JP6092568B2 - 放射線検出装置及び放射線検出システム - Google Patents

放射線検出装置及び放射線検出システム Download PDF

Info

Publication number
JP6092568B2
JP6092568B2 JP2012226326A JP2012226326A JP6092568B2 JP 6092568 B2 JP6092568 B2 JP 6092568B2 JP 2012226326 A JP2012226326 A JP 2012226326A JP 2012226326 A JP2012226326 A JP 2012226326A JP 6092568 B2 JP6092568 B2 JP 6092568B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sealing resin
radiation detection
scintillator
detection apparatus
substrate member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012226326A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014077735A (ja
Inventor
慶人 佐々木
慶人 佐々木
岡田 聡
岡田  聡
陽平 石田
陽平 石田
知昭 市村
知昭 市村
井上 正人
正人 井上
石井 孝昌
孝昌 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2012226326A priority Critical patent/JP6092568B2/ja
Priority to US14/044,149 priority patent/US8957383B2/en
Priority to CN201310471439.8A priority patent/CN103728650B/zh
Publication of JP2014077735A publication Critical patent/JP2014077735A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6092568B2 publication Critical patent/JP6092568B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors

Description

本発明は、放射線検出装置及び放射線検出システムに関する。
近年、複数の光電変換素子が表面に形成されたセンサパネルの上に、X線などの放射線を光電変換素子が検出可能な波長の光に変換するシンチレータ(シンチレータ基板)を積層(配置)した放射線検出装置が商品化されている。
このような放射線検出装置において、シンチレータ基板とセンサパネルとを貼り合わせる際に、その周辺を樹脂で構成された枠体や2種類の樹脂(封止部)で封止することが提案されている(特許文献1及び2参照)。
特開2006−52986号公報 特開2005−156545号公報
しかしながら、従来の放射線検出装置に用いられている封止樹脂は、シンチレータを保護するシンチレータ保護層の材料や構成によって、シンチレータの防湿性(耐湿性)が不十分であったり、防湿性を維持するために大きくしなければならなかったりする。
そこで、封止樹脂として高弾性率の樹脂を用いることで、高い防湿性を得ることが考えられる。但し、互いに異なる熱膨張係数を有する基板、例えば、シンチレータ基板とセンサパネルとを高弾性率の樹脂を用いて封止する場合、熱衝撃が加えられた際に、封止樹脂が破損してしまうことがある。これは、シンチレータ基板とセンサパネルとの熱膨張の違いに起因して封止樹脂に応力がかかるためである。
本発明は、このような従来技術の課題に鑑みてなされ、シンチレータ層の防湿性及び封止部の強固性の向上に有利な放射線検出装置を提供することを例示的目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての放射線検出装置は、第1基板部材と、第2基板部材と、前記第1基板部材の端部と前記第2基板部材の端部とを結合する封止部と、を有し、前記第1基板部材及び前記第2基板部材のうち、一方は、光電変換素子を有するセンサパネルであり、他方は、シンチレータ層を有するシンチレータパネルである放射線検出装置であって、前記封止部は、第1弾性率を有する第1封止樹脂と、前記第1弾性率よりも低い第2弾性率を有する第2封止樹脂と、前記第2弾性率よりも低い第3弾性率を有して前記第1封止樹脂及び前記第2封止樹脂に作用する応力を緩和する応力緩和部とを含み、前記第1封止樹脂は、前記第1基板部材の端部と前記応力緩和部の前記第1基板部材側の第1面との間を結合し、前記応力緩和部は、前記第1面とは反対側の第2面を介して前記第2基板部材の端部に結合し、前記第2封止樹脂は、前記応力緩和部の前記第1面と前記第2面との間の側面を覆うように、前記第2基板部材の端部と前記第1封止樹脂との間を結合することを特徴とする。
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、例えば、シンチレータ層の防湿性及び封止部の強固性の向上に有利な放射線検出装置を提供することができる。
本発明の一側面としての放射線検出装置の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置のセンサパネルの別の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置の封止部の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置の封止部の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置の封止部の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置の封止部の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置の封止部の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置の封止部の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置の封止部の構成を示す図である。 図1に示す放射線検出装置のシンチレータパネルの別の構成を示す図である。 比較例1の放射線検出装置の構成を示す概略断面図である。 比較例2の放射線検出装置の構成を示す概略断面図である。 比較例3の放射線検出装置の構成を示す概略断面図である。 放射線検出装置をシステムに適用した場合の例を説明する図である。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
図1(a)は、本発明の一側面としての放射線検出装置1の構成を示す概略平面図である。図1(b)は、図1(a)に示す放射線検出装置1のA−A断面図である。放射線検出装置1は、光電変換素子と、放射線を光電変換素子で検出可能な波長の光に変換するシンチレータ層とを有する装置である。ここで、放射線は、X線だけではなく、α線、β線及びγ線などの電磁波も含む。放射線検出装置1は、図1(a)及び図1(b)に示すように、第1基板部材としてのシンチレータパネル(蛍光板)109と、第2基板部材としてのセンサパネル(光センサ又は光電変換パネル)110とを有し、それらを貼り合わせて構成される。
まず、センサパネル110について説明する。センサパネル110は、センサ基台102と、接着層111と、センサ基板112と、光電変換部113と、センサ保護層114と、配線リード115とで構成される。
図1(b)では、センサ基板112は、接着層111を介してセンサ基台102に貼り合わされ、ガラスなどで構成される絶縁性の基板である。センサ基板112には、光電変換素子及びTFTスイッチング素子(不図示)を2次元状に配列した光電変換部113が配置されている。配線リード115は、外部のフレキシブル基板などの外部配線103とセンサ基板112とを電気的に接続する際に使用されるボンディングパット部である。センサ保護層114は、光電変換部113を覆うように配置され、光電変換部113を保護する機能を有する。接着層111は、センサ基板112とセンサ基台102とを接着する。
センサパネル110は、図1(b)に示すように、センサ基板112をセンサ基台102に固定して構成してもよいし、図2に示すように、ガラスなどで構成される絶縁性のセンサ基板112に光電変換部113を配置して構成してもよい。また、センサパネル110は、Si基板に光電変換部が配置されたものを用いてもよく、そのような場合、複数のセンサパネル110が基台に固定されて構成される。
センサ保護層114は、SiN、TiO、LiF、Al、MgOなどで構成してもよい。また、センサ保護層114は、ポリフェニレンサルファイド樹脂、フッ素樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルニトリル樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルサルホン樹脂、ポリアリレート樹脂などで構成してもよい。更に、センサ保護層114は、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、シリコン樹脂などで構成してもよい。但し、放射線検出装置1に放射線が照射されると、シンチレータ層105によって変換された光がセンサ保護層114を通過するため、センサ保護層114は、シンチレータ層105で変換された光の波長に対して高い透過率を有する材料で構成するとよい。
次に、シンチレータパネル109について説明する。シンチレータパネル109は、シンチレータ基台101と、基台保護層104と、シンチレータ層105と、シンチレータ保護層106とで構成される。
シンチレータ基台101は、X線に対する透過率が高い材料で構成される。シンチレータ基台101は、例えば、ベリリウム(Be)、マグネシウム(Mg)、アルミニウム(Al)、及び、ベリリウム、アルミニウム又はマグネシウムを主成分として含む合金のうち少なくとも1つで構成される。シンチレータ基台101の上には、基台保護層104を介して、シンチレータ層105が配置される。また、シンチレータ基台101には、シンチレータ層105で変換された光を有効利用するための反射層を配置してもよい。このような反射層は、銀(Ag)やアルミニウム(Al)などの高い反射率を有する材料で構成される。但し、シンチレータ基台101をアルミニウムで構成する場合には、シンチレータ基台101が反射層としても機能するため、反射層を配置する必要はない。
シンチレータ層105は、例えば、タリウム(Tl)が微量添加されたヨウ化セシウム(CsI:Tl)に代表される柱状結晶シンチレータやテルビウム(Tb)が微量添加された硫酸化ガドリニウム(GOS:Tb)に代表される粒子状シンチレータで構成される。本実施形態では、シンチレータ層105は、ヨウ化セシウムを主成分として含む柱状結晶シンチレータで構成されている。
シンチレータ層105の表面及び側面を覆うように、シンチレータ保護層106が配置される。シンチレータ保護層106は、シンチレータ層105を湿度劣化から保護する機能(防湿性又は耐湿性)を有する。特に、シンチレータ層105がCsI:Tlなどの柱状結晶シンチレータで構成されている場合には、シンチレータ層105の特性が湿度劣化により低下するため、シンチレータ保護層106が必要となる。シンチレータ保護層106の材料としては、例えば、シリコン樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂などの一般的な有機材料、ポリエステル系、ポリオレフィン系、ポリアミド系などのホットメルト樹脂などを用いることができる。但し、シンチレータ保護層106は、水分透過率の低い樹脂、例えば、CVD蒸着で形成するポリパラキシリレンの有機層やポリオレフィン系樹脂に代表されるホットメルト樹脂を材料とするとよい。
シンチレータ保護層106は、シンチレータ層105に対して、外部からの水分の侵入を防止する防湿保護機能、及び、衝撃による破壊を防止する衝撃保護機能を実現する。シンチレータ層105が柱状結晶構造を有するシンチレータで構成されている場合、シンチレータ保護層106は、10μm〜200μmの厚さを有する。シンチレータ保護層106の厚さが10μm以下であると、シンチレータ層105の表面の凹凸や蒸着時の異常成長による大きな凸部を完全に被覆することができず、防湿保護機能が低下する可能性がある。一方、シンチレータ保護層106の厚さが200μmを超えると、シンチレータ層105で変換された光又は反射層で反射された光のシンチレータ保護層106での散乱が増加する。従って、放射線検出装置1で得られる画像の解像度及びMTF(Modulation Transfer Fanction)が低下する可能性がある。
シンチレータパネル109とセンサパネル110とは、接着層(接着部)107によって、シンチレータ保護層106とセンサ保護層114とを対向して貼り合わされ、封止部120で封止される。封止部120は、センサパネル110(センサ基台102又はセンサ基板112)の端部とシンチレータパネル109(シンチレータ基台101)の端部とを結合する。封止部120は、本実施形態では、第1弾性率を有する第1封止樹脂108と、第1弾性率よりも低い第2弾性率を有する第2封止樹脂117と、第2弾性率よりも低い第3弾性率を有する応力緩和部116とを含む。応力緩和部116は、シンチレータパネル109とセンサパネル110との熱膨張差によって第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117に作用する応力を緩和する。
封止部120(第1封止樹脂108、第2封止樹脂117、応力緩和部116)の具体的な構成を説明する。応力緩和部116は、例えば、シンチレータ基台側に配置される。応力緩和部116は、図1(b)に示すように、シンチレータ保護層106及び基台保護層104を介して、センサパネル側(第1基板部材側)の第1面116aとは反対側(第2基板部材側)の第2面116bを介してシンチレータ基台101の端部に結合する。また、図1(b)に示すように、応力緩和部116は、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせるための接着層として機能させることも可能である。
応力緩和部116は、例えば、アクリル系、シリコン系、ゴム系、ウレタン系の粘着性の樹脂で構成される。ゴム系の粘着性の樹脂としては、スチレン−イソプレン−スチレンなどのブロックコポリマー系、ポリブタジエンやポリブチレンなどの合成ゴム系の粘着剤、及び、天然ゴムなどを用いることができる。シリコン系の粘着性の樹脂としては、過酸化物架橋タイプや付加縮合タイプを単体又は混合したものを用いることができる。なお、応力緩和部116には、シリコン系の粘着性の樹脂とアクリル系やゴム系の粘着性の樹脂とを混合したものを用いてもよいし、アクリル系の粘着性の樹脂のポリマー主鎖や側鎖にシリコン成分をペンダントしたものを用いてもよい。また、図3に示すように、応力緩和部116として、マッチングオイル、具体的には、シリコン樹脂やエポキシ樹脂などの、複数の部材間の屈折率差を緩和しつつ疎水性を有するオイルを用いてもよい。
第1封止樹脂108は、センサパネル110の端部と応力緩和部116のセンサパネル側(第1基板部材側)の第1面116aとの間を結合する。第1封止樹脂108は、例えば、センサ基台102(センサ基板112)の表面と平行な面において、2mm以上の幅を有する。第1封止樹脂108は、シンチレータパネル109の防湿性を向上させるため、シンチレータ保護層106と同様に、水分透過率の低い樹脂、特に、エポキシ樹脂を材料とするとよい。シリコン系やアクリル系の樹脂は、弾性力がエポキシ樹脂よりも低いため、シンチレータパネル109とセンサパネル110との熱膨張差による応力には柔軟に対応することができるが、防湿性の点で劣る。
第2封止樹脂117は、図1(b)に示すように、応力緩和部116の第1面116aと第2面116bとの間の側面116cを覆うように、シンチレータパネル109の端部と第1封止樹脂108との間を結合する。第2封止樹脂117は、例えば、センサ基台102(センサ基板112)の表面と平行な面において、1mm以上の幅を有する。また、第2封止樹脂117は、第1封止樹脂108の側面の一部に接するように配置する(図1(b)参照)のではなく、図4に示すように、第1封止樹脂108の側面の全体及びセンサ基台102(センサ基板112)に接するように配置してもよい。
第2封止樹脂117は、第1封止樹脂108と同様に、シンチレータパネル109の防湿性を向上させる機能を有する。但し、かかる機能を応力緩和部116で補おうとすると、応力緩和部116を装置の外側まで大きくして防湿性を実現しなければならないため、他の部材と干渉したり、装置の大型化を招いてしまったりする。そこで、本実施形態では、第2封止樹脂117及び応力緩和部116よりも高い弾性率及び防湿率を有するように、第1封止樹脂108を構成している。
このように、放射線検出装置1は、応力緩和部116を有することで、シンチレータパネル109とセンサパネル110との熱膨張差によって第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117に作用する応力を緩和することができる。従って、放射線検出装置1は、シンチレータ層105の防湿性を向上させながら、第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117の破損(割れや剥がれ)を防止することができる。なお、放射線検出装置1は、装置の大型化も防止することができる。
図1(b)では、応力緩和部116を、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせるための接着層としても機能させている。但し、図5(a)に示すように、応力緩和部116と、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせるための接着層107とを独立して形成してもよい。また、応力緩和部116と接着層107とを独立して形成する場合にも、図5(b)に示すように、応力緩和部116としてマッチングオイルを用いることができる。
第2封止樹脂117は、第1封止樹脂108の側面の一部に接するように配置する(図5(a)参照)のではなく、図6(a)に示すように、第1封止樹脂108の側面の全体及びセンサ基台102(センサ基板112)に接するように配置してもよい。
また、第2封止樹脂117は、図5(a)及び図5(b)に示すように、応力緩和部116を外側から覆うように配置してもよいし、図6(b)に示すように、応力緩和部116を内側から覆うように配置してもよい。換言すれば、第2封止樹脂117は、シンチレータ層側に、シンチレータ層105から離間して配置してもよい。更に、図6(c)に示すように、第1封止樹脂108及び応力緩和部116とシンチレータ層105との間の内部を第2封止樹脂117で封入してもよい。これにより、シンチレータパネル109の強度を向上させることができる。また、配線リード115も第2封止樹脂117で覆われるため、ノイズを低減することができる。
また、応力緩和部116は、シンチレータ基台側ではなく、図7(a)に示すように、センサ基台側(センサパネル側)に配置されてもよい。換言すれば、応力緩和部116は、シンチレータ基台101及びセンサ基台102のうち、一方に接し(結合し)、他方に接しないように配置される。応力緩和部116をセンサ基台側に配置する場合にも、図7(b)に示すように、応力緩和部116としてマッチングオイルを用いることができる。この際、図8(a)に示すように、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせるための接着層107に替えて、応力緩和部116としてのマッチングオイルを用いてもよい。
第2封止樹脂117は、第1封止樹脂108の側面の一部に接するように配置する(図7(a)参照)のではなく、図8(b)に示すように、第1封止樹脂108の側面の全体及びシンチレータ基台101に接するように配置してもよい。
また、第2封止樹脂117は、図8(a)及び図8(b)に示すように、応力緩和部116を外側から覆うように配置してもよいし、図9(a)に示すように、応力緩和部116を内側から覆うように配置してもよい。更に、第2封止樹脂117は、図9(b)に示すように、第1封止樹脂108及び応力緩和部116とシンチレータ層105との間の内部を第2封止樹脂117で封入してもよい。これにより、シンチレータパネル109の強度を向上させることができる。また、配線リード115も第2封止樹脂117で覆われるため、ノイズを低減することができる。
また、図10に示すように、反射層としても機能するシンチレータ基台101の上に反射保護層140を配置(蒸着)してもよい。反射保護層140は、シンチレータ基台101の衝撃による破壊や水分による腐食を防止する機能を有し、例えば、樹脂フィルムで構成される。反射保護層140の材料としては、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、塩化ビニル、ポリエチレンナフタレート、ポリイミドなどを用いることができる。反射保護層140は、10μm〜100μmの厚さを有する。このように、図10では、シンチレータ基台101、シンチレータ層105、シンチレータ保護層106及び反射保護層140によってシンチレータパネル109が構成されている。
以下、本発明の放射線検出装置1の具体的な特性について、従来の放射線検出装置と比較しながら説明する。
<比較例1>
図11は、比較例1の放射線検出装置1000の構成を示す概略断面図である。放射線検出装置1000は、放射線検出装置1とは異なり、図11に示すように、応力緩和部116や第2封止樹脂117を用いずに、第1封止樹脂108だけでセンサパネル110の端部とシンチレータパネル109の端部とを結合している。
図11を参照して、従来の放射線検出装置1000の製造方法について説明する。まず、ガラスなどで構成されたセンサ基板112に形成された非結晶シリコンからなる半導体薄膜の上に、光電変換素子及びTFTスイッチング素子などを含む光電変換部113や配線リード115を形成する。そして、光電変換部113の上に、SiNからなるセンサ保護層114を形成し、更に、ポリイミド樹脂を硬化したシンチレータ下地層(不図示)を形成してセンサパネル110を製造する。
次に、シンチレータ下地層の上に、第1封止樹脂108としてエポキシ樹脂からなる枠体を形成する。具体的には、センサ基板112の上に2次元状に配列された光電変換部113を取り囲むように、ディスペンス装置から幅2mm、高さ0.5mmでエポキシ樹脂を塗布して硬化させる。そして、シンチレータ下地層の上に、アルカリハライドからなる柱状構造結晶(例えば、CsI:Tl(タリウム活性化ヨウ化セシウム))のシンチレータ層105を形成(蒸着)する。この際、配線リード115などの非シンチレータ層形成面の上に、マスキングとして機能するホルダー部(マスク部材)を、センサ基板112の上の第1封止樹脂108に密着させて配置し、シンチレータ層105を形成する。シンチレータ層105は、2次元状に配列された光電変換部113の上面を覆うように、且つ、第1封止樹脂108の側面に接して同一の高さとなるように、厚さ0.5mmで形成する。
更に、ポリエチレンテレフタラートからなる反射保護層140と、反射層としてアルミニウム膜が形成されたシンチレータ基台101と、ポリオレフィン樹脂からなるシンチレータ保護層106とをヒートローラを用いて接着させた3層フィルム状シートを形成する。そして、かかる3層フィルム状シートがシンチレータ層105及び第1封止樹脂108の上面を覆うように3層フィルム状シートを配置し、ヒートローラで3層フィルム状シートを加熱及び押圧して固定する。
このようにして製造された放射線検出装置1000に対して、湿度耐久試験を行った。具体的には、温度55℃、且つ、湿度95%の環境下に放射線検出装置1000を240時間放置した後、放射線検出装置1000のMTF(Modulation Transfer Function)を測定し、湿度耐久前後でのMTFを評価した。
MTFの評価方法は以下の通りである。まず、放射線検出装置1000を評価装置にセットして、X線源との間に、軟X線を除去するための厚さ20mmのアルミニウムフィルターを配置した。次いで、放射線検出装置1000とX線源との間の距離を130cmに調整し、放射線検出装置1000を電気駆動系に接続した。この状態において、放射線検出装置1000にMTFチャートを約2度〜約3度傾けて載せ、管電圧90kV、管電流250mAの条件で50msのX線パルスを6回爆射した。そして、MTFチャートを取り除き、同様の条件でX線パルスを6回爆射した。
放射線検出装置1000では、温度55℃、且つ、湿度95%の環境下の湿度耐久試験において、シンチレータ層105の端部におけるMTFが、湿度耐久試験前よりも30%低下した。
また、放射線検出装置1000に対して、温度サイクル試験を行った。温度サイクル試験は、以下の通りである。放射線検出装置1000を評価装置にセットして、温度50℃、且つ、湿度60%の環境下に4時間放置し、その後、温度−30℃、且つ、湿度0%の環境下に4時間放置するサイクルを5回繰り返す。そして、第1封止樹脂108にシンチレータパネル109とセンサパネル110との熱膨張差による破損(割れや剥がれなど)が発生していないか目視で評価した。放射線検出装置1000では、第1封止樹脂108に破損は発生していなかった。
<比較例2>
図12は、比較例2の放射線検出装置2000の構成を示す概略断面図である。放射線検出装置2000は、放射線検出装置1とは異なり、図12に示すように、応力緩和部116を用いずに、第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117でセンサパネル110の端部とシンチレータパネル109の端部とを結合している。
図12を参照して、従来の放射線検出装置2000の製造方法について説明する。まず、アルミニウムで構成されたシンチレータ基台101に対して、ポリイミド樹脂を塗布し、かかるポリイミド樹脂を硬化させて基台保護層104を形成する。そして、基台保護層104の上に、比較例1と同様にして、柱状結晶構造のシンチレータ層105を形成する。
次いで、シンチレータ層105の上に、シンチレータ層105を覆うようにしてポリエチレンテレフタラートで構成されたシンチレータ保護層106を熱圧着によって形成する。ここでは、シンチレータ保護層106として、厚さ15μmのポリエチレンテレフタラートフィルムを用いる。
このような工程によって、放射線を光電変換素子で検出可能な波長の光に変換するシンチレータ層105を有するシンチレータパネル109が形成される。
次に、シンチレータパネル109を、アクリル樹脂系の接着層107を介して、センサパネル110に貼り合わせる。センサパネル110は、センサ基板112の上に光電変換部113を形成することで構成されている。シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせる際に発生する気泡は、加圧や加熱などの脱泡処理を行うことで除去する。
次いで、センサ基板112の上の配線リード115に外部配線103を熱圧着する。そして、シンチレータ基台101の端部及びセンサ基板112の端部にシリコン系樹脂の第1封止樹脂108を形成し、更に、第1封止樹脂108の側面(外側面)に接するように防湿性の高いエポキシ系樹脂の第2封止樹脂117を形成する。
このようにして製造された放射線検出装置2000に対して、上述した湿度耐久試験を行った。放射線検出装置2000では、温度55℃、且つ、湿度95%の環境下の湿度耐久試験において、シンチレータ層105の端部におけるMTFが急激に低下した。
<比較例3>
図13は、比較例3の放射線検出装置3000の構成を示す概略断面図である。放射線検出装置3000は、放射線検出装置2000と同様にして製造される。但し、放射線検出装置3000では、第2封止樹脂117がシンチレータ基台101の端部及びセンサ基板112の端部と接するように形成されている。
放射線検出装置3000に対して、上述した湿度耐久試験及び温度サイクル試験を行った。放射線検出装置3000では、温度55℃、且つ、湿度95%の環境下の湿度耐久試験において、シンチレータ層105の端部におけるMFTの低下が10%以下に抑えられた。但し、温度サイクル試験において、第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117に破損が発生した。
<実施例1>
まず、比較例2と同様にしてシンチレータパネル109及びセンサパネル110を形成する。そして、リンテック社製のMO3005Cで構成され、接着層としても機能する応力緩和部116によって、図1(b)に示すように、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせる。
次に、応力緩和部116とセンサ基台102との間に第1封止樹脂108を塗布して硬化させる。この際、第1封止樹脂108がシンチレータ基台101と接しないようにする。これにより、シンチレータパネル109とセンサパネル110との熱膨張差に起因する第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117の破損(割れや剥がれ)を防止することができる。
次いで、応力緩和部116の側面を覆うように、且つ、シンチレータ基台101の端部及び第1封止樹脂108と接するように、第2封止樹脂117を塗布して硬化させる。
このように、第1封止樹脂108が応力緩和部116を介してシンチレータ基台101と結合され、第2封止樹脂117が応力緩和部116を覆うように構成することで放射線検出装置1を製造する。
また、図2に示すように、ガラスなどで構成される絶縁性のセンサ基板112に光電変換部113を配置してセンサパネル110を構成し、上述したのと同様に、放射線検出装置1を製造する。
また、図3に示すように、マッチングオイルを応力緩和部116として用いて、放射線検出装置1を製造する。具体的には、センサ基台102に第1封止樹脂108を形成し、第1封止樹脂108で覆われた領域の内側及び第1封止樹脂108の上に、シリコン系のマッチングオイルを充填する。そして、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを重ね合わせ、第2封止樹脂117によってシンチレータパネル109の端部と第1封止樹脂108との間を結合する。この際、シンチレータ基台101及び第1封止樹脂108と接するように、第2封止樹脂117を形成する。
また、図4に示すように、第2封止樹脂117を第1封止樹脂108の側面の全体及びセンサ基台102(センサ基板112)に接するように形成して、放射線検出装置1を製造する。
このようにして製造された放射線検出装置1に対して、上述した湿度耐久試験及び温度サイクル試験を行った。放射線検出装置1では、温度55℃、且つ、湿度95%の環境下の湿度耐久試験において、シンチレータ層105の端部におけるMTFの低下が規格を満たしていた。また、温度サイクル試験においても、第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117の破損は発生していなかった。
<実施例2>
図5(a)に示すように、応力緩和部116と、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせるための接着層107とを独立して形成して放射線検出装置1を製造する。具体的には、実施例1と同様にしてシンチレータパネル109を形成する際に、シンチレータ基台101の端部が露出するように、基台保護層104、シンチレータ保護層106及び接着層107を形成する。次いで、リンテック社製のMO3005Cで構成された応力緩和部116をシンチレータ基台101の端部に形成し、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせる。次に、応力緩和部116とセンサ基台102との間に第1封止樹脂108を塗布して硬化させる。そして、応力緩和部116の側面を覆うように、且つ、シンチレータ基台101の端部及び第1封止樹脂108と接するように、第2封止樹脂117を塗布して硬化させる。
また、図5(b)に示すように、マッチングオイルを応力緩和部116として用いて、放射線検出装置1を製造する。具体的には、実施例1と同様にしてシンチレータパネル109とセンサパネル110と貼り合わせた後、シリコン系のマッチングオイルを充填し、第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117の順に形成する。
また、図6(a)に示すように、第2封止樹脂117を第1封止樹脂108の側面の全体及びセンサ基台102(センサ基板112)に接するように形成して、放射線検出装置1を製造する。
また、図6(b)に示すように、応力緩和部116を内側から覆うように第2封止樹脂117を形成して、放射線検出装置1を製造する。具体的には、実施例1と同様にしてシンチレータパネル109とセンサパネル110と貼り合わせた後、応力緩和部116を形成する。次に、応力緩和部116の側面(内側面)及びシンチレータ基台101の端部と接するように第2封止樹脂117を形成する。そして、応力緩和部116、第2封止樹脂117及びシンチレータ基台101と接するように第1封止樹脂108を形成する。
また、図6(c)に示すように、第1封止樹脂108及び応力緩和部116とシンチレータ層105との間の内部を第2封止樹脂117で封入して、放射線検出装置1を製造する。具体的には、実施例1と同様にしてシンチレータパネル109とセンサパネル110と貼り合わせた後、応力緩和部116を形成する。次に、シンチレータ基台101、センサ基台102及び応力緩和部116に接するように第2封止樹脂117を形成する。そして、応力緩和部116、第2封止樹脂117及びシンチレータ基台101と接するように第1封止樹脂108を形成する。
このようにして製造された放射線検出装置1に対して、上述した湿度耐久試験及び温度サイクル試験を行った。放射線検出装置1では、温度55℃、且つ、湿度95%の環境下の湿度耐久試験において、シンチレータ層105の端部におけるMTFの低下が規格を満たしていた。また、温度サイクル試験においても、第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117の破損は発生していなかった。
<実施例3>
図7(a)に示すように、センサ基台側(センサパネル側)に応力緩和部116を形成して放射線検出装置1を製造する。具体的には、実施例1と同様にしてシンチレータパネル109とセンサパネル110とを形成する。次いで、センサパネル110のセンサ基台102の上に応力緩和部116を形成し、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせる。この際、接着層107は、応力緩和部116としては機能せず、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを接着する接着層として機能する。次に、シンチレータ基台101と応力緩和部116との間に、シンチレータ基台101及び応力緩和部116と接するように第1封止樹脂108を形成する。そして、応力緩和部116の側面(外側面)を覆うように、且つ、センサ基台102の端部及び第1封止樹脂108と接するように、第2封止樹脂117を形成する。
また、図7(b)に示すように、マッチングオイルを応力緩和部116として用いて、放射線検出装置1を製造する。具体的には、実施例1と同様にしてシンチレータパネル109とセンサパネル110と貼り合わせた後、センサパネル110に接しないように第1封止樹脂108を形成する。この際、センサ基台102及びセンサ基板112にマスクをして第1封止樹脂108を形成することで、第1封止樹脂108がセンサパネル110に接しないようにする。そして、第1封止樹脂108とセンサパネル110との間に、シリコン系のマッチングオイルを充填して、第2封止樹脂117を形成する。
また、図8(a)に示すように、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを貼り合わせるための接着層に替えて、応力緩和部116としてのマッチングオイルを用いて放射線検出装置1を製造する。具体的には、実施例1と同様にしてシンチレータパネル109とセンサパネル110とを形成する。次いで、シンチレータパネル109及びセンサパネル110のそれぞれにシリコン系のマッチングオイルを塗布して、シンチレータパネル109とセンサパネル110とを重ね合わせる。次に、センサパネル110に接しないように第1封止樹脂108を形成する。そして、センサパネル110及び第1封止樹脂108に接するように第2封止樹脂117を形成する。
また、図8(b)に示すように、第2封止樹脂117を第1封止樹脂108の側面の全体及びシンチレータ基台101に接するように形成して、放射線検出装置1を製造する。
また、図9(a)に示すように、応力緩和部116を内側から覆うように第2封止樹脂117を形成して、放射線検出装置1を製造する。具体的には、実施例1と同様にしてシンチレータパネル109とセンサパネル110と貼り合わせた後、応力緩和部116を形成する。次に、応力緩和部116の側面(内側面)及びシンチレータ基台101の端部と接するように第2封止樹脂117を形成する。そして、応力緩和部116、第2封止樹脂117及びシンチレータ基台101と接するように第1封止樹脂108を形成する。
また、図9(b)に示すように、第1封止樹脂108及び応力緩和部116とシンチレータ層105との間の内部を第2封止樹脂117で封入して、放射線検出装置1を製造する。
このようにして製造された放射線検出装置1に対して、上述した湿度耐久試験及び温度サイクル試験を行った。放射線検出装置1では、温度55℃、且つ、湿度95%の環境下の湿度耐久試験において、シンチレータ層105の端部におけるMTFの低下が規格を満たしていた。また、温度サイクル試験においても、第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117の破損は発生していなかった。
<実施例4>
図10に示すように、センサパネル110の上に、比較例1と同様にして、シンチレータ層105を蒸着する。次いで、比較例1と同様にして、センサ基板112の上に、第1封止樹脂108を形成する。また、第1封止樹脂108の上に、応力緩和部116を形成する。次に、ポリエチレンテレフタラートからなる反射保護層140と、反射層としてアルミニウム膜が形成されたシンチレータ基台101と、ポリオレフィン樹脂からなるシンチレータ保護層106とをヒートローラを用いて接着させた3層フィルム状シートを形成する。次いで、かかる3層フィルム状シートがシンチレータ層105及び応力緩和部116の上面を覆うように3層フィルム状シートを配置し、ヒートローラで3層フィルム状シートを加熱及び押圧して固定する。そして、応力緩和部116の側面(外側面)を覆うように、且つ、第1封止樹脂108及び反射保護層140と接するように第2封止樹脂117を形成する。
このようにして製造された放射線検出装置1に対して、上述した湿度耐久試験及び温度サイクル試験を行った。放射線検出装置1では、温度55℃、且つ、湿度95%の環境下の湿度耐久試験において、シンチレータ層105の端部におけるMTFの低下が5%以下に抑えられた。また、温度サイクル試験においても、第1封止樹脂108及び第2封止樹脂117の破損は発生していなかった。
<応用例>
上述の各実施形態の放射線検出装置は、放射線検出システムに適用されうる。放射線検出システムは、例えば、放射線検出装置と、イメージプロセッサ等を含む信号処理部と、ディスプレイ等を含む表示部と、放射線を発生させるための放射線源と、を備える。例えば、図14に示されるように、X線チューブ6050で発生したX線6060は、患者(被験者)6061の胸部6062を透過し、放射線検出装置6040に入射する。この入射したX線には患者6061の体内部の情報が含まれている。入射したX線に応じてシンチレータが発光し、この光をセンサパネルが検出して、電気的情報を得る。その後、この情報はデジタル変換され、イメージプロセッサ6070(信号処理部)により画像処理され、制御室のディスプレイ6080(表示部)により表示されうる。また、この情報は、電話、LAN、インターネット等のネットワーク6090を含む伝送処理手段により遠隔地へ転送することもできる。これにより、別の場所のドクタールーム等のディスプレイ6081に表示して、遠隔地の医師が診断することが可能である。また、この情報は、例えば、光ディスク等に保存することもできるし、フィルムプロセッサ6100によってフィルム6210等の記録部に記録することもできる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。

Claims (11)

  1. 第1基板部材と、
    第2基板部材と、
    前記第1基板部材の端部と前記第2基板部材の端部とを結合する封止部と、を有し、
    前記第1基板部材及び前記第2基板部材のうち、一方は、光電変換素子を有するセンサパネルであり、他方は、シンチレータ層を有するシンチレータパネルである放射線検出装置であって、
    前記封止部は、第1弾性率を有する第1封止樹脂と、前記第1弾性率よりも低い第2弾性率を有する第2封止樹脂と、前記第2弾性率よりも低い第3弾性率を有して前記第1封止樹脂及び前記第2封止樹脂に作用する応力を緩和する応力緩和部とを含み、
    前記第1封止樹脂は、前記第1基板部材の端部と前記応力緩和部の前記第1基板部材側の第1面との間を結合し、
    前記応力緩和部は、前記第1面とは反対側の第2面を介して前記第2基板部材の端部に結合し、
    前記第2封止樹脂は、前記応力緩和部の前記第1面と前記第2面との間の側面を覆うように、前記第2基板部材の端部と前記第1封止樹脂との間を結合することを特徴とする放射線検出装置。
  2. 前記第1封止樹脂は、前記第2封止樹脂及び前記応力緩和部よりも高い耐湿性を有することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置。
  3. 前記応力緩和部は、前記第1基板部材と前記第2基板部材とを貼り合わせる接着部を含むことを特徴とする請求項1又は2のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置。
  4. 前記第1封止樹脂は、前記第1基板部材の表面と平行な面において、2mm以上の幅を有することを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置。
  5. 前記第2封止樹脂は、前記第1基板部材の表面と平行な面において、1mm以上の幅を有することを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置。
  6. 前記第2封止樹脂は、前記第1封止樹脂よりも前記シンチレータ層側に、前記シンチレータ層から離間して配置されていることを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置。
  7. 前記応力緩和部は、マッチングオイルであることを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置。
  8. 前記第1封止樹脂及び前記第2封止樹脂は、エポキシを主成分として含むことを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置。
  9. 前記シンチレータ層は、ヨウ化セシウムを主成分として含むことを特徴とする請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置。
  10. 前記シンチレータパネルは、ベリリウム、アルミニウム、マグネシウム、及び、ベリリウム、アルミニウム又はマグネシウムを主成分とする合金のうち少なくとも1つで構成された基板を含むことを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置。
  11. 請求項1乃至10のうちいずれか1項に記載の放射線検出装置と、
    前記放射線検出装置からの信号を処理する信号処理部と、
    前記信号処理部からの信号を表示するための表示部と、
    を備えることを特徴とする放射線検出システム。
JP2012226326A 2012-10-11 2012-10-11 放射線検出装置及び放射線検出システム Expired - Fee Related JP6092568B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012226326A JP6092568B2 (ja) 2012-10-11 2012-10-11 放射線検出装置及び放射線検出システム
US14/044,149 US8957383B2 (en) 2012-10-11 2013-10-02 Radiation detection apparatus and radiation detection system
CN201310471439.8A CN103728650B (zh) 2012-10-11 2013-10-11 放射线检测装置和放射线检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012226326A JP6092568B2 (ja) 2012-10-11 2012-10-11 放射線検出装置及び放射線検出システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014077735A JP2014077735A (ja) 2014-05-01
JP6092568B2 true JP6092568B2 (ja) 2017-03-08

Family

ID=50452802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012226326A Expired - Fee Related JP6092568B2 (ja) 2012-10-11 2012-10-11 放射線検出装置及び放射線検出システム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8957383B2 (ja)
JP (1) JP6092568B2 (ja)
CN (1) CN103728650B (ja)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6100045B2 (ja) 2013-03-19 2017-03-22 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線検出システム及び放射線検出装置の製造方法
JP6200173B2 (ja) 2013-03-21 2017-09-20 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP2015021752A (ja) 2013-07-16 2015-02-02 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線検査装置
JP2015025682A (ja) * 2013-07-24 2015-02-05 キヤノン株式会社 放射線撮影装置
JP6310216B2 (ja) 2013-09-06 2018-04-11 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びその製造方法並びに放射線検出システム
JP6478538B2 (ja) 2014-09-10 2019-03-06 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6354484B2 (ja) * 2014-09-17 2018-07-11 コニカミノルタ株式会社 放射線画像変換パネル
KR102246296B1 (ko) * 2014-12-19 2021-04-30 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP6512830B2 (ja) 2015-01-09 2019-05-15 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線検査装置
JP2016128779A (ja) * 2015-01-09 2016-07-14 株式会社東芝 放射線検出器及びその製造方法
JP6576064B2 (ja) 2015-03-18 2019-09-18 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線撮像システム及び放射線検出装置の製造方法
JP6487263B2 (ja) * 2015-04-20 2019-03-20 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器及びその製造方法
US9513383B1 (en) * 2015-06-03 2016-12-06 Perkinelmer Holdings, Inc. Scintillator sealing with foil
JP6549950B2 (ja) * 2015-09-15 2019-07-24 浜松ホトニクス株式会社 シンチレータパネル、及び、放射線検出器
JP6725288B2 (ja) * 2016-03-30 2020-07-15 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器の製造方法
JP6763205B2 (ja) * 2016-06-16 2020-09-30 コニカミノルタ株式会社 積層型シンチレータパネル
JP6971552B2 (ja) * 2016-10-18 2021-11-24 富士フイルム株式会社 放射線検出装置
JP6534497B2 (ja) * 2017-03-22 2019-06-26 富士フイルム株式会社 放射線検出器及び放射線画像撮影装置
WO2019012846A1 (ja) 2017-07-10 2019-01-17 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6877289B2 (ja) 2017-07-31 2021-05-26 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線検出システム、及び放射線出装置の製造方法
JP7030478B2 (ja) 2017-11-09 2022-03-07 キヤノン株式会社 撮影台および放射線撮影システム
EP3770643A4 (en) * 2018-03-19 2021-04-28 FUJIFILM Corporation RADIATION DETECTOR AND RADIOGRAPHIC IMAGE CAPTURE DEVICE
WO2019181568A1 (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 富士フイルム株式会社 放射線検出器及び放射線画像撮影装置
JP6659182B2 (ja) * 2018-07-23 2020-03-04 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線撮像システム
JP7108364B2 (ja) * 2018-09-04 2022-07-28 キヤノン電子管デバイス株式会社 放射線検出器、放射線検出器の製造方法および装置、並びにシンチレータパネル、シンチレータパネルの製造方法および装置
CN109709594B (zh) * 2018-12-18 2020-12-11 北京纳米维景科技有限公司 闪烁屏封装结构制造方法、闪烁屏封装结构及影像探测器
KR102651991B1 (ko) * 2019-05-29 2024-03-26 엘지디스플레이 주식회사 디지털 엑스레이 검출기 및 이의 제조 방법
WO2021006304A1 (ja) * 2019-07-09 2021-01-14 富士フイルム株式会社 放射線検出器及び放射線画像撮影装置
JP7321818B2 (ja) * 2019-07-31 2023-08-07 キヤノン株式会社 シンチレータユニット、及び放射線検出器
JP7418077B2 (ja) * 2019-08-30 2024-01-19 キヤノン株式会社 半導体装置、表示装置、及び電子機器
JP7333244B2 (ja) * 2019-10-24 2023-08-24 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器、及び、放射線検出器の製造方法

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5023461A (en) * 1987-08-18 1991-06-11 Konica Corporation Radiation image storage panel having low refractive index layer and protective layer
JP2677824B2 (ja) * 1988-06-17 1997-11-17 コニカ株式会社 放射線画像変換パネル
JP3880094B2 (ja) * 1996-02-22 2007-02-14 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びその製造方法
US7019301B2 (en) * 1997-02-14 2006-03-28 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device and method of making the same
JP3789646B2 (ja) * 1998-06-19 2006-06-28 浜松ホトニクス株式会社 放射線イメージセンサ
US6949750B2 (en) * 2000-03-30 2005-09-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Radiation detecting element and method of manufacturing the same
FR2831671B1 (fr) * 2001-10-26 2004-05-28 Trixell Sas Detecteur de rayonnement x a l'etat solide
US7126130B2 (en) * 2001-12-06 2006-10-24 General Electric Company Direct scintillator coating for radiation detector assembly longevity
JP4289913B2 (ja) * 2003-03-12 2009-07-01 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びその製造方法
US7193218B2 (en) * 2003-10-29 2007-03-20 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detection device, method of producing the same, and radiation image pick-up system
JP2005156545A (ja) 2003-10-29 2005-06-16 Canon Inc 放射線検出装置、その製造方法、および放射線撮像システム
JP4594188B2 (ja) * 2004-08-10 2010-12-08 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP4266898B2 (ja) 2004-08-10 2009-05-20 キヤノン株式会社 放射線検出装置とその製造方法および放射線撮像システム
US7514686B2 (en) 2004-08-10 2009-04-07 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detecting apparatus, scintillator panel, their manufacturing method and radiation detecting system
JP4208790B2 (ja) 2004-08-10 2009-01-14 キヤノン株式会社 放射線検出装置の製造方法
JP4886245B2 (ja) * 2005-08-26 2012-02-29 株式会社東芝 放射線検出器
JP2007071836A (ja) * 2005-09-09 2007-03-22 Canon Inc 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP5004848B2 (ja) 2007-04-18 2012-08-22 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP2008305845A (ja) * 2007-06-05 2008-12-18 Fujifilm Corp 放射線検出器
JP2011107002A (ja) * 2009-11-19 2011-06-02 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線検出パネル、放射線画像検出器、放射線検出パネルの製造方法および放射線画像検出器の製造方法
KR101325812B1 (ko) * 2009-12-18 2013-11-08 도시바 덴시칸 디바이스 가부시키가이샤 방사선 검출기와 그 제조 방법
US8552393B2 (en) * 2010-01-25 2013-10-08 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Radiation image conversion panel and radiation image detector using same
JP5791281B2 (ja) * 2010-02-18 2015-10-07 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP5607426B2 (ja) 2010-05-28 2014-10-15 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP5562134B2 (ja) * 2010-06-17 2014-07-30 キヤノン株式会社 放射線検出装置、その製造方法及び放射線撮像システム
JP5178900B2 (ja) * 2010-11-08 2013-04-10 富士フイルム株式会社 放射線検出器
JP2012168128A (ja) * 2011-02-16 2012-09-06 Canon Inc 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP5728250B2 (ja) * 2011-03-01 2015-06-03 キヤノン株式会社 放射線検出装置、シンチレータパネル、それらの製造方法、および放射線検出システム
US9231119B2 (en) * 2011-03-11 2016-01-05 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Sensor
JP2013002887A (ja) 2011-06-14 2013-01-07 Canon Inc 放射線検出パネルおよび放射線撮影装置
JP2013152160A (ja) 2012-01-25 2013-08-08 Canon Inc 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2013174465A (ja) 2012-02-23 2013-09-05 Canon Inc 放射線検出装置
JP6200171B2 (ja) 2012-06-04 2017-09-20 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び撮像システム
JP2014044200A (ja) 2012-07-31 2014-03-13 Canon Inc 放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム

Also Published As

Publication number Publication date
CN103728650A (zh) 2014-04-16
JP2014077735A (ja) 2014-05-01
US8957383B2 (en) 2015-02-17
CN103728650B (zh) 2016-01-27
US20140103216A1 (en) 2014-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6092568B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
US8648312B2 (en) Radiation detection apparatus, manufacturing method thereof, and radiation detection system
JP2014074595A (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の製造方法
US6469305B2 (en) Radiation image sensor
JP6000680B2 (ja) 放射線検出装置、その製造方法及び撮像システム
JP6200173B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP2006220439A (ja) シンチレータパネル、放射線検出装置及びその製造方法
US20130308755A1 (en) Radiation detection apparatus and radiation detection system
JP2006189377A (ja) シンチレータパネル、放射線検出装置、及び放射線検出システム
JP6512830B2 (ja) 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線検査装置
JP2010286447A (ja) 放射線検出器及びその製造方法
JP2007163155A (ja) 放射線検出装置及びそれを用いた放射線撮像システム
US11269087B2 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP6555955B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP2004061116A (ja) 放射線検出装置及びシステム
JP2019184278A (ja) 放射線検出器
JP2006343277A (ja) 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP2004317167A (ja) 放射線検出装置
JP2023108947A (ja) 放射線撮影装置および放射線撮影システム
JPWO2018124134A1 (ja) 放射線検出器及び放射線画像撮影装置
WO2015115027A1 (ja) 放射線検出装置、放射線検出システム、及び、蛍光体
JP2021015058A (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6521617B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP2024027374A (ja) 放射線撮像装置の製造方法
JP2023032732A (ja) シンチレータパネル及び放射線検出器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151006

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160801

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160810

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170113

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170209

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6092568

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees