JP5518086B2 - 素子収納用パッケージおよび実装構造体 - Google Patents

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Description

本発明は、素子収納用パッケージ、並びにその素子収納用パッケージを用いる実装構造体に関する。
従来から、誘電体層の一主面に信号線路を形成し、誘電体層の他主面にグランド層を形成した入出力端子を有する素子収納用パッケージが知られている(例えば、特開平8−227949号公報)。現在、信号線路に伝送される信号を、マイクロ波、ミリ波等の高周波としても、電磁波の漏れが少なく、高周波伝送特性に優れた素子収納用パッケージが求められている。本発明は、高周波伝送特性に優れた素子収納用パッケージ、並びにその素子収納用パッケージを用いる実装構造体を提供することを目的とする。
本発明の一実施形態に係る素子収納用パッケージは、上面に素子の実装領域を有する基板と、前記基板上であって前記実装領域の外周に沿って設けられ、一部に貫通孔を有する枠体を備えている。さらに、素子収納用パッケージは、前記貫通孔に設けられ、前記枠体の内外に延在する第1誘電体層と、前記第1誘電体層上に形成され前記枠体の内外を電気的に接続する信号線路と、前記第1誘電体層の下面に形成される第1グランド層と、平面透視して前記枠体と重なる領域であって前記信号線路上に形成される第2誘電体層と、前記第2誘電体層の上面に形成される第2グランド層と、前記第2誘電体層内に設けられ前記信号線路に沿って前記枠体内から前記枠体外にまで延在される金属層と、を有する入出力端子を備えている。そして、前記金属層は、前記第2誘電体層から前記第1誘電体層にまで前記第1グランド層および前記第2グランド層に接続して形成されるとともに、前記信号線路と離間して設けられることを特徴とする。
また、本発明の第2実施形態に係る実装構造体は、前記素子収納用パッケージと、前記素子収納用パッケージに実装された素子を備えたことを特徴とする。
本実施形態に係る素子収納用パッケージの概観斜視図である。 本実施形態に係る素子収納用パッケージの入出力端子の概観斜視図である。 図2に示すX−X’に沿った入出力端子の断面図である。 信号線路と金属層との配置関係を示す透過斜視図である。 図5(A)は、第1誘電体層の分解斜視図であって、図5(B)は、第2誘電体層の分解斜視図である。 一変形例に係る入出力端子の概観を示す斜視図である。 図6に示すY−Y’に沿った入出力端子の断面図である。 一変形例に係る入出力端子の概観を示す斜視図である。 図8に示すZ−Z’に沿った第1誘電体層の断面図である。 一変形例に係る入出力端子の概観を示す斜視図である。 一変形例に係る入出力端子の概観を示す斜視図である。 図11に示すYx−Y’xに沿った入出力端子の断面図である。 一変形例に係る入出力端子の断面図である。 一変形例に係る入出力端子の断面図である。 一変形例に係る入出力端子の断面図である。 一変形例に係る入出力端子の概観を示す斜視図である。 図16に示すYy−Y’yに沿った入出力端子の断面図である。
以下に添付図面を参照して、本発明にかかる素子収納用パッケージの実施形態を詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されないものである。
<素子収納用パッケージの概略構成>
図1は、本実施形態に係る素子収納用パッケージ1を示す概観斜視図である。図2は、図1の素子収納用パッケージ1に用いられる入出力端子の概観斜視図である。素子収納用パッケージ1は、電子機器に用いるものである。特に、マイクロ波、ミリ波等の高周波で用いられる電子機器の高周波回路に用いられる。
素子収納用パッケージ1は、例えば、半導体素子、光半導体素子、トランジスタ、ダイオードまたはサイリスタ等の能動素子、あるいは抵抗器、コンデンサ等の受動素子からなる素子2を実装するのに用いるものである。なお、素子収納用パッケージ1に素子2を実装したものを実装構造体1Xとする。
素子収納用パッケージ1は、上面に素子2の実装領域Rを有する基板3と、基板3上であって実装領域Rの外周に沿って設けられ、一部に貫通孔Hを有する枠体4と、貫通孔Hに設けられ、枠体4内外を電気的に接続する入出力端子5とを備えている。
基板3は、平面視したとき四角形状に形成された部材である。基板3は、例えば、銅、鉄、タングステン、モリブデン、ニッケルまたはコバルト等の金属材料、あるいはこれらの金属材料を含有する合金から成る。基板3は、熱伝導率を良好にして、実装領域Rに実装した素子2から発生する熱を効率良く基板3を介して外部に放散させる機能を備えている。なお、基板3の熱伝導率は、例えば、15W/(m・K)以上450W/(m・K)以下に設定されている。
また、基板3は、溶融した金属材料を型枠に鋳込んで固化させたインゴットに対して、従来周知の圧延加工または打ち抜き加工等の金属加工法を用いることで、所定形状に製作される。なお、基板3の一辺の長さは、例えば、3mm以上50mm以下に設定されている。また、基板3の厚みは、例えば、0.3mm以上5mm以下に設定されている。
また、基板3の表面は、酸化腐食の防止、または実装領域Rに素子2をろう付けしやすくするために、電気めっき法または無電解めっき法を用いて、ニッケルまたは金等の鍍金層が形成されている。基板3の実装領域Rは、基板3の上面に枠体4を接続したときに、枠体4と接続されない領域である。なお、本実施形態では、基板3の形状を四角形状としているが、素子を実装することが可能であれば、四角形状に限られず、多角形状または楕円形状等であってもよい。
枠体4は、基板3の実装領域Rの外周に沿って接続され、実装領域Rに実装する素子を外部から保護するための部材である。また、枠体4は、側面の一部に入出力端子5を設ける貫通孔Hが形成されている。枠体4は、ろう材を介して基板3にろう付けされる。なお、ろう材は、例えば、銀、銅、金、アルミ二ウムまたはマグネシウム等からなり、ニッケル、カドミウムまたは燐等の添加物を含有させてもよい。
また、枠体4は、例えば、銅、鉄、タングステン、モリブデン、ニッケルまたはコバルト等の金属材料、あるいはこれらの金属材料を含有する合金から成る。枠体4は、実装領域Rに素子2が実装されている状態で、素子2から発生する熱を効率良く枠体4の外部に発散させる機能を備えている。なお、枠体4の熱伝導率は、例えば、15W/(m・K)以上450W/(m・K)以下に設定されている。
枠体4上には、実装領域Rに素子2が実装された状態で、蓋体6が設けられる。蓋体6は、基板2と枠体4とで囲まれる空間を封止する機能を備えている。蓋体6は、例えばろう材を介して枠体4上にろう付けされる。なお、蓋体6は、例えば、銅、鉄、タングステン、モリブデン、ニッケルまたはコバルト等の金属材料、あるいはこれらの金属材料を含有する合金から成る。
ここで、入出力端子5について説明する。図3は、図2に示すX−X’に沿った入出力端子5の断面図である。また、図4は、図2に示す信号線路と金属層との配置関係を示す透過斜視図である。
貫通孔Hに設けられる入出力端子5は、枠体4の内外に延在される第1誘電体層7と、第1誘電体層7上に形成され枠体4の内外を電気的に接続する信号線路8と、第1誘電体層7の下面に形成される第1グランド層9aと、平面透視して前記枠体と重なる領域であって信号線路8上に形成される第2誘電体層10と、第2誘電体層10の上面に形成される第2グランド層9bと、第2誘電体層10の内に設けられ信号線路8に沿って枠体4内から枠体4外にまで延在される金属層11と、を備えている。なお、第1グランド層9aと第2グランド層9bを総称する場合、グランド層9と称する。ここでは、信号線路8とグランド層9がペアで、高周波伝送線路として機能する。
信号線路8は、所定の電気信号を伝達する機能を備えている。信号線路8は、例えば、マイクロストリップ線路またはコプレーナ線路として用いる。信号線路8は、例えば、タングステン、モリブデン、マンガン、銅、銀、金、アルミニウム、ニッケルまたはクロム等の金属材料、あるいはこれらの混合物、あるいはこれらの合金等からなる。信号線路8の線路幅は、信号線路8に伝わる信号の波長の4分の1以下であって、例えば、0.05mm以上0.5mm以下に設定されている。
信号線路8には、リード端子12が形成される。リード端子12は、外部の電子機器等と素子2とを電気的に接続するための部材である。リード端子12は、ろう材を介して、信号線路8上に接続される。そして、信号線路8とリード端子12とが電気的に接続される。
また、第1グランド層9aは、第1誘電体層7の下面に形成されている。そして、第1グランド層9aは、第1誘電体層7の下面から第1誘電体層7の側面を介して第2誘電体層10の側面にまで形成されている。そして、第2誘電体層10の側面から第2誘電体層10の上面に形成される第2グランド層9bと接続されている。このように、グランド層9は、図2または図3に示すように、第1誘電体層7および第2誘電体層10の外表面に形成されている。グランド層9は、共通の電位、例えばアース電位にする機能を備えている。また、グランド層9は、例えば、銅、銀、タングステン、モリブデン、マンガン、金、アルミニウム、ニッケルまたはクロム等の金属材料、あるいはダイヤモンド、あるいはこれらの混合物、あるいはこれらの合金等からなる。グランド層9は、平面視して信号線路8と重なる領域に形成されている。枠体4は、金属材料からなり、グランド層9と枠体4とは電気的に接続されている。
第1誘電体層7および第2誘電体層10は、絶縁性の基板であって、例えば、酸化アルミニウム、窒化アルミニウムまたは窒化珪素等の無機材料、あるいはエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂またはエチレン樹脂等の有機材料、あるいはアルミナまたはムライト等のセラミック材料、あるいはガラスセラミック材料等から成る。または、これらの材料のうち複数の材料を混合した複合系材料から成る。なお、第1誘電体層7および第2誘電体層10の厚みは、信号線路8に伝わる信号の波長の2分の1以下であって、例えば、0.1mm以上1.0mm以下に設定されている。
また、第1誘電体層7または第2誘電体層10には、多数のフィラーが含有されていても構わない。第1誘電体層7または第2誘電体層10が有機材料からなる場合、第1誘電体層7または第2誘電体層10にフィラーが含有されていることによって、第1誘電体層7または第2誘電体層10の硬化前の粘度を調整することができ、第1誘電体層7または第2誘電体層10の厚み寸法を所望の値に近づけることができる。フィラーは、球状であって、フィラーの径は、例えば、0.05μm以上6μm以下に設定されており、熱膨張率は、例えば−5ppm/℃以上5ppm/℃以下である。なお、フィラーは、例えば、酸化珪素、炭化珪素、酸化アルミニウム、窒化アルミニウムまたは水酸化アルミニウム等から成る。
また、第1誘電体層7または第2誘電体層10に含有されるフィラーの比誘電率は、第1誘電体層7または第2誘電体層10を構成する材料の比誘電率よりも小さく設定することができる。このように、第1誘電体層7または第2誘電体層10の比誘電率よりも小さい低誘電率のフィラーとすることで、誘電体層全体を更に低誘電率化することができ、信号線路8に伝送される信号の伝送効率を向上させることができる。
また、フィラーは、絶縁性のフィラーとすることができる。フィラーを絶縁性とすることで、信号線路8に伝わる信号の特性インピーダンスへの影響を低減することができる。
第2誘電体層10内には、金属層11が設けられている。金属層11は、信号線路8に沿って枠体4内から枠体4外にまで延在されている。
金属層11は、第2誘電体層10の内壁面から第2誘電体層10の外壁面にまで形成されている。つまり、金属層11は、枠体4で囲まれる空間内から枠体4で囲まれない空間外にまで形成されている。なお、金属層11は、例えば、銅、銀、タングステン、モリブデンまたはマンガン等の金属材料、あるいはダイヤモンド、あるいはこれらの混合物、あるいはこれらの合金等からなる。また、金属層11の熱伝導率は、例えば、20W/m・K以上500W/m・K以下に設定されている。なお、金属層11の厚みは、例えば、0.01mm以上0.5mm以下に設定されている。
枠体4内は、素子2から発生する熱に起因して、枠体4外に比べて高温になりやすい。特に、マイクロ波またはミリ波等の高周波を信号線路に伝送させた場合、高周波に起因して信号線路が高温になることがある。そのため、枠体4内の素子2の温度が上昇して、素子2の電気特性が変化する虞がある。金属層11は、枠体4内から熱が伝わり、さらに伝わった熱が枠体4外に放散される。その結果、素子2から発生する熱が枠体4内でこもるのを抑制することができる。
また、金属層11は、入出力端子5を平面透過したとき、信号線路8の両側にそれぞれ形成されている。信号線路8は、マイクロ波またはミリ波等の高周波を発生する際に熱が発生する。信号線路8に発生する熱は、断面視して信号線路8を中心にその周りに放散して、信号線路8で発生した熱が枠体4内にこもる虞がある。そこで、信号線路8の両側にそれぞれ金属層11を設けることで、信号線路8で発生した熱を金属層11に効率良く伝えることができる。
また、金属層11は、図3または図4に示すように、第2誘電体層10から第2誘電体層10まで両者に接続して形成されている。そして、金属層11は、信号線路8と離間して設けられている。金属層11は、信号線路8に沿って板状に形成されることで、信号線路8から熱が効果的に伝わる。
また、金属層11は、第2誘電体層10の下端から第1誘電体層7中を介して第2グランド層9bにまで延在されている。また、金属層11は、第2誘電体層10の上端にまで延在され、第2誘電体層10の上面に位置する第2グランド層9bとも接続される。そして、金属層11は、グランド層9と接続されることで、例えば、アース電位となる。そのため、信号線路8の高周波信号に基づいて発生する電界を金属層11が遮蔽することができる。このように、金属層11に電界遮蔽効果をもたせることで、信号線路8から発生する電界に起因して素子2の高周波伝送特性が変化するのを抑制することができる。
また、素子収納用パッケージ1に、素子2を半田等のバンプを介してフリップチップ実装することで、実装構造体1Xを構成することができる。ICまたはLSI等の半導体素子を実装する場合は、半導体素子としては、例えば、シリコン、ゲルマニウム、ガリウム砒素、ガリウム砒素リン、窒化ガリウムまたは炭化珪素等を用いることができる。
本実施形態によれば、信号線路8に沿って枠体4の内外にまで延在する金属層11を設けることで、枠体4内の熱を枠体4外に伝え、枠体4内の温度が枠体4外の温度に比べて高温になるのを抑制することができ、放熱性に優れた素子収納用パッケージ、並びにその素子収納用パッケージを用いる実装構造体を提供することができる。
ここで、仮に、入出力端子5内において、平面視したときに第2誘電体層10の一端から他端にまで連続して金属層11を形成せずに、金属層11を分断するようにして、金属層11をグランド層として機能する複数の金属柱に変更した場合を想定する。かかる場合、信号線路8に伝送される信号は、当該金属柱から反射して進行するものと、隣接する金属柱の間を通過して第1誘電体層7または第2誘電体層10の側面に形成されるグランド層9から反射して進行するものとがある。そのため、金属層11を複数の金属柱とした場合は、マイクロ波またはミリ波等の高周波において信号線路8に伝送される信号は、信号のモード変換が頻繁に発生し、電磁波の漏れが多い信号となってしまう。
また、金属層11に代えて、複数の金属柱に変更した場合は、第1誘電体層7および第2誘電体層10のそれぞれに複数のビア孔を形成した後、該ビア孔に金属ペーストを充填して金属柱を設ける。そして、第1誘電体層7上に第2誘電体層10を積層してから、両層を一体焼成する。しかしながら、仮に、ミリ波等の高周波に対応可能な金属柱を形成しようとした場合は、ビア孔は非常に微細な大きさにしなければならない。かかる場合は、ビア孔の径は、例えば0.01mm以上0.5mm以下の大きさとなり、機械的にパンチを用いてビア孔を設けることは非常に困難であって、レーザー光を用いてビア孔を用いることが想定される。しかし、レーザー光を用いたとしても、ビア孔の径は非常に小さな大きさになるため、ビア孔を設ける場所を制御して、平面視してライン上に複数のビア孔を1列に設けることは困難である。
また、第1誘電体層7および第2誘電体層10に設けるビア孔は、所望する箇所から少しでも位置ずれが起きると、第1誘電体層7中の金属柱と第2誘電体層10中の金属柱が接続されない虞があり、電磁波の漏れやすい構造になってしまう。また、ビア孔が非常に微細な大きさになると、ビア孔内部に導体ペースト等による充填が困難となり、金属柱に導通不良が生じ易くなる。また、本実施形態においては入出力端子5が非常に小型であって、例えば、第1誘電体層7および第2誘電体層10の厚みは、0.1mm以上1.0mm以下に設定されているので、例えばレーザー光を用いてビア孔を開ける際に、入出力端子5がビア孔を空ける熱によって変形してしまう虞がある。このように、金属層11に代えて、複数の金属柱に変更した構造は、製造工程が煩雑になって、製造歩留まりが低下してしまう。
一方、本実施形態によれば、信号線路8に沿って枠体4の内外にまで延在される金属層11を連続して設けることで、信号の同軸モード状態を長く保つことができ、電磁波の漏れが発生しにくい、電気特性の優れた素子収納用パッケージ、並びにその素子収納用パッケージを用いる実装構造体を提供することができる。また、第1誘電体層7および第2誘電体層10は、金属層11とともに一体焼成することで作成することができ、製造工程を単純化するとともに、製造歩留まりを向上することができる。
<素子収納用パッケージの製造方法>
ここで、図1に示す素子収納用パッケージ1および実装構造体1Xの製造方法を説明する。
まず、基板3、枠体4のそれぞれを準備する。基板3、枠体4のそれぞれは、溶融した金属材料を型枠に鋳込んだ固化させたインゴットに対して、金属加工法を用いることで、所定形状に製作される。
次に、入出力端子5を準備する。ここでは、第1誘電体層7および第2誘電体層10の材料が、酸化アルミニウム質焼結体、窒化アルミニウム質焼結体またはムライト質焼結体等の場合の入出力端子5の作製方法について説明する。
具体的には、第1誘電体層7および第2誘電体層10の材料が酸化アルミニウム質焼結体から成る場合は、先ず、酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化マグネシウムおよび酸化カルシウム等の原料粉末に有機バインダー、可塑剤または溶剤等を添加混合して泥漿状と成す。
そして、第1誘電体層7および第2誘電体層10の型枠を準備する。第1誘電体層7は、図5(A)に示すように、三つに分解される。その三つは、上面に信号線路8が形成され、下面にグランド層9が形成される第1基体7aと、信号線路8の両側を挟むように金属層11を形成する第2基体7b、第3基体7cとからなる。
第1誘電体層7の型枠は、第1基体7a、第2基体7bおよび第3基体7cとのそれぞれの型枠のことである。そして、型枠内に、泥漿状の酸化アルミ二ウム質の材料を充填し、焼結前の第1基体7a、第2基体7bおよび第3基体7cを取り出す。
第2誘電体層10は、図5(B)に示すように、三つに分解される。その三つは、第1基体7a上に設ける第4基体10a、第2基体7b上に設ける第5基体10b、第3基体7c上に設ける第6基体10cとからなる。第2誘電体層10の型枠は、第4基体10a、第5基体10bおよび第6基体10cとのそれぞれの型枠のことである。そして、型枠内に、泥漿状の酸化アルミ二ウム質の材料を充填し、焼結前の第4基体10a、第5基体10bおよび第6基体10cを取り出す。
また、タングステンまたはモリブデン等の高融点金属粉末を準備し、この粉末に有機バインダー、可塑剤または溶剤等を添加混合して金属ペーストを得る。
そして、取り出した前駆体の第1基体7a、第2基体7b、第3基体7c、第4基体10a、第5基体10bおよび第6基体10cのそれぞれに対して、例えばスクリーン印刷法を用いて、所定箇所に金属ペーストを塗る。そして、それぞれの基体を組み合わせて、第1誘電体層7および第2誘電体層10としたときに、信号線路8およびグランド層9となるようにする。
次に、前駆体の第1誘電体層7上に前駆体の第2誘電体層10を載せて加圧させることで、両者密着させる。そして、約1600℃の温度で焼成することにより、セラミックスからなる入出力端子5を作製することができる。
そして、準備した枠体4の貫通孔Hに、入出力端子5を、ろう材を介してろう接により接続する。このようにして、素子収納用パッケージ1を作製することができる。
次に、素子収納用パッケージ1に半田を介して素子2を実装し、枠体4上に蓋体6を設けることで、実装構造体1Xを作製することができる。
<変形例>
本発明は上述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。ここで、上述した実施形態に係る変形例について説明する。なお、本実施形態の変形例に係る素子収納用パッケージのうち、本実施形態に係る素子収納用パッケージと同様な部分については、同一の符号を付して適宜説明を省略する。
<変形例1>
図6は、変形例1に係る入出力端子の概観斜視図であって、図7は、図6のY−Y’に沿った入出力端子の断面図である。
上記実施形態では、信号線路8と重ならない領域に金属層11を設けたが、これに限られない。例えば、図6または図7に示すように、金属層11とは別に、信号線路8と重なる領域に伝熱層13を追加して設けても良い。
伝熱層13は、第1誘電体層7中に設けられる。伝熱層13は、枠体4内から枠体4外にまで延在されており、枠体4内の熱を枠体4外にまで伝える機能を備えている。伝熱層13は、信号線路8の上面に沿った方向に形成される。そして、伝熱層13は、第1誘電体層7中で金属層11と接続され、さらに第1誘電体層7の側面に形成されるグランド層9と接続される。本変形例は、金属層11に加えて、伝熱層13を加えることで、放熱効果を向上させることができる。
<変形例2>
図8は、変形例2に係る入出力端子の概観斜視図であって、図9は、図8のZ−Z’に沿った入出力端子の断面図である。
図8または図9に示すように、金属層11を第2誘電体層10の壁面から第1誘電体層7の上面にまで延在されていてもよい。金属層11の一部11aが、第1誘電体層7の上面にまで延在されることで、金属層11の枠体4外での露出する面積を大きくすることができ、金属層11の放熱効果を向上させることができる。
また、金属層11の一部11aを、平面視して第2誘電体層10と重なる第1誘電体層7中から第2誘電体層10と重ならない第1誘電体層7中にまで延在する。そして、一対の金属層11の間に、信号線路8が配置されることで、信号線路8の周囲の電界遮蔽の変化を徐々に変えることができる。その結果、信号線路8中に伝送される信号の電気特性の変化を抑制することができる。
信号線路8を伝送する信号は、グランドとして機能する層までの距離がより短い方が、信号がグランドとして機能する層から反射する時間を短くすることができ、より高周波の信号とすることができる。一方、図2に示す実施形態の場合、信号線路8を取り囲むグランドとして機能する金属層11が、平面視したときに第2誘電体層10と重なる第1誘電体層7中から第2誘電体層10と重ならない第1誘電体層7中にまで延在して設けられていないため、平面視したときに第2誘電体層10と重なる第1誘電体層7と、第2誘電体層10と重ならない第1誘電体層7との境界において、信号線路8から第1誘電体層7または第2誘電体層10の側面に形成されるグランド層9に向かって電界が発生する。
そのため、図8または図9に示すように、当該境界から第1誘電体層7中にまで金属層11を延在することで、当該境界において信号線路8から第1誘電体層7または第2誘電体層10の側面に形成されるグランド層9に向かって発生する電界を遮蔽することができ、信号線路8中に伝送される信号の高周波伝送特性を良好にすることができる。
<変形例3>
図10は、変形例3に係る入出力端子の概観斜視図であって、第1誘電体層7と第2誘電体層10との間に介在される信号線路8の透過斜視図である。
図10に示すように、平面視して第2誘電体層10と第1誘電体層7とが重なる領域の信号線路8の平面方向の厚みを変形させてもよい。平面視して第2誘電体層10と重ならない領域の信号線路8の平面方向の厚み幅より、第2誘電体層10と重なる領域の信号線路8の平面方向の厚み幅を小さくすることで、信号線路8中に伝送される信号の電気的特性を所望の特性にすることができる。
<変形例4>
図11は、変形例4に係る入出力端子の概観斜視図であって、図12は、図11のYx−Y’xに沿った入出力端子の断面図である。
上記実施形態では、第1誘電体層7または第2誘電体層10内に、フィラーを含有させて比誘電率を小さく設定していたが、これに限られない。図12に示すように、例えば、断面視して信号線路8の周囲に位置する部材m1を、その部材m1の外周に位置する部材m2よりも誘電率を小さく設定する。
部材m1は、図12に示すように、断面視して、一対の金属層11で挟まれる領域に存在する。また、部材m1は、後述する上下に位置する第1伝熱層13aおよび第2伝熱層13bの間に位置する。
部材m1は、部材m2に比べて多数の閉気孔を含有するポーラス材料にすることにより、部材m2よりも低誘電率にすることができる。また、部材m1を部材m2よりも低誘電率の材料を選択することにより、低誘電率化を図ることができる。なお、部材m1は、例えば、低誘電率材料であるガラスセラミック材料等を用いることができる。なお、本変形例に係る入出力端子は、複数の部材から構成されるが、例えば、部材同士の接合箇所に、メタライズ加工あるいはめっきを施した後に、両部材をろう接、半田接合等により一体化することができる。
信号線路8に伝送される信号を、マイクロ波またはミリ波等の高周波にすると、信号線路8と金属層11との間の距離を小さくして、部材m1を小型化しなければならないが、部材m1を低誘電率化することにより、信号線路8に伝送される信号を高周波としても、金属層11同士の間を大きくすることが可能になり、部材m1のサイズを大きくすることができ、製造時に入出力端子の部品取扱い・部品組立てを容易にすることができる。
また、第1誘電体層7中に伝熱層としての第1伝熱層13aを設け、第2誘電体層10中に伝熱層としての第2伝熱層13bを設ける。第1伝熱層13aおよび第2伝熱層13bは、枠体4内から枠体4外にまで延在されており、枠体4内の熱を枠体4外にまで伝える機能を備えている。
また、入出力端子の下面に位置するグランド層9と第1伝熱層13aとの間、あるいは入出力端子の上面に位置するグランド層9と第2伝熱層13bとの間に、複数のビア導体14を設け、グランド層9と伝熱層13a、あるいはグランド層9と伝熱層13bのグランド機能の特性を向上させてもよい。ビア導体14は、セラミックグリーンシートにレーザー光にてビア孔を形成し、それに導体を印刷することによって形成することができる。
なお、本変形において、入出力端子5は、部材m1の誘電率がその周囲の誘電率よりも小さく設定したのであれば、第1伝熱層13aの下部に位置する第1誘電体層7の一部と、第2伝熱層13bの上部に位置する第2誘電体層10の一部を取り除いたものであってもよい。
<変形例5>
図13は、変形例5に係る入出力端子の断面図である。変形例4では、一対の金属層11の間に位置する部材m1の誘電率が、その周囲の誘電率よりも小さく設定されていたが、これに限られない。図13に示すように、例えば、第1誘電体層7と第2誘電体層10をそれぞれ複数の層から構成するとともに、信号線路8近傍に位置する層の誘電率を、その周囲に位置する層よりも小さく設定する。
図13では、第1誘電体層7の第1伝熱層13aの上部の誘電率を、第1誘電体層7の第1伝熱層13aの下層部の誘電率よりも小さく設定するとともに、第2誘電体層10の第2伝熱層13bの下部の誘電率を、第2誘電率10の第2伝熱層13bの上部の誘電率よりも小さく設定している。
第1誘電体層7または第2誘電体層10の中で、誘電率の異なる境界に位置する層同士を接続する方法としては、予めその境界にメタライズ加工やめっき等の接続層を施し、その接続層を介して一体接続することができる。
なお、本変形例は、図14に示すように、第1誘電体層7は単一層からなり、第1誘電体層7と第2誘電体層10の第2伝熱層13bの下部の誘電率は第1誘電体層7の第2伝熱層13bの上部の誘電率よりも小さく設定してもよい。また、図15に示すように、第2誘電体層10は単一層からなり、第2誘電体層10と第1伝熱層13aの上部の第1誘電体層7の誘電率は第1伝熱層13aの下部の誘電率よりも小さく設定してもよい。
<変形例6>
図16は、変形例6に係る入出力端子の概観斜視図であって、図17は、図16のYy−Y’yに沿った入出力端子の断面図である。
第1誘電体層7の下面には、第1グランド層9aが形成されている。また、第1誘電体層7の上面には第1伝熱層13aが形成されている。そのため、第1誘電体層7は、第1伝熱層13aを基準に上部と下部に分かれている。また、第1伝熱層13aの下部には、図17に示すように、第1伝熱層13aの下部を上下に導通するビア導体14が形成されている。
仮に、第1誘電体層7に代えて、第1誘電体層7の厚みに相当する厚みの金属板を用いた場合について説明する。マイクロ波またはミリ波等の高周波が流れる入出力端子は、電磁波の影響を抑えるために、非常に小型にする必要がある。そのため、第1誘電体層7に代えて金属板を用いると、金属板と第2誘電体層10との熱膨張係数の違いに起因して、第2誘電体層10が金属板から剥離する虞が大きい。このように、第2誘電体層10は、金属板に対して反りかえるようにして金属板から剥離しやすい。
一方、変形例6によれば、第2誘電体層10の下面に金属体でなく、第2誘電体層10と同様に熱膨張係数が近似するセラミック材料からなる第1誘電体層7を用いることで、第1誘電体層7に対して第2誘電体層10が熱膨張を起こしたとしても、両層の熱膨張係数が近似するために、第1誘電体層7と第2誘電体層10が剥離するのを抑制することができる。
また、変形例6は、第1誘電体層7の全表面および第1誘電体層7内に複数のビア導体14を設けることで、第1誘電体層7のグランド機能を維持するとともに、第1誘電体層7が第2誘電体層10に対して剥離するのを抑制することができる。

Claims (6)

  1. 上面に素子の実装領域を有する基板と、
    前記基板上であって前記実装領域の外周に沿って設けられ、一部に貫通孔を有する枠体と、
    前記貫通孔に設けられ、前記枠体の内外に延在する第1誘電体層と、前記第1誘電体層上に形成され前記枠体の内外を電気的に接続する信号線路と、前記第1誘電体層の下面に形成される第1グランド層と、平面透視して前記枠体と重なる領域であって前記信号線路上に形成される第2誘電体層と、前記第2誘電体層の上面に形成される第2グランド層と、前記第2誘電体層内に設けられ前記信号線路に沿って前記枠体内から前記枠体外にまで延在される金属層と、を有する入出力端子と、を備え、
    前記金属層は、前記第2誘電体層から前記第1誘電体層にまで前記第1グランド層および前記第2グランド層に接続して形成されるとともに、前記信号線路と離間して設けられているとともに、
    前記金属層は、平面透視して前記信号線路の両側にそれぞれ形成されている素子収納用パッケージ。
  2. 請求項に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記第1誘電体層および前記第2誘電体層はそれぞれ複数部材からなり、
    前記第1誘電体層の内部および前記第2誘電体層の内部には、前記第1グランド層および前記第2グランド層の少なくとも一方に電気的に接続される伝熱層がそれぞれ設けられており、
    断面視して前記一対の伝熱層と前記一対の金属層とで囲まれる領域の誘電率は、前記一対の伝熱層と前記一対の金属層とで囲まれる領域の外部に位置する前記第1誘電体層および前記第2誘電体層の部材よりも誘電率が小さいことを特徴とする素子収納用パッケージ。
  3. 請求項に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記第1誘電体層および前記第2誘電体層はそれぞれ複数部材からなり、
    前記第1誘電体層の内部および前記第2誘電体層の内部には、前記第1グランド層および前記第2グランド層の少なくとも一方に電気的に接続される伝熱層がそれぞれ設けられており、
    前記伝熱層と前記第1誘電体層の下面との間、あるいは前記伝熱層と前記第2誘電体層の上面との間には、複数のビア導体が設けられていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  4. 請求項1に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記第1誘電体層は複数層からなり、
    前記第1誘電体層の内部には、前記第1グランド層および前記第2グランド層の少なくとも一方に電気的に接続される伝熱層が設けられており、
    前記伝熱層より上層の前記第1誘電体層の誘電率は、前記伝熱層より下層の前記第1誘電体層の誘電率よりも小さいことを特徴とする素子収納用パッケージ。
  5. 請求項1に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記第2誘電体層は複数層からなり、
    前記第2誘電体層の内部には、前記第1グランド層および前記第2グランド層の少なくとも一方に電気的に接続される伝熱層が設けられており、
    前記伝熱層より下層の前記第2誘電体層の誘電率は、前記伝熱層より上層の前記第2誘電体層の誘電率よりも小さいことを特徴とする素子収納用パッケージ。
  6. 請求項1乃至請求項のいずれかに記載の素子収納用パッケージと、
    前記素子収納用パッケージに実装された素子を備えたことを特徴とする実装構造体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104364897B (zh) * 2012-10-29 2017-07-25 京瓷株式会社 元件收纳用封装件以及安装结构体
JP5898332B2 (ja) * 2012-10-30 2016-04-06 京セラ株式会社 電子部品収納用容器および電子装置
WO2014125988A1 (ja) * 2013-02-13 2014-08-21 株式会社村田製作所 高周波信号伝送線路、電子機器及び高周波信号伝送線路の製造方法
JP2015084378A (ja) * 2013-10-25 2015-04-30 キヤノン株式会社 電子部品、電子機器、実装部材の製造方法、電子部品の製造方法
JP6283094B2 (ja) * 2014-03-13 2018-02-21 京セラ株式会社 電子部品収納用パッケージおよび電子装置
JP2015192097A (ja) * 2014-03-28 2015-11-02 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 電子部品搭載用パッケージ
JP6291061B2 (ja) * 2014-07-30 2018-03-14 京セラ株式会社 電子部品収納用パッケージおよびそれを備えた電子装置
US10196745B2 (en) * 2014-10-31 2019-02-05 General Electric Company Lid and method for sealing a non-magnetic package
CN105140609B (zh) * 2015-07-13 2019-05-24 上海安费诺永亿通讯电子有限公司 一种低损耗扁平传输线
CN105025671B (zh) * 2015-07-28 2016-09-28 南京南瑞继保电气有限公司 晶闸管触发单元的外壳结构
JP2017054757A (ja) * 2015-09-11 2017-03-16 オムロン株式会社 磁気シールド構造
JP6809813B2 (ja) * 2016-05-30 2021-01-06 京セラ株式会社 半導体パッケージおよび半導体装置
JP7085908B2 (ja) * 2018-06-13 2022-06-17 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07235811A (ja) * 1994-02-21 1995-09-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 高周波線路
JPH11176988A (ja) * 1997-12-15 1999-07-02 Kyocera Corp 高周波用入出力端子ならびに高周波用半導体素子収納用パッケージ
JP2001016007A (ja) * 1999-06-29 2001-01-19 Ngk Spark Plug Co Ltd 伝送線路を有する配線基板
JP2001077608A (ja) * 1999-09-06 2001-03-23 Toyota Motor Corp 伝送線路
JP2003008155A (ja) * 2001-06-19 2003-01-10 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板及びその製造方法
JP2003100922A (ja) * 2001-09-27 2003-04-04 Kyocera Corp 入出力端子および半導体素子収納用パッケージ
JP2004349568A (ja) * 2003-02-17 2004-12-09 Kyocera Corp 入出力端子および半導体素子収納用パッケージならびに半導体装置
JP2009010149A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Kyocera Corp 接続端子及びこれを用いたパッケージ並びに電子装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2655195B1 (fr) * 1989-11-24 1997-07-18 Mitsubishi Electric Corp Dispositif a semiconducteurs comportant un blindage contre le rayonnement electromagnetique et procede de fabrication.
JP3065416B2 (ja) * 1991-12-24 2000-07-17 新光電気工業株式会社 メタルウォールパッケージ
JPH08227949A (ja) 1995-02-21 1996-09-03 Sumitomo Electric Ind Ltd 高周波端子付メタルパッケージ
JP3500268B2 (ja) * 1997-02-27 2004-02-23 京セラ株式会社 高周波用入出力端子ならびにそれを用いた高周波用半導体素子収納用パッケージ
JPH1174396A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Kyocera Corp 高周波用入出力端子ならびに高周波用半導体素子収納用パッケージ
JP2003521127A (ja) * 2000-01-28 2003-07-08 エリクソン インコーポレイテッド 多重アース信号路ldmos電力用パッケージ
US6992250B2 (en) * 2004-02-26 2006-01-31 Kyocera Corporation Electronic component housing package and electronic apparatus
JP4822820B2 (ja) * 2005-11-29 2011-11-24 京セラ株式会社 半導体素子収納用パッケージおよび半導体装置
US8344259B2 (en) * 2007-10-30 2013-01-01 Kyocera Corporation Connection terminal, package using the same, and electronic apparatus

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07235811A (ja) * 1994-02-21 1995-09-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 高周波線路
JPH11176988A (ja) * 1997-12-15 1999-07-02 Kyocera Corp 高周波用入出力端子ならびに高周波用半導体素子収納用パッケージ
JP2001016007A (ja) * 1999-06-29 2001-01-19 Ngk Spark Plug Co Ltd 伝送線路を有する配線基板
JP2001077608A (ja) * 1999-09-06 2001-03-23 Toyota Motor Corp 伝送線路
JP2003008155A (ja) * 2001-06-19 2003-01-10 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板及びその製造方法
JP2003100922A (ja) * 2001-09-27 2003-04-04 Kyocera Corp 入出力端子および半導体素子収納用パッケージ
JP2004349568A (ja) * 2003-02-17 2004-12-09 Kyocera Corp 入出力端子および半導体素子収納用パッケージならびに半導体装置
JP2009010149A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Kyocera Corp 接続端子及びこれを用いたパッケージ並びに電子装置

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