JP5052966B2 - 圧電発振器 - Google Patents

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本発明は、電子機器等に用いられる圧電発振器に関する。
図4は、従来の圧電発振器を示す分解斜視図である。図4に示すように従来の圧電発振器200は、凹部空間205を有する容器体201と圧電振動素子202と集積回路素子203と蓋体204とから主に構成されている。
容器体201は、セラミック材料等から成る概略直方体からなり、一方の主面に開口する凹部空間205が形成され、前記凹部空間205内には前記凹部空間内底面より高い位置に搭載部206が形成されている。
集積回路素子203は、前記容器体201の凹部空間205内底面に形成された集積回路素子搭載パッド208上に搭載されている。
圧電振動素子202は、前記搭載部206に形成された圧電振動素子搭載パッド207上に搭載されている。
蓋体204は、前記容器体201の凹部空間上に載置し、前記容器体201の側壁頂部と固着することにより、凹部空間内を気密封止される。
このような圧電発振器200は、前記容器体201の他方の主面の4隅に、外部接続用電極端子209である電源電圧端子、グランド端子、発振出力端子、発振制御端子を設けた構造が知られている(例えば、特許文献1を参照)。
また、前記容器体201の側壁外側面には、外側面の厚み方向にへこみ部210が形成され、前記へこみ部の厚み方向の中間部分に、凹部空間205内に搭載された圧電振動素子202と電気的に接続したモニタ用電極端子211が設けられている。
圧電振動素子202の特性を測定する場合は、一対のコンタクトプローブを一方向から並列させてモニタ用電極端子211に接触させることによって、圧電振動素子202のCI(クリスタルインピーダンス)値、周波数等の特性を測定する(例えば、特許文献2を参照)。
特開2002―111435公報(第5−6頁、図1) 特開2004−214799号公報
従来の圧電発振器200の構造では、容器体201の凹部空間205内に圧電振動素子202と集積回路素子203を収容するために、圧電振動素子202を搭載するための搭載部206を形成し、圧電振動素子202と集積回路素子203が接触しない間隔が必要なため、薄型化することが困難であるといった課題があった。
また、圧電発振器200の容器体201の側壁外側面に、圧電振動素子202の測定が可能な大きさのモニタ用電極端子211を設ける必要があるため、このモニタ用電極端子211が圧電発振器200の薄型化の妨げとなるといった課題があった。
また、圧電発振器200の組み立てが完了した後、圧電振動素子202のCI(クリスタルインピーダンス)をインピーダンスアナライザ等の電気特性測定器で測定することにより、圧電発振器200の特性検査を行い、圧電発振器200としての良不良を判定している。そのため、容器体201の側壁外側面にモニタ用電極端子211が設けられていたが、圧電発振器200を薄型化すると、容器体201の側面に形成されているモニタ用電極端子211の表面積が非常に小さくなってしまい、電気特性測定器の測定用コンタクトピンをモニタ用電極端子211に接触させることが困難になってきた。そのため、測定用のコンタクトピンとモニタ用電極端子211との接触不良によって検査の作業性や効率が著しく低下してしまうといった課題があった。
本発明は前記課題に鑑みてなされたもので、組み立て後であっても、圧電振動素子の検査を容易にして生産性や作業性を向上させることができ、且つ薄型化に対応可能な圧電発振器を提供することを課題とする。
本発明の圧電発振器は、平板状の基体と、前記基体の一方の主面上に設けられ、且つ前記基体の前記一方の主面大きさよりも平面視の大きさが小さい枠体と、前記基体の一方の主面と前記枠体とにより形成された凹部空間内に設けられた圧電振動素子搭載パッドに搭載される圧電振動素子と、前記枠体が設けられている部分及び前記凹部空間に露出している部分以外の前記基体の前記一方の主面に設けられた集積回路素子搭載部分と、前記集積回路素子搭載部分に形成された集積回路素子搭載パッドに搭載される集積回路素子と、前記圧電振動素子と電気的に接続するモニタ用電極端子と、前記凹部空間を気密封止する蓋体とを備え、前記モニタ用電極端子は前記基体の他方の主面の中央に設けられており、前記圧電振動素子搭載パッドは、前記集積回路素子搭載パッドと接続されており、前記集積回路素子搭載パッドは、前記集積回路素子搭載部分に設けられた中継パッドを介して、前記モニタ用電極端子に接続されていることを特徴とする。
また、前記集積回路素子搭載パッドと前記中継パッドの間には、切断用配線パターンが形成されていることを特徴とするものである。
本発明の圧電発振器によれば、圧電振動素子と電気的に接続するモニタ用電極端子が基体の他方の主面に設けられているので、圧電振動素子の電気的特性の測定に際し、電気特性測定器のコンタクトピンとの接触を確実に行える大きさのモニタ用電極端子を設けることが可能となり、検査の作業性及び検査効率、生産性を向上させることが可能となる。
また、本発明の圧電発振器によれば、基体の側壁外側面にモニタ用電極端子を設ける必要がないので、薄型化しても、容易に測定を行うことができる。
また、圧電振動素子搭載パッドと接続されている集積回路素子搭載パッドは、中継パッドを介して、前記モニタ用電極端子に接続されていることによって、1経路ですみ、複数の配線を引き回す必要がない為、配線するためのスペースを縮小することが可能となる。
また、圧電振動素子搭載パッドと接続されている集積回路素子搭載パッドと中継パッドの間には、切断用配線パターンが形成されていることによって、圧電振動素子の電気的特性の測定後、切断用配線パターンをレーザ等で切断することで、集積回路素子搭載パッドと中継パッドとを電気的に分断する。
これにより、圧電発振器をマザーボード等の基板に接続する際に、マザーボード側のモニタ用電極端子と対向する位置に配線パターンがあった場合でも、モニタ用電極端子は、切断用配線パターンが切断されているために、圧電発振器のどの電気配線とも接続していないダミー電極端子となっているので、配線パターンとモニタ用電極端子等の間で浮遊容量が発生せず、圧電発振器の発振周波数変動を防止することが可能となる。
以下、本発明を添付図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る圧電発振器を示す分解斜視図である。図2は、本発明の実施形態に係る圧電発振器を示す図1のA−A断面図である。図3は、本発明の実施形態に係る圧電発振器を構成する基体を示し、(a)は、一方の主面側を示す平面図であり、(b)は、他方の主面側を示す平面図である。
尚、説明を明りょうにするため説明に不必要な構造体の一部は図示していない。さらに図示した寸法も一部誇張して示している。
図1〜図3に示すように、圧電発振器100は、基体10aと、前記基体10aの一方の主面とで凹部空間11が形成される枠体10bと、前記凹部空間11の圧電振動素子搭載部分15に形成された圧電振動素子搭載パッド12に搭載される圧電振動素子20と、前記基体10aの一方の主面の集積回路素子搭載部分16に形成された集積回路素子搭載パッド13に搭載される集積回路素子30と、前記圧電振動素子20と電気的に接続するモニタ用電極端子18と、凹部空間11を気密封止する蓋体40とを備えた構造となっている。
圧電振動素子20は、例えば、水晶素板に励振用電極21を被着形成したものであり、外部からの交番電圧が励振用電極21を介して水晶素板に印加されると、所定の振動モード及び周波数で励振を起こすようになっている。
水晶素板は、人工水晶体から所定のカットアングルで切断し外形加工を施された概略平板状で平面形状が例えば四角形となっている。
励振用電極21は、前記水晶素板の表裏両主面に被着・形成したものである。
このような圧電振動素子20は、励振用電極21と凹部空間11内の圧電振動素子搭載面15に形成されている圧電振動素子搭載パッド12とを、導電性接着剤50を介して電気的且つ機械的に接続することによって凹部空間11に搭載される。
集積回路素子30は、回路形成面に圧電振動素子20からの発振出力を生成する発振回路等が設けられており、この発振回路で生成された出力信号は所定の外部接続用電極端子13を介して圧電発振器外へ出力され、例えば、クロック信号等の基準信号として利用される。
また集積回路素子30は、基体10aの一方の主面の集積回路素子搭載部分16に形成された集積回路素子搭載パッド13に搭載されている。
基体10aと枠体10bは、例えば、アルミナセラミックス、ガラス−セラミックス等のセラミック材料から成り、グリーンシート法により積層された状態で一体的に形成されている。
基体10aの一方の主面の圧電振動素子搭載部分15と枠体10bによって、凹部空間11が形成されている。
凹部空間11を囲繞する枠体10bの頂面であって、凹部空間11の周囲に封止用導体パターン14が形成されている。
凹部空間11は、圧電振動素子20を収容するためのものであり、凹部空間11底面である圧電振動素子搭載部分15には、圧電振動素子20の表裏両主面に形成された励振用電極21と各個電気的に接続される圧電振動素子搭載パッド12が設けられている。
また、前記基体10aの一方の主面の集積回路素子搭載部分16には、集積回路素子30内に搭載した電子回路網との電気的接続を取ると共に集積回路素子30を機械的に接合するための集積回路素子搭載パッド13が被着形成されている。
集積回路素子搭載部分16は、前記圧電振動素子搭載部分15と基体10aの一方の主面に並んで形成されており、枠体10bが形成されていない基体10aの一方の主面が集積回路素子搭載部分16となる。
また、基体10aの他方の主面の4隅には、電源電圧端子、発振出力端子及びグランド端子を含む複数個の外部接続用電極端子17が設けられている。
また、基体10aの他方の主面の中央に圧電振動素子20のCI(クリスタルインピーダンス)や共振周波数等の電気的特性を測定するためのモニタ用電極端子18が設けられている。
枠部10bの頂面に形成された封止用導体パターン14は、例えば、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、等から成る基層の表面にニッケル(Ni)層及び金(Au)層を順次、凹部空間11を環状に囲繞する形態で被着させることによって、例えば、10μm〜25μmの厚みに形成されている。
この封止用導体パターン14は、後述する蓋体40を、蓋体40に形成された封止部材41の濡れ性を良好とし、凹部空間11の気密信頼性及び生産性を向上させることができる。
圧電振動素子搭載パッド12は、基体10aの圧電振動素子搭載部分15に設けられており、基体10aに設けられた外部接続用電極端子17の一部と、基体10aを構成する基板層表面の配線パターンや基板層内を貫通するビア導体を介して電気的に接続されている。また圧電振動素子搭載パッド12は、その上面側で、前記圧電振動素子20の励振用電極21に導電性接着剤60を介して電気的且つ機械的に接続されている。
圧電振動素子搭載パッド12は、集積回路素子搭載パッド13aと接続されており、集積回路素子搭載パッド13aは、集積回路素子搭載部分16上で配線パターンにより中継パッド70と接続されている。
中継パッド70は、基体10aの内部ビア導体等を介して、基体10aの他方の主面に設けられたモニタ用電極端子18に接続されている。
これにより、圧電振動素子搭載パッド12は、モニタ用電極端子18と接続されている。モニタ用電極端子18は、基体10aの他方の主面の中央部分に2個設けられており、凹部空間11内底面の圧電振動素子搭載部分15に形成されている圧電振動素子搭載パッド12を介して、前記圧電振動素子20と接続されており、前記圧電振動素子20のCI(クリスタルインピーダンス)値や共振周波数値等の電気的特性を測定するために用いる。
集積回路素子搭載パッド13は、基体10aの一方の主面の集積回路素子搭載部分16に形成されている。また、集積回路素子搭載パッド13は、集積回路素子30に設けた接続パッドと半田や導電性接着剤等の導電性接合材50を介して個々に接合させることによって集積回路素子30が基体10aに搭載され、これによって集積回路素子30内の電子回路が圧電振動素子20や外部接続用電極端子17に電気的に接続される。
中継パッド70は、基体10aの集積回路素子搭載部分16上に形成されており、基体10aの他方の主面に形成されているモニタ用電極端子18と各層表面の配線パターンや各層を貫通するビア導体を介して電気的に接続されている。
中継パッド70を介して、モニタ用電極端子18に接続されていることによって1経路ですみ、複数の配線を引き回す必要がない為、配線するためのスペースを縮小することが可能となる。
また、前記中継パッド70は、前記集積回路素子搭載部分16上の集積回路素子搭載パッド13aと集積回路素子搭載部分16上で配線パターンにより接続されており、中継パッド70と集積回路素子搭載パッド13aとの間には、切断用配線パターン19が形成されている。
切断用配線パターン19は、配線パターンの幅が細く形成されており、切断し、電気的に分断しやすくなっている。
よって、圧電振動素子20の電気的特性の測定後、切断用配線パターン19をレーザやダイサー等で切断することによって、圧電発振器100をマザーボード等の基板に接続する際に、マザーボード側のモニタ用電極端子18と対向する位置に配線パターンがあった場合でも、モニタ用電極端子18は、切断用配線パターン19が切断されているために、圧電発振器100のどの電気配線とも接続していないダミー電極端子となっているので、配線パターンとモニタ用電極端子18の間で浮遊容量が発生せず、圧電発振器100の発振周波数変動を防止することが可能となる。
切断用配線パターン19は、集積回路素子搭載部分16に集積回路素子30が搭載された場合に、集積回路素子30によって、覆われる位置に形成されている。
外部接続用電極端子17は、電源電圧端子、グランド端子、発振出力端子、発振制御端子等により構成されており、これらの外部接続用電極端子17は、圧電発振器100をマザーボード等の外部電気回路に搭載する際、半田付け等によって外部電気回路の回路配線と電気的に接続されることとなる。
外部接続用電極端子17のうち、グランド端子と発振出力端子を近接させて配置するようにすれば、発振出力端子より出力される発振信号に雑音が重畳するのを有効に防止することができる。従って、グランド端子と発振出力端子は近接させて配置することが好ましい。
このように本発明の実施形態に係る圧電発振器100を構成したことにより、基体10aの他方の主面の中央部に従来の圧電発振器に比べ大きなモニタ用電極端子18を設けることができるので、圧電振動素子20の電気的特性の測定に際し、電気特性測定器のコンタクトピンとの接触を確実に行える大きさのモニタ用電極端子18を形成することが可能となり、検査の作業性及び検査効率、生産性を向上させることが可能となる。
また、基体10aを構成する複数の絶縁層のうち、基体10aの側壁外側面にモニタ用電極端子を形成していた基板層を省くことができるので、圧電発振器100の薄型化が可能となる。
従来の圧電発振器は、基体10a内部に、圧電振動素子搭載パッド12とモニタ用電極端子18とを接続する経路と、圧電振動素子搭載パッドと12集積回路素子搭載パッド13aと接続する経路の2経路が必要だが、本発明の圧電発振器は、圧電振動素子搭載パッド12と集積回路素子搭載パッド13aが接続されており、前記集積回路素子搭載パッド13aは、中継パッド70を介して、前記モニタ用電極端子18に接続されていることによって1経路ですみ、複数の配線を引き回す必要がない為、配線するためのスペースを縮小することが可能となる。
導電性接着剤60は、シリコーン樹脂の中に導電性フィラーが含有されているものであり、導電性粉末としては、アルミニウム(Al)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、銀(Ag)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、ニッケル鉄(NiFe)、またはこれらの組み合わせを含むものが用いられている。
枠体10b上に配置される蓋体40は、従来周知の金属加工法を採用し、42アロイ等の金属を所定形状に整形することによって製作される。蓋体40の上面には、ニッケル(Ni)層が形成され、更にニッケル(Ni)層の上面に少なくとも封止用導体パターン14に相対する箇所に封止部材41である金錫(Au−Sn)層が形成される。金錫(Au−Sn)層の厚みは、10μm〜40μmである。例えば、成分比率が、金が80%、錫が20%のものが使用されている。また、このような封止部材41は、封止用導体パターン14表面の凹凸を緩和し、気密性の低下を防ぐことが可能となる。このような蓋体40を水晶振動素子20が内部に搭載された凹部空間11を囲繞する枠部10bに形成した封止用導体パターン14上に、凹部空間11を覆う形態で配置され、封止部材41と封止用導体パターン14とを溶融接合することにより、凹部空間11内を気密封止している。
また、圧電振動素子20の電気的特性の測定に使用される電気特性試験器としては、圧電振動素子20の共振周波数、CI(クリスタルインピーダンス)、インダクタンス、容量等の等価パラメータを測定することができるネットワークアナライザ等が用いられ、そのコンタクトピンは、銅、銀等の合金の表面に金メッキを施した高導電性のピンと、接触時の衝撃を抑制するばね性をもったソケットとで構成され、これをモニタ用電極端子18に接触させることで測定が行われる。
また、コンタクトピンは、導電性ゴムで形成されたものでもよく、20〜30μm程度の太さの金属細線が一定の間隔でゴムの厚さ方向に埋め込まれたもので、ゴムの上面と下面との間は金属細線を介して電気的に接続されるが、隣接する金属細線間には絶縁性のゴムが介在しているため電気的に絶縁されており、ゴムの上下への伝導はするが、横方向には絶縁を維持する異方導電性シートなどを用いても良い。
尚、本発明は前記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。
前記した本実施例では、圧電振動素子を構成する圧電素材として水晶を用いた水晶振動素子を説明したが、他の圧電素材として、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウムまたは、圧電セラミックスを圧電素材として用いた圧電振動素子でも構わない。
前記した本実施形態では、基体10aの他方の主面に外部接続用電極端子17とモニタ用電極端子18を設けた構成を説明したが、温度補償型圧電発振器の場合には、集積回路素子30のメモリに温度補償データを書き込むためのデータ書き込み用端子を設けても構わない。
前記した本実施形態では、基体10aと枠体10bを一体的に形成した構成を説明したが、枠体10bの代わりに、従来周知の金属加工法を採用し、42アロイ等の金属を所定形状に整形することによって製作されたシールリングを用いても構わない。
前記した本実施形態では、圧電振動素子20の電気的特性の測定後、切断用配線パターン19を切断することによって、圧電発振器100をマザーボード等の基板に接続する際には、マザーボードの配線とモニタ用電極端子18との間で浮遊容量が発生せず、圧電発振器の発振周波数変動を防止することができることを説明したが、測定後、切断せずにモニタ用電極端子18表面に絶縁性の樹脂膜を形成するようにしても、切断用配線パターン19を切断するのと同様の効果を奏することができる。
また、前記切断用配線パターン19を切断した後、再度、圧電振動素子20を測定する必要がある場合は、切断した配線間を半田等の導電性接合材で接続することや、集積回路素子搭載パッド13aと中継パッド70をワイヤーで接続することで、再度圧電振動素子20の測定をすることが可能となる。
本発明の実施形態に係る圧電発振器を示す分解斜視図である。 本発明の実施形態に係る圧電発振器を示す図1のA−A断面図である。 本発明の実施形態に係る圧電発振器を構成する基体を示し、(a)は、一方の主面側を示す平面図であり、(b)は、他方の主面側を示す平面図である。 従来の圧電発振器を示す分解斜視図である。
符号の説明
10a・・・基体
10b・・・枠体
11・・・凹部空間
12・・・圧電振動素子搭載パッド
13・・・集積回路素子搭載パッド
13a・・・圧電振動素子と電気的に接続した集積回路素子搭載パッド
14・・・封止用導体パターン
15・・・圧電振動素子搭載部分
16・・・集積回路素子搭載部分
17・・・外部接続用電極端子
18・・・モニタ用電極端子
19・・・切断用配線パターン
20・・・圧電振動素子
21・・・励振用電極
30・・・集積回路素子
40・・・蓋体
41・・・封止部材
50・・・導電性接合材
60・・・導電性接着剤
70・・・中継パッド
100・・・圧電発振器

Claims (2)

  1. 平板状の基体と、
    前記基体の一方の主面上に設けられ、且つ前記基体の前記一方の主面大きさよりも平面視の大きさが小さい枠体と、
    前記基体の一方の主面と前記枠体とにより形成された凹部空間内に設けられた圧電振動素子搭載パッドに搭載される圧電振動素子と、
    前記枠体が設けられている部分及び前記凹部空間に露出している部分以外の前記基体の前記一方の主面に設けられた集積回路素子搭載部分と、
    前記集積回路素子搭載部分に形成された集積回路素子搭載パッドに搭載される集積回路素子と、
    前記圧電振動素子と電気的に接続するモニタ用電極端子と、
    前記凹部空間を気密封止する蓋体とを備え、
    前記モニタ用電極端子は前記基体の他方の主面の中央に設けられており、
    前記圧電振動素子搭載パッドは、前記集積回路素子搭載パッドと接続されており、前記集積回路素子搭載パッドは、前記集積回路素子搭載部分に設けられた中継パッドを介して、前記モニタ用電極端子に接続されていることを特徴とする圧電発振器。
  2. 前記集積回路素子搭載パッドと前記中継パッドの間には、切断用配線パターンが形成されていることを特徴とする請求項1記載の圧電発振器。
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