JP2011128072A - キャリア組立装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】キャリア組立装置1は、ダイ90が載置されたベース部材70を支持する組立台31と、カバー部材80を保持する保持ヘッド46と、カバー部材80を収容すると共に開口部444を持つ減圧室443を有し、組立台31と当接することで密閉空間を形成する減圧ヘッド44と、保持ヘッド46と減圧ヘッド44とを組立台31に同時に移動させる第1の昇降アクチュエータ43と、減圧ヘッド44に対して保持ヘッド46を相対移動させる第2の昇降アクチュエータ47と、を備えている。
【選択図】図10
Description
10…ベース供給部
11…第1の搬送アーム(第3の移動手段)
12…配線形成モジュール
122…印刷ヘッド(配線形成手段)
124…ディスペンサ
20…ダイ供給部
21…第2の搬送アーム(第4の移動手段)
30…アッセンブリ部
31…組立台
313…吸引孔
32…照射装置
40…組立アーム
43…第1の昇降アクチュエータ(第1の移動手段)
44…減圧ヘッド
441…筒部
442…蓋部
443…減圧室
444…開口部
445…第2の吸引ライン
446…窓
45…固定部材
46…保持ヘッド
461…第3の吸着ライン
47…第2の昇降アクチュエータ(第2の移動手段)
471…駆動シャフト
50…真空ポンプ(減圧手段)
60…試験用キャリア
70…ベース部材
71…リジッド基板
74…フレキシブル基板
80…カバー部材
81…リジッド板
82…フィルム
90…ダイ(電子部品)
Claims (10)
- 電子部品を間に挟み込むベース部材及びカバー部材を有する試験用キャリアを組み立てるキャリア組立装置であって、
前記電子部品が載置された前記ベース部材を支持する組立台と、
前記カバー部材を保持する保持ヘッドと、
前記カバー部材を収容すると共に開口部を持つ減圧室を有し、前記組立台と当接することで密閉空間を形成する減圧ヘッドと、
前記保持ヘッドと前記減圧ヘッドを前記組立台に同時に移動させる第1の移動手段と、
前記減圧ヘッドに対して前記保持ヘッドを相対移動させる第2の移動手段と、を備えたことを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項1に記載のキャリア組立装置であって、
前記減圧ヘッドは、
前記カバー部材を収容可能な筒部と、
前記筒部の一端を閉塞する蓋部と、を有することを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項2に記載のキャリア組立装置であって、
前記第2の移動手段は、前記保持ヘッドに連結されたシャフトを有しており、
前記保持ヘッドが前記筒部内に位置するように、前記シャフトは前記蓋部を貫通していることを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項1〜3の何れかに記載のキャリア組立装置であって、
前記組立台は、前記ベース部材を吸着保持する吸引孔を有することを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項1〜4の何れかに記載のキャリア組立装置であって、
前記ベース部材と前記カバー部材とを接着する接着部に向かって紫外線を照射する照射手段を備えており、
前記減圧ヘッドは、前記照射手段から前記接着部に向かって照射された紫外線を透過する窓部を有することを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項1〜5の何れかに記載のキャリア組立装置であって、
前記減圧室に接続され、前記組立台と前記減圧ヘッドによって形成される前記密閉空間を減圧する減圧手段を備えたことを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項1〜6の何れかに記載のキャリア組立装置であって、
前記ベース部材を前記組立台に移動させる第3の移動手段と、
前記組立台に支持された前記ベース部材の上に前記電子部品を載置する第4の移動手段と、を備えたことを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項1〜7の何れかに記載のキャリア組立装置であって、
前記ベース部材上に配線パターンを形成する配線形成手段を備えたことを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項1〜8の何れかに記載のキャリア組立装置であって、
前記ベース部材又は前記カバー部材の少なくとも一方は、フィルム状部材を有することを特徴とするキャリア組立装置。 - 請求項1〜9の何れかに記載のキャリア組立装置であって、
前記電子部品は、半導体ウェハからダイシングされたダイであることを特徴とするキャリア組立装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013179949A1 (ja) * | 2012-05-31 | 2013-12-05 | 株式会社アドバンテスト | 電子部品試験装置、電子部品収容装置、電子部品取出装置、及び電子部品の試験方法 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5616119B2 (ja) | 2010-05-10 | 2014-10-29 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
JP5702705B2 (ja) * | 2011-11-16 | 2015-04-15 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
JP5684095B2 (ja) * | 2011-11-16 | 2015-03-11 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
JP5824337B2 (ja) * | 2011-11-16 | 2015-11-25 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
TWI679422B (zh) * | 2016-12-02 | 2019-12-11 | 全新方位科技股份有限公司 | 高載量手臂自動機 |
JP6809978B2 (ja) * | 2017-04-28 | 2021-01-06 | 株式会社アドバンテスト | 電子部品試験装置用のキャリア |
US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
US10845410B2 (en) * | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
JP7281250B2 (ja) * | 2018-05-11 | 2023-05-25 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
CN110456110B (zh) * | 2019-08-30 | 2024-07-09 | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 | 一种振动马达的压力测试设备 |
US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07263504A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路装置の試験用キャリア |
JPH1068758A (ja) * | 1996-06-21 | 1998-03-10 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の支持装置、半導体装置の試験用キャリア、半導体装置の固定方法、半導体装置の支持装置からの離脱方法及び試験用キャリアへの半導体装置の取付方法 |
JP2003185702A (ja) * | 2001-12-14 | 2003-07-03 | Nec Corp | キャリア組立装置 |
JP2003344484A (ja) * | 2003-05-30 | 2003-12-03 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路装置の試験用キャリア |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2748644B2 (ja) * | 1990-03-13 | 1998-05-13 | 富士通株式会社 | Icキャリアおよび吸着搬送装置 |
US5424652A (en) * | 1992-06-10 | 1995-06-13 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for testing an unpackaged semiconductor die |
JP3203817B2 (ja) * | 1992-10-20 | 2001-08-27 | 富士通株式会社 | キャリア及びこれを用いた半導体チップの試験方法 |
JPH06232233A (ja) * | 1992-12-23 | 1994-08-19 | Honeywell Inc | 裸ダイの試験装置 |
US5570032A (en) * | 1993-08-17 | 1996-10-29 | Micron Technology, Inc. | Wafer scale burn-in apparatus and process |
JP2544084B2 (ja) * | 1993-12-28 | 1996-10-16 | 山一電機株式会社 | 電気部品の接続器 |
US5828224A (en) * | 1994-03-18 | 1998-10-27 | Fujitsu, Limited | Test carrier for semiconductor integrated circuit and method of testing semiconductor integrated circuit |
US5986459A (en) * | 1994-03-18 | 1999-11-16 | Fujitsu Limited | Semiconductor device testing carrier and method of fixing semiconductor device to testing carrier |
JPH10101021A (ja) * | 1996-09-30 | 1998-04-21 | Mitsumi Electric Co Ltd | キャリアテープのカバーテープシール装置 |
JP3949256B2 (ja) * | 1998-02-19 | 2007-07-25 | 富士通株式会社 | 半導体素子試験用キャリア及び半導体素子試験方法及び半導体素子試験用装置 |
JP2000180469A (ja) * | 1998-12-18 | 2000-06-30 | Fujitsu Ltd | 半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法 |
JP2001116795A (ja) * | 1999-10-18 | 2001-04-27 | Mitsubishi Electric Corp | テスト用ソケット、およびテスト用ソケットに用いる接続シート |
US6938783B2 (en) * | 2000-07-26 | 2005-09-06 | Amerasia International Technology, Inc. | Carrier tape |
JP4458447B2 (ja) * | 2000-11-10 | 2010-04-28 | 株式会社アドバンテスト | 電子部品試験用保持装置、電子部品試験装置および電子部品試験方法 |
JP2001189344A (ja) * | 2001-01-10 | 2001-07-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品実装装置 |
JP2003004800A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | Ando Electric Co Ltd | デバイスキャリア及びオートハンドラ |
JP2003243817A (ja) * | 2002-02-20 | 2003-08-29 | Asuriito Fa Kk | 半田ボール供給用ピックアップヘッドおよび半田ボール供給装置ならびに半田ボール供給方法 |
JP4137471B2 (ja) * | 2002-03-04 | 2008-08-20 | 東京エレクトロン株式会社 | ダイシング方法、集積回路チップの検査方法及び基板保持装置 |
DE102004007696B4 (de) * | 2004-02-16 | 2009-01-02 | Infineon Technologies Ag | Testvorrichtung zum Prüfen eines Halbleiterbauteils mit Kontaktflächen auf seiner Oberseite und seiner Unterseite und Verfahren zum Prüfen des Halbleiterbauteils |
JP4281605B2 (ja) | 2004-04-08 | 2009-06-17 | 住友電気工業株式会社 | 半導体加熱装置 |
CN1328779C (zh) * | 2004-09-21 | 2007-07-25 | 威盛电子股份有限公司 | 芯片测试夹具及其上盖 |
CN101063625B (zh) * | 2006-04-30 | 2010-08-11 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 用于测试bga封装的bga封装保持器装置和方法 |
KR101360117B1 (ko) * | 2006-08-08 | 2014-02-21 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 평판 표시패널의 합착장치 및 이를 이용한 합착방법 |
CN101013811B (zh) | 2007-02-01 | 2010-05-19 | 傅桂兴 | 双电源环网单相接地故障选线方法与装置 |
CN101296604A (zh) * | 2007-04-24 | 2008-10-29 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 屏蔽箱体 |
CN201196655Y (zh) * | 2008-04-14 | 2009-02-18 | 无锡市易控系统工程有限公司 | 可纵向升降、水平旋转的晶圆吸附及卸落装置 |
CN201233434Y (zh) * | 2008-04-14 | 2009-05-06 | 无锡市易控系统工程有限公司 | 全自动晶圆测试平台装置 |
-
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07263504A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路装置の試験用キャリア |
JPH1068758A (ja) * | 1996-06-21 | 1998-03-10 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の支持装置、半導体装置の試験用キャリア、半導体装置の固定方法、半導体装置の支持装置からの離脱方法及び試験用キャリアへの半導体装置の取付方法 |
JP2003185702A (ja) * | 2001-12-14 | 2003-07-03 | Nec Corp | キャリア組立装置 |
JP2003344484A (ja) * | 2003-05-30 | 2003-12-03 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路装置の試験用キャリア |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013179949A1 (ja) * | 2012-05-31 | 2013-12-05 | 株式会社アドバンテスト | 電子部品試験装置、電子部品収容装置、電子部品取出装置、及び電子部品の試験方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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