤＬＤ特性試験ができるように
なる。
アナログスイッチ１０，１１及びインバータ１２から構
成される。端子Ｃは、水晶発振器の電源入力端子１４に
接続しておく。水晶振動子の試験時は、電源入力端子１
４を接地しておくと、インバータ１２の出力は「Ｈレベ
ル」になるので、アナログスイッチ１１は「オン」にな
って端子Ａ，Ｂに接続されたパッケージ２１の水晶振動
子試験用端子６、６とブランク電極５が電気的に接続さ
れるようになる。このため、この試験用端子６、６を使
用することにより、前記ＤＬＤ特性試験ができるように
なる。
【００１５】水晶発振器の動作時は、電源入力端子１４
に電圧が印加されるので、端子Ｃが「Ｈレベル」にな
る。このため、アナログスイッチ１０が「オン」になっ
て、ブランク電極５がＬＳＩ３の振動子接続端子７へ接
続されて、水晶発振器は発振動作状態になる。このと
き、アナログスイッチ１１は、インバータ１２の出力が
「Ｌレベル」になるため、「オフ」となって水晶振動子
試験用端子６、６とブランク電極５とが電気的に切り離
される。このために、水晶振動子試験用端子６、６にノ
イズが侵入してきても、水晶発振器の動作を不安定にさ
せる恐れが無くなる。なお、図１において、１４は電源
入力端子、１５は接地端子、１６は周波数出力端子、１
７は制御端子である。また、切り替え器１３は、ＬＳＩ
３に内蔵しても、外付けで設けるようにしてもよい。
に電圧が印加されるので、端子Ｃが「Ｈレベル」にな
る。このため、アナログスイッチ１０が「オン」になっ
て、ブランク電極５がＬＳＩ３の振動子接続端子７へ接
続されて、水晶発振器は発振動作状態になる。このと
き、アナログスイッチ１１は、インバータ１２の出力が
「Ｌレベル」になるため、「オフ」となって水晶振動子
試験用端子６、６とブランク電極５とが電気的に切り離
される。このために、水晶振動子試験用端子６、６にノ
イズが侵入してきても、水晶発振器の動作を不安定にさ
せる恐れが無くなる。なお、図１において、１４は電源
入力端子、１５は接地端子、１６は周波数出力端子、１
７は制御端子である。また、切り替え器１３は、ＬＳＩ
３に内蔵しても、外付けで設けるようにしてもよい。
【００１６】図３はこの発明の実施の第２形態を示すパ
ッケージ２１の上下を反転させた時の斜視図で、図２１
において、パッケージ２１の短辺の側面に一対の水晶振
動子試験用端子９、９（一方の端子９は図示せず）を配
置したものである。この水晶振動子試験用端子９、９
も、第１形態の端子６、６と同様に、図２に示す端子
Ａ，Ｂに接続される。なお、動作は、第１形態と同様で
あるので、詳細な説明は省略する。
ッケージ２１の上下を反転させた時の斜視図で、図２１
において、パッケージ２１の短辺の側面に一対の水晶振
動子試験用端子９、９（一方の端子９は図示せず）を配
置したものである。この水晶振動子試験用端子９、９
も、第１形態の端子６、６と同様に、図２に示す端子
Ａ，Ｂに接続される。なお、動作は、第１形態と同様で
あるので、詳細な説明は省略する。
【００１７】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
パッケージ外部にある水晶振動子試験用端子は、ＤＬＤ
特性試験時のみに電気的に接続され、その後は電気的に
切り離しておくので、これにより、引き回しを最小限に
抑えることができ、試験後は外部にある水晶振動子試験
用端子からノイズが入り込むこともなくなる。また、水
晶振動子試験用端子に、他の端子や搭載基板配線が接触
しても、特性には影響しない利点がある。
パッケージ外部にある水晶振動子試験用端子は、ＤＬＤ
特性試験時のみに電気的に接続され、その後は電気的に
切り離しておくので、これにより、引き回しを最小限に
抑えることができ、試験後は外部にある水晶振動子試験
用端子からノイズが入り込むこともなくなる。また、水
晶振動子試験用端子に、他の端子や搭載基板配線が接触
しても、特性には影響しない利点がある。
【図１】この発明の実施の第１形態を示す斜視図。
【図２】第１形態に使用する切り替え器の結線図。
【図３】この発明の実施の第２形態を示す斜視図。
【図４】一体形水晶発振器の断面図
【図５】一体形水晶発振器の斜視図。
２…ブランク ３…ＬＳＩ ５…ブランク電極 ６、６…水晶振動子試験用端子 ９、９…水晶振動子試験用端子 １０、１１…アナログスイッチ １２…インバータ １３…切り替え器 ２１…パッケージ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5J079 AA04 BA43 BA53 FB48 HA07 HA09 HA14 HA28 HA29 5J108 BB02 CC04 EE03 EE07 GG03 HH04 KK04 KK05
Claims (2)
- 【請求項１】 パッケージ内に水晶振動子とＬＳＩを収
納した水晶発振器であって、 前記パッケージの底面に水晶振動子試験用端子を設け、
この試験用端子と水晶振動子の電極とを結ぶ電路と、水
晶振動子の電極とＬＳＩの接続端子とを結ぶ電路とを、
試験用端子からの外乱が発振器の特性に影響しないスイ
ッチにより切り替えて、水晶振動子試験時は試験用端子
を有効とし、発振器動作時は試験用端子を無効とするよ
うにしたことを特徴とする水晶発振器。 - 【請求項２】 水晶振動子試験用端子をパッケージの側
面に設けたことを特徴とする請求項１記載の水晶発振
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27784499A JP2001102870A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | 水晶発振器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27784499A JP2001102870A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | 水晶発振器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001102870A true JP2001102870A (ja) | 2001-04-13 |
Family
ID=17589065
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27784499A Pending JP2001102870A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | 水晶発振器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001102870A (ja) |
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1999
- 1999-09-30 JP JP27784499A patent/JP2001102870A/ja active Pending
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