JP2007078404A - 太陽電池パネル検査装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 衛星搭載用の太陽電池では内在する太陽電池パネルのカバーガラスのクラックと結晶層の微細な内部の欠陥検査が求められている。
【解決手段】 太陽電池パネルのカバーガラスのクラックと結晶層の微細な内部欠陥を検出する太陽電池パネル検査装置において、複数の照明素子が2次元配列されたアレイ型照明装置と、上記アレイ型照明装置から照射された太陽電池の披検査箇所を撮像するために、赤外域に感度を有する撮像素子から成るCCDカメラにより可能にしたものである。
【選択図】 図1

Description

本発明は特に大量の太陽電池セルが貼られて成る太陽電池パネル検査装置に関する。
太陽電池セル内の結晶層のクラックを検出するために、光源を発してフィルタを通過した1.0μmの光が、白紙にて散乱されて太陽電池パネルに様々な角度で入射し、ビデオカメラをパネルと対向させて散乱光が入射しているパネルの像を形成させて、パネルのカバーガラスのクラックと結晶層のクラックとを識別するために、非平行光を発する光源を、パネルに対して所定角度で配置するものは開示されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開平06−308042号公報(第1図)
従来の検査装置は、単一光源による非平行光を使用しているので、微細な内部欠陥部分で逆方向の照明光が相互に打ち消しあうため、太陽電池パネルのカバーガラスのクラックと結晶層の微細な内部のクラックを鮮明には撮像することができないという問題があった。
この発明は、係る課題を解決するために成されたものであり、高解像度で近赤外に感度を有する軽量小型なCCDカメラを使用し、LEDランプ照明を2次元配列にすることで、被検体上で周期的な光強度になるようなランプ照明、すなわちパターン化された照明を用いることで、鮮明に欠陥を識別できる装置を提供することを目的としている。
この発明の太陽電池パネル検査装置は太陽電池の内部欠陥を検出する太陽電池パネル検査装置において、複数の照明素子が2次元配列されたアレイ型照明装置と、上記アレイ型照明装置から照射された太陽電池の披検査箇所を撮像するために、赤外域に感度を有する撮像素子を2次元配列されたCCDカメラとから成るものである。
この発明は、複数の照明素子が2次元配列されて、各照明素子からの照射光が平行光で照射される2次元配列の照明用光源と、近赤外域に感度を有する撮像素子を2次元配列されたCCDカメラとを使用して検査することにより、小型で安価な装置により検査が可能になるという効果が得られる。
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係わる撮像装置を示す図であり、1はアレイ型照明装置、2は太陽電池、3はCCDカメラ、4は搬送装置である。
アレイ型照明装置1は被検査体である太陽電池2に対して相対する位置にある撮像用CCDカメラ3に対して所定の角度に固定されている。
単結晶基板上に形成された発電層を有する、衛星搭載用太陽電池では内在する欠陥(特にクラック)は電気的な短絡を起す要因となり得る為に、排除する必要がある。
検査は半導体基板に対し透明な赤外線照明とカメラを用いるか、人間による目視検査によっている。
太陽電池パネルの大型化の中で検査の効率化を図る必要があり、半導体基板を透過する赤外光を赤外線カメラで見ることで内部欠陥を検出することはできる。
しかし、太陽電池(GaAs)2の表面には反射防止用のガラス板が透明の接着剤にて貼られ(図では省略されている)ており、裏面全面に金属電極が形成されている太陽電池では、赤外線を透過させることができず、裏面電極で反射した赤外線が悪影響となり、微細な欠陥画像を撮像することができなかった。
太陽電池2の表面には反射防止用のガラス板が透明の接着剤にて貼られている。
撮像用CCDカメラ3は高解像度(概略画素数100万程度)のカメラで素子が2次元に配列されたものであり、近赤外域に感度を有するCCDカメラ3である。
被検査体である太陽電池2はステージ4の上を搬送されて検査される。
図2はアレイ型照明装置1の詳細図であり、5はLEDランプ、6は回路基板である。
アレイ型照明装置1は、CCDカメラ3が感度を有する近赤外域の波長成分を多く含むものを選定すべきである。
また、アレイ型照明装置1からの照射光の波長成分は、アレイ型照明装置1またはCCDカメラ3の前面にフィルタ等を使用して、CCDカメラ3の近赤外域の波長帯に効率よく利用することも可能である。
アレイ型照明装置1は、例えば、合計345個(縦15行×横23列)のLEDランプ5を7.5mmピッチで回路基板6上に2次元で規則的に配置したものである。
各LEDランプには通電用のリード配線(図には示されていない)を行い電流によって各LEDランプの照度を任意に調整できる。
図3は本発明で得られた太陽電池の検査画像例を示す図である。
LEDランプ配置に対応した周期的明暗パターンの中にクラック(左下から中央上へ伸びている)が明瞭に識別できる。
照射されるLEDランプ1個当たりのビーム径が、クラックの幅に対して、概ねオーダ的に近い大きさで、平行光に照射されるので、照射された光はクラック周辺では屈折や回り込みでクラック周囲へ拡散され、クラック部が光の変化でクラック部の周辺との差異が明確になる。
従って、クラックが存在する部分に周期的な光量変化があると、その反射光は明るい部分では暗く、暗い部分では明るく見える為に、太陽電池に生じたクラックが強調されることで明瞭に識別ができる。
同様の効果はGaAs基板の太陽電池のみならず、Si基板の太陽電池内の欠陥検知にも有効である。
実施の形態2.
図4は本発明の実施の形態2に係わる撮像装置用パンチ板型照明装置の外観図であり、7は光拡散板、8はパンチ板である。
図において、LEDランプ等の発光源を2次元状に配列しなくとも、単一光源を使用した場合でも、図2と同様の機能を実現する方法について説明する。
この発明の撮像装置を構成するパターン化された照明用光源としては、単一光源の前方に図4のように、光拡散板(導光板)7の前にパンチ板8を配置することで実現できる。
ここで、パンチ板8は例えば、直径2mmの穴を板にパンチで打ち抜いて空けたものである。
光拡散板(導光板)7から照明され、パンチ板8の1個の穴から通過した光は平行光になり、2次元状に空けられた複数のパンチ板8の穴を通過した照明光は2次元状に照射される照明光により、複数の発光源を2次元状に配列しなくとも、実施の形態1と同様の効果が得られる。
実施の形態3.
図5は本発明の実施の形態3に係わる撮像装置用液晶シャッター型照明装置の外観図であり、9は液晶シャッターであり、7は図4と同じものである。
図において、この発明の撮像装置を構成するパターン化された照明用光源としては、光拡散板(導光板)7の前に液晶シャッター9を配置することで実現できる。
液晶シャッターでは光拡散板7から出力され、シャッターを通過する光の通過径を任意に設定できるので、光源と被検査体との距離に応じた適正な光照射径を選択できる。
実施の形態4.
図6は本発明の実施の形態4に係わる撮像装置用光スキャン型照明装置の外観図であり、10はLEDランプ、11はポリゴンミラーであり、2〜4は図1と同じものである。
実施の形態1の2次元でアレイ状のLEDランプを1個で実現する別の実現手段を図6に示した。
光源となるLEDランプ10で発行された概ね平行である照射ビームをポリゴンミラー11で反射させ、被検査体へ2次元でスキャンしながら照射する。
このことにより、被検査体には、あたかも、2次元状の照明器具から照射されたことと同じ効果を実現できる。
この時に被検査体上で周期的な光量になるようにLEDを制御することで周期的な光分布を得るように、制御部はLEDランプの光強度を被検査体上で周期的な光強度パターンが得られるように電気的に制御する。
また、制御部はポリゴンミラーを2軸方向で回動するための制御を行う。
図7は本発明の実施の形態1〜4に係わる撮像装置を組込んだ自動検査装置の外観図であり、12はドーリー、13は太陽電池パネル、14は撮像装置、15は移動用アーム、16は制御・記録装置である。
ドーリー12に固定された太陽電池パネル13の下側より近接させた本発明による撮像装置14はX,Y方向移動のアーム15の上を移動して太陽電池パネル上のあらゆる太陽電池を撮像・検査することができる。
撮像された画像データは逐次、制御装置16に転送され蓄積記録される。
CCDカメラは赤外線カメラに比べ小型・軽量であることやアレイ型照明装置は発熱しない等、自動機への組み込みの制約はない。
太陽電池1枚当たりの実画像取得から欠陥識別までを10秒以下で処理していくことができる。
また、撮像装置の位置情報と連動させて画像を予め取得し、メモリーに記録した後に一括して画像処理を行い、欠陥のある太陽電池を選別することもできる。
実施の形態5では太陽電池パネルは横置きであるが、縦置きとしても何ら制約なく同様な装置が構成できることは明らかである。
本発明の実施の形態1に係わる撮像装置の構成図である。 本発明の撮像装置用アレイ型照明装置の外観図である。 本発明で得られた太陽電池の検査画像例を示す図である。 本発明の実施の形態2に係わる撮像装置用パンチ板型照明装置の外観図である。 本発明の実施の形態3に係わる撮像装置用液晶シャッター型照明装置の外観図である。 本発明の実施の形態4に係わる撮像装置用光スキャン型照明装置の外観図である。 本発明の実施の形態1〜4に係わる撮像装置を組込んだ自動検査装置の外観図である。
符号の説明
1 アレイ型照明装置、 2 太陽電池、 3 CCDカメラ、 4 搬送装置、 5 LEDランプ、 6 回路基板、 7 光拡散板、 8 パンチ板、 9 液晶シャッター、 10 LEDランプ、 11 ポリゴンミラー、 12 ドーリー、 13 太陽電池パネル、 14 撮像装置、 15 移動用アーム、 16 制御・記録装置。

Claims (7)

  1. 太陽電池パネルの内部欠陥を検出する太陽電池パネル検査装置において、
    複数の照明素子が2次元配列されたアレイ型照明装置と、
    上記アレイ型照明装置から照射された太陽電池の披検査箇所を撮像するために、赤外域に感度を有する撮像素子から成るCCDカメラと、
    を具備したことを特徴とする太陽電池パネル検査装置。
  2. 上記照明素子として、LEDランプを使用することを特徴とする請求項1記載の太陽電池パネル検査装置。
  3. 上記アレイ型照明装置として、非平行光源の前に所定の穴径を有するパンチ板を配置することを特徴とする請求項2記載の太陽電池パネル検査装置。
  4. 上記アレイ型照明装置として、非平行光源の前に液晶シャッターを設置して電気的にシャッターの孔径を制御することを特徴とする請求項2記載の太陽電池パネル検査装置。
  5. 太陽電池パネルの内部欠陥を検出する検査装置において、
    概ね平行である照射ビームを発生するための照明素子と、
    上記照明素子から出力された照射ビームを、被検査体上へ2次元で照射するために2軸で回動するポリゴンミラーと、
    上記照明素子の光強度を被検査体上で周期的な光強度パターンが得られるように電気的に制御し、上記ポリゴンミラーの2軸方向での回動を制御する制御部と、
    上記ポリゴンミラーから2次元で照射された太陽電池の披検査箇所を撮像するために、赤外域に感度を有する撮像素子から成るCCDカメラと、
    を具備したことを特徴とする太陽電池パネル検査装置。
  6. 上記照明素子を制御して被検査体の太陽電池上で周期的な光強度パターンが得られることを特徴とする請求項1記載または請求項5記載の太陽電池パネル検査装置。
  7. 被検査体の太陽電池上へ、上記照明素子からの照射方向と相反する方向で、被検査体である太陽電池上を撮像するように上記CCDカメラを配置したことを特徴とする請求項1記載または請求項5記載の太陽電池パネル検査装置。
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Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007092146A2 (en) * 2006-02-06 2007-08-16 Northrop Grumman Corporation Method and apparatus for inspection of multi-junction solar cells
JP2009194016A (ja) * 2008-02-12 2009-08-27 Orbotech Ltd 半導体基板の検査装置
JP2010107471A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Mitsubishi Heavy Ind Ltd キズ検査装置および検査方法
CN101576602B (zh) * 2009-06-19 2010-12-29 南开大学 检测上转换材料对太阳电池短路电流密度提高效果的装置
WO2011031117A3 (ko) * 2009-09-14 2011-09-01 주식회사 엘지화학 파우치형 전지 내의 이물질 검출장치 및 방법
WO2011121805A1 (ja) * 2010-03-30 2011-10-06 シャープ株式会社 擬似太陽光照射装置
WO2012046376A1 (ja) * 2010-10-08 2012-04-12 シャープ株式会社 光照射装置および擬似太陽光照射装置、太陽電池パネル用検査装置
TWI425233B (zh) * 2007-10-22 2014-02-01 Nisshin Spinning 太陽能電池檢查裝置
JP2016217728A (ja) * 2015-05-14 2016-12-22 富士電機株式会社 検査装置及び検査方法
CN106546897A (zh) * 2016-11-01 2017-03-29 山东大学 基于短波红外成像仪的太阳能电池光致发光高速检测系统及其运行方法
JP6324564B1 (ja) * 2017-03-03 2018-05-16 東北電力株式会社 太陽電池モジュールのカバーガラス異常検知方法
CN109712912A (zh) * 2018-12-06 2019-05-03 通富微电子股份有限公司 一种芯片倒装设备及方法
JP2019134616A (ja) * 2018-02-01 2019-08-08 柳井電機工業株式会社 太陽光発電パネルの検査装置
JP2019207194A (ja) * 2018-05-30 2019-12-05 勇貴 高橋 検査システム及びプログラム
CN111337433A (zh) * 2020-05-21 2020-06-26 深圳新视智科技术有限公司 表面缺陷检测的缺陷分层装置及方法
JP6906779B1 (ja) * 2021-03-11 2021-07-21 ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社 半導体チップの検査方法及び装置
JP2021524225A (ja) * 2018-06-28 2021-09-09 エアバス・ディフェンス・アンド・スペース・エスアーエス 衛星の太陽光発電機を試験するための装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0850103A (ja) * 1994-08-06 1996-02-20 Mazda Motor Corp 塗装表面検査装置
JP2000046743A (ja) * 1998-07-24 2000-02-18 Kobe Steel Ltd 欠陥検査装置
JP2001108639A (ja) * 1999-10-05 2001-04-20 Ricoh Co Ltd 欠陥検出方法及び欠陥検出装置
JP3238141B2 (ja) * 1998-08-21 2001-12-10 ティーアールダブリュー・インコーポレーテッド 回転照射源を用いた基板検査方法及び装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0850103A (ja) * 1994-08-06 1996-02-20 Mazda Motor Corp 塗装表面検査装置
JP2000046743A (ja) * 1998-07-24 2000-02-18 Kobe Steel Ltd 欠陥検査装置
JP3238141B2 (ja) * 1998-08-21 2001-12-10 ティーアールダブリュー・インコーポレーテッド 回転照射源を用いた基板検査方法及び装置
JP2001108639A (ja) * 1999-10-05 2001-04-20 Ricoh Co Ltd 欠陥検出方法及び欠陥検出装置

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007092146A3 (en) * 2006-02-06 2007-10-04 Northrop Grumman Corp Method and apparatus for inspection of multi-junction solar cells
US7705978B2 (en) 2006-02-06 2010-04-27 Northrop Grumman Corporation Method and apparatus for inspection of multi-junction solar cells
WO2007092146A2 (en) * 2006-02-06 2007-08-16 Northrop Grumman Corporation Method and apparatus for inspection of multi-junction solar cells
TWI425233B (zh) * 2007-10-22 2014-02-01 Nisshin Spinning 太陽能電池檢查裝置
JP2009194016A (ja) * 2008-02-12 2009-08-27 Orbotech Ltd 半導体基板の検査装置
JP2010107471A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Mitsubishi Heavy Ind Ltd キズ検査装置および検査方法
CN101576602B (zh) * 2009-06-19 2010-12-29 南开大学 检测上转换材料对太阳电池短路电流密度提高效果的装置
WO2011031117A3 (ko) * 2009-09-14 2011-09-01 주식회사 엘지화학 파우치형 전지 내의 이물질 검출장치 및 방법
US8441647B2 (en) 2009-09-14 2013-05-14 Lg Chem, Ltd. Apparatus for detecting foreign material in pouch type battery
JP2011211098A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Sharp Corp 擬似太陽光照射装置
WO2011121805A1 (ja) * 2010-03-30 2011-10-06 シャープ株式会社 擬似太陽光照射装置
WO2012046376A1 (ja) * 2010-10-08 2012-04-12 シャープ株式会社 光照射装置および擬似太陽光照射装置、太陽電池パネル用検査装置
CN102549330A (zh) * 2010-10-08 2012-07-04 夏普株式会社 光照射装置、伪日光照射装置、以及太阳能电池板检查装置
JP2016217728A (ja) * 2015-05-14 2016-12-22 富士電機株式会社 検査装置及び検査方法
CN106546897A (zh) * 2016-11-01 2017-03-29 山东大学 基于短波红外成像仪的太阳能电池光致发光高速检测系统及其运行方法
JP2018146322A (ja) * 2017-03-03 2018-09-20 東北電力株式会社 太陽電池モジュールのカバーガラス異常検知方法
JP6324564B1 (ja) * 2017-03-03 2018-05-16 東北電力株式会社 太陽電池モジュールのカバーガラス異常検知方法
JP2019134616A (ja) * 2018-02-01 2019-08-08 柳井電機工業株式会社 太陽光発電パネルの検査装置
JP2019207194A (ja) * 2018-05-30 2019-12-05 勇貴 高橋 検査システム及びプログラム
JP2021524225A (ja) * 2018-06-28 2021-09-09 エアバス・ディフェンス・アンド・スペース・エスアーエス 衛星の太陽光発電機を試験するための装置
US11183970B2 (en) 2018-06-28 2021-11-23 Airbus Defence And Space Sas Device for testing a satellite solar array
JP7090752B2 (ja) 2018-06-28 2022-06-24 エアバス・ディフェンス・アンド・スペース・エスアーエス 衛星の太陽光発電機を試験するための装置
CN109712912A (zh) * 2018-12-06 2019-05-03 通富微电子股份有限公司 一种芯片倒装设备及方法
CN111337433A (zh) * 2020-05-21 2020-06-26 深圳新视智科技术有限公司 表面缺陷检测的缺陷分层装置及方法
JP6906779B1 (ja) * 2021-03-11 2021-07-21 ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社 半導体チップの検査方法及び装置
JP2022138855A (ja) * 2021-03-11 2022-09-26 ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社 半導体チップの検査方法及び装置

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