JP5004848B2 - 放射線検出装置及び放射線検出システム - Google Patents

放射線検出装置及び放射線検出システム Download PDF

Info

Publication number
JP5004848B2
JP5004848B2 JP2008083387A JP2008083387A JP5004848B2 JP 5004848 B2 JP5004848 B2 JP 5004848B2 JP 2008083387 A JP2008083387 A JP 2008083387A JP 2008083387 A JP2008083387 A JP 2008083387A JP 5004848 B2 JP5004848 B2 JP 5004848B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
radiation detection
adhesive layer
detection apparatus
scintillator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008083387A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2008286785A5 (enExample
JP2008286785A (ja
Inventor
正人 井上
岡田　　聡
慎市 竹田
和美 長野
慶一 野村
覚 澤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2008083387A priority Critical patent/JP5004848B2/ja
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to EP08740460A priority patent/EP2145207A2/en
Priority to PCT/JP2008/057374 priority patent/WO2008133123A2/en
Priority to US12/528,580 priority patent/US8304735B2/en
Priority to CN2008800119117A priority patent/CN101657737B/zh
Priority to RU2009142436/28A priority patent/RU2408901C1/ru
Publication of JP2008286785A publication Critical patent/JP2008286785A/ja
Publication of JP2008286785A5 publication Critical patent/JP2008286785A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5004848B2 publication Critical patent/JP5004848B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2921—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras
    • G01T1/2928—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras using solid state detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
JP2008083387A 2007-04-18 2008-03-27 放射線検出装置及び放射線検出システム Expired - Fee Related JP5004848B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008083387A JP5004848B2 (ja) 2007-04-18 2008-03-27 放射線検出装置及び放射線検出システム
PCT/JP2008/057374 WO2008133123A2 (en) 2007-04-18 2008-04-09 Radiation detecting apparatus and radiation detecting system
US12/528,580 US8304735B2 (en) 2007-04-18 2008-04-09 Radiation detecting apparatus and radiation detecting system
CN2008800119117A CN101657737B (zh) 2007-04-18 2008-04-09 放射线检测装置和放射线检测系统
EP08740460A EP2145207A2 (en) 2007-04-18 2008-04-09 Radiation detecting apparatus and radiation detecting system
RU2009142436/28A RU2408901C1 (ru) 2007-04-18 2008-04-09 Устройство для обнаружения излучения и система для обнаружения излучения

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007109469 2007-04-18
JP2007109469 2007-04-18
JP2008083387A JP5004848B2 (ja) 2007-04-18 2008-03-27 放射線検出装置及び放射線検出システム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2008286785A JP2008286785A (ja) 2008-11-27
JP2008286785A5 JP2008286785A5 (enExample) 2011-03-24
JP5004848B2 true JP5004848B2 (ja) 2012-08-22

Family

ID=39926200

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008083387A Expired - Fee Related JP5004848B2 (ja) 2007-04-18 2008-03-27 放射線検出装置及び放射線検出システム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8304735B2 (enExample)
EP (1) EP2145207A2 (enExample)
JP (1) JP5004848B2 (enExample)
CN (1) CN101657737B (enExample)
RU (1) RU2408901C1 (enExample)
WO (1) WO2008133123A2 (enExample)

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5305996B2 (ja) * 2009-03-12 2013-10-02 株式会社東芝 放射線検出器およびその製造方法
JPWO2010103917A1 (ja) 2009-03-13 2012-09-13 コニカミノルタエムジー株式会社 放射線検出装置
CN101957452A (zh) * 2009-07-16 2011-01-26 Ge医疗系统环球技术有限公司 X射线检测器及其制造方法
CN102741941B (zh) * 2010-01-29 2015-04-08 浜松光子学株式会社 放射线图像转换面板
JP5607426B2 (ja) 2010-05-28 2014-10-15 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP5686993B2 (ja) * 2010-06-04 2015-03-18 浜松ホトニクス株式会社 シンチレータパネル及び放射線イメージセンサ
JP5562134B2 (ja) 2010-06-17 2014-07-30 キヤノン株式会社 放射線検出装置、その製造方法及び放射線撮像システム
JP5665494B2 (ja) 2010-06-24 2015-02-04 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP2012047487A (ja) 2010-08-24 2012-03-08 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出器
JP5649872B2 (ja) * 2010-08-24 2015-01-07 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器の製造方法
JP5680943B2 (ja) 2010-11-16 2015-03-04 キヤノン株式会社 シンチレータ、放射線検出装置および放射線撮影装置
JP5693174B2 (ja) * 2010-11-22 2015-04-01 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
KR20120080911A (ko) * 2011-01-10 2012-07-18 삼성모바일디스플레이주식회사 표시 장치
JP2012154811A (ja) * 2011-01-26 2012-08-16 Canon Inc シンチレータパネルおよびその製造方法ならびに放射線検出装置
JP5498982B2 (ja) * 2011-03-11 2014-05-21 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置
RU2461022C1 (ru) * 2011-04-15 2012-09-10 Закрытое Акционерное Общество "Импульс" Плоскопанельный приемник рентгеновского излучения и способ его изготовления
JP2013029384A (ja) 2011-07-27 2013-02-07 Canon Inc 放射線検出装置、その製造方法および放射線検出システム
JP5827856B2 (ja) * 2011-09-28 2015-12-02 富士フイルム株式会社 カセッテ
JP5911274B2 (ja) 2011-11-28 2016-04-27 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP2013174465A (ja) * 2012-02-23 2013-09-05 Canon Inc 放射線検出装置
JP6200171B2 (ja) 2012-06-04 2017-09-20 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び撮像システム
JP5997512B2 (ja) 2012-06-20 2016-09-28 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び撮像システム
JP6071283B2 (ja) 2012-07-04 2017-02-01 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びその製造方法
JP6092568B2 (ja) 2012-10-11 2017-03-08 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP6100045B2 (ja) 2013-03-19 2017-03-22 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線検出システム及び放射線検出装置の製造方法
JP6200173B2 (ja) 2013-03-21 2017-09-20 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
US9702986B2 (en) * 2013-05-24 2017-07-11 Teledyne Dalsa B.V. Moisture protection structure for a device and a fabrication method thereof
JP2015038435A (ja) * 2013-08-19 2015-02-26 株式会社東芝 放射線検出器
JP6270450B2 (ja) * 2013-12-13 2018-01-31 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線検出システム、及び、放射線検出装置の製造方法
JP6573377B2 (ja) 2015-07-08 2019-09-11 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム
JP6573378B2 (ja) 2015-07-10 2019-09-11 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム
US11156727B2 (en) * 2015-10-02 2021-10-26 Varian Medical Systems, Inc. High DQE imaging device
JP6663210B2 (ja) 2015-12-01 2020-03-11 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及びその制御方法
JP6706963B2 (ja) 2016-04-18 2020-06-10 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法
JP6778118B2 (ja) 2017-01-13 2020-10-28 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
WO2019012846A1 (ja) 2017-07-10 2019-01-17 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP7057084B2 (ja) * 2017-09-14 2022-04-19 キヤノン株式会社 放射線検出器および放射線検出システム
JP7030478B2 (ja) 2017-11-09 2022-03-07 キヤノン株式会社 撮影台および放射線撮影システム
US10267931B1 (en) * 2018-02-06 2019-04-23 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Radiation detector capable of measuring depth-of-interaction
JP2019194531A (ja) * 2018-05-01 2019-11-07 コニカミノルタ株式会社 放射線画像検出パネルおよび放射線検出器
JP7325295B2 (ja) * 2019-10-24 2023-08-14 浜松ホトニクス株式会社 シンチレータパネル、放射線検出器、シンチレータパネルの製造方法、及び、放射線検出器の製造方法
JP7358615B2 (ja) * 2020-03-05 2023-10-10 富士フイルム株式会社 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線検出器の製造方法
CN115176176B (zh) * 2020-03-05 2025-06-20 富士胶片株式会社 放射线检测器、放射线图像摄影装置及放射线检测器的制造方法
JP7374862B2 (ja) * 2020-07-01 2023-11-07 キヤノン電子管デバイス株式会社 放射線検出器

Family Cites Families (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5308980A (en) * 1991-02-20 1994-05-03 Amber Engineering, Inc. Thermal mismatch accommodated infrared detector hybrid array
US5585624A (en) * 1995-03-23 1996-12-17 Rockwell International Corporation Apparatus and method for mounting and stabilizing a hybrid focal plane array
US5610389A (en) * 1995-03-23 1997-03-11 Rockwell International Corporation Stabilized hybrid focal plane array structure
US5600140A (en) * 1995-06-07 1997-02-04 Rockwell International Corporation Imbalanced composite focal plane array
US5714760A (en) * 1995-06-07 1998-02-03 Boeing North American, Inc. Imbalanced layered composite focal plane array structure
JP3805031B2 (ja) 1995-10-20 2006-08-02 キヤノン株式会社 光電変換装置
US5949848A (en) * 1996-07-19 1999-09-07 Varian Assocaites, Inc. X-ray imaging apparatus and method using a flat amorphous silicon imaging panel
JP3815766B2 (ja) * 1998-01-28 2006-08-30 キヤノン株式会社 二次元撮像装置
JP2001042041A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Toshiba Corp 放射線シンチレータ装置およびその製造方法
DE60135206D1 (de) * 2000-02-25 2008-09-18 Hamamatsu Photonics Kk Röntgenabbildungseinrichtung und verfahren zu ihrer herstellung
JP4447752B2 (ja) * 2000-08-03 2010-04-07 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器
JP2002333848A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Sharp Corp 複合アクティブマトリクス基板、その製造方法、及び電磁波撮像装置
JP2003075543A (ja) * 2001-08-31 2003-03-12 Canon Inc 放射線変換シート、放射線撮影装置とその製造方法、および放射線撮影システム
JP2003262675A (ja) * 2002-03-11 2003-09-19 Canon Inc シンチレータパネル及びそれを用いた放射線検出装置
US7541617B2 (en) 2003-02-14 2009-06-02 Canon Kabushiki Kaisha Radiation image pickup device
JP4266656B2 (ja) 2003-02-14 2009-05-20 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び放射線撮像装置
JP4323827B2 (ja) * 2003-02-14 2009-09-02 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び放射線撮像装置
JP4289913B2 (ja) 2003-03-12 2009-07-01 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びその製造方法
US7355184B2 (en) * 2003-04-07 2008-04-08 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detecting apparatus and method for manufacturing the same
SG148877A1 (en) * 2003-07-22 2009-01-29 Micron Technology Inc Semiconductor substrates including input/output redistribution using wire bonds and anisotropically conductive film, methods of fabrication and assemblies including same
DE102004042365A1 (de) * 2003-09-12 2005-04-14 Siemens Ag Röntgendetektor
JP4418720B2 (ja) 2003-11-21 2010-02-24 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び方法、並びに放射線撮像システム
JP4335025B2 (ja) 2004-01-29 2009-09-30 浜松ホトニクス株式会社 放射線イメージセンサおよびその製造方法
US7067817B2 (en) * 2004-01-29 2006-06-27 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation image sensor and making method of same
JP4845352B2 (ja) 2004-06-15 2011-12-28 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線撮像システム
JP4266898B2 (ja) 2004-08-10 2009-05-20 キヤノン株式会社 放射線検出装置とその製造方法および放射線撮像システム
EP1779140B1 (en) * 2004-08-10 2018-06-20 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detecting apparatus, scintillator panel, their manufacturing method and radiation detecting system
JP4208790B2 (ja) 2004-08-10 2009-01-14 キヤノン株式会社 放射線検出装置の製造方法
US7557355B2 (en) 2004-09-30 2009-07-07 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup apparatus and radiation image pickup apparatus
JP4464260B2 (ja) * 2004-11-24 2010-05-19 キヤノン株式会社 半導体装置、放射線撮像装置、及びその製造方法
JP2006189377A (ja) * 2005-01-07 2006-07-20 Canon Inc シンチレータパネル、放射線検出装置、及び放射線検出システム
JP5043373B2 (ja) 2005-07-11 2012-10-10 キヤノン株式会社 変換装置、放射線検出装置、及び放射線検出システム
JP5159065B2 (ja) 2005-08-31 2013-03-06 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP4911966B2 (ja) * 2005-12-12 2012-04-04 キヤノン株式会社 放射線検出装置および放射線撮像システム
DE102006001885B4 (de) * 2006-01-13 2010-03-04 Siemens Ag Detektormodul eines Detektors und Verwendung eines Schmelzklebstoffes zur Herstellung eines Detektormoduls
JP4921180B2 (ja) 2006-01-25 2012-04-25 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP4920994B2 (ja) 2006-03-02 2012-04-18 キヤノン株式会社 シンチレータパネル、放射線検出装置及び放射線検出システム
JP5089195B2 (ja) 2006-03-02 2012-12-05 キヤノン株式会社 放射線検出装置、シンチレータパネル、放射線検出システム及び放射線検出装置の製造方法
DE102006038969B4 (de) * 2006-08-21 2013-02-28 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenkonverterelement und Verfahren zu dessen Herstellung
US7605374B2 (en) * 2007-03-27 2009-10-20 General Electric Company X-ray detector fabrication methods and apparatus therefrom
JP4834614B2 (ja) 2007-06-12 2011-12-14 キヤノン株式会社 放射線検出装置および放射線撮像システム
JP4764407B2 (ja) * 2007-11-20 2011-09-07 東芝電子管デバイス株式会社 放射線検出器及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008286785A (ja) 2008-11-27
RU2408901C1 (ru) 2011-01-10
CN101657737A (zh) 2010-02-24
CN101657737B (zh) 2013-02-20
US8304735B2 (en) 2012-11-06
WO2008133123A3 (en) 2009-06-04
EP2145207A2 (en) 2010-01-20
US20100102236A1 (en) 2010-04-29
WO2008133123A2 (en) 2008-11-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5004848B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP6000680B2 (ja) 放射線検出装置、その製造方法及び撮像システム
JP4921180B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線撮像システム
EP2486424B1 (en) Radiation conversion elements with reflectors for radiological imaging apparatus
US20140091225A1 (en) Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and radiation imaging apparatus manufacturing method
CN109324341B (zh) 放射线检测装置及其制造方法和放射线成像系统
US6671348B2 (en) X-ray image detecting apparatus
JP2017200522A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
CN105989906B (zh) 放射线检测装置、放射线成像系统和制造方法
CN104124254A (zh) 放射线摄像装置及其制造方法以及放射线检查装置
JP6995666B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2018119891A (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP2013019690A (ja) 放射線検出器
JP2021076393A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
US9229117B2 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
WO2019097847A1 (ja) 放射線撮像パネル、放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6397283B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線撮像システム
EP4325255A1 (en) Manufacturing method of a radiation imaging apparatus
JP2013019691A (ja) 放射線検出器
JP2019049437A (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP2015148446A (ja) 放射線撮像装置及び放射線検査装置
JP2021015058A (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP2022129063A (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像装置の製造方法、および放射線撮像システム
JP2017058254A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2019095266A (ja) 放射線撮像パネル、放射線撮像装置および放射線撮像システム

Legal Events

Date Code Title Description
RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20090326

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20090427

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110203

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110203

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120328

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120423

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120522

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150601

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5004848

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150601

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees