JPS5965243A - びん検査装置 - Google Patents
びん検査装置Info
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- JPS5965243A JPS5965243A JP17576882A JP17576882A JPS5965243A JP S5965243 A JPS5965243 A JP S5965243A JP 17576882 A JP17576882 A JP 17576882A JP 17576882 A JP17576882 A JP 17576882A JP S5965243 A JPS5965243 A JP S5965243A
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- light
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、びんの封口面となる開口端面部の欠陥の有無
を検査するびん検査装置に関するものである。
を検査するびん検査装置に関するものである。
びんの開口端面（以下これを「天」という）に欠陥が存
在すると密封キャップをかぶせたときの密封性が損われ
るので、欠陥の存在するびんは排除しなければならない
。従来、この種の欠陥を検出するために、びんの天を光
学的に走査してその反射光を電気信号に変換し、その電
気信号の異常性から天の欠陥を検知するようにした検査
装置が種々提案されている。しかし、この種の検査装置
においては、個々のびんの天の反射率の違いや、投光器
の経年劣化、環境の明暗度の経時的変化、投光器の電源
電圧変動などにより、たとえ欠陥の無い場合であっても
受光素子の電気出力に大きな変動を来たし、そのため処
理信号の平均レベルも大きく変化するので高精度の欠陥
検出は困難であり、信頼性を低下させる一因となってい
た。
在すると密封キャップをかぶせたときの密封性が損われ
るので、欠陥の存在するびんは排除しなければならない
。従来、この種の欠陥を検出するために、びんの天を光
学的に走査してその反射光を電気信号に変換し、その電
気信号の異常性から天の欠陥を検知するようにした検査
装置が種々提案されている。しかし、この種の検査装置
においては、個々のびんの天の反射率の違いや、投光器
の経年劣化、環境の明暗度の経時的変化、投光器の電源
電圧変動などにより、たとえ欠陥の無い場合であっても
受光素子の電気出力に大きな変動を来たし、そのため処
理信号の平均レベルも大きく変化するので高精度の欠陥
検出は困難であり、信頼性を低下させる一因となってい
た。
したがって本発明の目的は、びんの天に生じ得ろ種々の
欠陥をより高精度に高信頼性をもって検出し得るびん検
査装置を提供することにある。
欠陥をより高精度に高信頼性をもって検出し得るびん検
査装置を提供することにある。
この目的を達成するために本発明は、
ａ）びんの開口端面に向けて投光する投光器と、ｂ）前
記開口端面からの反射光を受け、その受光量に応じたレ
ベルの電気信号を出力する光電変換素子と、 Ｃ）びん開口端面が順次全周にわたって投光されるよう
にびんを回転駆動する駆動装置と、ｄ）前記光電変換素
子の出力信号を増幅する可変増幅度の増幅器と、 ｅ）この増幅器の出力信号を各びんごとに記憶するメモ
リと、 ｆ）このメモリに記憶されたデータのうち、過去最新の
所定数のびんについてのデータの平均値を求め、その平
均値が予め定められた所定値となるように前記増幅器の
増幅度を調節する演算制御手段と、 ｇ）検査中のびんについて開口端面全周にわたる前記増
幅器の出力信号の異常成分が所定値を超えたとき欠陥信
号を出力する比較演算手段とを備えて成るびん検査装置
を構成したものである。
記開口端面からの反射光を受け、その受光量に応じたレ
ベルの電気信号を出力する光電変換素子と、 Ｃ）びん開口端面が順次全周にわたって投光されるよう
にびんを回転駆動する駆動装置と、ｄ）前記光電変換素
子の出力信号を増幅する可変増幅度の増幅器と、 ｅ）この増幅器の出力信号を各びんごとに記憶するメモ
リと、 ｆ）このメモリに記憶されたデータのうち、過去最新の
所定数のびんについてのデータの平均値を求め、その平
均値が予め定められた所定値となるように前記増幅器の
増幅度を調節する演算制御手段と、 ｇ）検査中のびんについて開口端面全周にわたる前記増
幅器の出力信号の異常成分が所定値を超えたとき欠陥信
号を出力する比較演算手段とを備えて成るびん検査装置
を構成したものである。
以下、図面に示す実施例を参照して本発明の詳細な説明
する。
する。
第１図は、検査対象の天２を有するびん１と、びん１の
斜め上方から天２に向けて投光する投光器３と、天２か
もの反射光を受けてその受光量に応じたレベルの電気信
号を出力する光電変換素子４とを示している。びん１は
天２の全周にわたる光学的定食のため検査位置で、図示
していない駆動装置により少なくとも１回転だけ回転駆
動されろ。ここまでの装膜部分は従来公知のものをその
まま用いて構成することができる。
斜め上方から天２に向けて投光する投光器３と、天２か
もの反射光を受けてその受光量に応じたレベルの電気信
号を出力する光電変換素子４とを示している。びん１は
天２の全周にわたる光学的定食のため検査位置で、図示
していない駆動装置により少なくとも１回転だけ回転駆
動されろ。ここまでの装膜部分は従来公知のものをその
まま用いて構成することができる。
第２図に示すように、光電変換素子４の出力電気信号は
増幅度可変の増幅器５およびＡ−Ｄ変換器６を介してメ
モリ７に記憶される。一方、びん１を回転駆動する駆動
装置の動きに連係してびん１の回転速度を速度検出器８
により検出し、その検出値と、その都度のびん口径を設
定するびん口径設定部９の設定値とに基づいて、光学的
に走査する天２の走査速度を天ｔ７１５周速演算器１０
により演算する。この演算器１０の演算結果に基づいて
、Ａ−Ｄ変換器６は、びん１が１周する間に採取するデ
ータのピッチが駆動装置の速度やびん口径のいかんにか
かわらず、常に一足になるように変換タイミング設定器
１１を介して調整されろ。
増幅度可変の増幅器５およびＡ−Ｄ変換器６を介してメ
モリ７に記憶される。一方、びん１を回転駆動する駆動
装置の動きに連係してびん１の回転速度を速度検出器８
により検出し、その検出値と、その都度のびん口径を設
定するびん口径設定部９の設定値とに基づいて、光学的
に走査する天２の走査速度を天ｔ７１５周速演算器１０
により演算する。この演算器１０の演算結果に基づいて
、Ａ−Ｄ変換器６は、びん１が１周する間に採取するデ
ータのピッチが駆動装置の速度やびん口径のいかんにか
かわらず、常に一足になるように変換タイミング設定器
１１を介して調整されろ。
メモリ７にはＡ−Ｄ変換器６から出力されろデータが各
びんごとに一連のディジタル量として記憶されるので、
その記憶データを基にして演算制御器１２はまず次のよ
うな演算を行なう。
びんごとに一連のディジタル量として記憶されるので、
その記憶データを基にして演算制御器１２はまず次のよ
うな演算を行なう。
いま便宜上、メモリ７の記憶内容がアナログ的に表現し
て第３図に示すようであったとして、あるびんの検査時
点Ｑを基準として、すでに検査済のびんについてのデー
タのうち、最新のものを予め定めた所定数（例えば１０
組）だけＤｚ 、 Ｄ２・・・Ｄｎと用いてその平均値
Ｐ、を求める。すなわち個々のびんのデータＤ １ ＊
Ｄ ２・・・の平均値をＤ１＋Ｄ２ ｙ・・・とし
て、 を求める。第３図には個々のびん相互間で平均反射光信
号レベルが大幅に異なるかのように多少誇張されて表現
されているが、実際は、同一生産ロット内ではこの差は
もつと小さい。そこで過去所定数（例えば１０個）のび
んについてのデータを平均することにより特定のびんの
欠陥等による異常データに基づく影響を薄めろようにし
ているのである。この平均値Ｐ１は、びんの検査が進行
するにつれて、平均値の計算に用いたデータのうち最も
古いものはその都度捨て、その代り最新のびんについて
のデータを補充するようにして、常に更新するものとす
る。
て第３図に示すようであったとして、あるびんの検査時
点Ｑを基準として、すでに検査済のびんについてのデー
タのうち、最新のものを予め定めた所定数（例えば１０
組）だけＤｚ 、 Ｄ２・・・Ｄｎと用いてその平均値
Ｐ、を求める。すなわち個々のびんのデータＤ １ ＊
Ｄ ２・・・の平均値をＤ１＋Ｄ２ ｙ・・・とし
て、 を求める。第３図には個々のびん相互間で平均反射光信
号レベルが大幅に異なるかのように多少誇張されて表現
されているが、実際は、同一生産ロット内ではこの差は
もつと小さい。そこで過去所定数（例えば１０個）のび
んについてのデータを平均することにより特定のびんの
欠陥等による異常データに基づく影響を薄めろようにし
ているのである。この平均値Ｐ１は、びんの検査が進行
するにつれて、平均値の計算に用いたデータのうち最も
古いものはその都度捨て、その代り最新のびんについて
のデータを補充するようにして、常に更新するものとす
る。
しかして、電子回路製餡を安定に正しく動作させるため
には、すでに述べたように、信号レベルを所定値にそろ
えるのが望ましく、そのレベルを演算制御器１２内に設
定し、前述の平均値Ｐｌがその設定値に一致するように
、演算制御器１２はＤ −Ａ変換器１３を介して増幅器
５の増幅度を調節する。
には、すでに述べたように、信号レベルを所定値にそろ
えるのが望ましく、そのレベルを演算制御器１２内に設
定し、前述の平均値Ｐｌがその設定値に一致するように
、演算制御器１２はＤ −Ａ変換器１３を介して増幅器
５の増幅度を調節する。
このようにして一定レベルの電気信号となるように増幅
された光電変換素子４の出力信号がＡ −Ｄ変換されて
メモリ７に、記憶される。ここで最後に検査されたびん
すなわち被検査びんについての記憶データを用いて比較
演算器１４はその被検査びんについて欠陥の有無を判断
する。そのため、被検査びんについての平均値Ｐ。を計
算するとともに、一つのびんについての一連のデータ中
の極太値Ｐｘおよび極小値Ｐｚを嫡出し、△Ｐｏ＝ｌＰ
ｌ−Ｐ０１および△Ｐｍ ＝ Ｐｘ −Ｐ ｚがそれぞ
れ定められた各限界値以内か、またはそれを超えている
かを判断する。そして前者の場合は欠陥無し、またはあ
ってもそれは許容範囲内であると判断し、後者の場合は
欠陥ありと判断して欠陥信号を出力する。この欠陥信号
は、例えばドライバ１５を介して、生産ラインにおける
欠陥びんの排除信号として用いたり、記録や警報用、工
程管理用などのための信号として用いたりすることがで
きる。
された光電変換素子４の出力信号がＡ −Ｄ変換されて
メモリ７に、記憶される。ここで最後に検査されたびん
すなわち被検査びんについての記憶データを用いて比較
演算器１４はその被検査びんについて欠陥の有無を判断
する。そのため、被検査びんについての平均値Ｐ。を計
算するとともに、一つのびんについての一連のデータ中
の極太値Ｐｘおよび極小値Ｐｚを嫡出し、△Ｐｏ＝ｌＰ
ｌ−Ｐ０１および△Ｐｍ ＝ Ｐｘ −Ｐ ｚがそれぞ
れ定められた各限界値以内か、またはそれを超えている
かを判断する。そして前者の場合は欠陥無し、またはあ
ってもそれは許容範囲内であると判断し、後者の場合は
欠陥ありと判断して欠陥信号を出力する。この欠陥信号
は、例えばドライバ１５を介して、生産ラインにおける
欠陥びんの排除信号として用いたり、記録や警報用、工
程管理用などのための信号として用いたりすることがで
きる。
次に光電変換素子４の出力信号つまりは増幅器５の出力
信号の波形の具体例と、それに対応する欠陥について説
明する。
信号の波形の具体例と、それに対応する欠陥について説
明する。
第４図に、被検査びん固有の平均値Ｐｏが前述の一連の
びんについての平均値ＰＩにほぼ一致しているか、ごく
幅の狭い小伽幅のパルス状異常波形が現われる場合であ
って、△Ｐｍ も予め定められた限界値以下である例
を示すものであり、これは比較演ｑ器１５により正常（
欠陥なし）と判断される。このケースは、びん１の天２
にわたぼこりのような小さなごみが付着したような場合
に相当する。
びんについての平均値ＰＩにほぼ一致しているか、ごく
幅の狭い小伽幅のパルス状異常波形が現われる場合であ
って、△Ｐｍ も予め定められた限界値以下である例
を示すものであり、これは比較演ｑ器１５により正常（
欠陥なし）と判断される。このケースは、びん１の天２
にわたぼこりのような小さなごみが付着したような場合
に相当する。
第５図は、全体的になだらかに傾斜した変化を示してい
るが、その平均値Ｐｏと平均値Ｐｌとの間の差△ＰＯも
、極太値と極小値との間の差△Ｐｍも共に所定の限界値
以内である場合を示し、この場合も正常と判断される。
るが、その平均値Ｐｏと平均値Ｐｌとの間の差△ＰＯも
、極太値と極小値との間の差△Ｐｍも共に所定の限界値
以内である場合を示し、この場合も正常と判断される。
第６図は、比較的大きな正のパルスが現れることにより
差△Ｐｍが限界値を超える場合を示すものであって、こ
れは第１１図に例示するクローズ・プリスタ（閉じた泡
） ＣＢと言われる欠陥に対応する。
差△Ｐｍが限界値を超える場合を示すものであって、こ
れは第１１図に例示するクローズ・プリスタ（閉じた泡
） ＣＢと言われる欠陥に対応する。
第７図は、第６図とは異なり、比較的大きな負のパルス
が現れることにより差△Ｐｍが限界値を超える場合であ
って、これは第１１図の天すしＴＳや、第１２図の口焼
きびりＫＢ 、オーブン・プリスタ（開いた泡）ＯＢと
言われる欠陥に対応する。
が現れることにより差△Ｐｍが限界値を超える場合であ
って、これは第１１図の天すしＴＳや、第１２図の口焼
きびりＫＢ 、オーブン・プリスタ（開いた泡）ＯＢと
言われる欠陥に対応する。
第８図は、全体的になだらかに傾斜して１往復するタイ
プであって、しかも△Ｐｍが所定の限界値よりも大きい
場合であり、これは第１４図に示すように正しくは破線
２Ｔで表される水平な天となるべきところであるのに、
天２が傾斜した、いわゆる天領斜という欠陥に対応する
。
プであって、しかも△Ｐｍが所定の限界値よりも大きい
場合であり、これは第１４図に示すように正しくは破線
２Ｔで表される水平な天となるべきところであるのに、
天２が傾斜した、いわゆる天領斜という欠陥に対応する
。
第９図は、波形中に比較的大きな谷が現れる場合であっ
て、八Ｐｍ も犬である場合である。これは第１３図
に示すような大波ＴＮや天流れＴＦと言われる欠陥に対
応するものである。
て、八Ｐｍ も犬である場合である。これは第１３図
に示すような大波ＴＮや天流れＴＦと言われる欠陥に対
応するものである。
第１０図は、波形が全体として平坦ではあるがレベルが
低く、平均値Ｐｏが平均値Ｐｌ よりかなり小さく△Ｐ
ｏ が所定の限界値を超える場合である。
低く、平均値Ｐｏが平均値Ｐｌ よりかなり小さく△Ｐ
ｏ が所定の限界値を超える場合である。
これは第１５図に示す、ようにびん１の高さ）Ｉｓが規
定の高さ寸法ＨｔｌＣ達せず、しかも許容誤差範囲を超
える場合とか、びん１． Ｉｆ（口が全く不十分にしか
形成されてい１．ｃい場ＯＫ対応する。
定の高さ寸法ＨｔｌＣ達せず、しかも許容誤差範囲を超
える場合とか、びん１． Ｉｆ（口が全く不十分にしか
形成されてい１．ｃい場ＯＫ対応する。
以上述べた第６図〜第１０図の波形の場合はそれぞれ第
１１図〜第１５図に示すような欠陥が存在する場合であ
って、比較演算器１５が欠陥信号を出力ずろ。
１１図〜第１５図に示すような欠陥が存在する場合であ
って、比較演算器１５が欠陥信号を出力ずろ。
欠陥かどうかの判断を行なう場合の限界値すなわちしき
い値は不良信号の特徴つまり検出すべきびんの天の欠陥
の種ｉ＋ｃ応じて、異なるレベルを設定するのかよい。
い値は不良信号の特徴つまり検出すべきびんの天の欠陥
の種ｉ＋ｃ応じて、異なるレベルを設定するのかよい。
このような波形の特徴認識およびその認識結果に基づく
限界値の設定は比較演算器１５を用いて行なうことがで
きる。
限界値の設定は比較演算器１５を用いて行なうことがで
きる。
信号波形の特徴の認はおよび限界値の設定例について次
に説明する。
に説明する。
まず欠陥の種類を次の３拙に大別する。
：Ｉｉ：１：口焼きびりＫＢ （第７図、第１２図）オ
ープン・プリスタＯＢ （第７図、第１２図） 天すしＴＳ （第７図、第１１図） １：２：クローズド・ブリスタＣＢ （第６図、第１１
図） ＄３：大波ＴＮ （第９図、第１３図）天流れＴＦ （
第９図、第１３図） このような分類を前提として、びん口の全周囲長さに対
して欠陥に対応する不良信号部の長さが、ａ）４：１の
欠陥に対しては明方向に００１〜０．１ ％である時 ｂ）＄２の欠陥に対しては明方向に０．０１〜０４１％
である時 Ｃ）４１：３の欠陥に対しては暗方向にｌＯ〜３０チで
ある時 にそれぞれ一応、欠陥ありと予備的に判断し、さらにび
んの用途・封口（み造に応じて次表に示す許容限界値、
すなわち平均値ｐｉに対するずれの許容限界値、を超え
た時に最終的に欠陥ありと判断する。
ープン・プリスタＯＢ （第７図、第１２図） 天すしＴＳ （第７図、第１１図） １：２：クローズド・ブリスタＣＢ （第６図、第１１
図） ＄３：大波ＴＮ （第９図、第１３図）天流れＴＦ （
第９図、第１３図） このような分類を前提として、びん口の全周囲長さに対
して欠陥に対応する不良信号部の長さが、ａ）４：１の
欠陥に対しては明方向に００１〜０．１ ％である時 ｂ）＄２の欠陥に対しては明方向に０．０１〜０４１％
である時 Ｃ）４１：３の欠陥に対しては暗方向にｌＯ〜３０チで
ある時 にそれぞれ一応、欠陥ありと予備的に判断し、さらにび
んの用途・封口（み造に応じて次表に示す許容限界値、
すなわち平均値ｐｉに対するずれの許容限界値、を超え
た時に最終的に欠陥ありと判断する。
（チ）
ここに例示するように限界値は比較的小さなものである
が、本発明によれば、個々のびんの天の反射率の違いや
、投光器の経年変化・電源電圧の変動、さらには検査場
所の明暗度の経時的変化などがあっても、４３号処理系
に前置されている増幅器の増幅度をその都度調節して平
均値としては常に一定レベルの信号が出力されろように
したので、１３号レベルの変動による誤動作のメ、１蔀
・、高精度かつ高信碩性のびん検査装置を提供すること
ができろ。
が、本発明によれば、個々のびんの天の反射率の違いや
、投光器の経年変化・電源電圧の変動、さらには検査場
所の明暗度の経時的変化などがあっても、４３号処理系
に前置されている増幅器の増幅度をその都度調節して平
均値としては常に一定レベルの信号が出力されろように
したので、１３号レベルの変動による誤動作のメ、１蔀
・、高精度かつ高信碩性のびん検査装置を提供すること
ができろ。
なお、実施例においてをエメモリおよび演算器の構成が
簡単になることがらディジタル化した回路のものについ
て説明したが、場合によってはアナログ回路のみで全装
置を構成してもよい。また、第２図の装置において演算
制御器１２および比較演算器１５は共通の計７３：ＦＡ
を共用するように構成してもよい。
簡単になることがらディジタル化した回路のものについ
て説明したが、場合によってはアナログ回路のみで全装
置を構成してもよい。また、第２図の装置において演算
制御器１２および比較演算器１５は共通の計７３：ＦＡ
を共用するように構成してもよい。
第１図は、本発明装置における投光器および光電変換素
子の光学的配性な示す側面図、第２図は、本発明の一実
施例を示すブロック図、第３図は、本発明の増幅器の増
幅度調節方法を説明するための波形図、 第４〜１０図は、増幅器から出力されろ信号波形の具体
例を示す波形図、 第１１〜１３図は、びんの天に生じる種々の欠陥例を示
す部分斜視図、 第１４〜１５図は、さらに他の欠陥例を示すびんの側面
図である。 １・・・びん、２・・・天（開口端面）、３・・・投光
器、４・・・光電変換素子、５・・・増幅器、７・・・
メモリ、１２・・・演算制御器、１５・・・比較演算器
。 出願人代理人 猪 股 清 手続補正書（方式） 昭和明年３月３日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第１７５７６８号 ２、発明の名称 びん検査装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 東洋ガラス株式会社 明細書および図面 ８、補正の内容 明細書および図面の浄書（内容に変更なし）補正の対象 一願香り発明者−１１）願・人の欄− １甫正の内容 別紙の通り 明細書中発明の詳細な説明を下記の通り補正しまず。 １、 明細１１Ｆ第７頁２行において「蛋メそ」とある
のを「窒化」と訂正します。 ２ 同第４頁１５行において「８意」とあるのを「容易
」と訂正しまず。 ２５３−一
子の光学的配性な示す側面図、第２図は、本発明の一実
施例を示すブロック図、第３図は、本発明の増幅器の増
幅度調節方法を説明するための波形図、 第４〜１０図は、増幅器から出力されろ信号波形の具体
例を示す波形図、 第１１〜１３図は、びんの天に生じる種々の欠陥例を示
す部分斜視図、 第１４〜１５図は、さらに他の欠陥例を示すびんの側面
図である。 １・・・びん、２・・・天（開口端面）、３・・・投光
器、４・・・光電変換素子、５・・・増幅器、７・・・
メモリ、１２・・・演算制御器、１５・・・比較演算器
。 出願人代理人 猪 股 清 手続補正書（方式） 昭和明年３月３日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第１７５７６８号 ２、発明の名称 びん検査装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 東洋ガラス株式会社 明細書および図面 ８、補正の内容 明細書および図面の浄書（内容に変更なし）補正の対象 一願香り発明者−１１）願・人の欄− １甫正の内容 別紙の通り 明細書中発明の詳細な説明を下記の通り補正しまず。 １、 明細１１Ｆ第７頁２行において「蛋メそ」とある
のを「窒化」と訂正します。 ２ 同第４頁１５行において「８意」とあるのを「容易
」と訂正しまず。 ２５３−一
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ａ）びんの開口端面に向けて投光する投光器と、ｂ）前
記開口端面からの反射光を受け、その受光量に応じたレ
ベルの電気信号を出力する光電変換素子と、 Ｃ）びん開口端面が順次全周にわたって投光されろよう
にびんを回転駆動する駆動装置と、ｄ）前記光電変換素
子の出力信号を増幅する可変増幅度の増幅器と、 ｅ）この増幅器の出力信号を各びんごとに記憶するメモ
リと、 ｆ）このメモリに記憶されたデータのうち、過去最新の
所定数のびんについてのデータの平均値を求め、その平
均値が予め定められた所定値となるように前記増幅器の
増幅度を調節する演算制御手段と、 ｇ）検査中のびんについて開口端面全周にわたる前記増
幅器の出力信号の異常成分が所定値を超えたとき欠陥信
号を出力する比較演算手段とを備えて成るびん検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17576882A JPS5965243A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | びん検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17576882A JPS5965243A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | びん検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5965243A true JPS5965243A (ja) | 1984-04-13 |
| JPH037260B2 JPH037260B2 (ja) | 1991-02-01 |
Family
ID=16001914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17576882A Granted JPS5965243A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | びん検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5965243A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0192487A2 (en) * | 1985-02-22 | 1986-08-27 | Toyo Glass Company Limited | Vessel opening top inspection apparatus |
| FR2585131A1 (fr) * | 1985-07-19 | 1987-01-23 | Owens Illinois Inc | Controle des goulots de recipient |
| JPH01253642A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-10-09 | Emhart Ind Inc | ガラス容器の密閉面を光学的に検査する装置 |
| US5489987A (en) * | 1994-04-07 | 1996-02-06 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| US5617204A (en) * | 1994-04-19 | 1997-04-01 | Hinata; Kunio | Method for inspecting neck portion of molded bottle |
| WO1999018427A1 (fr) * | 1997-10-06 | 1999-04-15 | Precision Co., Ltd. | Dispositif de detection de la calcinure dans le goulot et le filet de recipients en verre |
| US5896195A (en) * | 1997-05-15 | 1999-04-20 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface area inspection |
| US6256095B1 (en) | 2000-01-21 | 2001-07-03 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface area inspection |
-
1982
- 1982-10-06 JP JP17576882A patent/JPS5965243A/ja active Granted
Cited By (9)
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| EP0192487A2 (en) * | 1985-02-22 | 1986-08-27 | Toyo Glass Company Limited | Vessel opening top inspection apparatus |
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| US6256095B1 (en) | 2000-01-21 | 2001-07-03 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface area inspection |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH037260B2 (ja) | 1991-02-01 |
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