JPH10160676A

JPH10160676A - 米粒検査装置

Info

Publication number: JPH10160676A
Application number: JP31634396A
Authority: JP
Inventors: Noriaki Fujiwara; 憲明藤原; Satoshi Kakuuchi; 敏格内
Original assignee: Matsushita Electric Works Ltd
Current assignee: Panasonic Electric Works Co Ltd
Priority date: 1996-11-27
Filing date: 1996-11-27
Publication date: 1998-06-19

Abstract

(57)【要約】【課題】米粒の種類を細かく分類することのできる米
粒検査装置を提供する。【解決手段】本発明の米粒検査装置は、米粒を載置す
る米粒載置板５と、米粒載置板の一面に対向配設した透
過光照射部１ａと、米粒載置板の他の面に対向配設し、
透過光検査領域内の米粒の透過光を撮像する透過光撮像
部１ｂと、透過光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を
表す画素の塊内の長手方向の複数領域内の各平均輝度を
求める多箇所平均輝度算出部１ｄと、多箇所平均輝度算
出部の出力する複数の平均輝度のばらつきによって部分
着色粒か否かを判別する部分着色粒判別部６ａとを有し
て構成してある。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、玄米等に対して、
正常品である整粒と、不良品である青未熟粒、乳白粒、
茶米、白死米、青死米、着色粒等との比率を検査する米
粒検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、玄米等の検査は、母集団から一定
量の米粒を抜き出して、該抜き出した米粒について人間
による目視検査を行っていた。そして、該目視検査にお
いては、作業者の熟練と勘により正常品と不良品の比率
を見極めていた。

【０００３】また、他の技術として、米粒に光を照射し
て反射光を撮像し、該撮像画像から画像処理によって米
粒を分類する検査装置があり、該装置によって自動的に
検査を行うものがあった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
目視検査によっては、検査基準の定量化ができないた
め、作業者の熟練度によって検査基準が一定せず、ある
作業者が正常品と判断しても他の作業者が検査すれば不
良品と判断する場合もあり、正常品と判断された米粒の
品質が一定しない恐れがあるという問題点があった。ま
た、目視検査は作業者にとって負担の大きい作業である
という問題点もあった。

【０００５】一方、後者の反射光の撮像画像の画像処理
による検査装置では、前記問題点を解決することができ
るものの、整粒、青未熟粒、乳白粒、茶米、白死米、青
死米、着色粒等の違いを全て反射光によって区別するこ
とができないので、米粒の種類を細かく分類することが
困難であるという問題点があった。

【０００６】本発明は、上記問題点を改善するために成
されたもので、その目的とするところは、米粒の種類を
細かく分類することのできる米粒検査装置を提供するこ
とにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題を解
決するために、請求項１記載の発明にあっては、米粒を
載置する米粒載置板と、米粒載置板の一面に対向配設し
た透過光照射部と、米粒載置板の他の面に対向配設し、
透過光検査領域内の米粒の透過光を撮像する透過光撮像
部と、透過光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を表す
画素の塊内の長手方向の複数領域内の各平均輝度を求め
る多箇所平均輝度算出部と、多箇所平均輝度算出部の出
力する複数の平均輝度のばらつきによって部分着色粒か
否かを判別する部分着色粒判別部とを有するものであ
る。

【０００８】請求項２記載の発明にあっては、透過光撮
像部の撮像した撮像画像内の米粒を表す画素の塊内の長
手方向の一部領域内の平均輝度を求める単一平均輝度算
出部と、単一平均輝度算出部の出力する平均輝度によっ
て米粒の種類を分別する透過光色分別部とを有すること
を特徴とするものである。

【０００９】請求項３記載の発明にあっては、前記米粒
載置板の他の面に対向配設した反射光照射部と、米粒載
置板の他の面に対向配設し、反射光検査領域内の米粒の
反射光を撮像する反射光撮像部と、反射光撮像部の撮像
した撮像画像内の米粒を表す画素の塊内の長手方向の一
部領域内の平均輝度を求める反射光画像処理部と、反射
光画像処理部の出力する平均輝度によって米粒の種類を
分別する反射光色分別部とを有することを特徴とするも
のである。

【００１０】請求項４記載の発明にあっては、米粒載置
板の他の面に対向配設し、胴割米検査領域内の米粒を撮
像する胴割米検査撮像部と、胴割米検査撮像部の撮像画
像に基づいて胴割の有無を検出する胴割検出部と、胴割
検出部の検出する胴割の有無により胴割米であるか否か
を判別する胴割米判別部とを有することを特徴とするも
のである。

【００１１】請求項５記載の発明にあっては、前記胴割
米検査撮像部は、ラインセンサであることを特徴とする
ものである。

【００１２】請求項６記載の発明にあっては、前記米粒
載置板は、透過光検査領域、反射光検査領域、胴割米検
査領域に順次検査対象の米粒を搬送することを特徴とす
るものである。

【００１３】請求項７記載の発明にあっては、透過光撮
像部と反射光撮像部と胴割米検査撮像部との内の少なく
とも２つの撮像部を兼用して共通撮像部と成し、該兼用
した撮像部の各検査領域内の米粒の像を共通撮像部に導
くミラーを設けたことを特徴とするものである。

【００１４】

【発明の実施の形態】本発明にかかる米粒検査装置の第
一実施の形態を図１〜図９に基づいて、第二実施の形態
を図１０、第三実施の形態を図１１に基づいて説明す
る。

【００１５】〔第一実施の形態〕図１は、米粒検査装置
の構成図である。図２は米粒検査装置の各部の配置を説
明する平面図である。図３は米粒検査装置の透過光検査
部を示す側面図である。図４は米粒の画像を示すイメー
ジ図である。図５は米粒検査装置の反射光検査部を示す
側面図である。図６は米粒検査装置の胴割米検査部を示
す側面図である。図７は胴割米の割れを示す説明図であ
る。図８はラインセンサによって整粒を撮像したときの
細長画像の合計のイメージ図である。図９はラインセン
サによって胴割米を撮像したときの細長画像の合計のイ
メージ図である。

【００１６】図１に示す米粒検査装置は、米粒の品質を
検査するものである。米粒の品質の種類は、まず表面の
一部の色が他の部分の色と異なる部分着色粒と、全体が
同色の米粒に分類することができる。そして、全体が同
色の米粒はさらに、表面の色や光の透過度により、整
粒、青未熟粒、乳白粒、茶米、白死米、青死米、着色粒
に分類される。一方、米粒の表面の傷具合によって米粒
を分類すると、表面に傷のない整粒、表面に割れを生じ
ている胴割米がある。

【００１７】図１、図２において、米粒検査装置は、透
過光検査部１、反射光検査部２、胴割米検査部３、米粒
選別部４、米粒載置板５、主判断部６、主制御部７とを
有して構成されている。

【００１８】米粒載置板５は、光を透過する透明部材で
形成された円形板体であって、米粒Ｒを載置するための
凹部５ａを有している。

【００１９】光透過検査部１は、図１、図３に示すよう
に、透過光照射部１ａ，１ａ、透過光撮像部１ｂ、透過
光画像処理部１ｃとから構成されている。

【００２０】透過光照射部１ａ，１ａは、白色光源であ
って、米粒Ｒの載置された米粒載置板５の下方に設けら
れており、米粒載置板５を透過して米粒Ｒを下方から照
射するものである。透過光照射部１ａ，１ａの光軸は、
直接に光が透過光撮像部１ｂに入らないように、透過光
撮像部１ｂの撮像軸とずらして設けてある。

【００２１】透過光撮像部１ｂは、ＣＣＤカメラ等で構
成したものであって、米粒載置板５の上方に配設してあ
り、透過光検査領域内の米粒Ｒの透過光による画像を撮
像する。即ち、透過光撮像部１ｂと透過光照射部１ａ，
１ａとの間に米粒Ｒが位置しており、透過光撮像部１ｂ
の撮像する画像は、米粒Ｒを透過する光に対応した輝度
の画素により構成されたものである。なお、該画像は例
えば５１２×５１２の画素で構成されている。

【００２２】透過光画像処理部１ｃは、多箇所平均輝度
算出部１ｄと単一平均輝度算出部１ｅとよりなる。多箇
所平均輝度算出部１ｄは、図４に示すように、透過光画
像Ａ内の長手方向を縦とする米粒Ｒを表す画素の塊Ｂ内
の上部の矩形領域Ｃ１，略中央部の矩形領域Ｃ２，下部
の矩形領域Ｃ３の各領域内の画素の輝度を各々平均して
平均輝度Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３を求める。そして、多箇所平
均輝度算出部１ｄは、該平均輝度Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３を主
判断部６に出力する。

【００２３】単一平均輝度算出部１ｅは、図４に示すよ
うに、透過光画像Ａ内の米粒Ｒを表す画素の塊Ｂ内の略
中央部の矩形領域Ｃ２の各領域内の画素の輝度を平均し
て平均輝度Ｄ４を求める。そして、単一平均輝度算出部
１ｅは、該平均輝度Ｄ４を主判断部６に出力する。

【００２４】なお、米粒Ｒの米粒載置板５への載置方法
によっては、米粒の載置方向が常に一定とならず、図４
に示すように米粒が直立した画像とならない場合もある
ので、そのような場合にはパターンマッチングなどによ
り予め適宜画像を回転させておくようにすればよい。

【００２５】反射光検査部２は、図１、図５に示すよう
に、反射光照射部２ａ，２ａ、艶消し塗装板２ｂ、特殊
赤色光学フィルタ２ｃ、反射光撮像部２ｄ、反射光画像
処理部２ｅとから構成されている。

【００２６】反射光照射部２ａ，２ａは、白色光源であ
って、米粒Ｒの載置された米粒載置板５の上方に設けら
れており、米粒載置板５上方より米粒Ｒを照射するもの
である。

【００２７】艶消し塗装板２ｂは、反射光撮像部２ｄの
撮像軸と直交して、米粒載置板５の下面と対面するよう
に設けてある。

【００２８】特殊赤色フィルタ２ｃは、所定範囲の波長
の光のみを通過させ、外乱光を排除するものである。

【００２９】反射光撮像部２ｄは、ＣＣＤカメラ等で構
成したものであって、米粒載置板５の上方に配設してあ
り、反射光検査領域内の米粒Ｒの反射光による画像を撮
像する。即ち、反射光撮像部２ｄ、特殊赤色フィルタ２
ｃ、米粒Ｒ、艶消し塗装板２ｂの順序で配列されている
ので、反射光撮像部２ｄの撮像する画像は、米粒Ｒに反
射する光に対応した輝度の画素により構成されたもので
ある。なお、該画像は例えば５１２×５１２の画素で構
成されている。

【００３０】反射光画像処理部２ｅは、単一平均輝度算
出部１ｅと同様の処理により、反射光画像内の米粒Ｒを
表す画素の塊内の略中央部の矩形領域内の画素の輝度を
平均して平均輝度Ｄ５を求め、該平均輝度Ｄ５を主判断
部６に出力する。

【００３１】胴割米検査部３は、図１、図６に示すよう
に、胴割米検査撮像部に相当するラインセンサ３ａ、胴
割検出部３ｂとから構成されている。

【００３２】ラインセンサ３ａは、米粒載置板５の上方
に配設してあり、胴割米検査領域内の米粒Ｒを撮像する
ものであって、０．１秒等の所定時間間隔で、ラインセ
ンサ３ａの下方の細長領域（例えば、０．１ｍｍ×５ｍ
ｍなど）を、例えば１画素×４０９６画素の細長画像と
して撮像するものである。一般的に、ラインセンサ３ａ
の１ラインあたりの解像度は、ＣＣＤカメラ等の解像度
に較べて高い。

【００３３】また、ラインセンサ３ａは、下方に位置す
る米粒Ｒに対して距離一定を保ちつつ、米粒Ｒの先端を
撮像する位置から、米粒Ｒの下端を撮像する位置まで一
定速度で移動して、該移動期間中に、前記所定時間間隔
で細長画像を撮像する。従って、該移動期間にラインセ
ンサ３ａの撮像した細長画像を合計すると、米粒全体を
表す画像となる。図８は、胴割れのない米粒についての
ラインセンサ３ａの撮像した細長画像を立体的に表示し
たものであって、ｘ軸は図７に示す米粒Ｒの横方向に対
応し、ｙ軸は図７に示す米粒Ｒの縦方向即ちラインセン
サ３ａの移動方向に対応し、ｚ軸は各点のデータの値に
対応する。

【００３４】胴割検出部３ｂは、ラインセンサ３ａの撮
像する細長画像に基づいて胴割米であるか否かを判断す
る。即ち、ラインセンサ３ａの撮像する細長画像は、画
素が白っぽいほど高い値を示し、一方、図７に示すよう
に米粒Ｒの胴割れＳ部分は、他の部分より白っぽく見え
る。ラインセンサ３ａが胴割米を撮像した場合には、図
９に示すように、胴割れＳの部分だけが他よりも高い値
となって現れる。従って、胴割検出部３ｂは、該他より
も高い値の部分が存在するか否かにより胴割米であるか
否かを判断し、胴割米であれば胴割米検知信号Ｓ１を、
胴割米でない場合には検知無信号Ｓ２を主判断部６に出
力する。

【００３５】主判断部６は、透過光検査部１から入力さ
れる平均輝度Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４、反射光検査部２
から入力される平均輝度Ｄ５、胴割米検査部３から入力
される胴割米検知信号Ｓ１又は検知無信号Ｓ２、により
米粒の種類Ｋを判別する。

【００３６】主判断部６は、部分着色粒判別部６ａ，透
過光色分別部６ｂ，反射光色分別部６ｃ、胴割米判別部
６ｄよりなる。

【００３７】部分着色粒判別部６ａは、平均輝度Ｄ１，
Ｄ２，Ｄ３の値のばらつきが、所定範囲外であれば部分
着色粒であると判断し、該ばらつきが所定範囲内であれ
ば部分着色粒ではないと判断する。

【００３８】透過光色分別部６ｂは、平均輝度Ｄ４の値
により米粒を、Ａ群（整粒）、Ｂ群（青未熟粒、乳白
粒、茶米）、Ｃ群（白死米、青死米、着色粒）の三群に
分別する。

【００３９】反射光色分別部６ｃは、平均輝度Ｄ５によ
り、Ｂ群を更に青未熟粒、乳白粒、茶米に分別し、Ｃ群
を更に白死米、青死米、着色粒に分別する。

【００４０】胴割米判別部６ｄは、全ての米粒について
胴割米であるか否かを判断し、胴割米検知信号Ｓ１を受
け取った場合には、検査の対象となっている米粒は胴割
米であると判断し、検知無信号Ｓ２を受け取ったときは
検査の対象となっている米粒は胴割米でないと判断す
る。

【００４１】主判断部６は、部分着色粒判別部６ａ，透
過光色分別部６ｂ，反射光色分別部６ｃ、胴割米判別部
６ｄの判断結果を総合して、検査対象の米粒の種類Ｋを
判別して、該米粒の種類Ｋを主制御部７に出力する。

【００４２】主制御部７は、米粒Ｒが透過光検査部１、
反射光検査部２、胴割米検査部３、の順序で検査される
ように駆動部８によって米粒載置板５を回転駆動させる
とともに、検査の終了した米粒Ｒを前記主判断部６の判
断した米粒の種類Ｋによって米粒選別部４に選別させ
る。米粒選別部４は米粒を種類によって選別するもので
あり、例えば米粒の種類Ｋに対応した方向から米粒Ｒに
空気を吹き付けて、該風圧でもって定められた方向に米
粒を吹き飛ばすものである。そして、米粒の吹き飛ばさ
れる方向に、米粒を受けとめる容器を米粒の種類Ｋの数
だけ設けておけば、該容器に溜まる米粒の数により、各
米粒の種類Ｋの全体に対する比率を算出できる。

【００４３】以上のようにして構成した米粒検査装置は
次のように動作する。まず、不図示の米供給部により、
一粒の米粒Ｒが米粒載置板５の凹部５ａ上に載置され、
主制御部７が駆動部８を駆動して、該米粒Ｒが透過光撮
像部１ｂの下方に位置するように載置台５を回動させ
る。

【００４４】次に、透過光撮像部１ｂが米粒Ｒを撮像し
て、透過光画像処理部１ｃの多箇所平均輝度算出部１ｄ
が該撮像画像に基づいて平均輝度Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３を主
判断部６に出力し、単一平均輝度算出部１ｅが該撮像画
像に基づいて平均輝度Ｄ４を主判断部６に出力する。

【００４５】透過光検査部１における検査が終了する
と、主制御部６は駆動部８を駆動して、該米粒Ｒが反射
光撮像部２ｄの下方に位置するように載置台５を回動さ
せる。

【００４６】反射光撮像部２ｄは米粒Ｒを撮像して、反
射光画像処理部２ｅは該撮像画像に基づいて平均輝度Ｄ
５を判断部６に出力する。

【００４７】反射光検査部２における検査が終了する
と、主制御部６は駆動部８を駆動して、該米粒Ｒがライ
ンセンサ３ａの下方に位置するように載置台５を回動さ
せる。

【００４８】胴割検出部３ｂは、ラインセンサ３ａの出
力する細長画像に基づいて、胴割米検知信号Ｓ１又は検
知無信号Ｓ２を主判断部６に出力する。

【００４９】主判断部６は、以上の平均輝度Ｄ１、Ｄ
２，Ｄ３，Ｄ４，Ｄ５と、胴割米検知信号Ｓ１又は検知
無信号Ｓ２とに基づいて、米粒の種類Ｋを判断して、該
米粒の種類Ｋを主制御部７に出力する。

【００５０】主制御部７は駆動部８を駆動して、該米粒
Ｒが米粒選別部４付近の所定位置に位置するように載置
台５を回動させる。そして、米粒選別部４に米粒の種類
Ｋに応じて米粒Ｒを選別させる。

【００５１】以上のようにして、米粒の種類Ｋを判断し
て選別するので、青未熟粒、乳白粒、茶米、白死米、青
死米、着色粒等の細かい種類まで判別することができ
る。

【００５２】なお、胴割米検査部３においては、ライン
センサ３ａ自体が移動して米粒Ｒを撮像するとして説明
しているが、ラインセンサ３ａを固定しておいて、米粒
載置板５の移動によって、米粒Ｒを撮像するようにして
もよい。この場合、ラインセンサ３ａを移動させる手段
を設ける必要がないので米検査装置の構成を簡略化する
ことができる。

【００５３】また、胴割れの検査をラインセンサを用い
て行うこととして説明しているが、ＣＣＤカメラ等で構
成してもよい。この場合、ラインセンサ３ａの場合のよ
うな移動は必要なく、１回の撮像で米粒全体の画像を撮
像することができるので検査速度を向上させることがで
きる。

【００５４】また、本実施の形態では、一つの米粒につ
いて順々に検査するものとして説明しているが、米粒載
置板３に３粒の米粒を載置して、３粒を並列に処理する
ようにしてもよい。この場合、常に各検査部が動作する
こととなり、上記第一実施の形態で説明したところの米
粒検査装置の検査速度の３倍の速度でもって米粒を検査
することができる。

【００５５】〔第二実施の形態〕図１０は米粒検査装置
の構成図である。図１１は他の米粒検査装置の構成図で
ある。なお、図１０においては前述の第一実施の形態で
説明したところの米粒検査装置と同等の箇所には同じ符
号を付してあるので、同等の箇所の詳細な説明は省略す
る。

【００５６】図１に示す本実施の形態の米粒検査装置
が、前述の第一実施の形態で説明したところの米粒検査
装置と異なり特徴となるのは次の構成である。

【００５７】即ち、透過光撮像部１ｂと反射光撮像部２
ｄとを設けずして、米粒載置板５の中央部分上方に共通
撮像部９を設け、透過光検査部１には透過光の検査を行
う位置にある米粒Ｒの像を共通撮像部９に導くミラー１
０ａ，１０ｂを設け、反射光検査部２には反射光の検査
を行う位置にある米粒Ｒの像を共通撮像部９に導くミラ
ー１１ａ，ハーフミラー１１ｂを設けた構成である。

【００５８】ミラー１０ａは、第一実施の形態で説明し
たところの透過光撮像部１ｂの撮像軸と４５度の角度を
成して交わるように、且つ反射光の光軸がミラー１０ｂ
に向くように配設されており、米粒Ｒの像をミラー１０
ｂに導く。ミラー１０ｂはミラー１０ａの反射光の光軸
に対して４５度の角度を成して交わるように、且つ反射
光の光軸が共通撮像部９の撮像軸と一致するように配設
されている。

【００５９】ミラー１１ａは、第一実施の形態で説明し
たところの反射光撮像部２ｄの撮像軸と４５度の角度を
成して交わるように、且つ反射光の光軸がハーフミラー
１１ｂに向くように配設されており、米粒Ｒの像をハー
フミラー１１ｂに導く。ミハーフラー１１ｂはミラー１
１ａの反射光の光軸に対して４５度の角度を成して交わ
るように、且つ反射光の光軸が共通撮像部９の撮像軸と
一致するように配設されている。また、ハーフミラー１
１ｂは、ミラー１１ａより入射する光は共通撮像部９に
向けて反射し、ミラー１０ｂから共通撮像部９に向かう
光に対しては反射及び遮蔽しない。

【００６０】また、第一実施の形態で説明したところの
で、透過光画像処理部１ｃと反射光画像処理部２ｅと
は、ともに共通撮像部９に接続されている。

【００６１】以上のようにして構成された米粒検査装置
は次のように動作する。まず、不図示の米供給部によ
り、一粒の米粒Ｒが米粒載置板５の凹部５ａ上に載置さ
れ、主制御部７が駆動部８を駆動して、該米粒Ｒがミラ
ーａの下方に位置するように載置台５を回動させる。

【００６２】米粒Ｒの像はミラー１０ａ及びミラー１０
ｂに反射して共通撮像部９に撮像され、透過光画像処理
部１ｃの多箇所平均輝度算出部１ｄが該撮像画像に基づ
いて平均輝度Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３を主判断部６に出力し、
単一平均輝度算出部１ｅが該撮像画像に基づいて平均輝
度Ｄ４を主判断部６に出力する。

【００６３】透過光検査部１における検査が終了する
と、主制御部６は駆動部８を駆動して、該米粒Ｒがミラ
ー１１ａの下方に位置するように載置台５を回動させ
る。

【００６４】米粒Ｒの像はミラー１１ａ及びハーフミラ
ー１１ｂに反射して共通撮像部９に撮像され、反射光画
像処理部２ｅは該撮像画像に基づいて平均輝度Ｄ５を判
断部６に出力する。

【００６５】反射光検査部２における検査が終了する
と、主制御部６は駆動部８を駆動して、該米粒Ｒがライ
ンセンサ３ａの下方に位置するように載置台５を回動さ
せる。

【００６６】胴割検出部３ｂは、ラインセンサ３ａの出
力する細長画像に基づいて、胴割米検知信号Ｓ１又は検
知無信号Ｓ２を主判断部６に出力する。

【００６７】主判断部６は、以上の平均輝度Ｄ１、Ｄ
２，Ｄ３，Ｄ４，Ｄ５と、胴割米検知信号Ｓ１又は検知
無信号Ｓ２とに基づいて、米粒の種類Ｋを判断して、該
米粒の種類Ｋを主制御部７に出力する。

【００６８】主制御部７は駆動部８を駆動して、該米粒
Ｒが米粒選別部４付近の所定位置に位置するように載置
台５を回動させる。そして、米粒選別部４に米粒の種類
Ｋに応じて米粒Ｒを選別させる。

【００６９】以上のようにして、米粒の種類Ｋを判断し
て選別するので、青未熟粒、乳白粒、茶米、白死米、青
死米、着色粒等の細かい種類まで判別することができ
る。

【００７０】この構成の米粒検査装置にあっては、透過
光による米粒の画像と反射光による米粒の画像とを一つ
の共通撮像部９で撮像しているので、第一実施の形態で
説明した米粒検査装置に較べて撮像部を一つ減らすこと
ができる。従って、米検査装置のコストを削減できると
共に、電気系統の故障の原因を減少させることができ
る。

【００７１】なお、図１１に示すように、ラインセンサ
３ａを設けずして、胴割米検査部３には胴割米の検査を
行う位置にある米粒Ｒの像を共通撮像部９に導くミラー
１２ａ，ハーフミラー１２ｂを設けた構成としてもよ
い。この米検査装置にあっては、透過光による米粒の画
像と反射光による米粒の画像と更に胴割米検査のための
画像とを一つの共通撮像部９で撮像しているので、更に
撮像部を一つ減らすことができる。この場合には、胴割
検出部３ｂはラインセンサの細長画像ではなく、米粒全
体を撮像した画像に基づいて胴割れの検出を行う。

【００７２】なお、第一及び第二実施の形態では、米粒
載置板５は、円形板体であるとして説明しているが、円
形板体に限られるものではない。米粒載置板は米粒を各
検査部に順に搬送するものであればよいので、例えばベ
ルトコンベアのような帯状のものであっても良い。

【００７３】

【発明の効果】本発明の米粒検査装置は上述のように構
成してあるから、請求項１記載の発明にあっては、透過
光撮像部が透過光検査領域内の米粒の透過光を撮像し、
多箇所平均輝度算出部が透過光撮像部の撮像した撮像画
像内の米粒を表す画素の塊内の長手方向の複数領域内の
各平均輝度を求め、部分着色粒判別部が多箇所平均輝度
算出部の出力する複数の平均輝度のばらつきによって部
分着色粒か否かを判別するので、検査対象の米粒が部分
着色粒であるか否かを判別することのできる米粒検査装
置を提供できるという効果を奏する。

【００７４】請求項２記載の発明にあっては、請求項１
記載の発明の効果に加えて、単一平均輝度算出部が透過
光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を表す画素の塊内
の長手方向の一部領域内の平均輝度を求め、透過光色分
別部が単一平均輝度算出部の出力する平均輝度によって
米粒の種類を分別するので、詳しく米粒の種類を判断す
ることのできる米粒検査装置を提供できるという効果を
奏する。

【００７５】請求項３記載の発明にあっては、請求項１
又は請求項２記載の発明の効果に加えて、反射光撮像部
が反射光検査領域内の米粒の反射光を撮像し、反射光画
像処理部が反射光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を
表す画素の塊内の長手方向の一部領域内の平均輝度を求
め、反射光色分別部が反射光画像処理部の出力する平均
輝度によって米粒の種類を分別するので、より詳しく米
粒の種類を判別することのできる米粒検査装置を提供で
きるという効果を奏する。

【００７６】請求項４記載の発明にあっては、請求項１
乃至請求項３記載の発明の効果に加えて、胴割米検査撮
像部が胴割米検査領域内の米粒を撮像し、胴割検出部が
胴割米検査撮像部の撮像画像に基づいて胴割の有無を検
出し、胴割米判別部が該胴割の有無により胴割米である
か否かを判別するので、更に詳しく米粒の種類を判別す
ることのできる米粒検査装置を提供できるという効果を
奏する。

【００７７】請求項５記載の発明にあっては、前記胴割
米検査撮像部は、ラインセンサにより構成しているの
で、１ラインあたりの解像度が高く、よってより正確に
胴割米であるか否かを判別することのできる米粒検査装
置を提供できるという効果を奏する。

【００７８】請求項６記載の発明にあっては、請求項４
又は請求項５記載の発明の効果に加えて、米粒載置板が
米粒を透過光検査領域、反射光検査領域、胴割米検査領
域に順次検査対象の米粒を搬送するので、手間を要せず
して次々と米粒の検査をすることができ、よって米粒を
素早く検査することのできる米粒検査装置を提供できる
という効果を奏する。

【００７９】請求項７記載の発明にあっては、透過光撮
像部と反射光撮像部と胴割米検査撮像部との内の少なく
とも２つの撮像部を兼用して共通撮像部と成し、該兼用
した撮像部の各検査領域内の米粒の像を共通撮像部に導
くミラーを設けたので、撮像部を少なくとも一つ減らす
ことができ、よって装置を簡素化することができると共
にコストを押さえることのできる米粒検査装置を提供で
きるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態の米粒検査装置の構成図
である。

【図２】米粒検査装置の各部の配置を説明する平面図で
ある。

【図３】米粒検査装置の透過光検査部を示す側面図であ
る。

【図４】米粒の画像を示すイメージ図である。

【図５】米粒検査装置の反射光検査部を示す側面図であ
る。

【図６】米粒検査装置の胴割米検査部を示す側面図であ
る。

【図７】胴割米の割れを示す説明図である。

【図８】ラインセンサによって整粒を撮像したときの細
長画像の合計のイメージ図である。

【図９】ラインセンサによって胴割米を撮像したときの
細長画像の合計のイメージ図である。

【図１０】本発明の他の実施の形態の米粒検査装置の構
成図である。

【図１１】本発明の他の実施の形態の米粒検査装置の構
成図である。

【符号の説明】

１ａ透過光照射部１ｂ透過光撮像部１ｄ多箇所平均輝度算出部１ｅ単一平均輝度算出部２ａ反射光照射部２ｄ反射光撮像部２ｅ反射光画像処理部３ａ胴割米検査撮像部３ｂ胴割検出部５米粒載置板６ａ部分着色粒判別部６ｂ透過光色分別部６ｃ反射光色分別部６ｄ胴割米判別部９共通撮像部１０ａミラー１０ｂミラー１１ａミラー１１ｂミラー１２ａミラー１２ｂミラーＲ米粒

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】米粒を載置する米粒載置板と、米粒載置
板の一面に対向配設した透過光照射部と、米粒載置板の
他の面に対向配設し、透過光検査領域内の米粒の透過光
を撮像する透過光撮像部と、透過光撮像部の撮像した撮
像画像内の米粒を表す画素の塊内の長手方向の複数領域
内の各平均輝度を求める多箇所平均輝度算出部と、多箇
所平均輝度算出部の出力する複数の平均輝度のばらつき
によって部分着色粒か否かを判別する部分着色粒判別部
とを有する米粒検査装置。
【請求項２】透過光撮像部の撮像した撮像画像内の米
粒を表す画素の塊内の長手方向の一部領域内の平均輝度
を求める単一平均輝度算出部と、単一平均輝度算出部の
出力する平均輝度によって米粒の種類を分別する透過光
色分別部とを有することを特徴とする請求項１記載の米
粒検査装置。
【請求項３】前記米粒載置板の他の面に対向配設した
反射光照射部と、米粒載置板の他の面に対向配設し、反
射光検査領域内の米粒の反射光を撮像する反射光撮像部
と、反射光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を表す画
素の塊内の長手方向の一部領域内の平均輝度を求める反
射光画像処理部と、反射光画像処理部の出力する平均輝
度によって米粒の種類を分別する反射光色分別部とを有
することを特徴とする請求項１又は請求項２記載の米粒
検査装置。
【請求項４】米粒載置板の他の面に対向配設し、胴割
米検査領域内の米粒を撮像する胴割米検査撮像部と、胴
割米検査撮像部の撮像画像に基づいて胴割の有無を検出
する胴割検出部と、胴割検出部の検出する胴割の有無に
より胴割米であるか否かを判別する胴割米判別部とを有
することを特徴とする請求項１乃至請求項３記載の米粒
検査装置。
【請求項５】前記胴割米検査撮像部は、ラインセンサ
であることを特徴とする請求項４記載の米粒検査装置。
【請求項６】前記米粒載置板は、透過光検査領域、反
射光検査領域、胴割米検査領域に順次検査対象の米粒を
搬送することを特徴とする請求項４又は５記載の米粒検
査装置。
【請求項７】透過光撮像部と反射光撮像部と胴割米検
査撮像部との内の少なくとも２つの撮像部を兼用して共
通撮像部と成し、該兼用した撮像部の各検査領域内の米
粒の像を共通撮像部に導くミラーを設けたことを特徴と
する請求項４乃至請求項６記載の米粒検査装置。