JP3013324B2 - ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置 - Google Patents
ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置Info
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、製瓶又は瓶充填工
場ラインにおいて、ガラス容器、特に瓶、コップ等の口
部・ネジ部のビリ検査において、自動化に適したガラス
容器の口部・ネジ部ビリ検査装置に関する。特に、オー
トスライス機能を設けたガラス容器の口部・ネジ部ビリ
検査装置に関する。
場ラインにおいて、ガラス容器、特に瓶、コップ等の口
部・ネジ部のビリ検査において、自動化に適したガラス
容器の口部・ネジ部ビリ検査装置に関する。特に、オー
トスライス機能を設けたガラス容器の口部・ネジ部ビリ
検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、製瓶又は瓶充填工場ラインにおい
ては、瓶の口部・ネジ部のビリ検査は、ライン上にて、
目視検査によるか又は複数の投光器ａ、複数の受光器ｂ
のａ：ｂで検査部位毎に複数の検査ステーションを占有
して、公知のハンドリングマシン上で瓶種毎、ビリ欠陥
種毎に手動目視により投光器、受光器等を設定し、検査
を行っていた。
ては、瓶の口部・ネジ部のビリ検査は、ライン上にて、
目視検査によるか又は複数の投光器ａ、複数の受光器ｂ
のａ：ｂで検査部位毎に複数の検査ステーションを占有
して、公知のハンドリングマシン上で瓶種毎、ビリ欠陥
種毎に手動目視により投光器、受光器等を設定し、検査
を行っていた。
【０００３】また、もうひとつの方法としては、固定の
複数の照明を、瓶の口部・ネジ部にあて、ＣＣＤカメラ
にて検査部位に公知のウインドウをかけて、検査を行っ
ていた。
複数の照明を、瓶の口部・ネジ部にあて、ＣＣＤカメラ
にて検査部位に公知のウインドウをかけて、検査を行っ
ていた。
【０００４】さらに、本発明者はビン口部に対してドー
ム状に投受光器を配置し、投光器（Ｎ）１０個、受光器
（Ｍ）６４個、従って、ＮXＭ＝６４０チャンネルの多
方向性の投受光チャンネルを有する瓶口部・ネジ部ビリ
検査装置を開発し、特許出願済みである（平成８年特許
願第２５５６０４号明細書）。
ム状に投受光器を配置し、投光器（Ｎ）１０個、受光器
（Ｍ）６４個、従って、ＮXＭ＝６４０チャンネルの多
方向性の投受光チャンネルを有する瓶口部・ネジ部ビリ
検査装置を開発し、特許出願済みである（平成８年特許
願第２５５６０４号明細書）。
【０００５】これまでは、成形型番の数X検査セクショ
ンの数の数量の良品瓶をハンドリングマシン上に流し
て、初期の自動登録を行い、オンライン検査を行うとい
うことを繰り返していた。又、ハンドリングマシンの経
時変化については、良品排除率を目安にして、良品排除
率が増えた場合、良品をさらに数十本程度追加登録して
オンライン検査を実施していた。
ンの数の数量の良品瓶をハンドリングマシン上に流し
て、初期の自動登録を行い、オンライン検査を行うとい
うことを繰り返していた。又、ハンドリングマシンの経
時変化については、良品排除率を目安にして、良品排除
率が増えた場合、良品をさらに数十本程度追加登録して
オンライン検査を実施していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
目視による方法では、高速に流れるライン上では、欠陥
の識別は困難であり、又前記の複数投光器を使用してビ
リ欠陥種別毎に手動目視により設定した検査方法では、
瓶の口部・ネジ部のどこに欠陥が発生するか判らない上
に、瓶の口部・ネジ部のビリに対しては、あらゆる型の
ビリに対応した検査を行うことができないし、公知の瓶
の型替え時には、投光器等の設定に時間を要するという
問題点を有している。
目視による方法では、高速に流れるライン上では、欠陥
の識別は困難であり、又前記の複数投光器を使用してビ
リ欠陥種別毎に手動目視により設定した検査方法では、
瓶の口部・ネジ部のどこに欠陥が発生するか判らない上
に、瓶の口部・ネジ部のビリに対しては、あらゆる型の
ビリに対応した検査を行うことができないし、公知の瓶
の型替え時には、投光器等の設定に時間を要するという
問題点を有している。
【０００７】前記もう一つの方法であるＣＣＤカメラに
よる検査では、縦状のビリ検出には有効であるが、瓶ネ
ジ目に沿った横状のビリに関しては、検出感度が低いと
いう問題点を有している。また、型替え時にはカメラ、
照明、感度等を再設定し直さなければならないという問
題点を有している。
よる検査では、縦状のビリ検出には有効であるが、瓶ネ
ジ目に沿った横状のビリに関しては、検出感度が低いと
いう問題点を有している。また、型替え時にはカメラ、
照明、感度等を再設定し直さなければならないという問
題点を有している。
【０００８】又、前記の多方向性の投受光による多チャ
ンネルの装置でなければ、瓶の口部・ネジ部のどの部位
にどの方向に欠陥が発生するのか予測のつかない欠陥を
検出することができなかった。そして、多方向性の投受
光による多チャンネルの装置の場合には、微妙な、同一
型の型番によるバラツキや、経時変化、ハンドリングマ
シンの経時変化により良品の排除が増大するという問題
点を有していた。又、良品排除が増大した場合、追加良
品登録を行わなければならないという問題点も有してい
た。さらに、初期登録においても、２００〜３００本を
手動で良品登録を行わなければならなかった。これらは
ラインのオペレーターにとっては、大きな負担になって
いた。
ンネルの装置でなければ、瓶の口部・ネジ部のどの部位
にどの方向に欠陥が発生するのか予測のつかない欠陥を
検出することができなかった。そして、多方向性の投受
光による多チャンネルの装置の場合には、微妙な、同一
型の型番によるバラツキや、経時変化、ハンドリングマ
シンの経時変化により良品の排除が増大するという問題
点を有していた。又、良品排除が増大した場合、追加良
品登録を行わなければならないという問題点も有してい
た。さらに、初期登録においても、２００〜３００本を
手動で良品登録を行わなければならなかった。これらは
ラインのオペレーターにとっては、大きな負担になって
いた。
【０００９】そして、これらの追加良品登録は、検査感
度を低下させて行くために、欠陥検出率が低下するとい
う問題点があった。
度を低下させて行くために、欠陥検出率が低下するとい
う問題点があった。
【００１０】本発明は、従来容易でなかった瓶種毎の型
替え設定を自動化し、ガラス容器の口部・ネジ部のビリ
検査を部位、欠陥種別に無関係に網羅的に行い、且つ、
欠陥種別では、泡、異物、カケ、ネジ出及び変形等の欠
陥検出感度を有し、さらに、欠陥部位の仕分け、欠陥種
別の仕分けを行い、品質管理を向上させることができる
ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置を提供すること
を課題とする。又、追加良品登録をほとんど行う必要は
なく、また前記初期登録においても、自動的に良品登録
を行い、欠陥検出率の低下を行うことのないガラス容器
の口部・ネジ部ビリ検査装置を提供することを課題とす
る。
替え設定を自動化し、ガラス容器の口部・ネジ部のビリ
検査を部位、欠陥種別に無関係に網羅的に行い、且つ、
欠陥種別では、泡、異物、カケ、ネジ出及び変形等の欠
陥検出感度を有し、さらに、欠陥部位の仕分け、欠陥種
別の仕分けを行い、品質管理を向上させることができる
ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置を提供すること
を課題とする。又、追加良品登録をほとんど行う必要は
なく、また前記初期登録においても、自動的に良品登録
を行い、欠陥検出率の低下を行うことのないガラス容器
の口部・ネジ部ビリ検査装置を提供することを課題とす
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するために、検査位置におかれた被検査体を回転させ
る回転手段と、ガラス容器の口部及びネジ部を中心とし
て周囲に、略半円球状の取付治具に複数個の投光器と、
複数個の受光器を配置し、前記投光器の数をＮ、受光器
の数をＭとすると、前記被検査体に対して１スキャン当
たりＮXＭのデータを採取するデータ採取手段と、採取
されたデータを並替るデータ並替処理手段及び並替られ
たデータを微分する微分手段とからなるガラス容器の口
部・ネジ部ビリ検査装置において、初期に良品登録さ
れ、決定されたしきい値に対して、定期的な時間毎、或
いは被検査体の通過本数毎に自動的にＮXＭの全チャン
ネル又は部分的チャンネルの良品データを採取し、しき
い値を再設定することによって前記課題を解決した。以
下、本発明を詳述する。
決するために、検査位置におかれた被検査体を回転させ
る回転手段と、ガラス容器の口部及びネジ部を中心とし
て周囲に、略半円球状の取付治具に複数個の投光器と、
複数個の受光器を配置し、前記投光器の数をＮ、受光器
の数をＭとすると、前記被検査体に対して１スキャン当
たりＮXＭのデータを採取するデータ採取手段と、採取
されたデータを並替るデータ並替処理手段及び並替られ
たデータを微分する微分手段とからなるガラス容器の口
部・ネジ部ビリ検査装置において、初期に良品登録さ
れ、決定されたしきい値に対して、定期的な時間毎、或
いは被検査体の通過本数毎に自動的にＮXＭの全チャン
ネル又は部分的チャンネルの良品データを採取し、しき
い値を再設定することによって前記課題を解決した。以
下、本発明を詳述する。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明は、前記目的を達成するた
めに、ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置におい
て、検査位置におかれた被検査体を回転させる公知の回
転手段と、ガラス容器の口部及びネジ部を中心として周
囲に配置したＮ個の投光器と、Ｍ個の受光器を、被検査
体を中心として好ましくは略半球形状に配置し、被検査
体の各検査ポイントに対して、ＮXＭの回数の受光器に
よる明度処理を行い、ガラス容器の口部・ネジ部全周に
わたって、一定間隔で明度処理を行う。
めに、ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置におい
て、検査位置におかれた被検査体を回転させる公知の回
転手段と、ガラス容器の口部及びネジ部を中心として周
囲に配置したＮ個の投光器と、Ｍ個の受光器を、被検査
体を中心として好ましくは略半球形状に配置し、被検査
体の各検査ポイントに対して、ＮXＭの回数の受光器に
よる明度処理を行い、ガラス容器の口部・ネジ部全周に
わたって、一定間隔で明度処理を行う。
【００１３】ここで、明度処理とは、受光輝度の採取処
理をいう。検査ポイントとは、１スキャンにおいて、投
受光される被検査体上のエリアのことである。その時、
全周分の検査スキャン数をＬとすると、ＬXＮXＭの数の
明度処理データが採取される。
理をいう。検査ポイントとは、１スキャンにおいて、投
受光される被検査体上のエリアのことである。その時、
全周分の検査スキャン数をＬとすると、ＬXＮXＭの数の
明度処理データが採取される。
【００１４】次に、公知のデータ並替処理手段により、
各投光器毎、受光器毎のデータをチャンネル単位で並替
を行うと、並替られたデータが得られる。これをデータ
並替処理という。その後、前記Ｌに対して、ＮXＭの受
光それぞれについて、受光データの微分処理を行う。こ
の微分処理とは、公知の差分処理であり、公知の微分手
段を用いて実行される。この微分処理により、明暗の変
化点と受光データの変化量が検出され、
各投光器毎、受光器毎のデータをチャンネル単位で並替
を行うと、並替られたデータが得られる。これをデータ
並替処理という。その後、前記Ｌに対して、ＮXＭの受
光それぞれについて、受光データの微分処理を行う。こ
の微分処理とは、公知の差分処理であり、公知の微分手
段を用いて実行される。この微分処理により、明暗の変
化点と受光データの変化量が検出され、
【００１５】１）良品の場合には、検出された前記変化
量のいずれかのデータが、しきい値設定を越えないよ
う、微分レベル判定値をＮXＭチャンネルに対して、そ
れぞれ自動設定しているため、ビリ欠陥として検出され
ない。
量のいずれかのデータが、しきい値設定を越えないよ
う、微分レベル判定値をＮXＭチャンネルに対して、そ
れぞれ自動設定しているため、ビリ欠陥として検出され
ない。
【００１６】しかし、２）ビリ欠陥の場合には、ＮXＭ
チャンネルでいずれかの微分レベルデータが微分レベル
判定値を越えるため、ビリ欠陥として検出され、排出信
号が出力され、排出される。
チャンネルでいずれかの微分レベルデータが微分レベル
判定値を越えるため、ビリ欠陥として検出され、排出信
号が出力され、排出される。
【００１７】ここで、微分レベル判定値とは、微分処理
され、一定のマージンを持って設定される値のことであ
る。
され、一定のマージンを持って設定される値のことであ
る。
【００１８】この場合、本発明では、各投光器からの投
光が同時点灯でないため、複数の投受光間の干渉現象が
発生せず、ビリ検出を正確に且つ網羅的に行うことがで
きる。
光が同時点灯でないため、複数の投受光間の干渉現象が
発生せず、ビリ検出を正確に且つ網羅的に行うことがで
きる。
【００１９】同様に、本発明にかかる装置では、投光の
反射光の検出ができること、且つ光の反射方向が変わる
のを検出できるので、欠陥種別では、泡、異物、カケ、
ネジ出及び変形等の欠陥を検出することができる。ま
た、口部のうち、特に天面部に関しては、天スジ、天流
れ、天カミダシ、天泡を検出することができる。
反射光の検出ができること、且つ光の反射方向が変わる
のを検出できるので、欠陥種別では、泡、異物、カケ、
ネジ出及び変形等の欠陥を検出することができる。ま
た、口部のうち、特に天面部に関しては、天スジ、天流
れ、天カミダシ、天泡を検出することができる。
【００２０】又、その場合、欠陥部位の仕分け、欠陥種
別の仕分けを行うことにより、品質管理を向上させ、生
産性を高めることができる。即ち、前記ＮXＭの各チャ
ネルを使用者が任意に欠陥種別を設定することにより、
仕分けを各カウンターにより読みとることができる。
別の仕分けを行うことにより、品質管理を向上させ、生
産性を高めることができる。即ち、前記ＮXＭの各チャ
ネルを使用者が任意に欠陥種別を設定することにより、
仕分けを各カウンターにより読みとることができる。
【００２１】そして、良品瓶の初期登録をガラス容器の
口部、ネジ部、首部、肩部の基本形状の登録と、スター
ホイルのセクション数分の登録程度の本数である６〜２
４本程度で行い、その後、オンライン検査稼動に移行す
る。
口部、ネジ部、首部、肩部の基本形状の登録と、スター
ホイルのセクション数分の登録程度の本数である６〜２
４本程度で行い、その後、オンライン検査稼動に移行す
る。
【００２２】そして、良品登録されている、ＮXＭのチ
ャンネル毎の各チャンネルの被検査体の検査部位におけ
る公知の反射光を瓶一周分に渡って受光器により採取
し、そのデータの微分値に任意の設定値である余有値を
加算した、しきい値を設定し、余有値の範囲内で検出さ
れた前記微分値の場合には「良」、範囲外の場合には
「不良」と判断し、ＮXＭの全チャンネルに渡って実施
され、ガラス容器の口部、ネジ部、首部、肩部の全部位
又は一部部位に対して瓶全周に対して被検査体の良否判
定がなされ、前記微分値が余有値を越えたチャンネル数
の数が任意に設定される判定値を越えた場合は、不良品
と判断され、排除信号が出力される。
ャンネル毎の各チャンネルの被検査体の検査部位におけ
る公知の反射光を瓶一周分に渡って受光器により採取
し、そのデータの微分値に任意の設定値である余有値を
加算した、しきい値を設定し、余有値の範囲内で検出さ
れた前記微分値の場合には「良」、範囲外の場合には
「不良」と判断し、ＮXＭの全チャンネルに渡って実施
され、ガラス容器の口部、ネジ部、首部、肩部の全部位
又は一部部位に対して瓶全周に対して被検査体の良否判
定がなされ、前記微分値が余有値を越えたチャンネル数
の数が任意に設定される判定値を越えた場合は、不良品
と判断され、排除信号が出力される。
【００２３】又、判定値を越えない場合は、良品と判断
され、排除信号は出力されない。これで瓶１本の検査処
理が終了する。この検査処理が連続して行われる。その
時、良品と判断されたＮXＭのチャンネルの微分値を記
憶しておく。そして、あらかじめ設定されている検査処
理本数又は定期的な時間毎の検査処理本数に対しての良
品のＮXＭのチャンネルの微分値を記憶しておく。
され、排除信号は出力されない。これで瓶１本の検査処
理が終了する。この検査処理が連続して行われる。その
時、良品と判断されたＮXＭのチャンネルの微分値を記
憶しておく。そして、あらかじめ設定されている検査処
理本数又は定期的な時間毎の検査処理本数に対しての良
品のＮXＭのチャンネルの微分値を記憶しておく。
【００２４】その後、その記憶されているＮXＭのチャ
ンネル毎に、良品データのピーク値、又は平均値、又は
標準偏差値のいずれか一つにより前記しきい値を算出
し、しきい値が再設定される。その後も連続的に前記処
理が実行される。これら一連のしきい値の自動設定プロ
セスをオートスライスと呼ぶ。そして、このオートスラ
イスにより、型のバラツキ、摩耗による微妙な成形の形
状変化、ハンドリングマシンのスターホイルの各セクシ
ョンの瓶を保持、又は回転させる機構のバラツキ、経時
変化を自動的に読みとり、検査感度を自動的に補正、又
は設定することができる。
ンネル毎に、良品データのピーク値、又は平均値、又は
標準偏差値のいずれか一つにより前記しきい値を算出
し、しきい値が再設定される。その後も連続的に前記処
理が実行される。これら一連のしきい値の自動設定プロ
セスをオートスライスと呼ぶ。そして、このオートスラ
イスにより、型のバラツキ、摩耗による微妙な成形の形
状変化、ハンドリングマシンのスターホイルの各セクシ
ョンの瓶を保持、又は回転させる機構のバラツキ、経時
変化を自動的に読みとり、検査感度を自動的に補正、又
は設定することができる。
【００２５】さらに、その検査感度はＮXＭのチャンネ
ル全てに渡って補正されるがチャンネルによって検査感
度が高くなるチャンネルと、低下するチャンネルが発生
するが、成形の状態及び瓶のハンドリングの状態に応じ
て相応に機能し、良品排除が低下し適正な各チャンネル
検査感度が保持されていくことになる。
ル全てに渡って補正されるがチャンネルによって検査感
度が高くなるチャンネルと、低下するチャンネルが発生
するが、成形の状態及び瓶のハンドリングの状態に応じ
て相応に機能し、良品排除が低下し適正な各チャンネル
検査感度が保持されていくことになる。
【００２６】
【作用】本発明によれば、ガラス容器の口部・ネジ部の
ビリ欠陥検出を網羅的に行うことができ、かつ、投受光
器の配列が固定化され、感度も自動設定のため、繁忙な
種別毎の型替作業を迅速に行うことができる。また、同
時に泡、異物、カケ、ネジ出及び変形欠陥等も検出で
き、欠陥部位の仕分け、欠陥種別の仕分けを行うことに
より、品質管理を向上させ、品質管理面の向上が計れ
る。
ビリ欠陥検出を網羅的に行うことができ、かつ、投受光
器の配列が固定化され、感度も自動設定のため、繁忙な
種別毎の型替作業を迅速に行うことができる。また、同
時に泡、異物、カケ、ネジ出及び変形欠陥等も検出で
き、欠陥部位の仕分け、欠陥種別の仕分けを行うことに
より、品質管理を向上させ、品質管理面の向上が計れ
る。
【００２７】本発明で使用できる投光器としては、高速
点灯できるとの理由で、ＬＥＤ投光器が好ましいが、こ
れに限定されるものではなく、レーザー光でも可能であ
る。
点灯できるとの理由で、ＬＥＤ投光器が好ましいが、こ
れに限定されるものではなく、レーザー光でも可能であ
る。
【００２８】本発明で使用できる受光器としては、投光
器からの光量の変化を採取できれば良く、フォト受光器
が好ましいが、これに限定されるものではなく、受光デ
バイスであれば足りる。
器からの光量の変化を採取できれば良く、フォト受光器
が好ましいが、これに限定されるものではなく、受光デ
バイスであれば足りる。
【００２９】本発明で用いられる投光器及び受光器は、
好ましくは、略半球状の検査治具ベットによって、被検
査体の周囲に固定、または半固定で用いられる。投光
器、受光器の位置は被検査体に対して適宜最適な配列と
することができる。
好ましくは、略半球状の検査治具ベットによって、被検
査体の周囲に固定、または半固定で用いられる。投光
器、受光器の位置は被検査体に対して適宜最適な配列と
することができる。
【００３０】本発明において、欠陥部位、欠陥種別の仕
分けはチャンネルの位置の検出によって行われる。
分けはチャンネルの位置の検出によって行われる。
【００３１】
【実施例】次に、図面を参照しながら被検査体が瓶であ
る場合の本発明の実施例を以下に詳細に説明する。図１
は、本発明の一実施例の概略で、投受光センサと瓶の配
置と投受光エリアを示す説明図である。図２は、検査治
具上における投受光センサの詳細配置図である。図３
は、ハンドリングマシン上における検査治具の取付側面
図である。図４は、本発明の一実施例の概略を示すシス
テムブロック図である。図５は、投受光タイミングと検
査エリアを示す説明図である。図６は、実機オンライン
時における検査処理タイミング図である。図７は、本発
明の一実施例の処理手段を示すシステムのフローチャー
トである。図８は、実機オンライン時における動作処理
のフローチャートである。図９は、微分処理の説明図で
ある。図１０は、オンライン時における表示画面であ
る。図１１は、オートスライスの動作処理のフローチャ
ートである。
る場合の本発明の実施例を以下に詳細に説明する。図１
は、本発明の一実施例の概略で、投受光センサと瓶の配
置と投受光エリアを示す説明図である。図２は、検査治
具上における投受光センサの詳細配置図である。図３
は、ハンドリングマシン上における検査治具の取付側面
図である。図４は、本発明の一実施例の概略を示すシス
テムブロック図である。図５は、投受光タイミングと検
査エリアを示す説明図である。図６は、実機オンライン
時における検査処理タイミング図である。図７は、本発
明の一実施例の処理手段を示すシステムのフローチャー
トである。図８は、実機オンライン時における動作処理
のフローチャートである。図９は、微分処理の説明図で
ある。図１０は、オンライン時における表示画面であ
る。図１１は、オートスライスの動作処理のフローチャ
ートである。
【００３２】図１に示すように、検査位置におかれた被
検査瓶７は、回転方向８のように回転し、投光器配置位
置１には、複数の投光器を配置し、受光器配置位置２に
は、複数の受光器を配置し、投光線３、受光線４のエリ
アで投受光を行う。
検査瓶７は、回転方向８のように回転し、投光器配置位
置１には、複数の投光器を配置し、受光器配置位置２に
は、複数の受光器を配置し、投光線３、受光線４のエリ
アで投受光を行う。
【００３３】図２に示すように、検査位置の被検査瓶７
は、ハンドリングマシン上のスターホイル１３上に位置
し、投受光のセンサは検査治具ヘッド９上に位置し、投
光器１１は１０個、受光器１２は６４個配置する。
は、ハンドリングマシン上のスターホイル１３上に位置
し、投受光のセンサは検査治具ヘッド９上に位置し、投
光器１１は１０個、受光器１２は６４個配置する。
【００３４】図３に示したのは、検査治具の側面図で、
高さ位置可変ノブ１４、左右方向位置可変ノブ１５、前
後方向位置可変ノブ１６により、治具ヘッド９を被検査
瓶７に対して、検査最適位置に設定する。
高さ位置可変ノブ１４、左右方向位置可変ノブ１５、前
後方向位置可変ノブ１６により、治具ヘッド９を被検査
瓶７に対して、検査最適位置に設定する。
【００３５】図４に、本システムのシステムブロック構
成図を示す。図５、図６を参考して説明する。投光レン
ズ２５、投光素子２６、投光ケーブル２７で構成する投
光器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０の投光タイミング（図５に示
す）を２８〜３７（図４）のようにコントロールロジッ
ク回路２１により制御した。受光レンズ１７、受光素子
１８、受光アンプ１９、受光ケーブル２０で構成する受
光器ＮＯ．１からＮＯ．６４は、受光タイミング３８の
タイミングで、一投光毎に受光スキャンを行い、投光
器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０までそれぞれ受光スキャンを行
う。コントロールロジック回路２１により、受光スキャ
ンのマルチプレックスタイミングを制御し、マルチプレ
ックスＡ／Ｄ変換を行い、コントロールロジック２１を
通して、ＣＰＵ２３に受光データを読み込み、投受光一
スキャン分のデータ採取が完了する。この投受光一スキ
ャンを瓶一周分にわたって、データ採取処理を行う。１
スキャン目の受光タイミング３９、２スキャン目の受光
タイミング４０であり、その時の１スキャン目の検査エ
リア４２、２スキャン目の検査エリア４３、３スキャン
目の検査エリア４４、Ｎスキャン目の検査エリア４１で
ある。被検査瓶７が回転方向８のように回転するため、
全周にわたってデータ採取処理が行われる。
成図を示す。図５、図６を参考して説明する。投光レン
ズ２５、投光素子２６、投光ケーブル２７で構成する投
光器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０の投光タイミング（図５に示
す）を２８〜３７（図４）のようにコントロールロジッ
ク回路２１により制御した。受光レンズ１７、受光素子
１８、受光アンプ１９、受光ケーブル２０で構成する受
光器ＮＯ．１からＮＯ．６４は、受光タイミング３８の
タイミングで、一投光毎に受光スキャンを行い、投光
器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０までそれぞれ受光スキャンを行
う。コントロールロジック回路２１により、受光スキャ
ンのマルチプレックスタイミングを制御し、マルチプレ
ックスＡ／Ｄ変換を行い、コントロールロジック２１を
通して、ＣＰＵ２３に受光データを読み込み、投受光一
スキャン分のデータ採取が完了する。この投受光一スキ
ャンを瓶一周分にわたって、データ採取処理を行う。１
スキャン目の受光タイミング３９、２スキャン目の受光
タイミング４０であり、その時の１スキャン目の検査エ
リア４２、２スキャン目の検査エリア４３、３スキャン
目の検査エリア４４、Ｎスキャン目の検査エリア４１で
ある。被検査瓶７が回転方向８のように回転するため、
全周にわたってデータ採取処理が行われる。
【００３６】これをハンドリングマシンとのタイミング
で説明すると、マシン回転クロック４５の一周期分が瓶
１本のハンドリングとすると、検査中４６の期間内に瓶
全周分のデータ採取処理が行われ、次の瓶の検査中ま
での間、検査処理４８が行われ、検査中の先頭で検査
結果４７を出力する。この場合、不良瓶の時は排出信号
を出力する。
で説明すると、マシン回転クロック４５の一周期分が瓶
１本のハンドリングとすると、検査中４６の期間内に瓶
全周分のデータ採取処理が行われ、次の瓶の検査中ま
での間、検査処理４８が行われ、検査中の先頭で検査
結果４７を出力する。この場合、不良瓶の時は排出信号
を出力する。
【００３７】図７にＣＰＵ部２３におけるソフトウェア
の処理の概要を示し、その説明を行うと、POWER ON５８
で初期設定５９の処理により、システム動作の準備を行
う。次に、選択が、オフライン６０の場合は、オフライ
ンの初期設定６２の処理によりオフライン処理の準備を
行い、処理選択を待つ。オフライン処理には個別投光画
面処理６３、欠陥検出モニター処理６４、ファイル処理
６５があり、選択により実行する。又、選択がオンライ
ンの場合には、ON LINE処理６１を実行する。
の処理の概要を示し、その説明を行うと、POWER ON５８
で初期設定５９の処理により、システム動作の準備を行
う。次に、選択が、オフライン６０の場合は、オフライ
ンの初期設定６２の処理によりオフライン処理の準備を
行い、処理選択を待つ。オフライン処理には個別投光画
面処理６３、欠陥検出モニター処理６４、ファイル処理
６５があり、選択により実行する。又、選択がオンライ
ンの場合には、ON LINE処理６１を実行する。
【００３８】図８にON LINE処理６１のフローチャート
を示して説明すると、ON LINEスタート７０により処理
が開始され、検査中、信号比較手段７１により検査中４
６（図６）を認識し、投受光のスキャンが開始される。
その時、ＣＰＵは受光データ採取処理手段７２により、
一投光器当たり６４受光データ、１スキャン１０投光器
分のデータを読み込み、瓶一周分以上、瓶回転速度に対
応したスキャン数、およそ約１００スキャン分のデータ
を読み込む作業を行う。次に、データ並替処理手段７４
により、各投光器毎、受光器毎のデータを約１００スキ
ャンのデータとして、チャンネル単位で並替を行うと、
１０Ｘ６４スキャンの並び替えられたデータとして成立
する。その後、それらのスキャンデータを各スキャン毎
に微分処理手段７５により公知の微分処理を行うことに
より、受光データの変化量を算出する。そして、良品瓶
の場合には、検出された前記変化量のいずれかのデータ
がしきい値設定を越えないよう、微分レベル判定値をＮ
XＭチャンネルに対して、それぞれ自動設定しているた
め、ビリ欠陥として検出されないが、ビリ欠陥瓶の場合
には、ＮXＭチャンネルでいずれかの微分レベルデータ
が微分レベル判定値を越えるため、ビリ欠陥として検出
され、排出信号が出力され、排出される。そして、しき
い値比較処理手段７６により設定されたしきい値を越え
た場合は、口部・ネジ部の欠陥として認識され、欠陥分
類処理手段７７により、投光器と受光器の関係によっ
て、あらかじめ決められた欠陥分類によって分類され
る。そして、検査結果処理手段７８により、不良品の場
合はＮＧ信号が出力され、良品の場合は、ＮＧ信号は出
力されない。そして、あらかじめ設定されているオート
スライスＯＮ／ＯＦＦ９２がＯＮの場合にはオートスラ
イス処理９３が実行され、オートスライスＯＮ／ＯＦＦ
９２がＯＦＦの場合には、次の画面表示処理７９で検査
結果を表示する。
を示して説明すると、ON LINEスタート７０により処理
が開始され、検査中、信号比較手段７１により検査中４
６（図６）を認識し、投受光のスキャンが開始される。
その時、ＣＰＵは受光データ採取処理手段７２により、
一投光器当たり６４受光データ、１スキャン１０投光器
分のデータを読み込み、瓶一周分以上、瓶回転速度に対
応したスキャン数、およそ約１００スキャン分のデータ
を読み込む作業を行う。次に、データ並替処理手段７４
により、各投光器毎、受光器毎のデータを約１００スキ
ャンのデータとして、チャンネル単位で並替を行うと、
１０Ｘ６４スキャンの並び替えられたデータとして成立
する。その後、それらのスキャンデータを各スキャン毎
に微分処理手段７５により公知の微分処理を行うことに
より、受光データの変化量を算出する。そして、良品瓶
の場合には、検出された前記変化量のいずれかのデータ
がしきい値設定を越えないよう、微分レベル判定値をＮ
XＭチャンネルに対して、それぞれ自動設定しているた
め、ビリ欠陥として検出されないが、ビリ欠陥瓶の場合
には、ＮXＭチャンネルでいずれかの微分レベルデータ
が微分レベル判定値を越えるため、ビリ欠陥として検出
され、排出信号が出力され、排出される。そして、しき
い値比較処理手段７６により設定されたしきい値を越え
た場合は、口部・ネジ部の欠陥として認識され、欠陥分
類処理手段７７により、投光器と受光器の関係によっ
て、あらかじめ決められた欠陥分類によって分類され
る。そして、検査結果処理手段７８により、不良品の場
合はＮＧ信号が出力され、良品の場合は、ＮＧ信号は出
力されない。そして、あらかじめ設定されているオート
スライスＯＮ／ＯＦＦ９２がＯＮの場合にはオートスラ
イス処理９３が実行され、オートスライスＯＮ／ＯＦＦ
９２がＯＦＦの場合には、次の画面表示処理７９で検査
結果を表示する。
【００３９】図９に微分処理と、しきい値比較処理の説
明の為の図を示し、説明すると、スキャンデータ８３
は、前記１０個の投光器、６４個の受光器のうちの一投
光器、一受光器における約１００スキャン分のデータの
並替後のデータである。欠陥時レベルデータ６８、受光
センサベースデータ６６のような場合、微分比較幅であ
るＣＰパラメータ６７は、設定値１〜１０程度の数値で
設定し、何スキャン前のデータと差分をとるかを設定す
るパラメータである。スライスパラメータ６９は設定値
５〜１００程度の数値で設定し、しきい値として使用さ
れ、このしきい値を越えると欠陥と判定される。
明の為の図を示し、説明すると、スキャンデータ８３
は、前記１０個の投光器、６４個の受光器のうちの一投
光器、一受光器における約１００スキャン分のデータの
並替後のデータである。欠陥時レベルデータ６８、受光
センサベースデータ６６のような場合、微分比較幅であ
るＣＰパラメータ６７は、設定値１〜１０程度の数値で
設定し、何スキャン前のデータと差分をとるかを設定す
るパラメータである。スライスパラメータ６９は設定値
５〜１００程度の数値で設定し、しきい値として使用さ
れ、このしきい値を越えると欠陥と判定される。
【００４０】図１０に、ＯＮ ＬＩＮＥ時の画面を示
し、説明すると、良品本数８４、欠陥本数８５、トータ
ル処理本数８６をモニターし、欠陥本数８５の内分とし
て、横ビリ本数８７、縦ビリ本数８８を表示し、さら
に、欠陥検出の内分を投受光器毎に表示される。投光器
番号８９、受光器番号９０、欠陥検出比較９１は、製瓶
における欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上
にフィードバックすることにより、欠陥原因を究明する
ために重要なデータとなる。
し、説明すると、良品本数８４、欠陥本数８５、トータ
ル処理本数８６をモニターし、欠陥本数８５の内分とし
て、横ビリ本数８７、縦ビリ本数８８を表示し、さら
に、欠陥検出の内分を投受光器毎に表示される。投光器
番号８９、受光器番号９０、欠陥検出比較９１は、製瓶
における欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上
にフィードバックすることにより、欠陥原因を究明する
ために重要なデータとなる。
【００４１】図１１にオートスライス処理９３をフロー
チャートを示して説明する。本数カウント９４でオート
スライス本数のカウントがなされ、良品９８で良品瓶の
場合には、良品瓶ピークデータ処理９５によって、瓶口
部全周の全チャネルの微分レベル値を記憶しておき、設
定本数９６では、あらかじめ設定されている瓶の本数に
なるまで良品瓶ピークデータ処理９５を行う。そのと
き、前記記憶されている全チャネルの微分レベル値は、
瓶毎の口部全周の各チャネル毎のピーク値のデータが採
用される。そして、設定本数９６が、前記あらかじめ設
定されている本数になると、本数カウントクリア９９
で、本数カウント９４のカウンタがゼロクリアされて、
次にスライス再設定処理９７により設定本数９６で設定
されている瓶の本数の良品瓶の口部全周の全チャネルに
おける各チャネル毎の微分レベル値のピーク値にあらか
じめ設定されてある余有値が加算された数値がスライス
値として全チャネル再設定され、更新される。
チャートを示して説明する。本数カウント９４でオート
スライス本数のカウントがなされ、良品９８で良品瓶の
場合には、良品瓶ピークデータ処理９５によって、瓶口
部全周の全チャネルの微分レベル値を記憶しておき、設
定本数９６では、あらかじめ設定されている瓶の本数に
なるまで良品瓶ピークデータ処理９５を行う。そのと
き、前記記憶されている全チャネルの微分レベル値は、
瓶毎の口部全周の各チャネル毎のピーク値のデータが採
用される。そして、設定本数９６が、前記あらかじめ設
定されている本数になると、本数カウントクリア９９
で、本数カウント９４のカウンタがゼロクリアされて、
次にスライス再設定処理９７により設定本数９６で設定
されている瓶の本数の良品瓶の口部全周の全チャネルに
おける各チャネル毎の微分レベル値のピーク値にあらか
じめ設定されてある余有値が加算された数値がスライス
値として全チャネル再設定され、更新される。
【００４２】このことにより、オートスライスの更新
は、スライス感度を下げる方向、つまりスライス値の増
大は前記余有値の範囲内で処理され、スライス感度を上
げる方向は、ゼロ＋余有値迄自動的に感度が上昇する。
つまり瓶の口の成形型のバラツキ、摩耗等の経時変化に
よる、前記良品微分レベル値の増減、又はハンドリング
マシンにおける瓶を保持、回転させる部分のスターホイ
ルの各セクション毎のバラツキ、変動、摩耗等によるハ
ンドリングの経時変化における前記微分レベル値の増減
に対して、自動的に良否判定のしきい値のひとつである
スライス値を追従させることができる。
は、スライス感度を下げる方向、つまりスライス値の増
大は前記余有値の範囲内で処理され、スライス感度を上
げる方向は、ゼロ＋余有値迄自動的に感度が上昇する。
つまり瓶の口の成形型のバラツキ、摩耗等の経時変化に
よる、前記良品微分レベル値の増減、又はハンドリング
マシンにおける瓶を保持、回転させる部分のスターホイ
ルの各セクション毎のバラツキ、変動、摩耗等によるハ
ンドリングの経時変化における前記微分レベル値の増減
に対して、自動的に良否判定のしきい値のひとつである
スライス値を追従させることができる。
【００４３】本実施例によれば、瓶口部、肩部検査に関
して良品排除率０．２％、欠陥検出率８０％以上を達成
させることができ、重大欠陥に関してはほぼ１００％検
出することができた。
して良品排除率０．２％、欠陥検出率８０％以上を達成
させることができ、重大欠陥に関してはほぼ１００％検
出することができた。
【発明の効果】本発明によれば、製瓶工場において、ガ
ラス容器の口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させること
ができ、又、ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀
れる。又、欠陥種別の情報を適格に表現することによ
り、欠陥原因の分析と対策を迅速に講ずることができ
る。これらによって、生産性の向上、省力化を推進する
ことができる。 そして、公知の型替時間を短縮させる
ことができ、オンライン時のラインオペレータの手がほ
とんどかからないという効果を有する。又、検査感度が
保持されるので、検査部位の欠陥種類を安定的に検出す
ることができる。
ラス容器の口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させること
ができ、又、ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀
れる。又、欠陥種別の情報を適格に表現することによ
り、欠陥原因の分析と対策を迅速に講ずることができ
る。これらによって、生産性の向上、省力化を推進する
ことができる。 そして、公知の型替時間を短縮させる
ことができ、オンライン時のラインオペレータの手がほ
とんどかからないという効果を有する。又、検査感度が
保持されるので、検査部位の欠陥種類を安定的に検出す
ることができる。
【図１】 投受光センサと瓶の配置と投受光エリアを示
す説明図。
す説明図。
【図２】 投受光センサの詳細配置図。
【図３】 検査治具の取付側面図。
【図４】 本発明の一実施例のシステムブロック図。
【図５】 投受光タイミングと検査エリアを示す説明
図。
図。
【図６】 実機オンライン時における検査処理タイミン
グ図。
グ図。
【図７】 本発明の一実施例のソフトウェアの概略を示
すシステムのフローチャート。
すシステムのフローチャート。
【図８】 実機オンライン時における動作処理のフロー
チャート。
チャート。
【図９】 微分処理の説明図。
【図１０】 オンライン時における表示画面。
【図１１】 オートスライス処理のフローチャート。
１ 投光器配置位置 ２ 受光器配置位置 ３ 投光線 ４ 受光線 ５ 瓶回転受ローラー ６ 瓶回転ローラー ７ 被検査瓶 ８ 瓶回転方向 ９ 治具ヘッド １０ 欠 １１ 投光器 １２ 受光器 １３ スターホイル １４ 高さ可変ツマミ １５ 左右可変ツマミ １６ 前後方向可変ツマミ １７ 受光レンズ １８ 受光素子 １９ 受光アンプ ２０ 受光ケーブル ２１ マルチプレックスＡ／Ｄ変換回路 ２２ コントロールロジック回路 ２３ ＣＰＵ部 ２４ 表示部 ２５ 投光レンズ ２６ 投光素子 ２７ 投光ケーブル ２８〜３７ 投光器ＮＯ，１〜ＮＯ．１０投光タイミン
グ ３８ 受光タイミング ３９ １スキャン目の受光タイミング ４０ ２スキャン目の受光タイミング ４１ Ｎスキャン目の検査エリア ４２ １スキャン目の検査エリア ４３ ２スキャン目の検査エリア ４４ ３スキャン目の検査エリア ４５ マシン回転クロック ４６ 検査中 ４７ 検査結果 ４８ 検査処理 ４９ 瓶静止回転タイミング ５０ 瓶静止回転終了タイミング ５１ 検査結果出力タイミング ５８ ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９ 初期設定 ６０ ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１ ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２ 初期設定２ ６３ 個別投光画面処理手段 ６４ 欠陥検出モニタ処理手段 ６５ ファイル処理手段 ６６ 受光センサベースデータ ６７ ＣＰパラメータ ６８ 欠陥時レベルデータ ６９ スライスパラメータ ７０ ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１ 検査中信号比較手段１ ７２ 受光データ採取処理手段 ７３ 検査中信号比較手段２ ７４ データ並替処理手段 ７５ 微分処理手段 ７６ しきい値比較処理手段 ７７ 欠陥分類処理手段 ７８ 検査結果処理手段 ７９ 画面表示処理手段 ８０ ループ１ ８１ ループ２ ８２ ループ３ ８３ スキャンデータ ８４ 良品本数 ８５ 欠陥本数 ８６ トータル処理本数 ８７ 横ビリ本数 ８８ 縦ビリ本数 ８９ 投光器番号 ９０ 受光器番号 ９１ 欠陥検出比率 ９３オートスライス処理手段 ９４ 本数カウント手段 ９５ 良品瓶ピークデータ処理手段 ９７ スライス再設定処理手段
グ ３８ 受光タイミング ３９ １スキャン目の受光タイミング ４０ ２スキャン目の受光タイミング ４１ Ｎスキャン目の検査エリア ４２ １スキャン目の検査エリア ４３ ２スキャン目の検査エリア ４４ ３スキャン目の検査エリア ４５ マシン回転クロック ４６ 検査中 ４７ 検査結果 ４８ 検査処理 ４９ 瓶静止回転タイミング ５０ 瓶静止回転終了タイミング ５１ 検査結果出力タイミング ５８ ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９ 初期設定 ６０ ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１ ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２ 初期設定２ ６３ 個別投光画面処理手段 ６４ 欠陥検出モニタ処理手段 ６５ ファイル処理手段 ６６ 受光センサベースデータ ６７ ＣＰパラメータ ６８ 欠陥時レベルデータ ６９ スライスパラメータ ７０ ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１ 検査中信号比較手段１ ７２ 受光データ採取処理手段 ７３ 検査中信号比較手段２ ７４ データ並替処理手段 ７５ 微分処理手段 ７６ しきい値比較処理手段 ７７ 欠陥分類処理手段 ７８ 検査結果処理手段 ７９ 画面表示処理手段 ８０ ループ１ ８１ ループ２ ８２ ループ３ ８３ スキャンデータ ８４ 良品本数 ８５ 欠陥本数 ８６ トータル処理本数 ８７ 横ビリ本数 ８８ 縦ビリ本数 ８９ 投光器番号 ９０ 受光器番号 ９１ 欠陥検出比率 ９３オートスライス処理手段 ９４ 本数カウント手段 ９５ 良品瓶ピークデータ処理手段 ９７ スライス再設定処理手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/90 G01B 11/00 - 11/30
Claims (5)
- 【請求項１】 検査位置におかれた被検査体を回転させ
る回転手段と、ガラス容器の口部及びネジ部を中心とし
て周囲に、略半円球状の取付治具に複数個の投光器と、
複数個の受光器を配置し、前記投光器の数をＮ、受光器
の数をＭとすると、前記被検査体に対して１スキャン当
たりＮXＭのデータを採取するデータ採取手段と、採取
されたデータを並替るデータ並替処理手段及び並替られ
たデータを微分する微分手段とからなることを特徴とす
るガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置において、
初期に良品登録され、決定されたしきい値に対して、定
期的な時間毎、或いは瓶の通過本数毎に自動的にＮXＭ
の全チャンネル又は部分的チャンネルの良品データを採
取し、しきい値を再設定することを特徴とするガラス容
器の口部・ネジ部ビリ検査装置。 - 【請求項２】 該しきい値の再設定が、しきい値を越え
ない良品瓶のピーク値、収集された良品データの平均値
又は標準偏差値によりしきい値を再設定する請求項１記
載の装置。 - 【請求項３】 ガラス容器の口部、ネジ部、首部、肩部
におけるにおける公知の欠陥種別である天流れ、天ス
ジ、天カミダシ、泡、異物、ビリ、カケ、ネジ出、変形
及びシワの全部又は一部の欠陥を検出することができる
前記請求項１又は２記載の装置。 - 【請求項４】 公知の瓶の成形型番毎のバラツキ又は時
間毎の成形のバラツキを自動的に読みとり、検査感度を
自動的に補正、又は設定する前記請求項１乃至３記載の
装置。 - 【請求項５】 公知の瓶のインデックスタイプのハンド
リングマシンにおけるスターホイルの各セクションの瓶
を保持、又は回転させる機構のバラツキ、又は経時変化
を自動的に読みとり、検査感度を自動的に補正、又は設
定する前記請求項１乃至４記載の装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9289054A JP3013324B2 (ja) | 1997-10-06 | 1997-10-06 | ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置 |
| US09/529,003 US6480280B1 (en) | 1997-10-06 | 1998-08-12 | Device for detecting crizzle in the mouth and thread of glass containers |
| PCT/JP1998/003580 WO1999018427A1 (fr) | 1997-10-06 | 1998-08-12 | Dispositif de detection de la calcinure dans le goulot et le filet de recipients en verre |
| EP98937784A EP1020720A1 (en) | 1997-10-06 | 1998-08-12 | Device for detecting crizzle in the mouth and thread of glass containers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9289054A JP3013324B2 (ja) | 1997-10-06 | 1997-10-06 | ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11108854A JPH11108854A (ja) | 1999-04-23 |
| JP3013324B2 true JP3013324B2 (ja) | 2000-02-28 |
Family
ID=17738235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9289054A Expired - Fee Related JP3013324B2 (ja) | 1997-10-06 | 1997-10-06 | ガラス容器の口部・ネジ部ビリ検査装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6480280B1 (ja) |
| EP (1) | EP1020720A1 (ja) |
| JP (1) | JP3013324B2 (ja) |
| WO (1) | WO1999018427A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004014532B3 (de) * | 2004-03-23 | 2005-03-03 | Koenig & Bauer Ag | Optisches System zur Erzeugung eines beleuchteten Gebildes |
| US7060999B2 (en) | 2004-07-09 | 2006-06-13 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Apparatus and method for inspecting ribbed containers |
| WO2012043618A1 (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-05 | キリンテクノシステム株式会社 | ガラス壜の検査装置および方法 |
| US9147241B2 (en) | 2011-06-15 | 2015-09-29 | Kirin Techno-System Company, Limited | Glass bottle inspection method and apparatus |
| US8941825B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-01-27 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container inspection |
| US10012598B2 (en) | 2015-07-17 | 2018-07-03 | Emhart S.A. | Multi-wavelength laser check detection tool |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5965243A (ja) * | 1982-10-06 | 1984-04-13 | Toyo Glass Kk | びん検査装置 |
| US5496996A (en) * | 1995-01-24 | 1996-03-05 | Honeywell Inc. | Photoelectric device with capability to change threshold levels in response to changing light intensities |
| JPH09119902A (ja) * | 1995-09-13 | 1997-05-06 | Nippon Glass Kk | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
| JP3039500U (ja) * | 1996-09-06 | 1997-07-22 | 株式会社プレシジョン | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
-
1997
- 1997-10-06 JP JP9289054A patent/JP3013324B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-08-12 WO PCT/JP1998/003580 patent/WO1999018427A1/ja not_active Application Discontinuation
- 1998-08-12 US US09/529,003 patent/US6480280B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-08-12 EP EP98937784A patent/EP1020720A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1999018427A1 (fr) | 1999-04-15 |
| JPH11108854A (ja) | 1999-04-23 |
| EP1020720A1 (en) | 2000-07-19 |
| US6480280B1 (en) | 2002-11-12 |
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