JP5131962B2 - 非接触シングルサイドプローブ及び、これを用いたパターン電極の断線・短絡検査装置及びその方法 - Google Patents
非接触シングルサイドプローブ及び、これを用いたパターン電極の断線・短絡検査装置及びその方法 Download PDFInfo
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- G02F1/136254—Checking; Testing
Description
40 非接触シングルサイドプローブ
42 給電部
44 非接触探針電極
46 感知部
50 信号処理部
60 キー入力部
70 表示部
421 交流電流源
422 交流電圧源
441 給電電極
443 第1給電電極
444 第2給電電極
442 センサ電極
445 第1センサ電極
446 第2センサ電極
Claims (2)
- 検査対象パターン電極に非接触状態で給電してセンシングするための非接触探針電極と、
前記非接触探針電極に交流電源を給電するための給電部と、
前記非接触探針電極での電気的変化値を測定するための感知部を含んで構成される非接触シングルサイドプローブであって、
前記非接触探針電極は、
交流電圧を給電するための第1〜第2給電電極と、
電圧変化値を測定するための第1〜第2センサ電極を含んで構成され、
前記第1給電電極と第1センサ電極及び前記第2給電電極と第2センサ電極は、それぞれ前記パターン電極の同一線軸上に配置され、前記第1〜第2給電電極及び前記第1〜第2センサ電極は、それぞれ並んで配置され、
前記感知部は、前記第1〜第2センサ電極で測定された電圧の差電圧値を測定することを特徴とする非接触シングルサイドプローブ。 - パネル上に形成された多数個のパターン電極をスキャンしながら断線及び短絡を検査するパターン電極の断線及び短絡検査装置において、
前記パターン電極の一端で非接触探針電極に交流電源を入力し、非接触探針電極の電気的変化値を測定する非接触シングルサイドプローブと、
前記非接触シングルサイドプローブで測定される電気的変化値を通して断線及び短絡を判断する信号処理部を含んで構成される非接触シングルサイドプローブを用いたパターン電極の断線及び短絡検査装置であって、
前記非接触探針電極は、
交流電圧を給電するための第1〜第2給電電極と、
電圧変化値を測定するための第1〜第2センサ電極を含んで構成され、
前記第1給電電極と第1センサ電極及び前記第2給電電極と第2センサ電極は、それぞれ前記パターン電極の同一線軸上に配置され、前記第1〜第2給電電極及び前記第1〜第2センサ電極は、それぞれ並んで配置され、
前記感知部は、前記第1〜第2センサ電極で測定された電圧の差電圧値を測定することを特徴とする非接触シングルサイドプローブを用いたパターン電極の断線及び短絡検査装置。
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US20130320994A1 (en) * | 2012-05-30 | 2013-12-05 | 3M Innovative Properties Company | Electrode testing apparatus |
CN103308817B (zh) * | 2013-06-20 | 2015-11-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板线路检测装置及检测方法 |
KR101519556B1 (ko) * | 2013-11-12 | 2015-05-14 | 마이크로 인스펙션 주식회사 | 패널의 사선부 검사장치 |
JP6014950B1 (ja) * | 2015-12-22 | 2016-10-26 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 導電体パターン検査装置 |
JP6014951B1 (ja) * | 2015-12-22 | 2016-10-26 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 導電体パターン検査装置 |
US20170262587A1 (en) * | 2016-03-09 | 2017-09-14 | Xerox Corporation | Method and system for generating patient profiles via social media services |
CN105589231B (zh) * | 2016-03-09 | 2019-04-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 非接触式探针信号加载装置 |
JP6947041B2 (ja) * | 2018-01-09 | 2021-10-13 | 日立金属株式会社 | 多心ケーブルの検査方法、多心ケーブルアセンブリの製造方法、及び多心ケーブルの検査装置 |
JP6947042B2 (ja) * | 2018-01-09 | 2021-10-13 | 日立金属株式会社 | 多心ケーブルの検査方法、多心ケーブルアセンブリの製造方法、及び多心ケーブルの検査装置 |
JP2019124671A (ja) * | 2018-01-19 | 2019-07-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
JP6947072B2 (ja) * | 2018-02-15 | 2021-10-13 | 日立金属株式会社 | 多心ケーブルの検査方法、多心ケーブルアセンブリの製造方法、及び多心ケーブルの検査装置 |
CN108491116B (zh) * | 2018-03-22 | 2021-01-26 | 武汉华星光电技术有限公司 | 内嵌式触控显示面板的触控单元检测方法及其检测系统 |
JP6721667B2 (ja) * | 2018-12-19 | 2020-07-15 | Nissha株式会社 | タッチパネル、タッチパネルモジュールおよびタッチパネルの検査方法 |
CN110133430A (zh) * | 2019-05-18 | 2019-08-16 | 叶勇 | 一种基于静电传感器的非接触式ict方法 |
JP7173925B2 (ja) * | 2019-05-22 | 2022-11-16 | 花王株式会社 | センサー付き吸収性物品の検査方法及び製造方法 |
JP7173924B2 (ja) * | 2019-05-22 | 2022-11-16 | 花王株式会社 | センサー付き吸収性物品の検査方法及び製造方法 |
WO2021079945A1 (ja) * | 2019-10-25 | 2021-04-29 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査方法、基板検査プログラム、及び基板検査装置 |
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Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62187258A (ja) * | 1986-02-14 | 1987-08-15 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 回路板の検査方法 |
CA2049616C (en) * | 1991-01-22 | 2000-04-04 | Jacob Soiferman | Contactless test method and system for testing printed circuit boards |
JPH0627494A (ja) * | 1992-02-14 | 1994-02-04 | Inter Tec:Kk | 薄膜トランジスタアクティブマトリクス基板の 検査方法及び装置 |
JPH06102295A (ja) | 1992-07-28 | 1994-04-15 | Hewlett Packard Co <Hp> | 非接触型プローブおよび非接触電圧測定装置 |
JPH08146046A (ja) | 1994-11-22 | 1996-06-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 非接触型電圧プローブ装置 |
JPH08160080A (ja) | 1994-12-07 | 1996-06-21 | Nec Corp | 非接触型信号測定プローブ |
US5517110A (en) * | 1995-04-06 | 1996-05-14 | Yentec Inc. | Contactless test method and system for testing printed circuit boards |
IL124961A (en) * | 1998-06-16 | 2006-10-05 | Orbotech Ltd | Contactless test method and system |
US6316949B1 (en) * | 1999-01-19 | 2001-11-13 | Nidec-Read Corporation | Apparatus and method for testing electric conductivity of circuit path ways on circuit board |
JP2995716B1 (ja) * | 1999-01-19 | 1999-12-27 | 日本電産リード株式会社 | 基板の導通検査装置及びその導通検査方法 |
JP2000221227A (ja) * | 1999-01-30 | 2000-08-11 | Koperu Denshi Kk | 導電パターン検査装置及び方法 |
US6900442B2 (en) * | 1999-07-26 | 2005-05-31 | Edge Medical Devices Ltd. | Hybrid detector for X-ray imaging |
JP2001221824A (ja) * | 2000-02-10 | 2001-08-17 | Oht Inc | 検査装置及び検査方法、検査ユニット |
KR20010106963A (ko) * | 2000-05-24 | 2001-12-07 | 은탁 | 타이머ic에 의한 비접촉식 프로브를 이용한 비접촉스캔방식의 pdp전극패턴 검사장치 및 방법 |
US20030083537A1 (en) * | 2001-02-28 | 2003-05-01 | Vincent Ardizzone | Bi-axial rotating magnetic therapeutic device |
JP2002340989A (ja) * | 2001-05-15 | 2002-11-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 測定方法、検査方法及び検査装置 |
JP4450143B2 (ja) * | 2001-05-24 | 2010-04-14 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 回路パターン検査装置並びに回路パターン検査方法及び記録媒体 |
JP2002365325A (ja) * | 2001-06-11 | 2002-12-18 | Oht Inc | 回路パターン検査装置並びに回路パターン検査方法及び記録媒体 |
JP2003035738A (ja) * | 2001-07-19 | 2003-02-07 | Omron Corp | 部品実装基板の検査方法および部品実装基板用の検査装置 |
JP2003185695A (ja) * | 2001-12-20 | 2003-07-03 | Seiko Epson Corp | 配線パターン検査方法および配線パターン検査装置 |
KR100491987B1 (ko) * | 2002-09-25 | 2005-05-30 | 마이크로 인스펙션 주식회사 | Pdp 패널의 유전체 검사장치 |
JP4246987B2 (ja) * | 2002-11-27 | 2009-04-02 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査装置および基板検査方法 |
JP2004184385A (ja) * | 2002-11-30 | 2004-07-02 | Oht Inc | 回路パターン検査装置及びパターン検査方法 |
KR101013243B1 (ko) * | 2002-11-30 | 2011-02-09 | 오에이치티 가부시끼가이샤 | 회로 패턴 검사 장치 및 회로 패턴 검사 방법 |
JP4007597B2 (ja) * | 2003-03-13 | 2007-11-14 | キヤノン株式会社 | 静電容量センサ式計測装置 |
JP4562358B2 (ja) * | 2003-07-04 | 2010-10-13 | 株式会社ユニオンアロー・テクノロジー | 導電パターン検査装置 |
JP4586124B2 (ja) * | 2003-07-10 | 2010-11-24 | 奇美電子股▲ふん▼有限公司 | 電気的接続部の非接触検査方法及び非接触検査装置 |
US7003412B2 (en) * | 2003-09-17 | 2006-02-21 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Method and system for verifying voltage in an electrical system |
JP2005208058A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-08-04 | Oht Inc | 回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法 |
JP4394980B2 (ja) * | 2004-01-30 | 2010-01-06 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査装置及び基板検査方法 |
US7129719B2 (en) * | 2004-06-01 | 2006-10-31 | Samsung Techwin Co., Ltd. | Apparatus for detecting defect in circuit pattern and defect detecting system having the same |
JP2006200993A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Oht Inc | 回路パターン検査装置およびその方法 |
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