JP4478786B2 - ガラス壜の検査方法 - Google Patents
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Description
基準画像(以下、適宜テンプレートという)を作成する工程は、大きく分けて3つの工程から構成される。すなわち、テンプレートの作成に使用される複数のガラス壜を各CCDカメラにて撮影する撮影工程、撮影工程によって撮影された画像群の中から不良品のガラス壜の画像を排除して良品のガラス壜の画像を選別する画像選別工程、そして、画像選別工程により選別された画像に基づいてテンプレートを作成する画像作成工程である。以下、各工程について順に説明する。
本実施形態において実施される撮影工程の基礎データは次の通りである。
1)サンプルに使用されるガラス壜の本数 100本
2)金型番号M1〜M8
3)角度A1〜A8(A1:0〜45°、A2:45〜90°、・・・、A8:315〜360°)
4)ガラス壜1本当りの撮影枚数 100枚
基準画像となるテンプレートを作成する際に、サンプルとして使用される複数のガラス壜の中に不良品が含まれていると、ビリに基づく光を含んだ形のテンプレートが作成されることになる。このように、本来、光るべきでない部位からの明るい光を含んだ画像に基づいてテンプレートが作成されてしまうと、その部位にビリが存在するガラス壜を不良品と判断することができなくなってしまう。このような理由から、テンプレートを作成する前工程として、テンプレートに使用される複数の画像から不良品のガラス壜の画像を排除する作業が行われる。
画像作成工程では、上述した画像選別工程により選別された複数の画像に基づいて、テンプレートとなる基準画像が作成される。この画像作成工程について図8乃至図10を参照して説明する。図8は良品のガラス壜の画像を示す模式図である。図9は、ある特定の行における画素の明るさの分布を示すグラフ図である。図10は検査すべきガラス壜の画像の各画素の明るさ分布とテンプレートとの関係を示す図である。
図13は縦ビリを検出する検査装置の主要部を示す平面図、図14は図13のA−A線断面図、図15は図13のB−B線断面図である。図13乃至図15に示すように、この検査装置は、ガラス壜2の壜口部3を覆うように配置された半球体104を備えている。この半球体104の中心Oは、ガラス壜2の壜口部3と略一致するようになっている。半球体104の側部、すなわちガラス壜2の壜口部3の側方には、ガラス壜2の壜口部3に光を照射する第1の照明107aが設置されている。また、半球体104には、ガラス壜2の壜口部3を取り囲むように複数のCCDカメラ110〜119が配置されている。これらのCCDカメラ110〜119の光軸は、半球体104の中心O(ガラス壜2の壜口部3)から放射状に伸びる線上にある。
Claims (4)
- ガラス壜の製造工程で製造された不良品のガラス壜と良品のガラス壜の両方を含む複数のガラス壜をCCDカメラにより撮影して複数の画像を形成し、
前記CCDカメラにより撮影された複数の画像から不良品のガラス壜の画像を排除し、複数の良品のガラス壜の画像のみを得、
得られた複数の良品のガラス壜の画像について画素毎の明るさを把握し、前記複数の画像の同一位置にある各画素について最大の明るさの値と最小の明るさの値を求め、これら最大の明るさの値と最小の明るさの値の間の良品範囲を特定し、
ガラス壜の製造工程で製造された検査対象のガラス壜をCCDカメラにより撮影した画像について画素毎の明るさを求め、この求めた各画素の明るさの値が、前記特定された良品範囲内にあるか否かを判断し、ガラス壜の特定部位にある欠陥を検出することを特徴とするガラス壜の検査方法。 - 複数のCCDカメラにより1つのサンプルとなるガラス壜を複数の撮影角度から同時に撮影して複数の画像を形成し、所定の角度毎に基準画像を作成することを特徴とする請求項1に記載のガラス壜の検査方法。
- 前記複数の画像の同一位置にある画素の明るさの度数分布を求め、該画素の明るさの平均値及び標準偏差を算出し、該平均値よりも標準偏差の所定倍数以上の明るさを有する画素が少なくとも1つ存在する場合には、該画素を有する画像を不良品のガラス壜の画像と判断して排除することを特徴とする請求項1に記載のガラス壜の検査方法。
- 前記複数の画像の同一位置にある画素の明るさの度数分布を求め、該画素の明るさの平均値及び標準偏差を算出し、該平均値から標準偏差の所定倍数を差し引いた値以下の明るさを有する画素が少なくとも1つ存在する場合には、該画素を有する画像を不良品のガラス壜の画像と判断して排除することを特徴とする請求項1に記載のガラス壜の検査方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
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JPWO2004036198A1 JPWO2004036198A1 (ja) | 2006-02-16 |
JP4478786B2 true JP4478786B2 (ja) | 2010-06-09 |
Family
ID=32104839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004544713A Expired - Fee Related JP4478786B2 (ja) | 2002-10-18 | 2002-10-18 | ガラス壜の検査方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7330251B2 (ja) |
EP (1) | EP1560018B1 (ja) |
JP (1) | JP4478786B2 (ja) |
AU (1) | AU2002344112A1 (ja) |
DE (1) | DE60225354T2 (ja) |
WO (1) | WO2004036198A1 (ja) |
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Publication number | Publication date |
---|---|
EP1560018A4 (en) | 2006-09-06 |
US20060045324A1 (en) | 2006-03-02 |
JPWO2004036198A1 (ja) | 2006-02-16 |
DE60225354T2 (de) | 2009-02-19 |
AU2002344112A1 (en) | 2004-05-04 |
WO2004036198A1 (ja) | 2004-04-29 |
EP1560018A1 (en) | 2005-08-03 |
US7330251B2 (en) | 2008-02-12 |
EP1560018B1 (en) | 2008-02-27 |
DE60225354D1 (de) | 2008-04-10 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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