JPH09119902A - 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 - Google Patents
瓶口部・ネジ部ビリ検査装置Info
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- JPH09119902A JPH09119902A JP7271693A JP27169395A JPH09119902A JP H09119902 A JPH09119902 A JP H09119902A JP 7271693 A JP7271693 A JP 7271693A JP 27169395 A JP27169395 A JP 27169395A JP H09119902 A JPH09119902 A JP H09119902A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Abstract
(57)【要約】
【目的】製瓶工場ラインにおいて、生産性の向上、省力
化に適した瓶口部・ネジ部ビリ検査装置。 【構成】瓶口部・ネジ部ビリ検査装置において、検査位
置に置かれた被検査瓶を公知の回転手段により、静止回
転させ、瓶口の口部及びネジ部を中心として、周囲に２
〜２０コのＬＥＤ投光器と２〜１００コのフォト受光器
をドーム状に配置し、瓶口部・ネジ部ビリ検査を行う瓶
口部・ネジ部ビリ検査装置。
化に適した瓶口部・ネジ部ビリ検査装置。 【構成】瓶口部・ネジ部ビリ検査装置において、検査位
置に置かれた被検査瓶を公知の回転手段により、静止回
転させ、瓶口の口部及びネジ部を中心として、周囲に２
〜２０コのＬＥＤ投光器と２〜１００コのフォト受光器
をドーム状に配置し、瓶口部・ネジ部ビリ検査を行う瓶
口部・ネジ部ビリ検査装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、製瓶又は瓶充填工場ラ
インにおいて、瓶口部・ネジ部のビリ検査において、自
動化に適した瓶口部・ネジ部ビリ検査装置に関する。
インにおいて、瓶口部・ネジ部のビリ検査において、自
動化に適した瓶口部・ネジ部ビリ検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、製瓶又は瓶充填工場ラインにおい
ては、瓶の口部・ネジ部のビリ検査はライン上にて、目
視検査又は複数の投光器ａ、複数の受光器ｂのａ：ｂで
検査部位毎に複数の検査ステーションを占有して、公知
のハンドリングマシン上でビン種毎、ビリ欠陥種毎に手
動目視により設定され検査を行っていた。又、もう一つ
の方法としては、固定の複数の照明を、瓶の口部・ネジ
部にあて、ＣＣＤカメラにて検査部位に公知のウインド
ウをかけて、検査を行っている。
ては、瓶の口部・ネジ部のビリ検査はライン上にて、目
視検査又は複数の投光器ａ、複数の受光器ｂのａ：ｂで
検査部位毎に複数の検査ステーションを占有して、公知
のハンドリングマシン上でビン種毎、ビリ欠陥種毎に手
動目視により設定され検査を行っていた。又、もう一つ
の方法としては、固定の複数の照明を、瓶の口部・ネジ
部にあて、ＣＣＤカメラにて検査部位に公知のウインド
ウをかけて、検査を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来は
目視では、高速に流れるライン上では、識別は困難であ
り、前記、複数投受光器を使用してビリ欠陥種毎に手動
目視により設定した検査方法では、瓶の口部・ネジ部の
どこに発生するか判らない瓶の口部・ネジ部のビリに対
しては、網羅した検査を行う事ができないし、公知のビ
ンの型替時には、その設定に長時間を有するという問題
を有している。前記もう１つの方法であるＣＣＤカメラ
による検査では、縦状のビリ検出には有効であるが、瓶
ネジ目に沿った横状のビリに関しては、検出感度が低い
という問題を有している。又、型替え時にはカメラ・照
明・感度等再設定し直さなければならないという問題を
有している。本発明は、従来容易でなかったビン種毎の
型替設定を自動化し、瓶の口部・ネジ部のビリ検出を網
羅的に行い、欠陥種別では、泡・異物・カケ・ネジ出・
変形等の欠陥検出感度を有し、かつ、欠陥部位の仕分
け、欠陥種別の仕分を行い、品質管理を向上させる事が
できる瓶口部・ネジ部ビリ検査装置を得ることを目的と
する。
目視では、高速に流れるライン上では、識別は困難であ
り、前記、複数投受光器を使用してビリ欠陥種毎に手動
目視により設定した検査方法では、瓶の口部・ネジ部の
どこに発生するか判らない瓶の口部・ネジ部のビリに対
しては、網羅した検査を行う事ができないし、公知のビ
ンの型替時には、その設定に長時間を有するという問題
を有している。前記もう１つの方法であるＣＣＤカメラ
による検査では、縦状のビリ検出には有効であるが、瓶
ネジ目に沿った横状のビリに関しては、検出感度が低い
という問題を有している。又、型替え時にはカメラ・照
明・感度等再設定し直さなければならないという問題を
有している。本発明は、従来容易でなかったビン種毎の
型替設定を自動化し、瓶の口部・ネジ部のビリ検出を網
羅的に行い、欠陥種別では、泡・異物・カケ・ネジ出・
変形等の欠陥検出感度を有し、かつ、欠陥部位の仕分
け、欠陥種別の仕分を行い、品質管理を向上させる事が
できる瓶口部・ネジ部ビリ検査装置を得ることを目的と
する。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、瓶口部・ネジ部ビリ検査装置において、検
査位置に置かれた被検査瓶を公知の回転手段により回転
させ、瓶口の口部及びネジ部を中心として、周囲にＮコ
のＬＥＤ投光器、好ましくは８〜１２コと、Ｍコのフォ
ト受光器、好ましくは３０〜６０コをビリ種別にドーム
状に配置し、各検査ポイントに対して、Ｎ×Ｍの回数の
明度処理を行い、瓶口部・ネジ部全周にわたって１ｍｍ
間隔程度で明度処理を行う。その時全周分の検査ポイン
ト数をＬとすると、Ｌ×Ｎ×Ｍの数の明度処理データが
採取される。その後、前記Ｌに対して、Ｎ×Ｍの受光そ
れぞれについて、微分処理を行い、明暗の変化点と変化
量が検出され、 １）良品ビンの場合には、しきい値設定を越えて検出さ
れた前記変化量に対して、越えない位置にそれぞれ自動
設定されている為、ビリ欠陥として検出されない。 ２）ビリ欠陥瓶の場合には、前記変化量でいずれかのデ
ータがしきい値を越える為、ビリ欠陥として検出され、
排出信号が出力され排出される。この場合、各検査ポイ
ントに対して前記Ｎ×Ｍの受光センサになり、複数の投
受光間の干渉が発生せず、ビリ検出を網羅的に行う事が
できる。
するために、瓶口部・ネジ部ビリ検査装置において、検
査位置に置かれた被検査瓶を公知の回転手段により回転
させ、瓶口の口部及びネジ部を中心として、周囲にＮコ
のＬＥＤ投光器、好ましくは８〜１２コと、Ｍコのフォ
ト受光器、好ましくは３０〜６０コをビリ種別にドーム
状に配置し、各検査ポイントに対して、Ｎ×Ｍの回数の
明度処理を行い、瓶口部・ネジ部全周にわたって１ｍｍ
間隔程度で明度処理を行う。その時全周分の検査ポイン
ト数をＬとすると、Ｌ×Ｎ×Ｍの数の明度処理データが
採取される。その後、前記Ｌに対して、Ｎ×Ｍの受光そ
れぞれについて、微分処理を行い、明暗の変化点と変化
量が検出され、 １）良品ビンの場合には、しきい値設定を越えて検出さ
れた前記変化量に対して、越えない位置にそれぞれ自動
設定されている為、ビリ欠陥として検出されない。 ２）ビリ欠陥瓶の場合には、前記変化量でいずれかのデ
ータがしきい値を越える為、ビリ欠陥として検出され、
排出信号が出力され排出される。この場合、各検査ポイ
ントに対して前記Ｎ×Ｍの受光センサになり、複数の投
受光間の干渉が発生せず、ビリ検出を網羅的に行う事が
できる。
【０００５】同様に欠陥種別では、泡・異物・カケ・ネ
ジ出・変形等の欠陥を検出する事が可能となる。
ジ出・変形等の欠陥を検出する事が可能となる。
【０００６】又、その場合欠陥部位の仕分け、欠陥種別
の仕分けを行う事により品質管理を向上させ、生産性を
高めることができる。
の仕分けを行う事により品質管理を向上させ、生産性を
高めることができる。
【０００７】
【作用】本発明によれば、瓶口部・ネジ部のビリ欠陥検
出において、網羅的に行う事ができ、かつ、繁忙なビン
種毎の型替作業を迅速に行う事ができる。又、同時に泡
・異物・カケ・ネジ出・変形欠陥等も検出でき、欠陥部
位の仕分け、欠陥種別の仕分けができる。これらのこと
によって瓶口部・ネジ部に関し、欠陥のない瓶を出荷す
ることができ、生産性を向上させ、品質管理面の向上が
計れる。
出において、網羅的に行う事ができ、かつ、繁忙なビン
種毎の型替作業を迅速に行う事ができる。又、同時に泡
・異物・カケ・ネジ出・変形欠陥等も検出でき、欠陥部
位の仕分け、欠陥種別の仕分けができる。これらのこと
によって瓶口部・ネジ部に関し、欠陥のない瓶を出荷す
ることができ、生産性を向上させ、品質管理面の向上が
計れる。
【０００８】
【実施例】次に図面を参照しながら本発明の実施例を説
明する。図１は、本発明の一実施例の概略で、投受光セ
ンサと瓶の配置と投受光エリアを示す説明図である。図
２は、検査治具上における投受光センサの詳細配置図で
ある。図３は、ハンドリングマシン上における検査治具
の取付側面図である。図４は、本発明の一実施例の概略
を示すシステムブロック図である。図５は、投受光タイ
ミングと検査エリアを示す。図６は、実機オンライン時
における検査処理タイミング図である。図７は、本発明
の一実施例のソフトウエアの概略を示すシステムのフロ
ーチャートである。図８は、実機オンラインじにおける
動作処理のフローチャートである。図９は、微分処理の
説明図である。図１０は、オンライン時における表示画
面である。
明する。図１は、本発明の一実施例の概略で、投受光セ
ンサと瓶の配置と投受光エリアを示す説明図である。図
２は、検査治具上における投受光センサの詳細配置図で
ある。図３は、ハンドリングマシン上における検査治具
の取付側面図である。図４は、本発明の一実施例の概略
を示すシステムブロック図である。図５は、投受光タイ
ミングと検査エリアを示す。図６は、実機オンライン時
における検査処理タイミング図である。図７は、本発明
の一実施例のソフトウエアの概略を示すシステムのフロ
ーチャートである。図８は、実機オンラインじにおける
動作処理のフローチャートである。図９は、微分処理の
説明図である。図１０は、オンライン時における表示画
面である。
【０００９】図１に示すように、検査位置に置かれた被
検査瓶７は回転方向８のように回転し、投光器配置位置
１には、複数の投光器を配置し、受光器配置位置２に
は、複数の受光器を配置、投光線３、受光線４のエリア
で投受光を行う。
検査瓶７は回転方向８のように回転し、投光器配置位置
１には、複数の投光器を配置し、受光器配置位置２に
は、複数の受光器を配置、投光線３、受光線４のエリア
で投受光を行う。
【００１０】図２に示すように、検査位置の被検査瓶７
はハンドリングマシン上のスターホイル１３上に位置
し、投受光のセンサは検査治具ヘッド９上に位置し、投
光器１１は１０コ、受光器１２は６４コ配置する。
はハンドリングマシン上のスターホイル１３上に位置
し、投受光のセンサは検査治具ヘッド９上に位置し、投
光器１１は１０コ、受光器１２は６４コ配置する。
【００１１】図３に示したのは、検査治具の側面図で、
高さ位置可変ノブ１４、左右方向位置可変ノブ１５、前
後方向位置可変ノブ１６により治具ヘッド９を被検査瓶
７に対して、検査最適位置に設定する。
高さ位置可変ノブ１４、左右方向位置可変ノブ１５、前
後方向位置可変ノブ１６により治具ヘッド９を被検査瓶
７に対して、検査最適位置に設定する。
【００１２】図１４に本システムのシステムブロック構
成図を示す。これを図５、図６を用いて説明すると、投
光レンズ２５、投光素子２６、投光ケーブル２７で構成
する投光器ＮＯ．１→ＮＯ．１０の投光タイミング２８
〜３７のようにコントロールロジック回路２１より制御
し、受光レンズ１７、受光素子１８、受光アンプ１９、
受光ケーブル２０で構成する受光器ＮＯ．１〜ＮＯ．６
４は、受光タイミング３８のタイミングで一投光毎に受
光スキャンを行い、投光器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０までそ
れぞれ受光スキャンを行う。コントロールロジック２１
により、受光スキャンのマルチプレックスタイミングを
制御し、マルチプレックスＡ／Ｄ変換回路２１により、
スキャンアナログ信号を切換え、Ａ／Ｄ変換を行い、コ
ントロールロジック２１を通して、ＣＰＵ２３に読み込
まれ、投受光一スキャン分のデータ採取が完了する。こ
の投受光スキャンを瓶一周分にわたって、データ採取処
理を行う。１スキャン目の受光タイミング３９、２スキ
ャン目の受光タイミング４０であり、その時の１スキャ
ン目の検査エリア４２、２スキャン目の検査エリア４
３、３スキャン目の検査エリア４４、Ｎスキャン目の検
査エリア４１は、被検査瓶７が回転方向８のように回転
する為、全周分にわたってデータ採取処理が行われる。
成図を示す。これを図５、図６を用いて説明すると、投
光レンズ２５、投光素子２６、投光ケーブル２７で構成
する投光器ＮＯ．１→ＮＯ．１０の投光タイミング２８
〜３７のようにコントロールロジック回路２１より制御
し、受光レンズ１７、受光素子１８、受光アンプ１９、
受光ケーブル２０で構成する受光器ＮＯ．１〜ＮＯ．６
４は、受光タイミング３８のタイミングで一投光毎に受
光スキャンを行い、投光器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０までそ
れぞれ受光スキャンを行う。コントロールロジック２１
により、受光スキャンのマルチプレックスタイミングを
制御し、マルチプレックスＡ／Ｄ変換回路２１により、
スキャンアナログ信号を切換え、Ａ／Ｄ変換を行い、コ
ントロールロジック２１を通して、ＣＰＵ２３に読み込
まれ、投受光一スキャン分のデータ採取が完了する。こ
の投受光スキャンを瓶一周分にわたって、データ採取処
理を行う。１スキャン目の受光タイミング３９、２スキ
ャン目の受光タイミング４０であり、その時の１スキャ
ン目の検査エリア４２、２スキャン目の検査エリア４
３、３スキャン目の検査エリア４４、Ｎスキャン目の検
査エリア４１は、被検査瓶７が回転方向８のように回転
する為、全周分にわたってデータ採取処理が行われる。
【００１３】これを、ハンドリングマシンとのタイミン
グで説明すると、マシン回転クロック４５の一周期分が
ピン１本のハンドリングとすると、検査中４６の期間内
に瓶全周分のデータ採取処理が行われ、次の瓶の検査中
までの間検査処理４８が行われ、検査中の先頭で検
査結果４７を出力する。この場合、不良瓶の時は排出信
号を出力する。
グで説明すると、マシン回転クロック４５の一周期分が
ピン１本のハンドリングとすると、検査中４６の期間内
に瓶全周分のデータ採取処理が行われ、次の瓶の検査中
までの間検査処理４８が行われ、検査中の先頭で検
査結果４７を出力する。この場合、不良瓶の時は排出信
号を出力する。
【００１４】図７にＣＰＵ部２３におけるソフトウェア
の処理の概要を示し、の説明を行うと、ＰＯＷＥＲ Ｏ
Ｎ ５８で初期設定１、５９の処理により、システム動
作の準備を行う。次に選択がオフライン６０の場合は、
オフラインの初期設定２、６２の処理によりオフライン
処理の準備を行い、処理選択を待つ。オフライン処理に
は、個別投光画面処理６３、欠陥検出モニタ処理６４、
ファイル処理６５があり、選択により実行する。又、選
択がオンラインの場合には、ＯＮ ＬＩＮＥ処理６１を
実行する。
の処理の概要を示し、の説明を行うと、ＰＯＷＥＲ Ｏ
Ｎ ５８で初期設定１、５９の処理により、システム動
作の準備を行う。次に選択がオフライン６０の場合は、
オフラインの初期設定２、６２の処理によりオフライン
処理の準備を行い、処理選択を待つ。オフライン処理に
は、個別投光画面処理６３、欠陥検出モニタ処理６４、
ファイル処理６５があり、選択により実行する。又、選
択がオンラインの場合には、ＯＮ ＬＩＮＥ処理６１を
実行する。
【００１５】図８にＯＮ ＬＩＮＥ処理６１のフローチ
ャートを示して説明すると、ＯＮＬＩＮＥスタート７０
により処理が開始され、検査中信号比較１、７１により
検査中４６を認識し、
ャートを示して説明すると、ＯＮＬＩＮＥスタート７０
により処理が開始され、検査中信号比較１、７１により
検査中４６を認識し、
【００１２】で説明した投受光のスキャンが開始され
る。その時ＣＰＵは受光データ採取処理７２により、一
投光器あたり６４受光データ、１スキャン１０投光器分
のデータを読み込み、ピン一周分以上、約１００スキャ
ン分のデータを読み込む作業を行う。又、その場合、検
査中４６を監視し、検査中信号比較２、７３終了迄受光
データ採取処理７２を行う。次に、データ並替処理７４
により、各投光器毎、受光器毎のデータを約１００スキ
ャンのデータとして、並替を行うと、１０×６４スキャ
ンのデータとして成立する。その後、それらのスキャン
データを各スキャン毎に微分処理７５を行うことによ
り、受光データの変化量を算出する。そして、しきい値
比較処理７６により設定されたしきい値を越えた場合
は、口部・ネジ部の欠陥として認識され、欠陥分類処理
７７により、投光器と受光器の関係によって、あらかじ
め決められた欠陥分類によって分類される。そして、検
査結果処理７８により、ＮＧ信号が出力され、被検査ピ
ンは排出され、画面表示処理７９でＮＧ検出を表示し、
ループ１、８０で次の被検査瓶を待つ。
る。その時ＣＰＵは受光データ採取処理７２により、一
投光器あたり６４受光データ、１スキャン１０投光器分
のデータを読み込み、ピン一周分以上、約１００スキャ
ン分のデータを読み込む作業を行う。又、その場合、検
査中４６を監視し、検査中信号比較２、７３終了迄受光
データ採取処理７２を行う。次に、データ並替処理７４
により、各投光器毎、受光器毎のデータを約１００スキ
ャンのデータとして、並替を行うと、１０×６４スキャ
ンのデータとして成立する。その後、それらのスキャン
データを各スキャン毎に微分処理７５を行うことによ
り、受光データの変化量を算出する。そして、しきい値
比較処理７６により設定されたしきい値を越えた場合
は、口部・ネジ部の欠陥として認識され、欠陥分類処理
７７により、投光器と受光器の関係によって、あらかじ
め決められた欠陥分類によって分類される。そして、検
査結果処理７８により、ＮＧ信号が出力され、被検査ピ
ンは排出され、画面表示処理７９でＮＧ検出を表示し、
ループ１、８０で次の被検査瓶を待つ。
【００１６】図９に微分処理と、しきい値比較処理の説
明の為の図を示し、説明すると、スキャンデータ８３
は、前記１０投光器、６４受光器のうちの一投光器、一
受光器における約１００スキャン分のデータの並替後の
データである。欠陥時レベルデータ６８、受光センサベ
ースデータ６６のような場合、ＣＰパラメータ６７は、
設定値１〜１０程度の数値で何スキャン前のデータと差
分をとるかを設定するパラメータである。スライスパラ
メータ６９は設定値５〜１００程度の数値で設定し、し
きい値として使用され、このしきい値を越えると欠陥と
判定される。
明の為の図を示し、説明すると、スキャンデータ８３
は、前記１０投光器、６４受光器のうちの一投光器、一
受光器における約１００スキャン分のデータの並替後の
データである。欠陥時レベルデータ６８、受光センサベ
ースデータ６６のような場合、ＣＰパラメータ６７は、
設定値１〜１０程度の数値で何スキャン前のデータと差
分をとるかを設定するパラメータである。スライスパラ
メータ６９は設定値５〜１００程度の数値で設定し、し
きい値として使用され、このしきい値を越えると欠陥と
判定される。
【００１７】図１０に、ＯＮ ＬＩＮＥ時の画面を示し
説明すると、トータル処理本数８６、欠陥本数８５、良
品本数８４をモニターし、欠陥本数８５の内分として、
横ビリ本数８７、縦ビリ本数８８を表示し、さらに、欠
陥検出の内分を投受光器毎に表示される。投光器番号８
９、受光器番号９０、欠陥検出比較９１は製瓶における
欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上流にフィ
ードバックする事により、欠陥原因を究明するために重
要なデータとなる。
説明すると、トータル処理本数８６、欠陥本数８５、良
品本数８４をモニターし、欠陥本数８５の内分として、
横ビリ本数８７、縦ビリ本数８８を表示し、さらに、欠
陥検出の内分を投受光器毎に表示される。投光器番号８
９、受光器番号９０、欠陥検出比較９１は製瓶における
欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上流にフィ
ードバックする事により、欠陥原因を究明するために重
要なデータとなる。
【発明の効果】本発明によれば、製瓶工場において、瓶
口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させる事ができ、又、
ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀れる。又、欠
陥種別の情報を適格に表現することにより、欠陥原因の
分析と対策を迅速に講ずる事ができる。これらによっ
て、生産性の向上、省力化を推進することができる。
口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させる事ができ、又、
ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀れる。又、欠
陥種別の情報を適格に表現することにより、欠陥原因の
分析と対策を迅速に講ずる事ができる。これらによっ
て、生産性の向上、省力化を推進することができる。
１． 投光器配置位置 ２． 受光器 〃 ３． 投光線 ４． 受光線 ５． 瓶回転受ローラー ６． 瓶回転ローラー ７． 被検査瓶 ８． 瓶回転方向 ９． 治具ヘッド １０． 欠 １１． 投光器 １２． 受光器 １３． スターホイル １４． 高さ可変ツマミ １５． 左右可変ツマミ １６． 前後方向可変ツマミ １７． 受光レンズ １８． 受光素子 １９． 受光アンプ ２０． 受光ケーブル ２１． マルチプレックスＡ／Ｄ変換回路 ２２． コントロールロジック回路 ２３． ＣＰＵ部 ２４． 表示部 ２５． 投光レンズ ２６． 投光素子 ２７． 投光ケーブル ２８〜３７．投光器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０ 投光タイミング ３８． 受光タイミング ３９． １スキャン目の受光タイミング ４０． ２スキャン目の 〃 ４１． Ｎスキャン目の検査エリア ４２． １スキャン目の 〃 ４３． ２スキャン目の 〃 ４４． ３スキャン目の 〃 ４５． マシン回転クロック ４６． 検査中 ４７． 検査結果 ４８． 検査処理 ４９． 瓶静止回転タイミング ５０． 瓶静止回転終了タイミング ５１． 検査結果出力タイミング ５２． ５３． ５４． ５５． ５６． ５７． ５８． ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９． 初期設定１ ６０． ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１． ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２． 初期設定２ ６３． 個別投光画面処理 ６４． 欠陥検出モニタ処理 ６５． ファイル処理 ６６． 受光センサベースデータ ６７． ＣＰパラメータ ６８． 欠陥時レベルデータ ６９． スライスパラメータ ７０． ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１． 検査中信号比較１ ７２． 受光データ採取処理 ７３． 検査中信号比較２ ７４． データ並替処理 ７５． 微分処理 ７６． しきい値比較処理 ７７． 欠陥分類処理 ７８． 検査結果処理 ７９． 画面表示処理 ８０． ループ１ ８１． ループ２ ８２． ループ３ ８３． スキャンデータ ８４． 良品本数 ８５． 欠陥本数 ８６． トータル処理本数 ８７． 横ビリ本数 ８８． 縦ビリ本数 ８９． 投光器番号 ９０． 受光器番号 ９１． 欠陥検出比率
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成８年９月２７日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】追加
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】 投受光センサと瓶の配置と投受光エリアを示
す説明図。
す説明図。
【図２】 投受光センサの詳細配置図。
【図３】 検査治具の取付側面図。
【図４】 本発明の一実施例のシステムブロック図。
【図５】 投受光タイミングと検査エリアを示す説明
図。
図。
【図６】 実機オンライン時における検査処理タイミン
グ図。
グ図。
【図７】 本発明の一実施例のソフトウェアの概略を示
すシステムのフローチャート。
すシステムのフローチャート。
【図８】 実機オンライン時における動作処理のフロー
チャート。
チャート。
【図９】 微分処理の説明図。
【図１０】 オンライン時における表示画面。
【符号の説明】 １ 投光器配置位置 ２ 受光器配置位置 ３ 投光線 ４ 受光線 ５ 瓶回転受ローラー ６ 瓶回転ローラー ７ 被検査瓶 ８ 瓶回転方向 ９ 治具ヘッド １０ 欠 １１ 投光器 １２ 受光器 １３ スターホイル １４ 高さ可変ツマミ １５ 左右可変ツマミ １６ 前後方向可変ツマミ １７ 受光レンズ １８ 受光素子 １９ 受光アンプ ２０ 受光ケーブル ２１ マルチプレックスＡ／Ｄ変換回路 ２２ コントロールロジック回路 ２３ ＣＰＵ部 ２４ 表示部 ２５ 投光レンズ ２６ 投光素子 ２７ 投光ケーブル ２８〜３７ 投光器ＮＯ，１〜ＮＯ．１０投光タイミン
グ ３８ 受光タイミング ３９ １スキャン目の受光タイミング ４０ ２スキャン目の受光タイミング ４１ Ｎスキャン目の検査エリア ４２ １スキャン目の検査エリア ４３ ２スキャン目の検査エリア ４４ ３スキャン目の検査エリア ４５ マシン回転クロック ４６ 検査中 ４７ 検査結果 ４８ 検査処理 ４９ 瓶静止回転タイミング ５０ 瓶静止回転終了タイミング ５１ 検査結果出力タイミング ５８ ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９ 初期設定 ６０ ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１ ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２ 初期設定２ ６３ 個別投光画面処理 ６４ 欠陥検出モニタ処理 ６５ ファイル処理 ６６ 受光センサベースデータ ６７ ＣＰパラメータ ６８ 欠陥時レベルデータ ６９ スライスパラメータ ７０ ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１ 検査中信号比較１ ７２ 受光データ採取処理 ７３ 検査中信号比較２ ７４ データ並替処理 ７５ 微分処理 ７６ しきい値比較処理 ７７ 欠陥分類処理 ７８ 検査結果処理 ７９ 画面表示処理 ８０ ループ１ ８１ ループ２ ８２ ループ３ ８３ スキャンデータ ８４ 良品本数 ８５ 欠陥本数 ８６ トータル処理本数 ８７ 横ビリ本数 ８８ 縦ビリ本数 ８９ 投光器番号 ９０ 受光器番号 ９１ 欠陥検出比率
グ ３８ 受光タイミング ３９ １スキャン目の受光タイミング ４０ ２スキャン目の受光タイミング ４１ Ｎスキャン目の検査エリア ４２ １スキャン目の検査エリア ４３ ２スキャン目の検査エリア ４４ ３スキャン目の検査エリア ４５ マシン回転クロック ４６ 検査中 ４７ 検査結果 ４８ 検査処理 ４９ 瓶静止回転タイミング ５０ 瓶静止回転終了タイミング ５１ 検査結果出力タイミング ５８ ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９ 初期設定 ６０ ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１ ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２ 初期設定２ ６３ 個別投光画面処理 ６４ 欠陥検出モニタ処理 ６５ ファイル処理 ６６ 受光センサベースデータ ６７ ＣＰパラメータ ６８ 欠陥時レベルデータ ６９ スライスパラメータ ７０ ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１ 検査中信号比較１ ７２ 受光データ採取処理 ７３ 検査中信号比較２ ７４ データ並替処理 ７５ 微分処理 ７６ しきい値比較処理 ７７ 欠陥分類処理 ７８ 検査結果処理 ７９ 画面表示処理 ８０ ループ１ ８１ ループ２ ８２ ループ３ ８３ スキャンデータ ８４ 良品本数 ８５ 欠陥本数 ８６ トータル処理本数 ８７ 横ビリ本数 ８８ 縦ビリ本数 ８９ 投光器番号 ９０ 受光器番号 ９１ 欠陥検出比率
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】段落番号００１７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１７】図１０に、ＯＮ ＬＩＮＥ時の画面を示
し、説明すると、トータル処理本数８６、欠陥本数８
５、良品本数８４をモニターし、欠陥本数８５の内分と
して、横ビリ本数８７、縦ビリ本数８８を表示し、さら
に、欠陥検出の内分を投受光器毎に表示される。投光器
番号８９、受光器番号９０、欠陥検出比較９１は、製瓶
における欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上
にフィードバックする事により、欠陥原因を究明するた
めに重要なデータとなる。
し、説明すると、トータル処理本数８６、欠陥本数８
５、良品本数８４をモニターし、欠陥本数８５の内分と
して、横ビリ本数８７、縦ビリ本数８８を表示し、さら
に、欠陥検出の内分を投受光器毎に表示される。投光器
番号８９、受光器番号９０、欠陥検出比較９１は、製瓶
における欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上
にフィードバックする事により、欠陥原因を究明するた
めに重要なデータとなる。
【発明の効果】本発明によれば、製瓶工場において、瓶
口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させる事ができ、又、
ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀れる。又、欠
陥種別の情報を適格に表現することにより、欠陥原因の
分析と対策を迅速に講ずる事ができる。これらによっ
て、生産性の向上、省力化を推進することができる。
口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させる事ができ、又、
ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀れる。又、欠
陥種別の情報を適格に表現することにより、欠陥原因の
分析と対策を迅速に講ずる事ができる。これらによっ
て、生産性の向上、省力化を推進することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 日向 邦男 神奈川県横浜市港南区野庭町665−１−126 野庭団地
Claims (5)
- 【請求項１】瓶口部・ネジ部ビリ検査装置において、検
査位置に置かれた被検査瓶を公知の回転手段により回転
させ、瓶口の口部及びネジ部を中心として周囲に２〜２
０コのＬＥＤ投光器と、２〜１００コのフォト受光器を
ドーム状に配置し、瓶口部・ネジ部ビリ検査を行う瓶口
部・ネジ部ビリ検査装置。 - 【請求項２】請求項１に記載の瓶口部・ネジ部ビリ検査
装置において、前記ＬＥＤ投光器の数をＮ、フォト受光
器の数をＭとすると、前記被検査瓶の各検査ポイントに
対してＮ×Ｍの回数の検査を行う瓶口部・ネジ部ビリ検
査装置。 - 【請求項３】請求項１、２いずれかに記載の瓶口部・ネ
ジ部ビリ検査装置において、前記ＬＥＤ投光器とフォト
受光器を固定あるいは半固定で配置し、公知の製瓶にお
ける型替え時には良品サンプルに対しては、前記ドーム
状に配置されたＬＥＤ投光器とフォト受光器を所定の位
置に設定し、前記各検査ポイントに対して、Ｎ×Ｍの回
数の検査を瓶口部・ネジ部全周にわたって実施した時、
良品となるよう感度を自動設定を行い、不良サンプルに
対しては、前記自動設定状態で瓶口部・ネジ部ビリ欠陥
の検出を行う瓶口部・ネジ部ビリ検査装置。 - 【請求項４】請求項１、２、３いずれかに記載の瓶口部
・ネジ部ビリ検査装置において、公知の欠陥種別である
瓶口部・ネジ部における泡・異物・カケ・ネジ出・変形
の欠陥を検出する事ができる瓶口部・ネジ部ビリ検査装
置。 - 【請求項５】請求項１、２、３、４いずれかに記載の瓶
口部・ネジ部ビリ検査装置において、欠陥部位の仕分
け、欠陥種別の仕分けを行い、表示及びモニターするこ
とができる瓶口部・ネジ部ビリ検査装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7271693A JPH09119902A (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
| EP96114488A EP0763727B1 (en) | 1995-09-13 | 1996-09-12 | A check detector in neck and finished portion of molded bottle |
| DE69608055T DE69608055T2 (de) | 1995-09-13 | 1996-09-12 | Vorrichtung zum Detektieren von Fehlern in Hals- und Fertigteile einer geformten Flasche |
| US08/713,348 US5900945A (en) | 1995-09-13 | 1996-09-13 | Check detector in neck and finished portion of molded bottle |
| CN96111555A CN1107865C (zh) | 1995-09-13 | 1996-09-13 | 模制瓶子的颈部和瓶口部分的检测器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7271693A JPH09119902A (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09119902A true JPH09119902A (ja) | 1997-05-06 |
Family
ID=17503534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7271693A Withdrawn JPH09119902A (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5900945A (ja) |
| EP (1) | EP0763727B1 (ja) |
| JP (1) | JPH09119902A (ja) |
| CN (1) | CN1107865C (ja) |
| DE (1) | DE69608055T2 (ja) |
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| JP2008107347A (ja) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Emhart Glass Sa | ガラス容器を検査する装置 |
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| FR2401415A1 (fr) * | 1977-08-24 | 1979-03-23 | Emballage Ste Gle Pour | Inspection et controle d'objets transparents |
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- 1995-09-13 JP JP7271693A patent/JPH09119902A/ja not_active Withdrawn
-
1996
- 1996-09-12 DE DE69608055T patent/DE69608055T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-09-12 EP EP96114488A patent/EP0763727B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-09-13 CN CN96111555A patent/CN1107865C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-09-13 US US08/713,348 patent/US5900945A/en not_active Expired - Fee Related
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| CN1157411A (zh) | 1997-08-20 |
| US5900945A (en) | 1999-05-04 |
| EP0763727A1 (en) | 1997-03-19 |
| EP0763727B1 (en) | 2000-05-03 |
| DE69608055D1 (de) | 2000-06-08 |
| DE69608055T2 (de) | 2000-10-05 |
| CN1107865C (zh) | 2003-05-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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