JP4730401B2 - 圧電発振器とその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は小型化に対応するための圧電発振器とその製造方法に関する。
携帯電話機等の移動体通信機器の普及に伴う低価格化および小型化の急激な進展により
、これらの通信機器に使用される圧電振動子や圧電発振器に対しても低価格化、小型化の
要求が高まっている。
従来の圧電発振器としては、例えば特開2002−100932号公報で提案されたよ
うなものがあり、図5(a)はそのパッケージの構成を示す縦断面図、図5(b)は充填
樹脂、ICチップを省略した状態の下面、即ちICチップ実装面図である。
同図に示すように、従来の圧電発振器100は、上部キャビティー部105と下部キャ
ビティー部106とが隔壁108で隔てられた略直方体状の容器体101と、上部キャビ
ティー部104に収容される矩形状の圧電振動素子102と、下部キャビティー部105
に収容される発振回路を構成するICチップ103と、金属製の蓋体106と、充填樹脂
107と、を備えている。
上部キャビティー部104の内底面に形成したパッド電極111に導電性接着剤110
を介して圧電振動素子102の一方端部で片持ち支持すると共に電気的な接続をした上で
上部キャビティー部104を蓋体106により気密封止すると共に、下部キャビティー部
105の内底面にICチップ103をワイヤボンディングし該ICチップ103を収容し
た下部キャビティー部105を充填樹脂107により封止する構造となっている。
前記圧電発振器100の製造方法は、前記上部キャビティー部104の内底面に形成す
る前記パッド電極111に前記導電性接着剤110を介して圧電振動素子102を実装す
る。パッド電極111は前記容器体101が備える配線パターン(不図示)を介して下部
キャビティー部105の底面に形成するモニタ電極パッド112、113夫々と導通して
おり、該モニタ電極パッド112、113夫々に周波数測定装置の測定用端子(プローブ
)を接触し圧電振動素子102の周波数を測定する。その測定結果に基づいて、蒸着等に
より該圧電振動素子102の発振周波数の調整を行う。
以後は、前記圧電振動素子102を収容した前記上部キャビティー部104を前記蓋体
106により気密封止する。前記ICチップ103を前記下部キャビティー部105の内
底面にワイヤボンディングする。ICチップ103を収容した前記下部キャビティー部1
05を前記充填樹脂107により封止する。
以上により前記圧電発振器100の組立が完了し、その後は所定の電気試験を実施する
特開2002−100932号公報
前述する圧電発振器の更なる小型化の要求を満足させるために、前記容器体101の小
型化、即ち該容器体101が備える前記配線パターンの微細化及び配線パターン同志の間
隙の微細化が必要不可欠となる。
また、前記モニタ電極パッド112、113夫々の極小化も不可避であり、場合によっ
てはモニタ電極パッド112、113夫々が前記配線パターンと同一のパターン幅となる
、換言すれば、モニタ電極パッド112、113夫々を配設することが不可能となる。
一般的に測定用端子によって導通をとる方法はその繰返し精度等を考慮して、広い面積
を備える電極パッドを先端が針状の測定用端子でほぼ点接触する方法であって、極小化(
微細化)された前記モニタ電極パッド112、113夫々、即ち該モニタ電極パッド11
2、113夫々が配設されていた位置に引き回された配線パターンと前記周波数測定装置
の測定用端子との接触が極めて困難となり接触不良、即ち周波数測定不良による前記圧電
振動素子102の発振周波数調整不良若しくは良品の(発振する)圧電振動素子102を
不良(発振しない)品と誤判断により歩留りが悪化する虞がある。
また、前述する前記容器体101の小型化、即ち前記隔壁108の薄型化も必要不可欠
となる。従来の先端が針状の測定用端子では前記モニタ電極パッド112、113夫々に
接触時(測定時)に加える荷重が1点に集中することにより隔壁108にヒビや破損を生
じる虞がある。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、小型化に対応する圧電発
振器を提供することを目的とする。
[適用例1]本適用例にかかる圧電発振器は、外周形状が四角であり、その外周の内側に上部凹陥部を形成する上部枠状部と、外周形状が四角であり、その外周の内側に下部凹陥部を形成する下部枠状部と、を隔壁にて隔てるよう前記隔壁の表裏に配置した外周形状が略直方体形状の容器体と、圧電振動素子と、発振回路を構成する電子回路素子と、蓋体と、を備え、前記上部凹陥部内に前記圧電振動素子を収容し、該上部凹陥部を前記蓋体により気密封止すると共に、前記下部凹陥部内に少なくとも前記電子回路素子を収容する構造を有する圧電発振器であって、前記容器体の4つの外周側面のうち対向する側面にそれぞれ一つの凹所を設け、前記凹所の内壁には、導体膜を配設し、該導体膜を前記圧電振動素子と電気的に導通接続し、前記凹所は、前記隔壁の側面と前記下部枠状部の側面とを切り欠いた構成であり、前記表裏を結ぶ線分の延びる方向を厚み方向としたとき、前記導体膜は、厚み方向における前記下部枠状部側に位置する端が前記容器体の厚み方向側に位置する端から離間した構成であることを特徴とする。
[適用例]また本適用例にかかる圧電発振器の製造方法は、外周形状が四角であり、その外周の内側に上部凹陥部を形成する上部枠状部と、外周形状が四角であり、その外周の内側に下部凹陥部を形成する下部枠状部と、を隔壁にて隔てるよう前記隔壁の表裏に配置した外周形状が略直方体形状の容器体と、圧電振動素子と、発振回路を構成する電子回路素子と、蓋体と、を備え、前記上部凹陥部内に前記圧電振動素子を収容し、該上部凹陥部を前記蓋体により気密封止すると共に、前記下部凹陥部内に少なくとも前記電子回路素子を収容する構造を有し、前記容器体の4つの外周側面のうち対向する側面にそれぞれ一つの凹所を設け、前記凹所の内壁には、導体膜を配設し、該導体膜を前記圧電振動素子と電気的に導通接続した構成であって、前記凹所は、前記隔壁の側面と前記下部枠状部の側面とを切り欠いた構成であり、前記表裏を結ぶ線分の延びる方向を厚み方向としたとき、前記導体膜は、厚み方向における前記下部枠状部側に位置する端が前記容器体の厚み方向側に位置する端から離間した構成の圧電発振器の製造方法であって、前記上部凹陥部内に前記圧電振動素子を実装する工程と、前記上部凹陥部に実装した前記圧電振動素子の周波数を測定する工程と、前記測定工程の測定結果に基づいて前記圧電振動素子の周波数を調整する工程と、前記下部凹陥部内に前記電子回路素子を搭載する工程と、を少なくとも含み、前記周波数測定工程は、前記導体膜に測定用端子を接触し、前記圧電振動素子の周波数を測定するものであることを特徴とする。
[適用例3]前記周波数測定工程は、前記導体膜に弾性を有する導電材を導通固定した測定用端子を押し当てるものであることを特徴とする。
これらの圧電発振器によれば、小型化に対応する圧電発振器と該圧電発振器が備える電極に確実にコンタクト(接触)する製造装置とを用いる圧電発振器が得られるという効果を有する。
[適用例]また更に上記適用例にかかる圧電発振器の製造方法は、前記測定用端子を構成する弾性を有する導電材が異方性導電シートであることを特徴とする。
この圧電発振器の製造方法によれば、耐摩耗性が向上し且つ確実にコンタクト(接触)する圧電発振器が得られるという効果を有する。
以下、図示した本発明の実施の形態に基づいて、本発明を詳細に説明する。
図1は本発明の実施の形態の水晶発振器の構成図で、図1(a)はそのパッケージの縦
断面図、図1(b)は充填樹脂、ICチップを省略した状態の下面、即ちICチップ実装
面図である。ただし、後述するボンディングパッド14夫々と該ボンディングパッド14
夫々から延在する後述する配線パターン12、13夫々及びその他の配線パターン(不指
示)とを明確にするため、図1(a)ではボンディングパッド14を白抜きで配線パター
ン12、13夫々とその他の配線パターンとは塗り潰しで図示している。
同図に示すように、本発明実施形態の水晶発振器20は、上部凹陥部4と下部凹陥部5
とが隔壁8で隔てて対向配置する略直方体状の容器体、即ちセラミックパッケージ1と、
上部凹陥部4に収容される矩形状の水晶振動素子2と、下部凹陥部5に収容される発振回
路を構成するICチップ(電子回路素子)3と、金属製の蓋体6と、充填樹脂7と、を備
えている。
上部凹陥部4の内底面に形成したパッド電極11に導電性接着剤10を介して水晶振動
素子2の一方端部で片持ち支持すると共に電気的な接続をした上で上部凹陥部4を蓋体6
により気密封止すると共に、下部凹陥部5の内底面にICチップ3をフリップチップボン
ディングし該ICチップ3を収容した下部凹陥部5を充填樹脂7により封止する構造とな
っている。
前記セラミックパッケージ1は、略矩形状のセラミック絶縁層1a(隔壁8)と該セラミック絶縁層1aの下面に載置された略矩形状の枠状セラミック絶縁層1b(下部枠状部)とが積層されたパッケージ本体と、セラミック絶縁層1a上面に銀ろう付けされたコバール合金から成る略矩形状の枠状体1c(上部枠状部)と、枠状体1cの内側(上部凹陥部5)に露出するセラミック絶縁層1aの上面に形成した前記水晶振動素子2実装用のパッド電極11と、セラミック絶縁層1bの内側(下部凹陥部6)に露出するセラミック絶縁層1aの下面に形成した前記ICチップ3実装用のボンディングパッド14と、該ボンディングパッド14夫々から延在する配線パターン12、13とその他の配線パターン、例えば15と、該セラミック絶縁層1bの下面に形成した外部端子電極と、を備え、配線パターン12、13夫々は内部パターン(不図示)を介してパッド電極11と電気的接続する。

前記配線パターン、パッド電極、ボンディングパッド及び外部端子電極はタングステン
或いはモリブデンを焼成しその上にニッケルメッキを施しさらにこのニッケルメッキ上に
金めっきを施したものであって、前記配線パターン12、13夫々と該配線パターン12
、13夫々に導通するボンディングパッド夫々の厚み(焼成後のタングステン或いはモリ
ブデンの厚みとニッケルメッキ厚と金めっき厚とを合せた厚み)を、その他の配線パター
ン15及び配線パターン12、13とは不通のボンディングパッドより厚く(高く)なっ
ている。なお、前記配線パターン12、13は互いに同じ厚みとした。
前記配線パターン12、13と該配線パターン12、13夫々に導通するボンディング
パッドとをその他のものより厚く(高く)する手段としては、公知技術であるセラミック
パッケージ(セラミック多層回路基板)の製造方法のグリーンシート積層法でのセラミッ
クパッケージを構成するセラミック絶縁層となるセラミックグリーンシートの表面に導体
ペーストで配線パターンをスクリーン印刷する工程において、配線パターン12、13と
該配線パターン12、13夫々に導通するボンディングパッドとを構成するための導体ペ
ースト(タングステン或いはモリブデン)を所望の厚みになるまで印刷を繰り返す若しく
は厚手のスクリーン印刷版での印刷を行う。
図2は本発明の実施の形態に係る測定用端子(プローブ)の先端の構造を示す断面図で
ある。
図2(a)に示すように本発明の実施の形態に係る測定用端子30は、前記配線パター
ン12、13夫々のパターン幅より大きい直径を有する略円形の台座31aと、棒状の連
結部31bとが一体となった本体部31と、前記台座31aと大きさが略一致する接触部
32と、を備え、台座31aと接触部32とを導電性接着材により接着する構造を有する

台座31aと連結部31bとは、ベリリウム銅にロジウムメッキ処理したもの又は硬質
燐青銅にロジウムメッキ処理したもの又はSK−4にロジウムメッキ処理したもの又は銅
合金に金メッキ処理したもの等である。
接触部32は弾性を有する導電材、例えば膜厚方向には導電性の、且つ、面方向には絶
縁性の電気的異方性を有する異方性導電シートであって、前記配線パターン12、13夫
々と接触部32とを接触、荷重を加えることで該接触部32、即ち異方性導電シート内に
混入された微小金属粒子を介して電気的に接続する。
前記測定用端子30の先端のその他の構造として、図2(b)に示すように接触部32
に凹陥を形成し該凹陥に台座31aに配設した突起を嵌入する方法と、図2(c)に示す
ように台座31aに凹陥を形成し該凹陥に接触部32を嵌入する方法と、等があり、いず
れの方法でも構わない。
図3は本発明実施形態に係る測定用端子の効果作用を示す説明図である。
図3(a)に示すように、前述するように前記配線パターン12、13(不図示)と該
配線パターン12、13と導通するボンディングパッド夫々(不図示)の厚みがその他の
配線パターン15や配線パターン12、13とは不通のボンディングパッド(不図示)よ
り厚くなっているので、前記接触部32が所定の配線パターン12と配線パターン15と
を同時に接触しても接触部32、即ち異方性導電シートには該異方性導電シートと配線パ
ターン12との接触面には荷重が加わり導通するのに対し、厚みの薄い配線パターン15
には荷重が加わらないので非導通となる。つまり、配線パターンの極小化(微細化)に合
せて測定用端子の小面積化(尖鋭化)する必要がなく、むしろ本発明実施形態の測定用端
子の先端は細幅の配線パターン12、13よりも十分に大きいので精密な位置合わせをし
なくとも導通が確保できるのである。
前記セラミックパッケージ1の更なる小型化に伴い、前記セラミック絶縁層1bの内側
に露出するのがほぼボンディングパッド14のみになると想定されるが、前述と同様に、
所定のボンディングパッドとその他のボンディングパッドとを同時に接触しても接触部3
2、即ち異方性導電シートには該異方性導電シートと所定のボンディングパッドとの接触
面のみに荷重が加わり導通するので、セラミックパッケージ1の更なる小型化に合せて測
定用端子30を極小化する必要がない。
また、前記台座31aに前記接触部32を配設しない、即ち前記配線パターン12、1
3夫々と前記台座31aとが直接接触(導通)する場合、図3(b)に示すように、経年
変化によって台座31aに配線パターン12、13(不図示)夫々の断面形状(略半円状
)略一致するような摩耗部33が形成され、図3(c)に示すように、配線パターン12
、13夫々と台座31aとの接触をさらに繰り返すと摩耗部33が拡大し該摩耗部33が
配線パターン12を跨ぎ、即ち配線パターン12とは接触せず該配線パターン12近傍の
絶縁層(前記セラミック絶縁層1aの下面)と摩耗部33の終端部(台座31aの先端面
)とが接触することとなり測定が不可能となる。前記台座31aに前記接触部32を配設
することは接触部32が有する弾性変形によって経年変化による摩耗を回避すると共に安
定した接触(導通)が得られるという点でも有効である。
本発明実施形態の水晶発振器20の製造方法は、前記上部凹陥部4の内底面に形成する
前記パッド電極11に前記導電性接着剤10を介して水晶振動素子2を実装する。パッド
電極11は前記プリント配線基板1が備える配線パターンを介して下部凹陥部5の底面に
形成する配線パターン12、13夫々と導通しており該配線パターン12、13夫々に周
波数測定装置の測定用端子30を接触し水晶振動素子2の周波数を測定する。その測定結
果に基づいて、蒸着等により水晶振動素子2の発振周波数の調整を行う。
以後の工程は、従来と同様である。
図4は本発明による水晶発振器のその他の構造を示す図である。
図4(a)に示すように、その他の本発明実施形態の水晶発振器40として該水晶発振
器40の対向する一対の側端面、例えば一方の短辺側端面に厚み方向に延びる溝状の側面
電極、即ち前記配線パターン12(不図示)と導通するモニタ電極パッド42と、他方の
短辺側端面に厚み方向に延びる溝状の側面電極、即ち前記配線パターン13と導通するモ
ニタ電極パッド43(不図示)と、を備える以外は前記水晶発振器20と同一であって、
モニタ電極パッド42、43夫々は前記セラミック絶縁層1aの短辺側端面の下部と前記
セラミック絶縁層1bの短辺側端面の上部との同位置に配設された切り欠きを組み合わせ
て溝の内側に設けられたものであって、セラミック絶縁層1a、1bの切り欠きの内壁面
に導体膜が被着されている。
図4(b)に示すように、例えばモニタ電極パッド42が有する溝に前記測定用端子3
0の接触部32が有する弾性変形を利用して該接触部32を嵌入し導通を得る。
本発明実施形態に係る測定用端子は前記水晶発振器20、40夫々のみならず、従来の
圧電発振器100、即ち広い面積を有する前記モニタ電極パッド112、113であって
も構わない。
前記下部凹陥部5には前記ICチップ3の他に該ICチップに供給される電源電圧に重
畳される高周波ノイズを除去するためのコンデンサ等を収容しても構わない。
以上では水晶を用いて本発明を説明したが、本発明は水晶のみに限定するものではなく
ランガサイト、四方酸リチウム、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム等の圧電材料に
適用できることは云うまでもない。
本発明の実施の形態としての水晶発振器の構成図であり、(a)は、縦断面図、(b)は、下面図。 本発明の実施の形態に係る測定用端子の先端構造を示す縦断面図。 本発明実施形態に係る測定用端子の効果作用を示す説明図。 その他の本発明実施形態としての水晶発振器の構成図であり、(a)は、斜視図、(b)は、横断面図。 従来の水晶発振器の構成図であり、(a)は、縦断面図、(b)は、下面図。
符号の説明
1…セラミックパッケージ、2…水晶振動素子、3…ICチップ、4…上部凹陥部、5
…下部凹陥部、6…蓋体、7…充填樹脂、8…隔壁、10…導電性接着剤、11…パッド
電極、12、13、15…配線パターン、14…ボンディングパッド、20、40…水晶
発振器、30…測定用端子、31a…台座、31b…連結部、32…接触部、33…摩耗
部、42、43、112、113…モニタ電極パッド、100…圧電発振器、101…容
器体、102…圧電振動素子、103…ICチップ、104…上部キャビティー部、10
5…下部キャビティー部、106…蓋体、107…充填樹脂、108…隔壁、110…導
電性接着剤、111…パッド電極。

Claims (4)

  1. 外周形状が四角であり、その外周の内側に上部凹陥部を形成する上部枠状部と、
    外周形状が四角であり、その外周の内側に下部凹陥部を形成する下部枠状部と、を隔壁にて隔てるよう前記隔壁の表裏に配置した外周形状が略直方体形状の容器体と、
    圧電振動素子と、
    発振回路を構成する電子回路素子と、
    蓋体と、を備え、
    前記上部凹陥部内に前記圧電振動素子を収容し、該上部凹陥部を前記蓋体により気密封止すると共に、前記下部凹陥部内に少なくとも前記電子回路素子を収容する構造を有する圧電発振器であって、
    前記容器体の4つの外周側面のうち対向する側面にそれぞれ一つの凹所を設け、
    前記凹所の内壁には、導体膜を配設し、
    該導体膜を前記圧電振動素子と電気的に導通接続し
    前記凹所は、前記隔壁の側面と前記下部枠状部の側面とを切り欠いた構成であり、
    前記表裏を結ぶ線分の延びる方向を厚み方向としたとき、前記導体膜は、厚み方向における前記下部枠状部側に位置する端が前記容器体の厚み方向側に位置する端から離間した構成であることを特徴とする圧電発振器。
  2. 外周形状が四角であり、その外周の内側に上部凹陥部を形成する上部枠状部と、
    外周形状が四角であり、その外周の内側に下部凹陥部を形成する下部枠状部と、を隔壁にて隔てるよう前記隔壁の表裏に配置した外周形状が略直方体形状の容器体と、
    圧電振動素子と、
    発振回路を構成する電子回路素子と、
    蓋体と、を備え、
    前記上部凹陥部内に前記圧電振動素子を収容し、該上部凹陥部を前記蓋体により気密封止すると共に、前記下部凹陥部内に少なくとも前記電子回路素子を収容する構造を有し、
    前記容器体の4つの外周側面のうち対向する側面にそれぞれ一つの凹所を設け、
    前記凹所の内壁には、導体膜を配設し、
    該導体膜を前記圧電振動素子と電気的に導通接続した構成であって、
    前記凹所は、前記隔壁の側面と前記下部枠状部の側面とを切り欠いた構成であり、
    前記表裏を結ぶ線分の延びる方向を厚み方向としたとき、前記導体膜は、厚み方向における前記下部枠状部側に位置する端が前記容器体の厚み方向側に位置する端から離間した構成の圧電発振器の製造方法であって、
    前記上部凹陥部内に前記圧電振動素子を実装する工程と、
    前記上部凹陥部に実装した前記圧電振動素子の周波数を測定する工程と、
    前記測定工程の測定結果に基づいて前記圧電振動素子の周波数を調整する工程と、
    前記下部凹陥部内に前記電子回路素子を搭載する工程と、
    を少なくとも含み、
    前記周波数測定工程は、前記導体膜に測定用端子を接触し、前記圧電振動素子の周波数を測定するものであることを特徴とする圧電発振器の製造方法。
  3. 前記周波数測定工程は、前記導体膜に弾性を有する導電材を導通固定した測定用端子を押し当てるものであることを特徴とする請求項に記載の圧電発振器の製造方法。
  4. 前記測定用端子を構成する弾性を有する導電材が異方性導電シートであることを特徴とする請求項に記載の圧電発振器の製造方法。
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