JP2012096316A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012096316A5
JP2012096316A5 JP2010245974A JP2010245974A JP2012096316A5 JP 2012096316 A5 JP2012096316 A5 JP 2012096316A5 JP 2010245974 A JP2010245974 A JP 2010245974A JP 2010245974 A JP2010245974 A JP 2010245974A JP 2012096316 A5 JP2012096316 A5 JP 2012096316A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
region
coating layer
disposed
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010245974A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012096316A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010245974A priority Critical patent/JP2012096316A/ja
Priority claimed from JP2010245974A external-priority patent/JP2012096316A/ja
Priority to US13/286,494 priority patent/US8796845B2/en
Publication of JP2012096316A publication Critical patent/JP2012096316A/ja
Publication of JP2012096316A5 publication Critical patent/JP2012096316A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (8)

  1. 基板と、
    前記基板とともに空洞部を構成する被覆構造体と、
    前記基板の上方で前記空洞部に配置されているMEMS構造体と
    含み、
    前記被覆構造体は、
    前記空洞部上方に配置されている第1被覆層を有し、
    前記第1被覆層は、
    少なくとも前記MEMS構造体の上方に配置されている第1領域と、
    前記第1領域の周囲に配置されている第2領域と、
    を有し、
    前記第1領域の前記第1被覆層は、前記第2領域の前記第1被覆層よりも厚さが小さい部分を有し
    前記第1領域の前記第1被覆層と前記基板との間の距離は、前記第2領域の前記第1被覆層と前記基板との間の距離より長い、電子装置。
  2. 記第1被覆層は、
    前記空洞部に連通する貫通孔と、
    前記第1領域を避けて前記第2領域に配置されている第1層と、
    前記第1領域および前記第2領域に配置されている第2層と、
    を有し、
    前記貫通孔は、前記第1領域の前記第1被覆層に配置されている、請求項1に記載の電子装置。
  3. 前記被覆構造体は、前記第1被覆層の上方に配置されていて、前記貫通孔を閉鎖する第2被覆層を有し、
    前記第1被覆層は、前記第1領域および前記第2領域に配置されている第3層を、さらに有し、
    前記第1層は、前記第2層の下方に配置され、
    前記第3層は、前記第2層の上方に配置され、
    前記第2層は、Al−Cu合金を含み
    前記第1層および前記第3層は、TiN、Ti、W、Au、Ptの少なくともいずれか1つ、もしくはこれらの合金を含む請求項2に記載の電子装置。
  4. 記第1領域の平面形状は、曲線部を有する、請求項1ないし3のいずれか1項に記載の電子装置。
  5. 記MEMS構造体は、
    前記基板の上方に配置されている第1電極と、
    前記基板の上方に配置されている支持部、および前記支持部から延出し前記第1電極と対向配置されている梁部を有する第2電極と、
    を含む、請求項1ないし4のいずれか1項に記載の電子装置。
  6. 前記MEMS構造体を発振させるための発振回路を、さらに含む、請求項5に記載の電子装置。
  7. 基板の上方にMEMS構造体を配置する工程と、
    前記基板および前記MEMS構造体の上方に、層間絶縁層を配置する工程と、
    前記層間絶縁層の上方に、貫通孔を有する第1被覆層を配置する工程と、
    前記貫通孔を通して、前記MEMS構造体の上方の前記層間絶縁層を除去する工程と、
    前記第1被覆層の上方に、前記貫通孔を閉鎖する第2被覆層を配置する工程と、
    を含み、
    前記第1被覆層を配置する工程において、
    記MEMS構造体の上方に位置する第1領域の前記第1被覆層、前記第1領域の周囲に位置する第2領域の前記第2被覆層よりも厚さが小さくなる部分を形成し、
    前記第2被覆層を配置する工程において、
    前記第1領域の前記第1被覆層は、前記第2領域の前記第1被覆層より、上方に配置する、電子装置の製造方法。
  8. 記第1被覆層を配置する工程は、
    前記層間絶縁層の上方に、第1層を配置するステップと、
    前記第1領域の前記第1層を除去して、前記層間絶縁層を露出するステップと、
    前記第1領域の前記層間絶縁層の上方、および前記第2領域の前記第1層の上方に第2層を配置するステップと、
    前記第1領域の前記第2層に、前記貫通孔を形成するステップと、
    を含む、請求項7に記載の電子装置の製造方法。
JP2010245974A 2010-11-02 2010-11-02 電子装置および電子装置の製造方法 Pending JP2012096316A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010245974A JP2012096316A (ja) 2010-11-02 2010-11-02 電子装置および電子装置の製造方法
US13/286,494 US8796845B2 (en) 2010-11-02 2011-11-01 Electronic device covered by multiple layers and method for manufacturing electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010245974A JP2012096316A (ja) 2010-11-02 2010-11-02 電子装置および電子装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012096316A JP2012096316A (ja) 2012-05-24
JP2012096316A5 true JP2012096316A5 (ja) 2013-12-19

Family

ID=45995776

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010245974A Pending JP2012096316A (ja) 2010-11-02 2010-11-02 電子装置および電子装置の製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8796845B2 (ja)
JP (1) JP2012096316A (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6060569B2 (ja) * 2012-09-07 2017-01-18 セイコーエプソン株式会社 電子装置の製造方法
JP2014057125A (ja) * 2012-09-11 2014-03-27 Seiko Epson Corp 電子装置およびその製造方法、並びに発振器
JP2014086447A (ja) * 2012-10-19 2014-05-12 Seiko Epson Corp 電子装置及びその製造方法
JP2014155980A (ja) * 2013-02-15 2014-08-28 Toshiba Corp 電気部品およびその製造方法
US10081535B2 (en) * 2013-06-25 2018-09-25 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for shielding and biasing in MEMS devices encapsulated by active circuitry
US9365411B2 (en) * 2014-02-03 2016-06-14 Seiko Epson Corporation MEMS device and method for manufacturing the same
JP6314568B2 (ja) * 2014-03-18 2018-04-25 セイコーエプソン株式会社 Memsデバイス及びその製造方法
JP2015182158A (ja) * 2014-03-24 2015-10-22 セイコーエプソン株式会社 Memsデバイス
JP6331552B2 (ja) * 2014-03-25 2018-05-30 セイコーエプソン株式会社 Memsデバイス及びその製造方法
JP2015228624A (ja) * 2014-06-02 2015-12-17 セイコーエプソン株式会社 電子部品、電子機器および移動体
JP2016099114A (ja) * 2014-11-18 2016-05-30 セイコーエプソン株式会社 電子デバイス、物理量センサー、圧力センサー、高度計、電子機器および移動体
FR3042642B1 (fr) * 2015-10-15 2022-11-25 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation d'un dispositif comprenant une micro-batterie
US11807520B2 (en) * 2021-06-23 2023-11-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Semiconductor structure and method for manufacturing thereof

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5919364A (en) * 1996-06-24 1999-07-06 Regents Of The University Of California Microfabricated filter and shell constructed with a permeable membrane
DE10353767B4 (de) * 2003-11-17 2005-09-29 Infineon Technologies Ag Vorrichtung zur Häusung einer mikromechanischen Struktur und Verfahren zur Herstellung derselben
GB0330010D0 (en) * 2003-12-24 2004-01-28 Cavendish Kinetics Ltd Method for containing a device and a corresponding device
US7368803B2 (en) * 2004-09-27 2008-05-06 Idc, Llc System and method for protecting microelectromechanical systems array using back-plate with non-flat portion
US7405924B2 (en) * 2004-09-27 2008-07-29 Idc, Llc System and method for protecting microelectromechanical systems array using structurally reinforced back-plate
KR101177885B1 (ko) * 2006-01-16 2012-08-28 삼성전자주식회사 웨이퍼 레벨 패키징 캡 및 그 제조방법
FR2901264B1 (fr) * 2006-05-22 2008-10-10 Commissariat Energie Atomique Microcomposant muni d'une cavite delimitee par un capot a resistance mecanique amelioree
JP2008114354A (ja) 2006-11-08 2008-05-22 Seiko Epson Corp 電子装置及びその製造方法
JP4386086B2 (ja) 2007-03-15 2009-12-16 セイコーエプソン株式会社 電子装置及びその製造方法
US7994594B2 (en) 2007-03-15 2011-08-09 Seiko Epson Corporation Electronic device, resonator, oscillator and method for manufacturing electronic device
JP5233302B2 (ja) * 2008-02-07 2013-07-10 セイコーエプソン株式会社 電子装置、共振子、及び電子装置の製造方法
US7876167B1 (en) * 2007-12-31 2011-01-25 Silicon Laboratories Inc. Hybrid system having a non-MEMS device and a MEMS device
US8592925B2 (en) * 2008-01-11 2013-11-26 Seiko Epson Corporation Functional device with functional structure of a microelectromechanical system disposed in a cavity of a substrate, and manufacturing method thereof
JP5435199B2 (ja) * 2008-01-11 2014-03-05 セイコーエプソン株式会社 機能デバイス及びその製造方法
FR2933390B1 (fr) * 2008-07-01 2010-09-03 Commissariat Energie Atomique Procede d'encapsulation d'un dispositif microelectronique par un materiau getter
JP2010030020A (ja) 2008-07-31 2010-02-12 Seiko Epson Corp 電子装置
JP5401916B2 (ja) 2008-10-27 2014-01-29 セイコーエプソン株式会社 電子装置及びその製造方法
JP5417851B2 (ja) 2009-01-07 2014-02-19 セイコーエプソン株式会社 Memsデバイス及びその製造方法
CN102001616A (zh) * 2009-08-31 2011-04-06 上海丽恒光微电子科技有限公司 装配和封装微型机电系统装置的方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012096316A5 (ja)
JP2009164481A5 (ja)
JP2010171377A5 (ja)
JP2009200389A5 (ja)
JP6580039B2 (ja) 弾性波装置及びその製造方法
JP2009194322A5 (ja)
JP2014086447A5 (ja)
JP2012134500A5 (ja)
JP2009188785A5 (ja)
JP2013219614A5 (ja)
JP2010087573A5 (ja)
JP2013538467A5 (ja)
JP2010267805A5 (ja)
JP2006189853A5 (ja)
JP2013131720A5 (ja)
JP2010192696A5 (ja)
JP2016096292A5 (ja)
JP2013247225A5 (ja)
JP2018066819A5 (ja)
JP2015216344A5 (ja)
JP2009260322A5 (ja) 半導体装置の作製方法
JP2010123592A5 (ja)
JP2016519413A5 (ja)
JP2006294976A5 (ja)
EP2261962A3 (en) An electronic device package and method of manufacture