JP4447752B2 - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4447752B2 JP4447752B2 JP2000235874A JP2000235874A JP4447752B2 JP 4447752 B2 JP4447752 B2 JP 4447752B2 JP 2000235874 A JP2000235874 A JP 2000235874A JP 2000235874 A JP2000235874 A JP 2000235874A JP 4447752 B2 JP4447752 B2 JP 4447752B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- scintillator
- transparent film
- imaging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 33
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 41
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 29
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 25
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 6
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 53
- 229920000052 poly(p-xylylene) Polymers 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004840 adhesive resin Substances 0.000 description 3
- 229920006223 adhesive resin Polymers 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000000539 dimer Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 2
- -1 polyparaxylylene Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000009501 film coating Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 125000006839 xylylene group Chemical group 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20188—Auxiliary details, e.g. casings or cooling
- G01T1/20189—Damping or insulation against damage, e.g. caused by heat or pressure
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20187—Position of the scintillator with respect to the photodiode, e.g. photodiode surrounding the crystal, the crystal surrounding the photodiode, shape or size of the scintillator
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49007—Indicating transducer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は放射線検出器に関し、特に大面積の放射線画像を撮像するために複数のイメージセンサを並べて構成した放射線検出器に関する。
【0002】
【従来の技術】
医療用のX線診断装置としてX線感光フィルムに代えてCCDを用いたX線イメージセンサが普及してきている。このような放射線イメージングシステムにおいては、複数の画素を有する放射線検出素子を用いて放射線による2次元画像データを電気信号として取得し、この信号を処理装置により処理して、モニタ上に表示している。代表的な放射線検出素子は、1次元あるいは2次元に配列された光検出器上にシンチレータを配して、入射する放射線をシンチレータで光に変換して、検出する仕組みになっている。
【0003】
この種の放射線検出素子は、大画面化するほど製造時の歩留まりが劣化する。その解決策として、胸部のレントゲン撮影等に用いる大画面の撮像装置を製作する際には、特開平9-153606号公報に開示されているように複数の検出素子を並べて大画面化する技術が知られている。同公報には、実際の撮像画面より小さい受光画面の素子を組み合わせることで、素子あたりの歩留まりの低下を防止し、製作コストを低減すると記載されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このように複数の検出素子を並べて大画面化した場合、隣接する検出素子との境界部分(つなぎ目部分)からシンチレータがはく離しやすいという問題点がある。これは、つなぎ目付近における解像度の低下や、シンチレータの全面はく離という問題を引き起こすおそれがある。
【0005】
そこで本発明は、シンチレータの耐久性を確保し、特につなぎ目付近における解像度低下を予防し得る構成の放射線検出器を提供することを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため本発明に係る放射線検出器は、(1)結晶Si製の矩形基板と、基板の一方の表面上の少なくともその1辺近傍に複数の光電変換素子を2次元に配列して形成した受光部と、受光部と同一の表面の受光部の外側若しくは受光部の反対側の表面に配置され、光電変換素子とシフトレジスタを介して電気的に接続されている電極パッドとを有する複数の撮像基板と、(2)これら複数の撮像基板をそれらの受光部を隣り合わせてそれら全ての受光部の総面積に相当する大面積の受光領域を形成し、当該受光領域の外側に電極パッドを配置するよう2次元上に並べて載置する基台と、(3)基台上に並べられた複数の撮像基板の受光領域を一括して覆う表面の平坦な透明膜と、(4)この透明膜上の受光領域上に直接蒸着により形成されているシンチレータと、を備えているものであり、その隙間等が下記の条件を満たすことを特徴とする。本発明に係る放射線検出器としては、例えば、撮像基板2枚の連結、あるいは、撮像基板4枚を縦横2枚ずつ連結する構成が考えられる。
【0007】
このシンチレータの厚さとしては、100μm〜1000μmであることが望ましい。
【0008】
複数の撮像基板間に形成される隙間は0μm超50μm以下で、かつ透明膜の厚さは2μm〜30μmであることが望ましい。または、上記隙間として50μm〜70μmで、かつ透明膜の厚さとして5μm〜30μmであってもよい。
【0009】
本発明によれば、複数の撮像基板の各受光部を隣り合わせて並べることで、大きな撮像面積を有する受光部が形成される。そして、この受光部上に一括して透明膜を形成してその表面を平坦なものとし、その膜上に直接シンチレータを形成しているので、均一なシンチレータを形成することができ、均一な画像特性を有する検出器が得られる。さらにシンチレータが平坦な膜上に形成されることでそのはがれが効果的に防止される。
【0010】
これらの撮像基板は光電変換素子に電気的に接続されている回路部を有していることが好ましい。このようにすると、信号読出し用の回路を別途形成する必要がなく、製造が容易になり、シンチレータ形成後の取り扱いも簡単になる。
【0011】
このシンチレータを覆って密封する保護膜をさらに備えていることが好ましい。シンチレータが吸湿材料や強度の低い材料からなる場合、保護膜で密封することで、耐久性が確保される。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。説明の理解を容易にするため、各図面において同一の構成要素に対しては可能な限り同一の参照番号を附し、重複する説明は省略する。また、各図面における寸法、形状は実際のものとは必ずしも同一ではなく、理解を容易にするため誇張している部分がある。
【0013】
図1は、本発明に係る放射線検出器の一実施形態を示す斜視図であり、図2はその断面図、図3は図2の一部拡大図である。この実施形態の放射線検出器100は、セラミック製の基台1上に4枚の撮像基板である固体撮像素子2a〜2dを2×2枚並べて載置したものであり、各固体撮像素子2a〜2dは、接着樹脂11によって基台1に固定されている。
【0014】
各固体撮像素子2は、例えば結晶Si製の基板20上に、光電変換を行う光電変換素子21を2次元上に配列することで構成されている。この光電変換素子21は、フォトダイオード(PD)やトランジスタからなる。この光電変換素子21の配列された部分を以下、受光部と呼ぶ。各光電変換素子21は図示していない信号ラインによって固体撮像素子2の隣り合う二辺に配置された電極パッド22のうち対応する電極パッド22とシフトレジスタ23を介して電気的に接続されている。そして、各固体撮像素子2a〜2dは、受光部が隣り合うように、言い換えると、電極パッド22が外側に来るように配置されている。このようにすることで、各固体撮像素子2の受光部をできるだけ接近させて配置することができ、それぞれの受光部間の隙間をできるだけ小さくして画像の得られない不感領域を狭くすることができる。
【0015】
固体撮像素子2a〜2d上には、それらの受光部と隣接する受光部間の隙間25を一括して覆うようにして光電変換素子21が感度を有する波長帯の光を透過する透明膜3が形成されている。透明膜3としては、表面の平坦性に優れ、光透過特性の良好な樹脂、例えば、ポリイミド樹脂を用いることが好ましい。この透明膜3上には、入射した放射線を光電変換素子21が感度を有する波長帯の光に変換する柱状構造のシンチレータ4が形成されている。シンチレータ4には、各種の材料を用いることができるが、発光効率が良いTlドープのCsI等が好ましい。
【0016】
さらに、このシンチレータ4を覆って各固体撮像素子2の電極パッド22とシフトレジスタ23との間まで広がり、シンチレータ4を密封する保護膜5が形成されている。この保護膜5は、X線透過性で、水蒸気を遮断するものであり、例えば、ポリパラキシリレン樹脂(スリーボンド社製、商品名パリレン)、特にポリパラクロロキシリレン(同社製、商品名パリレンC)を用いることが好ましい。パリレンによるコーティング膜は、水蒸気及びガスの透過が極めて少なく、撥水性、耐薬品性も高いほか、薄膜でも優れた電気絶縁性を有し、放射線、可視光線に対して透明であるなど保護膜5にふさわしい優れた特徴を有している。
【0017】
次に、図4〜図8を用いて本発明に係る放射線検出器の製造工程を具体的に説明する。最初に図4に示されるような構造の固体撮像素子2を4枚用意する。そして、平坦な表面を有する基台1の表面上に各固体撮像素子2a〜2dをそれらの受光部が隣接するよう、言い換えると各電極パッド22部分が外側に配列されるように光電変換素子21の受光面を表にして縦横に2枚ずつ並べて載置して接着樹脂11によって基台1へと固定する(図5参照)。
【0018】
次に、各電極パッド22部分をマスキングしたうえで、受光部全体上(その間に形成された隙間25部分を含む)にポリイミドを塗布したうえで、硬化させることにより約5μmの厚さを有する透明膜3を形成する(図6参照)。こうして、透明膜3により固体撮像素子2a〜2d間の隙間を塞ぐとともに、素子同士の表面位置に段差がある場合でも透明膜3の表面を平滑に形成することができる。
【0019】
次に、こうして形成された透明膜3上にTlをドープしたCsIを真空蒸着法によって厚さ約400μmの柱状結晶として成長させることによりシンチレータ4層を形成する(図7参照)。このシンチレータ4層は、固体撮像素子4a〜4dの全受光部の上に形成されることになる。また、シンチレータ4層が形成される土台となる透明膜3の表面が前述したように平滑な状態であるため、隙間を含む受光部全体にわたって均一なシンチレータ4層を形成することが可能である。
【0020】
CsIは、吸湿性が高く、露出したままにしておくと空気中の水蒸気を吸湿して溶解してしまうので、その保護のため、CVD(化学的蒸着)法によりシンチレータ4が形成された固体撮像素子2a〜2dを基台1ごと厚さ10μmのパリレンで包み込み、保護膜5を形成する(図8参照)。
【0021】
具体的には、金属の真空蒸着と同様に真空中で蒸着によるコーティングを行うもので、原料となるジパラキシリレンモノマーを熱分解して、生成物をトルエン、ベンゼンなどの有機溶媒中で急冷しダイマーと呼ばれるジパラキシリレンを得る工程と、このダイマーを熱分解して、安定したラジカルパラキシリレンガスを生成させる工程と、発生したガスを素材上に吸着、重合させて分子量約50万のポリパラキシリレン膜を重合形成させる工程からなる。
【0022】
CsIの柱状結晶の間には隙間があるが、パリレンはこの狭い隙間にある程度入り込むので、保護膜5は、シンチレータ4層に密着し、シンチレータ4を密封する。このパリレンコーティングにより、凹凸のあるシンチレータ4層表面に均一な厚さの精密薄膜コーティングを形成することができる。また、パリレンのCVD形成は、金属蒸着時よりも真空度が低く、常温で行うことができるため、加工が容易である。
【0023】
この後で形成した保護膜5に電極パッド22とシフトレジスタ23との間に沿って切れ目を入れ、外側の保護膜5をはがすことで、電極パッド22を露出させて図1〜図3に示される放射線検出器100を得る。
【0024】
続いて、本実施形態の動作を図1〜図3により、説明する。入射面側から入射したX線(放射線)は、保護膜5を透過してシンチレータ4に達する。このX線は、シンチレータ4で吸収され、X線の光量に比例した所定の波長の光が放射される。放射された光は透明膜3を透過して各々の光電変換素子21へと到達する。各々の光電変換素子21では、光電変換により、到達した光の光量に対応する電気信号が生成されて一定時間蓄積される。この光の光量は入射するX線の光量に対応しているから、つまり、各々の光電変換素子21に蓄積されている電気信号は、入射するX線の光量に対応することになり、X線画像に対応する画像信号が得られる。光電変換素子21に蓄積されたこの画像信号は、図示していない信号ラインからシフトレジスタ23を介して各電極パッド22から順次出力されて外部へと転送され、これを所定の処理回路で処理することにより、モニター上にX線像を表示することができる。
【0025】
前述したように、本発明によれば、各固体撮像素子2の受光部を近接して配置することが可能であり、さらに、その表面上に均一なシンチレータ4層を形成しているので、それぞれの受光部の間のつなぎ目部分に生ずる不感領域を狭くすることができ、解像度の劣化も防止できる。また、つなぎ目部分も含めて透明膜3により覆われ、その上にシンチレータ4が形成されているので、シンチレータ4のはく離現象を効果的に防止でき、耐久性が確保できる。そして、受光画面の小さい素子を組み合わせることで、大画面の素子を製作する場合に比べて素子あたりの歩留まりの低下を防止することができ、製作コストの低減も図れる。
【0026】
本発明者らはこの透明膜3によって素子間の隙間を充填することでシンチレータ4のはく離を抑制する効果を検証するため、固体撮像素子のペアを4種類用意し、各素子を並べて素子間の隙間を一方が狭く、他方が広くなるように配置することで隙間を位置により異ならせて配置したうえで、各素子組の表面にポリイミドを塗布して硬化させることで、それぞれに所定の厚みの透明膜を形成して、その後シンチレータ4としてCsIを400μm蒸着した後、境界部分におけるシンチレータ4のはく離の有無を調べた。表1にその結果を示す。
【0027】
【表1】
【0028】
隙間が70μmの場合でも5μm厚の透明膜を形成することでシンチレータ4をはく離することなく蒸着できることが確認された。
【0029】
この結果から隙間が50μm以下の場合、透明膜の厚さを2μm以上とし、隙間が50μmより大きく70μm以下の場合、透明膜の厚さを5μm以上とすることでシンチレータの剥離が防止できる。また、透明膜が厚すぎると透明膜中でイメージが散乱して解像度が低下してしまうので、透明膜の厚さは30μm以下であることが好ましい。
【0030】
尚、隙間が100μmと大きくなると隙間に入り込んだ透明膜の量が多くなり、透明膜の硬化時の収縮により隙間部分で透明膜にわずかながら凹みができてしまうのでシンチレータの剥離が生じてしまっている。さらに隙間は大きければ大きいほどデッドスペースが増大することになり、極力小さいほど良い。これらのことから隙間は70μm以下に押さえることが好ましい。
【0031】
なお、上述した隙間の大きさと透明膜の厚さの関係は、シンチレータの厚さは100μm〜1000μmの範囲において満たされるものである。
【0032】
図9は、本発明に係る放射線検出器の第2の実施形態を示す平面図である。コの図に示されるように、2枚の撮像基板である固体撮像素子2a、2bを連結して大画面の放射線検出器を製造してもよい。さらに、3枚以上の固体撮像素子を一列に並べて大画面化したり、2×m列あるいはm×n列並べて大画面化しても構わない。固体撮像素子を2×m列(ただしmは3以上の整数)並べる場合は、少なくとも四隅に配置される以外の固体撮像素子2’は、少なくとも3辺の境界部分まで受光部21が配置されている構造(図10参照)を有している必要がある。また、固体撮像素子をm×n列(ただしm、nとも3以上の整数)並べる場合は、さらに中央部分に配置される固体撮像素子2”は、表面全体に受光部21が配置される構造(図11参照)を有している必要がある。この場合、電極パッドは背面に設けて、基台1を貫通する配線を利用して信号を読み出すことが好ましい。
【0033】
以上の説明では、保護膜5としてパリレン製の単一膜構造の保護膜について説明してきたが、パリレン膜の表面にAl、Ag、Au等の金属薄膜からなる反射膜を設ければ、シンチレータ3から放射された光を光電変換素子21へと戻すことで、輝度の高い画像を得ることができる。この金属薄膜の保護のため、さらにその表面にパリレン膜等を施してもよい。シンチレータ3として防湿性の材料を使用した場合や、装置全体を防湿性の保護ケース内に収容するような場合は、保護膜5を設けなくともよい。
【0034】
また、本発明における透明膜とは可視光を透過するという意味での透明膜を意味するのではなく、透明膜が設けられる撮像基板の光電変換素子が感度を有する光を透過性質を有することを意味する。したがって、例えば可視光中の特定の波長帯に感度を有する光電変換素子を利用する場合は、その感度域外の可視光に対しては不透明であってもよく、可視光ではなく赤外線や紫外線等に感度を有する光電変換素子を利用する場合は、感度を有する光を透過すれば可視光に対しては不透明であっても構わない。さらに、感度帯域の一部に対しては不透明であってもよい。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、複数の撮像基板を並べて受光部を隣り合わせて並べ、それらの受光部全体を一括して透明膜によって覆ったうえでその上にシンチレータを形成しているので、均一なシンチレータが形成され、良好な画像特性が得られるとともに、シンチレータのはく離が効果的に防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る放射線検出器の一実施形態を示す斜視図である。
【図2】図1の放射線検出器の断面図である。
【図3】図2の一部拡大図である。
【図4】図1の検出器の製造工程を説明する図である。
【図5】図4の工程の続きを説明する図である。
【図6】図5の工程の続きを説明する図である。
【図7】図6の工程の続きを説明する図である。
【図8】図7の工程の続きを説明する図である。
【図9】本発明に係る放射線検出器の別の実施形態を示す平面図である。
【図10】本発明に係る放射線検出器の別の実施形態に用いられる撮像基板を示す平面図である。
【図11】本発明に係る放射線検出器のさらに別の実施形態に用いられる撮像基板を示す平面図である。
【符号の説明】
1…基台、2…固体撮像素子、3…透明膜、4…シンチレータ、5…保護膜、11…接着樹脂、20…基板、21…光電変換素子、22…電極パッド、23…シフトレジスタ、25…隙間。
Claims (6)
- 結晶Si製の矩形基板と、前記基板の一方の表面上の少なくともその1辺近傍に複数の光電変換素子を2次元に配列して形成した受光部と、前記受光部と同一の表面の前記受光部の外側若しくは前記受光部の反対側の表面に配置され、前記光電変換素子とシフトレジスタを介して電気的に接続されている電極パッドとを有する複数の撮像基板と、
前記複数の撮像基板をそれらの受光部を隣り合わせてそれらの受光部の総面積に相当する大面積の受光領域を形成し、当該受光領域の外側に電極パッドを配置するよう2次元上に並べて載置する基台と、
前記基台上に並べられた前記複数の撮像基板の前記受光領域を一括して覆う表面の平坦な透明膜と、
前記透明膜上の前記受光領域上に直接蒸着により形成されているシンチレータと、
を備えており、前記シンチレータの厚さは100μm〜1000μmであって、前記複数の撮像基板間に形成される隙間は0μm超50μm以下であり、かつ前記透明膜の厚さは2μm〜30μmである放射線検出器。 - 結晶Si製の矩形基板と、前記基板の一方の表面上の少なくともその1辺近傍に複数の光電変換素子を2次元に配列して形成した受光部と、前記受光部と同一の表面の前記受光部の外側若しくは前記受光部の反対側の表面に配置され、前記光電変換素子とシフトレジスタを介して電気的に接続されている電極パッドとを有する複数の撮像基板と、
前記複数の撮像基板をそれらの受光部を隣り合わせてそれらの受光部の総面積に相当する大面積の受光領域を形成し、当該受光領域の外側に電極パッドを配置するよう2次元上に並べて載置する基台と、
前記基台上に並べられた前記複数の撮像基板の前記受光領域を一括して覆う表面の平坦な透明膜と、
前記透明膜上の前記受光領域上に直接蒸着により形成されているシンチレータと、
を備えており、前記シンチレータの厚さは100μm〜1000μmであって、前記複数の撮像基板間に形成される隙間は50μm〜70μmであり、かつ前記透明膜の厚さは5μm〜30μmである放射線検出器。 - 前記撮像基板は前記光電変換素子に電気的に接続されている回路部を有している請求項1または2のいずれかに記載の放射線検出器。
- 前記撮像基板を2枚備えている請求項1〜3のいずれかに記載の放射線検出器。
- 前記撮像基板を4枚備えており、それらが縦横に2枚ずつ連結されている請求項1〜3のいずれかに記載の放射線検出器。
- 前記シンチレータを覆って密封する保護膜をさらに備えている請求項1〜5のいずれかに記載の放射線検出器。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000235874A JP4447752B2 (ja) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | 放射線検出器 |
| US10/343,438 US7019303B2 (en) | 2000-08-03 | 2001-08-03 | Radiation ray detector and method of manufacturing the detector |
| AU2001276727A AU2001276727A1 (en) | 2000-08-03 | 2001-08-03 | Radioactive ray detector and method of manufacturing the detector |
| PCT/JP2001/006700 WO2002012919A1 (fr) | 2000-08-03 | 2001-08-03 | Détecteur de rayonnement radioactif et procédé de fabrication |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000235874A JP4447752B2 (ja) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | 放射線検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002048872A JP2002048872A (ja) | 2002-02-15 |
| JP4447752B2 true JP4447752B2 (ja) | 2010-04-07 |
Family
ID=18728011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000235874A Expired - Fee Related JP4447752B2 (ja) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | 放射線検出器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7019303B2 (ja) |
| JP (1) | JP4447752B2 (ja) |
| AU (1) | AU2001276727A1 (ja) |
| WO (1) | WO2002012919A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9971043B2 (en) | 2015-03-18 | 2018-05-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detection apparatus, radiation imaging system, and manufacturing method |
Families Citing this family (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7151263B2 (en) * | 2000-05-19 | 2006-12-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Radiation detector and method of manufacture thereof |
| US6847041B2 (en) * | 2001-02-09 | 2005-01-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Scintillator panel, radiation detector and manufacture methods thereof |
| JP4247017B2 (ja) | 2003-03-10 | 2009-04-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器の製造方法 |
| US7355184B2 (en) * | 2003-04-07 | 2008-04-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detecting apparatus and method for manufacturing the same |
| JP4884964B2 (ja) * | 2004-05-11 | 2012-02-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線撮像装置 |
| US7910892B2 (en) | 2005-12-22 | 2011-03-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing X-ray detector and X-ray detector |
| JP4920994B2 (ja) * | 2006-03-02 | 2012-04-18 | キヤノン株式会社 | シンチレータパネル、放射線検出装置及び放射線検出システム |
| US7772558B1 (en) * | 2006-03-29 | 2010-08-10 | Radiation Monitoring Devices, Inc. | Multi-layer radiation detector and related methods |
| JP4455534B2 (ja) | 2006-05-09 | 2010-04-21 | 株式会社東芝 | 放射線検出器およびその製造方法 |
| US7974377B2 (en) * | 2006-09-19 | 2011-07-05 | General Electric Company | X-ray detection methods and apparatus |
| US8483352B2 (en) * | 2006-09-19 | 2013-07-09 | General Electric Company | Stacked x-ray detector assembly and method of making same |
| US8483353B2 (en) * | 2006-09-19 | 2013-07-09 | General Electric Company | Integrated X-ray detector assembly and method of making same |
| US8488736B2 (en) * | 2006-09-19 | 2013-07-16 | General Electric Company | Stacked flat panel x-ray detector assembly and method of making same |
| CN101389979A (zh) | 2006-12-27 | 2009-03-18 | 株式会社东芝 | 射线检测器 |
| WO2008133078A1 (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | 放射線像変換パネルの清掃方法、画像情報読み取り方法および画像情報読み取り装置 |
| JP5004848B2 (ja) * | 2007-04-18 | 2012-08-22 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
| JP4719201B2 (ja) * | 2007-09-25 | 2011-07-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
| JP5124227B2 (ja) * | 2007-10-01 | 2013-01-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器 |
| JP5124226B2 (ja) * | 2007-10-01 | 2013-01-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器 |
| US8373130B2 (en) * | 2007-11-09 | 2013-02-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Protection of hygroscopic scintillators |
| JP4808748B2 (ja) * | 2008-06-13 | 2011-11-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | ホトダイオードアレイの製造方法 |
| JP4808759B2 (ja) * | 2008-11-18 | 2011-11-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器 |
| JP4808760B2 (ja) * | 2008-11-19 | 2011-11-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器の製造方法 |
| JP2011137665A (ja) * | 2009-12-26 | 2011-07-14 | Canon Inc | シンチレータパネル及び放射線撮像装置とその製造方法、ならびに放射線撮像システム |
| JP5791281B2 (ja) * | 2010-02-18 | 2015-10-07 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
| RU2461022C1 (ru) | 2011-04-15 | 2012-09-10 | Закрытое Акционерное Общество "Импульс" | Плоскопанельный приемник рентгеновского излучения и способ его изготовления |
| JP6077787B2 (ja) | 2012-08-22 | 2017-02-08 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
| US9581702B2 (en) | 2013-10-02 | 2017-02-28 | Teledyne Dalsa, Inc. | Moisture seal for radiological image sensor |
| JP6333034B2 (ja) * | 2014-04-11 | 2018-05-30 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置の製造方法 |
| JP6487263B2 (ja) * | 2015-04-20 | 2019-03-20 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器及びその製造方法 |
| US11156727B2 (en) * | 2015-10-02 | 2021-10-26 | Varian Medical Systems, Inc. | High DQE imaging device |
| JP1565085S (ja) * | 2016-03-28 | 2019-11-25 | ||
| JP6659182B2 (ja) * | 2018-07-23 | 2020-03-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線撮像システム |
| JP7325295B2 (ja) * | 2019-10-24 | 2023-08-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | シンチレータパネル、放射線検出器、シンチレータパネルの製造方法、及び、放射線検出器の製造方法 |
| US11253212B2 (en) * | 2020-01-07 | 2022-02-22 | General Electric Company | Tileable X-ray detector cassettes |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5489A (en) * | 1848-03-28 | Wkotjght-itail machinery | ||
| JPH01114780A (ja) * | 1987-10-28 | 1989-05-08 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | X線検出装置 |
| JPH0379075A (ja) * | 1989-08-23 | 1991-04-04 | Hitachi Medical Corp | 光電変換素子 |
| US5436458A (en) * | 1993-12-06 | 1995-07-25 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Solid state radiation detection panel having tiled photosensitive detectors arranged to minimize edge effects between tiles |
| US5912465A (en) | 1995-09-05 | 1999-06-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoelectric converter |
| JP3544075B2 (ja) | 1995-09-05 | 2004-07-21 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置の製造方法 |
| JPH1093061A (ja) * | 1996-09-11 | 1998-04-10 | Toshiba Corp | 画像検出装置、アレイ基板および画像検出装置の製造方法 |
| CN100397096C (zh) | 1997-02-14 | 2008-06-25 | 浜松光子学株式会社 | 放射线检测元件及其制造方法 |
| CN1844953B (zh) | 1997-02-14 | 2012-06-27 | 浜松光子学株式会社 | 放射线检测元件及其制造方法 |
| JP2000512084A (ja) * | 1997-04-02 | 2000-09-12 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | センサマトリックスを有するx線装置 |
| JPH11345956A (ja) | 1998-03-16 | 1999-12-14 | Canon Inc | 撮像装置 |
| JP3789646B2 (ja) * | 1998-06-19 | 2006-06-28 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線イメージセンサ |
| JP4220017B2 (ja) * | 1998-06-23 | 2009-02-04 | 浜松ホトニクス株式会社 | シンチレータパネル、放射線イメージセンサ及びその製造方法 |
| JP2000131444A (ja) * | 1998-10-28 | 2000-05-12 | Canon Inc | 放射線検出装置、放射線検出システム、及び放射線検出装置の製造方法 |
| CN1160581C (zh) | 1998-12-14 | 2004-08-04 | 浜松光子学株式会社 | 光学元件及用它的射线检测器 |
| DE19914701B4 (de) | 1999-03-31 | 2005-07-07 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung eines Festkörperbilddetektors sowie Festkörperbilddetektor |
-
2000
- 2000-08-03 JP JP2000235874A patent/JP4447752B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-08-03 AU AU2001276727A patent/AU2001276727A1/en not_active Abandoned
- 2001-08-03 WO PCT/JP2001/006700 patent/WO2002012919A1/ja not_active Ceased
- 2001-08-03 US US10/343,438 patent/US7019303B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9971043B2 (en) | 2015-03-18 | 2018-05-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detection apparatus, radiation imaging system, and manufacturing method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2002012919A1 (fr) | 2002-02-14 |
| US7019303B2 (en) | 2006-03-28 |
| US20030173493A1 (en) | 2003-09-18 |
| AU2001276727A1 (en) | 2002-02-18 |
| JP2002048872A (ja) | 2002-02-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4447752B2 (ja) | 放射線検出器 | |
| JP4283427B2 (ja) | 放射線検出器およびシンチレータパネル | |
| CN100397096C (zh) | 放射线检测元件及其制造方法 | |
| CN105044758B (zh) | 光谱成像检测器 | |
| JP3077941B2 (ja) | 放射線検出素子及びその製造方法 | |
| JP4398065B2 (ja) | 放射線検出器 | |
| TWI408828B (zh) | Radiation photography device | |
| EP1300693B1 (en) | Radiation detector and method of producing the same | |
| EP1300694B1 (en) | Radiation detector and method of manufacture thereof | |
| JP4563042B2 (ja) | 放射線イメージセンサ | |
| JP4087597B2 (ja) | X線像撮像装置の製造方法 | |
| JP4234303B2 (ja) | 放射線検出器 | |
| JP4234305B2 (ja) | 放射線検出器 | |
| JP4644307B2 (ja) | 放射線イメージセンサ | |
| JP3029873B2 (ja) | 放射線検出素子及びその製造方法 | |
| JP2008170445A (ja) | X線像撮像装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070802 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080909 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081110 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091027 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091216 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100119 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100121 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130129 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130129 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140129 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |
