JP3394800B2 - ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法 - Google Patents
ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はガラス壜の内部欠陥検
査装置およびその検査方法に関し、更に詳しくは、検査
ステージ上でガラス壜を回転させながら、当該ガラス壜
の壜胴内に形成されているひび割れのような所謂”び
り”や、”しわ”を検出する検査装置およびその検査方
法に関するものである。
査装置およびその検査方法に関し、更に詳しくは、検査
ステージ上でガラス壜を回転させながら、当該ガラス壜
の壜胴内に形成されているひび割れのような所謂”び
り”や、”しわ”を検出する検査装置およびその検査方
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ガラス壜のガラス内部の欠陥には、例え
ば、斜めびりおよび水平びりからなる「横びり」や、
「縦びり」といった”びり”と、斜めしわおよび水平し
わからなる「横しわ（一般しわ）」や、「プレスしわ」
といった”しわ”とが存在する。
ば、斜めびりおよび水平びりからなる「横びり」や、
「縦びり」といった”びり”と、斜めしわおよび水平し
わからなる「横しわ（一般しわ）」や、「プレスしわ」
といった”しわ”とが存在する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前者の「横び
り」や「縦びり」、あるいは、後者の「横しわ（一般し
わ）」や「プレスしわ」の各種欠陥を光学的に検査する
ために各種形態の欠陥検査装置が提案されているけれど
も、これら欠陥検査装置は、「横びり」、「縦びり」、
「横しわ（一般しわ）」および「プレスしわ」の４つの
欠陥のうち、一つだけを検査できる単機能もの、あるい
は、多くて二つの欠陥を検査できる機能を備える程度で
あって、一台の装置で上記４つの各種欠陥の検査を行え
る多機能の装置がなかった。したがって、従来では、各
種欠陥に応じた欠陥検査装置を装備させた検査ステージ
をガラス壜の移送経路に多数配置して、多数の装置で分
担して各種の欠陥を検査させるようにしている。これで
は、欠陥検査ラインが長くなって装置の設置スペースを
広く要する上に、シビアな制御を必要とする多数の欠陥
検査装置を検査ステージに備えさせることから、設備コ
ストが非常に高くつく点で改善の余地があった。
り」や「縦びり」、あるいは、後者の「横しわ（一般し
わ）」や「プレスしわ」の各種欠陥を光学的に検査する
ために各種形態の欠陥検査装置が提案されているけれど
も、これら欠陥検査装置は、「横びり」、「縦びり」、
「横しわ（一般しわ）」および「プレスしわ」の４つの
欠陥のうち、一つだけを検査できる単機能もの、あるい
は、多くて二つの欠陥を検査できる機能を備える程度で
あって、一台の装置で上記４つの各種欠陥の検査を行え
る多機能の装置がなかった。したがって、従来では、各
種欠陥に応じた欠陥検査装置を装備させた検査ステージ
をガラス壜の移送経路に多数配置して、多数の装置で分
担して各種の欠陥を検査させるようにしている。これで
は、欠陥検査ラインが長くなって装置の設置スペースを
広く要する上に、シビアな制御を必要とする多数の欠陥
検査装置を検査ステージに備えさせることから、設備コ
ストが非常に高くつく点で改善の余地があった。
【０００４】この発明は、上記問題に鑑みてなしたもの
で、その目的は、欠陥となる”びり”および”しわ”
を、その光学検査に必要な光源と光検出器を巧みに利用
した合理的な技術によって、一台で全て検査できるガラ
ス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法を提供する
ことにある。
で、その目的は、欠陥となる”びり”および”しわ”
を、その光学検査に必要な光源と光検出器を巧みに利用
した合理的な技術によって、一台で全て検査できるガラ
ス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法を提供する
ことにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために、この発明のガラス壜の内部欠陥検査装置
は、ガラス壜の移送経路途中に配置された検査ステージ
と、この検査ステージに設けられガラス壜を載置する回
転テーブルと、ガラス壜手前の前記検査ステージ上に配
設され、ガラス壜を回転させながら、このガラス壜の壜
中心を通して反対側の壜胴に斜め上方から指向性を有す
る光を照射する第１光源と、この第１光源の左右両側に
振り分け状に配置され、前記反対側の壜胴に斜め上方か
ら指向性を有する光をそれぞれ照射する第２光源および
第３光源と、前記反対側の壜胴内に形成されているびり
からの全反射光および／またはしわからの屈折光を受光
する受光器と、前記各光源による照射および前記受光器
の受光のタイミングを前記受光器が全反射光および屈折
光を選択的に受光するよう制御させる制御手段とからな
ることを特徴とするものである。
成するために、この発明のガラス壜の内部欠陥検査装置
は、ガラス壜の移送経路途中に配置された検査ステージ
と、この検査ステージに設けられガラス壜を載置する回
転テーブルと、ガラス壜手前の前記検査ステージ上に配
設され、ガラス壜を回転させながら、このガラス壜の壜
中心を通して反対側の壜胴に斜め上方から指向性を有す
る光を照射する第１光源と、この第１光源の左右両側に
振り分け状に配置され、前記反対側の壜胴に斜め上方か
ら指向性を有する光をそれぞれ照射する第２光源および
第３光源と、前記反対側の壜胴内に形成されているびり
からの全反射光および／またはしわからの屈折光を受光
する受光器と、前記各光源による照射および前記受光器
の受光のタイミングを前記受光器が全反射光および屈折
光を選択的に受光するよう制御させる制御手段とからな
ることを特徴とするものである。
【０００６】また、この発明は、別の観点から、ガラス
壜の移送経路途中に配置された検査ステージに位置する
回転テーブル上に載置されたガラス壜を回転させ、ガラ
ス壜の壜中心を通して反対側の壜胴に斜め上方から指向
性を有する光を照射する第１光源、第２光源および第３
光源の点灯タイミングおよび受光器のデータ取り込みタ
イミングを前記受光器が全反射光および屈折光を選択的
に受光するよう制御しながら、ガラス壜手前から前記反
対側の壜胴に少なくともこれら光源の１つを点灯させて
前記反対側の壜胴内に形成されているびりからの全反射
光および／またはしわからの屈折光を前記受光器にて選
択的に受光することからなることを特徴とするガラス壜
の内部欠陥検査方法を提供する。
壜の移送経路途中に配置された検査ステージに位置する
回転テーブル上に載置されたガラス壜を回転させ、ガラ
ス壜の壜中心を通して反対側の壜胴に斜め上方から指向
性を有する光を照射する第１光源、第２光源および第３
光源の点灯タイミングおよび受光器のデータ取り込みタ
イミングを前記受光器が全反射光および屈折光を選択的
に受光するよう制御しながら、ガラス壜手前から前記反
対側の壜胴に少なくともこれら光源の１つを点灯させて
前記反対側の壜胴内に形成されているびりからの全反射
光および／またはしわからの屈折光を前記受光器にて選
択的に受光することからなることを特徴とするガラス壜
の内部欠陥検査方法を提供する。
【０００７】この発明における第１，２，３の各光源
は、ガラス壜の壜中心を通して反対側の壜胴に斜め上方
から指向性を有する光を照射するためのものであって、
複数のＬＥＤとレンズとの組み合わせからなるものを挙
げることができる。レンズを使用するのはＬＥＤ群から
発光した光に指向性を持たせ、例えば、図１、図８に示
すように、第１光源Ａをガラス壜１の壜中心Ｐを通し
て、該光源Ａ側の壜胴部分２とは反対側の壜胴部分３に
斜め上方から確実に照射できるようにするためである。
特に、２つの光源（例えば、第２光源Ｂ，第３光源Ｃ）
を同時に壜胴部分３に照射するのに指向性を有する光を
使用するのは有効である（図４参照）。
は、ガラス壜の壜中心を通して反対側の壜胴に斜め上方
から指向性を有する光を照射するためのものであって、
複数のＬＥＤとレンズとの組み合わせからなるものを挙
げることができる。レンズを使用するのはＬＥＤ群から
発光した光に指向性を持たせ、例えば、図１、図８に示
すように、第１光源Ａをガラス壜１の壜中心Ｐを通し
て、該光源Ａ側の壜胴部分２とは反対側の壜胴部分３に
斜め上方から確実に照射できるようにするためである。
特に、２つの光源（例えば、第２光源Ｂ，第３光源Ｃ）
を同時に壜胴部分３に照射するのに指向性を有する光を
使用するのは有効である（図４参照）。
【０００８】また、前記ＬＥＤのような半導体発光素子
ではなくてハロゲンランプ等の一般照明具も拡散照明源
として用いることが可能である。しかし、照射光に指向
性を持たせるために、照射光を制御したり、発熱やコン
パクト化の点、更には、故障率の点で一般照明具より半
導体発光素子が有利なことは勿論である。
ではなくてハロゲンランプ等の一般照明具も拡散照明源
として用いることが可能である。しかし、照射光に指向
性を持たせるために、照射光を制御したり、発熱やコン
パクト化の点、更には、故障率の点で一般照明具より半
導体発光素子が有利なことは勿論である。
【０００９】この発明における受光器Ｔは、例えば、Ｌ
ＥＤ群を使用した第１，２，３光源Ａ，Ｂ，Ｃとの組み
合わせでは、これら光源Ａ，Ｂ，Ｃの配置と同様に、横
３列に振り分けて配置された全反射光および屈折光を取
り込む第１，２および３カメラ群ａ，ｂ，ｃからなり
（図１参照）、各カメラ群ａ，ｂ，ｃが全反射光および
屈折光を選択的に受光するとともに、更に、各カメラ群
ａ，ｂ，ｃが受光光量を電気信号に変換するフォトダイ
オードアレイからなる半導体受光素子群Ｓを備えたもの
が好ましく、更に、図７に示すように、例えば、カメラ
群ａにおいて、半導体受光素子群の受光面２３ａが、壜
胴１ａ内に形成されているびりおよびしわによる上方へ
の全反射光および屈折光をそれぞれ受光できるように斜
め下方に向いて設置されているものを挙げることができ
る。すなわち、フォトダイオードの受光面２３ａは、上
述したように、壜胴表面の所定領域１ｂ〜１ｇからの全
反射光または屈折光が受光できるような角度α1 〜α6
にセットされるのが好ましい。なお、図７において、最
下位の受光面２３ａだけは視野を斜め下方に向けて設置
されている上記受光面とは異なり、視野を斜め上方に向
けて設置されている。このカメラ群ａは、例えば、８台
のカメラをＸ方向（図７、図８参照）に配置したものか
らなり、カメラ群ｂ，ｃはそれぞれ、６台のカメラをＸ
方向に配置したものからなる。
ＥＤ群を使用した第１，２，３光源Ａ，Ｂ，Ｃとの組み
合わせでは、これら光源Ａ，Ｂ，Ｃの配置と同様に、横
３列に振り分けて配置された全反射光および屈折光を取
り込む第１，２および３カメラ群ａ，ｂ，ｃからなり
（図１参照）、各カメラ群ａ，ｂ，ｃが全反射光および
屈折光を選択的に受光するとともに、更に、各カメラ群
ａ，ｂ，ｃが受光光量を電気信号に変換するフォトダイ
オードアレイからなる半導体受光素子群Ｓを備えたもの
が好ましく、更に、図７に示すように、例えば、カメラ
群ａにおいて、半導体受光素子群の受光面２３ａが、壜
胴１ａ内に形成されているびりおよびしわによる上方へ
の全反射光および屈折光をそれぞれ受光できるように斜
め下方に向いて設置されているものを挙げることができ
る。すなわち、フォトダイオードの受光面２３ａは、上
述したように、壜胴表面の所定領域１ｂ〜１ｇからの全
反射光または屈折光が受光できるような角度α1 〜α6
にセットされるのが好ましい。なお、図７において、最
下位の受光面２３ａだけは視野を斜め下方に向けて設置
されている上記受光面とは異なり、視野を斜め上方に向
けて設置されている。このカメラ群ａは、例えば、８台
のカメラをＸ方向（図７、図８参照）に配置したものか
らなり、カメラ群ｂ，ｃはそれぞれ、６台のカメラをＸ
方向に配置したものからなる。
【００１０】この発明では、各カメラ群ａ，ｂ，ｃが全
反射光および屈折光を選択的に受光するとは、例えば、
以下のことを意味する。すなわち、第１，２および３光
源Ａ，Ｂ，Ｃの点灯タイミングおよびカメラ群ａ，ｂ，
ｃのデータ取り込みタイミングが、（イ）第２光源Ｂお
よび第３光源Ｃの同時点灯により第１カメラ群ａで屈折
光を受光し（図４参照）、続いて、（ロ）第２光源Ｂの
単独点灯により第２カメラ群ｂで全反射光を受光し（図
５参照）、その後、（ハ）第１光源Ａの単独点灯により
全反射光および屈折光をそれぞれ第１，２，３カメラ群
ａ，ｂ，ｃで受光し（図６参照）、しかる後、（ニ）第
３光源Ｃの単独点灯により全反射光を第３カメラ群ｃで
受光することを意味する。
反射光および屈折光を選択的に受光するとは、例えば、
以下のことを意味する。すなわち、第１，２および３光
源Ａ，Ｂ，Ｃの点灯タイミングおよびカメラ群ａ，ｂ，
ｃのデータ取り込みタイミングが、（イ）第２光源Ｂお
よび第３光源Ｃの同時点灯により第１カメラ群ａで屈折
光を受光し（図４参照）、続いて、（ロ）第２光源Ｂの
単独点灯により第２カメラ群ｂで全反射光を受光し（図
５参照）、その後、（ハ）第１光源Ａの単独点灯により
全反射光および屈折光をそれぞれ第１，２，３カメラ群
ａ，ｂ，ｃで受光し（図６参照）、しかる後、（ニ）第
３光源Ｃの単独点灯により全反射光を第３カメラ群ｃで
受光することを意味する。
【００１１】具体的には、図９において、（イ）第２光
源Ｂおよび第３光源Ｃの同時点灯により第１カメラ群ａ
でプレスしわを検出し、続いて、（ロ）第２光源Ｂの単
独点灯により第２カメラ群ｂで縦びりを検出し、その
後、（ハ）第１光源Ａの単独点灯により、第２カメラ群
ｂの上半分および下半分でそれぞれ斜めびりおよび斜め
しわを検出し、かつ、第１カメラ群ａの上半分１１およ
び下半分１２（図７参照）でそれぞれ水平びりおよび水
平しわを検出し、更に、第３カメラ群ｃの上半分および
下半分でそれぞれ斜めびりおよび斜めしわを検出し、し
かる後、（ニ）第３光源Ｃの単独点灯により第３カメラ
群ｃで縦びりを検出できる。
源Ｂおよび第３光源Ｃの同時点灯により第１カメラ群ａ
でプレスしわを検出し、続いて、（ロ）第２光源Ｂの単
独点灯により第２カメラ群ｂで縦びりを検出し、その
後、（ハ）第１光源Ａの単独点灯により、第２カメラ群
ｂの上半分および下半分でそれぞれ斜めびりおよび斜め
しわを検出し、かつ、第１カメラ群ａの上半分１１およ
び下半分１２（図７参照）でそれぞれ水平びりおよび水
平しわを検出し、更に、第３カメラ群ｃの上半分および
下半分でそれぞれ斜めびりおよび斜めしわを検出し、し
かる後、（ニ）第３光源Ｃの単独点灯により第３カメラ
群ｃで縦びりを検出できる。
【００１２】この発明における制御手段は、上述したよ
うに、第１，２，３光源による照射ならびに受光器の受
光のタイミングを前記受光器が全反射光および屈折光を
選択的に受光するよう制御させるものである。
うに、第１，２，３光源による照射ならびに受光器の受
光のタイミングを前記受光器が全反射光および屈折光を
選択的に受光するよう制御させるものである。
【００１３】すなわち、この発明では、第１，２，３光
源と全反射光および屈折光を検出する受光器とのプログ
ラム制御による照射・受光によって、「横びり」や「縦
びり」、あるいは、「横しわ（一般しわ）」や「プレス
しわ」の各種欠陥が一箇所で光学的に検査できる。
源と全反射光および屈折光を検出する受光器とのプログ
ラム制御による照射・受光によって、「横びり」や「縦
びり」、あるいは、「横しわ（一般しわ）」や「プレス
しわ」の各種欠陥が一箇所で光学的に検査できる。
【００１４】この制御手段は、図１に示すように、制御
盤１２、オペレータコンソール１３およびベースマシン
１４から主としてなる。具体的には、第１，２，３光源
Ａ，Ｂ，Ｃには、図９に示すように、時分割パルス点灯
が施されており、制御盤１２により第１，２，３光源
Ａ，Ｂ，Ｃおよびカメラ群ａ，ｂ，ｃが同期制御されて
いる。
盤１２、オペレータコンソール１３およびベースマシン
１４から主としてなる。具体的には、第１，２，３光源
Ａ，Ｂ，Ｃには、図９に示すように、時分割パルス点灯
が施されており、制御盤１２により第１，２，３光源
Ａ，Ｂ，Ｃおよびカメラ群ａ，ｂ，ｃが同期制御されて
いる。
【００１５】まず、カメラ群ａ，ｂ，ｃの機能について
簡単に説明する。カメラ群ａ，ｂ，ｃはそれぞれ、図２
に示すように、レンズ１５、半導体受光素子群Ｓ、デー
タ入力部１６、画像処理プリプロセッサ１７、画像処理
プロセッサ１８、シリアル通信Ｉ／Ｆ部１９からなり、
各受光素子群Ｓは、図１０に示すように、ガラス壜の縦
方向（コラム方向）（図７で示すＸ方向）に、壜上寸法
で例えば３ｍｍ（あるいは１ｍｍ）ピッチで、８０（あ
るいは１２０）エレメント２０に配列されている。
簡単に説明する。カメラ群ａ，ｂ，ｃはそれぞれ、図２
に示すように、レンズ１５、半導体受光素子群Ｓ、デー
タ入力部１６、画像処理プリプロセッサ１７、画像処理
プロセッサ１８、シリアル通信Ｉ／Ｆ部１９からなり、
各受光素子群Ｓは、図１０に示すように、ガラス壜の縦
方向（コラム方向）（図７で示すＸ方向）に、壜上寸法
で例えば３ｍｍ（あるいは１ｍｍ）ピッチで、８０（あ
るいは１２０）エレメント２０に配列されている。
【００１６】データ入力部１６は、受光素子群Ｓの出力
から受光光量に応じたデジタル出力をつくる。そして、
画像処理プリプロセッサ１７で、データ入力部１６の出
力から３（あるいは１）画面分の画像データをつくり、
画像モニター出力を作成する。続いて、画像処理プロセ
ッサ１８では、画像データから”びり”や、”しわ”の
有無を判定し、シリアル通信Ｉ／Ｆ部１９を通じて制御
盤１２と通信する。この際、画像処理プリプロセッサ１
７、データ入力部１６の制御が行われる。
から受光光量に応じたデジタル出力をつくる。そして、
画像処理プリプロセッサ１７で、データ入力部１６の出
力から３（あるいは１）画面分の画像データをつくり、
画像モニター出力を作成する。続いて、画像処理プロセ
ッサ１８では、画像データから”びり”や、”しわ”の
有無を判定し、シリアル通信Ｉ／Ｆ部１９を通じて制御
盤１２と通信する。この際、画像処理プリプロセッサ１
７、データ入力部１６の制御が行われる。
【００１７】一方、制御盤１２には、マイコン・ゲート
アレイ等のシステムクロックＣＬＫと、光源Ａ，Ｂ，Ｃ
の点灯タイミングおよび受光器Ｔのデータ取り込みタイ
ミング示す光源クロックＥA ，ＥB と、ガラス壜１の”
びり”や”しわ”が検出可能であることを示す検出信号
を出力する検出ゲートＧＴとが入力される（図１参
照）。この際、ガラス壜１の最大周速は、例えば、４２
００ｍｍ／ｓｅｃで１ｍｍごとに”びり”や”しわ”が
検出される。この検出された”びり”は、図１０で符号
３０〜３２に示され、”しわ”は、図１０で符号３３、
３４で示される。
アレイ等のシステムクロックＣＬＫと、光源Ａ，Ｂ，Ｃ
の点灯タイミングおよび受光器Ｔのデータ取り込みタイ
ミング示す光源クロックＥA ，ＥB と、ガラス壜１の”
びり”や”しわ”が検出可能であることを示す検出信号
を出力する検出ゲートＧＴとが入力される（図１参
照）。この際、ガラス壜１の最大周速は、例えば、４２
００ｍｍ／ｓｅｃで１ｍｍごとに”びり”や”しわ”が
検出される。この検出された”びり”は、図１０で符号
３０〜３２に示され、”しわ”は、図１０で符号３３、
３４で示される。
【００１８】
【実施例】以下、この発明の実施例について説明する。
なお、それによってこの発明は限定を受けるものではな
い。図１〜図８において、ガラス壜１の内部欠陥検査装
置は、ガラス壜１の移送経路４０（図３参照）途中に配
置された検査ステージ４１と、この検査ステージに設け
られガラス壜１を載置する回転テーブル（図示せず）
と、ガラス壜手前の検査ステージ４１上に配設され、ガ
ラス壜１を回転させながら、このガラス壜の壜中心Ｐを
通して反対側の壜胴３に斜め上方から指向性を有する光
を照射する第１光源Ａと、この第１光源の左右両側に振
り分け状に配置され、前記反対側の壜胴３に斜め上方か
ら指向性を有する光をそれぞれ照射する第２光源Ｂおよ
び第３光源Ｃと、前記反対側の壜胴３内に形成されてい
るびりからの全反射光および／またはしわからの屈折光
を受光する受光器Ｔと、各光源Ａ，Ｂ，Ｃによる照射お
よび受光器Ｔの受光のタイミングを前記受光器Ｔが全反
射光および屈折光を選択的に受光するよう制御させる制
御手段とから主としてなる。
なお、それによってこの発明は限定を受けるものではな
い。図１〜図８において、ガラス壜１の内部欠陥検査装
置は、ガラス壜１の移送経路４０（図３参照）途中に配
置された検査ステージ４１と、この検査ステージに設け
られガラス壜１を載置する回転テーブル（図示せず）
と、ガラス壜手前の検査ステージ４１上に配設され、ガ
ラス壜１を回転させながら、このガラス壜の壜中心Ｐを
通して反対側の壜胴３に斜め上方から指向性を有する光
を照射する第１光源Ａと、この第１光源の左右両側に振
り分け状に配置され、前記反対側の壜胴３に斜め上方か
ら指向性を有する光をそれぞれ照射する第２光源Ｂおよ
び第３光源Ｃと、前記反対側の壜胴３内に形成されてい
るびりからの全反射光および／またはしわからの屈折光
を受光する受光器Ｔと、各光源Ａ，Ｂ，Ｃによる照射お
よび受光器Ｔの受光のタイミングを前記受光器Ｔが全反
射光および屈折光を選択的に受光するよう制御させる制
御手段とから主としてなる。
【００１９】更に、受光器Ｔが、横３列に振り分けて配
置された全反射光および屈折光を取り込む第１，２およ
び３カメラ群ａ，ｂ，ｃからなり、各カメラ群ａ，ｂ，
ｃが全反射光および屈折光を選択的に受光するととも
に、更に、各カメラ群ａ，ｂ，ｃが受光光量を電気信号
に変換するフォトダイオードアレイからなる半導体受光
素子群Ｓを備え、該半導体受光素子群の受光面２３ａ
が、壜胴内に形成されているびりおよびしわによる上方
への全反射光および屈折光をそれぞれ受光できるように
斜め下方に向いて設置されている。
置された全反射光および屈折光を取り込む第１，２およ
び３カメラ群ａ，ｂ，ｃからなり、各カメラ群ａ，ｂ，
ｃが全反射光および屈折光を選択的に受光するととも
に、更に、各カメラ群ａ，ｂ，ｃが受光光量を電気信号
に変換するフォトダイオードアレイからなる半導体受光
素子群Ｓを備え、該半導体受光素子群の受光面２３ａ
が、壜胴内に形成されているびりおよびしわによる上方
への全反射光および屈折光をそれぞれ受光できるように
斜め下方に向いて設置されている。
【００２０】以下、検査方法について簡単に説明する。
図９に光源Ａ，Ｂ，Ｃの点灯タイミング示す。これによ
り、（イ）第２光源Ｂおよび第３光源Ｃの同時点灯によ
り第１カメラ群ａでプレスしわを検出し（図４参照）、
続いて、（ロ）第２光源Ｂの単独点灯により第２カメラ
群ｂで縦びりを検出し（図５参照）、その後、（ハ）図
６に示すように、第１光源Ａの単独点灯により、第２カ
メラ群ｂの上半分および下半分でそれぞれ斜めびりおよ
び斜めしわを検出し、かつ、第１カメラ群ａの上半分１
１および下半分１２（図７参照）でそれぞれ水平びりお
よび水平しわを検出し、更に、第３カメラ群ｃの上半分
および下半分でそれぞれ斜めびりおよび斜めしわを検出
し、しかる後、（ニ）第３光源Ｃの単独点灯により第３
カメラ群ｃで縦びりを検出できる。
図９に光源Ａ，Ｂ，Ｃの点灯タイミング示す。これによ
り、（イ）第２光源Ｂおよび第３光源Ｃの同時点灯によ
り第１カメラ群ａでプレスしわを検出し（図４参照）、
続いて、（ロ）第２光源Ｂの単独点灯により第２カメラ
群ｂで縦びりを検出し（図５参照）、その後、（ハ）図
６に示すように、第１光源Ａの単独点灯により、第２カ
メラ群ｂの上半分および下半分でそれぞれ斜めびりおよ
び斜めしわを検出し、かつ、第１カメラ群ａの上半分１
１および下半分１２（図７参照）でそれぞれ水平びりお
よび水平しわを検出し、更に、第３カメラ群ｃの上半分
および下半分でそれぞれ斜めびりおよび斜めしわを検出
し、しかる後、（ニ）第３光源Ｃの単独点灯により第３
カメラ群ｃで縦びりを検出できる。
【００２１】このように本実施例では、「横びり」や
「縦びり」、あるいは、「横しわ（一般しわ）」や「プ
レスしわ」の各種欠陥が一箇所で光学的に検査できる。
「縦びり」、あるいは、「横しわ（一般しわ）」や「プ
レスしわ」の各種欠陥が一箇所で光学的に検査できる。
【００２２】また、本実施例の検査装置Ｊを、図３に示
すように、”あわ”を検査する検査装置Ｑと組み合わせ
て使用すると、設備コストと省スペース化の点で有利で
ある。すなわち、図３において、ガラス壜１の移送経路
４０に、３つの光源Ａ，Ｂ，Ｃ、３つのカメラ群ａ，
ｂ，ｃからなる本検査装置Ｊと、平あわ欠陥検査装置Ｑ
とを装備した検査ステージ４１をコスト的に安価にかつ
省スペースの下で設定できるものであり、しかも、少な
い人手で欠陥検査を多点にわたって行うことができる。
すように、”あわ”を検査する検査装置Ｑと組み合わせ
て使用すると、設備コストと省スペース化の点で有利で
ある。すなわち、図３において、ガラス壜１の移送経路
４０に、３つの光源Ａ，Ｂ，Ｃ、３つのカメラ群ａ，
ｂ，ｃからなる本検査装置Ｊと、平あわ欠陥検査装置Ｑ
とを装備した検査ステージ４１をコスト的に安価にかつ
省スペースの下で設定できるものであり、しかも、少な
い人手で欠陥検査を多点にわたって行うことができる。
【００２３】
【発明の効果】以上のようにこの発明では、ガラス壜の
壜中心を通して反対側の壜胴に斜め上方から指向性を有
する光を照射する第１光源と、この第１光源の左右両側
に振り分け状に配置され、前記反対側の壜胴に斜め上方
から指向性を有する光をそれぞれ照射する第２光源およ
び第３光源と、前記反対側の壜胴内に形成されているび
りからの全反射光および／またはしわからの屈折光を受
光する受光器と、前記各光源による照射および前記受光
器の受光のタイミングを前記受光器が全反射光および屈
折光を選択的に受光するよう制御させる制御手段とを備
えることによって、「横びり」や「縦びり」、あるい
は、「横しわ（一般しわ）」や「プレスしわ」の各種欠
陥が一箇所で光学的に検査できることから、従来に比較
して、搬送系の制御手段やガラス壜の回転手段を簡略化
できる。また、検査ステージに平あわ欠陥検査装置を装
備しても、コスト的に安価にかつ省スペースの下で、し
かも、少ない人手で欠陥検査を多点にわたって行うこと
ができる。
壜中心を通して反対側の壜胴に斜め上方から指向性を有
する光を照射する第１光源と、この第１光源の左右両側
に振り分け状に配置され、前記反対側の壜胴に斜め上方
から指向性を有する光をそれぞれ照射する第２光源およ
び第３光源と、前記反対側の壜胴内に形成されているび
りからの全反射光および／またはしわからの屈折光を受
光する受光器と、前記各光源による照射および前記受光
器の受光のタイミングを前記受光器が全反射光および屈
折光を選択的に受光するよう制御させる制御手段とを備
えることによって、「横びり」や「縦びり」、あるい
は、「横しわ（一般しわ）」や「プレスしわ」の各種欠
陥が一箇所で光学的に検査できることから、従来に比較
して、搬送系の制御手段やガラス壜の回転手段を簡略化
できる。また、検査ステージに平あわ欠陥検査装置を装
備しても、コスト的に安価にかつ省スペースの下で、し
かも、少ない人手で欠陥検査を多点にわたって行うこと
ができる。
【図１】この発明の一実施例を示す全体構成説明図であ
る。
る。
【図２】上記実施例における制御方法を説明するための
全体構成説明図である。
全体構成説明図である。
【図３】上記実施例における検査ステージを示す構成説
明図である。
明図である。
【図４】上記実施例における１つの検査方法を説明する
ための図である。
ための図である。
【図５】同じく上記実施例におけるもう一つの検査方法
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図６】同じく上記実施例における更にもう一つの検査
方法を説明するための図である。
方法を説明するための図である。
【図７】上記実施例における検査方法を説明するための
要部構成説明図である。
要部構成説明図である。
【図８】上記実施例における検査方法を説明するための
構成説明図である。
構成説明図である。
【図９】上記実施例における動作を示す動作説明図であ
る。
る。
【図１０】同じく上記実施例における動作を示す動作説
明図である。
明図である。
１…ガラス壜、、３…反対側の壜胴、１２…制御盤（制
御手段）、４０…移送経路、４１…検査ステージ、Ａ…
第１光源、Ｂ…第２光源、Ｃ…第３光源、Ｐ…ガラス壜
の壜中心、Ｔ…受光器、ａ…第１カメラ群、ｂ…第２カ
メラ群、ｃ…第３カメラ群。
御手段）、４０…移送経路、４１…検査ステージ、Ａ…
第１光源、Ｂ…第２光源、Ｃ…第３光源、Ｐ…ガラス壜
の壜中心、Ｔ…受光器、ａ…第１カメラ群、ｂ…第２カ
メラ群、ｃ…第３カメラ群。
Claims (6)
- 【請求項１】 ガラス壜の移送経路途中に配置された検
査ステージと、この検査ステージに設けられガラス壜を
載置する回転テーブルと、ガラス壜手前の前記検査ステ
ージ上に配設され、ガラス壜を回転させながら、このガ
ラス壜の壜中心を通して反対側の壜胴に斜め上方から指
向性を有する光を照射する第１光源と、この第１光源の
左右両側に振り分け状に配置され、前記反対側の壜胴に
斜め上方から指向性を有する光をそれぞれ照射する第２
光源および第３光源と、前記反対側の壜胴内に形成され
ているびりからの全反射光および／またはしわからの屈
折光を受光する受光器と、前記各光源による照射および
前記受光器の受光のタイミングを前記受光器が全反射光
および屈折光を選択的に受光するよう制御させる制御手
段とからなることを特徴とするガラス壜の内部欠陥検査
装置。 - 【請求項２】 受光器が、横３列に振り分けて配置され
た全反射光および屈折光を取り込む第１，２および３カ
メラ群からなり、各カメラ群が全反射光および屈折光を
選択的に受光するとともに、更に、各カメラ群が受光光
量を電気信号に変換するフォトダイオードアレイからな
る半導体受光素子群を備え、該半導体受光素子群の受光
面が、壜胴内に形成されているびりおよびしわによる上
方への全反射光および屈折光をそれぞれ受光できるよう
に斜め下方に向いて設置されている請求項１に記載のガ
ラス壜の内部欠陥検査装置。 - 【請求項３】 ガラス壜の移送経路途中に配置された検
査ステージに位置する回転テーブル上に載置されたガラ
ス壜を回転させ、ガラス壜の壜中心を通して反対側の壜
胴に斜め上方から指向性を有する光を照射する第１光
源、第２光源および第３光源の点灯タイミングおよび受
光器のデータ取り込みタイミングを前記受光器が全反射
光および屈折光を選択的に受光するよう制御しながら、
ガラス壜手前から前記反対側の壜胴に少なくともこれら
光源の１つを点灯させて前記反対側の壜胴内に形成され
ているびりからの全反射光および／またはしわからの屈
折光を前記受光器にて選択的に受光することからなるこ
とを特徴とするガラス壜の内部欠陥検査方法。 - 【請求項４】 第２光源および第３光源が第１光源の左
右両側に振り分け状に配置されている請求項３に記載の
ガラス壜の内部欠陥検査方法。 - 【請求項５】 受光器が、横３列に振り分けて配置され
た全反射光および屈折光を取り込む第１，２および３カ
メラ群からなり、かつ、各カメラ群が全反射光および屈
折光を選択的に受光するとともに、第１，２および３光
源の点灯タイミングおよび前記受光器のデータ取り込み
タイミングが、（イ）第２光源および第３光源の同時点
灯により第１カメラ群で屈折光を受光し、続いて、
（ロ）第２光源の単独点灯により第２カメラ群で全反射
光を受光し、その後、（ハ）第１光源の単独点灯により
全反射光および屈折光をそれぞれ第１，２，３カメラ群
で受光し、しかる後、（ニ）第３光源の単独点灯により
第３カメラ群で全反射光を受光することからなる請求項
３または請求項４に記載のガラス壜の内部欠陥検査方
法。 - 【請求項６】 （イ）第２光源および第３光源の同時点
灯により第１カメラ群でプレスしわを検出し、続いて、
（ロ）第２光源の単独点灯により第２カメラ群で縦びり
を検出し、その後、（ハ）第１光源の単独点灯により、
第２カメラ群の上半分および下半分でそれぞれ斜めびり
および斜めしわを検出し、かつ、第１カメラ群の上半分
および下半分でそれぞれ水平びりおよび水平しわを検出
し、更に、第３カメラ群の上半分および下半分でそれぞ
れ斜めびりおよび斜めしわを検出し、しかる後、（ニ）
第３光源の単独点灯により第３カメラ群で縦びりを検出
することからなる請求項３乃至請求項５のいずれかに記
載のガラス壜の内部欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27612693A JP3394800B2 (ja) | 1993-10-06 | 1993-10-06 | ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27612693A JP3394800B2 (ja) | 1993-10-06 | 1993-10-06 | ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07103915A JPH07103915A (ja) | 1995-04-21 |
| JP3394800B2 true JP3394800B2 (ja) | 2003-04-07 |
Family
ID=17565157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27612693A Expired - Lifetime JP3394800B2 (ja) | 1993-10-06 | 1993-10-06 | ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3394800B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09119902A (ja) * | 1995-09-13 | 1997-05-06 | Nippon Glass Kk | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
| US5895911A (en) * | 1998-01-22 | 1999-04-20 | Emhart Glass S.A. | Glass container body check detector |
| KR101400220B1 (ko) | 2010-09-17 | 2014-05-27 | 도요세이칸 그룹 홀딩스 가부시키가이샤 | 유리 제품의 곱 검사 장치 |
| US10012598B2 (en) | 2015-07-17 | 2018-07-03 | Emhart S.A. | Multi-wavelength laser check detection tool |
-
1993
- 1993-10-06 JP JP27612693A patent/JP3394800B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07103915A (ja) | 1995-04-21 |
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