JP2009267887A - 温度補償型水晶発振器 - Google Patents
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Abstract
【課題】 出力信号の測定の作業性を容易にする。
【解決手段】 温度補償回路部と水晶振動子が接続された発振回路部から2つの出力端子が設けられた温度補償型水晶発振器にであって、発振回路と2つの出力端子とに接続するスイッチ部を備え、スイッチ部が、2つの出力端子のうち一方の出力端子と発振回路との間に設けられる第一のスイッチ部と、発振回路と前記第一のスイッチ部との間と2つの出力端子のうち他方の出力端子とを結ぶ経路において、第一のスイッチ部と前記一方の出力端子との間と経路との間に設けられる第二のスイッチ部と、を備えて構成されることを特徴とする。
【選択図】 図2
【解決手段】 温度補償回路部と水晶振動子が接続された発振回路部から2つの出力端子が設けられた温度補償型水晶発振器にであって、発振回路と2つの出力端子とに接続するスイッチ部を備え、スイッチ部が、2つの出力端子のうち一方の出力端子と発振回路との間に設けられる第一のスイッチ部と、発振回路と前記第一のスイッチ部との間と2つの出力端子のうち他方の出力端子とを結ぶ経路において、第一のスイッチ部と前記一方の出力端子との間と経路との間に設けられる第二のスイッチ部と、を備えて構成されることを特徴とする。
【選択図】 図2
Description
本発明は、周囲温度に変化が生じても周波数を安定させる温度補償型水晶発振器に関する。
従来から、通信機器等の電子機器には、使用環境の温度変化によって生じる水晶振動子の周波数特性の変化を安定させるために温度補償型発振器が用いられる場合がある。
この従来の温度補償型発振器は、例えば、水晶振動素子と集積回路素子とこれらを搭載する容器体と水晶振動素子を気密封止する蓋体とから主に構成されている。
水晶振動素子は、例えば、ATカット水晶片に励振電極を設けて構成されている。この水晶振動素子をセラミック等の容器体内に気密封止して水晶振動子が構成される。
また、集積回路素子は、例えば、温度補償回路部として、EEPROM、温度制御回路、温度センサー回路、AFC調整回路、共振回路、増幅回路、2つのバッファ回路とから主に構成されており、この2つのバッファ回路のそれぞれに出力端子が接続されている。
ここで、EEPROMは温度制御回路と接続し、温度制御回路は温度センサー回路と接続し、温度センサー回路はAFC調整回路と接続している。また、温度制御回路、温度センサー回路、AFC調整回路は共振回路と接続している。また、共振回路は、増幅回路と接続している。この増幅回路は2つのバッファ回路とも接続している(例えば、特許文献1参照)。
この従来の温度補償型発振器は、例えば、水晶振動素子と集積回路素子とこれらを搭載する容器体と水晶振動素子を気密封止する蓋体とから主に構成されている。
水晶振動素子は、例えば、ATカット水晶片に励振電極を設けて構成されている。この水晶振動素子をセラミック等の容器体内に気密封止して水晶振動子が構成される。
また、集積回路素子は、例えば、温度補償回路部として、EEPROM、温度制御回路、温度センサー回路、AFC調整回路、共振回路、増幅回路、2つのバッファ回路とから主に構成されており、この2つのバッファ回路のそれぞれに出力端子が接続されている。
ここで、EEPROMは温度制御回路と接続し、温度制御回路は温度センサー回路と接続し、温度センサー回路はAFC調整回路と接続している。また、温度制御回路、温度センサー回路、AFC調整回路は共振回路と接続している。また、共振回路は、増幅回路と接続している。この増幅回路は2つのバッファ回路とも接続している(例えば、特許文献1参照)。
このように構成される温度補償型水晶発振器は、2つのバッファ回路と接続する出力端子のそれぞれについて出力信号の検査を行う必要がある。
たとえば、検査に用いるプローブピンを一方の出力端子に当接して出力信号を確認した後に、他方の出力端子にプローブピンを当接して出力信号を確認する。
特開2001−156547号公報
たとえば、検査に用いるプローブピンを一方の出力端子に当接して出力信号を確認した後に、他方の出力端子にプローブピンを当接して出力信号を確認する。
しかしながら、このような構成の温度補償型水晶発振器は、出力端子のそれぞれについて検査を行わなければならず、検査の作業が煩雑になる。
また、それぞれの出力端子に対応した治具や装置が必要となり、生産コストが増大する恐れがある。
また、それぞれの出力端子に対応した治具や装置が必要となり、生産コストが増大する恐れがある。
そこで、本発明では、前記した問題を解決し、出力信号の測定の作業性を容易にする温度補償型水晶発振器を提供することを課題とする。
前記課題を解決するため、本発明は、温度補償回路部と水晶振動子が接続された発振回路部から2つの出力端子が設けられた温度補償型水晶発振器にであって、前記発振回路と前記2つの出力端子とに接続するスイッチ部を備え、前記スイッチ部が、2つの出力端子のうち一方の出力端子と発振回路との間に設けられる第一のスイッチ部と、前記発振回路と前記第一のスイッチ部との間と2つの出力端子のうち他方の出力端子とを結ぶ経路において、第一のスイッチ部と前記一方の出力端子との間と前記経路との間に設けられる第二のスイッチ部と、を備えて構成されることを特徴とする。
また、本発明は、前記スイッチ部が、入力される電圧に応じて第一のスイッチ部と第二のスイッチ部とを切り替えることを特徴とする。
このような温度補償型水晶発振器によれば、出力端子を2つ備えているため、測定のために用いる出力端子と、回路基板に実装されて信号出力のために用いる出力端子とに分けて使用することが出来る。また、スイッチ部に第一のスイッチ部と第二のスイッチ部とを設けたことにより、出力信号の測定を行う場合と、実装後に出力信号を出力する場合とで切り替えを行うことができる。これにより、製造過程での出力信号の検査を2つの出力端子のうちのいずれか1つを用いることができるため、出力信号の測定の作業性を向上させることができる。
また、入力される電圧に応じてスイッチ部における切り替えを行うため、人為的な切り替えを必要とせず、プローブを端子に当接した際または回路基板に実装した際にスイッチ部で切り替えがなされるので、測定後すぐに回路基板への実装が可能となる。
次に、本発明を実施するための最良の形態(以下、「実施形態」という。)について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は本発明の第一の実施形態に係る温度補償型水晶発振器の一例を示す断面図である。図2は本発明の実施形態に係る温度補償型水晶発振器の一例を模式的に示すブロック図である。
図1は本発明の第一の実施形態に係る温度補償型水晶発振器の一例を示す断面図である。図2は本発明の実施形態に係る温度補償型水晶発振器の一例を模式的に示すブロック図である。
図1に示すように、本発明の実施形態に係る温度補償型水晶発振器100は、2つの凹部11A、11Bを有する容器体10と、一方の凹部11Aに搭載される集積回路素子30と、他方の凹部11Bに搭載される水晶振動素子20と、この他方の凹部11Bを気密封止する蓋体40とから主に構成されている。
容器体10は、例えば、アルミナセラミックス、ガラス−セラミック等のセラミック材料から成る絶縁層を複数積層することよって形成されており、前記容器体10の両主面には、中央域に開口する矩形状の凹部11A、11Bが形成されている。
また、水晶振動素子20を搭載する凹部11Bを囲繞する容器体10の側壁部13の開口側頂面の全周には、環状の封止用導体パターン16が形成されている。また、凹部11B内には、圧電振動素子搭載パッド15が設けられている。この圧電振動素子搭載パッド15は、容器体10の内部の配線導体やビアホール導体等及び凹部11A内底面に形成された集積回路素子搭載パッド14を介して、集積回路素子30に電気的に接続される。
また、水晶振動素子20を搭載する凹部11Bを囲繞する容器体10の側壁部13の開口側頂面の全周には、環状の封止用導体パターン16が形成されている。また、凹部11B内には、圧電振動素子搭載パッド15が設けられている。この圧電振動素子搭載パッド15は、容器体10の内部の配線導体やビアホール導体等及び凹部11A内底面に形成された集積回路素子搭載パッド14を介して、集積回路素子30に電気的に接続される。
また、集積回路素子30を搭載する凹部11Aを囲繞する容器体10の側壁部12の開口側頂面には、2つの出力端子と、入力端子となる端子Vcc、グランド端子GND、AFC端子、イネーブル・ディセーブル端子E/Dからなる外部端子Gが設けられている。また、凹部11Aの底面に集積回路素子搭載パッド14が設けられている。
また、集積回路素子搭載パッド14は、集積回路素子30に形成されている接続パッド30Aと電気的且つ機械的に接続され、容器体10内部に形成されている配線導体(図示せず)やビアホール導体等(図示せず)を介して2つの出力端子と、入力端子となる端子Vcc、グランド端子GND、AFC端子、イネーブル・ディセーブル端子E/Dからなる外部端子Gに電気的に接続される。これら外部端子Gは、圧電発振器100をマザーボード等の回路基板に搭載する際、半田付け等によって回路基板の回路配線と電気的に接続されることとなる。
また、集積回路素子搭載パッド14は、集積回路素子30に形成されている接続パッド30Aと電気的且つ機械的に接続され、容器体10内部に形成されている配線導体(図示せず)やビアホール導体等(図示せず)を介して2つの出力端子と、入力端子となる端子Vcc、グランド端子GND、AFC端子、イネーブル・ディセーブル端子E/Dからなる外部端子Gに電気的に接続される。これら外部端子Gは、圧電発振器100をマザーボード等の回路基板に搭載する際、半田付け等によって回路基板の回路配線と電気的に接続されることとなる。
なお、容器体10の側壁部の頂面に形成された封止用導体パターン16は、例えば、タングステン(W)、モリブデン(Mo)等から成る基層の表面にニッケル(Ni)層及び金(Au)層を順次、前記容器体10の環状に囲繞する形態で被着させることによって10μm〜25μmの厚みに形成されている。その封止用導体パターン16は、後述する蓋体40を、蓋体40に形成された封止部材Fを介して、容器体10の側壁部13の頂面に接合させるためのものであり、かかる封止用導体パターン16に、W若しくはMoから成る基層の表面にNi層及びAu層を順次被着させた構成となしておくことにより、封止用導体パターン16に対する封止部材Fの濡れ性を良好とし、圧電発振器100の気密信頼性及び生産性を向上させることができる。
水晶振動素子20は、水晶素板の表裏両主面に励振用電極21が被着形成したものである。この 水晶振動素子20は、外部からの交番電圧が励振用電極21を介して水晶素板に印加されると、所定の振動モード及び周波数で励振を起こすようになっている。また、水晶素板は、人工水晶体から所定のカットアングルで切断し外形加工を施された概略平板状で平面形状が例えば四角形となっている。このような圧電振動素子20は、その両主面に被着されている励振用電極21と凹部11B内の圧電振動素子搭載パッド15に導電性接着剤Dを介して電気的且つ機械的に接続することによって搭載される。
蓋体40は従来周知の金属加工法を採用し、42アロイ等の金属を所定形状に成形することによって製作される。この蓋体40の上面には、ニッケル(Ni)層が形成され、更にニッケル(Ni)層の上面の封止用導体パターン16に対応する箇所に封止部材Fである金錫(Au−Sn)層が形成される。金錫(Au−Sn)層の厚みは、10μm〜40μmである。例えば、成分比率が、金が80%、錫が20%のものが使用されている。また、このような封止部材Fは、封止用導体パターン16の凹凸を緩和し、気密性の低下を防ぐことが可能となる。また、封止部材Fが薄すぎると当該機能を充分に発揮することができない。
集積回路素子30は、例えば、EEPROM31、温度補償回路部32、発振回路部33、スイッチ部34とから主に構成されている。
EEPROM31は、温度に対応した電圧の値を記憶しており、温度補償回路部32が有する温度センサー回路から出力された温度に対する電圧の値を示す電圧信号を出力する役割を果たす。このEEPROMは、温度補償回路部32に接続している。
EEPROM31は、温度に対応した電圧の値を記憶しており、温度補償回路部32が有する温度センサー回路から出力された温度に対する電圧の値を示す電圧信号を出力する役割を果たす。このEEPROMは、温度補償回路部32に接続している。
温度補償回路部32は、主に、温度センサー回路32A、温度制御回路32B、AFC調整回路32C、とから構成されている。温度センサー回路部32Aは、集積回路素子30の周囲の雰囲気温度を検知して、検知した温度を示す温度信号を出力する役割を果たす。
温度制御回路32Bは、温度センサー回路部32Aから出力された温度信号を入力し、その温度信号に対応した制御を行う役割を果たす。具体的には、例えば、水晶振動素子20の温度特性が、例えば縦軸を周波数変化率、横軸を温度とした場合、25℃の位置を変極点とする3次関数となる。このとき、温度補償型水晶発振器100の電圧を、3次関数で表される水晶振動素子20の温度特性を反転した3次関数を生成しつつ、3次関数で表される水晶振動素子20の温度特性の変極点付近の勾配を傾けて横軸と平行になるように、3次関数を加工する役割を果たす。
AFC調整回路32Cは、温度制御回路32Bが生成した3次関数に基づいて、EEPROM31の電圧信号と温度センサー回路32Aの温度信号とを用いて、周波数を理論的な理想値に合わせる役割を果たす。温度補償回路部32は、発振回路部33と接続している。
発振回路部33は、水晶振動素子20と接続しており、所定の周波数で発振できるようになっている。この発振回路部33は発振する周波数を出力信号として生成する。この発振回路部33はスイッチ部34と接続している。
温度制御回路32Bは、温度センサー回路部32Aから出力された温度信号を入力し、その温度信号に対応した制御を行う役割を果たす。具体的には、例えば、水晶振動素子20の温度特性が、例えば縦軸を周波数変化率、横軸を温度とした場合、25℃の位置を変極点とする3次関数となる。このとき、温度補償型水晶発振器100の電圧を、3次関数で表される水晶振動素子20の温度特性を反転した3次関数を生成しつつ、3次関数で表される水晶振動素子20の温度特性の変極点付近の勾配を傾けて横軸と平行になるように、3次関数を加工する役割を果たす。
AFC調整回路32Cは、温度制御回路32Bが生成した3次関数に基づいて、EEPROM31の電圧信号と温度センサー回路32Aの温度信号とを用いて、周波数を理論的な理想値に合わせる役割を果たす。温度補償回路部32は、発振回路部33と接続している。
発振回路部33は、水晶振動素子20と接続しており、所定の周波数で発振できるようになっている。この発振回路部33は発振する周波数を出力信号として生成する。この発振回路部33はスイッチ部34と接続している。
スイッチ部34は、2つのバッファ回路B1、B2と第一のスイッチ部S1と第二のスイッチ部S2とから主に構成されている。
このスイッチ部34は、それぞれのバッファ回路B1、B2が2つある出力端子G(G−out1、G−out2)に接続している。
そして、これらバッファ回路B1、B2は、発振回路部33側で接続している。
このスイッチ部34は、それぞれのバッファ回路B1、B2が2つある出力端子G(G−out1、G−out2)に接続している。
そして、これらバッファ回路B1、B2は、発振回路部33側で接続している。
ここで、第一のスイッチ部S1は、2つの出力端子Gのうち一方の出力端子G−out1と発振回路33との間に設けられる。
つまり、第一のスイッチ部S1は、バッファ回路B1と一方の出力端子G−out1との間に設けられる。
つまり、第一のスイッチ部S1は、バッファ回路B1と一方の出力端子G−out1との間に設けられる。
また、第二のスイッチ部S2は、発振回路33と第一のスイッチ部S1との間と2つの出力端子Gのうち他方の出力端子G−out2とを結ぶ経路において、第一のスイッチ部S1と前記一方の出力端子G−out1との間と前記経路との間に設けられる。
つまり、発振回路33から一方のバッファ回路B1と第一のスイッチ部S1と一方の出力端子G−out1とで結ばれる経路と、発振回路33と一方のバッファ回路B2との間で接続し他方のバッファ回路B2と他方の出力端子G−out2とを結ぶ経路において、2つの経路を結ぶ位置に第二のスイッチ部S2が設けられる。なお、この第二のスイッチ部S2は、第一のスイッチ部S1と一方の出力端子G−out1との間と、他方のバッファ回路B2と他方の出力端子G−out2との間に設けられることとなる。
つまり、発振回路33から一方のバッファ回路B1と第一のスイッチ部S1と一方の出力端子G−out1とで結ばれる経路と、発振回路33と一方のバッファ回路B2との間で接続し他方のバッファ回路B2と他方の出力端子G−out2とを結ぶ経路において、2つの経路を結ぶ位置に第二のスイッチ部S2が設けられる。なお、この第二のスイッチ部S2は、第一のスイッチ部S1と一方の出力端子G−out1との間と、他方のバッファ回路B2と他方の出力端子G−out2との間に設けられることとなる。
このスイッチ部34による切り替えは、周波数を検査する際に印加される電圧と、回路基板に搭載された後に印加される電圧との違いを用いて切り替えを行う。
例えば、周波数を検査する際の電圧を5.0V、回路基板に搭載された後に印加される電圧を4.5Vとした場合について説明する。
周波数を検査する際、5.0Vが集積回路素子に印加されることとなる。このとき、電圧は、スイッチ部34まで到達することとなるが、この電圧において、スイッチ部34は、第一のスイッチ部S1のスイッチを開放し、第二のスイッチ部S2のスイッチを閉じる制御を行う。これにより、2つの出力端子G(G−out1、G−out2)から同一の出力信号を取り出せることが出来る。したがって、用いられる設備において、どの出力端子G(G−out1、G−out2)を用いても、この温度補償型水晶発振器100の検査を行うことができる。
例えば、周波数を検査する際の電圧を5.0V、回路基板に搭載された後に印加される電圧を4.5Vとした場合について説明する。
周波数を検査する際、5.0Vが集積回路素子に印加されることとなる。このとき、電圧は、スイッチ部34まで到達することとなるが、この電圧において、スイッチ部34は、第一のスイッチ部S1のスイッチを開放し、第二のスイッチ部S2のスイッチを閉じる制御を行う。これにより、2つの出力端子G(G−out1、G−out2)から同一の出力信号を取り出せることが出来る。したがって、用いられる設備において、どの出力端子G(G−out1、G−out2)を用いても、この温度補償型水晶発振器100の検査を行うことができる。
つぎに、回路基板に搭載された後に4.5Vの電圧が印加された場合について説明する。この場合も4.5Vの電圧がスイッチ部34まで到達する。これにより、スイッチ部34は、第一のスイッチ部S1のスイッチを閉じ、第二のスイッチ部S2のスイッチを開放する制御を行う。これにより、出力信号は一方の出力端子G(G−out1)のみから取り出せることとなる。
つまり、スイッチ部34は、入力される電圧に応じて第一のスイッチ部S1と第二のスイッチ部S2とを切り替えることができるため、検査の場合と回路基板に実装された場合とで、2つの出力端子G(G−out1、G−out2)を使い分けることができる。
つまり、スイッチ部34は、入力される電圧に応じて第一のスイッチ部S1と第二のスイッチ部S2とを切り替えることができるため、検査の場合と回路基板に実装された場合とで、2つの出力端子G(G−out1、G−out2)を使い分けることができる。
このように本発明の実施形態に係る温度補償型水晶発振器100を構成したので、出力端子G(G−out1、G−out2)を2つ備えていることにより、測定のために用いる出力端子G(G−out1、G−out2)と、回路基板に実装されて信号出力のために用いる出力端子G(G−out1)とに分けて使用することが出来る。また、スイッチ部34に第一のスイッチ部S1と第二のスイッチ部S2とを設けたことにより、出力信号の測定を行う場合と、実装後に出力信号を出力する場合とで切り替えを行うことができる。これにより、製造過程での出力信号の検査を2つの出力端子G(G−out1、G−out2)のうちのいずれか1つを用いることができるため、出力信号の測定の作業性を向上させることができる。
また、入力される電圧に応じてスイッチ部34における切り替えを行うため、人為的な切り替えを必要とせず、プローブを端子に当接した際または回路基板に実装した際にスイッチ部34で切り替えがなされるので、測定後すぐに回路基板への実装が可能となる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態には限定されない。例えば、容器体の構造は、一方の主面に2つの凹部を形成した構造や、水晶振動子に凹部が形成された部材を接続した構成としても良い。また、水晶振動子に集積回路素子を搭載してモールド樹脂で集積回路素子を保護した構造や、リードフレームに水晶振動子と集積回路素子を搭載してモールド樹脂で保護した構造としても良い。
100 温度補償型水晶発振器
10 容器体
30 集積回路素子
20 水晶振動素子
40 蓋体
31 EEPROM
32 温度補償回路部
32A 温度センサー回路
32B 温度制御回路
32C AFC調整回路
33 発振回路部
34 スイッチ部
G 外部端子(出力端子)
10 容器体
30 集積回路素子
20 水晶振動素子
40 蓋体
31 EEPROM
32 温度補償回路部
32A 温度センサー回路
32B 温度制御回路
32C AFC調整回路
33 発振回路部
34 スイッチ部
G 外部端子(出力端子)
Claims (2)
- 温度補償回路部と水晶振動子が接続された発振回路部から2つの出力端子が設けられた温度補償型水晶発振器にであって、
前記発振回路と前記2つの出力端子とに接続するスイッチ部を備え、
前記スイッチ部が、
2つの出力端子のうち一方の出力端子と発振回路との間に設けられる第一のスイッチ部と、
前記発振回路と前記第一のスイッチ部との間と2つの出力端子のうち他方の出力端子とを結ぶ経路において、第一のスイッチ部と前記一方の出力端子との間と前記経路との間に設けられる第二のスイッチ部と、
を備えて構成されることを特徴とする温度補償型水晶発振器。 - 前記スイッチ部が、入力される電圧に応じて第一のスイッチ部と第二のスイッチ部とを切り替えることを特徴とする請求項1に記載の温度補償型水晶発振器。
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